CN113945822A - 一种引脚测试装置及引脚测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种引脚测试装置及引脚测试方法，包括主控板和接线座，所述主控板包括处理器、显示器接口和鼠标键盘接口，其中，所述接线座用于连接待测试电路板，所述处理器用于对待测试电路板的引脚进行单个测试和整体测试，所述显示器接口用于连接显示器，并将处理器处理的结果在所述显示器上进行显示，所述鼠标键盘接口用于配置输入输出引脚数量和超时时间。通过本发明实施例对各个待测试设备的引脚进行测试，可以符合不同类型的芯片，不仅节省人力，而且还提高测量效率。

Description

一种引脚测试装置及引脚测试方法

技术领域

本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种引脚测试装置及引脚测试方法。

背景技术

在电路板生产制造中，通过电路板上会设置有带可编程功能的芯片，该芯片包括很多个输入输出引脚，为了保证各个引脚可以正常工作，则在电路板出厂之前，需要对各个输入输出引脚进行测试。

由于不同的芯片的引脚不同，所以，各个不同的芯片的测试需求也是不同的，每款不同的芯片就需要单独开发一套测试方案，这样，不仅开发难度高，而且需要消耗很多的人力，测试起来花费的时间也较多，测试效率较差。

发明内容

针对上述技术问题，本发明提供了一种引脚测试装置及引脚测试方法。

本发明的第一方面提供一种引脚测试装置，包括主控板和接线座，所述主控板包括处理器、显示器接口和鼠标键盘接口，其中，所述接线座用于连接待测试电路板，所述处理器用于对待测试电路板的引脚进行单个测试和整体测试，所述显示器接口用于连接显示器，并将处理器处理的结果在所述显示器上进行显示，所述鼠标键盘接口用于配置输入输出引脚数量和超时时间。

可选地，所述主控板的供电电压为直流5V电压。

可选地，所述显示器接口为HDMI接口。

可选地，所述鼠标键盘接口为USB接口。

可选地，所述装置还包括电平切换扩展板，所述电平切换扩展板用于对其他电平的待测试设备引脚进行测试。

本发明第二方面还提供一种引脚测试方法，基于第一方面的引脚测试装置，包括：

通过预先设置的配置文件设置待测试设备的预设输入输出引脚数量；

获取待测试电路板的引脚电平状态和电平数量；

对所述电平状态和电平数量进行判断；

若所述电平数量与所述预设引脚数量相同，且所述电平状态为高电平的引脚数量为预设值，则确定所述待测试电路板上高电平引脚通过测试。

可选地，所述方法还包括：

通过所述配置文件配置预设停留时间；

获取所述高电平引脚的停留时间；

根据所述高电平引脚的停留时间和所述预设输入输出引脚数量，确定预设超时时间；

在所述预设超时时间内，若不重复的引脚上的高电平状态的出现次数和所述预设引脚数量相同，则确定

所述待测试电路板的所有管脚通过测试。

可选地，所述方法还包括：

若所述各个引脚的高电平出现的时间大于所述预设超时时间，则确定所述待测试电路板的所有管脚未通过测试。

可选地，所述方法还包括：

将所述待测试电路板的引脚电平状态和电平数量保存在数据库中。

可选地，所述方法还包括：

接收复位指令，所述复位指令用于将所述数据库中的引脚电平状态和电平数量进行清空。

本发明实施例提供一种引脚测试装置及引脚测试方法，包括主控板和接线座，所述主控板包括处理器、显示器接口和鼠标键盘接口，其中，所述接线座用于连接待测试电路板，所述处理器用于对待测试电路板的引脚进行单个测试和整体测试，所述显示器接口用于连接显示器，并将处理器处理的结果在所述显示器上进行显示，所述鼠标键盘接口用于配置输入输出引脚数量和超时时间。通过本发明实施例对各个待测试设备的引脚进行测试，可以符合不同类型的芯片，不仅节省人力，而且还提高测量效率。

附图说明

图1为本发明实施例中引脚测试装置的结构示意图；

图2为本发明实施例中引脚测试方法的流程示意图；

图3为本发明实施例中引脚测试方法的又一流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，本发明实施例中提供一种引脚测试装置，包括：主控板806和接线座804，主控板包括处理器、显示器接口807和鼠标键盘接口808，其中，接线座804用于连接待测试电路板，处理器用于处理器用于对待测试电路板的引脚进行单个测试和整体测试，显示器接口807用于连接显示器，并将处理器处理的结果在显示器上进行显示，鼠标键盘接口808用于配置输入输出引脚数量和超时时间。

具体的，如图1所示，主控板还包括复位引脚801、探测引脚802和地线803，另外还包括输入输出扩展芯片805。

其中，主控板的供电电压为直流5V电压；显示器接口为HDMI接口；鼠标键盘接口为USB接口。

可选地，该装置还包括电平切换扩展板，电平切换扩展板用于对其他电平的待测试设备引脚进行测试。也即在主控板806和接线座804之间依次设置有输入输出扩展芯片805和电平切换扩展板(图1中未显示)，其中，输入输出扩展芯片是将主控板的一组通信线路转换为普通输入输出端口的芯片；电平切换扩展板是若需要测试其他电平状态的设备，用于进行电平之间的切换，例如，除了可以测试5V电压的设备，还可以测试3.3V电压的设备，在本发明实施例中不做具体限定。

具体地，使用此设备需要待测产品内置一个测试程序，该程序可以实现所有待测输入输出引脚逐个输出高电平，同一时间只有一个引脚为高电平，其他均为低电平，如此循环。

将该装置接线座连接到待检测产品即待测试设备的对应引脚上，需要将接线座的地线与待测产品的地线相连，产品的待测试引脚连接到接线座上从0号开始的一段连续的探测引脚上，具体在生产制造中通常会在待测产品与检测设备之间串联接入测试治具，如此可以更方便的连接接线座与待检测设备，接线座的复位引脚连接治具上的复位按键。

连接好显示设备，鼠标键盘后使用5V直流电源给主控板上电，以保证主控板可以正常工作。

本发明还提供一种引脚测试方法，基于上述的引脚测试装置，其中，上述的引脚测试装置中的处理器执行该引脚测试方法，该测试方法包括：

S201、通过预先设置的配置文件设置待测试设备的预设输入输出引脚数量；

S202、获取待测试电路板的引脚电平状态和电平数量；

S203、对所述电平状态和电平数量进行判断；

S204、若所述电平数量与所述预设引脚数量相同，且所述电平状态为高电平的引脚数量为预设值，则确定所述待测试电路板上高电平引脚通过测试。

可选地，所述方法还包括：

通过所述配置文件配置预设停留时间；

获取所述高电平引脚的停留时间；

根据所述高电平引脚的停留时间和所述预设输入输出引脚数量，确定预设超时时间；

在所述预设超时时间内，若不重复的引脚上的高电平状态的出现次数和所述预设引脚数量相同，则确定所述待测试电路板的所有管脚通过测试。

可选地，所述方法还包括：

若所述各个引脚的高电平出现的时间大于所述预设超时时间，则确定所述待测试电路板的所有管脚未通过测试。

可选地，所述方法还包括：

将所述待测试电路板的引脚电平状态和电平数量保存在数据库中。

可选地，所述方法还包括：

接收复位指令，所述复位指令用于将所述数据库中的引脚电平状态和电平数量进行清空。

具体的，通过修改配置文件设置好需要测量的输入输出引脚总数和预设超时时间，该预设超时时间必须大于输入输出引脚总数与每个输入输出引脚在高电平的停留时间Th的乘积即保持时间Ti，可以先尝试设置超时为预设保持时间Ti的1.1倍，该预设值倍数可以根据需要自行设定，在本发明实施例中不做具体限定，运行测试后，测试系统会返回一个合理的超时时间到屏幕上，然后重新设置即可。

具体的，1、运行检测程序，该引脚测试装置会探测待测试电路板的指定数量的引脚上的电平状态。

2、该引脚测试装置对采集的电平状态进行分析，若采集的电平数量和设置的预设数量相同，且高电平引脚数量为1，则将该电平数量和电平状态存储在数据库中，否则就报错或者忽略该数据；

3、经过以上初步分析后再次探测引脚上的电平状态，如果发现数据与上一次探测到的数据一致，则顺利进入下一个流程，否则就表示待测试产品上的引脚高电平保持时间过短，引脚测试装置的测试程序会报错并返回一个合理的高电平保持时间Th，可以先尝试让待测板引脚高电平保持时间为5毫秒；

Th时间受主控板性能，以及待测引脚总数影响，具体计算逻辑为两次读取所有引脚状态的时间与一次初步分析的时间之和的2倍；

4、持续探测引脚电平，直到有变化；

5、循环执行以上步骤，一旦有新数据进入存储区域则触发一次分析，直到输出测试结果到显示器；也就是循环检测待测试电路板的每个引脚，且在预设超时时间内，每个引脚都呈现一次高电平状态。

6、高电平的测试时间受预设超时时间限制，一旦超时则停止测试，并输出结果；

7、每一次输出测试结果都会伴随清空数据存储区域；

8、每接收到一次复位信号，测试设备就会清空一次数据存储区域即数据库内的数据。

该引脚检测装置可以通过复位引脚开始新一轮测试，也可以通过测试程序给出的复位按钮开始新一轮测试。

也就是说：

在每次获取待测试电路板的引脚的电平状态中，判断引脚电平状态数据中高电平引脚个数，等于1为合理，大于1则表示有引脚短路，小于1的数据直接忽略；

该分析过程与数据收集是两个并行的线程，主要逻辑是在确保没有重复数据的情况下判断数据量；分析过程如下：

采集的电平数据总量等于待测产品输入输出引脚总数即预先设置的输入输出引脚数量，则表示测试通过；

采集的电平数据总量大于待测产品输入输出引脚总数，则报错测试设备异常；

采集的电平数据总量小于待测产品输入输出引脚总数，则结束该次分析，等待分析功能被再次触发；

探测引脚为I²c总线上各输入输出扩展芯片的扩展引脚，根据各芯片地址给芯片编号为1，2，3…,每个芯片的扩展引脚为N个，则1号芯片的扩展引脚按顺序对应编号为0—(N-1)号探测引脚，2号芯片的扩展引脚按顺序对应编号为N—(2N-1)号探测引脚，依此类推。

以上所有的探测分析过程全部都由主控板上的主控芯片完成；鼠标键盘等输入设备可以通过拨码开关来替代，显示设备可以用LED或者其他小型屏幕替代，如此可以降低产品成本，同时也会伴随着无法详细显示报错信息的缺陷。

可以使用其他总线如SPI，可以选用更高速的输入输出扩展芯片，如此可以降低高电平保留时间，进而提高测试效率；

可以选用位数更多的扩展芯片，如此则可以提升单次可测试输入输出引脚数量的上限。

探测引脚和输入输出扩展芯片可以做成独立的扩展模块，支持级联，如此则可以通过级联的方式提升单次可测试输入输出引脚数量的上限。

可以在设备上添加升压芯片，数模转换芯片，模数转换芯片和电平转换芯片，如此能提高可检测的高电平范围，并且可以自适应不同电平，使用时候只需注意高电平不超过该设备最高检测电平即可。

本发明实施例提供一种引脚测试装置及引脚测试方法，包括主控板和接线座，主控板包括处理器、显示器接口和鼠标键盘接口，其中，接线座用于连接待测试电路板，处理器用于对待测试电路板的引脚进行单个测试和整体测试，所述显示器接口用于连接显示器，并将处理器处理的结果在所述显示器上进行显示，所述鼠标键盘接口用于配置输入输出引脚数量和超时时间。通过本发明实施例对各个待测试设备的引脚进行测试，可以符合不同类型的芯片，不仅节省人力，而且还提高测量效率。

以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种引脚测试装置，其特征在于，包括：主控板和接线座，所述主控板包括处理器、显示器接口和鼠标键盘接口，其中，所述接线座用于连接待测试电路板，所述处理器用于对待测试电路板的引脚进行单个测试和整体测试，所述显示器接口用于连接显示器，并将处理器处理的结果在所述显示器上进行显示，所述鼠标键盘接口用于配置输入输出引脚数量和超时时间。

2.根据权利要求1所述的引脚测试装置，其特征在于，所述主控板的供电电压为直流5V电压。

3.根据权利要求1所述的引脚测试装置，其特征在于，所述显示器接口为HDMI接口。

4.根据权利要求1所述的引脚测试装置，其特征在于，所述鼠标键盘接口为USB接口。

5.根据权利要求1所述的引脚测试装置，其特征在于，所述装置还包括电平切换扩展板，所述电平切换扩展板用于对其他电平的待测试设备引脚进行测试。

6.一种基于如权利要求1-5任一所述引脚测试装置的的测试方法，其特征在于，包括：

通过预先设置的配置文件设置待测试设备的预设输入输出引脚数量；

获取待测试电路板的引脚电平状态和电平数量；

对所述电平状态和电平数量进行判断；

若所述电平数量与所述预设引脚数量相同，且所述电平状态为高电平的引脚数量为预设值，则确定所述待测试电路板上高电平引脚通过测试。

7.根据权利要求6所述的引脚测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

通过所述配置文件配置预设停留时间；

获取所述高电平引脚的停留时间；

根据所述高电平引脚的停留时间和所述预设输入输出引脚数量，确定预设超时时间；

在所述预设超时时间内，若不重复的引脚上的高电平状态的出现次数和所述预设引脚数量相同，则确定

所述待测试电路板的所有管脚通过测试。

8.根据权利要求7所述的引脚测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

若所述各个引脚的高电平出现的时间大于所述预设超时时间，则确定所述待测试电路板的所有管脚未通过测试。

9.根据权利要求6所述的引脚测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所述待测试电路板的引脚电平状态和电平数量保存在数据库中。

10.根据权利要求9所述的引脚测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

接收复位指令，所述复位指令用于将所述数据库中的引脚电平状态和电平数量进行清空。

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