CN111665412A - 模块开关机老化的测试方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种模块开关机老化的测试方法及系统，所述测试系统包括上位机和测试装置；测试装置包括测试引脚供电模块；在测试引脚供电模块给对应的测试引脚供电时，上位机用于根据设定测试项对待测模块进行测试，并获取测试结果；上位机还用于判断测试结果是否满足设定条件，若是，则确定待测模块未发生开关机老化；若否，则确定待测模块发生开关机老化。本发明的测试系统具有结构简单、制作成本低、占用空间少等优点；能够实现一台上位机同时测试8个待测模块，从而提高了开关机老化的测试效率；另外，可以读取每个被测模块的工作电流和工作电压，便于后续问题的定位分析。
Description
技术领域
本发明涉及模块测试技术领域，特别涉及一种模块开关机老化的测试方法及系统。
背景技术
目前，对模块开关机老化进行测试时，一般采用上位机通过GPIB(通用接口总线)卡控制程控电源的方式对模块进行上下掉电、拉低Powerkey(电源键)、拉低Reset(复位)等操作，上位机再通过设置相应的测试参数，即可实现对模块进行开关机老化的测试。
但是，由于程控电源的带载能力的限制，其每次最多只能测试5块待测模块，即现有的模块开关机老化的测试系统只能同时对少量的被测模块进行测试；而对于被测模块数量较多的情况，会存在较多数量的被测模块占用较多的程控电源、上位机以及测试空间，且必须同时具备上位机、GPIB卡和程控电源才能实现模块开关机老化的测试，缺少其中一个都无法进行测试，因此存在测试效率不高、成本较高的问题。
发明内容
本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中模块开关机老化的测试系统存在成本较高、占用空间较大、测试效率不高等缺陷，提供一种模块开关机老化的测试方法及系统。
本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题：
本发明提供一种模块开关机老化的测试系统，所述测试系统包括上位机和测试装置；
所述测试装置包括测试引脚供电模块；
所述测试引脚供电模块与所述待测模块中对应的测试引脚电连接；
所述上位机与所述待测模块通信连接；
在所述测试引脚供电模块给对应的所述测试引脚供电时，所述上位机用于根据设定测试项对所述待测模块进行测试，并获取测试结果；
其中，所述设定测试项与所述测试引脚相对应；
所述上位机还用于判断所述测试结果是否满足设定条件，若是，则确定所述待测模块未发生开关机老化；若否，则确定所述待测模块发生开关机老化。
较佳地，所述测试装置还包括电压引脚供电模块；
所述电压引脚供电模块与所述待测模块的电压端电连接；
所述电压引脚供电模块用于给所述待测模块的电压端供电；
所述测试引脚供电模块包括开关机供电模块和复位供电模块；
所述开关机供电模块与所述待测模块的开关机引脚电连接，所述开关机供电模块用于给所述开关机引脚供电；
所述复位供电模块与所述待测模块的复位引脚电连接，所述复位供电模块用于给所述复位引脚供电。
较佳地，所述测试装置还包括开关电源模块和电压转换模块；
所述电压转换模块分别与所述开关电源模块和所述测试引脚供电模块电连接；
所述开关电源模块用于提供初始电压；
所述电压转换模块用于将所述初始电压转换成第一电压，给所述测试引脚供电模块供电；
所述测试引脚供电模块用于将所述第一电压转换成第二电压，给所述测试引脚供电；
所述开关电源模块与所述电压引脚供电模块电连接，所述开关电源模块用于给所述电压引脚供电模块供电。
较佳地，所述测试装置还包括控制器、分时控制模块和数据采集模块；
所述分时控制模块、所述数据采集模块均分别与所述待测模块和所述控制器电连接；
所述电压转换模块用于给所述控制器、所述分时控制模块和所述数据采集模块供电；
所述控制器与所述上位机电连接；
所述控制器用于接收所述上位机发送的第一控制指令，并根据所述第一控制指令控制所述分时控制模块分时控制所述电压引脚供电模块给对应的所述待测模块的电压端供电；
所述数据采集模块用于采集所述待测模块的工作电压和工作电流；
所述控制器用于读取所述数据采集模块采集的所述工作电压和所述工作电流并发送至所述上位机。
较佳地，所述控制器用于接收所述上位机发送的第二控制指令，并根据所述第二控制指令分别控制所述电压引脚供电模块、所述开关机供电模块和所述复位供电模块的输出电压值。
较佳地，当所述测试装置包括两个所述开关电源模块、三个所述电压转换模块和八个所述电压引脚供电模块时，一个所述开关电源模块用于分别给三个所述电压转换模块和四个所述电压引脚供电模块供电，另一个所述开关电源模块用于给其他四个所述电压引脚供电模块供电；
其中，每个所述电压引脚供电模块与一个所述待测模块的电压端相对应；
第一所述电压转换模块用于给所述测试引脚供电模块供电，第二所述电压转换模块用于给所述分时控制模块和所述数据采集模块供电，第三所述电压转换模块用于给所述控制器供电。
较佳地，所述电压引脚供电模块包括第一供电芯片、第一三极管、第二三极管、第一电容、第一电阻、第二电阻和第一数字电位器；
所述第一三极管的基极与所述控制器的第一控制端电连接，所述第一三极管的集电极分别与所述第一电阻的一端和所述第二三极管的基极电连接，所述第一电阻的另一端和所述第二三极管的发射极均与所述开关电源模块的输出端电连接，所述第一三极管的发射极接地；
所述第二三极管的集电极分别与所述第一电容和所述第一供电芯片的输入端电连接，所述第一电容的另一端接地；
所述第一供电芯片的输出端分别与所述第二电阻的一端、所述第一数字电位器和所述待测模块的电压端电连接，所述第二电阻的另一端接地；
其中，所述电压引脚供电模块的输出电压随所述第二电阻的阻值和/或所述第一数字电位器的阻值的调节而发生变化。
较佳地，所述开关机供电模块和所述复位供电模块均包括供电电路；
所述供电电路包括第二供电芯片、第二电容、第三电容、第三电阻、第四电阻、第三三极管、第四三极管和第二数字电位器；
所述第二电容的一端分别与所述电压转换模块的输出端和所述第二供电芯片的输入端电连接，所述第二电容的另一端接地；
所述第二供电芯片的第一输出端分别与所述第二数字电位器电连接、所述第三电容的一端、所述第三电阻的一端和所述第三三极管的发射极电连接；
所述第二供电芯片的第二输出端分别与第四电阻的一端、所述第二数字电位器电连接，所述第四电阻的另一端和所述第三电容的另一端均接地；
所述第三电阻的另一端和所述第三三极管的基极均与所述第四三极管的集电极电连接，所述第四三极管的基极与所述控制器的第二控制端或第三控制端电连接，所述第四三极管的发射极接地，所述第三三极管的集电极与所述待测模块的所述开关机引脚或所述复位引脚电连接；
其中，当所述开关机供电模块包括所述供电电路时，所述第四三极管的基极与所述控制器的第二控制端电连接，所述第三三极管的集电极与所述待测模块的所述开关机引脚电连接；
当所述控制器的第二控制端输出高电平时，所述第二供电芯片与所述待测模块的所述开关机引脚连接，所述第二供电芯片用于给所述开关机引脚供电；当所述控制器的第二控制端输出低电平时，所述第二供电芯片与所述待测模块的所述开关机引脚断开连接；或，
当所述复位供电模块包括所述供电电路时，所述第四三极管的基极与所述控制器的第三控制端电连接，所述第三三极管的集电极与所述待测模块的所述复位引脚电连接；当所述控制器的第三控制端输出高电平时，所述第二供电芯片与所述待测模块的所述复位引脚连接，所述第二供电芯片用于给所述复位引脚供电；
当所述控制器的第三控制端输出低电平时，所述第二供电芯片与所述待测模块的所述复位引脚断开连接；
所述第二供电芯片的输出电压随所述第四电阻的阻值和/或所述第二数字电位器的阻值的调节而发生变化。
较佳地，所述电压引脚供电模块还包括第五电阻和第六电阻；
所述第五电阻的一端与所述第一供电芯片的输出端电连接，所述第五电阻的另一端分别与所述第六电阻的一端和所述数据采集模块的输入端电连接，所述第六电阻的另一端接地。
较佳地，所述上位机用于获取所述设定测试项对应的测试成功的次数和测试失败的次数，根据测试成功的次数和测试失败的次数计算所述设定测试项对应的测试成功率；
所述上位机还用于在所述测试成功率大于设定阈值时，确定所述待测模块未发生开关机老化；在所述测试成功率小于或者等于所述设定阈值时，确定所述待测模块发生开关机老化和/或，
所述设定测试项包括不断电开关机测试和/或断电开关机测试；
当所述设定测试项包括不断电开关机测试时，所述不断电开关机测试包括基于按键关机的不断电开关机测试、基于测试指令关机的不断电开关机测试、基于按键复位的不断电开关机测试和基于测试指令复位的不断电开关机测试中的至少一种。
本发明还提供一种模块开关机老化的测试方法，所述测试方法采用上述的模块开关机老化的测试系统实现，所述测试方法包括：
S1.在所述测试引脚供电模块给对应的所述测试引脚供电时，所述上位机根据设定测试项对所述待测模块进行测试，并获取测试结果；
其中，所述设定测试项与所述测试引脚相对应；
S2.所述上位机判断所述测试结果是否满足设定条件，若是，则确定所述待测模块未发生开关机老化；若否，则确定所述待测模块发生开关机老化。
较佳地，步骤S2包括：
S21.所述上位机获取所述设定测试项对应的测试成功的次数和测试失败的次数，根据测试成功的次数和测试失败的次数计算所述设定测试项对应的测试成功率；
S22.所述上位机在所述测试成功率大于设定阈值时，确定所述待测模块未发生开关机老化；在所述测试成功率小于或者等于所述设定阈值时，确定所述待测模块发生开关机老化；和/或，
所述设定测试项包括不断电开关机测试和/或断电开关机测试；
当所述设定测试项包括不断电开关机测试时，所述不断电开关机测试包括基于按键关机的不断电开关机测试、基于测试指令关机的不断电开关机测试、基于按键复位的不断电开关机测试和基于测试指令复位的不断电开关机测试中的至少一种。
本发明的积极进步效果在于：
本发明中的测试系统，通过开关电源、电压转换模块给测试引脚供电模块和电压引脚供电模块供电，通过控制器接收上位机的控制指令设置测试引脚供电模块和电压引脚供电模块的输出电压值并给对应的引脚供电，然后通过上位机与待测模块直接通信连接，上位机根据设定测试项对待测模块进行测试，进而确定待测模块是否发生开关机老化，该测试系统具有结构简单、制作成本低、占用空间少等优点；本发明能够实现一台上位机同时测试8个待测模块，从而提高了开关机老化的测试效率；另外，可以读取每个被测模块的工作电流和工作电压，便于后续问题的定位分析。
附图说明
图1为本发明实施例1的模块开关机老化的测试系统的结构示意图。
图2为本发明实施例2的模块开关机老化的测试系统的第一结构示意图。
图3为本发明实施例2的模块开关机老化的测试系统的第二结构示意图。
图4为本发明实施例2的模块开关机老化的测试系统的部分模块连接示意图。
图5为本发明实施例2的模块开关机老化的测试系统的控制器的电路示意图。
图6为本发明实施例2的模块开关机老化的测试系统的分时控制模块的电路示意图。
图7为本发明实施例2的模块开关机老化的测试系统的数据采集模块的电路示意图。
图8为本发明实施例2的模块开关机老化的测试系统的电阻分压电路示意图。
图9为本发明实施例2的模块开关机老化的测试系统的电压引脚供电模块的电路示意图。
图10为本发明实施例2的模块开关机老化的测试系统的开关机供电模块的电路示意图。
图11为本发明实施例2的模块开关机老化的测试系统的第一测试界面示意图。
图12为本发明实施例2的模块开关机老化的测试系统的第二测试界面示意图。
图13为本发明实施例2的模块开关机老化的测试系统的第三测试界面示意图。
图14为本发明实施例2的模块开关机老化的测试系统的第四测试界面示意图。
图15为本发明实施例2的模块开关机老化的测试系统的第五测试界面示意图。
图16为本发明实施例3的模块开关机老化的测试方法的流程图。
具体实施方式
下面通过实施例的方式进一步说明本发明，但并不因此将本发明限制在所述的实施例范围之中。
实施例1
如图1所示，本实施例的模块开关机老化的测试系统包括上位机1和测试装置2。
测试装置2包括测试引脚供电模块3；
测试引脚供电模块3与待测模块中对应的测试引脚电连接，测试引脚供电模块3用于给对应的测试引脚供电。
上位机1与待测模块通信连接。
在测试引脚供电模块3给对应的测试引脚供电时，上位机1用于根据设定测试项对待测模块进行测试，并获取测试结果；其中，设定测试项与测试引脚相对应。
上位机1还用于判断测试结果是否满足设定条件，若是，则确定待测模块未发生开关机老化；若否，则确定待测模块发生开关机老化。
本实施例中的测试系统，通过开关电源、电压转换模块给测试引脚供电模块和电压引脚供电模块供电，通过控制器接收上位机的控制指令设置测试引脚供电模块和电压引脚供电模块的输出电压值来给对应的引脚供电，然后通过上位机与待测模块直接通信连接，上位机根据设定测试项对待测模块进行测试，进而确定待测模块是否发生开关机老化，该测试系统具有结构简单、制作成本低、占用空间少等优点。
实施例2
如图2所示，本实施例的模块开关机老化的测试系统是实施例1的进一步改进，具体地：
测试装置2还包括电压引脚供电模块4、开关电源模块5、电压转换模块6、控制器7、分时控制模块8和数据采集模块9。
电压引脚供电模块4与待测模块的电压端电连接；
电压引脚供电模块4用于给待测模块的电压端供电；
测试引脚供电模块3包括开关机供电模块10和复位供电模块11；
开关机供电模块10与待测模块的开关机引脚电连接，开关机供电模块10用于给开关机引脚供电；复位供电模块11与待测模块的复位引脚电连接，复位供电模块11用于给复位引脚供电。
电压转换模块6分别与开关电源模块5和测试引脚供电模块3电连接；
开关电源模块5用于提供初始电压；
电压转换模块6用于将初始电压转换成第一电压，给测试引脚供电模块3供电；
测试引脚供电模块3用于将第一电压转换成第二电压，给测试引脚供电；
例如，当初始电压为12V时，第一电压为5V，第二电压为0.8-4V。
开关电源模块5与电压引脚供电模块4电连接，开关电源模块5用于给电压引脚供电模块4供电。
分时控制模块8、数据采集模块9均分别与待测模块和控制器7电连接；
电压转换模块6用于给控制器7、分时控制模块8和数据采集模块9供电；
优选地，如图3所示，当测试装置2包括两个开关电源模块5、三个电压转换模块6和八个电压引脚供电模块4时，一个开关电源模块5用于分别给三个电压转换模块6和四个电压引脚供电模块4供电，另一个开关电源模块5用于给其他四个电压引脚供电模块4供电；
其中，每个电压引脚供电模块4与一个待测模块的电压端相对应；
三个电压转换模块中第一个电压转换模块6用于给测试引脚供电模块3供电，第二个电压转换模块6用于给分时控制模块8和数据采集模块9供电，第三个电压转换模块6用于给控制器7供电，此时，本实施例的测试系统能够同时对8个待测试模块进行测试，从而提高了测试效率。
另外，可以根据实际需求增加或者减少对应的待测模块数量。
还可以根据带载能力的需求，增加或减少开关电源模块或电压转换模块的数量。
其中，如图4所示，一个开关电源模块5(12V 5A)分别与三个电压转换模块6(芯片型号AMS1117-5)进行连接，开关电源模块5输出12V分别连接到三个AMS1117-5的输入引脚，三个AMS1117-5的VOUT端分别输出5V-1、5V-2、5V-3电压给其他电路供电。控制器7与上位机1电连接；控制器包括但不限于MCU(微控制单元)。
其中，如图5所示，控制器可以采用STC89C52芯片电路，晶振Y1为为12MHz，复位方式为高电平复位，通过UART(通用异步收发传输器)方式与外部通信。由于P0口内部没有上拉，故需要外部添加一个10KΩ的上拉电阻，其P00-P07，P10-P17，P20-P27，P32-P37为可用的GPIO(通用输入输出端口)接口。
控制器7用于接收上位机1发送的第一控制指令，并根据第一控制指令分时控制模块8分时控制电压引脚供电模块4给对应的待测模块的电压端供电。
具体地，如图6所示，电压转换模块给分时控制模块8(芯片型号为74LS138)供电，控制器通过三个GPIO(P15、P16、P17)对分时控制模块进行位选，实现单独控制任意一个待测模块的效果。当P17、P16、P15为000到111时，分别对应选择Y0-Y7其中一位输出低电平，其余输出高电平。Y0-Y7分别连接到第一数字电位器的CS引脚(片选引脚)，即可实现分时设置每个待测模块对应的开关机供电模块10的输出电压值。
数据采集模块9用于采集待测模块的工作电压和工作电流。
控制器7用于读取数据采集模块采集的工作电压和工作电流。
具体地，如图7所示，数据采集模块9(芯片型号为AD7490-EP)可以最大支持16路数据输入，控制器通过SPI(串行外设接口)方式与数据采集模块进行数据通信。数据采集模块分别通过V_ADCIN0-V_ADCIN7引脚采集8个待测模块的VBAT工作电压，通过I_ADCIN0-I_ADCIN7引脚采集电流采样电阻上的电压值，并将其转换后得到对应的工作电流。
另外，考虑到数据采集模块的输入引脚对应的最大输入电压小于待测模块通常的工作电压，可以通过第五电阻和第六电阻两个电阻进行分压后输入至数据采集模块的输入引脚，具体地，如图8所示，电压引脚供电模块4还包括第五电阻(R27-R34)和第六电阻(R35-R42)。第五电阻和第六电阻的阻值为100K。
第五电阻的一端与第一供电芯片D1的输出端电连接，第五电阻的另一端分别与第六电阻的一端和数据采集模块9的输入端电连接，第六电阻的另一端接地。另外，也可以采用其他能够实现分压的方式。
控制器7还用于将工作电压和工作电流发送至上位机1。
控制器7用于接收上位机1发送的第二控制指令，并根据第二控制指令分别控制电压引脚供电模块4、开关机供电模块10和复位供电模块11的输出电压值。
具体地，如图9所示，电压引脚供电模块4包括第一供电芯片D1、第一三极管Q1、第二三极管Q2、第一电容C1、第一电阻R1、第二电阻R2和第一数字电位器M1；
第一三极管Q1的基极与控制器7的第一控制端电连接，第一三极管Q1的集电极分别与第一电阻R1的一端和第二三极管Q2的基极电连接，第一电阻R1的另一端和第二三极管Q2的发射极均与开关电源模块5的输出端电连接，第一三极管Q1的发射极接地；
第二三极管Q2的集电极分别与第一电容C1和第一供电芯片D1电连接，第一电容C1的另一端接地；
第一供电芯片D1与第二电阻R2的一端和第一数字电位器M1电连接，第二电阻R2的另一端接地，第一供电芯片D1还与待测模块的电压端电连接；
其中，第一供电芯片D1包括但不限于MIC29302BT芯片，最大电流3A，输出电压1.23～26V。
第一电阻R1取值为10KΩ，第二电阻R2取值为3KΩ，第一三极管Q1的型号为2N3904，第二三极管Q2的型号为2N3906，第一电容C1取值为10μF，第一数字电位器M1的型号为MCP41010。其中，每个器件对应的取值或型号可以根据实际情况进行调整。第一三极管Q1为NPN型三极管，第二三极管Q2为PNP型三极管，当控制器7的第一控制端输入高电平时，第一三极管Q1导通，第二三极管Q2导通，开关电源模块输出的电压(如12V)通过第二三极管Q2输入至第一供电芯片D1的输入端；当控制器7的第一控制端输入低电平时，第一三极管Q1截止，第二三极管Q2也截止，开关电源模块输出的电压不输入到第一供电芯片D1的输入端。
第一供电芯片D1的输出电压由第二电阻R2的阻值和/或第一数字电位器M1的阻值控制(即电压引脚供电模块4的输出电压随第二电阻R2的阻值和/或第一数字电位器M1的阻值的调节而发生变化)，输出的电压范围为1.25-26V，若设定电压引脚供电模块4的工作电压范围为2.5-4.5V时，则第一数字电位器M1的阻值调节范围为3.05K-7.89KΩ，具体由控制器通过SPI的方式控制电压引脚供电模块4调节第一数字电位器M1的阻值和/或第二电阻R2的阻值，进而设置电压引脚供电模块4的输出电压值。
第一供电芯片D1的输出端与待测模块的VBAT端(电压端)电连接，为待测模块的VBAT端供电。
如图10所示，开关机供电模块10和复位供电模块11均包括供电电路。
供电电路包括第二供电芯片D2、第二电容C2、第三电容C3、第三电阻R3、第四电阻R4、第三三极管Q3、第四三极管Q4和第二数字电位器M2；
第二电容C2的一端分别与电压转换模块6的输出端和第二供电芯片D2的第一输入端电连接，第二电容C2的另一端接地；
第二供电芯片D2的输出端分别与第二数字电位器M2(芯片型号为MCP1100)电连接、第三电容C3的一端、第三电阻R3的一端和第三三极管Q3的发射极电连接；
第二供电芯片D2的第二输入端分别与第四电阻R4的一端、第二数字电位器M2电连接，第四电阻R4的另一端和第三电容C3的另一端均接地；
第三电阻R3的另一端和第三三极管Q3的基极均与第四三极管Q4的集电极电连接，第四三极管Q4的基极与控制器7的第二控制端或第三控制端电连接，第四三极管Q4的发射极接地，第三三极管Q3的集电极与待测模块的开关机引脚或复位引脚电连接；
具体地，第二供电芯片D2包括但不限于ME6222芯片。
第三三极管Q3为PNP型三极管，第四三极管Q4为NPN型三极管。
第二电容C2取值为1μF，第三电容C3取值为2.2μF，第三电阻R3取值为10KΩ，第四电阻R4取值为20KΩ，第三三极管Q3的型号为2N3906，第四三极管Q4的型号为2N3904和第二数字电位器M2的型号为MCP41010。其中，每个器件对应的取值或型号可以根据实际情况进行调整。
电压转换模块的输出端与第二供电芯片D2的输入引脚VIN电连接，第二供电芯片D2的输出引脚与第三三极管Q3的发射极电连接。
第二供电芯片D2的输出电压由第四电阻R4的阻值和/或第二数字电位器M2的阻值的调节而发生变化，具体由控制器通过SPI的方式控制调节第一数字电位器M2的阻值和/或第四电阻R4的阻值，进而设置开关机供电模块10或复位供电模块11的输出电压值。其中，若第二供电芯片D2的输出电压范围为0.8-4V，第四电阻R4的阻值为20kΩ时，第二数字电位器M2的阻值调节范围为0-80kΩ。
其中，当开关机供电模块10包括供电电路时，第四三极管Q4的基极与控制器7的第二控制端电连接，第三三极管Q3的集电极与待测模块的开关机引脚电连接；
当控制器7的第二控制端输出高电平时，第二供电芯片D2与待测模块的开关机引脚连接，第二供电芯片D2用于给开关机引脚供电；
当控制器7的第二控制端输出低电平时，第二供电芯片D2与待测模块的开关机引脚断开连接；或，
当复位供电模块11包括供电电路时，第四三极管Q4的基极与控制器7的第三控制端电连接，第三三极管Q3的集电极与待测模块的复位引脚电连接；
当控制器7的第三控制端输出高电平时，第二供电芯片D2与待测模块的复位引脚连接，第二供电芯片D2用于给复位引脚供电；
当控制器7的第三控制端输出低电平时，第二供电芯片D2与待测模块的复位引脚断开连接；
第二供电芯片D2的输出电压随第四电阻R4的阻值和/或第二数字电位器M2的阻值的调节而发生变化。
上位机1用于获取设定测试项对应的测试成功的次数和测试失败的次数，根据测试成功的次数和测试失败的次数计算设定测试项对应的测试成功率；
上位机1还用于在测试成功率大于设定阈值时，确定待测模块未发生开关机老化；在测试成功率小于或者等于设定阈值时，确定待测模块发生开关机老化；
其中，设定测试项包括不断电开关机测试、断电开关机测试等；
不断电开关机测试包括基于按键关机的不断电开关机测试、基于测试指令关机的不断电开关机测试、基于按键复位的不断电开关机测试和基于测试指令复位的不断电开关机测试等。
下面以不断电开关机测试为例具体说明：
1)基于按键关机的不断电开关机测试
预先设置测试指令与返回值之间的对应关系；
上位机根据预先设定的按键拉低保持时间控制待测模块开机；
上位机向待测模块发送第一测试指令，并获取待测模块根据第一测试指令生成的第一返回值，若获取到对应的第一返回值则确定待测模块开机成功，并记录开机成功次数；若未获取到则确定待测模块开机失败则记录开机失败次数；
上位机根据预先设定的按键拉低保持时间控制待测模块关机，获取待测模块的关机电流，并判断关键电流是否在设定范围内，若在则确定关机成功，并记录关机成功次数；若失败则记录关机失败次数。
2)基于测试指令关机的不断电开关机测试预先设置测试指令与返回值之间的对应关系；
上位机根据预先设定的按键拉低保持时间控制待测模块开机；
上位机向待测模块发送第一测试指令，并获取待测模块根据第一测试指令生成的第一返回值，若获取到对应的第一返回值则确定待测模块开机成功，并记录开机成功次数；若未获取到则确定待测模块开机失败则记录开机失败次数；
上位机向待测模块发送第二测试指令，并获取待测模块根据第二测试指令生成的第二返回值，若成功获取到第二返回值则确定开机成功，并记录开机成功次数；若失败则记录开机失败次数。
3)基于按键复位的不断电开关机测试预先设置测试指令与返回值之间的对应关系；
上位机根据预先设定的按键拉低保持时间控制待测模块开机(首次开机)；
上位机向待测模块发送第一测试指令，并获取待测模块根据第一测试指令生成的第一返回值，若获取到对应的第一返回值则确定待测模块开机成功，并记录开机成功次数；若未获取到则确定待测模块开机失败则记录开机失败次数；
上位机根据预先设定的复位按键拉低保持时间控制待测模块复位重启，获取待测模块重启后对应的默认返回值，若成功获取到返回值则确定复位成功，并记录复位成功次数；若失败则记录复位失败次数。
4)基于测试指令复位的不断电开关机测试
预先设置测试指令与返回值之间的对应关系；
上位机根据预先设定的按键拉低保持时间控制待测模块开机(首次开机)；
上位机向待测模块发送第一测试指令，并获取待测模块根据第一测试指令生成的第一返回值，若获取到对应的第一返回值则确定待测模块开机成功，并记录开机成功次数；若未获取到则确定待测模块开机失败则记录开机失败次数；
上位机还用于向待测模块发送第三测试指令，并获取待测模块根据第三测试指令生成的第三返回值，若成功获取到返回值则确定复位成功，并记录复位成功次数；若失败则记录复位失败次数；
另外，上位机还用于判断每个设定测试项对应的测试次数是否达到设定次数，若没有则继续发送测试指令进行重复测试；若达到则停止测试。
下面结合具体实例说明：
本实施例的测试系统可以结合测试界面具体实现：
根据实际测试需求，预先设置待测模块的工作电压(VBAT)、Powerkey电压(按键电压)和Reset电压(复位电压)、开机按键拉低时间，复位按键拉低时间、随机数时间值以及选择不同测试项等内容，其中最大支持10个测试指令进行相关查询和设置操作。
如图11所示，为上位机在对待测模块进行开关机老化测试过程对应的显示主界面。其中，主界面分为菜单栏、当前测试项指示栏、开始结束按钮，暂停恢复按钮、测试状态栏、当前已完成次数、测试log(日志)栏、测试进度条以及系统状态栏。例如，测试状态栏：Ready，当前已完成次数：0，测试进度条：下方的连续方块示意。
具体地，菜单栏：菜单栏包括串口设置，测试项设置，供电设置和失败详情。当前测试项指示栏：该项显示当前正在测试的项目名称以及测试项。开始结束按钮：控制测试的开始和结束。暂停恢复按钮：控制测试的暂停和恢复。测试状态栏：指示当前测试的状态，以便于用于判断当前测试的状态。当前已完成次数：指示目前已经完成的次数。测试log栏：实时显示最多8路测试的所有测试log。测试进度条：实时显示当前测试次数占总测试次数的比例。系统状态栏：实时显示当前系统时间以及其他相关信息。
测试工具菜单栏包括串口设置，测试项设置，供电设置，失败详情查看以及其他关于内容。
如图12所示，为串口设置界面，包括单片机串口设置，单片机测试以及模块串口设置部分。
其中，单片机串口设置：用于设置工具与单片机通信的串口以及波特率的值。单片机测试：专门用于测试上位机与单片机的物理连接是否能用，当出现控制不了单片机时，方便问题的查找。模块串口设置：设置最大8个待测模块的测试指令通信端口，一般为USB虚拟出的AT接口(应用于终端设备与计算机应用之间的连接与通信的指令接口)或者UART接口。
如图13所示，为测试项设置界面，包括测试项目名称，测试项选择，测试次数设置，测试指令以及返回值设置，开关机时间设置。
其中，测试项目名称：设置待测模块的项目名称，开始测试后用于显示在主界面上，且用于自动记录log文件的命名。测试项选择：设置待测模块的测试项，并在开始测试后用于显示在主界面上，且用于自动记录log文件的命名。测试次数设置：设置测试的最大次数。测试指令以及返回值设置：设置最大10组测试指令以及返回值，以及对应的最大超时时间。开关机时间设置：设置开机，关机以及复位等的具体时间值。
如图14所示，为测试时供电电压设置界面，包括模块VBAT电压高电平，模块VBAT电压低电平，模块powerkey高电平值以及模块reset电压高电平值。
其中，模块VBAT电压-高：设置待测模块的供电电压高电平值。模块VBAT电压-低；设置待测模块的供电电压低电平值。模块Powerkey电压：设置待测模块的Powekey引脚的默认高电平电压值。模块Reset电压：设置待测模块的Reset引脚的默认高电平电压值。
如图15所示，为失败详情界面，开始测试后，通过该界面能实时显示所有串口以及所有测试指令的失败次数，直观方便。
本实施例中的测试系统具有结构简单、制作成本低、占用空间少等优点；本发明能够实现一台上位机同时测试8个待测模块，从而提高了开关机老化的测试效率；另外，可以读取每个被测模块的工作电流和工作电压，便于后续问题的定位分析。
实施例3
本实施例的模块开关机老化的测试方法采用实施例1或2中任意一个实施例的模块开关机老化的测试系统实现。
如图16所示，本实施例的模块开关机老化的测试方法包括：
S101、在测试引脚供电模块给对应的测试引脚供电时，上位机根据设定测试项对待测模块进行测试，并获取测试结果；
其中，设定测试项与测试引脚相对应；
S102、上位机判断测试结果是否满足设定条件，若是，则确定待测模块未发生开关机老化；若否，则确定待测模块发生开关机老化。
具体地，步骤S102包括：
上位机获取设定测试项对应的测试成功的次数和测试失败的次数，根据测试成功的次数和测试失败的次数计算设定测试项对应的测试成功率；
上位机在测试成功率大于设定阈值时，确定待测模块未发生开关机老化；在测试成功率小于或者等于设定阈值时，确定待测模块发生开关机老化；
其中，设定测试项包括不断电开关机测试、断电开关机测试等；
不断电开关机测试包括基于按键关机的不断电开关机测试、基于测试指令关机的不断电开关机测试、基于按键复位的不断电开关机测试和基于测试指令复位的不断电开关机测试等。
本发明中，在控制器接收上位机的控制指令设置测试引脚供电模块和电压引脚供电模块的输出电压值给对应的引脚供电后，通过上位机与待测模块直接通信连接，上位机根据设定测试项对待测模块进行测试，进而确定待测模块是否发生开关机老化，从而提高了开关机老化的测试效率。
虽然以上描述了本发明的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这仅是举例说明，本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本发明的保护范围。
Claims (12)
1.一种模块开关机老化的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括上位机和测试装置；
所述测试装置包括测试引脚供电模块；
所述测试引脚供电模块与待测模块中对应的测试引脚电连接；
所述上位机与所述待测模块通信连接；
在所述测试引脚供电模块给对应的所述测试引脚供电时，所述上位机用于根据设定测试项对所述待测模块进行测试，并获取测试结果；
其中，所述设定测试项与所述测试引脚相对应；
所述上位机还用于判断所述测试结果是否满足设定条件，若是，则确定所述待测模块未发生开关机老化；若否，则确定所述待测模块发生开关机老化。
2.如权利要求1所述的模块开关机老化的测试系统，其特征在于，所述测试装置还包括电压引脚供电模块；
所述电压引脚供电模块与所述待测模块的电压端电连接；
所述电压引脚供电模块用于给所述待测模块的电压端供电；
所述测试引脚供电模块包括开关机按键供电模块和复位供电模块；
所述开关机供电模块与所述待测模块的开关机引脚电连接，所述开关机供电模块用于给所述开关机引脚供电；
所述复位供电模块与所述待测模块的复位引脚电连接，所述复位供电模块用于给所述复位引脚供电。
3.如权利要求2所述的模块开关机老化的测试系统，其特征在于，所述测试装置还包括开关电源模块和电压转换模块；
所述电压转换模块分别与所述开关电源模块和所述测试引脚供电模块电连接；
所述开关电源模块用于提供初始电压；
所述电压转换模块用于将所述初始电压转换成第一电压，给所述测试引脚供电模块供电；
所述测试引脚供电模块用于将所述第一电压转换成第二电压，给所述测试引脚供电；
所述开关电源模块与所述电压引脚供电模块电连接，所述开关电源模块用于给所述电压引脚供电模块供电。
4.如权利要求3所述的模块开关机老化的测试系统，其特征在于，所述测试装置还包括控制器、分时控制模块和数据采集模块；
所述分时控制模块、所述数据采集模块均分别与所述待测模块和所述控制器电连接；
所述电压转换模块用于给所述控制器、所述分时控制模块和所述数据采集模块供电；
所述控制器与所述上位机电连接；
所述控制器用于接收所述上位机发送的第一控制指令，并根据所述第一控制指令控制所述分时控制模块分时控制所述电压引脚供电模块给对应的所述待测模块的电压端供电；
所述数据采集模块用于采集所述待测模块的工作电压和工作电流；
所述控制器用于读取所述数据采集模块采集的所述工作电压和所述工作电流并发送至所述上位机。
5.如权利要求4所述的模块开关机老化的测试系统，其特征在于，所述控制器用于接收所述上位机发送的第二控制指令，并根据所述第二控制指令分别控制所述电压引脚供电模块、所述开关机供电模块和所述复位供电模块的输出电压值。
6.如权利要求4所述的模块开关机老化的测试系统，其特征在于，当所述测试装置包括两个所述开关电源模块、三个所述电压转换模块和八个所述电压引脚供电模块时，一个所述开关电源模块用于分别给三个所述电压转换模块和四个所述电压引脚供电模块供电，另一个所述开关电源模块用于给其他四个所述电压引脚供电模块供电；
其中，每个所述电压引脚供电模块与一个所述待测模块的电压端相对应；
第一所述电压转换模块用于给所述测试引脚供电模块供电，第二所述电压转换模块用于给所述分时控制模块和所述数据采集模块供电，第三所述电压转换模块用于给所述控制器供电。
7.如权利要求4所述的模块开关机老化的测试系统，其特征在于，所述电压引脚供电模块包括第一供电芯片、第一三极管、第二三极管、第一电容、第一电阻、第二电阻和第一数字电位器；
所述第一三极管的基极与所述控制器的第一控制端电连接，所述第一三极管的集电极分别与所述第一电阻的一端和所述第二三极管的基极电连接，所述第一电阻的另一端和所述第二三极管的发射极均与所述开关电源模块的输出端电连接，所述第一三极管的发射极接地；
所述第二三极管的集电极分别与所述第一电容和所述第一供电芯片的输入端电连接，所述第一电容的另一端接地；
所述第一供电芯片的输出端分别与所述第二电阻的一端、所述第一数字电位器和所述待测模块的电压端电连接，所述第二电阻的另一端接地；
其中，所述电压引脚供电模块的输出电压随所述第二电阻的阻值和/或所述第一数字电位器的阻值的调节而发生变化。
8.如权利要求7所述的模块开关机老化的测试系统，其特征在于，所述开关机供电模块和所述复位供电模块均包括供电电路；
所述供电电路包括第二供电芯片、第二电容、第三电容、第三电阻、第四电阻、第三三极管、第四三极管和第二数字电位器；
所述第二电容的一端分别与所述电压转换模块的输出端和所述第二供电芯片的第一输入端电连接，所述第二电容的另一端接地；
所述第二供电芯片的输出端分别与所述第二数字电位器电连接、所述第三电容的一端、所述第三电阻的一端和所述第三三极管的发射极电连接；
所述第二供电芯片的第二输入端分别与第四电阻的一端、所述第二数字电位器电连接，所述第四电阻的另一端和所述第三电容的另一端均接地；
所述第三电阻的另一端和所述第三三极管的基极均与所述第四三极管的集电极电连接，所述第四三极管的基极与所述控制器的第二控制端或第三控制端电连接，所述第四三极管的发射极接地，所述第三三极管的集电极与所述待测模块的所述开关机引脚或所述复位引脚电连接；
其中，当所述开关机供电模块包括所述供电电路时，所述第四三极管的基极与所述控制器的第二控制端电连接，所述第三三极管的集电极与所述待测模块的所述开关机引脚电连接；
当所述控制器的第二控制端输出高电平时，所述第二供电芯片与所述待测模块的所述开关机引脚连接，所述第二供电芯片用于给所述开关机引脚供电；当所述控制器的第二控制端输出低电平时，所述第二供电芯片与所述待测模块的所述开关机引脚断开连接；或，
当所述复位供电模块包括所述供电电路时，所述第四三极管的基极与所述控制器的第三控制端电连接，所述第三三极管的集电极与所述待测模块的所述复位引脚电连接；
当所述控制器的第三控制端输出高电平时，所述第二供电芯片与所述待测模块的所述复位引脚连接，所述第二供电芯片用于给所述复位引脚供电；当所述控制器的第三控制端输出低电平时，所述第二供电芯片与所述待测模块的所述复位引脚断开连接；
所述第二供电芯片的输出电压随所述第四电阻的阻值和/或所述第二数字电位器的阻值的调节而发生变化。
9.如权利要求7所述的模块开关机老化的测试系统，其特征在于，所述电压引脚供电模块还包括第五电阻和第六电阻；
所述第五电阻的一端与所述第一供电芯片的输出端电连接，所述第五电阻的另一端分别与所述第六电阻的一端和所述数据采集模块的输入端电连接，所述第六电阻的另一端接地。
10.如权利要求1所述的模块开关机老化的测试系统，其特征在于，所述上位机用于获取所述设定测试项对应的测试成功的次数和测试失败的次数，根据测试成功的次数和测试失败的次数计算所述设定测试项对应的测试成功率；
所述上位机还用于在所述测试成功率大于设定阈值时，确定所述待测模块未发生开关机老化；在所述测试成功率小于或者等于所述设定阈值时，确定所述待测模块发生开关机老化；和/或，
所述设定测试项包括不断电开关机测试和/或断电开关机测试；
当所述设定测试项包括不断电开关机测试时，所述不断电开关机测试包括基于按键关机的不断电开关机测试、基于测试指令关机的不断电开关机测试、基于按键复位的不断电开关机测试和基于测试指令复位的不断电开关机测试中的至少一种。
11.一种模块开关机老化的测试方法，其特征在于，所述测试方法采用权利要求1至10中任意一项所述的模块开关机老化的测试系统实现，所述测试方法包括：
S1.在所述测试引脚供电模块给对应的所述测试引脚供电时，所述上位机根据设定测试项对所述待测模块进行测试，并获取测试结果；
其中，所述设定测试项与所述测试引脚相对应；
S2.所述上位机判断所述测试结果是否满足设定条件，若是，则确定所述待测模块未发生开关机老化；若否，则确定所述待测模块发生开关机老化。
12.如权利要求11所述的模块开关机老化的测试方法，其特征在于，步骤S2包括：
S21.所述上位机获取所述设定测试项对应的测试成功的次数和测试失败的次数，根据测试成功的次数和测试失败的次数计算所述设定测试项对应的测试成功率；
S22.所述上位机在所述测试成功率大于设定阈值时，确定所述待测模块未发生开关机老化；在所述测试成功率小于或者等于所述设定阈值时，确定所述待测模块发生开关机老化；和/或，
所述设定测试项包括不断电开关机测试和/或断电开关机测试；
当所述设定测试项包括不断电开关机测试时，所述不断电开关机测试包括基于按键关机的不断电开关机测试、基于测试指令关机的不断电开关机测试、基于按键复位的不断电开关机测试和基于测试指令复位的不断电开关机测试中的至少一种。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
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Application publication date: 20200915 |