CN209231917U - 用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置，所述测试装置包括：计时芯片、第一电容、第一电阻以及开关模块；所述计时芯片包括通电引脚、触发引脚、重置锁定引脚、放电引脚以及输出引脚；所述开关模块串接于无线通讯模块的通电回路；所述通电引脚连接供电电源，所述触发引脚与所述重置锁定引脚均连接所述第一电容的一端，所述第一电容的另一端接地，所述第一电阻的一端连接所述第一电容的一端，所述第一电阻的另一端连接所述放电引脚，所述第一电阻的另一端还连接供电电源。本实用新型技术方案可以减小整个硬件电路的设计难度，有效降低了测试成本。

Description

用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置

技术领域

本实用新型涉及电子电路技术领域，尤其涉及一种用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置。

背景技术

无线通讯模块在出厂之前，通常需要对其进行开关机测试，以检测其能够承受的开机、关机次数，以及多次开关机对无线通讯模块的寿命和老化程度造成的影响。

现有技术在对无线通讯模块进行开关机测试时，需要提供一台电脑、程控电源以及用于实现电脑和程控电源之间通信的通用接口总线(GPIB)，并且还需要编写配套的测试软件，不仅极大的浪费了资源，增加了测试成本，且当测试项目较多时，所需的测试仪器数量激增，对于上电、掉电的开关机实验来说，如果仍然使用现有方式进行测试，将产生极大的浪费，测试效率较低。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是为了克服现有技术中对无线通讯模块进行开关机测试的成本较高的缺陷，提供一种用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置。

本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题：

一种用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置，所述测试装置包括：计时芯片、第一电容、第一电阻以及开关模块；所述计时芯片包括通电引脚、触发引脚、重置锁定引脚、放电引脚以及输出引脚；所述开关模块串接于无线通讯模块的通电回路；

所述通电引脚连接供电电源，所述触发引脚与所述重置锁定引脚均连接所述第一电容的一端，所述第一电容的另一端接地，所述第一电阻的一端连接所述第一电容的一端，所述第一电阻的另一端连接所述放电引脚，所述第一电阻的另一端还连接供电电源；

所述通电引脚接通所述供电电源后，所述供电电源通过所述第一电阻给所述第一电容充电，当所述第一电容的一端的电压达到第一电压阈值，所述触发引脚被触发，所述输出引脚输出高电平信号，以使所述开关模块接通所述通电回路；

当所述第一电容的一端的电压从所述第一电压阈值上升至第二电压阈值，所述重置锁定引脚以及所述放电引脚被触发，所述第一电容的一端通过所述第一电阻从所述放电引脚放电，所述输出引脚输出低电平信号，以使所述开关模块断开所述通电回路；

当所述第一电容的一端的电压从所述第二电压阈值下降至所述第一电压阈值，所述触发引脚被再次触发，所述输出引脚再次输出高电平信号，以使所述开关模块再次接通所述通电回路。

较佳地，所述测试装置还包括时间调整电阻，所述时间调整电阻的一端连接所述供电电源，所述时间调整电阻的另一端连接所述第一电阻的另一端。

较佳地，所述时间调整电阻包括多个调整子电阻，多个所述调整子电阻的电阻值互不相同，多个所述调整子电阻的一端均连接至所述供电电源，多个所述调整子电阻的另一端通过选通开关与所述第一电阻的另一端连接。

较佳地，所述测试装置还包括计数显示模块，所述计数显示模块的输入端接收所述高电平信号，对所述高电平信号进行计数并显示所述计数的值。

较佳地，当所述计数的值达到预设阈值时，所述计数显示模块输出复位信号；

所述测试装置还包括：复位模块，所述复位模块用于接收所述复位信号，并根据所述复位信号复位所述计时芯片。

较佳地，所述复位模块包括第一三极管以及第二电阻，所述第一三极管的基极接收所述复位信号，所述第一三极管的发射极接地，所述第一三极管的集电极通过复位开关与所述计时芯片的复位引脚连接，所述第二电阻的一端连接所述第一三极管的集电极，所述第二电阻的另一端连接所述供电电源。

较佳地，所述复位模块包括第一MOS功率管以及第二电阻，所述第一MOS功率管的栅极接收所述复位信号，所述第一MOS功率管的源极接地，所述第一MOS功率管的漏极通过复位开关与所述计时芯片的复位引脚连接，所述第二电阻的一端连接所述第一MOS功率管的漏极，所述第二电阻的另一端连接所述供电电源。

较佳地，所述开关模块包括第三电阻、第二三极管、二极管以及继电器，所述继电器包括线圈和继电开关，所述第三电阻的一端连接所述输出引脚，所述第三电阻的另一端连接所述第二三极管的基极，所述第二三极管的发射极接地，所述第二三极管的集电极连接所述二极管的阳极，所述二极管的阴极连接所述供电电源，所述线圈的一端连接所述二极管的阳极，所述线圈的另一端连接所述二极管的阴极；当所述线圈通电时，所述继电开关闭合，当所述线圈断电时，所述继电开关断开。

较佳地，所述开关模块包括第三电阻、第二MOS功率管、二极管以及继电器，所述继电器包括线圈和继电开关，所述第三电阻的一端连接所述输出引脚，所述第三电阻的另一端连接所述第二MOS功率管的栅极，所述第二MOS功率管的源极接地，所述第二MOS功率管的漏极连接所述二极管的阳极，所述二极管的阴极连接所述供电电源，所述线圈的一端连接所述二极管的阳极，所述线圈的另一端连接所述二极管的阴极；当所述线圈通电时，所述继电开关闭合，当所述线圈断电时，所述继电开关断开。

较佳地，所述测试装置还包括第二电容，所述第二电容的一端连接所述计时芯片的控制引脚，所述第二电容的另一端接地。

本实用新型的积极进步效果在于：通过计时芯片配合少量的外部电阻、电容即可驱动开关模块断开或连接无线通讯模块的通电回路，不仅降低了整个硬件电路的设计难度，有效降低了测试成本，而且无需额外的软件编程，系统工作更加稳定。

附图说明

图1为本实用新型实施例1的用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置的结构示意图。

图2为图1中的计数显示模块的结构示意图。

图3为本实用新型实施例1的用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置的工作流程图。

图4为本实用新型实施例2的用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置的结构示意图。

具体实施方式

下面通过实施例的方式进一步说明本实用新型，但并不因此将本实用新型限制在所述的实施例范围之中。

实施例1

一种用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置，如图1所示，所述测试装置可以包括：计时芯片12、第一电容C1、第一电阻R1以及开关模块13；所述计时芯片12包括通电引脚VCC、触发引脚TR、重置锁定引脚TH、放电引脚DC以及输出引脚Q；所述开关模块13串接于无线通讯模块15的通电回路；

所述通电引脚VCC连接供电电源VDD，所述触发引脚TR与所述重置锁定引脚TH均连接所述第一电容C1的一端，所述第一电容C1的另一端接地，所述第一电阻R1的一端连接所述第一电容C1的一端，所述第一电阻R1的另一端连接所述放电引脚DC，所述第一电阻R1的另一端还连接供电电源VDD；

所述通电引脚VCC接通所述供电电源VDD后，所述供电电源VDD通过所述第一电阻R1给所述第一电容C1充电，当所述第一电容C1的一端的电压达到第一电压阈值，所述触发引脚TR被触发，所述输出引脚Q输出高电平信号，以使所述开关模块13接通所述通电回路；

当所述第一电容C1的一端的电压从所述第一电压阈值上升至第二电压阈值，所述重置锁定引脚TH以及所述放电引脚DC被触发，所述第一电容C1的一端通过所述第一电阻R1从所述放电引脚DC放电，所述输出引脚Q输出低电平信号，以使所述开关模块13断开所述通电回路；

当所述第一电容C1的一端的电压从所述第二电压阈值下降至所述第一电压阈值，所述触发引脚TR被再次触发，所述输出引脚Q再次输出高电平信号，以使所述开关模块13再次接通所述通电回路。

本实施例中，待测试的无线通讯模块15可以是Wi-Fi模块(例如：无线路由器)。待测试的无线通讯模块15的数量可以为一个或多个，优选地，所述待测试的无线通讯模块15的数量可以为5个。当所述无线通讯模块15的数量为多个时，多个无线通讯模块15可以相互并联后连接于测试电源14。

所述计时芯片12是能够工作于震荡状态的芯片，也就是说，在震荡状态时，所述计时芯片12可以输出高电平信号以及低电平信号交替的方波或脉冲。

优选地，所述计时芯片12可以为NE555芯片，所述NE555芯片可以看作8脚时基集成电路。

本实施例中，所述第一电阻R1可以是定值电阻或可变电阻，以满足所述测试装置工作在各种不同场合的需求。

进一步地，所述测试装置还可以包括时间调整电阻Rt，所述时间调整电阻Rt的一端连接所述供电电源VDD，所述时间调整电阻Rt的另一端连接所述第一电阻R1的另一端。

具体地，所述时间调整电阻Rt可以包括多个调整子电阻，多个所述调整子电阻的电阻值互不相同，多个所述调整子电阻的一端均连接至所述供电电源VDD，多个所述调整子电阻的另一端通过选通开关S1与所述第一电阻R1的另一端连接。

进一步地，所述测试装置还包括计数显示模块17，所述计数显示模块17的输入端接收所述高电平信号，对所述高电平信号进行计数并显示所述计数的值。

具体地，所述计数显示模块17可以包括74LS161加法计数器、74LS48七段LED显示译码器以及共阴数码管。

需要说明的是，所述74LS161加法计数器的计数原理、74LS48七段LED显示译码器的译码原理以及共阴数码管的显示原理都是现有技术中比较成熟的技术。因此，对于74LS161加法计数器、74LS48七段LED显示译码器以及共阴数码管各自的内部工作原理不再赘述。

当所述计数的值达到预设阈值(例如：9999)时，所述计数显示模块17可以输出复位信号Vf，所述复位信号Vf可以是高电平。

所述测试装置还可以包括：复位模块11，所述复位模块11用于接收所述复位信号Vf，并根据所述复位信号Vf复位所述计时芯片12。

优选地，所述复位模块11可以包括第一三极管Q1以及第二电阻R2，所述第一三极管Q1的基极接收所述复位信号Vf，所述第一三极管Q1的发射极接地，所述第一三极管Q1的集电极通过复位开关S2与所述计时芯片12的复位引脚R连接，所述第二电阻R2的一端连接所述第一三极管Q1的集电极，所述第二电阻R2的另一端连接所述供电电源VDD。

进一步地，所述复位开关S2可以是单刀双掷开关，所述单刀双掷开关具有一个动端以及一个不动端，所述不动端连接于计时芯片12的复位引脚R，所述单刀双掷开关的动端可以连接于第一三极管Q1的集电极，也可以根据需要直接接地。相应的，当所述单刀双掷开关的动端连接于第一三极管Q1的集电极时，在第一三极管Q1的基极接收到复位信号Vf后，第一三极管Q1导通，由此使计时芯片12的复位引脚R接地；当所述单刀双掷开关的动端直接接地时，所述计时芯片12的复位引脚R便可以直接接地，方便测试人员根据具体需要而及时复位所述计时芯片12。

本实施例中，所述第二电阻R2可以是定值电阻或可变电阻，以满足所述测试装置工作在各种不同场合的需求。

进一步地，所述开关模块13可以包括第三电阻R3、第二三极管Q2、二极管D以及继电器16，所述继电器16包括线圈和继电开关，所述第三电阻R3的一端连接所述输出引脚Q，所述第三电阻R3的另一端连接所述第二三极管Q2的基极，所述第二三极管Q2的发射极接地，所述第二三极管Q2的集电极连接所述二极管D的阳极，所述二极管D的阴极连接所述供电电源VDD，所述线圈的一端连接所述二极管D的阳极，所述线圈的另一端连接所述二极管D的阴极；当所述线圈通电时，所述继电开关闭合，当所述线圈断电时，所述继电开关断开。

进一步地，所述测试装置还可以包括第二电容C2，所述第二电容C2的一端连接所述计时芯片12的控制引脚CV，所述第二电容C2的另一端接地。所述第二电容C2也可以被称为旁路电容，有利于增加计时芯片的工作稳定性。

优选地，所述第二电容C2的电容值为1nF。

接下来，本实施例以NE555芯片作为计时芯片12对所述测试装置的工作原理进行详细说明。

请同时参考图1、图2、图3，芯片NE555的通电引脚VCC连接到供电电源VDD，复位引脚R通过复位开关S2连接供电电源VDD，整个测试装置开始工作，所述供电电源VDD通过第一电阻R2给所述第一电容充电。

具体地，充电时间T1可以通过如下公式计算得到：

T1＝-ln((VDD-Vc1)/VDD*(R1+Rt)*C1

＝-ln((VDD-2/3VDD)/VDD))*(R1+Rt)*C1

＝-ln(1/3)*(R1+Rt)*C1

＝1.098*(R1+Rt)*C1

其中，VDD为供电电源的电压值，Vc1为第一电容C1能充电达到的最高电压值，R1为第一电阻的电阻值，Rt为时间调整电阻的电阻值，C1为第一电容的电容值。

通过选通开关S1将具有不同阻值的调整子电阻连接于第一电阻R1，从而可以适应性调整充电时间T1。优选地，可以设置6种不同的充电时间T1，例如：5s、10s、20s、30s、60s、100s。

当所述第一电容C1的一端的电压达到第一电压阈值(所述第一电压阈值为1/3*VDD)时，所述触发引脚TR被触发，所述输出引脚Q输出高电平信号，所述第二三极管Q2导通，继电器16的线圈被通电，吸引继电器开关闭合，从而接通无线通讯模块15的通电回路。

当所述第一电容C1的一端的电压从所述第一电压阈值上升至第二电压阈值(所述第一电压阈值为2/3*VDD)时，所述重置锁定引脚TH以及所述放电引脚DC被触发，所述第一电容C1的一端通过所述第一电阻R1从所述放电引脚DC放电，所述输出引脚Q输出低电平信号，所述第二三极管Q2截止，继电器16的线圈被断电，继电器开关断开，从而断开无线通讯模块15的通电回路。

具体地，放电时间T2可以通过如下公式计算得到：

T2＝-ln((VDD-V1)/(VDD-V2))*R1*C1

＝-ln((VDD-2/3VDD)/(VDD-1/3VDD))*R1*C1

＝-ln(1/2)*R1*C1

＝0.693*R1*C1

其中,VDD为供电电源的电压值，R1为第一电阻的电阻值，C1为第一电容的电容值，V1为第一电容放电的初始电压，V2为第一电容放电能达到的最低电压。

优选地，所述放电时间T2可以设置为3s。

当所述第一电容C1的一端的电压从所述第二电压阈值下降至所述第一电压阈值时，所述触发引脚TR被再次触发，所述输出引脚Q再次输出高电平信号，所述第二三极管Q2再次导通，继电器16的线圈被通电，吸引继电器开关闭合，从而再次接通无线通讯模块15的通电回路。由此循环往复，所述输出引脚Q输出高电平与低电平交替的方波信号。

本实施例中，所述计数显示模块17可以包括4个74LS161加法计数器、4个74LS48七段LED显示译码器以及4个共阴数码管。其中，4个共阴数码管可以分别显示个、十、百、千的计数值。所述4个74LS161加法计数器分别以U1、U2、U3、U4作为标识，所述4个74LS48七段LED显示译码器分别以U5、U6、U7、U8作为标识。

所述NE555芯片输出的所述方波信号输入到U1的CLK引脚，方波信号中的一次上升沿便可以触发一次计数，U1的输出引脚D3、D2、D1、D0初始为0000，当CLK引脚接收一次高电平，U1便自动加一，且经过相应的U5译码后，个位数码管显示当前计数值。当代表个位的数码管显示到a时，即U1的输出引脚D3、D2、D1、D0输出为1010。由于引脚D3、D1连接二输入与门的两个输入端，二输入与门便可以输出一个高电平至U2的CLK引脚，U2由于收到一个上升沿而开始触发计数，同时通过U6驱动十位数码管加一，依次类推，直到千位、百位、十位、个位四个数码管的值同时达到9。此时U1、U2、U3、U4每一个计数器的输出引脚D3、D2、D1、D0都为1001，并且引脚D3、D0再分别通过四个二输入与门连接于一个四输入与门，最终输出一个高电平至第一三极管Q1的基极，用来驱动第一三极管Q1导通，从而使复位引脚R的电平由高电平变化为低电平，由于复位引脚R为低电平有效，则NE555芯片停止工作，四个数码管全部停留在显示数字9的界面，测试结束。

本领域技术人员应当理解，本实施例中的测试装置不仅可以单独用于测试无线通讯模块，也可以与具有其他功能的模块集成在一起，作为具有自动控制通电回路通断功能的子电路与其他子电路配合使用，本实用新型实施例对此不作限制。

本实施例通过计时芯片配合少量的外部电阻、电容即可驱动开关模块断开或连接无线通讯模块的通电回路，有效降低了测试成本，而且无需额外的软件编程，系统工作更加稳定。此外，该测试装置中的继电器的导通时间和闭合时间都是通过NE555芯片的定时输出来实现，降低了整个硬件电路的设计难度。

实施例2

一种用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置，如图4所示，本实施例的测试装置是在实施例1基础上的进一步改进。

实施例2相对于实施例1的主要改进在于，利用第一MOS功率管N1替换第一三极管Q1，利用第二MOS功率管N2替换第二三极管Q2。

具体地，所述复位模块11可以包括第一MOS功率管N1以及第二电阻R2，所述第一MOS功率管N1的栅极接收所述复位信号Vf，所述第一MOS功率管N1的源极接地，所述第一MOS功率管N1的漏极通过复位开关S2与所述计时芯片12的复位引脚R连接，所述第二电阻R2的一端连接所述第一MOS功率管N1的漏极，所述第二电阻R2的另一端连接所述供电电源VDD。

具体地，所述开关模块13可以包括第三电阻R3、第二MOS功率管N2、二极管D以及继电器16，所述继电器16包括线圈和继电开关，所述第三电阻R3的一端连接所述输出引脚Q，所述第三电阻R3的另一端连接所述第二MOS功率管N2的栅极，所述第二MOS功率管N2的源极接地，所述第二MOS功率管N2的漏极连接所述二极管D的阳极，所述二极管D的阴极连接所述供电电源VDD，所述线圈的一端连接所述二极管VDD的阳极，所述线圈的另一端连接所述二极管D的阴极；当所述线圈通电时，所述继电开关闭合，当所述线圈断电时，所述继电开关断开。

本领域技术人员可以理解，由于制造工艺的不同，所述第一MOS功率管N1、第二MOS功率管N2为电压控制电流器件，所述第一三极管Q1、第二三极管Q2为电流控制电流器件，故第一MOS功率管N1、第二MOS功率管N2的放大能力相对于第一三极管Q1、第二三极管Q2而言较差。在电路中工作时，第一MOS功率管N1、第二MOS功率管N2的栅极几乎不吸取电流，而第一三极管Q1、第二三极管Q2在工作时其基极总要吸取一定的电流，因此第一MOS功率管N1、第二MOS功率管N2的输入电阻比第一三极管Q1、第二三极管Q2的输入电阻高。另外，第一MOS功率管N1、第二MOS功率管N2只有多子这一种载流子参与导电，第一三极管Q1、第二三极管Q2有多子和少子两种载流子参与导电，而少子浓度受温度、辐射等因素影响较大，因而第一MOS功率管N1、第二MOS功率管N2的温度稳定性以及抗辐射能力要优于第一三极管Q1、第二三极管Q2。

由于MOS功率管以及三极管的性能各有利弊，本领域技术人员可以根据测试装置的具体应用场合来选择使用MOS功率管或者三极管来构成本实施例中的电路，本实用新型实施例对此不做限制。

需要说明的是，上述实施例中的“高电平”和“低电平”的电压值并不做具体限定，只要高电平的电压值高于低电平的电压值即可。例如，高电平的电压值能够被识别为逻辑1，而低电平的电压值能够被识别为逻辑0。

虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这仅是举例说明，本实用新型的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本实用新型的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：计时芯片、第一电容、第一电阻以及开关模块；所述计时芯片包括通电引脚、触发引脚、重置锁定引脚、放电引脚以及输出引脚；所述开关模块串接于无线通讯模块的通电回路；

所述通电引脚连接供电电源，所述触发引脚与所述重置锁定引脚均连接所述第一电容的一端，所述第一电容的另一端接地，所述第一电阻的一端连接所述第一电容的一端，所述第一电阻的另一端连接所述放电引脚，所述第一电阻的另一端还连接供电电源；

所述通电引脚接通所述供电电源后，所述供电电源通过所述第一电阻给所述第一电容充电，当所述第一电容的一端的电压达到第一电压阈值，所述触发引脚被触发，所述输出引脚输出高电平信号，以使所述开关模块接通所述通电回路；

当所述第一电容的一端的电压从所述第一电压阈值上升至第二电压阈值，所述重置锁定引脚以及所述放电引脚被触发，所述第一电容的一端通过所述第一电阻从所述放电引脚放电，所述输出引脚输出低电平信号，以使所述开关模块断开所述通电回路；

当所述第一电容的一端的电压从所述第二电压阈值下降至所述第一电压阈值，所述触发引脚被再次触发，所述输出引脚再次输出高电平信号，以使所述开关模块再次接通所述通电回路。

2.如权利要求1所述的用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括时间调整电阻，所述时间调整电阻的一端连接所述供电电源，所述时间调整电阻的另一端连接所述第一电阻的另一端。

3.如权利要求2所述的用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置，其特征在于，所述时间调整电阻包括多个调整子电阻，多个所述调整子电阻的电阻值互不相同，多个所述调整子电阻的一端均连接至所述供电电源，多个所述调整子电阻的另一端通过选通开关与所述第一电阻的另一端连接。

4.如权利要求1所述的用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括计数显示模块，所述计数显示模块的输入端接收所述高电平信号，对所述高电平信号进行计数并显示所述计数的值。

5.如权利要求4所述的用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置，其特征在于，当所述计数的值达到预设阈值时，所述计数显示模块输出复位信号；

所述测试装置还包括：复位模块，所述复位模块用于接收所述复位信号，并根据所述复位信号复位所述计时芯片。

6.如权利要求5所述的用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置，其特征在于，所述复位模块包括第一三极管以及第二电阻，所述第一三极管的基极接收所述复位信号，所述第一三极管的发射极接地，所述第一三极管的集电极通过复位开关与所述计时芯片的复位引脚连接，所述第二电阻的一端连接所述第一三极管的集电极，所述第二电阻的另一端连接所述供电电源。

7.如权利要求5所述的用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置，其特征在于，所述复位模块包括第一MOS功率管以及第二电阻，所述第一MOS功率管的栅极接收所述复位信号，所述第一MOS功率管的源极接地，所述第一MOS功率管的漏极通过复位开关与所述计时芯片的复位引脚连接，所述第二电阻的一端连接所述第一MOS功率管的漏极，所述第二电阻的另一端连接所述供电电源。

8.如权利要求1所述的用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置，其特征在于，所述开关模块包括第三电阻、第二三极管、二极管以及继电器，所述继电器包括线圈和继电开关，所述第三电阻的一端连接所述输出引脚，所述第三电阻的另一端连接所述第二三极管的基极，所述第二三极管的发射极接地，所述第二三极管的集电极连接所述二极管的阳极，所述二极管的阴极连接所述供电电源，所述线圈的一端连接所述二极管的阳极，所述线圈的另一端连接所述二极管的阴极；当所述线圈通电时，所述继电开关闭合，当所述线圈断电时，所述继电开关断开。

9.如权利要求1所述的用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置，其特征在于，所述开关模块包括第三电阻、第二MOS功率管、二极管以及继电器，所述继电器包括线圈和继电开关，所述第三电阻的一端连接所述输出引脚，所述第三电阻的另一端连接所述第二MOS功率管的栅极，所述第二MOS功率管的源极接地，所述第二MOS功率管的漏极连接所述二极管的阳极，所述二极管的阴极连接所述供电电源，所述线圈的一端连接所述二极管的阳极，所述线圈的另一端连接所述二极管的阴极；当所述线圈通电时，所述继电开关闭合，当所述线圈断电时，所述继电开关断开。

10.如权利要求1所述的用于无线通讯模块的开关机测试的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括第二电容，所述第二电容的一端连接所述计时芯片的控制引脚，所述第二电容的另一端接地。