CN113721144A - 电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例公开了一种电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备，涉及测试领域。通过多个故障测试单元对电机进行故障检测，以及在存储器中存储每次故障发生时的故障数据，同时统计故障的故障类型和是否为可重启故障，在重启次数小于最大重启次数时，指示电机进行重启操作。整个故障检测过程无需人工值守，在老化测试结束后直接通过读取故障数据可得到电机的故障原因，极大地提高了电机的故障检测效率和准确度。
Description
技术领域
本申请涉及测试领域，尤其涉及一种电机的老化测试方法、装置、存储介质及电子设备。
背景技术
电机在出厂前需要执行老化测试，老化测试的过程包括：测试人员设置老化测试的测试参数和老化时间段，电机根据测试参数在老化时间段内执行老化测试，在老化测试过程中，测试人员观察通过观察电机的运行状态(是否正常转动)和电机的外观来识别是否发生故障。
发明内容
本申请实施例提供了一种电机的老化测试方法、装置、存储介质及自动测试设备，可以解决相关技术中电机的老化测试效率低和测量结果不准确的问题。所述技术方案如下：
第一方面，本申请实施例提供了一种电机的老化测试方法，所述方法包括：
加载老化测试程序对电机进行老化测试；
在老化测试过程中，通过多个故障检测单元对所述电机进行故障检测；
在检测到第i次故障时，识别所述第i次故障的故障类型；其中，i为大于或等于1的整数；
存储所述第i次故障的故障数据；其中，所述故障数据表示所述电机的故障类型、故障次数和测量值；
根据所述故障类型判断所述第i次故障是否为可重启故障；
若为是，统计当前的累计重启次数；
若所述累计重启次数小于预设的最大重启次数，指示所述电机执行重启操作，以及继续对所述电机进行故障检测。
第二方面，本申请实施例提供了一种电机的老化测试装置，包括：
加载单元，用于加载老化测试程序对电机进行老化测试；
检测单元，用于在老化测试过程中，通过多个故障检测单元对所述电机进行故障检测；
识别单元，用于在检测到第i次故障时，识别所述第i次故障的故障类型；其中，i为大于或等于1的整数；
存储单元，用于存储所述第i次故障的故障数据；其中，所述故障数据表示所述电机的故障类型、故障次数和测量值；
所述识别单元，还用于根据所述故障类型判断所述第i次故障是否为可重启故障；
统计单元，用于若为是，统计当前的累计重启次数；
重启单元，用于若所述累计重启次数小于预设的最大重启次数，指示所述电机执行重启操作，以及继续对所述电机进行故障检测。
第三方面，本申请实施例提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行上述的方法步骤。
第四方面，本申请实施例提供一种电子设备，可包括：处理器和存储器；其中，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行上述的方法步骤。
本申请一些实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：
在电机的老化测试过程中，通过多个故障测试单元对电机进行故障检测，以及在存储器中存储每次故障发生时的故障数据，同时统计故障的故障类型和是否为可重启故障，在重启次数小于最大重启次数时，指示电机进行重启操作。整个故障检测过程无需人工值守，在老化测试结束后直接通过读取故障数据可得到电机的故障原因，极大地提高了电机的故障检测效率和准确度。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的网络结构图；
图2是本申请实施例提供的一种电机的老化测试方法的流程示意图；
图3是本申请实施例提供的故障数据的结构图；
图4是本申请实施例提供的一种电机的老化测试装置的结构示意图；
图5是本申请实施例提供的一种装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施例方式作进一步地详细描述。
下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。此外，在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
参见图1，为本申请实施例提供的一种网络架构图，本申请的网络架构包括：测试设备11、驱动板12和电机13，电机13的数量可以是多个，驱动板12可以批量地对多个电机13同时进行老化测试。
其中，本申请的测试设备11具有显示装置。测试设备11、驱动板12和电机13之间的通信的方式可以是有线通信方式(例如：串口通信方式)，有线通信方式包括但不限于USB线缆、URAT线缆、网线、同轴电缆或其他线缆等。
基于图1的网络架构，请参见图2，为本申请实施例提供的一种电机的老化测试方法的流程示意图。如图2所示，本申请实施例的所述方法可以包括以下步骤：
S201、加载老化测试程序对电机进行老化测试。
其中，电机的驱动板内置和存储器和处理器，驱动板加载老化测试程序，老化测试程序定义有老化测试的相关规则，例如：老化时间、电机的输入电气测试和运转方式等。驱动板根据加载的老化测试程序对电机执行老化测试。本申请的驱动板可支持对多个电机进行批量的老化测试，提高测试效率。
S202、在老化测试过程中，通过多个故障检测单元对电机进行故障检测。
其中，在老化测试的时间区间内，驱动板通过多个故障检测单元对电机进行故障检测，每个故障检测单元执行一种故障类型的检测。故障检测单元可以是硬件单元，也可以是软件单元。例如：多个硬件检测单元为：电流检测单元、电压检测单元、堵转检测单元、缺相检测单元、过温检测单元和数据校验单元；电流检测单元和电压检测单元为硬件单元，其余的为软件单元，电流检测单元用于检测电机是否存在电流异常(即电机的工作电流值偏离正常电流范围)，电压检测单元用于检测电机是否存在电压异常(即电机的工作电压值偏离正常电压范围，具体分为过压和欠压)，堵转检测单元用于检测电机是否存在堵转异常，缺相检测单元用于检测电机是否存在缺相异常，过温检测单元用于检测电机的温度是否超过预设阈值。
S203、在检测到第i次故障时，识别第i次故障的故障类型。
其中，驱动板在老化测试开始时，每检测到一次故障，将累计故障次数加1，至到老化测试结束。驱动板将当前的累计故障次数的数值i作为当前检测的故障的序号，然后识别第i次故障的故障类型，故障类型和故障检测单元对应，不同的故障检测单元检测到的故障的故障类型不同。
S204、存储第i次故障的故障数据。
其中，故障数据用于表示电机的故障类型，故障次数和测量值。例如：第i次故障的故障类型为电压异常，故障数据使用比特位来表示，其包括欠压标志位、过压标志位、驱动板、异常电源电压的测量值和电压异常的故障次数。将第i次故障的故障数据存储到存储器中，驱动板每检测到一次故障，就在存储器中分配一个存储单元，将故障数据存储到存储单元中，便于追溯电机在老化测试过程中的故障情况。进一步的，每个故障数据设置有循环校验位，用于对故障数据进行循环校验，确保读取的故障数据是准确的。
举例来说，参见图3所示，每次生成的故障数据以行的形式存储在存储器的存储单元中，每个存储单元分配有一个存储地址，每个故障数据还设置有一个CRC校验码。存储器的第1行存储有头信息，头信息包括累计重启次数，电机每重启1次，累计重启次数自动加1，直到老化测试结束。
进一步的，故障数据使用比特位来表示，故障数据分为长度相等的第一故障日志数据和第二故障日志数据，第一故障日志数据表示温度异常和电压异常，第二故障日志数据表示缺相异常和堵转异常。
例如：参见表1所示的第一故障日志数据中各个比特的含义和第二故障日志数据中各个比特的含义，第一故障日志数据和第二故障日志数据的长度为32位。
表1
根据表1所示，第一故障日志数据的32个比特位，序号为0～31。比特为0表示电压异常记录标志位，该比特位的值等于0时，表示未发生电压异常，该比特位的值等于1时表示发生电压异常。比特位1表示过压标志位，该比特位的值等于1时，表示电压异常为过压异常；比特位2表示欠压标志位，该比特位的值等于1时，表示电压异常为欠压异常。比特位3～14表示电压异常时的ADC(模数转换器)测量值；比特位15～比特位18表示电压异常的重试次数，由共有4个比特位，电压异常的最大重启次数为16次。比特位19表示温度异常标志位，该比特位的值为1时表示发生温度异常，该比特位为0时表示未发生温度异常。比特位20～31表示温度异常的测量值。
表2
根据表2所示，比特位0～比特位11未定义；比特位12～13表示堵转异常的状态标志位，不同的值表示不同的堵转运行状态；比特位14表示缺相异常标志位，该比特位的值为1时表示发生缺相异常；比特位15～16表示缺陷异常的类型标志位，该比特位的值为01是表示发生缺U相异常，比特位的值为10时表示发生缺V相异常，比特位的值为11时表示发生缺W相异常；比特位17～比特位20表示缺相异常的重试次数，由共有4个比特位，缺相异常的最大重启次数为16次。比特位19～31未定义。
S205、根据故障类型判断第i次故障是否为可重启故障。
其中，可重启故障表示故障发生时电机执行重启操作，不可重启故障表示故障发生时电机执行停机操作。驱动板预存储或预配置有故障类型和可重新状态之间的映射关系，根据该映射关系判断第i次故障是否为可重启状态，例如：第i次故障的故障类型为电压异常，根据映射关系确定该故障为可重启故障；又例如：第i次故障的故障类型为缺相异常，根据映射关系确定该故障为不可重启故障。
可选的，若第i次故障为不可重启故障，则驱动板向电机发送停止指令，以指示电机停止工作。
S206、若为是，统计当前的累计重启次数。
其中，累计重启次数驱动板从老化测试开始时，当检测到第i次故障之前的时间段内的重启次数。
S207、若累计重启次数小于预设的最大重启次数，指示电机执行重启操作，以及继续对电机进行故障检测。
其中，最大重启次数可以根据实际需求而定，本申请不作限制。若累计重启次数小于预设的最大重启次数，驱动板向电机发送重启指令，以指示电机执行重启操作，重启完成后，驱动板继续使用多个故障检测单元对电机进行故障检测，直到老化测试结束。
可选的，若累计重启次数等于最大重启次数时，向电机发送停止指令，以指示电机停止工作。
进一步的，在老化结束后，用户可以使用测试设备读取驱动板的存储器中存储的各个故障数据和CRC校验码，使用CRC校验码校验通过后，根据表1和表2中字段含义确定故障原因。
本申请的有益效果包括：在电机的老化测试过程中，通过多个故障测试单元对电机进行故障检测，以及在存储器中存储每次故障发生时的故障数据，同时统计故障的故障类型和是否为可重启故障，在重启次数小于最大重启次数时，指示电机进行重启操作。整个故障检测过程无需人工值守，在老化测试结束后直接通过读取故障数据可得到电机的故障原因，极大地提高了电机的故障检测效率。
下述为本申请装置实施例，可以用于执行本申请方法实施例。对于本申请装置实施例中未披露的细节，请参照本申请方法实施例。
请参见图4，其示出了本申请一个示例性实施例提供的电机的老化测试方法的结构示意图。该电机的老化测试方法可以通过软件、硬件或者两者的结合实现成为自动测试设备的全部或一部分。该装置4包括：加载单元401、检测单元402、识别单元403、存储单元404、统计单元405和重启单元406。
加载单元401，用于加载老化测试程序对电机进行老化测试；
检测单元402，用于在老化测试过程中，通过多个故障检测单元对所述电机进行故障检测；
识别单元403，用于在检测到第i次故障时，识别所述第i次故障的故障类型；其中，i为大于或等于1的整数；
存储单元404，用于存储所述第i次故障的故障数据；其中，所述故障数据表示所述电机的故障类型、故障次数和测量值；
所述识别单元403，还用于根据所述故障类型判断所述第i次故障是否为可重启故障；
统计单元405，用于若为是，统计当前的累计重启次数；
重启单元406，用于若所述累计重启次数小于预设的最大重启次数，指示所述电机执行重启操作，以及继续对所述电机进行故障检测。
在一个或多个实施例中，还包括：
停止单元，用于若所述累计重启次数等于所述最大重启次数时，指示所述电机停止工作。
在一个或多个实施例中，停止单元还用于：
若所述第i次故障为不可重启故障，指示所述电机停止工作。
在一个或多个实施例中，所述第i次故障的故障数据还关联有CRC校验码。
在一个或多个实施例中，所述第i次故障的故障数据包括：第一故障日志数据和第二故障日志数据，第一故障日志数据表示温度异常和电压异常，所述第二故障日志数据表示缺相异常和堵转异常。
在一个或多个实施例中，所述第一故障日志数据包括：电压异常标志位、过压标志位、欠压标志位、电压异常的重启次数、温度异常标志位和温度异常的电压值；所述第二故障日志数据包括：堵转异常的预先状态标志位、缺相异常标志位和缺相异常的重试次数。
在一个或多个可能的实施例中，所述存储所述第i次故障的故障数据，包括：
为所述第i次故障的故障数据分配存储地址；
将所述第i次故障的故障数据存储到所述存储地址指示的存储空间中。
需要说明的是，上述实施例提供的电机的老化测试装置在执行电机的老化测试方法时，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将设备的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。另外，上述实施例提供的电机的老化测试方法与电机的老化测试方法实施例属于同一构思，其体现实现过程详见方法实施例，这里不再赘述。
上述本申请实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
本申请实施例还提供了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质可以存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行如上述图2所示实施例的方法步骤，具体执行过程可以参见图2所示实施例的具体说明，在此不进行赘述。
请参见图5，为本申请实施例提供了一种装置的结构示意图。如图5所示，装置1000可以是图1中的驱动板12，所述装置1000可以包括：至少一个处理器1001，至少一个网络接口1004，用户接口1003，存储器1005，至少一个通信总线1002。
其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。
其中，用户接口1003可以包括显示屏(Display)、摄像头(Camera)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。
其中，网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。
其中，处理器1001可以包括一个或者多个处理核心。处理器1001利用各种接口和线路连接整个装置1000内的各个部分，通过运行或执行存储在存储器1005内的指令、程序、代码集或指令集，以及调用存储在存储器1005内的数据，执行装置1000的各种功能和处理数据。可选的，处理器1001可以采用数字信号处理(Digital Signal Processing，DSP)、现场可编程门阵列(Field-Programmable GateArray，FPGA)、可编程逻辑阵列(ProgrammableLogicArray，PLA)中的至少一种硬件形式来实现。处理器1001可集成中央处理器(CentralProcessing Unit，CPU)、图像处理器(Graphics Processing Unit，GPU)和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中，CPU主要处理操作系统、用户界面和应用程序等；GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制；调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调器也可以不集成到处理器1001中，单独通过一块芯片进行实现。
其中，存储器1005可以包括随机存储器(RandomAccess Memory，RAM)，也可以包括只读存储器(Read-Only Memory)。可选的，该存储器1005包括非瞬时性计算机可读介质(non-transitory computer-readable storage medium)。存储器1005可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器1005可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于至少一个功能的指令(比如触控功能、声音播放功能、图像播放功能等)、用于实现上述各个方法实施例的指令等；存储数据区可存储上面各个方法实施例中涉及到的数据等。存储器1005可选的还可以是至少一个位于远离前述处理器1001的存储装置。如图5所示，作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及应用程序。
在图5所示的装置1000中，用户接口1003主要用于为用户提供输入的接口，获取用户输入的数据；而处理器1001可以用于调用存储器1005中存储的配置应用程序接口的应用程序，并具体执行以下操作图2所示的方法实施例的步骤。
本实施例的构思和图2的方法实施例相同，其带来的技术效果也相同，具体过程可参照图2实施例的描述，此处不再赘述。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体或随机存储记忆体等。
以上所揭露的仅为本申请较佳实施例而已，当然不能以此来限定本申请之权利范围，因此依本申请权利要求所作的等同变化，仍属本申请所涵盖的范围。
Claims (10)
1.一种电机的老化测试方法，其特征在于，包括：
加载老化测试程序对电机进行老化测试；
在老化测试过程中，通过多个故障检测单元对所述电机进行故障检测；
在检测到第i次故障时，识别所述第i次故障的故障类型；其中，i为大于或等于1的整数；
存储所述第i次故障的故障数据；其中，所述故障数据表示所述电机的故障类型、故障次数和测量值；
根据所述故障类型判断所述第i次故障是否为可重启故障；
若为是，统计当前的累计重启次数；
若所述累计重启次数小于预设的最大重启次数，指示所述电机执行重启操作，以及继续对所述电机进行故障检测。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
若所述累计重启次数等于所述最大重启次数时，指示所述电机停止工作。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，还包括：
若所述第i次故障为不可重启故障，指示所述电机停止工作。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第i次故障的故障数据还关联有CRC校验码。
5.根据权利要求1或2或4所述的方法，其特征在于，所述第i次故障的故障数据包括：第一故障日志数据和第二故障日志数据，第一故障日志数据表示温度异常和电压异常，所述第二故障日志数据表示缺相异常和堵转异常。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一故障日志数据包括：电压异常标志位、过压标志位、欠压标志位、电压异常的重启次数、温度异常标志位和温度异常的电压值；所述第二故障日志数据包括：堵转异常的预先状态标志位、缺相异常标志位和缺相异常的重试次数。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述存储所述第i次故障的故障数据，包括：
为所述第i次故障的故障数据分配存储地址；
将所述第i次故障的故障数据存储到所述存储地址指示的存储空间中。
8.一种电机的老化测试装置，其特征在于，包括：
加载单元，用于加载老化测试程序对电机进行老化测试；
检测单元，用于在老化测试过程中，通过多个故障检测单元对所述电机进行故障检测；
识别单元，用于在检测到第i次故障时，识别所述第i次故障的故障类型；其中，i为大于或等于1的整数；
存储单元，用于存储所述第i次故障的故障数据；其中，所述故障数据表示所述电机的故障类型、故障次数和测量值；
所述识别单元，还用于根据所述故障类型判断所述第i次故障是否为可重启故障；
统计单元，用于若为是，统计当前的累计重启次数；
重启单元，用于若所述累计重启次数小于预设的最大重启次数，指示所述电机执行重启操作，以及继续对所述电机进行故障检测。
9.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行如权利要求1～7任意一项的方法步骤。
10.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器和存储器；其中，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行如权利要求1～7任意一项的方法步骤。
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