CN117192343B - 基于辅助系统的芯片测试方法、电子设备及介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了基于辅助系统的芯片测试方法、电子设备及介质，方法包括：获取辅助系统中的所有测试项目，并接收项目更改请求，其中，每个测试项目包括至少一个校准子项目；对所有测试项目进行状态检测；在测试项目为可编辑状态的情况下，根据项目更改请求对测试项目进行信息配置，得到项目配置信息；根据项目配置信息更新校准子项目的参数，并将项目配置信息存储至预设的加密数据库；接收测试指令，并根据测试指令调用更新后的加密数据库以对待测芯片进行测试。根据本申请的技术方案，能够实时编译辅助系统中的参数信息，提高芯片的测试效率。

Description

基于辅助系统的芯片测试方法、电子设备及介质

技术领域

本申请涉及芯片测试技术领域，尤其是一种基于辅助系统的芯片测试方法、电子设备及介质。

背景技术

软件测试是伴随着软件的产生而产生的，它主要是采用编写的测试用例执行得到的实际输出与预期输出之间的审核或者比较过程，具体的，测试用例实际上就是为软件需求而编制的一组测试输入、执行条件以及预期结果，在执行测试用例的过程中去核实是否满足该特定软件需求。

芯片在封装后会用ATE（Automatic Test Equipment，自动试验设备）进行FT(Final Test，最终测试)以及CP(Chip Probing，晶圆测试)。为了模拟真实的业务场景，需要编写大量的测试用例，这就需要用到参数化的技术。然而，随着业务场景的多样性以及更加多元化的软件需求，若仍采用既往测试中的变量和参数化设置是难以满足当下不断变化的软件需求的；并且完成FT测试和CP测试需要保证ATE测试机功能正常，以及其能否达到FT测试和CP测试要求的高精度。但是若基于不同软件需求，当需要对该精度做出更改的时候，就必须得通过重新编译的方式去更改，很不方便，并且逐个编写变量及其相应参数化设置，不仅会存在大量冗余重复操作，且耗费人工成本高，无法对软件的其他配置进行全面修改，降低芯片的测试效率。

发明内容

本申请实施例提供了一种基于辅助系统的芯片测试方法、电子设备及介质，能够实时编译辅助系统中的参数信息，提高芯片的测试效率以及测试精度。

第一方面，本申请实施例提供了一种基于辅助系统的芯片测试方法，所述方法包括：

获取所述辅助系统中的所有测试项目，并接收项目更改请求，其中，每个所述测试项目包括至少一个校准子项目；

对所有所述测试项目进行状态检测；

在所述测试项目为可编辑状态的情况下，根据所述项目更改请求对所述测试项目进行信息配置，得到项目配置信息；

根据所述项目配置信息更新所述校准子项目的参数，并将所述项目配置信息存储至预设的加密数据库；

接收测试指令，并根据所述测试指令调用更新后的加密数据库以对待测芯片进行测试；

其中，所述根据所述项目更改请求对所述测试项目进行信息配置，得到项目配置信息，包括：

根据所述项目更改请求确定精度修改值、序列修改信息以及使能修改信息；

根据所述精度修改值对所述测试项目进行精度配置，得到精度配置信息；

根据所述序列修改信息对所述测试项目进行优先级排序，得到执行序列信息；

根据所述使能修改信息对所述测试项目进行使能信息配置，得到目标使能信息；

对所述精度配置信息、所述执行序列信息以及所述目标使能信息进行整理，得到项目配置信息。

在一些实施例中，所述根据所述序列修改信息对所述测试项目进行优先级排序，得到执行序列信息，包括：

获取所述测试项目在可编辑状态下的默认序列；

将所述默认序列与所述序列修改信息进行对比，确定第一校准子项目；

根据所述序列修改信息对所述第一校准子项目的编号进行更新，并对更新后的第一校准子项目进行排序，得到执行序列信息。

在一些实施例中，所述根据所述使能修改信息对所述测试项目进行使能信息配置，得到目标使能信息，包括：

获取所述测试项目在可编辑状态下的使能状态；

将所述使能状态与所述使能修改信息进行对比，确定第二校准子项目；

根据所述使能修改信息对所述第二校准子项目的使能状态进行更新，得到目标使能信息。

在一些实施例中，所述将所述默认序列与所述序列修改信息进行对比，确定第一校准子项目，包括：

将所述默认序列与所述序列修改信息进行信息匹配；

当所述默认序列与所述序列修改信息不匹配，在所述默认序列中确定信息不匹配的目标位置，并确定所述目标位置对应的第一校准子项目。

在一些实施例中，在所述对所有所述测试项目进行状态检测之后，还包括：

当所述测试项目为锁定状态，对锁定状态的测试项目进行标记，得到锁定测试项目；

对所述锁定测试项目进行统计，得到锁定目录。

在一些实施例中，所述根据所述精度修改值对所述测试项目进行精度配置，得到精度配置信息，包括：

根据所述项目更改请求确定修改标识；

根据所述修改标识在所述测试项目中确定第三校准子项目；

对所述第三校准子项目进行参数检测；

当所述第三校准子项目的参数值为空，基于所述精度修改值对所述第三校准子项目进行配置，得到精度配置信息；

当所述第三校准子项目存在参数值，根据所述精度修改值对所述第三校准子项目的参数值进行更新，得到精度配置信息。

在一些实施例中，在所述将所述项目配置信息存储至预设的加密数据库之后，还包括：

接收重置指令；

根据所述重置指令恢复所述辅助系统中的校准子项目的参数。

第二方面，本申请实施例还提供了一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述的基于辅助系统的芯片测试方法。

第三方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行如第一方面所述的基于辅助系统的芯片测试方法。

本申请实施例至少有如下有益效果：首先，获取辅助系统中的所有测试项目，并接收项目更改请求，便于后续根据项目更改请求更改测试项目中校准子项目的参数值，再对所有测试项目进行状态检测，以确定每个测试项目的编辑状态，在测试项目为可编辑状态的情况下，根据项目更改请求对测试项目进行信息配置，从而实现对测试项目中参数的修改，无需重新编译，扩大辅助系统的容错率，得到项目配置信息，其中，在对测试项目进行信息配置的过程中，需要根据精度修改值对测试项目进行精度配置，以使测试仪器更好地适应芯片的特性，提高测试结果的准确性，根据序列修改信息对测试项目进行优先级排序，实现对各个测试项目的优先级的灵活调节，根据使能修改信息对测试项目进行使能信息配置，以确保芯片的功能和性能符合实际应用的要求，通过对测试项目进行信息配置实现对精度值、序列信息以及使能信息的配置，提高对芯片的测试精度，之后，根据项目配置信息更新校准子项目的参数，以实现对校准子项目的实时更新，减少了辅助系统的更新频率，同时能够避免采用既往测试中的变量和参数化设置对芯片进行测试，并将项目配置信息存储至预设的加密数据库，便于下次对配置信息的调用，最后，接收测试指令，并根据测试指令调用更新后的加密数据库以对待测芯片进行测试，无需重新编译辅助系统，从而提高对待测芯片的测试效率。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

图1是本发明一个实施例提供的基于辅助系统的芯片测试方法的流程图；

图2是图1中步骤S103的具体方法的流程图；

图3是图2中步骤S203的具体方法的流程图；

图4是图2中步骤S204的具体方法的流程图；

图5是图3中步骤S302的具体方法的流程图；

图6是本发明另一个实施例提供的基于辅助系统的芯片测试方法的流程图；

图7是图2中步骤S202的具体方法的流程图；

图8是本发明另一个实施例提供的基于辅助系统的芯片测试方法的流程图；

图9是本发明一个实施例提供的电子设备的结构示意图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

需要说明的是，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

需要注意的是，在本发明实施例的描述中，说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。“至少一个”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示单独存在A、同时存在A和B、单独存在B的情况。其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。虽然在装置示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于装置中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。

此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

软件测试是伴随着软件的产生而产生的，它主要是采用编写的测试用例执行得到的实际输出与预期输出之间的审核或者比较过程，具体的，测试用例实际上就是为软件需求而编制的一组测试输入、执行条件以及预期结果，在执行测试用例的过程中去核实是否满足该特定软件需求。

其中，电脑主机使用现代计算机语言，例如C，C++，Java，Python，Lab VIEW等等，以通过标准和专有应用程序编程接口（Application Programming Interface，API）控制ATE（Automatic Test Equipment，自动试验设备）。上位机通过特定板卡发出信号从而对外部的检测校准板进行控制，配合安捷伦精密万用表完成对测试机的检测和校准。

芯片在封装后会用ATE进行FT(Final Test，最终测试)以及CP(Chip Probing，晶圆测试)。为了模拟真实的业务场景，需要编写大量的测试用例，这就需要用到参数化的技术。然而，随着业务场景的多样性以及更加多元化的软件需求，若仍采用既往测试中的变量和参数化设置是难以满足当下不断变化的软件需求的；并且完成FT测试和CP测试需要保证ATE测试机功能正常，以及其能否达到FT测试和CP测试要求的高精度。但是若基于不同软件需求，当需要对该精度做出更改的时候，就必须得通过重新编译的方式去更改，很不方便，并且逐个编写变量及其相应参数化设置，不仅会存在大量冗余重复操作，且耗费人工成本高，降低芯片的测试效率。

为了解决上述问题，本发明提供了一种基于辅助系统的芯片测试方法、电子设备及介质，首先，获取辅助系统中的所有测试项目，并接收项目更改请求，便于后续根据项目更改请求更改测试项目中校准子项目的参数值，再对所有测试项目进行状态检测，以确定每个测试项目的编辑状态，在测试项目为可编辑状态的情况下，根据项目更改请求对测试项目进行信息配置，从而实现对测试项目中参数的修改，无需重新编译，扩大辅助系统的容错率，得到项目配置信息，其中，在对测试项目进行信息配置的过程中，需要根据精度修改值对测试项目进行精度配置，以使测试仪器更好地适应芯片的特性，提高测试结果的准确性，根据序列修改信息对测试项目进行优先级排序，实现对各个测试项目的优先级的灵活调节，根据使能修改信息对测试项目进行使能信息配置，以确保芯片的功能和性能符合实际应用的要求，之后，根据项目配置信息更新校准子项目的参数，以实现对校准子项目的实时更新，减少了辅助系统的更新频率，同时能够避免采用既往测试中的变量和参数化设置对芯片进行测试，并将项目配置信息存储至预设的加密数据库，便于下次对配置信息的调用，最后，接收测试指令，并根据测试指令调用更新后的加密数据库以对待测芯片进行测试，无需重新编译辅助系统，从而提高对待测芯片的测试效率。

下面结合附图，对本申请实施例作进一步阐述。

参考图1，图1是本发明一个实施例提供的基于辅助系统的芯片测试方法的流程图，该基于辅助系统的芯片测试方法包括但不限于有步骤S101至步骤S105。

步骤S101：获取辅助系统中的所有测试项目，并接收项目更改请求；

需要说明的是，每个测试项目包括至少一个校准子项目。

在一些实施例中，获取辅助系统中的所有测试项目，例如，精度项目、校准项目、检测项目等等，并且每个测试项目包括至少一个校准子项目，例如，精度项目中包括精度值子项目、线路损耗项目、实际理论值项目等等；校准项目包括板卡子项目、通道数量子项目等等。

需要说明的是，项目更改请求可以由用户直接输入得到，或者由用户触发辅助系统上的相应按钮得到，本实施例不做具体限制。

步骤S102：对所有测试项目进行状态检测；

在一些实施例中，对所有测试项目进行状态检测，从而能够确定测试项目的编辑状态，进一步能够确定测试项目是否可以更改，实现对辅助系统的个性化操作。

步骤S103：在测试项目为可编辑状态的情况下，根据项目更改请求对测试项目进行信息配置，得到项目配置信息；

在一些实施例中，在测试项目为可编辑状态的情况下，说明可以更改测试项目中的参数，则直接根据项目更改请求对测试项目进行信息配置，实现对辅助系统的个性化配置，得到项目配置信息，从而能够实时编译辅助系统中的参数信息，避免既往测试中的变量和参数对测试过程的影响。

需要说明的是，在对辅助系统进行功能检测时，需要有一个好坏判定标准，该标准用于在辅助系统进行功能检测时，其对应的功能的实际输出是否达到该标准。在正常检测流程中，该标准是固定好无法改变的，当需要对该标准做出更改的时候，就必须得通过重新编译的方式去更改，很不方便，而本实施例能随意更改当前的标准，无需重新编译。

步骤S104：根据项目配置信息更新校准子项目的参数，并将项目配置信息存储至预设的加密数据库；

在一些实施例中，根据项目配置信息更新校准子项目的参数，实现对校准子项目的参数的修改，并将项目配置信息存储至预设的加密数据库，以便于下次对项目配置信息的调用，提高对芯片的测试效率，减少了软件更新的频率。

步骤S105：接收测试指令，并根据测试指令调用更新后的加密数据库以对待测芯片进行测试。

在一些实施例中，响应于测试指令，调用更新后的加密数据库以根据加密数据库中的项目配置信息对待测芯片进行测试，提高对待测芯片的测试精度，进一步提高了待测芯片的质量和可靠性。

参照图2，图2是图1中步骤S103的一种具体方法流程图，是对步骤S103的进一步说明，步骤S103包括但不限于步骤S201至步骤S205。

步骤S201：根据项目更改请求确定精度修改值、序列修改信息以及使能修改信息；

在一些实施例中，根据项目更改请求确定精度修改值、序列修改信息以及使能修改信息，其中，精度修改值用于表征辅助系统中精度标准值，序列修改信息用于表征辅助系统当前的执行顺序，使能修改信息用于表征测试项目是否执行。

步骤S202：根据精度修改值对测试项目进行精度配置，得到精度配置信息；

在一些实施例中，根据精度修改值对测试项目进行精度配置，得到精度配置信息，可以使测试仪器更好地适应芯片的特性，提高测试结果的准确性。并且某些特定的应用场景可能对测试结果的精度有更高的要求，本实施例可以根据特殊需求修改测试项目的精度值，以满足特定应用的要求。

需要说明的是，在对待测芯片进行精度校准时，需要有一个精度判定标准，该标准用于在对待测芯片进行精度校准时，判断其对应的精度是否达到该标准，而在正常校准流程中，该精度是固定好无法改变的，当需要对该精度做出更改的时候，就必须得通过重新编译的方式去更改，很不方便，本实施例能随意更改当前的精度，无需重新编译。

值得注意的是，本实施例中的精度配置信息包括但不限于有精度值、理论卡控值以及检测误差值，其中，精度值包含了百分比精度以及线损，例如：±(0.05% + 0.001)，其中0.005%是百分比精度，0.001是线损，具体地，线损还包括正线损和负线损，本实施例不做具体限制；

理论卡控值为得到的值与实际理论值的差值的标准，例如，理论卡控值为1，实际理论值是5，若得到的值是3，得到的值与实际理论值之间的差值为2，大于理论卡控值，则说明未达到标准。

通过设置精度修改值能够提高测试结果的准确性，满足特定应用的要求。

步骤S203：根据序列修改信息对测试项目进行优先级排序，得到执行序列信息；

在一些实施例中，根据序列修改信息对测试项目进行优先级排序，得到执行序列信息，实现对执行序列的调节，以使得后续执行校准或者测试过程中按照执行序列信号的顺序执行，实现对各个测试项目的优先级的灵活调节，可以及早发现和修复关键问题，从而避免后续测试过程中花费大量的时间和成本。

需要说明的是，在检测校准过程中，各个测试项的执行顺序和是否执行是固定好的，当需要进行顺序变换或不执行某一测试项时，也必须得通过重新编译得方式去更改，很不方便，本实施例能随意更改测试项的执行顺序，无需重新编译，并且适用于更多的应用场景。

步骤S204：根据使能修改信息对测试项目进行使能信息配置，得到目标使能信息；

在一些实施例中，根据使能修改信息对测试项目进行使能信息配置，得到目标使能信息，通过调整测试项的使能状态，可以根据具体的需求对芯片进行定制化的测试，确保芯片的功能和性能符合实际应用的要求。

步骤S205：对精度配置信息、执行序列信息以及目标使能信息进行整理，得到项目配置信息。

在一些实施例中，对精度配置信息、执行序列信息以及目标使能信息进行整理，得到项目配置信息，从而实现对精度值、序列信息以及使能信息的配置，提高对芯片的测试精度，提高芯片的质量和可靠性，并且减少了软件更新的频率，扩大了容错率。

参照图3，图3是图2中步骤S203的一种具体方法流程图，是对步骤S203的进一步说明，步骤S203包括但不限于步骤S301至步骤S303。

步骤S301：获取测试项目在可编辑状态下的默认序列；

步骤S302：将默认序列与序列修改信息进行对比，确定第一校准子项目；

步骤S303：根据序列修改信息对第一校准子项目的编号进行更新，并对更新后的第一校准子项目进行排序，得到执行序列信息。

在一些实施例的步骤S301至步骤S303中，在根据序列修改信息对测试项目进行优先级排序，得到执行序列信息的过程中，首先，获取测试项目在可编辑状态下的默认序列，即，测试项目在可编辑状态下的执行顺序，再将默认序列与序列修改信息进行对比，查看默认序列与序列修改信息是否一致，在序列中确定不一致的位置，以进一步确定第一校准子项目，即，需要修改编号的校准子项目，最后，根据序列修改信息对第一校准子项目的编号进行更新，从而改变第一校准子项目在默认序列中的优先级，减少在测试过程中可能会出现的重要功能缺陷，提高芯片的质量和可靠性。

需要说明的是，获取测试项目在可编辑状态下的默认序列，例如，测试项目包括四个校准子项目，四个校准子项目分别编号为1、2、3以及4，默认序列为按照编号进行递增排序，即为1234，将默认序列与序列修改信息进行对比，确定需要将第三个位置的校准子项目的序号更改为1，并将第一位置的校准子项目的序号更改为3，则将第三个位置的校准子项目以及第一个位置的校准子项目作为第一校准子项目，之后再根据序列修改信息分别将第三个位置的校准子项目的序号从3更改为1，并将第一个位置的校准子项目的序号从1更改为3，以提高第三个位置的校准子项目的优先级，并降低第一个位置的校准子项目的优先级，对更新后的校准子项目进行排序，得到新的执行序列，使得在执行校准或检测时按照编号有序执行。

值得注意的是，通过调整测试项的优先级，可以在测试过程中更有效地利用有限的时间和资源。将优先级高的测试项放在前面进行测试，可以及早发现和修复关键问题，从而避免后续测试过程中花费大量的时间和成本。

参照图4，图4是图2中步骤S204的一种具体方法流程图，是对步骤S204的进一步说明，步骤S204包括但不限于步骤S401至步骤S403。

步骤S401：获取测试项目在可编辑状态下的使能状态；

步骤S402：将使能状态与使能修改信息进行对比，确定第二校准子项目；

步骤S403：根据使能修改信息对第二校准子项目的使能状态进行更新，得到目标使能信息。

在一些实施例的步骤S401至步骤S403中，在根据使能修改信息对测试项目进行使能信息配置的过程中，首先，获取测试项目在可编辑状态下的使能状态，即，确定测试项目中的校准子项目是否执行，之后，将使能状态与使能修改信息进行对比，确定需要更改使能状态的第二校准子项目，从而能够禁用不必要或无关的测试项，进一步减少测试时间和资源消耗，提高测试效率，最后，根据使能修改信息对第二校准子项目的使能状态进行更新，得到目标使能信息，通过调整测试项的使能状态，可以根据具体的需求对芯片进行定制化的测试，确保芯片的功能和性能符合实际应用的要求。

需要说明的是，本实施例中的使能即为执行校准子项目，不使能即为不执行测试项，可以将使能状态设置为1和0，其中，1为使能，即执行校准子项目，0为不使能，即不执行校准子项目。

可以理解的是，芯片测试通常包含多个测试项，每个测试项都会检测芯片的不同功能或性能。当发现问题时，通过禁用一些测试项，可以逐步缩小问题范围，更加精确地定位问题所在。这样可以节省调试和排查的时间，提高问题定位的准确性。

在一些实施例中，将使能状态与使能修改信息进行对比，例如，测试项目包括三个校准子项目，其中，第一个校准子项目为不使能，使能状态设置为0，第二个和第三个校准子项目为使能，使能状态设置为1，在正常的芯片测试过程中，不执行第一个校准子项目，执行第二个和第三个校准子项目，使能修改信息为将第一个校准子项目的使能状态修改为1，使得下次芯片测试过程可以执行三个校准子项目，这时将使能状态与使能修改信息进行对比，确定第一个校准子项目需要修改，则将第一个校准子项目作为第二校准子项目，并将第一个校准子项目的使能状态值由0更改为1，从而实现对使能信息的修改，确定芯片的功能，有助于更好地评估和验证芯片的质量和性能。

参照图5，图5是图3中步骤S302的一种具体方法流程图，是对步骤S302的进一步说明，步骤S302包括但不限于步骤S501至步骤S502。

步骤S501：将默认序列与序列修改信息进行信息匹配；

步骤S502：当默认序列与序列修改信息不匹配，在默认序列中确定信息不匹配的目标位置，并确定目标位置对应的第一校准子项目。

需要说明的是，每个校准子项目都设置有特定的项目标识，并且每个校准子项目的项目标识不一样。

在一些实施例的步骤S501至步骤S502中，在将默认序列与序列修改信息进行对比的过程中，首先，将默认序列与序列修改信息进行信息匹配，即，将默认序列中的项目标识顺序与序列修改信息中的项目标识顺序进行逐个匹配，当出现默认序列与序列修改信息不匹配的情况，则在默认序列中确定信息不匹配的目标位置，即，项目标识不一样的地方，并将处于目标位置的校准子项目作为第一校准子项目。

参照图6，图6是本发明另一个实施例提供的基于辅助系统的芯片测试方法的流程图，该基于辅助系统的芯片测试方法包括但不限于有步骤S601至步骤S602。

需要说明的是，步骤S601至步骤S602发生在对所有测试项目进行状态检测之后。

步骤S601：当测试项目为锁定状态，对锁定状态的测试项目进行标记，得到锁定测试项目；

步骤S602：对锁定测试项目进行统计，得到锁定目录。

在一些实施例的步骤S601至步骤S602中，当测试项目为锁定状态，说明当前的测试项目不可以修改，则需要对锁定状态的测试项目进行标记，得到标记好的锁定测试项目，便于使用者后续对锁定测试项目的修改，再对锁定测试项目进行统计，得到锁定目录，从而直观、方便地展示出被锁定的锁定测试项目，便于使用者的后续操作。

需要说明的是，使用者可以通过重新修改代码或者打补丁等方式实现对测试项目的状态的修改，使得测试项目从锁定状态更改为可编辑状态，本实施例不做具体限制。

参照图7，图7是图2中步骤S202的一种具体方法流程图，是对步骤S202的进一步说明，步骤S202包括但不限于步骤S701至步骤S705。

步骤S701：根据项目更改请求确定修改标识；

在一些实施例中，根据项目更改请求确定修改标识，其中，修改标识用于表征需要修改精度值的校准子模块。

步骤S702：根据修改标识在测试项目中确定第三校准子项目；

在一些实施例中，将修改标识与测试项目中每个校准子项目预设置的项目标识进行对比，确定需要进行修改的第三校准子项目，从而实现对待修改的校准子项目的准确查找，避免出现修改错误等情况，实现对校准子项目的个性化更改，无需进行全局修改，减少系统损耗。

可以理解的是，每个校准子项目预设置的项目标识均不相同，从而避免出现查找错误的情况。

步骤S703：对第三校准子项目进行参数检测；

在一些实施例中，对第三校准子项目进行参数检测，确定第三校准子项目当前是否写入有参数值，便于后续对参数的录入。

步骤S704：当第三校准子项目的参数值为空，基于精度修改值对第三校准子项目进行配置，得到精度配置信息；

在一些实施例中，当第三校准子项目的参数值为空，说明第三校准子项目当前并没有参数写入，可以直接将精度修改值写入第三校准子项目，得到精度配置信息，以实现对第三校准子项目精度值的修改，可以使测试仪器更好地适应芯片的特性，提高测试结果的准确性。

步骤S705：当第三校准子项目存在参数值，根据精度修改值对第三校准子项目的参数值进行更新，得到精度配置信息。

在一些实施例中，当第三校准子项目存在参数值，则需要根据精度修改值对第三校准子项目的参数值进行更新，得到精度配置信息，以满足特定应用的要求。

参照图8，图8是本发明另一个实施例提供的基于辅助系统的芯片测试方法的流程图，该基于辅助系统的芯片测试方法包括但不限于有步骤S801至步骤S802。

需要说明的是，步骤S801至步骤S802发生在将项目配置信息存储至预设的加密数据库之后。

步骤S801：接收重置指令；

步骤S802：根据重置指令恢复辅助系统中的校准子项目的参数。

在一些实施例的步骤S801至步骤S802中，接收重置指令，再根据重置指令将辅助系统中的校准子项目的参数恢复至原有的顺序和使能情况，实现对校准子项目的参数的一键恢复，操作简单。

请参阅图9，图9示意了另一实施例的电子设备的硬件结构，电子设备包括：

处理器1001，可以采用通用的CPU(Central Processing Unit，中央处理器)、微处理器、应用专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、或者一个或多个集成电路等方式实现，用于执行相关程序，以实现本申请实施例所提供的技术方案；

存储器1002，可以采用只读存储器（Read Only Memory，ROM）、静态存储设备、动态存储设备或者随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)等形式实现。存储器1002可以存储操作系统和其他应用程序，在通过软件或者固件来实现本说明书实施例所提供的技术方案时，相关的程序代码保存在存储器1002中，并由处理器1001来调用执行本申请实施例的基于辅助系统的芯片测试方法；

输入/输出接口1003，用于实现信息输入及输出；

通信接口1004，用于实现本设备与其他设备的通信交互，可以通过有线方式（例如USB、网线等）实现通信，也可以通过无线方式（例如移动网络、WIFI、蓝牙等）实现通信；

总线1005，在设备的各个组件（例如处理器1001、存储器1002、输入/输出接口1003和通信接口1004）之间传输信息；

其中处理器1001、存储器1002、输入/输出接口1003和通信接口1004通过总线1005实现彼此之间在设备内部的通信连接。

此外，本发明的一个实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个处理器或控制器执行，例如，被上述系统实施例中的一个处理器执行，可使得上述处理器执行上述实施例中的基于辅助系统的芯片测试方法。

本申请实施例描述的实施例是为了更加清楚的说明本申请实施例的技术方案，并不构成对于本申请实施例提供的技术方案的限定，本领域技术人员可知，随着技术的演变和新应用场景的出现，本申请实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。

本领域技术人员可以理解的是，图1-8中示出的技术方案并不构成对本申请实施例的限定，可以包括比图示更多或更少的步骤，或者组合某些步骤，或者不同的步骤。

以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、设备中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。

本申请的说明书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

应当理解，在本申请中，“至少一个(项)”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，用于描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，“A和/或B”可以表示：只存在A，只存在B以及同时存在A和B三种情况，其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项(个)”或其类似表达，是指这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a，b或c中的至少一项(个)，可以表示：a，b，c，“a和b”，“a和c”，“b和c”，或“a和b和c”，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，上述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括多指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例的方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，简称RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序的介质。

以上参照附图说明了本申请实施例的优选实施例，并非因此局限本申请实施例的权利范围。本领域技术人员不脱离本申请实施例的范围和实质内所作的任何修改、等同替换和改进，均应在本申请实施例的权利范围之内。

Claims (9)

1.一种基于辅助系统的芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：

获取所述辅助系统中的所有测试项目，并接收项目更改请求，其中，每个所述测试项目包括至少一个校准子项目；

对所有所述测试项目进行状态检测；

在所述测试项目为可编辑状态的情况下，根据所述项目更改请求对所述测试项目进行信息配置，得到项目配置信息；

根据所述项目配置信息更新所述校准子项目的参数，并将所述项目配置信息存储至预设的加密数据库；

接收测试指令，并根据所述测试指令调用更新后的加密数据库以对待测芯片进行测试；

其中，所述根据所述项目更改请求对所述测试项目进行信息配置，得到项目配置信息，包括：

根据所述项目更改请求确定精度修改值、序列修改信息以及使能修改信息；

根据所述精度修改值对所述测试项目进行精度配置，得到精度配置信息；

根据所述序列修改信息对所述测试项目进行优先级排序，得到执行序列信息；

根据所述使能修改信息对所述测试项目进行使能信息配置，得到目标使能信息；

对所述精度配置信息、所述执行序列信息以及所述目标使能信息进行整理，得到项目配置信息。

2.根据权利要求1所述的基于辅助系统的芯片测试方法，其特征在于，所述根据所述序列修改信息对所述测试项目进行优先级排序，得到执行序列信息，包括：

获取所述测试项目在可编辑状态下的默认序列；

将所述默认序列与所述序列修改信息进行对比，确定第一校准子项目；

根据所述序列修改信息对所述第一校准子项目的编号进行更新，并对更新后的第一校准子项目进行排序，得到执行序列信息。

3.根据权利要求1所述的基于辅助系统的芯片测试方法，其特征在于，所述根据所述使能修改信息对所述测试项目进行使能信息配置，得到目标使能信息，包括：

获取所述测试项目在可编辑状态下的使能状态；

将所述使能状态与所述使能修改信息进行对比，确定第二校准子项目；

根据所述使能修改信息对所述第二校准子项目的使能状态进行更新，得到目标使能信息。

4.根据权利要求2所述的基于辅助系统的芯片测试方法，其特征在于，所述将所述默认序列与所述序列修改信息进行对比，确定第一校准子项目，包括：

将所述默认序列与所述序列修改信息进行信息匹配；

当所述默认序列与所述序列修改信息不匹配，在所述默认序列中确定信息不匹配的目标位置，并确定所述目标位置对应的第一校准子项目。

5.根据权利要求1所述的基于辅助系统的芯片测试方法，其特征在于，在所述对所有所述测试项目进行状态检测之后，还包括：

当所述测试项目为锁定状态，对锁定状态的测试项目进行标记，得到锁定测试项目；

对所述锁定测试项目进行统计，得到锁定目录。

6.根据权利要求1所述的基于辅助系统的芯片测试方法，其特征在于，所述根据所述精度修改值对所述测试项目进行精度配置，得到精度配置信息，包括：

根据所述项目更改请求确定修改标识；

根据所述修改标识在所述测试项目中确定第三校准子项目；

对所述第三校准子项目进行参数检测；

当所述第三校准子项目的参数值为空，基于所述精度修改值对所述第三校准子项目进行配置，得到精度配置信息；

当所述第三校准子项目存在参数值，根据所述精度修改值对所述第三校准子项目的参数值进行更新，得到精度配置信息。

7.根据权利要求1所述的基于辅助系统的芯片测试方法，其特征在于，在所述将所述项目配置信息存储至预设的加密数据库之后，还包括：

接收重置指令；

根据所述重置指令恢复所述辅助系统中的校准子项目的参数。

8.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任意一项所述的基于辅助系统的芯片测试方法。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行权利要求1至7任意一项所述的基于辅助系统的芯片测试方法。