DE3337906A1

DE3337906A1 - Verfahren zum pruefen von elektronischen digitalschaltungen

Info

Publication number: DE3337906A1
Application number: DE19833337906
Authority: DE
Inventors: Jochen Dipl.-Ing. 7803 Gundelfingen Reimers; Manfred Fritz Dipl.-Ing. 7809 Denzlingen Ullrich
Original assignee: Deutsche ITT Industries GmbH
Current assignee: TDK Micronas GmbH
Priority date: 1983-10-19
Filing date: 1983-10-19
Publication date: 1985-05-09

Description

Verfahren zum Prüfen von elektronischen Digitalschaltungen
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen von elektronischen Digitalschaltungen, insbesondere von integrierten Schaltungen, auf Fehlfunktion bei erzwungener Abweichung der Betriebsspannung von ihrem Nennwert. Derartige Verfahren sind in der Schaltungsmeßtechnik allgemein üblich. Mit ihnen werden diejenigen Schaltungen aus einer Produktionsmenge ermittelt, die innerhalb eines vorgegebenen Bereichs oberhalb und unterhalb der Nennbetriebsspannung funktionsfähig sind, mit anderen Worten wird also mit derartigen Verfahren eine Gut-Schlecht-Sortierung vorgenommen.
Die Komplexität heutiger Digitalschaltungen, die meist in integrierter, insbesondere monolithisch integrierter, Form hergestellt werden,bringt es jedoch mit sich, daß nicht nur eine Gut-Schlecht-Sortierung erforderlich ist, sondern es interessiert im Falle von als schlecht ermittelten Schaltungen, auf welche Teilschaltung dieser Ausfall zurückzuführen ist.
Die Aufgabe der in den Ansprüchen gekennzeichneten Erfindung besteht darin, das übliche Verfahren so zu modifizieren, daß damit diejenige Teilschaltung ermittelt werden kann, die das Qualitätsmerkmal "schlecht" bewirkt. Dabei wird es im allgemeinen so sein, daß kein Totalausfall einer derartigen Teilschaltung auftritt, sondern daß sie lediglich ein von der normalen Funktion abweichendes Verhalten annimmt, das zur Fehlfunktion der Gesamtschaltung beiträgt.
Der Grundgedanke der Erfindung besteht somit darin, mittels einer zeitlich genau fixier und bei sozusagen als Sonde zu ermitteln, welche von den Teilschaltungen Fehlfunktion aufweisen. Aus der Art der auftretenden Fehlfunktion und/oder dem Zeitpunkt dieses Auftretens bezüglich des Zeitpunkts der Betriebsspannungsänderung kann der Ort der Fehlfunktion innerhalb der Gesamtschaltung ermittelt werden, da voraussetzungsgemäß diese Gesamtschaltung und deren normale Funktion bekannt sind.
Handelt es sich bei der zu prüfenden Digitalschaltung um eine solche mit Gleichspannungsversorgung, so wird man den Nennwert der Betriebsspannung pro Funktionszyklus der Schaltung oder pro mehrere Folgen gleichartiger solcher Funktionszyklen zu einem bestimmten Zeitpunkt um einen wählbaren Betrag ändern, welcher Zeitpunkt im nächsten Funktionszyklus bzw. in der nächsten Folge von gleichartigen Funktionszyklen entsprechend verschoben ist. Durch mehrmaliges Ändern der Abweichung vom Nennwert der Betriebsspannung kann auch die Funktionsbandbreite der Schaltung hinsichtlich Betriebsspannungsänderungen ermittel werden.
Besonders vorteilhaft läßt sich das Verfahren der Erfindung einsetzen , wenn Digitalschaltungen mit Taktversorgung zu prüfen sind, also beispielsweise in der Technik integrierter Isolierschicht-Feldeffekttransistor-Schaltungen (MOS-Technik) realisierte Zwei-oder Vier-Phasen-Schaltungen, bei denen die Taktsignale allein oder in Verbindung mit einer Gleichspannungsversorgung zum Betrieb erforderlich sind. In diesem Fall kann durch Veränderung mindestens eines Nennwerts eines einzelnen Taktimpulses zu unterschiedlichen Zeitpunkten während unterschiedlicher Funktionszyklen oder unterschiedlicher Folgen von Funktionszyklen eine ganze Reihe von Testungen durchgeführt werden. Es können nämlich der Nennwert der Anstiegszeit, Abfallzeit, Phasenlage oder Amplitude eines Taktimpulses verändert werden.
und der Art Aus der zeitlichen Lage des Auftretens von Fehlfunktionen unterschiedlicher Funktionszyklen oder unterschiedlicher Folgen von Funktionszyklen untereinander und in Bezug auf den jeweils auslösenden Zeitpunkt der Betriebsspannungsänderung ergibt sich ein weiteres Hilfsmittel zur Lokalisierung funktioneller Schwachstellen innerhalb der Digitalschaltung.

Claims

Patentansprüche 1. Verfahren zum Prüfen von elektronischen Digitalschaltungen, insbesondere von integrierten Schaltungen, auf Fehlfunktion bei erzwungener Abweichung der Betriebsspannung von ihrem Nennwert, dadurch gekennzeichnet, daß während unterschiedlicher Funktionszyklen oder unterschiedlicher Folgen von gleichartigen Funktionszyklen die Betriebsspannung zu unterschiedlichen Zeitpunkten geändert wird und daß der Zeitpunkt des Auftretens einer Fehlfunktion in Bezug auf einen der unterschiedlichen Zeitpunkte und/oder die Art einer solchen Fehlfunktion zur Lokalisierung funktioneller Schwachstellen innerhalb der Digitalschaltung dient.
2. Verfahren nach Anspruch 1 mit Gleichspannungsversorgung der Digitalschaltung, dadurch gekennzeichnet, daß der Nennwert der Betriebsspannung um einen wählbaren Betrag geändert wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 mit Taktversorgung der Digitalschaltung, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein Nennwert eines einzelnen Taktimpulses verändert wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein Nennwert der Anstiegszeit, Abfallzeit, Phasenlage oder Amplitude eines Taktimpulses verändert wird.