DE2266041C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft eine integrierte Schaltung ent
sprechend dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Eine integrierte Schaltung dieser Art ist bereits in dem
älteren deutschen Patent 20 21 824 vorgeschlagen worden.
Aus IBM Technical Disclosure Bulletin 13. März 1971, Bd. 10,
2953 ist eine integrierte Schaltung bekannt, in der ein
vertikaler pnp-Transistor als Strominjektor dient. Der
Emitter dieses pnp-Transistors wird durch eine hochdotier
te p-leitende vergrabene Schicht gebildet, die in einem
niedrig dotierten p-leitenden Substrat angebracht ist. Die
Basis wird gebildet durch eine hochdotierte n-leitende
Schicht die auf dem Substrat angebracht ist und der
Kollektor ist eine p-leitende Oberflächenzone, die gleich
zeitig die Basiszone eines vertikalen npn-Transistors bil
det. In der p-leitenden Oberflächenzone ist eine n-leiten
de Oberflächenzone angebracht, die den Kollektor des npn-
Transistors bildet. Die genannte n-leitende Schicht bildet
gleichzeitig einen für eine Anzahl von diesen npn-Transi
storen gemeinsamen Emitter. Die Basen der npn-Transistoren
sind einzustellende Zonen, die mit Hilfe der vertikalen
pnp-Transistoren mit Einstellstrom versorgt werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine integrierte
Schaltung der vorgeschlagenen Art so auszugestalten, daß
sie besser den Erfordernissen der darin realisierten
Schaltungen hinsichtlich Strombedarf, Arbeitsgeschwindig
keit und insbesondere Freiheit von parasitären Effekten
angepaßt werden kann.
Der Erfindung liegt unter anderem die Erkenntnis zugrunde,
daß die Einstellströme an einzustellenden Zonen oft über
einen die betreffende Zone begrenzenden PN-Übergang zuge
führt werden, der durch das Zuführen des Einstellstroms in
Vorwärtsrichtung polarisiert wird. Dadurch geht ein Teil
des zugeführten Stromes verloren, da Ladungsträger von der
Zone über den genannten PN-Übergang in die angrenzende Zo
ne des Schaltelementes und/oder des Strominjektors inji
ziert werden.
In Anwendung dieser Erkenntnis wird die genannte Aufgabe
durch die im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs ge
nannten Merkmale gelöst.
Eine weitere Lösung dieser Aufgabe für eine integrierte
Schaltung der im Oberbegriff des Patentanspruchs 2 genann
ten Art ergibt sich aus den Merkmalen des kennzeichnenden
Teils dieses Anspruches.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den
Unteransprüchen.
Bei der Erfindung wird davon Gebrauch gemacht, daß das Zu
führen von Einstellstrom im wesentlichen örtlich, über le
diglich einen Teil des PN-Überganges stattfindet und die
Stromverluste durch Injektion von den einzustellenden Zo
nen aus dem entgegen über den gesamten in Vorwärtsrichtung
polarisierten PN-Übergang auftreten. Die Trenngebiete sind
so angebracht, daß sie die Zufuhr von Einstellstrom durch
den Strominjektor nicht hindern und an Teilen der Begren
zung der einzustellenden Zone, die für das Arbeiten des
Strominjektors von geringerer Bedeutung sind, dem Auftre
ten von Stromverlusten entgegentreten. Dadurch wird die
Effektivität der Stromzufuhr verbessert und so die Ver
lustleistung der integrierten Schaltung verringert.
Darüberhinaus vermindern die Trenngebiete die Möglichkeit,
daß von den einzustellenden Zonen injizierte Ladungsträger
durch benachbarte Schaltelemente aufgenommen werden; es
wird somit verhindert, daß diese Schaltelemente auf unge
wünschte und kontrollierte Weise zusätzlichen Einstell
strom empfangen.
Einige Ausführungsformen der Erfindung sind in den Zeich
nungen dargestellt und werden im folgenden näher beschrie
ben. Es zeigen:
Fig. 1 schematisch eine Draufsicht auf einen Teil einer
ersten Ausführungsform der integrierten Schaltung nach der
Erfindung,
Fig. 2 schematisch einen Querschnitt durch die Ausfüh
rungsform nach Fig. 1 längs der Linie II-II der Fig. 1,
Fig. 3 ein elektrisches Schaltbild der Ausführungsform
nach den Fig. 1 und 2,
Fig. 4 ein Schaltbild einer Torschaltung,
Fig. 5 schematisch einen Querschnitt durch die Ausfüh
rungsform nach den Fig. 1 und 2 längs der Linie V-V der
Fig. 1,
Fig. 6 schematisch einen Querschnitt durch einen Teil ei
ner zweiten Ausführungsform der integrierten Schaltung
nach der Erfindung,
Fig. 7 einen schematischen Querschnitt durch einen Teil
einer dritten Ausführungsform der integrierten Schaltung
nach der Erfindung,
Fig. 8 eine Abwandlung des Ausführungsbeispiels nach Fig.
7 mit Schottky-Kontakten,
Fig. 9 ein Schaltbild einer vierten Ausführungsform der
integrierten Schaltung nach der Erfindung,
Fig. 10 schematisch einen Querschnitt durch denjenigen
Teil der vierten Ausführungsform, von dem das zugehörige
Schaltbild in Fig. 9 dargestellt ist.
Bei der vorliegenden Erfindung spielt der Gebrauch von
Strominjektoren zum Zuführen von Einstellstrom an Schalt
elementen, insbesondere an Transistoren, eine besondere
Rolle. Um die Möglichkeiten des Gebrauchs von Strominjek
toren, ihren Aufbau und ihre Arbeitsweise zu verdeut
lichen, werden im folgenden einige Beispiele von inte
grierten Schaltungen mit Strominjektoren beschrieben.
Darunter ist ein Ausführungsbeispiel einer integrierten
Schaltung nach der Erfindung. Die Erfindung läßt sich aber
durch einfache Anpassung auch bei den anderen Beispielen
anwenden.
Auch sei darauf hingewiesen, daß Strominjektoren mehr als
drei Schichten haben können. In diesem Fall wird die oben
genannte Dreischichtenstruktur des Strominjektors durch
die letzten drei Schichten einer solchen Mehrschichten
struktur gebildet.
Deutlichkeitshalber sei noch darauf hingewiesen, daß unter
Einstellstrom alle Ströme verstanden werden, die Schalt
elementen zu ihrer Gleichstromeinstellung zugeführt wer
den. Eine Anzahl dieser Ströme, meistens die Ströme die
über die Hauptelektroden, d. h. den Emitter und den Kollek
tor eines Transistors, durch den Hauptstromweg des be
treffenden Schaltelementes fließen, führen dabei auch
Energie zu, die für die Signalverstärkung - das Verhältnis
zwischen den Energien des Eingangs- und des Ausgangs
signals - verwendet werden kann.
Mit der Bezeichnung "Speiseleitungen" werden hier Leitun
gen bezeichnet, die zum Zuführen der genannten Einstell
ströme dienen.
Die Fig. 1 und 2 zeigen einen Teil einer ersten
Ausführungsform der integrierten Schaltung nach der
Erfindung. Diese integrierte Schaltung enthält mehrere
Schaltungselemente, in diesem Falle Transistoren, deren
Basiszonen mit den Bezugsziffern 1 bis 10 bezeichnet
sind. Diese Transistoren sind nebeneinander auf einer
Seite eines diesen Schaltungselementen gemeinsamen Körpers
12 angebracht. Der Körper 12 besteht größtenteils aus
Halbleitermaterial und weist auf der Seite der
Halbleiteroberfläche 11 eine Isolierschicht 13 auf, auf
der sich ein auf dieser Seite des Körpers 12 vorhandenes
Muster von Leiterbahnen 14 erstreckt. Die Leiterbahnen 14
sind durch Öffnungen in der Isolierschicht 13, die in
Fig. 1 mit gestrichelten Linien angedeutet sind, mit den
in diesen Öffnungen an die Halbleiteroberfläche tretenden
Teilen der Schaltungselemente verbunden. Diese Bahnen 14
dienen auf diese Weise als elektrische Anschlüsse der
Transistoren.
Der Körper 12 ist ferner mit in Fig. 1 schematisch angege
benen Anschlüssen 15 und 16 zum Anschließen der positiven
und der negativen Klemme einer Quelle 17 versehen, welche
Quelle einem oder mehreren der Schaltungselemente Ein
stellstrom zuführt. Der Körper 12 ist mit einem Stromin
jektor versehen, der durch eine Mehrschichtenstruktur mit
in diesem Falle drei aufeinanderfolgenden, durch gleich
richtende Übergänge 18 und 19 voneinander getrennten
Schichten 20, 21 und 5 gebildet wird. Die erste oder inji
zierende Schicht 20 ist durch mindestens einen gleichrich
tenden Übergang, den Übergang 18, von den einzustellenden
Schaltungselementen getrennt. Die zweite oder Zwischen
schicht 21 des Strominjektors ist eine Halbleiterschicht,
die mit der ersten und der dritten Schicht 20 bzw. 5 die
gleichrichtenden Übergänge 18 bzw. 19 bildet. Die injizie
rende Schicht 20 weist einen Anschluß 15 für die eine
Klemme der Quelle 17 auf, während die Zwischenschicht 21
einen Anschluß 16 für die andere Klemme der Quelle 17 auf
weist. Mit Hilfe dieser Quelle 17 wird der gleichrichtende
Übergang 18 zwischen der injizierenden Schicht 20 und der
Zwischenschicht 21 in der Durchlaßrichtung polarisiert,
wobei Ladungsträger aus der injizierenden Schicht 20 in
die Zwischenschicht 20 injiziert werden, die von der an
die Zwischenschicht 21 grenzenden Schicht 5 des Stromin
jektors gesammelt werden.
Die dritte Schicht des Strominjektors bildet zugleich die
einzustellende Basiszone eines der Transistoren, und zwar
des Dreischichtentransistors 33, 5, 21. Diese einzustel
lende Basiszone 5 ist durch mindestens zwei gleichrichten
de Übergänge, und zwar die PN-Übergänge 18 und 19, von der
injizierenden Schicht 20 und somit auch von dem mit dieser
verbundenen Quellenanschluß 15 getrennt und saugt über den
die dritte Zone 5 begrenzenden Übergang 19 Ladungsträger
aus der Zwischenschicht 21 des Strominjektors ab, die den
gewünschten Einstellstrom liefern. Dabei ist diese Zone 5
weiter mit einer der Bahnen 14 des Leitungsmusters verbun
den, über welche Verbindung z. B. elektrische Signale zu
und/oder abgeführt werden können.
In der vorliegenden Ausführungsform werden die Einstell
ströme der übrigen Basiszonen 1-4 und 6-10 auf entspre
chende Weise mit Hilfe der injizierenden Schicht 20 und
der Zwischenschicht 21 zugeführt. So bilden z. B. die
Schichten 20, 21 und 10 einen Strominjektor zum Zuführen
von Einstellstrom zu der Basiszone 10 eines Dreischichten
transistors 36, 10, 21. Auch diese einzustellende Zone 10
ist durch zwei gleichrichtende Übergänge, und zwar die
Übergänge 38 und 18, von der injizierenden Schicht 20 und
dem mit dieser verbundenen einen Quellenanschluß 15 ge
trennt. Ferner kollektiert diese Zone 10 Ladungsträger aus
der Zwischenschicht 21 des Strominjektors über den Über
gang 38, wobei die Zwischenschicht 21 zugleich eine Zone
des Schaltungselements, in diesem Falle eine der äußeren
Zonen des Dreischichtentransistors, bildet.
Die einzustellende Basiszone 10 des Transistors 36, 10, 21
ist mit einem weiteren Dreischichtentransistor 37, 10, 21
verbunden. Diese Verbindung ist im Inneren des Körpers 12
dadurch hergestellt, daß die Zone 10 eine den beiden Tran
sistoren gemeinsame Basiszone bildet. Außerdem ist die Ba
siszone 10 noch mit einer der Leiterbahnen 14 verbunden,
welche Leiterbahn u. a. von der Basiszone 10 zu dem Drei
schichtentransistor 33, 5, 21 führt.
Die injizierende Schicht 20 ist eine Halbleiterschicht von
dem gleichen einen Leitfähigkeitstyp wie die Schichten
1-10, die je eine dritte oder sammelnde Schicht des Strom
injektors bilden. Diese Schichten 1-10 und 20 erstrecken
sich nebeneinander von der einen Seite des Körpers, auf
der sich das Leiterbahnenmuster befindet, her in demselben
Gebiet 21 vom anderen Leitfähigkeitstyp und sind in dem
Körper 12 von diesem Gebiet 21 umgeben. Die einzustellen
den Zonen 1-10 empfangen ihre Einstellströme durch Samm
lung von Ladungsträgern aus dem Gebiet 21, die aus einer
auf der erwähnten Seite liegenden Schicht des Strominjek
tors, und zwar der injizierenden Schicht 20, über den
gleichrichtenden Übergang 18 in das Gebiet 21 injiziert
sind.
Der in den Fig. 1 und 2 gezeigte Teil der integrierten
Schaltung nach der Erfindung bildet ein Meister-Sklave-
Flip-flop nach dem elektrischen Schaltbild in Fig. 3. Die
ses Flip-flop enthält 16 Transistoren T22-T37, die über
acht Nicht-Oder-Gatter mit je zwei Eingängen verteilt
sind. Die Kollektoren dieser Transistoren T22-T37 sind in
den Fig. 1 und 2 mit den entsprechenden Bezugsziffern
22-37 bezeichnet. Die Basiszonen dieser Transistoren sind
die Zonen 1-10, wobei die Zonen 1, 3, 4, 6, 7 und 10 je eine
zwei Transistoren gemeinsame Basiszone bilden. Die Emitter
der Transistoren sind alle miteinander verbunden. Sie wer
den durch die gemeinsame Emitterzone 21 gebildet, die zu
gleich die Zwischenschicht des Strominjektors bildet. Der
Strominjektor mit seinen kollektierenden einzustellenden
Zonen 1-10 ist in Fig. 3 schematisch mit 10 Stromquellen I
angegeben. Das Schaltbild nach Fig. 3 zeigt weiter einen
elektrischen Eingang IN, einen elektrischen Ausgang Q und
Taktimpulsanschlüsse CPM und CPS für den Meister bzw. den
Sklaven, wobei die entsprechenden Leiterbahnen 14 in Fig.
1 auf gleiche Weise angedeutet sind.
Der Deutlichkeit halber sei bemerkt, daß der Transistor
T37 in Fig. 3 eigentlich nicht zu dem Flip-flop gehört.
Tatsächlich bildet der Kollektor des Transistors T34 einen
Ausgang des Flip-flops und gehört der Transistor T37
bereits zu einer mit diesem Ausgang des Flip-flops
verbundenen weiteren Torschaltung. Ebenfalls fehlt in der
gezeigten integrierten Schaltung am Eingang der wohl zu
dem Flip-flop gehörige, in Fig. 3 gestrichelt dargestellte
Transistor T′37, der zusammen mit dem Transistor T22 ein
Nicht-Oder Eingangsgatter des Flip-flops bildet. Die Tat
sache, daß in der integrierten Form gerade die Transisto
ren T22-T37 als Baueinheit zusammengefügt sind, ist auf
die angegebene Verbindung zwischen der Basis des Transi
stors T36 und der Basis des Transistors T37 zurückzufüh
ren. Dank dieser Verbindung kann der Transistor T37 näm
lich einfach als zusätzliche Kollektorzone 37 in der Ba
siszone 10 des Transistors T36 erhalten werden, wodurch
eine Ersparung an benötigter Halbleiteroberfläche erzielt
wird.
Aus demselben Grund ist es meistens auch günstiger, den
Transistor T′37 als mit dem dem Flip-flop direkt
vorangehenden Teil der Schaltung, z. B. einem vorangehenden
Flip-flop, ein Ganzes bildend auszuführen.
Die Anwendung derartiger Mehrkollektorentransistoren mit
einer zwei oder mehreren gesonderten Kollektoren gemeinsa
men Basiszone führt eine erhebliche Vereinfachung der in
tegrierten Schaltung herbei, u. a. weil für einen Mehr
kollektorentransistor mit z. B. drei Kollektoren an der
Halbleiteroberfläche viel weniger Raum benötigt wird als
für drei gesonderte Transistoren. Ferner ist die Anzahl
benötigter Anschlüsse für einen Mehrkollektorentransistor
wesentlich geringer als für eine äquivalente Anzahl geson
derter Transistoren, wodurch das Verdrahtungsmuster bei
Mehrkollektorentransistoren einfacher ist.
Das beschriebene Flip-flop ist eine besonders gedrängte
integrierte Schaltung, was u. a. darauf zurückzuführen ist,
daß der angewandte Strominjektor sehr eng mit den einzu
stellenden Schaltungselementen verbunden ist. Für den
Strominjektor werden außer den verwendeten Schaltungsele
menten nur eine einzige weitere Zone, und zwar die inji
zierende Schicht 20, und ein zusätzlicher gleichrichtender
Übergang, und zwar der PN-Übergang 18, benötigt. Die übri
gen Schichten des Strominjektors fallen mit den bereits
für die Schaltungselemente selber benötigten Halbleiter
schichten zusammen. Ferner können, wie in Fig. 1 darge
stellt ist, die Anschlüsse 15 und 16 an der injizierenden
Schicht 20 und der Zwischenschicht 21 des Strominjektors
am Rande des Körpers 12 angebracht werden. Die Einstell
ströme werden mittels des Strominjektors im inneren des
Körpers und nicht mittels eines Leiterbahnes zugeführt.
Ubrigens kann, wie in Fig. 2 mit dem Anschluß 16′ schema
tisch dargestellt ist, im vorliegenden Beispiel für den
Anschluß der Zwischenschicht auch die dazu leichter zu
gängliche Oberfläche 39 benutzt werden, die auf der gegen
überliegenden Seite des Körpers der Oberfläche 11 gegen
überliegt.
Die Einfachheit und Gedrängtheit der integrierten Schal
tung werden weiter dadurch erheblich gefördert, daß der
Strominjektor nicht nur die Einstellströme für die Basis
zonen der Transistoren, sondern auch die für diese Transi
storen benötigten Emitter-Kollektor-Hauptströme liefert.
So ist die Basiszone 5 über eine Leiterbahn 14 u. a. mit
der Kollektorzone 29 verbunden. Die Transistoren T29 und
T33 bilden eine gleichstromgekoppelte Kaskade. Ist der
Transistor T29 leitend, so fließt der vom Strominjektor
der Zone 5 gelieferte Einstellstrom wenigstens zu einem
wesentlichen Teil über die erwähnte Leiterbahn als Haupt-
und Speisestrom durch die Emitter-Kollektor-Strecke des
Transistors T29.
Auf diese Weise werden alle für das Flip-flop benötigten
Einstellströme mittels einer einzigen angeschlossenen
Quelle 17 erhalten.
In diesem Zusammenhang sei weiter bemerkt, daß auch dank
der Tatsache, daß die Einstellströme von dem Strominjektor
in Form von Strom zugeführt werden, die üblichen Be
lastungsimpedanzen in den Emitter-Kollektorkreisen der
Transistoren hier überflüssig sind. Auch dadurch wird im
allgemeinen eine erhebliche Raumersparung erzielt.
Ein anderer wichtiger Aspekt besteht darin, daß eine Viel
zahl von Transistoren in die Schaltung aufgenommen sind,
deren Emitter direkt miteinander verbunden sind. Diese
miteinander verbundenen Emitter können als eine gemeinsame
Emitterzone 21 ausgebildet werden, wobei die für Transi
storen an sich übliche doppeldiffundierte Dreischichten
struktur in umgekehrter Richtung benutzt wird. Die klein
ste Zone wirkt als ein an der Oberfläche liegender Kollek
tor, die, auf die Oberfläche 11 gesehen, völlig auf der
Basiszone liegt und im Körper von der Basiszone umgeben
ist. Diese Basiszone ist eine Oberflächenzone, die rings
um den Kollektor an die Oberfläche 11 grenzt und die sich
von dieser Oberfläche her in der zugleich als Emitter wir
kenden Zwischenschicht 21 erstreckt. An sich weist eine
auf diese Weise verwendete Transistorstruktur einen nie
drigen Stromverstärkungsfaktor β als der übliche nichtin
vertierte Transistor auf. Für viele Schaltungen ist dieser
niedrigere Stromverstärkungsfaktor β unbedenklich und
führt die Anwendung einer gemeinsamen Emitterzone in Ver
bindung mit einem Strominjektor zu einem sehr einfachen
Aufbau der integrierten Schaltung, wobei u. a. kein Raum
für Trennzonen zur elektrischen Isolierung der Transi
storen benötigt wird und die Herstellung beträchtlich ein
facher wird.
Außerdem werden nachstehend noch einige Maßnahmen zur
Steigerung des Stromverstärkungsfaktors β der invertier
ten Transistorstruktur angegeben.
Es wurde bereits erwähnt, daß das beschriebene Flip-flop
völlig mit einer einzigen angeschlossenen Quelle 17 be
trieben wird. Dies bedeutet u. a., daß beim Betrieb alle
Spannungen in der Schaltung innerhalb des Bereiches lie
gen, der durch den von der Quelle 17 an die Anschlüsse 15
und 16 abgegebenen Potentialunterschied bestimmt wird.
Dieser Potentialunterschied steht in der Durchlaßrichtung
über dem PN-Übergang 18 zwischen der injizierenden Schicht
20 und der Zwischenschicht 21. Die dadurch in die Zwi
schenschicht injizierten Ladungsträger, die in dieser
Schicht Minoritätsladungsträger sind, können von einem den
gleichen Leitfähigkeitstyp wie die injizierende Schicht 20
aufweisenden Gebiet, z. B. der Zone 5, gesammelt werden,
vorausgesetzt, daß der Abstand zwischen der Schicht 20 und
der Zone 5 nicht zu groß ist und in der Praxis in der
Größenordnung einer Diffusionslänge der Minoritätsladungs
träger in der Zwischenschicht liegt. Eine derartige Strom
übertragung von der injizierenden Schicht 20 auf die ein
zustellende Zone 5 kann stattfinden, wenn der Übergang 19
zwischen der Zone 5 und der Zwischenschicht 21 in der
Sperrichtung vorgespannt ist, was z. B. dadurch bewirkt
werden kann, daß die Zone 5 über eine Leiterbahn 14 mit
einem Punkt geeigneten Potentials verbunden wird. In der
Schaltung muß dann eine zweite Spannungsquelle verwendet
werden.
Bekanntlich braucht ein gleichrichtender Übergang nicht
notwendigerweise in der Sperrichtung vorgespannt zu sein,
um Ladungsträger sammeln zu können. Die abgesaugten La
dungsträger können eine Potentialänderung der Zone 5 her
beiführen, wodurch auch über dem Übergang 19 eine Spannung
in der Durchlaßrichtung auftritt.
Jedenfalls wenn diese Durchlaßspannung genügend groß wird,
tritt eine Injektion von Ladungsträgern über den Übergang
19 auf, wodurch über diesen Übergang ein Strom in einer
Richtung fließt, die der des durch die Sammlung von Lad
ungsträgern über diesen Übergang fließenden Stromes entge
gengesetzt ist. Das Potential der Zone 5 wird sich derart
einstellen, daß der Unterschied dieser beiden Ströme
gleich dem zum Betreiben des Transistors 33, 5, 21 benötig
ten Basiseinstellstrom, gegebenenfalls zuzüglich des über
einen Anschluß an die Zone 5 abfließenden Stromes, ist. In
diesem stationären Zustand wird das Potential der Zone 5
im allgemeinen zwischen den Potentialen der Anschlüsse 15
und 16 liegen.
Es leuchtet ein, daß, wenn der Übergang 19 in der Sper
richtung betrieben wird, der Dreischichtentransistor
33, 5, 21 mit der Zone 33 als Emitter, der Zone 5 als Basis
und der Schicht 21 als Kollektor verwendet wird, wobei der
Basiseinstellstrom völlig oder teilweise von dem Stromin
jektor geliefert wird. Auch wenn über dem Übergang 19 eine
Spannung in der Durchlaßrichtung auftritt, kann die
Schicht 21 als Kollektor der Dreischichtentransistor
33, 5, 21 benutzt werden, wenn nämlich der Übergang 40 zwi
schen der Zone 33 und der Zone 5 genügend weit in der
Durchlaßrichtung vorgespannt wird. Es ist aber wichtiger,
daß, wenn der Übergang 19 in der Durchlaßrichtung betrie
ben wird, die Zwischenschicht 21, wie im vorliegenden Bei
spiel, als Emitter des Transistors 21, 5, 33 dienen kann,
was nachstehend näher erläutert wird.
In dem vorliegenden Beispiel mit dem lateral ausgeführten
Strominjektor 20, 21, 5 ist der gemeinsame Körper 12 ein
n-leitender Halbleiterkörper, der die Zwischenschicht des
Strominjektors bildet, wobei die Zwischenschicht 21 ein
niederohmiges n-leitendes Substrat 21a aufweist, auf dem
eine hochohmige n-leitende Oberflächenschicht 21b ange
bracht ist.
Alle Halbleiterzonen der Schaltungselemente und des
Strominjektors grenzen an die von dem Substrat 21a abge
kehrte Oberfläche 11 der Oberflächenschicht 21b. Die inji
zierende Schicht 20 und die Basiszonen 1-10 sind gleich
zeitig und mit derselben Dotierungskonzentration als
p-leitende Oberflächenzonen in der in diesem Falle epitak
tischen Oberflächenschicht 21b angebracht. Infolge dieser
verhältnismäßig einfachen Herstellungstechnologie sind die
Dotierungskonzentrationen und die Gradienten derselben in
der Nähe der PN-Übergänge 18 und 19 einander praktisch
gleich.
Diese Gleichheit der beiden Übergänge 18 und 19 scheint
die Anwendung der Zwischenschicht 21 als Emitter des
npn-Transistors 21, 5, 33 auszuschließen. Der Übergang 18
bildet ja den injizierenden Übergang des Strominjektors,
wodurch an diesem Übergang der Strom in der Durch
laßrichtung mit Rücksicht auf einen angemessenen Wirkungs
grad möglichst aus Löchern bestehen muß, während aus dem
selben Grunde am Übergang 19, der den Emitter-Basis-Über
gang des Transistors bildet, der Strom in der Durchlaß
richtung möglichst aus Elektronen bestehen muß. Mit ande
ren Worten: da die epitaktische Schicht 21b die Zwischen
schicht des Strominjektors bildet, muß die Dotierungskon
zentration niedrig sein, während für diese epitaktische
Schicht als Emitter des Transistors gerade eine hohe Do
tierungskonzentration erwünscht ist.
Um nun die Zwischenschicht 21 des Strominjektors dennoch
als Emitter des Transistors verwenden zu können, wird die
Tatsache benutzt, daß das Verhältnis zwischen dem Elektro
nen- und dem Löcherstrom bei einem injizierenden Ubergang
nicht nur von den mit den Dotierungskonzentrationen und
der Spannung über diesem Übergang gegebenen Minoritätsla
dungskonzentrationen zu beiden Seiten dieses Übergangs ab
hängig ist, sondern eigentlich durch den Gradienten dieser
Minoritätsladungsträgerkonzentrationen bestimmt wird.
Diese Konzentrationsgradienten sind u. a. von dem Vorhan
densein eines kollektierenden Übergangs, wie des Basis-
Kollektor-Übergangs 40, und von dem Abstand dieses Über
gangs 40 von dem injizierenden Übergang 19 abhängig. In
der Nähe des kollektierenden Übergangs 40 ist, je nach der
Vorspannung über diesem Übergang, die Minoritätsladungs
trägerkonzentration in der Basiszone 5 infolge der absau
genden Wirkung dieses Übergangs 40 gering. Wenn der Ab
stand zwischen den Übergängen 40 und 19 kleiner als eine
oder einige Diffusionslängen der Minoritätsladungsträger
in der Basiszone 5 ist, ergibt die absaugende Wirkung des
Übergangs 40 eine Vergrößerung des Gradienten der Minori
tätsladungsträgerkonzentration. Dieser Effekt kann auch
als eine Verkürzung der effektiven Weglänge der Minori
tätsladungsträger in der Basiszone 5 beschrieben werden.
Durch passende Wahl der Spannung über dem Übergang 40 im
Vergleich zu der über dem Übergang 19 und/oder des Abstan
des zwischen den Übergängen 19 und 40 im Vergleich zu dem
zwischen den Übergängen 18 und 19 kann somit erreicht wer
den, daß der Vorwärtsstrom über dem Übergang 18 größten
teils aus Löchern besteht, während der Vorwärtsstrom über
dem Übergang 19, trotz der für einen Emitter verhältnis
mäßig niedrigen Dotierungskonzentration der Schicht 21,
größtenteils aus Elektronen besteht. Die verkürzte effek
tive Weglänge der Elektronen in der Basiszone 5 muß klei
ner als die der Löcher in der Zwischenschicht 21 sein.
Wie bereits erwähnt wurde, ist das betreffende Flip-flop
aus einer Anzahl von Nicht-Oder-Gattern (nor-gates) aufge
baut, die aus einer Anzahl Transistoren bestehen, deren
Emitter-Kollektor-Strecken zueinander parallel geschaltet
sind. Fig. 4 zeigt eine derartige Nicht-Oder-Gatter-Schal
tung, die aus zwei oder mehr Gattertransistoren
T40, T41... besteht.
Den Gattertransistoren folgt ein Transistor T42. Die Ein
gänge A, B... der Gattertransistoren T40, T41... werden
durch die Basis-Elektroden der Transistoren T40, T41, ...,
gebildet, während ihre Emitter-Kollektor-Strecken von der
Emitter-Basis-Strecke des Transistors T42 überbrückt sind.
Der Strominjektor ist schematisch mit Stromquellen I40,
I41 und I42 und den zugehörigen Polaritäten zwischen den
Basen und den Emittern bezeichnet. Der Transistor T42
führt nur Strom, (infolge der in der Vorwärtsrichtung
wirksamen Stromquelle I42) wenn weder der Transistor T40
noch der Transistor T41 leitend ist, d. h. wenn sowohl der
Eingang A als auch der Eingang B Erdpotential oder wenig
stens eine Spannung in bezug auf den Emitter aufweisen,
die niedriger als die innere Basis-Eingangsschwellwert
spannung der Transistoren T40 bzw. T41 ist. Die Ströme der
Quellen I40 und I41 fließen dann zu Erde ab und, weil der
Transistor T42 leitend ist, wird die Spannung an dessen
Kollektor (Punkt D) praktisch auf Erdpotential abgenommen
haben. Wenn an einem oder mehreren der Eingänge A und B
die Basis-Eingangsschwellwertspannung wohl überschritten
wird, wird der Strom der Quelle I42 über den (die) dann
leitenden Eingangstransistor(en) abgeleitet werden, so daß
für die Basis des Transistors T42 zu wenig Strom übrig
bleibt, um diesen Transistor stromführend zu machen. Der
Strominjektor liefert als die angegebene Stromquelle I42
den Speisestrom für die Hauptstrombahn der Transistoren
T40, T41..., während der Basis-Emitter-Übergang des Tran
sistors T42 die Belastungsimpedanz dieser Transistoren
bildet.
In vielen Schaltungen werden zwischen dem Punkt C und Erde
mehr als zwei Gattertransistoren T1 und T2 mit ihren
Kollektor-Emitter-Strecken eingeschaltet sein (fan-in),
während zwischen diesen Punkten auch mehrere Transistoren
mit ihren Basis-Emitter-Strecken eingeschaltet sein werden
(wie der Transistor T42).
Die Punkte A bzw. B sind dann z. B. mit den Ausgängen C′
vorangehender ähnlicher Torschaltungen verbunden, während
der Ausgang C der dargestellten Torschaltung zu mehreren
Eingängen A′ oder B′ auffolgender ähnlicher Torschaltungen
führen wird. Dabei ist der "fan-out" von dem Kollektor-
Basisstromverstärkungsfaktor β der verwendeten Transi
storen begrenzt.
Aus Obenstehendem geht hervor, daß in derartigen Schaltun
gen neben Transistoren, die leitend sind und deren
Emitter-Basis-Spannung oberhalb der Schwellwertspannung
liegt, nichtleitende Transistoren vorhanden sind, deren
Emitter-Basis-Strecke praktisch kurzgeschlossen ist. Dies
bedeutet, daß in der integrierten Schaltung der in Fig. 1
gezeigten Art leicht eine Streutransistorwirkung zwischen
den unterschiedlichen Basiszonen, z. B. den Basiszonen 4
und 5, auftreten kann, wenn der Abstand zwischen diesen
Zonen nicht zu groß ist. In diesem Zusammenhang erstreckt
sich zwischen den beiden einzustellenden Basiszonen 4 und
5 eine zu er Zwischenschicht 21 gehörige und somit eben
falls n-leitende Oberflächenzone 21c, die höher als die
Basiszonen 4 und 5 dotiert ist. Vorzugsweise erstreckt
sich die Oberflächenzone 21c von der Oberfläche her minde
stens bis auf die gleiche Tiefe im Körper wie die Basis
zonen 4 und 5. Aus Raumersparungserwägungen grenzt diese
höher dotierte Oberflächenzone 21c direkt an die elek
trisch voneinander zu trennenden Basiszonen. Auch wenn
diese n⁺-leitende Zone 21c in einiger Entfernung von den
voneinander zu trennenden Basiszonen liegt, wird aber die
etwaige parasitäre Transistorwirkung effektiv unterdrückt.
Im vorliegenden Beispiel befindet sich die Oberflächenzone
21c nicht nur zwischen den voneinander zu trennenden
Basiszonen, sondern ist jede der Basiszonen 1-10 an der
Oberfläche 11 praktisch völlig von einer Kombination aus
einem Teil der injizierenden Schicht 20 und der höher do
tierten Zone 21c umgeben. Jede der Basiszonen ist auf drei
Seiten von einem U-förmigen Teil der Zone 21c umgeben. Aus
dem Schnitt nach Fig. 5 ist ersichtlich, daß an der Ober
fläche 11 zu beiden Seiten der injizierenden Schicht 20
zwischen dem Übergang 18 und dem der Deutlichkeit halber
in Fig. 1 nicht dargestellten zwischen den niederohmigen
U-förmigen Teilen der Zone 21c und dem angrenzenden hoch
ohmigen Teil 21b der Zwischenschicht gebildeten n⁺-n-
Übergang 44 noch eine kleine Öffnung vorhanden ist.
Durch diese Umschließung wird erreicht, daß sich jede der
Basiszonen 1-10 in einem verhältnismäßig kleinen n-leiten
den Gebiet erstreckt oder wenigstens an ein solches Gebiet
grenzt, das, insofern es an n⁻leitendes Material grenzt,
praktisch völlig zwischen dem n⁺-n-Übergang 44 und dem
n⁺-n-Übergang 45 zwischen dem Substrat 21a und der epitak
tischen Schicht 21b eingeschlossen ist. Diese n⁺-n-Über
gänge bilden eine Sperre für die in der epitaktischen
Schicht 21b vorhandenen Löcher, wodurch die in einen der
artigen umschlossenen Teil von der injizierenden Schicht
20 oder der Basiszone 5 injizierten Löcher weniger leicht
zu den weiter von den Übergängen 18 und 19 entfernten Tei
len der n-leitenden Zwischenschicht 21 abfließen. Diese
Vergrößerung der effektiven Weglänge von Löchern in dem an
die Basiszone 5 grenzenden Teil der epitaktischen Schicht
21b hat, gleich wie die vorerwähnte Verkürzung der effek
tiven Weglänge der Elektronen in der Basiszone, also auf
der anderen Seite des Übergangs 19, eine Erhöhung des
Stromverstärkungsfaktors β des Dreischichtentransistors
21, 5, 33 zur Folge. Im Zusammenhang mit Obenstehendem ist
das an die Basiszone 5 grenzende n-leitende Gebiet 21b
vorzugsweise möglichst vollständig umschlossen.
Ferner ist dieses Gebiet 21b vorzugsweise möglichst klein,
um auch den Verlust an Minoritätsladungsträgern durch Re
kombination zu beschränken. Vorzugsweise reichen die Ba
siszonen und die injizierende Schicht 20 bis zu dem n⁺
leitenden Substrat 20a, wenigstens bis zu einer n⁺-leiten
den Schicht. Dies ergibt außerdem den Vorteil, daß die In
jektion der injizierenden Schicht 20 im wesentlichen in
seitlicher Richtung längs der Oberfläche 11 stattfinden
wird. Wenn die Dicke dieser Zonen geringer als die der
Oberflächenschicht 21b ist, reicht die n⁺-leitende Ober
flächenzone 21c vorzugsweise bis zu oder bis in das Sub
strat 21a. Obwohl kleine Öffnungen in der Umschließung ei
nen verhältnismäßig geringen ungünstigen Effekt ergeben,
grenzt die n⁺-leitende Oberflächenzone an der Oberfläche
11 vorzugsweise direkt an die injizierende Schicht 20. Das
Vorhandensein der in Fig. 5 dargestellten Öffnungen zu
beiden Seiten der injizierenden Schicht findet seinen
Grund eher in der Weise der herstellung der integrierten
Schaltung als in dem beabsichtigten Effekt der Umschlie
ßung.
Je nach der Herstellungsweise können durch Oberflächen
rekombination herbeigeführte Verluste eine mehr oder weni
ger große Rolle spielen. Wenn die Eigenschaften der Halb
leiteroberfläche 11 und des Übergangs zwischen dieser
Oberfläche und der Isolierschicht 13 derartig sind, daß
die Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit verhältnis
mäßig groß ist, kann, wenn die einzustellende Zone z. B.
gleichmäßig dotiert ist und z. B. einen Teil einer epitak
tischen Schicht bildet, der Stromverstärkungsfaktor eines
Transistors dadurch erhöht werden, daß wenigstens in dem
an die Halbleiteroberfläche grenzenden Teil der einzu
stellenden Basiszone ein Gradient in der Dotierungskonzen
tration angebracht wird, wobei die Konzentration in einer
Richtung quer zu der Halbleiteroberfläche von der Oberflä
che her abnimmt.
Das sich ergebende Driftfeld verhindert dann, daß die Mi
noritätsladungsträger an die Oberfläche gelangen. Wenn die
Oberflächenzone 21c nicht direkt an die Basiszone grenzt,
sondern das dazwischen liegende Gebiet 21b bis zu der
Oberfläche reicht, ist aus demselben Grunde ein entspre
chender Konzentrationsgradient in der an die Halbleiter
oberfläche grenzenden Schicht des Gebietes 21b erwünscht.
Ein derartiger Gradient in dem Gebiet 21b kann z. B. ein
fach zugleich mit dem Anbringen der meistens diffundierten
Kollektorzone 33 erhalten werden.
Die injizierende Schicht 20 weist die Form einer bandför
migen Oberflächenzone auf, längs deren zu beiden Seiten
mehrere von ihr getrennte einzustellende Basiszonen 1-10
nebeneinanderliegen. Mit derselben injizierenden Schicht
können auf diese Weise eine Vielzahl einzustellender Zonen
einen Einstellstrom empfangen. Der Reihenwiderstand einer
derartigen langgestreckten injizierenden Schicht 20 kann
mit Hilfe einer ununterbrochenen oder unterbrochenen Lei
terbahn 46 herabgesetzt werden.
Fig. 6 zeigt einen Querschnitt durch eine zweite Ausfüh
rungsform der integrierten Schaltung nach der Erfindung.
Der gemeinsame Körper 60 enthält einen Strominjektor mit
fünf aufeinanderfolgenden Schichten 61, 62a, 63, 62b, 64, die
durch gleichrichtende Übergänge 65, 66, 67 und 68 voneinan
der getrennt sind. Wie an Hand des vorangehenden Beispiels
bereits beschrieben wurde, kann die dritte Schicht 63 des
Strominjektors durch Injektion von Ladungsträgern aus der
injizierenden Schicht 61 ein Potential annehmen, bei dem
der Übergang 66 und auch der Übergang 67 in der Durchlaß
richtung polarisiert werden. Dies bedeutet, daß die zweite
oder Zwischenschicht 62a Ladungsträger in die dritte
Schicht 63 injizieren kann, die von der vierten Schicht
62b kollektiert werden können, und daß die dritte Schicht
63 ihrerseits Ladungsträger in die vierte Schicht 62b
injizieren kann, die aus dieser vierten Schicht, wenn eine
fünfte Schicht 64 vorhanden ist, von dieser Schicht über
den diese Schicht 64 begrenzenden Übergang 68 kollektiert
werden können. Im vorliegenden Beispiel bildet die fünfte
Schicht 64 des Strominjektors zugleich die einzustellende
Basiszone eines Bipolartransistors, der z. B. durch die
Schichten 69, 64 und 70 gebildet werden kann.
Die erwähnten Schichten des Strominjektors und des Transi
stors können z. B. in einer dünnen Halbleiterschicht ange
bracht sein, die sich auf einem isolierenden Substrat be
findet, wobei die fünf Schichten des Strominjektors sich
z. B. über die ganze Dicke dieser Halbleiterschicht er
strecken. In dem dargestellten Beispiel bilden die Zwi
schenschicht 62a und die vierte Schicht 62b in dem Körper
ein ununterbrochenes Gebiet vom gleichen Leitfähigkeits
typ. Die übrigen Teile dieses Gebietes sind in Fig. 6 mit
62c-62f bezeichnet. Dieses Gebiet gehört wenigstens größ
tenteils zu einer epitaktischen Schicht 62 vom einen Leit
fähigkeitstyp, die auf einem Halbleitersubstrat 71 vom an
deren Leitfähigkeitstyp angebracht ist, wobei das erwähnte
(nachstehend als Insel bezeichnete) Gebiet mit Hilfe von
Trennzonen 72 vom anderen Leitfähigkeitstyp von den übri
gen Teilen der epitaktischen Schicht 62 getrennt ist. Die
Insel besitzt eine vergrabene Schicht 62f vom einen Leit
fähigkeitstyp mit einer Dotierungskonzentration, die höher
als die ursprüngliche Konzentration der epitaktischen
Schicht 62 ist. Diese vergrabene Schicht befindet sich an
und in der Nähe der Grenzfläche zwischen dem Substrat und
der epitaktischen Schicht. Die Schichten 61, 63 und 64 des
Strominjektors sind Oberflächenzonen, die von der Oberflä
che 73 bis zu der vergrabenen Schicht 62f reichen. Dadurch
ist die Diffusionsspannung an denjenigen Teilen der PN-
Übergänge zwischen der injizierenden Schicht 62 und der
dritten Schicht 63 einerseits und der Insel andererseits,
die zu der Oberfläche 73 praktisch parallel sind, größer
als die der Teile 65, 66 und 67 dieser Übergänge.
Demzufolge wird die Injektion der Ladungsträger durch die
Schichten 61 und 63 vorzugsweise in seitlicher Richtung
praktisch parallel zu der Oberfläche 73 erfolgen. Außerdem
sind die Schichten 62a und 62b, in die die Ladungsträger
injiziert werden, sehr klein, so daß, wie bereits
beschrieben wurde, verhältnismäßig wenig injizierte
Ladungsträger in der Insel verlorengehen.
Auch in diesem Beispiel ist die Kombination eines Stromin
jektors und eines Schaltungselementes möglichst um
schlossen, um das Abfließen von Minoritätsladungsträgern
in seitlicher Richtung zu beschränken. An die injizierende
Schicht grenzt eine niederohmige Zone 62e, die zu der In
sel gehört. Die Zone 62e dient dazu, die Injektion von La
dungsträgern durch die injizierende Schicht in seitlicher
Richtung auf der von der einzustellenden Zone abgekehrten
Seite der injizierenden Schicht durch Erhöhung der Diffu
sionsspannung zu beschränken. Die Zone 62e dient zugleich
als Kontaktzone für den Anschluß 74 der einen Klemme einer
äußeren Quelle 75 an die Zwischenschicht 62a des Stromin
jektors.
Die gewünschte Umschließung der einzustellenden Basiszone
64 ist in diesem Falle mit Hilfe einer wenigstens teilwei
se in den Körper 60 versenkten Isolierschicht 76 erhalten,
die sich von der Oberfläche 73 her in der Halbleiter
schicht 62, in der sich die einzustellenden Zonen befin
den, erstreckt. In diesem Beispiel erstreckt sich die Iso
lierschicht 76 nur über einen Teil der Dicke der Schicht
62. Diese versenkte Isolierschicht 76 umschließt die Ba
siszone 64 größtenteils und schließt sich möglichst der
dritten Schicht 63, der injizierenden Schicht 61 oder der
Zone 62e an, je nachdem mittels der dritten Schicht 63
und/oder der injizierenden Schicht 61 mehreren nebeneinan
derliegenden einzustellenden Zonen gleichzeitig oder le
diglich der Basiszone 64 ein Einstellstrom zugeführt wird.
Die injizierende Schicht 61 ist mit einem schematisch dar
gestellten Anschluß 77 für die andere Klemme der Quelle 75
versehen. Ferner ist der dargestellte Strominjektor mit
Mitteln zur Steuerung oder Einstellung des von der einzu
stellenden Basiszone 64 zu empfangenden Einstellstroms
versehen. Eine derartige Steuerung läßt sich z. B. mit Hil
fe einer auf der Isolierschicht 78 oberhalb der Zwischen
schicht 62a und/oder der vierten Schicht 62b anzubringen
den isolierten Elektrode erhalten, deren Potential die Re
kombination der Minoritätsladungsträger an der Oberfläche
dieser Schichten beeinflußt. In dem vorliegenden Beispiel
ist eine andere Möglichkeit zur Steuerung des Einstell
stromes angewandt, und zwar eine Steuerung, bei der der
Strom der dritten Schicht 63 des Strominjektors entzogen
wird. Diese dritte Schicht 63 ist zu diesem Zweck mit ei
nem leitenden Anschluß 79 versehen. Wenn die dritte
Schicht z. B. über diesen Anschluß mit der vierten Schicht
62b oder der Zwischenschicht 62a kurzgeschlossen wird,
wird die Spannung über den Übergängen 66 und 67 derart ge
ring sein, daß die dritte Schicht 63 wohl sammelt, aber
daß keine oder nahezu keine Injektion aus der dritten
Schicht auftritt, so daß die Basiszone 64 keinen Einstell
strom empfängt. Eine derartige Situation, in der ein oder
mehrere Schaltungselemente der Schaltung keinen Einstell
strom von dem Strominjektor empfangen, kann dauernd er
wünscht sein, in welchem Falle der Übergang 66 und/oder
der Übergang 67 einfach an der Oberfläche 73 mittels einer
leitenden Schicht kurzgeschlossen werden können.
Der Einstellstrom für die Basiszone 64 kann aber auch
zeitweilig ein- oder ausgeschaltet werden, wenn z. B. zwi
schen den Anschlüssen 79 und 74 ein elektronischer Schal
ter angebracht wird. Ein derartiger Schalter ist in Fig. 6
schematisch mit dem Transistor 80 angegeben, dessen Basis
81 z. B. von einem weiteren Teil der Schaltung gesteuert
werden kann und der sich einfach in dem Körper 60 inte
grieren läßt. Über den Transistor 80 kann selbstverständ
lich auch nur ein Teil des durch den Strominjektor flie
ßenden, als Einstellstrom verfügbaren Stromes abgeführt
werden.
Die obenerwähnte Insel, die die Schichten des Strominjek
tors enthält, kann eine einer Anzahl Transistoren gemein
same Emitterzone bilden. Der dargestellte Transistor ist
dann ein Mehrkollektorentransistor mit zwei Kollektoren 69
und 70. Die injizierende Schicht 61 ist z. B. bandförmig
geschaltet, wobei längs dieser bandförmigen Oberflächen
zone mehrere in dem gezeigten Schnitt nicht sichtbare Ba
siszonen nebeneinander angeordnet sind. Eine oder mehrere
dieser Basiszonen können mit der injizierenden Schicht 61
und der durch die Insel gebildeten Zwischenschicht, welche
Schichten gemeinsam sind, z. B. einen Dreischichtenstromin
jektor bilden. Eine oder mehrere andere Basiszonen, unter
denen die Zone 64, bilden einen Teil eines Fünfschichten
strominjektors, indem sich zwischen der gemeinsamen inji
zierenden Schicht 61 und den betreffenden Basiszonen die
Schicht 63 erstreckt. Die Schicht 63 kann diesen einzu
stellenden Basiszonen gemeinsam sein, aber kann auch aus
gesonderten voneinander getrennten Teilen bestehen, so daß
er Einstellstrom für jede dieser Basiszonen gesondert ge
steuert werden kann.
Auch der gezeigten Insel, in der der Strominjektor und ein
oder mehrere Transistoren angebracht sind, kann die inte
grierte Schaltung noch andere gegeneinander isolierte In
seln enthalten, in denen auf entsprechende Weise Schal
tungselemente angebracht sind. Auch können sich in einer
oder mehreren Inseln Schaltungselemente befinden, die auf
übliche Weise und ohne Anwendung eines Strominjektors Ein
stellstrom empfangen.
Ein großer Vorteil der beschriebenen Torschaltung nach der
Erfindung ist der, daß sie mit sehr niedrigen Strömen und
Spannungen und somit mit geringer Verlustleistung betrie
ben werden kann. Die geringe Größe dieser logischen Sig
nalspannungen und/oder -Ströme bedeutet aber, daß bei Kom
bination mit logischen Schaltungen anderer Art, z. B. TTL
oder MOST-Schaltungen, zu einem größeren Ganzen die Sig
nalgröße angepaßt werden muß. Eine derartige Anpassung
kann besonders einfach mit Hilfe eines Umkehrtransistors
oder eines als Emitterfolger geschalteten Transistors er
zielt werden. So kann z.b. der Transistor T37 in Fig. 3
ein zusätzlicher Umkehrtransistor sein, dessen Kollektor
z. B. über einen Widerstand mit einem Punkt verhältnismäßig
hohen positiven Potentials verbunden ist. Die Spannungsän
derungen an dem Ausgang Q können dann erheblich größer als
die an dem eigentlichen Ausgang des Flip-flops, dem Kol
lektor des Transistors T34, sein. Der durch die Schichten
21, 10 und 37 gebildete Transistor T37 kann auch mit der
Oberflächenzone 37 als Emitter und der Schicht 21 als Kol
lektor verwendet werden. In diesem Falle bildet dieser
Transistor einen Emitterfolger. Die Emitterzone 37 kann
z. B. über einen Widerstand zu einem Punkt verhältnismäßig
hohen negativen Potentials führen.
Der Transistor T71 ist z. B. einer der Transistoren einer
Torschaltung oder ein hinzugefügter Umkehrtransistor, je
nach dem gewünschten Ausgangssignal. In diesem Beispiel
wird das logische Signal geringer Größe nicht unmittelbar,
sondern über die Emitter-Kollektor-Strecke eines komple
mentären Transistors T72 der Basis des Ausgangstransistors
T70 zugeführt, wodurch mehr Spannung aufgenommen werden
kann und die Gefahr von Durchschlag geringer ist. Eine an
dere Möglichkeit besteht darin, daß das Ausgangssignal dem
Kollektor 99 des Transistors T72 entnommen wird, in wel
chem Falle der Transistor T70 weggelassen werden kann.
Fig. 7 zeigt eine integrierte Schaltung nach der
Erfindung. Der gemeinsame Körper weist ein niederohmiges
n-leitendes Halbleitersubstrat 90 mit einer hochohmigen
n-leitenden Oberflächenschicht 91 auf, in der eine Anzahl
p-leitender Oberflächenzonen angebracht sind, die bis zu
der Grenzfläche zwischen dem Substrat 90 und der
Oberflächenschicht 91 reichen. Der Körper ist mit einem
Strominjektor mit einer p-leitenden injizierenden Schicht
92, einer n-leitenden durch das Substrat 90 und die
Oberflächenschicht 91 gebildeten Zwischenschicht und zwei
p-leitenden einzustellenden Zonen, und zwar der
Emitterzone 93 des Transistors T72 und der Basiszone 94
des Transistors T71, versehen.
Der n-leitende Körper bildet zugleich den Emitter eines
ersten Transistors, die Basis eines zweiten Transistors
und den Kollektor eines dritten Transistors. Ferner weist
der erste Transistor einen Anschluß 95 an die Basiszone 94
und eine n-leitende Kollektorzone 96 auf, die über eine
auf der Isolierschicht 96 liegende Leiterbahn 98 mit dem
Emitter des zweiten Transistors verbunden ist. Der Kollek
tor des zweiten Transistors wird durch die p-leitende Zone
99 gebildet, die zugleich die Basiszone des dritten Tran
sistors ist. Der dritte Transistor enthält ferner noch ei
ne mit der Ausgangsklemme U verbundene n-leitende Emitter
zone 100. An die p-leitenden Zonen 94 und 99 grenzen
sperrende, hochdotierte n-leitende Zonen 101 zur Ein
schränkung des vorerwähnten Ladungsverlustes.
Fig. 8 zeigt eine andere Ausführungsform einer integrier
ten Schaltung mit komplementären Transistoren. Der Halb
leiterkörper enthält ein Substrat 105 und eine epitakti
sche Schicht 106. In der epitaktischen Schicht befindet
sich eine Oberflächenzone 107 vom entgegengesetzten Leit
fähigkeitstyp, die zugleich die Basiszone eines vertikalen
Transistors und den Emitter eines lateralen komplementären
Transistors bildet.
Der vertikale Transistor enthält einen Emitter 105, 106,
eine Basis 107 und einen Kollektor 108, welcher Kollektor
in diesem Falle durch eine metallhaltige Schicht, z. B.
eine Aluminiumschicht, gebildet wird, die auf der
Basiszone angebracht ist und mit dieser Basiszone einen
Schottky-Übergang bildet. Im Zusammenhang mit der Bildung
dieses Schottky-Übergangs ist die Oberflächenkonzentration
der Dotierung in der Basiszone in diesem Falle kleiner als
1017 bis 1018 Atome/cm3. Der Schottky-Übergang 109 bildet
den Kollektor-Basis-Übergang des Transistors. Der laterale
Transistor enthält eine Emitterzone 107, eine Basiszone
105, 106 und eine Kollektorzone 110. Die Zonen 107 und 110
sind zwei einzustellende Zonen, die zusammen mit der durch
den Körper 105, 106 gebildeten Zwischenschicht und der
injizierenden Schicht 111 einen Dreischichtenstrominjektor
bilden. Die beiden letzteren Schichten sind mit einer
Quelle 112 zum Zuführen eines Einstellstroms verbunden.
Zwischen den Kollektoren 108 und 110 ist eine schematisch
angegebene Verbindung 113 hergestellt, während die Zone
107 mit einem Anschluß b versehen ist.
Auch andere lineare Schaltungen lassen sich auf einfache
Weise erhalten. Ein Beispiel ist ein linearer Verstärker,
dessen Ersatzschaltbild in Fig. 9 dargestellt ist. Dieser
Verstärker enthält drei Transistoren T110, T111, und T112.
Der Kollektor c des ersten Transistors ist mit der Basis b
des zweiten Transistors, dessen Kollektor mit der Basis
des dritten Transistors und schließlich der Kollektor des
dritten Transistors über einen für Gleichstrom durchlässi
gen einen Lautsprecher oder ein Telephon L und ein Mikro
phon M enthaltenden Kreis mit der Basis des ersten Transi
stors verbunden. Der Kondensator C dient zur Unterdrückung
von Wechselstromgegenkopplung. Durch die Gleichstromgegen
kopplung über den erwähnten für Gleichstrom durchlässigen
Kreis wird wieder nur noch ein derartiger Teil des Basis
stroms für jeden der Transistoren zur Verfügung kommen
(wobei der verbleibende Teil des Stromes der Quellen I110,
I111 und I112 über den Kollektor-Emitter-Kreis des voran
gehenden Transistors in der Kaskade fließt), daß diese
Transistoren in ihrem linearen Arbeitsbereich eingestellt
werden. Auf diese Weise wird ein besonders einfacher Ver
stärker z. B. für Hörgeräte erhalten.
In den integrierten Schaltungen können die Basiszonen der
Transistoren T110, T111 und T112 auf die an Hand der Fig.
1 bereits beschriebene Weise nebeneinander an einer band
förmigen injizierenden Schicht entlang angebracht werden.
Eine andere Möglichkeit besteht darin, daß statt eines la
teralen Strominjektors ein vertikal ausgeführter Stromin
jektor verwendet wird.
Die integrierte Schaltung kann dann die Form nach Fig. 10
aufweisen.
Auch in diesem Falle sind die Transistoren nebeneinander
auf einer Seite 120 eines gemeinsamen Körpers 121
angebracht. Halbleiterzonen dieser Transistoren sind mit
einem Muster von Leiterbahnen 122, 123 und 124 verbunden.
Dieses Muster weist einen Eingang für elektrische Signale
auf, und zwar die Bahn 122, über die die von dem Mikrophon
M herrührenden Eingangssignale der Basis 125 des ersten
Transistors zugeführt werden. Ferner weist das Muster ei
nen Ausgang auf, und zwar die Bahn 124, über die die
verstärkten Ausgangssignale von dem dritten Transistor zu
dem Lautsprecher L geführt werden. Die Bahnen 123
verbinden eine Kollektorzone 126 mit der Basiszone 125 des
auffolgenden Transistors.
Die Transistoren enthalten ferner eine gemeinsame Emitter
zone, die durch eine epitaktische Schicht 127 vom einen
Leitfähigkeitstyp, die auf einem Substrat 128 vom anderen
Leitfähigkeitstyp angebracht ist, gebildet wird.
Der Körper 121 weist einen Strominjektor auf, dessen inji
zierende Schicht, die durch das Substrat 128 gebildet
wird, an die der Seite 120 gegenüberliegende Seite 129 des
Körpers grenzt und von dem eine durch zwei gleichrichtende
Übergänge 130 und 131 von der injizierenden Schicht 128
und dem mit dieser verbundenen Quellenanschluß 132 der
Quelle 133 getrennte Schicht 125 sich der injizierenden
Schicht 128 gegenüber auf der Seite 120 erstreckt, wobei
diese gegenüberliegende Schicht 125 über einen diese
Schicht begrenzenden Übergang 131 Ladungsträger aus einer
angrenzenden Schicht 127 des Strominjektors absaugt und
auf diese Weise Strom empfängt, der als Einstellstrom für
die Basis des Transistors und gegebenenfalls für den mit
dieser verbundenen Kollektor des vorangehenden Transistors
dient. Die epitaktische Schicht 127, die zugleich die ge
meinsame Emitterzone der Transistoren und die Zwischen
schicht des Strominjektors bildet, ist mit einem Quellen
anschluß 134 für die andere Klemme der Quelle 133 verse
hen.
In diesem Beispiel ist die Zwischenschicht 127 des Strom
injektors als Bezugspotentialfläche für die Verstärker
schaltung ausgebildet. Diese Fläche, die an ein Bezugs
potential, z. B. an Erde, gelegt werden kann, trennt alle
von dem Strominjektor einen Einstellstrom empfangenen Zo
nen 125 der auf der Seite 120 liegenden Transistoren von
der auf der gegenüberliegenden Seite 129 befindlichen in
jizierenden Schicht 128. Auf diese Weise wird eine elek
trische Abschirmung erhalten, wobei der benötigte Ein
stellstrom durch die meistens geerdete Schicht 127 hin
durch direkt der betreffenden einzustellenden Zone zuge
führt wird.
Die Zwischenschicht 127 weist höher dotierte Teilzonen vom
gleichen Leitfähigkeitstyp auf, die durch eine vergrabene
Schicht 135 und eine vorstehende von der Oberfläche 120
bis zu der vergrabenen Schicht 135 reichende Wand 136 ge
bildet werden. Diese vorstehende Wand 136 kann auch völlig
oder teilweise durch eine versenkte Isolierschicht gebil
det werden.
Diese Teilzonen und namentlich die Teile 136 dienen zur
Unterdrückung der parasitären Transistorwirkung zwischen
den nebeneinander liegenden Basiszonen 125. Außerdem wer
den diese Teile 136 in diesem Falle zur Begrenzung der ge
sonderten Basiszonen 125 verwendet, die durch je voneinan
der durch Teile 136 getrennte Teile einer epitaktischen
Schicht 137 vom anderen Leitfähigkeitstyp gebildet werden,
welche Schicht auf der epitaktischen Schicht 127 vom einen
Leitfähigkeitstyp angebracht ist. Ferner bilden die Teile
136 zusammen mit den vergrabenen Schichten 135 eine Um
schließung der einzustellenden Zonen 125, damit die aus
diesen Zonen 125 in die Zwischenschicht 127 injizierten
Minoritätsladungsträger möglichst in die hochohmigen Ge
biete der Zwischenschicht 127 eingeschlossen werden und
so die verlangte Vergrößerung der effektiven Weglänge
dieser Ladungsträger erhalten wird. Auf diese Weise
trennen die Teilzonen 135, 136 die Transistoren voneinander
und von dem Substrat 128.
Obgleich dies nicht notwendig ist, sind vorzugsweise in
diesen Abtrennungen kleine Öffnungen vorgesehen, die sich
in diesem Beispiel an der Stelle der Teile 130a und 130b
des Übergangs 130 befinden. Diese Teile 130a und 130b des
Übergangs 130 weisen dann eine niedrigere Diffusions
spannung als der übrige Teil des Übergangs 130 auf, so daß
die Injektion von Ladungsträgern aus der injizierenden
Schicht 128 in die Zwischenschicht 127 im wesentlichen
über diese Teile 130a und 130b stattfindet, wobei die
Injektion in umgekehrter Richtung aus der Zwischenschicht
127 in die injizierende Schicht 128 wegen der verhältnis
mäßig niedrigen Dotierung der Zwischenschicht an der be
treffenden Stelle verhältnismäßig gering ist.
Mit der Größe der Oberfläche der Teile 130a und 130b der
Struktur 130 kann das Verhältnis zwischen den den ver
schiedenen Basiszonen 125 zugeführten Einstellströmen be
einflußt werden. So ist in diesem Beispiel die Oberfläche
des Teiles 130a größer als die des Teiles 130b, wodurch
die Stromquelle I110 in Fig. 9, die den Speisestrom für
den Ausgangstransistor T112 liefert, mehr Strom als die
Quellen I111 und I112 liefert.
Ein einfaches Verfahren zur (gegebenenfalls automatischen)
Verstärkungsregelung kann z. B. durch Anwendung zweier Kol
lektoren erhalten werden, wie dies bei dem Transistor nach
Fig. 6 der Fall ist. Wenn einer dieser Kollektoren über
einen regelbaren Widerstand (z. B. den Innenwiderstand ei
nes Transistors) mit Erde verbunden wird, wird der Signal
strom zu dem anderen Kollektor von diesem Widerstand ab
hängig werden, so daß er sich leicht - erwünschtenfalls
automatisch - regeln läßt.
Bei den obenbeschriebenen Ausführungsformen können sämt
liche Basiszonen gesondert größtenteils von n⁺-leitenden
Oberflächenzonen umgeben sein, oder es können, statt höher
dotierter n-leitender Zonen, versenkte Isolierschichten
verwendet werden.
Die beschriebenen Ausführungsformen zeigen, daß durch An
wendung der Erfindung große Vorteile erhalten werden. In
vielen Fällen genügt bei der Herstellung die Verwendung
von nur fünf Masken. Ferner wird eine hohe Packungsdichte
der aktiven Elemente erreicht, während Widerstände prak
tisch völlig überflüssig sind. Die Emitter der verwendeten
Transistoren sind meistens direkt miteinander verbunden,
so daß das Muster von Leiterbahnen verhältnismäßig einfach
ist, wobei die Kollektoren außerdem automatisch voneinan
der getrennt sind. Ferner können auf einfache Weise Mehr
kollektorentransistoren verwendet werden, wodurch viel
Raum und eine Anzahl von Leiterbahnen erspart werden. Beim
Betrieb ist es noch besondersgünstig, daß alle mittels des
Strominjektors zugeführten Einstellströme sich auf gleiche
Weise mit er Spannung über dem injizierenden Übergang än
dern, wodurch die Wirkung der integrierten Schaltung von
dem Strompegel praktisch unabhängig ist, so daß eine sehr
geringe Störanfälligkeit erreicht wird.
Es dürfte einleuchten, daß in den beschriebenen Schaltun
gen insbesondere diejenigen Ströme mit Hilfe des Stromin
jektors zugeführt werden, die vorhanden sein müssen, damit
etwaige Information enthaltende Analog- oder Digitalsig
nalströme oder -Spannungen verarbeitet werden können und
Information, sofern dies notwendig ist, gespeichert werden
kann. Diese z. B. als Bereitströme zu bezeichnenden Ströme
umfassen bei Bauelementen wie logischen Konfigurationen,
Kippschaltungen und Speicherelementen all diejenigen Strö
me, die in dem statischen oder in dem dynamischen Zustand
des Bauelements vorhanden sein müssen, damit das Bauele
ment bereit ist, d. h., daß bei Zufuhr von Information zu
dem Eingang, erforderlichenfalls in Verbindung mit einem
Wählsignal, diese Information aufgenommen werden kann, daß
einmal eingeschriebene Information gespeichert werden
kann, und/oder daß diese Information, gegebenenfalls nach
Auswahl, auf den Ausgang übertragen werden kann.
Die beschriebenen Ausführungsformen können alle völlig
durch in der Halbleitertechnik übliche Techniken, wie Epi
taxie, die Anbringung vergrabener Schichten, die örtliche
Dotierung mittels Diffusion und/oder Ionenimplantation,
die mustergemäße Anbringung isolierender, maskierender und
leitender Schichten usw., hergestellt werden. Ferner kön
nen die beschriebenen integrierten Schaltungen auf übliche
Weise in üblichen Umhüllungen fertigmontiert werden. Zur
näheren Verdeutlichung wird nachstehend die Herstellung
des ersten Beispiels, des Flip-flops nach den Fig. 1
bis 5, kurz beschrieben.
Es wird von einem Siliciumsubstrat 21a (Fig. 2) z. B. vom
n-Leitfähigkeitstyp und einem spezifischen Widerstand zwi
schen 0,005 und 0,015 Ω·cm ausgegangen. Auf diesem Sub
strat wird eine n-leitende epitaktische Siliciumschicht
21b mit einem spezifischen Widerstand von z. B. 0,2 bis 0,6
Ω·cm und einer Dicke von z. B. etwa 5µm angebracht. In
diesem Zusammenhang sei bemerkt, daß der Stromverstär
kungsfaktor β der verwendeten integrierten Transistor
struktur u. a. von dem spezifischen Widerstand der epitak
tischen Schicht abhängig ist. Wenn bei einem spezifischen
Widerstand von etwa 0,1 Ω·cm der Faktor β
etwa 20 beträgt, ist bei den gleichen p- und n-Typ Diffu
sionen bei einem spezifischen Widerstand von etwa
0,6 Ω·cm der Faktor β etwa 10, wobei bemerkt werden
kann, daß mit Rücksicht auf eine betriebssichere Wirkung
der Schaltung in der Praxis für den Faktor β ein Wert von
3 oder höher erwünscht ist.
Anschließend wird eine Diffusionsbehandlung unter Verwen
dung einer Maskierungsschicht aus z. B. Siliciumdioxid und
mit Phosphor als Verunreinigung durchgeführt, um die nie
derohmigen n-leitenden Teile 21c zu erhalten. Die Ober
flächenkonzentration in diesen Teilen beträgt z. B. 1021
Atome/cm3. Die Öffnungen, durch die diese Phosphordotie
rung in den Halbleiterkörper eingeführt wird, weisen eine
Anzahl paralleler Ausläufer auf, derart, daß zwischen zwei
benachbarten Ausläufern stets genügend Raum vorhanden ist,
um bei einer folgenden Bearbeitung darin eine Basiszone
der gewünschten Größe anbringen zu können. Ferner werden
zwei dieser Öffnungen verwendet, wobei die Ausläufer die
ser Öffnungen einander zugewandt sind und miteinander
fluchten. Der Abstand zwischen den Enden einander gegen
überliegender Ausläufer wird gleich oder etwas kleiner als
der Abstand gewählt, der endgültig zwischen den einander
gegenüber liegenden Basiszonen, z. B. den Zonen 5 und 10,
gewünscht wird. Dann können auf übliche Weise durch Diffu
sion über Öffnungen der gewünschten Grüße in einer
Maskierungsschicht gleichzeitig die Basiszonen 1 bis 10
und die injizierende Schicht 20 angebracht werden. Im vor
liegenden Beispiel besteht das Maskierungsmuster aus zwei
parallelen Streifen, die sich in einer Richtung quer zu
den inzwischen erhaltenen n⁺-leitenden Ausläufern er
strecken und die dabei größtenteils in dem Zwischenraum
zwischen den einander gegenüberliegenden Ausläufern liegen
und auf je einer Seite die Enden dieser Ausläufer etwas
überlappen oder wenigstens diese berühren. Die Breite die
ser Streifen entspricht dem gewünschten Abstand zwischen
jeder der Basiszonen und der injizierenden Schicht. Danach
wird über die ganze freie Oberfläche z. B. Bor z. B. bis zu
einer Tiefe von 2,5µm eindiffundiert, wobei der Flächen
widerstand z. B. etwa 150 Ω beträgt.
Zwischen den beiden Maskierungsschichten wird dann die in
jizierende Schicht gebildet, während ferner die voneinan
der getrennten Basiszonen 1 bis 10 erhalten werden, weil
die Oberflächenkonzentration bei dieser Diffusionsbehand
lung ungenügend ist, um den Leitfähigkeitstyp der bereits
vorhandenen n⁺-leitenden Teile 21c zu ändern. Auf diese
Weise grenzen die Basiszonen automatisch direkt an die
n⁺-leitenden Teilzonen 21c, wobei sie je auf drei Seiten
von einem U-förmigen n⁺-leitenden Gebiet umgeben sind.
Auf übliche Weise werden die Kollektorzonen 22-37 ange
bracht, z. B. durch örtliche Diffusion von Phosphor bis zu
einer Tiefe von etwa 1,5µm und mit einem Flächenwiderstand
von etwa 5 Ω, wonach Kontaktöffnungen in die Isolier
schicht geätzt werden können und das Muster von Leiter
bahnen 14 z. B. dadurch angebracht werden kann, daß eine
Aluminiumschicht aufgedampft und anschließend geätzt wird.
Die Breite der injizierenden Schicht 20 beträgt z. B. etwa
20µm. Der Abstand der injizierenden Schicht 20 von jeder
der Basiszonen ist etwa 8µm. Die Abmessungen der Basis
zonen 5 sind z. B. etwa 50µm·80µm, während die Abmessun
gen der Kollektorzone 33 20µm·20µm betragen. Die Breite
der n⁺-leitenden Ausläufer zwischen benachbarten Basiszo
nen kann z. B. 10µm sein.
Wenn völlig oder teilweise statt der niederohmigen Teil
zonen 21c eine versenkte Isolierschicht verwendet wird,
kann diese z. B. durch örtliche Oxidation unter Verwendung
einer z. B. aus Siliciumnitrid bestehenden Maskierungs
schicht erhalten werden.
Wenn vergrabene Schichten verwendet werden (siehe z. B. die Fig. 6 und 10),
können diese z. B. mit Arsen mit einer
Oberflächenkonzentration von etwa 1019 Atomen/cm3 und ei
nem Quadratwiderstand von etwa 20 Ω dotiert sein.
Auch können z. B. die vergrabenen Schichten 135 in Fig. 10
höher als die einzustellenden Basiszonen 125 dotiert sein,
was besonders vorteilhaft sein kann, wenn diese vergrabe
nen Schichten einen Teil der Emitterzone des betreffenden
Transistors bilden.
Es können z. B. auch andere Halbleitermaterialien, wie Ger
manium und AIIIBV-Verbindungen oder Kombinationen von
Halbleitermaterialien, bei denen z. B. das Substrat aus ei
nem anderen Halbleitermaterial als die Oberflächenschicht,
in der sich die Schaltungselemente befinden, besteht, ver
wendet werden. Statt von einem n⁺-leitenden Substrat 21a
(Fig. 2) auszugehen, auf dem epitaktisch eine niedriger
dotierte Schicht 21b angebracht wird, kann auch von einem
niederohmigen Substrat ausgegangen werden, das dann durch
Ausdiffusion von Verunreinigungen mit einer niedriger
dotierten Oberflächenschicht versehen wird. Ferner können
die Leitfähigkeitstypen in den beschriebenen Beispielen
durch die entgegengesetzten ersetzt werden, wobei auch die
Polaritäten der Spannungen umgekehrt werden müssen. Auch
kann die integrierte Schaltung z. B. mit einem oder
mehreren optischen Signaleingängen und/oder -Ausgängen
versehen sein. Z.B. kann ein eingehendes optisches Signal
mittels einer in die Schaltung aufgenommenen Photodiode
oder eines Phototransistors in ein elektrisches Signal
umgewandelt werden, das dann als Eingangssignal für einen
weiteren Teil der Schaltung dienen kann.
Als injizierende Schicht kann z. B. auch eine durch eine
sehr dünne Isoliermaterialschicht von der Zwischenschicht
des Strominjektors getrennte Schicht verwendet werden, wo
bei Tunnelinjektion benutzt wird, wodurch Ladungsträger
aus der leitenden Schicht durch die dünne Isolierschicht
hindurch als Minoritätsladungsträger an die Zwischen
schicht des Strominjektors gelangen.
Der Strominjektor kann z. B. aus vier oder wenigstens aus
einer geraden Anzahl von Schichten bestehen, obgleich vor
zugsweise ein Strominjektor mit einer ungeraden Anzahl von
Schichten verwendet wird. Auch bei Strominjektoren mit
vier oder mehr Schichten fällt außer der einzustellenden
Zone vorzugsweise höchstens eine weitere Zone des betref
fenden Schaltungselements mit einer Schicht des Stromin
jektors zusammen.
Ferner können bei einem Strominjektor mit z. B. sieben
Schichten die dritte und die fünfte Schicht unabhängig
voneinander zur Regelung des der einzustellenden Zone zu
zuführenden Einstellstroms benutzt werden. Die dritte und
die fünfte Schicht des Strominjektors können dann z. B. als
die beiden Eingänge eines Und-Gatters betrachtet werden,
von dem ein Ausgang dann durch die einzustellende Zone ge
bildet wird.
Auch können mit Hilfe des Strominjektors auf entsprechende
Weise Zonen von anderen Schaltungselementen als den ge
zeigten Bipolartransistoren, wie Zonen von Dioden und
Feldeffekttransistoren, einen Einstellstrom empfangen. Au
ßerdem können mit Hilfe des Strominjektors z. B. Torelek
troden von Feldeffekttransistoren, insbesondere von Feld
effekttransistoren mit einer niedrigen Schwellwertspan
nung, gesteuert werden.
Bei Anwendung eines lateralen Strominjektors nach Fig. 1
ist das Verhältnis zwischen den verschiedenen einzustel
lenden Zonen zugeführten Einstellströmen dem Verhältnis
zwischen den Längen der der injizierenden Schicht 20 zuge
wandten Teile der PN-Übergänge zwischen den betreffenden
einzustellenden Basiszonen und der Zwischenschicht 21 pro
portional. Im dargestellten Beispiel ist der verfügbare
Einstellstrom für jede Basiszone gleich groß. Andere Ver
hältnisse können einfach mit Hilfe von Längenunterschieden
in der Struktur festgelegt werden. Auf diese Weise kann
z. B. der oder die Transistor(en) am elektrischen Eingang
der integrierten Schaltung und bzw. oder der oder die
Transitor(en) am elektrischen Ausgang des Bauelementes ei
nen relativ hohen Einstellstrom zugeführt werden um damit
die Störanfälligkeit an den Ein- und/oder den Ausgängen
der Schaltung zu verringern. Eine weitere Möglichkeit zur
Verringerung der Störanfälligkeit ist die Anwendung eines
höheren Stromverstärkungsfaktor β an den gewünschten
Stellen. Eine solche relativ hohe Stromverstärkungsfaktor
kann durch Verwendung einer relativ großen Kollektorzone
erzielt werden. Z.B. können wo nötig Kollektorzonen von
40µm·20µm statt 20µm·20µm wie im Beispiel nach Fig. 1,
verwendet werden. Die Breite der Basiszone kann dabei von
50µm zum Beispiel auf 70µm vergrößert werden.
Eine andere vorteilhafte Möglichkeit zum Erhalten von Ein
stellströmen verschiedener Größe ist die Verwendung unter
schiedlicher Abstände zwischen dem injizierenden gleich
richtenden Übergang des Strominjektors einerseits und den
betreffenden einzustellenden Zonen andererseits. Je größer
der Abstand der injizierenden Schicht und der einzustel
lenden Zone desto größer ist die effektive Weglänge der
injizierten Minoritätsladungsträger und desto kleiner ist
der von der einzustellenden Zone empfangene Einstellstrom.
Insbesondere bei Anwendung eines lateralen Strominjektors
können auch in dieser Weise vorausbestimmte Verhältnisse
zwischen den gewünschten Einstellströmen einfach in der
Struktur der integrierten Schaltung festgelegt werden.
Weiter können eine oder mehrere Schichten des Strominjek
tors, statt durch Dotierung erhalten zu werden, in dem
Halbleiterkörper z. B. mit Oberflächenzuständen und/oder
Ladungen in einer Isolierschicht und/oder mit Hilfe einer
auf der Isolierschicht liegenden Elektrodenschicht indu
ziert werden. Z.B. kann in dem beschriebenen Fünfschich
tenstrominjektor die dritte Schicht durch eine induzierte
Inversionsschicht gebildet werden. Auch können eine oder
mehrere Schichten des Strominjektors aus einer Kombination
eines durch Dotierung erhaltenen Teiles und eines mit die
sem zusammenhängenden induzierten Teiles bestehen. Z.B.
kann, wenn der Abstand zwischen einem durch Dotierung er
haltenen injizierenden und einem durch Dotierung erhalte
nen kollektierenden Übergang im Strominjektor verhältnis
mäßig groß ist, so daß in diesem Teil des Strominjektors
keine oder nur eine geringe Stromübertragung stattfindet,
dieser Abstand dadurch herabgesetzt werden, daß eine oder
beide Schichten an der Oberfläche auf einer der anderen
Schicht zugekehrten Seite mit einer Inversionsschicht er
weitert werden.
Bei Anwendung der beschriebenen induzierten invertierten
Schichten kann, insbesondere wenn sie mit Hilfe einer iso
lierten Elektrodenschicht erhalten werden, der den einzu
stellenden Zonen zuzuführende Einstellstrom auch mittels
der Spannung an der Elektrodenschicht gesteuert werden.
Aus den beschriebenen Beispielen geht hervor, daß die in
tegrierten Schaltungen eine neue, gedrängte Struktur auf
weisen und meistens durch eine vereinfachte Technologie
hergestellt werden können. Vorzugsweise kennzeichnet sich
diese neue Struktur durch das Vorhandensein eines an eine
Oberfläche grenzenden Halbleitergebietes vom einen Leitfä
higkeitstyp, in dem sich eine langgestreckte streifenför
mige Oberflächenzone vom anderen Leitfähigkeitstyp er
streckt, die z. B. einen eines Kanalsystems oder eines
Gitters bildet und die mit dem angrenzenden Gebiet einen
PN-Übergang bildet, wobei auf mindestens einer der langen
Seiten dieser streifenförmigen Zone mehrere nebeneinander
liegende voneinander und von der streifenförmigen Zone ge
trennte Oberflächenzonen vom anderen Leitfähigkeitstyp an
die Oberfläche grenzen, die einzustellende Zonen von
Schaltungselementen der Schaltung und insbesondere einzu
stellende Basiszonen von Bipolartransistoren bilden, wobei
das Gebiet und die streifenförmige Oberflächenzone mit je
einem Anschluß versehen sind, um den erwähnten PN-Übergang
zum Injizieren von Minoritätsladungsträgern in das Gebiet
in der Durchlaßrichtung einzustellen, wobei die einzustel
lenden Zonen durch Sammlung von Minoritätsladungsträgern
aus dem Gebiet über die PN-Übergänge, die dieses Gebiet
mit den einzustellenden Zonen bildet, einen Einstellstrom
empfangen.
Es sei bemerkt, daß die sammelnde Schicht und im allgemei
nen jede Schicht des Strominjektors, die Ladungsträger aus
einer angrenzenden Schicht des Strominjektors sammelt,
wenn kein äußeres Potential überlagert wird, ein Potential
annehmen wird, bei dem der gleichrichtende Übergang zwi
schen den beiden betreffenden Schichten in der Durchlaß
richtung polarisiert ist. Dadurch wird auch über diesen
sammelnden Übergang Injektion von Ladungsträgern stattfin
den. Wenn in beiden Richtungen ein gleich großer Strom
über den sammelnden Übergang fließt, wird die Spannung über
diesem Übergang maximal und praktisch gleich der Spannung
über dem injizierenden Übergang des Strominjektors sein.
In allen anderen Fällen ist die Größe der Durchlaßspannung
von der Größe des der betreffenden Sammelschicht entnomme
nen oder von dieser Schicht aufgenommenen (Einstell)
Stromes abhängig. Es dürfte einleuchten, daß im Grenzfall,
in dem praktisch keine Spannung über dem betreffenden sam
melnden Gleichrichterübergang steht, der entnommene Strom
maximal ist.
Mit dem Strominjektor können durch das Zuführen von Ein
stellstrom also Einstellpotentiale für die einzustellende
Zone erhalten werden, deren Größe in einem Bereich liegt,
der von der Spannung zwischen den beiden an eine Quelle
angeschlossenen Quellenanschlüssen des Strominjektors be
grenzt wird. Die mit dem Stroninjektor erhaltenen Ein
stellpotentiale sind maximal gleich dem des Quellenan
schlusses mit dem höchsten Potential und minimal gleich
dem Quellenanschluß mit dem niedrigsten Potential. Ferner
ist die Spannung zwischen den Quellenanschlüssen gleich
der Spannung, die benötigt wird, um den gleichrichtenden
Übergang zwischen der injizierenden Schicht und der Zwi
schenschicht in der Durchlaßrichtung zu betreiben. Diese
Spannung wird im allgemeinen verhältnismäßig niedrig sein.
Ein üblicher Wert für diese Durchlaßspannung ist für einen
PN-Übergang in Silicium z. B. etwa 0,6 bis 0,8 V. Es ist
besonders günstig, daß in vielen Fällen die ganze Schal
tung mit den obenerwähnten niedrigen Spannungen betrieben
werden kann, wodurch die Verlustleistung äußerst gering
sein kann. Dieser Vorteil einer geringen Verlustleistung
wird auch in erheblichem Maße erzielt, wenn ein wesentli
cher Teil der Schaltung bei diesen niedrigen Spannungen
betrieben wird und weiter z. B. ein oder mehrere Ausgangs
transistoren höhere Spannungen empfangen, um eine höhere
Leistung an dem Ausgang (den Ausgängen) der Schaltung zur
Verfügung zu haben.
In diesem Zusammenhang sei bemerkt, daß mit Hilfe des
Strominjektors auch Zonen von Schaltungselementen, die bei
den obenerwähnten Spannungen überschreitenden Spannungen
betrieben werden, ein Einstellstrom zugeführt werden kann.
In diesem Falle kann auch das Potential der mit dem Strom
injektor verbundenen einzustellenden Zone außerhalb des
oben angegebenen Bereiches liegen, und zwar derart, daß
der Gleichrichterübergang zwischen der einzustellenden
Zone und der daran grenzenden Schicht des Strominjektors
in der Sperrichtung geschaltet ist.
Claims (9)
1. Integrierte Schaltung mit mehreren Schaltungselementen
(T22, T23), die nebeneinander an einer Oberfläche (11)
eines Halbleiterkörpers (12) angeordnet sind, bei der
- a) eine Zwischenschicht (erstes Gebiet) (21) vom ersten Leitungstyp, die eine mehreren Schaltungselementen gemein same Zone bildet, und für jedes dieser Schaltungselemente eine einzustellende Oberflächenzone (1 bis 10), weiter zweite Zone genannt, vom zweiten Leitungstyp vorgesehen ist, die unter Bildung eines zweiten gleichrichtenden Überganges (19) an das erste Gebiet (21) grenzt,
- b) die zweiten Zonen (1 bis 10) an der Oberfläche (11) mit je einem elektrischen Signalanschluß (14) versehen sind, der einen Teil eines Musters von Signalleiterbahnen bildet,
- c) jede der zweiten Zonen (1 bis 10) der Schaltungsele mente (T22, T23) als letzte Schicht einen Teil einer Drei schichtenstruktur (20, 21, 6, 7) eines als Einstellstrom quelle dienenden Strominjektors bildet,
- d) die Dreischichtenstruktur weiter eine injizierende Schicht (20) und die Zwischenschicht (21) enthält, die durch einen ersten gleichrichtenden Übergang (18) von der injizierenden Schicht (20) und durch den zweiten gleich richtenden Übergang (19) von der letzten Schicht (1 bis 10) der Dreischichtenstruktur getrennt ist,
- e) der erste gleichrichtende Übergang (18) der Dreischich tenstruktur zum Zuführen von Ladungsträgern an die letzte Schicht (1 bis 10) in Durchlaßrichtung polarisierbar ist, wobei der Strominjektor als Einstellstromquelle für die zweiten Zonen (1-10) dient und die Einstellströme in Ab wesenheit von an die zweiten Zonen angelegter elektrischer Signale die gleichrichtenden Übergänge zwischen den zwei ten Zonen (1-10) und der Zwischenschicht (21) in Vorwärts richtung einstellen können,
dadurch gekennzeichnet,
daß
- f) der Halbleiterkörper wenigstens zwischen zwei der zweiten Zonen (1-10) eine Sperrzone (76) aus Isolier material aufweist, die sich von der Oberfläche her in den Halbleiterkörper erstreckt.
2. Integrierte Schaltung nach Anspruch 1, bei der in dem
Halbleiterkörper (12) eine zur Zwischenschicht (21) gehö
rende, höher als die zweiten Zonen dotierte Oberflächen
zone (21c) vom ersten Leitungstyp ausgebildet ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß anstelle der Sperrzone aus Isoliermaterial eine höher
dotierte, trennende Oberflächenzone (21c) vorhanden ist,
die zu der Zwischenschicht (21) gehört und jede der
zweiten Zonen (1 bis 10) an der Oberfläche (11) praktisch
völlig von einer Kombination aus der injizierenden Schicht
(20) und der trennenden Oberflächenzone (21c) umgeben ist
(Fig. 1 und 2).
3. Integrierte Schaltung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die trennende Oberflächenzone (21c) sich von der Ober
fläche her in den Halbleiterkörper bis mindestens zur
gleichen Tiefe erstreckt wie die zweiten Zonen (1-10).
4. Integrierte Schaltung nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die trennende Oberflächenzone (21c) sich im Halblei
terkörper einem zur Zwischenschicht (21) gehörenden, höher
als ein angrenzender Teil der Zwischenschicht dotierten
Teil (21a) anschließt, welcher sich in einer Richtung
praktisch parallel zur Oberfläche bis unter die zweiten
Zonen (1-10) erstreckt.
5. Integrierte Schaltung nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß der angrenzende Teil der Zwischenschicht (21) den
höher dotierten Teil (21a) von den zweiten Zonen (1-10)
trennt.
6. Integrierte Schaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet,
daß die trennende Oberflächenzone U-förmige Teile auf
weist, die je eine der zweiten Zonen (1-10) auf drei Sei
ten umgeben.
7. Integrierte Schaltung nach Anspruch 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß die U-förmigen Teile an ihren offenen Enden so von der
injizierenden Schicht (20) abgeschlossen sind, daß die
zweiten Zonen (1-10) praktisch völlig von einer Kombi
nation aus einem Teil der injizierenden Schicht (20) und
einer trennenden Oberflächenzone (21c) umgeben sind.
8. Integrierte Schaltung nach einem der vorangehenden
Ansprüche, bei der mindestens eines der Schaltungselemente
ein Transistor ist und die ersten Gebiete und die zweiten
Zonen Streuelektroden und erste Hauptelektrodenzonen der
Transistoren bilden,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine oder mehrere erste Hauptelektrodenzonen der
Transistoren von einer Metall enthaltenden Schicht
gebildet sind, die mit der angrenzenden zweiten Zone einen
Schottky-Übergang bildet.
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Families Citing this family (88)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL160687C (nl) * | 1972-06-10 | 1979-11-15 | Philips Nv | Toongenerator voor het opwekken van gekozen frequenties. |
DE2344244C3 (de) * | 1973-09-01 | 1982-11-25 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Laterale Transistorstruktur |
FR2244262B1 (de) * | 1973-09-13 | 1978-09-29 | Radiotechnique Compelec | |
US4153909A (en) * | 1973-12-10 | 1979-05-08 | National Semiconductor Corporation | Gated collector lateral transistor structure and circuits using same |
GB1507299A (en) * | 1974-03-26 | 1978-04-12 | Signetics Corp | Integrated semiconductor devices |
DE2442716C3 (de) * | 1974-09-06 | 1984-06-20 | Deutsche Itt Industries Gmbh, 7800 Freiburg | Monolithisch integriertes NOR-Gatter |
DE2442773C3 (de) * | 1974-09-06 | 1978-12-14 | Deutsche Itt Industries Gmbh, 7800 Freiburg | Integrierte Master-Slave-Flipflopschaltung |
JPS5431872B2 (de) * | 1974-09-06 | 1979-10-09 | ||
NL7413264A (nl) * | 1974-10-09 | 1976-04-13 | Philips Nv | Geintegreerde schakeling. |
DE2560485C2 (de) * | 1974-10-09 | 1987-02-26 | N.V. Philips' Gloeilampenfabrieken, Eindhoven | Integrierte Schaltung mit einem mehreren I↑2↑L-Torschaltungen gemeinsamen Halbleiterkörper |
NL7513827A (nl) * | 1974-11-26 | 1976-05-31 | Sony Corp | Halfgeleiderinrichting, meer in het bijzonder volgens het principe van "integrated injection logic" werkende halfgeleiderinrichting. |
DE2460150C2 (de) * | 1974-12-19 | 1984-07-12 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Monolitisch integrierbare Speicheranordnung |
US4119998A (en) * | 1974-12-27 | 1978-10-10 | Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd. | Integrated injection logic with both grid and internal double-diffused injectors |
JPS5615587B2 (de) * | 1974-12-27 | 1981-04-10 | ||
JPS561783B2 (de) * | 1974-12-27 | 1981-01-16 | ||
US4054900A (en) * | 1974-12-27 | 1977-10-18 | Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd. | I.I.L. with region connecting base of double diffused injector to substrate/emitter of switching transistor |
US4107719A (en) * | 1975-02-19 | 1978-08-15 | Siemens Aktiengesellschaft | Inverse planar transistor |
DE2509530C2 (de) * | 1975-03-05 | 1985-05-23 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Halbleiteranordnung für die Grundbausteine eines hochintegrierbaren logischen Halbleiterschaltungskonzepts basierend auf Mehrfachkollektor-Umkehrtransistoren |
FR2308206A2 (fr) * | 1975-04-14 | 1976-11-12 | Radiotechnique Compelec | Circuit logique integre a injecteurs de courant |
DE2529951A1 (de) * | 1975-07-04 | 1977-01-27 | Siemens Ag | Lateraler, bipolarer transistor |
US4599635A (en) * | 1975-08-28 | 1986-07-08 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device and method of producing same |
FR2326810A1 (fr) * | 1975-09-30 | 1977-04-29 | Thomson Csf | Nouveaux inverseurs logiques integres |
FR2337431A1 (fr) * | 1975-12-29 | 1977-07-29 | Radiotechnique Compelec | Perfectionnement a la structure des circuits integres a transistors bipolaires et procede d'obtention |
FR2337432A1 (fr) * | 1975-12-29 | 1977-07-29 | Radiotechnique Compelec | Perfectionnement a la structure des circuits integres a transistors bipolaires complementaires et procede d'obtention |
DE2700587A1 (de) * | 1976-01-15 | 1977-07-21 | Itt Ind Gmbh Deutsche | Monolithisch integrierte i hoch 2 l-speicherzelle |
NL7606193A (nl) * | 1976-06-09 | 1977-12-13 | Philips Nv | Geintegreerde schakeling. |
JPS608628B2 (ja) * | 1976-07-05 | 1985-03-04 | ヤマハ株式会社 | 半導体集積回路装置 |
US4150392A (en) * | 1976-07-31 | 1979-04-17 | Nippon Gakki Seizo Kabushiki Kaisha | Semiconductor integrated flip-flop circuit device including merged bipolar and field effect transistors |
JPS5325375A (en) * | 1976-07-31 | 1978-03-09 | Nippon Gakki Seizo Kk | Semiconductor integrated circuit devi ce |
JPS5838938B2 (ja) * | 1976-08-03 | 1983-08-26 | 財団法人半導体研究振興会 | 半導体集積回路 |
DE2652103C2 (de) * | 1976-11-16 | 1982-10-28 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Integrierte Halbleiteranordnung für ein logisches Schaltungskonzept und Verfahren zu ihrer Herstellung |
FR2373163A1 (fr) * | 1976-12-03 | 1978-06-30 | Thomson Csf | Structure pour circuits logiques |
JPS588147B2 (ja) * | 1976-12-08 | 1983-02-14 | ヤマハ株式会社 | 半導体集積回路装置 |
JPS5811134B2 (ja) * | 1976-12-14 | 1983-03-01 | 株式会社東芝 | 分周回路 |
US4067038A (en) * | 1976-12-22 | 1978-01-03 | Harris Corporation | Substrate fed logic and method of fabrication |
NL7614610A (nl) * | 1976-12-31 | 1978-07-04 | Philips Nv | Inrichting voor het koppelen van in i2l techniek bedreven transistoren met een op hogere rust- stroom ingestelde transistor. |
NL7700420A (nl) * | 1977-01-17 | 1978-07-19 | Philips Nv | Halfgeleiderinrichting en werkwijze ter ver- vaardiging daarvan. |
JPS53121487A (en) * | 1977-03-30 | 1978-10-23 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor logic circuit device of electrostatic induction type |
JPS53122381A (en) * | 1977-03-31 | 1978-10-25 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor logic circuit device of electrostatic induction type |
US4400689A (en) * | 1977-04-07 | 1983-08-23 | Analog Devices, Incorporated | A-to-D Converter of the successive-approximation type |
GB1584724A (en) * | 1977-07-14 | 1981-02-18 | Philips Electronic Associated | Integrated injection logic circuits |
FR2404962A1 (fr) * | 1977-09-28 | 1979-04-27 | Ibm France | Dispositif semi-conducteur du genre cellule bistable en technologie a injection de courant, commandee par l'injecteur |
FR2408914A1 (fr) * | 1977-11-14 | 1979-06-08 | Radiotechnique Compelec | Dispositif semi-conducteur monolithique comprenant deux transistors complementaires et son procede de fabrication |
US4348600A (en) * | 1978-02-14 | 1982-09-07 | Motorola, Inc. | Controlled current source for I2 L to analog interfaces |
GB2014387B (en) * | 1978-02-14 | 1982-05-19 | Motorola Inc | Differential to single-ended converter utilizing inverted transistors |
DE2816949C3 (de) * | 1978-04-19 | 1981-07-16 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Monolithisch integrierte Halbleiteranordnung und deren Verwendung zum Aufbau einer Speicheranordnung |
NL7806989A (nl) * | 1978-06-29 | 1980-01-03 | Philips Nv | Geintegreerde schakeling. |
US4199776A (en) * | 1978-08-24 | 1980-04-22 | Rca Corporation | Integrated injection logic with floating reinjectors |
JPS55145363A (en) * | 1979-04-27 | 1980-11-12 | Toshiba Corp | Semiconductor device |
US4274891A (en) * | 1979-06-29 | 1981-06-23 | International Business Machines Corporation | Method of fabricating buried injector memory cell formed from vertical complementary bipolar transistor circuits utilizing mono-poly deposition |
US4458406A (en) * | 1979-12-28 | 1984-07-10 | Ibm Corporation | Making LSI devices with double level polysilicon structures |
US4475280A (en) * | 1980-12-24 | 1984-10-09 | General Electric Company | Method of making an integrated circuit incorporating low voltage and high voltage semiconductor devices |
US4412142A (en) * | 1980-12-24 | 1983-10-25 | General Electric Company | Integrated circuit incorporating low voltage and high voltage semiconductor devices |
JPS57116430A (en) * | 1981-01-13 | 1982-07-20 | Toshiba Corp | Inverted logical circuit |
US4654684A (en) * | 1981-04-13 | 1987-03-31 | International Business Machines Corp. | Magnetically sensitive transistors utilizing Lorentz field potential modultion of carrier injection |
JPS5947467B2 (ja) * | 1981-09-01 | 1984-11-19 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 温度センサ−用半導体素子 |
US4567500A (en) * | 1981-12-01 | 1986-01-28 | Rca Corporation | Semiconductor structure for protecting integrated circuit devices |
US4629912A (en) * | 1982-02-02 | 1986-12-16 | Fairchild Camera And Instrument Corp. | Schottky shunt integrated injection |
JPS58122611U (ja) * | 1982-02-15 | 1983-08-20 | カルソニックカンセイ株式会社 | 自動車用空気調和装置 |
JPS6048090A (ja) * | 1983-08-26 | 1985-03-15 | 伊勢電子工業株式会社 | 螢光表示装置 |
JPS6074455A (ja) * | 1983-09-29 | 1985-04-26 | Fujitsu Ltd | マスタスライス集積回路 |
JPH031424Y2 (de) * | 1985-02-08 | 1991-01-17 | ||
US4813017A (en) * | 1985-10-28 | 1989-03-14 | International Business Machines Corportion | Semiconductor memory device and array |
US4794277A (en) * | 1986-01-13 | 1988-12-27 | Unitrode Corporation | Integrated circuit under-voltage lockout |
JPS6241030A (ja) * | 1986-05-09 | 1987-02-23 | Sumitomo Rubber Ind Ltd | タイヤの製造方法 |
US5087579A (en) * | 1987-05-28 | 1992-02-11 | Texas Instruments Incorporated | Method for fabricating an integrated bipolar-CMOS circuit isolation for providing different backgate and substrate bias |
US5060044A (en) * | 1987-05-28 | 1991-10-22 | Texas Instruments Incorporated | Integrated bipolar-CMOS circuit isolation for providing different backgate and substrate bias |
JPS6439120U (de) * | 1987-09-04 | 1989-03-08 | ||
EP0328905B1 (de) * | 1988-02-15 | 1994-06-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Schaltungsanordnung zum Schutze einer integrierten Schaltung |
JPH0828423B2 (ja) * | 1988-10-14 | 1996-03-21 | 日本電気株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP3237757B2 (ja) * | 1989-12-28 | 2001-12-10 | 呉羽化学工業株式会社 | 電子部品封止用樹脂組成物および封止電子部品 |
US4999687A (en) * | 1990-04-25 | 1991-03-12 | At&T Bell Laboratories | Logic element and article comprising the element |
JPH0721531U (ja) * | 1991-07-22 | 1995-04-18 | 積水化成品工業株式会社 | 折り箱容器 |
JP2955106B2 (ja) * | 1992-01-06 | 1999-10-04 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
US5244098A (en) * | 1992-11-02 | 1993-09-14 | The Read Corporation | Material separating apparatus and method |
JP2537308Y2 (ja) * | 1993-08-18 | 1997-05-28 | 善孝 小林 | 自転車用サドルカバー入れ |
US6125139A (en) * | 1995-12-29 | 2000-09-26 | Advanced Micro Devices, Inc. | Narrowband digital cordless telephone |
US5978688A (en) * | 1995-12-29 | 1999-11-02 | Advanced Micro Devices, Inc. | Apparatus and method for protocol interface |
US5943373A (en) * | 1995-12-29 | 1999-08-24 | Advanced Micro Devices, Inc. | External protocol hooks system and method |
US6978009B1 (en) | 1996-08-20 | 2005-12-20 | Legerity, Inc. | Microprocessor-controlled full-duplex speakerphone using automatic gain control |
US6514785B1 (en) * | 2000-06-09 | 2003-02-04 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | CMOS image sensor n-type pin-diode structure |
US7598521B2 (en) * | 2004-03-29 | 2009-10-06 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Semiconductor device in which the emitter resistance is reduced |
US7433192B2 (en) * | 2004-12-29 | 2008-10-07 | Agere Systems Inc. | Packaging for electronic modules |
US7215204B2 (en) * | 2004-12-29 | 2007-05-08 | Agere Systems Inc. | Intelligent high-power amplifier module |
CN105047289A (zh) * | 2015-07-06 | 2015-11-11 | 舒泳军 | 一种带滑槽滑块的隔热屏罩的电缆 |
CN104979045A (zh) * | 2015-07-06 | 2015-10-14 | 余储 | 一种带有防火层的隔热屏罩的电缆 |
US10249607B1 (en) | 2017-12-15 | 2019-04-02 | Texas Instruments Incorporated | Internally stacked NPN with segmented collector |
KR102239463B1 (ko) * | 2020-11-25 | 2021-04-14 | 재단법인대구경북과학기술원 | 칼슘 이온 전지용 나시콘계 전극 조성물 및 이를 포함하는 칼슘 이온 전지 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1817481A1 (de) * | 1968-12-30 | 1970-07-02 | Ibm Deutschland | Monolithischer Halbleiterspeicher |
DE2021824C3 (de) * | 1970-05-05 | 1980-08-14 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Monolithische Halbleiterschaltung |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2838617A (en) * | 1953-01-13 | 1958-06-10 | Philips Corp | Circuit-arrangement comprising a four-zone transistor |
US2936384A (en) * | 1957-04-12 | 1960-05-10 | Hazeltine Research Inc | Six junction transistor signaltranslating system |
US3165710A (en) * | 1961-03-27 | 1965-01-12 | Westinghouse Electric Corp | Solid state oscillator |
US3177414A (en) * | 1961-07-26 | 1965-04-06 | Nippon Electric Co | Device comprising a plurality of transistors |
JPS468254B1 (de) * | 1967-11-13 | 1971-03-02 | ||
US3517324A (en) * | 1968-01-22 | 1970-06-23 | Eastman Kodak Co | Complementary emitter follower |
US3579059A (en) * | 1968-03-11 | 1971-05-18 | Nat Semiconductor Corp | Multiple collector lateral transistor device |
US3643235A (en) * | 1968-12-30 | 1972-02-15 | Ibm | Monolithic semiconductor memory |
US3817797A (en) * | 1969-05-12 | 1974-06-18 | Ibm | Construction of monolithic chip and method of distributing power there-in for individaul electronic devices constructed thereon |
BE756139A (fr) * | 1969-09-15 | 1971-02-15 | Rca Corp | Circuit intermediaire integre pour le couplage d'un circuit de commandea impedance de sortie faible a une charge a impedance d'entree elevee |
NL6917885A (de) * | 1969-11-28 | 1971-06-02 | ||
US3657612A (en) * | 1970-04-20 | 1972-04-18 | Ibm | Inverse transistor with high current gain |
US3648125A (en) * | 1971-02-02 | 1972-03-07 | Fairchild Camera Instr Co | Method of fabricating integrated circuits with oxidized isolation and the resulting structure |
US3778688A (en) * | 1971-03-15 | 1973-12-11 | Texas Instruments Inc | Mos-bipolar high voltage driver circuit |
DE2165729C3 (de) * | 1971-12-30 | 1975-02-13 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Monolithische, als Lese/Schreiboder als Festwertspeicher betreibbare Speicheranordnung |
US3708691A (en) * | 1972-01-21 | 1973-01-02 | Tektronix Inc | Large scale integrated circuit of reduced area including counter |
DE2212168C2 (de) * | 1972-03-14 | 1982-10-21 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Monolithisch integrierte Halbleiteranordnung |
JPS4935030A (de) * | 1972-08-03 | 1974-04-01 |
-
1971
- 1971-05-22 NL NL7107040A patent/NL7107040A/xx unknown
-
1972
- 1972-05-12 ZA ZA723230A patent/ZA723230B/xx unknown
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-
1982
- 1982-09-30 NL NLAANVRAGE8203799,A patent/NL187661C/xx not_active IP Right Cessation
- 1982-12-13 NL NLAANVRAGE8204809,A patent/NL187550C/xx not_active IP Right Cessation
- 1982-12-15 NL NLAANVRAGE8204833,A patent/NL187551C/xx not_active IP Right Cessation
- 1982-12-17 NL NLAANVRAGE8204877,A patent/NL188608C/xx active Search and Examination
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1817481A1 (de) * | 1968-12-30 | 1970-07-02 | Ibm Deutschland | Monolithischer Halbleiterspeicher |
DE2021824C3 (de) * | 1970-05-05 | 1980-08-14 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Monolithische Halbleiterschaltung |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
IBM TDB, Bd. 11, Nr. 11, April 1969, S. 1601 * |
IBM TDB, Bd. 13, Nr. 10, März 1971, S. 2953 * |
Also Published As
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---|---|---|
DE2266041C2 (de) | ||
DE2545368C2 (de) | Monolithisch integrierte Schaltung mit einer Mehrzahl von I↑2↑L-Torschaltungen | |
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