DE19860731A1 - Substrate washing apparatus and method - Google Patents
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Substrat-Waschanlage und
ein Verfahren zur Naßreinigung eines Substrats.
In dem Herstellungsprozeß für Halbleiterbauelemente wird die
Oberfläche eines Halbleiterwavers mit einer Bürste oder einem
Schwamm abgeschrubbt, während eine Reinigungsflüssigkeit darauf
aufgesprüht wird. Da Fremdstoffe, wie zum Beispiel Partikel, or
ganische Stoffe und Metalle auf diese Weise entfernt werden,
wird der Reinheitsgrad der Oberfläche verbessert. Zur Schrubb
reinigung wird die in dem US-Patent Nr. 5,685,039 offenbarte
Anlage auf herkömmliche Weise verwendet. Jedoch können in der
herkömmlichen Anlage Teilchen auf der Oberfläche eines Reini
gungselements (Bürste oder Schwamm) hängenbleiben und in leichte
Vertiefungen und Löcher des Reinigungselementes eindringen. Die
an dem Reinigungselement haftenden und eingedrungenen Teilchen
können aus dem Reinigungselement heraus fallen und an dem Waver W
haften bleiben.
Eine Aufgabe der gegenwärtigen Erfindung ist es, eine Substrat-
Waschanlage und ein Verfahren unter Einsatz eines Reinigungsele
mentes zu schaffen, an dem Partikel weniger haften bleiben und
das leicht gereinigt werden kann.
Zur Lösung der Aufgabe wird eine Substrat-Waschanlage angegeben,
die umfaßt:
- - ein Folien-Reinigungselement, das flüssigkeitsdurchlässig ist und relativ zu einem Substrat bewegt wird, das im we sentlichen horizontal gehalten ist, und dabei im Kontakt mit dem Substrat steht;
- - ein Tragteil zum Tragen des Folien-Reinigungselementes;
- - eine Zufuhrleitung zum Zuführen einer Reinigungsflüssigkeit zu dem Substrat durch das Folien-Reinigungselement;
- - Zufuhrmittel zum Zuführen der Reinigungsflüssigkeit in die Zufuhrleitung;
- - Druckmittel zum Andrücken des Folien-Reinigungselements, dem Reinigungsflüssigkeit zugeführt wird und das ange schwollen ist, auf das Substrat; und
- - Relativbewegungsmittel zum horizontalen Bewegen des Folien- Reinigungselements, das mit der Reinigungsflüssigkeit be aufschlagt und angeschwollen ist, relativ zu dem Substrat.
In der Substrat-Waschanlage können die Partikel schwer an dem
Reinigungselement hängen bleiben, da das Folien-Reinigungsele
ment eine geringe Adsorptionskraft auf die Partikel hat. Da die
Reinigungsflüssigkeit aus dem Folien-Reinigungselement ausströ
men kann, ist es für die Teilchen schwierig, in das Folien-Rei
nigungselement einzudringen. Wenn das Folien-Reinigungselement
selbst gereinigt wird, treten die Teilchen leicht aus dem Ele
ment heraus, mit dem Ergebnis, daß die zum Reinigen benötigte
Zeit verringert werden kann.
Die Vorrichtung der vorliegenden Erfindung umfaßt weiterhin eine
Steuerung zum Steuern mindestens des Betriebs der Druckmittel
und der Reinigungsflüssigkeits-Zufuhrmittel. Die Steuerung re
gelt eine Übersteuerung der auf das Substrat durch das Folien-
Reinigungselement aufgebrachten Kontaktbelastung, durch Steue
rung der Druckmittel.
Die Vorrichtung der vorliegenden Erfindung umfaßt weiterhin Mit
tel zum Einstellen des Zufuhrdrucks für das Reinigungsmittel,
das durch die Zufuhrleitung fließt. In diesem Fall stellt die
Steuerung die auf das Substrat durch das Folien-Reinigungsele
ment aufgebrachte übersteuerte Kontaktbelastung mit Hilfe von
Stellmitteln für den Zufuhrdruck der Reinigungsflüssigkeit ein.
Das Tragteil hat einen Zylinder, einen unteren Abschnitt, an dem
das Folien-Reinigungselement angebracht ist, einen oberen Ab
schnitt, mit dem die obere Zufuhrleitung kommuniziert, einen
Vorratsbehälter zum zeitweisen Speichern von Reinigungsflüssig
keit, die von der Zufuhrleitung zugeführt wird, und außerdem An
triebsmittel zum Rotieren des Zylinders um seine vertikale Ach
se.
Weiterhin sollte die Vorrichtung der vorliegenden Erfindung vor
zugsweise eine Dispersionsplatte für den Fluidstrom auf den Wa
ver haben, die zwischen dem Vorratsbehälter und dem Folien-Rei
nigungselement angeordnet ist und eine Vielzahl von Löchern zum
Durchlassen der Reinigungsflüssigkeit aus dem Vorratsbehälter
auf das Folien-Reinigungselement hat.
Weiterhin sollte die Vorrichtung der vorliegenden Erfindung vor
zugsweise ein elastisches Element (Schwamm) haben, das wasser
durchlässig ist und zwischen dem Vorratsbehälter und dem Folien-
Reinigungselement angeordnet ist, um die Reinigungsflüssigkeit
von dem Vorratsbehälter zu dem Folien-Reinigungselement durch
zulassen. Als wasserdurchlässiges elastisches Element (Schwamm)
wird vorzugsweise geschäumtes PVA (Polyvinylalkohol) verwendet.
In diesem Fall wird das elastische Element als Kernelement des
Folien-Reinigungselements verwendet. Auch wenn die Zufuhrmenge
der Reinigungsflüssigkeit auf das Folien-Reinigungselement ge
ring ist, wird ein gewünschter Innendruck des Folien-Reinigungs
elements erreicht, so daß der Verbrauch von Reinigungsflüssig
keit verringert wird.
Vorzugsweise hat das Tragteil einen Ultraschall-Oszillator zum
Aufbringen einer Ultraschallwelle auf die Reinigungsflüssigkeit,
die durch das Zufuhrrohr geleitet wird. Wenn die Reinigungsflüs
sigkeit auf die Oberfläche des Substrats aufgebracht wird, wäh
rend die Reinigungsflüssigkeit durch Ultraschallwellen
oszilliert, wird die Reinigungsleistung und die Dispersionskraft
erhöht.
Das Folien-Reinigungselement ist aus einer porösen und wasser
festen Harzschicht oder einer hydrophilen Harzschicht gebildet.
Als wasserfeste Harzschicht ist ein Fluorpolymer geeignet. Als
hydrophiles Harz ist ein Polyolefin-Harz geeignet. Da dieses
Harz einen geringen Abriebkoeffizienten hat, ist es für die
Partikel schwierig, an dem Harz hängen zu bleiben. Da die Be
ständigkeit gegen Chemikalien hoch ist, können Chemikalien mit
höherer Reinigungsleistung verwendet werden. Ein derartiges Rei
nigungselement wird wie folgt hergestellt:
Wenn Polytetrafluorethylen-Teilchen (PTFE) erhitzt und zusammen gepreßt werden, werden die Teilchen teilweise geschmolzen und verbunden, wodurch eine heiß gepreßte Folie gebildet wird. An schließend wird eine geeignete Kraft auf die heiß gepreßte Folie aufgebracht, um die nicht geschmolzenen Abschnitte auszudehnen. Als Resultat wird ein gitterförmiges Gewebe mit einer Vielzahl feiner Löcher erzielt. Die Kraft wird entweder durch ein einach siges Ziehverfahren (zum Ziehen der Folie in eine einzige Rich tung (X-Achse)) oder durch ein zweiachsiges Ziehverfahren (zum Ziehen der Folie in zwei Richtungen (X-Achse und Y-Achse)) auf die heiß gepreßte Folie aufgebracht. In der gezogenen porösen Folie liegt die Foliendicke vorzugsweise in dem Bereich von 0,5 bis 5 mm und der durchschnittliche Durchmesser der feinen Löcher in dem Bereich von 0,1 bis 50 µm. Um eine notwendige Zugfestig keit der Folie und einen gleichmäßigen Wasserdurchlaß durch die feinen Löcher zu erreichen, sollte die Foliendicke vorzugsweise in dem Bereich von 1,0 bis 3,0 mm und der durchschnittliche Lochdurchmesser in dem Bereich von 0,5 bis 2,0 µm liegen.
Wenn Polytetrafluorethylen-Teilchen (PTFE) erhitzt und zusammen gepreßt werden, werden die Teilchen teilweise geschmolzen und verbunden, wodurch eine heiß gepreßte Folie gebildet wird. An schließend wird eine geeignete Kraft auf die heiß gepreßte Folie aufgebracht, um die nicht geschmolzenen Abschnitte auszudehnen. Als Resultat wird ein gitterförmiges Gewebe mit einer Vielzahl feiner Löcher erzielt. Die Kraft wird entweder durch ein einach siges Ziehverfahren (zum Ziehen der Folie in eine einzige Rich tung (X-Achse)) oder durch ein zweiachsiges Ziehverfahren (zum Ziehen der Folie in zwei Richtungen (X-Achse und Y-Achse)) auf die heiß gepreßte Folie aufgebracht. In der gezogenen porösen Folie liegt die Foliendicke vorzugsweise in dem Bereich von 0,5 bis 5 mm und der durchschnittliche Durchmesser der feinen Löcher in dem Bereich von 0,1 bis 50 µm. Um eine notwendige Zugfestig keit der Folie und einen gleichmäßigen Wasserdurchlaß durch die feinen Löcher zu erreichen, sollte die Foliendicke vorzugsweise in dem Bereich von 1,0 bis 3,0 mm und der durchschnittliche Lochdurchmesser in dem Bereich von 0,5 bis 2,0 µm liegen.
Als Material für das Folien-Reinigungselement kann neben PTFE
ein Tetrafluorethylen-Perfluoralkylvinylether-Copolymer (PFA),
ein Tetrafluorethylen-Hexafluorpropylen-Copolymer (FEP) oder
eine Polychlorotrifluorethylen (PCTFE) verwendet werden. Da die
se Fluorpolymer-Harzmaterialien wasserdicht sind, muß die Folie
porös gefertigt werden, um Wasser durchzulassen. Damit das Fo
lien-Reinigungselement nicht durch den Wasserdruck auseinanderb
richt, wird die Zugfestigkeit der Harzfolie, die das Folien-Rei
nigungselement bildet, auf 24,7 kg/mm2 oder mehr in der
Zugrichtung und 5,9 kg/mm2 in eine Richtung quer zur Zugrichtung
eingestellt.
Auf der anderen Seite kann ein hydrophiles Harz, wie zum Bei
spiel ein Polyolefin-Harz verwendet werden. In diesem Fall, bei
dem das Folien-Reinigungselement aus dem hydrophilen Harz gebil
det wird, beträgt der geringste Wert der Foliendicke 0,5 mm, um
eine notwendige Zugfestigkeit zu erzielen. Es gibt keine obere
Grenze für die Foliendicke, da Wasser leicht durch die hydrophi
le Harzschicht dringt.
Zur Lösung der Aufgabe hat das Verfahren zur Substratreinigung
die Schritte von:
- (a) Halten des Substrats im wesentlichen horizontal;
- (b) Zuführen einer Reinigungsflüssigkeit auf die Substratober fläche durch ein Folien-Reinigungselement, das flüssig keitsdurchlässig ist, und Ermöglichen, daß das Folien-Rei nigungselement in Kontakt mit der Substratoberfläche tritt;
- (c) Andrücken des Folien-Reinigungselements auf die Substrat oberfläche über einen Nullpunkt hinaus, der ein Anfangs- Kontaktpunkt des Folien-Reinigungselements mit der Sub stratoberfläche ist, wobei das Folien-Reinigungselement in übersteuerten Kontakt mit der Substratoberfläche gebracht wird; und
- (d) Bewegen des Folien-Reinigungselements relativ zum Substrat, um die Substratoberfläche durch das Folien-Reinigungsele ment zu reinigen.
Das Verfahren der vorliegenden Erfindung hat weiterhin den
Schritt (e) zum Zulassen, daß ein Dummy-Substrat übersteuert in
Kontakt mit dem Folien-Reinigungselement tritt, um das Dummy-
Substrat einer Schrubbreinigung zu unterziehen, wodurch die
passendste übersteuerte Kontaktbelastung erreicht wird. In die
sem Fall wird in dem Schritt (c) das Abnehmen der Menge des Fo
lien-Reinigungselements aus geregelt oder ein Zufuhrdruck für die
Reinigungsflüssigkeit so gesteuert, um die übersteuerte Kontakt
belastung des Folien-Reinigungselements, die auf das Substrat
wirkt, auf die passendste übersteuerte Kontaktbelastung einzu
stellen, die in dem Schritt (e) erzielt wird.
In den Schritten (c) und (d) kann der Zufuhrdruck für die Reini
gungsflüssigkeit im wesentlichen gleich sein kann, größer einge
stellt werden als zur Stillstandszeit, in der das Substrat ge
reinigt wird, oder abhängig von dem Oberflächenzustand des Sub
strats veränderbar sein.
Zusätzliche Aufgaben und Vorteile der Erfindung werden in der
nachfolgenden Beschreibung fortgesetzt und werden teilweise aus
der Beschreibung deutlich oder können durch praktische Anwendung
der Erfindung erkannt werden. Die Aufgaben und Vorteile der Er
findung können durch die Gerätschaften und Kombinationen reali
siert und erzielt werden, die insbesondere in der nachfolgenden
Beschreibung herausgestellt sind.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der beigefügten Zeichnun
gen näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Perspektivansicht eines voll
ständigen Substrat-Bearbeitungssystems;
Fig. 2 eine Perspektivansicht des inneren Aufbaus einer
Substrat-Waschanlage (Schrubbreiniger);
Fig. 3 eine Ansicht einer Ausführungsform einer erfin
dungsgemäßen Substrat-Waschanlage mit einem
Blockdiagramm eines Peripheriegerätes;
Fig. 4 eine Perspektivansicht eines Reinigungselementes
der Ausführungsform aus Fig. 3;
Fig. 5 eine Querschnittsansicht eines wesentlichen Teils
der erfindungsgemäßen Substrat-Waschanlage mit
einem Blockdiagramm von Peripheriegeräten;
Fig. 6 einen Längsschnitt durch ein erfindungsgemäßes
Reinigungselement;
Fig. 7 einen Längsschnitt durch einen wesentlichen Teil
der erfindungsgemäßen Substrat-Waschanlage;
Fig. 8 ein Flußdiagramm, welches das erfindungsgemäße
Verfahren zum Reinigen von Substraten zeigt;
Fig. 9 eine Ansicht, die eine Ausführungsform eines
Tragmechanismus für ein Reinigungselement zeigt;
Fig. 10 eine Ansicht, die eine andere Ausführungsform
eines Tragmechanismus für ein Reinigungselement
zeigt;
Fig. 11 eine schematische Ansicht zur Erläuterung eines
Verfahrens zum Bestimmen der Druckkraft des Rei
nigungselements;
Fig. 12 einen Längsschnitt, der ein Reinigungselement
einer anderen Ausführungsform zeigt;
Fig. 13 einen Längsschnitt, der ein Reinigungselement
einer weiteren Ausführungsform zeigt;
Fig. 14a-14c aufeinanderfolgende Ansichten eines Verfahrens
zum Bearbeiten eines Substrats entsprechend einer
Ausführungsform der gegenwärtigen Erfindung;
Fig. 15 eine Querschnittsansicht einer Substrat-Waschan
lage entsprechend einer anderen Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung; und
Fig. 16 ein Flußdiagramm, das ein Substrat-Waschverfahren
entsprechend einer anderen Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung zeigt.
Wie in der Fig. 1 gezeigt ist, hat das Reinigungssystem einen
Lade-/Entladeabschnitt 2 und einen Verarbeitungsabschnitt 4. Der
Lade-/Entladeabschnitt 2 hat einen Tisch 2a und einen Unterarm
mechanismus 3. Vier Kassetten C sind an dem Tisch 2a befestigt.
Eine Vielzahl von Wavern W sind in jeder Kassette gelagert. Der
Unterarmmechanismus 3 hat eine Halterung zum Halten des Wavers
W, einen Vor- und Rückbewegungsmechanismus zum Bewegen der Hal
terung nach vorne und zurück, einen X-Achsen-Bewegungsmechanis
mus zum Bewegen der Halterung in eine X-Achsen-Richtung, einen
Z-Achsen-Bewegungsmechanismus zum Bewegen der Halterung in eine
Z-Achsen-Richtung und einen O-Drehmechanismus zum Schwenken der
Halterung um die Z-Achse.
Der Verarbeitungsabschnitt 4 hat einen Hautarmmechanismus 5 und
verschiedene Verarbeitungseinheiten 7, 8, 9, 10. Ein Transport
durchgang 6 ist im Zentrum des Verarbeitungsabschnitts vorgese
hen und erstreckt sich entlang der Y-Achsen-Richtung. Der Haupt
armmechanismus ist entlang des Transportdurchgangs 6 beweglich.
Der Hauptarmmechanismus 5 hat eine Halterung zum Halten des Wa
vers W, einen Y-Achsen-Bewegungsmechanismus zum Bewegen der Hal
terung in der Y-Achsen-Richtung, einen Z-Achsen-Bewegungsmecha
nismus zum Bewegen der Halterung in der Z-Achsen-Richtung und
einen θ-Drehmechanismus zum Schwenken der Halterung um die
Z-Achse. Der Hauptarmmechanismus 5 ist zuständig für die Übergabe
des Wavers W zwischen dem Hauptarmmechanismus 5 und dem Unter
armmechanismus 3 zum Laden und Entladen des Wavers W in die Ver
arbeitungseinheiten 7, 8, 9, 10 bzw. aus diesen heraus.
Erste und zweite Reinigungseinheiten 7, 8 sind entlang einer der
Seiten des Transportdurchgangs 6 angeordnet. Die erste Reini
gungseinheit 7 wird als Oberflächenreinigungseinheit zum Reini
gen einer Frontfläche des Wavers W verwendet. Die zweite Reini
gungsvorrichtung 8 wird als Rückseitenflächen-Reinigungsvorrich
tung zum Reinigen einer Rückseitenfläche des Wavers W verwendet.
Eine Trocknungseinheit 9 und eine Waver-Umdreheinheit 10 sind an
der anderen Seite des Transportdurchgangs 6 angeordnet. Die
Trocknungseinheit 9 hat vier Fächer von im wesentlichen gleichem
Aufbau, die vertikal übereinandergestapelt sind. Da eine Heiz
platte mit einer eingebauten Heizung in jedem Fach angeordnet
ist, wird ein feuchter Waver W zum Trocknen durch die Heizplatte
aufgeheizt. Die Waver-Umdreheinheit 10 hat ein Spannfutter zum
horizontalen Aufschichten des Wavers W und einen Umdreh-An
triebsmechanismus zum Umdrehen des Spannfutters um seine Hori
zontalachse. Die Vorderseite kann durch Umkehren des Wavers W
durch die Waver-Umdreheinheit 10 mit der Rückseite vertauscht
werden.
Wie in der Fig. 2 dargestellt ist, hat die erste Reinigungsein
heit 7 ein Rotationsspannfutter 21, eine Düse 22, einen Reini
gungsmechanismus 23, einen Reserveabschnitt 24 und eine Hochfre
quenzdüse 26. Das Rotationsspannfutter 21 rotiert den Waver W,
während der Waver W so adsorbiert und gehalten wird, daß die
Vorderseite des Wavers W nach oben zeigt. Die Düse 22 führt eine
Reinigungsflüssigkeit (reines Wasser) dem Waver W zu, der an dem
Rotationsspannfutter 21 gehalten wird. Der Reinigungsmechanismus
23 hat einen Reinigungsabschnitt 29. Die Frontseite des Wavers W
kann in Kontakt mit dem sich in Drehbewegung befindenden Reini
gungsabschnitt 29 sein und durch den Reinigungsabschnitt 29 ge
reinigt werden. Der Reserveabschnitt 24 ist in einer Ausgangs
position leicht entfernt von dem Rotationsspannfutter 21 ange
ordnet. Der nicht benutzte Reinigungsabschnitt 29 kann in dem
Bereitschaftsabschnitt 24 in Bereitschaft stehen. Der Reini
gungsabschnitt 29 selbst wird gereinigt, während er im Bereit
schaftsabschnitt 24 steht. Die Hochfrequenzdüse 26 ist innerhalb
der Verarbeitungskammer auf einer gegenüberliegenden Seite des
Reinigungsmechanismus 23 angeordnet, wobei das Rotationsspann
futter 21 dazwischen liegt.
Wie in den Fig. 2 und 3 dargestellt ist, hat der Reinigungs
mechanismus 23 einen Reinigungsabschnitt 29, einen horizontalen
Arm 30, eine vertikale Tragwelle 42 einen Drehmechanismus 41 für
den Arm, und einen Hebemechanismus 81 für den Arm. Das nahe Ende
des Horizontalarms 30 ist durch die vertikale Tragwelle 42 ge
tragen. Der Reinigungsabschnitt 29 ist an dem freien Ende des
Horizontalarms 30 vorgesehen. Wenn der Horizontalarm 30 um die
Tragwelle 42 durch den Drehmechanismus 41 für den Arm gedreht
wird, bewegt sich der Reinigungsabschnitt 29 von der Ausgangs
position (außerhalb des Rotationsspannfutters 21) in eine Be
triebsposition (direkt über dem Rotationsspannfutter 21). Der
Reinigungsabschnitt 29 wird reziprok zwischen dem Mittelab
schnitt und dem äußeren Abschnitt des Wavers W bewegt, der von
dem Rotationsspannfutter 21 gehalten wird.
Das Rotationsspannfutter 21 adsorbiert und hält den Waver W und
rotiert diesen taktweise. Ein Becher 28 umgibt das Rotations
spannfutter 21. Der Becher 28 verhindert, daß Reinigungsflüssig
keit, die auf die Oberfläche des Wavers W aufgetragen wird,
umherspritzt, wenn der Waver W gereinigt wird.
Die Reinigungskammer 25 hat einen Lade-/Entlade-Anschluß 25a,
der den Transportdurchgang 6 abdeckt. Der Lade-/Entlade-Anschluß
25a wird durch einen Verschluß 27 geöffnet und geschlossen. Der
Waver W wird mit dem Hauptarmmechanismus 5 durch den Lade-/Ent
lade-Anschluß 25a hindurch in die Verarbeitungskammer 25 geladen
oder entladen. Das Rotationsspannfutter 21 hat einen Vakuumad
sorbtions-/Haltemechanismus (nicht dargestellt) zum Adsorbieren
und Halten des Wavers W. Die Druckleitung des Vakuumadsorp
tions-/Haltemechanismus läuft durch die Rotationswelle 21a des Rota
tionsspannfutters 21 hindurch und öffnet sich an der oberen Flä
che des Rotationsspannfutters 21. Die Rotationswelle 21a des
Rotationsspannfutters 21 ist mit einer Antriebswelle des Motors
14A durch ein Dichtlager (nicht dargestellt) verbunden. Der Mo
tor 14A ist mit einer Zylinderstange 14b verbunden und getragen.
Wenn die Stange 14b von dem Zylinder 14B hervorsteht, bewegt
sich das Rotationsspannfutter 21 nach oben. Wenn die Stange 14b
in den Zylinder 14B zurückgezogen ist, bewegt sich das
Rotationsspannfutter 21 nach unten.
Der Becher 28 ist mit einer unterhalb davon befindlichen Stange
17a verbunden und wird von dieser getragen. Der Becher 28 wird
nach oben und unten bewegt, indem die Stange 17a von einem Zy
linder 17 hervorsteht oder zurückgezogen ist. Wenn der Becher 28
aufwärts bewegt wird, wird er so positioniert, daß er das Rota
tionsspannfutter 21 und den Waver W umgibt. Wenn der Becher 28
aufwärts bewegt ist, liegt er tiefer als die Montagefläche des
Wavers an dem Rotationsspannfutter 21.
Eine Vielzahl von Einlaßdurchbohrungen (nicht dargestellt) sind
in dem Deckenabschnitt der Verarbeitungskammer 25 vorgesehen.
Durch diese Einlaßbohrungen wird Frischluft in die Verarbei
tungskammer 25 geführt. Auf der anderen Seite sind ein Abfluß
kanal (nicht dargestellt) und ein Abluftkanal (nicht darge
stellt) unabhängig voneinander auf dem unteren Abschnitt des
Bechers 28 gebildet. Restlösung und Dunst werden jeweils aus dem
Becher 28 entladen.
Im weiteren wird bezogen auf die Fig. 3, 4 und 5 der Reini
gungsmechanismus 23 erläutert. Wie in der Fig. 3 dargestellt
ist, hat der Reinigungsmechanismus 23 einen Druckeinstellmecha
nismus 28 und eine Steuerung 90. Der Druckeinstellmechanismus 80
hat einen anhebbaren Zylinder 81. Eine Stange 81a des anhebbaren
Zylinders 81 ist mit einem entsprechenden Abschnitt des Arms 30
über ein anhebbares Element 82 verbunden. Das anhebbare Element
82 ist mit einer Seitenfläche der vertikalen Wand 83 durch eine
Linearführung 84 verbunden.
Auf der anderen Seite der vertikalen Wand 83 ist ein Ausgleichs
gewicht 86 durch eine Linearführung 85 vorgesehen. Das Aus
gleichsgewicht 86 und das anhebbare Element 82 sind miteinander
durch ein Kabel 88 verbunden, das zu einer Riemenscheibe 87 ge
spannt ist. Die Riemenscheibe 87 ist an die Kante der vertikalen
Wand angebracht.
Ein Gleichgewicht wird auf diese Weise eingestellt, daß ein Ge
samtgewicht des Reinigungsabschnitts 29 und des Arms mit dem
Ausgleichsgewicht 86 ausbalanciert wird. Mit dem anhebbaren Ele
ment 82 ist ein Zylinder 89 verbunden. Der Betrieb des Zylinders
89 wird durch die Steuerung 90 gesteuert. Durch den Betrieb des
Zylinders 89 wird der Reinigungsabschnitt 29 von dem Gleichge
wichtspunkt weiter nach unten bewegt und in übersteuernden Kon
takt mit dem Waver gebracht. Der übersteuerte Kontaktdruck wird,
wie nachfolgend beschrieben, geregelt.
Wie in der Fig. 4 dargestellt ist, ist der Horizontalarm 30 so
konstruiert, daß er das anhebbare Element 82 schwenkbar dreht.
Das Reinigungselement 29 bewegt sich durch die Schwenkdrehung
des Horizontalarms zwischen der Ausgangsposition (Bereitschafts
abschnitt 24) und der Betriebsposition (genau oberhalb des Dreh
zentrums des Wavers).
Wie in der Fig. 5 dargestellt ist, erstreckt sich eine Zufuhr
leitung 12 von einer Zufuhreinheit 92 für Reinigungsflüssigkeit,
läuft durch den Arm 30 und erreicht einen Vorratsbehälter 72a
des Reinigungsabschnitts 29, um damit in Verbindung zu stehen.
Die Zufuhreinheit 92 für Reinigungsflüssigkeit beinhaltet ein
Drucksteuerungsventil, das den Zufuhrdruck für Reinigungsflüs
sigkeit zu dem Reinigungsabschnitt 29 steuert. Das Drucksteue
rungsventil der Einheit 92 wird von der Steuerung angesteuert.
Die Daten der passend übersteuerten Kontaktbelastung (Druckkraft
des Folien-Reinigungselements gegen das Substrat) wird vorher in
dem Speicher der Steuerung 90 abgespeichert. Die Daten der pas
send übersteuerten Kontaktbelastung werden gewonnen, wenn ein
Dummy-Waver DW bei einem Versuchslauf gereinigt wird.
Der Reinigungsabschnitt 29 ist von der Zufuhrleitung 12 durch
ein Lager 14 drehbar getragen, das mit einer Magnetdichtung ab
gedichtet ist. Der Reinigungsabschnitt 29 hat eine hohle Welle
31, einen Rotationszylinder 32, eine Wasserfluß-Dispersionsplat
te 51 und ein Folien-Reinigungselement 53. Die hohle Welle 31
ist integral mit einem oberen Abschnitt des Rotationszylinders
32 als einheitliches Gebilde geformt. Die Wasserfluß-Disper
sionsplatte 51 ist integral mit dem unteren Abschnitt des Zylin
ders 32 als einheitliche Struktur geformt. Der Innendurchmesser
des Rotationszylinders 32 ist größer als der des Hohlwellen-Ab
schnitts 31. Zum Beispiel beträgt der Innendurchmesser der Rota
tionswelle 32 circa 15 mm und der Innendurchmesser der Hohlwelle
31 circa 10 mm.
Eine angetriebene Riemenscheibe 94 ist an den Umfang der Hohl
welle 31 angebracht. Ein Riemen 95 ist zwischen der angetriebe
nen Riemenscheibe 94 und einer Antriebsscheibe 93 gespannt. Die
Antriebsscheibe 93 ist mit einer Antriebswelle 91a eines Motors
91 verbunden, so daß die Rotationsantriebskraft des Motors 91 zu
dem Reinigungsabschnitt 29 durch den Riemen 95 übertragen wird.
Es ist anzumerken, daß Spannungsquellen für die Motoren 14A, 91
und für die Zylinder 14B, 17, 81, 89 jeweils mit der Ausgangs
seite der Steuerung 90 verbunden sind, die auf diese Weise den
Betrieb jeder dieser Antriebsquellen steuert.
Der Vorratsbehälter 72a ist durch den Rotationszylinder 32 und
die Wasserfluß-Dispersionsplatte 51 festgelegt. Ein Auslaßan
schluß 12a der Zufuhrleitung ist in den Zwischenraum 72a einge
fügt. Die Wasserfluß-Dispersionsplatte 51 ist kuppelförmig und
hat eine Vielzahl von Löchern mit einem Durchmesser im Bereich
von einigen µm bis zu einigen mm. Weiterhin ist das Folien-Rei
nigungselement 53 außerhalb der Wasserfluß-Dispersionsplatte 51
vorgesehen. Das Folien-Reinigungselement 53 ist beutelförmig.
Das Ende des Folien-Reinigungselements 53 ist an dem unteren
Umfangsabschnitt des Rotationszylinders 32 befestigt. Ein zwei
ter Vorratsbehälter 72b ist durch das Folien-Reinigungselement
53 und die Wasserfluß-Dispersionsplatte 51 bestimmt. Das Folien-
Reinigungselement 53 kann mit Klammern abnehmbar an dem Rota
tionszylinder 32 befestigt sein.
Als Folien-Reinigungselement 53 wird eine Harzfolie mit einem
geringen Oberflächenreibkoeffizienten verwendet. Eine derartige
Harzfolie kann ein Fluorplast, wie zum Beispiel PTFE, PFA, FEP
und PCTFE sein. Da die Fluorplaste wasserdicht sind, muß ein
poröser Film verwendet werden, um das Wasser hindurchzuleiten.
Dann werden in dem Folien-Reinigungselement 53 eine Vielzahl von
feinen Löchern (nicht dargestellt) durch ein Einachsen-Zugver
fahren gebildet. Das hierbei verwendete Einachsen-Zugverfahren
ist ein Verfahren zum Ziehen einer heiß gepreßten Folie in eine
einzige Achsrichtung. Es ist schwierig, die Reinigungsflüssig
keit ohne Überdruck durch diese feinen Löcher zu leiten. Jedoch
kann die Reinigungsflüssigkeit bei Druckbeaufschlagung hindurch
treten. Der durchschnittliche Durchmesser der feinen Löcher be
trägt vorzugsweise zwischen 0,1 µm bis 50 µm und wird besonders
vorteilhaft auf ca. 1 µm eingestellt.
Damit die Harzfolie 53 nicht durch den Wasserdruck der Reini
gungsflüssigkeit reißt, muß die Dicke der Folie mindestens 0,3 mm
sein. Auf der anderen Seite ist es für die Reinigungsflüssig
keit schwierig, durch die Folie zu dringen. Daher beträgt der
größte Wert der Foliendicke des Folien-Reinigungselements 53
1,5 mm. Um Reinigungsflüssigkeit gleichmäßig und in ausreichender
Menge durch den Film hindurchzulassen, liegt die Dicke des Fo
lien-Reinigungselementes 53 vorzugsweise innerhalb des Bereichs
von 0,5 mm bis 1,0 mm.
Zusätzlich kann als Material für das Folien-Reinigungselement 53
ein hydrophiles Harz, wie Polyolefin-Harz verwendet werden. Wenn
die Folie aus dem hydrophilen Harz gebildet ist, wird eine mini
male Dicke bei 0,3 mm eingestellt, um eine ausreichende Zugfe
stigkeit zu erzielen; jedoch gibt es im wesentlichen keine obere
Grenze für die Dicke. Dies liegt daran, daß die Reinigungsflüs
sigkeit (reines Wasser) selbst in die hydrohpile Harzfolie ein
dringt, so daß die Reinigungsflüssigkeit leichter durch die
Harzfolie dringt.
Mit bezug auf die Fig. 8, 2 bis 6 und 11 wird der Fall erläu
tert, bei dem die Vorderseite des Halbleiterwavers W mit Hilfe
der vorstehend beschriebenen Vorrichtung schrubb-gereinigt wird.
Der Dummy-Waver DW wird durch eine erste Reinigungsvorrichtung 7
versuchsweise gereinigt, um Bezugsdaten zwischen fünf Werten zu
gewinnen, nämlich die abnehmende Menge des Reinigungsabschnitts
29, der Zufuhrdruck für die Reinigungsflüssigkeit, Größe und
Qualität des Folien-Reinigungsmaterials 53, die übersteuerte
Kontaktbelastung und der Reinigungszustand der Waveroberfläche
(Schritt S1). Auf der Basis dieser derart gewonnenen Daten wer
den die derart bestimmte passendste übersteuerte Kontaktbela
stung und die relevanten Daten in einem Speicher der Steuerung
90 abgelegt (Schritt S2). Der Reinigungszustand der Waverober
fläche wird mikroskopisch bewertet.
Der bearbeitete Waver W wird mit dem Haupttransportarm 5 zu der
ersten Waschanlage 7 transportiert. Der Verschluß 27 wird geöff
net, um den Waver W, der durch den Armhalter 5a gehalten wird,
in die Verarbeitungskammer 25 zu bringen. Das Rotations
spannfutter 21 wird nach oben bewegt, um den Waver W von dem
Armhalter 5a auf das Rotationsspannfutter 21 zu übergeben
(Schritt S3).
Das Rotationsspannfutter 21 hält den Waver W durch Vakuumhaftung
fest. Dann wird, wie in der Fig. 11 dargestellt ist, das Rota
tionsspannfutter 21 derart nach unten bewegt, daß die obere Flä
che des Wavers W auf die Ebene eines Meßabschnitts 103 einer
Dosierwaage 102 ausgerichtet ist (Schritt S4 zur Ebenen-Einstel
lung). Weiterhin wird der Reinigungsabschnitt 29 direkt oberhalb
von dem Meßabschnitt 103 positioniert und die Zufuhr von Reini
gungsflüssigkeit zu dem Reinigungsabschnitt 29 wird eingeleitet
(Schritt S5). Der Zufuhrdruck für die Reinigungsflüssigkeit wird
in dieser Ausführungsform weitgehend konstant gehalten.
Die Reinigungsflüssigkeit fließt durch das Loch 51a der Wasser
fluß-Dispersionsplatte 51 in den zweiten Vorratsbehälter 72b. Da
diese Löcher des Folien-Reinigungselementes 53 klein sind, kann
die Reinigungsflüssigkeit nicht unter normalem Druck durch das
Folien-Reinigungselement 53 hindurch gelangen, mit dem Ergebnis,
daß die Reinigungsflüssigkeit innerhalb des Folien-Reini
gungselementes 53 eingeschlossen und in dem zweiten Vorratsbe
hälter 72b gespeichert wird. Wenn der zweite Vorratsbehälter 72b
mit der Reinigungsflüssigkeit aufgefüllt wird, wird die Reini
gungsflüssigkeit in dem ersten Vorratsbehälter 72a gespeichert.
Der Rotationszylinder 32 ist flüssigkeitsdicht ausgebildet. Da
her steigt der Innendruck des Rotationszylinders 32 graduell an,
wenn der Zylinder 32 mit der Reinigungsflüssigkeit gefüllt wird,
bis die Reinigungsflüssigkeit in die Nähe der Unterseite des
magnetischen Dichtungsabschnitts 14 kommt. Wenn der Innendruck
einen bestimmten Level überschreitet, wird die Reinigungsflüs
sigkeit nach außen aus den feinen Löchern des Folien-Reinigungs
elementes 53 gesprüht. Wenn eine Ausstoßmenge, die durch das
Folien-Reinigungselement 53 herausfließt, und eine Einlaßmenge
(Zufuhrmenge) ausgeglichen werden, um den Gleichgewichtszustand
zu erreichen, wird der dann aufgequollene Reinigungsabschnitt 29
nach unten bewegt, bis er in Kontakt mit dem Meßabschnitt 103
tritt (Schritt S6). Ein Nullpunkt der Dosierwaage 102 wird der
art korrigiert, daß das Meßgewicht, das bestimmt wird, wenn das
Reinigungselement 53 anfänglich in Kontakt mit dem Meßpunkt 103
tritt, einen Nullpunkt anzeigt (Schritt S7). Das Reinigungsele
ment wird von dem anfänglichen Kontaktpunkt derart weiter nach
unten bewegt, daß das Folien-Reinigungselement 53 auf eine
übersteuerte Weise in Kontakt mit dem Meßpunkt 103 tritt
(Schritt S8).
Während der Reinigungsabschnitt 29 nach unten bewegt wird, beur
teilt ein Bediener, ob die Meßbelastung einen vorbestimmten Wert
für die übersteuerte Kontaktbelastung einhält (Schritt S9). Wenn
die Einstellung in dem Schritt S9 "nein" ist, wird der Schritt
S8 solange wiederholt, bis die Meßbelastung mit der vorbestimm
ten übersteuerten Kontaktbelastung übereinstimmt. Auf diese Wei
se wird ein sinkender Hubweg des Reinigungsabschnitts 29 gemes
sen und erkannt, der die passendste übersteuerte Kontaktbela
stung bewirkt. Wenn die Entscheidung in dem Schritt S9 "ja" ist,
wird der Wert des abwärts gerichteten Hubs des Reinigungsab
schnitts 29, der in dem Moment erhalten wird, wenn sowohl die
Meßbelastung und die vorbestimmte übersteuerte Kontaktbelastung
übereinstimmen, in einen Speicher der Steuerung 90 eingegeben.
Der Reinigungsabschnitt 29 wird nach oben bewegt (Schritt S10)
und die Zufuhr von Reinigungsflüssigkeit zu dem Reinigungsab
schnitt 29 wird gestoppt (Schritt S11). Der Reinigungsabschnitt
29 wird von der Ausgangsposition zu der Betriebsposition bewegt,
um den Reinigungsabschnitt 29 direkt oberhalb von dem Rotations
zentrum des Wavers W zu positionieren (Schritt S12).
Anschließend liest die Steuerung 90 die in den Schritten S8 und
S9 erhaltenen Daten aus dem Speicher aus und steuert die
Arbeitsgänge der Zylinder 81, 89 auf der Basis der damit gewon
nenen Daten, wodurch die passendste übersteuerte Kontaktbela
stung, die auf den Waver W wirkt, gewährleistet wird (Schritt
S13). In diesem Fall ist das Folien-Reinigungselement 53 kuppel
förmig aufgequollen. Wenn der gequollene Reinigungsabschnitt 29
gegen die Oberfläche des Wavers W gedrückt wird, wird der untere
Abschnitt des Folien-Reinigungselementes 53, wie in der Fig. 6
dargestellt, verzerrt. Während ein derartiger Kontaktzustand
beibehalten wird, wird die Zufuhr von Reinigungsflüssigkeit auf
den Reinigungsabschnitt 29 eingeleitet (Schritt S14).
Danach wird die Rotation des Wavers W durch das Rotationsspann
futter 21 gestartet (Schritt S15). An diesem Punkt ist der Motor
91 im Leerlauf und der Reinigungsabschnitt 29 kann damit frei
rotieren. Im Ergebnis wird das Folien-Reinigungselement 53 und
die Oberfläche des Wavers W unter Zufuhr der Reinigungsflüssig
keit aneinander geschruppt. Auf diese Weise wird die Oberfläche
des Wavers schonend gereinigt. Es ist zu bemerken, daß der Rei
nigungsabschnitt 29 in dem Schritt S15 rotiert werden kann. Es
wird darauf hingewiesen, daß es nicht notwendig ist, die Schrit
te S13, S14 und S15 in der numerischen Reihenfolge auszuführen.
Nach Beendigung der Schrubbreinigung wird die Rotation des Wa
vers W gestoppt und das Reinigungselement 29 wird nach oben be
wegt (Schritt S16), um die Zufuhr von Reinigungsflüssigkeit zu
stoppen (Schritt S17). Weiterhin wird das Reinigungselement 19
von der Betriebsposition in die Ausgangsposition zurückgezogen
(Schritt S18).
Dann wird eine Waschlösung (reines Wasser) von der Düse 22 auf
den Waver W gegossen, um den Waver W abzuwaschen (Schritt S19).
Der Waver W wird bei einer hohen Geschwindigkeit durch das Rota
tionsspannfutter 21 rotiert, um die anhaftenden Tropfen von dem
Waver W zentrifugal zu entfernen, wodurch die Oberfläche des
Wavers W getrocknet wird. Weiterhin wird der Waver W zu einer
Trocknungseinheit 9 durch den Haupttransportarm 5 transportiert,
um den Waver W durch Hitze zu trocknen (Schritt S20). Weiterhin
wird der Waver W in der Kassette C durch den Haupttransportarm 5
gelagert und zusammen mit der Kassette C aus dem System 1 ent
laden (Schritt S21).
Entsprechend der vorstehend erwähnten Ausführungsform ist es für
das Folien-Reinigungselement 53 leicht, sich entsprechend der
Oberfläche des Wavers W zu verformen, wenn das Folien-
Reinigungselement 53 auf übersteuerte Weise in Kontakt mit dem
Waver W tritt, da die Wasserfluß-Dispersionsplatte 51 an dem
Reinigungsabschnitt 29 ausgebildet ist. Zusätzlich steigt die
Kontaktfläche zwischen dem Waver W und dem Folien-Reinigungsele
ment 53 an, da das Folien-Reinigungselement 53 in Kontakt mit
der Oberfläche des Wavers W treten kann, wobei kein Platz dazwi
schen gelassen wird. Folglich ist es möglich, Unterschiede der
Reinigungsleistung der Kontaktfläche zu unterdrücken.
Da das Folien-Reinigungselement 53 eines derartigen Reinigungs
abschnitts 29 einen geringen Reibkoeffizienten hat, ist die Ad
sorptionskraft der Partikel auf die Oberfläche des Folien-Reini
gungselementes 53 klein. Es ist daher schwierig für die Parti
kel, an der Oberfläche des Folien-Reinigungselements 53 anzuhaf
ten.
Da die Reinigungsflüssigkeit nach außen aus dem Folien-Reini
gungselement 53 gesprüht werden kann, fließt die Flüssigkeit
immer von innen nach außen durch die feinen Löcher des Folien-
Reinigungselementes 53. Es ist daher für die Partikel schwierig,
von außen in die Löcher des Folien-Reinigungselementes 53 ein
zudringen.
Wie beschrieben, ist es für die Partikel schwierig, an der Ober
fläche des Folien-Reinigungselementes 53 haften zu bleiben und
in das Innere des Folien-Reinigungselementes 53 einzudringen.
Daher tritt nachteilig auf, daß die Partikel, die an dem Folien-
Reinigungselement 53 haften, abfallen und an dem Waver W haften
bleiben und diesen verunreinigen.
Weiterhin können die Partikel aufgrund der geringen Adhäsions
fähigkeit der Partikel an dem Folien-Reinigungselement 53 leicht
von dem Folien-Reinigungselement 53 abfallen, wenn das Folien-
Reinigungselement 53 selbst gereinigt wird, auch wenn die Parti
kel an dem Folien-Reinigungselement 53 haften bleiben. Aus die
sem Grund wird die zum Reinigen des Folien-Reinigungselementes
53 benötigte Zeit erheblich reduziert. Es ist daher möglich, den
Durchsatz des gesamten Reinigungsprozesses zu erhöhen.
Weiterhin hat PTFE eine hohe Widerstandsfähigkeit gegen chemi
sche Säuren, wobei Säuren wie zum Beispiel Ozon mit hoher Reini
gungsleistung als Reinigungsflüssigkeit verwendet werden können.
In diesem Fall kann die Reinigungsleistung erhöht werden. Wei
terhin kann der Innendruck des Folien-Reinigungselementes 53
verändert werden, wenn die Foliendicke des Folien-Reinigungsele
mentes 53 und die Größe und Form der Löcher geändert werden. Auf
diese Weise kann eine Ausstoßmenge und ein Ausstoßdruck der Rei
nigungsflüssigkeit eingestellt werden. Weiterhin kann die Aus
stoßmenge und der Ausstoßdruck der Reinigungsflüssigkeit einge
stellt werden, wenn ein Druckeinstellventil an die Zufuhrleitung
12 angeschlossen ist.
Nun wird mit Bezug auf die Fig. 7 ein Reinigungsabschnitt einer
anderen Ausführungsform erläutert.
Der erste Vorratsbehälter 72a wird durch die Wasserfluß-Disper
sionsplatte 51 und den Rotationszylinder 32 festgelegt. Der
zweite Vorratsbehälter 72b wird durch die Wasserfluß-Disper
sionsplatte 51 und das Folien-Reinigungselement 53 festgelegt.
Ein Austrittsanschluß 60a der Zufuhrleitung 60 wird in den er
sten Vorratsbehälter 72a eingefügt. Ein Ultraschalloszillator 61
ist in der Nähe des Austrittsanschlusses 60a der Zufuhrleitung
60 angebracht. Innerhalb des Ultraschalloszillators 61 ist eine
Vielzahl von Ultraschallradiatoren 62 entlang der Längsachse der
Leitung 60 vorgesehen, um die Zufuhrleitung 60 ringförmig zu
umschließen. Der Ultraschalloszillator 61 kann durch einen
Schalter ein-/ausgeschaltet werden (nicht dargestellt). Die
Stärke der Ultraschwingung des Ultraschalloszillators 61 kann
eingestellt werden. Weiterhin kann der Ultraschalloszillator 61
außerhalb von dem Reinigungsabschnitt 29 angeordnet sein.
In einer derartigen Vorrichtung wird eine Ultraschallwelle mit
einer Frequenz von 0,1 bis 1,8 Mhz von dem Ultraschall-Oszilla
torradiator 62 zu der Reinigungsflüssigkeit übertragen, die
durch die Zufuhrleitung 6 läuft, mit dem Ergebnis, daß die Rei
nigungsflüssigkeit angeregt wird und aus der Zufuhrleitung 60
ausgestoßen wird. Wenn die durch Anwendung von Ultraschallwellen
oszillierende Reinigungsflüssigkeit dem Rotationszylinder 32
zugeführt wird, wird die Reinigungsflüssigkeit in dem Folien-
Reinigungselement 53 durch die Wasserfluß-Dispersionsplatte 51
verteilt und aus dem Folien-Reinigungselement 53 ausgestoßen,
während der oszillierende Zustand der Reinigungsflüssigkeit bei
behalten wird. Die Reinigungsleistung wird wie beschrieben ver
bessert, da die oszillierende Reinigungsflüssigkeit verglichen
mit einer nicht oszillierenden Reinigungsflüssigkeit eine höhere
Reinigungsleistung und Dispersionskraft hat, wenn die oszillie
rende Reinigungsflüssigkeit auf die Oberfläche des Wavers W ge
leitet wird.
Wie in der Fig. 9 dargestellt ist, ist ein Druckluftzylinder 59
an ein nahes Ende des Arms 30 angeschlossen. Der Reinigungsab
schnitt 29 kann anhebbar und von dem Druckluftzylinder 59 direkt
getragen sein. Der Druckluftzylinder 59 wird alleine separat und
unabhängig von den Zylindern 81, 89 zum Antreiben des Arms 30
nach oben und unten bewegt. Sowohl der obere Zylinder 31 als
auch der untere Zylinder 32 werden nicht rotiert.
Wie in der Fig. 10 dargestellt ist, kann ein Druckeinstellven
til 70 an den Durchlaß für die Zufuhrleitung 12 der Reinigungs
flüssigkeit angeschlossen sein, um einen Innendruck der Zufuhr
leitung 2 für die Reinigungsflüssigkeit einzustellen. Das Druck
einstellventil 70 wird durch die Steuerung 90 gesteuert. Die
Steuerung 90 steuert den Zufuhrdruck der Reinigungsflüssigkeit
auf den Reinigungsabschnitt 29 auf der Basis der vorbestimmten
Daten für die übersteuerte Kontaktbelastung.
Unter Bezug auf die Fig. 11 wird nun ein Verfahren erläutert,
wie ein Innendruck des Folien-Reinigungselementes 53 und die
übersteuerte Kontaktbelastung bestimmt werden kann.
Ein Flüssigkeitsaufnahmeabschnitt 100 ist in der Ausgangsposi
tion gebildet. Die Dosierwaage 102 ist in dem Flüssigkeitsauf
nahmeabschnitt 100 angeordnet. Eine Entladeröhre 101 ist an dem
Boden des Flüssigkeitsaufnahmeabschnitts 100 gebildet. Die Flüs
sigkeit, die durch den Flüssigkeitsaufnahmeabschnitt 100 aufge
nommen wird, wird durch die Entladeröhre 101 entladen.
Die obere Fläche der Dosierwaage 102 und die obere Fläche des
Wavers W sind auf die gleiche Ebene ausgerichtet, die durch eine
Linie 104 angezeigt wird. Die Belastung des Reinigungsabschnitts
29 wird durch die Dosierwaage 102 gemessen, während die Reini
gungsflüssigkeit dem Reinigungsabschnitt 29 zugeführt wird. Auf
der Basis der damit gemessenen Belastung wird der Innendruck des
Folien-Reinigungselementes 53 und des Übersteuerungs-Hubs des
Reinigungsabschnitts bestimmt, der zum Erzielen der geeignetsten
übersteuerten Kontaktbelastung (Druckkraft) erforderlich ist.
Der Innendruck des Folien-Reinigungselementes 53 wird durch die
Zufuhrmenge von Reinigungsflüssigkeit bestimmt. Je größer die
Zufuhrmenge ist, desto größer ist der Innendruck. Als Ergebnis
wird die Belastung vergrößert. Da das Druckeinstellventil 70 an
die Zufuhrleitung 12 angeschlossen ist, wird der Innendruck des
Folien-Reinigungselementes 53 nahezu konstant gehalten. Der
Übersteuerungshub ist der Bewegungsabstand (absteigende Entfer
nung) von dem Reinigungsabschnitt von der ersten Kontaktposition
des Reinigungsabschnitts mit der oberen Fläche des Wavers W zu
einer nach unten bewegten Position, die durch weiteres Drücken
des Reinigungsabschnitts auf den Waver W erzielt wird. Da der
Bewegungsabstand (abnehmende Distanz) mit der Belastung größer
wird, wird die abnehmende Distanz des Reinigungsabschnitts auf
der Basis der gemessenen Belastung bestimmt.
Folglich wird der Innendruck des Folien-Reinigungselementes 53
durch einmaliges Reduzieren der Zufuhrmenge von der Reinigungs
flüssigkeit. In diesem Zustand werden der Tragarm 5 und der Ro
tationsarm 41 aktiviert, wodurch der Reinigungsabschnitt 29 von
der Ausgangsposition zur Betriebsposition zur Waverreinigung
bewegt wird. Danach wird die anhebbare Welle 82 nach unten be
wegt, um den unteren Abschnitt des Reinigungsabschnitts in Kon
takt mit einer vorbestimmten Position des Wavers W zu bringen.
Folglich wird der Reinigungsabschnitt durch den vorbestimmten
Übersteuerungshub nach unten bewegt, um diesen gegen den Waver W
entsprechend dem vorstehend beschriebenen Verfahren zu drücken.
Der Waver W wird dann in der gleichen Weise gereinigt, wie in
der vorstehend beschriebenen Ausführungsform, während die Reini
gungsflüssigkeit so zugeführt wird, daß ein vorbestimmter Innen
druck in dem Folien-Reinigungselement 53 erzielt wird.
In einem derartigen Reinigungsabschnitt 29 wird die Druckkraft
auf den Reinigungsabschnitt 29 auf den Waver W durch Änderung
des Übersteuerungshubs auf den Reinigungsabschnitt 29 gesteuert.
Es ist daher möglich, die Druckkraft auf den Waver W in einem
größeren Bereich im Vergleich zu dem Fall, bei dem die Druck
kraft nur durch den Innendruck des Folien-Reinigungselementes 53
gesteuert wird, zu steuern. Zum Beispiel wird normalerweise eine
geringe Druckkraft aufgebracht, wenn eine Aluminiumschicht ge
reinigt wird, da die Schicht leicht geschrubbt werden kann. In
dem Fall, indem eine Schicht nicht einfach geschrubbt werden
kann, z. B. für den Fall, daß eine Rückseite des Wavers gereinigt
wird, wird eine große Druckkraft aufgebracht, um die Partikel-
Beseitigungskraft zu erhöhen. Es ist vorteilhaft, wenn die
Druckkraft einfach gesteuert werden kann. Zusätzlich kann die
beaufschlagte Belastung auf das Folien-Reinigungselement 53
durch Anwendung von Druck auf das Folien-Reinigungselement 53
auf das erforderliche Maß reduziert werden, da die Druckkraft in
Abhängigkeit von dem Bedarf gesteuert (verändert) werden kann.
Dadurch kann die Lebensdauer des Reinigungselementes ausgedehnt
werden.
In der vorstehend erwähnten Ausführungsform ist es möglich, die
Druckkraft konstant zu halten, da der Innendruck des Folien-Rei
nigungselementes 53 durch das Druckeinstellventil 70 konstant
gehalten wird. Der Übersteuerungshub und der Innendruck des Fo
lien-Reinigungselementes 53 werden vorher durch das vorstehend
beschriebene Verfahren bestimmt und es ist nicht erforderlich,
diesen kontinuierlich während der Reinigung zu steuern. Dadurch
kann eine erwünschte Druckkraft durch ein einfaches Verfahren
erzielt werden, mit dem Ergebnis, daß die Reinigungsleistung bei
geringen Kosten stabilisiert werden kann.
Weiterhin ist es möglich, den Verbrauch von Reinigungsflüssig
keit während der Stillstandzeit zu reduzieren und es ist auch
möglich, die Zerstörungsgefahr des Folien-Reinigungselementes 53
durch Druckanwendung zu vermindern, wenn der Innendruck des Fo
lien-Reinigungselementes 53 während der Reinigung hoch und wäh
rend der Stillstandszeit und während der Bewegungszeit geringer
eingestellt wird. Im Ergebnis kann der Verbrauch von Reinigungs
flüssigkeit reduziert und die Lebensdauer des Folien-Reinigungs
elementes 53 verbessert werden.
In dem vorstehend beschriebenen Reinigungsabschnitt werden der
Übersteuerungshub des Reinigungsabschnitts 29 und der Innendruck
des Folien-Reinigungselementes 53 bestimmt, wenn der Reinigungs
abschnitt 29 in der Bereitschaftsposition steht. Jedoch können
sie auch vorher in einem anderen Bereich bestimmt werden und der
Reinigungsabschnitt 29 kann während der Bereitschaftszeit in dem
Flüssigkeitssammelbehälter 100 positioniert werden. Alternativ
kann sowohl während der Betriebszeit als auch in der Still
standszeit der gleiche Innendruck des Folien-Reinigungselementes
53 verwendet werden.
Wenn der Innendruck des Reinigungsabschnitts 29 verändert wird,
nachdem die Höhe des Reinigungsabschnitts 29 relativ zu dem Wa
ver W durch die Hubmittel konstant eingestellt wird, kann die
Druckkraft, die auf den Waver W aufgebracht wird, gesteuert wer
den.
Mit bezug auf die Fig. 12 wird ein Reinigungsabschnitt einer
anderen Ausführungsform erläutert.
Der Reinigungsabschnitt 29 dieser Ausführungsform hat einen
Schwamm 54, der als permeabler elastischer Körper gekennzeichnet
ist und zwischen der Wasserfluß-Dispersionsplatte 51 und das
Folien-Reinigungselement 53 gelegt ist. Hierzu wird der zweite
Vorratsbehälter 72b mit dem Schwamm 54 als Kernmaterial gefüllt.
Der untere Abschnitt des Schwamms 54 ist halbkugelförmig oder
halbkugelsegmentförmig geformt. Die Oberfläche ist glatt ohne
Eckkanten.
Obwohl das obere Ende des Folien-Reinigungselements 53 luftdicht
an eine äußere Fläche des unteren Zylinders 32 befestigt ist,
ist das Folien-Reinigungselement 53 nicht luftdicht mit der
äußeren Fläche des Schwamms 54 verbunden. Die Form des Schwamms 54
ist derart bestimmt, daß das Folien-Reinigungselement 53 auf
quillt, wenn es sich von der Wasserfluß-Dispersionsplatte 51
entfernt.
Der Schwamm 54 ist aus einem geschäumten Körper auf der Basis
von Polyvenylalkohol (PVA) oder Polyvenylformal (PVF) herge
stellt. Der Schwamm 54 ist hierzu weich und verändert sich in
der Zeit wenig. Zum Beispiel hat der Schwamm 54 eine Härte von
20 bis 80 g/cm2 bezogen auf die Rückstoßelastizität, wenn 30%
Kompressionsdruck verwendet wird. Weiterhin hat der Schwamm 54
den maximalen Wassergehalt von ungefähr 1200% und eine vorhande
ne spezifische Dichte von ungefähr 0,08. Weiterhin sind der un
tere Zylinder 32 und die Wasserfluß-Dispersionsplatte 53 aus
Polypropylen.
In dem Reinigungsabschnitt 29 wird die Reinigungsflüssigkeit von
der Zufuhrleitung 12 zugeführt, läuft durch die Wasserfluß-Dis
persionsplatte 51, dringt in den Schwamm 54 ein, tritt durch den
Schwamm 54 hindurch, füllt den inneren Abschnitt des Folien-Rei
nigungselementes 53 und füllt dann den ersten Vorratsbehälter
72a. Wenn der erste Vorratsbehälter 72a mit der Reinigungsflüs
sigkeit gefüllt ist, um den Innendruck zu erhöhen, wird die Rei
nigungsflüssigkeit nach außen durch die feinen Löcher des
Folien-Reinigungselementes 53 gestoßen.
Wie beschrieben zieht sich der Schwamm zusammen, um die Form des
Folien-Reinigungselementes 53 beizubehalten, um graduell nach
außen anzuschwellen, wenn das Folien-Reinigungselement 53 mit
dem Schwamm 54 (als Kernmaterial dienend) gefüllt ist. Dadurch
kann der Innendruck des Folien-Reinigungselementes 53 auf ein
bestimmtes Niveau erhöht werden, auch wenn die Zufuhrmenge der
Reinigungsflüssigkeit gering ist. Im Ergebnis kann die Reini
gungsflüssigkeitsmenge, die zum Einstellen des bei einem vorbe
stimmten Druck erforderlichen Innendrucks, reduziert werden und
dadurch der Verbrauch an Reinigungsflüssigkeit reduziert werden.
Da die Form des Folien-Reinigungselementes 53 durch die Verwen
dung des Schwamms 54 beibehalten wird, ist es möglich, die Form
des Folien-Reinigungselementes 53 in Übereinstimmung mit der
Oberfläche des Wavers W zu verändern. Entsprechend kann die Kon
taktfläche zwischen dem Waver W und dem Folien-Reinigungselement
53 vergrößert werden. Es folgt, daß der Schwamm 54 ohne Verwen
dung einer Wasserfluß-Dispersionsplatte 51 in die untere Öffnung
des unteren Zylinders 32 eingeführt werden kann, wie in der
Fig. 13 dargestellt ist.
Wie vorstehend beschrieben ist, wird als Folien-Reinigungsele
ment 53 des Reinigungsabschnitts ein poröses Harz, wie zum Bei
spiel PTFE, erwähnt verwendet. Neben PTFE kann ein poröses Mate
rial, wie zum Beispiel Polyolefin mit Löchern von einigen µm bis
zu einigen Zehntel µm verwendet werden, nachdem es antistatisch
behandelt wurde.
Weiterhin kann ein poröses Material, wie zum Beispiel PTFE, das
in Alkohol eingetauchtes und hydrophil hergestelltes PTFE, ver
wendet werden. In diesem Fall kann die Reinigungsflüssigkeit
leicht durch die feinen Löcher der Folie des Folien-Reinigungs
elementes 53 hindurchtreten, da das Folien-Reinigungselement 53
hydrophil ist. Wenn der Innendruck des Folien-Reinigungselemen
tes 53 gleich ist, wie in einem herkömmlichen Fall, steigt die
Menge der aus den Löchern fließenden Reinigungsflüssigkeit an.
Durch Anwendung dieses Phänomens kann die Reinigungsleistung
gesteuert werden.
Nun wird bezogen auf die Fig. 14A, 14B und 14C die Naßreini
gung einer anderen Ausführungsform erläutert.
Wie in der Fig. 14A dargestellt ist, hat der Reinigungsab
schnitt 29 ein Folien-Reinigungselement 53. Das Bezugszeichen 22
bezeichnet eine Reinwasserdüse und das Bezugszeichen 105 ist
eine Düse für die Reinigungsflüssigkeit. Das Bezugszeichen 106
ist ein Waver-Halterabschnitt zum horizontalen Halten des Wavers
W und zum Rotieren des Wavers W um seine vertikale Achse.
Wie in der Fig. 14B dargestellt ist, wird Reinigungsflüssig
keit, wie zum Beispiel Ozonwasser, mit der Reinigungsflüssig
keits-Düse 105 durch den Reinigungsabschnitt 29 hindurch auf die
Waveroberfläche aufgebracht. Gleichzeitig werden der Reinigungs
abschnitt 29 und der Waver W rotiert, wodurch sie aufeinander
gleiten. Auf diese Weise wird die Oberfläche des Wavers W gerei
nigt.
Wie in der Fig. 14C dargestellt ist, wird der Waver W rotiert,
während der Oberfläche des Wavers W reines Wasser (Waschlösung)
mit der Reinwasser-Düse 22 zugeführt wird. Auf diese Weise wird
das reine Wasser zentrifugal über der gesamten Waveroberfläche
verteilt, wodurch die Reinigungsflüssigkeit durch das reine Was
ser weggewaschen wird. Dadurch ist das Abwaschen der Waverober
fläche abgeschlossen.
Diese Ausführungsform ist gekennzeichnet durch Verwendung eines
chemischen Mittels mit hoher Waschleistung, wie zum Beispiel
Ozonwasser, elektrolytisch ionisiertes Wasser, RCA (eine
wäßrige Hydrochlor-Peroxidlösung, eine wäßrige Ammoniak-Peroxidlö
sung), das herkömmlich nicht auf Reinigungsabschnitte aus PVA
oder Polyurethan aufgebracht werden kann. Da der Reinigungsab
schnitt der vorliegenden Erfindung eine hohe chemische Wider
standskraft hat, kann die vorstehend erwähnte Reinigungsflüssig
keit verwendet werden, wodurch die Reinigungsleistung erhöht
wird.
Mit bezug auf die Fig. 15 wird eine andere Ausführungsform er
läutert, das heißt eine Zwei-Flächen-Reinigungsvorrichtung zum
gleichzeitigen Reinigen der Ober- und Unterseite des Wavers W.
Das Bezugszeichen 270 in der Fig. 15 ist ein zylindrischer Ro
tationskörper, der eine Unterseite des Wavers W bedeckt. Die
Unterseite des Rotationskörpers 270 ist im Vergleich zu der
Oberseite davon im Durchmesser leicht reduziert. Ein vertikaler
Zylinder 273 ist innerhalb des Abschnitts 271 mit reduzierten
Durchmesser gebildet, wobei der Dichtungsmechanismus 272 dazwi
schen angeordnet ist. Ein unteres Ende des vertikalen Zylinders
273 ist mit einer oberen Fläche der horizontalen Befestigungs
platte 274 verbunden. Weiterhin ist ein Riemen 275 zwischen ei
nem äußeren Umfangsabschnitt des Abschnitts 271 mit reduzierten
Durchmesser und dem Motor (nicht dargestellt) gespannt.
Sechs Halteelemente 276 sind an einer Oberseite des Rotations
körpers 270 vorgesehen. Der Umfangsabschnitt des Wavers W wird
durch die Halteelemente 276 getragen. Die Halteelemente 276 hal
ten den Waver W in Kontakt mit der Endfläche davon. Der untere
Abschnitt des Halteelements 276 ist unterhalb des Waver-Halte
abschnitts nach innen geneigt. Die Halteelemente 276 sind an den
Rotationskörper 270 durch die horizontale Rotationswelle 277
angebracht, um um die Horizontalwelle zu rotieren. Zusätzlich
fällt der obere Seitenabschnitt des Halteelements 276 durch die
Zentrifugalkraft nach innen ein, die erzeugt wird, wenn der Ro
tationskörper 270 rotiert wird, da ein Gewicht (nicht darge
stellt) an die Halteelemente 276 angebracht ist. Im Ergebnis
steigt die Kraft zum Aufschichten des Umfangsabschnitts des Wa
fers W.
Auf der Oberfläche des Wavers, der durch das Halteelement 276
gehalten wird, sind ein erster Reinigungsabschnitt 29a zum Rei
nigen der Oberfläche des Wavers W und eine erste Düse 282 zum
Zuführen von Reinigungsflüssigkeit zur Waveroberfläche gebildet.
Genauer werden ein erster Reinigungsabschnitt 29a und die erste
Düse 282 jeweils durch Arme 283, 284 getragen und sind in Hori
zontalrichtung und Vertikalrichtung zwischen der Bereit
schaftsposition (außerhalb des Wavers W, der durch das Halte
element 276 gehalten wird) und der Reinigungsposition (Betrieb
sposition) zum Reinigen des Wavers W beweglich angeordnet.
Innerhalb des Rotationskörpers 270 sind ein zweiter Reinigungs
abschnitt 29b und eine zweite Reinigungsdüse 293 vorgesehen.
Genauer wird der zweite Reinigungsabschnitt 29b, der zum Reini
gen einer Rückseitenfläche des Wavers W zuständig ist, durch
einen Bürstenarm 292 getragen. Die zweite Düse 293 ist zum Zu
führen von Reinigungsflüssigkeit zur Rückseitenfläche des Wavers
W zuständig. Der Bürstenarm 292 und die Düse 293 werden jeweils
mit Antriebsabschnitten 294, 295 durch einen Lochabschnitt 274a
verbunden, der in der Befestigungsplatte 274 gebildet ist. Die
ersten und zweiten Reinigungsabschnitte 29a, 29b haben jeweils
Reinigungselemente 53a, 53b, die im wesentlichen die gleichen
sind, wie die Reinigungsabschnitte 29 der vorstehend
beschriebenen ersten Ausführungsform.
In der Reinigungsvorrichtung wird der Waver W durch den Übertra
gungsarm (nicht dargestellt) nach unten aus einem Gebiet bewegt,
das höher ist als das durch die Halteelemente 276 umgebene Ge
biet, während der erste Reinigungsabschnitt 29a und die zweite
Düse 282 in der Bereitschaftsposition positioniert sind. Der
Waver wird dann zu den Halteelementen 276 übertragen und von den
Halteelementen 276 getragen. Folglich wird die Rotationskraft
von dem Motor zu dem Abschnitt 271 mit reduzierten Durchmesser
durch den Gurt übertragen. Während der Rotationskörper 270 um
die Vertikalachse rotiert, werden der Reinigungsabschnitt 29a
und die Düse 282 über den Waver W bewegt und die Reinigungsflüs
sigkeit wird von der ersten und zweiten Düse 282, 293 jeweils
der oberen Fläche und der unteren Fläche zugeführt.
Auf der anderen Seite können der erste und zweite Reinigungsab
schnitt 29a, 29b durch Druckkraft in Kontakt mit der oberen Flä
che und der unteren Fläche des Wavers W gebracht werden, während
die Reinigungsflüssigkeit in den Rotationszylinder 32 geleitet
und aus dem Folien-Reinigungselement 243 herausgelassen wird.
Jeder Reinigungsabschnitt 29a, 29b rotiert um seine Vertikalach
se und wird in die Horizontalrichtung des Wavers W durch die
Arme 283, 292 bewegt. Auf diese Weise wird die Reinigung des
Wavers W ausgeführt.
In dem Fall, in dem der Reinigungsabschnitt der gegenwärtigen
Erfindung bei der Reinigungsvorrichtung zum Reinigen beider
Oberflächen des Wavers W verwendet wird, ist es möglich, die
oberen und unteren Oberflächen des Wavers W gleichzeitig zu rei
nigen. Hierzu ist eine Umkehrvorrichtung nicht erforderlich,
obwohl sie in einem herkömmlichen Fall zum Reinigen beider Ober
flächen des Wavers W benötigt wird. Im Ergebnis wird die Größe
der gesamten Reinigungsvorrichtung verglichen mit herkömmlichen
Vorrichtungen verringert. Zusätzlich wird die Reinigungszeit
erheblich reduziert und der Durchsatz wird vorteilhafterweise
verbessert.
Mit bezug auf die Fig. 16 wird der Fall erläutert, in dem der
Waver W durch Verwendung der vorstehend beschriebenen Vorrich
tung schrubbgereinigt wird.
Die Schritte S31 bis S37 dieser Ausführungsform sind im wesent
lichen die gleichen, wie in den Schritten S1 bis S7 der vorbe
schriebenen Ausführungsform. Die Erläuterung davon ist daher
entbehrlich.
Das Reinigungselement 29a wird weiter nach unten von dem anfäng
lichen Kontaktpunkt derart bewegt, daß das Folien-Reinigungsele
ment 53 in übersteuerten Kontakt mit dem Meßabschnitt 103 treten
kann (Schritt S38). Die nach unten gerichtete Betätigung des
Reinigungselementes 29a wird gestoppt, wenn es auf ein bestimm
tes Niveau herunterbewegt ist. Danach wird der Zufuhrdruck der
Reinigungsflüssigkeit graduell erhöht (Schritt S39).
Dann wird überprüft, ob die Meßbelastung mit der vorbestimmten
Übersteuerungs-Kontaktbelastung übereinstimmt, indem der Zufuhr
druck der Reinigungsflüssigkeit graduell erhöht wird (Schritt
S40). Wenn die Entscheidung in dem Schritt S40 "Nein" ist, wird
der Schritt S39 solange wiederholt, bis die Meßbelastung mit der
vorbestimmten übersteuerten Kontaktbelastung übereinstimmt. Auf
diese Weise wird der Zufuhrdruck für die Reinigungsflüssigkeit
bestimmt, der die geeignetsten übersteuerte Kontaktbelastung
liefert. Wenn die Entscheidung in dem Schritt S39 "Ja" ist, wird
der Zufuhrdruck für die Reinigungsflüssigkeit (die den Wert für
den Fall darstellt, daß beide Werte übereinstimmen) in den Spei
cher der Steuerung 90 eingegeben.
Der Reinigungsabschnitt 29a wird nach oben bewegt (Schritt S41)
und die Zufuhr von Reinigungsflüssigkeit zu dem Reinigungsab
schnitt 29a wird gestoppt (Schritt S42). Der Reinigungsabschnitt
29a wird von der Ausgangsposition zu der Betriebsposition be
wegt, um den Reinigungsabschnitt 29a direkt über dem Rotations
zentrum des Wavers W zu positionieren (Schritt S43).
Die Steuerung 90 liest die Daten aus, die in den Schritten S39
und S40 gewonnen werden, steuert den Betrieb des Druck
steuerungsventils 70 auf der Basis der Daten und gibt die geeig
netste übersteuerte Kontaktbelastung des Wavers W vor (Schritt
S44). In diesem Fall ist das Folien-Reinigungselement 53a kup
pelförmig aufgequollen. Wenn der Reinigungsabschnitt 29a gegen
die Oberfläche des Wavers W gedrückt wird, verformt sich der
untere Abschnitt des Folien-Reinigungselementes 53a, wie in der
Fig. 6 dargestellt ist. In diesem Zustand wird die Zufuhr von
Reinigungsflüssigkeit zu dem Reinigungsabschnitt 29a eingeleitet
(Schritt S45).
Es ist zu bemerken, daß die Schritte S44, S45 und S46 nicht in
numerischer Ordnung ausgeführt werden müssen.
Anschließend wird die Rotation des Wavers W durch das Rotations
spannfutter 21 eingeleitet (Schritt S46). Die Rotation des Rei
nigungselements 29a, 29b wird eingeleitet (Schritt S47). Die
Steuerung 90 liest die Daten aus, die in den Schritten S39, S40
gewonnen werden, steuert den Betrieb des Drucksteuerungsventils
70 auf der Basis der Daten, steigert den Zufuhrdruck für die
Reinigungsflüssigkeit graduell und gibt das am meisten geeignete
Übersteuerungs-Kontaktgewicht auf den Waver W vor (Schritt S48).
Das Folien-Reinigungselement 53a und die Oberfläche des Wavers W
werden gegeneinander geschruppt, während die Reinigungsflüssig
keit zugeführt wird. Auf diese Weise wird die Oberfläche des
Wavers W schonend gereinigt.
Nach Beendigung der Schrubbreinigung wird die Rotation des Wa
vers W beendet. Gleichzeitig wird das Reinigungselement 29 nach
oben bewegt (Schritt S49) und die Rotation des Reinigungsab
schnitts 29 angehalten (Schritt S50), um dadurch die Zufuhr von
Reinigungsflüssigkeit zu stoppen (Schritt S51). Weiterhin wird
das Reinigungselement 29 von der Betriebsposition zu der Aus
gangsposition zurückgezogen (Schritt S52). Anschließend wird
eine Waschlösung (reines Wasser) auf den Waver W von der Düse 22
gesprüht, um den Waver abzuwaschen (Schritt S53). Weiterhin wird
der Waver bei hoher Geschwindigkeit durch das Rotationsspannfut
ter 270 rotiert, um die anhaftenden Tropfen von dem Waver W
durch Zentrifugalkraft zu entfernen und dadurch die Oberfläche
des Wavers W zu trocknen. Dann wird der Waver W durch den Haupt
armmechanismus 5 zu der Trocknungseinheit 9 transportiert, um
den Waver W mit Hitze zu trocknen (Schritt S54). Zudem wird der
Waver W in der Kassette C durch den Haupttransportarm 5 positio
niert und aus dem System 1 mitsamt der Kassette C entladen
(Schritt S55).
Wie vorstehend beschrieben ist, kann die vorliegende Erfindung
für einen Reinigungsprozeß verwendet werden, nachdem ein Oxid
film mit einer Hydrofluorsäure abgeätzt wurde, nachdem der Ni
tritfilm mit einer Phosphatsäurelösung abgeätzt wurde, und nach
dem Aluminium mit einer Mischungslösung einer Phosphatsäure,
Acetylsäure und Nitritsäure abgeätzt wurde. Daneben kann die
vorliegende Erfindung auch für Fälle verwendet werden, bei denen
die Partikel mit einer APM-Lösung (Ammoniak und Wasserstoffper
oxyd und Reinwasser) entfernt werden, für Fälle, in denen
Metallverunreinigungen mit einer HPM-Lösung (Chlorwasserstoff
und Wasserstoffhyperoxyd und Reinwasser) beseitigt werden und
für Fälle, in denen organische Substanzen des Schutzfilms mit
einer SPM-Lösung (Salpetersäure und Wasserstoffhyperoxyd) ent
fernt wird.
Entsprechend der vorliegenden Erfindung ist es möglich, das An
haften der Partikel an der Oberfläche des Folien-Reinigungsele
mentes und das Eindringen in das Innere des Folien-Reinigungs
elementes zu unterdrücken. Es ist auch möglich, daß Substratrei
nigungswerkzeug als solches leicht abzuwaschen.
Entsprechend der vorliegenden Erfindung kann die Reinigungsflüs
sigkeit auf die Substratoberfläche aufgebracht werden, nachdem
sie mit Ultraschallschwingungen angeregt ist. Es ist möglich,
die Waschleistung und die Dispersionskraft zu steigern. Das In
nere des Folien-Reinigungselementes wird zusätzlich dazu gleich
förmig mit einem hohen Druck beaufschlagt, wodurch die Waschlei
stung steigt.
Entsprechend der vorliegenden Erfindung kann der Innendruck des
Folien-Reinigungselements auf einem konstanten Pegel gehalten
werden, auch wenn die Zufuhrmenge der Reinigungsflüssigkeit zu
dem Folien-Reinigungselement gering ist. Es ist dadurch möglich,
den Verbrauch an Reinigungsflüssigkeit zu reduzieren. Weiterhin
kann die übersteuerte Kontaktbelastung des Folien-Reinigungsele
mentes auf das Substrat eingestellt werden. Es ist dadurch mög
lich, die Last innerhalb eines weiten Bereichs leicht zu steu
ern. Es ist auch möglich, die Menge der an dem Folien-
Reinigungselementes hängenden Teilchen zu reduzieren und ein
chemisches Mittel mit hoher Waschleistung zu verwenden. Zusätz
lich kann der Druck des Folien-Reinigungselementes auf das Sub
strat durch den Druck des Folien-Reinigungselements auf das Sub
strat und durch den Innendruck des Folien-Reinigungselementes
gesteuert werden. Es ist möglich, den Druck innerhalb eines wei
teren Bereiches zu steuern.
Claims (21)
1. Substrat-Waschanlage, gekennzeichnet durch:
- - ein Folien-Reinigungselement (53, 53a, 53b), das flüs sigkeitsdurchlässig ist und relativ zu einem Substrat bewegt wird, das im wesentlichen horizontal gehalten ist, und dabei in Kontakt mit dem Substrat steht;
- - ein Tragteil (30, 31, 32, 283, 292) zum Tragen des Folien-Reinigungselementes (53, 53a, 53b);
- - eine Zufuhrleitung (12, 60) zum Zuführen einer Reini gungsflüssigkeit zu dem Substrat durch das Folien-Rei nigungselement (53, 53a, 53b);
- - Zufuhrmittel (92) zum Zuführen der Reinigungsflüssig keit in die Zufuhrleitung (12, 60);
- - Druckmittel (14B, 59, 80) zum Andrücken des Folien- Reinigungselementes (53, 53a, 53b), dem Reinigungs flüssigkeit zugeführt wird und das angeschwollen ist, auf das Substrat; und
- - Relativbewegungsmittel (41, 91, 93, 94, 95) zum hori zontalen Bewegen des Folien-Reinigungselementes (53, 53a, 53b), das mit der Reinigungsflüssigkeit beauf schlagt und angeschwollen ist, relativ zu dem Sub strat.
2. Substrat-Waschanlage nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch
eine Steuerung (90) zum Steuern mindestens des Betriebs der
Druckmittel (14B, 59, 80) und der Zufuhrmittel (92) für die
Reinigungsflüssigkeit.
3. Substrat-Waschanlage nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich
net, daß die Steuerung (90) eine übersteuerte Kontaktbela
stung steuert, die auf das Substrat durch das Folien-Reini
gungselement (53, 53a, 53b) aufgebracht wird, durch Steue
rung der Druckmittel (14B, 59, 80).
4. Substrat-Waschanlage nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch
Mittel (70) zum Einstellen des Zufuhrdrucks für das Reini
gungsmittel, das durch die Zufuhrleitung (12) fließt, wobei
die Steuerung (90) die übersteuerte Kontaktbelastung, die
auf das Substrat durch das Folien-Reinigungselement (53,
53a, 53b) aufgebracht wird, durch Steuerung der Zufuhr
druck-Einstellmittel (70) für die Reinigungsflüssigkeit
steuert.
5. Substrat-Waschanlage nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß ein Tragteil einen Zylinder (32), einen unteren
Abschnitt, an dem das Folien-Reinigungselement (53, 53a,
53b) angebracht ist, einen oberen Abschnitt, mit dem die
obere Zufuhrleitung (12, 60) kommuniziert, und einen Vor
ratsbehälter (72a) zum zeitweisen Speichern von Reinigungs
flüssigkeit hat, die von der Zufuhrleitung (12, 60) zuge
führt wird.
6. Substrat-Waschanlage nach Anspruch 5, gekennzeichnet durch
Antriebsmittel (91, 93, 94, 95) zum Rotieren des Zylinders
(32) um seine Vertikalachse.
7. Substrat-Waschanlage nach Anspruch 5, gekennzeichnet durch
eine Dispersionsplatte (51) für den Fluidstrom, die
zwischen dem Vorratsbehälter (72a) und dem Folien-Reini
gungselement (53, 53a, 53b) angeordnet ist und eine Viel
zahl von Löchern (51a) zum Durchlassen der Reinigungsflüs
sigkeit aus dem Vorratsbehälter (72a) auf das Folien-Reini
gungselement (53, 53a, 53b) hat.
8. Substrat-Waschanlage nach Anspruch 5, gekennzeichnet durch
ein elastisches Element (54), das wasserdurchlässig ist und
zwischen dem Vorratsbehälter (72a) und dem Folien-Reini
gungselement (53, 53a, 53b) angeordnet ist, um die Reini
gungsflüssigkeit von dem Vorratsbehälter (72a) zu dem Fo
lien-Reinigungselement (53, 53a, 53b) durchzulassen.
9. Substrat-Waschanlage nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß das Folien-Reinigungselement (53, 53a, 53b) aus
einer porösen und wasserfesten Harzschicht gebildet ist.
10. Substrat-Waschanlage nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß das Folien-Reinigungselement (53, 53a, 53b) aus
einer Harzschicht aus Fluorpolymer gebildet ist.
11. Substrat-Waschanlage nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß das Folien-Reinigungselement (53, 53a, 53b) aus
einer hydrophilen Harzschicht gebildet ist.
12. Substrat-Waschanlage nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß das Folien-Reinigungselement (53, 53a, 53b) aus
einem Polyolefin-Harz gebildet ist.
13. Substrat-Waschanlage nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß das Folien-Reinigungselement (53, 53a, 53b) beu
telförmig ist.
14. Substrat-Waschanlage nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß die Zufuhrleitung (60) einen Ultraschall-Oszilla
tor (61, 62) zum Aufbringen einer Ultraschallwelle auf die
Reinigungsflüssigkeit hat, die durch das Zufuhrrohr (60)
geleitet wird.
15. Verfahren zur Substratreinigung, gekennzeichnet durch die
Schritte:
- (a) Halten des Substrats im wesentlichen horizontal;
- (b) Zuführen einer Reinigungsflüssigkeit auf die Substrat oberfläche durch ein Folien-Reinigungselement (53, 53a, 53b), das flüssigkeitsdurchlässig ist, und ermög lichen, daß das Folien-Reinigungselement (53, 53a, 53b) in Kontakt mit der Substratoberfläche tritt;
- (c) Andrücken des Folien-Reinigungselementes (53, 53a, 53b) auf die Substratoberfläche über einen Nullpunkt hinaus, der einen Anfangskontaktpunkt des Folien-Rei nigungselementes (53, 53a, 53b) mit der Substratober fläche ist, wobei das Folien-Reinigungselement (53, 53a, 53b) in übersteuerten Kontakt mit der Substrat oberfläche gebracht wird; und
- (d) Bewegen des Folien-Reinigungselementes (53, 53a, 53b) relativ zum Substrat, um die Substratoberfläche durch das Folien-Reinigungselement (53, 53a, 53b) abzu schrubben.
16. Verfahren nach Anspruch 15, gekennzeichnet durch den
Schritt:
- (e) Zulassen, daß ein Dummy-Substrat übersteuert in Kon takt mit dem Folien-Reinigungselement (53, 53a) tritt, um das Dummy-Substrat einer Schrubbreinigung zu unter ziehen, wodurch die geeignetste übersteuerte Kontakt belastung erreicht wird, und wobei in dem Schritt (c) eine abnehmende Menge des Folien-Reinigungselementes (53, 53a) ausgeregelt wird, um die übersteuerte Kon taktbelastung des Folien-Reinigungselements (53, 53a), die auf das Substrat wirkt, auf die passendste über steuerte Kontaktbelastung einzustellen, die in dem Schritt (e) erzielt wird.
17. Verfahren nach Anspruch 15, gekennzeichnet durch den
Schritt:
- (e) Zulassen, daß ein Dummy-Substrat übersteuert in Kontakt mit dem Folien-Reinigungselement (53, 53a) tritt, um das Dummy-Substrat einer Schrubbreinigung zu unterziehen, wo durch die geeignetste übersteuerte Kontaktbelastung er reicht wird, und wobei in dem Schritt (c) ein Zufuhrdruck für die Reinigungsflüssigkeit so gesteuert wird, um die übersteuerte Kontaktbelastung des Folien-Reinigungselemen tes (53, 53a), die auf das Substrat wirkt, auf die passend ste übersteuerte Kontaktbelastung einzustellen, die in dem Schritt (i) erzielt wird.
18. Verfahren nach Anspruch 15, gekennzeichnet durch den
Schritt:
- (e) Zulassen, daß ein Dummy-Substrat übersteuert in Kon takt mit dem Folien-Reinigungselement (53, 53a) tritt, um das Dummy-Substrat einer Schrubbreinigung zu unter ziehen, wodurch die geeignetste übersteuerte Kontakt belastung erreicht wird, und wobei in dem Schritt (c) eine abnehmende Menge des Folien-Reinigungselementes (53, 53a) ausgeregelt und ein Zufuhrdruck für die Rei nigungsflüssigkeit so gesteuert wird, um die übersteu erte Kontaktbelastung des Folien-Reinigungselementes (53, 53a), die auf das Substrat wirkt, auf die passendste übersteuerte Kontaktbelastung einzustellen, die in dem Schritt (e) erzielt wird.
19. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß in
den Schritten (c) und (d) der Zufuhrdruck für die Reini
gungsflüssigkeit im wesentlichen gleich ist.
20. Verfahren nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß in
den Schritten (c) und (d) der Zufuhrdruck für die Reini
gungsflüssigkeit größer eingestellt wird, als zur Still
standszeit, in der das Substrat gereinigt wird.
21. Verfahren nach Anspruch 15, 18, 19 oder 20, dadurch gekenn
zeichnet, daß in den Schritten (c) und (d) der Zufuhrdruck
für die Reinigungsflüssigkeit in Abhängigkeit von dem Ober
flächenzustand des Substrats verändert wird.
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