JP4172567B2 - 基板洗浄具及び基板洗浄装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は,例えば半導体ウェハやLCD基板用ガラス等の基板を洗浄する基板洗浄具及び基板洗浄装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体デバイスの製造プロセスにおいては,半導体デバイスが形成される半導体ウェハ(以下「ウェハ」という)の清浄度を高く維持する必要がある。このため,各々の製造プロセス,処理プロセスの前後や,成膜工程,研磨工程の後などに,基板洗浄装置を用いてウェハを洗浄している。
【0003】
かかる基板洗浄装置は,一般的にウェハにブラシを押圧し,ウェハとブラシとを相対的に移動させることにより,ウェハから粒子汚染物を除去している。従来,PVA(ポリビニルアルコール)とブラシと毛足の硬いナイロンの毛とのコンビ型のブラシが使用され,例えばウェハを回転させながらこのようなブラシをウェハの中心部と周縁部の間で往復させることで,ウェハ全体を均一に洗浄している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら,従来の基板洗浄装置では,ブラシに粒子汚染物等のパーティクルが付着しやすく,そのパーティクルがウェハに転写されて,洗浄後のウェハにパーティクルが残存するおそれがある。一方,転写したパーティクルを除去しようとすれば,ブラシを頻繁に洗浄しなければならず,洗浄時間も長くかかってしまう。また洗浄時間が長くなると,ブラシが劣化し,交換等でメンテナンスも煩雑となる。
【0005】
従って本発明の目的は,パーティクルの付着が少ない基板洗浄具を提供し,更にそのような基板洗浄具を備えた基板洗浄装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために,本発明は,半導体ウェハまたはLCD基板を洗浄する洗浄具であって,糸状のブラシ部材を複数束ねた構成を有し,洗浄液を流通させる流路を有する短いブラシ部材と洗浄液を流通させる流路を有する長いブラシ部材を交互に配置したことを特徴とする,基板洗浄具を提供する。
【0007】
この基板洗浄具において,前記ブラシ部材は,表面から洗浄液を吐出可能であることが好ましい。このような基板洗浄具によれば,各糸状のブラシ部材の流路内に洗浄液を流通させながら,基板洗浄具を基板に接触させ,基板と基板洗浄具とを相対的に移動させることにより,洗浄を行う。ここで,流路内を流れる洗浄液は,ブラシ部材の表面から吐出されるので,基板から除去されたパーティクル等の汚染物質はブラシ部材の表面から洗い流され,パーティクル等が洗浄体に付着し難くなる。このため,基板から除去されたパーティクル等の汚染物質が基板に転写(再付着)することを防止できる。このため,洗浄効率が向上して洗浄時間を短縮することができる。また,洗浄時間が短縮できるので,基板洗浄具の製品寿命も延びる。
【0008】
この基板洗浄具において,ブラシ部材は,種々の形態をとることが可能である。例えば,ブラシ部材は,中空の透水材質で形成されても良いし,ブラシ部材は,洗浄液を流通させる多数の流路を有しても良い。
また,前記ブラシ部材は,中空に形成された本体の下面に複数本束ねられた状態で取り付けられ,前記本体内には,本体下面のブラシ部材に向かって均一に洗浄液を供給させる拡散板が設けられていても良い。
【0009】
なお,ブラシ部材は撥水性でも良く,ブラシ部材は親水性でも良い。ブラシ部材が撥水性であれば,洗浄によって基板から剥がれたパーティクルを洗浄液と共にはじくことができ,パーティクルがより付着しにくい。
【0010】
ブラシ部材の束ね方には,例えば,前記ブラシ部材を直線状にして一端を束ねたり,ブラシ部材をループ状にして両端を束ねたような形態が考えられる。
【0011】
なお,基板を洗浄する洗浄具であって,糸状のブラシ部材を複数束ねた構成を有し,前記ブラシ部材は撥水性であることを特徴とする,基板洗浄具を提供する。
【0012】
この基板洗浄具によれば,例えばノズル等により洗浄液が供給されている基板に対して,複数束ねた糸状のブラシ部材を接触させ,基板と基板洗浄具とを相対的に移動させることにより,洗浄を行う。ここで,ブラシ部材は撥水性であるので,洗浄によって基板から剥がれたパーティクル等の汚染物質は洗浄液と共にはじかれ,ブラシ部材に付着しにくい。このため,ブラシ部材から基板にパーティクルを転写させる心配が少なく,洗浄効率が向上して洗浄時間を短縮することができる。また,洗浄時間が短縮できるので,基板洗浄具の製品寿命も延びる。
【0013】
また,基板を洗浄する装置であって,前記基板洗浄具を備えることを特徴とする,基板洗浄装置を提供する。
【0014】
この基板洗浄装置によれば,短時間で基板を洗浄でき,また製品寿命の長い基板洗浄具を備えているので,部品交換等のメンテナンスサイクルが長くなる。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下,本発明の好ましい実施の形態を,基板の一例としてウェハの裏面を洗浄するように構成された洗浄装置に基づいて説明する。図1は,本実施の形態にかかる基板洗浄装置8を組み込んだ洗浄システム1の斜視図である。洗浄システム1は,キャリアC単位でウェハWを搬入し,ウェハWを一枚ずつ洗浄,乾燥し,キャリア単位でウェハWを搬出するように構成されている。
【0016】
この洗浄システム1には,ウェハWを収納したキャリアCを4個分載置できる載置部2が設けられている。洗浄システム1の中央には,載置部2に載置されたキャリアCから洗浄前のウェハWを一枚ずつ取り出し,また,洗浄後のウェハWをキャリアCに収納する取出収納アーム3が配置されている。この取出収納アーム3の背部には,取出収納アーム3との間でウェハWの授受を行う搬送アーム4が待機している。搬送アーム4は,洗浄システム1の中央に設けられた搬送路6に沿って移動可能に設けられている。搬送路6の両側には,各処理を行うの各処理装置が配置されている。例えば搬送路6の一方の側方には,ウェハWの表面を洗浄するための基板洗浄装置7と,ウェハWの裏面を洗浄するための本実施の形態にかかる基板洗浄装置8とが並んで配置されている。また,搬送路6の他方の側方には,ウェハWを加熱して乾燥させる加熱装置9が4基積み重ねて設けられている。これら加熱装置9に隣接して,ウェハの表面と裏面を反転させるウェハ反転装置10が2基積み重ねて設けられている。なお,ウェハWの表面は,例えば半導体デバイスなどが形成可能なように鏡面となっており,ウェハWの裏面は,粗面となっている。
【0017】
ここで,基板洗浄装置8の構成について説明する。図2は,基板洗浄装置8の平面図であり,図3は,基板洗浄装置8の縦断面図である。図2及び図3に示すように,基板洗浄装置8のケース20内には,ウェハWを回転自在に支持するスピンチャック21が設けられており,この基板洗浄装置8では,前述のウェハ反転装置10によって裏面を上に向けた姿勢にされたウェハWが,スピンチャック21によって保持されるようになっている。ケース20の前面側(図1に示す洗浄システム1において,搬送路6に臨む側面)には,開閉自在なシャッタ22が設けられており,前述の搬送アーム4によって基板洗浄装置8に対して搬入出される際には,このシャッタ22が開くようになっている。
【0018】
この実施の形態では,スピンチャック21は円筒状の回転体であり,このスピンチャック21の下部には,上部側に比べて縮径している縮径部25が形成されている。この縮径部25をベアリング機構26を介して筒状体27の外側に装着することにより,スピンチャック21全体は,回転自在に支持されている。なお,筒状体27は水平な固定板28の上面に固着されている。縮径部25の外周面にはベルト30が巻回されており,この30が図示しないモータによって周動させられることにより,スピンチャック21全体が回転するようになっている。
【0019】
スピンチャック21の上部には,ウェハWの周縁部を複数箇所において保持するための保持部材31が装着されている。各保持部材31はスピンチャック21に対して水平な軸まわりに回転可能に装着されており,各保持部材31は図示しない重錘を内蔵することにより,スピンチャック21が回転したときの遠心力によって各保持部材31の上部側が内側に移動し,ウェハWの周縁部を外側から保持するように構成されている。
【0020】
スピンチャック21の両側方には,スクラブアーム24とノズルアーム60が配置されている。スクラブアーム24の先端下方には,ウェハWの裏面に基板洗浄具としてのスクラブ洗浄具23が装着されている。そしてスクラブアーム24の回動により,スクラブ洗浄具23は,スピンチャック21の外側位置から,スピンチャック21に保持されたウェハWのほぼ中心位置まで往復移動させられるようになっている。なお,図2では,スクラブアーム23の回動によって洗浄具23をスピンチャック21の外側に移動させた待機状態を示し,図3では,スクラブアーム23の回動によって洗浄具23をスピンチャック21に保持されたウェハWの上方に移動させた洗浄状態を示している。
【0021】
図4に示すように,スクラブアーム24内には,スクラブ洗浄具23を昇降及び回転させる昇降回転機構41が配置されている。この昇降回転機構41を貫通して昇降回転軸42が設けられており,昇降回転軸42の下端に前述のスクラブ洗浄具23が取り付けられている。そして,昇降回転機構41の稼働に伴い,スクラブ洗浄具23を上下方向に昇降させると共に,昇降回転軸42を中心にスクラブ洗浄具23を回転させることが可能である。また昇降回転機構41は,昇降回転軸42に対して下向きの推力を適宜付与することにより,スクラブ洗浄具23を,スピンチャック21内に保持されたウェハWの裏面に対して任意の接触圧で押し付けるようになっている。
【0022】
昇降回転軸42の内部には,例えば純水などの洗浄液を供給する洗浄液供給路43が貫通して設けられており,昇降回転軸42の内部を通じて下端のスクラブ洗浄具23に洗浄液を供給できるように構成されている。図5に示すように,スクラブ洗浄具23は,円柱状の本体45と,この本体45の下面に複数本束ねられた状態で取り付けられたブラシ部材46とを備えている。本体45内は中空に形成され,本体45内を横切るようにして拡散板47が設けられている。前述の洗浄液供給路43を通じて本体45内に供給された洗浄液は,拡散板47に形成された各孔48を通過し,本体45下面のブラシ部材46に向かって上方から全体的に均一に供給されるようになっている。
【0023】
図示の例では,スクラブ洗浄具23は,長さが等しい複数の糸状のブラシ部材46を束ね,各ブラシ部材46の上端を本体45によって支持した構成の,いわゆるブラシに形成されている。図6に示すように,各ブラシ部材46は,そのほぼ中央に洗浄液を流通させる流路50が形成された中空の構成を有しており,かつ,ブラシ部材46は透水の材質で形成されることにより,ブラシ部材46内において流路50を流通している洗浄液をブラシ部材46の表面から吐出できるようになっている。
【0024】
またこの実施の形態では,ブラシ部材46は,例えばウェハWから剥がれたパーティクル等を純水と共にはじくことができるように,撥水性の材質(樹脂等)が用いられている。このようなブラシ部材46の材質には,例えばPP(ポリプロピレン)等が挙げられる。
【0025】
その他,図2,3に示したノズルアーム60の先端部下方にはノズル61が設けられている。そしてノズルアーム60の回動により,ノズル61は,スピンチャック21の外側位置から,スピンチャック21に保持されたウェハWのほぼ中心位置まで往復移動させられるようになっている。なお,図2では,ノズルアーム60の回動によってノズル61をスピンチャック21の外側に移動させた待機状態を示し,図3では,ノズルアーム60の回動によってノズル61をスピンチャック21に保持されたウェハWの上方に移動させた洗浄状態を示している。このノズル61によりウェハWの裏面に対して純水などの洗浄液を供給するように構成されている。
【0026】
さて,以上のように構成された洗浄システム1において,先ず図示しない搬送ロボットが未だ洗浄されていないウェハWを例えば25枚ずつ収納したキャリアCを載置部2に載置する。そして,この載置部2に載置されたキャリアCから一枚ずつウェハWが取り出され,取出搬入アーム3を介して搬送アーム4に受け渡される。そして,基板洗浄装置7及び基板洗浄装置8を用いて,ウェハWを一枚ずつ洗浄し,ウェハWの表面及び裏面に付着している粒子汚染物等のパーティクルを除去する。所定の洗浄工程が終了したウェハWは,搬送アーム4から取出収納アーム3に受け渡され,再びキャリアCに収納される。
【0027】
ここで,基板洗浄装置8でのウェハWの裏面洗浄について更に説明する。前述のウェハ反転装置10により表面と裏面とが反転させられたウェハWが,先ず搬送アーム4によって基板洗浄装置8に搬入され,ウェハWはスピンチャック21によって保持される。次いで,図示しないモータの回転力によりスピンチャック21が回転し,その後,ノズルアーム60を旋回させてノズル61をウェハWの上方に移動させ,ウェハWの裏面に純水などの洗浄液を供給する。
【0028】
また,スクラブアーム24を旋回させてスクラブ洗浄具23をウェハWの上方に移動させる。そして純水供給路43から純水などの洗浄液を供給し,洗浄液供給路43を通じて供給した洗浄液をスクラブ洗浄具23に供給する。こうして,スクラブ洗浄具23において本体45内に供給された洗浄液は,本体45下面のブラシ部材46に向かって上方から全体的に均一に供給され,各ブラシ部材46の流路50内に洗浄液が供給されて,各ブラシ部材46の表面と下端から洗浄液が吐出された状態となる。そして,昇降回転機構41の稼働によりスクラブ洗浄具23を下降させて,各ブラシ部材46をウェハWの裏面に所定の接触圧力で接触させると共に,昇降回転軸42を中心にしてスクラブ洗浄具23を回転させる。こうして,ウェハWを回転させつつ,スクラブアーム24を回動させてスクラブ洗浄具23をウェハWの少なくとも中心から周縁部まで自転させつつ往復移動させることにより,ウェハWの裏面全体をスクラブ洗浄する。こうしてウェハWの裏面を均一に洗浄し,パーティクル等を効果的に除去することが可能となる。
【0029】
ここで,スクラブ洗浄具23において各ブラシ部材46の流路50内を流通する洗浄液は,ブラシ部材46の下端からウェハWに吐出されるので,ウェハWから除去されたパーティクル等の汚染物質は洗い流され,またブラシ部材46は透水材質であるので,流路50内を流通する洗浄液はブラシ部材46の表面からも吐出されて洗い流すので,パーティクル等がブラシ部材46の表面に付着する心配がない。この場合,図示のブラシ部材46は撥水性であるため,パーティクル等を洗浄液と共にはじくことができ,パーティクル等の付着をより確実に防止することができる。こうして,ブラシ部材46からウェハWにパーティクル等を転写(再付着)させることなく,ウェハW裏面を良好に洗浄できるようになる。
【0030】
こうしてスクラブ洗浄具23によるスクラブ洗浄をした後,ノズル61から純水などの洗浄液を吐出させてウェハWをリンス処理する。その後,図示しないモータの回転数を上げてスピンチャック21に支持しているウェハWを高速回転させ,洗浄液を振り切ってスピン乾燥を施す。こうして所定の洗浄工程が終了したウェハWは,前述のように搬送アーム4から取出収納アーム3に受け渡され,再びキャリアCに収納されるのである。
【0031】
この実施の形態の基板洗浄装置8によれば,パーティクルの転写を防止できるので,洗浄効率が向上し,洗浄時間を短縮できる。また,パーティクル等の汚染物質が付着し難いことから,洗浄を行っても,ブラシ部材46は汚染されず,その清浄度が長期に渡って維持される。また洗浄液を吐出しながらブラシ部材46をウェハWに対して滑らかに接触させるので,ブラシ部材46の損耗が少なく,スクラブ洗浄具23の製品寿命が延び,部品交換などのメンテナンスサイクルが長くなる。また,ウェハWとスクラブ洗浄具23との接触が滑らかになることから,ウェハWに損傷を与えずに良好な洗浄を行うことが可能となる。
【0032】
以上,本発明の好ましい実施の形態の一例を示したが,本発明は,ここで説明した形態に限定されない。以上の形態では,図6に示したブラシ部材46に代えて,図7に示す如き,洗浄液を流通させる多数の流路70,70,70……を内部に有するブラシ部材71を用いても良い。このようなブラシ部材71においても,多数の流路70を通じて供給される洗浄液をブラシ部材71の表面から吐出することができ,同様の効果を奏することが可能である。
【0033】
またブラシ部材46やブラシ部材71は,撥水性に限らず,例えばアルコールに浸漬させることによって親水性処理を施しても良い。ブラシ部材46やブラシ部材71を親水性に構成すれば,ブラシ部材46やブラシ部材71の表面全体に洗浄液を吐出しやすく,汚染物質を洗い流しやすい。
【0034】
また,図5では各ブラシ部材46の長さが等しい例を示したが,例えば各ブラシ部材の長さが不揃いであっても良い。図8に示すスクラブ洗浄具80では,本体45の下面には,長さが異なるブラシ部材46,46’が交互に配置されている。長さの短いブラシ部材46’は,各ブラシ部材46の間にそれぞれ配置されている。なお,短いブラシ部材46’と長いブラシ部材46を交互に配置した点を除けば,スクラブ洗浄具80は,先に図5で説明したスクラブ洗浄具23と同様の構成を有するため,図8において,先に説明した図5と共通の構成要素については同じ符号を付することにより,重複説明を省略する。この図8に示したスクラブ洗浄具80にあっては,洗浄の際には,ブラシ部材46をウェハWの裏面に接触させて洗浄を行う。その場合,前述したようにブラシ部材46の表面から洗浄液を吐出できることに加え,短いブラシ部材46’から吐出した洗浄液をブラシ部材46に沿って流下させることができ,ブラシ部材46の表面に付着しようとするパーティクルを洗い流すことができるようになる。
【0035】
また,図5,8では束ねられたブラシ部材46,49’の上端だけを本体45によって支持した構成を示したが,図9に示すスクラブ洗浄具90のように,各ブラシ部材46をループ状に湾曲させ,各ブラシ部材46の両端を束ねて前記本体45の下面に支持した構成でも良い。なお,各ブラシ部材46をループ状に湾曲させて両端を本体45に支持した点を除けば,スクラブ洗浄具90は,先に図5で説明したスクラブ洗浄具23と同様の構成を有するため,図9において,先に説明した図5と共通の構成要素については同じ符号を付することにより,重複説明を省略する。このスクラブ洗浄具90にあっては,洗浄液供給路43を通じて本体45内に供給された洗浄液は,ループ状に湾曲させられた各ブラシ部材46の両端から流路50内に流れ込むので,図10に示すように流路50内の水圧が高くなり,透水性のブラシ部材46の表面から洗浄液をより多く吐出させることができる。このため,ブラシ部材46の表面をより確実に洗い流すことにより,パーティクル等の付着を更に防止できる。また,待機時にもブラシ部材46の表面から洗浄液を吐出させてその表面を綺麗に洗い流し,自己洗浄を行うと更に良い。この場合,待機時においては洗浄時よりもブラシ部材46の表面からの洗浄液の吐出量を抑えることにより,洗浄液の消費量を節約することが可能である。
【0036】
その他,洗浄液として純水を用いたが,例えばオゾン水,電解イオン水,塩酸過水,アンモニア過水,リン酸溶液,フッ酸溶液等の薬液を洗浄液として用いて,洗浄効果を高めたり,各種の洗浄効果を得ることができる。例えば本発明は,フッ酸溶液により酸化膜をエッチングする場合や例えばリン酸溶液によって窒化膜をエッチングする場合,リン酸,酢酸,硝酸の混合液によってアルミニウムをエッチングする場合の後の洗浄処理に適用できる。その他,洗浄処理としては,APM溶液(アンモニア+過酸化水素水+純水)によりパーティクルの除去を行う場合や,HPM溶液(塩酸+過酸化水素水+純水)により金属汚染を清浄する場合等に適用できる。
【0037】
なお,スクラブ洗浄23を回転させないでウェハWに接触させて洗浄を行うことも可能である。また,スクラブ洗浄具は,ウェハWの裏面のみならず,ウェハWの表面を洗浄する基板洗浄装置や,さらにはウェハWの表面及び裏面を同時に洗浄する基板洗浄装置にも同様に適用される。また,基板を上記した本発明の実施の形態にようにウェハに限定せずに,LCD基板,CD基板,プリント基板,セラミック基板等であってもよい。
【0038】
【発明の効果】
本発明によれば,パーティクル等の汚染物質の転写させずに基板を洗浄でき,洗浄効率が向上して洗浄時間を短縮できる。またメンテナンスサイクルが長くなり,稼働効率が向上する。また,基板に損傷を与えずに良好な洗浄を行うことができる。また,ブラシ自体に洗浄液を濾過するフィルタリング効果をもたせることが可能であり,浄化された洗浄液を基板に吐出することができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施の形態にかかる基板洗浄装置を備えた洗浄システムの斜視図である。
【図2】本実施の形態にかかる基板洗浄装置の平面図である。
【図3】本実施の形態にかかる基板洗浄装置の縦断面図である。
【図4】スクラブアームの構成を概略的に示す縦断面図である。
【図5】本実施の形態にかかるスクラブ洗浄具の概略的な構成を示す縦断面図である。
【図6】ブラシ部材の部分拡大斜視図である。
【図7】他の実施の形態にかかるブラシ部材の部分拡大図である。
【図8】他の実施の形態にかかるスクラブ洗浄具の縦断面図である。
【図9】ループ状にした他の実施の形態にかかるスクラブ洗浄具の縦断面図である。
【図10】ループ状にしたブラシ部材の部分拡大断面図である。
【符号の説明】
W ウェハ
1 洗浄システム
8 基板洗浄装置
21 スピンチャック
24 スクラブアーム
60 ノズルアーム
23 スクラブ洗浄具
45 本体
46 ブラシ部材
61 ノズル

Claims (6)

  1. 半導体ウェハまたはLCD基板を洗浄する洗浄具であって,
    糸状のブラシ部材を複数束ねた構成を有し,
    洗浄液を流通させる流路を有する短いブラシ部材と洗浄液を流通させる流路を有する長いブラシ部材を交互に配置したことを特徴とする,基板洗浄具。
  2. 前記ブラシ部材は,表面から洗浄液を吐出可能であることを特徴とする,請求項1に記載の基板洗浄具。
  3. 前記ブラシ部材は,中空の透水材質で形成されることを特徴とする,請求項1又は2に記載の基板洗浄具。
  4. 前記ブラシ部材は,洗浄液を流通させる多数の流路を有することを特徴とする,請求項1又は2に記載の基板洗浄具。
  5. 前記ブラシ部材は,中空に形成された本体の下面に複数本束ねられた状態で取り付けられ,
    前記本体内には,本体下面のブラシ部材に向かって均一に洗浄液を供給させる拡散板が設けられていることを特徴とする,請求項1〜4のいずれかに記載の基板洗浄具。
  6. 半導体ウェハまたはLCD基板を洗浄する装置であって,
    請求項1〜5のいずれかに記載の基板洗浄具を備えることを特徴とする,基板洗浄装置。
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004255479A (ja) * 2003-02-24 2004-09-16 Ebara Corp 電解加工方法及び電解加工装置
JP5103356B2 (ja) * 2008-10-31 2012-12-19 東京エレクトロン株式会社 基板洗浄ブラシ及び基板処理装置並びに基板洗浄方法
US20110296634A1 (en) * 2010-06-02 2011-12-08 Jingdong Jia Wafer side edge cleaning apparatus
JP6031743B2 (ja) * 2011-10-13 2016-11-24 株式会社リコー 乾式クリーニング装置及び乾式クリーニング方法
JP2016064357A (ja) * 2014-09-25 2016-04-28 芝浦メカトロニクス株式会社 基板洗浄装置および基板洗浄方法
KR102454775B1 (ko) 2015-02-18 2022-10-17 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 기판 세정 장치, 기판 세정 방법 및 기판 처리 장치
CN107221491B (zh) * 2016-03-22 2021-10-22 东京毅力科创株式会社 基板清洗装置
KR101892447B1 (ko) * 2018-01-15 2018-10-04 최병찬 소켓 세척장치
JP7091076B2 (ja) * 2018-01-25 2022-06-27 株式会社Screenホールディングス 基板洗浄ブラシおよび基板洗浄装置
KR20220065918A (ko) * 2020-11-13 2022-05-23 주식회사 제우스 디스플레이부용 세정장치 및 그 제어방법
WO2022224583A1 (ja) 2021-04-21 2022-10-27 信越半導体株式会社 ウェーハの洗浄方法及び洗浄処理装置
WO2023214539A1 (ja) * 2022-05-02 2023-11-09 日本電気硝子株式会社 ガラス板の洗浄装置及びガラス板の製造方法
JP2024069889A (ja) * 2022-11-10 2024-05-22 株式会社荏原製作所 基板洗浄装置、および基板洗浄方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1930044A (en) * 1931-02-27 1933-10-10 Champion Corp Cleaning mitt
US3750213A (en) * 1971-08-13 1973-08-07 Foundation And Bridge Corp Side window brush arrangement for car washing installations
US3827099A (en) * 1972-11-29 1974-08-06 E Allaire Disposable mop head
US4039261A (en) * 1975-10-14 1977-08-02 Evans James L Disposable toothbrush
US4066366A (en) * 1976-09-07 1978-01-03 Reynolds Donald F Car wash mop
CH642242A5 (de) * 1977-11-02 1984-04-13 Fritz Roehm Haarfaerbegeraet.
US4730361A (en) * 1986-07-21 1988-03-15 Henry Koffler Hairbrush constructed and arranged to lift and shape hair
US4958596A (en) * 1989-12-26 1990-09-25 Katalin Belan Pet grooming kit with applicator
TW316995B (ja) * 1995-01-19 1997-10-01 Tokyo Electron Co Ltd
JP3422121B2 (ja) 1995-03-06 2003-06-30 ソニー株式会社 スクラブ洗浄装置
EP0898301B1 (en) * 1997-08-18 2006-09-27 Tokyo Electron Limited Apparatus for cleaning both sides of a substrate
GB9720905D0 (en) * 1997-10-03 1997-12-03 Addis Housewares Ltd Mop Head
JP3654779B2 (ja) * 1998-01-06 2005-06-02 東京エレクトロン株式会社 基板洗浄具及び基板洗浄方法
JPH11254294A (ja) * 1998-03-13 1999-09-21 Speedfam Co Ltd 定盤修正用ドレッサーの洗浄装置
US6247197B1 (en) * 1998-07-09 2001-06-19 Lam Research Corporation Brush interflow distributor
US6308361B1 (en) * 1998-07-28 2001-10-30 Ebara Corporation Cleaning apparatus
KR100613919B1 (ko) * 1999-07-26 2006-08-18 동경 엘렉트론 주식회사 기판세정구, 기판세정장치 및 기판세정방법

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