DE19648768A1

DE19648768A1 - Optisches Plattenlaufwerk

Info

Publication number: DE19648768A1
Application number: DE19648768A
Authority: DE
Inventors: Tomiyuki Numata
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1995-11-24
Filing date: 1996-11-25
Publication date: 1997-05-28
Anticipated expiration: 2016-11-26
Also published as: US5831953A; DE19648768C2; JPH09147369A; JP3553241B2

Description

Die Erfindung betrifft ein optisches Plattenlaufwerk zum Aufzeichnen/Wiedergeben von Information auf/von optischen Platten mit verschiedenen Dicken und verschiedenen Anzahlen von Aufzeichnungsschichten.

Optische Platten werden als Informationsaufzeichnungsträger großer Kapazität verwendet. Die üblichste im Handel befind liche optische Platte besteht aus einem 1,2 mm dicken Sub strat und einer einzelnen Aufzeichnungsschicht auf einer Oberfläche des Substrats. Ein optisches Plattenlaufwerk zum Abspielen aufgezeichneter Information von einer optischen Platte umfaßt einen Halbleiterlaser zum Emittieren eines Laserstrahls sowie einen optischen Aufnehmer mit einer Objektivlinse zum Konvergieren des Laserstrahls auf die Auf zeichnungsschicht der optischen Platte. Information wird da durch abgespielt, daß der vom Halbleiterlaser emittierte Laserstrahl durch die Objektivlinse hindurch auf die Auf zeichnungsschicht emittiert wird und das an der Aufzeich nungsschicht reflektierte Licht gelesen wird.

Durch eine Verringerung der Spurganghöhe kann die Kapazität einer optischen Platte wirkungsvoll erhöht werden, jedoch muß zum Abspielen von Information von einer optischen Plat te mit derartig verringerter Spurganghöhe der Laserfleck verkleinert werden, und es muß auch die Wellenlänge des als Lichtquelle im optischen Plattenlaufwerk verwendeten Halb leiterlasers verkürzt werden, oder es muß die numerische Apertur der Objektivlinse erhöht werden. Jedoch ist es in keiner Weise einfach, die numerische Apertur zu erhöhen, da die durch eine Schrägstellung einer optischen Platte erzeug te Abberation direkt proportional zur Potenz der numerischen Apertur ansteigt.

Um das obige Problem zu überwinden, wurde eine optische Platte mit einem 0,6 mm dicken Substrat vorgeschlagen. Da eine Verringerung der Dicke des Substrats eine größere Nei gungstoleranz der optischen Platte ermöglicht, ist es mög lich, die numerische Apertur zu erhöhen.

Alternativ wurde eine optische Platte mit mehr als einer Aufzeichnungsschicht vorgeschlagen, um die Kapazität der Platte zu erhöhen. Hierbei wird Information von der mehr als einen Aufzeichnungsschicht mittels einer Fokusregelung abge spielt, d. h. durch Einstrahlen eines Laserstrahls auf die optische Platte mit mehr als einer Aufzeichnungsschicht und durch Verschieben des Brennpunkts von einer Aufzeichnungs schicht zur nächsten. Eine optische Platte mit zwei Auf zeichnungsschichten (Doppelaufzeichnungsschicht) wurde als besonders bevorzugtes Beispiel vorgeschlagen.

So verfügen typische optische Platten über ein Substrat mit einer Dicke von entweder 1,2 mm oder 0,6 mm sowie über eine Einzel- oder eine Doppelaufzeichnungsschicht.

Unter diesen Umständen ist es wichtig, optische Plattenlauf werke kompatibel auszubilden, damit es Information von opti schen Platten von Substraten mit verschiedenen Dicken und verschiedenen Anzahlen von Aufzeichnungsschichten abspielen kann. Demgemäß wurden verschiedene Techniken zum Herstellen kompatibler optischer Plattenlaufwerke offenbart.

Z.B. offenbart das Dokument JP-A 7-65409 (1995) eine Tech nik zum Korrigieren der durch eine Differenz der Substratdicken erzeugten Abberation, und das Dokument JP-A 5-54396 (1993) offenbart eine Technik zum Ausführen einer Fokusrege lung auf einer Zielaufzeichnungsschicht.

Gemäß der im Dokument JP-A 7-65409 (1995) offenbarten Abbe rationskorrekturtechnik wird zunächst die Dicke des Sub strats der eingesetzten optischen Platte beurteilt. Wenn die optische Platte dick ist, wird eine Konvexlinse zwischen einer für ein 0,6 mm dickes Substrat konzipierten Objektiv linse und dem Halbleiterlaser angeordnet, wohingegen dann, wenn die optische Platte dünn ist, eine Konkavlinse zwischen der obigen Objektivlinse und dem Halbleiterlaser angeordnet wird. Demgemäß wird Information von einer optischen Platte abgespielt, ohne daß sphärische Abberation verursacht wird, und zwar unabhängig von der Dicke des Substrats.

Bei der obigen Abberationskorrekturtechnik wird die Tatsa che, ob die eingesetzte optische Platte ein Substrat mit einer Dicke von 1,2 mm oder 0,6 mm aufweist, als erstes be urteilt, z. B. mittels der im Dokument JP-A 7-65409 (1995) offenbarten Abberationskorrekturtechnik. Hierbei wird Infor mation in Form eines Strichcodes oder eingestanzter Löcher, die den Typ kennzeichnen, an einer Kassette angebracht, in der die optische Platte enthalten ist, und die optische Platte wird durch Lesen der hinzurgefügten Information iden tifiziert.

Auch offenbart das Dokument JP-A 4-162 217 (1992) eine rele vante Technik, bei der eine optische Platte Information zum Kennzeichnen ihres Typs in einem speziellen Abschnitt im In formationsbereich speichert und die Kennungsinformation durch den optischen Aufnehmer gelesen wird.

Außerdem ist im Dokument JP-A 5-543 96 (1993) eine Technik zum überprüfen der Anzahl von Aufzeichnungsschichten offen bart. Gemäß dieser Technik wird die Objektivlinse in der Dickenrichtung der optischen Platte verstellt. Da sich das Fokusabweichungssignal ändert, wenn der vom Halbleiterlaser emittierte Laserstrahl auf das Substrat bzw. eine Aufzeich nungsschicht der optischen Platte konvergiert wird, wird eine derartige Änderung erfaßt und in Form von Impulsen ge zählt, um zu überprüfen, ob die Aufzeichnungsschicht eine einzelne ist oder ob zwei vorliegen.

Jedoch kann im Fall einer optischen Platte, die keine Kas sette verwendet, die obige Technik des Hinzufügens von Ken nungsinformation an der Kassette nicht verwendet werden. Darüber hinaus muß zum Lesen von zur Kassette hinzugefügter Kennungsinformation das optische Plattenlaufwerk außer dem optischen Aufnehmer einen Lesemechanismus wie einen Refle xionssensor aufweisen. Ferner muß beim Herstellprozeß der Schritt des Hinzufügens von Kennungsinformation zur Kassette zusätzlich verwendet werden.

Die relevante Technik zum Aufzeichnen von Kennungsinforma tion in einem speziellen Informationsbereich ist nicht pra xisgerecht, da die Dicke des Substrats erst dann überprüft werden kann, wenn die aufgezeichnete Information von der op tischen Platte abgespielt wird. Genauer gesagt, muß der Typ (z. B. die Dicke des Substrats) einer optischen Platte er kannt werden, um die Abberation korrigieren zu können, wie sie durch Dickendifferenzen von Substraten erzeugt wird, da mit dann die aufgezeichnete Information von der Platte abge spielt werden kann. Wie jedoch angegeben, kann der Typ erst erkannt werden, nachdem aufgezeichnete Information abge spielt wurde.

Auch ist eine Technik, die die Anzahl von Aufzeichnungs schichten durch Zählen der Anzahl der Impulse des Fokusab weichungssignals überprüft, nur dann wirksam, wenn der Zwi schenraum zwischen den Aufzeichnungsschichten ausreichend groß in bezug auf den dynamischen Bereich des Fokusabwei chungssignals ist. Wie es in Fig. 9 dargestellt ist, inter ferieren, wenn der Zwischenraum zwischen den Aufzeichnungs schichten höchstens einige 10 Mikrometer beträgt, das von der ersten Aufzeichnungsschicht alleine erzeugte Fokusabwei chungssignal FES₁ und das von der zweiten Aufzeichnungs schicht alleine erzeugte Fokusabweichungssignal FES₂ mitein ander, wodurch ein durch eine durchgezogene Linie darge stelltes Fokusabweichungssignal FES′ gebildet wird.

So wird ein Komparator durch Vergleichen des obigen Fokusab weichungssignals FES′ mit einer Schwellenspannung V_ref′ nicht dazu in die Lage versetzt, ein digitales Signal CP_out′ auszugeben, das einem Impulssignal entspricht, das eine ge naue Anzahl von Aufzeichnungsschichten repräsentiert. Wenn die Schwellenspannung V_ref′ erniedrigt wird, um eine Ände rung des Fokusabweichungssignals FES′ zu erfassen, wie sie von der zweiten Aufzeichnungsschicht herrührt, tritt durch Störsignale verursache falsche Erkennung auf, was es unmög lich macht, die Anzahl der Aufzeichnungsschichten auf zuver lässige Weise zu erkennen.

Daher ist es eine erste Aufgabe der Erfindung, ein optisches Plattenlaufwerk zu schaffen, das die Dicke des Substrats einer optischen Platte auf zuverlässige Weise beurteilen kann.

Diese erste Aufgabe ist durch die unabhängigen Ansprüche in nerhalb des Anspruchssatzes mit den Ansprüchen 1 bis 23 ge löst.

Gemäß dieser erfindungsgemäßen Anordnung wird die Lichtkon vergiereinrichtung auf solche Weise durch die Verstellein richtung verstellt, daß der Brennpunkt des Laserstrahls in der Dickenrichtung der optischen Platte verstellt wird, um den Brennpunkt auf die Aufzeichnungsschicht zu bringen. Es ist bevorzugt, das optische Plattenlaufwerk auf solche Weise auszubilden, daß der Brennpunkt in einen Bereich läuft, der sowohl die Aufzeichnungsschicht als auch die Oberfläche des Substrats überdeckt.

Wenn der Brennpunkt des Laserstrahls verstellt wird, ändert sich die vom optischen Aufnehmer erfaßte Signalwelle, wenn der Brennpunkt über die Oberfläche des Substrats und dann über die der Aufzeichnungsschicht, oder umgekehrt, läuft. Die Erfassungseinrichtung erfaßt das Intervall dieser Ände rung. Da sich das Intervall abhängig von der Dicke des Sub strats ändert, kann der Beurteilungsabschnitt die Dicke des Substrats auf Grundlage des so erfaßten Intervalls beurtei len.

Daher kann das erfindungsgemäße optische Plattenlaufwerk, abweichend vom herkömmlichen optischen Plattenlaufwerk, die Dicke des Substrats unter alleiniger Verwendung des opti schen Aufnehmers, also unter Weglassen anderer Lesemechanis men, wie eines Reflexionssensors, und ohne Hinzufügen von Information mit Daten zur Dicke des Substrats oder derglei chen zur optischen Platte oder deren Kassette auf zuverläs sige Weise beurteilen. Außerdem kann das erfindungsgemäße optische Plattenlaufwerk die Dicke des Substrats beurteilen, bevor auf der optischen Platte aufgezeichnete Information von dieser abgespielt wird.

Demgemäß korrigiert das erfindungsgemäße optische Platten laufwerk Abberationseffekte, wie sie durch eine Differenz der Substratdicken erzeugt wird, und zwar auf Grundlage des obigen Beurteilungsergebnisses, was es ermöglicht, Informa tion von optischen Platten mit Substraten verschiedener Di cken abzuspielen.

Es ist eine zweite Aufgabe der Erfindung, ein optisches Plattenlaufwerk zu schaffen, das die Anzahl der auf einer optischen Platte vorhandenen Aufzeichnungsschichten unter Verwendung eines von einem Photodetektor, der zum Erfassen der von einem Halbleiterlaser emittierten Lichtmenge dient, erzeugten Signals erkennen kann.

Diese Aufgabe ist durch das optische Plattenlaufwerk gemäß dem beigefügten Anspruch 24 gelöst.

Gemäß dieser Anordnung wird die Lichtkonvergiereinrichtung auf solche Weise durch die Verstelleinrichtung verstellt, daß der Brennpunkt des Laserstrahls entlang der Dickenrich tung der optischen Platte verstellt wird, um den Brennpunkt auf die Aufzeichnungsschicht zu bringen. Es ist bevorzugt, das optische Plattenlaufwerk auf solche Weise auszubilden, daß der Brennpunkt in einen Bereich läuft, der sowohl die Substratfläche als auch die mindestens eine Aufzeichnungs schicht überdeckt.

Wenn der Brennpunkt des Laserstrahls die Aufzeichnungs schicht erreicht, steigt der Pegel des Ausgangssignals des Photodetektors an, da Licht zum Halbleiterlaser zurückge führt wird. Die Erfassungseinrichtung erfaßt das Ansteigen einer Signalverlaufsform auf das Pegelansteigen hin. Da der Signalverlauf abrupt ansteigt, zeigen Änderungen des Signal verlaufs keine Wechselwirkung, und zwar selbst dann, wenn der Abstand zwischen den Aufzeichnungsschichten klein ist. Auch kann, da die Anzahl der Anstiege in den Signalverläufen abhängig von der Anzahl der Aufzeichnungsschichten variiert, die Beurteilungseinrichtung die Anzahl der Aufzeichnungs schichten auf zuverlässige Weise beurteilen.

Demgemäß kann das optische Plattenlaufwerk dieser Variante Information von optischen Platten mit verschiedenen Anzahlen optischer Aufzeichnungsschichten dadurch abspielen, daß mit der Fokusregelung auf der Zielaufzeichnungsschicht begonnen wird oder die Schaltkreisverstärkung abhängig von der Anzahl der Aufzeichnungsschichten, auf Grundlage des obigen Beur teilungsergebnisses, umgeschaltet wird.

Für ein vollständigeres Verständnis der Art und der Vorteile der Erfindung ist auf die folgende detaillierte Beschreibung in Verbindung mit den beigefügten Zeichnungen Bezug zu neh men.

Fig. 1 ist eine Ansicht, die den Aufbau eines optischen Plattenlaufwerks gemäß einem Ausführungsbeispiel 1 der Er findung zeigt;

Fig. 2(a) ist eine Ansicht zum Erläutern von Fokussierposi tionen eines Laserstrahls;

Fig. 2(b) ist eine Ansicht, die den Signalverlauf des Aus gangssignals eines D/A-Umsetzers unter Bezugnahme auf Fig. 2(a) veranschaulicht;

Fig. 2(c) ist eine Ansicht, die den Signalverlauf eines Fo kusabweichungssignals unter Bezugnahme auf Fig. 2(a) veran schaulicht;

Fig. 2(d) ist eine Ansicht, die den Signalverlauf des Aus gangssignals eines Komparators unter Bezugnahme auf Fig. 2 (a) veranschaulicht;

Fig. 3 ist ein Flußdiagramm, das detailliert den Zeitmeßbetrieb durch eine MPU beim obigen optischen Plattenlaufwerk zeigt;

Fig. 4 ist ein Flußdiagramm, das detailliert den Pegeler kennungsbetrieb einer MPU in einem optischen Plattenlaufwerk gemäß dem Ausführungsbeispiel 2 der Erfindung zeigt;

Fig. 5 ist eine Ansicht, die den Aufbau eines optischen Plattenlaufwerks gemäß dem Ausführungsbeispiel 3 der Erfin dung zeigt;

Fig. 6 ist eine Ansicht, die Signalverläufe eines Fokusab weichungssignals, eines Laserleistungs-Erkennungssignals und des Ausgangssignals eines Komparators beim obigen optischen Plattenlaufwerk zeigt;

Fig. 7(a) ist eine Ansicht, die Signalverläufe eines Laser leistungs-Erkennungssignals und des Ausgangssignals eines Komparators für den Fall zeigt, daß eine optische Platte mit einer einzelnen Aufzeichnungsschicht in ein optisches Plattenlaufwerk gemäß dem Ausführungsbeispiel 4 der Erfin dung eingesetzt ist;

Fig. 7(b) ist eine Ansicht, die Signalverläufe des Laser leistungs-Erkennungssignals und des Ausgangssignals des Kom parators zeigt, wenn eine optische Platte mit Doppelauf zeichnungsschicht in das obige optische Plattenlaufwerk ein gesetzt ist;

Fig. 8 ist ein Flußdiagramm, das detailliert einen Vorgang zum Erkennen der Anzahl von Aufzeichnungsschichten durch eine MPU beim obigen optischen Plattenlaufwerk zeigt; und

Fig. 9 ist eine Ansicht, die Signalverläufe eines Fokusab weichungssignals und des Ausgangssignals eines Komparators zeigt, wenn eine optische Platte mit Doppelaufzeichnungs schicht in ein herkömmliches optisches Plattenlaufwerk ein gesetzt ist.

Ausführungsbeispiel 1

Die folgende Beschreibung erläutert das Ausführungsbeispiel 1 der Erfindung.

Wie es in Fig. 1 dargestellt ist, umfaßt das optische Plat tenlaufwerk dieses Ausführungsbeispiel einen optischen Auf nehmer 1 zum Aufzeichnen/Abspielen von Information auf/von einer optischen Platte 20 durch Aufstrahlen eines Laser strahls P auf dieselbe.

Der optische Aufnehmer 1 umfaßt einen Halbleiterlaser 2 zum Emittieren des Laserstrahls P, eine Kollimatorlinse 3 zum Konvertieren des Laserstrahls P vom Halbleiterlaser 2 zu parallelen Strahlen, einen Strahlteiler 4, der die paralle len Strahlen hindurchlassen kann, und eine Objektivlinse 5, die als Lichtkonvergiereinrichtung zum Konvergieren der par allelen Strahlen als Laserfleck auf die optische Platte 20 dient.

Der optische Aufnehmer 1 umfaßt ein optisches System zur Regelungssignalerfassung zum Ausführen von Fokusregelung, und es umfaßt den Strahlteiler 4 zum Reflektieren eines an der optischen Platte 20 reflektierten Strahls P′ zu einer zweiteiligen Photodiode 8, die weiter unten beschrieben wird, eine Konvergenzlinse 6 zum Konvergieren des reflek tierten Lichts P′, eine Zylinderlinse 7 zum Erzeugen von Abberation im reflektierten Licht P′, die zweiteilige Photo diode (Photodetektor zur Regelungssignalerfassung) 8 sowie einen Differenzverstärker 9 zum Erzeugen eines Fokusabwei chungssignals FES, durch Subtrahieren der Signale der zwei teiligen Photodiode 8 voneinander. Es ist zu beachten, daß der Differenzverstärker 9 beim vorliegenden Ausführungsbei spiel im optischen Aufnehmer 1 angebracht ist; jedoch kann er außerhalb des optischen Aufnehmers 1 liegen.

Das vorliegende optische Plattenlaufwerk umfaßt ferner eine Phasenkompensationsschaltung 12, die als Phasenkompensati onseinrichtung zum Kompensieren der Phase des Fokusabwei chungssignals FES dient, und einen Leistungsverstärker 14. Ein Fokussierstellglied 10, das als Antriebseinrichtung dient, ist mit dem Leistungsverstärker 14 verbunden, um die Objektivlinse 5 so zu regeln, daß der Brennpunkt Z des durch diese Objektivlinse 5 emittierten Laserstrahls P auf einer Aufzeichnungsschicht 22 der optischen Platte 20 liegt. Kurz gesagt, wird Fokusregelung dadurch ausgeführt, daß das Fokusabweichungssignal FES durch die Phasenkompensations schaltung 12 und den Leistungsverstärker 14 an das Fokus sierstellglied 10 zurückgekoppelt wird.

Bevor die Fokusregelung gestartet wird, wird eine Fokussuche dadurch ausgeführt, daß die Objektivlinse 5 so verstellt wird, daß der Brennpunkt Z des Laserstrahls P auf die Auf zeichnungsschicht 22 geführt wird. Dies, da der Dynamikbe reich des Fokusabweichungssignals FES den kleinen Wert von einigen zehn Mikrometern hat, weswegen die Objektivlinse 5 zwangsweise so verstellt werden muß, daß die Aufzeich nungsschicht 22 innerhalb der Brenntiefe der Objektivlinse 5 liegt. Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel wird die Dicke eines Substrats 21 der optischen Platte 20 unter Verwendung dieser Fokussuche überprüft.

Daher umfaßt das optische Plattenlaufwerk zum Ausführen der Fokussuche ferner eine Schaltstufe 13, die als Schaltein richtung dient, einen D/A(Digital/Analog)-Umsetzer 15, der als D/A-Umsetzeinrichtung dient, eine MPU (Mikroprozessor) 16, die als Steuerung dient, und einen Komparator 17, der als Vergleichseinrichtung dient, zusätzlich zum Leistungs verstärker 14 und zum Fokussierstellglied 10.

Die Schaltstufe 13 ist ein Umschalter zum Verbinden des Leistungsverstärker 14 entweder mit der Phasenkompensations schaltung 12 oder dem D/A-Umsetzer 15. Genauer gesagt, ist der Anschluß B der Schaltstufe 13 mit der Phasenkompensa tionsschaltung 12 verbunden, während der Anschluß A dersel ben mit dem D/A-Umsetzer 15 verbunden ist. Diese Schaltstufe 13 wird während der Fokussuche mit dem Anschluß A verbun den, und Fokusregelung wird gestartet, wenn der Verbindungs punkt der Schaltstufe 13 auf ein Steuersignal F_on von einer nicht dargestellten Fokuseinfang-Steuerschaltung vom An schluß A auf den Anschluß B umgeschaltet wird.

Der D/A-Umsetzer 15 gibt auf Grundlage eines digitalen Ein gangssignals D_in, das als Verstellsignal dient und von der MPU 16 erzeugt wird, ein analoges Ausgangssignal DA_out aus.

Die MPU 16 stellt den Wert für das Ausgangssignal DA_out ein. Genauer gesagt, wird der minimale Ausgangswert DA_min des Ausgangssignals DA_out auf einen solchen Wert eingestellt, durch den der Brennpunkt Z des durch die Objektivlinse 5 emittierten Laserstrahls P unter der optischen Platte 20 po sitioniert wird. Andererseits ist der maximale Ausgangswert DA_max des Ausgangssignals DA_out auf einen Wert eingestellt, der verhindert, daß die Objektivlinse 5 und die optische Platte 20 einander berühren.

Die MPU 16 mißt auch das Zeitintervall zwischen Änderungen im Signalverlauf des vom Komparator 17 ausgegebenen digita len Signals CP_out, wenn der Brennpunkt Z des durch die Ob jektivlinse 5 hindurchgestrahlten Laserstrahls P über die Oberfläche des Substrats 21 (nachfolgend als Substratfläche 21s bezeichnet) der optischen Platte 20 bzw. die Aufzeich nungsschicht 22 läuft.

Der positive Anschluß des Komparators 17 empfängt das vom Differenzverstärker 9 ausgegebene Fokusabweichungssignal FES, während dem negativen Anschluß desselben eine Schwel lenspannung V_ref auferlegt wird, die hier als Bezugsspannung verwendet wird. Dann vergleicht der Komparator 17 die Schwellenspannung V_ref während der Fokussuche mit dem Fokus abweichungssignal FES, und er erkennt eine Änderung des Si gnalverlaufs im Fokusabweichungssignal FES als digitales Si gnal CP_out, um das Erkennungsergebnis an die MPU 16 auszuge ben. Dieses digitale Signal CP_out wechselt auf den hohen Pe gel (nachfolgend als Pegel H bezeichnet), wenn das Fokusab weichungssignal FES größer als die Schwellenspannung V_ref ist, und es wechselt andererseits auf den niedrigen Pegel (nachfolgend als Pegel L bezeichnet).

Es ist zu beachten, daß in den Ansprüchen 1, 10, 15 und 24 die Verstelleinrichtung aus dem Fokussierstellglied 10, der Schaltstufe 13, dem Leistungsverstärker 14, dem D/A-Umsetzer 15 und der als Verstellsignal-Erzeugungseinrichtung dienen den MPU 16 besteht; daß die Erfassungseinrichtung aus der zweiteiligen Photodiode 8 und dem Differenzverstärker 9 be steht und daß die Beurteilungseinrichtung der MPU 16 ent spricht.

Gemäß der obigen Anordnung ändert die MPU 16 das Ausgangs signal DA_out vom D/A-Umsetzer 15 allmählich, und sie ver stellt die Objektivlinse 5 mittels der Schaltstufe 13, des Leistungsverstärkers 14 und des Fokussierstellglieds 10, um die Fokussuche auszuführen.

Die Fokussuche ist in den Fig. 2(a) bis 2(d) veranschau licht, in denen auf der Abszisse die Zeit aufgetragen ist. Fig. 2(a) veranschaulicht die Positionen der Objektivlinse 5 und der optischen Platte 20 in bezug zueinander, und Fig. 2(b) veranschaulicht den Signalverlauf des Ausgangssignals DA_out des D/A-Umsetzers 15. Fig. 2(c) veranschaulicht den Signalverlauf des Fokusabweichungssignals FES, und Fig. 2(d) veranschaulicht den Signalverlauf des vom Komparator 17 aus gegebenen digitalen Signals CP_out. In diesen Zeichnungen ist die Aufzeichnungsschicht 22 durch Aufzeichnungsschichten 22a und 22b gekennzeichnet, wenn das Substrat 21 1,2 mm bzw. 0,6 mm dick ist.

Zunächst wird der Fall beschrieben, daß das Substrat 21 die Dicke L_a = 1,2 mm aufweist.

Es sei angenommen, daß die Fokussuche zu einem Zeitpunkt t₁ startet; dann wird vom D/A-Umsetzer 15 das Ausgangssignal DA_out der minimale Ausgangswert DA_min ausgegeben. Der Si gnalverlauf des Fokusabweichungssignals FES ändert sich an diesem Punkt nicht, da es außerhalb des Dynamikbereichs liegt.

Das Ausgangssignal DA_out wird durch die MPU 16 allmählich erhöht, und der Brennpunkt Z des Laserstrahls P erreicht zu einem Zeitpunkt t₂ die Substratfläche 21s. Im Fokusabwei chungssignal FES erscheint auf Grundlage des von der Sub stratfläche 21s reflektierten Lichts ein S-förmiger Signal verlauf, der an der Fokussierposition 0 V zeigt. Wenn das Fokusabweichungssignal FES die Schwellenspannung V_ref über steigt, wird ein Impuls des vom Komparator 17 ausgegebenen digitalen Signals CP_out erfaßt.

Zu einem Zeitpunkt t₃ ändert sich der Signalverlauf des Fo kusabweichungssignals FES nicht, da der Brennpunkt Z inner halb des Substrats 21 liegt.

Zu einem Zeitpunkt t₄ erreicht der Brennpunkt Z die Auf zeichnungsschicht 22a. Im Fokusabweichungssignal FES er scheint auf Grundlage des an der Aufzeichnungsschicht 22a reflektierten Lichts ein S-förmiger Signalverlauf mit der Spannung 0 V an der Fokussierposition. Da an der Aufzeich nungsschicht 22a eine größere Lichtmenge als an der Sub stratfläche 21s reflektiert wird, ist die Spitzenspannung der Änderung des Signalverlaufs des Fokusabweichungssignals FES zum Zeitpunkt t₄ höher als die Spitzenspannung des Fo kusabweichungssignals FES zum Zeitpunkt t₂. Zum Zeitpunkt t₂ wird, wenn das Fokusabweichungssignal FES die Schwellenspan nung V_ref übersteigt, ein Impuls des vom Komparator 17 aus gegebenen digitalen Signals CP_out erfaßt.

Zu einem Zeitpunkt t₅ wird der Laserstrahl P an einem nicht veranschaulichten Reflexionsfilm reflektiert, der auf der anderen Seite des Substrats 21 als die Aufzeichnungsschicht 22a angeordnet ist. Da der Brennpunkt Z des reflektierten Lichts zu diesem Zeitpunkt innerhalb des Substrats 21 liegt, ändert sich der Signalverlauf des Fokusabweichungssignals FES nicht.

Anschließend wird das Ausgangssignal DA_out bis auf den maxi malen Ausgangswert DA_max erhöht, um die Fokussuche zu been den.

Nachfolgend wird der Fall beschrieben, daß das Substrat 21 die Dicke L_b = 0,6 mm aufweist.

Zum Zeitpunkt t₁ ändert sich der Signalverlauf des Fokusab weichungssignals FES aus demselben Grund nicht, wie er für den obigen Fall (L_a = 1,2 mm) erläutert wurde. Auch er scheint zum Zeitpunkt t₂ im Fokusabweichungssignals FES auf Grundlage des an der Substratfläche 21s reflektierten Lichts auf dieselbe Weise wie oben (L_a = 1,2 mm) ein S-förmiger Signalverlauf. Zum Zeitpunkt t₃ liegt, da das Substrat 21 die Dicke L_b = 0,6 mm aufweist, die Aufzeichnungsschicht 22b in der Fokussierposition, wie es durch gestrichelte Linien in Fig. 2(a) gekennzeichnet ist. Demgemäß erscheint an die sem Punkt im Fokusabweichungssignal FES ein S-förmiger Si gnalverlauf, wie es durch die gestrichelte Linie in Fig. 2(c) gekennzeichnet ist. Wenn das Fokusabweichungssignal FES die Schwellenspannung V_ref übersteigt, wird ein Impuls des vom Komparator 17 ausgegebenen digitalen Signals CP_out er faßt, wie es durch eine gestrichelte Linie in Fig. 2(d) ge kennzeichnet ist. Zu den Zeitpunkten t₄ und t₅ändert sich der Signalverlauf des Fokusabweichungssignals FES nicht, da der Brennpunkt Z des Laserstrahls P innerhalb des Substrats 21 liegt.

Wie erläutert, erscheinen die S-förmigen Signalverläufe im Fokusabweichungssignal FES abhängig von der Dicke des Sub strats 21 mit verschiedenen Intervallen. So kann die Dicke des Substrats 21 während der Fokussuche dadurch beurteilt werden, daß das Zeitintervall zwischen dem ersten und dem zweiten vom Komparator 17 ausgegebenen Impuls gemessen wird, wenn der Brennpunkt Z des durch die Objektivlinse 5 hin durchgestrahlten Laserstrahls P durch die Substratoberfläche 21s bzw. die Aufzeichnungsschicht 22 läuft, was mittels der MPU 16 erfolgt.

Es ist zu beachten, daß die Fokussuche zum Beurteilen der Dicke des Substrats 21 gesondert vom Starten der Fokusrege lung ausgeführt wird. Als erstes wird die Fokussuche ausge führt, bis der Brennpunkt Z des Laserstrahls P durch die Aufzeichnungsschicht 22 läuft, so daß die Dicke des Sub strats 21 auf die obige Weise beurteilt wird. Dann wird die Abberation auf Grundlage der so verteilten Dicke korrigiert, wonach ein Vorgang zum Starten der Fokusregelung ausgeführt wird. Anders gesagt, wird die Fokusregelung dadurch gestar tet, daß der Verbindungspunkt der Schaltstufe 13 auf das Steuersignal F_on von der Fokuseinfang-Steuerschaltung vom Anschluß A auf den Anschluß B geschaltet wird, wenn der Brennpunkt Z des Laserstrahls P die Aufzeichnungsschicht 22 erreicht.

Nachfolgend wird unter Bezugnahme auf das Flußdiagramm von Fig. 3 ein von der MPU 16 ausgeführter Zeitmeßvorgang er läutert. Wenn die Fokussuche einmal gestartet ist, wird eine Zeitmeßvariable T in der MPU 16 auf Null gesetzt (S1), und in der Zwischenzeit steigt das Ausgangssignal DA_out des D/A-Umsetzers 15 allmählich vom minimalen Ausgangswert DA_min an. Es ist zu beachten, daß der D/A-Umsetzer 15 auf solche Wei se ausgebildet ist, daß eine Variable D der Eingangsdaten desselben, die das Eingangssignal D_in bestimmt, zeitlich in einzelnen Schritten ansteigt (wenn sich die Objektivlinse 5 bewegt).

Als nächstes wird beurteilt, ob das vom Komparator 17 ausge gebene digitale Signal CP_out den Pegel H aufweist oder nicht (S2). Wenn in S2 ein L-H-Übergang im digitalen Signal CP_out erkannt wurde, wird untersucht, ob in diesem anschließend ein H-L-Pegelübergang auftritt (S3). Wenn ein H-L-Pegelüber gang erkannt wird, geht die MPU 16 zu S4 weiter. Kurz ge sagt, wird in S2 und S3 die fallende Flanke des ersten Im pulses dadurch erkannt, daß ein H-L-Pegelübergang des digi talen Signals CP_out folgend auf einen L-H-Pegelübergang des selben erfaßt wird.

Anschließend wird die Variable T um jeweils einen Schritt erhöht, bis das digitale Signal CP_out erneut auf den Pegel H wechselt (S4). Wenn das digitale Signal CP_out auf den Pegel H gewechselt hat (S5), wird die Variable T weiter um jeweils einen Schritt erhöht, bis das digitale Signal CP_out erneut auf den Pegel L wechselt (S6 und S7). Kurz gesagt, wird in den Schritten S4 bis S7 das Zeitintervall zwischen der fal lenden Flanke des ersten Impulses und der fallenden Flanke des zweiten Impulses durch Erhöhen der Variablen T bis zum Erreichen des zweiten Impulses gemessen. Z. B. hat die Va riable T den Wert T_a, wenn L_a = 1,2 mm gilt, und sie hat den Wert T_b, wenn L_b = 0,6 mm gilt (siehe Fig. 2(d)).

Als nächstes wird der Wert der jüngsten Variablen T mit einem vorbestimmten Bezugswert T_ref oder einer Bezugszeit verglichen (S8). Wenn der erstere in S8 größer als der letz tere ist, wird beurteilt, daß das Substrat 21 eine Dicke von 1,2 mm aufweist (S9). Andererseits wird beurteilt, daß das Substrat 21 eine Dicke von 0,6 mm aufweist, wenn der erstere kleiner als der letztere ist (S10). Der hier verwen dete Bezugswert T_ref ist der Mittelwert der Standardvariab len T_a für ein 1,2 mm dickes Substrat 21 und der Standard variablen T_b für ein 0,6 mm dickes Substrat 21.

Wie erläutert, kann das optische Plattenlaufwerk des vorlie genden Ausführungsbeispiels, da es Ausgangssignale der zwei teiligen Photodiode 8 zur Regelungssignalerkennung verwen det, die Dicke des Substrats 21 beurteilen, ohne daß es zu sätzliche Komponenten wie einen Sensor enthält. Darüber hin aus ist es nicht erforderlich, die Dicke des Substrats 21 kennzeichnende Information zur optischen Platte 20 oder de ren Kassette hinzuzufügen. Ferner kann das optische Platten laufwerk des vorliegenden Ausführungsbeispiels die Dicke des Substrats 21 beurteilen, bevor es die aufgezeichnete Infor mation von der optischen Platte 20 abspielt.

Wenn beim vorstehenden Verfahren die Oberfläche der opti schen Platte 20 während ihrer Drehung schwingt, kann die Di cke unter Umständen nicht direkt erfaßt werden. Jedoch kann dieses Problem dadurch beseitigt werden, daß die Dicke er faßt wird, bevor die optische Platte gedreht wird, oder daß die Innenseite der optischen Platte verwendet wird, an der die Schwingung gering ist.

Beim vorliegenden Beispiel wird die Zeit unter Verwendung der MPU 16 mittels eines Softwareprogramms gemessen. Jedoch kann dies auch unter Verwendung von Hardware erfolgen, wie mittels einer Impulszählschaltung.

Ausführungsbeispiel 2

Unter Bezugnahme auf die Fig. 2(b) und 4 erörtert die fol gende Beschreibung das Ausführungsbeispiel 2 der Erfindung. Nachfolgend sind gleiche Komponenten wie beim Ausführungs beispiel 1 mit denselben Bezugszahlen gekennzeichnet, und zum Vereinfachen der Erläuterung wird die Beschreibung die ser Komponenten nicht wiederholt.

Das optische Plattenlaufwerk des vorliegenden Ausführungs beispiels ist mit dem des Ausführungsbeispiels 1 mit der Ausnahme identisch, daß die MPU 16 den Pegel eines Objek tivlinse-Treibersignals auf Grundlage des vom Komparator 17 ausgegebenen digitalen Signals CP_out erfaßt, anstatt das Zeitintervall zwischen Änderungen im Signalverlauf des digi talen Signals CPU_out als solchem zu messen.

Das Eingangssignal D_in für den D/A-Umsetzer 15 wird als Ob jektivlinse-Treibersignal verwendet. Da das Eingangssignal D_in ein Ausgangssignal der MPU 16 ist, kann der Wert dessel ben erkannt werden, ohne irgendwelche Signalerfassungshard ware zu verwenden.

Nun wird unter Bezugnahme auf das Flußdiagramm von Fig. 4 der von der MPU 16 ausgeführte Pegelerfassungsvorgang erläu tert.

Zunächst wird die Variable D der Eingangsdaten des D/A-Um setzers 15, die das Eingangssignal D_in bestimmt, auf eine Untergrenze von 0 eingestellt (S11). Dann gibt die MPU 16 den obigen Wert 0 der Variablen D an den D/A-Umsetzer 15 (S12).

Anschließend wird beurteilt, ob das vom Komparator 17 ausge gebene digitale Signal CP_out den Pegel H aufweist oder ob dies nicht der Fall ist (S13). Wenn das digitale Signal CP_out den Pegel L hat, wird der Wert der Variablen D um Eins erhöht (S14), und die aktualisierte Variable D wird an den D/A-Umsetzer 15 gegeben (S15). Andererseits wird, wenn er kannt wurde, daß das digitale Signal CP_out den Pegel H hat, beurteilt, ob es anschließend wieder auf den Pegel L gewech selt hat oder nicht. Wenn das digitale Signal CP_out in S16 auf dem Pegel H verblieben ist, wird der Wert der Variablen D erneut um Eins erhöht (S17), und die aktualisierte Variab le D wird an den D/A-Umsetzer 15 gegeben (S18). Kurz gesagt, wird in S13 bis S18 der Wert der Variablen D (der Einstell wert für den D/A-Umsetzer 15) jeweils um einen Schritt er höht, bis der erste Impuls erfaßt wird, so daß die Objek tivlinse 5 an die optische Platte 20 angenähert wird. Die fallende Flanke des ersten Impulses wird dadurch erfaßt, daß der H-L-Pegelübergang des digitalen Signals CP_out er kannt wird, der auf den L-H-Pegelübergang desselben folgt.

Der Wert der Variablen D zum Zeitpunkt, zu dem der erste Im puls erfaßt wird, wird als Variable D₁ abgespeichert (S19). Anschließend wird der Wert der Variablen D (Einstellwert für den D/A-Umsetzer 15) um jeweils einen Schritt erhöht, bis der zweite Impuls auf dieselbe Weise wie in S13 bis S18 er faßt wird (S20 bis S25), so daß die Objektivlinse 5 an die optische Platte 20 angenähert wird. Die fallende Flanke des zweiten Impulses wird dadurch erfaßt, daß ein H-L-Pegel übergang des digitalen Signals CP_out folgend auf einen L-H-Pegelübergang desselben erfaßt wird.

Der Wert der Variablen D zum Zeitpunkt, zu dem der zweite Impuls erfaßt wird, wird als Variable D₂abgespeichert (S26). Anschließend wird die Differenz zwischen den Variab len D₁ und D₂ als Variable D_2-1 abgespeichert (S27). Anders gesagt, repräsentiert der Wert der Variablen D_2-1 die Diffe renz zwischen den Pegeln des Objektivlinse-Treibersignals, wenn die fallende Flanke des ersten Impulses erfaßt wird und wenn die fallende Flanke des zweiten Impulses erfaßt wird. Wenn z. B. L_a = 1,2 mm ist, hat die Variable D_2-1 den Wert D_a, und wenn L_b = 0,6 mm gilt, hat die Variable D_2-1 den Wert D_b (siehe Fig. 2(b).

Wenn die Variable D_2-1 größer als ein vorbestimmter Bezugs wert D_ref ist, wird beurteilt, daß die optische Platte 20 ein Substrat 21 mit einer Dicke von 1,2 mm aufweist (S29); andernfalls wird beurteilt, daß die optische Platte 20 ein Substrat 21 mit einer Dicke von 0,6 mm aufweist (S30). Der hier zitierte Bezugswert D_ref ist der Mittelwert aus einer Standardvariablen D_a für eine optische Platte 20 mit einem Substrat 21 von 1,2 mm Dicke und einer Standardvariablen D_b für eine optische Platte mit einem Substrat 21 von 0,6 mm Dicke.

Wie erläutert, kann das optische Plattenlaufwerk des vorlie genden Ausführungsbeispiels die Dicke des Substrats 21 da durch erkennen, daß es die Pegeldifferenz zwischen dem Ob jektivlinse-Treibersignal, wenn der erste Impuls vom Kompa rator 17 ausgegeben wird, und dem, wenn der zweite Impuls von ihm ausgegeben wird, erfaßt, was zu den Momenten er folgt, zu denen der Brennpunkt des durch die Objektivlinse 5 hindurchgestrahlten Laserstrahls P durch die Substratfläche 21s bzw. die Aufzeichnungsschicht 22 läuft.

Die Pegelerfassung wird beim vorliegenden Ausführungsbei spiel durch ein Softwareprogramm unter Verwendung der MPU 16 ausgeführt, jedoch kann sie auch unter Verwendung einer nie derfrequenten Schwingschaltung zur Fokussuche erfolgen.

Alternativ kann statt dem Pegel des Objektivlinse-Treiber signals das Ausgangssignal der obigen niederfrequenten Schwingschaltung oder der Ausgangsstrom des Leistungsver stärkers 14 erfaßt werden. Jedoch ist die Verwendung eines Softwareprogramms, wie beim vorliegenden Ausführungsbei spiel, dahingehend von Vorteil, daß das optische Platten laufwerk weniger Komponenten aufweisen kann.

Bei den Ausführungsbeispielen 1 und 2 ist das Fokusabwei chungssignal FES verwendet, das tatsächlich das Differenzsignal der Ausgangssignale der zweiteiligen Photodiode 8 ist; jedoch kann statt dessen das Summensignal der Ausgangssigna le der zweiteiligen Photodiode 8 verwendet werden. In diesem Fall erscheint nicht ein S-förmiger Signalverlauf im Gesamt signal, wenn der Brennpunkt Z die Substratoberfläche 21s bzw. die Aufzeichnungsschicht 22 erreicht, sondern ein Si gnalverlauf, der proportional zur Menge des reflektierten Lichts ist.

Alternativ kann statt des Ausgangssignals der zweiteiligen Photodiode 8 zur Regelsignalerfassung das Ausgangssignal einer Photodiode zur Spurabweichungssignalerfassung oder das Ausgangssignal einer Photodiode zur Informationswiedergabe verwendet werden.

Ausführungsbeispiel 3

Unter Bezugnahme auf die Fig. 5 und 6 erörtert die folgende Beschreibung das Ausführungsbeispiel 3 der Erfindung. Nach folgend sind gleiche Komponenten wie in den Ausführungsbei spielen 1 und 2 mit denselben Bezugszahlen gekennzeichnet, und zum Vereinfachen der Erläuterung wird die Beschreibung dieser Komponenten nicht wiederholt.

Das optische Plattenlaufwerk des vorliegenden Ausführungs beispiels erfaßt die Dicke des Substrats einer optischen Platte unter Verwendung des Ausgangssignals eines Photode tektors zum Erfassen der Leistung des Halbleiterlasers. Wie es in Fig. 5 dargestellt ist, enthält das Plattenlaufwerk des vorliegenden Ausführungsbeispiels im Vergleich mit dem des Ausführungsbeispiels 1 zusätzlich einen Photodetektor 11 zum Erfassen der Menge des vom Halbleiterlaser 2 emittierten Lichts sowie eine APC(Automatic Power Control = automatische Leistungsregelung)-Schaltung 18.

Der Photodetektor 11 erfaßt den vom Halbleiterlaser 2 emit tierten Laserstrahl P als Laserleistung-Erfassungssignal M_p. Die APC-Schaltung 18 führt einen sogenannten APC-Vorgang aus, d. h. einen Vorgang auf Grundlage des Laserleistungs-Erfassungssignals M_p, um den Halbleiterlaser 2 zu regeln, dessen Eingangs/Ausgangs-Charakteristik leicht abhängig von der Temperatur variiert, damit er konstante Lichtmenge emit tiert. Das Laserleistungs-Erfassungssignal M_p wird auch am positiven Anschluß des Komparators 17 eingegeben.

Gemäß der vor stehend genannten Anordnung wird der APC-Vor gang auf die folgende Weise ausgeführt. Zunächst wird der vom Halbleiterlaser 2 emittierte Laserstrahl P teilweise durch den Strahlteiler 4 reflektiert und durch den Photode tektor 11 überwacht. Dann wird das Laserleistungs-Erfas sungssignal M_p vom Photodetektor 11 über die APC-Schaltung 18 an den Halbleiterlaser 2 zurückgeführt.

Andererseits steigt, wie es in Fig. 6 dargestellt ist, das Laserleistungs-Erfassungssignal M_p steil an, wenn der Brenn punkt Z des durch die Objektivlinse 5 hindurchgestrahlten Laserstrahls P während der Fokussuche durch die Substratflä che 21s bzw. die Aufzeichnungsschicht 22 hindurchläuft.

Dieser Effekt, d. h. derjenige, daß das Laserleistungs-Er fassungssignal M_p um die Fokussierposition herum steil an steigt, ist als Bindungsresonanzeffekt (Schubeffekt) zu ver stehen, bei dem ein Teil des an der optischen Platte 20 re flektierten Lichts an den Halbleiterlaser 2 zurückgekoppelt wird, was bedeutet, daß die optische Platte 20 als externer Spiegel eines Halbleiterlaseroszillators wirkt, wozu sich eine Erläuterung "Introduction for Video Disk and DAD", Co rona Co. Ltd. findet. In der Zeichnung ist der Pegel VAPC derjenige, bei dem die Menge des vom Halbleiterlaser 2 emit tierten Lichts durch den APC-Vorgang auf einem bestimmten Pegel gehalten wird.

Das Laserleistungs-Erfassungssignal M_p wird in den Kompara tor 17 eingegeben, und mit einer vorbestimmten Schwellen spannung V_ref oder der Bezugsspannung verglichen. Anderer seits ist das digitale Signal CP_out, das auf den Pegel H wechselt, wenn das Laserleistungs-Erfassungssignal M_p größer als die Schwellenspannung V_ref ist, aber andernfalls auf den Pegel L wechselt, an die MPU 16 ausgegeben.

Die MPU 16 mißt das Zeitintervall zwischen dem vom Kompara tor 17 ausgegebenen ersten Impuls und dem zweiten Impuls, wie sie auftreten, wenn der Brennpunkt Z des durch die Ob jektivlinse 5 gestrahlten Laserstrahls während der Fokussu che durch die Substratfläche 21s bzw. die Aufzeichnungs schicht 22 hindurchläuft, auf dieselbe Weise wie beim Aus führungsbeispiel 1. Demgemäß kann die Dicke des Substrats 21 auf dieselbe Weise wie beim Ausführungsbeispiel 1 erfaßt werden.

Die Menge des vom Halbleiterlaser 2 emittierten Lichts steigt um die Fokussierposition herum selbst dann an, wenn er so geregelt wird, daß er mittels des APC-Vorgangs auf einem bestimmten Pegel bleiben soll. Dies, da der APC-Vor gang darauf hinzielt, die Temperaturabhängigkeit des Halb leiterlasers 2 zu kompensieren und daher die Ansprechrate beim APC-Vorgang auf einen niedrigen Pegel festgelegt ist. So ist es natürlich, daß der APC-Vorgang keinen plötzlichen Anstieg der Halbleiterlaserleistung verhindern kann, wenn der Brennpunkt Z während der Fokussuche durch die Fokussier position läuft. Wenn ein Ansteigen der Leistung des Halblei terlasers während der Fokussuche durch Beschleunigen des APC-Vorgangs verhindert wird, variiert das Halbleiterlaser-Regelsignal in der APC-Schaltung 18. So kann dieses Halblei terlaser-Regelsignal dazu verwendet werden, die Dicke des Substrats 21 zu erfassen.

Bei den Ausführungsbeispielen 1 bis 3 enthält die optische Platte 20 ein Substrat 21 von entweder 1,2 mm oder 0,6 mm Dicke. Jedoch kann das optische Plattenlaufwerk eines der Ausführungsbeispiele 1 bis 3 auch andere Substratdicken op tischer Platten erkennen.

Wie erläutert, umfaßt jedes der optischen Plattenlaufwerke der Ausführungsbeispiele 1 bis 3 einen optischen Aufnehmer zum Konvergieren des von einem Halbleiterlaser durch eine Objektivlinse emittierten Laserstrahls, wobei unter Verwen dung des optischen Aufnehmers aufgezeichnete Information von der Aufzeichnungsschicht der optischen Platte abgespielt wird.

Der Brennpunkt des durch die Objektivlinse gestrahlten La serstrahls wird in einer Richtung verstellt, die sowohl die Aufzeichnungsschicht als auch die Substratfläche der opti schen Platte umfaßt, also in der Richtung entlang der Dicke der optischen Platte, was durch Verstellen der Objektivlinse erfolgt. Dann wird das Intervall zwischen Änderungen im Si gnalverlauf des vom optischen Aufnehmer ausgegebenen Signals erfaßt, wie sie auftreten, wenn der Brennpunkt des Laser strahls durch die Substratfläche bzw. die Aufzeichnungs schicht läuft.

Anders gesagt, wird der Brennpunkt des Laserstrahls in der Dickenrichtung der optischen Platte verstellt, so daß der Brennpunkt durch die Substratfläche bzw. die Aufzeichnungs schicht läuft. Der Signalverlauf des vom optischen Aufnehmer ausgegebenen Signals ändert sich, wenn der Brennpunkt durch die Substratfläche bzw. die Aufzeichnungsschicht läuft. Da das Intervall zwischen den obigen Änderungen abhängig von der Dicke des Substrats der optischen Platte variiert, er möglicht es ein Erfassen des obigen Intervalls, die Dicke des Substrats zu beurteilen.

Daher können die obigen optischen Plattenlaufwerke, abwei chend von einem herkömmlichen optischen Plattenlaufwerk, die Dicke eines Substrats beurteilen, während kein zusätzlicher Lesemechanismus, wie ein Sensor vom Reflexionstyp, neben dem optischen Aufnehmer, oder zur optischen Platte oder Kassette hinzugefügte Information vorhanden ist. Ferner können die obigen optischen Plattenlaufwerke, die Dicke des Substrats beurteilen, bevor aufgezeichnete Information von einer opti schen Platte abgespielt wird.

Das Intervall zwischen den Änderungen im Signalverlauf kann durch zwei Verfahren erfaßt werden. Beim ersten Verfahren wird das vom optischen Aufnehmer ausgegebene Signal mit einem vorbestimmten Schwellenwert verglichen, um in ein di gitales Signal umgesetzt zu werden, und es wird das Zeitin tervall zwischen den Impulsen gemessen, die der Änderung im Signalverlauf des ursprünglichen Signalverlaufs entsprechen.

Wie bereits erläutert, ändert sich der Signalverlauf des vom optischen Aufnehmer ausgegebenen Signals, wenn der Brenn punkt des Laserstrahls durch die Substratfläche bzw. die Aufzeichnungsschicht läuft. Das ursprüngliche Signal mit einem derartigen variierenden Signalverlauf wird mit der vorbestimmten Schwelle verglichen und in ein digitales Si gnal umgesetzt. Wenn das Zeitintervall zwischen den Impulsen des digitalen Signals gemessen wird, ist die Dicke des Sub strats als zeitliche Funktion wiedergegeben, was es einfach macht, die Dicke des Substrats zu beurteilen. Demgemäß kann, wenn einmal Daten zur Korrelation zwischen der Dicke des Substrats und dem Zeitintervall vorliegen, ein einzelnes op tisches Plattenlaufwerk leicht Information von optischen Platten mit Substraten verschiedener Dicken abspielen.

Beim anderen Erfassungsverfahren wird das vom optischen Auf nehmer ausgegebene Signal mit einer vorbestimmten Schwelle verglichen und in ein digitales Signal umgesetzt, auf dessen Grundlage der Pegel eines Objektivlinse-Treibersignals er faßt wird.

Wie bereits erläutert, ändert sich der Signalverlauf des vom optischen Aufnehmer ausgegebenen Signals, wenn der Brenn punkt des Laserstrahls durch die Substratfläche bzw. die Aufzeichnungsschicht läuft. Das ursprüngliche Signal mit einem derartig variierenden Signalverlauf wird mit dem vor bestimmten Schwellenwert verglichen und in das digitale Si gnal umgesetzt. Wenn der Pegel des Objektivlinse-Treibersi gnals auf Grundlage der Impulse des obigen digitalen Signals erfaßt wird, ist die Dicke des Substrats als Funktion des Signalpegels ausgedrückt, was es einfach macht, die Dicke des Substrats zu beurteilen. So kann, wenn einmal Daten zur Korrelation zwischen der Dicke des Substrats und dem Signal pegel vorliegen, ein einzelnes optisches Plattenlaufwerk auf einfache Weise Information von optischen Platten mit Sub straten verschiedener Dicken abspielen.

Das vom optischen Aufnehmer ausgegebene Signal kann mittels eines Photodetektors zum Erfassen des Regelungssignals er zeugt werden, wie er dazu verwendet wird, den optischen Auf nehmer auf Grundlage der Menge reflektierten Lichts von der optischen Platte zu steuern, oder durch einen Photodetektor zum Erfassen der Leistung des vom Halbleiterlaser emittier ten Laserstrahls, wie zum Regeln des Halbleiterlasers auf konstante Ausgangsleistung verwendet.

Im ersteren Fall steigt der Pegel des Signals vom Photode tektor zur Erfassung des Regelungssignals aufgrund des an der optischen Platte reflektierten Lichts an, wenn der Brennpunkt des Laserstrahls die Substratfläche bzw. die Auf zeichnungsschicht erreicht. Da der Signalverlauf des Signals auf die obige Weise variiert, können die optischen Platten laufwerke der Ausführungsbeispiele 1 bis 3 auf einfache Wei se aufgebaut werden. Im Fall des letzteren steigt der Pegel des Ausgangssignals des Photodetektors zum Erfassen der Leistung des vom Halbleiterlaser emittierten Laserstrahls aufgrund des zum Halbleiterlaser zurückgeführten Lichts an. Da der Signalverlauf dieses Signals auf die obige Weise va riiert, können auch in diesem Fall die optischen Platten laufwerke der Ausführungsbeispiele 1 bis 3 leicht aufgebaut werden.

Ausführungsbeispiel 4

Unter Bezugnahme auf die Fig. 7(a) und 7(b) sowie Fig. 8 er örtert die folgende Beschreibung das Ausführungsbeispiel 4 der Erfindung. Nachfolgend sind gleiche Komponenten wie in den Ausführungsbeispielen 1 bis 3 mit denselben Bezugszahlen gekennzeichnet, und eine Beschreibung dieser Komponenten wird zum Vereinfachen der Erläuterung nicht wiederholt.

Das optische Plattenlaufwerk des vorliegenden Ausführungs beispiels beurteilt, ob eine optische Platte eine einfache oder doppelte Aufzeichnungsschicht 22 aufweist, wozu es das Laserleistungs-Erfassungssignal M_p verwendet, das um die Fo kusposition herum stark ansteigt, wie beim Ausführungsbei spiel 3 erläutert. Eine optische Platte mit doppelter Auf zeichnungsschicht 22, auf die hier Bezug genommen wird, ist eine optische Platte mit einer ersten Aufzeichnungsschicht und einer zweiten Aufzeichnungsschicht, die mit vorbestimm tem Abstand auf dem Substrat 21 liegen.

Das optische Plattenlaufwerk des vorliegenden Ausführungs beispiels ist mit dem des Ausführungsbeispiels 3 mit der Ausnahme identisch, daß die MPU 16 die Anzahl der Impulse zählt, wie sie vom Komparator 17 ausgegeben werden, wenn der Brennpunkt Z des durch die Objektivlinse 7 gestrahlten La serstrahls P durch die Substratfläche 21s, die erste Auf zeichnungsschicht bzw. die zweite Aufzeichnungsschicht läuft.

Fig. 7(a) veranschaulicht Signalverläufe des Laserleistungs-Erfassungssignals M_p und des digitalen Signals CP_out, wenn die optische Platte 20 eine einzelne Aufzeichnungsschicht 22 aufweist, wie es beim Ausführungsbeispiel 3 erläutert ist. Fig. 7(b) veranschaulicht die Signalverläufe des Laserleis tungs-Erfassungssignals M_p und des digitalen Signals CP_out, wenn die optische Platte 20 eine doppelte Aufzeichnungs schicht 22 aufweist. In diesem Fall steigt das Laserleis tungs-Erfassungssignal M_p steil an, wenn der Brennpunkt Z des Laserstrahls P während der Fokussuche durch die erste bzw. zweite Aufzeichnungsschicht läuft. So kann die Anzahl von Schichten innerhalb der Aufzeichnungsschicht 22 dadurch erfaßt werden, daß die Anzahl der Impulse gezählt wird, wie sie im vom Komparator 17 ausgegebenen digitalen Signal CP_out auftreten, wozu die MPU 16 verwendet wird.

Nachfolgend wird unter Bezugnahme auf das Flußdiagramm von Fig. 8 der Impulszahl-Zählvorgang durch die MPU 16 erläu tert.

Zunächst wird eine Variable K zum Zählen der Anzahl von Schichten in der Aufzeichnungsschicht 22 innerhalb der MPU 16 auf Null gesetzt (S31). Dann wird die Variable D des Ein gangsdatenwerts des D/A-Umsetzer 15 auf die Untergrenze 0 gesetzt (S32), und die aktualisierte Variable D wird durch die MPU 16 an den D/A-Umsetzer 15 gegeben (S33).

Anschließend wird beurteilt, ob das vom Komparator 17 ausge gebene digitale Signal CP_out den Pegel H hat oder nicht (S34). Wenn erkannt wird, daß das digitale Signal CP_out den Pegel H hat, wird anschließend überprüft, ob das digitale Signal CP_out auf den Pegel L gewechselt hat oder nicht (S37). Wenn das digitale Signal CP_out in S37 auf dem Pegel H verblieben ist, wird der Wert der Variablen D um Eins er höht (S38), und der aktualisierte Wert wird erneut an den D/A-Umsetzer 15 gegeben (S39). Kurz gesagt, wird in S37 bis S39 dann, wenn der erste Impuls durch Erfassen eines L-H-Pegelübergangs des digitalen Signals CP_out erfaßt ist, der Wert der Variablen D (Einstellwert für den D/A-Umsetzer 15) um Eins erhöht, so daß die Objektivlinse 5 an die optische Platte 30 angenähert wird. Die fallende Flanke des ersten Impulses wird mittels des H-L-Pegelübergangs des digitalen Signals CP_out erfaßt.

Dann wird, nach dem Erfassen des ersten Impulses auf die obige Weise, der Wert 1 zur Variablen K addiert, um die An zahl von Schichten innerhalb der Aufzeichnungsschicht 22 zu zählen (S40). Anschließend wird überprüft, ob die jüngste Variable D den Maximalwert hat oder nicht, anders gesagt, es wird klargestellt, ob die Fokussuche zu Ende ist oder nicht (S41).

Andererseits wird, wenn in S34 erkannt wird, daß das digi tale Signal CP_out nicht den Pegel H hat, der Wert der Vari ablen D um Eins erhöht (S35), und der aktualisierte Wert wird erneut an den D/A-Umsetzer 15 gegeben (S36), wonach die MPU 16 auf S41 übergeht.

S34 bis S39 werden wiederholt, bis die Variable D den Maxi malwert hat, während die Anzahl der Impulse des digitalen Signals CP_out gezählt wird. Wenn die Variable D in S41 den Maximalwert erreicht, wird überprüft, ob die Variable K den Wert 2 oder 3 hat (S42).

Wenn die Variable K den Wert 2 hat, wird beurteilt, daß die Aufzeichnungsschicht 22 eine einzelne Aufzeichnungsschicht 22 ist, und zwar durch Substrahieren des Impulses, wie er erzeugt wird, wenn der optische Punkt Z die Substratfläche 21s erreicht (S43). Wenn die Variable K dagegen den Wert 3 hat, wird beurteilt, daß die Aufzeichnungsschicht 22 eine Doppelaufzeichnungsschicht 22 ist, und zwar durch Substra hieren des Impulses, wie er erzeugt wird, wenn der optische Punkt Z die Substratfläche 21s erreicht (S44).

Wie erläutert, führt das optische Plattenlaufwerk des vor liegenden Ausführungsbeispiel eine Fokussuche in einem Be reich aus, in den sich der Brennpunkt Z bewegen soll, wenn eine Doppelaufzeichnungsschicht 22 vorliegt, so daß die An zahl der Schichten innerhalb der Aufzeichnungsschicht 22 da durch erkannt werden kann, daß die Anzahl der Änderungen des Signalverlaufs im Laserleistungs-Erfassungssignal M_p durch die MPU 16 gezählt wird. Selbst dann, wenn der Abstand zwischen der ersten und der zweiten Aufzeichnungsschicht höchstens einige zehn Mikrometer beträgt, wechselwirken die Änderungen der Signalverläufe des Laserleistungs-Erfassungs signals M_p, wie durch jede Aufzeichnungsschicht hervorgeru fen, nicht miteinander, was es ermöglicht, die Anzahl der Schichten innerhalb der Aufzeichnungsschicht 22 auf zuver lässige Weise zu erkennen.

Demgemäß kann das optische Plattenlaufwerk des vorliegenden Ausführungsbeispiels Information von optischen Platten mit verschiedenen Anzahlen von Aufzeichnungsschichten abspielen, und zwar durch Ausführen einer Fokusregelung für eine Ziel aufzeichnungsschicht oder durch Umschalten der Schaltkreis verstärkung abhängig von der Anzahl der Aufzeichnungsschich ten.

Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel wird beurteilt, ob die optische Platte eine Einzelaufzeichnungsschicht 22 oder eine Doppelaufzeichnungsschicht 22 aufweist. Jedoch kann das op tische Plattenlaufwerk des vorliegenden Ausführungsbeispiels auch beurteilen, ob eine optische Platte eine aus mehr als zwei Schichten bestehende Aufzeichnungsschicht 22 aufweist.

Außerdem kann die Technik des vorliegenden Ausführungsbei spiels dazu verwendet werden, zu überprüfen, ob eine opti sche Platte in das optische Plattenlaufwerk eingesetzt ist oder nicht. D. h., daß dann, wenn die Variable K im Ergeb nis des obigen Ablaufs den Wert 0 hat, das optische Platten laufwerk beurteilt, daß keine optische Platten eingesetzt ist.

Wie erläutert, umfaßt das optische Plattenlaufwerk des vor liegenden Ausführungsbeispiels einen optischen Aufnehmer zum Konvergieren des vom Halbleiterlaser durch die Objektivlinse gestrahlten Laserstrahls, wobei die aufgezeichnete Informa tion unter Verwendung des optischen Aufnehmers von der Auf zeichnungsschicht der optischen Platte abgespielt wird.

Der Brennpunkt des durch die Objektivlinse gestrahlten La serstrahls wird im Bereich verstellt, der alle Aufzeich nungsschichten der optischen Platte abdeckt, und zwar in der Dickenrichtung der optischen Platte, was durch Verstellen der Objektivlinse erfolgt. Es wird die Anzahl von Änderungen im Verlauf des Signals gezählt, wie es vom Photodetektor zum Erfassen der Leistung des vom Halbleiterlaser emittierten Laserstrahls erzeugt wird und das dazu verwendet wird, den Halbleiterlaser so zu regeln, daß er Licht konstanter Leis tung ausgibt, wobei die Änderungen auftreten, wenn der Brennpunkt des Laserstrahls durch die Substratfläche bzw. die mindestens eine Aufzeichnungsschicht läuft.

Anders gesagt, wird der Brennpunkt des Laserstrahls in der Dickenrichtung der optischen Platte verstellt, so daß die ser Brennpunkt durch die Substratfläche bzw. die Aufzeich nungsschichten läuft. Der Pegel des vom obigen Photodetektor ausgegebenen Signals steigt aufgrund des zu ihm zurückge führten Lichts an, wenn der Brennpunkt des Laserstrahls die Substratfläche bzw. eine der Aufzeichnungsschichten er reicht. Da die Anzahl der Anstiege des Pegels des Signals abhängig von der Anzahl der Aufzeichnungsschichten variiert, ermöglicht es das Zählen der Anzahl von Anstiegen des Si gnalpegels, die Anzahl der Aufzeichnungsschichten zu bestim men. Es wird darauf hingewiesen, daß der Signalpegel so stark ansteigt, daß die Änderungen im Signalverlauf selbst dann nicht miteinander wechselwirken, wenn der Abstand zwi schen den Aufzeichnungsschichten klein ist.

Demgemäß kann das optische Plattenlaufwerk des vorliegenden Ausführungsbeispiels Information von einer optischen Platte mit mehr als einer Aufzeichnungsschicht dadurch abspielen, daß es eine Fokusregelung für eine Zielaufzeichnungsschicht ausführt oder die Schaltkreisverstärkung abhängig von der Anzahl der so erkannten Aufzeichnungsschichten umschaltet.

Claims

1. optisches Plattenlaufwerk mit:

- einer Lichtkonvergiereinrichtung (5) zum Konvergieren eines Laserstrahls auf eine optische Platte (20) mit einem Substrat (21) und einer Aufzeichnungsschicht (22);
- einer Verstelleinrichtung (10, 13, 14, 15, 16) zum Ver stellen der Lichtkonvergiereinrichtung in der Dickenrichtung der optischen Platte; und
- einer Erfassungseinrichtung (8, 9) zum Erfassen eines Fo kusabweichungssignals auf Grundlage des reflektierten Lichts, wie es von der optischen Platte her durch die Licht konvergiereinrichtung auf die Erfassungseinrichtung fällt; dadurch gekennzeichnet, daß
- die Erfassungseinrichtung so ausgebildet ist, daß sie eine Änderung im Fokusabweichungssignal erkennt, wenn der Laserstrahl auf das Substrat bzw. die Aufzeichnungsschicht konvergiert wird, während die Lichtkonvergiereinrichtung verstellt wird; und
- eine Beurteilungseinrichtung (16) vorhanden ist, um die Dicke des Substrats auf Grundlage dieser Änderung des Fokus abweichungssignals zu beurteilen.

2. optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 1, dadurch ge kennzeichnet, daß die Verstelleinrichtung folgendes auf weist:

- eine Verstellsignal-Erzeugungseinrichtung (16) zum Erzeu gen eines Verstellsignals, durch das die Lichtkonvergierein richtung (5) verstellt wird;
- eine Antriebseinrichtung (10, 14) zum Verstellen der Lichtkonvergiereinrichtung in der Dickenrichtung der opti schen Platte auf Grundlage des Verstellsignals.

3. optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 2, dadurch ge kennzeichnet, daß sich das Verstellsignal im wesentlichen linear über die Zeit ändert und es die Lichtkonvergierein richtung (4) in einem Bereich verstellt, der sowohl die Oberfläche des Substrats (21) als auch die Aufzeichnungs schicht (22) überdeckt.

4. optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 3, gekennzeich net durch:

- eine Phasenkompensationseinrichtung (12) zum Kompensieren der Phase des Fokusabweichungssignals; und
- eine Umschalteinrichtung (13) zum Umschalten des Eingangs signals für die Antriebseinrichtung (10, 14) in solcher Wei se, daß der Eingang das Ausgangssignal der Phasenkompensa tionseinrichtung erhält, wenn eine Fokusregelung ausgeführt wird, er aber das Verstellsignal erhält, wenn die Dicke des Substrats beurteilt wird.

5. optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 4, gekennzeich net durch eine D/A-Umsetzeinrichtung (15), durch die das Verstellsignal unter Steuerung durch die Verstellsignal-Er zeugungseinrichtung (16) ausgegeben wird.

6. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 2, dadurch ge kennzeichnet, daß die Verstellsignal-Erzeugungseinrichtung und die Beurteilungseinrichtung aus einem Mikroprozessor (16) bestehen.

7. optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 1, gekennzeich net durch eine Vergleichseinrichtung (17) zum Vergleichen der Änderung des Fokusabweichungssignals mit einer Bezugs spannung, um ein Vergleichsergebnis in Form eines Impulssi gnals auszugeben, wobei die Beurteilungseinrichtung die Di cke des Substrats auf Grundlage dieses Impulssignals beur teilt.

8. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 7, dadurch ge kennzeichnet, daß die Beurteilungseinrichtung das Zeitin tervall des Impulssignals mißt, um dieses Zeitintervall mit einer Bezugszeit zu vergleichen, und sie die Dicke des Sub strats auf Grundlage dieses Vergleichsergebnisses beurteilt.

9. optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 8, dadurch ge kennzeichnet, daß die Bezugszeit der Mittelwert aus dem Zeitintervall ist, wie es gemessen wird, wenn ein 1,2 mm di ckes Substrat verwendet wird, und dem Zeitintervall, wie es gemessen wird, wenn ein 0,6 mm dickes Substrat verwendet wird.

10. optisches Plattenlaufwerk mit:

- einer Lichtkonvergiereinrichtung (4) zum Konvergieren eines Laserstrahls auf eine optische Platte (20) mit einem Substrat (21) und einer Aufzeichnungsschicht (22); und
- einer Verstelleinrichtung (10, 13, 14, 15, 16) zum Ver stellen der Lichtkonvergiereinrichtung in der Dickenrichtung der optischen Platte;

gekennzeichnet durch

- eine solche Ausbildung der Verstelleinrichtung, daß diese ein Verstellsignal ausgibt, das sich im wesentlichen linear über die Zeit ändert;
- eine Erfassungseinrichtung zum Erfassen, während die Lichtkonvergiereinrichtung verstellt wird, daß der Laser strahl auf das Substrat bzw. die Aufzeichnungsschicht kon vergiert wird, und zwar aufgrund des reflektierten Lichts, wie es von der optischen Platte her durch die Lichtkonver giereinrichtung auf die Erfassungseinrichtung fällt; und
- eine Beurteilungseinrichtung (16) zum Beurteilen der Dicke des Substrats auf Grundlage der Pegeldifferenz zwischen dem Pegel des Verstellsignals, wenn der Laserstrahl auf das Sub strat konvergiert ist, und dem Pegel des Verstellsignals, wenn er auf die Aufzeichnungsschicht konvergiert ist.

11. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 10, dadurch ge kennzeichnet, daß das Verstellsignal die Lichtkonvergier einrichtung in einem Bereich verstellt, der sowohl die Ober fläche des Substrats als auch die Aufzeichnungsschicht ab deckt.

12. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 10, dadurch ge kennzeichnet, daß die Beurteilungseinrichtung (16) die Pe geldifferenz mit einem Bezugswert vergleicht und die Dicke des Substrats auf Grundlage des Vergleichsergebnisses beur teilt.

13. optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 10, dadurch ge kennzeichnet, das die Verstellsignal-Erzeugungseinrichtung und die Beurteilungseinrichtung aus einem Mikroprozessor (16) bestehen.

14. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 12, dadurch ge kennzeichnet, daß der Bezugswert der Mittelwert aus der Pe geldifferenz des Verstellsignals, wenn der Laserstrahl auf ein 1,2 mm dickes Substrat konvergiert ist, und der Pegel differenz des Verstellsignals, wenn der Laserstrahl auf ein 0,6 mm dickes Substrat konvergiert ist, ist.

15. Optisches Plattenlaufwerk mit:

- einer Lichtkonvergiereinrichtung (5) zum Konvergieren eines Laserstrahls auf eine optische Platte (20) mit einem Substrat (21) und einer Aufzeichnungsschicht (22);
- einer Verstelleinrichtung (10, 13, 14, 15, 16) zum Ver stellen der Lichtkonvergiereinrichtung in der Dickenrichtung der optischen Platte; und
- einer Erfassungseinrichtung (11) zum Erfassen eines Laser leistungs-Erfassungssignals, das sich abhängig von der Leis tung des Laserstrahls ändert;

dadurch gekennzeichnet, daß

- die Erfassungseinrichtung so ausgebildet ist, daß sie die Änderung des Laserleistungs-Erfassungssignals erfaßt, wenn der Laserstrahl auf das Substrat konvergiert ist bzw. wenn er auf die Aufzeichnungsschicht konvergiert ist, während die Lichtkonvergiereinrichtung verstellt wird; und
- eine Beurteilungseinrichtung (16) vorhanden ist, um die Dicke des Substrats auf Grundlage der Änderung des Laser leistungs-Erfassungssignals zu beurteilen.

16. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 15, dadurch ge kennzeichnet, daß die Verstelleinrichtung folgendes auf weist:

17. optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 16, dadurch ge kennzeichnet, daß sich das Verstellsignal im wesentlichen linear über die Zeit ändert und es die Lichtkonvergierein richtung (4) in einem Bereich verstellt, der sowohl die Oberfläche des Substrats (21) als auch die Aufzeichnungs schicht (22) überdeckt.

18. optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 16, gekenn zeichnet durch:

19. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 18, gekenn zeichnet durch eine D/A-Umsetzeinrichtung (15), durch die das Verstellsignal, das sich im wesentlichen linear mit der Zeit ändert, unter Steuerung durch die Verstellsignal-Erzeu gungseinrichtung (16) ausgegeben wird.

20. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 19, dadurch ge kennzeichnet, das die Verstellsignal-Erzeugungseinrichtung und die Beurteilungseinrichtung aus einem Mikroprozessor (16) bestehen.

21. optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 15, gekenn zeichnet durch eine Vergleichseinrichtung (17) zum Verglei chen der Änderung des Laserleistungs-Erfassungssignals mit einer Bezugsspannung, um ein Vergleichsergebnis in Form ei nes Impulssignals auszugeben, wobei die Beurteilungseinrich tung die Dicke des Substrats auf Grundlage dieses Impulssi gnals beurteilt.

22. optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 21, dadurch ge kennzeichnet, daß die Beurteilungseinrichtung das Zeitin tervall des Impulssignals mißt, um dieses Zeitintervall mit einer Bezugszeit zu vergleichen, und sie die Dicke des Sub strats auf Grundlage dieses Vergleichsergebnisses beurteilt.

23. optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 22, dadurch ge kennzeichnet, daß die Bezugszeit der Mittelwert aus dem Zeitintervall ist, wie es gemessen wird, wenn ein 1,2 mm di ckes Substrat verwendet wird, und dem Zeitintervall, wie es gemessen wird, wenn ein 0,6 mm dickes Substrat verwendet wird.

24. optisches Plattenlaufwerk mit:

- einer Lichtkonvergiereinrichtung (4) zum Konvergieren eines Laserstrahls auf eine optische Platte (20) mit einem Substrat (21) und mindestens einer Aufzeichnungsschicht (22);
- einer Verstelleinrichtung (10, 13, 14, 15, 16) zum Ver stellen der Lichtkonvergiereinrichtung in der Dickenrichtung der optischen Platte; und
- einer Erfassungseinrichtung (11) zum Erfassen eines Laser leistungs-Erfassungssignals, das sich abhängig von der Leis tung des Laserstrahls ändert;

dadurch gekennzeichnet, daß

- die Erfassungseinrichtung so ausgebildet ist, daß sie die Änderung des Laserleistungs-Erfassungssignals erfaßt, wie sie entsteht, wenn der Laserstrahl auf das Substrat oder auf eine jeweilige Aufzeichnungsschicht konvergiert wird, wäh rend die Lichtkonvergiereinrichtung verstellt wird; und
- eine Beurteilungseinrichtung (16) vorhanden ist, die be urteilt, daß die Anzahl der Aufzeichnungsschichten (n-1) ist, wenn n 2 gilt, wobei n die Anzahl von im Laserleis tungs-Erfassungssignal erfaßten Änderungen ist, und sie be urteilt, daß keine optische Platte eingesetzt ist, wenn n = 0 gilt.

25. optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 24, dadurch ge kennzeichnet, das die Verstellsignal-Erzeugungseinrichtung und die Beurteilungseinrichtung aus einem Mikroprozessor (16) bestehen.