JPH09147369A - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
- Publication number
- JPH09147369A JPH09147369A JP7306239A JP30623995A JPH09147369A JP H09147369 A JPH09147369 A JP H09147369A JP 7306239 A JP7306239 A JP 7306239A JP 30623995 A JP30623995 A JP 30623995A JP H09147369 A JPH09147369 A JP H09147369A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- optical disk
- focus
- optical
- optical disc
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0945—Methods for initialising servos, start-up sequences
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
- G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
- G11B19/12—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing by sensing distinguishing features of or on records, e.g. diameter end mark
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0941—Methods and circuits for servo gain or phase compensation during operation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B2007/0003—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier
- G11B2007/0006—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier adapted for scanning different types of carrier, e.g. CD & DVD
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 光ピックアップ以外の読み取り機構を用いず
に、容易な構成で、光ディスク基板の厚みを判別する。 【解決手段】 対物レンズ５から出射されるレーザ光Ｐ
の焦点を、光ディスク２０の基板２１の表面および記録
層２２を含む範囲で光ディスク２０の厚み方向に移動さ
せてフォーカスサーチを行う。レーザ光Ｐの焦点が、基
板２１の表面を通過するときと、記録層２２を通過する
ときとの、２分割フォトダイオード８から得られるフォ
ーカスエラー信号ＦＥＳに生じるＳ字波形をコンパレー
タ１７によってデジタル信号ＣＰout に変換する。ＭＰ
Ｕ１６は、デジタル信号ＣＰout のパルス時間間隔を検
出する。
に、容易な構成で、光ディスク基板の厚みを判別する。 【解決手段】 対物レンズ５から出射されるレーザ光Ｐ
の焦点を、光ディスク２０の基板２１の表面および記録
層２２を含む範囲で光ディスク２０の厚み方向に移動さ
せてフォーカスサーチを行う。レーザ光Ｐの焦点が、基
板２１の表面を通過するときと、記録層２２を通過する
ときとの、２分割フォトダイオード８から得られるフォ
ーカスエラー信号ＦＥＳに生じるＳ字波形をコンパレー
タ１７によってデジタル信号ＣＰout に変換する。ＭＰ
Ｕ１６は、デジタル信号ＣＰout のパルス時間間隔を検
出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、厚みの異なる種類
の光ディスクに対して情報の再生を行う光ディスク装置
に関するものである。
の光ディスクに対して情報の再生を行う光ディスク装置
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来から大容量の情報記録媒体として光
ディスクが使用されている。現在多く市販されている光
ディスクは、基板の厚みが１．２ｍｍで、片面に１層の
記録層を有する。この光ディスクをより大容量化するた
めには、トラックピッチを狭くすることが有効である
が、そのためには、光源である半導体レーザの短波長化
や対物レンズの開口数を大きくして、レーザスポットの
径をさらに小さくする必要がある。しかしながら、光デ
ィスクの傾きによって発生する収差は開口数の３乗に比
例するので、開口数を大きくすることは難しかった。
ディスクが使用されている。現在多く市販されている光
ディスクは、基板の厚みが１．２ｍｍで、片面に１層の
記録層を有する。この光ディスクをより大容量化するた
めには、トラックピッチを狭くすることが有効である
が、そのためには、光源である半導体レーザの短波長化
や対物レンズの開口数を大きくして、レーザスポットの
径をさらに小さくする必要がある。しかしながら、光デ
ィスクの傾きによって発生する収差は開口数の３乗に比
例するので、開口数を大きくすることは難しかった。
【０００３】そこで、光ディスクの基板の厚みを薄くし
て、厚さを０．６ｍｍとする光ディスクが提案されてい
る。このように基板の厚さを薄くすると、光ディスクの
傾き許容値が拡大し開口数を大きくすることができる。
て、厚さを０．６ｍｍとする光ディスクが提案されてい
る。このように基板の厚さを薄くすると、光ディスクの
傾き許容値が拡大し開口数を大きくすることができる。
【０００４】また、光ディスクの容量を増やす別の方法
として、記録層の層数を増やす方法がある。これは、複
数の記録層を持つ光ディスクに同一方向からレーザスポ
ットを照射し、その焦点をそれぞれの記録層に移動しフ
ォーカス制御することにより、複数の記録層から情報を
再生するものである。記録層の数としては特に２層の光
ディスクが提案されている。
として、記録層の層数を増やす方法がある。これは、複
数の記録層を持つ光ディスクに同一方向からレーザスポ
ットを照射し、その焦点をそれぞれの記録層に移動しフ
ォーカス制御することにより、複数の記録層から情報を
再生するものである。記録層の数としては特に２層の光
ディスクが提案されている。
【０００５】このようにして、光ディスクは、基板の厚
みが１．２ｍｍと０．６ｍｍのものが混在し、さらに記
録層が１層と２層のものが混在することになる。
みが１．２ｍｍと０．６ｍｍのものが混在し、さらに記
録層が１層と２層のものが混在することになる。
【０００６】上記のような基板厚や記録層数の異なる光
ディスクを、同一の光ディスク装置によって再生が行え
るようにすることは、互換性の点からも重要な問題であ
り、そのためのさまざまな技術が開示されている。
ディスクを、同一の光ディスク装置によって再生が行え
るようにすることは、互換性の点からも重要な問題であ
り、そのためのさまざまな技術が開示されている。
【０００７】例えば、特開平７−６５４０９号公報に基
板厚の違いによる収差を補正する技術、特開平５−５４
３９６号公報に目的の記録層にフォーカスサーボをオン
する技術がそれぞれ開示されている。
板厚の違いによる収差を補正する技術、特開平５−５４
３９６号公報に目的の記録層にフォーカスサーボをオン
する技術がそれぞれ開示されている。
【０００８】上記特開平７−６５４０９号公報に記載さ
れた収差補正技術は、予め設定された０．６ｍｍ用の対
物レンズに対して、光ディスクが装着されたときにその
基板の厚さを判別し、光ディスクの厚さが大きいときに
対物レンズと半導体レーザとの間に凸レンズを挿入する
ことによって、球面収差のない再生が行えるようにして
いる。また、光ディスクの厚さが小さいときには、対物
レンズと半導体レーザとの間に凹レンズを挿入すること
によって、球面収差のない再生が行えるようにしてい
る。
れた収差補正技術は、予め設定された０．６ｍｍ用の対
物レンズに対して、光ディスクが装着されたときにその
基板の厚さを判別し、光ディスクの厚さが大きいときに
対物レンズと半導体レーザとの間に凸レンズを挿入する
ことによって、球面収差のない再生が行えるようにして
いる。また、光ディスクの厚さが小さいときには、対物
レンズと半導体レーザとの間に凹レンズを挿入すること
によって、球面収差のない再生が行えるようにしてい
る。
【０００９】このような補正を行うためには、まず、再
生しようとする光ディスクが１．２ｍｍ基板なのか０．
６ｍｍ基板なのかを判別する必要がある。この光ディス
クの厚さを判別する技術には次のようなものがある。
生しようとする光ディスクが１．２ｍｍ基板なのか０．
６ｍｍ基板なのかを判別する必要がある。この光ディス
クの厚さを判別する技術には次のようなものがある。
【００１０】上記特開平７−６５４０９号公報では、光
ディスクが収納されているカートリッジにバーコードや
孔部などで光ディスクの種類を示す情報を付加して、こ
の情報を読み取ることにより光ディスクの識別を行って
いる。また、特開平４−１６２２１７号公報には、光デ
ィスクの情報領域の特定の場所に、光ディスクの種類を
識別するための情報を記録しておき、光ピックアップで
読み取るものが開示されている。
ディスクが収納されているカートリッジにバーコードや
孔部などで光ディスクの種類を示す情報を付加して、こ
の情報を読み取ることにより光ディスクの識別を行って
いる。また、特開平４−１６２２１７号公報には、光デ
ィスクの情報領域の特定の場所に、光ディスクの種類を
識別するための情報を記録しておき、光ピックアップで
読み取るものが開示されている。
【００１１】また、上記特開平５−５４３９６号公報で
は、フォーカスエラー信号をパルス化し、フォーカスサ
ーチの際にレーザ光の焦点が、記録層を通過するときの
上記パルスを計数することにより、光ディスクが１層の
記録層なのか２層の記録層なのかを識別している。
は、フォーカスエラー信号をパルス化し、フォーカスサ
ーチの際にレーザ光の焦点が、記録層を通過するときの
上記パルスを計数することにより、光ディスクが１層の
記録層なのか２層の記録層なのかを識別している。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
光ディスクカートリッジに情報を付加して基板厚を判別
する方法では、カートリッジを使わない光ディスクには
対応することができない。また、カートリッジに付加さ
れた情報を読み取るためには、反射センサなどの光ピッ
クアップ以外の読み取り機構が必要になると共に、カー
トリッジに情報を付加するための工程が必要となるとい
う問題を有している。
光ディスクカートリッジに情報を付加して基板厚を判別
する方法では、カートリッジを使わない光ディスクには
対応することができない。また、カートリッジに付加さ
れた情報を読み取るためには、反射センサなどの光ピッ
クアップ以外の読み取り機構が必要になると共に、カー
トリッジに情報を付加するための工程が必要となるとい
う問題を有している。
【００１３】また、光ディスクの特定の情報領域に判別
情報を記録することにより基板厚を判別する方法では、
光ディスクに記録された情報を再生するまで基板厚を判
別することができないという問題を有している。つま
り、光ディスクに記録された情報を再生するためには、
まず基板の厚さの違いによる収差補正を行う必要があ
り、情報の再生前に光ディスクの種類の判別を行わなけ
ればならない。
情報を記録することにより基板厚を判別する方法では、
光ディスクに記録された情報を再生するまで基板厚を判
別することができないという問題を有している。つま
り、光ディスクに記録された情報を再生するためには、
まず基板の厚さの違いによる収差補正を行う必要があ
り、情報の再生前に光ディスクの種類の判別を行わなけ
ればならない。
【００１４】また、上述のフォーカスエラー信号をパル
ス化し計数して記録層数を識別する方法は、２層の記録
層の間隔がフォーカスエラー信号のダイナミックレンジ
よりも十分に大きい場合には有効である。しかし、図９
に示すように、記録層の間隔が狭い場合（数十μｍ以
下）には、第１記録層のみによるフォーカスエラー信号
ＦＥＳ1 と第２記録層のみによるフォーカスエラー信号
ＦＥＳ2 とが互いに干渉しあって、実線で示されるフォ
ーカスエラー信号ＦＥＳ’が生成される。
ス化し計数して記録層数を識別する方法は、２層の記録
層の間隔がフォーカスエラー信号のダイナミックレンジ
よりも十分に大きい場合には有効である。しかし、図９
に示すように、記録層の間隔が狭い場合（数十μｍ以
下）には、第１記録層のみによるフォーカスエラー信号
ＦＥＳ1 と第２記録層のみによるフォーカスエラー信号
ＦＥＳ2 とが互いに干渉しあって、実線で示されるフォ
ーカスエラー信号ＦＥＳ’が生成される。
【００１５】したがって、しきい値電圧Ｖref ’と上記
フォーカスエラー信号ＦＥＳ’とを比較しても、比較器
から出力されるデジタル信号ＣＰout ’は正しい記録層
の数に対応したパルス信号とはならない。ここで、しき
い値電圧Ｖref ’を低くして、第２記録層によるフォー
カスエラー信号ＦＥＳ’を検出しようとしても、ノイズ
による誤検出を招くことになるので、この場合も正しく
記録層数を識別することはできない。
フォーカスエラー信号ＦＥＳ’とを比較しても、比較器
から出力されるデジタル信号ＣＰout ’は正しい記録層
の数に対応したパルス信号とはならない。ここで、しき
い値電圧Ｖref ’を低くして、第２記録層によるフォー
カスエラー信号ＦＥＳ’を検出しようとしても、ノイズ
による誤検出を招くことになるので、この場合も正しく
記録層数を識別することはできない。
【００１６】本発明は、上記従来の問題点を解決するた
めになされたもので、その目的は、光ピックアップ以外
の読み取り機構を用いずに、光ピックアップから得られ
る信号を利用して、光ディスク基板の厚みを判別するこ
とができる光ディスク装置を提供することにある。
めになされたもので、その目的は、光ピックアップ以外
の読み取り機構を用いずに、光ピックアップから得られ
る信号を利用して、光ディスク基板の厚みを判別するこ
とができる光ディスク装置を提供することにある。
【００１７】また、本発明の他の目的は、半導体レーザ
出射光量検出用光検出器にて生成される信号を利用し
て、光ディスクの記録層の層数を判別することができる
光ディスク装置を提供することにある。
出射光量検出用光検出器にて生成される信号を利用し
て、光ディスクの記録層の層数を判別することができる
光ディスク装置を提供することにある。
【００１８】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の請求項１記載の光ディスク装置は、半導
体レーザから出射されたレーザ光を対物レンズにて光デ
ィスクに集光させる光ピックアップを有し、該光ピック
アップにより光ディスクの記録層に記録された情報を再
生する光ディスク装置において、上記対物レンズから出
射されるレーザ光の焦点を、上記光ディスクの記録層お
よび基板表面を含む範囲で光ディスクの厚み方向に移動
させてフォーカスサーチを行うフォーカスサーチ手段
と、フォーカスサーチの際にレーザ光の焦点が、基板表
面を通過するときと、記録層を通過するときとの、上記
光ピックアップから出力される信号波形の間隔を検出す
る検出手段とを備えることを特徴としている。
めに、本発明の請求項１記載の光ディスク装置は、半導
体レーザから出射されたレーザ光を対物レンズにて光デ
ィスクに集光させる光ピックアップを有し、該光ピック
アップにより光ディスクの記録層に記録された情報を再
生する光ディスク装置において、上記対物レンズから出
射されるレーザ光の焦点を、上記光ディスクの記録層お
よび基板表面を含む範囲で光ディスクの厚み方向に移動
させてフォーカスサーチを行うフォーカスサーチ手段
と、フォーカスサーチの際にレーザ光の焦点が、基板表
面を通過するときと、記録層を通過するときとの、上記
光ピックアップから出力される信号波形の間隔を検出す
る検出手段とを備えることを特徴としている。
【００１９】上記構成によれば、光ディスクの記録層に
レーザ光の焦点を合わせるために、フォーカスサーチ手
段によりレーザ光の焦点を光ディスクの厚み方向に移動
させてフォーカスサーチを行う。このとき、焦点の移動
範囲を光ディスクの記録層および基板表面を含む範囲と
している。
レーザ光の焦点を合わせるために、フォーカスサーチ手
段によりレーザ光の焦点を光ディスクの厚み方向に移動
させてフォーカスサーチを行う。このとき、焦点の移動
範囲を光ディスクの記録層および基板表面を含む範囲と
している。
【００２０】レーザ光の焦点を移動させた場合、光ピッ
クアップから得られる信号波形には、焦点が基板表面を
通過するときと、記録層を通過するときとで、それぞれ
何らかの変化が生じる。この変化の間隔を検出手段によ
り検出する。光ディスクの基板の厚さが違う場合には信
号波形の変化の間隔も異なるので、基板厚の判別を行う
ことができる。
クアップから得られる信号波形には、焦点が基板表面を
通過するときと、記録層を通過するときとで、それぞれ
何らかの変化が生じる。この変化の間隔を検出手段によ
り検出する。光ディスクの基板の厚さが違う場合には信
号波形の変化の間隔も異なるので、基板厚の判別を行う
ことができる。
【００２１】したがって、従来のように、反射型センサ
などの光ピックアップ以外の読み取り機構を設けること
なく、また、光ディスクやカートリッジに厚さ判別のた
めの情報を付加することなく、基板の厚さを判別するこ
とができる。さらに、光ディスクに記録された情報を再
生する前に基板の厚さを判別することができる。
などの光ピックアップ以外の読み取り機構を設けること
なく、また、光ディスクやカートリッジに厚さ判別のた
めの情報を付加することなく、基板の厚さを判別するこ
とができる。さらに、光ディスクに記録された情報を再
生する前に基板の厚さを判別することができる。
【００２２】本発明の光ディスク装置は、この判別結果
に基づいて、基板の厚さの違いによる収差の補正を行っ
て、基板厚の異なる光ディスクに対する情報の再生を行
うことが可能となる。
に基づいて、基板の厚さの違いによる収差の補正を行っ
て、基板厚の異なる光ディスクに対する情報の再生を行
うことが可能となる。
【００２３】請求項２記載の光ディスク装置は、請求項
１記載の構成に加えて、上記検出手段が、光ピックアッ
プから出力される信号を所定のしきい値と比較すること
によりデジタル信号を出力する比較手段と、該デジタル
信号のパルス時間間隔を計数する計数手段とを有するこ
とを特徴としている。
１記載の構成に加えて、上記検出手段が、光ピックアッ
プから出力される信号を所定のしきい値と比較すること
によりデジタル信号を出力する比較手段と、該デジタル
信号のパルス時間間隔を計数する計数手段とを有するこ
とを特徴としている。
【００２４】上記構成によれば、レーザ光の焦点が光デ
ィスクの基板表面を通過するときと、記録層を通過する
ときとで、光ピックアップから得られる信号波形にそれ
ぞれ何らか変化が生じると、比較手段は、このような変
化を伴う信号と所定のしきい値とを比較してデジタル信
号に変換し、計数手段に入力する。計数手段は、このデ
ジタル信号のパルス時間間隔を計数する。
ィスクの基板表面を通過するときと、記録層を通過する
ときとで、光ピックアップから得られる信号波形にそれ
ぞれ何らか変化が生じると、比較手段は、このような変
化を伴う信号と所定のしきい値とを比較してデジタル信
号に変換し、計数手段に入力する。計数手段は、このデ
ジタル信号のパルス時間間隔を計数する。
【００２５】したがって、光ディスクの基板の厚みが時
間の関数として表されるので、容易に基板厚の判別を行
うことができる。これにより、予め基板厚と計数時間と
の関係を調べておけば、容易に１つの光ディスク装置で
基板厚の異なる光ディスクに対する情報の再生を行うこ
とが可能となる。
間の関数として表されるので、容易に基板厚の判別を行
うことができる。これにより、予め基板厚と計数時間と
の関係を調べておけば、容易に１つの光ディスク装置で
基板厚の異なる光ディスクに対する情報の再生を行うこ
とが可能となる。
【００２６】請求項３記載の光ディスク装置は、請求項
１記載の構成に加えて、上記検出手段が、光ピックアッ
プから出力される信号を所定のしきい値と比較すること
によりデジタル信号を出力する比較手段と、該デジタル
信号に基づいて上記対物レンズを駆動するための対物レ
ンズ駆動信号のレベルを検出するレベル検出手段とを有
することを特徴としている。
１記載の構成に加えて、上記検出手段が、光ピックアッ
プから出力される信号を所定のしきい値と比較すること
によりデジタル信号を出力する比較手段と、該デジタル
信号に基づいて上記対物レンズを駆動するための対物レ
ンズ駆動信号のレベルを検出するレベル検出手段とを有
することを特徴としている。
【００２７】上記構成によれば、レーザ光の焦点が光デ
ィスクの基板表面を通過するときと、記録層を通過する
ときとで、光ピックアップから得られる信号波形にそれ
ぞれ何らか変化が生じると、比較手段は、このような変
化を伴う信号と所定のしきい値とを比較してデジタル信
号に変換し、レベル検出手段に入力する。レベル検出手
段は、このデジタル信号のパルスに基づいて、対物レン
ズ駆動信号のレベルを検出する。
ィスクの基板表面を通過するときと、記録層を通過する
ときとで、光ピックアップから得られる信号波形にそれ
ぞれ何らか変化が生じると、比較手段は、このような変
化を伴う信号と所定のしきい値とを比較してデジタル信
号に変換し、レベル検出手段に入力する。レベル検出手
段は、このデジタル信号のパルスに基づいて、対物レン
ズ駆動信号のレベルを検出する。
【００２８】したがって、光ディスクの基板の厚みが信
号レベルで表されるので、容易に基板厚の判別を行うこ
とができる。これにより、予め基板厚と信号レベルとの
関係を調べておけば、容易に１つの光ディスク装置で基
板厚の異なる光ディスクに対する情報の再生を行うこと
が可能となる。
号レベルで表されるので、容易に基板厚の判別を行うこ
とができる。これにより、予め基板厚と信号レベルとの
関係を調べておけば、容易に１つの光ディスク装置で基
板厚の異なる光ディスクに対する情報の再生を行うこと
が可能となる。
【００２９】請求項４記載の光ディスク装置は、請求項
１、２又は３記載の構成に加えて、上記光ピックアップ
から出力される信号が、光ディスクからの反射光によっ
て光ピックアップを制御するためのサーボ信号検出用光
検出器にて生成される信号であることを特徴としてい
る。
１、２又は３記載の構成に加えて、上記光ピックアップ
から出力される信号が、光ディスクからの反射光によっ
て光ピックアップを制御するためのサーボ信号検出用光
検出器にて生成される信号であることを特徴としてい
る。
【００３０】上記構成によれば、レーザ光の焦点が光デ
ィスクの基板表面および記録層に達すると、サーボ信号
検出用光検出器の出力信号レベルは光ディスクの反射光
によって増加する。このようにして光ピックアップから
出力される信号波形が変化するので、請求項１、２又は
３に記載の光ディスク装置を容易に構成することができ
る。
ィスクの基板表面および記録層に達すると、サーボ信号
検出用光検出器の出力信号レベルは光ディスクの反射光
によって増加する。このようにして光ピックアップから
出力される信号波形が変化するので、請求項１、２又は
３に記載の光ディスク装置を容易に構成することができ
る。
【００３１】請求項５記載の光ディスク装置は、請求項
１、２又は３記載の構成に加えて、上記光ピックアップ
から出力される信号が、半導体レーザの出力光量を一定
に保つための半導体レーザ出射光量検出用光検出器にて
生成される信号であることを特徴としている。
１、２又は３記載の構成に加えて、上記光ピックアップ
から出力される信号が、半導体レーザの出力光量を一定
に保つための半導体レーザ出射光量検出用光検出器にて
生成される信号であることを特徴としている。
【００３２】上記構成によれば、レーザ光の焦点が光デ
ィスクの基板表面および記録層に達すると、半導体レー
ザ出射光量検出用光検出器の出力信号レベルは半導体レ
ーザへの戻り光によって増加する。このようにして光ピ
ックアップから出力される信号波形が変化するので、請
求項１、２又は３に記載の光ディスク装置を容易に構成
することができる。
ィスクの基板表面および記録層に達すると、半導体レー
ザ出射光量検出用光検出器の出力信号レベルは半導体レ
ーザへの戻り光によって増加する。このようにして光ピ
ックアップから出力される信号波形が変化するので、請
求項１、２又は３に記載の光ディスク装置を容易に構成
することができる。
【００３３】請求項６記載の光ディスク装置は、半導体
レーザから出射されたレーザ光を対物レンズにて光ディ
スクに集光させる光ピックアップを有し、該光ピックア
ップにより光ディスクの複数の記録層に記録された情報
を再生する光ディスク装置において、上記対物レンズか
ら出射されるレーザ光の焦点を、上記光ディスクの複数
の記録層を含む範囲で光ディスクの厚み方向に移動させ
てフォーカスサーチを行うフォーカスサーチ手段と、フ
ォーカスサーチの際にレーザ光の焦点が記録層を通過す
るときの、上記光ピックアップにおける半導体レーザの
出力光量を一定に保つための半導体レーザ出射光量検出
用光検出器にて生成される信号波形を計数する計数手段
とを備えることを特徴としている。
レーザから出射されたレーザ光を対物レンズにて光ディ
スクに集光させる光ピックアップを有し、該光ピックア
ップにより光ディスクの複数の記録層に記録された情報
を再生する光ディスク装置において、上記対物レンズか
ら出射されるレーザ光の焦点を、上記光ディスクの複数
の記録層を含む範囲で光ディスクの厚み方向に移動させ
てフォーカスサーチを行うフォーカスサーチ手段と、フ
ォーカスサーチの際にレーザ光の焦点が記録層を通過す
るときの、上記光ピックアップにおける半導体レーザの
出力光量を一定に保つための半導体レーザ出射光量検出
用光検出器にて生成される信号波形を計数する計数手段
とを備えることを特徴としている。
【００３４】上記構成によれば、光ディスクの記録層に
レーザ光の焦点を合わせるために、フォーカスサーチ手
段によりレーザ光の焦点を光ディスクの厚み方向に移動
させてフォーカスサーチを行う。このとき、焦点の移動
範囲を光ディスクの複数の記録層を含む範囲としてい
る。
レーザ光の焦点を合わせるために、フォーカスサーチ手
段によりレーザ光の焦点を光ディスクの厚み方向に移動
させてフォーカスサーチを行う。このとき、焦点の移動
範囲を光ディスクの複数の記録層を含む範囲としてい
る。
【００３５】フォーカスサーチによって、レーザ光の焦
点が光ディスクの記録層に達すると、半導体レーザ出射
光量検出用光検出器の出力信号レベルは半導体レーザへ
の戻り光によって増加する。この増加による信号波形を
計数手段により計数する。この信号の増加は急峻である
ので、記録層の間隔が狭くても信号が干渉しあうことは
ない。光ディスクの記録層の層数が違う場合には信号波
形の増加の回数も異なるので、記録層数の判別を行うこ
とができる。
点が光ディスクの記録層に達すると、半導体レーザ出射
光量検出用光検出器の出力信号レベルは半導体レーザへ
の戻り光によって増加する。この増加による信号波形を
計数手段により計数する。この信号の増加は急峻である
ので、記録層の間隔が狭くても信号が干渉しあうことは
ない。光ディスクの記録層の層数が違う場合には信号波
形の増加の回数も異なるので、記録層数の判別を行うこ
とができる。
【００３６】本発明の光ディスク装置は、この判別結果
に基づいて、目的の記録層にフォーカスサーボをオンし
たり、記録層数の違いによって回路ゲインの切り替えを
行って、記録層数の異なる光ディスクに対する情報の再
生を行うことが可能となる。
に基づいて、目的の記録層にフォーカスサーボをオンし
たり、記録層数の違いによって回路ゲインの切り替えを
行って、記録層数の異なる光ディスクに対する情報の再
生を行うことが可能となる。
【００３７】
〔実施の形態１〕本発明の実施の一形態について図１な
いし図３に基づいて説明すれば、以下の通りである。
いし図３に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００３８】本実施の形態にかかる光ディスク装置は、
図１に示すように、レーザ光Ｐを光ディスク２０に照射
することにより光ディスク２０に記録された情報を再生
するための光ピックアップ１を有する。
図１に示すように、レーザ光Ｐを光ディスク２０に照射
することにより光ディスク２０に記録された情報を再生
するための光ピックアップ１を有する。
【００３９】光ピックアップ１には、レーザ光Ｐを出射
する半導体レーザ２、半導体レーザ２からのレーザ光Ｐ
を平行光にするコリメータレンズ３、この平行光を透過
するビームスプリッタ４、および平行光を光ディスク２
０に集光させてレーザスポットを形成する対物レンズ５
が備えられる。
する半導体レーザ２、半導体レーザ２からのレーザ光Ｐ
を平行光にするコリメータレンズ３、この平行光を透過
するビームスプリッタ４、および平行光を光ディスク２
０に集光させてレーザスポットを形成する対物レンズ５
が備えられる。
【００４０】さらに、光ピックアップ１には、フォーカ
スサーボを行うためのサーボ信号検出光学系として、光
ディスク２０からの反射光Ｐ’を後述の２分割フォトダ
イオード８方向に反射する上記ビームスプリッタ４、反
射光Ｐ’を集光する集光レンズ６、反射光Ｐ’に収差を
発生させるシリンドリカルレンズ７、反射光Ｐ’を受光
する２分割フォトダイオード（サーボ信号検出用光検出
器）８、および２分割フォトダイオード８からの各々の
信号を差分してフォーカスエラー信号ＦＥＳを生成する
差動増幅器９が備えられる。なお、本実施の形態では差
動増幅器９は光ピックアップ１内に配置されているが、
光ピックアップ１の外に配置してもよい。
スサーボを行うためのサーボ信号検出光学系として、光
ディスク２０からの反射光Ｐ’を後述の２分割フォトダ
イオード８方向に反射する上記ビームスプリッタ４、反
射光Ｐ’を集光する集光レンズ６、反射光Ｐ’に収差を
発生させるシリンドリカルレンズ７、反射光Ｐ’を受光
する２分割フォトダイオード（サーボ信号検出用光検出
器）８、および２分割フォトダイオード８からの各々の
信号を差分してフォーカスエラー信号ＦＥＳを生成する
差動増幅器９が備えられる。なお、本実施の形態では差
動増幅器９は光ピックアップ１内に配置されているが、
光ピックアップ１の外に配置してもよい。
【００４１】上記光ディスク装置は、さらに、上記フォ
ーカスエラー信号ＦＥＳの位相を補償する位相補償回路
１２と、電力増幅器１４とを備える。また、フォーカス
アクチュエータ１０は上記電力増幅器１４に接続され、
常時、対物レンズ５から出射されたレーザ光Ｐの焦点が
光ディスク２０の記録層２２に合うように、対物レンズ
５を制御する。すなわち、フォーカスエラー信号ＦＥＳ
が位相補償回路１２および電力増幅器１４を介してフォ
ーカスアクチュエータ１０にフィードバックされること
により、フォーカスサーボが行われる。
ーカスエラー信号ＦＥＳの位相を補償する位相補償回路
１２と、電力増幅器１４とを備える。また、フォーカス
アクチュエータ１０は上記電力増幅器１４に接続され、
常時、対物レンズ５から出射されたレーザ光Ｐの焦点が
光ディスク２０の記録層２２に合うように、対物レンズ
５を制御する。すなわち、フォーカスエラー信号ＦＥＳ
が位相補償回路１２および電力増幅器１４を介してフォ
ーカスアクチュエータ１０にフィードバックされること
により、フォーカスサーボが行われる。
【００４２】このフォーカスサーボを行うにあたり、ま
ず、対物レンズ５を移動させ、レーザ光Ｐの焦点を光デ
ィスク２０の記録層２２まで移動させるフォーカスサー
チが行われる。これは、フォーカスエラー信号ＦＥＳの
ダイナミックレンジが数１０μｍと小さいため、記録層
２２が対物レンズ５の焦点深度内に入るように、対物レ
ンズ５を強制的に移動させる必要があるからである。本
実施の形態では、このフォーカスサーチを用いて光ディ
スク２０の基板の厚みの判別を行う。
ず、対物レンズ５を移動させ、レーザ光Ｐの焦点を光デ
ィスク２０の記録層２２まで移動させるフォーカスサー
チが行われる。これは、フォーカスエラー信号ＦＥＳの
ダイナミックレンジが数１０μｍと小さいため、記録層
２２が対物レンズ５の焦点深度内に入るように、対物レ
ンズ５を強制的に移動させる必要があるからである。本
実施の形態では、このフォーカスサーチを用いて光ディ
スク２０の基板の厚みの判別を行う。
【００４３】フォーカスサーチを行うために、上述の電
力増幅器１４およびフォーカスアクチュエータ１０の他
に、スイッチ回路１３、Ｄ／Ａ（デジタル／アナログ）
変換器１５、コントローラであるＭＰＵ（マイクロプロ
セッサ）１６、およびコンパレータ１７が設けられる。
力増幅器１４およびフォーカスアクチュエータ１０の他
に、スイッチ回路１３、Ｄ／Ａ（デジタル／アナログ）
変換器１５、コントローラであるＭＰＵ（マイクロプロ
セッサ）１６、およびコンパレータ１７が設けられる。
【００４４】スイッチ回路１３は、位相補償回路１２と
Ｄ／Ａ変換器１５とのどちらかを電力増幅器１４に接続
するための切り替え回路である。すなわち、スイッチ回
路１３の端子Ｂには位相補償回路１２が接続される一
方、端子ＡにはＤ／Ａ変換器１５が接続される。そし
て、フォーカスサーチの間は端子Ａ側に接続し、図示し
ないフォーカス引き込み制御回路からの制御信号Ｆonに
よって、スイッチ回路１３の接点を端子Ａから端子Ｂに
切り替え、フォーカスサーボをオンする。
Ｄ／Ａ変換器１５とのどちらかを電力増幅器１４に接続
するための切り替え回路である。すなわち、スイッチ回
路１３の端子Ｂには位相補償回路１２が接続される一
方、端子ＡにはＤ／Ａ変換器１５が接続される。そし
て、フォーカスサーチの間は端子Ａ側に接続し、図示し
ないフォーカス引き込み制御回路からの制御信号Ｆonに
よって、スイッチ回路１３の接点を端子Ａから端子Ｂに
切り替え、フォーカスサーボをオンする。
【００４５】Ｄ／Ａ変換器１５は、ＭＰＵ１６からのデ
ジタル信号である入力信号Ｄinに基づいて、アナログ信
号である出力信号ＤＡout を出力する。
ジタル信号である入力信号Ｄinに基づいて、アナログ信
号である出力信号ＤＡout を出力する。
【００４６】ＭＰＵ１６は、上記出力信号ＤＡout の値
を設定する。出力信号ＤＡout の最小出力値ＤＡ
min は、対物レンズ５から出射されるレーザ光Ｐの焦点
が光ディスク２０よりも下方になるように決められる。
また、出力信号ＤＡout の最大出力値ＤＡmax は、対物
レンズ５が光ディスク２０に衝突しない程度に設定され
る。また、ＭＰＵ１６は、フォーカスサーチの際に、対
物レンズ５から出射されるレーザ光Ｐの焦点が、光ディ
スク２０の基板表面を通過するときと、記録層２２を通
過するときとの、コンパレータ１７からのデジタル信号
ＣＰout の波形の時間間隔を計測する計測手段を有して
いる。
を設定する。出力信号ＤＡout の最小出力値ＤＡ
min は、対物レンズ５から出射されるレーザ光Ｐの焦点
が光ディスク２０よりも下方になるように決められる。
また、出力信号ＤＡout の最大出力値ＤＡmax は、対物
レンズ５が光ディスク２０に衝突しない程度に設定され
る。また、ＭＰＵ１６は、フォーカスサーチの際に、対
物レンズ５から出射されるレーザ光Ｐの焦点が、光ディ
スク２０の基板表面を通過するときと、記録層２２を通
過するときとの、コンパレータ１７からのデジタル信号
ＣＰout の波形の時間間隔を計測する計測手段を有して
いる。
【００４７】上記コンパレータ１７は、そのプラス端子
に差動増幅器９から出力されるフォーカスエラー信号Ｆ
ＥＳが入力される一方、マイナス端子にしきい値電圧Ｖ
refが印加される。そして、フォーカスサーチの際に、
上記しきい値電圧Ｖref と、フォーカスエラー信号ＦＥ
Ｓとを比較することによって、フォーカスエラー信号Ｆ
ＥＳの変化をデジタル信号ＣＰout として検出し、ＭＰ
Ｕ１６に入力する。ここで、デジタル信号ＣＰout は、
フォーカスエラー信号ＦＥＳがしきい値電圧Ｖref より
大きいときにはハイレベル（以下、Ｈレベルと略称す
る）、フォーカスエラー信号ＦＥＳがしきい値電圧Ｖ
ref より小さいときにはローレベル（以下、Ｌレベルと
略称する）となる信号である。
に差動増幅器９から出力されるフォーカスエラー信号Ｆ
ＥＳが入力される一方、マイナス端子にしきい値電圧Ｖ
refが印加される。そして、フォーカスサーチの際に、
上記しきい値電圧Ｖref と、フォーカスエラー信号ＦＥ
Ｓとを比較することによって、フォーカスエラー信号Ｆ
ＥＳの変化をデジタル信号ＣＰout として検出し、ＭＰ
Ｕ１６に入力する。ここで、デジタル信号ＣＰout は、
フォーカスエラー信号ＦＥＳがしきい値電圧Ｖref より
大きいときにはハイレベル（以下、Ｈレベルと略称す
る）、フォーカスエラー信号ＦＥＳがしきい値電圧Ｖ
ref より小さいときにはローレベル（以下、Ｌレベルと
略称する）となる信号である。
【００４８】なお、請求項１記載のフォーカスサーチ手
段は、フォーカスアクチュエータ１０、スイッチ回路１
３、電力増幅器１４、Ｄ／Ａ変換器１５、およびＭＰＵ
１６により構成される。また、請求項２および３記載の
比較手段は、コンパレータ１７である。
段は、フォーカスアクチュエータ１０、スイッチ回路１
３、電力増幅器１４、Ｄ／Ａ変換器１５、およびＭＰＵ
１６により構成される。また、請求項２および３記載の
比較手段は、コンパレータ１７である。
【００４９】上記構成によれば、ＭＰＵ１６によりＤ／
Ａ変換器１５の出力信号ＤＡout を徐々に変化させて、
スイッチ回路１３、電力増幅器１４、およびフォーカス
アクチュエータ１０を介して対物レンズ５を移動させ、
フォーカスサーチを行う。
Ａ変換器１５の出力信号ＤＡout を徐々に変化させて、
スイッチ回路１３、電力増幅器１４、およびフォーカス
アクチュエータ１０を介して対物レンズ５を移動させ、
フォーカスサーチを行う。
【００５０】図２は、横軸に時間をとってフォーカスサ
ーチの様子を示したものである。同図（ａ）は対物レン
ズ５と光ディスク２０との位置関係を示し、同図（ｂ）
はＤ／Ａ変換器１５の出力信号ＤＡout 、同図（ｃ）は
フォーカスエラー信号ＦＥＳ、および同図（ｄ）はコン
パレータ１７のデジタル信号ＣＰout の信号波形をそれ
ぞれ示している。なお本図において、記録層２２は、基
板２１の厚み１．２ｍｍの場合には記録層２２ａとし、
厚み０．６ｍｍの場合には記録層２２ｂとして記載して
いる。
ーチの様子を示したものである。同図（ａ）は対物レン
ズ５と光ディスク２０との位置関係を示し、同図（ｂ）
はＤ／Ａ変換器１５の出力信号ＤＡout 、同図（ｃ）は
フォーカスエラー信号ＦＥＳ、および同図（ｄ）はコン
パレータ１７のデジタル信号ＣＰout の信号波形をそれ
ぞれ示している。なお本図において、記録層２２は、基
板２１の厚み１．２ｍｍの場合には記録層２２ａとし、
厚み０．６ｍｍの場合には記録層２２ｂとして記載して
いる。
【００５１】まず、光ディスク２０の基板２１の厚みが
Ｌa ＝１．２ｍｍの場合について考える。時間ｔ1 にお
いて、フォーカスサーチがスタートすると、Ｄ／Ａ変換
器１５の出力信号ＤＡout として最小出力値ＤＡmin が
出力される。このとき、フォーカスエラー信号ＦＥＳは
ダイナミックレンジ外なので波形は現れない。
Ｌa ＝１．２ｍｍの場合について考える。時間ｔ1 にお
いて、フォーカスサーチがスタートすると、Ｄ／Ａ変換
器１５の出力信号ＤＡout として最小出力値ＤＡmin が
出力される。このとき、フォーカスエラー信号ＦＥＳは
ダイナミックレンジ外なので波形は現れない。
【００５２】ＭＰＵ１６によって徐々に出力信号ＤＡ
out を大きくしていき、時間ｔ2 になると、レーザ光の
焦点Ｚが光ディスク２０の基板表面２１ｓ上にくる。こ
の基板表面２１ｓの反射光によって、フォーカスエラー
信号ＦＥＳには合焦位置で０ＶとなるようなＳ字波形が
現れる。フォーカスエラー信号ＦＥＳがしきい値電圧Ｖ
ref を越えると、コンパレータ１７からデジタル信号Ｃ
Ｐout のパルスが検出される。
out を大きくしていき、時間ｔ2 になると、レーザ光の
焦点Ｚが光ディスク２０の基板表面２１ｓ上にくる。こ
の基板表面２１ｓの反射光によって、フォーカスエラー
信号ＦＥＳには合焦位置で０ＶとなるようなＳ字波形が
現れる。フォーカスエラー信号ＦＥＳがしきい値電圧Ｖ
ref を越えると、コンパレータ１７からデジタル信号Ｃ
Ｐout のパルスが検出される。
【００５３】時間ｔ3 においては、焦点Ｚは光ディスク
２０の基板２１の内部にあるので、フォーカスエラー信
号ＦＥＳに波形は現れない。
２０の基板２１の内部にあるので、フォーカスエラー信
号ＦＥＳに波形は現れない。
【００５４】時間ｔ4 において、焦点Ｚは光ディスク２
０の記録層２２ａにある。この記録層２２ａの反射光に
よって、フォーカスエラー信号ＦＥＳには、合焦位置で
０ＶとなるようなＳ字波形が現れる。記録層２２ａでの
反射光量は、基板表面２１ｓでの反射光量より大きいの
で、フォーカスエラー信号ＦＥＳの波形のピーク電圧は
時間ｔ2 のときより大きくなる。時間ｔ2 の場合と同様
に、フォーカスエラー信号ＦＥＳがしきい値電圧Ｖref
を越えたところで、コンパレータ１７からデジタル信号
ＣＰout のパルスが検出される。
０の記録層２２ａにある。この記録層２２ａの反射光に
よって、フォーカスエラー信号ＦＥＳには、合焦位置で
０ＶとなるようなＳ字波形が現れる。記録層２２ａでの
反射光量は、基板表面２１ｓでの反射光量より大きいの
で、フォーカスエラー信号ＦＥＳの波形のピーク電圧は
時間ｔ2 のときより大きくなる。時間ｔ2 の場合と同様
に、フォーカスエラー信号ＦＥＳがしきい値電圧Ｖref
を越えたところで、コンパレータ１７からデジタル信号
ＣＰout のパルスが検出される。
【００５５】時間ｔ5 では、レーザ光は記録層２２ａを
挟んで基板２１とは反対側に形成された反射膜（図示せ
ず）で反射され、その焦点Ｚは基板２１の内部にあるの
で、フォーカスエラー信号ＦＥＳに波形は現れない。
挟んで基板２１とは反対側に形成された反射膜（図示せ
ず）で反射され、その焦点Ｚは基板２１の内部にあるの
で、フォーカスエラー信号ＦＥＳに波形は現れない。
【００５６】その後、出力信号ＤＡout は最大出力値Ｄ
Ａmax となり、一連のフォーカスサーチは終了する。
Ａmax となり、一連のフォーカスサーチは終了する。
【００５７】次に、光ディスク２０の基板２１の厚みが
Ｌb ＝０．６ｍｍの場合について考える。時間ｔ1 にお
いては、厚みＬa の場合と同様に、フォーカスエラー信
号ＦＥＳに波形は現れない。時間ｔ2 では、厚みＬa の
場合と同様に、光ディスク２０の基板表面２１ｓでの反
射光によって、フォーカスエラー信号ＦＥＳにＳ字波形
が現れる。時間ｔ3 においては、基板２１の厚みがＬb
＝０．６ｍｍなので、図２（ａ）の破線に示すように、
記録層２２ｂがこの時の合焦位置にある。そのため、同
図（ｃ）の破線に示すように、フォーカスエラー信号Ｆ
ＥＳにＳ字波形が現れる。時間ｔ4 ・ｔ5 では、レーザ
光の焦点Ｚは光ディスク２０の基板２１の内部にあるの
で、フォーカスエラー信号ＦＥＳに波形は現れない。
Ｌb ＝０．６ｍｍの場合について考える。時間ｔ1 にお
いては、厚みＬa の場合と同様に、フォーカスエラー信
号ＦＥＳに波形は現れない。時間ｔ2 では、厚みＬa の
場合と同様に、光ディスク２０の基板表面２１ｓでの反
射光によって、フォーカスエラー信号ＦＥＳにＳ字波形
が現れる。時間ｔ3 においては、基板２１の厚みがＬb
＝０．６ｍｍなので、図２（ａ）の破線に示すように、
記録層２２ｂがこの時の合焦位置にある。そのため、同
図（ｃ）の破線に示すように、フォーカスエラー信号Ｆ
ＥＳにＳ字波形が現れる。時間ｔ4 ・ｔ5 では、レーザ
光の焦点Ｚは光ディスク２０の基板２１の内部にあるの
で、フォーカスエラー信号ＦＥＳに波形は現れない。
【００５８】このように、光ディスク２０の基板２１の
厚みの違いによって、フォーカスエラー信号ＦＥＳに現
れるＳ字波形の間隔が異なる。したがって、フォーカス
サーチにおいて、対物レンズ５から出射されるレーザ光
の焦点Ｚが、光ディスク２０の基板表面２１ｓを通過す
る際にコンパレータ１７から出力される最初のパルスか
ら、焦点Ｚが記録層２２を通過する際にコンパレータ１
７から出力される２番目のパルスまでの時間をＭＰＵ１
６によって、計測することにより光ディスク２０の基板
２１の厚みを判別できる。
厚みの違いによって、フォーカスエラー信号ＦＥＳに現
れるＳ字波形の間隔が異なる。したがって、フォーカス
サーチにおいて、対物レンズ５から出射されるレーザ光
の焦点Ｚが、光ディスク２０の基板表面２１ｓを通過す
る際にコンパレータ１７から出力される最初のパルスか
ら、焦点Ｚが記録層２２を通過する際にコンパレータ１
７から出力される２番目のパルスまでの時間をＭＰＵ１
６によって、計測することにより光ディスク２０の基板
２１の厚みを判別できる。
【００５９】なお、フォーカスサーチは、光ディスク基
板の厚みを判別するためのフォーカスサーチと、フォー
カスサーボをオンするためのフォーカスサーチとをそれ
ぞれ行う。まず、レーザ光の焦点Ｚが記録層２２を越え
るまでフォーカスサーチを行うことによって上述のよう
に光ディスク基板の厚みを判別する。次いで、上記判別
結果に基づいて収差補正を行う。その後、フォーカスサ
ーボをオンする動作が行われる。つまり、レーザ光の焦
点Ｚが記録層２２に到達したとき、フォーカス引き込み
制御回路からの制御信号Ｆonによって、前記スイッチ回
路１３の接点が端子Ａから端子Ｂに切り替えられ、フォ
ーカスサーボがオンされる。
板の厚みを判別するためのフォーカスサーチと、フォー
カスサーボをオンするためのフォーカスサーチとをそれ
ぞれ行う。まず、レーザ光の焦点Ｚが記録層２２を越え
るまでフォーカスサーチを行うことによって上述のよう
に光ディスク基板の厚みを判別する。次いで、上記判別
結果に基づいて収差補正を行う。その後、フォーカスサ
ーボをオンする動作が行われる。つまり、レーザ光の焦
点Ｚが記録層２２に到達したとき、フォーカス引き込み
制御回路からの制御信号Ｆonによって、前記スイッチ回
路１３の接点が端子Ａから端子Ｂに切り替えられ、フォ
ーカスサーボがオンされる。
【００６０】図３のフローチャートに基づいて、ＭＰＵ
１６による時間計数動作を説明する。フォーカスサーチ
をスタートさせることによって、Ｄ／Ａ変換器１５の出
力信号ＤＡout は最小出力値ＤＡmin から徐々に増加し
ていく。Ｓ１では、ＭＰＵ１６内の時間計数用の変数Ｔ
をゼロにセットする。なお、Ｄ／Ａ変換器１５は、時間
の経過（対物レンズ５の移動）とともに、入力信号Ｄin
を決定するＤ／Ａ変換器入力用データの変数Ｄが１カウ
ントずつアップするように設定されている。
１６による時間計数動作を説明する。フォーカスサーチ
をスタートさせることによって、Ｄ／Ａ変換器１５の出
力信号ＤＡout は最小出力値ＤＡmin から徐々に増加し
ていく。Ｓ１では、ＭＰＵ１６内の時間計数用の変数Ｔ
をゼロにセットする。なお、Ｄ／Ａ変換器１５は、時間
の経過（対物レンズ５の移動）とともに、入力信号Ｄin
を決定するＤ／Ａ変換器入力用データの変数Ｄが１カウ
ントずつアップするように設定されている。
【００６１】次に、コンパレータ１７からのデジタル信
号ＣＰout がＨレベルかどうかを判断する（Ｓ２）。Ｓ
２において、デジタル信号ＣＰout がＨレベルとなる
と、次にデジタル信号ＣＰout がＬレベルになるのを判
別する（Ｓ３）。そして、デジタル信号ＣＰout がＬレ
ベルとなるとＳ４に進む。すなわち、Ｓ２およびＳ３で
は、デジタル信号ＣＰout がＨレベルになり、ついで、
Ｌレベルになるのを待つことによって、最初のパルスの
立ち下がりエッジを検出する。
号ＣＰout がＨレベルかどうかを判断する（Ｓ２）。Ｓ
２において、デジタル信号ＣＰout がＨレベルとなる
と、次にデジタル信号ＣＰout がＬレベルになるのを判
別する（Ｓ３）。そして、デジタル信号ＣＰout がＬレ
ベルとなるとＳ４に進む。すなわち、Ｓ２およびＳ３で
は、デジタル信号ＣＰout がＨレベルになり、ついで、
Ｌレベルになるのを待つことによって、最初のパルスの
立ち下がりエッジを検出する。
【００６２】Ｓ４では、デジタル信号ＣＰout が再びＨ
レベルになるまでの間、変数Ｔの値を１カウントずつア
ップする。そして、Ｓ５でデジタル信号ＣＰout がＨレ
ベルとなると、次にＬレベルになるまで、さらに変数Ｔ
の値を１カウントずつアップする（Ｓ６・Ｓ７）。すな
わち、Ｓ４〜Ｓ７では、２番目のパルスを検出するまで
の間、変数Ｔをカウントアップすることにより、最初の
パルスの立ち下がりエッジから２番目のパルスの立ち下
がりエッジまでの時間間隔が変数Ｔに計数されることに
なる。例えば、厚みＬa ＝１．２ｍｍの場合には変数Ｔ
の計数値はＴaとなり、厚みＬb ＝０．６ｍｍの場合に
は変数Ｔの計数値はＴb となる（図２（ｄ）参照）。
レベルになるまでの間、変数Ｔの値を１カウントずつア
ップする。そして、Ｓ５でデジタル信号ＣＰout がＨレ
ベルとなると、次にＬレベルになるまで、さらに変数Ｔ
の値を１カウントずつアップする（Ｓ６・Ｓ７）。すな
わち、Ｓ４〜Ｓ７では、２番目のパルスを検出するまで
の間、変数Ｔをカウントアップすることにより、最初の
パルスの立ち下がりエッジから２番目のパルスの立ち下
がりエッジまでの時間間隔が変数Ｔに計数されることに
なる。例えば、厚みＬa ＝１．２ｍｍの場合には変数Ｔ
の計数値はＴaとなり、厚みＬb ＝０．６ｍｍの場合に
は変数Ｔの計数値はＴb となる（図２（ｄ）参照）。
【００６３】次に、変数Ｔの計数値を予め決められた基
準値Ｔref と比較する（Ｓ８）。Ｓ８において、変数Ｔ
の計数値が基準値Ｔref より大きい場合には基板２１は
厚み１．２ｍｍと認識される（Ｓ９）。一方、Ｓ８にお
いて、計数値が基準値Ｔrefより小さい場合には基板２
１は厚み０．６ｍｍと認識される（Ｓ１０）。ここで、
基準値Ｔref は、１．２ｍｍ基板厚の光ディスク２０で
の標準的な計数値Ｔaと、０．６ｍｍ基板厚の標準的な
計数値Ｔb との中間値に決められている。
準値Ｔref と比較する（Ｓ８）。Ｓ８において、変数Ｔ
の計数値が基準値Ｔref より大きい場合には基板２１は
厚み１．２ｍｍと認識される（Ｓ９）。一方、Ｓ８にお
いて、計数値が基準値Ｔrefより小さい場合には基板２
１は厚み０．６ｍｍと認識される（Ｓ１０）。ここで、
基準値Ｔref は、１．２ｍｍ基板厚の光ディスク２０で
の標準的な計数値Ｔaと、０．６ｍｍ基板厚の標準的な
計数値Ｔb との中間値に決められている。
【００６４】以上のように、本実施の形態の光ディスク
装置はサーボ検出用の２分割フォトダイオード８から出
力される信号を用いているので、新たなセンサ等を光デ
ィスク装置に付加することなく、光ディスク２０の基板
２１の厚みを判別することができる。また、光ディスク
２０やそのカートリッジに厚さ判別のための情報を付加
する必要もない。さらに、光ディスク２０に記録された
情報を再生する前に基板２１の厚さを判別することがで
きる。
装置はサーボ検出用の２分割フォトダイオード８から出
力される信号を用いているので、新たなセンサ等を光デ
ィスク装置に付加することなく、光ディスク２０の基板
２１の厚みを判別することができる。また、光ディスク
２０やそのカートリッジに厚さ判別のための情報を付加
する必要もない。さらに、光ディスク２０に記録された
情報を再生する前に基板２１の厚さを判別することがで
きる。
【００６５】なお、上記のようにして基板２１の厚みを
検出する方法では、回転による光ディスク２０の面振れ
があると検出誤差となってしまう。そこで、このような
検出は、光ディスク２０を回転する前に行うか、面振れ
の少ない光ディスク２０の内周側で行うことにより、検
出精度を高めることができる。
検出する方法では、回転による光ディスク２０の面振れ
があると検出誤差となってしまう。そこで、このような
検出は、光ディスク２０を回転する前に行うか、面振れ
の少ない光ディスク２０の内周側で行うことにより、検
出精度を高めることができる。
【００６６】なお、本実施の形態では、ＭＰＵ１６を用
いて、ソフトウェアによって時間計数を行っているが、
パルスカウンタ回路等のハードウェアを用いて時間計数
を行ってもよい。
いて、ソフトウェアによって時間計数を行っているが、
パルスカウンタ回路等のハードウェアを用いて時間計数
を行ってもよい。
【００６７】〔実施の形態２〕本発明の実施の形態２に
ついて図２および図４に基づいて説明すれば、以下の通
りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の形態の図
面に示した部材と同一の部材には同一の符号を付記し、
その説明を省略する。
ついて図２および図４に基づいて説明すれば、以下の通
りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の形態の図
面に示した部材と同一の部材には同一の符号を付記し、
その説明を省略する。
【００６８】本実施の形態の光ディスク装置のＭＰＵ１
６は、実施の形態１の計数手段の代わりに、コンパレー
タ１７からのデジタル信号ＣＰout に基づいて対物レン
ズ駆動信号のレベルを検出するレベル検出手段を有す
る。これ以外の光ディスク装置の構成は、実施の形態１
と同様の構成である。
６は、実施の形態１の計数手段の代わりに、コンパレー
タ１７からのデジタル信号ＣＰout に基づいて対物レン
ズ駆動信号のレベルを検出するレベル検出手段を有す
る。これ以外の光ディスク装置の構成は、実施の形態１
と同様の構成である。
【００６９】上記対物レンズ駆動信号としては、Ｄ／Ａ
変換器１５の入力信号Ｄinを用いる。入力信号ＤinはＭ
ＰＵ１６の出力信号なので、信号検出のためのハードウ
ェアを用いずに入力信号Ｄinの値を知ることができる。
変換器１５の入力信号Ｄinを用いる。入力信号ＤinはＭ
ＰＵ１６の出力信号なので、信号検出のためのハードウ
ェアを用いずに入力信号Ｄinの値を知ることができる。
【００７０】図４のフローチャートに基づいて、ＭＰＵ
１６によるレベル検出動作を説明する。まず、入力信号
Ｄinを決定するＤ／Ａ変換器入力用データの変数Ｄを最
小値ゼロにセットする（Ｓ１１）。次に、上記値をＭＰ
Ｕ１６からＤ／Ａ変換器１５に設定する（Ｓ１２）。
１６によるレベル検出動作を説明する。まず、入力信号
Ｄinを決定するＤ／Ａ変換器入力用データの変数Ｄを最
小値ゼロにセットする（Ｓ１１）。次に、上記値をＭＰ
Ｕ１６からＤ／Ａ変換器１５に設定する（Ｓ１２）。
【００７１】Ｓ１３では、コンパレータ１７からのデジ
タル信号ＣＰout がＨレベルかどうかを判断し、Ｈレベ
ルでないならば変数Ｄの値を１カウントアップして（Ｓ
１４）、Ｄ／Ａ変換器１５に再び設定する（Ｓ１５）。
そして、Ｓ１３でデジタル信号ＣＰout がＨレベルと判
断されると、ついでＬレベルかどうかが判断される（Ｓ
１６）。Ｓ１６において、Ｌレベルでない場合には変数
Ｄの値を１カウントアップして（Ｓ１７）、Ｄ／Ａ変換
器１５に再度設定する（Ｓ１８）。すなわち、Ｓ１３〜
Ｓ１８では、最初のパルスを検出するまで、変数Ｄの値
（Ｄ／Ａ変換器１５の設定）を１カウントずつアップ
し、対物レンズ５を光ディスク２０に近づける。そし
て、デジタル信号ＣＰout がＨレベルとなり、ついでＬ
レベルとなるのを待つことによって、最初のパルスの立
ち下がりエッジを検出する。
タル信号ＣＰout がＨレベルかどうかを判断し、Ｈレベ
ルでないならば変数Ｄの値を１カウントアップして（Ｓ
１４）、Ｄ／Ａ変換器１５に再び設定する（Ｓ１５）。
そして、Ｓ１３でデジタル信号ＣＰout がＨレベルと判
断されると、ついでＬレベルかどうかが判断される（Ｓ
１６）。Ｓ１６において、Ｌレベルでない場合には変数
Ｄの値を１カウントアップして（Ｓ１７）、Ｄ／Ａ変換
器１５に再度設定する（Ｓ１８）。すなわち、Ｓ１３〜
Ｓ１８では、最初のパルスを検出するまで、変数Ｄの値
（Ｄ／Ａ変換器１５の設定）を１カウントずつアップ
し、対物レンズ５を光ディスク２０に近づける。そし
て、デジタル信号ＣＰout がＨレベルとなり、ついでＬ
レベルとなるのを待つことによって、最初のパルスの立
ち下がりエッジを検出する。
【００７２】Ｓ１９では、最初のパルスを検出したとき
の変数Ｄの値を変数Ｄ1 に記憶する。Ｓ２０〜Ｓ２５で
は、２番目のパルスを検出するまで、上記Ｓ１３〜１８
と同様にして変数Ｄの値（Ｄ／Ａ変換器１５の設定）を
１カウントずつアップし、対物レンズ５を光ディスク２
０に近づける。そして、デジタル信号ＣＰout がＨレベ
ルとなり、ついでＬレベルとなるのを待つことによっ
て、２番目のパルスの立ち下がりエッジを検出する。
の変数Ｄの値を変数Ｄ1 に記憶する。Ｓ２０〜Ｓ２５で
は、２番目のパルスを検出するまで、上記Ｓ１３〜１８
と同様にして変数Ｄの値（Ｄ／Ａ変換器１５の設定）を
１カウントずつアップし、対物レンズ５を光ディスク２
０に近づける。そして、デジタル信号ＣＰout がＨレベ
ルとなり、ついでＬレベルとなるのを待つことによっ
て、２番目のパルスの立ち下がりエッジを検出する。
【００７３】Ｓ２６では、２番目のパルスを検出したと
きの変数Ｄの値を変数Ｄ2 に記憶する。Ｓ２７では、変
数Ｄ1 と変数Ｄ2 に記憶された値の差を変数Ｄ2-1 に記
憶する。すなわち、変数Ｄ2-1 の値は、最初のパルスの
立ち下がりエッジを検出したときの対物レンズ駆動信号
レベルと、２番目のパルスの立ち下がりエッジを検出し
たときとの対物レンズ駆動信号レベルとの差を表してい
る。例えば、厚みＬa＝１．２ｍｍの場合には変数Ｄ
2-1 の値はＤa となり、厚みＬb ＝０．６ｍｍの場合に
は変数Ｄ2-1 の値はＤb となる（図２（ｂ）参照）。
きの変数Ｄの値を変数Ｄ2 に記憶する。Ｓ２７では、変
数Ｄ1 と変数Ｄ2 に記憶された値の差を変数Ｄ2-1 に記
憶する。すなわち、変数Ｄ2-1 の値は、最初のパルスの
立ち下がりエッジを検出したときの対物レンズ駆動信号
レベルと、２番目のパルスの立ち下がりエッジを検出し
たときとの対物レンズ駆動信号レベルとの差を表してい
る。例えば、厚みＬa＝１．２ｍｍの場合には変数Ｄ
2-1 の値はＤa となり、厚みＬb ＝０．６ｍｍの場合に
は変数Ｄ2-1 の値はＤb となる（図２（ｂ）参照）。
【００７４】変数Ｄ2-1 の値が予め決められた基準値Ｄ
ref より大きい場合には１．２ｍｍ基板厚の光ディスク
２０と認識し（Ｓ２９）、基準値Ｄref より小さい場合
には０．６ｍｍ基板厚の光ディスク２０と認識する（Ｓ
３０）。ここで、基準値Ｄre f は、１．２ｍｍの基板厚
の光ディスク２０での標準的な値Ｄa と、０．６ｍｍの
基板厚の標準的な値Ｄb との中間値に決められている。
ref より大きい場合には１．２ｍｍ基板厚の光ディスク
２０と認識し（Ｓ２９）、基準値Ｄref より小さい場合
には０．６ｍｍ基板厚の光ディスク２０と認識する（Ｓ
３０）。ここで、基準値Ｄre f は、１．２ｍｍの基板厚
の光ディスク２０での標準的な値Ｄa と、０．６ｍｍの
基板厚の標準的な値Ｄb との中間値に決められている。
【００７５】以上のように、本実施の形態の光ディスク
装置は、対物レンズ５から出射されるレーザ光の焦点が
光ディスク２０の基板表面を通過する際にコンパレータ
１７から最初のパルスが出力されたときの対物レンズ駆
動信号のレベルと、焦点が記録層２２を通過する際にコ
ンパレータ１７から２番目のパルスが出力されたときの
対物レンズ駆動信号のレベルとの、レベル差を検出する
ことによって光ディスク２０の基板２１の厚みを判別す
ることができる。
装置は、対物レンズ５から出射されるレーザ光の焦点が
光ディスク２０の基板表面を通過する際にコンパレータ
１７から最初のパルスが出力されたときの対物レンズ駆
動信号のレベルと、焦点が記録層２２を通過する際にコ
ンパレータ１７から２番目のパルスが出力されたときの
対物レンズ駆動信号のレベルとの、レベル差を検出する
ことによって光ディスク２０の基板２１の厚みを判別す
ることができる。
【００７６】なお、本実施の形態では、ＭＰＵ１６を用
いてソフトウェアによってレベル検出を行っているが、
例えば、フォーカスサーチに低周波発信回路を用いてレ
ベル検出を行ってもよい。
いてソフトウェアによってレベル検出を行っているが、
例えば、フォーカスサーチに低周波発信回路を用いてレ
ベル検出を行ってもよい。
【００７７】また、対物レンズ駆動信号レベルとして、
上記低周波発信回路の出力や電力増幅器１４の出力電流
を検出してもよい。しかしながら、現実にはソフトウェ
アによって処理を行ったほうが、部品点数を削減できる
というメリットがある。
上記低周波発信回路の出力や電力増幅器１４の出力電流
を検出してもよい。しかしながら、現実にはソフトウェ
アによって処理を行ったほうが、部品点数を削減できる
というメリットがある。
【００７８】なお、上記実施の形態１および２では、２
分割フォトダイオード８の出力信号の差信号であるフォ
ーカスエラー信号ＦＥＳを用いたが、２分割フォトダイ
オード８の出力信号の和信号を用いてもよい。この場
合、基板表面あるいは記録層２２にレーザ光の焦点がき
たとき、和信号にはＳ字波形ではなく反射光量に比例し
た信号波形が現れる。
分割フォトダイオード８の出力信号の差信号であるフォ
ーカスエラー信号ＦＥＳを用いたが、２分割フォトダイ
オード８の出力信号の和信号を用いてもよい。この場
合、基板表面あるいは記録層２２にレーザ光の焦点がき
たとき、和信号にはＳ字波形ではなく反射光量に比例し
た信号波形が現れる。
【００７９】また、サーボ検出用の２分割フォトダイオ
ード８の出力信号ではなく、ラジアルエラー信号検出用
のフォトダイオードや、情報再生用のフォトダイオード
の出力信号を用いてもよい。
ード８の出力信号ではなく、ラジアルエラー信号検出用
のフォトダイオードや、情報再生用のフォトダイオード
の出力信号を用いてもよい。
【００８０】〔実施の形態３〕本発明の実施の形態３に
ついて図５および図６に基づいて説明すれば、以下の通
りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の形態の図
面に示した部材と同一の部材には同一の符号を付記し、
その説明を省略する。
ついて図５および図６に基づいて説明すれば、以下の通
りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の形態の図
面に示した部材と同一の部材には同一の符号を付記し、
その説明を省略する。
【００８１】本実施の形態の光ディスク装置は、半導体
レーザパワー検出用の光検出器の出力信号を用いて、光
ディスク基板の厚さを検出するものである。上記光ディ
スク装置は、図５に示すように、実施の形態１の構成に
加えて、半導体レーザ出射光量検出用光検出器（以下、
単に光検出器と略称する）１１およびＡＰＣ（Automati
c Power Control)回路１８を備えた構成である。
レーザパワー検出用の光検出器の出力信号を用いて、光
ディスク基板の厚さを検出するものである。上記光ディ
スク装置は、図５に示すように、実施の形態１の構成に
加えて、半導体レーザ出射光量検出用光検出器（以下、
単に光検出器と略称する）１１およびＡＰＣ（Automati
c Power Control)回路１８を備えた構成である。
【００８２】光検出器１１は、半導体レーザ２から出射
されたレーザ光Ｐをレーザパワー検出信号Ｍp として検
出する。ＡＰＣ回路１８は、レーザパワー検出信号Ｍp
に基づいて、入出力特性の温度依存性が大きい半導体レ
ーザ２の出射光量を一定に保つ制御、いわゆるＡＰＣ制
御を行うものである。また、コンパレータ１７のプラス
端子には、レーザパワー検出信号Ｍp が入力される。
されたレーザ光Ｐをレーザパワー検出信号Ｍp として検
出する。ＡＰＣ回路１８は、レーザパワー検出信号Ｍp
に基づいて、入出力特性の温度依存性が大きい半導体レ
ーザ２の出射光量を一定に保つ制御、いわゆるＡＰＣ制
御を行うものである。また、コンパレータ１７のプラス
端子には、レーザパワー検出信号Ｍp が入力される。
【００８３】上記構成によれば、半導体レーザ２から出
射されたレーザ光Ｐは、ビームスプリッタ４によりその
一部が反射されて光検出器１１にモニターされる。光検
出器１１からのレーザパワー検出信号Ｍp は、ＡＰＣ回
路１８を介して半導体レーザ２にフィードバックされＡ
ＰＣ制御がなされる。
射されたレーザ光Ｐは、ビームスプリッタ４によりその
一部が反射されて光検出器１１にモニターされる。光検
出器１１からのレーザパワー検出信号Ｍp は、ＡＰＣ回
路１８を介して半導体レーザ２にフィードバックされＡ
ＰＣ制御がなされる。
【００８４】一方、図６に示すように、フォーカスエラ
ー信号ＦＥＳには、実施の形態１で説明したように、フ
ォーカスサーチの際に対物レンズ５から出射されるレー
ザ光の焦点が光ディスク２０の基板表面および記録層２
２を通過するときにＳ字波形が現れる。このとき、レー
ザパワー検出信号Ｍp は急峻に増加する。
ー信号ＦＥＳには、実施の形態１で説明したように、フ
ォーカスサーチの際に対物レンズ５から出射されるレー
ザ光の焦点が光ディスク２０の基板表面および記録層２
２を通過するときにＳ字波形が現れる。このとき、レー
ザパワー検出信号Ｍp は急峻に増加する。
【００８５】このように、合焦位置付近でレーザパワー
検出信号Ｍp が急峻に増加する現象は、光ディスク２０
からの反射光の一部が半導体レーザ２に帰還し、光ディ
スク２０が半導体レーザ発振器の外部鏡として作用する
結合共振現象（スクープ効果）として理解されている
（ビデオディスクとＤＡＤ入門：コロナ社）。ここで、
図中のレベルＶAPC は、ＡＰＣ動作によって半導体レー
ザ２の出射光量が一定に制御されているレベルである。
検出信号Ｍp が急峻に増加する現象は、光ディスク２０
からの反射光の一部が半導体レーザ２に帰還し、光ディ
スク２０が半導体レーザ発振器の外部鏡として作用する
結合共振現象（スクープ効果）として理解されている
（ビデオディスクとＤＡＤ入門：コロナ社）。ここで、
図中のレベルＶAPC は、ＡＰＣ動作によって半導体レー
ザ２の出射光量が一定に制御されているレベルである。
【００８６】上記レーザパワー検出信号Ｍp は、コンパ
レータ１７に入力され、所定のしきい値電圧Ｖref と比
較される。コンパレータ１７からは、レーザパワー検出
信号Ｍp がしきい値電圧Ｖref よりも大きいときにはＨ
レベル、しきい値電圧Ｖrefより小さいときにはＬレベ
ルのデジタル信号ＣＰout が出力され、ＭＰＵ１６に入
力される。
レータ１７に入力され、所定のしきい値電圧Ｖref と比
較される。コンパレータ１７からは、レーザパワー検出
信号Ｍp がしきい値電圧Ｖref よりも大きいときにはＨ
レベル、しきい値電圧Ｖrefより小さいときにはＬレベ
ルのデジタル信号ＣＰout が出力され、ＭＰＵ１６に入
力される。
【００８７】ＭＰＵ１６では、実施の形態１と同様に、
フォーカスサーチの際に、対物レンズ５から出射された
レーザ光の焦点が光ディスク２０の基板表面を通過する
ときにコンパレータ１７から出力される最初のパルスか
ら、レーザ光の焦点が記録層２２を通過するときにコン
パレータ１７から出力される２番目のパルスまでの時間
間隔が計数される。これにより、実施の形態１と同様
に、光ディスク２０の基板２１の厚みを検出することが
できる。
フォーカスサーチの際に、対物レンズ５から出射された
レーザ光の焦点が光ディスク２０の基板表面を通過する
ときにコンパレータ１７から出力される最初のパルスか
ら、レーザ光の焦点が記録層２２を通過するときにコン
パレータ１７から出力される２番目のパルスまでの時間
間隔が計数される。これにより、実施の形態１と同様
に、光ディスク２０の基板２１の厚みを検出することが
できる。
【００８８】ここで、半導体レーザ２の出射光量が、Ａ
ＰＣ動作によって一定に制御されているにもかかわら
ず、このような合焦位置付近での増加が発生するのは、
ＡＰＣ動作は半導体レーザ２の温度依存性を補償するも
のであって、その応答速度は遅く設定されているからで
ある。したがって、ＡＰＣ動作は、フォーカスサーチに
よって合焦位置を通過することによる半導体レーザパワ
ーの増加に対しては追従することができない。もし、高
速なＡＰＣ動作によってフォーカスサーチによる半導体
レーザパワーの増加が押さえ込まれている場合には、Ａ
ＰＣ回路１８内の半導体レーザ制御信号が変動するの
で、この信号を検出して用いればよい。
ＰＣ動作によって一定に制御されているにもかかわら
ず、このような合焦位置付近での増加が発生するのは、
ＡＰＣ動作は半導体レーザ２の温度依存性を補償するも
のであって、その応答速度は遅く設定されているからで
ある。したがって、ＡＰＣ動作は、フォーカスサーチに
よって合焦位置を通過することによる半導体レーザパワ
ーの増加に対しては追従することができない。もし、高
速なＡＰＣ動作によってフォーカスサーチによる半導体
レーザパワーの増加が押さえ込まれている場合には、Ａ
ＰＣ回路１８内の半導体レーザ制御信号が変動するの
で、この信号を検出して用いればよい。
【００８９】なお、上記実施の形態１ないし３では、
１．２ｍｍの基板厚と０．６ｍｍの基板厚との光ディス
クの判別を行っているが、それ以外の基板厚の光ディス
クの判別を行うことは言うまでもない。
１．２ｍｍの基板厚と０．６ｍｍの基板厚との光ディス
クの判別を行っているが、それ以外の基板厚の光ディス
クの判別を行うことは言うまでもない。
【００９０】〔実施の形態４〕本発明の実施の形態４に
ついて図７および図８に基づいて説明すれば、以下の通
りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の形態の図
面に示した部材と同一の部材には同一の符号を付記し、
その説明を省略する。
ついて図７および図８に基づいて説明すれば、以下の通
りである。なお、説明の便宜上、前記の実施の形態の図
面に示した部材と同一の部材には同一の符号を付記し、
その説明を省略する。
【００９１】本実施の形態では、実施の形態３で述べた
合焦位置付近で急峻に増加するレーザパワー検出信号Ｍ
p を用いて、記録層２２が１層の光ディスクと２層の光
ディスクとを判別する光ディスク装置について説明す
る。なお、記録層２２が２層の光ディスクとは、基板２
１上に第１記録層および第２記録層が上下に所定の間隔
を持って２層配置されたものである。
合焦位置付近で急峻に増加するレーザパワー検出信号Ｍ
p を用いて、記録層２２が１層の光ディスクと２層の光
ディスクとを判別する光ディスク装置について説明す
る。なお、記録層２２が２層の光ディスクとは、基板２
１上に第１記録層および第２記録層が上下に所定の間隔
を持って２層配置されたものである。
【００９２】上記光ディスク装置の構成は実施の形態３
の構成と同様である。なお、ＭＰＵ１６は、フォーカス
サーチの際に、対物レンズ５から出射されたレーザ光の
焦点が光ディスク２０の基板表面を通過するときにコン
パレータ１７から出力される最初のパルスと、レーザ光
の焦点が第１記録層および第２記録層を通過するときに
コンパレータ１７から出力される２番目および３番目の
パルスとを計数する計数手段を有する。
の構成と同様である。なお、ＭＰＵ１６は、フォーカス
サーチの際に、対物レンズ５から出射されたレーザ光の
焦点が光ディスク２０の基板表面を通過するときにコン
パレータ１７から出力される最初のパルスと、レーザ光
の焦点が第１記録層および第２記録層を通過するときに
コンパレータ１７から出力される２番目および３番目の
パルスとを計数する計数手段を有する。
【００９３】図７（ａ）は、記録層２２が１層の光ディ
スクの場合のレーザパワー検出信号Ｍp およびデジタル
信号ＣＰout の信号波形であり、これは実施の形態３で
説明した通りである。記録層２２が２層の光ディスクの
場合には、図７（ｂ）に示すようになる。つまり、フォ
ーカスサーチの際にレーザ光の焦点が第１記録層および
第２記録層を通過するときに、それぞれレーザパワー検
出信号Ｍp が増加する。そこで、コンパレータ１７から
のデジタル信号ＣＰout に現れるパルスの数を、ＭＰＵ
１６で計測することにより、光ディスクの記録層２２の
数を判別することができる。
スクの場合のレーザパワー検出信号Ｍp およびデジタル
信号ＣＰout の信号波形であり、これは実施の形態３で
説明した通りである。記録層２２が２層の光ディスクの
場合には、図７（ｂ）に示すようになる。つまり、フォ
ーカスサーチの際にレーザ光の焦点が第１記録層および
第２記録層を通過するときに、それぞれレーザパワー検
出信号Ｍp が増加する。そこで、コンパレータ１７から
のデジタル信号ＣＰout に現れるパルスの数を、ＭＰＵ
１６で計測することにより、光ディスクの記録層２２の
数を判別することができる。
【００９４】図８のフローチャートに基づいて、ＭＰＵ
１６のパルス数計数動作を説明する。まず、ＭＰＵ１６
内の記録層数計数用の変数Ｋをゼロにセットする（Ｓ３
１）。そして、Ｄ／Ａ変換器入力データ用の変数Ｄを最
小値ゼロにセットし（Ｓ３２）、その値をＭＰＵ１６か
らＤ／Ａ変換器１５に設定する（Ｓ３３）。
１６のパルス数計数動作を説明する。まず、ＭＰＵ１６
内の記録層数計数用の変数Ｋをゼロにセットする（Ｓ３
１）。そして、Ｄ／Ａ変換器入力データ用の変数Ｄを最
小値ゼロにセットし（Ｓ３２）、その値をＭＰＵ１６か
らＤ／Ａ変換器１５に設定する（Ｓ３３）。
【００９５】Ｓ３４ではコンパレータ１７からのデジタ
ル信号ＣＰout がＨレベルかどうかを判断し、デジタル
信号ＣＰout がＨレベルと判断されると、ついでＬレベ
ルかどうかが判断される（Ｓ３７）。Ｓ３７において、
Ｌレベルでない場合には変数Ｄの値を１カウントアップ
して（Ｓ３８）、Ｄ／Ａ変換器１５に再度設定する（Ｓ
３９）。すなわち、Ｓ３７〜Ｓ３９では、デジタル信号
ＣＰout がＨレベルになって最初のパルスを検出したら
変数Ｄの値（Ｄ／Ａ変換器１５の設定）を１カウントず
つアップし、対物レンズ５を光ディスクに近づける。つ
いで、デジタル信号ＣＰout がＬレベルとなるのを待つ
ことによって、最初のパルスの立ち下がりエッジを検出
する。
ル信号ＣＰout がＨレベルかどうかを判断し、デジタル
信号ＣＰout がＨレベルと判断されると、ついでＬレベ
ルかどうかが判断される（Ｓ３７）。Ｓ３７において、
Ｌレベルでない場合には変数Ｄの値を１カウントアップ
して（Ｓ３８）、Ｄ／Ａ変換器１５に再度設定する（Ｓ
３９）。すなわち、Ｓ３７〜Ｓ３９では、デジタル信号
ＣＰout がＨレベルになって最初のパルスを検出したら
変数Ｄの値（Ｄ／Ａ変換器１５の設定）を１カウントず
つアップし、対物レンズ５を光ディスクに近づける。つ
いで、デジタル信号ＣＰout がＬレベルとなるのを待つ
ことによって、最初のパルスの立ち下がりエッジを検出
する。
【００９６】Ｓ４０では、パルスを検出したので、記録
層数計数用の変数Ｋに１をプラスする。次に、変数Ｄの
値が最大値であるかどうか、すなわち、フォーカスサー
チが終了しているかどうかを確認する（Ｓ４１）。
層数計数用の変数Ｋに１をプラスする。次に、変数Ｄの
値が最大値であるかどうか、すなわち、フォーカスサー
チが終了しているかどうかを確認する（Ｓ４１）。
【００９７】一方、上記Ｓ３４でデジタル信号ＣＰout
がＨレベルでないと判断された場合には、変数Ｄの値を
１カウントアップして（Ｓ３５）、Ｄ／Ａ変換器１５に
再び設定する（Ｓ３６）。そして、Ｓ４１へ進む。
がＨレベルでないと判断された場合には、変数Ｄの値を
１カウントアップして（Ｓ３５）、Ｄ／Ａ変換器１５に
再び設定する（Ｓ３６）。そして、Ｓ４１へ進む。
【００９８】Ｓ４１において、変数Ｄの値が最大値でな
ければＳ３４〜Ｓ３９を繰り返し、デジタル信号ＣＰ
out の出力パルス数を計数する。一方、Ｓ４１におい
て、変数Ｄの値が最大値を示せば、変数Ｋの値が“２”
であるか“３”であるかを判断する（Ｓ４２）。
ければＳ３４〜Ｓ３９を繰り返し、デジタル信号ＣＰ
out の出力パルス数を計数する。一方、Ｓ４１におい
て、変数Ｄの値が最大値を示せば、変数Ｋの値が“２”
であるか“３”であるかを判断する（Ｓ４２）。
【００９９】Ｓ４２において、変数Ｋの値が“２”であ
れば、光ディスク基板の表面でのパルスを差し引いて、
記録層２２は１層であると認識する（Ｓ４３）。一方、
Ｓ４２において、変数Ｋの値が“３”であれば、同様に
光ディスク基板の表面でのパルスを差し引いて、記録層
２２は２層であると認識する（Ｓ４４）。
れば、光ディスク基板の表面でのパルスを差し引いて、
記録層２２は１層であると認識する（Ｓ４３）。一方、
Ｓ４２において、変数Ｋの値が“３”であれば、同様に
光ディスク基板の表面でのパルスを差し引いて、記録層
２２は２層であると認識する（Ｓ４４）。
【０１００】以上のようにして、本光ディスク装置は、
焦点の移動範囲を光ディスクの２層の記録層２２を含む
範囲とするフォーカスサーチを行い、レーザパワー検出
信号Ｍp の信号波形を計数手段により計数することによ
って、記録層２２の層数を判別することができる。ま
た、第１記録層と第２記録層との間隔が狭い場合（数十
μｍ以下）でも、各々の記録層によるレーザパワー検出
信号Ｍp が干渉しないので、記録層２２の層数を正しく
検出することができる。
焦点の移動範囲を光ディスクの２層の記録層２２を含む
範囲とするフォーカスサーチを行い、レーザパワー検出
信号Ｍp の信号波形を計数手段により計数することによ
って、記録層２２の層数を判別することができる。ま
た、第１記録層と第２記録層との間隔が狭い場合（数十
μｍ以下）でも、各々の記録層によるレーザパワー検出
信号Ｍp が干渉しないので、記録層２２の層数を正しく
検出することができる。
【０１０１】したがって、この判別結果に基づいて、目
的の記録層にフォーカスサーボをオンしたり、記録層数
の違いによって回路ゲインの切り替えを行って、記録層
数の異なる光ディスクに対する情報の再生を行うことが
可能となる。
的の記録層にフォーカスサーボをオンしたり、記録層数
の違いによって回路ゲインの切り替えを行って、記録層
数の異なる光ディスクに対する情報の再生を行うことが
可能となる。
【０１０２】なお、上記では、記録層数１の光ディスク
と記録層数２の光ディスクとの判別を行っているが、２
層以上の記録層を持つ光ディスクの判別を行うことがで
きるのは言うまでもない。
と記録層数２の光ディスクとの判別を行っているが、２
層以上の記録層を持つ光ディスクの判別を行うことがで
きるのは言うまでもない。
【０１０３】また、この方法を用いて、光ディスクの有
無を判別することも可能である。つまり、この一連の動
作の結果、変数Ｋの値が“０”であったならば、光ディ
スク装置に光ディスクが装着されていないと認識するこ
とができる。
無を判別することも可能である。つまり、この一連の動
作の結果、変数Ｋの値が“０”であったならば、光ディ
スク装置に光ディスクが装着されていないと認識するこ
とができる。
【０１０４】
【発明の効果】以上のように、本発明の請求項１記載の
光ディスク装置は、対物レンズから出射されるレーザ光
の焦点を、上記光ディスクの記録層および基板表面を含
む範囲で光ディスクの厚み方向に移動させてフォーカス
サーチを行うフォーカスサーチ手段と、フォーカスサー
チの際にレーザ光の焦点が、基板表面を通過するとき
と、記録層を通過するときとの、上記光ピックアップか
ら出力される信号波形の間隔を検出する検出手段とを備
える構成である。
光ディスク装置は、対物レンズから出射されるレーザ光
の焦点を、上記光ディスクの記録層および基板表面を含
む範囲で光ディスクの厚み方向に移動させてフォーカス
サーチを行うフォーカスサーチ手段と、フォーカスサー
チの際にレーザ光の焦点が、基板表面を通過するとき
と、記録層を通過するときとの、上記光ピックアップか
ら出力される信号波形の間隔を検出する検出手段とを備
える構成である。
【０１０５】これにより、光ディスクの基板の厚さが違
う場合には信号波形の変化の間隔も異なるので、基板厚
の判別を行うことができる。この結果、基板の厚さの違
いによる収差の補正を行って、基板厚の異なる光ディス
クに対する情報の再生を行うことが可能となるという効
果を奏する。
う場合には信号波形の変化の間隔も異なるので、基板厚
の判別を行うことができる。この結果、基板の厚さの違
いによる収差の補正を行って、基板厚の異なる光ディス
クに対する情報の再生を行うことが可能となるという効
果を奏する。
【０１０６】請求項２記載の光ディスク装置は、請求項
１記載の構成に加えて、上記検出手段が、光ピックアッ
プから出力される信号を所定のしきい値と比較すること
によりデジタル信号を出力する比較手段と、該デジタル
信号のパルス時間間隔を計数する計数手段とを有する構
成である。
１記載の構成に加えて、上記検出手段が、光ピックアッ
プから出力される信号を所定のしきい値と比較すること
によりデジタル信号を出力する比較手段と、該デジタル
信号のパルス時間間隔を計数する計数手段とを有する構
成である。
【０１０７】これにより、光ディスクの基板の厚みが時
間の関数として表されるので、容易に基板厚の判別を行
うことができるという効果を奏する。
間の関数として表されるので、容易に基板厚の判別を行
うことができるという効果を奏する。
【０１０８】請求項３記載の光ディスク装置は、請求項
１記載の構成に加えて、上記検出手段が、光ピックアッ
プから出力される信号を所定のしきい値と比較すること
によりデジタル信号を出力する比較手段と、該デジタル
信号に基づいて上記対物レンズを駆動するための対物レ
ンズ駆動信号のレベルを検出するレベル検出手段とを有
する構成である。
１記載の構成に加えて、上記検出手段が、光ピックアッ
プから出力される信号を所定のしきい値と比較すること
によりデジタル信号を出力する比較手段と、該デジタル
信号に基づいて上記対物レンズを駆動するための対物レ
ンズ駆動信号のレベルを検出するレベル検出手段とを有
する構成である。
【０１０９】これにより、光ディスクの基板の厚みが信
号レベルで表されるので、容易に基板厚の判別を行うこ
とができるという効果を奏する。
号レベルで表されるので、容易に基板厚の判別を行うこ
とができるという効果を奏する。
【０１１０】請求項４記載の光ディスク装置は、請求項
１、２又は３記載の構成に加えて、上記光ピックアップ
から出力される信号が、光ディスクからの反射光によっ
て光ピックアップを制御するためのサーボ信号検出用光
検出器にて生成される信号である構成である。
１、２又は３記載の構成に加えて、上記光ピックアップ
から出力される信号が、光ディスクからの反射光によっ
て光ピックアップを制御するためのサーボ信号検出用光
検出器にて生成される信号である構成である。
【０１１１】これにより、レーザ光の焦点が光ディスク
の基板表面および記録層に達すると、サーボ信号検出用
光検出器の出力信号レベルは光ディスクの反射光によっ
て増加して、光ピックアップから出力される信号波形が
変化するので、請求項１、２又は３に記載の光ディスク
装置を容易に構成することができるという効果を奏す
る。
の基板表面および記録層に達すると、サーボ信号検出用
光検出器の出力信号レベルは光ディスクの反射光によっ
て増加して、光ピックアップから出力される信号波形が
変化するので、請求項１、２又は３に記載の光ディスク
装置を容易に構成することができるという効果を奏す
る。
【０１１２】請求項５記載の光ディスク装置は、請求項
１、２又は３記載の構成に加えて、上記光ピックアップ
から出力される信号が、半導体レーザの出力光量を一定
に保つための半導体レーザ出射光量検出用光検出器にて
生成される信号である構成である。
１、２又は３記載の構成に加えて、上記光ピックアップ
から出力される信号が、半導体レーザの出力光量を一定
に保つための半導体レーザ出射光量検出用光検出器にて
生成される信号である構成である。
【０１１３】これにより、レーザ光の焦点が光ディスク
の基板表面および記録層に達すると、半導体レーザ出射
光量検出用光検出器の出力信号レベルは半導体レーザへ
の戻り光によって増加して光ピックアップから出力され
る信号波形が変化するので、請求項１、２又は３に記載
の光ディスク装置を容易に構成することができるという
効果を奏する。
の基板表面および記録層に達すると、半導体レーザ出射
光量検出用光検出器の出力信号レベルは半導体レーザへ
の戻り光によって増加して光ピックアップから出力され
る信号波形が変化するので、請求項１、２又は３に記載
の光ディスク装置を容易に構成することができるという
効果を奏する。
【０１１４】請求項６記載の光ディスク装置は、対物レ
ンズから出射されるレーザ光の焦点を、上記光ディスク
の複数の記録層を含む範囲で光ディスクの厚み方向に移
動させてフォーカスサーチを行うフォーカスサーチ手段
と、フォーカスサーチの際にレーザ光の焦点が記録層を
通過するときの、上記光ピックアップにおける半導体レ
ーザの出力光量を一定に保つための半導体レーザ出射光
量検出用光検出器にて生成される信号波形を計数する計
数手段とを備える構成である。
ンズから出射されるレーザ光の焦点を、上記光ディスク
の複数の記録層を含む範囲で光ディスクの厚み方向に移
動させてフォーカスサーチを行うフォーカスサーチ手段
と、フォーカスサーチの際にレーザ光の焦点が記録層を
通過するときの、上記光ピックアップにおける半導体レ
ーザの出力光量を一定に保つための半導体レーザ出射光
量検出用光検出器にて生成される信号波形を計数する計
数手段とを備える構成である。
【０１１５】これにより、光ディスクの記録層の層数が
違う場合には信号波形の増加の回数も異なるので、記録
層数の判別を行うことができる。この結果、目的の記録
層にフォーカスサーボをオンしたり、記録層数の違いに
よって回路ゲインの切り替えを行って、記録層数の異な
る光ディスクに対する情報の再生を行うことが可能にな
るという効果を奏する。
違う場合には信号波形の増加の回数も異なるので、記録
層数の判別を行うことができる。この結果、目的の記録
層にフォーカスサーボをオンしたり、記録層数の違いに
よって回路ゲインの切り替えを行って、記録層数の異な
る光ディスクに対する情報の再生を行うことが可能にな
るという効果を奏する。
【図１】本発明の第１の実施の形態にかかる光ディスク
装置の構成を示す構成図である。
装置の構成を示す構成図である。
【図２】（ａ）はレーザ光の焦点位置を示す説明図であ
り、（ｂ）〜（ｄ）は（ａ）に示す位置関係の場合に対
応する、Ｄ／Ａ変換器の出力信号、フォーカスエラー信
号、およびコンパレータの出力信号をそれぞれ示す波形
図である。
り、（ｂ）〜（ｄ）は（ａ）に示す位置関係の場合に対
応する、Ｄ／Ａ変換器の出力信号、フォーカスエラー信
号、およびコンパレータの出力信号をそれぞれ示す波形
図である。
【図３】上記光ディスク装置におけるＭＰＵの時間計数
動作を示すフローチャートである。
動作を示すフローチャートである。
【図４】本発明の第２の実施の形態にかかる光ディスク
装置のＭＰＵのレベル検出動作を示すフローチャートで
ある。
装置のＭＰＵのレベル検出動作を示すフローチャートで
ある。
【図５】本発明の第３の実施の形態にかかる光ディスク
装置の構成を示す構成図である。
装置の構成を示す構成図である。
【図６】上記光ディスク装置における、フォーカスエラ
ー信号、レーザパワー検出信号、およびコンパレータの
出力信号をそれぞれ示す波形図である。
ー信号、レーザパワー検出信号、およびコンパレータの
出力信号をそれぞれ示す波形図である。
【図７】本発明の第４の実施の形態にかかる光ディスク
装置における、レーザパワー検出信号およびコンパレー
タの出力信号をそれぞれ示す波形図であり、（ａ）は記
録層が１層の光ディスクの場合、（ｂ）は記録層が２層
の光ディスクの場合である。
装置における、レーザパワー検出信号およびコンパレー
タの出力信号をそれぞれ示す波形図であり、（ａ）は記
録層が１層の光ディスクの場合、（ｂ）は記録層が２層
の光ディスクの場合である。
【図８】記録層数を検出する場合の動作を示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図９】記録層が２層の光ディスクに対して従来の光デ
ィスク装置を用いた場合のフォーカスエラー信号および
コンパレータの出力信号を示す波形図である。
ィスク装置を用いた場合のフォーカスエラー信号および
コンパレータの出力信号を示す波形図である。
１ 光ピックアップ ２ 半導体レーザ ５ 対物レンズ ８ ２分割フォトダイオード １０ フォーカスアクチュエータ １３ スイッチ回路 １４ 電力増幅器 １５ Ｄ／Ａ変換器 １６ ＭＰＵ １７ コンパレータ ２０ 光ディスク ２１ 基板 ２２ 記録層
Claims (6)
- 【請求項１】半導体レーザから出射されたレーザ光を対
物レンズにて光ディスクに集光させる光ピックアップを
有し、該光ピックアップにより光ディスクの記録層に記
録された情報を再生する光ディスク装置において、 上記対物レンズから出射されるレーザ光の焦点を、上記
光ディスクの記録層および基板表面を含む範囲で光ディ
スクの厚み方向に移動させてフォーカスサーチを行うフ
ォーカスサーチ手段と、 フォーカスサーチの際にレーザ光の焦点が、基板表面を
通過するときと、記録層を通過するときとの、上記光ピ
ックアップから出力される信号波形の間隔を検出する検
出手段とを備えることを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項２】上記検出手段は、光ピックアップから出力
される信号を所定のしきい値と比較することによりデジ
タル信号を出力する比較手段と、該デジタル信号のパル
ス時間間隔を計数する計数手段とを有することを特徴と
する請求項１記載の光ディスク装置。 - 【請求項３】上記検出手段は、光ピックアップから出力
される信号を所定のしきい値と比較することによりデジ
タル信号を出力する比較手段と、該デジタル信号に基づ
いて上記対物レンズを駆動するための対物レンズ駆動信
号のレベルを検出するレベル検出手段とを有することを
特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。 - 【請求項４】上記光ピックアップから出力される信号
は、光ディスクからの反射光によって光ピックアップを
制御するためのサーボ信号検出用光検出器にて生成され
る信号であることを特徴とする請求項１、２又は３記載
の光ディスク装置。 - 【請求項５】上記光ピックアップから出力される信号
は、半導体レーザの出力光量を一定に保つための半導体
レーザ出射光量検出用光検出器にて生成される信号であ
ることを特徴とする請求項１、２又は３記載の光ディス
ク装置。 - 【請求項６】半導体レーザから出射されたレーザ光を対
物レンズにて光ディスクに集光させる光ピックアップを
有し、該光ピックアップにより光ディスクの複数の記録
層に記録された情報を再生する光ディスク装置におい
て、 上記対物レンズから出射されるレーザ光の焦点を、上記
光ディスクの複数の記録層を含む範囲で光ディスクの厚
み方向に移動させてフォーカスサーチを行うフォーカス
サーチ手段と、 フォーカスサーチの際にレーザ光の焦点が記録層を通過
するときの、上記光ピックアップにおける半導体レーザ
の出力光量を一定に保つための半導体レーザ出射光量検
出用光検出器にて生成される信号波形を計数する計数手
段とを備えることを特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30623995A JP3553241B2 (ja) | 1995-11-24 | 1995-11-24 | 光ディスク装置 |
| US08/754,534 US5831953A (en) | 1995-11-24 | 1996-11-21 | Optical disk device using an optical pickup as a read mechanism for detecting a thickness of the substrate of an optical disk |
| DE19648768A DE19648768C2 (de) | 1995-11-24 | 1996-11-25 | Optisches Plattenlaufwerk |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30623995A JP3553241B2 (ja) | 1995-11-24 | 1995-11-24 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09147369A true JPH09147369A (ja) | 1997-06-06 |
| JP3553241B2 JP3553241B2 (ja) | 2004-08-11 |
Family
ID=17954680
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30623995A Expired - Fee Related JP3553241B2 (ja) | 1995-11-24 | 1995-11-24 | 光ディスク装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5831953A (ja) |
| JP (1) | JP3553241B2 (ja) |
| DE (1) | DE19648768C2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004111028A (ja) * | 2002-08-26 | 2004-04-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク装置 |
| US6788628B2 (en) | 2000-12-18 | 2004-09-07 | Nec Corporation | Optical head and optical data recording/reproducing apparatus using the same |
| US8238222B2 (en) | 2009-11-30 | 2012-08-07 | Hitachi-Lg Data Storage, Inc. | Optical disk device |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6259668B1 (en) * | 1996-02-14 | 2001-07-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Recording/reproducing apparatus having an optical pickup device to read from and record information to disks of different thicknesses |
| JPH1064180A (ja) * | 1996-08-21 | 1998-03-06 | Sony Corp | ディスクドライブ装置 |
| EP1139342B1 (en) | 1996-09-25 | 2004-03-03 | Victor Company Of Japan, Ltd. | Disk type determining apparatus, optical disk reproducing apparatus |
| JP4434318B2 (ja) * | 1997-01-10 | 2010-03-17 | ソニー株式会社 | 光ディスク装置及び光ディスク判別方法 |
| JPH10199003A (ja) | 1997-01-10 | 1998-07-31 | Sony Corp | 光ディスク装置 |
| US6449232B1 (en) * | 1998-02-03 | 2002-09-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Disk type determination method |
| JP2000090554A (ja) * | 1998-09-10 | 2000-03-31 | Pioneer Electronic Corp | 光ディスク判別方法及び装置 |
| KR100680657B1 (ko) * | 1998-10-02 | 2007-02-08 | 소니 가부시끼 가이샤 | 광디스크 재생장치 및 방법 |
| JP3968984B2 (ja) * | 2000-10-05 | 2007-08-29 | 三菱電機株式会社 | 光ディスク再生装置およびディスク種別判別方法 |
| US6952382B2 (en) * | 2001-04-11 | 2005-10-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Recording/reproduction apparatus, recording/reproduction method and information recording medium |
| JP3565827B2 (ja) * | 2001-07-10 | 2004-09-15 | 株式会社ソニー・コンピュータエンタテインメント | 記録層判別装置，記録層判別プログラム及び記録層判別方法 |
| JP2004055076A (ja) * | 2002-07-23 | 2004-02-19 | Yamaha Corp | 光ピックアップ及び光ディスク記録装置 |
| JP3700688B2 (ja) * | 2002-07-30 | 2005-09-28 | 船井電機株式会社 | 光ディスク駆動装置、フォーカス制御装置およびフォーカス制御方法 |
| JP2004185741A (ja) * | 2002-12-04 | 2004-07-02 | Mitsubishi Electric Corp | 光学式ディスク装置 |
| US7512042B2 (en) * | 2004-07-16 | 2009-03-31 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Method of controlling focus of optical disk recording and reproducing device |
| JP2006031832A (ja) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Sanyo Electric Co Ltd | 光ディスク記録再生装置のフォーカス制御方法 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57113428A (en) * | 1980-12-29 | 1982-07-14 | Pioneer Video Corp | Focus servo device |
| DE68913619T2 (de) * | 1988-08-09 | 1994-06-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Verfahren und Gerät zur Einstellung der Lage eines Zieles zwecks fokussieren eines Lichtstrahles. |
| JPH04162217A (ja) * | 1990-10-25 | 1992-06-05 | Mitsubishi Electric Corp | 光記録装置 |
| JPH04364229A (ja) * | 1990-11-01 | 1992-12-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光方式記録再生方法および記録媒体、光方式記録再生装置 |
| JP3328652B2 (ja) * | 1991-08-28 | 2002-09-30 | 松下電器産業株式会社 | 光方式記録再生方法 |
| JP3266627B2 (ja) * | 1991-10-11 | 2002-03-18 | 株式会社日立製作所 | 情報再生装置 |
| JPH0814929B2 (ja) * | 1992-12-28 | 1996-02-14 | ティアック株式会社 | 光ディスク装置 |
| JPH0765409A (ja) * | 1993-08-20 | 1995-03-10 | Ricoh Co Ltd | 光情報記録再生装置 |
| TW259865B (ja) * | 1993-12-15 | 1995-10-11 | Ibm | |
| KR960038847A (ko) * | 1995-04-10 | 1996-11-21 | 김광호 | 다층 구조를 가진 디스크의 검출방법 |
| KR100234257B1 (ko) * | 1995-08-30 | 1999-12-15 | 윤종용 | 대물렌즈 장치 및 안정된 포커스 서보 신호를 얻는방법 및 이를 적용한 광픽업 장치 및 두께가 다른 디스크를 판별하는 방법 및 두께가 다른 디스크로부터 정보를 재생하고 기록하는 방법 |
-
1995
- 1995-11-24 JP JP30623995A patent/JP3553241B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-11-21 US US08/754,534 patent/US5831953A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-11-25 DE DE19648768A patent/DE19648768C2/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6788628B2 (en) | 2000-12-18 | 2004-09-07 | Nec Corporation | Optical head and optical data recording/reproducing apparatus using the same |
| JP2004111028A (ja) * | 2002-08-26 | 2004-04-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク装置 |
| US8238222B2 (en) | 2009-11-30 | 2012-08-07 | Hitachi-Lg Data Storage, Inc. | Optical disk device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19648768C2 (de) | 2002-06-06 |
| JP3553241B2 (ja) | 2004-08-11 |
| US5831953A (en) | 1998-11-03 |
| DE19648768A1 (de) | 1997-05-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0294490B1 (en) | Optical disc discriminating device | |
| JP3553241B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
| US6842414B1 (en) | Apparatus and method for compensating tilt of optical disc | |
| US5859824A (en) | Digital disk player | |
| JP2820808B2 (ja) | 光ディスク装置のフォーカス制御機構 | |
| JP4223811B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
| NL1005110C2 (nl) | Automatische schijfdiscriminatiemethode en apparaat in optisch schijfsysteem. | |
| US6141307A (en) | Optical disk discriminating apparatus | |
| KR100722588B1 (ko) | 광디스크 장치에서의 포커스 오프셋 조정방법 | |
| US20080181062A1 (en) | Method and apparatus for controlling focus of an optical information storage medium | |
| JPH06274901A (ja) | 情報処理装置 | |
| US6185170B1 (en) | Method for tracking an optical disc of a shallow/deep groove type and apparatus adopting the same | |
| EP1998330B1 (en) | Discrimination method for optical disc types and optical disc apparatus | |
| JP4139751B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
| US7729221B2 (en) | Optical disk discrimination method and optical disk device | |
| JP2882383B2 (ja) | 光ディスク記録再生装置 | |
| JP2598165B2 (ja) | 光ディスク記録再生装置 | |
| US6751172B2 (en) | Wobble detecting apparatus | |
| KR100285633B1 (ko) | 광디스크 장치의 트랙 서보 제어방법 및 장치 | |
| US20030021207A1 (en) | Method for discriminating optical discs, and optical disc apparatus | |
| KR20080032837A (ko) | 고밀도 다층 디스크에 대한 층간 포커스 제어 장치 및 방법 | |
| JP3193865B2 (ja) | 光学的記録媒体のフォーカス制御装置 | |
| KR100366408B1 (ko) | 광디스크재생장치 | |
| KR100363155B1 (ko) | 랜드/그루브 광디스크에서 헤더신호를 이용하여 트랙탐색을 제어하기 위한 장치 | |
| JP4044234B2 (ja) | 光ディスク装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040210 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040407 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040427 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040428 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |