DE60309542T2 - Verfahren und Gerät zur Korrektur der sphärischen Aberration - Google Patents

Verfahren und Gerät zur Korrektur der sphärischen Aberration

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DE60309542T2
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    • G11B7/13927Means for controlling the beam wavefront, e.g. for correction of aberration active, e.g. controlled by electrical or mechanical means during transducing, e.g. to correct for variation of the spherical aberration due to disc tilt or irregularities in the cover layer thickness

Description

  • Hintergrund der Erfindung
  • 1. Bereich der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf den technischen Bereich eines Verfahrens sowie eines Geräts zur Korrektur von sphärischer Aberration in einem Aufzeichnungssystem zum Aufzeichnen von Informationsbits auf einem optischen Aufzeichnungsmedium.
  • 2. Beschreibung des Standes der Technik
  • Allgemein ist es so, dass eine transparente Schicht auf der Aufzeichnungsoberfläche einer optischen Disk bzw. Scheibe gebildet ist, welche als ein optisches Aufzeichnungsmedium dient. Die transparente Schicht hat eine vorher festgelegte Dicke und ist aufgebracht, um die Aufzeichnungsoberfläche der optischen Disk zu bedecken, so dass die Aufzeichnungsoberfläche geschützt werden kann.
  • Ein optisches Informationsaufzeichnungs-/-wiedergabesystem ist so aufgebaut, dass es einen optischen Strahl zum Lesen oder Aufzeichnen auf eine Aufzeichnungsoberfläche der optischen Disk durch die transparente Schicht strahlt, um Daten von der optischen Disk zu lesen oder auf ihr aufzuzeichnen.
  • Jedoch ist es in der Praxis schwierig, die optische Disk so zu bilden, dass jeder Teil der Transportschicht innerhalb eines spezifizierten Dickenbereichs fällt. Als Ergebnis besitzt eine gebräuchliche optische Disk einen Dickenfehler, welcher mehrere zehn Mikrometer (μm) aufgrund von Unregelmäßigkeiten über die transparente Schicht hinweg aufweist. Ein derartiger Dickenfehler der optischen Disk führt dazu, dass sphärische Aberration in einem optischen Strahl auftritt, welcher auf die optische Disk gestrahlt wird, so dass dadurch die Genauigkeit des Datenlesens oder -aufzeichnens von bzw. auf die optische Disk reduziert wird.
  • Für das aktuelle Aufzeichnen von Informationsbits auf der optischen Disk verursachen Veränderungen der Aufzeichnungsbedingungen, welche die Umgebungstemperatur beim Start des Aufzeichnens und Ähnliches beinhalten, dass die sphärische Aberration fluktuiert.
  • Je schneller in Zukunft die Aufzeichnungsrate ist, umso mehr wird die sphärische Aberration bezüglich einer Aufzeichnungscharakteristik beeinflusst, so dass es notwendig ist, die sphärische Aberration so weit wie möglich zu verhindern. Das vorausgegangene Problem ist, obwohl es nur ein Beispiel ist, bei den Schwierigkeiten beinhaltet, welche durch die vorliegende Erfindung gelöst werden sollen.
  • In der US-A1-2001026522 wird ein Korrektursystem zur sphärischen Aberration veröffentlicht, welches aufweist: eine Einheit, um eine Information durch das Bestrahlen einer optischen Disk mit einem optischen Strahl zu lesen, eine Detektiereinheit für einen reflektierten Lichtpegel, um, während einer Leseoperation der Information einen Pegel an Licht zu detektieren, welcher aus dem optischen Strahl besteht, welcher von der optischen Disk reflektiert wird, eine Entscheidungseinheit über einen Korrekturbetrag, welche so aufgebaut ist, dass sie über einen Korrekturbetrag für sphärische Aberration auf der Grundlage des Pegels an reflektiertem Licht entscheidet, und eine Korrektureinheit für sphärische Aberration, um die sphärische Aberration durch das Benutzen des Korrekturbetrags zu korrigieren.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, unter Beachtung der Schwierigkeiten der obigen herkömmlichen Technik ein Korrekturverfahren und ein Gerät für sphärische Aberration zu liefern, welche in der Lage sind, die sphärische Aberration effektiv zu korrigieren.
  • Entsprechend einem Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung wird ein Gerät zur Korrektur der sphärischen Aberration geliefert, welches die Merkmale des Anspruchs 1 aufweist.
  • Entsprechend einem anderen Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zur Korrektur der sphärischen Aberration geliefert, welches die Schritte nach Anspruch 6 aufweist.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Andere Aufgaben und Gesichtspunkte der vorliegenden Erfindung werden aus der folgenden Beschreibung der Ausführungsformen mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen offensichtlich, in welchen:
  • 1 eine Ansicht ist, welche eine schematische Anordnung eines Gerätes zur sphärischen Aberration entsprechend einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • 2 eine Ansicht eines schematischen Aufbaus des Informationsaufzeichnungssystems ist, an welchem die Korrektureinheit für sphärische Aberration angewendet wird;
  • 3A Beispiele von Aufzeichnungsmarken (Pits) darstellt, welche auf der optischen Disk entsprechend der zweiten Ausführungsform gebildet sind;
  • 3B Pegel an reflektiertem Licht von den Aufzeichnungsmarken darstellt, welche in 3A gezeigt werden;
  • 3C Wellenformen aus Aufzeichnungspulsen darstellt, welche aus einem Anfangspuls und vielen darauf folgenden Pulsen bestehen, Aufzeichnungspulse, welche den Aufzeichnungsmarken, welche in 3A gezeigt werden, entsprechen;
  • 3D detektierte Signale darstellt, welche dem von den Aufzeichnungsmarken, welche in 3a gezeigt werden, reflektierten Licht entsprechen;
  • 3E Wellenformen von Signalen darstellt, welche durch das Eliminieren von hochfrequenten Komponenten von den detektierten Signalen erhalten werden, welche in 3D gezeigt werden;
  • 4A ein Blockschaltbild ist, welches eine Schaltungsstruktur einer Schaltung zeigt, um einen Pit-Pegel entsprechend der zweiten Ausführungsform zu erhalten;
  • 4B ein Blockschaltbild ist, welches eine andere Schaltungsstruktur einer Spitzenwert-Halteschaltung zeigt, um einen Pit-Pegel entsprechend der zweiten Ausführungsform zu erhalten;
  • 4C ein Blockschaltbild ist, welches eine andere Schaltungsstruktur einer Abtast-/Halteschaltung zeigt, um einen Pit-Pegel entsprechend der zweiten Ausführungsform zu erhalten;
  • 5A eine Ansicht ist, welche eine Korrelation zwischen der sphärischen Aberration und dem Pit-Pegel im Falle des Benutzens der DVD-R, welche als die optische Disk dient, entsprechend der zweiten Ausführungsform zeigt;
  • 5B eine Ansicht ist, welche eine Korrelation zwischen einem Pit-Verhältnis und der sphärischen Aberration entsprechend der zweiten Ausführungsform zeigt;
  • 6 eine Ansicht ist, welche eine Korrelation zwischen einer sphärischen Aberration und einem Jitter und eine Korrelation zwischen der sphärischen Aberration und einem β-(Beta-) Wert in dem Fall darstellt, in dem eine DVD-R benutzt wird, welche als eine optische Disk entsprechend der zweiten Ausführungsform dient;
  • 7 eine Ansicht ist, welche eine Korrelation zwischen der sphärischen Aberration und einer Aufzeichnungsleistung entsprechend der zweiten Ausführungsform zeigt;
  • 8 ein Flussdiagramm ist, welches einen Prozess zum Entscheiden über einen Korrekturbetrag der sphärischen Aberration entsprechend der zweiten Ausführungsform zeigt;
  • 9 ein Flussdiagramm ist, welches einen anderen Prozess des Entscheidens über einen Korrekturbetrag der sphärischen Aberration entsprechend der zweiten Ausführungsform zeigt;
  • 10A eine Ansicht ist, welche typischerweise eine Struktur einer Korrektureinheit für sphärische Aberration vom Flüssigkristalltyp entsprechend der zweiten Ausführungsform darstellt; und
  • 10B ist eine Ansicht ist, welche eine Struktur einer Korrektureinheit zur sphärischen Aberration vom Typ eines opti schen Bauelements entsprechend der zweiten Ausführungsform zeigt.
  • Detaillierte Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen Bevorzugte Ausführungsformen des Korrekturverfahrens und Gerätes zur sphärischen Aberration der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben.
  • 1 ist eine Ansicht, welche einen schematischen Aufbau eines Korrekturgerätes zur sphärischen Aberration entsprechend einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt. In 1 ist eine optische Disk D vom Typ eines optischen Aufzeichnungsmediums gebildet, welches drehbar ist und welches gestattet, dass Information auf ihm aufgezeichnet wird.
  • Die optische Disk D ist mit einer Aufzeichnungsoberfläche und einer transparenten Schicht ausgestattet, welche auf der Aufzeichnungsoberfläche gebildet sind. Die transparente Schicht hat eine vorher festgelegte Dicke und ist hergestellt, um die Aufzeichnungsoberfläche der optischen Disk zu bedecken, um die Aufzeichnungsoberfläche zu schützen.
  • Das Korrekturgerät zur sphärischen Aberration entsprechend der ersten Ausführungsform weist auf: eine Aufzeichnungseinrichtung 50, eine Detektiereinrichtung 51 für reflektierten Lichtpegel, eine Entscheidungseinrichtung 52 über einen Korrekturbetrag und eine Korrektureinrichtung 53 für sphärische Aberration.
  • Die Aufzeichnungseinrichtung 50 ist so aufgebaut, um Informationsaufzeichnungsbits auf einer optischen Disk zu realisieren, welche als ein Gegenstand zum Aufzeichnen von Informationsbits dient. Die Aufzeichnungseinrichtung 50 ist, wenn sie das Aufzeichnen durchführt, so aufgebaut, dass ein optischer Strahl auf die Aufzeichnungsfläche der Aufzeichnungsoberfläche der optischen Disk gestrahlt wird, um Pits als aufgezeichnetes Signal (aufgezeichnete Daten) auf dieser zu bilden.
  • Die Detektiereinrichtung 51 für den reflektierten Lichtpegel detektiert den Pegel an reflektiertem Licht, während die Informationsbits aufgezeichnet werden. Unter dem reflektierten Licht versteht man einen Lichtstrahl, welcher von einer Informationsaufzeichnungsoberfläche der optischen Disk D als ein Ergebnis der Bestrahlung mit einem optischen Strahl 9 von der optischen Disk D reflektiert wird. Unter dem Pegel an reflektiertem Licht versteht man den Pegel des Detektiersignals, welches von dem reflektierten Licht mit Hilfe einer photoelektrischen Übertragung erhalten wird. Konkret ausgedrückt, der Pegel an reflektiertem Licht beinhaltet einen Pit-Pegel Lp, einen Schreibpegel Lw, einen Lesepegel, eine Aufzeichnungsleistung und ein Pit-Verhältnis. Das Pit-Verhältnis wird als ein Verhältnis des Schreibpegels Lw, der Aufzeichnungsleistung Pr oder des Lesepegels Lr gegenüber dem Pit-Pegel Lp gezeigt.
  • Die Entscheidungseinrichtung 52 für den Korrekturbetrag ist so aufgebaut, dass sie über einen Korrekturbetrag der sphärischen Aberration aufgrund des reflektierten Lichts entscheidet, welches durch die Detektiereinrichtung 51 für reflektiertes Licht detektiert wird. Wenn über den Korrekturbetrag der sphärischen Aberration entschieden wird, liefert die Entscheidungseinrichtung 52 für den Korrekturbetrag den Betrag an Korrektur für die Korrektureinrichtung 53 für sphärische Aberration. Die Korrektureinrichtung 53 für sphärische Aberration ist so aufgebaut, dass sie eine Korrektur an der sphärischen Aberration entsprechend dem gelieferten Korrekturbetrag durchführt.
  • Während einer Aufzeichnungsoperation, welche durch die Aufzeichnungseinrichtung 50 durchgeführt wird, verändert die Entscheidungseinrichtung 52 über den Korrekturbetrag einen Korrekturbetrag für sphärische Aberration immer um ein wenig, und die Korrektureinrichtung 53 für sphärische Aberration führt die sphärische Aberration jedes Mal aus, wenn sich der Korrekturbetrag ändert. Und die Detektiereinrichtung 51 für reflektierten Lichtpegel detektiert (misst) den Lichtpegel, welcher reflektiert wurde, in welchem ein zuletzt korrigiertes Ergebnis der sphärischen Aberration reflektiert wird. Basierend auf dem reflektierten Lichtpegel, welcher detektiert (gemessen) wurde, wird durch die Entscheidungseinrichtung 52 über den Korrekturbetrag bestimmt, ob ein Betrag an sphärischer Aberration als Verdienst der Korrektur, welche zuletzt ausgeführt wurde, indem der aktuelle Korrekturbetrag benutzt wurde, abgenommen hat (d.h. die sphärische Aberration verbessert wurde) oder nicht.
  • Falls bestimmt wird, dass der Betrag an sphärischer Aberration abgenommen hat, wird die sphärische Aberration weiter tiefgreifend bzw. in großem Maße in der gleichen Korrekturrichtung wie die letzte für sphärische Aberration (d.h. mit der gleichen Polaritätsrichtung zum Korrekturbetrag) korrigiert. Solange die gleiche Berechnung herauskommt, wird die Korrektur in der gleichen Korrekturrichtung wiederholt ausgeführt.
  • Auf der Gegenseite, in den Fällen, wo die Bestimmung durchgeführt wird, dass der Betrag an sphärischer Aberration nicht abgenommen hat (d.h. die sphärische Aberration nicht verbessert wurde), dreht die Entscheidungseinrichtung 52 für den Korrekturbetrag die Korrekturrichtung in entgegengesetzter Weise (d.h. in Richtung der entgegengesetzten Polarität zum Korrekturbetrag), wobei die sphärische Aberration von nun an wiederholt korrigiert wird.
  • Demnach ist die Entscheidungseinrichtung 52 über den Korrekturbetrag in der Lage, den Korrekturbetrag so zu verändern, dass die sphärische Aberration zu jeder Zeit abnimmt, mit dem Ergebnis, dass die Korrektureinrichtung 53 für die sphärische Aberration in die Korrektur eingreift, wobei die derart als geeignet entschiedenen Korrekturbeträge benutzt werden. Sogar wenn Fluktuationen im Betrag der sphärischen Aberration während des Aufzeichnungsvorgangs aufgrund verschiedener Gründe auftreten, wie z.B. Veränderungen in der Temperatur, werden derartige Fluktuationen immer in Echtzeit verfolgt und erfahren die Korrektur der sphärischen Aberration in einer sehr gut kontrollierten Weise. Als Korrektureinrichtung 52 für sphärische Aberration können bereits bekannte verschiedene Korrekturbauelemente, wie z.B. ein Flüssigkristallelement, ein optisches Element oder andere ähnliche Elemente benutzt werden.
  • Eine zweite Ausführungsform zum Anwenden der Korrektureinheit für sphärische Aberration für ein Informationsaufzeichnungssystem wird nun mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben.
  • [Aufbau des Informationsaufzeichnungssystems]
  • 2 zeigt einen schematischen Aufbau des Informationsaufzeichnungssystems, an welchem die Korrektureinheit für sphärische Aberration angewendet wird.
  • In 2 ist das Informationsaufzeichnungssystem 1 so aufgebaut, dass Information auf einer optischen Disk D aufgezeichnet werden kann und Information, welche auf der optischen Disk D aufgezeichnet ist, gelesen werden kann, um reproduziert zu werden.
  • Das Informationsaufzeichnungssystem 1 weist auf: einen Aufnehmer 2, welcher z.B. eine Laserdiode als Lichtquelle und ein optisches System mit einer Objektivlinse u.Ä. besitzt, einen Verstärker 3, eine Servosteuereinheit 4, eine Detektiereinheit 5 für reflektierten Lichtpegel, eine Systemsteuereinheit 6, eine Korrektureinheit 7 für sphärische Aberration und einen Spindelmotor 8. Nebenbei bemerkt, werden in 2 hauptsächlich die obigen Elemente 2 bis 8 dargestellt, welche sich auf die Korrektur der sphärischen Aberration der vorliegenden Erfindung beziehen. Mit anderen Worten, ein Korrektursystem für sphärische Aberration entsprechend der vorliegenden Erfindung besteht aus dem Aufnehmer 2, einem Verstärker 3, einer Detektiereinheit 5 für reflektierten Lichtpegel, einer Systemsteuereinheit 6 und einer Korrektureinheit 7 für sphärische Aberration.
  • Als optische Disk D können verschiedene optische Disks benutzt werden, wie z.B. CD-R (Aufzeichenbare Compact Disc), DVD-R (Aufzeichenbare Digital Versatile Disc), DVD-RW (Wiederbeschreibbare Digital Versatile Disc), DVD+R (Aufzeichenbare DVD) und DVD+RW (wiederbeschreibbare DVD), auf welcher Information nur sofort aufgezeichnet werden kann oder Information viele Male aufgezeichnet werden kann.
  • Der Spindelmotor 8 ist so aufgebaut, dass er die optische Disk mit einer vorher festgelegten Drehrate D in Drehung versetzt und die Drehung derselben steuert.
  • Der Aufnehmer 2 ist so aufgebaut, dass er einen optischen Strahl 9 auf die optische Scheibe D strahlt und ein reflektiertes Licht auf einer Informationsaufzeichnungsoberfläche der optischen Scheibe D empfängt, um das reflektierte Licht, welches als ein Detektiersignal S1 fungiert, welches ein elektrisches Signal ist, zu dem Verstärker 3 zu liefern.
  • Der Verstärker 3 ist so aufgebaut, dass er das Detektiersignal S1 bei einer vorher festgelegten Verstärkung verstärkt, um ein Detektiersignal S2 zu liefern, welches jeweils von dem Detektiersignal S1 für die Servosteuereinheit 4 und für die Detektiereinheit 5 für reflektierte Lichtpegel verstärkt ist.
  • Die Servosteuereinheit 4 ist so aufgebaut, dass sie Servofehlersignale, wie z.B. ein Verfolgungsfehlersignal, ein Fokusfehlersignal und Ähnliches entsprechend dem gelieferten Detektiersignal S2 aufgrund einer der bereits bekannten verschiedenen Verfahren des Erzeugens der Servofehlersignale erzeugt.
  • Die Servosteuereinheit 4 liefert die erzeugten Servofehlersignale jeweils an den Aufnehmer 2 und den Spindelmotor 8. Die von der Servosteuereinheit 4 gelieferten Servofehlersignale werden benutzt, um die Drehzahl des Spindelmotors 8 zu steuern, wodurch die Spindel-Servosteuerung durchgeführt wird.
  • Die gelieferten Servofehlersignale von der Servosteuereinheit 4 werden benutzt, um eine Position der Objektivlinse des Aufnehmers 2 und Ähnliches zu steuern, wodurch die verschiedenen Arten von Servosteuerung, wie z.B. des Fokussierservo und des Verfolgungsservo durchgeführt werden.
  • Die Detektiereinheit 5 für reflektierten Lichtpegel detektiert den Pegel des reflektierten Lichtes entsprechend dem gelieferten Detektiersignal S2 während einer aktuellen Aufzeichnung. Der Pegel des reflektierten Lichtes beinhaltet den Pit-Pegel Lp, den Schreibpegel Lw und den Lesepegel.
  • Die Systemsteuereinheit 6 weist einen Mikrocomputer und Ähnliches auf und ist so konfiguriert, dass sie über den optimalen Korrekturbetrag der sphärischen Aberration entsprechend den detektierten Pegeln des reflektierten Lichtes entscheidet, um ein Steuersignal S3 entsprechend dem Korrekturbetrag der sphärischen Aberration an die Korrektureinheit 7 der sphärischen Aberration zu liefern.
  • Die Korrektureinheit 7 für sphärische Aberration ist so aufgebaut, dass sie die sphärische Aberration korrigiert, welche aufgrund von Unregelmäßigkeiten in dem optischen Strahl 9 über die Bereiche der transparenten Schicht der optischen Disk D hinweg ausgelöst wird oder welche in dem Aufnehmer ausgelöst wird. D.h., die Korrektureinheit 7 für sphärische Aberration ist so aufgebaut, dass sie den Korrekturbetrag der sphärischen Aberration korrigiert, welcher in dem optischen Strahl 9 verursacht wird, wobei der Korrekturbetrag dem Steuersignal S3 entspricht.
  • Als Korrektureinheit 7 für sphärische Aberration können verschiedene bereits bekannte Korrektureinheiten verwendet werden.
  • Beispielsweise weist eine der Korrektureinheiten eine Vielzahl von Flüssigkeitskristallbereichen auf, welche konzentrisch angeordnet sind und welche auf dem optischen Strahlpfad platziert sind. D.h., in einer derartigen Korrektureinheit lösen Steuerspannungen, welche an den Flüssigkeitskristallbereichen angelegt sind, Veränderungen in der Phase des optischen Strahls 9 aus, welcher über die Flüssigkeitsbereiche übertragen wird, wodurch die sphärische Aberration des optischen Strahls 9 korrigiert wird. Die Korrektureinheit, welche eine Vielzahl von Flüssigkeitskristallbereichen nutzt, wird nachfolgend als "Typ Flüssigkeitskristall" bezeichnet.
  • Eine andere Korrektureinheit weist ein optisches Element auf, wie z.B. eine Kollimatorlinse, welche in dem optischen Pfad platziert ist. D.h., in einer derartigen Einheit löst das Steuern des optischen Elements eine sphärische Aberration aus, welche eine umgekehrte Charakteristik der sphärischen Aberration besitzt, welche in dem optischen Strahl 9 ausgelöst ist, wodurch die sphärischen Aberrationen gegenseitig aufgehoben werden. Die Korrektureinheit, welche ein derartiges optisches Element benutzt, wird nachfolgend als ein "Typ Optisches Element" bezeichnet.
  • D.h., verschiedene Korrektureinheiten, welche in der Lage sind, die sphärische Aberration, welche in dem optischen Strahl 9 ausgelöst ist, zu korrigieren, können bei der vorliegenden Erfindung angewendet werden.
  • Diesbezüglich hängt das Steuersignal S3, welches an die Korrektureinheit 7 für sphärische Aberration von der Systemsteuereinheit 6 geliefert wird, von dem Typ der Korrektureinheit 7 für sphärische Aberration ab. Wenn beispielsweise der „Typ Flüssigkeitskristall" als Korrektureinheit für sphärische Aberration genommen wird, ist das Steuersignal S3 aus einem Signal gebildet, welches eine Spannung repräsentiert, welche an jeden der Flüssigkeitskristallbereiche angelegt ist. In der Zwischenzeit, wenn als Korrektureinheit für sphärische Aberration der „Typ Optisches Element" verwendet wird, ist das Steuersignal S3 von einem Signal gebildet, welches einen Abstand des optischen Elements o.Ä. repräsentiert.
  • [Pegel an reflektiertem Licht]
  • Wie oben aufgeführt, beinhaltet der Pegel an reflektiertem Licht den Pit-Pegel Lp, den Schreibpegel Lw und den Lesepegel.
  • Zuerst wird ein Konzept des Pit-Pegels beschrieben. Wie in 3A gezeigt wird, wird angenommen, dass Aufzeichnungsmarken (Pits) RM1 und RM2 auf der Aufzeichnungsfläche der optischen Disk geschrieben sind. Wenn die optische Disk wiedergegeben wird, werden in diesem Fall die Pegel an reflektiertem Licht von den Aufzeichnungsmarken RM1 und RM2 in 3b dargestellt.
  • D.h., die Reflektivität jedes Teils der Aufzeichnungsfläche RM1, RM2, bei welcher die Aufzeichnungsmarken gebildet sind, ist niedrig im Vergleich zu dem Teil der Aufzeichnungsfläche, bei welchem keine Aufzeichnungsmarken gebildet sind, so dass der Pegel an reflektierten Lichtstrahlen von den Bereichen der Aufzeichnungsflächen RM1, RM2 niedrig ist, verglichen mit dem Pegel des reflektierten Lichtstrahls von dem Teil der Aufzeichnungsfläche, bei welchem keine Aufzeichnungsmarken gebildet sind.
  • Auf der anderen Seite wird angenommen, dass ein Aufzeichnungspuls RP, um jede der Aufzeichnungsmarken RM1 und RM2 zu bilden, wie sie in 3A gezeigt werden, aus einem Anfangspuls Tp und vielen Pulsen Mp, welche nachfolgend dazu sind, aufgebaut ist, und die Wellenform jedes Aufzeichnungspulses Rp wird in 3C gezeigt. Gegebenenfalls stellt die charakteristische Referenz B einen Vorspannungspegel eines jeden der Pulse Tp und Mp dar.
  • Wenn die Aufzeichnungspulse, welche jeweils die Wellenform besitzen, wie sie in 3C gezeigt wird, die Laserdiode des Aufnehmers treiben, können die Signale S4, welche durch den Aufnehmer 2 und den Verstärker 3 auf der Basis des von jeder der Aufzeichnungsmarken RM1 und RM2 reflektierten Lichtes detektiert werden, in 3D gezeigt werden.
  • Hochfrequenzkomponenten in den Signalen S4 werden durch ein LPF (Tiefpassfilter) so eliminiert, dass Signale S5 erhalten werden, deren Wellenformen in 3E gezeigt werden.
  • In jedem der Signale S5 wird ein Pegel, welcher dem Anfangspuls Tp des Aufzeichnungspulses RP entspricht, welcher in
  • 3C gezeigt wird, zu einem Schreibpegel Lw, ein Pegel entsprechend den vielen Pulsen Mp des Aufzeichnungspulses RP, welcher in 3C gezeigt wird, wird zu einem Pit-Pegel Lp, und ein Pegel, welcher dem Vorspannungspegel B des Aufzeichnungspulses RP entspricht, welcher in 3C gezeigt wird, wird zu einem Lesepegel Lr.
  • Eine Schaltungsstruktur zum Erhalten des Pit-Pegels Lp, des Schreibpegels Lw und des Lesepegels Lr wird in 4A gezeigt. Diese Schaltung 20 ist auf der Detektiereinheit 5 für reflektierten Lichtpegel installiert.
  • Wenn der Aufzeichnungspuls RP benutzt wird, welcher aus dem Anfangspuls Tp und den vielen Pulsen Mp besteht, welche in 3C gezeigt werden, beinhaltet das detektierte Signal S4 den Pulszug, so dass es unmöglich ist, Pegel, wie z.B. den Pit-Pegel usw., aus dem detektierten Signal S4 zu detektieren.
  • Dann wird, wie in 4A gezeigt, das Signal S4, welches von dem Verstärker 3 übertragen wird, an den LPF 21 der Schaltung 20 eingegeben, so dass nur niederfrequente Komponenten aus dem Signal S4 extrahiert werden, wodurch das Signal S5 erhalten wird, welches in 3E gezeigt wird.
  • Das Signal S5 wird an eine Abtast/Halte-(S/H-)Einheit 22 der Schaltung 20 eingegeben. Die S/H-Einheit 22 tastet jeden der Pit-Pegel Lp, der Schreibpegel Lw und der Lesepegel Lr zu jeder vorher festgelegten Zeitfolge ab, welche durch jedes Zeitablaufsignal T entschieden wird, welches von der S/H-Einheit 22 eingegeben wird. Jegliche Zeitfolge des Zeitablaufsignals T hängt von dem jeweiligen Pegel Lp, Lw und Lr ab.
  • Wenn z.B. der Schreibpegel Lw abgetastet und gehalten wird, wird das Zeitablaufsignal T so eingestellt, dass es den Zeitablauf entsprechend dem Anfangspuls Tp wiedergibt. Wenn der Pit-Pegel Lp abgetastet und gehalten wird, wird das Zeitablaufsignal T so eingestellt, dass es den Zeitablauf entsprechend dem hauptsächlichen Zentralbereich der Multi-Puls- Periode wiedergibt, welche eine Periode zwischen einem Anfangs-Multipuls Mp bis zu einem End-Multipuls Mp wiedergibt.
  • Der Pit-Pegel Lp stellt einen Pegel des reflektierten Lichtes dar, welches erhalten wird, während das Pit (die Aufzeichnungsmarke) durch den Aufzeichnungspuls Rp gebildet wird, so dass er eine Anzeige liefert, welche darstellt, wie genau der Pit (die Aufzeichnungsmarke) gebildet ist.
  • D.h., wenn der Pit genau entsprechend dem Aufzeichnungspuls gebildet ist, wird die Reflektivität des gebildeten Bereiches niedrig gemacht, was den Pit-Pegel Lp veranlasst, wenig ausreichend zu sein. Auf der andere Seite, wenn der Pit nicht genau gebildet ist, bleibt die Reflektivität des Teils der Aufzeichnungsfläche, bei welchem vom Pit angenommen wird, dass er gebildet ist, hoch, was dazu führt, dass der Pit-Pegel Lp hoch ist.
  • Als Nächstes wird ein Konzept des Pit-Verhältnisses beschrieben.
  • Das Pit-Verhältnis wird als ein Verhältnis des Schreibpegels Lw, der Aufzeichnungsleistung Pr oder des Lesepegels Lr gegenüber dem Pit-Pegel Lp gezeigt.
  • D.h., der Pit-Pegel wird durch einen der Ausdrücke (1) bis (3) nachfolgend dargestellt. Pit-Verhältnis = (Lw – Lp)/Lw (1) Pit-Verhältnis = (Pr)/Lp (2) Pit-Verhältnis = Lr/Lp (3)
  • Diese Ausdrücke zeigen, dass, wenn das Pit genau während des Aufzeichnens des Pits gebildet wird, der Pit-Pegel Lp niedrig gemacht wird, was dazu führt, dass sich das Pit-Verhältnis erhöht.
  • Als Nächstes wird eine Korrelation zwischen der sphärischen Aberration und dem Pit-Pegel Lp beschrieben. 5A zeigt eine Korrelation zwischen der sphärischen Aberration und dem Pit-Pegel Lp im Falle des Benutzens der DVD-R als optische Disk. In 5A stellt eine Horizontalachse einen Betrag an sphärischer Aberration dar, und eine Vertikalachse stellt den Pit-Pegel Lp dar.
  • Wie in 5A gezeigt wird, wenn der Pit genau gebildet ist, ist die sphärische Aberration umso erniedrigter, je niedriger der Pit-Pegel ist. Eine Position, bei welcher der Pit-Pegel Lp minimiert ist, und diejenige, bei welcher die sphärische Aberration nahezu minimiert ist, fallen miteinander zusammen.
  • Demnach erlaubt das Messen des Pit-Pegels Lp als das Aufzeichnungscharakteristikum während des Aufzeichnens des Pits und das Entscheiden über die sphärische Aberration, um so den Pit-Pegel zu miniimieren, den Betrag der sphärischen Aberration zu minimieren.
  • Als Nächstes wird eine Korrelation zwischen dem Pit-Verhältnis und der sphärischen Aberration beschrieben. 5B zeigt eine Korrelation zwischen dem Pit-Verhältnis und der sphärischen Aberration.
  • Wie in 5B gezeigt wird, ist die sphärische Aberration umso höher, je niedriger der Pit-Pegel Lp ist und je höher das Pit-Verhältnis ist. Die Position, bei welcher das Pit-Verhältnis maximiert ist, und die Position, bei welcher die sphärische Aberration nahezu minimiert ist, fallen zusammen.
  • Demnach gestattet es das Detektieren des Pitpegels LP, des Schreibpegels Lw oder des Lesepegels Lr, um das Pit-Verhältnis zu erhalten, und das Entscheiden über die sphärische Aberration, um so das Pit-Verhältnis zu maximieren, den Betrag der sphärischen Aberration zu minimieren.
  • Übrigens wird die Schaltung 20, welche ein Beispiel für das Erhalten des Pit-Pegels Lp, des Schreibpegels Lw und des Lesepegels Lr ist, in 4A gezeigt. Anstatt der Schaltung 20, wie sie in 4B gezeigt wird, kann eine Spitzenwert-Halteschaltung (oder eine Tiefpunkt-Halteschaltung) 25 in die Detektiereinheit für die reflektierten Lichtpegel eingebaut werden. Wenn die Spitzenwert-Halteschaltung (oder eine Tiefstwert-Halteschaltung) 25 benutzt wird, wird der LPF 21 redundant gemacht, was vermieden werden sollte.
  • Wie in 3E gezeigt wird, wenn das detektierte Signal S5 eine positive Polarisation aufweist, kann die Spitzenwert-Halteschaltung benutzt werden, und wenn das detektierte Signal S5 eine negative Polarisation aufweist, kann die Tiefstwert-Halteschaltung benutzt werden. D.h., die Spitzenwert-Halteschaltung (Tiefstwert-Halteschaltung) 25 kann jeden der Pit-Pegel Lp, der Schreibepegel Lw und der Lesepegel Lr bei jedem vorher festgelegten Zeitablauf halten, welcher durch jedes Zeitablaufsignal t entschieden wird, welches in die Spitzenwert-Halteschaltung (Tiefstwert-Halteschaltung) 25 eingegeben wird.
  • Wenn ein Nicht-Multityp von Aufzeichnungspuls anstatt des Aufzeichnungspulses RP benutzt wird, wie er in 3C gezeigt wird, kann die Abtast-/Halteschaltung 22 benutzt werden, so dass der LPF 21 redundant gemacht wird, wie in 4C gezeigt wird. Die Wellenform des Nicht-Multityps an Aufzeichnungspuls besitzt nicht viele Pulse Mp, so dass die Hochfrequenzkomponenten, welche in 3D gezeigt werden, in dem detektierten Signal niedrig sind, wobei es das Abtasten und Halten der Pegel des detektierten Signals gestatten, dass jeder Pegel Lp, Lw, Lr erhalten wird.
  • [Korrelation zwischen der sphärischen Aberration und der Aufzeichnungscharakteristik]
  • Als Nächstes wird nun eine Korrelation zwischen der sphärischen Aberration und jeder Aufzeichnungscharakteristik, welche durch das aktuelle Aufzeichnen erhalten wird, beschrieben.
  • 6 stellt eine Korrelation zwischen der sphärischen Aberration und dem Jitter und eine Korrelation zwischen der sphärischen Aberration und dem β-(Beta-)Wert im Falle des Benutzens der DVD-R als optischer Disk dar. In 3 stellt eine Horizontalachse einen Betrag an sphärischer Aberration dar, eine Vertikalachse stellt den Jitter [%] und den β-Wert [dB] dar, und ein Zentrum der horizontalen Achse stellt dar, dass die sphärische Aberration null wird.
  • Wie aus 3 zu ersehen ist, fallen eine Position, bei welcher der Jitter minimiert ist, und diejenige, bei welcher die sphärische Aberration nahezu minimiert ist, d.h. nahezu null wird, im Wesentlichen miteinander zusammen. D.h., die Korrelation zwischen dem Jitter und der sphärischen Aberration zeigt, dass der Jitter sich mit zunehmender sphärischer Aberration erhöht.
  • Demnach gestatten das Messen des Jitters als das Aufzeichnungscharakteristikum und das Steuern der Korrektureinheit 7 für die sphärische Aberration, um so den Betrag an sphärischer Aberration zu minimieren, den Jitter zu minimieren.
  • Zusätzlich, wie aus 3 zu ersehen ist, fallen eine Position, bei welcher der β-(Beta-)Wert maximiert ist, und der, bei dem die sphärische Aberration nahezu minimiert ist, im Wesentlichen miteinander zusammen.
  • Demnach gestattet das Aufzeichnen, um so den Betrag an sphärischer Aberration zu minimieren, dass der β-Wert maximiert wird und gute Pits genau gebildet werden.
  • Als Nächstes wird eine Korrelation zwischen der sphärischen Aberration und der Aufzeichnungsleistung Pr nachfolgend beschrieben.
  • 7 zeigt eine Korrelation zwischen der sphärischen Aberration und einer Aufzeichnungsleistung, welche für das Bilden eines Pits erforderlich ist, wenn ein konstanter β-wert, eine konstante Modulation oder eine konstante Asymmetrie erhalten werden, d.h. ein Pit erfüllt einen konstanten Standard.
  • Wie in 7 zu ersehen ist, wird die Aufzeichnungsleistung minimiert, wenn die sphärische Aberration minimiert ist. D.h., das Minimieren der sphärischen Aberration gestattet es, dass die Benutzbarkeit der Aufzeichnungsleistung maximiert wird, wobei sich herausgestellt hat, dass, sogar wenn eine schwache Aufzeichnungsleistung benutzt wird, gute Pits gebildet werden können.
  • [Entscheidungsprozess über den Korrekturbetrag der sphärischen Aberration]
  • Als Nächstes wird nachfolgend ein Entscheidungsprozess über den Korrekturbetrag der sphärischen Aberration beschrieben. Übrigens führen die Detektiereinheit 5 über den detektierten Lichtpegel und die Systemsteuereinheit 6 hauptsächlich den Entscheidungsprozess durch. Als Entscheidungsprozess für den Korrekturbetrag der sphärischen Aberration können zwei Prozes se angewendet werden, welche hier nachfolgend beschrieben werden.
  • Wie in 8 gezeigt wird, bestimmt die Systemsteuereinheit 6 als Erstes, ob eine Aufzeichnungsoperation gestartet wurde oder nicht (Schritt S1 in 8). In Fällen beispielsweise, wo das Informationsaufzeichnungssystem 1 von einem Nutzer mit einer optischen Disk geladen wird, welche er für das Aufzeichnen wünscht, und die Systemsteuereinheit 6 einen Befehl zum Aufzeichnen detektiert, wird erkannt, dass die Aufzeichnungsoperation starten sollte.
  • Die Detektiereinheit 5 für den reflektierten Lichtpegel arbeitet, um den Pegel an reflektiertem Licht (d.h. einen Pit-Pegel) während der Aufzeichnungsoperation zu detektieren (zu messen), und kennzeichnet den detektierten Pegel als einen Zielbetrag Lt (Schritt S2).
  • Dann berechnet die Systemsteuereinheit 6 einen Korrekturbetrag für sphärische Aberration (Schritt S3). In dem Fall, dass diese Berechnung das erste Mal nach dem Starten der Aufzeichnungsoperation ist, setzt die Systemsteuereinheit 6 diesen berechneten Korrekturbetrag als ihren Anfangswert. Dieser Anfangswert hat entweder eine positive oder eine negative Korrekturpolarität, welche durch die vorher festgelegte Kurve, welche in 5A gezeigt wird, bestimmt ist. Die Detektiereinheit 5 für den reflektierten Lichtpegel detektiert dann den Pegel L des reflektierten Lichtes (Schritt S4). Der zurückgestellte Lichtpegel L, welcher zu dieser Zeit detektiert wird, wurde der sphärischen Aberrationskorrektur unterworfen, welche entsprechend dem Korrekturbetrag der sphärischen Aberration durchgeführt wurde, welche im Schritt S3 berechnet wurde.
  • Die Systemsteuereinheit 6 bestimmt dann, ob der reflektierte Lichtpegel L, welcher im Schritt S4 detektiert (gemessen) wur de, kleiner als der Zielwert Lt wird, welcher im Schritt S2 eingestellt wurde, oder nicht, d.h. ein Betrag an sphärischer Aberration wurde gegenüber der letzten sphärischen Aberrationskorrektur reduziert (verbessert) (Schritt S5).
  • Wie in 5A gezeigt wird, kann begriffen werden, dass, wenn der reflektierte Lichtpegel (d.h. der Pit-Pegel) reduziert wurde, die sphärische Aberration kleiner wird. In einem derartigen Fall ist die Korrekturpolaritätsrichtung, in welcher der Korrekturbetrag verändert wurde, aktuell korrekt, so dass derartige Veränderungen beibehalten werden sollten, indem in diese aktuelle Korrekturpolaritätsrichtung gegangen wird. Deshalb gibt die Systemsteuereinheit 6 den Zielwert Lt als einen Betrag an reflektiertem Lichtpegel L an, der zu dieser Zeit detektiert wird (d.h. Lt=L; Schritt S6).
  • Im Gegensatz dazu, wenn im Schritt S5 bestimmt wird, dass sich der reflektierte Lichtpegel L nicht erniedrigt hat, kann angenommen werden, dass die sphärische Aberration nicht zu ihrem reduzierten (verbesserten) Zustand geführt wurde. Die Korrekturpolaritätsrichtung, in welche der Korrekturbetrag aktuell verändert wurde, ist nämlich nicht korrekt. Basierend auf dieser Bestimmung löscht die Systemsteuereinheit 6 den aktuellen Korrekturbetrag, welcher zuletzt eingestellt wurde (Schritt 7), so dass der Korrekturbetrag gezwungenermaßen auf einen Wert zurück eingestellt wird, der zuvor als Letzter benutzt wurde. Deshalb wird der aktuelle Korrekturbetrag als nicht geeignet betrachtet, da er ein Anschwellen in der sphärischen Aberration auslöste, welche unter dem aktuellen sphärischen Aberrationskorrekturbetrag ausgeführt wurde.
  • Dann bestimmt die Systemsteuereinheit 6, ob das Aufzeichnen fortgesetzt wurde oder nicht (Schritt S8), und falls es fortgesetzt wurde, kehrt die Verarbeitung zum Schritt S3 zurück, um wieder einen aktuellen Aberrationsbetrag für sphärische A berration zu bestimmen. D.h., wenn die im Schritt S5 zuletzt ausgeführte Verarbeitung erbrachte, dass der Pegel des reflektierten Lichtes reduziert wurde (d.h. die sphärische Aberration wird weniger), wird der Korrekturbetrag der sphärischen Aberration in gleicher Korrekturpolaritätsrichtung (z.B. in positiver Korrekturrichtung) wie jener beim letzten Mal verändert.
  • Im Gegensatz dazu, wenn die zuletzt ausgeführte Verarbeitung im Schritt S5 zeigte, dass der Pegel an reflektiertem Licht nicht weniger wurde (d.h., die sphärische Aberration hat sich nicht verbessert), wird der Korrekturbetrag zu dieser Zeit in umgekehrter Polaritätsrichtung (d.h. in negativer Korrekturrichtung) gegenüber jener beim letzten Mal verändert.
  • Und der Pegel L des reflektierten Lichtes, welches nach der sphärischen Aberrationskorrektur auf dem aktuellen Korrekturbetrag erzeugt wurde, wird wieder im Schritt S4 detektiert und wird dem Vergleich mit dem reflektierten Lichtpegelzielwert Lt unterzogen, welcher aktuell eingestellt ist. Auf diese Weise, da der Korrekturbetrag für sphärische Aberration immer um ein klein wenig verändert wird, wird die Bestimmung, ob die sphärische Aberration verbessert wurde oder nicht, wiederholt ausgeführt, wobei das reflektierte Licht benutzt wird, welches nach der Aberrationskorrektur hergestellt wurde.
  • Es ist deshalb möglich, dass, wann auch immer die sphärische Aberration der Aufzeichnungsoperation aufgrund einiger Faktoren, wobei Temperaturveränderungen eingeschlossen sind, fluktuiert, Informationen aufgezeichnet werden können, wobei die sphärische Aberration immer korrigiert wird, um die Fluktuationen in eine gesteuerte, geeigneten Weise überzuführen.
  • Da das Beispiel, welches durch das Flussdiagramm der 8 geliefert wird, den Pitpegel benutzt, welcher als der reflek tierte Lichtpegel dient, wird die sphärische Aberration als verbessert betrachtet, wenn die Bestimmung im Schritt S5 durchgeführt werden kann, dass der reflektierte Lichtpegel kleiner wird als sein Zielwert. Alternativ, da ein physikalischer Betrag die reflektierten Lichtpegel zeigt, kann ein Pit-Verhältnis anstatt des Pit-Pegels bei dem ähnlichen Verarbeiten wie oben benutzt werden. Das ausgeführte Berarbeiten, bei dem das Pit-Verhältnis benutzt wird, kann mit dem Flussdiagramm erklärt werden, welches in 9 gezeigt wird.
  • Nach dem Detektieren des Startes des Aufzeichnens von Information berechnet praktisch die Systemsteuereinheit 6 ein Pit-Verhältnis R bei dem Zeitablauf des Aufzeichnungsstartes, wobei sowohl ein durch die Detektiereinheit 5 des reflektierten Lichtpegels detektierter Pit-Pegel als auch ein Lesepegel oder ein Schreibpegel benutzt wird, und kennzeichnet den berechneten Pit-Pegel R als einen Zielpegel Rt (Schritt S12). Die Systemsteuereinheit 6 fährt mit dem Schritt S13 fort weiter, wobei ein Korrekturbetrag der sphärischen Aberration jedes Mal verändert wird, wenn der Korrekturbetrag in der gleichen Weise verändert wird wie der, welcher im Schritt S3 in 8 beschrieben wird.
  • Die Systemsteuereinheit 6 detektiert, wobei ein Signal als der reflektierte Lichtpegel dient, irgendeinen von einem Lesepegel, einem Schreibpegel und einem Aufzeichnungspegel ebenso wie einen Pit-Pegel, so dass ein Pit-Verhältnis R, welches jedes Mal nach der Korrektur der sphärischen Aberration erzeugt wurde, berechnet (gemessen) wird (Schritt S14). Es wird dann bestimmt, ob das im Schritt S15 berechnete Pit-Verhältnis R über dem Zielwert Rt für das Pit-Verhältnis liegt, welches im Schritt S2 bestimmt wurde (Schritt S15). Wie in 15B gezeigt wird, ist, je größer das Pit-Verhältnis R ist, die sphärische Aberration umso geringer.
  • Wenn herausgefunden wird, dass das Pit-Verhältnis R größer wird als der aktuell eingestellte Zielwert Rt, kann deshalb durch die Systemsteuereinheit 6 erkannt werden, dass die sphärische Aberration gegenüber der letzten weiter verbessert wurde, so wird die Verarbeitung dazu gebracht, zum Schritt S16 weiter zu gehen. Im Gegensatz dazu, wenn bestimmt wird, dass das Pit-Verhältnis R noch unter dem Zielwert Rt liegt, welcher aktuell eingestellt ist, wird die entgegengesetzte zu der obigen Wahrnehmung gemacht, so fährt die Verarbeitung mit dem Schritt S17 fort. Die Verarbeitungen, welche bei den Schritten S16 und 17 durchgeführt werden, ähneln denen, welche in den Schritten S6 und S7 in 8 durchgeführt wurden.
  • Die oben aufgeführte Verarbeitung bei den Schritten S13 bis S17 wird bis zum Ende der Aufzeichnung grundsätzlich in der gleichen Weise wiederholt ausgeführt wie die in 8, wo der Pit-Pegel als Signal benutzt wird, welches den reflektierten Pegel anzeigt (Schritt S18).
  • [Beispiele der Korrektureinheit für sphärische Aberration]
  • Wie oben beschrieben, kann in dieser zweiten Ausführungsform jegliche Korrektureinheit 7 für sphärische Aberration benutzt werden, welche irgendwelche Systeme und Strukturen besitzt. Es werden Beispiele für Korrektureinheiten zur sphärischen Aberration erklärt.
  • 10A zeigt typischerweise den Aufbau einer Korrektureinheit 7a vom Typ „Flüssigkristall" zur sphärischen Aberration, welche oben beschrieben ist. Die Korrektureinheit 7a zur sphärischen Aberration ist dafür gedacht, zwischen der Laserdiode als Lichtquelle eingefügt zu werden und auf dem optischen Strahlweg platziert zu werden.
  • D.h., die Korrektureinheit 7a zur sphärischen Aberration weist auf: eine Vielzahl von Flüssigkeitskristallbereichen A, B und C, welche konzentrisch angeordnet und im optischen Strahlweg platziert sind, variable Spannungen Va, Vb und Vc, welche an den Flüssigkeitskristallbereichen A, B und C angelegt sind, und eine Steuereinheit 55, welche an die variablen Spannungen Va, Vb und Vc und an die Systemsteuereinheit 7 angeschlossen sind.
  • D.h., die Steuereinheit 55 der Korrektureinheit 7a für sphärische Aberration ist so aufgebaut, dass sie entsprechend dem Steuersignal S3 von der Systemsteuereinheit 7 die variablen Spannungen Va, Vb und Vc steuert, welche an den Flüssigkeitskristallbereichen A, B und C jeweils angelegt sind, um so Veränderungen in der Phase des optischen Strahls 9 auszulösen, welche über die Flüssigkeitskristallbereiche A, B und C übertragen wird, wobei dadurch die sphärische Aberration des optischen Strahls 9 korrigiert wird. Diese Korrektureinheit für sphärische Aberration wird beispielsweise in der offen gelegten japanischen Patentschrift (KOKAI) Nr. HEI10-269611 und Nr. 2002-15454 veröffentlicht.
  • 10B zeigt schematisch die Struktur einer Korrektureinheit 7b für sphärische Aberration vom Typ „Optisches Element", wie oben beschrieben.
  • Die Korrektureinheit 7b für sphärische Aberration hat eine Kollimatorlinse 63, welche in dem optischen Pfad zwischen einer Laserdiode 60 und einem Spiegel 61 platziert ist, und einen Aktuator 64, welcher aufgebaut ist, um beweglich die Kollimatorlinse 63 entlang der Richtung des optischen Strahlpfads zu stützen.
  • D.h., der optische Strahl, welcher von einer Lichtquelle 60 abgestrahlt wird, wird in eine Kollimatorlinse 62 eingegeben, um in einen kollimierten Strahl gewandelt zu werden, so dass der kollimierte optische Strahl 9 durch den Spiegel in Richtung der optischen Disk D (die Objektivlinse 62) reflektiert wird. Der reflektierte optische Strahl 9 wird in die Objektivlinse 62 eingegeben, um auf die optische Disk D fokussiert zu werden.
  • In den Fällen, wo ein Fehler an Dicke oder Ähnliches eine erste sphärische Aberration in dem reflektierten Licht von der optischen Disk D auslöst, steuert der Aktuator 64 die Kollimatorlinse 63, sich entlang des optischen Strahlpfads zu bewegen, welcher durch einen Pfeil in 10B gezeigt wird, wodurch das Auftreten einer zweiten sphärischen Aberration hervorgerufen wird, welche eine invertierte Charakteristik zur ersten sphärischen Aberration hat, welche bereits in dem optischen Strahl 9 ausgelöst wurde. D.h., der Aktuator 64 bringt die Kollimatorlinse 64 dazu, sich in die Position zu bewegen, bei welcher die zweite sphärische Aberration in dem optischen Strahl 9 auftritt, wodurch die erste sphärische Aberration in dem reflektierten Licht und die zweite sphärische Aberration ion dem optischen Strahl im Ganzen aufgehoben wird.
  • Dieser Typ an Korrektureinheit für sphärische Aberration wird beispielsweise in der japanischen offengelegten Patentveröffentlichung (KOKAI) Nr. 2001-236674 veröffentlicht.
  • Wie oben erklärt, ist die Korrektureinheit 7 für sphärische Aberration entsprechend der vorliegenden Erfindung in der Lage, einen Lichtpegel zu detektieren, welcher von einer optischen Disk reflektiert wurde, auf welche ein optischer Strahl zum Aufzeichnen von Information gestrahlt wurde, um über einen Korrekturbetrag für sphärische Aberration auf der Grundlage des reflektierten Lichtpegels zu entscheiden und die sphärische Aberration zu korrigieren, indem der beschlossene Korrekturbetrag benutzt wird. Als Konsequenz, wann immer Fluktuatio nen im Betrag an sphärischer Aberration aufgrund verschiedener Faktoren, z.B. dem Verändern der Temperatur, während der Aufzeichnungsoperation auftreten, kann die sphärische Aberration genau korrigiert werden, um so derartige Fluktuationsveränderungen in Echtzeit auszulöschen.
  • Zusätzlich, wie aus 7 zu ersehen ist, gestattet das Aufzeichnen der Bits an Information beim optimalen Betrag des sphärischen Aberrationswertes, d.h. der minimale sphärische Aberrationsbetrag, dass die Aufzeichnungsleistung effektiv genutzt wird, so dass es möglich ist, präzise Pits zu bilden, sogar im Falle des Benutzens eines geringeren Wertes an Aufzeichnungsleistung.
  • Demnach, wenn ein ROPC (eine optimale Laufleistungssteuerung) während des Aufzeichnens durchgeführt wird, ist es möglich, den Korrekturbetrag der Aufzeichnungsleistung durch die ROPC zu erniedrigen.
  • In dem Merkmal, je schneller die Aufzeichnungsrate ist, ist die Aufzeichnungsleistung, welche für genaues Bilden der Pits erforderlich ist, umso erhöhter. In der zweiten Ausführungsform gestattet jedoch das Durchführen des Aufzeichnens von Information in der optimalen sphärischen Aberration, die Aufzeichnungsleistung zu erniedrigen, so dass dadurch der Spielraum bezüglich der maximalen Leistung der Laserdiode, welche die Erzeugung des optischen Strahles steuert, erhöht wird. Zusätzlich ist es möglich, das Erhöhen der Temperatur der Laserdiode oder des gesamten Informationsaufzeichnungssystems während des Aufzeichnens zu verhindern.

Claims (6)

  1. System zur Korrektur von sphärischer Aberration, welches aufweist: eine Aufzeichnungseinheit (50), welche konfiguriert ist, um einen Teil einer Information durch Bestrahlen einer optischen Scheibe mit einem optischen Strahl aufzuzeichnen; eine Pegeldetektiereinheit (51) für reflektiertes Licht, welche so konfiguriert ist, dass sie einen Pegel des Lichtes, das durch den optischen Strahl, welcher von der optischen Scheibe reflektiert wird, während einer Aufzeichnungsoperation der Information detektiert; eine Entscheidungseinheit (52) über einen Korrekturbetrag, welche so konfiguriert ist, dass sie über einen Korrekturbetrag für sphärische Aberration auf der Grundlage des Pegels des reflektierten Lichts entscheidet; und eine Korrektureinheit (7; 53) für sphärische Aberration, welche so konfiguriert ist, dass sie die sphärische Aberration durch Benutzen des Korrekturbetrages korrigiert, dadurch gekennzeichnet, dass die Entscheidungseinheit für den Korrekturbetrag aufweist: ein Bestimmungselement (52, 6), welches so konfiguriert ist, dass es bestimmt, ob die nach der Aberrationskorrektur erhaltene sphärische Aberration verbessert wurde oder nicht, indem gegenseitig die beiden Pegel des reflektierten Lichtes verglichen werden, welche vor und nach der Aberrationskorrektur, welche durch die Korrektureinheit der sphärischen Aberration durchgeführt wurde, erhalten wurden; ein erstes Verarbeitungselement (52, 6), welches so konfiguriert ist, dass es den Korrekturbetrag durch Verändern des Korrekturbetrags in einer Richtung mit entweder der gleichen positiven oder der negativen Polarität wie die Polarität, welche für die Entscheidung des aktuell eingestellten Korrekturbetrags benutzt wurde, aktualisiert, wobei die sphärische Aberration Änderungen in Richtung entweder der positiven oder der negativen Polarität unterliegt, in Fällen, wo durch die Bestimmungseinheit bestimmt ist, dass der Betrag an sphärischer Aberration verbessert wurde; und ein zweites Verarbeitungselement (52, 6), welches so konfiguriert ist, dass es den Korrekturbetrag, welcher aktuell eingestellt ist, löscht und den Korrekturbetrag auf einen Betrag einstellt, welcher vor dem Aktualisieren des Korrekturbetrages benutzt wurde, in Fällen, in welchen das Bestimmungs- bzw. Entscheidungselement bestimmt, dass der Pegel des reflektierten Lichtes, welches nach der ausgeführten Aberrationskorrektur erhalten wurde, kleiner als ein Sollwert wird.
  2. System zur Korrektur von sphärischer Aberration nach Anspruch 1, in welchem die Entscheidungseinheit (52) über den Korrekturbetrag ferner aufweist: ein drittes Verarbeitungselement (52, 6), welches so konfiguriert ist, dass es den Korrekturbetrag durch Verändern des Korrekturbetrags in einer Richtung entweder der positiven oder der negativen Polarität, welche umgekehrt zu der Polarität ist, welche für das Entscheiden des aktuell eingestellten Korrekturbetrages in Fällen benutzt wird, in welchem die Bestimmungseinheit bestimmt, dass der Betrag an sphärischer Aberration nicht verbessert werden muss.
  3. System zur Korrektur von sphärischer Aberration nach Anspruch 1 oder 2, in welchem die Detektiereinheit (51) für den reflektierten Lichtpegel so konfiguriert ist, dass sie einen Pit- bzw. Einbrenngrubenpegel des optischen Strahls während der Aufzeichnungsoperation als ein Signal ausgibt, welches für den Pegel des reflektierten Lichtes indikativ ist.
  4. System zur Korrektur von sphärischer Aberration nach Anspruch 1 oder 2, in welchem die Detektiereinheit (51) für den reflektierten Lichtpegel aufweist: ein Detektierelement (5), welches so konfiguriert ist, dass es einen Pit-Pegel des optischen Lichtstrahls während der Aufzeichnungsoperation und wenigstens einen Lesepegel oder einen Schreibpegel detektiert; und ein Berechnungselement (20), welches so konfiguriert ist, dass es ein Pit-Verhältnis berechnet, welches ein Verhältnis zwischen dem Pit-Pegel und entweder dem Lesepegel, oder dem Schreibpegel oder einer Aufzeichnungsleistung anzeigt und das Pit-Verhältnis als ein Signal ausgibt, welches für den Pegel des reflektierten Lichtes indikativ ist.
  5. System zur Korrektur von sphärischer Aberration entsprechend einem der Ansprüche 1, 2, 3 oder 4, welches ferner aufweist eine Steuereinheit (6), welche so konfiguriert ist, dass sie die Detektiereinheit (51) für den reflektierten Lichtpegel, die Entscheidungseinheit (52) für den Korrekturbetrag und die Korrektureinheit (53) für die sphärische Aberration freigibt, um die Korrektur an der sphärischen Aberration in Antwort auf einen Beginn der Aufzeichnungsoperation freizugeben.
  6. Verfahren zur Korrektur sphärischer Aberration, welches die Schritte aufweist: Aufzeichnen einer Information über das Bestrahlen einer optischen Scheibe mit einem optischen Strahl; Detektieren eines Lichtpegels, welcher durch den optischen Strahl gebildet ist, welcher von der optischen Scheibe während einer Aufzeichnungsoperation der Information reflektiert wird; Entscheiden über einen Korrekturbetrag für sphärische Aberration auf der Basis des Pegels des reflektierten Lichtes; und Korrigieren der sphärischen Aberration durch Nutzen des Korrekturbetrages, wobei der Aufzeichnungsschritt fortgeführt wird, bis die Aufzeichnungsoperation für die Information instruiert wird, anzuhalten, wobei während dieser Zeit der Lichtpegel-Detektierschritt, der Entscheidungsschritt über den Korrekturbetrag und der Korrekturschritt für die sphärische Aberration wiederholt in Folge durchgeführt werden, dadurch gekennzeichnet, dass der Schritt des Entscheidens über einen Korrekturbetrag die Schritte aufweist von: Bestimmen, ob die nach der Aberrationskorrektur erhaltene sphärische Aberration verbessert wurde oder nicht, indem die beiden Pegel des reflektierten Lichtes, welche vor und nach der ausgeführten Aberrationskorrektur erhalten wurden, gegenseitig verglichen werden; Aktualisieren des Korrekturbetrages durch Verändern des Korrekturbetrages in einer Richtung entweder der gleichen positiven oder negativen Polarität wie der zuletzt benutzten Polarität, um über den aktuell eingestellten Korrekturbetrag zu entscheiden, wobei die sphärische Aberration Änderungen in der Richtung entweder der positiven oder der negativen Polarität unterliegt, in Fällen, wo durch die Bestimmungseinheit bestimmt ist, dass der Betrag an sphärischer Aberration verbessert wurde; und Löschen des aktuell eingestellten Korrekturbetrags und Einstellen des Korrekturbetrags auf einen Betrag, welcher zuvor zum Aktualisieren des Korrekturbetrages benutzt wurde, in Fällen, wo durch das Bestimmungselement bestimmt ist, dass der Pegel des reflektierten Lichtes, welcher nach der ausgeführten Aberrationskorrektur erhalten wurde, kleiner als ein Zielwert wird.
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