DE10061297A1 - Organischer Feld-Effekt-Transistor, Verfahren zur Sturkturierung eines OFETs und integrierte Schaltung - Google Patents
Organischer Feld-Effekt-Transistor, Verfahren zur Sturkturierung eines OFETs und integrierte SchaltungInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft einen organischen Feld-Effekt-Transistor, ein Verfahren zur Strukturierung eines OFETs und eine integrierte Schaltung mit verbesserter Strukturierung der Funktionspolymerschichten. Die Strukturierung wird durch Einrakeln des Funktionspolymers in eine Formschicht, in der zunächst durch Imprinting Vertiefungen erzeugt wurden, erzielt.
Description
Die Erfindung betrifft einen Organischen Feld-Effekt-Transi
stor, ein Verfahren zur Strukturierung eines OFETs und eine
integrierte Schaltung mit verbesserter Strukturierung der
Funktionspolymerschichten.
Organische integrierte Schaltkreise (integrated plastic cir
cuits) auf der Basis von OFETs werden für mikroelektronische
Massenanwendungen und Wegwerf-Produkte wie Identifikations-
und Produkt-"tags" gebraucht. Ein "tag" ist z. B. ein elektro
nischer Streifencode, wie er auf Waren angebracht wird oder
auf Koffern. OFETs haben ein weites Einsatzgebiet als RFID-
tags: radio frequency identification - tags, die nicht nur
auf der Oberfläche angeordnet sein müssen. Bei OFETs für die
se Anwendungen kann auf das excellente Betriebsverhalten der
Silizium-Technologie verzichtet werden, aber dafür sollten
niedrige Herstellungskosten und mechanische Flexibilität ge
währleistet sein. Die Bauteile wie z. B. elektronische Strich-
Kodierungen, sind typischerweise Einwegeprodukte und sind
wirtschaftlich nur interessant, wenn sie in preiswerten Pro
zessen hergestellt werden.
Bisher wird, wegen der Herstellungskosten, nur die Leiter
schicht des OFETs strukturiert. Die Strukturierung kann nur
über einen zweistufigen Prozess ("Lithographiemethode" vgl.
dazu Applied Physics Letters 73(1), 1998, S. 108.110 und
Mol. Cryst. Liq. Cryst. 189, 1990, S. 221-225) mit zunächst voll
flächiger Beschichtung und darauffolgender Strukturierung,
die zudem materialspezifisch ist, bewerkstelligt werden. Mit
"Materialspezifität" ist gemeint, dass der beschriebene Pro
zess mit den genannten photochemischen Komponenten einzig an
dem leitfähigen organischen Material Polyanilin funktioniert.
Ein anderes leitfähiges organisches Material, z. B. Polypyrrol,
lässt sich so nicht ohne weiteres auf diese Art struktu
rieren.
Die fehlende Strukturierung der anderen Schichten, wie zumin
dest die der halbleitenden und der isolierenden Schicht aus
Funktionspolymeren, führt zu einer deutlichen Leistungssen
kung der erhaltenen OFETs, darauf wird aber trotzdem aus Kos
tengründen verzichtet. Die strukturierte Schicht kann mit an
deren bekannten Verfahren (wie z. B. Drucken) nur so struktu
riert werden, dass die Länge 1, die den Abstand zwischen
Source und Drain Elektrode bezeichnet und damit ein Maß für
die Leistungsdichte des OFETs darstellt zumindest 30 bis
50 µm beträgt. Angestrebt werden aber Längen 1 von unter
10 µm, so dass außer der aufwendigen Lithographie-Methode mo
mentan keine Strukturierungsmethode sinnvoll erscheint.
Aufgabe der Erfindung ist daher ein kostengünstiges und mas
senfertigungstaugliches Verfahren zur Strukturierung von
OFETs mit hoher Auflösung zur Verfügung zu stellen. Weiterhin
ist Aufgabe der Erfindung, einen leistungsstärkeren, weil mit
mehr strukturierten Schichten ausgestatteten sowie einen kom
pakteren OFET zu schaffen, der mit einem geringeren Abstand 1
herstellbar ist.
Gegenstand der Erfindung ist ein Organischer Feld-Effekt-
Transistor (OFET), zumindest folgende Schichten auf einem
Substrat umfassend:
- - eine organische Halbleiterschicht zwischen und über zu mindest einer Source- und zumindest einer Drain-Elek trode, die aus einem leitenden organischen Material sind,
- - eine organische Isolationsschicht über der halbleitenden Schicht und
- - eine organische Leiterschicht,
wobei die Leiterschicht und zumindest eine der beiden anderen
Schichten strukturiert ist. Außerdem ist Gegenstand der Er
findung ein Verfahren zur Strukturierung eines OFETs durch
Rakeln von zumindest einem Funktionspolymer in eine Negativ-
Form. Schließlich ist Gegenstand der Erfindung eine inte
grierte Schaltung, die zumindest einen OFET, der zumindest
eine strukturierte Leiterschicht und eine weitere struktu
rierte Schicht hat, umfasst.
Als Negativ-Form wird eine strukturierte Schicht oder ein
Teil einer strukturierten Schicht bezeichnet, die Vertiefun
gen enthält, in die das Funktionspolymer, das z. B. eine
Elektrode eines OFETs oder eine Halbleiter- oder eine Isola
torschicht bildet, durch Rakeln eingefüllt wird.
Das Verfahren umfasst folgende Arbeitsschritte:
- a) auf einem Substrat oder einer unteren Schicht wird eine, ggf. vollflächige Formschicht, die nicht auf den Bereich, der strukturiert werden soll beschränkt sein muss, aufge bracht. Diese Formschicht ist nicht das Funktionspolymer (also halbleitende, leitende oder isolierende Schicht), sondern ein anderes organisches Material, das als Form oder Klischee für die leitende organische Elektroden schicht dient. Dieses andere organische Material sollte isolierende Eigenschaften haben.
- b) die Formschicht erhält durch Imprinting (Eindrücken eines Stempelabdrucks mit nachfolgender Aushärtung durch Belich ten) Vertiefungen, die den Strukturen entsprechen,
- c) in diese Vertiefungen wird dann das Funktionspolymer flüs sig, als Lösung und/oder als Schmelze hineingerakelt.
Die Negativ-Form der Struktur auf der Formschicht kann durch
die Imprintmethode, die eine auf dem Gebiet der elektroni
schen und mikroelektronischen Bauteile ausgereifte Technik
darstellt, auf dem Substrat oder einer unteren Schicht er
zeugt werden. Das Material der Negativ-Form kann ein UV-
härtender Lack sein, der nach Imprinting und Belichten Ver
tiefungen besitzt.
Dafür geeigneten Lacke sind kommerziell erhältlich und die
Methode sie durch Imprinting zu strukturieren, ist literatur
bekannt. Allgemein wird bei dem Imprinting auf das ungehärte
te Formpolymer, das als Schicht auf dem Substrat oder einer
unteren Schicht aufgebracht ist, ein Stempel so eingedrückt,
dass Vertiefungen in der Art, wie die Strukturierung erfolgen
soll, entstehen. Die mit Vertiefungen versehene Schicht wird
dann entweder thermisch oder durch Bestrahlung gehärtet, wo
durch die feste Formschicht entsteht, in die das Funktionspo
lymer eingerakelt werden kann.
Der Vorteil der Rakel-Methode besteht darin, dass die schwie
rige Strukturierung von Funktionspolymeren durch die einge
fahrene und bewährte Imprintmethode vorbereitet wird. Dadurch
kann auf einen reichen technischen Hintergrund zurückgegrif
fen werden und es können extrem feine Strukturen erzielt wer
den. Die Rakel-Methode ist zudem nicht materialspezifisch.
Mit der Rakelmethode kann vielmehr Polyanilin, aber auch je
des andere leitfähige organisches Material, wie z. B. Polypyr
rol, zur Herstellung von Elektroden eingesetzt werden. Ebenso
kann damit jedes andere organische Material wie z. B. Polythi
ophen als Halbleiter und/oder Polyvinylphenol als Isolator
eingerakelt und somit strukturiert werden, also der gesamte
OFET.
Nach einer Ausführungsform des Verfahrens wird die Negativ-
Form nach erfolgter Aushärtung des Funktionspolymers ent
fernt, so dass ein eventuell durch Verdunstung des Lösungs
mittels oder Schrumpfung entstandener Höhenunterschied zwi
schen Funktionspolymer und Negativ-Form vermindert wird.
Ein anderer Ansatz, einen gegebenenfalls entstandenen Höhen
unterschied zwischen Negativ-Form und Funktionspolymer zu
vermeiden, liegt in der Wiederholung des Einrakelvorgangs,
wodurch das Volumen der Negativ-Form einfach weiter aufge
füllt wird.
In der Regel kann man die Funktionspolymere weitgehend in ih
rer optimalen Konsistenz belassen. So besitzt z. B. Polyanilin
als leitfähiges organisches Material bei optimaler Leitfähig
keit eine bestimmte Viskosität. Wenn Polyanilin beispielswei
se gedruckt werden soll und nicht eingerakelt, so muss seine
Viskosität auf einen der Druckmethode angepassten Wert einge
stellt werden. Das bedeutet meistens Einbusse der Leitfähig
keit. Für das Rakeln ist die Viskositätsspanne ungleich grö
ßer als für das Drucken, so dass in aller Regel keine Visko
sitätsänderungen am organischen Material vorgenommen werden
müssen.
Schließlich ist ein Vorteil der Rakelmethode die Fähigkeit zu
dicken Schichten. So ist z. B. die Leitfähigkeit von 1 µm di
cken Polymerelektroden effektiv höher als bei üblicherweise
0,2 µm Schichtdicke. Ein OFET mit einer Schichtdicke im Be
reich von bis zu 1 µm, insbesondere im Bereich von 0,3 bis
0,7 µm ist deshalb vorteilhaft.
Als "Funktionspolymer" wird hier jedes organische, metallor
ganische und/oder anorganische Material bezeichnet, das funk
tionell am Aufbau eines OFET und/oder einer integrierten
Schaltung aus mehreren OFETs beteiligt ist. Dazu zählen bei
spielhaft die leitende Komponente (z. B. Polyanilin), das eine
Elektrode bildet, die halbleitende Komponente, die die
Schicht zwischen den Elektroden bildet und die isolierende
Komponente. Es sei ausdrücklich darauf hingewiesen, dass die
Bezeichnung "Funktionspolymer" demnach auch nicht polymere
Komponenten, wie z. B. oligomere Verbindungen, umfasst.
Als "organisch" wird hier kurz alles, was "auf organischem
Material basiert" bezeichnet, wobei der Begriff "organisches
Material" alle Arten von organischen, metallorganischen
und/oder anorganischen Kunststoffen, die im Englischen z. B.
mit "plastics" bezeichnet werden, umfasst. Es handelt sich um
alle Arten von Stoffen mit Ausnahme der klassischen Halblei
ter (Germanium, Silizium) und der typischen metallischen Leiter.
Eine Beschränkung im dogmatischen Sinn auf organisches
Material als Kohlenstoff-enthaltendes Material ist demnach
nicht vorgesehen, vielmehr ist auch an den breiten Einsatz
von z. B. Siliconen gedacht. Weiterhin soll der Term keiner
Beschränkung auf polymere oder oligomere Materialien unter
liegen, sondern es ist durchaus auch der Einsatz von "small
molecules" denkbar.
Als "untere Schicht" wird hier jede Schicht eines OFETs be
zeichnet, auf die eine zu strukturierende Schicht aufgebracht
wird. Die Formschicht aus dem Formpolymer schließt an die
"untere Schicht" oder das Substrat an. Das Formpolymer wird
hier durch die Bezeichnung "polymer" auch nicht auf einen po
lymeren Aggregatszustand festgelegt, vielmehr kann es sich
bei dieser Substanz auch um alle praktisch einsetzbaren
Kunststoffe zur Ausbildung einer Negativ-Form handeln.
Im Folgenden wird eine Ausführungsform des Verfahrens noch
anhand von schematischen Figuren näher erläutert.
Fig. 1.1. zeigt das Substrat oder eine untere Schicht 1 auf
die die Formschicht der Negativ-Form 2, beispielsweise aus
einem Formpolymer wie einem UV-härtbaren Lack, z. B. vollflä
chig aufgebracht ist. Die Formschicht 2 wird mit einem Präge
stempel 4, wie in Fig. 1.2. gezeigt, mit Vertiefungen verse
hen, also es werden in die Formschicht 2 Vertiefungen mit dem
Stempel 4, der beispielsweise aus Siliziumdioxid(SiO2) sein
kann, eingeprägt. Während der Stempel 4 die Vertiefungen 12
einprägt wird die Formschicht 2 mit UV-Licht bestrahlt, wo
durch das Formpolymer 2 unter permantenter Ausbildung der
Vertiefungen 12 aushärtet. Dadurch entstehen die Vertiefungen
12 in der Formschicht 2, wie sie in Fig. 1.3. gezeigt sind.
Der Stempel 4 wird nach beendigter Prägung aus der Form
schicht 2 herausgezogen. In die Vertiefungen 12 wird das
Funktionspolymer 8 (z. B. Polyanilin) mit einem Rakel 9 hin
eingerakelt (Fig. 1.4.). In Fig. 1.5. erkennt man, wie im
fertigen OFET das Funktionspolymer 8 die Vertiefungen 12 der
Formschicht 2 ausfüllt.
Fig. 2 zeigt eine weitere Ausführungsform des Verfahrens im
kontinuierlichen Prozess oder kontinuierlichen Rollendruck.
Zu sehen ist das Band aus Substrat oder unterer Schicht 1 mit
dem Formpolymer 2, das ein UV-härtbarer, aber auch ein ther
misch härtbarer Lack sein kann. Dieses Band wird nun von
links nach rechts, wie durch den Pfeil 13 angedeutet, entlang
mehrerer Andruckrollen 10 verschiedenen Arbeitsschritten un
terworfen. Zunächst passiert es das Schattenblech 3, mit dem
das noch nicht gehärtete Formpolymer 2 gegen Bestrahlung ge
schützt wird. Danach werden in das Formpolymer 2 mit Hilfe
der Stempelrolle 4 Vertiefungen eingeprägt, die mit der in
der Stempelrolle 4 integrierten UV-Lampe 5 gleich angehärtet
werden. Die von 5 ausgehende Pfeilrichtung zeigt die Richtung
des Lichtkegels, der von 5 ausgestrahlt wird, an. Das mit
Vertiefungen 12 in der Formschicht 2 versehene Band zieht
dann unter einer UV-Lampe oder Heizung 6 zur Nachhärtung vor
bei, so dass ein strukturierter Lack 7 entsteht. In den
strukturierten Lack 7 mit den Vertiefungen 12 wird dann mit
dem Rakel 9 das Funktionspolymer 8 eingerakelt, so dass die
fertige Struktur 11 entsteht.
Claims (10)
1. Organischer Feld-Effekt-Transistor (OFET), zumindest fol
gende Schichten auf einem Substrat umfassend:
eine organische Halbleiterschicht zwischen und über zu mindest einer Source- und zumindest einer Drain-Elek trode, die aus einem leitenden organischen Material sind,
eine organische Isolationsschicht über der halbleitenden Schicht und
eine organische Leiterschicht,
wobei die Leiterschicht und zumindest eine der beiden anderen Schichten strukturiert ist.
eine organische Halbleiterschicht zwischen und über zu mindest einer Source- und zumindest einer Drain-Elek trode, die aus einem leitenden organischen Material sind,
eine organische Isolationsschicht über der halbleitenden Schicht und
eine organische Leiterschicht,
wobei die Leiterschicht und zumindest eine der beiden anderen Schichten strukturiert ist.
2. OFET nach Anspruch 1 mit einem Abstand 1 zwischen Source
und Drain Elektrode von kleiner 20 µm, insbesondere von klei
ner 10 µm und ganz bevorzugt von 2 bis 5 µm.
3. OFET nach einem der Ansprüche 1 oder 2, der eine Elektrode
mit einer Schichtdicke von 1 µm umfasst.
4. Integrierte Schaltung, die zumindest einen OFET, der zu
mindest eine strukturierte Leiterschicht und eine weitere
strukturierte Schicht hat, umfasst.
5. Verfahren zur Strukturierung eines OFETs durch Rakeln von
zumindest einem Funktionspolymer in eine Negativ-Form.
6. Verfahren nach Anspruch 5, folgende Arbeitsschritte umfas
send:
- a) auf einem Substrat oder einer unteren Schicht wird eine Formschicht für eine Negativform aufgebracht,
- b) diese Formschicht erhält Vertiefungen, die den Negativen der späteren Strukturen entsprechen und
- c) in diese Vertiefungen wird dann das Funktionspolymer hin eingerakelt.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 5 oder 6, bei dem die
Formschicht nach der Strukturierung entfernt wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 5 bis 7, bei dem zumin
dest zweimal das Funktionspolymer in die Vertiefungen der
Formschicht eingerakelt wird.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 5 bis 8, bei dem die
Vertiefungen in der Formschicht durch Imprinting erzeugt wer
den.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 5 bis 9, das als kon
tiniuerliches Verfahren mit einem durchlaufenden Band durch
geführt wird.
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| DE (1) | DE10061297C2 (de) |
| WO (1) | WO2002047183A1 (de) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10126860C2 (de) * | 2001-06-01 | 2003-05-28 | Siemens Ag | Organischer Feldeffekt-Transistor, Verfahren zu seiner Herstellung und Verwendung zum Aufbau integrierter Schaltungen |
| WO2004042837A3 (de) * | 2002-11-05 | 2004-10-07 | Siemens Ag | Organisches elektronisches bauteil mit hochaufgelöster strukturierung und herstellungsverfahren dazu |
| DE10340609A1 (de) * | 2003-08-29 | 2005-04-07 | Infineon Technologies Ag | Polymerformulierung und Verfahren zur Herstellung einer Dielektrikumsschicht |
| US6960489B2 (en) | 2000-09-01 | 2005-11-01 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for structuring an OFET |
| EP1727219A1 (de) | 2005-05-25 | 2006-11-29 | Samsung SDI Germany GmbH | Organischer Dünnschichttransistor und Verfahren zu seiner Herstellung |
| US7329559B2 (en) | 2003-01-21 | 2008-02-12 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Use of conductive carbon black/graphite mixtures for the production of low-cost electronics |
| US7442954B2 (en) | 2002-11-19 | 2008-10-28 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Organic electronic component comprising a patterned, semi-conducting functional layer and a method for producing said component |
| US7582896B2 (en) | 2003-08-29 | 2009-09-01 | Infineon Technologies Ag | Integrated circuit comprising an organic semiconductor, and method for the production of an integrated circuit |
| US7708958B2 (en) | 2003-06-26 | 2010-05-04 | Tersano Inc. | System and containers for water filtration and item sanitization |
| US7786818B2 (en) | 2004-12-10 | 2010-08-31 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Electronic component comprising a modulator |
Families Citing this family (48)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002015264A2 (de) | 2000-08-18 | 2002-02-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Verkapseltes organisch-elektronisches bauteil, verfahren zu seiner herstellung und seine verwendung |
| DE10045192A1 (de) | 2000-09-13 | 2002-04-04 | Siemens Ag | Organischer Datenspeicher, RFID-Tag mit organischem Datenspeicher, Verwendung eines organischen Datenspeichers |
| DE10061297C2 (de) | 2000-12-08 | 2003-05-28 | Siemens Ag | Verfahren zur Sturkturierung eines OFETs |
| DE10061299A1 (de) | 2000-12-08 | 2002-06-27 | Siemens Ag | Vorrichtung zur Feststellung und/oder Weiterleitung zumindest eines Umwelteinflusses, Herstellungsverfahren und Verwendung dazu |
| DE10105914C1 (de) | 2001-02-09 | 2002-10-10 | Siemens Ag | Organischer Feldeffekt-Transistor mit fotostrukturiertem Gate-Dielektrikum und ein Verfahren zu dessen Erzeugung |
| DE10151036A1 (de) | 2001-10-16 | 2003-05-08 | Siemens Ag | Isolator für ein organisches Elektronikbauteil |
| DE10151440C1 (de) | 2001-10-18 | 2003-02-06 | Siemens Ag | Organisches Elektronikbauteil, Verfahren zu seiner Herstellung und seine Verwendung |
| DE10160732A1 (de) | 2001-12-11 | 2003-06-26 | Siemens Ag | Organischer Feld-Effekt-Transistor mit verschobener Schwellwertspannung und Verwendung dazu |
| DE10212639A1 (de) * | 2002-03-21 | 2003-10-16 | Siemens Ag | Vorrichtung und Verfahren zur Laserstrukturierung von Funktionspolymeren und Verwendungen |
| DE10212640B4 (de) | 2002-03-21 | 2004-02-05 | Siemens Ag | Logische Bauteile aus organischen Feldeffekttransistoren |
| DE10226370B4 (de) | 2002-06-13 | 2008-12-11 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Substrat für ein elektronisches Bauteil, Verwendung des Substrates, Verfahren zur Erhöhung der Ladungsträgermobilität und Organischer Feld-Effekt Transistor (OFET) |
| WO2004017439A2 (de) | 2002-07-29 | 2004-02-26 | Siemens Aktiengesellschaft | Elektronisches bauteil mit vorwiegend organischen funktionsmaterialien und herstellungsverfahren dazu |
| CN100338791C (zh) | 2002-08-23 | 2007-09-19 | 波尔伊克两合公司 | 用于过电压保护的有机元件及相关电路 |
| DE10240105B4 (de) * | 2002-08-30 | 2005-03-24 | Infineon Technologies Ag | Herstellung organischer elektronischer Schaltkreise durch Kontaktdrucktechniken |
| EP1559147B1 (de) * | 2002-10-02 | 2014-11-12 | Leonhard Kurz Stiftung & Co. KG | Folie mit organischen halbleitern |
| DE10253154A1 (de) | 2002-11-14 | 2004-05-27 | Siemens Ag | Messgerät zur Bestimmung eines Analyten in einer Flüssigkeitsprobe |
| GB0229191D0 (en) * | 2002-12-14 | 2003-01-22 | Plastic Logic Ltd | Embossing of polymer devices |
| DE10330062A1 (de) * | 2003-07-03 | 2005-01-27 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Strukturierung von organischen Schichten |
| DE10339036A1 (de) | 2003-08-25 | 2005-03-31 | Siemens Ag | Organisches elektronisches Bauteil mit hochaufgelöster Strukturierung und Herstellungsverfahren dazu |
| DE10340644B4 (de) | 2003-09-03 | 2010-10-07 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Mechanische Steuerelemente für organische Polymerelektronik |
| DE10340643B4 (de) | 2003-09-03 | 2009-04-16 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Druckverfahren zur Herstellung einer Doppelschicht für Polymerelektronik-Schaltungen, sowie dadurch hergestelltes elektronisches Bauelement mit Doppelschicht |
| DE10349963A1 (de) | 2003-10-24 | 2005-06-02 | Leonhard Kurz Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Herstellung einer Folie |
| DE102004005247A1 (de) * | 2004-01-28 | 2005-09-01 | Infineon Technologies Ag | Imprint-Lithographieverfahren |
| JP2005353725A (ja) * | 2004-06-09 | 2005-12-22 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 基板上への能動素子の形成方法および基板 |
| JP4549751B2 (ja) * | 2004-06-17 | 2010-09-22 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
| TWI253193B (en) * | 2004-08-06 | 2006-04-11 | Ind Tech Res Inst | Method for manufacturing organic thin-film transistor with plastic substrate |
| DE102004040831A1 (de) | 2004-08-23 | 2006-03-09 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Funketikettfähige Umverpackung |
| DE102004059465A1 (de) | 2004-12-10 | 2006-06-14 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Erkennungssystem |
| DE102004059467A1 (de) * | 2004-12-10 | 2006-07-20 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Gatter aus organischen Feldeffekttransistoren |
| DE102004063435A1 (de) | 2004-12-23 | 2006-07-27 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Organischer Gleichrichter |
| CN100468810C (zh) * | 2004-12-29 | 2009-03-11 | 财团法人工业技术研究院 | 塑料基板有机薄膜晶体管的制作方法 |
| DE102005009819A1 (de) | 2005-03-01 | 2006-09-07 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Elektronikbaugruppe |
| DE102005009820A1 (de) | 2005-03-01 | 2006-09-07 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Elektronikbaugruppe mit organischen Logik-Schaltelementen |
| US7595502B2 (en) | 2005-03-04 | 2009-09-29 | Samsung Mobile Display Co., Ltd. | Method of manufacturing thin film transistor, thin film transistor manufactured by the method, and display device employing the same |
| DE102005017655B4 (de) | 2005-04-15 | 2008-12-11 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Mehrschichtiger Verbundkörper mit elektronischer Funktion |
| KR100647695B1 (ko) * | 2005-05-27 | 2006-11-23 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 박막 트랜지스터 및 그의 제조방법과 이를 구비한평판표시장치 |
| GB2427509A (en) * | 2005-06-21 | 2006-12-27 | Seiko Epson Corp | Organic electronic device fabrication by micro-embossing |
| DE102005031448A1 (de) | 2005-07-04 | 2007-01-11 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Aktivierbare optische Schicht |
| DE102005035589A1 (de) | 2005-07-29 | 2007-02-01 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Herstellung eines elektronischen Bauelements |
| DE102005035590A1 (de) * | 2005-07-29 | 2007-02-01 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Elektronisches Bauelement |
| JP2007042905A (ja) * | 2005-08-04 | 2007-02-15 | Sony Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
| DE102005042166A1 (de) * | 2005-09-06 | 2007-03-15 | Polyic Gmbh & Co.Kg | Organisches Bauelement und ein solches umfassende elektrische Schaltung |
| DE102005044306A1 (de) | 2005-09-16 | 2007-03-22 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Elektronische Schaltung und Verfahren zur Herstellung einer solchen |
| JP2007123773A (ja) * | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | 薄膜トランジスタ、及びその製造方法 |
| KR101308435B1 (ko) | 2006-06-30 | 2013-09-16 | 엘지디스플레이 주식회사 | 패턴 형성방법 및 이를 이용한 액정표시소자의 제조방법 |
| WO2008140425A1 (en) * | 2007-05-14 | 2008-11-20 | Nanyang Technological University | Embossing printing for fabrication of organic field effect transistors and its integrated devices |
| US8071277B2 (en) * | 2007-12-21 | 2011-12-06 | 3M Innovative Properties Company | Method and system for fabricating three-dimensional structures with sub-micron and micron features |
| US8206537B2 (en) * | 2008-08-27 | 2012-06-26 | Carnegie Mellon University | Method for forming a conducting multi-polymer nanostructure |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0442123A1 (de) * | 1990-01-04 | 1991-08-21 | Neste Oy | Methode zur Herstellung von elektronischen und elektrooptischen Bauelementen und von Schaltkreisen, basierend auf leitenden Polymeren |
| WO1999010939A2 (en) * | 1997-08-22 | 1999-03-04 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | A method of manufacturing a field-effect transistor substantially consisting of organic materials |
| DE19851703A1 (de) * | 1998-10-30 | 2000-05-04 | Inst Halbleiterphysik Gmbh | Verfahren zur Herstellung von elektronischen Strukturen |
Family Cites Families (199)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB723598A (en) | 1951-09-07 | 1955-02-09 | Philips Nv | Improvements in or relating to methods of producing electrically conductive mouldings from plastics |
| US3512052A (en) | 1968-01-11 | 1970-05-12 | Gen Motors Corp | Metal-insulator-semiconductor voltage variable capacitor with controlled resistivity dielectric |
| US3769096A (en) * | 1971-03-12 | 1973-10-30 | Bell Telephone Labor Inc | Pyroelectric devices |
| JPS543594B2 (de) | 1973-10-12 | 1979-02-24 | ||
| JPS5638918Y2 (de) | 1977-10-25 | 1981-09-10 | ||
| JPS54101176A (en) | 1978-01-26 | 1979-08-09 | Shinetsu Polymer Co | Contact member for push switch |
| US4442019A (en) | 1978-05-26 | 1984-04-10 | Marks Alvin M | Electroordered dipole suspension |
| JPS5641938U (de) | 1979-09-10 | 1981-04-17 | ||
| US4340657A (en) * | 1980-02-19 | 1982-07-20 | Polychrome Corporation | Novel radiation-sensitive articles |
| JPS59145576A (ja) | 1982-11-09 | 1984-08-21 | ザイトレツクス・コ−ポレ−シヨン | プログラム可能なmosトランジスタ |
| DE3321071A1 (de) | 1983-06-10 | 1984-12-13 | Basf Ag | Druckschalter |
| DE3338597A1 (de) | 1983-10-24 | 1985-05-02 | GAO Gesellschaft für Automation und Organisation mbH, 8000 München | Datentraeger mit integriertem schaltkreis und verfahren zur herstellung desselben |
| JPS60117769A (ja) | 1983-11-30 | 1985-06-25 | Fujitsu Ltd | 半導体メモリ装置 |
| JPS61167854U (de) | 1985-04-10 | 1986-10-17 | ||
| JPS6265477U (de) | 1985-10-11 | 1987-04-23 | ||
| DE3768112D1 (de) * | 1986-03-03 | 1991-04-04 | Toshiba Kawasaki Kk | Strahlungsdetektor. |
| DE3751376T2 (de) | 1986-10-13 | 1995-11-16 | Canon Kk | Schaltungselement. |
| JP2728412B2 (ja) | 1987-12-25 | 1998-03-18 | 株式会社日立製作所 | 半導体装置 |
| GB2215307B (en) | 1988-03-04 | 1991-10-09 | Unisys Corp | Electronic component transportation container |
| ATE100616T1 (de) | 1988-06-21 | 1994-02-15 | Gec Avery Ltd | Herstellung von tragbaren elektronischen karten. |
| US5364735A (en) * | 1988-07-01 | 1994-11-15 | Sony Corporation | Multiple layer optical record medium with protective layers and method for producing same |
| US4937119A (en) * | 1988-12-15 | 1990-06-26 | Hoechst Celanese Corp. | Textured organic optical data storage media and methods of preparation |
| US5892244A (en) * | 1989-01-10 | 1999-04-06 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Field effect transistor including πconjugate polymer and liquid crystal display including the field effect transistor |
| US6331356B1 (en) * | 1989-05-26 | 2001-12-18 | International Business Machines Corporation | Patterns of electrically conducting polymers and their application as electrodes or electrical contacts |
| US5487897A (en) * | 1989-07-24 | 1996-01-30 | Atrix Laboratories, Inc. | Biodegradable implant precursor |
| DE69018348T2 (de) | 1989-07-25 | 1995-08-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Speicherbauelement aus organischem Halbleiter mit einer MISFET-Struktur und sein Kontrollverfahren. |
| US5206525A (en) | 1989-12-27 | 1993-04-27 | Nippon Petrochemicals Co., Ltd. | Electric element capable of controlling the electric conductivity of π-conjugated macromolecular materials |
| FR2664430B1 (fr) * | 1990-07-04 | 1992-09-18 | Centre Nat Rech Scient | Transistor a effet de champ en couche mince de structure mis, dont l'isolant et le semiconducteur sont realises en materiaux organiques. |
| US5376561A (en) | 1990-12-31 | 1994-12-27 | Kopin Corporation | High density electronic circuit modules |
| FR2673041A1 (fr) | 1991-02-19 | 1992-08-21 | Gemplus Card Int | Procede de fabrication de micromodules de circuit integre et micromodule correspondant. |
| EP0501456A3 (de) | 1991-02-26 | 1992-09-09 | Sony Corporation | Mit eine optischen Plattenantrieb ausgerüsteter Videospielcomputer |
| US5408109A (en) * | 1991-02-27 | 1995-04-18 | The Regents Of The University Of California | Visible light emitting diodes fabricated from soluble semiconducting polymers |
| JP3522771B2 (ja) | 1991-03-22 | 2004-04-26 | 三菱電機株式会社 | インバータ |
| US5332315A (en) | 1991-04-27 | 1994-07-26 | Gec Avery Limited | Apparatus and sensor unit for monitoring changes in a physical quantity with time |
| JP3224829B2 (ja) | 1991-08-15 | 2001-11-05 | 株式会社東芝 | 有機電界効果型素子 |
| JPH0580530A (ja) | 1991-09-24 | 1993-04-02 | Hitachi Ltd | 薄膜パターン製造方法 |
| US5173835A (en) | 1991-10-15 | 1992-12-22 | Motorola, Inc. | Voltage variable capacitor |
| DE59105477D1 (de) * | 1991-10-30 | 1995-06-14 | Fraunhofer Ges Forschung | Belichtungsvorrichtung. |
| US5219462A (en) * | 1992-01-13 | 1993-06-15 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Abrasive article having abrasive composite members positioned in recesses |
| JP2709223B2 (ja) * | 1992-01-30 | 1998-02-04 | 三菱電機株式会社 | 非接触形携帯記憶装置 |
| JP3150750B2 (ja) | 1992-03-13 | 2001-03-26 | 日本写真印刷株式会社 | 有機整流素子 |
| JPH05347422A (ja) | 1992-06-16 | 1993-12-27 | Fujitsu Ltd | 二安定ダイオード |
| DE4243832A1 (de) | 1992-12-23 | 1994-06-30 | Daimler Benz Ag | Tastsensoranordnung |
| JP3457348B2 (ja) * | 1993-01-15 | 2003-10-14 | 株式会社東芝 | 半導体装置の製造方法 |
| WO1994017556A1 (en) | 1993-01-26 | 1994-08-04 | Fci-Fiberchem, Inc. | Optical sensor with electroluminescent light source and polymer light detector |
| FR2701117B1 (fr) * | 1993-02-04 | 1995-03-10 | Asulab Sa | Système de mesures électrochimiques à capteur multizones, et son application au dosage du glucose. |
| EP0615256B1 (de) | 1993-03-09 | 1998-09-23 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Herstellungsverfahren eines Musters von einem elektrisch leitfähigen Polymer auf einer Substratoberfläche und Metallisierung eines solchen Musters |
| US5567550A (en) * | 1993-03-25 | 1996-10-22 | Texas Instruments Incorporated | Method of making a mask for making integrated circuits |
| JPH0722669A (ja) * | 1993-07-01 | 1995-01-24 | Mitsubishi Electric Corp | 可塑性機能素子 |
| JP3035352B2 (ja) * | 1993-08-24 | 2000-04-24 | メトリカ・インコーポレーテッド | 新規な使い捨て電子検定ディバイス |
| JP3460863B2 (ja) * | 1993-09-17 | 2003-10-27 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
| FR2710413B1 (fr) * | 1993-09-21 | 1995-11-03 | Asulab Sa | Dispositif de mesure pour capteurs amovibles. |
| US5556706A (en) * | 1993-10-06 | 1996-09-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Conductive layered product and method of manufacturing the same |
| IL111151A (en) | 1994-10-03 | 1998-09-24 | News Datacom Ltd | Secure access systems |
| WO1995031831A1 (en) | 1994-05-18 | 1995-11-23 | Philips Electronics N.V. | Method of providing a film of conjugated, substituted or unsubstituted poly(p-phenylene vinylene) on a substrate by chemical vapour deposition (cvd), as well as a method of manufacturing an electroluminescent (el) device |
| US5684884A (en) | 1994-05-31 | 1997-11-04 | Hitachi Metals, Ltd. | Piezoelectric loudspeaker and a method for manufacturing the same |
| JP3246189B2 (ja) * | 1994-06-28 | 2002-01-15 | 株式会社日立製作所 | 半導体表示装置 |
| ATE227881T1 (de) | 1994-07-14 | 2002-11-15 | Surgx Corp | Verfahren zur herstellung von ein- und mehrschicht-schutzvorrichtungen gegen veränderliche spannung |
| US5574291A (en) | 1994-12-09 | 1996-11-12 | Lucent Technologies Inc. | Article comprising a thin film transistor with low conductivity organic layer |
| US5707745A (en) | 1994-12-13 | 1998-01-13 | The Trustees Of Princeton University | Multicolor organic light emitting devices |
| US5630986A (en) * | 1995-01-13 | 1997-05-20 | Bayer Corporation | Dispensing instrument for fluid monitoring sensors |
| JPH08197788A (ja) | 1995-01-27 | 1996-08-06 | Hitachi Koki Co Ltd | プリンタ制御装置の画像データ読出し回路 |
| JP3068430B2 (ja) | 1995-04-25 | 2000-07-24 | 富山日本電気株式会社 | 固体電解コンデンサ及びその製造方法 |
| US5652645A (en) * | 1995-07-24 | 1997-07-29 | Anvik Corporation | High-throughput, high-resolution, projection patterning system for large, flexible, roll-fed, electronic-module substrates |
| JPH0983040A (ja) | 1995-09-12 | 1997-03-28 | Sharp Corp | 薄膜トランジスタ及びその製造方法 |
| GB9519698D0 (en) | 1995-09-27 | 1995-11-29 | Rivaz Antony C De | Educational toys and games |
| WO1997018944A1 (en) | 1995-11-22 | 1997-05-29 | The Government Of The United States Of America, Represented By The Secretary Of The Navy | Patterned conducting polymer surfaces and process for preparing the same and devices containing the same |
| US5625199A (en) | 1996-01-16 | 1997-04-29 | Lucent Technologies Inc. | Article comprising complementary circuit with inorganic n-channel and organic p-channel thin film transistors |
| US6326640B1 (en) | 1996-01-29 | 2001-12-04 | Motorola, Inc. | Organic thin film transistor with enhanced carrier mobility |
| GB2310493B (en) | 1996-02-26 | 2000-08-02 | Unilever Plc | Determination of the characteristics of fluid |
| JP3080579B2 (ja) | 1996-03-06 | 2000-08-28 | 富士機工電子株式会社 | エアリア・グリッド・アレイ・パッケージの製造方法 |
| JPH09320760A (ja) | 1996-05-24 | 1997-12-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 有機薄膜エレクトロルミネッセンス素子のパターニング方法 |
| JPH1026934A (ja) | 1996-07-12 | 1998-01-27 | Toshiba Chem Corp | 電子タグ及びその製造方法 |
| DE19629656A1 (de) * | 1996-07-23 | 1998-01-29 | Boehringer Mannheim Gmbh | Diagnostischer Testträger mit mehrschichtigem Testfeld und Verfahren zur Bestimmung von Analyt mit dessen Hilfe |
| AUPO307296A0 (en) | 1996-10-18 | 1996-11-14 | Erico Lightning Technologies Pty Ltd | An improved lightning conductor |
| US5804470A (en) | 1996-10-23 | 1998-09-08 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method of making a selective epitaxial growth circuit load element |
| DE19644254A1 (de) | 1996-10-24 | 1998-05-07 | Steag Micro Tech Gmbh | Vorrichtung zum Behandeln von Substraten |
| WO1998040930A1 (en) | 1997-03-10 | 1998-09-17 | Precision Dynamics Corporation | Reactively coupled elements in circuits on flexible substrates |
| US6344662B1 (en) * | 1997-03-25 | 2002-02-05 | International Business Machines Corporation | Thin-film field-effect transistor with organic-inorganic hybrid semiconductor requiring low operating voltages |
| KR100248392B1 (ko) * | 1997-05-15 | 2000-09-01 | 정선종 | 유기물전계효과트랜지스터와결합된유기물능동구동전기발광소자및그소자의제작방법 |
| GB9715907D0 (en) | 1997-07-29 | 1997-10-01 | Cambridge Consultants | Electroluminescent device production process |
| WO1999010929A2 (en) | 1997-08-22 | 1999-03-04 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | A method of providing a vertical interconnect between thin film microelectronic devices |
| AU764920B2 (en) * | 1997-09-11 | 2003-09-04 | Precision Dynamics Corporation | Radio frequency identification tag on flexible substrate |
| WO1999021233A1 (en) | 1997-10-17 | 1999-04-29 | The Regents Of The University Of California | Process for fabricating organic semiconductor devices using ink-jet printing technology and device and system employing same |
| US6251513B1 (en) * | 1997-11-08 | 2001-06-26 | Littlefuse, Inc. | Polymer composites for overvoltage protection |
| JPH11142810A (ja) | 1997-11-12 | 1999-05-28 | Nintendo Co Ltd | 携帯型情報処理装置 |
| US5997817A (en) * | 1997-12-05 | 1999-12-07 | Roche Diagnostics Corporation | Electrochemical biosensor test strip |
| JP2001510670A (ja) * | 1997-12-05 | 2001-07-31 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 識別トランスポンダ |
| US5998805A (en) * | 1997-12-11 | 1999-12-07 | Motorola, Inc. | Active matrix OED array with improved OED cathode |
| US6083104A (en) * | 1998-01-16 | 2000-07-04 | Silverlit Toys (U.S.A.), Inc. | Programmable toy with an independent game cartridge |
| NO306529B1 (no) | 1998-01-16 | 1999-11-15 | Opticom As | Transistor |
| AU739848B2 (en) * | 1998-01-28 | 2001-10-18 | Thin Film Electronics Asa | A method for generation of electrical conducting or semiconducting structures in three dimensions and methods for erasure of the same structures |
| US6087196A (en) | 1998-01-30 | 2000-07-11 | The Trustees Of Princeton University | Fabrication of organic semiconductor devices using ink jet printing |
| US6045977A (en) * | 1998-02-19 | 2000-04-04 | Lucent Technologies Inc. | Process for patterning conductive polyaniline films |
| DE19816860A1 (de) | 1998-03-06 | 1999-11-18 | Deutsche Telekom Ag | Chipkarte, insbesondere Guthabenkarte |
| US6033202A (en) * | 1998-03-27 | 2000-03-07 | Lucent Technologies Inc. | Mold for non - photolithographic fabrication of microstructures |
| EP1105772B1 (de) | 1998-04-10 | 2004-06-23 | E-Ink Corporation | Elektronische anzeige basierend auf organischen feldeffekt-transistoren |
| GB9808061D0 (en) * | 1998-04-16 | 1998-06-17 | Cambridge Display Tech Ltd | Polymer devices |
| GB9808806D0 (en) | 1998-04-24 | 1998-06-24 | Cambridge Display Tech Ltd | Selective deposition of polymer films |
| JP3780700B2 (ja) * | 1998-05-26 | 2006-05-31 | セイコーエプソン株式会社 | パターン形成方法、パターン形成装置、パターン形成用版、パターン形成用版の製造方法、カラーフィルタの製造方法、導電膜の製造方法及び液晶パネルの製造方法 |
| TW410478B (en) | 1998-05-29 | 2000-11-01 | Lucent Technologies Inc | Thin-film transistor monolithically integrated with an organic light-emitting diode |
| US5967048A (en) * | 1998-06-12 | 1999-10-19 | Howard A. Fromson | Method and apparatus for the multiple imaging of a continuous web |
| KR100282393B1 (ko) | 1998-06-17 | 2001-02-15 | 구자홍 | 유기이엘(el)디스플레이소자제조방법 |
| US6528816B1 (en) | 1998-06-19 | 2003-03-04 | Thomas Jackson | Integrated inorganic/organic complementary thin-film transistor circuit and a method for its production |
| DE19836174C2 (de) | 1998-08-10 | 2000-10-12 | Illig Maschinenbau Adolf | Heizung zum Erwärmen von thermoplastischen Kunststoffplatten und Verfahren zum Einstellen der Temperatur dieser Heizung |
| US6215130B1 (en) | 1998-08-20 | 2001-04-10 | Lucent Technologies Inc. | Thin film transistors |
| JP4689825B2 (ja) * | 1998-08-26 | 2011-05-25 | センサーズ・フォー・メデセン・アンド・サイエンス・インコーポレーテッド | 光学式検知装置 |
| JP4493741B2 (ja) | 1998-09-04 | 2010-06-30 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
| US6384804B1 (en) * | 1998-11-25 | 2002-05-07 | Lucent Techonologies Inc. | Display comprising organic smart pixels |
| GB9825992D0 (en) | 1998-11-28 | 1999-01-20 | Moorlodge Biotech Ventures Lim | Electrochemical sensor |
| US6506438B2 (en) | 1998-12-15 | 2003-01-14 | E Ink Corporation | Method for printing of transistor arrays on plastic substrates |
| US6321571B1 (en) * | 1998-12-21 | 2001-11-27 | Corning Incorporated | Method of making glass structures for flat panel displays |
| US6114088A (en) * | 1999-01-15 | 2000-09-05 | 3M Innovative Properties Company | Thermal transfer element for forming multilayer devices |
| GB2347013A (en) * | 1999-02-16 | 2000-08-23 | Sharp Kk | Charge-transport structures |
| US6300141B1 (en) * | 1999-03-02 | 2001-10-09 | Helix Biopharma Corporation | Card-based biosensor device |
| US6180956B1 (en) | 1999-03-03 | 2001-01-30 | International Business Machine Corp. | Thin film transistors with organic-inorganic hybrid materials as semiconducting channels |
| US6207472B1 (en) * | 1999-03-09 | 2001-03-27 | International Business Machines Corporation | Low temperature thin film transistor fabrication |
| CN1310930A (zh) | 1999-03-29 | 2001-08-29 | 精工爱普生株式会社 | 组合物及膜的制造方法以及功能元件及其制造方法 |
| US6498114B1 (en) * | 1999-04-09 | 2002-12-24 | E Ink Corporation | Method for forming a patterned semiconductor film |
| US6072716A (en) * | 1999-04-14 | 2000-06-06 | Massachusetts Institute Of Technology | Memory structures and methods of making same |
| FR2793089B3 (fr) | 1999-04-28 | 2001-06-08 | Rene Liger | Transpondeur a antenne integree |
| DE19919448A1 (de) | 1999-04-29 | 2000-11-02 | Miele & Cie | Kühlgerät und Verfahren zur Verkeimungsindikation |
| DE19921024C2 (de) | 1999-05-06 | 2001-03-08 | Wolfgang Eichelmann | Videospielanlage |
| US6383664B2 (en) * | 1999-05-11 | 2002-05-07 | The Dow Chemical Company | Electroluminescent or photocell device having protective packaging |
| EP1052594A1 (de) | 1999-05-14 | 2000-11-15 | Sokymat S.A. | Transponder und Spritzgussteil sowie Verfahren zu ihrer Herstellung |
| CA2374236C (en) | 1999-06-21 | 2014-12-23 | Cambridge University Technical Services Limited | Aligned polymers for an organic tft |
| US6272275B1 (en) * | 1999-06-25 | 2001-08-07 | Corning Incorporated | Print-molding for process for planar waveguides |
| TW556357B (en) | 1999-06-28 | 2003-10-01 | Semiconductor Energy Lab | Method of manufacturing an electro-optical device |
| CA2377671C (en) | 1999-07-01 | 2011-01-04 | David F. Bocian | High density non-volatile memory device |
| JP2001085272A (ja) | 1999-07-14 | 2001-03-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 可変容量コンデンサ |
| DE19933757A1 (de) | 1999-07-19 | 2001-01-25 | Giesecke & Devrient Gmbh | Chipkarte mit integrierter Batterie |
| AU6174700A (en) | 1999-07-20 | 2001-02-05 | Alvin Wai Lun Yip | Carrier tray for integrated circuits such as microprocessors |
| ATE549753T1 (de) | 1999-07-21 | 2012-03-15 | E Ink Corp | Reaktive herstellung von dielektrischen schichten und schutz von organischen schichten in organischen halbleiteranordnungen |
| DE19935527A1 (de) | 1999-07-28 | 2001-02-08 | Giesecke & Devrient Gmbh | Aktive Folie für Chipkarten mit Display |
| DE19937262A1 (de) | 1999-08-06 | 2001-03-01 | Siemens Ag | Anordnung mit Transistor-Funktion |
| CN1183595C (zh) | 1999-08-24 | 2005-01-05 | 皇家菲利浦电子有限公司 | 显示装置 |
| JP4972260B2 (ja) | 1999-08-31 | 2012-07-11 | イー インク コーポレイション | パターニングされた半導体膜を形成する方法 |
| US6545291B1 (en) | 1999-08-31 | 2003-04-08 | E Ink Corporation | Transistor design for use in the construction of an electronically driven display |
| US6593690B1 (en) * | 1999-09-03 | 2003-07-15 | 3M Innovative Properties Company | Large area organic electronic devices having conducting polymer buffer layers and methods of making same |
| US6517995B1 (en) * | 1999-09-14 | 2003-02-11 | Massachusetts Institute Of Technology | Fabrication of finely featured devices by liquid embossing |
| EP1224999A4 (de) | 1999-09-28 | 2007-05-02 | Sumitomo Heavy Industries | Laserbohrverfahren und laserbohrvorrichtung |
| US6340822B1 (en) * | 1999-10-05 | 2002-01-22 | Agere Systems Guardian Corp. | Article comprising vertically nano-interconnected circuit devices and method for making the same |
| DE19948017A1 (de) | 1999-10-06 | 2001-04-12 | Jagenberg Diana Gmbh | Faltschachtelklebemaschine zur Herstellung von Faltschachtel aus Zuschnitten |
| JP2004538618A (ja) * | 1999-10-11 | 2004-12-24 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 集積回路 |
| US6335539B1 (en) * | 1999-11-05 | 2002-01-01 | International Business Machines Corporation | Method for improving performance of organic semiconductors in bottom electrode structure |
| US6284562B1 (en) | 1999-11-17 | 2001-09-04 | Agere Systems Guardian Corp. | Thin film transistors |
| EP1103916A1 (de) | 1999-11-24 | 2001-05-30 | Infineon Technologies AG | Chipkarte |
| US6136702A (en) | 1999-11-29 | 2000-10-24 | Lucent Technologies Inc. | Thin film transistors |
| US6621098B1 (en) * | 1999-11-29 | 2003-09-16 | The Penn State Research Foundation | Thin-film transistor and methods of manufacturing and incorporating a semiconducting organic material |
| US6197663B1 (en) * | 1999-12-07 | 2001-03-06 | Lucent Technologies Inc. | Process for fabricating integrated circuit devices having thin film transistors |
| AU779878B2 (en) | 1999-12-21 | 2005-02-17 | Flexenable Limited | Forming interconnects |
| AU2015901A (en) | 1999-12-21 | 2001-07-03 | Plastic Logic Limited | Inkjet-fabricated integrated circuits |
| CN1245769C (zh) | 1999-12-21 | 2006-03-15 | 造型逻辑有限公司 | 溶液加工 |
| US6706159B2 (en) * | 2000-03-02 | 2004-03-16 | Diabetes Diagnostics | Combined lancet and electrochemical analyte-testing apparatus |
| DE10012204A1 (de) | 2000-03-13 | 2001-09-20 | Siemens Ag | Einrichtung zum Kennzeichnen von Stückgut |
| EP1134694A1 (de) | 2000-03-16 | 2001-09-19 | Infineon Technologies AG | Dokument mit integrierter elektronischer Schaltung |
| HK1053151B (en) | 2000-03-28 | 2006-05-26 | Diabetes Diagnostics, Inc. | Continuous process for manufacture of disposable electro-chemical sensor |
| US6329226B1 (en) * | 2000-06-01 | 2001-12-11 | Agere Systems Guardian Corp. | Method for fabricating a thin-film transistor |
| DE10033112C2 (de) | 2000-07-07 | 2002-11-14 | Siemens Ag | Verfahren zur Herstellung und Strukturierung organischer Feldeffekt-Transistoren (OFET), hiernach gefertigter OFET und seine Verwendung |
| US6867539B1 (en) | 2000-07-12 | 2005-03-15 | 3M Innovative Properties Company | Encapsulated organic electronic devices and method for making same |
| DE10120687A1 (de) | 2001-04-27 | 2002-10-31 | Siemens Ag | Verkapseltes organisch-elektronisches Bauteil, Verfahren zu seiner Herstellung und seine Verwendung |
| WO2002015264A2 (de) | 2000-08-18 | 2002-02-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Verkapseltes organisch-elektronisches bauteil, verfahren zu seiner herstellung und seine verwendung |
| JP2002068324A (ja) | 2000-08-30 | 2002-03-08 | Nippon Sanso Corp | 断熱容器 |
| DE10043204A1 (de) * | 2000-09-01 | 2002-04-04 | Siemens Ag | Organischer Feld-Effekt-Transistor, Verfahren zur Strukturierung eines OFETs und integrierte Schaltung |
| DE10045192A1 (de) | 2000-09-13 | 2002-04-04 | Siemens Ag | Organischer Datenspeicher, RFID-Tag mit organischem Datenspeicher, Verwendung eines organischen Datenspeichers |
| DE10047171A1 (de) | 2000-09-22 | 2002-04-18 | Siemens Ag | Elektrode und/oder Leiterbahn für organische Bauelemente und Herstellungverfahren dazu |
| GB0024294D0 (en) | 2000-10-04 | 2000-11-15 | Univ Cambridge Tech | Solid state embossing of polymer devices |
| KR20020036916A (ko) | 2000-11-11 | 2002-05-17 | 주승기 | 실리콘 박막의 결정화 방법 및 이에 의해 제조된 반도체소자 |
| DE10058559A1 (de) | 2000-11-24 | 2002-05-29 | Interactiva Biotechnologie Gmb | System zur Abwicklung eines Warentransfers und Warenvorrats-Behälter |
| NO20005980L (no) | 2000-11-27 | 2002-05-28 | Thin Film Electronics Ab | Ferroelektrisk minnekrets og fremgangsmåte ved dens fremstilling |
| KR100390522B1 (ko) | 2000-12-01 | 2003-07-07 | 피티플러스(주) | 결정질 실리콘 활성층을 포함하는 박막트랜지스터 제조 방법 |
| DE10061297C2 (de) | 2000-12-08 | 2003-05-28 | Siemens Ag | Verfahren zur Sturkturierung eines OFETs |
| DE10105914C1 (de) | 2001-02-09 | 2002-10-10 | Siemens Ag | Organischer Feldeffekt-Transistor mit fotostrukturiertem Gate-Dielektrikum und ein Verfahren zu dessen Erzeugung |
| EP1237207B1 (de) | 2001-03-02 | 2012-01-04 | FUJIFILM Corporation | Herstellungsverfahren einer organischen Dünnschicht-Vorrichtung |
| SE520339C2 (sv) | 2001-03-07 | 2003-06-24 | Acreo Ab | Elektrokemisk transistoranordning och dess tillverkningsförfarande |
| WO2002071139A1 (en) | 2001-03-07 | 2002-09-12 | Acreo Ab | Electrochemical pixel device |
| KR100861916B1 (ko) | 2001-03-26 | 2008-10-09 | 닛신보세키 가부시키 가이샤 | 이온성 액체, 축전 디바이스용 전해질염, 축전 디바이스용전해액, 전기 2중층 캐패시터, 및 2차전지 |
| DE10117663B4 (de) | 2001-04-09 | 2004-09-02 | Samsung SDI Co., Ltd., Suwon | Verfahren zur Herstellung von Matrixanordnungen auf Basis verschiedenartiger organischer leitfähiger Materialien |
| AU2002340793A1 (en) | 2001-05-07 | 2002-11-18 | Coatue Corporation | Molecular memory device |
| US20020170897A1 (en) | 2001-05-21 | 2002-11-21 | Hall Frank L. | Methods for preparing ball grid array substrates via use of a laser |
| EP1393389B1 (de) | 2001-05-23 | 2018-12-05 | Flexenable Limited | Musterung von anordnungen mittels laser |
| DE10126860C2 (de) | 2001-06-01 | 2003-05-28 | Siemens Ag | Organischer Feldeffekt-Transistor, Verfahren zu seiner Herstellung und Verwendung zum Aufbau integrierter Schaltungen |
| DE10126859A1 (de) | 2001-06-01 | 2002-12-12 | Siemens Ag | Verfahren zur Erzeugung von leitfähigen Strukturen mittels Drucktechnik sowie daraus hergestellte aktive Bauelemente für integrierte Schaltungen |
| US6870180B2 (en) | 2001-06-08 | 2005-03-22 | Lucent Technologies Inc. | Organic polarizable gate transistor apparatus and method |
| JP2003089259A (ja) * | 2001-09-18 | 2003-03-25 | Hitachi Ltd | パターン形成方法およびパターン形成装置 |
| US7351660B2 (en) | 2001-09-28 | 2008-04-01 | Hrl Laboratories, Llc | Process for producing high performance interconnects |
| DE10156470B4 (de) | 2001-11-16 | 2006-06-08 | Infineon Technologies Ag | RF-ID-Etikett mit einer Halbleiteranordnung mit Transistoren auf Basis organischer Halbleiter und nichtflüchtiger Schreib-Lese-Speicherzellen |
| JP2003234473A (ja) | 2002-02-06 | 2003-08-22 | Canon Inc | 有機半導体素子の製造方法 |
| FI20020296A7 (fi) | 2002-02-14 | 2003-08-15 | Rafsec Oy | Älytarra |
| US6946332B2 (en) * | 2002-03-15 | 2005-09-20 | Lucent Technologies Inc. | Forming nanoscale patterned thin film metal layers |
| DE10212640B4 (de) | 2002-03-21 | 2004-02-05 | Siemens Ag | Logische Bauteile aus organischen Feldeffekttransistoren |
| DE10219905B4 (de) | 2002-05-03 | 2011-06-22 | OSRAM Opto Semiconductors GmbH, 93055 | Optoelektronisches Bauelement mit organischen funktionellen Schichten und zwei Trägern sowie Verfahren zur Herstellung eines solchen optoelektronischen Bauelements |
| EP1362682A1 (de) | 2002-05-13 | 2003-11-19 | ZBD Displays Ltd, | Verfahren und Vorrichtung zum Ausrichten von Flüssigkristallen |
| US6812509B2 (en) | 2002-06-28 | 2004-11-02 | Palo Alto Research Center Inc. | Organic ferroelectric memory cells |
| EP1559147B1 (de) | 2002-10-02 | 2014-11-12 | Leonhard Kurz Stiftung & Co. KG | Folie mit organischen halbleitern |
| US6870183B2 (en) * | 2002-11-04 | 2005-03-22 | Advanced Micro Devices, Inc. | Stacked organic memory devices and methods of operating and fabricating |
| EP1559148A2 (de) | 2002-11-05 | 2005-08-03 | Siemens Aktiengesellschaft | ORGANISCHES ELEKTRONISCHES BAUTEIL MIT HOCHAUFGELöSTER STRUKTURIERUNG UND HERSTELLUNGSVERFAHREN DAZU |
| DE50306538D1 (de) | 2002-11-19 | 2007-03-29 | Polyic Gmbh & Co Kg | Organische elektronische schaltung mit stukturierter halbleitender funktionsschicht und herstellungsverfahren dazu |
| GB0306098D0 (en) | 2003-03-18 | 2003-04-23 | Platform Diagnostics Group Ltd | Sample testing device |
-
2000
- 2000-12-08 DE DE10061297A patent/DE10061297C2/de not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-12-07 WO PCT/DE2001/004611 patent/WO2002047183A1/de not_active Ceased
- 2001-12-07 EP EP01999978A patent/EP1346422A1/de not_active Withdrawn
- 2001-12-07 US US10/433,959 patent/US7229868B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-12-07 JP JP2002548799A patent/JP2004515928A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0442123A1 (de) * | 1990-01-04 | 1991-08-21 | Neste Oy | Methode zur Herstellung von elektronischen und elektrooptischen Bauelementen und von Schaltkreisen, basierend auf leitenden Polymeren |
| WO1999010939A2 (en) * | 1997-08-22 | 1999-03-04 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | A method of manufacturing a field-effect transistor substantially consisting of organic materials |
| DE19851703A1 (de) * | 1998-10-30 | 2000-05-04 | Inst Halbleiterphysik Gmbh | Verfahren zur Herstellung von elektronischen Strukturen |
Non-Patent Citations (4)
| Title |
|---|
| C.J. Drury et al.: "Low-cost all polymer inte- grated cicuits" in "Applied Physics Letters", 73(1998)1, pp. 108-110 (von ANR bereits genannt) * |
| DE 100 43 204 (nicht veröffentlichte, prioritäts- ältere Anmeldung der Anmelderin// von einer Zustellung der Ablichten wird hier Abgesehen) * |
| G.H. Gelinck et al.: "High-performance all-polymerintegrated cicuits" in "Applied Physics Letters", 77(2000=10), pp. 1487-1489 * |
| Xiang-Yang Zheng et al.: "Electrochemical Patter- ning of the Surface of Insulators with Electri- cally Conductive Polymers" in "J. Electrochem. Soc.", 142(1995)12, pp. L226f. * |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6960489B2 (en) | 2000-09-01 | 2005-11-01 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for structuring an OFET |
| DE10126860C2 (de) * | 2001-06-01 | 2003-05-28 | Siemens Ag | Organischer Feldeffekt-Transistor, Verfahren zu seiner Herstellung und Verwendung zum Aufbau integrierter Schaltungen |
| WO2004042837A3 (de) * | 2002-11-05 | 2004-10-07 | Siemens Ag | Organisches elektronisches bauteil mit hochaufgelöster strukturierung und herstellungsverfahren dazu |
| US7442954B2 (en) | 2002-11-19 | 2008-10-28 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Organic electronic component comprising a patterned, semi-conducting functional layer and a method for producing said component |
| US7329559B2 (en) | 2003-01-21 | 2008-02-12 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Use of conductive carbon black/graphite mixtures for the production of low-cost electronics |
| US7708958B2 (en) | 2003-06-26 | 2010-05-04 | Tersano Inc. | System and containers for water filtration and item sanitization |
| US7959872B2 (en) | 2003-06-26 | 2011-06-14 | Tersano Inc. | System and device for water filtration and purification |
| DE10340609A1 (de) * | 2003-08-29 | 2005-04-07 | Infineon Technologies Ag | Polymerformulierung und Verfahren zur Herstellung einer Dielektrikumsschicht |
| US7582896B2 (en) | 2003-08-29 | 2009-09-01 | Infineon Technologies Ag | Integrated circuit comprising an organic semiconductor, and method for the production of an integrated circuit |
| US7825404B2 (en) | 2003-08-29 | 2010-11-02 | Qimonda Ag | Integrated circuit comprising an organic semiconductor, and method for the production of an integrated circuit |
| US7786818B2 (en) | 2004-12-10 | 2010-08-31 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Electronic component comprising a modulator |
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