JPH0983040A - 薄膜トランジスタ及びその製造方法 - Google Patents
薄膜トランジスタ及びその製造方法Info
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- JPH0983040A JPH0983040A JP7234113A JP23411395A JPH0983040A JP H0983040 A JPH0983040 A JP H0983040A JP 7234113 A JP7234113 A JP 7234113A JP 23411395 A JP23411395 A JP 23411395A JP H0983040 A JPH0983040 A JP H0983040A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/10—Organic polymers or oligomers
- H10K85/111—Organic polymers or oligomers comprising aromatic, heteroaromatic, or aryl chains, e.g. polyaniline, polyphenylene or polyphenylene vinylene
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K10/00—Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
- H10K10/40—Organic transistors
- H10K10/46—Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
- H10K10/462—Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
- H10K10/464—Lateral top-gate IGFETs comprising only a single gate
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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-
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- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
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- H10K85/10—Organic polymers or oligomers
- H10K85/141—Organic polymers or oligomers comprising aliphatic or olefinic chains, e.g. poly N-vinylcarbazol, PVC or PTFE
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 側鎖に液晶性置換基が導入されたポリマーに
より構成され、かつ該ポリマーの骨格鎖が任意の方向へ
配向している有機半導体薄膜を、電気光学素子に用いら
れる薄膜トランジスタの能動層に用いることにより、有
機半導体膜の特性を高次構造的に改善し、十分に引き出
すことが可能な高性能薄膜トランジスタを得ることがで
きる。 【解決手段】 絶縁性基板上に、ゲート電極、ソース/
ドレイン電極、チャネル層を構成する有機半導体膜及び
前記ゲート電極とチャネル層とに挟まれたゲート絶縁膜
が形成されてなり、前記有機半導体膜が、側鎖に液晶性
置換基が導入されたポリマーにより構成され、かつ該ポ
リマーの骨格鎖が任意の方向へ配向している薄膜トラン
ジスタ。
より構成され、かつ該ポリマーの骨格鎖が任意の方向へ
配向している有機半導体薄膜を、電気光学素子に用いら
れる薄膜トランジスタの能動層に用いることにより、有
機半導体膜の特性を高次構造的に改善し、十分に引き出
すことが可能な高性能薄膜トランジスタを得ることがで
きる。 【解決手段】 絶縁性基板上に、ゲート電極、ソース/
ドレイン電極、チャネル層を構成する有機半導体膜及び
前記ゲート電極とチャネル層とに挟まれたゲート絶縁膜
が形成されてなり、前記有機半導体膜が、側鎖に液晶性
置換基が導入されたポリマーにより構成され、かつ該ポ
リマーの骨格鎖が任意の方向へ配向している薄膜トラン
ジスタ。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はアクティブ素子及び
その製造方法に関し、より詳細には、液晶表示素子等の
電気光学素子に好適に用いられる薄膜トランジスタ及び
その製造方法に関する。
その製造方法に関し、より詳細には、液晶表示素子等の
電気光学素子に好適に用いられる薄膜トランジスタ及び
その製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来、
液晶表示素子等の電気光学素子に用いられる能動素子と
しては、その能動層に、非晶質、多結晶又は単結晶のシ
リコンを用いた薄膜トランジスタが多く用いられてい
る。また、これら電気光学素子を、より安価で、軽量
性、耐衝撃性に優れ、かつ耐熱温度の低い樹脂基板上に
形成するために、より低いプロセス温度により薄膜トラ
ンジスタの能動層を有機材料で作製する方法が特開平1
−259563号公報及び特開平4−69971号公報
に開示されている。
液晶表示素子等の電気光学素子に用いられる能動素子と
しては、その能動層に、非晶質、多結晶又は単結晶のシ
リコンを用いた薄膜トランジスタが多く用いられてい
る。また、これら電気光学素子を、より安価で、軽量
性、耐衝撃性に優れ、かつ耐熱温度の低い樹脂基板上に
形成するために、より低いプロセス温度により薄膜トラ
ンジスタの能動層を有機材料で作製する方法が特開平1
−259563号公報及び特開平4−69971号公報
に開示されている。
【0003】一般に、薄膜トランジスタの能動層を形成
する有機半導体膜は、プラズマ重合法、電解重合法、キ
ャスティング法等により作製されるが、これら作製され
た有機半導体を構成する分子は、有機半導体膜中におい
てフィブリルと呼ばれる繊維状の分子の集合体を形成
し、膜中を流れるキャリアはこのフィブリル内及びフィ
ブリル間を伝導して行くことが知られている。
する有機半導体膜は、プラズマ重合法、電解重合法、キ
ャスティング法等により作製されるが、これら作製され
た有機半導体を構成する分子は、有機半導体膜中におい
てフィブリルと呼ばれる繊維状の分子の集合体を形成
し、膜中を流れるキャリアはこのフィブリル内及びフィ
ブリル間を伝導して行くことが知られている。
【0004】しかしながら、上述の公報の薄膜トランジ
スタの能動層における有機半導体には、以下に述べるよ
うな問題点がある。つまり、かかる有機半導体膜には、
ランダムな方向にフィブリルが形成されるため、ソース
・ドレイン間を流れるキャリアの方向に対して、これを
妨げる方向にフィブリルが形成される可能性がある。従
って、結果的にこれが膜中の欠陥となって能動層として
の有機半導体膜の特性を十分に発揮することができな
い。
スタの能動層における有機半導体には、以下に述べるよ
うな問題点がある。つまり、かかる有機半導体膜には、
ランダムな方向にフィブリルが形成されるため、ソース
・ドレイン間を流れるキャリアの方向に対して、これを
妨げる方向にフィブリルが形成される可能性がある。従
って、結果的にこれが膜中の欠陥となって能動層として
の有機半導体膜の特性を十分に発揮することができな
い。
【0005】これに対し、特開平5−275695号公
報には、能動層となるポリシラン薄膜をラングミュア・
ブロジェット法(LB法)や、延伸法を用いて、ソース
・ドレイン電極間に平行方向に配向させることにより素
子特性を向上させる試みがなされている。しかし、有機
半導体分子をソース・ドレイン間に平行方向に配向させ
る場合、ソース・ドレイン電流が流れやすくなる反面、
リーク電流が増大するという問題点があった。また、有
機分子を配向させ、薄膜化する手法として用いられてい
るLB法や延伸法は、配向膜を基板上に転写する等の処
理が必要となり、これらの方法は素子作成に応用するこ
とが困難であった。
報には、能動層となるポリシラン薄膜をラングミュア・
ブロジェット法(LB法)や、延伸法を用いて、ソース
・ドレイン電極間に平行方向に配向させることにより素
子特性を向上させる試みがなされている。しかし、有機
半導体分子をソース・ドレイン間に平行方向に配向させ
る場合、ソース・ドレイン電流が流れやすくなる反面、
リーク電流が増大するという問題点があった。また、有
機分子を配向させ、薄膜化する手法として用いられてい
るLB法や延伸法は、配向膜を基板上に転写する等の処
理が必要となり、これらの方法は素子作成に応用するこ
とが困難であった。
【0006】また近年、有機半導体を構成するポリマー
の側鎖に液晶性置換基を導入し、ポリマーの骨格鎖を任
意の方向に配向させる試みが、K.Akagi,et.al(Advanced
Materials '93:Trans.Mat.Res.Soc.Jpn.,Vol 15A pp51
3-516)によって行われている。この方法は、側鎖に液晶
性置換基が導入された有機半導体ポリマーを、配向処理
した膜表面上に成膜、もしくは液晶層を示している状態
で電界もしくは磁界を印加し成膜することにより、ポリ
マーの骨格鎖を任意の方向に配列させた有機半導体膜を
得ることができるというものであり、かかる有機半導体
膜を種々の技術分野に応用するために研究が進められて
いる。
の側鎖に液晶性置換基を導入し、ポリマーの骨格鎖を任
意の方向に配向させる試みが、K.Akagi,et.al(Advanced
Materials '93:Trans.Mat.Res.Soc.Jpn.,Vol 15A pp51
3-516)によって行われている。この方法は、側鎖に液晶
性置換基が導入された有機半導体ポリマーを、配向処理
した膜表面上に成膜、もしくは液晶層を示している状態
で電界もしくは磁界を印加し成膜することにより、ポリ
マーの骨格鎖を任意の方向に配列させた有機半導体膜を
得ることができるというものであり、かかる有機半導体
膜を種々の技術分野に応用するために研究が進められて
いる。
【0007】本発明は、このような課題を解決するため
になされたものであり、能動層として用いる有機半導体
膜中のポリマーの骨格鎖の方向を、簡便な方法により任
意の方向に配列させることにより、キャリアの導電方向
に対する有機半導体膜の状態を制御することができる高
性能な薄膜トランジスタ及びその製造方法を提供するこ
とを目的とする。
になされたものであり、能動層として用いる有機半導体
膜中のポリマーの骨格鎖の方向を、簡便な方法により任
意の方向に配列させることにより、キャリアの導電方向
に対する有機半導体膜の状態を制御することができる高
性能な薄膜トランジスタ及びその製造方法を提供するこ
とを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、絶縁性
基板上に、ゲート電極、ソース/ドレイン電極、チャネ
ル層を構成する有機半導体膜及び前記ゲート電極とチャ
ネル層とに挟まれたゲート絶縁膜が形成されてなり、前
記有機半導体膜が、側鎖に液晶性置換基が導入されたポ
リマーにより構成され、かつ該ポリマーの骨格鎖が任意
の方向へ配向している薄膜トランジスタが提供される。
基板上に、ゲート電極、ソース/ドレイン電極、チャネ
ル層を構成する有機半導体膜及び前記ゲート電極とチャ
ネル層とに挟まれたゲート絶縁膜が形成されてなり、前
記有機半導体膜が、側鎖に液晶性置換基が導入されたポ
リマーにより構成され、かつ該ポリマーの骨格鎖が任意
の方向へ配向している薄膜トランジスタが提供される。
【0009】また、本発明の別の観点によれば、(i) 絶
縁性基板表面上にゲート電極を形成し、少なくとも該ゲ
ート電極上にゲート絶縁膜を形成し、(ii)該ゲート絶縁
膜上に、前記ゲート電極を挟むようにソース/ドレイン
電極を形成し、(iii) 前記ゲート絶縁膜上であって前記
ソース/ドレイン電極間に、側鎖に液晶性置換基が導入
されたポリマーからなり、該ポリマーの骨格鎖が任意の
方向へ配向した有機半導体膜を形成する薄膜トランジス
タの製造方法が提供される。
縁性基板表面上にゲート電極を形成し、少なくとも該ゲ
ート電極上にゲート絶縁膜を形成し、(ii)該ゲート絶縁
膜上に、前記ゲート電極を挟むようにソース/ドレイン
電極を形成し、(iii) 前記ゲート絶縁膜上であって前記
ソース/ドレイン電極間に、側鎖に液晶性置換基が導入
されたポリマーからなり、該ポリマーの骨格鎖が任意の
方向へ配向した有機半導体膜を形成する薄膜トランジス
タの製造方法が提供される。
【0010】さらに、(I) 絶縁性基板表面上に、側鎖に
液晶性置換基が導入されたポリマーからなり、該ポリマ
ーの骨格鎖が任意の方向へ配向した有機半導体膜を形成
し、(II)該有機半導体膜の両端に、該有機半導体膜に接
続するソース/ドレイン電極を形成し、(III) 少なくと
も前記半導体膜上にゲート絶縁膜を形成し、該ゲート絶
縁膜上にゲート電極を形成する薄膜トランジスタの製造
方法の製造方法が提供される。
液晶性置換基が導入されたポリマーからなり、該ポリマ
ーの骨格鎖が任意の方向へ配向した有機半導体膜を形成
し、(II)該有機半導体膜の両端に、該有機半導体膜に接
続するソース/ドレイン電極を形成し、(III) 少なくと
も前記半導体膜上にゲート絶縁膜を形成し、該ゲート絶
縁膜上にゲート電極を形成する薄膜トランジスタの製造
方法の製造方法が提供される。
【0011】
【発明の実施の形態】本発明は、側鎖に液晶性置換基が
導入されたポリマーにより構成され、かつ該ポリマーの
骨格鎖が任意の方向へ配向している有機半導体薄膜を電
気光学素子に用いられる薄膜トランジスタの能動層に用
いることにより、有機半導体膜の特性を高次構造的に改
善し、十分に引き出すことが可能な高性能薄膜トランジ
スタを提供するものである。
導入されたポリマーにより構成され、かつ該ポリマーの
骨格鎖が任意の方向へ配向している有機半導体薄膜を電
気光学素子に用いられる薄膜トランジスタの能動層に用
いることにより、有機半導体膜の特性を高次構造的に改
善し、十分に引き出すことが可能な高性能薄膜トランジ
スタを提供するものである。
【0012】本発明の薄膜トランジスタは、絶縁性基板
上に、ゲート電極、ソース/ドレイン電極、チャネル層
を構成する有機半導体膜及び前記ゲート電極とチャネル
層とに挟まれたゲート絶縁膜が形成されて構成される。
絶縁性基板としては特に限定されるものではなく、例え
ばガラス、石英、プラスチック等の基板を用いることが
できる。薄膜トランジスタとしては、逆スタガ構造又は
順スタガ構造のいずれの構造でもよい。
上に、ゲート電極、ソース/ドレイン電極、チャネル層
を構成する有機半導体膜及び前記ゲート電極とチャネル
層とに挟まれたゲート絶縁膜が形成されて構成される。
絶縁性基板としては特に限定されるものではなく、例え
ばガラス、石英、プラスチック等の基板を用いることが
できる。薄膜トランジスタとしては、逆スタガ構造又は
順スタガ構造のいずれの構造でもよい。
【0013】例えば、逆スタガ構造の薄膜トランジスタ
としては、絶縁性基板上にゲート電極が形成され、この
ゲート電極上にゲート絶縁膜が形成され、さらにゲート
絶縁膜上であってゲート電極の両端にソース/ドレイン
電極が形成され、ゲート絶縁膜上であってソース/ドレ
イン電極間にチャネル層を構成する有機半導体膜が形成
されて構成されている。また、順スタガ構造の薄膜トラ
ンジスタとしては、絶縁性基板上にチャネル層を構成す
る有機半導体膜が形成され、この有機半導体膜の両端に
ソース/ドレイン電極が接続され、さらに少なくとも有
機半導体膜上にゲート絶縁膜が形成され、このゲート絶
縁膜上であってソース/ドレイン電極間にゲート電極が
形成されて構成されている。
としては、絶縁性基板上にゲート電極が形成され、この
ゲート電極上にゲート絶縁膜が形成され、さらにゲート
絶縁膜上であってゲート電極の両端にソース/ドレイン
電極が形成され、ゲート絶縁膜上であってソース/ドレ
イン電極間にチャネル層を構成する有機半導体膜が形成
されて構成されている。また、順スタガ構造の薄膜トラ
ンジスタとしては、絶縁性基板上にチャネル層を構成す
る有機半導体膜が形成され、この有機半導体膜の両端に
ソース/ドレイン電極が接続され、さらに少なくとも有
機半導体膜上にゲート絶縁膜が形成され、このゲート絶
縁膜上であってソース/ドレイン電極間にゲート電極が
形成されて構成されている。
【0014】ゲート電極としては、導電体膜であれば特
に限定されるものではなく、例えばAl、Cu、Ti、
ポリシリコン、シリサイド、有機導電体等により、例え
ば50〜200nm程度の膜厚で形成することができ
る。ゲート絶縁膜としては、SiO2 ,SiN等の無機
絶縁膜、ポリイミド,ポリアクリロニトリル等の有機材
料により、例えば50〜100nm程度の膜厚で形成す
ることができる。
に限定されるものではなく、例えばAl、Cu、Ti、
ポリシリコン、シリサイド、有機導電体等により、例え
ば50〜200nm程度の膜厚で形成することができ
る。ゲート絶縁膜としては、SiO2 ,SiN等の無機
絶縁膜、ポリイミド,ポリアクリロニトリル等の有機材
料により、例えば50〜100nm程度の膜厚で形成す
ることができる。
【0015】ソース・ドレイン電極としては、ITO(I
ndium Tin Oxide)、SnO2 等の透明導電材料、Au、
Ag、Pt、Al等の金属材料等により、膜厚100〜
300nm程度に形成することができる。チャネル層を
構成する有機半導体膜を構成するポリマーとしては、チ
オフェンの3位(又は4位)に式(1) R−Z−O(CH2 )m − (1) 〔式中、Rはアルキル基、Zはフェニルシクロヘキシル
(PCH)基又はビフェニル(BP)基、(−O(CH
2 )m はスペーサ)、mは3又は4である〕で表される
液晶性置換基が導入されたポリチオフェン誘導体、他の
液晶基(ターフェニル系、ピリミジン系)が導入された
ポリチオフェン誘導体、あるいはポリアセチレン等の脂
肪族共役系、ポリアニリン等の含ヘテロ原子共役系、ポ
リピロール又はポリフラン等の複素環式共役系ポリマー
等が挙げられる。なかでも、式(1)で表される液晶性
置換基が導入されたポリチオフェン誘導体が好ましい。
ndium Tin Oxide)、SnO2 等の透明導電材料、Au、
Ag、Pt、Al等の金属材料等により、膜厚100〜
300nm程度に形成することができる。チャネル層を
構成する有機半導体膜を構成するポリマーとしては、チ
オフェンの3位(又は4位)に式(1) R−Z−O(CH2 )m − (1) 〔式中、Rはアルキル基、Zはフェニルシクロヘキシル
(PCH)基又はビフェニル(BP)基、(−O(CH
2 )m はスペーサ)、mは3又は4である〕で表される
液晶性置換基が導入されたポリチオフェン誘導体、他の
液晶基(ターフェニル系、ピリミジン系)が導入された
ポリチオフェン誘導体、あるいはポリアセチレン等の脂
肪族共役系、ポリアニリン等の含ヘテロ原子共役系、ポ
リピロール又はポリフラン等の複素環式共役系ポリマー
等が挙げられる。なかでも、式(1)で表される液晶性
置換基が導入されたポリチオフェン誘導体が好ましい。
【0016】式(1)のRにおけるアルキル基として
は、炭素数3〜8程度の直鎖又は分枝のアルキル基、例
えば、プロピル、n−ブチル、iso−ブチル、sec
−ブチル、tert−ブチル、ペンチル、ヘキシル、ヘ
プチル、オクチル基等が挙げられる。有機半導体膜を構
成する化合物の具体例としては、以下の化合物が挙げら
れる。
は、炭素数3〜8程度の直鎖又は分枝のアルキル基、例
えば、プロピル、n−ブチル、iso−ブチル、sec
−ブチル、tert−ブチル、ペンチル、ヘキシル、ヘ
プチル、オクチル基等が挙げられる。有機半導体膜を構
成する化合物の具体例としては、以下の化合物が挙げら
れる。
【0017】
【化1】
【0018】なかでも、半導体特性を持つチオフェンの
第3位にPCH系の液晶性置換基を導入したPCH604−チ
オフェン (K.Akagi,et.al Advanced Materials '93:Tra
ns.Mat.Res.Soc.Jpn.,Vol 15A pp513-516)やPCH504−チ
オフェン(R.Toyoshimaet.alSynthetic Metals 69(1995)
pp289-290) は、化学重合(触媒反応)により重合して
ポリマーとした場合、有機溶媒に可溶であり、かつ液晶
相を示すため好ましい。なお、チオフェンの第3位にP
CH系の液晶性置換基を導入したチオフェン誘導体は、
上述の文献に記載の方法でモノマーとして製造して用い
ることができる。
第3位にPCH系の液晶性置換基を導入したPCH604−チ
オフェン (K.Akagi,et.al Advanced Materials '93:Tra
ns.Mat.Res.Soc.Jpn.,Vol 15A pp513-516)やPCH504−チ
オフェン(R.Toyoshimaet.alSynthetic Metals 69(1995)
pp289-290) は、化学重合(触媒反応)により重合して
ポリマーとした場合、有機溶媒に可溶であり、かつ液晶
相を示すため好ましい。なお、チオフェンの第3位にP
CH系の液晶性置換基を導入したチオフェン誘導体は、
上述の文献に記載の方法でモノマーとして製造して用い
ることができる。
【0019】上記ポリマーとして、例えばPCH604
−チオフェンの場合、分子量が10000〜20000
程度、PCH504−チオフェンの場合、分子量が10
000〜20000程度、PBP503Aの場合、分子
量が10000〜60000程度、PPCH803A
(n=8)の場合、分子量が10000〜30000程
度が好ましい。
−チオフェンの場合、分子量が10000〜20000
程度、PCH504−チオフェンの場合、分子量が10
000〜20000程度、PBP503Aの場合、分子
量が10000〜60000程度、PPCH803A
(n=8)の場合、分子量が10000〜30000程
度が好ましい。
【0020】上記の有機半導体膜におけるポリマーの骨
格鎖は、任意の方向へ配向している。配向の方向は特に
限定されるものではなく、意図する特性を発現させるよ
うに制御することができる。つまり、有機半導体膜のす
べてにわたって任意の一方向に配向させてもよいし、有
機半導体膜において規則的、部分的、傾斜的に変化させ
ながら配向させてもよい。
格鎖は、任意の方向へ配向している。配向の方向は特に
限定されるものではなく、意図する特性を発現させるよ
うに制御することができる。つまり、有機半導体膜のす
べてにわたって任意の一方向に配向させてもよいし、有
機半導体膜において規則的、部分的、傾斜的に変化させ
ながら配向させてもよい。
【0021】ポリマーの骨格鎖を任意の方向へ配向させ
る方法としては、配向処理が施された配向膜の上に有
機半導体膜を形成する方法、有機半導体膜に電界印加
する方法、有機半導体膜に磁界印加する方法等が挙げ
られる。具体的には、まず、配向処理が施された配向
膜を形成する。配向膜としては、酸化ケイ素等の無機系
配向膜又はナイロン、ポリビニルアルコール、ポリイミ
ド等の有機系の配向膜が挙げられる。これらの配向膜
は、斜め蒸着、回転蒸着により形成したり、高分子液
晶、LB膜を用いて配向させたり、磁場による配向、ス
ペーサエッジ法による配向、ラビング法等により一定の
方向に配向させられている。なお、この配向膜は、配向
膜としての作用のみのために形成してもよいし、絶縁
層、ゲート絶縁膜等の種々の作用をする膜と兼ねてもよ
いし、絶縁性基板表面を適用してもよい。このような配
向膜の上に有機半導体膜を形成することにより、有機半
導体膜を構成するポリマーの側鎖である液晶性置換基
が、下地である配向膜の配向方向に対して並行に配向す
る。そして、有機半導体膜の膜厚が十分薄い場合には、
ポリマーの骨格鎖が側鎖である液晶性置換基に対してあ
る一定の方向に配列することとなり、よって、配向膜に
よりポリマーの側鎖の配向方向の制御を通してポリマー
の骨格鎖を任意の方向に配向することができる。有機半
導体膜は、側鎖に液晶性置換基が導入された有機材料
を、有機溶媒に溶解し、配向膜表面にキャスティング
法、スピンナー塗布法、浸漬塗布法、スクリーン印刷
法、ロール塗布法などで塗布し、乾燥することによって
ポリマーとして形成することができる。この際の有機溶
媒としては、選択する有機半導体によって適宜選択する
ことができ、例えばクロロホルム、テトラヒドロフラ
ン、ジエチルグリコール、ジエチルエーテル等を挙げる
ことができる。また、用いる材料によっては、プラズマ
重合法、電解重合法、LB法又は延伸法等によってもポ
リマーとして形成することができる。
る方法としては、配向処理が施された配向膜の上に有
機半導体膜を形成する方法、有機半導体膜に電界印加
する方法、有機半導体膜に磁界印加する方法等が挙げ
られる。具体的には、まず、配向処理が施された配向
膜を形成する。配向膜としては、酸化ケイ素等の無機系
配向膜又はナイロン、ポリビニルアルコール、ポリイミ
ド等の有機系の配向膜が挙げられる。これらの配向膜
は、斜め蒸着、回転蒸着により形成したり、高分子液
晶、LB膜を用いて配向させたり、磁場による配向、ス
ペーサエッジ法による配向、ラビング法等により一定の
方向に配向させられている。なお、この配向膜は、配向
膜としての作用のみのために形成してもよいし、絶縁
層、ゲート絶縁膜等の種々の作用をする膜と兼ねてもよ
いし、絶縁性基板表面を適用してもよい。このような配
向膜の上に有機半導体膜を形成することにより、有機半
導体膜を構成するポリマーの側鎖である液晶性置換基
が、下地である配向膜の配向方向に対して並行に配向す
る。そして、有機半導体膜の膜厚が十分薄い場合には、
ポリマーの骨格鎖が側鎖である液晶性置換基に対してあ
る一定の方向に配列することとなり、よって、配向膜に
よりポリマーの側鎖の配向方向の制御を通してポリマー
の骨格鎖を任意の方向に配向することができる。有機半
導体膜は、側鎖に液晶性置換基が導入された有機材料
を、有機溶媒に溶解し、配向膜表面にキャスティング
法、スピンナー塗布法、浸漬塗布法、スクリーン印刷
法、ロール塗布法などで塗布し、乾燥することによって
ポリマーとして形成することができる。この際の有機溶
媒としては、選択する有機半導体によって適宜選択する
ことができ、例えばクロロホルム、テトラヒドロフラ
ン、ジエチルグリコール、ジエチルエーテル等を挙げる
ことができる。また、用いる材料によっては、プラズマ
重合法、電解重合法、LB法又は延伸法等によってもポ
リマーとして形成することができる。
【0022】また、有機半導体膜を、絶縁層又は絶縁
性基板上に、上述のように形成した後、基板温度を有機
半導体膜を構成するポリマーの溶融温度、例えば100
〜150℃程度に加熱してポリマーを溶融させて液晶層
を示させるとともに、この基板を、配向制御を行う任意
の方向に発生させた0.7〜2tesla 程度の磁界の中に
載置して、冷却することによりポリマーの骨格鎖を任意
の方向へ配向させることができる。
性基板上に、上述のように形成した後、基板温度を有機
半導体膜を構成するポリマーの溶融温度、例えば100
〜150℃程度に加熱してポリマーを溶融させて液晶層
を示させるとともに、この基板を、配向制御を行う任意
の方向に発生させた0.7〜2tesla 程度の磁界の中に
載置して、冷却することによりポリマーの骨格鎖を任意
の方向へ配向させることができる。
【0023】さらに、有機半導体膜を上述と同様に形
成し、溶融させた後、配向制御を行う任意の方向に発生
させた1〜10MV/cm程度の電界の中に載置し、冷
却することによってもポリマーの骨格鎖を任意の方向へ
配向させることができる。また、本発明の製造方法の工
程(i) において、絶縁性基板表面上にゲート電極を形成
し、少なくとも該ゲート電極上にゲート絶縁膜を形成す
る。ゲート電極は、真空蒸着法、CVD法等、用いる材
料により適当な方法を選択し、用いる絶縁性基板の耐熱
温度を考慮して、プロセス温度を考慮して形成すること
が好ましい。ゲート絶縁膜は、CVD法、スピンコート
法等用いる材料により適当な方法を選択して形成するこ
とができる。
成し、溶融させた後、配向制御を行う任意の方向に発生
させた1〜10MV/cm程度の電界の中に載置し、冷
却することによってもポリマーの骨格鎖を任意の方向へ
配向させることができる。また、本発明の製造方法の工
程(i) において、絶縁性基板表面上にゲート電極を形成
し、少なくとも該ゲート電極上にゲート絶縁膜を形成す
る。ゲート電極は、真空蒸着法、CVD法等、用いる材
料により適当な方法を選択し、用いる絶縁性基板の耐熱
温度を考慮して、プロセス温度を考慮して形成すること
が好ましい。ゲート絶縁膜は、CVD法、スピンコート
法等用いる材料により適当な方法を選択して形成するこ
とができる。
【0024】工程(ii)においては、ゲート絶縁膜上に、
前記ゲート電極を挟むようにソース/ドレイン電極を形
成する。ソース/ドレイン電極は、電子ビーム(EB)
蒸着法、抵抗加熱蒸着法、スパッタ法等により用いる材
料により、適当な方法を選択して形成することができ
る。ソース/ドレイン電極は、ゲート電極とはゲート絶
縁膜等の絶縁膜により電気的に分離した状態で、かつ後
工程で形成するチャネル層を構成する有機半導体膜と、
その端部を直接接続するように形成する。
前記ゲート電極を挟むようにソース/ドレイン電極を形
成する。ソース/ドレイン電極は、電子ビーム(EB)
蒸着法、抵抗加熱蒸着法、スパッタ法等により用いる材
料により、適当な方法を選択して形成することができ
る。ソース/ドレイン電極は、ゲート電極とはゲート絶
縁膜等の絶縁膜により電気的に分離した状態で、かつ後
工程で形成するチャネル層を構成する有機半導体膜と、
その端部を直接接続するように形成する。
【0025】さらに、工程(iii) において、ゲート絶縁
膜上であって、ソース/ドレイン電極間に、有機半導体
膜を形成する。この際の有機半導体膜の形成は上述した
〜のいずれの方法によっても形成することができ
る。なお、上記製造工程においては、ゲート電極、ゲー
ト絶縁膜、ソース/ドレイン電極及び有機半導体膜等
は、いずれも適当なフォトリソグラフィ及びエッチング
工程により、所望の形状にパターニングすることがで
き、必要に応じて、ソース/ドレイン電極に接続した引
出し電極や層間絶縁膜又は保護膜等を形成することがで
きる。
膜上であって、ソース/ドレイン電極間に、有機半導体
膜を形成する。この際の有機半導体膜の形成は上述した
〜のいずれの方法によっても形成することができ
る。なお、上記製造工程においては、ゲート電極、ゲー
ト絶縁膜、ソース/ドレイン電極及び有機半導体膜等
は、いずれも適当なフォトリソグラフィ及びエッチング
工程により、所望の形状にパターニングすることがで
き、必要に応じて、ソース/ドレイン電極に接続した引
出し電極や層間絶縁膜又は保護膜等を形成することがで
きる。
【0026】また、本発明の製造方法の工程(I) におい
ては、絶縁性基板表面上に、上述した〜のいずれか
の方法によって有機半導体膜を形成することができる
が、又はの方法が好ましい。工程(II)及び工程(II
I) は、実質的に上述と同様の方法に行うことができ
る。なお、この製造方法の場合には、例えば任意に形成
するソース/ドレイン電極に接続される引出し電極をゲ
ート電極の形成と同時に、同様の材料により形成しても
よい。
ては、絶縁性基板表面上に、上述した〜のいずれか
の方法によって有機半導体膜を形成することができる
が、又はの方法が好ましい。工程(II)及び工程(II
I) は、実質的に上述と同様の方法に行うことができ
る。なお、この製造方法の場合には、例えば任意に形成
するソース/ドレイン電極に接続される引出し電極をゲ
ート電極の形成と同時に、同様の材料により形成しても
よい。
【0027】以下に本発明の具体的な実施の形態を説明
する。 実施の形態1 図1(d)に本発明における逆スタガ構造を有する薄膜
トランジスタを示す。この薄膜トランジスタは、絶縁性
基板6上に所望の形状のゲート電極3が形成されてお
り、さらにゲート電極3上にゲート絶縁膜2を介してチ
ャネル層を構成する有機半導体膜1が形成されている。
また、絶縁性基板6と有機半導体膜1との間には、ソー
ス電極4及びドレイン電極5が有機半導体膜1と直接接
続するように形成されている。さらに、これらゲート電
極3、ソース電極4、ドレイン電極5及び有機半導体膜
1の上には保護膜7が積層されており、ソース電極4及
びドレイン電極5に引出し電極8、9がそれぞれ接続さ
れている。
する。 実施の形態1 図1(d)に本発明における逆スタガ構造を有する薄膜
トランジスタを示す。この薄膜トランジスタは、絶縁性
基板6上に所望の形状のゲート電極3が形成されてお
り、さらにゲート電極3上にゲート絶縁膜2を介してチ
ャネル層を構成する有機半導体膜1が形成されている。
また、絶縁性基板6と有機半導体膜1との間には、ソー
ス電極4及びドレイン電極5が有機半導体膜1と直接接
続するように形成されている。さらに、これらゲート電
極3、ソース電極4、ドレイン電極5及び有機半導体膜
1の上には保護膜7が積層されており、ソース電極4及
びドレイン電極5に引出し電極8、9がそれぞれ接続さ
れている。
【0028】以下に上記逆スタガ構造を有する薄膜トラ
ンジスタの製造方法を説明する。まず、図1(a)に示
したように、樹脂基板からなる絶縁性基板6表面上に、
基板温度を100℃に保持しながら、真空蒸着にてアル
ミニウム膜を膜厚300nmで成膜し、フォトリソグラ
フィー及びエッチングによりゲート電極3を形成した。
この際、基板として樹脂基板を用いているためプロセス
温度を樹脂基板の耐熱温度以下に保つ必要があることか
ら、アルミニウム膜の成膜にはプロセス温度を低くする
ことが必要である。続いて、ゲート電極3上に、ポリイ
ミドをスピンコート法により膜厚100nmで成膜して
ゲート絶縁膜2を形成した。
ンジスタの製造方法を説明する。まず、図1(a)に示
したように、樹脂基板からなる絶縁性基板6表面上に、
基板温度を100℃に保持しながら、真空蒸着にてアル
ミニウム膜を膜厚300nmで成膜し、フォトリソグラ
フィー及びエッチングによりゲート電極3を形成した。
この際、基板として樹脂基板を用いているためプロセス
温度を樹脂基板の耐熱温度以下に保つ必要があることか
ら、アルミニウム膜の成膜にはプロセス温度を低くする
ことが必要である。続いて、ゲート電極3上に、ポリイ
ミドをスピンコート法により膜厚100nmで成膜して
ゲート絶縁膜2を形成した。
【0029】次に、図1(b)に示したように、ゲート
絶縁膜2上に、導電体膜としてITO(Indium Tin Oxid
e)をEB蒸着法により基板温度100℃、膜厚300n
mで成膜し、フォトリソグラフィー及びエッチングを行
いソース電極4及びドレイン電極5を形成した。続い
て、ソース電極4及びドレイン電極5間に存在するゲー
ト絶縁膜2上に配向処理を行った。配向処理は、液晶デ
ィスプレイにおいて基板間に注入される液晶材料を配向
させる方法と同様に、ゲート絶縁膜2表面を無塵布で一
方向に擦ることにより行う。これにより、後工程で形成
される有機半導体膜を構成するポリマーに導入された液
晶性置換基を、ラビング方向に対して平行方向に配向さ
せることができる。この際、ポリマーの骨格鎖は、作製
される有機半導体膜の膜厚が薄いため、側鎖である液晶
性置換基に対してある一定の方向に配列することとな
る。従って、配向処理により液晶性置換基の配列方向を
制御することを通して、有機半導体のポリマーの骨格鎖
の配列方向を任意に制御することが可能となる。
絶縁膜2上に、導電体膜としてITO(Indium Tin Oxid
e)をEB蒸着法により基板温度100℃、膜厚300n
mで成膜し、フォトリソグラフィー及びエッチングを行
いソース電極4及びドレイン電極5を形成した。続い
て、ソース電極4及びドレイン電極5間に存在するゲー
ト絶縁膜2上に配向処理を行った。配向処理は、液晶デ
ィスプレイにおいて基板間に注入される液晶材料を配向
させる方法と同様に、ゲート絶縁膜2表面を無塵布で一
方向に擦ることにより行う。これにより、後工程で形成
される有機半導体膜を構成するポリマーに導入された液
晶性置換基を、ラビング方向に対して平行方向に配向さ
せることができる。この際、ポリマーの骨格鎖は、作製
される有機半導体膜の膜厚が薄いため、側鎖である液晶
性置換基に対してある一定の方向に配列することとな
る。従って、配向処理により液晶性置換基の配列方向を
制御することを通して、有機半導体のポリマーの骨格鎖
の配列方向を任意に制御することが可能となる。
【0030】さらに、図1(c)に示したように、ゲー
ト絶縁2膜上にチャネル層となる有機半導体膜1を形成
した。有機半導体膜1は、上述の(PCH504)−チ
オフェンを触媒重合法により重合し、この重合体をクロ
ロホルム溶媒に溶かし、液晶相を示させ、これをキャス
ティング法により膜厚1μmでゲート絶縁膜2、ソース
電極4及びドレイン電極5に塗布して形成した。次い
で、この有機半導体膜を所望の形状にパターニングし、
ソース電極4及びドレイン電極5上にわたって配向制御
を行った有機半導体膜1を形成した。
ト絶縁2膜上にチャネル層となる有機半導体膜1を形成
した。有機半導体膜1は、上述の(PCH504)−チ
オフェンを触媒重合法により重合し、この重合体をクロ
ロホルム溶媒に溶かし、液晶相を示させ、これをキャス
ティング法により膜厚1μmでゲート絶縁膜2、ソース
電極4及びドレイン電極5に塗布して形成した。次い
で、この有機半導体膜を所望の形状にパターニングし、
ソース電極4及びドレイン電極5上にわたって配向制御
を行った有機半導体膜1を形成した。
【0031】次に、ソース電極4、ドレイン電極5及び
有機半導体膜1を覆うようにポリイミドによる保護層7
を膜厚1μmで形成した。さらに、ゲート電極3、ソー
ス電極4及びドレイン電極5上の保護膜7に、フォトリ
ソグラフィー及びエッチングによりコンタクトホールを
形成した。続いて、このコンタクトホールを埋め込むよ
うに保護膜7上全面に、真空蒸着法によりAl膜を成膜
し、パターニングを行なってゲート電極3に接続する引
出し電極(図示せず)、ソース電極4及びドレイン電極
5にそれぞれ接続する引出し電極8、9を形成した。
有機半導体膜1を覆うようにポリイミドによる保護層7
を膜厚1μmで形成した。さらに、ゲート電極3、ソー
ス電極4及びドレイン電極5上の保護膜7に、フォトリ
ソグラフィー及びエッチングによりコンタクトホールを
形成した。続いて、このコンタクトホールを埋め込むよ
うに保護膜7上全面に、真空蒸着法によりAl膜を成膜
し、パターニングを行なってゲート電極3に接続する引
出し電極(図示せず)、ソース電極4及びドレイン電極
5にそれぞれ接続する引出し電極8、9を形成した。
【0032】本実施例によって作製された薄膜トランジ
スタの移動度は、キャリア移動度μ=6×10-5cm2
/V・sであった。これに対して、上記製造方法のうち
配向処理を行わない以外は同様の方法により作製した薄
膜トランジスタの場合には、μ=10-7cm2 /V・s
であり、有機半導体膜の配向処理を行なった薄膜トラン
ジスタでは素子特性の向上が確認された。 実施の態様2 図2(d)に本発明における順スタガ構造を有する薄膜
トランジスタを示す。この薄膜トランジスタは、絶縁性
基板6上に所望の形状の有機半導体膜11が形成されて
おり、さらにこの有機半導体膜11の両端部に直接接続
されたソース電極14及びドレイン電極15が形成され
ている。これら有機半導体膜11、ソース電極14及び
ドレイン電極15上には全面にゲート絶縁膜12が形成
されており、このゲート絶縁膜12上であってソース電
極14及びドレイン電極間にはゲート電極13が形成さ
れている。また、ソース電極14及びドレイン電極15
上に配設されたゲート絶縁膜12の一部に窓が形成され
ており、この窓を通してソース電極14及びドレイン電
極15に接続された引出し電極18、19がそれぞれ形
成されている。
スタの移動度は、キャリア移動度μ=6×10-5cm2
/V・sであった。これに対して、上記製造方法のうち
配向処理を行わない以外は同様の方法により作製した薄
膜トランジスタの場合には、μ=10-7cm2 /V・s
であり、有機半導体膜の配向処理を行なった薄膜トラン
ジスタでは素子特性の向上が確認された。 実施の態様2 図2(d)に本発明における順スタガ構造を有する薄膜
トランジスタを示す。この薄膜トランジスタは、絶縁性
基板6上に所望の形状の有機半導体膜11が形成されて
おり、さらにこの有機半導体膜11の両端部に直接接続
されたソース電極14及びドレイン電極15が形成され
ている。これら有機半導体膜11、ソース電極14及び
ドレイン電極15上には全面にゲート絶縁膜12が形成
されており、このゲート絶縁膜12上であってソース電
極14及びドレイン電極間にはゲート電極13が形成さ
れている。また、ソース電極14及びドレイン電極15
上に配設されたゲート絶縁膜12の一部に窓が形成され
ており、この窓を通してソース電極14及びドレイン電
極15に接続された引出し電極18、19がそれぞれ形
成されている。
【0033】以下に上記順スタガ構造を有する薄膜トラ
ンジスタの製造方法を説明する。まず、図2(a)に示
したように、樹脂基板からなる絶縁性基板6表面上に、
チャネル層となる有機半導体膜11を形成した。有機半
導体膜11は、まず上述の(PCH504)−チオフェ
ンを触媒重合法により重合し、この重合体をテトラヒド
ロフラン(THF)に溶解し、これをキャスティング法
により膜厚1μmで成膜し、続いて、絶縁性基板6を1
10〜130℃に加熱し、有機半導体膜11を溶融さ
せ、液晶相を示させると共に配向制御を行なうために任
意の方向に0.7[tesla]程度の磁界を印加し、この磁
界中に絶縁性基板6を設置して、冷却することにより有
機半導体中に導入された液晶性分子骨格を任意の方向へ
配向させ、さらに、有機半導体膜をフォトリソグラフィ
ー及びエッチングによりパターニングすることにより形
成した。
ンジスタの製造方法を説明する。まず、図2(a)に示
したように、樹脂基板からなる絶縁性基板6表面上に、
チャネル層となる有機半導体膜11を形成した。有機半
導体膜11は、まず上述の(PCH504)−チオフェ
ンを触媒重合法により重合し、この重合体をテトラヒド
ロフラン(THF)に溶解し、これをキャスティング法
により膜厚1μmで成膜し、続いて、絶縁性基板6を1
10〜130℃に加熱し、有機半導体膜11を溶融さ
せ、液晶相を示させると共に配向制御を行なうために任
意の方向に0.7[tesla]程度の磁界を印加し、この磁
界中に絶縁性基板6を設置して、冷却することにより有
機半導体中に導入された液晶性分子骨格を任意の方向へ
配向させ、さらに、有機半導体膜をフォトリソグラフィ
ー及びエッチングによりパターニングすることにより形
成した。
【0034】次いで、図2(b)に示したように、有機
半導体膜11を含む絶縁性基板6上に、EB蒸着法によ
りITO膜を膜厚500nmで成膜し、フォトリソグラ
フィー及びエッチングにより、ソース電極14及びドレ
イン電極15を形成した。続いて、図2(c)に示した
ように、有機半導体膜11、ソース電極14及びドレイ
ン電極15を含む絶縁性基板6上に、ゲート絶縁膜12
としてポリイミド膜を膜厚100nmでスピンコート法
により成膜した。さらに、ソース電極14及びドレイン
電極15上のゲート絶縁膜12に、窓12aを形成し
た。
半導体膜11を含む絶縁性基板6上に、EB蒸着法によ
りITO膜を膜厚500nmで成膜し、フォトリソグラ
フィー及びエッチングにより、ソース電極14及びドレ
イン電極15を形成した。続いて、図2(c)に示した
ように、有機半導体膜11、ソース電極14及びドレイ
ン電極15を含む絶縁性基板6上に、ゲート絶縁膜12
としてポリイミド膜を膜厚100nmでスピンコート法
により成膜した。さらに、ソース電極14及びドレイン
電極15上のゲート絶縁膜12に、窓12aを形成し
た。
【0035】その後、図2(d)に示したように、窓1
2aを含むゲート絶縁膜12上全面に真空蒸着法により
Al膜を膜厚300nmで成膜し、フォトリソグラフィ
ー及びエッチングによりゲート電極13及びソース電極
14及びドレイン電極の引出し電極18、19をそれぞ
れ形成した。以上の工程によりチャネル層となる有機半
導体膜を構成する分子を任意の方向へ配向させた順スタ
ガ型の薄膜トランジスタを作製した。
2aを含むゲート絶縁膜12上全面に真空蒸着法により
Al膜を膜厚300nmで成膜し、フォトリソグラフィ
ー及びエッチングによりゲート電極13及びソース電極
14及びドレイン電極の引出し電極18、19をそれぞ
れ形成した。以上の工程によりチャネル層となる有機半
導体膜を構成する分子を任意の方向へ配向させた順スタ
ガ型の薄膜トランジスタを作製した。
【0036】本実施例によって作製された薄膜トランジ
スタの移動度は、キャリア移動度μ=1×10-5cm2
/V・sであり、素子特性の向上が確認された。 実施の態様3 図2に示した順スタガ型の薄膜トランジスタの製造方法
において、有機半導体膜11をキャスティング法により
成膜した後、基板を110〜130℃に加熱し、有機半
導体膜11に液晶相を発現させ、5MV/cm程度の電
界を印加し、昇温により液晶相を示した(流動性が現れ
る)材料を配向させた後、冷却して配向状態を保ったま
ま、固化、再度膜化する以外は、実施の態様2と同様の
方法により薄膜トランジスタを形成した。
スタの移動度は、キャリア移動度μ=1×10-5cm2
/V・sであり、素子特性の向上が確認された。 実施の態様3 図2に示した順スタガ型の薄膜トランジスタの製造方法
において、有機半導体膜11をキャスティング法により
成膜した後、基板を110〜130℃に加熱し、有機半
導体膜11に液晶相を発現させ、5MV/cm程度の電
界を印加し、昇温により液晶相を示した(流動性が現れ
る)材料を配向させた後、冷却して配向状態を保ったま
ま、固化、再度膜化する以外は、実施の態様2と同様の
方法により薄膜トランジスタを形成した。
【0037】本実施例によって作製された薄膜トランジ
スタの移動度は、キャリア移動度μ=1×10-5cm2
/V・sであり、素子特性の向上が確認された。
スタの移動度は、キャリア移動度μ=1×10-5cm2
/V・sであり、素子特性の向上が確認された。
【0038】
【発明の効果】本発明の薄膜トランジスタによれば、絶
縁性基板上に、ゲート電極、ソース/ドレイン電極、チ
ャネル層を構成する有機半導体膜及び前記ゲート電極と
チャネル層とに挟まれたゲート絶縁膜が形成されてな
り、前記有機半導体膜が、側鎖に液晶性置換基が導入さ
れたポリマーにより構成され、かつ該ポリマーの骨格鎖
が任意の方向へ配向している、つまり、ポリマーの骨格
鎖は、必ずしも半導体素子のソース/ドレイン電極間の
方向に平行ではなく、素子特性として良好な値が得られ
る任意の方向に配向しているので、有機半導体膜の特性
を、構造的に向上させることが可能となり、高性能な薄
膜トランジスタを得ることができる。
縁性基板上に、ゲート電極、ソース/ドレイン電極、チ
ャネル層を構成する有機半導体膜及び前記ゲート電極と
チャネル層とに挟まれたゲート絶縁膜が形成されてな
り、前記有機半導体膜が、側鎖に液晶性置換基が導入さ
れたポリマーにより構成され、かつ該ポリマーの骨格鎖
が任意の方向へ配向している、つまり、ポリマーの骨格
鎖は、必ずしも半導体素子のソース/ドレイン電極間の
方向に平行ではなく、素子特性として良好な値が得られ
る任意の方向に配向しているので、有機半導体膜の特性
を、構造的に向上させることが可能となり、高性能な薄
膜トランジスタを得ることができる。
【0039】また、有機半導体膜におけるポリマーが、
チオフェンの3位に特定の液晶性置換基が導入されたポ
リチオフェン誘導体である場合には、有機半導体として
十分な液晶性を発現させることができる。さらに、本発
明の薄膜トランジスタの製造方法によれば、通常の有機
半導体材料と異なり、配向制御が容易な、側鎖に液晶性
置換基が導入されたポリマーを用いることにより、有機
半導体膜の配向制御を容易に行うことができる。
チオフェンの3位に特定の液晶性置換基が導入されたポ
リチオフェン誘導体である場合には、有機半導体として
十分な液晶性を発現させることができる。さらに、本発
明の薄膜トランジスタの製造方法によれば、通常の有機
半導体材料と異なり、配向制御が容易な、側鎖に液晶性
置換基が導入されたポリマーを用いることにより、有機
半導体膜の配向制御を容易に行うことができる。
【0040】つまり、予めゲート絶縁膜等の絶縁膜又は
配向膜の表面を配向処理した後、該ゲート絶縁膜等の上
に有機半導体膜を形成する場合には、ポリマー中の液晶
性置換基が、配向処理の方向に対して平行方向に容易に
配向させることができる。この際、ポリマーの骨格鎖
は、作製される有機半導体膜の膜厚が薄ければ、側鎖で
ある液晶性置換基に対してある一定の方向に容易に配向
させることができ、よって、配向処理により液晶性置換
基の配列方向を制御することを通して、有機半導体のポ
リマーの骨格鎖の配列方向を任意に制御することが可能
となる。
配向膜の表面を配向処理した後、該ゲート絶縁膜等の上
に有機半導体膜を形成する場合には、ポリマー中の液晶
性置換基が、配向処理の方向に対して平行方向に容易に
配向させることができる。この際、ポリマーの骨格鎖
は、作製される有機半導体膜の膜厚が薄ければ、側鎖で
ある液晶性置換基に対してある一定の方向に容易に配向
させることができ、よって、配向処理により液晶性置換
基の配列方向を制御することを通して、有機半導体のポ
リマーの骨格鎖の配列方向を任意に制御することが可能
となる。
【0041】また、有機半導体膜を形成した後、該有機
半導体膜へ電界を印加するか、磁界を印加する場合に
は、何ら特別な工程を経ることなく有機半導体膜を形成
することができ、容易に電界又は磁界により有機半導体
ポリマーの配向制御を行うことができる。
半導体膜へ電界を印加するか、磁界を印加する場合に
は、何ら特別な工程を経ることなく有機半導体膜を形成
することができ、容易に電界又は磁界により有機半導体
ポリマーの配向制御を行うことができる。
【図1】本発明に係る逆スタガ型薄膜トランジスタの製
造工程を示す要部の概略断面図。
造工程を示す要部の概略断面図。
【図2】本発明に係る順スタガ型薄膜トランジスタの製
造工程を示す要部の概略断面図。
造工程を示す要部の概略断面図。
1、11 有機半導体膜 2、12 ゲート絶縁膜 3、13 ゲート電極 4、14 ソース電極 5、15 ドレイン電極 6 絶縁性基板 7 保護膜 8、9、18、19 引出し電極
Claims (14)
- 【請求項1】 絶縁性基板上に、ゲート電極、ソース/
ドレイン電極、チャネル層を構成する有機半導体膜及び
前記ゲート電極とチャネル層とに挟まれたゲート絶縁膜
が形成されてなり、 前記有機半導体膜が、側鎖に液晶性置換基が導入された
ポリマーにより構成され、かつ該ポリマーの骨格鎖が任
意の方向へ配向していることを特徴とする薄膜トランジ
スタ。 - 【請求項2】 有機半導体膜におけるポリマーの骨格鎖
が、該有機半導体膜直下に形成され、配向処理が施され
た配向膜により任意の方向へ配向している請求項1記載
の薄膜トランジスタ。 - 【請求項3】 有機半導体膜におけるポリマーの骨格鎖
が、電界印加により任意の方向へ配向している請求項1
記載の薄膜トランジスタ。 - 【請求項4】 有機半導体膜におけるポリマーの骨格鎖
が、磁界印加により任意の方向へ配向している請求項1
記載の薄膜トランジスタ。 - 【請求項5】 有機半導体膜におけるポリマーが、チオ
フェンの3位に式(1) R−Z−O(CH2 )m − (1) (式中、Rはアルキル基、Zはフェニルシクロヘキシル
基又はビフェニル基、mは3又は4である)で表される
液晶性置換基が導入されたポリチオフェン誘導体である
請求項1〜4のいずれかに記載の薄膜トランジスタ。 - 【請求項6】 (i) 絶縁性基板表面上にゲート電極を形
成し、少なくとも該ゲート電極上にゲート絶縁膜を形成
し、(ii)該ゲート絶縁膜上に、前記ゲート電極を挟むよ
うにソース/ドレイン電極を形成し、(iii) 前記ゲート
絶縁膜上であって前記ソース/ドレイン電極間に、側鎖
に液晶性置換基が導入されたポリマーにより構成され、
かつ該ポリマーの骨格鎖が任意の方向へ配向した有機半
導体膜を形成することを特徴とする薄膜トランジスタの
製造方法。 - 【請求項7】 工程(iii) において、予めゲート絶縁膜
表面を配向処理した後、該ゲート絶縁膜上に有機半導体
膜を形成する請求項6記載の薄膜トランジスタの製造方
法。 - 【請求項8】 工程(iii) において、有機半導体膜を形
成した後、該有機半導体膜へ電界を印加することにより
骨格鎖を配向させる請求項6記載の薄膜トランジスタの
製造方法。 - 【請求項9】 工程(iii) において、有機半導体膜を形
成した後、該有機半導体膜へ磁界を印加することにより
骨格鎖を配向させる請求項6記載の薄膜トランジスタの
製造方法。 - 【請求項10】 (I) 絶縁性基板表面上に、側鎖に液晶
性置換基が導入されたポリマーにより構成され、かつ該
ポリマーの骨格鎖が任意の方向へ配向した有機半導体膜
を形成し、(II)該有機半導体膜の両端に、該有機半導体
膜に接続するソース/ドレイン電極を形成し、(III) 少
なくとも前記半導体膜上にゲート絶縁膜を形成し、該ゲ
ート絶縁膜上にゲート電極を形成することを特徴とする
薄膜トランジスタの製造方法。 - 【請求項11】 工程(III) において、予め絶縁性基板
表面を配向処理した後、該絶縁性基板上に有機半導体膜
を形成する請求項10記載の薄膜トランジスタの製造方
法。 - 【請求項12】 工程(III) において、有機半導体膜を
形成した後、該有機半導体膜へ電界を印加することによ
り骨格鎖を配向させる請求項10記載の薄膜トランジス
タの製造方法。 - 【請求項13】 工程(III) において、有機半導体膜を
形成した後、該有機半導体膜へ磁界を印加することによ
り骨格鎖を配向させる請求項10記載の薄膜トランジス
タの製造方法。 - 【請求項14】 有機半導体膜におけるポリマーが、チ
オフェンの3位に式(1) R−Z−O(CH2 )m − (1) (式中、Rはアルキル基、Zはフェニルシクロヘキシル
基又はビフェニル基、mは3又は4である)で表される
液晶性置換基が導入されたポリチオフェン誘導体である
請求項6〜13のいずれかに記載の薄膜トランジスタの
製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7234113A JPH0983040A (ja) | 1995-09-12 | 1995-09-12 | 薄膜トランジスタ及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7234113A JPH0983040A (ja) | 1995-09-12 | 1995-09-12 | 薄膜トランジスタ及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0983040A true JPH0983040A (ja) | 1997-03-28 |
Family
ID=16965844
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7234113A Pending JPH0983040A (ja) | 1995-09-12 | 1995-09-12 | 薄膜トランジスタ及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0983040A (ja) |
Cited By (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001097297A1 (en) * | 2000-06-16 | 2001-12-20 | The Penn State Research Foundation | Aqueous-based photolithography on organic materials |
WO2002005360A1 (de) * | 2000-07-07 | 2002-01-17 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur herstellung und strukturierung organischer-feldeffekt-transistoren (ofet) |
JP2002512451A (ja) * | 1998-04-16 | 2002-04-23 | ケンブリッジ ディスプレイ テクノロジー リミテッド | ポリマー製素子 |
WO2002015264A3 (de) * | 2000-08-18 | 2002-04-25 | Siemens Ag | Verkapseltes organisch-elektronisches bauteil, verfahren zu seiner herstellung und seine verwendung |
JP2003502874A (ja) * | 1999-06-21 | 2003-01-21 | ケンブリッジ ユニバーシティ テクニカル サービシズ リミティド | 有機tft用の配列されたポリマー |
JP2003518754A (ja) * | 1999-12-21 | 2003-06-10 | プラスティック ロジック リミテッド | 溶液処理された素子 |
JP2003536260A (ja) * | 2000-06-03 | 2003-12-02 | ザ・ユニバーシティ・オブ・リバプール | 電子構成部品の製造方法及び電子構成部品 |
JP2004047566A (ja) * | 2002-07-09 | 2004-02-12 | Sharp Corp | 電界効果型トランジスタ、その製造方法及び画像表示装置 |
WO2004023560A1 (ja) * | 2002-09-05 | 2004-03-18 | Konica Minolta Holdings Inc. | 有機薄膜トランジスタ及び有機薄膜トランジスタの製造方法 |
JP2004088096A (ja) * | 2002-08-28 | 2004-03-18 | Ind Technol Res Inst | 分子配列を有する有機半導体層の製造方法 |
JP2004318058A (ja) * | 2003-04-15 | 2004-11-11 | Ind Technol Res Inst | 有機薄膜トランジスタアレイ構造とその製造方法 |
JP2005026698A (ja) * | 2003-07-03 | 2005-01-27 | Samsung Electronics Co Ltd | 多層構造のゲート絶縁膜を含んだ有機薄膜トランジスタ |
US6936190B2 (en) | 2001-10-15 | 2005-08-30 | Fujitsu Limited | Electrically conductive organic compound and electronic device |
JP2005294530A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Dainippon Printing Co Ltd | 有機半導体構造物、その製造方法及び有機半導体装置 |
JP2006147843A (ja) * | 2004-11-19 | 2006-06-08 | Hitachi Ltd | 電界効果トランジスタの製造方法およびその方法で製造された電界効果トランジスタ |
JP2007123717A (ja) * | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Kyushu Univ | 有機半導体材料及びこれを用いた有機半導体素子 |
JP2007281475A (ja) * | 2006-04-06 | 2007-10-25 | Xerox Corp | ポリ(アルキニルチオフェン)類およびそれから作製された電子デバイス |
US7452961B2 (en) | 2002-07-09 | 2008-11-18 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Polymer film and polymer film device using same |
US7465955B2 (en) | 2003-11-11 | 2008-12-16 | Panasonic Corporation | Thin-film transistor and method of fabricating same |
CN100456486C (zh) * | 2002-09-12 | 2009-01-28 | 先锋株式会社 | 有机电致发光显示器件及其制造方法 |
US7746418B2 (en) | 2003-10-30 | 2010-06-29 | Panasonic Corporation | Conductive thin film and thin film transistor |
JP4857519B2 (ja) * | 2002-02-08 | 2012-01-18 | 大日本印刷株式会社 | 有機半導体構造物、その製造方法、および有機半導体装置 |
WO2012165403A1 (ja) * | 2011-06-01 | 2012-12-06 | 富士フイルム株式会社 | 有機薄膜、その製造方法、及びそれを有する有機トランジスタ |
US8350259B2 (en) | 2008-05-30 | 2013-01-08 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Electronic circuit |
-
1995
- 1995-09-12 JP JP7234113A patent/JPH0983040A/ja active Pending
Cited By (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002512451A (ja) * | 1998-04-16 | 2002-04-23 | ケンブリッジ ディスプレイ テクノロジー リミテッド | ポリマー製素子 |
JP2003502874A (ja) * | 1999-06-21 | 2003-01-21 | ケンブリッジ ユニバーシティ テクニカル サービシズ リミティド | 有機tft用の配列されたポリマー |
US8541257B2 (en) | 1999-06-21 | 2013-09-24 | Cambridge University Technical Services Limited | Aligned polymers for an organic TFT |
JP2003518754A (ja) * | 1999-12-21 | 2003-06-10 | プラスティック ロジック リミテッド | 溶液処理された素子 |
JP2003536260A (ja) * | 2000-06-03 | 2003-12-02 | ザ・ユニバーシティ・オブ・リバプール | 電子構成部品の製造方法及び電子構成部品 |
WO2001097297A1 (en) * | 2000-06-16 | 2001-12-20 | The Penn State Research Foundation | Aqueous-based photolithography on organic materials |
US6852583B2 (en) | 2000-07-07 | 2005-02-08 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for the production and configuration of organic field-effect transistors (OFET) |
WO2002005360A1 (de) * | 2000-07-07 | 2002-01-17 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur herstellung und strukturierung organischer-feldeffekt-transistoren (ofet) |
WO2002015264A3 (de) * | 2000-08-18 | 2002-04-25 | Siemens Ag | Verkapseltes organisch-elektronisches bauteil, verfahren zu seiner herstellung und seine verwendung |
US6936190B2 (en) | 2001-10-15 | 2005-08-30 | Fujitsu Limited | Electrically conductive organic compound and electronic device |
JP4857519B2 (ja) * | 2002-02-08 | 2012-01-18 | 大日本印刷株式会社 | 有機半導体構造物、その製造方法、および有機半導体装置 |
US8017721B2 (en) | 2002-07-09 | 2011-09-13 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Polymer film and polymer film device using the same |
JP2004047566A (ja) * | 2002-07-09 | 2004-02-12 | Sharp Corp | 電界効果型トランジスタ、その製造方法及び画像表示装置 |
US7452961B2 (en) | 2002-07-09 | 2008-11-18 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Polymer film and polymer film device using same |
JP2004088096A (ja) * | 2002-08-28 | 2004-03-18 | Ind Technol Res Inst | 分子配列を有する有機半導体層の製造方法 |
JP4684543B2 (ja) * | 2002-08-28 | 2011-05-18 | 財団法人工業技術研究院 | 分子配列を有する有機半導体層の製造方法 |
JP4867168B2 (ja) * | 2002-09-05 | 2012-02-01 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | 有機薄膜トランジスタの製造方法 |
WO2004023560A1 (ja) * | 2002-09-05 | 2004-03-18 | Konica Minolta Holdings Inc. | 有機薄膜トランジスタ及び有機薄膜トランジスタの製造方法 |
JPWO2004023560A1 (ja) * | 2002-09-05 | 2006-03-30 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | 有機薄膜トランジスタ及び有機薄膜トランジスタの製造方法 |
US7682867B2 (en) | 2002-09-05 | 2010-03-23 | Konica Minolta Holdings, Inc. | Organic thin-film transistor and manufacturing method thereof |
CN100456486C (zh) * | 2002-09-12 | 2009-01-28 | 先锋株式会社 | 有机电致发光显示器件及其制造方法 |
JP4495437B2 (ja) * | 2003-04-15 | 2010-07-07 | 財団法人工業技術研究院 | 有機薄膜トランジスタアレイ構造とその製造方法 |
JP2004318058A (ja) * | 2003-04-15 | 2004-11-11 | Ind Technol Res Inst | 有機薄膜トランジスタアレイ構造とその製造方法 |
JP2005026698A (ja) * | 2003-07-03 | 2005-01-27 | Samsung Electronics Co Ltd | 多層構造のゲート絶縁膜を含んだ有機薄膜トランジスタ |
US7746418B2 (en) | 2003-10-30 | 2010-06-29 | Panasonic Corporation | Conductive thin film and thin film transistor |
US7465955B2 (en) | 2003-11-11 | 2008-12-16 | Panasonic Corporation | Thin-film transistor and method of fabricating same |
JP2005294530A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Dainippon Printing Co Ltd | 有機半導体構造物、その製造方法及び有機半導体装置 |
JP2006147843A (ja) * | 2004-11-19 | 2006-06-08 | Hitachi Ltd | 電界効果トランジスタの製造方法およびその方法で製造された電界効果トランジスタ |
JP2007123717A (ja) * | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Kyushu Univ | 有機半導体材料及びこれを用いた有機半導体素子 |
JP2007281475A (ja) * | 2006-04-06 | 2007-10-25 | Xerox Corp | ポリ(アルキニルチオフェン)類およびそれから作製された電子デバイス |
US8350259B2 (en) | 2008-05-30 | 2013-01-08 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Electronic circuit |
WO2012165403A1 (ja) * | 2011-06-01 | 2012-12-06 | 富士フイルム株式会社 | 有機薄膜、その製造方法、及びそれを有する有機トランジスタ |
JP2012253132A (ja) * | 2011-06-01 | 2012-12-20 | Fujifilm Corp | 有機薄膜、その製造方法、及びそれを有する有機トランジスタ |
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