CN112835090A - 放射线图像取得系统和放射线图像取得方法 - Google Patents

放射线图像取得系统和放射线图像取得方法 Download PDF

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Abstract

放射线图像取得系统具备：放射线源，其向对象物输出放射线；闪烁器，其具有输入从放射线源输出并透过了对象物的放射线的输入面，将输入到输入面的放射线转换为闪烁光，并且相对于上述闪烁光不透明；摄像单元，其具有焦点对准输入面并对从输入面输出的闪烁光进行成像的透镜部和对由透镜部成像的闪烁光进行摄像的摄像部，输出对象物(A)的放射线图像数据；和图像制作部，其根据从摄像单元输出的放射线图像数据，制作对象物的放射线图像。

Description

放射线图像取得系统和放射线图像取得方法
本申请是申请日为2016年7月29日、申请号为201680056873.1、发明名称为放射线 图像取得系统和放射线图像取得方法的专利申请的分案申请。
技术领域
本发明涉及放射线图像取得系统和放射线图像取得方法。
背景技术
如专利文献1所记载的那样，已知有X射线检查装置，其包括：将从X射线产生源照射并透过了被检查物的X射线转换为光的荧光板；和对该荧光板进行摄像的CCD照相机。在该装置中，使用由位于X射线的照射面的表面荧光板、位于其背侧的背面荧光板和位于它们之间的金属过滤器构成的荧光板。CCD照相机由高能量用CCD照相机和低能量用CCD照相机构成。透过了被检查物的X射线在表面荧光板和背面荧光板中转换为闪烁光，通过上述2台CCD照相机进行摄像。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2008-164429号公报
发明内容
发明所要解决的技术问题
本发明人们开发应用了所谓闪烁器双面观察方式(DSSD；Double-SidedScintillation Detector)的放射线图像取得系统。该方式是通过低能量用照相机对从闪烁器的表面输出的闪烁光进行摄像，并且通过高能量用照相机对从闪烁器的背面输出的闪烁光分别进行摄像的方式。
然而，一直以来，可以认为以放射线图像的对象物由放射线透过率不同的物质构成为前提，由于放射线透过率的不同，放射线图像中出现对比度的不同。因此，在由闪烁器双面观察方式进行的摄影中，构成为放射线透过率高的物质使用低能量用照相机来摄像，放射线透过率低的物质使用高能量用照相机来摄像。在此，在塑料制的薄的薄片状体上用墨(ink)来印刷文字或图案等时，塑料与墨的放射线透过率是相同程度，因此，一直以来，放射线图像中难以识别。另外，在塑料制的薄的薄片状体中存在厚度不同的部分时，放射线透过率是相同的，因此，难以进行利用厚度的不同的形状的识别。
本发明说明能够取得清晰的放射线图像的放射线图像取得系统和放射线图像取得方法。
解决问题的技术手段
本发明的一个方式在取得对象物的放射线图像的放射线图像取得系统中，具备：向对象物输出放射线的放射线源；闪烁器，具有输入从放射线源输出并透过了所述对象物的放射线的输入面，将输入到输入面的放射线转换为闪烁光，并且相对于闪烁光不透明；摄像单元，具有焦点对准输入面并对从输入面输出的闪烁光进行成像的透镜部和对由透镜部成像的闪烁光进行摄像的摄像部，输出对象物的放射线图像数据；和图像制作部，根据从摄像单元输出的放射线图像数据，制作对象物的放射线图像。
本发明的另一方式在取得对象物的放射线图像的放射线图像取得方法中，包括：从放射线源向对象物输出放射线的工序(放射线输出工序)；使用具有输入透过了对象物的放射线的输入面且相对于闪烁光不透明的闪烁器，将输入到输入面的放射线转换为闪烁光的工序(转换工序)；使用焦点对准输入面的透镜部，将从输入面输出的闪烁光成像于摄像部的工序(成像工序)；使用摄像部，对由透镜部成像的闪烁光进行摄像，并输出对象物的放射线图像数据的工序(摄像工序)；和根据放射线图像数据，制作对象物的放射线图像的工序(图像制作工序)。
根据上述的放射线图像取得系统和放射线图像取得方法，从闪烁器的输入面输出的闪烁光通过使焦点对准该输入面的透镜部而被成像于摄像部。然后，输出对象物的放射线图像数据，根据该放射线图像数据，制作对象物的放射线图像。在此，在从放射线向闪烁光的转换中，使用不透明的闪烁器。此外，从闪烁器的输入面输出的闪烁光被摄像。由于具有这些特征，例如，即使相对于由放射线透过率为相同程度的物质构成的对象物，由于微小的放射线透过率的不同或厚度的不同，也能够得到存在对比度的不同的放射线图像。由此，能够从图像中识别对象物的外形或印刷于其上的文字或者图案等。特别是能够取得能够清晰地识别由难以判别的轻元素构成的对象物的形状或图案等。在此，作为由放射线透过率为相同程度的物质构成的对象物，例如，可以是如塑料类和墨那样由放射线透过率微小差异的物质构成的对象物，也可以是例如如被压制的塑料类那样由相同的放射线透过率的物质构成且具有厚度不同的部分的对象物。
在放射线图像取得系统的若干方式中，透镜部配置为与输入面相对。此时，通过简易的结构，能够对从输入面输出的闪烁光进行摄像。
在若干方式中，放射线图像取得系统还具有：搬运装置，配置于放射线源与闪烁器之间，在搬运方向上搬运对象物。此时，使用例如线扫描照相机，匹配于对象物的搬运速度来进行摄像，由此能够更高速地取得放射线图像。另外，也可以使用区域传感器照相机，匹配于摄像时机来使放射线源点灯。
在放射线图像取得系统的若干方式中，摄像部是能够进行时间延迟积分(TDI；Time Delay Integration)驱动的区域(area)图像传感器，与由搬运装置进行的对象物的移动同步，进行受光面的电荷输送。此时，能够取得S/N比更佳的放射线图像。
在放射线图像取得系统的若干方式中，放射线源的管电压能够在10kV～300kV的范围内进行调整，闪烁器的厚度在10μm～1000μm的范围内。
在放射线图像取得系统的若干方式中，放射线源的管电压能够在150kV～1000kV的范围内进行调整，闪烁器的厚度在100μm～50000μm的范围内。
在放射线图像取得系统的若干方式中，图像制作部根据至少与闪烁器的厚度对应的用于对比度转换的查找表，制作对象物的所述放射线图像。此时，对应于闪烁器的厚度，即使通过输入面的摄像得到的放射线图像的对比度发生变化，也能够适当地进行对比度转换。
在放射线图像取得系统的若干方式中，放射线源输出包含20keV以下的特性X射线的放射线，透过对象物并由闪烁器转换的放射线包含20keV以下的特性X射线。
在放射线图像取得方法的若干方式中，还包括：使用配置于放射线源与闪烁器之间的搬运装置，在搬运方向上搬运对象物的工序(搬运工序)。此时，使用例如线扫描照相机，匹配于对象物的搬运速度来进行摄像，由此能够更高速地取得放射线图像。另外，也可以使用区域传感器照相机，匹配于摄像时机来使放射线源点灯。
在放射线图像取得方法的若干方式中，摄像部是能够进行时间延迟积分驱动的区域图像传感器，在摄像工序中，与由搬运装置进行的对象物的移动同步，进行区域图像传感器的受光面的电荷输送。此时，能够取得S/N比更佳的放射线图像。
在放射线图像取得方法的若干方式中，闪烁器的厚度在10μm～1000μm的范围内，在放射线输出工序中，将放射线源的管电压设为10kV～300kV的范围内。
在放射线图像取得方法的若干方式中，闪烁器的厚度在100μm～50000μm的范围内，在放射线输出工序，将放射线源的管电压设为150kV～1000kV的范围内。
在放射线图像取得方法的若干方式中，在图像制作工序中，根据至少与闪烁器的厚度对应的用于对比度转换的查找表，制作对象物的放射线图像。此时，对应于闪烁器的厚度，即使通过输入面的摄像得到的放射线图像的对比度发生变化，也能够适当地进行对比度转换。
在放射线图像取得方法的若干方式中，在放射线输出工序中，输出包含20keV以下的特性X射线的放射线，在转换工序中，将透过对象物并包含20keV以下的特性X射线的放射线转换为闪烁光。
发明的效果
根据本发明的若干方式，能够取得清晰的放射线图像。
附图说明
图1是表示本发明的第一实施方式所涉及的放射线图像取得装置的概略结构的图。
图2是表示本发明的第二实施方式所涉及的放射线图像取得装置的概略结构的图。
图3(a)是表示实施例所涉及的摄像单元的配置的图，图3(b)是表示比较例所涉及的摄像单元的配置的图。
图4是表示作为对象物的塑料制的食品包装的照片。
图5(a)是表示第一实施例所涉及的放射线图像的图，图5(b)是表示第一比较例所涉及的放射线图像的图。
图6(a)是表示第二实施例所涉及的放射线图像的图，图6(b)是表示第二比较例所涉及的放射线图像的图。
图7(a)是表示第三实施例所涉及的放射线图像的图，图7(b)是表示第三比较例所涉及的放射线图像的图。
图8(a)是表示第四实施例所涉及的放射线图像的图，图8(b)是表示第四比较例所涉及的放射线图像的图。
图9(a)是表示第五比较例所涉及的放射线图像的图，图9(b)是表示第六比较例所涉及的放射线图像的图。
图10(a)是表示用于模拟的X射线能量谱的图，图10(b)是表示利用修正前的X射线能量谱进行的模拟结果的图，图10(c)是表示利用修正后的X射线能量谱进行的模拟结果的图。
具体实施方式
以下，参照附图，对本发明的实施方式进行说明。此外，在附图的说明中，对相同要素标注相同符号，并省略重复的说明。另外，各附图是用于说明而制作的，以特别强调的方式对说明的对象部位进行描绘。因此，附图中的各部件的尺寸比例不一定与实际的一致。
如图1所示，放射线图像取得系统1是用于取得对象物A的放射线图像的装置。对象物A具有例如由轻元素构成的组成。但是，对象物A的组成不限于此。
作为对象物A，也可以是由放射线透过率稍许不同的物质构成的对象物。作为这样的对象物，例如可以是印刷有墨的塑料类或者膜、或存在有寄生虫或头发丝等的异物的食品、树脂等的轻元素物质所包含的空隙或气泡、碳纤维或工程塑料等复合材料的内部结构、涂装的内部结构等。另外，作为对象物A，也可以是由相同的放射线透过率的物质构成并且具有厚度不同的部分的对象物。作为这样的对象物，是被压制的塑料或具有水印的纸张、通过微细加工而制作的半导体器件、作为电池的构成材料的隔离物或电极、其周边结构等。这样，对象物A也可以由通过现有的放射线图像难以识别的放射线透过率为相同程度的物质构成。这样的对象物A在现有的放射线图像取得系统中未被作为摄像的对象。但是，在放射线图像取得系统1中，即使对象物A具有由轻元素构成的组成，或者由放射线透过率为相同程度的物质构成，也能够取得具有对比度的放射线图像。根据由放射线图像取得系统1所取得的放射线图像，能够从图像识别上述的对象物A的外形或印刷于在其上的文字或图案等。
放射线图像取得系统1具备：向对象物A输出白色X射线等的放射线的放射线源2；闪烁器6，其对应于从放射线源2输出并透过了对象物A的放射线的输入而产生闪烁光；照相机(摄像单元)3，其对从闪烁器6的放射线的输入面6a输出的闪烁光进行摄像；和计算机10，其控制放射线图像取得系统1的若干功能，并且制作放射线图像。放射线图像取得系统1还具备保持对象物A的对象物保持部7和保持闪烁器6的闪烁器保持部8。
放射线源2、照相机3、对象物保持部7和闪烁器保持部8收纳于未图示的壳体，并固定于壳体内。放射线源2、照相机3、对象物保持部7和闪烁器保持部8的全部或者至少一者也可以能够移动，以能够调节彼此的相对的位置关系。计算机10可以收纳于壳体，也可以设置于壳体的外部。在计算机10，分别连接有显示装置(显示部)16和输入装置(输入部)17。
作为光源的放射线源2出射(输出)照射于对象物A的X射线。例如，放射线源2从X射线出射点出射(输出)锥束(cone beam)X射线。从放射线源2出射的X射线形成放射线束12。该放射线束12存在的区域是放射线源2的出射区域。放射线源2输出包含20keV以下的特性X射线(荧光X射线)的放射线。放射线源2也可以输出包含10～20keV的特性X射线的放射线。放射线源2也可以输出包含软X射线的放射线。放射线源2构成为能够调整管电压和管电流。放射线源2中的管电压至少能够在10kV～1000kV之间进行调整。放射线源2中的管电流至少能够在10μA～500mA之间进行调整。20keV以下的特性X射线可以根据射线源的靶材料而不同。例如，在钨(W)中，包含L射线的特性X射线(9.8keV)，在钼(Mo)中，包含K射线的特性X射线(17.4keV)。
放射线源2配置为放射线的光轴相对于闪烁器6的输入面6a的法线成规定的角度。即，放射线源2配置于与对象物A和输入面6a对峙并且偏离输入面6a的法线的位置。换言之，放射线源2配置为其光轴与输入面6a所成的角度大于0度且小于90度。此外，放射线源2也可以配置于输入面6a的法线上。
对象物保持部7配置于放射线源2与闪烁器保持部8之间。在对象物A至少位于放射线束12内的状态下，对象物保持部7保持对象物A。对象物保持部7将对象物A保持在与放射线源2相对的一侧。在对象物A与放射线源2之间，优选不配置减少包含20keV以下的特性X射线(荧光X射线)的放射线的过滤器等。由此，相对于对象物A，能够照射包含20keV以下的特性X射线(荧光X射线)的放射线。对象物保持部7设置为减小对透过了对象物A的放射线施加的影响(成为最小限度)。例如，也可以通过碳等具有碳纤维的物质、或塑料类、膜、包含金属的薄膜等由低元素的物质形成的物质来制作对象物保持部7。另外，也可以在对象物保持部7设置比对象物A小的开口部且使对象物保持部7不进入观察视野。在由对象物保持部7保持对象物A时，也可以将保持部置于观察视野之外。另外，也可以以对象物A与对象物保持部7在图像上不重叠的方式配置对象物A与对象物保持部7。
闪烁器6是板状(例如，平板状)的波长转换部件。闪烁器6具有输入透过了对象物A的放射线的输入面6a。输入面6a是与放射线源2相对的表侧的面(表面)。该输入面6a成为放射线图像取得系统1的观察面。放射线图像取得系统1将闪烁器6的输入面6a作为观察面。
闪烁器6将透过对象物A并输入到输入面6a的放射线转换为闪烁光。闪烁器6将透过对象物A、输入到输入面6a并包含20keV以下的特性X射线的放射线转换为闪烁光。比较低的能量的放射线在输入面6a侧转换，并从输入面6a出射(输出)。比较高的能量的放射线在闪烁器6的背面转换，因此难以从输入面6a出射。因此，在将输入面6a作为观察面的放射线图像取得系统1中，从比较低的能量的放射线转换的闪烁光用于放射线图像的制作。
在本实施方式中，闪烁器6是相对于闪烁光不透明的闪烁器。闪烁器6是例如在支撑体上蒸镀或者涂布、沉积、晶体生长有荧光物质的闪烁器、或者在塑料容器内包有荧光物质的闪烁器。另外，闪烁器6是例如粒状闪烁器或柱状闪烁器等。
将闪烁器6的厚度在数μm～数cm的范围内设定为适当的值。特别是在本实施方式中，根据放射线源2的管电压，闪烁器6的厚度设定为适当的值。闪烁器6的厚度可以根据检测的放射线的能量带，设定为适当的值。闪烁器6的厚度也可以根据对象物A的组成或者厚度，设定为适当的值。
更具体而言，闪烁器6的厚度在10μm～50000μm的范围内。放射线源2的管电压设定在10kV～300kV的范围内时，闪烁器6的厚度为10μm～1000μm的范围内的值。放射线源2的管电压设定在150kV～1000kV的范围内时，闪烁器6的厚度为100μm～50000μm的范围内的值。
对闪烁器6的不透明性，进行更详细的说明。相对于闪烁光不透明的闪烁器是如下闪烁器：通过闪烁光在闪烁器内部散射或者吸收，闪烁光的波长中的闪烁器的光透过率成为80％以下。在这样的闪烁器中，在将与闪烁光相同波长的光输入到闪烁器6的输入面6a时，从闪烁器6的背面6b输出的光的光量为输入光量的80％以下。闪烁器6的光透过率例如在厚度1000μm(1mm)下，也可以在0％～60％的范围内(闪烁光的波长：550nm)。在放射线图像取得系统1中，通过使用不透明的闪烁器6，相对于由放射线透过率为相同程度的物质构成的对象物A(特别是相对于由轻元素构成的对象物A)，发挥了表面观察的有用性。
在闪烁器6至少位于放射线束12内的状态下，闪烁器保持部8保持闪烁器6。闪烁器保持部8保持闪烁器6的背面侧，并使闪烁器6的输入面6a露出。由此，输入面6a与放射线源2相对，并且与照相机3相对。从闪烁器保持部8的位置观察，放射线源2与照相机3不重叠，并配置于不同的方向。闪烁器保持部8构成为：与所使用的放射线源2的管电压相匹配，能够选择厚度或种类不同的闪烁器6，能够更换所保持的闪烁器6。即，闪烁器保持部8能够改变安装有闪烁器6的部分的尺寸(长度、宽度、高度)和形状。闪烁器保持部8也可以具有遮光性。另外，闪烁器保持部8优选被实施防反射策略，也可以产生反射。
照相机3是从闪烁器6的输入面6a侧对投影于闪烁器6的对象物A的投影像(即放射线透过像)进行摄像的间接转换方式的摄像单元。即，照相机3是输入面6a侧的摄像单元。照相机3包括：将从闪烁器6的输入面6a输出的闪烁光成像的透镜(透镜部)3a；对通过透镜3a成像的闪烁光进行摄像的图像传感器(摄像部)3b。照相机3也可以是透镜耦合型的光检测器。
照相机3以闪烁器保持部8为基准，配置于输入面6a面对的一侧。例如，照相机3也可以配置为与闪烁器6的输入面6a相对。此时，至少透镜3a配置为与输入面6a相对，通过透镜3a，输入面6a与图像传感器3b光学地耦合。另外，照相机3也可以配置为：经由将从闪烁器6的输入面6a出射的闪烁光反射的镜(未图示)而能够对闪烁光进行摄像。此时，通过镜和透镜3a，输入面6a与图像传感器3b光学地耦合。
透镜3a将视野13的闪烁光聚光。透镜3a配置为使焦点对准闪烁器6的输入面6a。因此，能够将在闪烁器6的比较的输入面6a侧转换的闪烁光聚光。另外，透镜3a将从输入面6a输出的闪烁光聚光，将闪烁光成像在图像传感器3b的受光面3c。图像传感器3b接收通过透镜3a成像的闪烁光，进行光电转换。图像传感器3b与计算机10电连接。照相机3将通过摄像得到的放射线图像数据输出到计算机10的图像处理器10a。作为图像传感器3b可以使用例如CCD区域图像传感器或CMOS区域图像传感器等的区域图像传感器。
对照相机3的配置的一个例子，进行更详细的说明。照相机3配置为透镜3a的光轴L相对输入面6a正交。即，照相机3的透镜3a与输入面6a对峙，并且配置于输入面6a的法线上。照相机3配置为偏离放射线源2的光轴上。即，照相机3配置为偏离来自放射线源2的放射线的出射区域(放射线束12存在的区域)。由此，能够防止由于来自放射线源2的放射线引起的照相机3的被曝光，能够防止在照相机3的内部产生放射线的直接转换信号而产生噪声。照相机3的透镜3a配置为从透镜3a的中心下降到闪烁器6的输入面6a的垂线在输入面6a的范围内，并且配置在闪烁器6的输入面6a的上方。由此，能够检测比较多的闪烁光。
此外，在与闪烁器6相对的位置设置镜等，也能够适当改变闪烁光的光路。此时，照相机3也可以不配置为与闪烁器6的输入面6a相对，因此，照相机3也可以以闪烁器保持部8为基准，配置在输入面6a的相反侧即放射线源2的相反侧。作为用于将闪烁光导向适当的光路的光学元件，也可以设置有一个或者多个镜。
此外，放射线源2和照相机3的配置不限于上述的方式。放射线源2和照相机3设置于对象物保持部7(对象物A)与闪烁器保持部8(闪烁器6)的关系中彼此不干涉的位置(或者干涉少的位置)即可。也可以将放射线源2和照相机3配置在包含闪烁器6的输入面6a的法线的平面上，但是也可以在输入面6a的法线周边适当三维地配置。
计算机10由具有CPU(Central Processing Unit(中央处理器))、ROM(Read OnlyMemory(只读存储器))、RAM(Random Access Memory(随机存储器))和输入输出接口等的计算机构成。计算机10具有：根据从照相机3输出的放射线图像数据来制作对象物A的放射线图像的图像处理器(图像制作部)10a；和控制放射线源2和照相机3的控制处理器(控制部)10b。图像处理器10a输入放射线图像数据，对输入的放射线图像数据执行图像处理等的规定的处理。图像处理器10a将制作的放射线图像输出到显示装置16。控制处理器10b根据由用户的输入等所存储的放射线源2的管电压或管电流的值，控制放射线源2。控制处理器10b根据由用户的输入等所存储的照相机3的曝光时间等，控制照相机3。图像处理器10a和控制处理器10b可以是分开的处理器，也可以是相同的处理器。另外，计算机10以能够执行图像处理器10a的功能和控制处理器的功能的方式编程即可。
显示装置16是显示放射线图像的显示器。作为显示装置16，可以使用公知的显示器。显示装置16显示从图像处理器10a输出的放射线图像。输入装置17是例如键盘或鼠标等。用户利用输入装置17，能够输入放射线源2的管电压或管电流的值、或者照相机3的曝光时间等的各种参数。由输入装置17所输入的各种参数存储在计算机10中。
接着，对放射线图像取得系统1的动作即放射线图像的取得方法进行说明。首先，准备对象物A，使对象物A保持于对象物保持部7。在进行对象物A的表面观察时，利用输入装置17，预先输入放射线源2的管电压或管电流的值和照相机3的曝光时间等的参数(参数输入工序)。另外，选定闪烁器6。此时，决定闪烁器6的厚度或种类等，使该闪烁器6保持于闪烁器保持部8。利用输入装置17输入决定的闪烁器6的厚度或种类(闪烁器选定工序)。相对于闪烁器保持部8，对闪烁器6和放射线源2、进一步照相机3的位置进行调整，并将它们定位。以照相机3的透镜3a的光轴L与输入面6a交叉的方式，设置照相机3。照相机3的透镜3a的焦点位置对准输入面6a。
闪烁器6的厚度也可以在10μm～1000μm的范围内。此时，将放射线源2的管电压设为10kV～300kV的范围内即可。另外，闪烁器6的厚度也可以在100μm～50000μm的范围内。此时，将放射线源2的管电压设为150kV～1000kV的范围内即可。这样，也可以与闪烁器6匹配而对放射线源2的管电压等的参数进行设定。
接着，移到放射线源2的照射和照相机3所进行的输入面6a(表面)的观察。以下的动作和处理由计算机10的控制处理器10b控制。从放射线源2向对象物A输出(照射)白色X射线等的放射线(放射线输出工序)。此时，照射到对象物A的放射线优选是包含20keV以下的特性X射线的放射线。此时，透过对象物A且到达闪烁器6的放射线可以包含20keV以下的特性X射线。透过了对象物A的放射线输入到输入面6a，通过闪烁器6来进行从放射线向闪烁光的转换(转换工序)。通过照相机3的透镜3a，从输入面6a输出的闪烁光成像于图像传感器3b(成像工序)。图像传感器3b对通过透镜3a成像的闪烁光(闪烁像)进行摄像。照相机3将由摄像得到的放射线图像数据输出到计算机10的图像处理器10a(摄像工序)。
计算机10的图像处理器10a输入放射线图像数据，对输入的放射线图像数据执行图像处理等的规定的处理，制作放射线图像(图像制作工序)。若详细地说明，则图像处理器10a决定与所输入的参数(放射线源2的管电压或管电流的值、照相机3的曝光时间、闪烁器6的厚度或种类)对应并用于对比度转换的LUT(查找表(Look-up Table))，并根据所输入的放射线图像数据来制作放射线图像。计算机10保存与多个参数对应的多个LUTs，可以从其中选择与所输入的参数对应的LUT，也可以根据所输入的参数，计算机10制作LUT。另外，用户可以输入与参数对应的LUT。发明人们确认了，根据闪烁器的厚度，由表面摄像得到的放射线图像的对比度发生变化。因此，图像处理器10a如果根据至少与闪烁器的厚度对应并且用于对比度转换的LUT来制作对象物的放射线图像，则能够取得具有适当的对比度的放射线图像。图像处理器10a将制作的放射线图像输出到显示装置16。显示装置16显示从图像处理器10a输出的放射线图像。
经过以上的工序，能够得到由对象物A的表面观察得到的放射线图像。利用放射线图像取得系统1所取得的放射线图像即使相对于例如如印刷有文字或图案的塑料或被压制处理的塑料等那样由放射线透过率为相同程度的物质构成的对象物A，也能够清楚地识别对象物A的形状(外形等)或所印刷的图案。特别是即使相对于例如塑料等的由轻元素构成的对象物A，也能够清楚地识别对象物A的形状(外形等)。另外，例如，即使是相同材料的微小的厚度的不同，也能够反映在放射线图像中，而能够识别对象物A的细小的凹凸加工、或印刷于对象物A上的文字或图案等。
根据放射线图像取得系统1和放射线图像取得方法，在从放射线向闪烁光的转换中，使用不透明的闪烁器6。而且，从闪烁器6的输入面6a输出的闪烁光被摄像。由于具有这些特征，即使相对于由放射线透过率为相同程度的物质构成的对象物A，也能够得到具有对比度的放射线图像。特别是能够取得能够清楚地识别由轻元素构成的对象物的形状等的放射线图像。由此，能够从图像识别对象物A的外形、或细小的凹凸、印刷于其上的文字或图案等。
使用了闪烁器的间接转换方式的放射线图像以往以通过从闪烁器6的背面输出的闪烁光的摄像而得到为前提。本发明人们发现了，基于这样的前提而建立的现有的观察方式中，不能得到由放射线透过率为相同程度的物质构成的对象物A的清晰的图像，并进行了专门研究。其结果，通过使用不透明的闪烁器6来进行输入面6a的观察，从而发现了该技术问题被解决。对于实施例和比较例，在后面进行叙述。
在放射线图像取得系统1中，透镜3a配置为与输入面6a相对。因此，通过简单的结构，能够对从输入面6a输出的闪烁光进行摄像。
图像处理器10a基于至少与闪烁器6的厚度对应的用于对比度转换的LUT，制作对象物A的放射线图像。因此，根据闪烁器6的厚度，通过表面的摄像而得到的放射线图像的对比度即使发生变化，也能够适当地进行对比度转换。
接着，参照图2，对第二实施方式所涉及的放射线图像取得系统1A进行说明。该放射线图像取得系统1A与第一实施方式的放射线图像取得系统1不同的地方在于：代替以使其静止的状态保持对象物A的对象物保持部7而具有将对象物A在规定的搬运方向D上搬运的搬运装置20；和代替照相机3而具有作为线扫描照相机的照相机3A。如图2所示，搬运装置20具有在环绕轨道移动的传送带21，在传送带21上载置或者保持有对象物A。搬运装置20具有驱动传送带21的未图示的驱动源。搬运装置20的传送带21配置于放射线源2与闪烁器保持部8(闪烁器6)之间。搬运装置20构成为将对象物A在搬运方向D以一定的速度搬运。搬运装置20的对象物A的搬运时机或搬运速度预先进行设定，并由计算机10的控制处理器10b控制。
照相机3A是线扫描照相机，匹配于对象物A的移动而进行摄像。照相机3A作为图像传感器3b而具有线传感器或能够进行TDI(时间延迟积分)驱动的区域图像传感器。特别是在图像传感器3b是能够进行TDI驱动的区域图像传感器时，由控制处理器10b控制图像传感器3b，以匹配于对象物A的移动而进行电荷输送。即，图像传感器3b与由搬运装置20进行的对象物A的移动同步，进行受光面3c的电荷输送。由此，能够得到S/N比更佳的放射线图像。此外，在图像传感器3b是区域图像传感器的情况下，也可以构成为：计算机10的控制处理器10b控制放射线源2和照相机3A，与照相机3A的摄像时机相配合，使放射线源2点灯。
闪烁器6配置为相对于照相机3A的透镜3a的光轴L，其输入面6a以规定的角度(例如，45°)倾斜。另外，闪烁器6的输入面6a配置为相对于放射线源2的光轴，以规定的角度(例如，45°)倾斜。由此，与搬运装置20的传送带21不产生物理的干渉，能够紧凑地配置照相机3A。此时，通过透镜3a，输入面6a与图像传感器3b光学地耦合。但是，不限于这样的方式，照相机3A也可以配置为能够经由反射从闪烁器6的输入面6a出射的闪烁光的镜(未图示)而对闪烁光进行摄像。此时，通过镜和透镜3a，输入面6a与图像传感器3b光学地耦合。
放射线图像取得系统1A的放射线图像取得方法与上述的放射线图像取得系统1的放射线图像取得方法基本上相同，但是在以下方面不同：在放射线输出工序中具有利用搬运装置20来搬运对象物A的搬运工序；和在摄像工序中与对象物A的移动同步地进行电荷输送(TDI动作)。
根据放射线图像取得系统1A，能够更高速地取得放射线图像。另外，能够取得S/N比更佳的放射线图像。
以下，参照图3(a)～图9(b)，对实施例和比较例进行说明。在以下的实施例和比较例中，如图4所示，作为由轻元素构成的对象物A的一个样品，对由聚乙烯构成的袋子(食品包装用的容器)的放射线图像进行了研究。该袋子是透明的，袋子的一边为锯齿的形状(之字形(zigzag)的形状)。在袋的端部印字(印刷)有文字。此外，在该袋子中，内包有例如食品等的内容物。
以下，在实施例中，如图3(a)所示，进行了输入面6a的观察(表面摄影)。在比较例中，如图3(b)所示，进行了背面6b的观察(背面摄影)。在表面摄影中使用的装置结构与第一实施方式的放射线图像取得系统1相同，采用了使对象物A保持而静止并使用区域图像传感器的方式。除第五和第六比较例之外，作为闪烁器，均使用了不透明的闪烁器6。此外，在第五比较例中，使用透明的闪烁器，进行了输入面6a的观察(表面摄影)。在第六比较例中，使用透明的闪烁器并进行了背面6b的观察(背面摄影)。
图5(a)是表示第一实施例所涉及的放射线图像的图，图5(b)是表示第一比较例所涉及的放射线图像的图。在第一实施例和第一比较例中，使摄影面相反，以不同的曝光时间进行摄影。放射线源使用了能够输出包含20keV以下的特性X射线的放射线的放射线源。作为闪烁器，均使用了厚度为85μm的不透明的GOS薄片。放射线源的管电压均为40kV。放射线源的管电流均为200μA。曝光时间在表面的摄像中为2秒，在背面的摄像中为10秒。另外，在放射线源与闪烁器之间未配置减少放射线的过滤器。
如图5(a)所示，尽管表面比背面曝光时间短，但在进行了表面摄影的第一实施例所涉及的放射线图像中，能够清晰地确认对象物A的之字形状的外形。另外，也能够确认印刷于袋子的文字。这样，已知能够得到相对于聚乙烯的对比度。另一方面，如图5(b)所示，在进行了背面摄影的第一比较例所涉及的放射线图像中，不能够清晰地确认袋子的外形或文字。
图6(a)是表示第二实施例所涉及的放射线图像的图，图6(b)是表示第二比较例所涉及的放射线图像的图。在第二实施例和第二比较例中，除了使摄影面相反和改变曝光时间以外，在相同的摄影条件下进行摄影。放射线源使用了能够输出包含20keV以下的特性X射线的放射线的放射线源。作为闪烁器，均使用了厚度为85μm的不透明的GOS薄片。放射线源的管电压均为100kV。放射线源的管电流均为200μA。曝光时间在表面的摄像中为1秒，在背面的摄像中为2秒。另外，在放射线源与闪烁器之间未配置减少放射线的过滤器。
如图6(a)所示，尽管表面比背面曝光时间短，但在进行了表面摄影的第二实施例所涉及的放射线图像中，能够清晰地确认对象物A的之字形状的外形。另外，也能够确认印刷于袋子的文字。这样，已知能够得到相对于聚乙烯的对比度。另外，即使与图5(a)所示的第一实施例的放射线图像对比，电压从40kV升高到100kV，其结果，在任一者中均能够确认袋子的形状和文字。一般而言，将管电压提高时，从放射线源2输出的放射线的能量向高能量转移。即使提高管电压(即使为高能量)也能够确认袋子的形状和文字，这被认为是在表面观察中特有的现象。另一方面，如图6(b)所示，在进行了背面摄影的第二比较例所涉及的放射线图像中，尽管采用了2倍以上的曝光时间，但不能够清晰地确认袋子的外形或文字。
图7(a)是表示第三实施例所涉及的放射线图像的图，图7(b)是表示第三比较例所涉及的放射线图像的图。在第三实施例和第三比较例中，除了使摄影面相反以外，在相同的摄影条件下进行摄影。使用了能够输出包含20keV以下的特性X射线的放射线的放射线源。作为闪烁器，均使用了厚度为85μm的不透明的GOS薄片。放射线源的管电压均为40kV。放射线源的管电流均为200μA。曝光时间在表面的摄像中为2秒，在背面的摄像中为10秒。另外，在放射线源与闪烁器之间未配置减少放射线的过滤器。
如图7(a)所示，在进行了表面摄影的第三实施例所涉及的放射线图像中，尽管表面比背面曝光时间短，但能够清晰地确认对象物A的之字形状的外形。另外，也能够确认印刷于袋子的文字。这样，已知能够得到相对于聚乙烯的对比度。另一方面，如图7(b)所示，在进行了背面摄影的第三比较例所涉及的放射线图像中，不能够清晰地确认袋子的外形或文字。
图8(a)是表示第四实施例所涉及的放射线图像的图，图8(b)是表示第四比较例所涉及的放射线图像的图。在第四实施例和第四比较例中，除了使摄影面相反以外，在相同的摄影条件下进行摄影。放射线源使用了能够输出包含20keV以下的特性X射线的放射线的放射线源。作为闪烁器，均使用了厚度为85μm的不透明的GOS薄片。放射线源的管电压均为130kV。放射线源的管电流均为200μA。曝光时间在表面的摄像中为1秒，在背面的摄像中为2秒。另外，在放射线源与闪烁器之间未配置减少放射线的过滤器。
如图8(a)所示，在进行了表面摄影的第四实施例所涉及的放射线图像中，尽管表面比背面曝光时间短，但能够清晰地确认对象物A的之字形状的外形。另外，也能够确认印刷于袋子的文字。这样，已知能够得到相对于聚乙烯的对比度。另外，即使与图7(a)所示的第三实施例的放射线图像对比，电压从40kV升高到130kV，其结果，在任一者中均能够确认袋子的形状和文字。即使提高管电压(即使为高能量)也能够确认袋子的形状和文字，这被认为是在表面观察中特有的现象。另一方面，如图8(b)所示，在进行了背面摄影的第四比较例所涉及的放射线图像中，不能够清晰地确认袋子的外形或文字。
图9(a)和图9(b)是表示第五和第六比较例所涉及的放射线图像的图。在这些比较例中，进行了输入面6a的观察(表面摄影)。但是，使用了透明的闪烁器。放射线源使用了能够输出包含20keV以下的特性X射线的放射线的放射线源。作为闪烁器，均使用了厚度为1400μm(1.4mm)的透明的陶瓷闪烁器。更具体而言，使用了透明的GOS：Pr闪烁器(Gd2O2S:Pr，“硫氧化钆(添加镨)”)。放射线源的管电压均为130kV。放射线源的管电流均为200μA。曝光时间均为0.5秒。另外，在放射线源与闪烁器之间未配置减少放射线的过滤器。
如图9(a)和图9(b)所示，在使用了可见光透过率高的闪烁器的第五和第六比较例所涉及的放射线图像中，在表面摄影、背面摄影的任一者中，均不能够得到清晰的图像。在表面摄影和背面摄影中，图像的清晰度没有差别。
根据以上可知：在对从不透明的闪烁器6的输入面6a输出的闪烁光进行了摄像的放射线图像中，出现了以往未被识别的特殊的现象。另外，可知：在表面观察中，在40kV、100kV和130kV的任一者中，均能够识别袋子的形状或文字。因此，可知该现象与管电压(即，放射线的能量)无关，是表面观察特有的现象。另外，在使用了透明的闪烁器时，即使进行表面观察，也不能够识别袋子的形状或文字。因此，可知该特征是在使用了不透明的闪烁器时特有的特征。
以往，通过放射线图像来把握聚乙烯等的由轻元素构成的对象物的形状是未知的。此外，特别是能够识别印刷于对象物的文字是未知的。根据发明人们的推测，认为一个主要原因是从闪烁器6的输入面6a输出的闪烁光也反映对象物A的微小的厚度。本次确认的特殊的现象能够应用到例如锯齿检测(内容物是否夹在袋子的粘结部分的检测)、或水印检测、异物检测中。
再有，发明人们除了聚乙烯以外，也对其他材料是否出现上述的现象进行了各种研究。作为一个例子，对纸张的水印部分进行了使用不透明闪烁器的表面摄影和背面摄影。背面摄影的曝光时间是表面摄影的曝光时间的2倍。其结果，在表面摄影的放射线图像中，能够得到能够充分地识别水印部分的对比度。另一方面，在背面摄影的放射线图像中，水印部分的对比度差。在表面摄影的放射线图像和背面摄影的放射线图像中，在40kV的管电压下，确认了大约1200的对比度差。其换算为对比度噪声比(CNR)而为1.5左右。此外，在背面摄影的放射线图像中，即使在将亮度累计30次的情况下，也不会影响表面摄影的放射线图像的对比度。由此，考虑曝光时间时，能够确认表面摄影具有背面摄影的20～60倍以上的灵敏度。
在将纸张作为对象物的实验中，即使升高管电压，水印像的对比度也不发生变化，与将聚乙烯作为对象物的上述实施例相同，出现了表面观察的特殊的现象。在现有的方法中，在放射线图像的领域中未曾设想过识别纸张的水印像之类的技术。但是，根据具有上述公开的特征的放射线图像取得系统和放射线图像取得方法，已知能够反映相同的材料中的微小的厚度的不同。
另外，根据上述实施方式，即使相对于由放射线透过率为相同程度的物质构成的对象物，也能够清晰地识别对象物的形状或图案等。例如，能够判别存在于鱼等的生鲜食品中的寄生虫或存在于加工食品中的发丝。以往，食品的放射线透过率与寄生虫或发丝等的异物的放射线透过率是相同程度，因此难以通过放射线图像进行识别。但是，在不透明闪烁器的表面摄影中，即使放射线透过率为相同程度，也能够取得反映了厚度的不同的放射线图像，因而能够判别食品和异物。
在本发明的放射线图像取得系统和放射线图像取得方法中，将包含20keV以下的特性X射线的放射线在闪烁器6的输入面6a(表面)转换为闪烁光是重要的。以下，对通过模拟而明了的地方进行说明。图10(a)是表示用于模拟的X射线能量谱的图。图10(b)是表示利用修正前的X射线能量谱进行的模拟结果的图。图10(c)是表示利用修正后的X射线能量谱进行的模拟结果的图。
如图10(a)所示，一般而言，X射线能量谱能够利用Tucker的式(Tucker法)等来表示。如图10(a)所示，使用能量谱进行了模拟，能量谱为使用Tucker的式而得到的放射线的能量谱(以实线表示)。如图10(b)所示，铝的透过率的模拟结果(以虚线表示)根据由表面观察得到的X射线图像来计算且与铝的透过率的实测值(以实线表示)不一致。
因此，如图10(a)所示，本发明人们对能量谱进行修正，得到了在20keV以下的区域中相对地提高了特性X射线(即，特性X射线处于支配地位)的能量谱(以虚线表示)。利用该修正后的能量谱进行了模拟。如图10(c)所示，铝的透过率的模拟结果(以虚线表示)根据由表面观察得到的X射线图像来计算且与铝的透过率的实测值(以实线表示)非常一致。
根据以上可知：在闪烁器6的输入面6a(表面)，20keV以下的特性X射线高效地转换为闪烁光。
本发明不限定于上述实施方式。例如，透镜部也可以不配置为与输入面相对。
产业上利用的可能性
根据本发明的若干方式，能够取得清晰的放射线图像。
符号的说明
1、1A…放射线图像取得系统、2…放射线源、3…照相机(摄像单元)、3a…透镜(透镜部)、3b…图像传感器(摄像部)、3c…受光面、6…闪烁器、6a…输入面、10…计算机、10a…图像处理器(图像制作部)、10b…控制处理器(控制部)、20…搬运装置、A…对象物、D…搬运方向、L…光轴。

Claims (19)

1.一种放射线图像取得系统，其特征在于，
是取得对象物的放射线图像的放射线图像取得系统，
具备：
放射线源，向所述对象物输出放射线；
闪烁器，具有输入透过了所述对象物的所述放射线的输入面，将所述输入的放射线转换为闪烁光，并且相对于所述闪烁光不透明；
摄像单元，具有焦点对准所述输入面并对从所述输入面输出的所述闪烁光进行成像的透镜部和对由所述透镜部成像的所述闪烁光进行摄像的摄像部，且输出所述对象物的放射线图像数据；和
图像制作部，根据所述放射线图像数据，制作所述对象物的放射线图像，
所述图像制作部根据至少对应于所述闪烁器的厚度的用于对比度转换的查找表，制作所述对象物的所述放射线图像。
2.如权利要求1所述的放射线图像取得系统，其特征在于，
所述透镜部配置为与所述输入面相对。
3.如权利要求1所述的放射线图像取得系统，其特征在于，
还具备：搬运装置，配置于所述放射线源与所述闪烁器之间，将所述对象物在搬运方向上搬运。
4.如权利要求2所述的放射线图像取得系统，其特征在于，
还具备：搬运装置，配置于所述放射线源与所述闪烁器之间，将所述对象物在搬运方向上搬运。
5.如权利要求3所述的放射线图像取得系统，其特征在于，
所述摄像部是能够进行时间延迟积分驱动的区域图像传感器，与由所述搬运装置进行的所述对象物的移动同步，进行受光面的电荷输送，对通过所述透镜部成像的所述闪烁光进行摄像。
6.如权利要求4所述的放射线图像取得系统，其特征在于，
所述摄像部是能够进行时间延迟积分驱动的区域图像传感器，与由所述搬运装置进行的所述对象物的移动同步，进行受光面的电荷输送，对通过所述透镜部成像的所述闪烁光进行摄像。
7.如权利要求1～6中的任一项所述的放射线图像取得系统，其特征在于，
所述放射线源的管电压能够在10kV～300kV的范围内进行调整，所述闪烁器的厚度在10μm～1000μm的范围内。
8.如权利要求1～6中的任一项所述的放射线图像取得系统，其特征在于，
所述放射线源的管电压能够在150kV～1000kV的范围内进行调整，所述闪烁器的厚度在100μm～50000μm的范围内。
9.如权利要求1～6中的任一项所述的放射线图像取得系统，其特征在于，
所述放射线源输出包含20keV以下的特性X射线的放射线，透过所述对象物且由所述闪烁器转换的放射线包含20keV以下的特性X射线。
10.如权利要求7所述的放射线图像取得系统，其特征在于，
所述放射线源输出包含20keV以下的特性X射线的放射线，透过所述对象物且由所述闪烁器转换的放射线包含20keV以下的特性X射线。
11.如权利要求8所述的放射线图像取得系统，其特征在于，
所述放射线源输出包含20keV以下的特性X射线的放射线，透过所述对象物且由所述闪烁器转换的放射线包含20keV以下的特性X射线。
12.一种放射线图像取得方法，其特征在于，
是取得对象物的放射线图像的放射线图像取得方法，
包括：
放射线输出工序，从放射线源向所述对象物输出放射线；
转换工序，使用具有输入透过了所述对象物的所述放射线的输入面且相对于闪烁光不透明的闪烁器，将所述输入的放射线转换为所述闪烁光；
成像工序，使用焦点对准所述输入面的透镜部，将从所述输入面输出的所述闪烁光成像于摄像部；
摄像工序，使用所述摄像部，对所述成像的闪烁光进行摄像，并输出所述对象物的放射线图像数据；和
图像制作工序，根据所述放射线图像数据，制作所述对象物的放射线图像，
在所述图像制作工序中，根据至少对应于所述闪烁器的厚度的用于对比度转换的查找表，制作所述对象物的所述放射线图像。
13.如权利要求12所述的放射线图像取得方法，其特征在于，
还包括：搬运工序，使用配置于所述放射线源与所述闪烁器之间的搬运装置，在搬运方向上搬运所述对象物。
14.如权利要求13所述的放射线图像取得方法，其特征在于，
所述摄像部是能够进行时间延迟积分驱动的区域图像传感器，
在所述摄像工序中，与由所述搬运装置进行的所述对象物的移动同步，进行所述区域图像传感器的受光面的电荷输送。
15.如权利要求12～14中的任一项所述的放射线图像取得方法，其特征在于，
所述闪烁器的厚度在10μm～1000μm的范围内，
在所述放射线输出工序中，将所述放射线源的管电压设为10kV～300kV的范围内。
16.如权利要求12～14中的任一项所述的放射线图像取得方法，其特征在于，
所述闪烁器的厚度在100μm～50000μm的范围内，
在所述放射线输出工序中，将所述放射线源的管电压设为150kV～1000kV的范围内。
17.如权利要求12～14中的任一项所述的放射线图像取得方法，其特征在于，
在所述放射线输出工序中，输出包含20keV以下的特性X射线的放射线，在所述转换工序中，将透过所述对象物且包含20keV以下的特性X射线的放射线转换为所述闪烁光。
18.如权利要求15所述的放射线图像取得方法，其特征在于，
在所述放射线输出工序中，输出包含20keV以下的特性X射线的放射线，在所述转换工序中，将透过所述对象物且包含20keV以下的特性X射线的放射线转换为所述闪烁光。
19.如权利要求16所述的放射线图像取得方法，其特征在于，
在所述放射线输出工序中，输出包含20keV以下的特性X射线的放射线，在所述转换工序中，将透过所述对象物且包含20keV以下的特性X射线的放射线转换为所述闪烁光。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ES2962649T3 (es) * 2015-09-30 2024-03-20 Hamamatsu Photonics Kk Sistema de adquisición de imágenes radiográficas y método de adquisición de imágenes radiográficas
JP7319790B2 (ja) 2019-02-27 2023-08-02 浜松ホトニクス株式会社 放射線撮像ユニットにおけるシンチレータの取付構造
JP6719004B1 (ja) 2019-02-27 2020-07-08 浜松ホトニクス株式会社 撮像ユニットおよび放射線画像取得システム

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7135686B1 (en) * 2002-11-19 2006-11-14 Grady John K Low noise x-ray detector for fluoroscopy
JP2007155653A (ja) * 2005-12-08 2007-06-21 Olympus Corp 放射線観察装置
JP2011143138A (ja) * 2010-01-18 2011-07-28 Yoshida Dental Mfg Co Ltd Ｘ線撮影方法およびｘ線撮影装置
US20120145911A1 (en) * 2009-09-18 2012-06-14 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation detecting device
CN203616268U (zh) * 2011-01-25 2014-05-28 浜松光子学株式会社 放射线图像取得装置
CN103975233A (zh) * 2012-02-06 2014-08-06 株式会社日立高新技术 X射线检查装置、检查方法以及x射线检测器
JP2014198831A (ja) * 2013-03-14 2014-10-23 学校法人 東洋大学 シンチレータ結晶
CN108139489A (zh) * 2015-09-30 2018-06-08 浜松光子学株式会社 放射线图像取得系统和放射线图像取得方法

Family Cites Families (69)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4578803A (en) 1981-12-07 1986-03-25 Albert Macovski Energy-selective x-ray recording and readout system
JPS6195299A (ja) 1984-10-16 1986-05-14 富士写真フイルム株式会社 放射線像形成方法
JPH0795100B2 (ja) 1986-09-24 1995-10-11 株式会社日立メデイコ Ｘ線荷物検査装置
US5864146A (en) 1996-11-13 1999-01-26 University Of Massachusetts Medical Center System for quantitative radiographic imaging
JPH05152391A (ja) 1991-12-02 1993-06-18 Fujitsu Ltd Ｘ線検査装置
JPH05279663A (ja) * 1992-04-01 1993-10-26 Hitachi Metals Ltd シンチレータ材料
JPH05312734A (ja) 1992-05-11 1993-11-22 Fujitsu Ltd Ｘ線検出方法
JPH0727866A (ja) 1993-07-14 1995-01-31 Fuji Photo Film Co Ltd 放射線検出器
JPH0861941A (ja) 1994-08-23 1996-03-08 Toshiba Corp 放射線検査装置
JP3269742B2 (ja) 1994-10-12 2002-04-02 富士写真フイルム株式会社 蓄積性蛍光体シート
US5886353A (en) 1995-04-21 1999-03-23 Thermotrex Corporation Imaging device
US5728213A (en) * 1995-08-31 1998-03-17 Hitachi Chemical Company Ltd. Method of growing a rare earth silicate single crystal
WO1997042877A1 (en) 1996-05-13 1997-11-20 University Of Massachusetts Medical Center A system for quantitative radiographic imaging
CN1092797C (zh) 1996-11-20 2002-10-16 中国科学技术大学 剂量场分布成象测量方法及装置
US6180946B1 (en) 1997-04-17 2001-01-30 Lexitek, Inc. Radiation camera with high spatial, temporal, and energy resolution
JPH11211677A (ja) 1998-01-23 1999-08-06 Sumitomo Metal Mining Co Ltd Ｘ線透過式内部判定装置
JP3474765B2 (ja) 1998-03-17 2003-12-08 富士写真フイルム株式会社 画像記録・読み取りシステム
EP1113291A4 (en) 1998-07-15 2002-03-06 Keiichi Kuroda RADIATION IMAGING DEVICE
JP2000039407A (ja) 1998-07-19 2000-02-08 Elco:Kk Ｘ線異物検査装置
JP2000298198A (ja) 1999-02-08 2000-10-24 Fuji Photo Film Co Ltd 放射線画像データ取得方法および装置
US6392237B1 (en) 1999-02-08 2002-05-21 Fuji Photo Film Co., Ltd. Method and apparatus for obtaining radiation image data
SE9900856L (sv) * 1999-03-10 2000-11-10 Mamea Imaging Ab Metod och anordning för detektering av röntgenstrålar och användning av sådan anordning
JP2001004561A (ja) 1999-06-17 2001-01-12 On Denshi Kk 基板検査装置
JP2001099996A (ja) 1999-09-29 2001-04-13 Fuji Photo Film Co Ltd 蓄積性蛍光体シート
JP2001356173A (ja) 2000-06-13 2001-12-26 Konica Corp 放射線画像撮像装置及び放射線画像撮像方法
JP4237370B2 (ja) 2000-02-02 2009-03-11 パナソニック株式会社 Ｘ線撮影方法と装置
JP2001299733A (ja) * 2000-04-27 2001-10-30 Konica Corp Ｐｃｉ放射線画像処理装置、ｐｃｉ放射線画像検出処理装置、ｐｃｉ放射線画像出力装置及びｐｃｉ画像診断支援装置
US6457860B1 (en) 2001-01-10 2002-10-01 Eastman Kodak Company Light-weight imaging assemblies for oncology portal imaging
WO2002082125A1 (en) * 2001-04-03 2002-10-17 L-3 Communications Security & Detection Systems X-ray inspection system
US6510195B1 (en) 2001-07-18 2003-01-21 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Solid state x-radiation detector modules and mosaics thereof, and an imaging method and apparatus employing the same
JP4237966B2 (ja) 2002-03-08 2009-03-11 浜松ホトニクス株式会社 検出器
JP2004209152A (ja) 2003-01-08 2004-07-29 Konica Minolta Holdings Inc Ｘ線画像撮影装置
US7019304B2 (en) * 2003-10-06 2006-03-28 General Electric Company Solid-state radiation imager with back-side irradiation
US7130375B1 (en) 2004-01-14 2006-10-31 Xradia, Inc. High resolution direct-projection type x-ray microtomography system using synchrotron or laboratory-based x-ray source
JP4494026B2 (ja) 2004-01-21 2010-06-30 名古屋電機工業株式会社 Ｘ線検査装置、ｘ線検査方法およびｘ線検査装置の制御プログラム
WO2006005059A2 (en) 2004-06-30 2006-01-12 Lexitek, Inc. High resolution proton beam monitor
JP2007139604A (ja) 2005-11-18 2007-06-07 Konica Minolta Medical & Graphic Inc 放射線用シンチレータプレート
US7679061B2 (en) 2005-11-22 2010-03-16 Carestream Health, Inc. Radiographic image sensing system
JP4577213B2 (ja) 2005-12-27 2010-11-10 株式会社島津製作所 Ｘ線検査装置
US7405406B1 (en) 2006-04-21 2008-07-29 Radiation Monitoring Devices, Inc. Two-sided scintillation detectors and related methods
US7834321B2 (en) 2006-07-14 2010-11-16 Carestream Health, Inc. Apparatus for asymmetric dual-screen digital radiography
JPWO2008044439A1 (ja) 2006-10-06 2010-02-04 コニカミノルタエムジー株式会社 骨塩量測定装置
US7692162B2 (en) * 2006-12-21 2010-04-06 Bio-Rad Laboratories, Inc. Imaging of two-dimensional arrays
JP4853964B2 (ja) 2006-12-28 2012-01-11 株式会社Ｉｈｉ検査計測 Ｘ線検査装置用のｘ線センサ
JP2009025308A (ja) 2007-07-20 2009-02-05 Siemens Ag 放射線検出器モジュール、放射線検出器および画像化用断層撮影装置
JP2007327967A (ja) 2007-07-30 2007-12-20 Toshiba Corp 放射線弁別測定装置
CN101371787B (zh) 2007-08-24 2010-09-15 深圳市蓝韵实业有限公司 一种放射摄影探测器光路系统测试装置及测试方法
JP2009180719A (ja) 2008-02-01 2009-08-13 Ishida Co Ltd Ｘ線検査装置
JP2009222578A (ja) 2008-03-17 2009-10-01 Toshiba Corp Ｘ線固体検出器、ｘ線固体検出方法及びｘ線ｃｔ装置
US7965816B2 (en) * 2008-08-11 2011-06-21 Control Screening, LLC. Scanning X-ray inspection system using scintillation detection with simultaneous counting and integrating modes
US8080175B2 (en) * 2009-01-08 2011-12-20 Los Alamos National Security, Llc Scintillator having a MgAI2O4 host lattice
JP5136478B2 (ja) 2009-03-17 2013-02-06 株式会社島津製作所 放射線撮影装置
JP2010223837A (ja) 2009-03-24 2010-10-07 Toshiba Corp 放射線検出器、ｘ線ｃｔ装置、及び放射線検出器の製造方法
JP5564303B2 (ja) * 2009-06-12 2014-07-30 株式会社日立ハイテクサイエンス Ｘ線透過検査装置
CN101937095B (zh) 2009-06-30 2012-05-09 同方威视技术股份有限公司 双能x射线探测器及双能x射线探测器阵列装置
JP4902753B2 (ja) 2010-01-29 2012-03-21 株式会社日立製作所 放射線撮像装置およびコリメータの位置推定方法
JP5844545B2 (ja) 2010-05-31 2016-01-20 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置
JP5638914B2 (ja) 2010-10-27 2014-12-10 株式会社アールエフ 放射線撮像装置
JP2012154736A (ja) 2011-01-25 2012-08-16 Hamamatsu Photonics Kk 放射線画像取得装置
JP5117584B2 (ja) 2011-01-25 2013-01-16 浜松ホトニクス株式会社 シンチレータプレート
JP5890099B2 (ja) * 2011-01-25 2016-03-22 浜松ホトニクス株式会社 放射線画像取得装置
JP5792472B2 (ja) 2011-01-25 2015-10-14 浜松ホトニクス株式会社 放射線画像取得装置
FR2983419B1 (fr) * 2011-12-06 2017-05-19 Pellenc Selective Tech Procede et installation d'inspection et/ou de tri combinant analyse de surface et analyse volumique
JP5944254B2 (ja) * 2012-07-20 2016-07-05 浜松ホトニクス株式会社 放射線画像取得装置
US9129715B2 (en) * 2012-09-05 2015-09-08 SVXR, Inc. High speed x-ray inspection microscope
FR3001802B1 (fr) * 2013-02-04 2019-05-24 Cyxplus Dispositif et procede pour le controle non destructif de pneumatiques par tomographie
US9364191B2 (en) 2013-02-11 2016-06-14 University Of Rochester Method and apparatus of spectral differential phase-contrast cone-beam CT and hybrid cone-beam CT
US9635748B2 (en) * 2013-03-21 2017-04-25 Varex Imaging Corporation Systems and methods for high-speed radiography with high resolution imaging of large-area fields
GB2553942A (en) * 2015-03-04 2018-03-21 Rapiscan Systems Inc Multiple energy detector

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7135686B1 (en) * 2002-11-19 2006-11-14 Grady John K Low noise x-ray detector for fluoroscopy
JP2007155653A (ja) * 2005-12-08 2007-06-21 Olympus Corp 放射線観察装置
US20120145911A1 (en) * 2009-09-18 2012-06-14 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation detecting device
JP2011143138A (ja) * 2010-01-18 2011-07-28 Yoshida Dental Mfg Co Ltd Ｘ線撮影方法およびｘ線撮影装置
CN203616268U (zh) * 2011-01-25 2014-05-28 浜松光子学株式会社 放射线图像取得装置
CN103975233A (zh) * 2012-02-06 2014-08-06 株式会社日立高新技术 X射线检查装置、检查方法以及x射线检测器
JP2014198831A (ja) * 2013-03-14 2014-10-23 学校法人 東洋大学 シンチレータ結晶
CN108139489A (zh) * 2015-09-30 2018-06-08 浜松光子学株式会社 放射线图像取得系统和放射线图像取得方法

Also Published As

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