JP4577213B2

JP4577213B2 - Ｘ線検査装置

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Publication number: JP4577213B2
Application number: JP2005376017A
Authority: JP
Inventors: 嘉浩立澤
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 2005-12-27
Filing date: 2005-12-27
Publication date: 2010-11-10
Anticipated expiration: 2025-12-27
Also published as: JP2007178228A

Description

本発明は、工業製品などの透視検査またはＣＴ検査などを行うためのＸ線検査装置に関し、さらに詳細には、被測定物内部の注目部位について、Ｘ線光軸方向の位置を特定することができるＸ線検査装置に関する。
ここでＸ線光軸（以後、Ｘ線光軸を光軸ともいう）とは、Ｘ線発生装置のＸ線出射点とＸ線検出器の受光面とを結ぶ法線軸をいい、受光面が平面であるときは、Ｘ線光軸は受光面に対して直交することになる。

工業製品などの透視検査を行うＸ線検査装置では、Ｘ線発生装置のＸ線源に対向するようにして、イメージインテンシファイア（以下、ＩＩと略す）とＣＣＤカメラとを組み合わせたＸ線検出器を配置し、さらにＸ線源とＸ線検出器との間に移動可能なステージを配置して、ステージ上に被測定物を載置するようにしてある。そして、ステージを移動して測定視野内（Ｘ線通過領域）に被測定物の測定部位を移動し、Ｘ線測定を行う。最近はＩＩ、ＣＣＤカメラからなるＸ線検出器に代えて、フラットパネルＸ線検出器を使用したＸ線検査装置も利用されている。

また、Ｘ線発生装置の出射点に対するＸ線検出器の方向を調整する傾動機構を取り付けて、真正面からのＸ線画像だけではなく、斜め方向からのＸ線画像を撮影することができるＸ線検査装置も利用されている。

Ｘ線検査装置では、検査対象である被測定物の一部を拡大した拡大Ｘ線画像を撮影し、表示装置のモニタ画面にその拡大Ｘ線画像を表示し、目視で異常や欠陥が存在していないかを検査することが多い。
このような検査では、撮影されたＸ線画像に含まれる注目部位の光軸方向の位置を特定し、その部位の透視拡大率を正確に求めたい場合がある。

注目部位の透視拡大率を求める方法としては、試料を載せた試料テーブルを光軸方向に直交する平面上で所定量δだけ移動させ、その移動により表示器の画面上で注目部位の投影像が移動した量Δを画像処理（例えば特徴パラメータの抽出）によって求め、その画面上での注目部位の移動量Δと試料テーブルの移動量δとから、透視拡大率をΔ／δによって算出することが開示されている（特許文献１参照）。
特開２００２−２４３６６３号公報

上述した特許文献１に記載のＸ線検査装置では、試料テーブルの光軸に直交する方向の移動量（＝注目部位の移動量δ）は、検出器の受光面の大きさ（受光面の幅）で定まる一定範囲内に制限されることになる。
すなわち、注目部位の移動量がδであるとき、受光面上での注目部位の移動量はΔに拡大されることになり、この移動量Δの値が検出器の受光面の幅よりも大きくなると、移動後に注目部位が受光面外に外れてしまい、注目部位を見失うとともに拡大倍率の計測ができなくなる。例えば受光面の幅が５０ｍｍであるとき、注目部位の移動量δは拡大倍率が１０倍とすると移動量δは５ｍｍが限度、５０倍であるとすると１ｍｍが限度となる。そのため、移動量δを十分に大きくとることができず、ステージなどの機械的誤差の影響を抑えて測定精度を保つことが困難である。

そこで、本発明は、被測定物の注目部位のＸ線光軸方向の位置を正確に求め、透視拡大率の正確な値を求めることができるＸ線検査装置を提供することを目的とする。

上記課題を解決するためになされた本発明のＸ線検査装置は、可動ステージを挟んでＸ線発生装置とＸ線検出器とが対向配置され、可動ステージに載置された被測定物の透視像を測定するＸ線検査装置において、Ｘ線発生装置のＸ線出射点とＸ線検出器の受光面とを結ぶ法線軸であるＸ線光軸を傾動させる傾動機構と、被測定物の注目部位がＸ線検出器の受光面のＸ線光軸通過点近傍に投影されるように可動ステージの位置を調整した基準状態にて撮影した基準画像を蓄積する基準画像記憶部と、傾動機構を駆動してＸ線光軸を基準状態から旋回し注目部位がＸ線検出器の受光面に投影される角度範囲内で傾斜状態にする傾斜状態形成部と、基準状態および傾斜状態におけるＸ線光軸と交差するステージ面上の交点の位置が一致するようにＸ線光軸の傾動動作に連動してステージを移動させるステージ追尾移動部と、傾斜状態にて撮影した注目部位を含む傾斜画像を蓄積する傾斜画像記憶部と、基準画像から注目部位を識別するための特徴情報を抽出する特徴情報抽出部と、特徴情報に基づいて傾斜画像中の注目部位を探索する注目部位探索部と、基準画像内に撮影された注目部位と傾斜画像内に撮影された注目部位との画像上の位置に基づいて注目部位の移動量（Ｄ）を求める移動量算出部と、移動量（Ｄ）に基づいて注目部位の光軸方向の位置を算出する光軸方向位置算出部とを備えるようにしている。

ここで、可動ステージは、少なくとも水平方向であるＸＹ面方向について位置調整ができるものであればよいが、さらに、透視拡大率が変化できるようにＸＹ面に垂直なＺ方向についても位置調整できるものがより望ましい。

傾動機構には、Ｘ線発生装置を固定し、Ｘ線発生装置のＸ線出射点を回転中心としてＸ線検出器を旋回することにより、Ｘ線出射点とテーブルとの距離を接近させて透視拡大倍率を大きくとることができるようにした傾動機構を用いることができる。また、Ｘ線発生装置とＸ線検出器とが対向状態を保ったまま一体に回転するためのＣアームを用いた傾動機構を用いてもよい。

本発明によれば、被測定物の注目部位がＸ線検出器の受光面のＸ線光軸通過点近傍に投影されるように可動ステージの位置を調整し、Ｘ線画像を撮影する。このとき撮影されたＸ線画像を基準画像と呼び、基準画像を撮影するときの位置関係を基準状態と呼ぶ。基準画像は基準画像記憶部に蓄積される。

続いて、傾斜状態形成部が傾動機構を駆動し、Ｘ線光軸を基準状態から傾動させて（傾動角度（θ））、注目部位がＸ線検出器の受光面に投影される角度範囲内で、傾斜状態にする。これと同時に、ステージ追尾移動部は、基準状態でのＸ線光軸と可動ステージのステージ面とが交差する交点が傾斜状態のときのＸ線光軸とステージ面との交点となるように、Ｘ線光軸の傾動動作に連動してステージを移動させる。これにより、注目部位がステージ面とほぼ同じ高さにあるときは、注目部位は傾斜状態におけるＸ線検出器の受光面のＸ線光軸通過点近傍に投影され、注目部位がステージ面からＸ線光軸方向（Ｚ軸方向）に離れている場合でも、ステージが追尾移動しない場合に比較して、より大きな傾動角度（θ）であってもＸ線検出器の受光面に注目部位を投影させることができるようになる。そして傾斜画像記憶部には、傾斜状態にて撮影した注目部位を含む傾斜画像が蓄積される。

特徴情報抽出部は、撮影した基準画像から注目部位を識別するための特徴情報を抽出する。特徴情報の抽出は、パターン認識、あるいは画像領域のヒストグラムまたは標準偏差を用いて特徴情報を抽出してもよい。また、注目部位探索部は、抽出された特徴情報に基づいて、傾斜画像中の注目部位を探索する。特徴情報の探索についても、パターン認識、あるいは、画像領域のヒストグラムまたは標準偏差を用いて探索を行う。

そして、移動量算出部は、基準画像内に撮影された注目部位と傾斜画像内に撮影された注目部位との画像上の位置に基づいて、注目部位の移動量（Ｄ）を算出する。
光軸方向位置算出部は、傾動させた傾動角度（θ）と画像から求めた移動量（Ｄ）に基づいて注目部位の光軸方向の位置を算出する。

本発明によれば、Ｘ線光軸の傾動に追従してステージの水平移動を連動させることにより、傾動角（θ）を大きくとっても、Ｘ線検出器の受光面に注目部位を投影することができるようになるので、ステージの水平移動量を大きくとることでステージの機械的誤差等の影響が相対的に低減され、測定精度を高めることができる。

（その他の課題を解決するための手段および効果）
上記発明において、光軸方向位置算出部は、所定の近似式（後述する）を用いて注目部位の光軸方向の位置を算出するようにしてもよい。
これによれば、所定の近似式に移動量を入力することにより、光軸方向の位置を算出することができる。

上記発明において、注目部位の光軸方向の位置が既知である標準試料により求めた移動量（Ｄ）と光軸方向の位置との関係を蓄積した校正データ記憶領域をさらに備え、光軸方向位置算出部は移動量（Ｄ）とともに、校正データ記憶領域に蓄積された移動量（Ｄ）と光軸方向の位置の関係を参照することにより被測定物の注目部位の光軸方向の位置を算出するようにしてもよい。
これによれば、注目部位の光軸方向の位置が既知である標準試料を用いて移動量と光軸方向の位置との関係を予め求めておくことにより、被測定物における移動量と、予め求めてある関係との比較により、光軸方向位置を算出することができる。

また、上記発明において、注目領域探索部は、基準状態からＸ線光軸を傾動させる方向に対応して探索領域を限定するようにしてもよい。
傾動方向により注目部位の移動方向は定まるので、その方向に探索領域を限定することにより、探索時間を短縮することができる。

以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下に説明するような実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれることはいうまでもない。

図１は、本発明の一実施形態であるＸ線検査装置の構成を示すブロック図であり、図２は基準状態におけるＸ線測定光学系と被測定物との位置関係を説明する図、図３は基準状態から傾動操作を行った後の傾斜状態におけるＸ線測定光学系と被測定物との位置関係を説明する図である。

このＸ線検査装置１は、Ｘ線発生装置１１とＸ線検出器１２とで構成されるＸ線測定光学系１３と、被測定物Ｓを載置するステージ１４と、駆動機構１７と、装置全体の制御を行う制御系２０とにより構成される。また、駆動機構１７は、ステージ１４を直交するＸＹＺ方向（ステージ面をＸＹ面とする）に並進駆動するためのステージ駆動機構１５と、Ｘ線発生装置１１のＸ線出射点を回転中心としてＸ線検出器１２を傾動する傾動機構１６とからなる。

制御系２０は汎用のコンピュータ装置により構成されるが、そのハードウェアをさらにブロック化して説明すると、ＣＰＵ２１と、入力装置であるキーボード２２およびマウス２３と、液晶パネルなどの表示装置２４と、メモリ２５とにより構成される。
また、ＣＰＵ２１が処理する機能をブロック化して説明すると、Ｘ線画像作成部３１、Ｘ線画像表示制御部３２、駆動信号発生部３５（傾斜状態形成信号発生部３３、ステージ追尾移動信号発生部３４を含む）、基準画像記憶部３６、傾斜画像記憶部３７、特徴情報抽出部３８、注目部位探索部３９、移動量算出部４０、光軸方向位置算出部４１とに分けられる。
また、メモリ２５は、基準画像記憶領域５１と傾斜画像記憶領域５２とを備えている。
なお、後述するように注目部位の光軸方向の位置が既知の標準試料により求めた移動量と光軸方向の位置との関係を利用する場合は、さらに校正データ記憶領域５３も備えている。

Ｘ線測定光学系１３のうちＸ線発生装置１１は、Ｘ線出射点となるＸ線管を備えている。
Ｘ線検出器１２は、Ｘ線管に対向するように配置されるＩＩと、このＩＩの後側に一体的に取り付けられたＣＣＤカメラとからなり、ＩＩが透視Ｘ線を検出することにより形成した蛍光像をＣＣＤカメラで撮影することにより、透視Ｘ線像の映像信号が出力されるようにしてある。Ｘ線検出器１２には傾動機構１６が付設されており、Ｘ線発生装置１１のＸ線管の位置を回転中心としてＸ線検出器１２を旋回できるようにしてある。傾動機構１６は、Ｘ線検出器１２を旋回駆動するための駆動用モータが搭載され、ＣＰＵ２１からの傾動のための駆動信号（後述する駆動信号発生部３５からの制御信号）に基づいてＸ線検出器１２を傾動する。

ステージ１４は、ステージ面方向であるＸＹ方向とステージ面に垂直なＺ方向との３次元方向にスライドすることができるように構成してあり、ステージ駆動機構１５により駆動される。ステージ駆動機構１５は、ＸＹＺ方向の３軸方向駆動用モータが搭載され、ＣＰＵ２１からのステージ駆動のための駆動信号（後述する駆動信号発生部３５からの制御信号）に基づいてステージ１４を並進移動する。

次に、ＣＰＵ２１の各機能ブロックについて説明する。
Ｘ線画像作成部３１は、Ｘ線検出器１２から送られてきた透視Ｘ線像の映像信号を、次々とデジタル画像に変換し、画像データを作成する制御を行う。
Ｘ線画像表示制御部３２は、Ｘ線画像作成部３１により作成されたＸ線画像データを表示装置２４に表示する制御を行う。

傾斜状態形成信号発生部３３は、被測定物Ｓの注目部位Ｓｐが、図２に示すようにＸ線検出器１２の受光面でのＸ線光軸Ｊ_１の通過点Ｓｑ近傍に投影されるようにステージ１４の位置を調整した第一の状態（すなわち基準状態）であるときに、その状態から傾動させて（傾動角度（θ））、図３に示すようにＸ線光軸Ｊ_１の位置がＸ線光軸Ｊ_２の位置になるまで傾けた第二の状態（すなわち傾斜状態）にする駆動信号を、傾動機構１６に送る制御を行う。このときの傾動角度(θ)は、注目部位Ｓｐが傾動後もＸ線検出器１２の受光面に投影されうる角度範囲内にしてある(後述するステージ追尾移動部３４によりステージ１４上の被測定物Ｓ（注目部位Ｓｐ）が連動して移動している)。

ステージ追尾移動信号発生部３４は、図２、図３に示すように、基準状態でのＸ線光軸Ｊ_１とステージ１４の載置面とが交差する交点Ｐ_１が、そのまま傾斜状態のときのＸ線光軸Ｊ_２とステージ面との交点Ｐ_２となるように、傾動動作に連動してステージ１４を水平移動させる駆動信号をステージ駆動機構１５に送る制御を行う。具体的には、Ｘ線出射点と交点Ｐ_１との距離をＡとすると、水平方向にＡ・ｔａｎ（θ）の移動を行う。

基準画像記憶部３６は、図２で示した基準状態において、被測定物Ｓの注目部位Ｓｐを含んだＸ線画像を撮影し、基準画像記憶領域５１に画像を蓄積する制御を行う。
傾斜画像記憶部３７は、図３で示した傾斜状態において、被測定物Ｓの注目部位Ｓｐを含んだＸ線画像を撮影し、傾斜画像記憶領域５２に画像を蓄積する制御を行う。

図４（ａ）は図２の基準状態において、また、図４（ｂ）は図３の傾斜状態において、それぞれの状態で撮影した基準画像、傾斜画像の一例を示す図である。
基準状態では、被測定物Ｓの注目部位ＳｐがＸ線検出器１２の受光面のＸ線光軸通過点近傍に投影されるように位置調整してあり、また、Ｘ線検出器１２は一般的にＸ線光軸が受光面の中心を通過するように形成してあるので、図４（ａ）に示すように、基準状態でのＸ線画像の注目部位Ｓｐは、ほぼ画面の中央付近に映し出されている。
これに対し、傾斜状態では、被測定物Ｓの注目部位Ｓｐについての光軸方向の位置（ステージ面からの垂直距離（図２のα））が遠ざかるにつれて、図４（ｂ）に示すように、注目部位Ｓｐが中央から離れた位置に映し出されている。

特徴情報抽出部３８は、基準画像から注目部位を識別するための特徴情報を抽出する制御を行う。特徴情報の抽出は、公知のパターン認識技術を用いることにより行う。例えば図４（ａ）の基準画像では、基準画像に含まれる注目部位Ｓｐの近傍の画像領域Ｓｓを基準パターンとして記憶することにより、これを特徴情報として抽出する。あるいは、注目部位の近傍の画像についてそのヒストグラムの平均値や標準偏差を特徴量パラメータとして計測し、これを特徴情報として抽出するようにしてもよい。

注目部位探索部３９は、特徴情報抽出部３８により抽出された特徴情報に基づいて、傾斜画像中の注目部位を探索する制御を行う。例えば図４（ａ）でパターン認識を用いて画像領域Ｓｓを特徴情報として抽出した場合は、図４（ｂ）に示した傾斜画像中において画像領域Ｓｓと一致する領域Ｓｓ’を探索することによりこの部分が注目部位であると認識する。また、特徴量パラメータを用いて特徴情報を抽出した場合は、特徴量パラメータと一致する領域を注目部位と認識する。

なお、傾動方向によって、傾斜状態のときに注目部位が移動する方向は定まるので、注目部位探索部３９が探索する際に、基準状態からＸ線光軸を傾動させる方向に対応して探索領域を画像の半分に限定しておく。

移動量算出部４０は、基準画像に撮影された注目部位と傾斜画像に撮影された注目部位との画像上の位置の比較により注目部位の移動量（Ｄ）を算出する。
図５は、図４（ａ）の基準画像および図４（ｂ）の傾斜画像から算出する移動量（Ｄ）を説明する図である。パターン認識により求めた２つの画像上での注目部位Ｓｐの位置の差から移動量Ｄが算出される。

光軸方向位置算出部４１は、算出した移動量（Ｄ）に基づいて注目部位の光軸方向の位置を算出する。光軸方向の位置の算出方法としては、近似式を用いて算出する方法と、標準試料による校正値を利用する方法とがある。

前者の近似式を用いる方法について説明する。図２に示すように、Ｘ線出射点からステージ１４面までの距離をＡ、ステージ面から注目部位までの距離をα、Ｘ線出射点から受光面までの距離をＢとする。

この場合、三角関数を用いた簡単な計算により、移動量Ｄとの間で下記の式（１）が成立する。
Ｄ＝Ｂαｃｏｓθｓｉｎθ／（Ａ＋αｃｏｓ^２θ）（１）

式（１）において、Ａはステージ１４を調整したときの（Ｚ方向の）設定パラメータとして与えられ、また、Ｂは装置固有のパラメータとして与えられる。θについても傾動時の設定パラメータとして与えられることから、結局、移動量Ｄを測定することにより、ステージ面から注目部位までの距離αを、一義的に求めることができる。

また、後者の標準試料による校正データを利用する方法について説明する。この場合は、予め、ステージ１４面から注目部位Ｓｐまでの距離αが既知である複数の標準試料を用意しておく。例えば、αが０ｍｍ、５ｍｍ、１０ｍｍ、１５ｍｍである標準試料を用意する。そして、これらについて１つずつステージ１４に載置して、基準状態と傾斜状態（傾動角度がθであるとき）とにおける移動量Ｄを計測し、ステージ面から注目部位Ｓｐまでの距離αと移動量Ｄとの関係（校正データ）を校正データとして求め、校正データ記憶領域５３に記憶しておく。
被測定物についての移動量Ｄを計測したときに、記憶された校正データとの比較により、被測定物の注目部位の高さを計算により算出することができる。

次に、Ｘ線検査装置１による動作について説明する。図６は本装置により注目部位のＸ線光軸方向の位置を求める際の動作フローを説明するフローチャートである。
まず、ステージ上に被測定物Ｓを載置し、表示装置２４の画面を見ながら注目部位をＸ線光軸の通過位置（例えば画面中央）にくるように調整して基準状態を形成する（Ｓ１０１）。この位置調整は手動で行うことができるが、例えば、マウス２３などで注目部位Ｓｐの位置を指定することにより、指定位置がＸ線光軸通過位置になるように自動的に移動させるようにしてもよい。

続いて、基準状態において、Ｘ線画像を撮影し（図４（ａ）参照）、これを基準画像として記憶する（Ｓ１０２）。
続いて、傾動機構１６により角度θの傾動を行うとともに、ステージ１４を追尾移動することにより、Ｘ線検出器１２を傾斜状態に移行させる（Ｓ１０３）。
続いて、傾斜状態において、Ｘ線画像を撮影し（図４（ｂ）参照）、これを傾斜画像として記憶する（Ｓ１０４）。

続いて、基準画像の注目部位Ｓｐについてパターン認識を行い、注目部位Ｓｐの特徴情報を抽出する（Ｓ１０５）。
続いて、傾斜画像について、傾動により注目部位が移動する側の片側領域に対し、抽出した特徴情報と一致する部分の探索を行う（Ｓ１０６）。

続いて、基準画像と傾斜画像との画像比較を行い、基準画像にて抽出した注目部位Ｓｐの像と、傾斜画像の探索により見出した注目部位Ｓｐとの位置の差から移動量（Ｄ）を算出する（Ｓ１０７）。
そして、算出した移動量（Ｄ）に基づいて、近似式（１）により（あるいは校正データ記憶領域５３を参照することにより）、注目部位ＳｐのＸ線光軸方向の位置を算出する（Ｓ１０８）。

以上の処理により、ステージ面から注目部位までの距離αが求まる。さらに、Ｘ線出射点からステージ１４面までの距離Ａ、Ｘ線出射点から受光面までの距離Ｂは既知であるので注目部位での拡大倍率（Ｂ／（Ａ＋α））も求めることができる。

上記実施形態の変形実施例について説明する。
上記実施形態では、画像上の位置の比較により注目部位の移動量（Ｄ）を算出する際に、図５により説明したように、パターン認識により求めた２つの画像上での注目部位Ｓｐの位置の差から、直接、移動量Ｄを算出したが、これに代えて、画像上の位置の比較を行った上で注目部位Ｓｐの位置の差分がなくなるまでステージ１４を移動させ、ステージの移動距離から注目部位の移動量（Ｄ）を求めることもできる。

本発明は、傾動機構を備えたＸ線検査装置に利用することができる。

本発明の一実施形態であるＸ線検査装置の構成を示すブロック図。基準状態におけるＸ線測定光学系と被測定物との位置関係を説明する図。傾斜状態におけるＸ線測定光学系と被測定物との位置関係を説明する図。基準状態と傾斜状態での注目部位を含むＸ線画像の表示例を示す図。基準状態と傾斜状態とでの注目部位の移動量を説明する図。本発明による動作例を説明するフローチャート。

符号の説明

１：Ｘ線検査装置
１１：Ｘ線発生装置（Ｘ線源）
１２：Ｘ線検出器
１３：Ｘ線測定光学系
１５：ステージ駆動機構
１６：傾動機構
２０：制御系
２５：メモリ
３１：Ｘ線画像作成部
３２：Ｘ線画像表示制御部
３３：傾斜状態形成信号発生部
３４：ステージ追尾移動信号発生部
３６：基準画像記憶部
３７：傾斜画像記憶部
３８：特徴情報抽出部
３９：注目部位探索部
４０：移動量算出部
４１：光軸方向位置算出部
５１：基準画像記憶領域
５２：傾斜画像記憶領域
５３：校正データ記憶領域

Claims

可動ステージを挟んでＸ線発生装置とＸ線検出器とが対向配置され、可動ステージに載置された被測定物の透視像を測定するＸ線検査装置において、
Ｘ線発生装置のＸ線出射点とＸ線検出器の受光面とを結ぶ法線軸であるＸ線光軸を傾動させる傾動機構と、
被測定物の注目部位がＸ線検出器の受光面のＸ線光軸通過点近傍に投影されるように可動ステージの位置を調整した基準状態にて撮影した基準画像を蓄積する基準画像記憶部と、
傾動機構を駆動してＸ線光軸を基準状態から旋回し注目部位がＸ線検出器の受光面に投影される角度範囲内で傾斜状態にする傾斜状態形成部と、
基準状態および傾斜状態におけるＸ線光軸と交差するステージ面上の交点の位置が一致するようにＸ線光軸の傾動動作に連動してステージを移動させるステージ追尾移動部と、
傾斜状態にて撮影した注目部位を含む傾斜画像を蓄積する傾斜画像記憶部と、
基準画像から注目部位を識別するための特徴情報を抽出する特徴情報抽出部と、
特徴情報に基づいて傾斜画像中の注目部位を探索する注目部位探索部と、
基準画像内に撮影された注目部位と傾斜画像内に撮影された注目部位との画像上の位置に基づいて注目部位の移動量（Ｄ）を求める移動量算出部と、
移動量（Ｄ）に基づいて注目部位の光軸方向の位置を算出する光軸方向位置算出部とを備えたことを特徴とするＸ線検査装置。
光軸方向位置算出部は、所定の近似式を用いて注目部位の光軸方向の位置を算出することを特徴とする請求項１に記載のＸ線検査装置。
注目部位の光軸方向の位置が既知である標準試料により求めた移動量（Ｄ）と光軸方向の位置との関係を蓄積した校正データ記憶領域をさらに備え、光軸方向位置算出部は移動量（Ｄ）とともに、校正データ記憶領域に蓄積された移動量（Ｄ）と光軸方向の位置の関係を参照することにより被測定物の注目部位の光軸方向の位置を算出することを特徴とする請求項１に記載のＸ線検査装置。
注目部位探索部は、基準状態からＸ線光軸を傾動させる方向に対応して探索領域を限定することを特徴とする請求項１に記載のＸ線検査装置。