WO2013183315A1 - シールリングおよびシールリングの製造方法 - Google Patents

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順矢 仁科
圭一郎 前田
賢 浅田
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株式会社Ｎｅｏｍａｘマテリアル
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Definitions

  • the present invention relates to a seal ring used for an electronic component storage package and a method for manufacturing the seal ring.
  • Japanese Patent Laid-Open No. 2006-49595 discloses a paste made of a mixture of a silver-based brazing powder containing Ag, Cu and Sn and a medium on one surface of a base material made of an Fe—Ni—Co alloy plate. After the coating, a silver brazing clad material including a base material layer made of an Fe—Ni—Co alloy and a silver brazing material layer is formed by firing or the like. Thereafter, a method of forming a ring body (seal ring) by punching a silver brazing clad material into a ring shape is disclosed.
  • the silver brazing material layer is stretched to form a base. It arrange
  • the silver brazing filler metal layer that has been excessively scooped by heat during the manufacture of the electronic component storage package spreads over the lid material. End up. As a result, it can be considered that there is a problem that the silver-based brazing filler metal layer spread on the lid material scatters from the lid material and adheres to the electronic component housed in the electronic component housing package.
  • the present invention has been made to solve the above-described problems, and one object of the present invention is to prevent the brazing material layer from excessively scooping up the side surface of the base material layer. It is an object of the present invention to provide a seal ring and a seal ring manufacturing method capable of suppressing the material layer from being scattered and adhering to an electronic component.
  • a seal ring according to a first aspect of the present invention is a seal ring used in an electronic component storage package, and is a clad material in which a base material layer and a brazing material layer disposed on one surface of the base material layer are joined. The side brazing material part which covers the side surface of the base material layer in the brazing material layer is removed.
  • the seal ring according to the first aspect of the present invention when the brazing filler metal layer of the seal ring is melted by removing the side brazing filler metal portion covering the side surface of the base material layer of the brazing filler metal layer.
  • the base material layer includes round corners connecting one surface of the base material layer and the side surface formed in a substantially flat surface shape, At least the side brazing material portion covering the substantially flat side surface is removed. If comprised in this way, since the side surface brazing material part which covers the substantially flat side surface is removed, it can suppress more that a brazing material layer scoops up the side surface of a base material layer excessively.
  • the “side surface formed in a substantially flat surface shape” includes a curvature sufficiently larger than the curvature radius of the side surface where a minute unevenness is formed, or a round corner, as well as the flat surface side surface.
  • the base material layer mainly includes Fe, Ni, and Co
  • the brazing material layer mainly includes Ag and Cu.
  • the brazing material layer mainly contains Ag and Cu, and the concentration of Ag in the vicinity of the surface of the brazing material layer is higher than the concentration of Ag inside the brazing material layer. large. If comprised in this way, since Ag has corrosion resistance compared with Cu, it can improve the corrosion resistance of the surface of a brazing material layer by Ag in the surface vicinity of a brazing material layer. Further, since the Ag concentration in the vicinity of the surface of the brazing material layer is large, the color tone of the surface of the brazing material layer can be made closer to silver.
  • a method for manufacturing a seal ring according to a second aspect of the present invention is a method for manufacturing a seal ring used in an electronic component storage package, comprising: a base material layer; a brazing material layer bonded to one surface of the base material layer; Of the brazing material layer formed by stretching the brazing material layer when punching the cladding material into the shape of the seal ring, the step of preparing the clad material, the step of punching the cladding material into the shape of the seal ring, And a step of removing a side brazing material portion covering the side surface of the material layer.
  • the brazing material layer is formed by extending the brazing material when the cladding material is punched into the shape of the sealing ring.
  • the brazing filler metal layer of the seal ring is melted by providing the step of removing the side brazing filler metal portion covering the side surface of the layer, the brazing filler metal layer excessively scoops the side surface of the base material layer through the side brazing filler metal portion. It can suppress going up. Thereby, it is possible to suppress the brazing filler metal layer from being scattered due to heat or the like during manufacture of the electronic component storage package and adhering to the electronic component stored in the electronic component storage package.
  • the base material layer includes round corners that connect one surface of the base material layer and the side surface formed in a substantially flat surface shape, and the side surface.
  • the step of removing the brazing material portion includes a step of removing at least the side brazing material portion covering the substantially flat side surface of the brazing material layer. If comprised in this way, since the side surface brazing material part which covers the substantially flat side surface will be removed, it can suppress more that a brazing material layer scoops up the side surface of a base material layer excessively.
  • the step of removing the side brazing material portion includes a step of removing the side brazing material portion by wet etching. If comprised in this way, compared with the case where a side surface brazing material part is removed by mechanical polishing etc., the minute side surface brazing material part which covers the side surface of a base material layer can be removed reliably.
  • the step of removing the side brazing material portion by wet etching includes a step of removing the side brazing material portion by isotropically removing the brazing material layer by wet etching. If comprised in this way, since it is not necessary to perform a complicated etching process in order to selectively remove a side brazing material part, a side brazing material part can be removed easily.
  • the step of isotropically removing the brazing material layer by wet etching is performed by wet etching.
  • the process includes removing the material part and forming the corners of the brazing material layer into a round shape. If configured in this way, the corners of the brazing filler metal layer will be round and no longer sharp, so when the corners of the brazing filler metal layer come into contact with other members, other members will be damaged. Can be suppressed.
  • the step of removing the side brazing material portion by wet etching is such that the brazing material layer is easily etched and the base material layer Including a step of removing the side brazing filler metal portion using an etchant that is difficult to etch. If comprised in this way, a brazing material layer can be selectively etched easily.
  • the base material layer mainly contains Fe, Ni, and Co.
  • the material layer mainly contains Ag and Cu
  • the etching solution contains at least an oxidizing agent that oxidizes the surface of the brazing material layer, an oxide removing agent that removes the oxidized brazing material layer, and water. If comprised in this way, the brazing filler metal layer which mainly contains Ag and Cu can be selectively etched, and a side brazing filler metal part can be removed reliably.
  • the etchant includes an oxidant, an oxide remover, and water
  • the etchant is an oxidant composed of hydrogen peroxide and an oxide composed of acetic acid.
  • a removal agent and water are included at least. If comprised in this way, the brazing material layer which mainly contains Ag and Cu can be etched more selectively, and a side surface brazing material part can be removed more reliably.
  • the brazing material layer mainly contains Ag and Cu, and the etching solution of the wet etching is a surface of the brazing material layer.
  • a side brazing material comprising: an oxidizing agent that oxidizes, an oxide removing agent that removes the oxidized brazing material layer, water, and a Cu preferential removing agent that preferentially removes Cu on the surface of the brazing material layer
  • the Cu concentration on the surface of the brazing filler metal layer is preferentially removed using an etching solution, whereby the concentration of Ag in the vicinity of the surface of the brazing filler metal layer is changed to the Ag inside the brazing filler metal layer.
  • the step of making the concentration greater than If comprised in this way since Ag has corrosion resistance compared with Cu, it can improve the corrosion resistance of the surface of a brazing material layer by Ag in the surface vicinity of a brazing material layer. Further, since the Ag concentration in the vicinity of the surface of the brazing material layer is large, the color tone of the surface of the brazing material layer can be made closer to silver. Further, since Cu on the surface of the brazing material layer can be preferentially removed using an etching solution to which a Cu preferential removal agent is added, the concentration of Ag in the vicinity of the surface of the brazing material layer can be easily determined. It is possible to make Ag remain and concentrate in the vicinity of the surface of the brazing filler metal layer by making it larger than the concentration of Ag inside the layer.
  • the brazing material layer mainly contains Ag and Cu, and the etching solution of the wet etching is a surface of the brazing material layer.
  • a side brazing material comprising: an oxidizing agent that oxidizes, an oxide removing agent that removes the oxidized brazing material layer, water, and a Cu preferential removing agent that preferentially removes Cu on the surface of the brazing material layer
  • the process of removing the portion by wet etching is performed by preferentially removing Cu on the surface of the brazing filler metal layer using an etching solution, so that the concentration of Ag in the vicinity of the brazing filler metal layer surface is wet etched on the side brazing filler metal portion.
  • the step of making the concentration higher than the concentration of Ag in the brazing material layer before removal by the step is included.
  • the concentration of Ag in the vicinity of the surface of the brazing filler metal layer can be increased more than before the wet etching, so that the corrosion resistance of the surface of the brazing filler metal layer can be improved and the surface of the brazing filler metal layer can be improved. Can be brought closer to silver. Further, by using an etching solution to which a Cu preferential removal agent is added, the concentration of Ag in the vicinity of the surface of the brazing material layer is easily made larger than the concentration of Ag before the side brazing material portion is removed by wet etching. can do.
  • the Cu preferential removing agent is preferably composed of a strong acid.
  • the Ag oxide formed by the oxidant is difficult to remove, while the Cu oxide is easily removed. Therefore, the Cu preferential removal agent composed of the strong acid is used.
  • Cu oxide can be easily removed preferentially. As a result, Cu on the surface of the brazing material layer can be easily removed preferentially.
  • the Cu preferential removal agent is composed of a strong acid
  • the Cu preferential removal agent is composed of sulfuric acid, which is a strong acid. If comprised in this way, Cu of the surface of a brazing material layer can be removed preferentially more easily.
  • the sulfuric acid is preferably added to the etching solution so that the concentration thereof is 0.5 mass% or more of the entire etching solution. If constituted in this way, Cu on the surface of the brazing filler metal layer is surely preferentially removed, and the concentration of Ag in the vicinity of the surface of the brazing filler metal layer is made larger than the concentration of Ag in the brazing filler metal layer. Can do.
  • the etching solution includes an oxidizing agent, an oxide removing agent, water, and a Cu preferential removing agent, preferably before and after the step of removing the side brazing material portion by wet etching.
  • the solidus of the layer does not change substantially. If comprised in this way, it can suppress that temperature required in order to melt
  • the step of removing the side brazing filler metal portion by wet etching This also serves to remove the oxidized brazing filler metal layer remaining on the surface and clean it.
  • the process can be simplified, unlike a case where a process for removing the oxidized brazing filler metal layer remaining on the surface of the seal ring and cleaning it is provided separately.
  • the manufacturing method of the seal ring including the step of removing the side brazing material portion by wet etching, preferably, prior to the step of removing the side brazing material portion by wet etching, when the cladding material is punched into the shape of the seal ring
  • the method further includes the step of removing the minute projections of the formed base material layer, and the step of removing the side brazing filler metal portion by wet etching is a wet etching of the side brazing filler metal portion and the foreign matter adhering when the minute projections are removed.
  • the present invention it is possible to suppress the brazing material layer from excessively scooping up the side surface of the base material layer, so that the brazing material layer is scattered and stored in the electronic component storage package. It can suppress adhering to an electronic component.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line 400-400 in FIG.
  • FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view taken along line 400-400 in FIG.
  • It is sectional drawing which showed the structure of the electronic component storage package by 1st Embodiment of this invention.
  • It is a perspective view for demonstrating the manufacturing process of the seal ring by 1st Embodiment of this invention.
  • It is the expanded sectional view showing the seal ring after stamping in the manufacturing process of the seal ring by a 1st embodiment of the present invention.
  • the seal ring 1 As shown in FIG. 1, the seal ring 1 according to the first embodiment is formed in a rectangular frame shape in plan view.
  • the seal ring 1 has a length L1 of about 1.5 mm or more and about 2.0 mm or less in the longitudinal direction (X direction), and about 1.2 mm or more and about 1.6 mm or less in the short direction (Y direction).
  • the length L2 is formed.
  • the opening of the seal ring 1 has a length L3 of about 1.3 mm to about 1.6 mm in the X direction and a length L4 of about 0.9 mm to about 1.1 mm in the Y direction. Is formed.
  • the seal ring 1 has a base material layer 10 disposed on the upper side (Z1 side) and a brazing filler metal layer 11 disposed on the lower side (Z2 side). It is composed of a clad material.
  • the thickness t1 of the base material layer 10 in the Z direction is about 100 ⁇ m or more and about 130 ⁇ m or less
  • the thickness t2 of the brazing filler metal layer 11 is about 15 ⁇ m or more and about 30 ⁇ m or less.
  • the thickness t3 (t1 + t2) in the Z direction of the seal ring 1 is not less than about 115 ⁇ m and not more than about 160 ⁇ m.
  • the base material layer 10 is formed of an Fe—Ni—Co alloy mainly containing approximately 30% by mass of Ni, approximately 17% by mass of Co, and Fe.
  • the base material layer 10 has an upper surface 10a on the Z1 side, a lower surface 10b on the Z2 side joined to the brazing material layer 11, and a pair of side surfaces 10c.
  • the upper surface 10a, the lower surface 10b, and the pair of side surfaces 10c are all formed in a substantially flat surface shape.
  • the base material layer 10 further includes a pair of upper corner portions 10d that connect the upper surface 10a and the side surface 10c, and a pair of lower corner portions 10e that connect the lower surface 10b and the side surface 10c.
  • the upper corner portion 10d and the lower corner portion 10e are formed in a round shape having a sufficiently small radius of curvature.
  • the lower surface 10b is an example of the “one surface” in the present invention.
  • the brazing material layer 11 is formed of silver brazing mainly containing about 85% by mass of Ag and Cu.
  • the solid phase line of silver brazing constituting the brazing filler metal layer 11 (temperature at which part of the brazing filler metal layer 11 starts to melt) is about 780 ° C.
  • the brazing filler metal layer 11 has a Z1 side upper surface 11a joined to the base material layer 10, a Z2 side lower surface 11b, and a pair of side surfaces 11c. Both the upper surface 11a and the lower surface 11b are formed in a substantially flat surface shape.
  • the side surface 11 c is formed so as to be located slightly inside the side surface 10 c of the base material layer 10.
  • the brazing material layer 11 is a pair of a pair of upper corner portions 11d that connect the upper surface 11a and the side surface 11c on the base material layer 10 side, and a pair of the lower surface 11b and the side surface 11c that are opposite to the base material layer 10. And a lower corner portion 11e.
  • the upper corner portion 11 d is formed so as to be positioned on the lower corner portion 10 e of the base material layer 10. That is, the brazing filler metal layer 11 is formed up to substantially the center A of the lower corner portion 10 e of the base material layer 10, but is not formed on the side surface 10 c of the base material layer 10.
  • the upper corner portion 11 d is formed so as to be located inside the side surface 10 c of the base material layer 10, and is configured so as to be located inside the side surface 11 c of the brazing material layer 11.
  • the periphery of the boundary between the lower corner portion 10e of the base material layer 10 and the upper corner portion 11d of the brazing material layer 11 is recessed inward from the side surface 10c of the base material layer 10 and the side surface 11c of the brazing material layer 11. It is comprised so that it may become a shape.
  • the lower corner 11e is formed in a round shape having a sufficiently small radius of curvature.
  • the brazing filler metal layer 11 of the seal ring 1 is a side brazing filler metal portion 11f (described later) that covers at least the substantially flat side surface 10c of the base material layer 10 of the brazing filler metal layer 11. 7) is removed.
  • a specific manufacturing process of the seal ring 1 will be described later.
  • the electronic component storage package 100 includes a seal ring 1, a base 2 joined to the seal ring 1 below the seal ring 1 (Z2 side), and the seal ring 1. And a lid member 3 joined to the seal ring 1 above (Z1 side).
  • the base 2 is formed of ceramics such as alumina and is formed in a box shape.
  • the box-shaped base 2 is formed at the center of the base 2, and has a storage part 2 a to which an electronic component 5 such as a crystal resonator is attached via a bump 4, and a frame shape joined to the seal ring 1.
  • the upper surface 2b Further, the seal ring 1 and the upper surface 2 b of the base 2 are joined by a molten brazing material layer 11 of the seal ring 1.
  • a metallized layer made of W / Ni / Au may be provided on the upper surface 2 b of the base 2.
  • the lid member 3 is made of a plate member made of an Fe—Ni—Co alloy.
  • the lid member 3 and the base material layer 10 of the seal ring 1 are joined by seam welding.
  • a plating layer made of Ni / Au may be provided on the lid member 3.
  • the base 2 is formed slightly larger than the seal ring 1.
  • the lid member 3 is formed slightly smaller than the seal ring 1 and larger than the opening of the seal ring 1.
  • the base material layer 10 formed of an Fe—Ni—Co alloy and the lower surface 10b (see FIG. 6) of the base material layer 10 are joined, and about 85 mass% of Ag and Cu,
  • a clad material 200 including a brazing filler metal layer 11 mainly formed of silver brazing is prepared.
  • the thickness t1 (see FIG. 6) of the base material layer 10 is about 100 ⁇ m or more and about 130 ⁇ m or less
  • the thickness t4 (see FIG. 6) of the brazing material layer 11 in the Z direction is
  • the finished seal ring 1 is formed to have a thickness t6 (see FIG. 7) larger than the thickness t2 (see FIG. 3) of the brazing filler metal layer 11.
  • the thickness t5 (t1 + t4) in the Z direction of the clad material 200 is larger than the thickness t3 (t1 + t2, see FIG. 3) of the seal ring 1 by the thickness t6.
  • the clad material 200 is punched into the shape of the seal ring 1 (two-dot chain line). At this time, the clad material 200 is punched from the brazing material layer 11 side (Z2 side) along the thickness direction (Z direction). Thereby, the seal ring 1a punched in the shape of the seal ring 1 is formed.
  • a minute projection (burr) 10f is formed on the upper corner portion 10d of the base material layer 10 of the seal ring 1a.
  • a part of the minute protrusion 10f is formed at an acute angle so as to protrude upward (Z1 side) from the upper surface 10a of the base material layer 10.
  • a part of the brazing material layer 11 bonded to the lower surface 10 b of the base material layer 10 moves upward (Z1 side) so as to extend to the side surface 10 c of the base material layer 10.
  • the side brazing material portion 11 f connected to the brazing material layer 11 is formed on the side surface 10 c of the base material layer 10.
  • barrel polishing is performed to remove the minute protrusions 10f formed on the base material layer 10 of the seal ring 1a.
  • a plurality of seal rings 1a, a medium made of ceramics, a compound made of chemical powder, and water are put into the barrel.
  • the barrel is rotated at a predetermined speed for a predetermined time.
  • the fine protrusions 10f are removed, for example, when the medium collides with the fine protrusions 10f of the base material layer 10.
  • the seal ring 1a is taken out and washed.
  • the minute protrusions 10f of the base material layer 10 are removed, and the seal ring 1b is formed as shown in FIG.
  • the upper corner portion 10d of the base material layer 10 is shaped into a round shape having a sufficiently small radius of curvature.
  • the lower corner portion 11e of the brazing material layer 11 is also shaped into a slightly round shape.
  • the silver brazing forming the brazing filler metal layer 11 of the seal ring 1b has a small hardness, the surface (the lower surface 11b, the side surface 11c) of the foreign matter 6 made of media residue or the like is exposed to the outside of the brazing filler metal layer 11.
  • the lower corner portion 11e and the side brazing filler metal portion 11f are attached so as to be embedded.
  • wet etching is performed in order to remove the side brazing filler metal portion 11f formed on the brazing filler metal layer 11 of the seal ring 1b.
  • a plurality of seal rings 1b and an etching solution of about 10 ° C. or higher and about 30 ° C. or lower are charged into the barrel.
  • This etching solution is a stock solution in which an oxidizing agent formed by hydrogen peroxide, an oxide removing agent formed by acetic acid or ammonia, and water are mixed in a predetermined ratio, or water is further added to the stock solution. It is comprised from the dilution liquid which diluted this by the predetermined
  • the oxidizing agent has a function of oxidizing Ag and Cu contained in the brazing filler metal layer 11 (see FIG. 7) to form silver oxide and copper oxide, respectively.
  • the oxide remover has a function of dissolving and removing silver oxide and copper oxide of the brazing material layer 11. Note that the etching solution is configured so that the silver brazing of the brazing material layer 11 is easily etched and the Fe—Ni—Co alloy of the base material layer 10 (see FIG. 7) is difficult to be etched.
  • the barrel is rotated at a predetermined speed for a predetermined time.
  • the brazing filler metal layer 11 is isotropically removed, whereby the surface of the brazing filler metal layer 11 is removed by a thickness t6 (see FIG. 7).
  • the base material layer 10 is hardly removed.
  • the side brazing filler metal portion 11f located on the side surface 10c of the base material layer 10 and having a thickness t7 smaller than the thickness t6 is removed. That is, the portion of the brazing filler metal layer 11 (side brazing filler metal portion 11f) that covers at least the substantially flat side surface 10c of the base material layer 10 is removed. Further, the lower corner portion 11e of the brazing filler metal layer 11 is formed into a round shape by being exposed to the etching solution on both the lower surface 11b side and the side surface 11c side. Further, as the surface exposed to the outside of the brazing material layer 11 is removed, the foreign matter 6 attached to the exposed surface of the brazing material layer 11 is also removed. As a result, the shape of the brazing filler metal layer 11 is formed up to the approximate center A of the lower corner 10e of the base material layer 10 as shown by a two-dot chain line in FIG. The shape is not formed on the top.
  • the oxide (silver oxide and copper oxide) remaining on the surface of the brazing filler metal layer 11 is removed by washing with sulfuric acid or the like, and then washed with water (rinsing) and replaced with alcohol, whereby the seal ring 1 shown in FIG. Is manufactured.
  • the seal ring 1 is disposed on the upper surface 2b of the base 2 made of ceramics. At this time, the seal ring 1 is arranged so that the lower surface 11b of the brazing filler metal layer 11 of the seal ring 1 contacts the upper surface 2b. Then, the brazing filler metal layer 11 is melted at a brazing temperature equal to or higher than the solidus line of silver brazing (about 780 ° C.) forming the brazing filler metal layer 11. Thereby, the seal ring 1 is joined to the upper surface 2 b of the base 2 by the molten brazing material layer 11. At this time, the side brazing material portion 11 f (see FIG.
  • the electronic component 5 is attached to the storage portion 2 a of the base 2 through the bumps 4. Thereafter, seam welding is performed in a state in which the lid member 3 is in contact with the upper surface 10a of the base material layer 10. Thereby, the lid member 3 is welded to the upper surface 10 a of the seal ring 1.
  • the brazing filler metal layer 11 is not excessively positioned in the vicinity of the upper surface 10a of the base material layer 10
  • the brazing material layer 11 excessively positioned in the vicinity of the upper surface 10a of the base material layer 10 due to heat during seam welding. It is suppressed that a part spreads on the lower surface of the lid member 3.
  • part of the brazing material layer 11 is prevented from scattering from the lower surface of the lid member 3 to the electronic component 5.
  • the electronic component storage package 100 shown in FIG. 4 is manufactured.
  • the side brazing filler metal portion 11f formed on the brazing filler metal layer 11 of the seal ring 1b and covering at least the substantially flat side surface 10c of the base material layer 10 is removed by wet etching.
  • the brazing filler metal layer 11 of the seal ring 1 is melted and the base 2 of the electronic component storage package 100 and the seal ring 1 are joined, the brazing filler metal layer 11 is transferred to the side brazing filler metal portion 11f. It is possible to suppress the side 10c of the layer 10 from being crawled excessively.
  • the side surface 10c of the base material layer 10 is made smaller than when the side brazing filler metal portion 11f is removed by mechanical polishing or the like.
  • the small side brazing filler metal portion 11f that is covered can be reliably removed.
  • the brazing filler metal layer 11 is isotropically removed to remove the side brazing filler metal portion 11f and the lower corner portion 11e of the brazing filler metal layer 11 is formed in a round shape. Accordingly, it is not necessary to perform a complicated etching process in order to selectively remove the side brazing filler metal portion 11f, so that the side brazing filler metal portion 11f can be easily removed. Further, since the lower corner portion 11e of the brazing filler metal layer 11 has a round shape and does not have a sharp shape, when the lower corner portion 11e of the sharp brazing filler metal layer 11 comes into contact with another member, the other member Can be suppressed.
  • the brazing filler metal layer 11 is easily etched, and the Fe—Ni—Co alloy of the base layer 10 is not easily etched.
  • the material layer 11 can be selectively etched.
  • the base material layer 10 is formed with the Fe-Ni-Co alloy which mainly contains about 30 mass% Ni, about 17 mass% Co, and Fe, and brazing material layer 11 is formed.
  • a silver brazing mainly containing about 85% by mass of Ag and Cu is formed, and an etching solution is formed by using an oxidizing agent formed by hydrogen peroxide, an oxide removing agent formed by acetic acid or ammonia, water, Is a stock solution mixed at a predetermined rate, or a diluted solution obtained by further diluting the stock solution by adding water.
  • the brazing filler metal layer 11 formed of silver brazing can be selectively etched to effectively remove the side brazing filler metal portion 11f.
  • the side surface brazing material portion is removed by removing the foreign matter 6 attached to the surface of the brazing material layer 11 as the surface exposed to the outside of the brazing material layer 11 is removed by wet etching. Since the foreign material 6 is simultaneously removed during the wet etching for removing 11f, the process can be simplified, unlike the case where a step for removing the foreign material 6 is separately provided.
  • etching solution a stock solution was prepared in which acetic acid water containing 25% by mass of acetic acid, hydrogen peroxide water containing 35% by mass of hydrogen peroxide, and water were mixed at a volume ratio of 1: 5: 4. . Thereafter, a 1: 1 diluted solution in which the volume ratio of the stock solution to water was 1: 1 was prepared as an etching solution.
  • a side brazing material portion was formed so as to cover the side surface of the base material layer.
  • a plurality of foreign matters due to barrel polishing adhered to the surface of the brazing material layer.
  • a part of the side brazing material portion covering the side surface of the base material layer is removed, and foreign matter is not observed. This is presumably because the foreign material adhering to the surface portion from which the brazing material layer was removed also moved into the etching solution as the brazing material layer was removed isotropically.
  • the removal time of the side brazing filler metal portion increases as the ratio of water is increased to dilute the etching solution.
  • the removal time of the side brazing filler metal portion was shortened as the temperature of the etching solution was increased in the etching solution composed of the 1: 1 diluted solution containing the stock solution.
  • ammonia water containing 35% by mass of ammonia, hydrogen peroxide containing 35% by mass of hydrogen peroxide, and water are mixed at a volume ratio of 1: 1: 1.
  • a prepared ammonia stock solution was prepared. Thereafter, a 1: 4 diluted solution in which the volume ratio of the ammonia stock solution to water was 1: 4 was prepared as an etching solution. It was confirmed that the side brazing filler metal portion was removed even when wet etching was performed using an etching solution containing this ammonia stock solution.
  • the surface roughness of the surface of the base material layer and the surface of the brazing material layer before and after wet etching was measured.
  • the arithmetic average roughness Ra and the maximum height roughness Rz of the surface of the base material layer and the surface of the brazing material layer were measured using a laser microscope (VK-8700, manufactured by Keyence Corporation).
  • VK-8700 manufactured by Keyence Corporation
  • the surface roughness of the surface of the base material layer and the surface of the brazing material layer hardly changed before and after wet etching.
  • the surface of the base material layer and the surface of the brazing material layer are hardly roughened by wet etching.
  • the seal ring 1 of Example 1 and the seal ring 1b of Comparative Example 1 are brought into contact with the Fe—Ni—Co alloy plate 8 on which Ni plating and Au plating are laminated, and the brazing material layer 11. Arranged. Then, the brazing filler metal layer 11 is melted at a brazing temperature equal to or higher than the solid phase line (about 780 ° C.) of the silver brazing forming the brazing filler metal layer 11, and the seal ring 1 (1b) and the Fe—Ni—Co alloy plate 8 are melted. And were joined. Thereafter, the molten state of the brazing filler metal layer 11 was observed using a scanning electron microscope.
  • the brazing material layer 11 As the molten state of the brazing material layer shown in FIGS. 10 and 11, in Example 1 shown in FIG. 10, the brazing material layer 11 hardly crawls up on both side surfaces 10 c of the base material layer 10.
  • the scooping portion 11g of the brazing material layer 11 is formed so as to cover more than half of both side surfaces 10c of the base material layer 10 and to extend to the vicinity of the upper surface 10a of the side surface 10c. .
  • the amount of creeping of the brazing filler metal layer 11 in Example 1 is sufficiently smaller than the amount of creeping of the brazing filler metal layer 11 in Comparative Example 1, and the brazing filler metal layer 11 in Example 1 is the upper surface of the side surface 10c.
  • the brazing filler metal layer 11 of the seal ring 1 was melted on the Fe—Ni—Co alloy plate 8 on which Ni plating and Au plating were laminated.
  • the brazing filler metal layer 11 of the seal ring 1 is melted on the upper surface 2a (see FIG. 4) of the base 2 made of ceramics, the brazing filler metal layer 11 is considered to be in the same molten state.
  • the concentration of Ag in the vicinity of the surface of the brazing material layer 311 is higher than the concentration of Ag in the interior 11 g of the brazing material layer 311. The case where it is large will be described.
  • the seal ring 301 according to the second embodiment differs from the first embodiment in that the surface of the brazing filler metal layer 311 (the lower surface 11b, the pair of side surfaces 11c, the pair of upper corner portions 11d and the pair of lower corner portions 11e) and The concentration of Ag in the vicinity thereof is configured to be about 90% by mass or more. This concentration is higher than the Ag concentration (about 85% by mass) of the brazing material itself (the brazing material before wet etching) of the brazing material layer 311 and the Ag concentration (about 85% by mass) in the inner 11g of the brazing material layer 311. It is comprised so that it may become.
  • the structure of the other seal ring 301 of 2nd Embodiment is the same as that of the said 1st Embodiment.
  • a base material layer 10 formed of an Fe—Ni—Co alloy and a silver solder mainly containing about 85 mass% of Ag and Cu are used.
  • a seal ring 1 a punched into the shape of the seal ring 1 is formed from the clad material 200 including the formed brazing material layer 11.
  • barrel polishing is performed to remove the fine protrusions 10f formed on the base material layer 10 of the seal ring 1a, and as shown in FIG. 7, the seal ring 1b from which the fine protrusions 10f of the base material layer 10 are removed.
  • wet etching is performed to remove the side brazing filler metal portion 11f formed in the brazing filler metal layer 11 of the seal ring 1b. Specifically, a plurality of seal rings 1b and an etching solution of about 10 ° C. or higher and about 30 ° C. or lower are charged into the barrel.
  • a stock solution in which an oxidizing agent formed by hydrogen peroxide, an oxide removing agent formed by acetic acid or ammonia, and water are mixed at a predetermined ratio, or water is used. Furthermore, unlike the first embodiment in which a diluted solution obtained by diluting the stock solution at a predetermined ratio is used as an etching solution, a solution obtained by adding a strong acid made of dilute sulfuric acid to the stock solution or the diluted solution is used as an etching solution. Use. The diluted sulfuric acid is added to the etching solution so that the concentration of the diluted sulfuric acid is about 0.5% by mass or more of the entire etching solution.
  • the diluted sulfuric acid it is preferable to add the diluted sulfuric acid to the etching solution so that the concentration of the diluted sulfuric acid is about 0.5% by mass or more and 1.0% by mass or less of the entire etching solution, More preferably, it is added to the etching solution so as to have a concentration of not less than 1.0% and not more than 1.0% by mass.
  • This dilute sulfuric acid has a function of preferentially removing copper oxide among oxides (silver oxide and copper oxide) of the brazing filler metal layer 311 (see FIG. 3) formed of hydrogen peroxide.
  • copper oxide is preferentially removed from the silver oxide by sulfuric acid on the surface of the brazing filler metal layer 311 (the lower surface 11b, the pair of side surfaces 11c, the pair of upper corner portions 11d, and the pair of lower corner portions 11e). Since it is consumed, the oxidation rate of Cu increases with the removal rate of copper oxide. As a result, Cu is preferentially removed.
  • the barrel is rotated at a predetermined speed for a predetermined time.
  • the brazing filler metal layer 311 is isotropically removed while the base material layer 10 is hardly removed.
  • Cu in the vicinity of the surface of the brazing material layer 311 is preferentially removed, and the concentration of Ag in the vicinity of the surface of the brazing material layer 311 becomes about 90 mass% or more.
  • the concentration of Ag in the vicinity of the surface of the brazing material layer 311 increases.
  • the solidus line of silver brazing (the temperature at which a part of the brazing material layer 311 starts to melt) before and after the wet etching does not substantially change at about 780 ° C. That is, although the Ag concentration in the vicinity of the surface of the brazing material layer 311 is increased, the solidus line of the silver brazing does not substantially change at about 780 ° C.
  • the oxide (silver oxide and copper oxide) remaining on the surface of the brazing material layer 311 is almost removed in the wet etching, unlike the first embodiment, the oxidation remaining on the surface of the brazing material layer 311.
  • Direct washing with water (rinsing) and substitution with alcohol are performed without performing the step of removing the product by washing with sulfuric acid or the like. Thereby, the seal ring 301 shown in FIG. 3 is manufactured.
  • the side brazing filler metal portion 11f formed on the brazing filler metal layer 311 of the seal ring 1b and covering at least the substantially flat side surface 10c of the base material layer 10 is removed by wet etching.
  • the brazing material layer 311 from creeping up the side surface 10c of the base material layer 10 excessively along the side brazing material portion 11f.
  • a Cu solution near the surface of the brazing filler metal layer 311 is used by using, as an etchant, a solution obtained by adding a strong acid composed of dilute sulfuric acid having a concentration of about 0.5 mass% or more to the stock solution or the diluted solution.
  • a strong acid composed of dilute sulfuric acid having a concentration of about 0.5 mass% or more to the stock solution or the diluted solution.
  • the Ag concentration (about 85% by mass) of the brazing material itself (the brazing material before wet etching) of the brazing material layer 311 and the concentration of Ag in the inner 11 g of the brazing material layer 311 about By increasing the Ag concentration in the vicinity of the surface of the brazing filler metal layer 311 to 85% by mass), Ag has more corrosion resistance than Cu.
  • the corrosion resistance of the surface of the brazing material layer 311 can be further improved. Further, since the Ag concentration in the vicinity of the surface of the brazing material layer 311 is large, the color tone of the surface of the brazing material layer 311 can be made closer to silver. Moreover, since Cu on the surface of the brazing filler metal layer 311 can be preferentially removed using an etching solution to which a Cu preferential removal agent is added, the concentration of Ag in the vicinity of the surface of the brazing filler metal layer 311 can be easily set. It is possible to make Ag remain and concentrate near the surface of the brazing material layer 311 by making it larger than the concentration of Ag in the inside 11 g of the brazing material layer 311.
  • the Cu oxide can be reliably removed preferentially. It is easy to preferentially remove Cu on the surface of the brazing material layer 311.
  • the silver brazing solid line (brazing filler metal) constituting the brazing brazing filler metal layer 311 is used.
  • the temperature at which a part of the layer 311 starts to melt) can be configured to hardly change at about 780 ° C., so that the brazing filler metal layer 311 has a higher solidus (about 780 ° C.). An increase in the temperature required to melt the layer 311 can be suppressed.
  • a process for removing silver oxide and copper oxide remaining on the surface of the heel seal ring 311 and cleaning (generally, the surface of the seal ring 311 is cleaned with sulfuric acid). Since it is not necessary to separately provide a cleaning step), the step can be simplified.
  • Example 2 acetic acid water containing 25% by mass of acetic acid, hydrogen peroxide water containing 35% by mass of hydrogen peroxide, and water were used at 1: 5: 4.
  • a stock solution mixed at a volume ratio was prepared.
  • a 1: 4 diluted solution in which the volume ratio of the stock solution to water was 1: 4 was prepared as an etching solution.
  • the seal ring 1b and the etching solution were put into the barrel, and the barrel was rotated at a predetermined speed, and then cleaning and the like were performed. This obtained the seal ring 1 (refer FIG. 3) of Example 2.
  • FIG. 3 the seal ring 1 (refer FIG. 3) of Example 2.
  • Example 3 a solution obtained by adding dilute sulfuric acid as a strong acid to the 1: 4 diluted solution was used as an etching solution. In that case, it adjusted so that the density
  • the concentration of Cu is higher after wet etching than before wet etching (Comparative Example 2).
  • the concentration of Ag was reduced. This is because with acetic acid (oxide remover) alone, the rate at which Ag oxide (silver oxide) is removed is faster than the rate at which Cu oxide (copper oxide) is removed, and Ag is relatively low. This is probably because it was removed preferentially.
  • the concentration of Cu and Ag in the depth direction of the brazing filler metal layer is determined by an Auger electron spectrometer. It was measured.
  • the concentration of Ag gradually increased from the inside of the brazing material layer toward the surface.
  • the concentration of Cu gradually decreased from the inside of the brazing material layer toward the surface. From this result, by adding sulfuric acid to the etching solution, Cu on the surface of the brazing filler metal layer can be removed preferentially. As a result, the concentration of Ag in the vicinity of the surface of the brazing filler metal layer can be reduced. It has been found that Ag can be retained and concentrated at the surface of the brazing filler metal layer above the concentration.
  • the solidus became slightly higher as the concentration of sulfuric acid added to the etching solution increased.
  • the solidus lines of the brazing material layers of Examples 3 to 6 were within 1.5 ° C. (776.1 ° C.) of the solidus line (776.0 ° C.) of the brazing material layer before wet etching (Comparative Example 2). (Example 4) It is above 777.4 degreeC (Example 6) or less), and it is thought that there is almost no temperature difference. As a result, it was confirmed that the solidus line of the brazing material layer hardly changed before and after wet etching.
  • Example 3 the oxygen concentration on the surface of the brazing filler metal layer was smaller than in Comparative Example 2.
  • wet etching is performed using an etching solution to which 0.7% by mass of sulfuric acid is added as in Example 3, compared with the case where wet etching is not performed as in Comparative Example 2, wet etching is performed. It was later found that oxidation of the surface of the brazing material layer was suppressed. This is because in the seal ring 301 of Example 3, Ag that is relatively less oxidized than Cu that is relatively easily oxidized is present on the surface of the brazing filler metal layer, and the oxidation of the surface of the brazing filler metal layer is suppressed. It is thought that. From this result, by performing wet etching using an etching solution to which sulfuric acid is added as in Example 3, it is possible to suppress the oxidation of the surface of the brazing filler metal layer. It has been found that the corrosion resistance can be improved.
  • the side brazing filler metal portion 11f of the brazing filler metal layer 11 is removed by wet etching
  • the present invention is not limited to this.
  • the side brazing material portion may be removed by a method other than wet etching such as dry etching.
  • the brazing material layer 11 showed the example formed to the approximate center A of the lower side corner
  • this invention is not limited to this.
  • the brazing material layer may be formed on the lower corner of the base material layer and up to the region near the side surface of the base material layer. Further, the brazing material layer may be formed only on the lower surface of the base material layer without being formed on the lower corner portion of the base material layer.
  • an oxidant formed by hydrogen peroxide, an oxide remover formed by acetic acid or ammonia, and water are mixed at a predetermined ratio.
  • an oxidizing agent other than hydrogen peroxide may be used, and an acid or base other than acetic acid or ammonia may be used as the oxide removing agent.
  • ammonium fluoride may be used as an oxide remover.
  • an example using an etching solution in which the silver brazing of the brazing material layer 11 is easily etched and the Fe—Ni—Co alloy of the base material layer 10 is not easily etched is shown.
  • the present invention is not limited to this.
  • an etchant that etches the Fe—Ni—Co alloy of the base material layer to some extent may be used. Thereby, it is possible to omit the step of performing barrel polishing for removing the minute protrusions or to shorten the time for performing barrel polishing.
  • examples using silver brazing mainly containing about 85% by mass of Ag and Cu are shown, but the present invention is not limited to this.
  • a silver solder mainly containing about 72% by mass of Ag and Cu may be used.
  • a brazing material containing Sn other than Ag and Cu may be used. In this case, since the solidus line of the brazing material can be reduced, the brazing temperature can be lowered.
  • the brazing material includes Sn, it is preferable to include Sn in an amount of about 6% by mass or less in order to prevent the rolling from becoming difficult when forming the clad material.
  • the strong acid composed of dilute sulfuric acid is used as the solution added to the stock solution or the diluent, but the present invention is not limited to this.
  • a strong acid other than sulfuric acid such as hydrochloric acid may be added to the stock solution or the diluted solution.
  • a solution other than a strong acid may be used as the Cu preferential removal agent.

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Abstract

　このシールリング（１）は、基材層（１０）と、基材層の一方表面（１０ｂ）に配置されたろう材層（１１）とが接合されたクラッド材から構成され、ろう材層のうちの基材層の側面（１０ｃ）を覆う側面ろう材部分（１１ｆ）が除去されている。

Description

シールリングおよびシールリングの製造方法
　この発明は、電子部品収納用パッケージに用いられるシールリングおよびシールリングの製造方法に関する。
　従来、電子部品収納用パッケージに用いられるシールリングなどが知られている。たとえば、特開２００６－４９５９５号公報には、Ｆｅ-Ｎｉ-Ｃｏ合金板からなる基材の一方表面上に、Ａｇ、ＣｕおよびＳｎを含む銀系ろう材粉末とメディアとの混合物からなるペーストを塗布した後、焼成等を行うことによって、Ｆｅ-Ｎｉ-Ｃｏ合金からなる基材層と銀系ろう材層とを含む銀ろうクラッド材を形成する。その後、銀ろうクラッド材をリング状に打ち抜き加工することによって、リング体（シールリング）を形成する方法が開示されている。
　ここで、銀ろうクラッド材をリング状に打ち抜き加工する際には、基材層の銀系ろう材層側の表面に、銀系ろう材層側に突出するように微小突起（バリ）が形成されると、リング体の銀系ろう材層を溶融させて電子部品収納用パッケージの基台とリング体とを接合した際に、微小突起に起因して基材層の銀系ろう材層側の表面と基台との間隔が大きくなる。この結果、リング体と基台との間に隙間が生じやすくなるため、リング体と基台とを用いて電子部品収納用パッケージを形成した場合には、電子部品収納用パッケージの気密性が十分に保たれないという問題点がある。したがって、銀ろうクラッド材をリング状に打ち抜き加工する際には、基材層側に突出するように微小突起を形成させる。
特開２００６－４９５９５号公報
　しかしながら、特開２００６－４９５９５号公報に開示されたリング体が、基材層側に微小突起を突出させるように打ち抜き加工されて形成される場合には、銀系ろう材層が延伸して基材層の側面を覆うように配置される。このため、リング体の銀系ろう材層を溶融させて基台とリング体とを接合した際に、基材層の側面を覆う銀系ろう材層を伝って銀系ろう材層が基材層の側面を過度に這い上がるという不都合がある。この結果、リング体と蓋材とを用いて電子部品収納用パッケージを形成した場合には、電子部品収納用パッケージの製造時の熱により過度に這い上がった銀系ろう材層が蓋材に広がってしまう。この結果、蓋材に広がった銀系ろう材層が蓋材から飛散して、電子部品収納用パッケージに収納された電子部品に付着してしまうという問題点があると考えられる。
　この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、ろう材層が基材層の側面を過度に這い上がることを抑制することによって、ろう材層が飛散して電子部品に付着することを抑制することが可能なシールリングおよびシールリングの製造方法を提供することである。
　この発明の第１の局面によるシールリングは、電子部品収納用パッケージに用いられるシールリングであって、基材層と、基材層の一方表面に配置されたろう材層とが接合されたクラッド材から構成され、ろう材層のうちの基材層の側面を覆う側面ろう材部分が除去されている。
　この発明の第１の局面によるシールリングでは、上記のように、ろう材層のうちの基材層の側面を覆う側面ろう材部分を除去することによって、シールリングのろう材層を溶融させる際に、側面ろう材部分を伝ってろう材層が基材層の側面を過度に這い上がることを抑制することができる。これにより、電子部品収納用パッケージの製造の熱などによりろう材層が飛散して、電子部品収納用パッケージに収納された電子部品に付着することを抑制することができる。
　上記第１の局面によるシールリングにおいて、好ましくは、基材層は、基材層の一方表面と略平坦面状に形成された側面とを接続する丸形状の角部を含み、ろう材層のうちの略平坦面状の側面を覆う側面ろう材部分が少なくとも除去されている。このように構成すれば、略平坦面状の側面を覆う側面ろう材部分が除去されているので、ろう材層が基材層の側面を過度に這い上がることをより抑制することができる。なお、「略平坦面状に形成された側面」には、平坦面状の側面だけでなく、微小な凹凸が形成されている側面や、丸形状の角部の曲率半径よりも十分に大きな曲率半径を有するような側面などの実質的に略平坦面状とみなすことが可能な側面も含まれる。
　上記第１の局面によるシールリングにおいて、好ましくは、基材層は、ＦｅとＮｉとＣｏとを主に含み、ろう材層は、ＡｇとＣｕとを主に含む。このようにＦｅとＮｉとＣｏとを主に含む基材層と、ＡｇとＣｕとを主に含むろう材層とが接合されたクラッド材から構成されたシールリングにおいて、ろう材層のうちの基材層の側面を覆う側面ろう材部分を除去することによって、側面ろう材部分を伝ってろう材層が基材層の側面を過度に這い上がることを抑制することができる。
　上記第１の局面によるシールリングにおいて、好ましくは、ろう材層は、ＡｇとＣｕとを主に含み、ろう材層の表面近傍におけるＡｇの濃度は、ろう材層の内部におけるＡｇの濃度よりも大きい。このように構成すれば、ＡｇはＣｕに比べて耐食性を有するので、ろう材層の表面近傍におけるＡｇによりろう材層の表面の耐食性を向上させることができる。また、ろう材層の表面近傍におけるＡｇの濃度が大きいことにより、ろう材層の表面の色調を銀色に近づけることができる。
　この発明の第２の局面によるシールリングの製造方法は、電子部品収納用パッケージに用いられるシールリングの製造方法であって、基材層と基材層の一方表面に接合されるろう材層とのクラッド材を準備する工程と、クラッド材をシールリングの形状に打ち抜く工程と、クラッド材をシールリングの形状に打ち抜く際にろう材層が延伸して形成された、ろう材層のうちの基材層の側面を覆う側面ろう材部分を除去する工程とを備える。
　この発明の第２の局面によるシールリングの製造方法では、上記のように、クラッド材をシールリングの形状に打ち抜く際にろう材層が延伸して形成された、ろう材層のうちの基材層の側面を覆う側面ろう材部分を除去する工程を備えることによって、シールリングのろう材層を溶融させる際に、側面ろう材部分を伝ってろう材層が基材層の側面を過度に這い上がることを抑制することができる。これにより、電子部品収納用パッケージの製造時の熱などによりろう材層が飛散して、電子部品収納用パッケージに収納された電子部品に付着することを抑制することができる。
　上記第２の局面によるシールリングの製造方法において、好ましくは、基材層は、基材層の一方表面と略平坦面状に形成された側面とを接続する丸形状の角部を含み、側面ろう材部分を除去する工程は、ろう材層のうちの略平坦面状の側面を覆う側面ろう材部分を少なくとも除去する工程を含む。このように構成すれば、略平坦面状の側面を覆う側面ろう材部分が除去されるので、ろう材層が基材層の側面を過度に這い上がることをより抑制することができる。
　上記第２の局面によるシールリングの製造方法において、好ましくは、側面ろう材部分を除去する工程は、側面ろう材部分をウェットエッチングにより除去する工程を含む。このように構成すれば、機械研磨などにより側面ろう材部分を除去する場合と比べて、基材層の側面を覆う微小な側面ろう材部分を確実に除去することができる。
　この場合、好ましくは、側面ろう材部分をウェットエッチングにより除去する工程は、ろう材層をウェットエッチングにより等方的に除去することにより、側面ろう材部分を除去する工程を含む。このように構成すれば、側面ろう材部分を選択的に除去するために複雑なエッチング処理を行う必要がないので、側面ろう材部分を容易に除去することができる。
　上記側面ろう材部分をウェットエッチングにより等方的に除去する工程を含むシールリングの製造方法において、好ましくは、ろう材層をウェットエッチングにより等方的に除去する工程は、ウェットエッチングにより、側面ろう材部分を除去するとともに、ろう材層の角部を丸形状に形成する工程を含む。このように構成すれば、ろう材層の角部の丸形形状になり尖った形状でなくなるので、尖ったろう材層の角部が他の部材などに接触した際に、他の部材を傷つけることを抑制することができる。
　上記側面ろう材部分をウェットエッチングにより除去する工程を含むシールリングの製造方法において、好ましくは、側面ろう材部分をウェットエッチングにより除去する工程は、ろう材層がエッチングされやすく、かつ、基材層がエッチングされにくいエッチング液を用いて、側面ろう材部分を除去する工程を含む。このように構成すれば、容易に、ろう材層を選択的にエッチングすることができる。
　上記ろう材層がエッチングされやすいエッチング液を用いて側面ろう材部分を除去する工程を含むシールリングの製造方法において、好ましくは、基材層は、ＦｅとＮｉとＣｏとを主に含み、ろう材層は、ＡｇとＣｕとを主に含み、エッチング液は、ろう材層の表面を酸化させる酸化剤と、酸化されたろう材層を除去する酸化物除去剤と、水とを少なくとも含む。このように構成すれば、ＡｇとＣｕとを主に含むろう材層を選択的にエッチングして側面ろう材部分を確実に除去することができる。
　上記エッチング液が酸化剤と、酸化物除去剤と、水とを含むシールリングの製造方法において、好ましくは、エッチング液は、過酸化水素により構成される酸化剤と、酢酸により構成される酸化物除去剤と、水とを少なくとも含む。このように構成すれば、ＡｇとＣｕとを主に含むろう材層をより選択的にエッチングして側面ろう材部分をより確実に除去することができる。
　上記側面ろう材部分をウェットエッチングにより除去する工程を含むシールリングの製造方法において、好ましくは、ろう材層は、ＡｇとＣｕとを主に含み、ウェットエッチングのエッチング液は、ろう材層の表面を酸化させる酸化剤と、酸化されたろう材層を除去する酸化物除去剤と、水と、ろう材層の表面のＣｕを優先的に除去するためのＣｕ優先除去剤とを含み、側面ろう材部分をウェットエッチングにより除去する工程は、エッチング液を用いてろう材層の表面におけるＣｕを優先的に除去することにより、ろう材層の表面近傍におけるＡｇの濃度を、ろう材層の内部におけるＡｇの濃度よりも大きくする工程を含む。このように構成すれば、ＡｇはＣｕに比べて耐食性を有するので、ろう材層の表面近傍におけるＡｇによりろう材層の表面の耐食性を向上させることができる。また、ろう材層の表面近傍におけるＡｇの濃度が大きいことにより、ろう材層の表面の色調を銀色に近づけることができる。また、Ｃｕ優先除去剤が添加されたエッチング液を用いてろう材層の表面におけるＣｕを優先的に除去することができるので、容易に、ろう材層の表面近傍におけるＡｇの濃度を、ろう材層の内部におけるＡｇの濃度よりも大きくして、ろう材層の表面近傍においてＡｇを残留および濃化させることができる。
　上記側面ろう材部分をウェットエッチングにより除去する工程を含むシールリングの製造方法において、好ましくは、ろう材層は、ＡｇとＣｕとを主に含み、ウェットエッチングのエッチング液は、ろう材層の表面を酸化させる酸化剤と、酸化されたろう材層を除去する酸化物除去剤と、水と、ろう材層の表面のＣｕを優先的に除去するためのＣｕ優先除去剤とを含み、側面ろう材部分をウェットエッチングにより除去する工程は、エッチング液を用いてろう材層の表面におけるＣｕを優先的に除去することにより、ろう材層の表面近傍におけるＡｇの濃度を、側面ろう材部分をウェットエッチングにより除去する前のろう材層におけるＡｇの濃度よりも大きくする工程を含む。このように構成すれば、ウェットエッチング前よりもろう材層の表面近傍におけるＡｇの濃度を大きくすることができるので、ろう材層の表面の耐食性を向上させることができるとともに、ろう材層の表面の色調を銀色に近づけることができる。また、Ｃｕ優先除去剤が添加されたエッチング液を用いることによって、容易に、ろう材層の表面近傍におけるＡｇの濃度を、側面ろう材部分をウェットエッチングにより除去する前のＡｇの濃度よりも大きくすることができる。
　上記エッチング液が酸化剤と、酸化物除去剤と、水と、Ｃｕ優先除去剤とを含むシールリングの製造方法において、好ましくは、Ｃｕ優先除去剤は、強酸により構成されている。このように構成すれば、強酸を用いた場合、酸化剤により形成されたＡｇの酸化物は除去されにくい一方、Ｃｕの酸化物は除去されやすいので、強酸により構成されているＣｕ優先除去剤を用いることによって、容易に、Ｃｕの酸化物を優先的に除去することができる。この結果、容易に、ろう材層の表面のＣｕを優先的に除去することができる。
　上記Ｃｕ優先除去剤が強酸により構成されているシールリングの製造方法において、好ましくは、Ｃｕ優先除去剤は、強酸である硫酸により構成されている。このように構成すれば、より容易に、ろう材層の表面のＣｕを優先的に除去することができる。
　上記Ｃｕ優先除去剤が硫酸により構成されているシールリングの製造方法において、好ましくは、エッチング液には、硫酸がエッチング液全体の０．５質量％以上の濃度になるように添加されている。このように構成すれば、確実にろう材層の表面のＣｕを優先的に除去して、ろう材層の表面近傍におけるＡｇの濃度を、ろう材層の内部におけるＡｇの濃度よりも大きくすることができる。
　上記エッチング液が酸化剤と、酸化物除去剤と、水と、Ｃｕ優先除去剤とを含むシールリングの製造方法において、好ましくは、側面ろう材部分をウェットエッチングにより除去する工程の前後でろう材層の固相線は略変化しない。このように構成すれば、ろう材層の固相線が高くなることに起因してろう材層を融解させるのに必要な温度が高くなることを抑制することができる。
　上記エッチング液が酸化剤と、酸化物除去剤と、水と、Ｃｕ優先除去剤とを含むシールリングの製造方法において、好ましくは、側面ろう材部分をウェットエッチングにより除去する工程は、シールリングの表面に残った酸化されたろう材層を取り除いて洗浄する工程を兼ねる。このように構成すれば、シールリングの表面に残った酸化されたろう材層を取り除いて洗浄するための工程を別途設ける場合と異なり、工程を簡略化することができる。
　上記側面ろう材部分をウェットエッチングにより除去する工程を含むシールリングの製造方法において、好ましくは、側面ろう材部分をウェットエッチングにより除去する工程に先立って、クラッド材をシールリングの形状に打ち抜く際に形成された基材層の微小突起を除去する工程をさらに備え、側面ろう材部分をウェットエッチングにより除去する工程は、側面ろう材部分と、微小突起を除去する際に付着する異物とをウェットエッチングにより除去する工程を含む。このように構成すれば、側面ろう材部分の除去のためのウェットエッチング時に同時に異物が除去されるので、異物を除去する工程を別途設ける場合と異なり、工程を簡略化することができる。
　本発明によれば、上記のように、ろう材層が基材層の側面を過度に這い上がることを抑制することができるので、ろう材層が飛散して電子部品収納用パッケージに収納された電子部品に付着することを抑制することができる。
本発明の第１実施形態によるシールリングの構成を示した上面図である。 図１の４００－４００線に沿った断面図である。 図１の４００－４００線に沿った拡大断面図である。 本発明の第１実施形態による電子部品収納用パッケージの構成を示した断面図である。 本発明の第１実施形態によるシールリングの製造プロセスを説明するための斜視図である。 本発明の第１実施形態によるシールリングの製造プロセスにおける打ち抜き加工後のシールリングを示した拡大断面図である。 本発明の第１実施形態によるシールリングの製造プロセスにおけるバレル研磨後のシールリングを示した拡大断面図である。 本発明の第１実施形態による電子部品収納用パッケージの製造プロセス（シールリングと基台との接合前）を説明するための断面図である。 本発明の第１実施形態による電子部品収納用パッケージの製造プロセス（シールリングと基台との接合後）を説明するための断面図である。 本発明の第１実施形態の効果を確認するために行った実施例１におけるろう材層の溶融状態を示した拡大断面図である。 本発明の第１実施形態の効果を確認するために行った比較例１におけるろう材層の溶融状態を示した拡大断面図である。 本発明の第２実施形態の効果を確認するために行ったろう材層の表面でのＣｕおよびＡｇの濃度を測定した結果を示した図である。 本発明の第２実施形態の効果を確認するために行ったろう材層の深さ方向でのＣｕおよびＡｇの濃度を測定した結果を示した図である。 本発明の第２実施形態の効果を確認するために行ったろう材層の固相線を測定した結果を示した図である。 本発明の第２実施形態の効果を確認するために行った恒温恒湿試験後のろう材層の表面でのＯ（酸素）、ＣｕおよびＡｇの濃度を測定した結果を示した図である。
　以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。
　（第１実施形態）
　まず、図１～図３を参照して、本発明の第１実施形態によるシールリング１の構造を説明する。
　第１実施形態によるシールリング１は、図１に示すように、平面的に見て、長方形の枠状に形成されている。このシールリング１は、長手方向（Ｘ方向）に約１．５ｍｍ以上約２．０ｍｍ以下の長さＬ１で、かつ、短手方向（Ｙ方向）に約１．２ｍｍ以上約１．６ｍｍ以下の長さＬ２の大きさに形成されている。また、シールリング１の開口部は、Ｘ方向に約１．３ｍｍ以上約１．６ｍｍ以下の長さＬ３で、かつ、Ｙ方向に約０．９ｍｍ以上約１．１ｍｍ以下の長さＬ４の大きさに形成されている。
　また、シールリング１は、図２および図３に示すように、上側（Ｚ１側）に配置された基材層１０と下側（Ｚ２側）に配置されたろう材層１１とが圧接接合されたクラッド材から構成されている。なお、図３に示すように、基材層１０のＺ方向の厚みｔ１は、約１００μｍ以上約１３０μｍ以下であり、ろう材層１１のＺ方向の厚みｔ２は、約１５μｍ以上約３０μｍ以下であり、シールリング１のＺ方向の厚みｔ３（ｔ１＋ｔ２）は、約１１５μｍ以上約１６０μｍ以下である。
　基材層１０は、約３０質量％のＮｉと、約１７質量％のＣｏと、Ｆｅとを主に含むＦｅ-Ｎｉ-Ｃｏ合金により形成されている。また、基材層１０は、Ｚ１側の上面１０ａと、ろう材層１１と接合されたＺ２側の下面１０ｂと、一対の側面１０ｃとを有している。上面１０ａ、下面１０ｂおよび一対の側面１０ｃは、共に略平坦面状に形成されている。また、基材層１０は、上面１０ａと側面１０ｃとを接続する一対の上側角部１０ｄと、下面１０ｂと側面１０ｃとを接続する一対の下側角部１０ｅとをさらに有している。上側角部１０ｄおよび下側角部１０ｅは、十分に小さい曲率半径を有する丸形状に形成されている。なお、下面１０ｂは、本発明の「一方表面」の一例である。
　ろう材層１１は、約８５質量％のＡｇとＣｕとを主に含む銀ろうにより形成されている。なお、ろう材層１１を構成する銀ろうの固相線（ろう材層１１の一部が溶け始める温度）は、約７８０℃である。また、ろう材層１１は、基材層１０と接合されたＺ１側の上面１１ａと、Ｚ２側の下面１１ｂと、一対の側面１１ｃとを有している。上面１１ａおよび下面１１ｂは、共に略平坦面状に形成されている。側面１１ｃは、基材層１０の側面１０ｃよりも若干内側に位置するように形成されている。
　また、ろう材層１１は、基材層１０側の上面１１ａと側面１１ｃとを接続する一対の上側角部１１ｄと、基材層１０とは反対側の下面１１ｂと側面１１ｃとを接続する一対の下側角部１１ｅとをさらに有している。上側角部１１ｄは、基材層１０の下側角部１０ｅ上に位置するように形成されている。つまり、ろう材層１１は、基材層１０の下側角部１０ｅの略中央Ａまで形成されている一方、基材層１０の側面１０ｃ上には形成されていない。また、上側角部１１ｄは、基材層１０の側面１０ｃよりも内側に位置するように形成されているとともに、ろう材層１１の側面１１ｃよりも内側に位置するように構成されている。この結果、基材層１０の下側角部１０ｅとろう材層１１の上側角部１１ｄとの境界周辺は、基材層１０の側面１０ｃおよびろう材層１１の側面１１ｃから内側に窪むような形状になるように構成されている。また、下側角部１１ｅは、十分に小さい曲率半径を有する丸形状に形成されている。
　ここで、第１実施形態では、シールリング１のろう材層１１は、ろう材層１１のうちの基材層１０の略平坦面状の側面１０ｃを少なくとも覆う後述する側面ろう材部分１１ｆ（図７参照）を除去することによって形成されている。なお、具体的なシールリング１の製造プロセスについては後述する。
　次に、図４を参照して、本発明の第１実施形態によるシールリング１が用いられる電子部品収納用パッケージ１００の構造を説明する。
　第１実施形態による電子部品収納用パッケージ１００は、図４に示すように、シールリング１と、シールリング１の下方（Ｚ２側）でシールリング１に接合される基台２と、シールリング１の上方（Ｚ１側）でシールリング１に接合される蓋部材３とを備えている。
　基台２は、アルミナなどのセラミックスにより形成されているとともに、箱状に形成されている。また、箱状の基台２は、基台２の中央部に形成され、バンプ４を介して水晶振動子などの電子部品５が取り付けられる収納部２ａと、シールリング１と接合される枠状の上面２ｂとを有している。また、シールリング１と基台２の上面２ｂとは、シールリング１の溶融されたろう材層１１により接合されている。ここで、基台２の上面２ｂとろう材層１１との密着性を向上させるために、基台２の上面２ｂ上にＷ／Ｎｉ／Ａｕからなるメタライズ層を設けてもよい。
　蓋部材３は、Ｆｅ-Ｎｉ-Ｃｏ合金により形成された板部材からなる。また、蓋部材３とシールリング１の基材層１０とがシーム溶接により接合されている。ここで、蓋部材３と基材層１０との密着性を向上させるために、蓋部材３にＮｉ／Ａｕからなるメッキ層を設けてもよい。
　また、基台２は、シールリング１よりも若干大きく形成されている。また、蓋部材３は、シールリング１よりも若干小さく、かつ、シールリング１の開口部よりも大きく形成されている。これにより、シールリング１と基台２とが接合されるとともに、シールリング１と蓋部材３とが接合されることにより、電子部品５が取り付けられる収納部２ａが気密状態になるように構成されている。
　次に、図３～図７を参照して、本発明の第１実施形態によるシールリング１の製造プロセスを説明する。
　まず、図５に示すように、Ｆｅ-Ｎｉ-Ｃｏ合金により形成された基材層１０と、基材層１０の下面１０ｂ（図６参照）に接合され、約８５質量％のＡｇとＣｕとを主に含む銀ろうにより形成されたろう材層１１とを備えるクラッド材２００を準備する。なお、このクラッド材２００では、基材層１０のＺ方向の厚みｔ１（図６参照）は約１００μｍ以上約１３０μｍ以下であり、ろう材層１１のＺ方向の厚みｔ４（図６参照）は、完成品のシールリング１におけるろう材層１１の厚みｔ２（図３参照）よりも厚みｔ６（図７参照）だけ大きくなるように形成されている。この結果、クラッド材２００のＺ方向の厚みｔ５（ｔ１＋ｔ４）は、シールリング１の厚みｔ３（ｔ１＋ｔ２、図３参照）よりも厚みｔ６だけ大きい。
　そして、プレス機を用いて、クラッド材２００をシールリング１の形状（２点鎖線）に打ち抜く。この際、クラッド材２００をろう材層１１側（Ｚ２側）から板厚方向（Ｚ方向）に沿って打ち抜く。これにより、シールリング１の形状に打ち抜かれたシールリング１ａが形成される。
　このクラッド材２００を打ち抜く際に、図６に示すように、シールリング１ａの基材層１０の上側角部１０ｄには、微小突起（バリ）１０ｆが形成される。この微小突起１０ｆの一部は、基材層１０の上面１０ａよりも上方（Ｚ１側）に突出するように鋭角的に形成される。
　また、クラッド材２００を打ち抜く際に、基材層１０の下面１０ｂに接合されたろう材層１１の一部が、基材層１０の側面１０ｃに延伸するように上側（Ｚ１側）に移動する。これにより、基材層１０の側面１０ｃには、ろう材層１１と接続された側面ろう材部分１１ｆが形成される。
　そして、シールリング１ａの基材層１０に形成された微小突起１０ｆを除去するためにバレル研磨を行う。具体的には、複数のシールリング１ａ、セラミックスなどからなるメディア、化学粉末などからなるコンパウンドおよび水などをバレルに投入する。そして、バレルを所定の速度で所定の時間回転させる。これにより、基材層１０の微小突起１０ｆにメディアが衝突することなどによって、微小突起１０ｆが除去される。その後、シールリング１ａを取り出して洗浄等を行う。
　これにより、基材層１０の微小突起１０ｆが除去されて、図７に示すように、シールリング１ｂが形成される。このシールリング１ｂでは、基材層１０の上側角部１０ｄが十分に小さい曲率半径を有する丸形状に整形される。また、ろう材層１１の下側角部１１ｅも若干丸形状に整形される。また、この際、シールリング１ｂのろう材層１１を形成する銀ろうは硬度が小さいため、メディアの残渣などからなる異物６が、ろう材層１１の外部に露出する表面（下面１１ｂ、側面１１ｃ、下側角部１１ｅおよび側面ろう材部分１１ｆ）に埋め込まれるように付着する。
　ここで、第１実施形態のシールリング１の製造方法では、シールリング１ｂのろう材層１１に形成された側面ろう材部分１１ｆを除去するためにウェットエッチングを行う。具体的には、複数のシールリング１ｂと、約１０℃以上約３０℃以下のエッチング液とをバレルに投入する。
　このエッチング液は、過酸化水素により形成される酸化剤と、酢酸またはアンモニアにより形成される酸化物除去剤と、水とが所定の割合で混合された原液か、または、水をさらに加えて原液を所定の割合で希釈した希釈液から構成されている。なお、酸化剤は、ろう材層１１（図７参照）に含まれるＡｇおよびＣｕを酸化させて、それぞれ、酸化銀および酸化銅にする機能を有する。酸化物除去剤は、ろう材層１１の酸化銀および酸化銅を溶解させて除去する機能を有する。なお、ろう材層１１の銀ろうはエッチングされやすく、かつ、基材層１０（図７参照）のＦｅ-Ｎｉ-Ｃｏ合金はエッチングされにくいように、エッチング液が構成されている。
　そして、バレルを所定の速度で所定の時間回転させる。これにより、ろう材層１１が等方的に除去されることによって、ろう材層１１の表面が厚みｔ６（図７参照）分だけ除去される。一方、基材層１０はほとんど除去されない。
　この結果、基材層１０の側面１０ｃに位置し、厚みｔ６よりも小さな厚みｔ７を有する側面ろう材部分１１ｆが除去される。つまり、基材層１０の略平坦面状の側面１０ｃを少なくとも覆うろう材層１１の部分（側面ろう材部分１１ｆ）が除去される。また、ろう材層１１の下側角部１１ｅは、下面１１ｂ側と側面１１ｃ側との両側でエッチング液にさらされることにより、丸形状に形成される。さらに、ろう材層１１の外部に露出する表面が除去されることに伴い、ろう材層１１の露出する表面に付着した異物６も除去される。これらの結果、ろう材層１１の形状は、図７の２点鎖線に示すように、基材層１０の下側角部１０ｅの略中央Ａまで形成される一方、基材層１０の側面１０ｃ上には形成されないような形状になる。
　その後、ろう材層１１の表面に残った酸化物（酸化銀および酸化銅）を硫酸などで洗浄して取り除いた後、水洗（すすぎ）およびアルコール置換を行うことによって、図３に示すシールリング１が製造される。
　次に、図４、図７～図９を参照して、本発明の第１実施形態によるシールリング１を用いる電子部品収納用パッケージ１００の製造プロセスを説明する。
　まず、図８に示すように、セラミックスにより形成された基台２の上面２ｂにシールリング１を配置する。この際、シールリング１のろう材層１１の下面１１ｂが上面２ｂと当接するように、シールリング１を配置する。そして、ろう材層１１を形成する銀ろうの固相線（約７８０℃）以上のろう付け温度でろう材層１１を溶融させる。これにより、溶融したろう材層１１により、基台２の上面２ｂにシールリング１が接合される。この際、シールリング１の基材層１０の側面１０ｃに形成されていた側面ろう材部分１１ｆ（図７参照）がウェットエッチングにより除去されているので、ろう材層１１が基材層１０の側面１０ｃを上方（Ｚ１側）に過度に這い上がるのが抑制される。これにより、基材層１０の上面１０ａ近傍へのろう材層１１の這い上がりを低減することができる。
　そして、図９に示すように、基台２の収納部２ａに、バンプ４を介して電子部品５を取り付ける。その後、基材層１０の上面１０ａに蓋部材３を当接させた状態でシーム溶接を行う。これにより、シールリング１の上面１０ａに蓋部材３が溶接される。この際、基材層１０の上面１０ａ近傍にろう材層１１が過度に位置しないので、シーム溶接時の熱に起因して基材層１０の上面１０ａ近傍に過度に位置するろう材層１１の一部が蓋部材３の下面に広がることが抑制される。この結果、ろう材層１１の一部が蓋部材３の下面から電子部品５に飛散することが抑制される。これにより、図４に示す電子部品収納用パッケージ１００が製造される。
　第１実施形態では、上記のように、シールリング１ｂのろう材層１１に形成され、基材層１０の略平坦面状の側面１０ｃを少なくとも覆う側面ろう材部分１１ｆをウェットエッチングにより除去することによって、シールリング１のろう材層１１を溶融させて電子部品収納用パッケージ１００の基台２とシールリング１とを接合する際に、側面ろう材部分１１ｆを伝ってろう材層１１が基材層１０の側面１０ｃを過度に這い上がることを抑制することができる。これにより、シールリング１の基材層１０の上面１０ａに蓋部材３を当接させた状態でシーム溶接を行う際に、溶接の際の熱によりろう材層１１の一部が蓋部材３の下面に広がることが抑制される。この結果、ろう材層１１の一部が、蓋部材３の下面から飛散して、電子部品収納用パッケージ１００に収納された電子部品５に付着することを抑制することができる。
　また、第１実施形態では、側面ろう材部分１１ｆを除去するためにウェットエッチングを行うことによって、機械研磨などにより側面ろう材部分１１ｆを除去する場合と比べて、基材層１０の側面１０ｃを覆う微小な側面ろう材部分１１ｆを確実に除去することができる。
　また、第１実施形態では、ろう材層１１が等方的に除去されることにより側面ろう材部分１１ｆが除去されるとともに、ろう材層１１の下側角部１１ｅが丸形状に形成されることによって、側面ろう材部分１１ｆを選択的に除去するために複雑なエッチング処理を行う必要がないので、側面ろう材部分１１ｆを容易に除去することができる。また、ろう材層１１の下側角部１１ｅの丸形形状になり尖った形状でなくなるので、尖ったろう材層１１の下側角部１１ｅが他の部材などに接触した際に、他の部材を傷つけることを抑制することができる。
　また、第１実施形態では、ろう材層１１の銀ろうはエッチングされやすく、かつ、基材層１０のＦｅ-Ｎｉ-Ｃｏ合金はエッチングされにくい液をエッチング液として用いることによって、容易に、ろう材層１１を選択的にエッチングすることができる。
　また、第１実施形態では、基材層１０を、約３０質量％のＮｉと約１７質量％のＣｏとＦｅとを主に含むＦｅ-Ｎｉ-Ｃｏ合金により形成し、ろう材層１１を、約８５質量％のＡｇとＣｕとを主に含む銀ろうにより形成するとともに、エッチング液を、過酸化水素により形成される酸化剤と、酢酸またはアンモニアにより形成される酸化物除去剤と、水とが所定の割合で混合された原液か、または、水をさらに加えて原液を所定の割合で希釈した希釈液から構成している。これにより、銀ろうにより形成されるろう材層１１を選択的にエッチングして側面ろう材部分１１ｆを効果的に除去することができる。
　また、第１実施形態では、ウェットエッチングにおいてろう材層１１の外部に露出する表面が除去されることに伴い、ろう材層１１の表面に付着した異物６も除去することによって、側面ろう材部分１１ｆの除去のためのウェットエッチング時に同時に異物６が除去されるので、異物６を除去する工程を別途設ける場合と異なり、工程を簡略化することができる。
　（第１実施形態の実施例）
　次に、図３、図４、図７、図１０および図１１を参照して、本発明の第１実施形態の効果を確認するために行ったエッチング状態の観察、金属溶出量測定、および、ろう材層の溶融状態の観察について説明する。
　（エッチング状態の観察）
　まず、ウェットエッチングの処理時間を異ならせた場合の、ろう材層の状態の変化を観察した。この観察では、上記第１実施形態のシールリング１ｂ（図７参照）を用いた。また、エッチング液として、酢酸を２５質量％含有する酢酸水と、過酸化水素を３５質量％含有する過酸化水素水と、水とを１：５：４の体積比で混合した原液を準備した。その後、原液と水との体積比が１：１となる１：１希釈液を作製してエッチング液とした。そして、シールリング１ｂとエッチング液とをバレルに投入して、バレルを所定の速度で回転させた。その後、所定の処理時間ごとに側面ろう材部分１１ｆ（図７参照）付近のエッチング状態を、走査型電子顕微鏡（Ｓ－３４００Ｎ、日立ハイテクノロジーズ社製）を用いて観察した。
　ウェットエッチング前においては、基材層の側面を覆うように側面ろう材部分が形成されていた。また、ろう材層の表面上に、バレル研磨に起因する異物が複数付着していた。そして、ウェットエッチングの処理時間がある程度経過した状態においては、基材層の側面を覆う側面ろう材部分の一部が除去されて、異物が観察されなくなった。これは、ろう材層が等方的に除去されることに伴って、ろう材層の除去された表面部分に付着していた異物も、エッチング液中に移動したからであると考えられる。
　そして、ウェットエッチングの処理時間がさらに経過すると、側面を覆う側面ろう材部分が徐々に除去されて、基材層の下側角部とろう材層との境界位置が観察されるようになった。これにより、基材層の側面を覆う側面ろう材部分が完全に除去されたことが観察できた。
　また、上記原液を含むエッチング液において、水の割合を増加させてエッチング液を希釈させるに従い、側面ろう材部分の除去時間が長くなることが確認された。また、上記原液を含む１：１希釈液からなるエッチング液において、エッチング液の温度を上昇させるに従い、側面ろう材部分の除去時間が短くなることが確認された。
　また、ウェットエッチングにおけるエッチング液の原液として、アンモニアを３５質量％含有するアンモニア水と、過酸化水素を３５質量％含有する過酸化水素水と、水とを１：１：１の体積比で混合したアンモニア原液を準備した。その後、アンモニア原液と水との体積比が１：４となる１：４希釈液を作製してエッチング液とした。このアンモニア原液を含むエッチング液を用いてウェットエッチングを行った場合においても、側面ろう材部分が除去されることが確認された。
　また、ウェットエッチング前後における基材層の表面およびろう材層の表面の表面粗さを測定した。具体的には、レーザ顕微鏡（ＶＫ－８７００、キーエンス社製）を用いて、基材層の表面およびろう材層の表面の算術平均粗さＲａと最大高さ粗さＲｚとを測定した。結果としては、基材層の表面およびろう材層の表面の表面粗さは、ウェットエッチング前後においてほとんど変化しなかった。これにより、ウェットエッチングにより基材層の表面およびろう材層の表面がほとんど粗化されないことが判明した。
　（金属溶出量測定）
　次に、基材層を形成するＦｅ-Ｎｉ-Ｃｏ合金のエッチング液への溶出量と、ろう材層を形成する８５質量％のＡｇとＣｕとを主に含む銀ろうのエッチング液への溶出量とを測定した。具体的には、上記シールリング１ｂと、エッチング液（上記原液と水との体積比が１：１となる１：１希釈液）とをバレルに投入して、バレルを所定の速度で１時間回転させた。これにより、シールリング１ｂのろう材層がほとんど溶解した。そして、エッチング液に含まれるＡｇ、Ｃｕ、Ｆｅ、ＮｉおよびＣｏを、ＩＣＰ発光分析装置を用いて測定した。
　ウェットエッチング後のエッチング液中には、ＡｇとＣｕとが８５：１５に近い割合で含まれていた。これにより、ろう材層のＡｇとＣｕとが共にエッチング液に溶出するとともに、ＡｇとＣｕとのうち一方のみが優先的にエッチング液に溶出することはないことが確認できた。一方、Ｆｅの溶出量は、Ｃｕの溶出量の１０００分の１よりも小さい量であったとともに、ＮｉおよびＣｏは検出されなかった。したがって、基材層はエッチング液中にほとんど溶出しないことが判明した。
　（ろう材層の溶融状態の観察）
　次に、ろう材層の溶融状態を観察した。このろう材層の溶融状態の観察では、側面ろう材部分１１ｆ（図７参照）が除去された実施例１のシールリング１（図３参照）と、側面ろう材部分１１ｆが除去されていない比較例１のシールリング（シールリング１ｂ、図７参照）とにおいて、ろう材層１１を溶融させた際のろう材層１１の溶融状態の観察を行った。
　具体的には、実施例１のシールリング１および比較例１のシールリング１ｂを、ＮｉメッキおよびＡｕメッキが表面に積層されたＦｅ-Ｎｉ-Ｃｏ合金板８とろう材層１１とが当接するように配置した。そして、ろう材層１１を形成する銀ろうの固相線（約７８０℃）以上のろう付け温度でろう材層１１を溶融させて、シールリング１（１ｂ）とＦｅ-Ｎｉ-Ｃｏ合金板８とを接合させた。その後、ろう材層１１の溶融状態を、走査型電子顕微鏡を用いて観察した。
　図１０および図１１に示すろう材層の溶融状態としては、図１０に示す実施例１において、ろう材層１１は、基材層１０の両側面１０ｃにはほとんど這い上がらなかった。一方、図１１に示す比較例１において、ろう材層１１の這い上がり部分１１ｇは、基材層１０の両側面１０ｃの半分以上を覆うとともに、側面１０ｃの上面１０ａ近傍まで延びるように形成された。これにより、実施例１におけるろう材層１１の這い上がり量は、比較例１におけるろう材層１１の這い上がり量よりも十分に小さいとともに、実施例１におけるろう材層１１は、側面１０ｃの上面１０ａ近傍にはほとんど位置しないことが確認できた。したがって、側面ろう材部分１１ｆが除去された実施例１におけるシールリング１では、側面ろう材部分１１ｆが除去されていない比較例１のシールリングと比べて、ろう材層１１の過度な這い上がりを抑制できることが確認できた。
　なお、上記ろう材層の溶融状態の観察では、ＮｉメッキおよびＡｕメッキが表面に積層されたＦｅ-Ｎｉ-Ｃｏ合金板８上においてシールリング１のろう材層１１を溶融させた例を示したが、セラミックスにより形成された基台２の上面２ａ（図４参照）上においてシールリング１のろう材層１１を溶融させた場合においても、ろう材層１１は同様の溶融状態になると考えられる。
　（第２実施形態）
　次に、図３を参照して、本発明の第２実施形態によるシールリング３０１の構造を説明する。この第２実施形態によるシールリング３０１では、上記第１実施形態のシールリング１とは異なり、ろう材層３１１の表面近傍におけるＡｇの濃度が、ろう材層３１１の内部１１ｇにおけるＡｇの濃度よりも大きい場合について説明する。
　第２実施形態によるシールリング３０１は、上記第１実施形態とは異なり、ろう材層３１１の表面（下面１１ｂ、一対の側面１１ｃ、一対の上側角部１１ｄおよび一対の下側角部１１ｅ）およびその近傍におけるＡｇの濃度が、約９０質量％以上になるように構成されている。この濃度は、ろう材層３１１のろう材自体（ウェットエッチング前のろう材）のＡｇ濃度（約８５質量％）およびろう材層３１１の内部１１ｇにおけるＡｇの濃度（約８５質量％）よりも大きくなるように構成されている。なお、第２実施形態のその他のシールリング３０１の構造は、上記第１実施形態と同様である。
　次に、図３および図５～図７を参照して、本発明の第２実施形態によるシールリング３０１の製造プロセスを説明する。
　上記第１実施形態と同様に、まず、図５に示すように、Ｆｅ-Ｎｉ-Ｃｏ合金により形成された基材層１０と、約８５質量％のＡｇとＣｕとを主に含む銀ろうにより形成されたろう材層１１とを備えるクラッド材２００から、図６に示すように、シールリング１の形状に打ち抜かれたシールリング１ａを形成する。そして、シールリング１ａの基材層１０に形成された微小突起１０ｆを除去するためにバレル研磨を行って、図７に示すように、基材層１０の微小突起１０ｆが除去されたシールリング１ｂを形成する。そして、シールリング１ｂのろう材層１１に形成された側面ろう材部分１１ｆを除去するためにウェットエッチングを行う。具体的には、複数のシールリング１ｂと、約１０℃以上約３０℃以下のエッチング液とをバレルに投入する。
　ここで、第２実施形態では、過酸化水素により形成される酸化剤と、酢酸またはアンモニアにより形成される酸化物除去剤と、水とが所定の割合で混合された原液か、または、水をさらに加えて原液を所定の割合で希釈した希釈液をエッチング液として用いた上記第１実施形態とは異なり、その原液または希釈液に、さらに、希硫酸からなる強酸を添加した溶液をエッチング液として用いる。この希硫酸は、希硫酸の濃度がエッチング液全体の約０．５質量％以上の濃度になるようにエッチング液に添加される。この際、希硫酸の濃度がエッチング液全体の約０．５質量％以上１．０質量％以下の濃度になるようにエッチング液に添加されるのが好ましく、エッチング液全体の約０．７質量％以上１．０質量％以下の濃度になるようにエッチング液に添加されるのがより好ましい。
　この希硫酸は、過酸化水素により形成されるろう材層３１１（図３参照）の酸化物（酸化銀および酸化銅）のうち、酸化銅を優先的に除去する機能を有している。これにより、ろう材層３１１の表面（下面１１ｂ、一対の側面１１ｃ、一対の上側角部１１ｄおよび一対の下側角部１１ｅ）において、硫酸により酸化銅が酸化銀よりも優先的に除去されて消費されるので、Ｃｕの酸化速度も酸化銅の除去速度と共に速くなる。この結果、Ｃｕが優先的に除去される。
　そして、バレルを所定の速度で所定の時間回転させる。これにより、ろう材層３１１が等方的に除去される一方、基材層１０はほとんど除去されない。さらに、ろう材層３１１の表面近傍のＣｕが優先的に除去されて、ろう材層３１１の表面近傍におけるＡｇの濃度が約９０質量％以上になる。この結果、ろう材層３１１のろう材自体（ウェットエッチング前のろう材）のＡｇ濃度（約８５質量％）、および、ろう材層３１１の内部１１ｇにおけるＡｇの濃度（約８５質量％）よりも、ろう材層３１１の表面近傍におけるＡｇの濃度が大きくなる。
　また、上記ウェットエッチングの前後で、ろう材層３１１を構成する銀ろうの固相線（ろう材層３１１の一部が溶け始める温度）は、約７８０℃で略変化しない。つまり、ろう材層３１１の表面近傍におけるＡｇの濃度が大きくなっているにもかかわらず、銀ろうの固相線は、約７８０℃で略変化しない。
　また、上記ウェットエッチングにおいて、ろう材層３１１の表面に残った酸化物（酸化銀および酸化銅）はほとんど取り除かれるので、上記第１実施形態とは異なり、ろう材層３１１の表面に残った酸化物を硫酸などで洗浄して取り除く工程は行わずに、直接、水洗（すすぎ）およびアルコール置換を行う。これにより、図３に示すシールリング３０１が製造される。
　第２実施形態では、上記のように、シールリング１ｂのろう材層３１１に形成され、基材層１０の略平坦面状の側面１０ｃを少なくとも覆う側面ろう材部分１１ｆをウェットエッチングにより除去することによって、側面ろう材部分１１ｆを伝ってろう材層３１１が基材層１０の側面１０ｃを過度に這い上がることを抑制することができる。
　また、第２実施形態では、原液または希釈液に、さらに、約０．５質量％以上の濃度の希硫酸からなる強酸を添加した溶液をエッチング液として用いてろう材層３１１の表面近傍のＣｕを優先的に除去することにより、ろう材層３１１のろう材自体（ウェットエッチング前のろう材）のＡｇ濃度（約８５質量％）、および、ろう材層３１１の内部１１ｇにおけるＡｇの濃度（約８５質量％）よりも、ろう材層３１１の表面近傍におけるＡｇの濃度を大きくすることによって、ＡｇはＣｕに比べて耐食性を有するので、ウェットエッチング前よりもろう材層３１１の表面近傍におけるＡｇによりろう材層３１１の表面の耐食性をより向上させることができる。また、ろう材層３１１の表面近傍におけるＡｇの濃度が大きいことにより、ろう材層３１１の表面の色調を銀色に近づけることができる。また、Ｃｕ優先除去剤が添加されたエッチング液を用いて、ろう材層３１１の表面におけるＣｕを優先的に除去することができるので、容易に、ろう材層３１１の表面近傍におけるＡｇの濃度を、ろう材層３１１の内部１１ｇにおけるＡｇの濃度よりも大きくして、ろう材層３１１の表面近傍においてＡｇを残留および濃化させることができる。
　また、第２実施形態では、原液または希釈液に、さらに、希硫酸からなる強酸を添加した溶液をエッチング液として用いることによって、確実にＣｕの酸化物を優先的に除去することができるので、容易に、ろう材層３１１の表面のＣｕを優先的に除去することができる。
　また、第２実施形態では、ウェットエッチングの前後でろう材層３１１の表面近傍におけるＡｇの濃度が大きくなっているにもかかわらず、 ろう材層３１１を構成する銀ろうの固相線（ろう材層３１１の一部が溶け始める温度）を約７８０℃でほとんど変化させないように構成することができるので、ろう材層３１１の固相線（約７８０℃）が高くなることに起因してろう材層３１１を融解させるのに必要な温度が高くなることを抑制することができる。
　また、第２実施形態では、ウェットエッチングの後に、 シールリング３１１の表面に残った酸化銀および酸化銅を取り除いて洗浄するための工程（一般的には、硫酸を用いてシールリング３１１の表面を洗浄する工程）を別途設ける必要がないので、工程を簡略化することができる。
　（第２実施形態の実施例）
　次に、図３、図７および図１２～図１５を参照して、本発明の第２実施形態の効果を確認するために行ったろう材層の表面での濃度の測定、ろう材層の深さ方向での濃度の測定、固相線の測定、および、耐食性試験について説明する。
　（ろう材層の表面での濃度の測定）
　まず、ろう材層の表面でのＣｕおよびＡｇの濃度を測定した。この測定では、Ｆｅ-Ｎｉ-Ｃｏ合金により形成された基材層１０と、８５質量％のＡｇと１５質量％のＣｕとからなる銀ろうにより形成されたろう材層１１とを備えるシールリング１ｂ（図７参照）を準備した。そして、比較例２のシールリングとして、ウェットエッチングを行わずに、シールリング１ｂをそのまま用いた。一方、実施例２および３では、シールリング１ｂに対してウェットエッチングを行った。
　この際、上記第１実施形態に対応する実施例２では、酢酸を２５質量％含有する酢酸水と、過酸化水素を３５質量％含有する過酸化水素水と、水とを１：５：４の体積比で混合した原液を準備した。その後、原液と水との体積比が１：４となる１：４希釈液を作製してエッチング液とした。そして、２５℃の温度条件下で、シールリング１ｂとエッチング液とをバレルに投入して、バレルを所定の速度で回転させた後に、洗浄等を行った。これにより、実施例２のシールリング１（図３参照）を得た。
　一方、上記第２実施形態に対応する実施例３では、上記１：４希釈液に強酸の希硫酸を添加したものをエッチング液として用いた。その際、硫酸の濃度がエッチング液全体の０．７質量％になるように調整した。そして、実施例２と同様に、２５℃の温度条件下で、シールリング１ｂとエッチング液とをバレルに投入して、バレルを所定の速度で回転させた後に、水洗等を行った。これにより、実施例３のシールリング３０１（図３参照）を得た。
　そして、比較例２のシールリング１ｂ、実施例２のシールリング１および実施例３のシールリング３０１の各々の表面の２箇所を、電子線マイクロアナライザ（Ｅｌｅｃｔｒｏｎ　Ｐｒｏｂｅ　ＭｉｃｒｏＡｎａｌｙｓｅｒ：ＥＰＭＡ）を用いて観察した。そして、ろう材層の表面におけるＣｕの存在量とＡｇの存在量との合計に対するＣｕの存在量の割合をＣｕの濃度として求めるとともに、Ａｇの存在量の割合をＡｇの濃度として求めた。
　図１２に示すように、実施例２のように硫酸を添加しないエッチング液を用いた場合には、ウェットエッチング後において、ウェットエッチング前（比較例２）に比べて、Ｃｕの濃度が大きくなり、Ａｇの濃度が小さくなった。これは、酢酸（酸化物除去剤）だけでは、Ａｇの酸化物（酸化銀）が除去される速度が、Ｃｕの酸化物（酸化銅）が除去される速度よりも速くなり、Ａｇが比較的優先的に除去されたからであると考えられる。
　一方、実施例３のように硫酸を０．７質量％添加したエッチング液を用いた場合には、ウェットエッチング後において、ウェットエッチング前（比較例２）に比べて、Ｃｕの濃度が小さくなり、Ａｇの濃度が大きくなった。これは、酢酸に加えて硫酸を添加することによって、酸化銅が除去される速度が、酸化銀が除去される速度よりも速くなったので、Ｃｕが優先的に除去されたからであると考えられる。この結果、エッチング液に硫酸を添加することによって、ろう材層の表面のＣｕが優先的に除去でき、その結果、ろう材層の表面におけるＡｇの濃度を、ウェットエッチング前（比較例２）におけるＡｇの濃度よりも大きくして、ろう材層の表面においてＡｇを残留および濃化させることができることが判明した。
　（ろう材層の深さ方向での濃度の測定）
　次に、上記実施例３のシールリング３０１を用いて、オージェ電子分光装置により、ろう材層の深さ方向（ろう材層３１１の表面に対して直交する方向）でのＣｕおよびＡｇの濃度を測定した。
　図１３に示すように、実施例３のシールリング３０１では、Ａｇの濃度は、ろう材層の内部から表面に向かうにしたがって徐々に大きくなった。一方、Ｃｕの濃度は、ろう材層の内部から表面に向かうにしたがって徐々に小さくなった。この結果から、エッチング液に硫酸を添加することによって、ろう材層の表面のＣｕが優先的に除去でき、その結果、ろう材層の表面近傍におけるＡｇの濃度をろう材層の内部におけるＡｇの濃度よりも大きくして、ろう材層の表面においてＡｇを残留および濃化させることができることが判明した。
　また、実施例３のシールリング３０１では、ろう材層の表面から０．１μｍの深さまでの範囲においては、Ａｇの濃度の減少およびＣｕの濃度の増加は他の範囲に比べて緩やかであった。これにより、エッチング液に硫酸を添加することによって、ろう材層の表面から０．１μｍの深さまでの範囲のＣｕを安定的に除去できると考えられる。
　（固相線の測定）
　次に、ウェットエッチング前後でのろう材層の固相線の変化を確認するために固相線の測定を行った。この固相線の測定では、上記した比較例２および実施例３に加えて、上記１：４希釈液に添加する硫酸の濃度を各々異ならせたエッチング液を用いてウェットエッチングを行うことによって、実施例４～６のシールリング３０１を製造した。ここで、実施例４、５および６では、それぞれ、硫酸の濃度がエッチング液全体の０．３質量％、０．５質量％および１．０質量％になるように調整した。なお、実施例４～６におけるウェットエッチングの条件は、上記実施例３の条件と同一である。そして、示差熱分析（ＤＴＡ）法を用いて、比較例２のシールリング１ｂおよび実施例３～６のシールリング３０１におけるろう材層の固相線（ろう材層の一部が溶け始める温度）を測定した。
　図１４に示すように、エッチング液に添加した硫酸の濃度が大きくなるにしたがって、若干固相線は高くなった。しかしながら、実施例３～６のろう材層の固相線は、ウェットエッチング前（比較例２）のろう材層の固相線（７７６．０℃）の１．５℃以内（７７６．１℃（実施例４）以上７７７．４℃（実施例６）以下）であり、温度差はほとんどないと考えられる。この結果、ウェットエッチング前後でろう材層の固相線はほとんど変化しないことが確認できた。
　（耐食性試験）
　次に、耐食性試験を行った。この耐食性試験では、上記した比較例２のシールリング１ｂおよび実施例３のシールリング３０１を、８５℃および８５％Ｒｈ（相対湿度）の恒温恒湿条件下で１０００時間放置する恒温恒湿試験を行った。そして、恒温恒湿試験後の比較例２のシールリング１ｂおよび実施例３のシールリング３０１の表面を、電子線マイクロアナライザ（Ｅｌｅｃｔｒｏｎ　Ｐｒｏｂｅ　ＭｉｃｒｏＡｎａｌｙｓｅｒ：ＥＰＭＡ）を用いて観察した。そして、ろう材層の表面におけるＯ（酸素）の濃度（存在比）、Ｃｕの濃度およびＡｇの濃度を求めた。
　図１５に示すように、実施例３では、比較例２と比べてろう材層の表面における酸素の濃度が小さくなった。これにより、比較例２のようにウェットエッチングを行わない場合と比べて、実施例３のように硫酸を０．７質量％添加したエッチング液を用いてウェットエッチングを行なった場合には、ウェットエッチング後にろう材層の表面の酸化が抑制されることが判明した。これは、実施例３のシールリング３０１では、比較的酸化されやすいＣｕよりも比較的酸化されにくいＡｇがろう材層の表面に多く存在しており、ろう材層の表面の酸化が抑制されたからであると考えられる。この結果から、実施例３のように硫酸が添加されたエッチング液を用いてウェットエッチングを行うことによって、ろう材層の表面の酸化を抑制することができ、その結果、ろう材層の表面の耐食性を向上させることができることが判明した。
　なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。
　たとえば、上記第１および第２実施形態では、ウェットエッチングによって、ろう材層１１の側面ろう材部分１１ｆを除去した例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、ドライエッチングなどのウェットエッチング以外の方法によって、側面ろう材部分を除去してもよい。
　また、上記第１および第２実施形態では、ろう材層１１が基材層１０の下側角部１０ｅの略中央Ａまで形成されている例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、ろう材層を、基材層の下側角部上で、かつ、基材層の側面近傍の領域まで形成してもよい。また、ろう材層を、基材層の下側角部上に形成せずに、基材層の下面にのみ形成してもよい。
　また、上記第１および第２実施形態では、エッチング液として、過酸化水素により形成される酸化剤と、酢酸またはアンモニアにより形成される酸化物除去剤と、水とが所定の割合で混合された原液か、または、水をさらに加えて原液を所定の割合で希釈した希釈液を少なくとも用いた例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、過酸化水素以外の酸化剤を用いてもよいし、酢酸またはアンモニア以外の酸または塩基を酸化物除去剤として用いてもよい。また、フッ化アンモニウムを酸化物除去剤として用いてもよい。
　また、上記第１および第２実施形態では、ろう材層１１の銀ろうはエッチングされやすく、かつ、基材層１０のＦｅ-Ｎｉ-Ｃｏ合金はエッチングされにくいエッチング液を用いた例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、基材層のＦｅ-Ｎｉ-Ｃｏ合金もある程度エッチングされるようなエッチング液を用いてもよい。これにより、微小突起を除去するためのバレル研磨を行う工程を省略するか、または、バレル研磨を行う時間を短くすることが可能である。
　また、上記第１および第２実施形態では、約８５質量％のＡｇとＣｕとを主に含む銀ろうを用いた例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、約７２質量％のＡｇとＣｕとを主に含む銀ろうを用いてもよい。また、ＡｇおよびＣｕ以外にＳｎを含むようなろう材を用いてもよい。この場合、ろう材の固相線を小さくすることができるので、ろう付け温度を低くすることが可能である。なお、ろう材がＳｎを含む場合には、クラッド材を形成する際などにおいて圧延が困難になることを抑制するために、Ｓｎを約６質量％以下含むように構成することが好ましい。
　また、上記第２実施形態では、原液または希釈液に添加する溶液として、希硫酸からなる強酸を用いた例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、塩酸などの硫酸とは別の強酸を原液または希釈液に添加してもよい。また、Ｃｕを優先的に除去することが可能であれば、強酸以外の溶液をＣｕ優先除去剤として用いてもよい。
　１、３０１　シールリング
　６　異物
　１０　基材層
　１０ｂ　下面（一方表面）
　１０ｃ　側面
　１０ｆ　微小突起
　１１、３１１　ろう材層
　１１ｆ　側面ろう材部分
　１１ｇ　内部
　１００　電子部品収納用パッケージ
　２００　クラッド材

Claims (20)

  1. 　電子部品収納用パッケージ（１００）に用いられるシールリング（１）であって、
    　基材層（１０）と、
    　前記基材層の一方表面（１０ｂ）に配置されたろう材層（１１）とが接合されたクラッド材から構成され、
    　前記ろう材層のうちの前記基材層の側面（１０ｃ）を覆う側面ろう材部分（１１ｆ）が除去されている、シールリング。
  2. 　前記基材層は、前記基材層の前記一方表面と略平坦面状に形成された前記側面とを接続する丸形状の角部（１０ｅ）を含み、
    　前記ろう材層のうちの前記略平坦面状の側面を覆う前記側面ろう材部分が少なくとも除去されている、請求項１に記載のシールリング。
  3. 　前記基材層は、ＦｅとＮｉとＣｏとを主に含み、
    　前記ろう材層は、ＡｇとＣｕとを主に含む、請求項１に記載のシールリング。
  4. 　前記ろう材層は、ＡｇとＣｕとを主に含み、
    　前記ろう材層の表面近傍におけるＡｇの濃度は、前記ろう材層の内部（１１ｇ）におけるＡｇの濃度よりも大きい、請求項１に記載のシールリング。
  5. 　電子部品収納用パッケージ（１００）に用いられるシールリング（１）の製造方法であって、
    　基材層（１０）と前記基材層の一方表面（１０ｂ）に接合されるろう材層（１１）とのクラッド材（２００）を準備する工程と、
    　前記クラッド材を前記シールリングの形状に打ち抜く工程と、
    　前記クラッド材を前記シールリングの形状に打ち抜く際に前記ろう材層が延伸して形成された、前記ろう材層のうちの前記基材層の側面（１０ｃ）を覆う側面ろう材部分（１１ｆ）を除去する工程とを備える、シールリングの製造方法。
  6. 　前記基材層は、前記基材層の前記一方表面と略平坦面状に形成された前記側面とを接続する丸形状の角部（１０ｅ）を含み、
    　前記側面ろう材部分を除去する工程は、前記ろう材層のうちの前記略平坦面状の側面を覆う前記側面ろう材部分を少なくとも除去する工程を含む、請求項５に記載のシールリングの製造方法。
  7. 　前記側面ろう材部分を除去する工程は、前記側面ろう材部分をウェットエッチングにより除去する工程を含む、請求項５に記載のシールリングの製造方法。
  8. 　前記側面ろう材部分を前記ウェットエッチングにより除去する工程は、前記ろう材層を前記ウェットエッチングにより等方的に除去することにより、前記側面ろう材部分を除去する工程を含む、請求項７に記載のシールリングの製造方法。
  9. 　前記ろう材層を前記ウェットエッチングにより等方的に除去する工程は、前記ウェットエッチングにより、前記側面ろう材部分を除去するとともに、前記ろう材層の角部（１１ｅ）を丸形状に形成する工程を含む、請求項８に記載のシールリングの製造方法。
  10. 　前記側面ろう材部分を前記ウェットエッチングにより除去する工程は、前記ろう材層がエッチングされやすく、かつ、前記基材層がエッチングされにくいエッチング液を用いて、前記側面ろう材部分を除去する工程を含む、請求項７に記載のシールリングの製造方法。
  11. 　前記基材層は、ＦｅとＮｉとＣｏとを主に含み、
    　前記ろう材層は、ＡｇとＣｕとを主に含み、
    　前記エッチング液は、前記ろう材層の表面を酸化させる酸化剤と、酸化された前記ろう材層を除去する酸化物除去剤と、水とを少なくとも含む、請求項１０に記載のシールリングの製造方法。
  12. 　前記エッチング液は、過酸化水素により構成される前記酸化剤と、酢酸により構成される前記酸化物除去剤と、前記水とを少なくとも含む、請求項１１に記載のシールリングの製造方法。
  13. 　前記ろう材層は、ＡｇとＣｕとを主に含み、
    　前記ウェットエッチングのエッチング液は、前記ろう材層の表面を酸化させる酸化剤と、酸化された前記ろう材層を除去する酸化物除去剤と、水と、前記ろう材層の表面のＣｕを優先的に除去するためのＣｕ優先除去剤とを含み、
    　前記側面ろう材部分を前記ウェットエッチングにより除去する工程は、前記エッチング液を用いて前記ろう材層の表面におけるＣｕを優先的に除去することにより、前記ろう材層の表面近傍におけるＡｇの濃度を、前記ろう材層の内部（１１ｇ）におけるＡｇの濃度よりも大きくする工程を含む、請求項７に記載のシールリングの製造方法。
  14. 　前記ろう材層は、ＡｇとＣｕとを主に含み、
    　前記ウェットエッチングのエッチング液は、前記ろう材層の表面を酸化させる酸化剤と、酸化された前記ろう材層を除去する酸化物除去剤と、水と、前記ろう材層の表面のＣｕを優先的に除去するためのＣｕ優先除去剤とを含み、
    　前記側面ろう材部分を前記ウェットエッチングにより除去する工程は、前記エッチング液を用いて前記ろう材層の表面におけるＣｕを優先的に除去することにより、前記ろう材層の表面近傍におけるＡｇの濃度を、前記側面ろう材部分を前記ウェットエッチングにより除去する前の前記ろう材層におけるＡｇの濃度よりも大きくする工程を含む、請求項７に記載のシールリングの製造方法。
  15. 　前記Ｃｕ優先除去剤は、強酸により構成されている、請求項１３に記載のシールリングの製造方法。
  16. 　前記Ｃｕ優先除去剤は、前記強酸である硫酸により構成されている、請求項１５に記載のシールリングの製造方法。
  17. 　前記エッチング液には、前記硫酸が前記エッチング液全体の０．５質量％以上の濃度になるように添加されている、請求項１６に記載のシールリングの製造方法。
  18. 　前記側面ろう材部分を前記ウェットエッチングにより除去する工程の前後で前記ろう材層の固相線は略変化しない、請求項１３に記載のシールリングの製造方法。
  19. 　前記側面ろう材部分を前記ウェットエッチングにより除去する工程は、前記シールリングの表面に残った酸化された前記ろう材層を取り除いて洗浄する工程を兼ねる、請求項１３に記載のシールリングの製造方法。
  20. 　前記側面ろう材部分を前記ウェットエッチングにより除去する工程に先立って、前記クラッド材を前記シールリングの形状に打ち抜く際に形成された前記基材層の微小突起（１０ｆ）を除去する工程をさらに備え、
    　前記側面ろう材部分をウェットエッチングにより除去する工程は、前記側面ろう材部分と、前記微小突起を除去する際に付着する異物（６）とを前記ウェットエッチングにより除去する工程を含む、請求項７に記載のシールリングの製造方法。
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