WO2010090049A1 - Ｄｄｒ型ゼオライト紛体、及びｄｄｒ型ゼオライト粉体の製造方法 - Google Patents

Ｄｄｒ型ゼオライト紛体、及びｄｄｒ型ゼオライト粉体の製造方法 Download PDF

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WO2010090049A1
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ddr type
diffraction
ddr
particle size
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谷島　健二
野中　久義
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日本碍子株式会社
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    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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    • Y10T428/2982—Particulate matter [e.g., sphere, flake, etc.]

Definitions

  • the present invention relates to a DDR type zeolite powder used for a catalyst, a catalyst carrier, an adsorbent, a gas separation membrane, a pervaporation membrane, and the like, and a method for producing a DDR type zeolite powder.
  • Zeolite is used as a catalyst, catalyst carrier, adsorbent and the like. Zeolite has a molecular sieving action. Zeolite membranes made of zeolite are used as gas separation membranes and pervaporation membranes.
  • Zeolite is classified into types such as LTA, MFI, MOR, AFI, FER, FAU, and DDR based on its crystal structure.
  • DDR Deca-Dodecasil 3R type zeolite is a crystal whose main component is silica, and has a pore in its crystal structure. These pores are formed by a polyhedron containing an oxygen 8-membered ring, and the pore diameter is 4.4 ⁇ 3.6 angstroms.
  • DDR type zeolite is hydrogen (H 2 ), carbon dioxide (CO 2 ), methane (CH 4 ), ethane (C 2 H 6 ), ethylene (C 2 H 4 ), propane (C 3 H 8 ), It can be used for an adsorbent or a separation sieve membrane that separates only a low molecular gas such as propylene (C 3 H 6 ).
  • Non-Patent Documents 1 to 3 disclose a method for producing a DDR type zeolite.
  • 1-adamantanamine is used as a structure-directing agent (hereinafter referred to as “SDA”)
  • tetramethoxysilane, ethylenediamine, and water are used as raw materials, and all-silica containing no aluminum is obtained by hydrothermal synthesis.
  • DDR type zeolite powder is produced.
  • Patent Document 1 discloses a technique that simplifies the DDR type zeolite production method described in Non-Patent Documents 1 to 3.
  • a DDR type zeolite powder is added and dispersed as a seed crystal in a raw material solution containing 1-adamantanamine dissolved in ethylenediamine (or a DDR type zeolite powder as a seed crystal is adhered). After the support is immersed, hydrothermal synthesis is performed.
  • Non-Patent Documents 1 to 3 a fine DDR type zeolite powder having an average particle diameter of less than 2.5 ⁇ m cannot be obtained without pulverizing or classifying the particles.
  • the obtained DDR type zeolite powder hardly shows a particle size distribution in which the particle diameters of most particles converge near the average particle diameter. Further, since external force is applied to the particles by pulverization, a large number of particles having a high amorphous content are generated.
  • the DDR type zeolite powder has a high amorphous content, various useful characteristics due to the crystal structure of the DDR type zeolite are hardly exhibited. For example, the pore volume effective for adsorption or the like is reduced, and the performance as an adsorbent for separating a low molecular gas is also poor.
  • Patent Document 1 does not disclose the particle size distribution of the obtained powder or the content of the DDR type zeolite crystals, nor does it disclose conditions for optimizing the particle size distribution or the crystal content. .
  • an object of the present invention is to provide a DDR type zeolite powder composed of fine particles and having a particle size distribution in which the particle size of most particles converges around the average particle size, and a method for producing the same. It is to provide.
  • the present inventors have intensively studied, and as a result, found suitable conditions for crystal growth of a seed crystal of a DDR type zeolite having a predetermined average particle diameter, and completed the present invention. That is, according to the present invention, the following zeolite powder and method for producing the zeolite powder are provided.
  • the diffraction intensity A of the diffraction peak due to the DDR type zeolite crystal calculated by the following formula (I) and the following formula (II)
  • C1 is the minimum value of the diffraction intensity between the diffraction peak derived from the (012) plane of the DDR type zeolite crystal and the diffraction peak derived from the same (104) plane
  • ⁇ 1 is the diffraction angle indicating C1 ( 2 ⁇ )
  • C2 are the minimum values of diffraction intensities between the diffraction peak derived from the (606) plane of the DDR type zeolite crystal and the diffraction peak derived from the same (1.20) plane
  • ⁇ 2 is a value indicating C2.
  • the folding angle (2 ⁇ ), Ca is the diffraction intensity of the diffraction peak derived from the (024) plane of the DDR type zeolite crystal
  • ⁇ a is the diffraction angle (2 ⁇ ) indicating Ca
  • Cb is the (122) plane of the DDR type zeolite crystal.
  • ⁇ b is the diffraction angle (2 ⁇ ) indicating Cb)
  • Ethylenediamine in which 1-adamantanamine is dissolved, silica (SiO 2 ), and water have a molar ratio of 1-adamantanamine / SiO 2 of 0.002 to 0.5 and water / SiO 2 of 10 to 500.
  • a raw material solution in which DDR type zeolite seed crystals having an average particle diameter of 10 to 300 nm are dispersed at 0.001 to 1.0 mass% is heat-treated at 100 to 180 ° C.
  • the method for producing a DDR type zeolite powder comprising a step of crystal growth using the DDR type zeolite seed crystal as a core until the average particle size becomes 0.1 ⁇ m or more and less than 2.5 ⁇ m.
  • the percentage ratio of the mass of the obtained DDR type zeolite powder with respect to the total of the mass of the silica contained in the raw material solution and the mass of the DDR type zeolite seed crystal is 50% or more
  • the DDR type zeolite powder of the present invention is composed of fine particles and exhibits a particle size distribution in which the particle size of most particles converges around the average particle size. Further, in the method for producing a DDR type zeolite powder of the present invention, a DDR type zeolite powder which is composed of fine particles and has a particle size distribution in which most of the particles converge near the average particle size can be obtained.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating a particle size distribution of a DDR type zeolite powder of Example 1.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating a particle size distribution of a DDR type zeolite powder of Example 2.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating a particle size distribution of a DDR type zeolite powder of Example 3.
  • 4 is a diagram illustrating a particle size distribution of a DDR type zeolite powder of Comparative Example 2.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating an X-ray diffraction pattern of a DDR type zeolite powder of Example 1.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating a particle size distribution of a DDR type zeolite powder of Example 1.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating an X-ray diffraction pattern of a DDR type zeolite powder of Example 2.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating an X-ray diffraction pattern of a DDR type zeolite powder of Example 3.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating an X-ray diffraction pattern of a DDR type zeolite powder of Comparative Example 2.
  • DDR type zeolite powder 1-1.
  • Outline of DDR type zeolite powder of the present invention The DDR type zeolite powder of the present invention has an average particle size of 0.1 ⁇ m or more and less than 2.5 ⁇ m, and a particle size of 80% or more of all particles is in a range of ⁇ 45% to + 90% with respect to the average particle size. It has a particle size distribution contained within.
  • DDR type zeolite powder is a powder containing particles having a crystal structure called DDR type zeolite.
  • the zeolite crystal has a tetrahedral structure of (SiO 4 ) 4- and / or (AlO 4 ) 5- as a basic unit, and the basic unit is connected to have a pore.
  • the particles having a crystal structure of DDR type zeolite include particles having a lattice defect of DDR type zeolite crystal or impurities containing one particle as well as particles of complete crystal.
  • the powder containing particles having a crystal structure of DDR type zeolite is a collection of solid particles.
  • the solid particles include particles unavoidably contained when a DDR type zeolite powder is prepared, as well as particles having the crystal structure of the DDR type zeolite defined above.
  • the “average particle size” is the median size (d50) in the particle size distribution of the solid particles constituting the DDR type zeolite powder.
  • the average particle diameter is defined as the median diameter (d50) in the particle size distribution measurement by the laser Doppler method.
  • the DDR type zeolite powder of the present invention preferably has an average particle size of 0.2 ⁇ m or more and less than 1.0 ⁇ m from the viewpoint of improving adsorption efficiency when used as an adsorbent, for example.
  • the particle diameter is in the range of ⁇ 45% to + 90% with respect to the average particle diameter” means that the particle diameter value of the particles constituting the powder is 55% to 190% of the average particle diameter value of the powder. It means the following.
  • particle size distribution may be obtained by means commonly used by those skilled in the art, and may be obtained, for example, based on particle size distribution measurement by a laser Doppler method.
  • the DDR type zeolite powder of the present invention is based on the diffraction intensity obtained by X-ray diffraction analysis, and the diffraction intensity A of the diffraction peak due to the DDR type zeolite crystal calculated by the following formula (I): It is preferable that the value of Y calculated by the following formula (III) as a ratio with the diffraction intensity B caused by the amorphous contained in the DDR type zeolite powder calculated in II) is 100 or more.
  • A Ca ⁇ ⁇ (C2 ⁇ C1) / ( ⁇ 2 ⁇ 1) ⁇ ( ⁇ a ⁇ 1) + C1 ⁇ (I):
  • B Cb ⁇ ⁇ (C2 ⁇ C1) / ( ⁇ 2 ⁇ 1) ⁇ ( ⁇ b ⁇ 1) + C1 ⁇ (II):
  • Y A / B (III).
  • FIG. 1 shows the result of X-ray diffraction analysis of DRR-type zeolite powder by X-ray irradiation of CuK ⁇ 1 ray, where the horizontal axis is the diffraction angle (2 ⁇ ) and the vertical axis is the diffraction intensity (cps).
  • cps diffraction intensity
  • C1 is the minimum value of the diffraction intensity between the diffraction peak derived from the (012) plane of the DDR type zeolite crystal and the diffraction peak derived from the same (104) plane.
  • ⁇ 1 is a diffraction angle (2 ⁇ ) indicating C1.
  • C2 is the minimum value of the diffraction intensity between the diffraction peak derived from the (606) plane of the DDR type zeolite crystal and the diffraction peak derived from the same (1.20) plane.
  • ⁇ 2 is a diffraction angle (2 ⁇ ) indicating C2.
  • Ca is the diffraction intensity of the diffraction peak derived from the (024) plane of the DDR type zeolite crystal.
  • ⁇ a is a diffraction angle (2 ⁇ ) indicating Ca.
  • Cb is the minimum value of the diffraction intensity between the diffraction peak derived from the (122) plane of the DDR type zeolite crystal and the diffraction peak derived from the same (027) plane.
  • ⁇ b is a diffraction angle (2 ⁇ ) representing Cb.
  • C1, ⁇ 1, C2, ⁇ 2, Ca, ⁇ a, Cb, and ⁇ b are the Collection of Simulated XRD Powder Patterns for Zeolites, Eds. : M. M.M. J. et al. Treacy and J.M. B. It is defined based on the knowledge about the X-ray diffraction analysis of the DDR type zeolite crystal described in Higgins, Elsevier (2001) and the following consideration by the present inventors.
  • C1 and C2 are values used for calculating the background.
  • a straight line connecting coordinates ( ⁇ 1, C1) and coordinates ( ⁇ 2, C2) in FIG. 1 represents the background.
  • the diffraction intensity is corrected by subtracting this background value from the measured value.
  • a diffraction peak derived from the amorphous contained in the DDR type zeolite powder usually appears at a diffraction angle of about 15 to 30 degrees (see, for example, FIG. 9 for details). ).
  • C1 and C2 are selected from a portion having a diffraction angle of less than 15 degrees or a diffraction angle of more than 30 degrees, which is less influenced by the diffraction intensity derived from the DDR type zeolite crystal and the diffraction intensity derived from the amorphous state.
  • the diffraction angle ⁇ 1 is selected from less than 15 degrees and the diffraction angle ⁇ 2 is selected from more than 30 degrees
  • ⁇ 1 and ⁇ 2 are respectively defined based on the following considerations.
  • C1 is the same as the bottom of both peaks, which is presumed to have the least influence of diffraction intensity derived from crystal and amorphous within this interval, that is, the diffraction peak derived from the (012) plane of the DDR type zeolite crystal ( 104)
  • ⁇ 1 is defined as a diffraction angle indicating C1.
  • C2 is the same as the skirt of both peaks, which is presumed to have the least influence of the diffraction intensity derived from the crystal and amorphous within this interval, that is, the diffraction peak derived from the (606) plane of the DDR type zeolite crystal ( The minimum value of the diffraction intensity between the diffraction peak derived from the 1 2 20) plane.
  • ⁇ 2 is defined as a diffraction angle indicating C2.
  • Ca is the diffraction intensity derived from the (024) plane showing the highest diffraction intensity among the diffraction peaks derived from the DDR type zeolite crystals. Even when the amorphous content in the powder increases, this diffraction peak is easily distinguished from the diffraction peaks derived from other DDR type zeolite crystals.
  • the right side of the above formula (I) indicates that the above-described Ca is reduced by the background value at the diffraction angle ⁇ a. That is, the value A is a value after correcting the diffraction intensity of the diffraction peak due to the DDR type zeolite crystal.
  • the diffraction intensity derived from the amorphous contained in the DDR type zeolite powder usually has the largest diffraction angle around 23 degrees (see, for example, FIG. 9 for details). Many diffraction peaks derived from DDR type zeolite crystals appear at a diffraction angle of around 23 degrees (see FIG. 1). Therefore, it is difficult to grasp the diffraction intensity derived only from the amorphous contained in the DDR type zeolite powder.
  • the inventors of the present invention examined a number of diffraction patterns of the powder, and between the diffraction peak derived from the (122) plane of the DDR type zeolite crystal and the diffraction peak derived from the (027) plane at a diffraction angle of about 23 degrees. Is focused on. This is because it is considered that the diffraction peaks are hardly affected by the diffraction intensity derived from the DDR type zeolite crystal.
  • Cb is the same as the bottom of the two peaks that are presumed to have the least influence of the diffraction intensity derived from the DDR type zeolite crystal within this interval, that is, the diffraction peak derived from the (122) plane of the DDR type zeolite crystal (027). )
  • the minimum value of the diffraction intensity between the diffraction peak derived from the surface. ⁇ b is defined as a diffraction angle indicating Cb.
  • the right side of the above formula (II) represents that the above-mentioned Cb is reduced by the background value at the diffraction angle ⁇ b. That is, the value of B is a value after correcting the diffraction intensity due to the amorphous contained in the DDR type zeolite powder.
  • the value of Y in the above formula (III) indicates the diffraction intensity A of the diffraction peak due to the DDR type zeolite crystal and the diffraction intensity B due to the amorphous contained in the DDR type zeolite powder in the DDR type zeolite powder. And the ratio.
  • the value of Y is large, the content of the DDR type zeolite crystal is high, and the content of amorphous is low in relation to this.
  • the DDR type zeolite powder When the value of Y in the above formula (III) is 100 or more, the DDR type zeolite powder has a sufficient pore volume characteristic of the DDR type zeolite crystal structure. In this case, when used as an adsorbent for low molecular gas, good adsorption performance is exhibited.
  • the DDR type zeolite powder of the present invention described above can be obtained by the production method described below (the method for producing the DDR type zeolite powder of the present invention).
  • Method for producing DDR type zeolite powder 2-1.
  • the method for producing a DDR type zeolite powder of the present invention comprises ethylenediamine, silica (SiO 2 ) in which 1-adamantanamine is dissolved, and water in a molar ratio of 1-adamantane.
  • the raw material solution dispersed in% is heat-treated at 100 to 180 ° C. to grow crystals until the average particle diameter becomes 0.1 ⁇ m or more and less than 2.5 ⁇ m using the DDR type zeolite seed crystal as a nucleus.
  • Process the steps of the manufacturing method of the present invention will be described in detail along a time series.
  • DDR type zeolite seed crystal referred to here is a particle of DDR type zeolite crystal that becomes a nucleus of crystal growth in hydrothermal synthesis (details will be described later).
  • the DDR type zeolite seed crystal is obtained by preparing a DDR type zeolite crystal by a conventionally known method such as the method described in Non-Patent Document 3, and then pulverizing it. Further, after pulverization, classification may be performed as appropriate to select only particles having a desired average particle size. Methods that can be generally used by those skilled in the art can also be applied to pulverization and classification.
  • a DDR type zeolite seed crystal having an average particle size of 10 to 300 nm is prepared.
  • the raw material solution is such that ethylenediamine in which 1-adamantanamine is dissolved, silica (SiO 2 ), and water are mixed, and the above DDR type zeolite seed crystals having an average particle diameter of 10 to 300 nm are dispersed. Prepared.
  • 1-adamantanamine is an SDA (structure directing agent) used for the synthesis of DDR type zeolite crystals, that is, a substance that serves as a template for forming the crystal structure of DDR type zeolite.
  • the molar ratio (1-adamantanamine / SiO 2 molar ratio) between 1-adamantanamine and silica (SiO 2 ), which is a raw material for the DDR type zeolite, is important.
  • the 1-adamantanamine / SiO 2 molar ratio must be in the range of 0.002 to 0.5, preferably in the range of 0.01 to 0.3, and preferably in the range of 0.01 to 0. More preferably, it is within the range of .1. If the 1-adamantanamine / SiO 2 molar ratio is less than this range, the 1-adamantanamine functioning as SDA is insufficient and it becomes difficult to form a DDR type zeolite. When the 1-adamantanamine / SiO 2 molar ratio exceeds this range, expensive 1-adamantanamine is added more than necessary, which is not preferable from the viewpoint of production cost.
  • 1-adamantanamine is sparingly soluble in water. Therefore, 1-adamantanamine is dissolved in ethylenediamine and then used for preparing a raw material solution. By completely dissolving 1-adamantanamine in ethylenediamine and preparing the raw material solution in a uniform state, DDR type zeolite crystals having a uniform crystal size can be grown.
  • the molar ratio of ethylenediamine to 1-adamantanamine needs to be in the range of 4 to 35, preferably in the range of 8 to 24. More preferably, it is within the range of 20.
  • the ethylenediamine / 1-adamantanamine molar ratio is below this range, the amount of ethylenediamine is insufficient to completely dissolve the 1-adamantanamine.
  • the ethylenediamine / 1-adamantanamine molar ratio exceeds this range, ethylenediamine is used more than necessary, which is not preferable from the viewpoint of production cost.
  • silica sol can be used as a supply source of silica (SiO 2 ) mixed in the raw material solution.
  • a commercially available silica sol can be suitably used as the silica sol.
  • the silica sol can be prepared by dissolving fine powdered silica in water or hydrolyzing the alkoxide.
  • the molar ratio of water as a solvent to silica (water / SiO 2 molar ratio) needs to be in the range of 10 to 500, and in the range of 14 to 250. It is preferably within the range, and more preferably within the range of 14 to 112. If the water / SiO 2 molar ratio is smaller than this range, the SiO 2 concentration of the raw material solution is too high, which is not preferable in that a large amount of unreacted SiO 2 that does not crystallize remains. On the other hand, when the water / SiO 2 molar ratio exceeds this range, the SiO 2 concentration of the raw material solution is too low, which is not preferable in that it is difficult to grow DDR type zeolite crystals.
  • a DDR type zeolite containing aluminum and a metal cation in its skeleton (hereinafter referred to as “low silica type DDR type zeolite”) can also be produced. Since this low silica type DDR type zeolite has cations in the pores, the adsorption performance and catalytic performance are different from those of the all silica type DDR type zeolite.
  • an aluminum source and a cation source are added in addition to water and silica sol as solvents to prepare a raw material solution.
  • aluminum sulfate, sodium aluminate, metallic aluminum or the like can be used as the aluminum source.
  • the SiO 2 / Al 2 O 3 molar ratio needs to be in the range of 50 to 1000, preferably in the range of 70 to 300, More preferably, it is within the range of 200.
  • the SiO 2 / Al 2 O 3 molar ratio is less than this range, it is not preferable in that the ratio of amorphous SiO 2 other than DDR type zeolite is increased.
  • the SiO 2 / Al 2 O 3 molar ratio exceeds this range, a DDR type zeolite can be produced, but it has characteristics as a low silica type DDR type zeolite due to a significantly reduced amount of aluminum and cations. This is not preferable in that the product is not sufficiently obtained and there is no difference from the production of an all-silica type zeolite.
  • the cation when a cation is added to the raw material solution, the cation includes an alkali metal, that is, any one of K, Na, Li, Rb, and Cs.
  • alkali metal that is, any one of K, Na, Li, Rb, and Cs.
  • the cation source include sodium hydroxide, sodium aluminate and the like when described with reference to Na.
  • the X 2 O / Al 2 O 3 molar ratio needs to be in the range of 1 to 25, and preferably in the range of 3 to 20, More preferably, it is in the range of 6-15.
  • the X 2 O / Al 2 O 3 molar ratio is less than this range, it is not preferable in that it becomes difficult to obtain a target DDR type zeolite having a SiO 2 / Al 2 O 3 molar ratio.
  • the X 2 O / Al 2 O 3 molar ratio exceeds this range, it is not preferable in that amorphous SiO 2 is mixed into the product.
  • a solution in which 1-adamantanamine is dissolved in ethylenediamine, water as a solvent, silica sol (in the case of synthesizing a low silica type DDR, an aluminum source is further used.
  • a method of preparing a raw material solution by mixing and dissolving aluminum sulfate and sodium hydroxide as a cation source in a predetermined ratio is mentioned.
  • a raw material solution in which DDR type zeolite seed crystals having an average particle size of 10 to 300 nm are dispersed at 0.001 to 1.0 mass% is used.
  • the DDR type zeolite seed crystal in the raw material solution As a method of dispersing the DDR type zeolite seed crystal in the raw material solution, a general stirring method that can be generally used by those skilled in the art to which the present invention belongs may be employed.
  • the DDR type zeolite seed crystals can be dispersed in the raw material solution by a method such as ultrasonic treatment.
  • the temperature of the heat treatment needs to be in the range of 100 to 180 ° C., more preferably in the range of 130 to 180 ° C.
  • the temperature of the heat treatment is lower than this range, it is not preferable in that DDR type zeolite cannot be formed.
  • the temperature of the heat treatment exceeds this range, it is not preferable in that a DOH type zeolite which is not a target product is formed.
  • the heat treatment time is usually a short time of 8 to 120 hours.
  • the production method of the present invention it is not necessary to constantly stir the raw material solution during the heat treatment. This is because 1-adamantanamine contained in the raw material solution is already dissolved in ethylenediamine, so that the raw material solution is kept in a uniform state.
  • DOH is not formed without constantly stirring the raw material solution, and a DDR single-phase crystal can be formed.
  • a mixed crystal of DDR and DOH may be formed unless the raw material solution is constantly stirred.
  • the percentage ratio of the mass of the obtained DDR type zeolite powder to the total mass of the silica contained in the raw material solution and the mass of the DDR type zeolite seed crystal is 50% or more. it can.
  • the average particle size is 0.1 ⁇ m or more and less than 2.5 ⁇ m, and the particle size of 80% or more of all particles is within the range of ⁇ 45% to + 90% with respect to the average particle size.
  • DDR type zeolite powder having a particle size distribution contained in the DDR type zeolite powder, that is, the DDR type zeolite powder of the present invention can be obtained.
  • the DDR type zeolite powder of the present invention is composed of fine particles, and shows a particle size distribution in which the particle size of most particles converges around the average particle size.
  • the action and effect of the DDR type zeolite powder of the present invention will be described by taking as an example the case of being used as an adsorbent.
  • a powder composed of particles having a small particle diameter is preferable. This is because if the particle size is large, molecules to be adsorbed cannot reach the depth of the pores in a short time.
  • the smaller the variation in the particle diameter of the particles constituting the powder the smaller the difference in adsorption performance between different product lots.
  • the DDR type zeolite powder of the present invention exhibits the adsorption performance that can be possessed stably and sufficiently within a short time. Furthermore, in the embodiment in which the value of Y in the above formula (III) is 100 or more, the content ratio of the DDR type zeolite crystals is high and the crystal structure is secured. The adsorption efficiency is high.
  • the DDR type zeolite powder of the present invention can be used as it is, or mixed with other powders obtained from the above production method.
  • the particles that can constitute the “DDR type zeolite powder” defined above are extracted, and the powder composed of the extracted particles is used in the present invention.
  • the characteristics (average particle size and particle size distribution, sometimes Y value of the above formula (III) in addition to the above two characteristics) belonging to the DDR type zeolite powder It shall fall under use.
  • DDR type zeolite powder Example 1
  • Preparation of DDR type zeolite seed crystals In order to prepare the DDR type zeolite seed crystal, a DDR type zeolite powder was manufactured based on the description in Non-Patent Document 3 or Patent Document 1. Further, the DDR type zeolite powder was pulverized using a bead mill Minicer manufactured by Ashizawa Finetech. Specifically, a dispersion in which DDR type zeolite powder was dispersed in water was prepared and pulverized at a rotation speed of 3820 rpm for 2 hours.
  • the DDR type zeolite dispersion liquid after pulverization was centrifuged at 3000 rpm for 15 minutes using a Hitachi centrifuge, himacCT5L, to classify and remove coarse particles.
  • the DDR type zeolite dispersion obtained as described above was used as a seed crystal dispersion. This seed crystal dispersion contained DDR type zeolite seed crystals at an average particle diameter of 172 nm.
  • composition of this raw material solution was such that the concentration of the DDR type zeolite seed crystals was 0.28% by mass, the 1-adamantanamine / SiO 2 molar ratio was 0.027, and the water / SiO 2 molar ratio was 24.
  • Example 2 In the preparation of the DDR type zeolite seed crystal of (1), a seed crystal dispersion containing a DDR type zeolite seed crystal having an average particle diameter of 129 nm is prepared, and in the heat treatment of (3), heating is performed at 160 ° C. for 16 hours. The same operations as in (1) to (4) of Example 1 were performed except that the treatment was performed.
  • Example 1 In the preparation of the DDR type zeolite seed crystal of (1), a seed crystal dispersion containing a DDR type zeolite seed crystal having an average particle diameter of 1.5 ⁇ m is prepared, and the seed used in the preparation of the raw material solution of (2) The concentration of the DDR type zeolite seed crystal in the crystal dispersion is 0.0011% by mass, the concentration of the DDR type zeolite seed crystal in the raw material solution after preparation is 0.00062% by mass, The same operations as in (1) to (4) of Example 1 were carried out except that the heat treatment was carried out at 48 ° C. for 48 hours.
  • Nanotrack is a device for obtaining particle diameter based on the laser Doppler method.
  • FIGS. 2 to 5 show the particle size distributions of the DDR type zeolite powders obtained in Examples 1 to 3 and Comparative Example 2, respectively.
  • 2 to 5 show semilogarithmic graphs in which the horizontal axis represents the particle diameter ( ⁇ m), the vertical axis represents the frequency (%), and the horizontal axis represents a logarithmic scale.
  • the DDR type zeolite powders obtained in Examples 1 to 3 had less variation in particle diameter as compared with Comparative Example 2. Specific results such as the average particle diameter (d50) will be described below.
  • the average particle size (d50) is 568 nm
  • the particle size (d10) corresponding to the cumulative frequency 10% is the average particle size ⁇ 103 nm
  • the cumulative frequency 90% is 90%.
  • the particle diameter corresponding to (d90) was an average particle diameter +134 nm. Therefore, in the DDR type zeolite powder obtained in Example 1, the particle size of 80% of all particles was in the range of average particle size ⁇ 18% to average particle size + 24%.
  • the average particle size (d50) is 276 nm
  • the particle size corresponding to the cumulative frequency 10% (d10) is the average particle size ⁇ 103 nm
  • the cumulative frequency 90% is the average particle diameter corresponding to (d90) was an average particle diameter of +141 nm. Therefore, in the DDR type zeolite powder obtained in Example 2, the particle diameter of 80% of all particles was in the range of average particle diameter -37% to average particle diameter + 52%.
  • the average particle size (d50) is 539 nm
  • the particle size (d10) corresponding to the cumulative frequency of 10% is the average particle size of -237 nm
  • the cumulative frequency is 90%.
  • the particle diameter (d90) corresponding to was an average particle diameter +472 nm. Therefore, in the DDR type zeolite powder obtained in Example 3, the particle size of 80% of all particles was within the range of the average particle size of ⁇ 44% to the average particle size of + 88%.
  • the average particle size (d50) is 132 nm
  • the particle size corresponding to the cumulative frequency of 10% (d10) is the average particle size of -69 nm
  • the cumulative frequency is 90%.
  • the particle diameter corresponding to (d90) was an average particle diameter +194 nm. Therefore, in the DDR type zeolite powder obtained in Example 3, the particle size of 80% of all particles was in the range of the average particle size of ⁇ 52% to the average particle size of + 147%.
  • X-ray diffraction analysis and calculation of the value of Y X-ray diffraction analysis was performed using a high-resolution X-ray diffractometer RINT2000 (manufactured by Rigaku). The X-rays to be irradiated were CuK ⁇ 1 rays and were used at 50 kV and 300 mA. The scanning mode was continuous, the scanning axis was 2 ⁇ / ⁇ , and the scanning range was 5 to 50 degrees. The scan step was 0.02 degrees and the scan speed was 1 degree / minute.
  • C1, ⁇ 1, C2, ⁇ 2, Ca, ⁇ a, Cb, and ⁇ b are determined according to the above-mentioned rules, and these values are applied to the above formulas (I) to (III) to obtain the value of Y. Calculated.
  • Example 1 since the obtained DDR type zeolite powder is composed of particles grown from a DDR type zeolite seed crystal, the rate of containing the DDR type zeolite crystal is high, and the rate of containing the amorphous form is high. Low.
  • Comparative Example 2 since a powder was obtained by pulverizing DDR type zeolite particles having a large particle diameter, it is considered that an external force was applied to the particles during pulverization and many amorphous portions were generated.
  • the yield of the DDR type zeolite powder is the ratio of the mass of the obtained DDR type zeolite powder to the total of the mass of silica (SiO 2 ) contained in the raw material solution and the mass of the DDR type zeolite seed crystal (percentage ( %): Mass of DDR type zeolite powder / (mass of silica in raw material solution + mass of zeolite seed crystal) ⁇ 100).
  • the yield of the DDR type zeolite powder was 62% in Example 1, 60% in Example 2, 55% in Example 3, and 90% in Comparative Example 1.
  • the average particle size is 0.1 ⁇ m or more and less than 2.5 ⁇ m, and the particle size of 80% or more of all particles is the average particle size.
  • a DDR type zeolite powder having a particle size distribution in the range of ⁇ 45 to + 90% was produced.
  • the Y value calculated from the above formulas (I) to (III) was 100 or more. That is, it was found that the DDR type zeolite powder of the present invention described above can be manufactured by the manufacturing method of the present invention.
  • this example shows that the production method of the present invention is superior to the conventional method in the following three points.
  • the step of further pulverizing and classifying from the DDR type zeolite powder having a large particle diameter, which is necessary for the conventional method, can be omitted, the time cost and the equipment cost are reduced. Is excellent in terms of.
  • a powder having an average particle size of 0.1 ⁇ m or more and less than 2.5 ⁇ m can be produced with little variation in particle size. Is excellent.
  • the production method of the present invention is excellent in that it can produce a powder having a high rate of containing DDR type zeolite crystals and a low rate of containing non-crystals.
  • the production method of the present invention is a DDR type zeolite powder that exhibits excellent performance in application to separation of a catalyst, a catalyst carrier, an adsorbent, and a low molecular gas. It shows that it can be manufactured stably.
  • the present invention can be used as a DDR type zeolite powder used for a catalyst, a catalyst carrier, an adsorbent, a gas separation membrane, a pervaporation membrane, and the like, and a production method thereof.

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Abstract

　微細な粒子から構成され、大半の粒子の粒子径が平均粒子径付近に収束する粒度分布が示されるＤＤＲ型ゼオライト粉体、及びその製造方法を提供する。１－アダマンタンアミンを溶解させたエチレンジアミン、シリカ（ＳｉＯ２）、及び水が、モル比において１－アダマンタンアミン／ＳｉＯ２が０．００２～０．５かつ水／ＳｉＯ２が１０～５００にて混合されており、さらに平均粒子径１０～３００ｎｍのＤＤＲ型ゼオライト種結晶が０．００１～１．０質量％にて分散されている原料溶液を、１００～１８０℃にて加熱処理することにより、前記ＤＤＲ型ゼオライト種結晶を核として平均粒子径が０．１μｍ以上２．５μｍ未満となるまで結晶成長させる工程を有するＤＤＲ型ゼオライト粉体の製造方法。

Description

ＤＤＲ型ゼオライト紛体、及びＤＤＲ型ゼオライト粉体の製造方法
　本発明は、触媒、触媒担体、吸着剤、ガス分離膜、浸透気化膜などに利用されるＤＤＲ型ゼオライト粉体、及びＤＤＲ型ゼオライト粉体の製造方法に関する。
　ゼオライトは、触媒、触媒担体、吸着材等として利用されている。ゼオライトは、分子篩作用を有し、ゼオライトを膜状にしたゼオライト膜は、ガス分離膜や浸透気化膜として利用されている。
　ゼオライトは、その結晶構造から、ＬＴＡ、ＭＦＩ、ＭＯＲ、ＡＦＩ、ＦＥＲ、ＦＡＵ、ＤＤＲ等の型に分類される。これらの中でもＤＤＲ（Ｄｅｃａ－Ｄｏｄｅｃａｓｉｌ　３Ｒ）型ゼオライトは、主成分がシリカからなる結晶であり、その結晶構造内に細孔を有する。この細孔は、酸素８員環を含む多面体によって形成され、細孔径が４．４×３．６オングストロームである。
　ＤＤＲ型ゼオライトの細孔径は、ゼオライトの中では比較的小さい。そのため、ＤＤＲ型ゼオライトは、水素（Ｈ２）、二酸化炭素（ＣＯ２）、メタン（ＣＨ４）、エタン（Ｃ２Ｈ６）、エチレン（Ｃ２Ｈ４）、プロパン（Ｃ３Ｈ８）、プロピレン（Ｃ３Ｈ６）等の低分子ガスのみを分離する吸着剤や分離篩膜に利用できる。
　非特許文献１～３には、ＤＤＲ型ゼオライトの製造方法が開示されている。これらの製造方法では、構造規定剤（以下、「ＳＤＡ」と記す）に１－アダマンタンアミンを用い、テトラメトキシシラン、エチレンジアミン、及び水を原料とし、水熱合成によって、アルミニウムを含まないオールシリカのＤＤＲ型ゼオライト粉体を製造する。
　特許文献１には、非特許文献１～３に記載のＤＤＲ型ゼオライトの製造方法を簡便化した技術が開示されている。この技術では、エチレンジアミンに溶解させた１－アダマンタンアミンを含んだ原料溶液に、種結晶としてＤＤＲ型ゼオライト粉末を添加して分散させた後（或いは、種結晶であるＤＤＲ型ゼオライト粉末を付着せしめた支持体を浸漬させた後）、水熱合成する。
特開２００４－８３３７５号公報
Ｈ．　Ｇｉｅｓ，　Ｊｏｕｒｎａｌ　ｏｆ　Ｉｎｃｌｕｓｉｏｎ　Ｐｈｅｎｏｍｅｎａ　２，　（１９８４）２７５－２７８ Ａ．　Ｓｔｅｗａｒｔ，　Ｄ．　Ｗ．　Ｊｏｈｎｓｏｎ　ａｎｄ　Ｍ．　Ｄ．　Ｓｈａｎｎｏｎ，　Ｓｔｕｄｉｅｓ　ｉｎ　Ｓｕｒｆａｃｅ　Ｓｃｉｅｎｃｅ　ａｎｄ　Ｃａｔａｌｙｓｉｓ　ｖｏｌ．３７，　（１９８８）５７－６４ Ｍ．　Ｊ．　ｄｅｎ　Ｅｘｔｅｒ，　Ｊ．　Ｃ．　Ｊａｎｓｅｎ，　Ｈ．　ｖａｎ　Ｂｅｋｋｕｍ，　Ｓｔｕｄｉｅｓ　ｉｎ　Ｓｕｒｆａｃｅ　Ｓｃｉｅｎｃｅ　ａｎｄ　Ｃａｔａｌｙｓｉｓ　ｖｏｌ．８４，　Ｅｄ．　ｂｙ　Ｊ．　Ｗｅｉｔｋａｍｐ　ｅｔ　ａｌ．，　Ｅｌｓｅｖｉｅｒ　（１９９４）１１５９－１１６６
　しかしながら、非特許文献１～３のＤＤＲ型ゼオライトの製造方法では、粒子の粉砕や分級を経ることなく、平均粒子径２．５μｍ未満の微細なＤＤＲ型ゼオライト粉体を得られない。
　さらに、粒子の粉砕と分級を施した場合でも、得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体は、平均粒子径付近に大半の粒子の粒子径が収束する粒度分布を示し難い。また、粉砕によって粒子に外力が加わるため、非晶質の含有率が高い粒子を多数生成する。
　よって、従来の製造方法では、平均粒子径２．５μｍ未満の微細なＤＤＲ型ゼオライト粉体を得ようとした場合、非晶質の含有率が高く、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の含有率が低いものになってしまう。
　ＤＤＲ型ゼオライト粉体は、非晶質の含有率が高い場合、ＤＤＲ型ゼオライトの結晶構造に起因した種々の有用な特性が発揮されにくくなる。例えば、吸着等に有効な細孔の容積が小さくなり、低分子ガスを分離の対象とする吸着剤としての性能も劣る。
　また、特許文献１には、得られる粉体の粒度分布やＤＤＲ型ゼオライト結晶の含有率などは開示されておらず、粒度分布や結晶の含有率を最適化するための条件も開示されていない。
　上記の問題に鑑みて、本発明の課題は、微細な粒子から構成され、大半の粒子の粒子径が平均粒子径付近に収束する粒度分布が示されるＤＤＲ型ゼオライト粉体、及びその製造方法を提供することにある。
　上述の課題を解決するため、本発明者等は、鋭意検討した結果、所定の平均粒子径のＤＤＲ型ゼオライトの種結晶を結晶成長させる好適な条件を見出し、本発明を完成するに至った。すなわち、本発明によれば、以下に示すゼオライト粉体及びゼオライト粉体の製造方法が提供される。
［１］　平均粒子径が０．１μｍ以上２．５μｍ未満であり、全粒子の８０％以上の粒子径が前記平均粒子径に対して－４５％～＋９０％の範囲内に含まれる粒度分布を有するＤＤＲ型ゼオライト粉体。
［２］　前記平均粒子径が、０．２μｍ以上１．０μｍ未満である前記［１］に記載のＤＤＲ型ゼオライト粉体。
［３］　Ｘ線回折分析により得られる回折強度に基づき、下記式（Ｉ）にて算出されるＤＤＲ型ゼオライト結晶に起因する回折ピークの回折強度Ａと、下記式（ＩＩ）にて算出されるＤＤＲ型ゼオライト粉体に含まれる非晶質に起因する回折強度Ｂとの比として下記式（ＩＩＩ）にて算出されるＹの値が、１００以上である前記［１］又は［２］に記載のＤＤＲ型ゼオライト粉体：
　Ａ＝Ｃａ－｛（Ｃ２－Ｃ１）／（θ２－θ１）×（θａ－θ１）＋Ｃ１｝（Ｉ）：
　Ｂ＝Ｃｂ－｛（Ｃ２－Ｃ１）／（θ２－θ１）×（θｂ－θ１）＋Ｃ１｝（ＩＩ）：
　Ｙ＝Ａ／Ｂ　（ＩＩＩ）。
　（但し、Ｃ１は、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の（０１２）面に由来する回折ピークと同（１０４）面に由来する回折ピークとの間の回折強度の最小値、θ１は、Ｃ１を示す回折角（２θ）、Ｃ２は、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の（６０６）面に由来する回折ピークと同（１　２　２０）面に由来する回折ピークとの間の回折強度の最小値、θ２は、Ｃ２を示す回折角（２θ）、Ｃａは、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の（０２４）面に由来する回折ピークの回折強度、θａは、Ｃａを示す回折角（２θ），Ｃｂは、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の（１２２）面に由来する回折ピークと同（０２７）面に由来する回折ピークとの間の回折強度の最小値、θｂは、Ｃｂを示す回折角（２θ））
［４］　１－アダマンタンアミンを溶解させたエチレンジアミン、シリカ（ＳｉＯ２）、及び水が、モル比において１－アダマンタンアミン／ＳｉＯ２が０．００２～０．５かつ水／ＳｉＯ２が１０～５００にて混合されており、さらに平均粒子径１０～３００ｎｍのＤＤＲ型ゼオライト種結晶が０．００１～１．０質量％にて分散されている原料溶液を、１００～１８０℃にて加熱処理することにより、前記ＤＤＲ型ゼオライト種結晶を核として平均粒子径が０．１μｍ以上２．５μｍ未満となるまで結晶成長させる工程を有するＤＤＲ型ゼオライト粉体の製造方法。
［５］　前記原料溶液に含まれる前記シリカの質量と前記ＤＤＲ型ゼオライト種結晶の質量との合計に対する得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体の質量の百分率比が、５０％以上である前記［４］に記載のＤＤＲ型ゼオライト粉体の製造方法。
　本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体は、微細な粒子から構成され、大半の粒子の粒子径が平均粒子径付近に収束する粒度分布を示す。また、本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体の製造方法では、微細な粒子から構成され、大半の粒子の粒子径が平均粒子径付近に収束する粒度分布を示すＤＤＲ型ゼオライト粉体を得られる。
ＤＤＲ型ゼオライト粉体のＸ線回折パターンの一例を表す図である。 実施例１のＤＤＲ型ゼオライト粉体の粒度分布を表す図である。 実施例２のＤＤＲ型ゼオライト粉体の粒度分布を表す図である。 実施例３のＤＤＲ型ゼオライト粉体の粒度分布を表す図である。 比較例２のＤＤＲ型ゼオライト粉体の粒度分布を表す図である。 実施例１のＤＤＲ型ゼオライト粉体のＸ線回折パターンを表す図である。 実施例２のＤＤＲ型ゼオライト粉体のＸ線回折パターンを表す図である。 実施例３のＤＤＲ型ゼオライト粉体のＸ線回折パターンを表す図である。 比較例２のＤＤＲ型ゼオライト粉体のＸ線回折パターンを表す図である。
　以下、本発明の実施の形態について説明する。本発明は、以下の実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲を逸脱しない限りにおいて、変更、修正、改良を加え得るものである。
１．ＤＤＲ型ゼオライト粉体：
１－１．本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体の概要：
　本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体は、平均粒子径が０．１μｍ以上２．５μｍ未満であって、全粒子の８０％以上の粒子径が平均粒子径に対して－４５％～＋９０％の範囲内に含まれる粒度分布を有する。
　「ＤＤＲ型ゼオライト粉体」は、ＤＤＲ型ゼオライトと称される結晶構造を有する粒子が含まれている粉体である。
　ゼオライト結晶は、（ＳｉＯ４）４－及び／又は（ＡｌＯ４）５－の四面体構造を基本単位とし、この基本単位が連結して細孔を有した構造である。
　ＤＤＲ型ゼオライトの結晶構造を有する粒子には、完全結晶の粒子はもちろん、１個の粒子中にＤＤＲ型ゼオライト結晶の格子欠陥があるものや不純物を含んだものも包含される。
　ＤＤＲ型ゼオライトの結晶構造を有する粒子が含まれる粉体とは、固体の粒子が集合したものである。固体の粒子には、先に定義したＤＤＲ型ゼオライトの結晶構造を有する粒子はもちろん、ＤＤＲ型ゼオライト粉体が調製される時などに不可避的に含有された粒子も含まれる。
　「平均粒子径」とは、ＤＤＲ型ゼオライト粉体を構成する固体の粒子の粒子径の分布におけるメジアン径（ｄ５０）である。例えば、平均粒子径は、レーザードップラー法による粒度分布測定でのメジアン径（ｄ５０）として規定される。
　本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体は、例えば吸着剤として用いる際に吸着効率が向上される観点からは、平均粒子径が、０．２μｍ以上１．０μｍ未満であることが好ましい。
　「粒子径が前記平均粒子径に対して－４５％～＋９０％の範囲内」とは、粉体を構成する粒子の粒子径の値が、粉体の平均粒子径値の５５％以上１９０％以下にあることをいう。
　ここでいう「粒度分布」は、当業者が通常用いる手段によって得られるものであればよく、例えば、レーザードップラー法による粒度分布測定に基づき得られる。
１－２．ＤＤＲ型ゼオライト結晶の含有率が高い粉体：
　本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体は、Ｘ線回折分析により得られる回折強度に基づき、下記式（Ｉ）にて算出されるＤＤＲ型ゼオライト結晶に起因する回折ピークの回折強度Ａと、下記式（ＩＩ）にて算出されるＤＤＲ型ゼオライト粉体に含まれる非晶質に起因する回折強度Ｂとの比として下記式（ＩＩＩ）にて算出されるＹの値が、１００以上であるものが好ましい：
　Ａ＝Ｃａ－｛（Ｃ２－Ｃ１）／（θ２－θ１）×（θａ－θ１）＋Ｃ１｝（Ｉ）：
　Ｂ＝Ｃｂ－｛（Ｃ２－Ｃ１）／（θ２－θ１）×（θｂ－θ１）＋Ｃ１｝（ＩＩ）：
　Ｙ＝Ａ／Ｂ　（ＩＩＩ）。
　上記式（Ｉ）～（ＩＩＩ）中の表されるＣ１、θ１、Ｃ２、θ２、Ｃａ、θａ、Ｃｂ、及びθｂは、次に説明するものである。
　図１は、ＣｕＫα１線のＸ線の照射による、ＤＲＲ型ゼオライト粉末のＸ線回折分析の結果を表し、横軸が回折角（２θ）、縦軸が回折強度（ｃｐｓ）である。以下、図１を参照し説明する。下記の説明での回折角に関する具体的な数値は、ＣｕＫα１線のＸ線が照射される場合に適用されるものである点に留意する。
　Ｃ１は、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の（０１２）面に由来する回折ピークと同（１０４）面に由来する回折ピークとの間の回折強度の最小値である。θ１は、Ｃ１を示す回折角（２θ）である。
　Ｃ２は、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の（６０６）面に由来する回折ピークと同（１　２　２０）面に由来する回折ピークとの間の回折強度の最小値である。θ２は、Ｃ２を示す回折角（２θ）である。
　Ｃａは、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の（０２４）面に由来する回折ピークの回折強度である。θａは、Ｃａを示す回折角（２θ）である。
　Ｃｂは、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の（１２２）面に由来する回折ピークと同（０２７）面に由来する回折ピークとの間の回折強度の最小値である。θｂは、Ｃｂを示す回折角（２θ）である。
　Ｃ１、θ１、Ｃ２、θ２、Ｃａ、θａ、Ｃｂ、及びθｂは、Ｃｏｌｌｅｃｔｉｏｎ　ｏｆ　Ｓｉｍｕｌａｔｅｄ　ＸＲＤ　Ｐｏｗｄｅｒ　Ｐａｔｔｅｒｎｓ　ｆｏｒ　Ｚｅｏｌｉｔｅｓ，　Ｅｄｓ．：　Ｍ．Ｍ．Ｊ．Ｔｒｅａｃｙ　ａｎｄ　Ｊ．Ｂ．Ｈｉｇｇｉｎｓ，　Ｅｌｓｅｖｉｅｒ　（２００１）、に記述されているＤＤＲ型ゼオライト結晶のＸ線回折分析に関する知見、及び本発明者等による以下の考察に基づいて規定されている。
　Ｃ１及びＣ２は、バックグランドの算出に用いる値である。図１中の座標（θ１、Ｃ１）と座標（θ２、Ｃ２）とを結ぶ直線は、バックグラウンドを表す。
　回折強度は、実測値からこのバックグランドの値を減じることによって、補正される。
　ＤＤＲ型ゼオライト粉末のＸ線回折分析では、ＤＤＲ型ゼオライト粉体に含まれる非晶質に由来する回折ピークが、通常、回折角１５～３０度付近に現れる（例えば図９を参照、詳しくは後述）。
　そこで、Ｃ１、Ｃ２は、ＤＤＲ型ゼオライト結晶に由来する回折強度、及び非晶質に由来する回折強度による影響が少ない、回折角１５度未満、又は回折角３０度超の部分から選ぶ。具体的には、回折角θ１が１５度未満、回折角θ２が３０度超から選択され、θ１及びθ２は、それぞれ次の考察に基づいて規定されている。
　回折角１５度未満では、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の（０１２）面に由来する回折ピークと同（１０４）面に由来する回折ピークとの間が、他の明瞭な回折ピークがなくて最も広い（図１参照）。よって、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の（０１２）面に由来する回折ピークと同（１０４）面に由来する回折ピークとの間では、ＤＤＲ型ゼオライト結晶に由来する回折強度、及び非晶質に由来する回折強度による影響が少ない。
　Ｃ１は、この間隔内において結晶及び非晶質に由来する回折強度の影響が最も少ないと推察される前記両ピークの裾、すなわちＤＤＲ型ゼオライト結晶の（０１２）面に由来する回折ピークと同（１０４）面に由来する回折ピークとの間の回折強度の最小値とする。θ１は、Ｃ１を示す回折角として規定されている。
　回折角３０度超では、ＤＤＲ型ゼオライト結晶に由来する回折ピークが多数存在するため、Ｃ２は、Ｃ１と同様に規定することが困難である。
　回折角３０度超では、ＤＤＲ型ゼオライト結晶に由来する回折ピークのうち、同回折ピークで最も強い回折強度を示す、（０２４）面に由来する回折ピークの回折強度に対して、０．７％以上の回折強度を示す回折ピークのみをピックアップする。
　このようにピックアップされた回折ピークの分布では、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の（６０６）面に由来する回折ピークと（１　２　２０）面に由来する回折ピークとの間が、他の明瞭な回折ピークがなくて最も広くなる。よって、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の（６０６）面に由来する回折ピークと同（１　２　２０）面に由来する回折ピークとの間では、ＤＤＲ型ゼオライト結晶に由来する回折強度、及び非晶質に由来する回折強度による影響が少ない。
　Ｃ２は、この間隔内において結晶及び非晶質に由来する回折強度の影響が最も少ないと推察される前記両ピークの裾、すなわちＤＤＲ型ゼオライト結晶の（６０６）面に由来する回折ピークと同（１　２　２０）面に由来する回折ピークとの間の回折強度の最小値とする。θ２は、Ｃ２を示す回折角として規定されている。
　Ｃａは、ＤＤＲ型ゼオライト結晶に由来する回折ピークのうち、最も大きい回折強度を示す（０２４）面に由来する回折強度である。この回折ピークは、粉体中の非晶質の含有率が増加しても、他のＤＤＲ型ゼオライト結晶由来の回折ピークと比較して識別されやすい。
　上記式（Ｉ）の右辺は、上述のＣａが、回折角θａでのバックグラウンドの値によって減ぜられていることを表す。すなわち、Ａの値は、ＤＤＲ型ゼオライト結晶に起因する回折ピークの回折強度の補正後の値である。
　続いて、ＤＤＲ型ゼオライト粉体に含まれる非晶質に起因する回折強度である、Ｃｂについて説明する。
　ＤＤＲ型ゼオライト粉体に含まれる非晶質に由来する回折強度は、通常、回折角２３度付近が最も大きい（例えば図９を参照、詳しくは後述）。ＤＤＲ型ゼオライト結晶に由来する回折ピークは、回折角２３度付近に多数現れる（図１参照）。そのため、ＤＤＲ型ゼオライト粉体に含まれる非晶質のみに由来する回折強度を把握するのは困難である。
　本発明者等は、粉末の回折パターンを多数検討し、回折角２３度近傍において、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の（１２２）面に由来する回折ピークと同（０２７）面に由来する回折ピークとの間に着目している。この両回折ピーク間では、ＤＤＲ型ゼオライト結晶に由来する回折強度の影響を受けにくいと考えられるためである。
　Ｃｂは、この間隔内においてＤＤＲ型ゼオライト結晶に由来する回折強度の影響が最も少ないと推察される前記両ピークの裾、すなわちＤＤＲ型ゼオライト結晶の（１２２）面に由来する回折ピークと同（０２７）面に由来する回折ピークとの間の回折強度の最小値とする。θｂは、Ｃｂを示す回折角として規定されている。
　上記式（ＩＩ）の右辺は、上述のＣｂが、回折角θｂでのバックグラウンドの値によって減ぜられることを表す。すなわち、Ｂの値は、ＤＤＲ型ゼオライト粉体に含まれる非晶質に起因する回折強度の補正後の値である。
　上記式（ＩＩＩ）のＹの値は、ＤＤＲ型ゼオライト粉体における、ＤＤＲ型ゼオライト結晶に起因する回折ピークの回折強度Ａと、ＤＤＲ型ゼオライト粉体に含まれる非晶質に起因する回折強度Ｂとの比である。Ｙの値が大きいときは、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の含有率が高く、これに相関して非結晶の含有率が低い状態を表している。
　ＤＤＲ型ゼオライト粉体は、上記式（ＩＩＩ）のＹの値が１００以上の場合、ＤＤＲ型ゼオライト結晶構造に特徴的な細孔の容積が十分に確保される。この場合、低分子ガスを対象とした吸着剤に利用すると、良好な吸着性能を発揮する。
　以上で説明した本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体は、次に述べる製造方法（本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体の製造方法）によって得られる。
２．ＤＤＲ型ゼオライト粉体の製造方法：
２－１．本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体の製造方法の概要：
　本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体の製造方法（以下、「本発明の製造方法」）は、１－アダマンタンアミンを溶解させたエチレンジアミン、シリカ（ＳｉＯ２）、及び水が、モル比において１－アダマンタンアミン／ＳｉＯ２が０．００２～０．５かつ水／ＳｉＯ２が１０～５００にて混合されており、さらに平均粒子径１０～３００ｎｍのＤＤＲ型ゼオライト種結晶が０．００１～１．０質量％にて分散されている原料溶液を、１００～１８０℃にて加熱処理することにより、前記ＤＤＲ型ゼオライト種結晶を核として平均粒子径が０．１μｍ以上２．５μｍ未満となるまで結晶成長させる工程を有する。以下、本発明の製造方法について、諸工程を時系列に沿って詳しく説明する。
２－２．ＤＤＲ型ゼオライト種結晶の調製：
　ここでいう「ＤＤＲ型ゼオライト種結晶」とは、水熱合成（詳しくは後述）において、結晶成長の核となるＤＤＲ型ゼオライト結晶の粒子である。
　ＤＤＲ型ゼオライト種結晶は、例えば非特許文献３に記載の方法など、従来公知の方法によってＤＤＲ型ゼオライト結晶を作製し、これを粉砕して得られる。また、粉砕後、適宜分級などを行い、所望の平均粒子径の粒子のみを選別してもよい。粉砕及び分級についても、当業者が通常用いうる方法が適用できる。
　本発明の製造方法では、平均粒子径１０～３００ｎｍのＤＤＲ型ゼオライト種結晶を調製する。
２－３．原料溶液の調製：
　原料溶液は、１－アダマンタンアミンを溶解させたエチレンジアミン、シリカ（ＳｉＯ２）、及び水が混合されており、さらに上述の平均粒子径１０～３００ｎｍのＤＤＲ型ゼオライト種結晶が分散されているように調製される。
　１－アダマンタンアミンは、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の合成に用いられるＳＤＡ（構造規定剤）、即ち、ＤＤＲ型ゼオライトの結晶構造を形成させるための鋳型となる物質である。
　１－アダマンタンアミンとＤＤＲ型ゼオライトの原料であるシリカ（ＳｉＯ２）とのモル比（１－アダマンタンアミン／ＳｉＯ２モル比）が重要である。１－アダマンタンアミン／ＳｉＯ２モル比は、０．００２～０．５の範囲内であることが必要であり、０．０１～０．３の範囲内であることが好ましく、０．０１～０．１の範囲内であることが更に好ましい。１－アダマンタンアミン／ＳｉＯ２モル比がこの範囲より少ないと、ＳＤＡとして働く１－アダマンタンアミンが不足してＤＤＲ型ゼオライトを形成することが困難となる。１－アダマンタンアミン／ＳｉＯ２モル比がこの範囲を超えると、高価な１－アダマンタンアミンが必要以上に添加されることになり、製造コストの面から好ましくない。
　１－アダマンタンアミンは、水に対して難溶性である。そのため、１－アダマンタンアミンは、エチレンジアミンに溶解させた後、原料溶液の調製に供される。１－アダマンタンアミンをエチレンジアミンに完全に溶解させ、原料溶液が均一な状態にて調製されることにより、均一な結晶サイズを有するＤＤＲ型ゼオライト結晶を結晶成長させることが可能となる。
　エチレンジアミンと１－アダマンタンアミンとのモル比（エチレンジアミン／１－アダマンタンアミンモル比）は、４～３５の範囲内であることが必要であり、８～２４の範囲内であることが好ましく、１０～２０の範囲内であることが更に好ましい。エチレンジアミン／１－アダマンタンアミンモル比がこの範囲より少ないとき、エチレンジアミンの量が、１－アダマンタンアミンを完全に溶解させるのに不充分である。一方、エチレンジアミン／１－アダマンタンアミンモル比がこの範囲を超えると、エチレンジアミンが必要以上に使用されることになり、製造コストの面から好ましくない。
　本発明の製造方法では、原料溶液に混合されているシリカ（ＳｉＯ２）の供給源としてシリカゾルを用いることができる。シリカゾルは、市販のシリカゾルを好適に用いることができる。他に、シリカゾルは、微粉末状シリカを水に溶解し、或いは、アルコキシドを加水分解することにより調製できる。
　本発明の製造方法では、溶媒である水とシリカ（ＳｉＯ２）とのモル比（水／ＳｉＯ２モル比）は、１０～５００の範囲内であることが必要であり、１４～２５０の範囲内であることが好ましく、１４～１１２の範囲内であることが更に好ましい。水／ＳｉＯ２モル比がこの範囲より小さいと、原料溶液のＳｉＯ２濃度が高すぎるために、結晶化しない未反応のＳｉＯ２が多量に残存する点において好ましくない。一方、水／ＳｉＯ２モル比がこの範囲を超えると、原料溶液のＳｉＯ２濃度が低すぎるために、ＤＤＲ型ゼオライト結晶を結晶成長させることが困難になる点において好ましくない。
　本発明の製造方法によれば、オールシリカ型のＤＤＲ型ゼオライトの他、その骨格にアルミニウムと金属カチオンを含むＤＤＲ型ゼオライト（以下、「ローシリカ型のＤＤＲ型ゼオライト」と記す）も製造できる。このローシリカ型のＤＤＲ型ゼオライトは、細孔にカチオンを有するため、吸着性能や触媒性能がオールシリカ型のＤＤＲ型ゼオライトとは異なる。ローシリカ型のＤＤＲ型ゼオライトを製造する場合には、溶媒である水とシリカゾルの他、アルミニウム源、カチオン源を添加して原料溶液を調製する。
　本発明の製造方法では、アルミニウム源が原料溶液に添加される場合、アルミニウム源としては、硫酸アルミニウム、アルミン酸ナトリウム、金属アルミニウム等を用いることができる。
　アルミニウムが酸化物として換算された場合における、ＳｉＯ２／Ａｌ２Ｏ３モル比は、５０～１０００の範囲内であることが必要であり、７０～３００の範囲内であることが好ましく、９０～２００の範囲内であることが更に好ましい。ＳｉＯ２／Ａｌ２Ｏ３モル比がこの範囲より少ないと、ＤＤＲ型ゼオライト以外のアモルファスＳｉＯ２の比率が多くなってしまう点において好ましくない。ＳｉＯ２／Ａｌ２Ｏ３モル比がこの範囲を超えると、ＤＤＲ型ゼオライトは製造できるものの、アルミニウム及びカチオンの量が著しく少なくなることに起因して、ローシリカ型のＤＤＲ型ゼオライトとしての特性が備わったものが十分に得られず、オールシリカ型のゼオライトを製造したときと何ら違いがなくなってしまう点において好ましくない。
　本発明の製造方法では、カチオンが原料溶液に添加される場合、カチオンとしては、アルカリ金属、即ち、Ｋ、Ｎａ、Ｌｉ、Ｒｂ、Ｃｓの何れかのカチオンが挙げられる。カチオン源としては、Ｎａの例で説明すると、水酸化ナトリウム、アルミン酸ナトリウム等を挙げることができる。
　アルカリ金属が酸化物として換算された場合における、Ｘ２Ｏ／Ａｌ２Ｏ３モル比は、１～２５の範囲内であることが必要であり、３～２０の範囲内であることが好ましく、６～１５の範囲内であることが更に好ましい。Ｘ２Ｏ／Ａｌ２Ｏ３モル比がこの範囲より少ないと、目的とするＳｉＯ２／Ａｌ２Ｏ３モル比のＤＤＲ型ゼオライトが得難くなる点において好ましくない。一方、Ｘ２Ｏ／Ａｌ２Ｏ３モル比がこの範囲を超えると、生成物にアモルファスＳｉＯ２が混入してしまう点において好ましくない。
　特に好ましい原料溶液の調製方法の態様としては、１－アダマンタンアミンがエチレンジアミンに溶解された溶液、溶媒である水、シリカゾル（ローシリカ型のＤＤＲを合成する場合にあっては、更に、アルミニウム源である硫酸アルミニウム、及びカチオン源である水酸化ナトリウム）を所定の比率で混合し、溶解させることにより、原料溶液を調製する方法が挙げられる。
　特に、本発明の製造方法では、平均粒子径１０～３００ｎｍのＤＤＲ型ゼオライト種結晶が０．００１～１．０質量％にて分散されている原料溶液を用いる。
　原料溶液にＤＤＲ型ゼオライト種結晶を分散させる方法は、本発明の属する技術分野の当業者が通常用い得る一般的な攪拌方法を採用すればよい。例えば、超音波処理等の方法によって、原料溶液にＤＤＲ型ゼオライト種結晶を分散させることができる。
２－４．加熱処理（水熱合成）：
　本発明の製造方法では、上述のように原料溶液にＤＤＲ型ゼオライト種結晶を添加・分散させた後、加熱処理する。これによって、ＤＤＲ型ゼオライト種結晶を核として平均粒子径０．１μｍ以上２．５μｍ未満まで結晶成長させて、ＤＤＲ型ゼオライト粉体を作製する（以上の加熱処理のことを「水熱合成」とも称する）。
　本発明の製造方法では、加熱処理の温度は、１００～１８０℃の範囲内とすることが必要であり、１３０～１８０℃の範囲内とすることが更に好ましい。加熱処理の温度がこの範囲より低いと、ＤＤＲ型ゼオライトを形成することができない点において好ましくない。一方、加熱処理の温度がこの範囲を超えると、目的物ではないＤＯＨ型ゼオライトが形成されてしまう点において好ましくない。
　本発明の製造方法では、この加熱処理の時間は、通常、８～１２０時間という短時間で足りる。
　本発明の製造方法では、加熱処理に際し、原料溶液を常時攪拌する必要はない。原料溶液に含まれる１－アダマンタンアミンがエチレンジアミンに既に溶解されているため、原料溶液が均一な状態にて保持されているからである。本発明の製造方法によれば、原料溶液を常時攪拌しなくとも、ＤＯＨは形成されず、ＤＤＲの単相結晶を形成させることができる。なお、従来の方法では、原料溶液を常時撹拌しないと、ＤＤＲとＤＯＨとの混晶が形成されてしまう場合がある。
　本発明の製造方法の一実施形態では、原料溶液に含まれるシリカの質量とＤＤＲ型ゼオライト種結晶の質量との合計に対する、得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体の質量の百分率比を５０％以上にできる。
３．本発明の作用・効果：
　以上の本発明の製造方法によって、平均粒子径が０．１μｍ以上２．５μｍ未満であり、全粒子の８０％以上の粒子径が前記平均粒子径に対して－４５％～＋９０％の範囲内に含まれる粒度分布を有するＤＤＲ型ゼオライト粉体、すなわち本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体を得ることができる。
　本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体では、微細な粒子から構成され、大半の粒子の粒子径が平均粒子径付近に収束する粒度分布が示される。
　以下、吸着剤として使用される場合を例に挙げて、本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体の作用・効果について述べる。短い吸着時間のうちに粒子の細孔の内部（深い部分）まで有効に分子が吸着されるためには、小さい粒子径の粒子からなる粉体であることが好ましい。なぜなら、粒子径が大きいと、短時間では細孔の奥深くまでは吸着対象の分子が到達しえないからである。また、粉体を構成する粒子の粒子径にバラツキが少ない方が、異なる製品ロット間での吸着性能の違いも少なくなる。これらの事情を考慮すると、本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体では、持ちうる吸着性能が、短時間のうちに、安定的に、充分に発揮される。さらに、上記式（ＩＩＩ）のＹの値が１００以上である実施形態では、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の含有率が高く結晶構造が確保されているため、吸着機能などを有効に発揮しうる細孔数が多く、吸着効率が高い。
　本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体は、上述の製造方法から得られた粉体そのままでも、あるいは他の粉体などと混合して使用することも可能である。例えば、他の粉体などと混合して使用された場合、先に定義した「ＤＤＲ型ゼオライト粉体」を構成しうる粒子を抽出し、この抽出された粒子からなる粉体が、本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉末に属する特徴（平均粒子径及び粒度分布、ときには上述の２つの特性に加えて、上記式（ＩＩＩ）のＹの値）を具備するときは、本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体の使用に該当するものとする。
　以下、本発明を実施例に基づいてさらに詳細に説明するが、本発明は、これらの実施例に限定されるものではない。
４－１．ＤＤＲ型ゼオライト粉体の製造：
（実施例１）
（１）ＤＤＲ型ゼオライト種結晶の調製：
　ＤＤＲ型ゼオライト種結晶の調製のため、非特許文献３又は特許文献１に記載に基づきＤＤＲ型ゼオライト粉体を製造した。さらに、アシザワファインテック製ビーズミルＭｉｎｉｃｅｒを使用して、ＤＤＲ型ゼオライト粉体を粉砕した。具体的には、ＤＤＲ型ゼオライト粉体が水に分散されている分散液を調製し、回転数３８２０ｒｐｍにて２時間粉砕した。この粉砕後のＤＤＲ型ゼオライト分散液について、日立製作所製遠心分離機ｈｉｍａｃＣＴ５Ｌを用い、３０００ｒｐｍ、１５分間の遠心分離をして、粗粒を分級除去した。以上により得たＤＤＲ型ゼオライト分散液を、種結晶分散液とした。この種結晶分散液は、ＤＤＲ型ゼオライト種結晶を平均粒子径１７２ｎｍにて含有していた。
（２）原料溶液の調製：
　フッ素樹脂製の１００ｍｌ広口瓶に、４．２１ｇのエチレンジアミン（和光純薬工業製）を入れた後、０．６６ｇの１－アダマンタンアミン（アルドリッチ製）を加え、１－アダマンタンアミンの沈殿が残らないように溶解した。
　別途用意したビーカーに、ＤＤＲ型ゼオライト種結晶が０．５質量％含まれる上述の種結晶分散液４７．６０ｇを入れ、続いて３０質量％コロイダルシリカ（スノーテックスＳ，日産化学製、分散媒：水）３２．６２ｇを加えて軽く攪拌した。さらに、この混合液を、エチレンジアミンと１－アダマンタンアミンとを混ぜておいた上述の広口瓶に入れて強く振り混ぜ、原料溶液を調製した。この原料溶液の組成は、ＤＤＲ型ゼオライト種結晶の濃度が０．２８質量％、１－アダマンタンアミン／ＳｉＯ２モル比が０．０２７、水／ＳｉＯ２モル比が２４であった。
（３）加熱処理：
　上述の広口瓶に入れられた原料溶液を、シェーカーを用いて、さらに１時間振り混ぜた。次いで、原料溶液を、内容積１００ｍｌのフッ素樹脂製内筒付きステンレス製耐圧容器内に注ぎ、加熱処理（水熱合成）を１３５℃にて４８時間行った。加熱処理後、反応生成物を水洗し、さらに乾燥して、粉体を得た。得られた粉体についてＸ線回折を用いて結晶相を同定し、ＤＤＲ型ゼオライト粉体であることを確認した。
（４）１－アダマンタンアミンの燃焼除去：
　さらに、電気炉を用い、上述のＤＤＲ型ゼオライト粉体を、大気雰囲気中、６５０℃にて４時間加熱した。これにより、ＤＤＲ型ゼオライト粒子の細孔内にあった１－アダマンタンアミンを燃焼除去した。
（実施例２、３）
　（１）のＤＤＲ型ゼオライト種結晶の調製において、平均粒子径１２９ｎｍのＤＤＲ型ゼオライト種結晶を含有する種結晶分散液を調製し、（３）の加熱処理において、１６０℃にて１６時間の加熱処理を行った以外は、実施例１の（１）～（４）と同じ操作を行った。
（比較例１）
　（１）のＤＤＲ型ゼオライト種結晶の調製において、平均粒子径１．５μｍのＤＤＲ型ゼオライト種結晶を含有する種結晶分散液を調製し、（２）の原料溶液の調製において、用いられた種結晶分散液中のＤＤＲ型ゼオライト種結晶の濃度が０．００１１質量％、調製後の原料溶液におけるＤＤＲ型ゼオライト種結晶の濃度が０．０００６２質量％であり、（３）の加熱処理において、１６０℃にて４８時間の加熱処理を行った以外は、実施例１の（１）～（４）と同じ操作をした。
（比較例２）
　ＤＤＲ型ゼオライト粉体を粉砕することにより、平均粒子径１３２ｎｍのゼオライト粉体を作製した。
４－２．ＤＤＲ型ゼオライト粉体の粒度分布：
　上述の（３）の工程の水洗後における実施例１～３、比較例１、２の粉体の懸濁液について、粒度分布測定機ナノトラック（日機装製）を用い、ＤＤＲ型ゼオライト粉体の粒度分布を測定した。ナノトラックは、レーザードップラー法に基づき粒子径を求める装置である。
　図２～５は、それぞれ実施例１～３、比較例２で得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体の粒度分布を表す。図２～５は、横軸が粒子径（μｍ）、縦軸が頻度（％）を表し、横軸が対数目盛となっている片対数グラフを表す。実施例１～３により得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体は、比較例２と比較して、粒子径のバラツキが少なかった。平均粒子径（ｄ５０）等の具体的な結果に関しては、以下に記述する。
　実施例１で得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体では、累積分布において、平均粒子径（ｄ５０）が５６８ｎｍ、累積度数１０％に相当する粒子径（ｄ１０）が平均粒子径－１０３ｎｍ、累積度数９０％に相当する粒子径（ｄ９０）が平均粒子径＋１３４ｎｍであった。よって、実施例１で得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体では、全粒子の８０％の粒子径が、平均粒子径－１８％～平均粒子径＋２４％の範囲内にあった。
　実施例２で得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体では、累積分布において、平均粒子径（ｄ５０）は２７６ｎｍ、累積度数１０％に相当する粒子径（ｄ１０）が平均粒子径－１０３ｎｍ、累積度数９０％に相当する粒子径（ｄ９０）が平均粒子径＋１４１ｎｍであった。よって、実施例２で得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体では、全粒子の８０％の粒子径が、平均粒子径－３７％～平均粒子径＋５２％の範囲内にあった。
　実施例３で得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体では、累積分布において、平均粒子径（ｄ５０）は５３９ｎｍ、累積度数１０％に相当する粒子径（ｄ１０）が平均粒子径－２３７ｎｍ、累積度数９０％に相当する粒子径（ｄ９０）が平均粒子径＋４７２ｎｍであった。よって、実施例３で得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体では、全粒子の８０％の粒子径が、平均粒子径－４４％～平均粒子径＋８８％の範囲内にあった。
　上述の（３）の工程の水洗後における、比較例１の懸濁液では、ナノトラックでの測定に必要とされる測定時間２分間のうちに、大部分の粒子が、測定セル内で沈降してしまった。よって、比較例１で得られるゼオライト粉体では、大半の粒子が、ナノトラックの測定限界とされている、粒子径３μｍを超えていると考えられた。ナノトラックによる測定が不可能なため、比較例１で得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体については、図２～５にて表されるような粒度分布のデータを得られなかった。そこで、比較例１については、上述の（３）の工程の乾燥後に得られた粉体から、電子顕微鏡写真上で任意に粒子１０個を選択し、これら粒子の粒子径を測定した。１０個の粒子の粒子径から算術平均によって算出された平均粒子径は、約８５μｍであった。
　比較例２で得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体では、累積分布において、平均粒子径（ｄ５０）が１３２ｎｍ、累積度数１０％に相当する粒子径（ｄ１０）が平均粒子径－６９ｎｍ、累積度数９０％に相当する粒子径（ｄ９０）が平均粒子径＋１９４ｎｍであった。よって、実施例３で得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体では、全粒子の８０％の粒子径が、平均粒子径－５２％～平均粒子径＋１４７％の範囲内にあった。
４－３．ＤＤＲ型ゼオライト結晶が含有される率の評価試験：
　実施例１～３、比較例２により得られた粉体について、上記式（Ｉ）にて算出されるＤＤＲ型ゼオライト結晶に起因する回折ピークの回折強度Ａと、上記式（ＩＩ）にて算出されるＤＤＲ型ゼオライトの非晶質に起因する回折強度Ｂ、及び上記式（ＩＩＩ）にて算出されるＡとＢとの比であるＹの値を算出した。なお、粉体は、上記（４）１－アダマンタンアミンの燃焼除去を経たものである。比較例１で得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体については、他と比べて粒子径が非常に大きく、本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体の特性とは大きく異なるため、本評価試験からは除外した。
４－３－１．Ｘ線回折分析、及びＹの値の算出：
　高分解能Ｘ線回折装置ＲＩＮＴ２０００（リガク製）を用いて、Ｘ線回折分析を実施した。照射されるＸ線は、ＣｕＫα１線とし、５０ｋＶ、３００ｍＡにて使用した。走査モードは連続、走査軸は２θ／θ、走査範囲は５～５０度とした。スキャンステップは０．０２度、スキャン速度は１度／分とした。得られた回折パターンから、上述の規定に従ってＣ１、θ１、Ｃ２、θ２、Ｃａ，θａ、Ｃｂ，及びθｂを定め、これらの数値を上記式（Ｉ）～（ＩＩＩ）にあてはめてＹの値を算出した。
４－３－２．結果及び評価：
　実施例１～３及び比較例２にて得られた、ＤＤＲ型ゼオライト粉体に関するＸ線回折分析の結果として、それぞれの回折パターンを図６～９に示す。さらに、実施例１～３及び比較例２にて得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体について、上記式（Ｉ）～（ＩＩＩ）中に表されるθ１、Ｃ１、θ２、Ｃ２、θａ、Ｃａ、θｂ、Ｃｂ，及び、Ｙの値を表１に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
　図６～８から理解できるように、実施例１～３により得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体の回折パターンでは、ＤＤＲ型ゼオライト結晶に由来する回折ピークが明瞭に現れていた。対して、図９から理解できるように、比較例２により得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体の回折パターンでは、非晶質の回折パターンに特有なハローパターンがみられた。これらの回折パターンを裏付けるように、Ｙの値は、実施例１が７３５．５、実施例２が２８２．１、実施例３が２１３．６、比較例２が１．２であった。
　実施例１～３では、得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体は、ＤＤＲ型ゼオライト種結晶から結晶成長した粒子からなるため、ＤＤＲ型ゼオライト結晶を含有する率が高く、非晶質を含有する率が低い。比較例２では、大きい粒子径のＤＤＲ型ゼオライト粒子を粉砕して粉体が得られたため、粉砕時に粒子に外力が加わり、非晶質の部分が多く生成されたと考えられる。
４－４．ＤＤＲ型ゼオライト粉体の収率の測定：
　ＤＤＲ型ゼオライト粉体の収率は、原料溶液に含まれるシリカ（ＳｉＯ２）の質量とＤＤＲ型ゼオライト種結晶の質量との合計に対する、得られたＤＤＲ型ゼオライ粉体の質量の割合（百分率（％）：ＤＤＲ型ゼオライト粉体の質量／（原料溶液でのシリカの質量＋ゼオライト種結晶の質量）×１００）として算出した。ＤＤＲ型ゼオライト粉体の収率は、実施例１では６２％、実施例２では６０％、実施例３では５５％、比較例１では９０％であった。
４－５．総合評価：
　以上の結果から、本発明の製造方法の実施形態である実施例１～３では、平均粒子径０．１μｍ以上２．５μｍ未満であり、全粒子の８０％以上の粒子径が平均粒子径に対して－４５～＋９０％の範囲内にある粒度分布を有するＤＤＲ型ゼオライト粉体が製造された。さらに、これら実施例１～３から得られた粉体は、上記式（Ｉ）～（ＩＩＩ）から算出されるＹの値が１００以上であった。すなわち、本発明の製造方法によって、先に述べた本発明のＤＤＲ型ゼオライト粉体を製造できることが判明した。
　まとめると、本実施例は、本発明の製造方法が、次の３つの点において、従来の方法よりも優れていることを示す。第１に、本発明の製造方法では、従来の方法に必要であった、大きい粒子径のＤＤＲ型ゼオライト粉体から、さらに粉砕・分級するという工程が省略できるため、時間的コスト及び設備的コストの点に優れている。第２に、図２と図５との比較から明らかなように、本発明の製造方法では、平均粒子径０．１μｍ以上２．５μｍ未満の粉体が、粒子径のバラツキが少なく製造できる点が優れている。第３に、本発明の製造方法では、ＤＤＲ型ゼオライト結晶を含有する率が高く、非結晶を含有する率が低い粉体を製造できる点に優れている。以上より、本実施例は、本発明の製造方法によって、触媒、触媒担体、吸着剤、及び低分子ガスの分離などへの適用において、非常に優れた性能が発揮されるＤＤＲ型ゼオライト粉体を安定的に製造できることを示す。
　本発明は、本発明は、触媒、触媒担体、吸着剤、ガス分離膜、浸透気化膜などに利用されるＤＤＲ型ゼオライト粉体、及び、その製造方法として利用できる。

Claims (5)

  1. 　平均粒子径が０．１μｍ以上２．５μｍ未満であり、全粒子の８０％以上の粒子径が前記平均粒子径に対して－４５％～＋９０％の範囲内に含まれる粒度分布を有するＤＤＲ型ゼオライト粉体。
  2. 　前記平均粒子径が、０．２μｍ以上１．０μｍ未満である請求項１に記載のＤＤＲ型ゼオライト粉体。
  3. 　Ｘ線回折分析により得られる回折強度に基づき、下記式（Ｉ）にて算出されるＤＤＲ型ゼオライト結晶に起因する回折ピークの回折強度Ａと、下記式（ＩＩ）にて算出されるＤＤＲ型ゼオライト粉体に含まれる非晶質に起因する回折強度Ｂとの比として下記式（ＩＩＩ）にて算出されるＹの値が、１００以上である請求項１又は２に記載のＤＤＲ型ゼオライト粉体：
    　Ａ＝Ｃａ－｛（Ｃ２－Ｃ１）／（θ２－θ１）×（θａ－θ１）＋Ｃ１｝（Ｉ）：
    　Ｂ＝Ｃｂ－｛（Ｃ２－Ｃ１）／（θ２－θ１）×（θｂ－θ１）＋Ｃ１｝（ＩＩ）：
    　Ｙ＝Ａ／Ｂ　（ＩＩＩ）。
    　（但し、Ｃ１は、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の（０１２）面に由来する回折ピークと同（１０４）面に由来する回折ピークとの間の回折強度の最小値、θ１は、Ｃ１を示す回折角（２θ）、Ｃ２は、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の（６０６）面に由来する回折ピークと同（１　２　２０）面に由来する回折ピークとの間の回折強度の最小値、θ２は、Ｃ２を示す回折角（２θ）、Ｃａは、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の（０２４）面に由来する回折ピークの回折強度、θａは、Ｃａを示す回折角（２θ），Ｃｂは、ＤＤＲ型ゼオライト結晶の（１２２）面に由来する回折ピークと同（０２７）面に由来する回折ピークとの間の回折強度の最小値、θｂは、Ｃｂを示す回折角（２θ））
  4. 　１－アダマンタンアミンを溶解させたエチレンジアミン、シリカ（ＳｉＯ２）、及び水が、モル比において１－アダマンタンアミン／ＳｉＯ２が０．００２～０．５かつ水／ＳｉＯ２が１０～５００にて混合されており、さらに平均粒子径１０～３００ｎｍのＤＤＲ型ゼオライト種結晶が０．００１～１．０質量％にて分散されている原料溶液を、１００～１８０℃にて加熱処理することにより、前記ＤＤＲ型ゼオライト種結晶を核として平均粒子径が０．１μｍ以上２．５μｍ未満となるまで結晶成長させる工程を有するＤＤＲ型ゼオライト粉体の製造方法。
  5. 　前記原料溶液に含まれる前記シリカの質量と前記ＤＤＲ型ゼオライト種結晶の質量との合計に対する得られたＤＤＲ型ゼオライト粉体の質量の百分率比が、５０％以上である請求項４に記載のＤＤＲ型ゼオライト粉体の製造方法。
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