WO2009012735A1 - Plasmaversorgungseinrichtung - Google Patents

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WO2009012735A1
WO2009012735A1 PCT/DE2007/001775 DE2007001775W WO2009012735A1 WO 2009012735 A1 WO2009012735 A1 WO 2009012735A1 DE 2007001775 W DE2007001775 W DE 2007001775W WO 2009012735 A1 WO2009012735 A1 WO 2009012735A1
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plasma supply
output
circuit board
plasma
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PCT/DE2007/001775
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Thomas Kirchmeier
Hans-Jürgen WINDISCH
Hanns-Joachim Knaus
Michael Glück
Gerd Hintz
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Hüttinger Elektronik Gmbh + Co. Kg
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    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32018Glow discharge
    • H01J37/32045Circuits specially adapted for controlling the glow discharge
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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    • HELECTRICITY
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    • Y02B20/00Energy efficient lighting technologies, e.g. halogen lamps or gas discharge lamps

Definitions

  • the invention relates to a plasma supply device for generating an output power> 500 W at a substantially constant fundamental frequency> 3 MHz and for powering a plasma process to which the generated output power is supplied and from which reflected power is returned at least in case of mismatch to the plasma supply device, with at least an inverter connected to a DC power supply having at least one switching element and at least one output network.
  • Such a plasma supply device is used for plasma power supply, that is, for powering plasma processes.
  • the plasma supply device operates at a fundamental frequency which, when used as a plasma power supply, may deviate only slightly from a nominal value. Typical fundamental frequencies are 3.39 MHz, 13.56 MHz, 27 MHz, 40 MHz, 62 MHz.
  • the inverter which has the at least one switching element, generates an alternating signal from the DC signal of the DC power supply, which changes its sign periodically with the fundamental frequency. For this purpose, the at least one switching element is switched back and forth in the cycle of the fundamental frequency between a conducting and a non-conducting state.
  • the output network generates a sinusoidal output signal substantially from the inverter signal generated at the predetermined fundamental frequency.
  • a plasma is a special state of matter that is generated from a gas.
  • Each gas basically consists of atoms and / or molecules. In a plasma, this gas is largely ionized. This means that through the supply of energy the Atoms and molecules are split into positive and negative charge carriers, ie ions and electrons.
  • a plasma is suitable for the machining of workpieces, since the electrically charged particles are chemically highly reactive and can also be influenced by electric fields. The charged particles can be accelerated by means of an electric field to a workpiece, where they can detach individual atoms from the workpiece upon impact. The liberated atoms can be removed by gas flow (etching) or coated on other workpieces (production of thin films).
  • Application is such a processing by means of a plasma, especially when extremely thin layers, especially in the range of less atomic layers to be processed.
  • Typical applications are semiconductor technology (coating, etching, etc.), flat screens (similar to semiconductor technology), solar cells (similar to semiconductor technology), architectural glass coating (heat protection, glare control, etc.), storage media (CD, DVD, hard disks), decorative layers (colored glass, etc.) and tool hardening. These applications have high demands on accuracy and process stability.
  • a plasma for machining workpieces is typically fired in a plasma chamber.
  • a noble gas such as argon
  • the gas is exposed to an electric field.
  • a plasma is created or ignited when several conditions are met.
  • a small number of free charge carriers must be present, with the free electrons, which are always available to a very limited extent, usually being used.
  • the free charge carriers are accelerated so much by the electric field that they release further electrons upon impact with atoms or molecules of the noble gas, whereby positively charged ions and other negatively charged electrons arise.
  • the other free charge carriers are in turn accelerated and generate more ions and electrons upon impact. It uses an avalanche effect.
  • the constant generation of ions and electrons counteract natural recombination, ie, electrons are attracted to ions and recombine to electrically neutral atoms or molecules. Therefore, an ignited plasma must constantly be supplied with energy in order to maintain it.
  • Plasma power supplies are used to generate and sustain a plasma, but can also be used to excite gas lasers.
  • Plasma power supplies must be as small as possible so that they can be placed close to the plasma discharges in the application. You should work as accurately as possible and accurate and have the lowest possible losses in order to achieve high efficiency. Another requirement is the lowest possible manufacturing costs and high ease of maintenance. If possible, plasma power supplies should do without mechanically driven components, in particular fans are undesirable because of their limited life and the risk of contamination. Furthermore, plasma power supplies should simultaneously be as reliable as possible, not overheat and have a long service life.
  • a plasma power supply is exposed to much higher requirements than any other power supply.
  • An unleacted gas which has only a very small number of free charge carriers, has an almost infinitely high impedance.
  • a plasma has a relatively low impedance due to its large number of free charge carriers. When the plasma is ignited, therefore, a very rapid change in impedance occurs.
  • a detonated plasma has as another property that the impedance is very fast and often can change unpredictably, they say the impedance is dynamic.
  • the impedance of the plasma is also still highly nonlinear. This means that changing the voltage on the plasma does not cause the analogous change in the current. For example, the current can increase much faster with increasing voltage, caused for example by an avalanche effect, or the current can drop even with so-called negative impedance with increasing voltage.
  • a power supply delivers power towards the load, such as a plasma load, which flows to the load at finite speed, but can not be picked up there because of the existing power
  • the reflected power has a considerable influence on the power supplies in the high-frequency technology. It can destabilize power supplies and prevent their proper operation.
  • the reflected power due to mismatches at constant impedances has only portions at the fundamental frequency. These can not be blocked by filters and can not be absorbed because filters can not distinguish between forward (to load) running and backward (from the load) running wave and consequently would also block or absorb the forward running wave.
  • so-called Impedanzanpassungsglieder or networks used which can be implemented in the high-frequency technology simply by combinations of inductances, capacitances and resistors, with resistors are not mandatory.
  • the load is not a constant impedance, but a dynamic and nonlinear one, there are at least two additional problematic phenomena.
  • the nonlinear dynamic impedance produces energies at frequencies different from the fundamental, and portions of these frequencies are directed toward the power supply. These are blocked or absorbed by filters.
  • the impedance matching elements can not track the fast dynamic impedance changes fast enough, which causes more reflections at the fundamental frequency, which are passed from the dynamic impedance to the power supply.
  • plasma power supplies need to be resilient to any mismatch, from open circuit to short-circuit, from infinitely high capacitive loading to infinitely high inductive load.
  • a plasma power supply must be able to deliver power at least in the short term and not be permanently damaged. This is related to the high dynamics and the often chaotic conditions in a plasma process.
  • frequencies other than the fundamental frequency occur, which occur in a wide range and must not lead to permanent damage to the plasma power supply. Detecting and quickly switching off a faulty termination is permitted, but the plasma power supply should as far as possible not be damaged.
  • the object of the present invention is to provide a plasma supply device which satisfies the stated requirements for a plasma power supply.
  • This object is achieved by a plasma supply device of the type mentioned, in which the at least one output network is arranged on a printed circuit board.
  • the output network can be realized particularly inexpensive.
  • At least one input connection for connecting the at least one inverter and / or the at least one inverter can also be arranged on the printed circuit board.
  • the output network has a great influence on the reliability and consequently on the lifetime of the entire plasma power supply or the plasma supply device.
  • At least one component of the plasma supply device can be designed such that it at least partially absorbs power reflected by the plasma process at the fundamental frequency.
  • the reflected power can be converted into heat.
  • the reflected power may be at least partially absorbed by the inverter, by lossy inductors, transformers, capacitors or resistors.
  • the output network is dimensioned such that the area of the printed circuit board can be kept smaller than 150 cm 2 .
  • the thickness of the printed circuit board is typically 2 to 5 mm.
  • As printed circuit board material glass fiber reinforced epoxy resin, in particular FR4 or FR5 material can be used.
  • the circuit can handle these materials although they have more lossy dielectric behavior and lower thermal conductivity and heat resistance than comparatively expensive ceramics or PTFE materials.
  • Multilayer printed circuit boards with areal shaped inductors and SMD components are known for lower frequency and power ranges.
  • the materials used for the known circuit boards are for high-frequency applications with an output power> 500 W and a fundamental frequency> 3 MHz Due to high heat generation and poor heat dissipation unsuitable, it is proposed to realize an output network with planar inductances and capacitances on a circuit board for said output power and high frequency range. This leads to significant savings in space requirements and cost and to improved accuracy and reproducibility in the production of the plasma supply device.
  • inductance or capacitance or capacitor are used on the one hand for a component arranged on the printed circuit board, and on the other hand for a physical variable assigned to the component, the corresponding use resulting in each case from the context.
  • the at least one output network has at least one output transformer with a primary-side winding and a secondary-side winding.
  • the output transformer achieves galvanic isolation between the at least one inverter connected to a DC power supply and a load, in particular a plasma load, to be connected to the printed circuit board.
  • low-frequency signals, in particular DC components which may be present at the output of the inverter, separated.
  • galvanic isolation may alternatively be used a capacity. Due to the formation of sufficient safety distances, the primary side of the output transformer can remain galvanically connected to the mains connection. The concomitant omission of a galvanic isolation in the DC power supply, the cost and size of the plasma supply device can be further reduced.
  • the output transformer can be realized in planar technology. Such a manufactured, arranged on the circuit board output transformer can be made very precisely, in particular, the turns of primary and the secondary-side winding can be produced with good reproducibility. In addition, this is less expensive than a construction with wire windings. Next, the output transformer can be constructed over a large area and thus cooled in a simple manner.
  • the printed circuit board is multi-layered, in particular with four layers, and in each position of the printed circuit board a turn of the output transformer is formed.
  • the stray inductances of the output transformer can be used for other circuit parts.
  • the primary-side winding and the secondary-side winding of the output transformer each have two turns. In this way, all four layers of the circuit board can be used.
  • the simultaneously occurring magnetic coupling and the leakage inductance can form, for example, an LC filter.
  • the output network has at least one set of first inductances arranged between the input connection and the primary-side winding.
  • a "set of first inductances" is to be understood as meaning that each inverter is connected via a first inductor to the output transformer assigned to it.
  • the first inductors may be designed as planar conductor tracks, each of which has one winding.
  • additional magnetic field amplification elements can increase the inductance Inductances in the range of 50 to 300 nH are reached
  • the inductances can be greater than 50 nH and higher 200 have.
  • traces may be routed in parallel for the first inductors in multiple layers. The electricity is distributed on the tracks and the losses are reduced. Thus, the quality of the inductances increases to values greater than 200. Up to now this has been achieved with planar inductances in the range of 50 to 300 nH on only one layer.
  • the inverter circuit of the plasma supply device may have two half-bridges, which are each connected to the DC power supply.
  • By connecting the midpoints of the half-bridge circuit via the first inductances to the primary side winding of the output transformer low loss NuII-VoIt switching can be achieved over a wide range of load impedances.
  • Advantageous switching conditions for the inverter can be ensured by means of the plasma supply device.
  • the distance between at least two layers of the printed circuit board can be substantially greater than the distance required for the dielectric strength.
  • the capacitance formed by the strip conductors between the turns of the secondary-side winding of the at least one output transformer together with the inductance of the secondary-side winding of the at least one output transformer forms an LC filter.
  • the capacitance formed by the conductor tracks between the primary-side winding and the secondary-side winding of the at least one output transformer may be a further component of the LC filter.
  • the output network may include an impedance matching member disposed between the secondary side winding and an output terminal for connecting a load with one or more second inductors and / or one or more capacitors. In this way, a load impedance match is achieved from the inverter to the output of the output network. Through reactive components of the output network, ie inductors and capacitors, the power components reflected and / or generated by a plasma load are filtered.
  • the output network may have an LC filter.
  • the output of the inverter is usually a signal with a relatively high proportion of harmonics or harmonic frequencies, which at the output of the plasma power supply, d. h., Are undesirable at the output terminal.
  • the plasma supply device filters these harmonics or harmonic frequencies with the aid of the LC filter.
  • the stray inductance and the capacitance between two turns of the output transformer form an LC filter, as a result of which additional components can be saved.
  • the LC filter is either designed as described above and / or part of the impedance matching element.
  • the output network has an SMD capacitor parallel to the secondary-side winding. The capacitance between the secondary-side windings can then increase the capacitance of this capacitor.
  • the second inductance or inductances can be realized in planar technology.
  • the capacitor or the capacitors can be realized, for example, in planar technology and / or as an SMD component. This results in the advantage of improved accuracy and reproducibility in the manufacture of the plasma supply device.
  • the printed circuit boards may have plated-through holes for connecting the printed conductors arranged in the layers. In this way, a high strength of the circuit board and good contacts between the arranged on this circuit parts are ensured.
  • Both the input terminal for connecting the DC power supply or the inverter and the output terminal for connecting the plasma load, to which the sinusoidal output signal generated by the output network is transferred, can be connected to vias. In printed circuit boards of the prior art, which were mounted directly on the cooling plate for planteleitschreibn, no such vias could be provided because they would have caused a short circuit between the lying at ground potential cooling plate and the potentials of the vias.
  • At least one magnetic field amplification element assigned to one or more inductances and / or windings of the output transformer is provided on the printed circuit board. In this way, the number of turns for the individual inductors can be reduced. This makes it possible to achieve high inductances with short interconnects. The short interconnects also gives the advantage of low resistance and associated lower losses.
  • a magnetic field B is caused by a magnetic field strength H. This is in turn caused by a current I through a line which forms an inductance.
  • B ⁇ * H
  • the permeability.
  • a magnetic field reinforcing element has a ⁇ r significantly greater than 1.
  • a ferrite is used as the magnetic field enhancement element at the said frequencies. In the case of inductors, the element increases the value of the inductance corresponding to the permeability coefficient ⁇ r .
  • the at least one magnetic field reinforcing element may be a ferrite, in particular a Perminvarferrit.
  • Ferrite annular the tracks of the planar inductors.
  • the ferrites which encircle the turns of the inductances or of the windings in a ring-shaped or cup-shaped manner, expediently consist of two parts which are arranged in a counterpart manner on the printed circuit board.
  • At least one recess for receiving the at least one magnetic field amplifying element may be formed on the circuit board.
  • recesses are formed on the printed circuit board for receiving the two-part magnetic field amplifying element consisting of two identical or at least similar parts. In this way, the magnetic field enhancement element can be safely and compactly arranged on the circuit board.
  • the plasma supply device has a cooling plate connected to the printed circuit board.
  • the cooling plate is coolant flowed through, thereby providing a plasma power supply without forced air flow, i. H. can be realized without a fan.
  • the cooling plate is connected to ground potential, which provides good electrical shielding of the output network.
  • the circuit board may be spaced from the cooling plate, in particular at a distance of 5 mm to 20 mm.
  • the inductors can be realized with a higher quality and with lower losses.
  • the output network may be spaced from the cooling plate by a distance that is related to the thickness of a magnetic field enhancement element surrounding the inductance (s) and / or the windings of the output transducer.
  • Magnetic field amplification elements can surround the inductances in a rectangular-ring-shaped manner and be placed flat on the cooling plate, possibly for mechanical relief with elastic heat transfer elements between the cooling plate and the magnetic field amplification elements. This provides good heat dissipation of the heat developed in the magnetic field enhancement elements.
  • the realization of an output network with the extremely low-cost multi-layered FR4 or FR5 material and with plated-through holes has only become possible when the general opinion that the entire printed circuit board provided with planar inductors has to be in contact with the cooling plate in a planar manner was made possible.
  • one or more electrically insulating heat transfer elements are arranged between the printed circuit board and the cooling plate.
  • the heat transfer elements which are expediently also formed elastically, the heat is dissipated from the circuit board to the cooling plate. From the points on the circuit board, where a strong heat generation takes place, for example in the area of the output transformer, the heat is dissipated by means of flat copper conductor tracks to places with less heat generation.
  • the heat transfer elements may be arranged in the vicinity of the output transformer and it may be printed conductors through the magnetic field amplifying element associated with the output transformer be guided through to the heat transfer elements.
  • a ground connection can be provided on the circuit board.
  • the ground terminal may be formed as a contacted bore.
  • Between the circuit board and the cooling plate spacers may be provided, on which a ground connection can be made.
  • the upper power limit of the plasma supply device is determined inter alia by the dissipated power loss.
  • Plasma supply device has at least two output networks on a circuit board, which together from at least one to the DC
  • Power supply connected inverter or for each of at least one connected to the DC power supply inverter are fed and their output power through at least one
  • Couplers can be merged into one overall performance.
  • Coupler is an electronic component that is designed to be electrical
  • the coupler may also have components which at least partially absorb the reflected power.
  • the upper power limit may be further increased by the at least one output network of the plasma supply device having at least two sets of first inductors and / or at least two output transformers and / or at least two impedance matching members whose input and output powers are respectively through divided at least one coupler or merged into a total power.
  • the at least one coupler required in these cases can be arranged on the printed circuit board and preferably realized at least partially in planar technology.
  • the output powers of at least two plasma supply devices are combined via at least one coupler.
  • Fig. 1 is a simplified circuit diagram of an inventive
  • FIG. 2 shows a section through a printed circuit board with an output network arranged thereon and through a cooling plate connected to the printed circuit board;
  • 3a to 3d each show a position of the circuit board of Fig. 2;
  • FIG. 4 shows a simplified circuit diagram of a further plasma supply device according to the invention.
  • 5a and 5b each show a simplified circuit diagram of an exemplary two output networks having plasma supply device.
  • the plasma supply device 10 shows a plasma supply device 10 with a first inverter 11 and a second inverter 12.
  • the inverters 11, 12 are designed as half bridges each having two series-connected switching elements 11.1, 11.2, 12.1, 12.2. Both inverters 11, 12 are each connected to a positive supply voltage terminal 13 and to a negative supply voltage terminal 14 of a DC power supply (not shown).
  • the plasma supply device 10 further has an output network 15 to which, on the one hand, the inverters 11, 12 and, on the other hand, a load 16, in particular a plasma load, are connected.
  • the output network 15 has an output transformer 17 with a primary-side winding 18 and a secondary-side winding 19.
  • first inductors 21a, 21b are arranged.
  • the first inductors 21a, 21b are magnetically coupled to one another on a printed circuit board (not shown in FIG. 1) due to their mutual spatial arrangement, which is indicated by the dashed line 22.
  • Inverter 11, 12 may have a larger output power by means of
  • Plasma supply device 10 can be achieved. About another
  • Connecting line 23 is a center tap 24 on the primary side
  • Winding 18 realized, wherein in the further connecting line 23, a further inductance 25 is provided, which is connected to an input terminal 20 c, which is connected to the connection point of the inverter 11, 12 connected.
  • the primary-side winding 18 has two primary-side Windings 26a, 26b, which are arranged on both sides of the center tap 24.
  • the impedance matching element 28 comprises a second inductance 29 and two capacitors 30a, 30b.
  • the impedance adapter 28 may comprise a plurality of second inductors 29 and capacitors 30a, 30b connected in series and / or in parallel.
  • the secondary-side winding 19 also has two secondary-side windings 31a, 31b.
  • the output transformer 17 is realized in planar technology, so that the primary and secondary windings 26a, 26b, 31a, 31b lie flat on top of each other. Between the windings 26a, 26b, 31a, 31b of the output transformer 17 there are capacitances which are indicated by the further capacitors 32a, 32b, 32c. These are components of an LC filter 33, which comprises the secondary-side winding 19 and the further capacitors 32a, 32b, 32c. Further, a ground terminal 34 connected to the secondary-side winding 19 is provided.
  • the further inductor 25 and the second inductor 29 each have a magnetic field enhancement element designed as a perminear ferrite.
  • the output network 15 is implemented predominantly in planar technology and is arranged on a multilayer printed circuit board including the input terminals 20a, 20b, 20c, the ground terminal 34 and the output terminal 27.
  • Fig. 2 is a vertical section through a horizontally arranged, multilayer printed circuit board 38 is shown.
  • the printed circuit board 38 is constructed as a so-called multi-layer board.
  • the circuit board 38 is about spacers 39a, 39b, 39c spaced from a cooling plate 40 and connected thereto.
  • the output network 15 and the input terminals 20a, 20b for the inverters 11, 12 and the output terminal 27 for the load 16 are arranged on or in the printed circuit board 38.
  • a first magnetic field amplifying element 41 is arranged, in the region of the output transformer 17 a second magnetic field amplifying element 42, wherein the magnetic field amplifying elements 41, 42 are each composed of two parts arranged on both sides of the printed circuit board 38.
  • the capacitors 30a, 30b of the impedance matching element 28 are designed as SMD components.
  • the output network 15 is formed in planar technology with conductor tracks in the multilayer printed circuit board 38. To connect the interconnects of different layers vias are formed in the circuit board 38, by way of example in Fig. 2, the vias 45 and 45 'are designated.
  • the different layers of the printed circuit board 38 namely a lower layer 51 (FIG. 3a), a first inner layer 52 (FIG. 3b), a second inner layer 53 (FIG. 3c) and an upper one Layer 54 (Figure 3d).
  • the magnetic field amplifying elements 41, 41 'and 42 are in the range of the first inductances 21a, 21b and in the region of Inductors 18, 19 of the output transformer 17 with the windings 26a, 26b, 31a, 31b arranged.
  • a third magnetic field amplifying element 55 is provided in the region of the impedance matching element 28.
  • the ground terminal 34 is disposed on the circuit board 38.
  • the capacitors 30a, 30b of the SMD component are formed
  • Impedanzanpassungungsglieds 28 arranged.
  • a possible position of the heat transfer elements 43b, 43b ' is shown in FIG. 3a.
  • a high current flows through all four layers 51, 52, 53, 54 of the circuit board 38. This is why it comes to the highest heat.
  • This heat can not be sufficiently dissipated to the cooling plate 40 within the formed as a ferrite magnetic field reinforcing element 42. For this reason, the heat is led out of the region of the magnetic field amplifying element 42 via the conductor tracks formed in copper and dissipated to the cooling plate 40 via the heat transfer elements 43b, 43b '.
  • FIG. 4 shows the plasma supply device 10 with the inverters 11, 12 and the output network 15 connected to the supply voltage terminals 13, 14 of a DC power supply.
  • the output network 15 has input terminals 20a, 20b for the input signal generated by the inverters 11, 12 and a center tap input terminal 20c and an output terminal 27 for connecting a load 16.
  • the inverters 11, 12, as well as the output network 15, the input terminals 20a, 20b, 20c and the output terminal 27 are arranged on the circuit board 38.
  • FIGS. 5a and 5b each show a plasma supply device 10 'with the output network 15 and a further output network 15'.
  • Both output networks 15, 15 'each have three input terminals 20a, 20b, 20c and 20a', 20b ', 20c' on.
  • both output networks 15, 15 ' are connected in parallel to the inverters 11, 12 or to the DC power supply 13, 14.
  • the plasma supply device 10 'shown in FIG. 5b differs therefrom in that the further output network 15' is connected via further inverters 11 ', 12' to further supply voltage connections 13 ', 14' of a further independent DC power supply.
  • the output networks 15, 15 'including the coupler 59 are arranged on the printed circuit board 38. It is also conceivable that the inverters 11, 12, 11 ', 12' are arranged on the printed circuit board 38. It is also conceivable that the coupler 59 is arranged outside the printed circuit board, moreover, it is also possible that the output networks are realized with or without inverter on separate circuit boards.

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Abstract

Bei einer Plasmaversorgungseinrichtung (10, 10') zur Erzeugung einer Ausgangsleistung > 500 W bei einer im Wesentlichen konstanten Grundfrequenz > 3 MHz und zur Leistungsversorgung eines Plasmaprozesses, an welchen die erzeugte Ausgangsleistung geliefert wird und von welchem reflektierte Leistung zumindest bei Fehlanpassung an die Plasmaversorgungseinrichtung (10, 10') zurückgeleitet wird, mit zumindest einem an eine DC-Stromversorgung (13, 14, 13', 14') angeschlossenen Inverter (11, 12), der zumindest ein schaltendes Element (11.1, 11.2, 12.1, 12.2) aufweist, und mit einem Ausgangsnetzwerk (15, 15'), wobei das Ausgangsnetzwerk (15, 15') auf einer Leiterplatte (38) angeordnet ist. Dadurch kann das Ausgangsnetzwerk (15, 15') günstig und genau realisiert werden.

Description

Plasmaversorgungseinrichtung
Die Erfindung betrifft eine Plasmaversorgungseinrichtung zur Erzeugung einer Ausgangsleistung > 500 W bei einer im Wesentlichen konstanten Grundfrequenz > 3 MHz und zur Leistungsversorgung eines Plasmaprozesses, an welchen die erzeugte Ausgangsleistung geliefert wird und von welchem reflektierte Leistung zumindest bei Fehlanpassung an die Plasmaversorgungseinrichtung zurückgeleitet wird, mit zumindest einem an eine DC-Stromversorgung angeschlossenen Inverter, der zumindest ein schaltendes Element aufweist, und mindestens einem Ausgangsnetzwerk.
Eine derartige Plasmaversorgungseinrichtung wird zur Plasmastromversorgung, d.h., zur Stromversorgung von Plasmaprozessen eingesetzt. Die Plasmaversorgungseinrichtung arbeitet bei einer Grundfrequenz, die bei dessen Einsatz als Plasmastromversorgung nur geringfügig von einem Sollwert abweichen darf. Typische Grundfrequenzen sind 3,39 MHz, 13,56 MHz, 27 MHz, 40 MHz, 62 MHz. Der Inverter, der das zumindest eine schaltende Element aufweist, generiert aus dem DC-Signal der DC- Stromversorgung ein Wechselsignal, welches periodisch mit der Grundfrequenz sein Vorzeichen ändert. Dazu wird das zumindest eine schaltende Element im Takt der Grundfrequenz zwischen einem leitenden und einem nichtleitenden Zustand hin- und hergeschaltet. Das Ausgangsnetzwerk generiert aus dem durch den Inverter generierten Wechselsignal ein sinusförmiges Ausgangssignal im Wesentlichen bei der vorgegebenen Grundfrequenz.
Bei einem Plasma handelt es sich um einen besonderen Aggregatszustand, der aus einem Gas erzeugt wird. Jedes Gas besteht grundsätzlich aus Atomen und/oder Molekülen. Bei einem Plasma ist dieses Gas zu einem Großteil ionisiert. Dies bedeutet, dass durch die Zufuhr von Energie die Atome bzw. Moleküle in positive und negative Ladungsträger, also in Ionen und Elektronen, aufgespalten werden. Ein Plasma eignet sich zur Bearbeitung von Werkstücken, da die elektrisch geladenen Teilchen chemisch hochgradig reaktiv sind und zudem durch elektrische Felder beeinflussbar sind. Die geladenen Teilchen können mittels eines elektrischen Feldes auf ein Werkstück beschleunigt werden, wo sie beim Aufprall einzelne Atome aus dem Werkstück herauslösen können. Die herausgelösten Atome können über Gasfluss abtransportiert werden (Ätzen) oder auf andere Werkstücke beschichtet werden (Herstellung von Dünnfilmen). Anwendung findet eine solche Bearbeitung mittels eines Plasmas vor allem dann, wenn extrem dünne Schichten, insbesondere im Bereich weniger Atomlagen, bearbeitet werden sollen. Typische Anwendungen sind Halbleitertechnik (Beschichten, Ätzen, etc.), Flachbildschirme (ähnlich Halbleitertechnik), Solarzellen (ähnlich Halbleitertechnik), Architekturglasbeschichtung (Wärmeschutz, Blendschutz, etc.), Speichermedien (CD, DVD, Festplatten), dekorative Schichten (farbige Gläser, etc.) und Werkzeughärtung. Diese Anwendungen haben hohe Anforderungen an Genauigkeit und Prozessstabilität.
Um aus einem Gas ein Plasma zu generieren, muss ihm Energie zugeführt werden. Das kann auf unterschiedliche Weise, beispielsweise über Licht, Wärme, elektrische Energie, erfolgen. Bei Erzeugung mittels elektrischer Energie spricht man vom Zünden des Plasmas. Ein Plasma zur Bearbeitung von Werkstücken wird typischerweise in einer Plasmakammer gezündet. Dazu wird in der Regel ein Edelgas, z.B. Argon, mit niedrigem Druck in die Plasmakammer geleitet. Über Elektroden und/oder Antennen wird das Gas einem elektrischen Feld ausgesetzt. Ein Plasma entsteht bzw. wird gezündet, wenn mehrere Bedingungen erfüllt sind. Zunächst muss eine geringe Anzahl von freien Ladungsträgern vorhanden sein, wobei zumeist die stets in sehr geringem Maß vorhandenen freien Elektronen genutzt werden. Die freien Ladungsträger werden durch das elektrische Feld so stark beschleunigt, dass sie beim Aufprall auf Atome oder Moleküle des Edelgases weitere Elektronen herauslösen, wodurch positiv geladene Ionen und weitere negativ geladene Elektronen entstehen. Die weiteren freien Ladungsträger werden wiederum beschleunigt und erzeugen beim Aufprall weitere Ionen und Elektronen. Es setzt ein Lawineneffekt ein. Der ständigen Erzeugung von Ionen und Elektronen wirkt die natürliche Rekombination entgegen, d.h., Elektronen werden von Ionen angezogen und rekombinieren zu elektrisch neutralen Atomen bzw. Molekülen. Deshalb muss einem gezündeten Plasma beständig Energie zugeführt werden, um dieses aufrecht zu erhalten.
Plasmastromversorgungen werden zur Erzeugung bzw. Zündung und zur Aufrechterhaltung eines Plasmas eingesetzt, können jedoch auch zur Anregung von Gaslasern eingesetzt werden. Plasmastromversorgungen müssen möglichst kleine Abmessungen besitzen, damit sie in der Anwendung nah an den Plasmaentladungen angeordnet werden können. Sie sollen möglichst wiederholgenau und exakt arbeiten und möglichst geringe Verluste aufweisen, um einen hohen Wirkungsgrad zu realisieren. Eine weitere Anforderung sind möglichst geringe Herstellungskosten und hohe Wartungsfreundlichkeit. Nach Möglichkeit sollen Plasmastromversorgungen ohne mechanisch angetriebene Bauteile auskommen, insbesondere sind Lüfter aufgrund ihrer begrenzten Lebensdauer und der Gefahr von Verschmutzungen unerwünscht. Weiter sollen Plasmastromversorgungen gleichzeitig möglichst zuverlässig sein, sich nicht überhitzen und eine lange Betriebsdauer aufweisen.
Aufgrund der hohen Dynamik und den oftmals chaotischen Verhältnissen in Plasmaprozessen ist eine Plasmastromversorgung viel höheren Anforderungen ausgesetzt als irgendeine andere Stromversorgung. Ein ungezündetes Gas, das nur eine sehr geringe Anzahl von freien Ladungsträgern besitzt, weist eine nahezu unendlich hohe Impedanz auf. Ein Plasma besitzt aufgrund seiner großen Anzahl freier Ladungsträger eine relativ niedrige Impedanz. Beim Zünden des Plasmas erfolgt also ein sehr schneller Impedanzwechsel. Ein gezündetes Plasma hat als weitere Eigenschaft, dass sich die Impedanz sehr schnell und oftmals unvorhersehbar ändern kann, man sagt die Impedanz ist dynamisch. Die Impedanz des Plasmas ist zudem auch noch im hohen Grad nichtlinear. Das bedeutet, dass eine Änderung der Spannung am Plasma nicht die analoge Änderung des Stroms hervorruft. Beispielsweise kann der Strom bei steigender Spannung sehr viel schneller ansteigen, hervorgerufen beispielsweise durch einen Lawineneffekt, oder der Strom kann auch bei so genannter negativer Impedanz mit steigender Spannung absinken.
Wenn eine Stromversorgung eine Leistung in Richtung Last, wie einer Plasmalast, abgibt, die mit endlicher Geschwindigkeit zur Last fließt, dort aber nicht aufgenommen werden kann, weil sich bei der vorhandenen
Spannung an der Last auf Grund der unterschiedlichen Impedanz nicht derselbe Strom einstellt, so wird nur der Teil der Leistung absorbiert, der sich aus Spannung und Strom in die Last berechnet, der restliche Anteil der Leistung wird reflektiert. Dies erfolgt zwar auch bei Stromversorgungen mit niedrigen Frequenzen und auch bei Gleichstrom, nur bei diesen erfolgt das so schnell, dass sich die Spannung am Ausgang der Stromversorgung praktisch noch nicht verändert hat, wenn die reflektierte Energie zurück kommt. Es passiert für den Beobachter also zeitgleich. Bei Hochfrequenztechnik mit Frequenzen oberhalb ca. 1 MHz haben sich die
Spannung und der Strom am Ausgang der Stromversorgung aber in der
Regel schon verändert, wenn die reflektierte Leistung zurückkommt.
Die reflektierte Leistung hat einen beachtlichen Einfluss auf die Stromversorgungen in der Hochfrequenztechnik. Sie kann Stromversorgungen destabilisieren und deren bestimmungsgemäßen Betrieb verhindern. Die reflektierte Leistung auf Grund von Fehlanpassungen hat bei konstanten Impedanzen nur Anteile bei der Grundfrequenz. Diese lassen sich mit Filtern nicht blockieren und nicht absorbieren, weil Filter nicht zwischen vorwärts (zur Last) laufender Welle und rückwärts (von der Last) laufender Welle unterscheiden können und demzufolge auch die vorwärts laufende Welle blockieren oder absorbieren würden. Um die reflektierte Leistung zu minimieren, werden so genannte Impedanzanpassungsglieder bzw. -netzwerke eingesetzt, die sich in der Hochfrequenztechnik einfach durch Kombinationen von Induktivitäten, Kapazitäten und Widerständen realisieren lassen, wobei Widerstände nicht zwingend erforderlich sind. Wenn die Last aber keine konstante Impedanz ist, sondern eine dynamische und nichtlineare, so kommt es zu mindestens zwei zusätzlichen problematischen Phänomenen. Erstens werden von der nichtlinearen, dynamischen Impedanz Energien bei Frequenzen erzeugt, die ungleich der Grundfrequenz sind, und Teile dieser Frequenzen werden in Richtung der Stromversorgung geleitet. Diese werden mit Filtern blockiert bzw. absorbiert. Zweitens können die Impedanzanpassungsglieder den schnellen dynamischen Impedanzänderungen nicht schnell genug folgen, wodurch vermehrt Reflexionen bei der Grundfrequenz entstehen, die von der dynamischen Impedanz zu der Stromversorgung geleitet werden.
Anders als bei allen anderen Stromversorgungen müssen Plasmastromversorgungen mit jedem beliebigen Fehlabschluss belastbar sein, von Leerlauf über Kurzschluss, von unendlich hoher kapazitiver Belastung bis zu unendlich hoher induktiver Belastung. In jedem Punkt des Smith- Diagramms muss eine Plasmastromversorgung zumindest kurzfristig Leistung liefern können und darf dabei keinen dauerhaften Schaden nehmen. Das hängt mit der hohen Dynamik und mit den oftmals chaotischen Verhältnissen in einem Plasmaprozess zusammen. Zusätzlich können auch noch Frequenzen ungleich der Grundfrequenz auftreten, die in einem weiten Bereich auftreten und zu keinem dauerhaften Schaden der Plasmastromversorgung führen dürfen. Das Erkennen und schnelle Abschalten eines fehlerhaften Abschlusses ist dabei erlaubt, aber die Plasmastromversorgung sollte möglichst keinen Schaden nehmen.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine Plasmaversorgungs- einrichtung bereitzustellen, die den genannten Anforderungen für eine Plasmastromversorgung genügt. Diese Aufgabe wird durch eine Plasmaversorgungseinrichtung der eingangs genannten Art gelöst, bei der das mindestens eine Ausgangsnetzwerk auf einer Leiterplatte angeordnet ist. Durch diese Maßnahme kann das Ausgangsnetzwerk besonders kostengünstig realisiert werden. Außerdem ist es möglich, die Bauelemente des Ausgangsnetzwerks mit exakten Induktivitäten und Kapazitäten, d. h. Induktivitäts- und Kapazitätswerten, die von Sollwerten allenfalls geringfügig abweichen, zu realisieren. Dies ist bei einer hohen Wiederholgenauigkeit möglich. Auf der Leiterplatte kann weiter mindestens ein Eingangsanschluss zum Anschluss des zumindest einen Inverters und/oder der zumindest eine Inverter angeordnet sein. Das Ausgangsnetzwerk besitzt einen großen Einfluss auf die Zuverlässigkeit und folglich auf die Lebensdauer der gesamten Plasmastromversorgung bzw. der Plasmaversorgungseinrichtung. Zumindest ein Bauteil der Plasmaversorgungseinrichtung kann derart ausgebildet sein, dass es von dem Plasmaprozess reflektierte Leistung bei der Grundfrequenz zumindest teilweise absorbiert. Dabei kann die reflektierte Leistung in Wärme umgewandelt werden. Die reflektierte Leistung kann zumindest teilweise absorbiert werden von dem Inverter, von verlustbehafteten Induktivitäten, Übertragern, Kapazitäten oder Widerständen.
Bei der Plasmaversorgungseinrichtung ist das Ausgangsnetzwerk derart dimensioniert, dass die Fläche der Leiterplatte kleiner als 150 cm2 gehalten werden kann. Die Dicke der Leiterplatte beträgt typischerweise 2 bis 5 mm. Als Leiterplattenmaterial kann glasfaserverstärktes Epoxydharz, insbesondere FR4- oder FR5-Material, verwendet werden. Die Schaltung kommt mit diesen Materialien aus, obwohl sie ein verlustbehafteteres dielektrisches Verhalten und eine geringere Wärmeleitfähigkeit und Wärmebeständigkeit als vergleichsweise sehr teure Keramiken oder PTFE- Materialen aufweisen. Mehrlagige Leiterplatten mit flächig ausgebildeten Induktivitäten und SMD-Bauteilen sind für niedrigere Frequenz- und Leistungsbereiche bekannt. Entgegen des Vorurteils, die für die bekannten Leiterplatten verwendeten Materialien seien für Hochfrequenzanwendungen mit einer Ausgangsleistung > 500 W und einer Grundfrequenz > 3 MHz aufgrund hoher Wärmeentwicklung und schlechter Wärmeabführung ungeeignet, wird vorgeschlagen, ein Ausgangsnetzwerk mit planaren Induktivitäten und Kapazitäten auf einer Leiterplatte für den genannten Ausgangsleistungs- und Hochfrequenzbereich zu realisieren. Dies führt zu erheblichen Einsparungen beim Platzbedarf und Kostenaufwand sowie zu einer verbesserten Genauigkeit und Reproduzierbarkeit bei der Herstellung der Plasmaversorgungseinrichtung.
In vorliegender Beschreibung werden die Begriffe Induktivität oder Kapazität bzw. Kondensator einerseits für ein auf der Leiterplatte angeordnetes Bauteil, andererseits für eine dem Bauteil zugeordnete physikalische Größe verwendet, wobei sich die entsprechende Verwendung jeweils aus dem Zusammenhang ergibt.
In einer Ausführungsform der Plasmaversorgungseinrichtung weist das mindestens eine Ausgangsnetzwerk mindestens einen Ausgangsübertrager mit einer primärseitigen Wicklung und einer sekundärseitigen Wicklung auf. Durch den Ausgangsübertrager wird eine galvanische Trennung zwischen dem zumindest einen an eine DC-Stromversorgung angeschlossenen Inverter und einer an die Leiterplatte anzuschließenden Last, insbesondere einer Plasmalast, erreicht. Auf diese Weise werden niederfrequente Signale, insbesondere DC-Anteile, welche am Ausgang des Inverters vorhanden sein können, abgetrennt. Zur galvanischen Trennung kann alternativ eine Kapazität eingesetzt werden. Durch die Ausbildung ausreichender Sicherheitsabstände kann die Primärseite des Ausgangsübertragers galvanisch mit dem Netzanschluss verbunden bleiben. Durch den damit einhergehenden Verzicht auf eine galvanische Trennung in der DC- Stromversorgung können die Kosten und die Baugröße der Plasmaversorgungseinrichtung weiter verringert werden.
Der Ausgangsübertrager kann in Planartechnologie realisiert sein. Ein derart hergestellter, auf der Leiterplatte angeordneter Ausgangsübertrager kann sehr präzise gefertigt werden, insbesondere können die Windungen der primär- und der sekundärseitigen Wicklung bei einer guten Reproduzierbarkeit hergestellt werden. Darüber hinaus ist dies kostengünstiger als ein Aufbau mit Drahtwicklungen. Weiter kann der Ausgangsübertrager großflächig aufgebaut und somit in einfacher Weise gekühlt werden.
In einer weiteren Ausführungsform ist die Leiterplatte mehrlagig, insbesondere mit vier Lagen, ausgebildet, und in jeder Lage der Leiterplatte ist eine Windung des Ausgangsübertragers ausgebildet. Hieraus ergibt sich der Vorteil, dass die kapazitive Kopplung zwischen den Windungen, die üblicherweise als unerwünschte, parasitäre Kapazität betrachtet wird, für weitere Schaltungsteile, beispielsweise für ein Impedanzanpassungsglied, verwendet werden kann. Zudem können die Streuinduktivitäten des Ausgangsübertragers für weitere Schaltungsteile mitverwendet werden.
In einer Ausführungsform weisen die primärseitige Wicklung und die sekundärseitige Wicklung des Ausgangsübertragers jeweils zwei Windungen auf. Auf diese Weise können alle vier Lagen der Leiterplatte genutzt werden. Die gleichzeitig entstehende magnetische Kopplung und die Streuinduktivität können beispielsweise einen LC-Filter bilden.
In einer Ausführungsform der Plasmaversorgungseinrichtung weist das Ausgangsnetzwerk mindestens einen zwischen dem Eingangsanschluss und der primärseitigen Wicklung angeordneten Satz erster Induktivitäten auf. Unter einem „Satz erster Induktivitäten" ist zu verstehen, dass jeder Inverter über eine erste Induktivität mit dem ihm zugeordneten Ausgangsübertrager verbunden ist. Die ersten Induktivitäten können als planare Leiterbahnen ausgebildet sein, die jeweils eine Windung aufweisen. Zweckmäßigerweise sind die ersten Induktivitäten magnetisch gekoppelt, wodurch auf Magnetfeldverstärkungselemente verzichtet werden kann. Zusätzliche Magnetfeldverstärkungselemente können die Induktivität aber noch erhöhen. Es werden Induktivitäten im Bereich von 50 bis 300 nH erreicht. Die Induktivitäten können Werte größer 50 nH und Güten größer 200 aufweisen. In einer Ausführungsform können Leiterbahnen zum Beispiel für die ersten Induktivitäten in mehreren Lagen parallel geführt werden. Der Strom verteilt sich auf die Leiterbahnen und die Verluste werden geringer. Damit steigt die Güte der Induktivitäten auf Werte größer 200. Das war bisher mit planaren Induktivitäten im Bereich von 50 bis 300 nH auf nur einer Lage unerreicht.
Die Inverterschaltung der Plasmaversorgungseinrichtung kann zwei Halbbrücken aufweisen, die jeweils an die DC-Stromversorgung angeschlossen sind. Indem die Mittelpunkte der Halbbrückenschaltung über die ersten Induktivitäten mit der primärseitigen Wicklung des Ausgangsübertragers verbunden werden, kann ein verlustarmes NuII-VoIt- Einschalten über einen weiten Bereich von Lastimpedanzen erreicht werden. Mittels der Plasmaversorgungseinrichtung können vorteilhafte Schaltbedingungen für den Inverter sichergestellt werden. Vorteilhaft sind beispielsweise ein Null-Volt-Einschalten vor allem bei höheren Frequenzen und bei MOSFETs oder ein Null-Strom-Ausschalten vor allem bei niedrigen Frequenzen und bei IGBTs als Schalter im Inverter. Dies kann durch eine geeignete Dimensionierung des Ausgangsnetzwerks bzw. der Schaltungsteile des Ausgangsnetzwerks erreicht werden.
Der Abstand zwischen mindestens zwei Lagen der Leiterplatte kann wesentlich größer sein als der für die Spannungsfestigkeit erforderliche Abstand.
In einer Ausführungsform der Plasmaversorgungseinrichtung bildet die durch die Leiterbahnen gebildete Kapazität zwischen den Windungen der sekundärseitigen Wicklung des mindestens einen Ausgangsübertragers zusammen mit der Induktivität der sekundärseitigen Wicklung des mindestens einen Ausgangsübertragers einen LC-Filter. Die durch die Leiterbahnen zwischen der primärseitigen Wicklung und der sekundärseitigen Wicklung des mindestens einen Ausgangsübertragers gebildete Kapazität kann ein weiterer Bestandteil des LC-Filters sein. In einer Ausführungsform kann das Ausgangsnetzwerk ein zwischen der sekundärseitigen Wicklung und einem Ausgangsanschluss zum Anschluss einer Last angeordnetes Impedanzanpassungsglied mit einer oder mehreren zweiten Induktivitäten und/oder einem oder mehreren Kondensatoren aufweisen. Auf diese Weise wird eine Lastimpedanzanpassung vom Inverter zum Ausgang des Ausgangsnetzwerks erreicht. Durch reaktive Bauelemente des Ausgangsnetzwerks, d. h. Induktivitäten und Kapazitäten, werden die von einer Plasmalast reflektierten und/oder erzeugten Leistungsanteile gefiltert.
Weiter kann das Ausgangsnetzwerk einen LC-Filter aufweisen. Am Ausgang des Inverters liegt in der Regel ein Signal mit einem relativ hohen Anteil von Oberwellen bzw. harmonischen Frequenzen an, welche am Ausgang der Plasmastromversorgung, d. h., am Ausgangsanschluss unerwünscht sind. Die Plasmaversorgungseinrichtung filtert diese Oberwellen bzw. harmonischen Frequenzen mit Hilfe des LC-Filters. Zweckmäßigerweise bilden die Streuinduktivität und die Kapazität zwischen zwei Windungen des Ausgangsübertragers einen LC-Filter, wodurch zusätzliche Bauelemente eingespart werden können. Der LC-Filter ist entweder wie oben beschrieben ausgebildet und/oder Teil des Impedanzanpassungsglieds. In einer weiteren Ausführungsform weist das Ausgangsnetzwerk einen zur sekundärseitigen Wicklung parallelen SMD-Kondensator auf. Die Kapazität zwischen den sekundärseitigen Windungen kann dann die Kapazität dieses Kondensators verstärken.
Weiter können die zweite Induktivität bzw. Induktivitäten in Planartechnologie realisiert sein. Der Kondensator bzw. die Kondensatoren können beispielsweise in Planartechnologie und/oder als SMD-Bauteil realisiert sein. Hieraus ergibt sich der Vorteil einer verbesserten Genauigkeit und Reproduzierbarkeit bei der Herstellung der Plasmaversorgungs- einrichtung. Die Leiterplatten können Durchkontaktierungen zum Verbinden der in den Lagen angeordneten Leiterbahnen aufweisen. Auf diese Weise werden eine hohe Festigkeit der Leiterplatte und gute Kontakte zwischen den auf dieser angeordneten Schaltungsteilen sichergestellt. Sowohl der Eingangsanschluss zum Anschluss der DC-Stromversorgung oder des Inverters als auch der Ausgangsanschluss zum Anschluss der Plasmalast, an welche das durch das Ausgangnetzwerk generierte sinusförmige Ausgangssignal übergeben wird, können mit Durchkontaktierungen verbunden werden. An Leiterkarten aus dem Stand der Technik, die aus Wärmeleitgründen direkt auf der Kühlplatte montiert wurden, konnten keine solche Durchkontaktierungen vorgesehen werden, da sie einen Kurzschluss zwischen der auf Massepotential liegenden Kühlplatte und den Potentialen der Durchkontaktierungen verursacht hätten.
In einer Ausführungsform der Plasmaversorgungseinrichtung ist an der Leiterplatte zumindest ein einer oder mehreren Induktivitäten und/oder Wicklungen des Ausgangsübertragers zugeordnetes Magnetfeldverstärkungselement vorgesehen. Auf diese Weise kann die Anzahl der Windungen für die einzelnen Induktivitäten reduziert werden. Dadurch ist es möglich, mit kurzen Leiterbahnen hohe Induktivitäten zu erzielen. Durch die kurzen Leiterbahnen ergibt sich zudem der Vorteil geringer Widerstände und damit einhergehender geringerer Verluste.
Ein Magnetfeld B wird verursacht durch eine magnetische Feldstärke H. Diese wird wiederum verursacht durch einen Strom I durch eine Leitung, welche eine Induktivität bildet. Zwischen B und H besteht die Beziehung B = μ * H wobei μ die Permeabilität ist. Die Permeabilität μ setzt sich zusammen aus der Permeabilität des Vakuums μ0 = 4π*10"7 Vs/Am und der Permeabilitätszahl μr, die materialabhängig ist. Es gilt μ = μor Ein Magnetfeldverstärkungselement weist ein μr deutlich größer als 1 auf. Typischerweise wird bei den genannten Frequenzen ein Ferrit als Magnetfeldverstärkungselement verwendet. Das Magnetfeldverstärkungs- element erhöht bei Induktivitäten den Wert der Induktivität entsprechend der Permeabilitätszahl μr.
In einer Ausführungsform kann das zumindest eine Magnetfeld- Verstärkungselement ein Ferrit, insbesondere ein Perminvarferrit, sein.
Typischerweise umschließen die Magnetfeldverstärkungselemente oder
Ferrite ringförmig die Leiterbahnen der planaren Induktivitäten. Die Ferrite, die die Windungen der Induktivitäten bzw. der Wicklungen ring- bzw. schalenförmig umschließen, bestehen zweckmäßigerweise aus zwei Teilen, welche gegenstückartig an der Leiterplatte angeordnet werden.
Weiter kann an der Leiterplatte zumindest eine Aussparung zur Aufnahme des zumindest einen Magnetfeldverstärkungselements ausgebildet sein. Typischerweise sind an der Leiterplatte Aussparungen zur Aufnahme des zweiteilig aus zwei gleichen oder zumindest ähnlichen Teilen bestehenden Magnetfeldverstärkungselements ausgebildet. Auf diese Weise kann das Magnetfeldverstärkungselement sicher und platzsparend an der Leiterplatte angeordnet werden.
In einer Ausführungsform weist die Plasmaversorgungseinrichtung eine mit der Leiterplatte verbundene Kühlplatte auf. In einer Ausführungsform ist die Kühlplatte kühlmitteldurchströmt, wodurch eine Plasmastromversorgung ohne forcierte Luftströmung, d. h. ohne Lüfter realisiert werden kann. In einer Ausführungsform ist die Kühlplatte mit Massepotential verbunden, was für eine gute elektrische Abschirmung des Ausgangsnetzwerks sorgt.
Für eine ausreichende Spannungsfestigkeit in Abhängigkeit von der maximalen Spannung, die zwischen den Leiterbahnen zweier Lagen der Leiterplatte entstehen kann, ist üblicherweise ein Abstand von 1 μm/V notwendig. Um eine allzu große Wärmeentwicklung beim Betrieb der Plasmaversorgungseinrichtung zu vermeiden, wird ein höherer Mindestabstand der Leiterbahnen zwischen zwei Lagen vorgeschlagen, da mit diesem erweiterten Mindestabstand die dielektrischen Verluste geringer werden. Dieser höhere Mindestabstand beträgt typischerweise 10 μm/V. In einer Ausführungsform kann die Leiterplatte von der Kühlplatte beabstandet, insbesondere mit einem Abstand von 5 mm bis 20 mm, angeordnet sein. Die Induktivitäten können so mit einer größeren Güte und mit geringen Verlusten realisiert werden.
In einer Ausführungsform kann das Ausgangsnetzwerk von der Kühlplatte mit einem Abstand angeordnet sein, der in Beziehung zur Dicke eines die Induktivität(en) und/oder die Wicklungen des Ausgangsübertragers umschließenden Magnetfeldverstärkungselements steht. Die
Magnetfeldverstärkungselemente können rechteck-ringförmig die Induktivitäten umschließen und plan auf der Kühlplatte aufgelegt werden, eventuell zur mechanischen Entlastung mit elastischen Wärmeübertragungselementen zwischen der Kühlplatte und den Magnetfeldverstärkungs- elementen. Das sorgt für eine gute Wärmeableitung der in den Magnetfeldverstärkungselementen entwickelten Wärme. Die Realisierung eines Ausgangsnetzwerkes mit dem extrem kostengünstigen mehrlagigen FR4- oder FR5-Material und mit Durchkontaktierungen ist erst möglich geworden, als man sich von der vorherrschenden Meinung abwandte, dass sich die gesamte mit planaren Induktivitäten versehene Leiterplatte flächig in Kontakt mit der Kühlplatte befinden muss.
In einer Ausführungsform sind zwischen der Leiterplatte und der Kühlplatte ein oder mehrere elektrisch isolierende Wärmeübertragungselemente angeordnet. Mittels der Wärmeübertragungselemente, die zweckmäßigerweise zudem elastisch ausgebildet sind, wird die Wärme von der Leiterplatte auf die Kühlplatte abgeführt. Von den Stellen auf der Leiterplatte, an denen eine starke Wärmeentwicklung stattfindet, beispielsweise im Bereich des Ausgangsübertragers, wird die Wärme mit Hilfe von flächigen Kupferleiterbahnen zu Stellen mit geringerer Wärmeentwicklung abgeführt. Die Wärmeübertragungselemente können in der Nähe des Ausgangsübertragers angeordnet sein und es können Leiterbahnen durch das dem Ausgangsübertrager zugeordnete Magnetfeldverstärkungselement hindurch zu den Wärmeübertragungselementen geführt sein. Im Bereich eines umschließenden Magnetfeldverstärkungselements wie eines Ferrits, d. h. im Bereich großer Ströme, können nur in umständlicher Weise elektrisch isolierende, flächig ausgebildete Wärmeübertragungselemente angeordnet werden. Mit Hilfe der Kupferleiterbahnen wird die Wärme bzw. Hitze möglichst weit aus dem Bereich des Magnetfeldverstärkungselements herausgeführt und von dort weiter an die Kühlplatte abgeführt.
An der Leiterplatte kann ein Masseanschluss vorgesehen sein. Der Masseanschluss kann als kontaktierte Bohrung ausgebildet sein. Zwischen der Leiterplatte und der Kühlplatte können Abstandsbolzen vorgesehen sein, an denen eine Masseverbindung hergestellt werden kann.
Die obere Leistungsgrenze der Plasmaversorgungseinrichtung ist unter anderem durch die abzuführende Verlustleistung bestimmt. Die obere
Leistungsgrenze kann angehoben werden, indem die
Plasmaversorgungseinrichtung mindestens zwei Ausgangsnetzwerke auf einer Leiterplatte aufweist, die zusammen von mindestens einem an die DC-
Stromversorgung angeschlossenen Inverter oder für sich von jeweils mindestens einem an die DC-Stromversorgung angeschlossenen Inverter gespeist werden und deren Ausgangsleistungen über mindestens einen
Koppler zu einer Gesamtleistung zusammengeführt werden können. Ein
Koppler ist ein elektronisches Bauteil, das dafür ausgelegt ist, elektrische
Leistungen zusammenzuführen oder aufzuteilen. Auch der Koppler kann Bauteile aufweisen, die die reflektierte Leistung zumindest teilweise absorbieren.
Die obere Leistungsgrenze kann ferner angehoben werden, indem das mindestens eine Ausgangsnetzwerk der Plasmaversorgungseinrichtung mindestens zwei Sätze von ersten Induktivitäten und/oder mindestens zwei Ausgangsübertrager und/oder mindestens zwei Impedanzanpassungsglieder aufweist, deren Eingangs- und Ausgangsleistungen jeweils durch mindestens einen Koppler geteilt bzw. zu einer Gesamtleistung zusammengeführt werden.
Der in diesen Fällen mindestens eine benötigte Koppler kann auf der Leiterplatte angeordnet und bevorzugt zumindest teilweise in Planartechnologie realisiert sein.
Bei einer Plasmaversorgungsanordnung werden die Ausgangsleistungen von mindestens zwei Plasmaversorgungseinrichtungen über mindestens einen Koppler zusammengeführt.
Weitere Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung von Ausführungsbeispielen der Erfindung, anhand der Figuren der Zeichnung, die erfindungswesentliche Einzelheiten zeigen, und aus den Ansprüchen. Die einzelnen Merkmale können je einzeln für sich oder zu mehreren in beliebiger Kombination bei einer Variante der Erfindung verwirklicht sein.
Bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung schematisch dargestellt und werden nachfolgend mit Bezug zu den Figuren der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 einen vereinfachten Schaltplan einer erfindungsgemäßen
Plasmaversorgungseinrichtung;
Fig. 2 einen Schnitt durch eine Leiterplatte mit einem darauf angeordneten Ausgangsnetzwerk sowie durch eine mit der Leiterplatte verbundene Kühlplatte;
Fig. 3a bis 3d jeweils eine Lage der Leiterplatte aus Fig. 2;
Fig. 4 einen vereinfachten Schaltplan einer weiteren erfindungsgemäßen Plasmaversorgungseinrichtung; und Fig. 5a und 5b jeweils einen vereinfachten Schaltplan einer beispielhaften zwei Ausgangsnetzwerke aufweisenden Plasmaversorgungseinrichtung.
Die Fig. 1 zeigt eine Plasmaversorgungseinrichtung 10 mit einem ersten Inverter 11 und einem zweiten Inverter 12. Die Inverter 11, 12 sind als Halbbrücken mit jeweils zwei in Serie geschalteten schaltenden Elementen 11.1, 11.2, 12.1, 12.2 ausgebildet. Beide Inverter 11, 12 sind jeweils an einen positiven Versorgungsspannungsanschluss 13 und an einen negativen Versorgungsspannungsanschluss 14 einer DC-Stromversorgung (nicht gezeigt) angeschlossen. Die Plasmaversorgungseinrichtung 10 weist weiter ein Ausgangsnetzwerk 15 auf, an das einerseits die Inverter 11, 12 und andererseits eine Last 16, insbesondere eine Plasmalast, angeschlossen sind. Als zentrales Schaltungsteil weist das Ausgangsnetzwerk 15 einen Ausgangsübertrager 17 mit einer primärseitigen Wicklung 18 und einer sekundärseitigen Wicklung 19 auf.
Zwischen Eingangsanschlüssen 20a, 20b des Ausgangsnetzwerks 15 für die Inverter 11, 12 und der primärseitigen Wicklung 18 des
Ausgangsübertragers 17 sind erste Induktivitäten 21a, 21b angeordnet. Die ersten Induktivitäten 21a, 21b sind magnetisch aufgrund ihrer gegenseitigen räumlichen Anordnung auf einer Leiterplatte (in Figur 1 nicht dargestellt) miteinander gekoppelt, was durch die gestrichelte Linie 22 angedeutet ist. Durch das Zusammenschalten der Ausgänge der beiden
Inverter 11, 12 kann eine größere Ausgangsleistung mittels der
Plasmaversorgungseinrichtung 10 erreicht werden. Über eine weitere
Verbindungsleitung 23 ist eine Mittenanzapfung 24 an der primärseitigen
Wicklung 18 realisiert, wobei in der weiteren Verbindungsleitung 23 eine weitere Induktivität 25 vorgesehen ist, die an einen Eingangsanschluss 20c, der mit dem Verbindungspunkt der Inverter 11, 12 verbunden ist, angeschlossen ist. Die primärseitige Wicklung 18 weist zwei primärseitige Windungen 26a, 26b auf, welche beidseits der Mittenanzapfung 24 angeordnet sind.
Zwischen der sekundärseitigen Wicklung 19 und einem Ausgangsanschluss 27 für die Last 16 ist ein Impedanzanpassungsglied 28 angeordnet. Das Impedanzanpassungsglied 28 umfasst eine zweite Induktivität 29 und zwei Kondensatoren 30a, 30b. Das Impedanzanpassungsglied 28 kann mehrere zweite Induktivitäten 29 sowie in Serie und/oder parallel geschaltete Kondensatoren 30a, 30b aufweisen. Die sekundärseitige Wicklung 19 weist ebenfalls zwei sekundärseitige Windungen 31a, 31b auf. Mit Hilfe des Ausgangsnetzwerks 15 wird ein an den Eingangsanschlüssen 20a, 20b eingegebenes Wechselsignal in ein am Ausgangsanschluss 27 ausgegebenes sinusförmiges Ausgangssignal generiert. Weiter werden harmonische Frequenzen gefiltert und DC-Anteile abgetrennt.
Der Ausgangsübertrager 17 ist in Planartechnologie realisiert, so dass die primär- und sekundärseitigen Windungen 26a, 26b, 31a, 31b flach übereinander liegen. Zwischen den Windungen 26a, 26b, 31a, 31b des Ausgangsübertragers 17 bestehen Kapazitäten, die durch die weiteren Kondensatoren 32a, 32b, 32c angedeutet sind. Diese sind Bestandteile eines LC-Filters 33, der die sekundärseitige Wicklung 19 und die weiteren Kondensatoren 32a, 32b, 32c umfasst. Weiter ist ein mit der sekundärseitigen Wicklung 19 verbundener Masseanschluss 34 vorgesehen. Die weitere Induktivität 25 und die zweite Induktivität 29 weisen jeweils ein als Perminvarferrit ausgebildetes Magnetfeldverstärkungselement auf. Das Ausgangsnetzwerk 15 ist überwiegend in Planartechnologie realisiert und einschließlich der Eingangsanschlüsse 20a, 20b, 20c, des Masseanschlusses 34 und des Ausgangsanschlusses 27 auf einer mehrlagigen Leiterplatte angeordnet.
In Fig. 2 ist ein vertikaler Schnitt durch eine horizontal angeordnete, mehrlagige Leiterplatte 38 gezeigt. Die Leiterplatte 38 ist als so genannte Multi-Layer-Platine aufgebaut. Die Leiterplatte 38 ist über Abstandsbolzen 39a, 39b, 39c von einer Kühlplatte 40 beabstandet und mit dieser verbunden. Auf bzw. in der Leiterplatte 38 sind das Ausgangsnetzwerk 15 sowie die Eingangsanschlüsse 20a, 20b für die Inverter 11, 12 und der Ausgangsanschluss 27 für die Last 16 angeordnet. Im Bereich der ersten Induktivitäten 21a, 21b ist ein erstes Magnetfeldverstärkungselement 41, im Bereich des Ausgangsübertragers 17 ein zweites Magnetfeldverstärkungselement 42 angeordnet, wobei die Magnetfeldverstärkungselemente 41, 42 jeweils aus zwei beidseits der Leiterplatte 38 angeordneten Teilen zusammengesetzt sind. Die Kondensatoren 30a, 30b des Impedanz- anpassungsglieds 28 sind als SMD-Bauteile ausgebildet.
Im Bereich der Induktivitäten 18, 19, 21a, 21b, 29 des Ausgangsnetzwerks 15 sind elastische, flächig ausgebildete Wärmeübertragungselemente 43a, 43b, 43c zwischen der Leiterplatte 38 und der Kühlplatte 40 angeordnet, wobei im Bereich des Impendanzanpassungsglieds 28 zusätzlich ein als Kupferblock ausgebildetes weiteres Wärmeübertragungselement 44 vorgesehen ist. Mittels der Wärmeübertragungselemente 43a, 43b, 43c, 44 wird die bei Betrieb der Plasmaversorgungseinrichtung 10 im Bereich der Induktivitäten 18, 19, 21a, 21b, 29 entstehende Wärme von der Leiterplatte 38 auf die Kühlplatte 40 abgeführt. Zur verbesserten Wärmeabfuhr können die Magnetfeldverstärkungselemente 41, 42 bereichsweise mit einer Wärmeleitmasse, insbesondere einem Wärmeleitschaum, umgeben sein. Das Ausgangsnetzwerk 15 ist in Planartechnologie mit Leiterbahnen in der mehrlagigen Leiterplatte 38 ausgebildet. Zur Verbindung der Leiterbahnen verschiedener Lagen sind Durchkontaktierungen in der Leiterplatte 38 ausgebildet, beispielhaft sind in Fig. 2 die Durchkontaktierungen 45 und 45' bezeichnet.
In den Fig. 3a bis 3d sind die unterschiedlichen Lagen der Leiterplatte 38, nämlich eine untere Lage 51 (Fig. 3a), eine erste innere Lage 52 (Fig. 3b), eine zweite innere Lage 53 (Fig. 3c) und eine obere Lage 54 (Fig. 3d), dargestellt. Die Magnetfeldverstärkungselemente 41, 41' und 42 sind im Bereich der ersten Induktivitäten 21a, 21b und im Bereich der Induktivitäten 18, 19 des Ausgangsübertragers 17 mit den Windungen 26a, 26b, 31a, 31b angeordnet. Zusätzlich ist ein drittes Magnetfeldverstärkungselement 55 im Bereich des Impedanzanpassungsglieds 28 vorgesehen. Neben Durchkontaktierungen 45, 45', 45", 45'" sind Bohrungen 56, 56', 56" zwischen den Lagen 51, 52, 53, 54 ausgebildet, wodurch gute Kontakte zwischen den Leiterbahnen und eine hohe Festigkeit der Leiterplatte 38 sichergestellt werden. Neben den Eingangsanschlüssen 20a, 20b und dem Ausgangsanschluss 27 ist der Masseanschluss 34 auf der Leiterplatte 38 angeordnet. Auf der oberen Lage 54 sind die als SMD- Bauteile ausgebildeten Kondensatoren 30a, 30b des
Impedanzanpassungsglieds 28 angeordnet. Eine mögliche Lage der Wärmeübertragungselemente 43b, 43b' ist in Fig 3a eingezeichnet. Im Ausgangsübertrager 17 fließt ein hoher Strom durch alle vier Lagen 51, 52, 53, 54 der Leiterplatte 38. Hier kommt es deswegen zur höchsten Wärmeentwicklung. Diese Wärme kann innerhalb des als Ferrit ausgebildeten Magnetfeldverstärkungselements 42 nicht ausreichend zur Kühlplatte 40 abgeführt werden. Deswegen wird die Wärme über die in Kupfer ausgebildeten Leiterbahnen aus dem Bereich des Magnetfeldverstärkungselements 42 herausgeführt und über die Wärmeübertragungselemente 43b, 43b' an die Kühlplatte 40 abgeführt.
In Fig. 4 ist die Plasmaversorgungseinrichtung 10 mit den an die Versorgungsspannungsanschlüsse 13, 14 einer DC-Stromversorgung angeschlossenen Invertern 11, 12 und dem Ausgangsnetzwerk 15 gezeigt. Das Ausgangsnetzwerk 15 weist Eingangsanschlüsse 20a, 20b für das von den Invertern 11, 12 erzeugte Eingangssignal und einen Eingangsanschluss 20c für die Mittenanzapfung sowie einen Ausgangsanschluss 27 zum Anschluss einer Last 16 auf. Die Inverter 11, 12 sind ebenso wie das Ausgangsnetzwerk 15, die Eingangsanschlüsse 20a, 20b, 20c und der Ausgangsanschluss 27 auf der Leiterplatte 38 angeordnet.
Die Fig. 5a und 5b zeigen jeweils eine Plasmaversorgungseinrichtung 10' mit dem Ausgangsnetzwerk 15 und einem weiteren Ausgangsnetzwerk 15'. Beide Ausgangsnetzwerke 15, 15' weisen jeweils drei Eingangsanschlüsse 20a, 20b, 20c bzw. 20a', 20b', 20c' auf. In Fig. 5a sind beide Ausgangsnetzwerke 15, 15' parallel an die Inverter 11, 12 bzw. an die DC- Stromversorgung 13, 14 angeschlossen. Die in der Fig. 5b dargestellte Plasmaversorgungseinrichtung 10' unterscheidet sich davon darin, dass das weitere Ausgangsnetzwerk 15' über weitere Inverter 11', 12' an weitere Versorgungsspannungsanschlüsse 13', 14' einer weiteren unabhängigen DC- Stromversorgung angeschlossen sind. Mittels eines Kopplers 59 werden die Ausgangssignale beider Ausgangsnetzwerke 15, 15' zusammengeführt und an eine Last 16 übergeben. Die Ausgangsnetzwerke 15, 15' einschließlich des Kopplers 59 sind auf der Leiterplatte 38 angeordnet. Es ist zudem denkbar, dass die Inverter 11, 12, 11', 12' auf der Leiterplatte 38 angeordnet sind. Es ist auch denkbar, dass der Koppler 59 außerhalb der Leiterplatte angeordnet ist, zudem ist es auch möglich, dass die Ausgangsnetzwerke mit oder ohne Inverter auf getrennten Leiterplatten realisiert sind.

Claims

PAT E N TA N S P R Ü C H E
1. Plasmaversorgungseinrichtung (10, 10') zur Erzeugung einer Ausgangsleistung > 500 W bei einer im Wesentlichen konstanten
Grundfrequenz > 3 MHz und zur Leistungsversorgung eines Plasmaprozesses, an welchen die erzeugte Ausgangsleistung geliefert wird und von welchem reflektierte Leistung zumindest bei Fehlanpassung an die Plasmaversorgungseinrichtung (10, 10') zurückgeleitet wird, mit zumindest einem an eine DC-Stromversorgung (13, 14, 13', 14') angeschlossenen Inverter (11, 12, 11', 12'), der zumindest ein schaltendes Element (11.1, 11.2, 12.1, 12.2) aufweist, und mindestens einem Ausgangsnetzwerk (15, 15'),
dadurch gekennzeichnet, dass
das mindestens eine Ausgangsnetzwerk (15, 15') auf einer Leiterplatte (38) angeordnet ist.
2. Plasmaversorgungseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein Eingangsanschluss (20a, 20b, 20a', 20b') zum Anschluss des zumindest einen Inverters (11, 12, 11', 12') auf der Leiterplatte (38) angeordnet ist.
3. Plasmaversorgungseinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass der zumindest eine Inverter (11, 12, 11', 12') auf der Leiterplatte (38) angeordnet ist.
4. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest ein Bauteil der Plasmaversorgungseinrichtung (10, 10') derart ausgebildet ist, dass es von dem Plasmaprozess reflektierte Leistung bei der Grundfrequenz zumindest teilweise absorbiert.
5. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der vorhergehenden 5 Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das mindestens eine
Ausgangsnetzwerk (15, 15') zumindest eine in Planartechnologie realisierte Induktivität (21a, 21b, 29) aufweist.
6. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der vorhergehenden o Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Leiterplatte (38) aus glasfaserverstärktem Epoxydharz, insbesondere FR4- oder FR5- Material, gefertigt ist.
7. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der vorhergehenden 5 Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das mindestens eine
Ausgangsnetzwerk (15, 15') mindestens einen Ausgangsübertrager (17) mit einer primärseitigen Wicklung (18) und einer sekundärseitigen Wicklung (19) aufweist.
!o 8. Plasmaversorgungseinrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass der mindestens eine Ausgangsübertrager (17) in Planartechnologie realisiert ist.
9. Plasmaversorgungseinrichtung nach Anspruch 7 oder 8, dadurch
»5 gekennzeichnet, dass die Leiterplatte (38) mehrlagig, insbesondere mit vier Lagen (51, 52, 53, 54), ausgebildet ist, und dass in jeder Lage (51, 52, 53, 54) der Leiterplatte (38) eine Windung (26a, 26b, 31a, 31b) des mindestens einen Ausgangsübertragers (17) ausgebildet ist. so
10. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass die primärseitige Wicklung (18) und die sekundärseitige Wicklung (19) des mindestens einen Ausgangsübertragers (17) jeweils zwei Windungen (26a, 26b, 31a, 31b) aufweisen.
11. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 10, 5 dadurch gekennzeichnet, dass das mindestens eine
Ausgangsnetzwerk (15, 15') mindestens einen zwischen dem Eingangsanschluss (20a, 20b) und der primärseitigen Wicklung (18) angeordneten Satz erster Induktivitäten (21a, 21b) aufweist. o 12. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der Ansprüche 5 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest eine der Induktivitäten (21a, 21b, 29) Werte größer 50 nH und Güten größer 200 aufweist.
13. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 12,5 dadurch gekennzeichnet, dass der Abstand zwischen mindestens zwei Lagen (51, 52, 53, 54) der Leiterplatte (38) größer ist als der für die Spannungsfestigkeit erforderliche Abstand.
14. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 13, >o dadurch gekennzeichnet, dass die durch die Leiterbahnen gebildete
Kapazität zwischen den Windungen (31a, 31b) der sekundärseitigen Wicklung (19) des mindestens einen Ausgangsübertragers (17) zusammen mit der Induktivität der sekundärseitigen Wicklung (19) des mindestens einen Ausgangsübertragers (17) einen LC-Filter !5 bildet.
15. Plasmaversorgungseinrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, dass die durch die Leiterbahnen zwischen der primärseitigen Wicklung (18) und der sekundärseitigen Wicklung o (19) des mindestens einen Ausgangsübertragers (17) gebildete
Kapazität ein weiterer Bestandteil des LC-Filters ist.
16. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass das mindestens eine Ausgangsnetzwerk (15, 15') mindestens ein zwischen der sekundärseitigen Wicklung (19) und mindestens einem 5 Ausgangsanschluss (27) zum Anschluss einer Last (16) angeordnetes Impedanzanpassungsglied (28) mit einer oder mehreren zweiten Induktivitäten (29) und/oder einem oder mehreren Kondensatoren (30a, 30b) aufweist.
o 17. Plasmaversorgungseinrichtung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass der bzw. die Kondensator(en) (30a, 30b) in Planartechnologie und/oder als SMD-Bauteil(e) realisiert sind.
18. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 17,5 dadurch gekennzeichnet, dass an der Leiterplatte (38)
Durchkontaktierungen (45, 45', 45", 45'") zum Verbinden der in den Lagen (51, 52, 53, 54) angeordneten Leiterbahnen ausgebildet sind.
19. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der Ansprüche 5 bis 18,0 dadurch gekennzeichnet, dass an der Leiterplatte (38) zumindest ein einer oder mehreren Induktivitäten (21a, 21b, 29) und/oder Wicklungen (18, 19) des mindestens einen Ausgangsübertragers (17) zugeordnetes Magnetfeldverstärkungselement (41, 42, 55) vorgesehen ist. 5
20. Plasmaversorgungseinrichtung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass das zumindest eine Magnetfeldverstärkungselement (41, 42, 55) ein Ferrit, insbesondere ein Perminvarferrit, ist. 0
21. Plasmaversorgungseinrichtung nach Anspruch 19 oder 20, dadurch gekennzeichnet, dass an der Leiterplatte (38) zumindest eine Aussparung zur Aufnahme des zumindest einen Magnetfeldverstärkungselements (41, 42, 55) ausgebildet ist.
22. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Plasmaversorgungseinrichtung (10) eine mit der Leiterplatte (38) verbundene Kühlplatte (40) aufweist.
23. Plasmaversorgungseinrichtung nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, dass die Leiterplatte (38) von der Kühlplatte (40) beabstandet, insbesondere mit einem Abstand von 5 mm bis 20 mm, angeordnet ist.
24. Plasmaversorgungseinrichtung nach Anspruch 22 oder 23, dadurch gekennzeichnet, dass die Leiterplatte (38) von der Kühlplatte (40) mit einem Abstand angeordnet ist, der in Beziehung zur Dicke eines die Induktivität(en) (21a, 21b) und/oder die Wicklungen (18, 19) des mindestens einen Ausgangsübertragers (17) umschließenden Magnetfeldverstärkungselements (41, 42, 55) steht.
25. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der Ansprüche 22 bis 24, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen der Leiterplatte (38) und der Kühlplatte (40) ein oder mehrere bevorzugt elektrisch isolierende Wärmeübertragungselemente (43a, 43b, 43c, 44) angeordnet sind.
26. Plasmaversorgungseinrichtung nach Anspruch 25, dadurch gekennzeichnet, dass die Wärmeübertragungselemente (43a, 43b, 43c, 44) in der Nähe des mindestens einen Ausgangsübertragers (17) angeordnet sind und Leiterbahnen durch das dem mindestens einen Ausgangsübertrager (17) zugeordnete Magnetfeldverstärkungselement (42) hindurch zu den Wärmeübertragungselementen (43a, 43b, 43c, 44) geführt sind.
27. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass an der Leiterplatte (38) ein bevorzugt als kontaktierte Bohrung ausgebildeter
5 Masseanschluss (34) vorgesehen ist.
28. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das mindestens eine Ausgangsnetzwerk (15, 15') mindestens zwei Sätze von ersteno Induktivitäten und/oder mindestens zwei Ausgangsübertrager und/oder mindestens zwei Impedanzanpassungsglieder aufweist, deren Eingangs- und Ausgangsleistungen jeweils durch mindestens einen Koppler geteilt bzw. zu einer Gesamtleistung zusammengeführt werden. 5
29. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens zwei Ausgangsnetzwerke (15, 15') vorhanden sind, deren Ausgangsleistungen zu einer Gesamtleistung zusammengeführt
?o werden.
30. Plasmaversorgungseinrichtung nach Anspruch 29, dadurch gekennzeichnet, dass die Ausgangsnetzwerke (15, 15') parallel an zumindest einen gemeinsamen Inverter (11, 12) angeschlossen
>5 sind.
31. Plasmaversorgungseinrichtung nach Anspruch 29, dadurch gekennzeichnet, dass die Ausgangsnetzwerke (15, 15') an getrennte Inverter (11, 12, 11', 12') angeschlossen sind.
IO
32. Plasmaversorgungseinrichtung nach einem der Ansprüche 29 bis 31, dadurch gekennzeichnet, dass das Zusammenführen der Ausgangsleistungen durch mindestens einen Koppler (59) erfolgt.
33. Plasmaversorgungseinrichtung nach Anspruch 32, dadurch gekennzeichnet, dass der mindestens eine Koppler (59) auf der Leiterplatte (58) angeordnet und bevorzugt zumindest teilweise in Planartechnologie realisiert ist,
34. Plasmaversorgungsanordnung mit mindestens zwei Plasmaversorgungseinrichtungen (10, 10') nach einem der vorhergehenden Ansprüche und mindestens einem Koppler (59), wobei die Ausgangsleistungen der Plasmaversorgungseinrichtungen
(10, 10') über den mindestens einen Koppler (59) zusammengeführt werden.
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DE112008000115B4 (de) 2014-03-27
EP2174337A1 (de) 2010-04-14
EP2511940A3 (de) 2013-02-13
WO2009012866A1 (en) 2009-01-29
DE112008000107A5 (de) 2009-11-05
US8466622B2 (en) 2013-06-18
EP2511940A2 (de) 2012-10-17
US20100171428A1 (en) 2010-07-08
DE112007003213B4 (de) 2018-02-15
US20090026964A1 (en) 2009-01-29
DE112008000104A5 (de) 2009-11-26
WO2009012868A1 (de) 2009-01-29
EP2097921B1 (de) 2012-10-24
WO2009012867A2 (en) 2009-01-29
EP2174339A1 (de) 2010-04-14
US8643279B2 (en) 2014-02-04
DE112008000092B4 (de) 2015-08-06
WO2009012803A1 (de) 2009-01-29
ATE545945T1 (de) 2012-03-15
WO2009012804A1 (de) 2009-01-29
WO2009012966A1 (de) 2009-01-29
US8421377B2 (en) 2013-04-16
US8436543B2 (en) 2013-05-07
JP2010536118A (ja) 2010-11-25
JP5606312B2 (ja) 2014-10-15
US20090027936A1 (en) 2009-01-29
US20130214680A1 (en) 2013-08-22
DE112008000092A5 (de) 2009-11-05
DE112008000106B4 (de) 2015-08-06
WO2009012974A1 (de) 2009-01-29
EP2174339B1 (de) 2011-01-26
US8866400B2 (en) 2014-10-21
WO2009012848A1 (de) 2009-01-29
WO2009012969A3 (de) 2009-05-07
JP5631208B2 (ja) 2014-11-26
US8154897B2 (en) 2012-04-10
ATE497251T1 (de) 2011-02-15
DE112007003667A5 (de) 2010-07-01
DE112008000105B4 (de) 2015-08-06
EP2174338A1 (de) 2010-04-14
US20140125315A1 (en) 2014-05-08
US8129653B2 (en) 2012-03-06
WO2009012969A2 (de) 2009-01-29
US20090027937A1 (en) 2009-01-29
DE112008000105A5 (de) 2009-11-05
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WO2009012826A1 (de) 2009-01-29
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