WO2005076018A1 - 針状部材、導電性接触子および導電性接触子ユニット - Google Patents

針状部材、導電性接触子および導電性接触子ユニット Download PDF

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WO2005076018A1
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hole
conductive contact
circuit
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PCT/JP2005/001712
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Toshio Kazama
Kohei Hironaka
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Nhk Spring Co., Ltd.
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    • H01R2201/20Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Definitions

  • the present invention relates to a technique for electrically connecting a contacted body and a circuit board having a circuit for generating an electric signal to be supplied to the contacted body.
  • the strong conductive contact unit includes a plurality of conductive contacts, a conductive contact holder having an opening for accommodating the conductive contacts, and an inspection circuit electrically connected to the conductive contacts.
  • a configuration comprising: In order to electrically connect the external connection electrode and the inspection circuit while absorbing irregularities existing between the multiple external connection electrodes provided in the semiconductor integrated circuit, the conductive contact must have a structure that can expand and contract. There is.
  • FIG. 8 is a schematic diagram showing a configuration of a conventional conductive contact constituting a conductive contact unit.
  • a conventional conductive contact is constituted by a plunger 101 and a barrel 102 formed by a conductive member, and a panel 103 arranged between the plunger 101 and the barrel 102.
  • the plunger 101 includes a contact portion 105 electrically connected to one of an external connection electrode and a test circuit provided in the semiconductor integrated circuit, a columnar portion 106 provided below the contact portion 105, and a columnar portion. It has a structure in which a support portion 107 provided below the portion 106 is integrally formed.
  • the barrel 102 is formed integrally with a contact portion 108 electrically connected to the other of the external connection electrode and the test circuit, and a columnar portion 109 provided above the contact portion 108. It has a structure in which a hollow part 110 for accommodating a support part 107 provided in the plunger 101 is formed.
  • the conductive contact shown in FIG. 8 is formed so that the outer diameter of the support portion 107 and the inner diameter of the hollow portion 110 are substantially equal to each other. It is configured to be vertically movable with respect to the barrel 102 while being guided by the inner wall of the barrel 102.
  • the conductive contact shown in (1) has a configuration in which a panel 103 is arranged between a plunger 101 and a barrel 102. As a result, the plunger 101 and the barrel 102 are resiliently biased by the panel 103, and maintain a state in which the plunger 101 and the barrel 102 are in resilient contact with the external connection electrodes and the detection circuit provided in the semiconductor integrated circuit.
  • the semiconductor integrated circuit and the test circuit are electrically connected (for example, see Patent Document 1).
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-241447 (FIG. 2)
  • the conductive contact having the conventional structure shown in FIG. 8 has a problem that it is difficult to reduce the manufacturing cost while the manufacturing of the barrel 102 is not easy. Hereinafter, such a problem will be described in detail.
  • the open end of the cavity 110 is formed at the end on the plunger 101 side, and the contact portion 108 is formed at the end opposite to the plunger 101. It is indispensable to provide the structure formed in the above. That is, since the cavity 110 guides the operation of the plunger 101 by accommodating the support 107 provided on the plunger 101, the cavity 110 is formed so as to accommodate the support 107. It is essential that the opening end of the cavity 110 be provided on the plunger 101 side.
  • the contact portion 108 since the contact portion 108 is provided for contacting the semiconductor integrated circuit or the test circuit, the contact portion 108 needs to be formed at the end of the entire conductive contact, and the plan It is essential to provide the contact portion 108 on the side opposite to the jar 101, that is, on the side opposite to the opening end of the cavity 110.
  • a processing device such as a lathe generally has a configuration capable of processing a metal member from only one direction. Therefore, when the barrel 102 is manufactured, first, for example, a rod-shaped workpiece to be formed of a metal material is contacted with a portion to be formed with the contact portion 108 fixed in a state of facing the workpiece. A part 108 is formed. After the formation of the contact portion 108 is completed, the fixed state of the rod is temporarily released, and the portion where the opening end is to be formed (ie, the side opposite to the portion where the contact portion 108 is to be formed) faces the workpiece. The workpiece is fixed again to form the cavity 110.
  • the barrel 102 is manufactured by a general processing apparatus, it is necessary to change and re-fix the member to be caroeuted during the manufacturing, and the manufacturing process becomes complicated.
  • the barrel 102 since it is necessary to temporarily release the fixed state of the workpiece to change the direction, there is a problem of occurrence of axial deviation of the barrel 102 to be manufactured. That is, as shown in FIG. 8, the barrel 102 theoretically has a rotationally symmetric shape with respect to a force axis with the longitudinal direction as an axis. A holder for accommodating the panel 103 and the conductive contact is designed. For this reason, if the center axis of the hollow portion 110 and the contact portion 108 is deviated from the design, the extension / contraction operation of the conductive contact as a whole will be hindered, and the inspection will not be performed. Problems such as insufficient electrical contact with circuits and the like may occur. Therefore, when the barrel 102 is manufactured using a general processing apparatus, precise alignment is required when the workpiece is re-fixed, and this point force also makes the manufacturing process complicated. Don't get it.
  • the present invention has been made in view of the above, and realizes a structure that is easy to manufacture with respect to a needle-like member such as a barrel, and a conductive contact and a conductive contact incorporating the needle-like member.
  • the purpose is to realize a child unit.
  • a needle-like member according to claim 1 includes a contact body and a circuit or a circuit that generates and transmits an electric signal to be supplied to the contact body.
  • the hole structure formed in the needle-shaped member is a through-hole, so that the direction in which the contact portion is processed when the needle-shaped member is manufactured and the through-hole are formed. Forming direction And it is possible to realize a needle-shaped member that is easy to manufacture.
  • the contact portion is formed such that the contact portion comes into contact with a peripheral portion of a connection electrode provided on the contacted body when used. It is characterized in that it is formed near the peripheral edge in the longitudinal direction.
  • the conductive contact according to claim 3 electrically connects the contacted body to a circuit that generates and transmits an electric signal to be supplied to the contacted body or a circuit board including the circuit.
  • a conductive contact to be connected the contact being in contact with the contacted body and one of the circuit or the circuit board during use, and a portion contacting the contacted body processed into a predetermined shape;
  • a first needle-shaped member formed integrally with the contact portion and having a columnar portion formed with a through-hole having the same inner diameter or an inner diameter that monotonically decreases as being separated from the contact portion;
  • a second needle-like member that is arranged in an electrically connected state with the needle-like member and that slides in the longitudinal direction relatively to the first needle-like member; and the first needle-like member and the second needle-like member.
  • An elastic member that is coupled to a needle-shaped member and that corresponds to a distance between the first needle-shaped member and the second needle-shaped member. Characterized by comprising a panel member for applying a force.
  • the second needle-shaped member is in contact with an inner peripheral surface of a through hole formed in the first needle-shaped member.
  • a supporting portion slidable in the longitudinal direction while maintaining a state, and a contact portion formed integrally with the supporting portion and electrically contacting the contacted body and the other of the circuit or the circuit board during use. And characterized in that:
  • the conductive contact unit is a circuit for generating and transmitting an electric signal supplied to a contacted body, or a circuit board having the circuit, and the contactor when used.
  • a contact portion that is in contact with one of the body and the circuit or the circuit board including the circuit, and a portion that contacts the contacted body is formed into a predetermined shape; and the contact portion is formed integrally with the contact portion.
  • a conductive contact holder in which a holder hole for accommodating the conductive contact is formed.
  • the needle-like member, the conductive contact and the conductive contact unit according to the present invention can be used for manufacturing a needle-like member by making the hole structure formed in the needle-like member a through hole.
  • the direction in which the contact portion is processed and the direction in which the through hole is formed can be made to coincide with each other, so that it is possible to realize a needle-shaped member that can be easily manufactured.
  • the processing direction of the contact portion and the forming direction of the through-hole coincide with each other, it is possible to process the contact portion and form the through-hole while maintaining a fixed state throughout the manufacturing process, and it is possible to reduce the axial displacement. If a high-quality needle-like member in which generation is prevented can be manufactured, an effect is obtained.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing an overall configuration of a conductive contact unit according to an embodiment.
  • FIG. 2 is a schematic diagram showing a configuration of a conductive contact constituting a conductive contact unit according to the embodiment.
  • FIG. 3-1 is a schematic view showing a manufacturing process of a first needle-like member constituting a conductive contact.
  • FIG. 3-2 is a schematic view showing a step of manufacturing a first needle-like member constituting the conductive contact.
  • FIG. 3-3 is a schematic view showing a step of manufacturing a first needle-like member constituting the conductive contact.
  • FIG. 3-4 is a schematic view showing a step of manufacturing the first needle-like member constituting the conductive contact.
  • FIG. 3-5 is a schematic view showing a step of manufacturing a first needle-like member constituting the conductive contact.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view showing a configuration of a conductive contact constituting a conductive contact unit according to Modification 1.
  • FIG. 5-1 is a schematic diagram showing a manufacturing process of a needle-like member constituting a conductive contact according to a first modification.
  • FIG. 5-2 is a schematic view showing a manufacturing process of a needle-like member constituting a conductive contact in Modification Example 1.
  • FIG. 6-1 is a schematic diagram showing a state in which a conductive contact is extended in a first modification.
  • FIG. 6-2 is a schematic diagram showing a state in which the conductive contact is contracted in the first modification.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view showing a configuration of a conductive contact constituting a conductive contact unit according to Modification 2.
  • FIG. 8 is a schematic diagram showing a configuration of a conventional conductive contact.
  • Rod-shaped gripping member Small-diameter drill hole Large-diameter drill hole Needle member a Contact part 1 Plunger 2 Barrel 3 Panel 106 Column
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing an overall configuration of a conductive contact unit according to the present embodiment.
  • the conductive contact unit according to the present embodiment includes a circuit board 2 provided with a circuit for generating a signal to be supplied to the semiconductor integrated circuit 1 and a holder hole 3 formed on the circuit board 2. And a conductive contact 5 accommodated in the holder hole 3.
  • the circuit board 2 functions as an example of a circuit or a circuit board in the claims, and includes a test circuit for testing electrical characteristics of the semiconductor integrated circuit 1 to be tested. Specifically, the circuit formed on the circuit board 2 has a function of generating and transmitting an electric signal for inspection.
  • the circuit board 2 has a configuration in which connection electrodes 8 for electrically connecting a built-in inspection circuit to the conductive contacts 5 are arranged on a contact surface with the conductive contact holder 4. .
  • the conductive contact holder 4 is for accommodating the conductive contact 5.
  • the conductive contact holder 4 has a configuration in which a first substrate 9 and a second substrate 10 formed of an insulating material are bonded together, and penetrates the first substrate 9 and the second substrate 10. It has a structure in which a holder hole 3 is formed.
  • the holder hole 3 is formed in a columnar shape and penetrates the holder substrate 11 corresponding to the arrangement pattern of the plurality of connection electrodes 8 provided on the semiconductor integrated circuit 1 to be inspected. It functions as a positioning means and a guide means for the conductive contact 5 to be accommodated.
  • the holder hole 3 is used for etching and punching the first substrate 9 and the second substrate 10, respectively, and for processing using a laser, an electron beam, an ion beam, a wire discharge, drilling, or the like. Formed by
  • the holder holes 3 are formed so that the inner diameters thereof are reduced near the upper and lower outer surfaces of the conductive contact holder 4 to prevent the conductive contacts 5 from coming off.
  • the conductive contact 5 since the conductive contact 5 has a projection for retaining, the protruding portion and the holder hole 3 are pressed near the upper and lower surfaces when the conductive contact 5 is extended. The inner diameter is narrowed so that they come into contact. Since the inner diameter is reduced near the upper and lower outer surfaces, the conductive contact 5 can be accommodated in the holder hole 3 at the time of manufacturing the conductive contact unit for the present embodiment.
  • the conductive contact holder 4 has a structure formed by bonding a first substrate 9 and a second substrate 10 together.
  • the conductive contact 5 is for electrically connecting the connection electrode 8 provided on the semiconductor integrated circuit 1 and the connection electrode 7 provided on the circuit board 2, and is provided between the plurality of connection electrodes 8. It has a structure that can expand and contract in a direction perpendicular to the surface of the semiconductor integrated circuit 1 in order to realize electrical connection while absorbing generated irregularities.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing a specific structure of the conductive contact 5.
  • the conductive contacts 5 are arranged at both ends of a panel member 12 formed of a coil panel or the like, and each of the panel members 12 is provided with a conductive member.
  • the first needle-shaped member 13 and the second needle-shaped member 14 are formed with their tips facing in opposite directions. More specifically, the first needle-shaped member 13 is disposed on the semiconductor integrated circuit 1 side (upper side in FIG. 2) with respect to the panel member 12, and the second needle-shaped member 14 is positioned with respect to the panel member 12. Located on the circuit board 2 side (the lower side in Fig. 2).
  • the first needle-like member 13 is formed of a conductive material such as a metal material, and has a columnar portion 13a whose longitudinal direction is elongated, and a contact portion formed on the semiconductor integrated circuit 1 side with respect to the columnar portion 13a. 1 3b is integrally formed.
  • a conductive material such as a metal material
  • the contact portion 13b contacts the connection electrode 8 provided in the semiconductor integrated circuit 1 during use, thereby ensuring electrical continuity between the first needle-like member 13 and the connection electrode 8. It is for the purpose. Specifically, the contact portion 13b has a configuration in which a plurality of sharp portions 13c are provided near the peripheral portion so as to contact a plurality of portions of the connection electrode 8.
  • the contact portion 13b has a configuration in which it is in contact with the connection electrode 8 by the sharp portion 13c, so that electrical conduction is ensured even when the surface is oxidized. It is possible. That is, the connection electrode 8 formed by solder balls or the like often has an oxide film or the like formed on the surface. Therefore, in order to realize a good conduction state between the contact portion 13b and the connection electrode 8, a minute hole is formed in the contact portion with the contact portion 13b on the surface of the connection electrode 8, and an oxide film or the like is formed. It is necessary to directly contact the conductive portion formed inside and the contact portion 13b.
  • the contact portion 13b has a sharpened portion 13c, and when the sharpened portion 13c is pressed against the surface of the connection electrode 8, a minute hole is formed in the connection electrode 8, and the conductive portion inside the connection electrode 8 is formed. A configuration that conducts with the parts is adopted.
  • the contact portion 13b includes a plurality of sharp portions 13c, thereby making it possible to reduce the electrical contact resistance between the contact portion 13b and the connection electrode 8. That is, since the contact portion 13b employs a configuration that ensures conduction with the connection electrode 8 through the minute hole formed by the sharp portion 13c as described above, the connection per one sharp portion 13c is performed. The contact area with the electrode 8 becomes very small. Therefore, the contact portion 13b employs a configuration provided with a plurality of sharp portions 13c in order to secure a certain contact area and reduce the contact resistance.
  • V and the sharpness of the shift can be improved.
  • the portion 13c comes into contact with the connection electrode 8, which has the advantage that the probability of occurrence of disconnection can be reduced.
  • the contact portion 13b is provided with the sharp portion 13c near the periphery of the contact portion 13b, thereby preventing the occurrence of a defect at the time of mounting the semiconductor integrated circuit 1 including the connection electrode 8.
  • the surface of the connection electrode 8 is formed by the sharp portion 13c.
  • minute holes By forming minute holes in the holes, electrical conduction at the time of inspection is ensured. If a fine hole is formed at the center of the surface of the connection electrode 8 when the semiconductor integrated circuit 1 is mounted on the predetermined substrate after the inspection, the connection electrode is formed between the semiconductor integrated circuit 1 and the predetermined substrate. There is a possibility that air bubbles and the like caused by the minute holes may be included in the joint portion formed including 8.
  • Such bubbles and the like cause an increase in the contact resistance value between the semiconductor integrated circuit 1 and the predetermined substrate, and further cause a mounting failure. Therefore, in the present embodiment, by providing the sharpened portion 13c near the peripheral portion of the contact portion 13b, it is possible to prevent formation of a minute hole near the center of the surface of the connection electrode 8 at the time of contact, and furthermore, to achieve semiconductor integration. This prevents problems when the circuit 1 is mounted.
  • the contact portion 13b has a structure in which a plurality of sharp portions 13c are formed in order to suppress adverse effects on the connection electrode 8 and secure good electrical conduction.
  • the specific structure of the contact portion 13b is not limited to that shown in FIG. 2, but it is necessary that the contact portion 13b be processed into a predetermined shape at least according to the purpose.
  • the columnar portion 13a constituting the first needle-like member 13 will be described.
  • the columnar portion 13a has a structure in which a flange portion 13d, a retaining protrusion 13e, and a boss portion 13f are formed coaxially from the semiconductor integrated circuit 1 side (upper side in FIG. 2).
  • the flange portion 13d is for supporting the contact portion 13b, and the retaining projection 13e is formed by the interaction of the first needle-like member 13 with the holder hole 3 provided in the conductive contact holder 4. This is to prevent the holder hole 3 from getting out of the outside.
  • the boss 13f has a larger outer diameter than the others in the vicinity of the retaining projection 13e, and the first needle-like member 13 is joined to the panel member 12 at a portion where the boss 13f is strong.
  • the columnar portion 13a has a structure in which a through hole 13g is formed in the longitudinal direction of the first needle-like member 13, that is, in the upward and downward direction in FIG.
  • the through hole 13g is formed so as to have open ends on both the semiconductor integrated circuit 1 side and the second needle-like member 14 side with respect to the longitudinal direction of the columnar portion 13a, that is, in a state penetrating the columnar portion 13a in the longitudinal direction.
  • the columnar portion 13a is formed to have the same inner diameter about an axis in the same direction as the longitudinal direction.
  • the through-hole 13g has a smooth inner surface by being coated with a pulp or the like.
  • the through hole 13g has a function of accommodating the support portion 14a while maintaining a state in which the inner peripheral surface of the through hole 13g is in contact with the outer peripheral surface of a support portion 14a (described later) provided on the second needle-shaped member 14.
  • the support portion 14a can move up and down with respect to the axial direction of the through-hole 13g. . That is, the through-hole 13g accommodates the support portion 14a while maintaining a state in which the inner peripheral surface of itself and the outer peripheral surface of the support portion 14a are in contact with each other, thereby forming the first needle-like member 13 and the second needle-like member. It has a function of guiding the direction of the relative movement with the member 14.
  • the inner peripheral surface of the through hole 13g and the outer peripheral surface of the support portion 14a are formed of a conductive member, and are maintained in contact with each other.
  • the needle-like member 14 is electrically connected. Therefore, the through-hole 13g has a function of electrically connecting the first needle-like member 13 and the second needle-like member 14 by accommodating the support portion 14a.
  • the second needle-like member 14 includes the above-described support portion 14a, a boss portion 14b on the circuit board 2 side (the lower side in FIG. 2) with respect to the support portion 14a, a retaining projection portion 14c, and a flange portion 14d. , And a contact portion 14e are sequentially formed.
  • the support portion 14a has a structure in which the outer peripheral surface of the support portion 14a is accommodated in the through-hole 13g while being in contact with the inner peripheral surface of the through-hole 13g formed in the first needle-like member 13. . Accordingly, the support portion 14a is formed such that the outer diameter is substantially equal to the inner diameter of the through hole 13g, more precisely, slightly smaller than the inner diameter of the through hole 13g. Further, it is preferable that the support portion 14a can be smoothly moved in the vertical direction while being housed in the through hole 13g. For this reason, the outer peripheral surface of the support portion 14a is formed into a smooth surface by applying the same method as the inner peripheral surface of the through hole 13g.
  • the boss 14b has an outer diameter slightly larger than the inner diameter of the panel member 12, and the second needle-like member 14 is joined to the panel member 12 at the boss 14b. Further, like the retaining projection 13e provided on the first needle-like member 13, the retaining projection 14c causes the second needle-like member 14 to move through the holder hole by interaction with the inner peripheral surface of the holder hole 3. This is to demonstrate the function of retaining from 3. Further, the contact portion 14e is for electrically connecting to the connection electrode 7 provided on the circuit board 2, and is predetermined so as to have a sharp portion at a contact portion with the connection electrode 7. Processing has been performed.
  • the contact portion 14e may have the same shape as the contact portion 13b provided on the first needle-like member 13 even if the stopper projection 14c is omitted.
  • the panel member 12 is for applying elastic force to the first needle-like member 13 and the second needle-like member 14 in the vertical direction.
  • the panel member 12 has a predetermined panel constant and has one end fitted to a boss portion 13f provided on the first needle member 13 by press-fitting or the like, so that the panel member 12 and the first needle member 13 are fitted. It has a structure in which the other is connected to the second needle-like member 14 by being press-fitted or the like into the boss portion 14b provided on the second needle-like member 14 so as to apply elastic force to both. Has been demonstrated. Since the panel member 12 is connected to the first needle-like member 13 and the second needle-like member 14, the panel member 12 is formed of a conductive material.
  • the second needle-like member 14 may be electrically connected to the second needle-like member 14.
  • the inner peripheral surface of the through hole 13g formed in the first needle member 13 and the outer peripheral surface of the support portion 14a provided in the second needle member 14 are directly It is not essential that the panel member 12 be formed of a conductive material because the panel member 12 is configured to secure electrical conduction by connection.
  • the panel member 12 may be formed of an insulating material. .
  • FIGS. 3-1 and 3-5 are schematic diagrams showing steps of manufacturing the first needle-shaped member 13 using the rod-shaped body 16 formed of a metal material as a raw material. — Provide explanations with reference to 5 as appropriate.
  • a rod 16 formed of a metal material and having a predetermined longitudinal direction is fixed by a gripping member 17.
  • the gripping member 17 has a function of fixing the rod-shaped body 16 and a rotating mechanism (not shown), and has a structure capable of rotating the member to be gripped about a predetermined axis.
  • the processing is performed while rotating around the longitudinal direction of the rod-shaped body 16 as necessary, so that in this process, the rotation of the gripping member 17 is performed.
  • the rod 16 is fixed so that the axis and the central axis in the longitudinal direction of the rod 16 are aligned. Then, as shown in FIG.
  • the outer peripheral surface of the rod 16 is shaped while the rod 16 is rotated by the gripping member 17. Specifically, by bringing the grinding member 18 into contact with the outer peripheral surface of the rotating rod-shaped body 16 with a pressing force corresponding to the outer peripheral shape of the first needle-shaped member 13, the outer peripheral surface of the rod-shaped body 16 is formed. Perform shaping. By performing the shaping in this step, the outer peripheral shapes of the flange 13d, the retaining projection 13e, and the boss 13f, which are the components of the first needle-shaped member 13, are formed. Further, as described above, since the rod-shaped body 16 is rotating about its own central axis in the longitudinal direction as a rotation axis, by performing the shaping force in the step shown in FIG. The outer peripheral portions of the flange 13d, the retaining projection 13e, and the boss 13f are formed coaxially with each other.
  • a hole 19 for forming a through-hole 13g of the first needle-shaped member 13 is formed along the central axis of the rod-shaped body 16.
  • the hole 19 is formed by moving the drill 20 for forming a hole to the right while applying a predetermined pressing force to the rod 16 while rotating the drill 20.
  • the rotation axis of the drill 20 is adjusted so as to coincide with the rotation axis of the gripping member 17, and as a result, a hole 19 having a central axis coinciding with the central axis of the rod 16 is formed.
  • the shaping force by the grinding member 21 is performed on the portion that forms the contact portion 13b of the first needle-shaped member 13.
  • a member capable of forming a V-shaped groove is used as the grinding member 21, and the end surface of the rod 16 is After forming a V-shaped groove so as to pass through the central axis of the rod-shaped body 16, the rod-shaped body 16 is rotated 90 ° to form a V-shaped groove again. That is, the contact portion 13b is formed by forming V-shaped grooves orthogonal to each other on the end surface of the rod-like body 16 by the grinding member 21.
  • the first needle-shaped member 13 is completed by separating the shaped portion of the rod 16 from the shaping process.
  • the rod-shaped body 16 is moved to the processing member side (the left side in FIG. 3-5) by a predetermined distance, and then shown in FIGS. 3-2 to 3-5. The process will be repeated.
  • the conductive contact unit according to the present embodiment easily manufactures the first needle-shaped member 13. It has the advantage of being able to. That is, as shown in FIGS. 3-1 to 3-5, when the first needle-shaped member 13 is manufactured, the rod-shaped body 16 is once fixed by the gripping member 17, and then is fixed to the rod-shaped body 16. In this case, it is sufficient to perform the kamen processing from a single direction (left side in Fig. 3-1 and Fig. 3-5). Specifically, in the present embodiment, in order to form the contact portion 13b while being fixed by the gripping member 17, as shown in FIG. Also, when forming the hole portion 19 that becomes the through hole 13g, the hole 20 is processed by the drill 20 from the left side.
  • the present embodiment it is possible to manufacture the first needle-like member 13 without changing the direction of the rod 16 (member to be processed).
  • the first needle-shaped member 13 can be easily manufactured, and the occurrence of axial misalignment can be prevented.
  • the powerful advantage can be enjoyed by forming a hole structure for accommodating 14a provided in the second needle-like member 14 in the first needle-like member 13 with a through hole having a constant inner diameter. That's why. That is, when the hole formed in the needle-like member 14 is formed in a hollow shape having a bottom as shown in FIG. 8, at least the hole needs to have an open end on the second needle-like member 14 side. For this reason, it is necessary to change the direction of the rod 16 for forming the hole.
  • the first needle-shaped member 13 has a structure in which the through-hole 13g having an open end is formed at both ends in the longitudinal direction. It is possible to perform a drilling force with a drill 20. By vigorous structural measures, the present embodiment allows the above advantages to be enjoyed.
  • the present embodiment has another advantage by adopting a structure in which the first needle-like member 13 has the through hole 13g. That is, since the first needle-like member 13 is used in a state where the inner peripheral surface of the through hole 13g is in contact with the outer peripheral surface of the support portion 14a provided in the second needle-like member 14, the outer peripheral surface of the support portion 14a is used. It is necessary to reduce the physical sliding resistance and electrical contact resistance to the structure. Therefore, the inner peripheral surface of the through hole 13g formed in the first needle-shaped member 13 needs to be formed as a smooth surface, and is subjected to surface treatment such as plating. Is usually the case.
  • the through hole 13g has a plurality of open ends. With such a configuration, it is possible to uniformly perform the plating process on the entire inner peripheral surface.
  • electrolysis plating or non-electrolytic plating is performed with the entire member formed as shown in Fig. 3-5 immersed in plating liquid.
  • the plating liquid is a liquid containing a predetermined concentration of metal ions to be attached to the inner peripheral surface of the through hole 13g.
  • the first needle-shaped member 13 in the present embodiment has a plurality of open ends because the through-hole 13g is formed to penetrate the columnar portion 13a. Accordingly, the flowing plating liquid component flows into one opening end force and flows out from the other opening end force, so that the fresh plating liquid component flows smoothly near the inner peripheral surface of the through hole 13g. Is possible. Therefore, the conductive contact unit according to the present embodiment always contacts fresh plating liquid to the inner peripheral surface of the through-hole 13g when plating the first needle-shaped member 13. It is possible to perform uniform plating on the entire inner peripheral surface. It has the advantage of being
  • two open ends of the first needle-shaped member 13 are formed at both longitudinal ends of the through-hole 13g, so that a more uniform plating force can be obtained. It is possible to do. That is, in the present embodiment, the two open ends of the through hole 13g are formed at both ends in the longitudinal direction of the through hole 13g. As described above, when performing the plating force, fresh plating liquid flows into one of the two open ends, but the other open end is formed at both ends in the longitudinal direction. As a result, the plating liquid flows uniformly in the longitudinal direction inside the through-hole 13g.
  • the fresh plating liquid flows at almost the same speed and flow rate on the inner peripheral surface of the through-hole 13g, so that the plating process on the inner peripheral surface is also performed uniformly, and the thicker plating portion is formed. Can be suppressed.
  • Modification Example 1 has a structure in which the inner diameter of the through hole formed in the first needle-like member forming the conductive contact monotonously decreases as the distance from the contact portion side increases.
  • “monotonically decreasing” is synonymous with the mathematical meaning, and specifically, means that a through hole is formed such that the inner diameter decreases or becomes the same as the distance from the vicinity of the contact portion increases.
  • “the inner diameter of the through-hole monotonically decreases as the contact-portion-side force also separates” means that the distance from the contact portion is X, and the inner diameter of the through-hole at the distance X is f (x) And if
  • FIG. 4 is a schematic diagram showing the entire configuration of the conductive contact constituting the conductive contact unit according to the first modification.
  • the panel member 12 and the second needle-shaped member 14 have the same configuration as that of FIG.
  • the first needle-shaped member 22 has a through hole 22a formed in the longitudinal direction formed near the contact portion 13b, and a first hole portion 22b having an inner diameter d.
  • the first hole 22b is formed on the opposite side to the contact portion 13b with respect to the first hole 22b, and has an inner diameter d ( ⁇ d).
  • FIGS. 5A and 5B are diagrams illustrating a process of forming a through-hole 22a in the first needle-shaped member 22 according to the first modification.
  • a hole 27 having an inner diameter d is formed while maintaining a state in which the rod 24 is fixed to the gripping member 17.
  • the small-diameter drill 26 is brought into contact with the left end face of the rod 24 (that is, the face on which the contact portion 13b is formed) while rotating. Then, by moving the small-diameter drill 26 rightward by a predetermined length, a hole having an inner diameter d is obtained.
  • the hole 29 having the inner diameter d is formed while maintaining the state where the rod 24 is fixed to the holding member 17 as in FIG. 5A. That is, it is fixed to the gripping member 25.
  • the drill 26 for the small diameter was replaced with the drill 28 for the large diameter to form a hole with an inner diameter d.
  • the hole portion 29 is formed by replacing the rod-shaped body 24 with the left end face force by a predetermined distance while rotating the large-diameter drill 28.
  • the insertion distance of the large-diameter drill 28 is made shorter than the insertion distance of the small-diameter drill 26 in FIG. A part of the hole 27 formed in the hole remains. Then, a part of the remaining hole 27 becomes the first hole 22b in the first needle-like member 22, and the hole 29 formed by the process shown in FIG. The hole 22c is formed.
  • the advantage of the present invention is obtained. It is possible to enjoy. That is, as shown in FIGS. 5-1 and 5-2, as in the embodiment in which it is not necessary to change the direction and the like of the rod-shaped body 24 when forming the holes 27 and 29, high quality is achieved.
  • the first needle-like member 22 can be easily manufactured. Further, since the through-hole 22a has two open ends as in the embodiment, the through-hole 22a has a point where uniform plating can be performed.
  • the conductive contact unit according to the first modification has a new advantage as compared with the conductive contact unit according to the embodiment. The powerful advantages will be described with reference to the drawings as appropriate.
  • FIGS. 6-1 and 6-2 are schematic diagrams for explaining the advantages of the conductive contact according to the first modification.
  • FIG. 6-1 shows a state in which the conductive contact is most elongated in the longitudinal direction
  • FIG. 6-2 shows a state in which the conductive contact is most contracted in the longitudinal direction.
  • 6A and 6B illustration of the panel member 12 is omitted for easy understanding.
  • the conductive contact according to the first modification is in contact with the outer peripheral surface of the support portion 14a by the inner peripheral surface of the second hole 22c, and It maintains a non-contact state with the inner peripheral surface of. Accordingly, as shown in FIG. 6A, when the conductive contact extends most in the longitudinal direction, the area where the inner peripheral surface of the through-hole 22a and the support portion 14a are in contact with each other depends on the longitudinal direction of the conductive contact.
  • the length in the longitudinal direction of the second hole 22c that is, the length d in FIG.
  • the length of the support portion 14a inserted into the through-hole 22a in the longitudinal direction is longer than that in the state of FIG. 6-1, while the region in contact with the inner peripheral surface of the through-hole 22a is Since the inner peripheral surface of the one hole portion 22b does not contact the outer peripheral surface of the support portion 14a, the length in the longitudinal direction of the second hole portion 22c with respect to the longitudinal direction of the conductive contact, that is, the length d. That is,
  • the contact area between the first needle-like member 22 and the second needle-like member 14 does not change between when the conductive needle is extended and when it is contracted.
  • the conductive contact according to the embodiment and the first modification includes the outer peripheral surface of the support portion 14a provided in the second needle-like member 14, and the through-hole formed in the first needle-like member.
  • the electrical contact between the first needle-like member and the second needle-like member 14 is ensured by contact with the inner peripheral surface of the first needle-like member. Therefore, the value of the electrical contact resistance between the two changes depending on the contact area between the outer peripheral surface of the support portion 14a and the inner peripheral surface of the through hole.
  • the contact area does not change between when the conductive contact is extended and when it is contracted. Therefore, this modified example 1
  • the conductive contact of the present invention can maintain a constant value of the electrical contact resistance between the first needle-like member 22 and the second needle-like member 14 irrespective of a change in the longitudinal length during use. If possible, it has the following advantages.
  • the sliding resistance generated between the first needle-like member 22 and the second needle-like member 14 when the conductive contact expands and contracts is also the same as the electrical contact resistance. It is determined according to the contact area between the needle-shaped member 22 and the second needle-shaped member 14. Therefore, the conductive contact according to the first modification can maintain a constant value of the sliding resistance generated when performing the expansion / contraction operation regardless of the length of the conductive contact in the longitudinal direction. It has the advantage that.
  • the conductive contact according to the present modification includes a first hole 22b having an inner diameter d.
  • the conductive contact unit is used in a state of being arranged vertically downward with respect to the semiconductor integrated circuit 1 to be inspected as shown in FIG. Therefore, in the conductive contact unit having the conventional structure, foreign substances such as dust attached to the semiconductor integrated circuit 1 may gradually accumulate in the conductive contact, which may adversely affect the expansion / contraction operation of the conductive contact. Then! / Pita.
  • the conductive contact according to the present modification has a structure in which the first hole 22b having an inner diameter larger than the inner diameter of the second hole 22c is formed at the upper part in the vertical direction. Foreign matter from outside will accumulate in the first hole 22b, for example, near the boundary with the second hole 22c, and the foreign matter between the inner peripheral surface of the second hole 22c and the outer peripheral surface of the support portion 14a will be considered. It is possible to suppress the foreign matter from entering between them.
  • the through-hole 22a formed in the first needle-shaped member 22 in the first modification is not limited to the one shown in FIG.
  • the first needle-like member 22 in the first modified example is such that the inner diameter of the formed through hole monotonically decreases as the distance from the contact portion becomes smaller, that is, the inner diameter of the through hole changes so as to satisfy the relationship of the expression (1). It encompasses everything. Therefore, a through-hole, such as a tapered shape, whose inner diameter decreases at a constant rate as it separates from the contact portion, may be formed.
  • FIG. 7 is a schematic diagram showing the entire configuration of the conductive contact according to the second modification.
  • the conductive contact according to Modification 2 has the same basic structure as the conductive contact 5 shown in FIG.
  • the shape of 30a changes from a shape having a plurality of sharp portions.
  • the contact portion 30a has a shape having a spherical or parabolic recess as shown in FIG. 7, that is, a so-called bowl shape. Even in the case where the contact portion 30a having a large shape is provided, the contact portion 30a can be electrically connected to the vicinity of the periphery of the connection electrode 8 provided in the semiconductor integrated circuit 1.
  • the inner diameter of the through-hole 13g formed in the first needle-shaped member is kept constant, as in the embodiment. It is also possible to form a through-hole constituted by a plurality of holes having different inner diameters, as shown in Modification 1, which does not need to be limited to such a structure.
  • the first needle-like member is arranged on the contacted body (semiconductor integrated circuit 1) side, and the second needle-like member is arranged on the circuit board 2 side.
  • the configuration is shown, it is not necessary to limit the interpretation to a powerful configuration. That is, in the conductive contact shown in FIGS. 2, 4, and 7, the first needle-like member is disposed on the circuit board 2 side, and the second needle-like member is disposed on the holder hole 3 with the second needle-like member disposed on the contacted body side. It is a matter of course that the advantage of the present invention can be enjoyed in a case where the configuration is acceptable or a large configuration.
  • the needle-shaped member, the conductive contact, and the conductive contact cut according to the present invention can be applied to a semiconductor integrated circuit at the time of, for example, inspecting electrical characteristics of the semiconductor integrated circuit. It is useful when realizing electrical contact with the provided connection electrode, and is particularly suitable for realizing a needle-shaped member or the like that is easy to manufacture.

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Abstract

 第1針状部材(13)は、金属材料等の導電性材料によって形成され、上下方向が長手となる柱状部(13a)と、柱状部(13a)に対して半導体集積回路(1)(被接触体)側に形成された接触部(13b)とが一体的に形成された構造を有する。柱状部(13a)には、第1針状部材(13)の長手方向に関して貫通孔(13d)が形成されており、貫通孔(13d)が接触部(13b)側にも開口端を備えた構造を有することによって、針状部材(13)を作製する際に、原料となる棒状体に対して接触部(13b)を形成する際の加工方向および貫通孔(13d)を形成する際のドリル挿入方向とを同一の方向とすることが可能であり、容易に針状部材を作製することが可能である。

Description

明 細 書
針状部材、導電性接触子および導電性接触子ユニット
技術分野
[0001] 本発明は、被接触体と、該被接触体に供給する電気信号を生成する回路を備えた 回路基板とを電気的に接続する技術に関するものである。
背景技術
[0002] 従来、半導体集積回路の電気特性検査に関する技術分野にお!、て、半導体集積 回路の外部接続用電極に対応して複数の導電性接触子を配設した導電性接触子 ユニットに関する技術が知られている。力かる導電性接触子ユニットは、複数の導電 性接触子と、導電接触子を収容する開口部が形成された導電性接触子ホルダと、導 電性接触子と電気的に接続された検査回路とを備えた構成を有する。半導体集積 回路に備わる複数の外部接続用電極間に存在する凹凸等を吸収しつつ外部接続 用電極と検査回路とを電気的に接続するため、導電性接触子は、伸縮可能な構成を 有する必要がある。
[0003] 図 8は、導電性接触子ユニットを構成する従来の導電性接触子の構成を示す模式 図である。図 8に示すように、従来の導電性接触子は、導電性部材によって形成され たプランジャー 101およびバレル 102と、プランジャー 101とバレル 102との間に配置 されたパネ 103とによって構成される。プランジャー 101は、半導体集積回路に備わ る外部接続用電極と検査回路との一方に対して電気的に接続する接触部 105と、接 触部 105下部に設けられた柱状部 106と、柱状部 106の下部に設けられた支持部 1 07とが一体的に形成された構造を有する。また、バレル 102は、外部接続用電極と 検査回路との他方に対して電気的に接続する接触部 108と、接触部 108の上部に 設けられた柱状部 109とが一体的に形成されると共に、プランジャー 101に備わる支 持部 107を収容するための空洞部 110が形成された構造を有する。
[0004] 図 8に示す導電性接触子は、支持部 107の外径と、空洞部 110の内径とがほぼ等 しい値となるよう形成され、プランジャー 101は、支持部 107が空洞部 110の内壁に ガイドされつつバレル 102に対して上下方向に移動可能な構成を有する。また、図 8 に示す導電性接触子は、プランジャー 101とバレル 102との間にパネ 103を配置し た構成を有する。このため、プランジャー 101およびバレル 102は、パネ 103によって 弾発的に付勢されることとなり、半導体集積回路に備わる外部接続用電極および検 查回路に対して弾発的に接触した状態を維持し、半導体集積回路と検査回路との間 を電気的に接続している (例えば、特許文献 1参照。 ) o
[0005] 特許文献 1:特開 2000— 241447号公報 (第 2図)
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0006] し力しながら、図 8に示す従来構造の導電性接触子は、特にバレル 102の製造が 容易ではなぐ製造コストの低減が困難であるという問題を有する。以下、かかる問題 点について詳細な説明を行う。
[0007] ノ レル 102は、プランジャー 101と組み合わせた際に、空洞部 110の開口端がプラ ンジャー 101側の端部に形成されると共に、接触部 108はプランジャー 101と反対側 の端部に形成された構造を備えることが必須となる。すなわち、空洞部 110は、ブラ ンジャー 101に備わる支持部 107を収容することによってプランジャー 101の動作を ガイドするものであることから、空洞部 110は、支持部 107を収容可能なように形成す ることが必須であり、空洞部 110の開口端をプランジャー 101側に設ける必要がある 。一方で、接触部 108は、半導体集積回路または検査回路に接触するために設けら れたものであることから、接触部 108は導電性接触子全体における端部に形成され る必要があり、プランジャー 101と反対側、すなわち空洞部 110の開口端と反対側に 接触部 108を設けることが必須となる。
[0008] これに対して、旋盤等の加工装置は、金属部材に対して一方向からのみ加工可能 な構成を有するのが一般的である。従って、バレル 102を作製する際には、まず、例 えば金属材料によって形成された棒状の被加工部材に対して、接触部 108の形成 予定部分が加工部材と対向する状態で固定した上で接触部 108を形成する。そして 、接触部 108の形成が完了した後、棒状体の固定状態を一旦解除して、開口端形成 予定部分 (すなわち、接触部 108の形成予定部分と反対側)が加工部材と対向する 状態で上記の被加工部材を再び固定して、空洞部 110を形成することとなる。このよ うに、一般的な加工装置によってバレル 102を作製する場合には、作製途中で被カロ ェ部材の方向を変えて固定し直すことが必須となり、作製工程が煩雑なものとなる。
[0009] また、方向を変えるために被加工部材の固定状態を一旦解除する必要があること から、作製されるバレル 102の軸ずれの発生が問題となる。すなわち、図 8にも示した ようにバレル 102は、理論上は長手方向を軸として、力かる軸に対して回転対称な形 状を有しており、力かる形状を前提としてプランジャー 101、パネ 103および導電性 接触子を収容するホルダ等が設計されている。このため、仮に空洞部 110および接 触部 108の中心軸が設計上のものからずれた状態で作製された場合には、導電性 接触子全体としての伸張'収縮動作に支障を生じる他、検査回路等との間で十分な 電気的接触を実現できない等の問題が生じることとなる。従って、一般的な加工装置 を用いてバレル 102を作製する場合には、被加工部材を固定し直す際に精密な軸あ わせが必要となり、この点力もも作製工程が煩雑なものとならざるを得な 、。
[0010] なお、上記の問題点は、棒状の被加工部材に対して一方向のみならず、双方向か ら加工動作を行うことが可能な加工装置を用いることで解決可能ではある。しかしな がら、このような加工装置は一般に市販されておらず、バレル 102を作製するために 特殊な加工装置を用意する必要があり、製造コストの観点からは好ましくない。
[0011] 本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、バレル等の針状部材に関して作 製が容易な構造を実現し、かかる針状部材を組み込んだ導電性接触子および導電 性接触子ユニットを実現することを目的とする。
課題を解決するための手段
[0012] 上述した課題を解決し、目的を達成するために、請求項 1にカゝかる針状部材は、被 接触体と、該被接触体に供給する電気信号を生成し伝達する回路または該回路を 備えた回路基板とを電気的に接続する導電性接触子を形成する針状部材であって 、使用時に前記被接触体と接触する部分が所定形状に加工された接触部と、前記 接触部と一体的に形成され、前記接触部力 離隔するに従って同一の内径または単 調減少する内径を有する貫通孔が形成された柱状部と、を備えたことを特徴とする。
[0013] この請求項 1の発明によれば、針状部材に形成される穴構造を貫通孔とすることに よって、針状部材を作製する際に接触部を加工する方向と、貫通孔を形成する方向 とを一致させることが可能となり、作製が容易な針状部材を実現することが可能である
[0014] また、請求項 2にかかる針状部材は、上記の発明にお 、て、前記接触部は、使用 時に前記被接触体に備わる接続用電極の周縁部と接触するよう前記柱状部の長手 方向周縁部近傍に形成されることを特徴とする。
[0015] また、請求項 3にかかる導電性接触子は、被接触体と、該被接触体に供給する電 気信号を生成し伝達する回路または該回路を備えた回路基板とを電気的に接続す る導電性接触子であって、使用時に前記被接触体と前記回路または前記回路基板 との一方と接触し、前記被接触体と接触する部分が所定形状に加工された接触部と 、前記接触部と一体的に形成され、前記接触部から離隔するに従って同一の内径ま たは単調減少する内径を有する貫通孔が形成された柱状部とを有する第 1針状部材 と、前記第 1針状部材と電気的に接続した状態で配置され、前記第 1針状部材に対 して相対的に長手方向に摺動する第 2針状部材と、前記第 1針状部材および前記第 2針状部材と結合し、前記第 1針状部材と前記第 2針状部材との間の距離に応じた弾 性力を印加するパネ部材とを備えたことを特徴とする。
[0016] また、請求項 4に力かる導電性接触子は、上記の発明において、前記第 2針状部 材は、前記第 1針状部材に形成された貫通孔の内周面と接触した状態を維持しつつ 長手方向に摺動可能な支持部と、前記支持部と一体的に形成され、使用時に前記 被接触体と前記回路または前記回路基板との他方と電気的に接触する接触部とを 備えたことを特徴とする。
[0017] また、請求項 5にかかる導電性接触子ユニットは、被接触体に対して供給される電 気信号を生成し伝達する回路または該回路を備えた回路基板と、使用時に前記被 接触体と前記回路または前記回路を備えた回路基板との一方と接触し、前記被接触 体と接触する部分が所定形状に加工された接触部および該接触部と一体的に形成 され、前記接触部から離隔するに従って同一または単調減少する内径を有する貫通 孔が形成された柱状部とを有する針状部材と、該針状部材に対して前記被接触体と 垂直な方向に付勢するパネ部材とを有する導電性接触子と、前記導電性接触子を 収容するホルダ孔が形成された導電性接触子ホルダとを備えたことを特徴とする。 発明の効果
[0018] 本発明にカゝかる針状部材、導電性接触子および導電性接触子ユニットは、針状部 材に形成される穴構造を貫通孔とすることによって、針状部材を作製する際に接触 部を加工する方向と、貫通孔を形成する方向とを一致させることが可能となり、作製 が容易な針状部材を実現することが可能であるという効果を奏する。また、接触部の 加工方向および貫通孔の形成方向とがー致することから、作製工程を通じて固定状 態を維持したまま接触部の加工および貫通孔を形成することが可能であり、軸ずれ の発生を防止した、高品位の針状部材を作製することが可能であると 、う効果を奏す る。
図面の簡単な説明
[0019] [図 1]図 1は、実施の形態にカゝかる導電性接触子ユニットの全体構成を示す断面図で ある。
[図 2]図 2は、実施の形態にカゝかる導電性接触子ユニットを構成する導電性接触子の 構成を示す模式図である。
[図 3-1]図 3 - 1は、導電性接触子を構成する第 1針状部材の製造工程を示す模式図 である。
[図 3-2]図 3 - 2は、導電性接触子を構成する第 1針状部材の製造工程を示す模式図 である。
[図 3-3]図 3— 3は、導電性接触子を構成する第 1針状部材の製造工程を示す模式図 である。
[図 3-4]図 3— 4は、導電性接触子を構成する第 1針状部材の製造工程を示す模式図 である。
[図 3-5]図 3 - 5は、導電性接触子を構成する第 1針状部材の製造工程を示す模式図 である。
[図 4]図 4は、変形例 1にかかる導電性接触子ユニットを構成する導電性接触子の構 成を示す断面図である。
[図 5-1]図 5— 1は、変形例 1における導電性接触子を構成する針状部材の製造工程 を示す模式図である。 [図 5-2]図 5— 2は、変形例 1における導電性接触子を構成する針状部材の製造工程 を示す模式図である。
[図 6-1]図 6— 1は、変形例 1において、導電性接触子が伸張した状態を示す模式図 である。
[図 6-2]図 6— 2は、変形例 1において、導電性接触子が収縮した状態を示す模式図 である。
[図 7]図 7は、変形例 2にかかる導電性接触子ユニットを構成する導電性接触子の構 成を示す断面図である。
[図 8]図 8は、従来の導電性接触子の構成を示す模式図である。
符号の説明
1 半導体集積回路
2 回路基板
3 ホルダ孔
4 導電性接触子ホルダ
5 導電性接触子
7 接続用電極
8 接続用電極
9 第 1基板
10 第 2基板
11 ホルダ基板
12 パネ部材
13 針状部材
13a 柱状部
13b 接触部
13c 先鋭部
13d フランジ咅
13e 用突起部
13f ボス部 g 貫通孑し 針状部材a 支持部b ボス部c 用突起部d フランジ部e 接触部 棒状体 把持部材 研削部材 穴部 ドリル 研削部材 針状部材a 貫通孔b 穴部c 穴部
棒状体 把持部材 小口径用ドリル 穴部 大口径用ドリル 穴部 針状部材a 接触部1 プランジャー2 バレル3 パネ 106 柱状部
107 支持部
108 接触部
109 柱状部
109 空洞部
110 空洞部
発明を実施するための最良の形態
[0021] 以下に、本発明にカゝかる針状部材、導電性接触子および導電性接触子ユニットを 実施するための最良の形態 (以下、「実施の形態」と称する)について図面を参照し つつ詳細に説明する。なお、図面は模式的なものであり、各部分の厚みと幅との関 係、それぞれの部分の厚みの比率などは現実のものとは異なることに留意すべきで あり、図面の相互間にお 、ても互 、の寸法の関係や比率が異なる部分が含まれて!/ヽ ることはもちろんである。
[0022] 図 1は、本実施の形態にカゝかる導電性接触子ユニットの全体構成を示す断面図で ある。本実施の形態に力かる導電性接触子ユニットは、半導体集積回路 1に供給す る信号の生成等を行う回路を備えた回路基板 2と、回路基板 2上に配置され、ホルダ 孔 3が形成された導電性接触子ホルダ 4と、ホルダ孔 3に収容された導電性接触子 5 とを備える。
[0023] 回路基板 2は、特許請求の範囲における回路または回路基板の一例として機能す るものであり、検査対象である半導体集積回路 1の電気的特性を検査するための検 查回路を備える。具体的には、回路基板 2に形成された回路は、検査するための電 気信号の生成および伝達を行う機能を有する。また、回路基板 2は、内蔵する検査回 路を導電性接触子 5に対して電気的に接続するための接続用電極 8を導電性接触 子ホルダ 4との接触面上に配置した構成を有する。
[0024] 導電性接触子ホルダ 4は、導電性接触子 5を収容するためのものである。具体的に は、導電性接触子ホルダ 4は、絶縁性材料によって形成された第 1基板 9および第 2 基板 10を貼り合わせた構成を有すると共に、第 1基板 9および第 2基板 10を貫通す るようホルダ孔 3が形成された構造を有する。
[0025] ホルダ孔 3は、検査対象たる半導体集積回路 1上に設けられた複数の接続用電極 8の配列パターンに対応して、それぞれ円柱状かつホルダ基板 11を貫通するよう形 成されており、収容する導電性接触子 5の位置決め手段およびガイド手段としての機 能を果たしている。ホルダ孔 3は、それぞれ第 1基板 9および第 2基板 10に対してエツ チング、打抜き成形を行うことや、レーザ、電子ビーム、イオンビーム、ワイヤ放電、ド リル加工等を用いた加工を行うことによって形成される。
[0026] また、ホルダ孔 3は、導電性接触子 5の抜け止めのためにそれぞれ導電性接触子 ホルダ 4の上下の外表面近傍において内径が狭まるよう形成されている。後述するよ うに、導電性接触子 5は抜け止めのための突起部を有していることから、導電性接触 子 5の伸張時に上下の表面近傍において、力かる突起部とホルダ孔 3とを当接させる よう内径を狭める構成としている。なお、上下両方の外表面近傍で内径を狭める構成 を採用していることから、本実施の形態に力かる導電性接触子ユニットの作製時に導 電性接触子 5をホルダ孔 3に収容可能にするため、導電性接触子ホルダ 4は、第 1基 板 9と第 2基板 10とを貼り合わせて形成した構造を有する。
[0027] 次に、導電性接触子 5について説明する。導電性接触子 5は、半導体集積回路 1 に備わる接続用電極 8と、回路基板 2に備わる接続用電極 7とを電気的に接続するた めのものであり、複数の接続用電極 8間に生じる凹凸を吸収しつつ電気的接続を実 現するために半導体集積回路 1の表面と垂直な方向に伸縮可能な構造を有する。
[0028] 図 2は、導電性接触子 5の具体的な構造を示す断面図である。図 2に示すように、 導電性接触子 5は、コイルパネ等によって形成されたパネ部材 12と、パネ部材 12の 両端部に配置され、それぞれを互!、に相反する向きに先端を向けて形成された第 1 針状部材 13および第 2針状部材 14とによって構成される。より具体的には、第 1針状 部材 13は、パネ部材 12に対して半導体集積回路 1側(図 2において上側)に配置さ れ、第 2針状部材 14は、パネ部材 12に対して回路基板 2側(図 2において下側)に配 置されている。
[0029] 第 1針状部材 13は、金属材料等の導電性材料によって形成され、上下方向が長手 となる柱状部 13aと、柱状部 13aに対して半導体集積回路 1側に形成された接触部 1 3bとが一体的に形成された構造を有する。以下、第 1針状部材 13の各構成要素に ついて説明する。
[0030] 接触部 13bは、使用時に半導体集積回路 1に備わる接続用電極 8に対して接触す ることによって、第 1針状部材 13と接続用電極 8との間の電気的導通を確保するため のものである。具体的には、接触部 13bは、接続用電極 8の複数箇所と接触するよう 、周縁部近傍に複数の先鋭部 13cを備えた構成を有する。
[0031] まず、接触部 13bは、先鋭部 13cによって接続用電極 8と接触する構成を有するこ とによって、表面が酸ィ匕等していた場合であっても電気的導通を確保することを可能 としている。すなわち、ハンダボール等によって形成される接続用電極 8は、表面に 酸化被膜等が形成されている場合が多い。従って、接触部 13bと接続用電極 8との 間で良好な導通状態を実現するためには、接続用電極 8表面における接触部 13bと の接触箇所に微小な穴を形成し、酸化被膜等の内側に形成される導電部分と接触 部 13bとを直接接触させる必要が生じる。以上に鑑みて、接触部 13bは先鋭部 13c を備え、先鋭部 13cを接続用電極 8の表面に押圧した際に接続用電極 8に微小な穴 を形成し、接続用電極 8の内部の導電部分と導通する構成を採用している。
[0032] また、接触部 13bは、先鋭部 13cを複数備えることによって接触部 13bと接続用電 極 8との間の電気的な接触抵抗を低減することを可能としている。すなわち、接触部 1 3bは、上記のように先鋭部 13cによって形成される微小な穴を介して接続用電極 8と の導通を確保する構成を採用することから、先鋭部 13cの一個あたりの接続用電極 8 との接触面積は微小なものとなる。従って、接触部 13bは、接触面積をある程度確保 して接触抵抗を低減するために、先鋭部 13cを複数備えた構成を採用している。また 、先鋭部 13cを複数備えることによって、本実施の形態に力かる導電性接触子ュ-ッ トと半導体集積回路 1との間に位置ずれ等が生じた場合でも、 V、ずれかの先鋭部 13 cが接続用電極 8と接触することとなり、断線が生じる確率を低減することが可能という 利点を有する。
[0033] さらに、接触部 13bは、先鋭部 13cを接触部 13bの周縁部近傍に備えることによつ て、接続用電極 8を備える半導体集積回路 1の実装時における不良の発生を防止し ている。本実施の形態では、上述のように、先鋭部 13cによって接続用電極 8の表面 に微小な穴を形成することによって検査時における電気的導通を確保することとして いる。力かる微小穴が接続用電極 8表面の中央部に形成された場合、検査終了後に 半導体集積回路 1を所定基板上に実装する際に、半導体集積回路 1と所定基板との 間に接続用電極 8を含んで形成される接合部分に微小穴に起因した気泡等が内包 されるおそれがある。かかる気泡等は、半導体集積回路 1と所定基板との間における 接触抵抗値の増大等の原因となり、さらには実装不良の原因となる。従って、本実施 の形態では、先鋭部 13cを接触部 13bの周縁部近傍に設けることによって、接触時 に接続用電極 8表面の中央近傍に微小穴を形成することを防止し、さらには半導体 集積回路 1の実装時に不具合が生じることを防止している。
[0034] このように、接触部 13bは接続用電極 8に対して、悪影響を及ぼすことを抑制しつ つ良好な電気的導通を確保するために先鋭部 13cが複数形成された構造を有する 。後述するように、接触部 13bの具体的な構造としては図 2に示すものに限定されな いが、少なくとも目的に応じて所定の形状に加工されることが必要となる。
[0035] 次に、第 1針状部材 13を構成する柱状部 13aについて説明する。柱状部 13aは、 半導体集積回路 1側(図 2における上側)より順に、フランジ部 13dと、抜け止め用突 起部 13eと、ボス部 13fとがそれぞれ同軸的に形成された構造を備える。フランジ部 1 3dは、接触部 13bを支持するためのものであり、抜け止め用突起部 13eは、導電性 接触子ホルダ 4に備わるホルダ孔 3との相互作用によって、第 1針状部材 13がホルダ 孔 3の外部に抜け出ることを防止するためのものである。また、ボス部 13fは、抜け止 め用突起部 13e近傍において他よりも大きな外径を有し、力かる部分において第 1針 状部材 13はパネ部材 12と接合して 、る。
[0036] また、柱状部 13aは、第 1針状部材 13の長手方向、すなわち図 2における上下方 向に貫通孔 13gが形成された構造を有する。貫通孔 13gは、柱状部 13aの長手方向 に関して半導体集積回路 1側および第 2針状部材 14側の双方に開口端を有するよう 、すなわち柱状部 13aに対して長手方向に貫通した状態で形成されると共に、柱状 部 13aの長手方向と同一方向の軸を中心とした内径が同一となるよう形成されている 。また、貫通孔 13gは、メツキカ卩ェ等が施されることによって、その内周面が平滑面を 形成している。 [0037] 貫通孔 13gは、自身の内周面と、第 2針状部材 14に備わる支持部 14a (後述)の外 周面とが接触した状態を維持しつつ支持部 14aを収容する機能を有する。また、上 記のように貫通孔 13gの内周面はメツキカ卩ェ等により平滑面を形成することから、支 持部 14aは、貫通孔 13gの軸方向に関して上下に移動することが可能となる。すなわ ち、貫通孔 13gは、自身の内周面と支持部 14aの外周面とが接触した状態を維持し つつ支持部 14aを収容することによって、第 1針状部材 13と第 2針状部材 14との間 の相対運動の方向をガイドする機能を有する。
[0038] また、貫通孔 13gの内周面および支持部 14aの外周面は導電性部材によって形成 されており、両者が接触した状態に維持されることによって、第 1針状部材 13と第 2針 状部材 14とが電気的に接続されることとなる。従って、貫通孔 13gは、支持部 14aを 収容することによって、第 1針状部材 13と第 2針状部材 14とを電気的に接続する機 能を有する。
[0039] 次に、第 2針状部材 14について説明する。第 2針状部材 14は、上述の支持部 14a と、支持部 14aに対して回路基板 2側(図 2における下側)にボス部 14bと、抜け止め 用突起部 14cと、フランジ部 14dと、接触部 14eとが順次形成された構造を有する。
[0040] 支持部 14aは、上述したように自身の外周面が第 1針状部材 13に形成される貫通 孔 13gの内周面と接触した状態で貫通孔 13g内に収容される構造を有する。従って 、支持部 14aは、外径が貫通孔 13gの内径とほぼ等しい値、より正確には貫通孔 13g の内径よりもやや小さな値となるよう形成されている。また、支持部 14aは、貫通孔 13 g内に収容された状態で上下方向になめらかに移動可能であることが好ましい。この ため、支持部 14aの外周面は、貫通孔 13gの内周面と同様にメツキカ卩ェ等が施され ることによって平滑面を形成している。
[0041] ボス部 14bは、パネ部材 12の内径よりもやや大きな外径を有し、第 2針状部材 14は 、ボス部 14bにおいてパネ部材 12と接合している。また、抜け止め用突起部 14cは、 第 1針状部材 13に備わる抜け止め用突起部 13eと同様に、ホルダ孔 3の内周面との 相互作用によって、第 2針状部材 14がホルダ孔 3からの抜け止め機能を発揮するた めのものである。さらに、接触部 14eは、回路基板 2に備わる接続用電極 7と電気的 に接続するためのものであり、接続用電極 7との接触部分に先鋭部を有するよう所定 の加工処理が施されている。なお、第 2針状部材 14に関しては、回路基板 2を導電 性接触子ホルダ 4に固着することによつても抜け止めを防止することが可能であるた め、第 2針状部材 14において抜け止め用突起部 14cを省略した構造としても良ぐ接 触部 14eの形状を第 1針状部材 13に備わる接触部 13bと同様の形状としても良!、。
[0042] パネ部材 12は、第 1針状部材 13および第 2針状部材 14に対して、上下方向に弾 性力を及ぼすためのものである。具体的には、パネ部材 12は、所定のパネ定数を備 えると共に一端が第 1針状部材 13に備わるボス部 13fに圧入等で嵌合されることによ つて第 1針状部材 13と結合され、他方が第 2針状部材 14に備わるボス部 14bに圧入 等で嵌合されることによって第 2針状部材 14と結合された構造を有し、両者に対して 弾性力を及ぼす機能を発揮している。なお、パネ部材 12が第 1針状部材 13および 第 2針状部材 14と結合することから、パネ部材 12を導電性材料によって形成すること によって、パネ部材 12を介して第 1針状部材 13と第 2針状部材 14とを電気的に接続 する構成としても良い。し力しながら、本実施の形態では上述のように第 1針状部材 1 3に形成される貫通孔 13gの内周面と第 2針状部材 14に備わる支持部 14aの外周面 とが直接接続することによって電気的導通を確保する構成を有することから、パネ部 材 12を導電性材料によって形成することは必須ではなぐ例えば絶縁性材料によつ てパネ部材 12を構成することとしても良い。
[0043] 次に、導電性接触子 5を構成する第 1針状部材 13の製造方法について説明する。
図 3— 1一図 3— 5は、金属材料によって形成される棒状体 16を原材料として第 1針状 部材 13を作製する工程について示す模式図であり、以下では、図 3—1—図 3— 5を 適宜参照しつつ説明を行う。
[0044] まず、図 3— 1に示すように、金属材料によって形成され、所定の長手方向を有する 棒状体 16を把持部材 17によって固定する。把持部材 17は、棒状体 16を固定する 機能を有すると共に図示を省略した回転機構を有し、所定軸を中心に被把持部材を 回転可能な構造を有する。後述するように、第 1針状部材 13を作製する際には必要 に応じて棒状体 16の長手方向を軸として回転させつつ加工処理を行うことから、本 工程においては、把持部材 17の回転軸と、棒状体 16の長手方向に関する中心軸と がー致するように棒状体 16を固定する。 [0045] そして、図 3—2に示すように、把持部材 17によって棒状体 16を回転しつつ、棒状 体 16の外周面の整形加工を行う。具体的には、回転する棒状体 16の外周面に対し て、研削部材 18を第 1針状部材 13の外周形状に応じた押圧力で接触させることによ つて、棒状体 16の外周面の整形を行う。本工程における整形力卩ェを行うことによって 、第 1針状部材 13の構成要素たるフランジ部 13d、抜け止め用突起部 13eおよびボ ス部 13fの外周形状が形成されることとなる。また、上述のように、棒状体 16は、自身 の長手方向の中心軸を回転軸として回転していることから、図 3—2に示す工程によつ て整形力卩ェを行うことによって、フランジ部 13d、抜け止め用突起部 13e、ボス部 13f を構成する外周部分は互 ヽに同軸的に形成される。
[0046] その後、図 3—3に示すように、棒状体 16の中心軸に沿って第 1針状部材 13の貫通 孔 13gを形成することとなる穴部 19を形成する。具体的には、穴部形成用のドリル 20 を回転させた状態で、棒状体 16に対して所定の押圧力を印カロしつつ右方向に移動 させることによって穴部 19が形成される。なお、ドリル 20の回転軸は把持部材 17の 回転軸と一致するようにあら力じめ調整されており、この結果、棒状体 16の中心軸と 一致する中心軸を有する穴部 19が形成される。
[0047] そして、図 3— 4に示すように、第 1針状部材 13の接触部 13bを構成することとなる部 分に対して研削部材 21による整形力卩ェが行われる。なお、接触部 13bが図 2に示す 形状を有する場合には、研削部材 21としては V字溝を形成可能な部材を使用し、か 力る研削部材 21によって棒状体 16の端面に対して、棒状体 16の中心軸を通過する ように V字溝を形成した後、棒状体 16を 90° 回転させて再び V字溝を形成する。す なわち、研削部材 21によって棒状体 16の端面上に互いに直交する V字溝を形成す ることによって接触部 13bは形成される。
[0048] 最後に、図 3— 5に示すように、棒状体 16のうち、上記の整形加工を施した部分を分 離することによって、第 1針状部材 13が完成する。第 1針状部材 13を多数作製する 場合には、棒状体 16を加工部材側(図 3-5における左側)に所定距離だけ移動させ た上で、図 3— 2—図 3— 5に示す工程を繰り返すこととなる。
[0049] 次に、本実施の形態に力かる導電性接触子ユニットの利点について説明する。ま ず、本実施の形態に力かる導電性接触子ユニットは、第 1針状部材 13を容易に製造 できるという利点を有する。すなわち、図 3—1—図 3—5にも示したように、第 1針状部 材 13を製造する際には、把持部材 17によって棒状体 16を一度固定した後、棒状体 16に対して単一方向(図 3— 1一図 3— 5における左側)からカ卩ェ処理を行えば足りる こととなる。具体的には、本実施の形態では、把持部材 17によって固定された状態の まま図 3— 4に示すように接触部 13bを形成するためには左側から研削部材 21によつ て加工する他、貫通孔 13gとなる穴部 19を形成する際にも左側からドリル 20によって 加工することとしている。
[0050] 従って、本実施の形態では、棒状体 16 (被加工部材)の方向を変えることなく第 1 針状部材 13を作製することが可能である。この結果、本実施の形態に力かる導電性 接触子ユニットは、第 1針状部材 13を容易に作製することが可能であると共に、軸ず れの発生を防止することが可能となることから、高品位の第 1針状部材 13を容易に作 製することが可能であると 、う利点を有する。
[0051] 本実施の形態において力かる利点を享受できるのは、第 1針状部材 13において、 第 2針状部材 14に備わる 14aを収容するための穴構造を一定の内径を有する貫通 孔としたことが理由である。すなわち、針状部材 14に形成される穴部が図 8に示すよ うに底部を有する空洞状に形成された場合には、少なくとも穴部は第 2針状部材 14 側に開口端を有する必要があることから、穴部形成のために棒状体 16の方向を変化 させる必要がある。これに対して、本実施の形態では第 1針状部材 13が長手方向の 両端に開口端を有する貫通孔 13gを形成される構造としたため、作製時に第 2針状 部材 14と反対の側からドリル 20による穴開け力卩ェを行うことが可能となっている。力 力る構造上の工夫により、本実施の形態では上記の利点を享受することを可能として いるのである。
[0052] また、本実施の形態は、第 1針状部材 13が貫通孔 13gを形成される構造とすること によって他にも利点を有する。すなわち、第 1針状部材 13は、貫通孔 13gの内周面 が第 2針状部材 14に備わる支持部 14aの外周面と接触した状態で使用されることか ら、支持部 14aの外周面に対する物理的な摺動抵抗および電気的な接触抵抗を低 減した構造とする必要がある。従って、第 1針状部材 13に形成される貫通孔 13gの 内周面は平滑面によって形成される必要があり、メツキ加工等の表面処理が施される のが通常である。
[0053] ここで、第 1針状部材 13に形成される貫通孔 13gの内周面に対してメツキカ卩ェによ つて表面処理を行う場合には、貫通孔 13gが複数の開口端を有するよう形成されるこ とによって、内周面全体に均一にメツキ処理を行うことが可能である。メツキ力卩ェを行 う場合には、図 3— 5に示す状態に形成された部材全体をメツキ液に浸した状態で電 解メツキカ卩ェまたは非電解メツキ力卩ェが行われる。ここで、メツキ液とは、貫通孔 13g の内周面に付着させる金属イオンを所定濃度だけ含む液体によって構成される。こ れに対して、メツキ液のうち第 1針状部材 13の近傍に位置する液体成分については 、メツキ加工の進行に伴い含有される金属イオンが第 1針状部材 13の表面に付着す ることから、メツキ液成分中の金属イオンの濃度は徐々に低下し、メツキ処理の効率が 低下することとなる。従って、実際のメツキカ卩ェ処理を行う際には、例えばメツキ液を 循環させつつメツキ加工を行うことによって、第 1針状部材 13の表面に常に新鮮な( 換言すると、豊富な金属イオンを含有する)メツキ液成分が接触する状態を維持する 必要がある。
[0054] 一方、図 8に示すような従来構造の場合には、流動状態のメツキ液中であっても、 特に空洞部 110の内表面近傍については、新鮮なメツキ液成分と接触した状態を維 持することが困難である。すなわち、図 8に示す空洞部 110は、接触部 108に対して 反対側に単一の開口端を有するのみであることから、新鮮なメツキ液成分を空洞部 1 10内部に流入させることは困難であり、例えば、開口端近傍では厚くメツキ処理が行 われ、空洞部 110の底部近傍ではほとんどメツキ処理が行われな 、と 、つた事態が 起こりうる。
[0055] これに対して、本実施の形態における第 1針状部材 13では、貫通孔 13gが柱状部 13aを貫通するよう形成されることから、複数の開口端を有することとなる。従って、流 動状態のメツキ液成分は、一方の開口端力 流入して他方の開口端力 流出するこ ととなり、貫通孔 13gの内周面近傍において新鮮なメツキ液成分をスムーズに流すこ とが可能である。従って、本実施の形態に力かる導電性接触子ユニットは、第 1針状 部材 13のメツキ加ェを行う際に、貫通孔 13gの内周面に対して常に新鮮なメツキ液を 接触させることが可能であり、内周面全体に対して均一なメツキ力卩ェを行うことが可能 であるという利点を有する。
[0056] また、図 2に示すように、第 1針状部材 13の 2つの開口端が、貫通孔 13gの長手方 向の両端部に形成されることにより、さらに均一なメツキ力卩ェを行うことが可能である。 すなわち、本実施の形態では、貫通孔 13gの 2つの開口端は、貫通孔 13gの長手方 向の両端に形成されている。上述のように、メツキ力卩ェを行う際には 2つの開口端の 一方力 他方に対して新鮮なメツキ液が流れることとなるが、 2つの開口端が長手方 向の両端に形成されることによって、メツキ液は貫通孔 13gの内部を長手方向に一様 に流れることとなる。すなわち、貫通孔 13gの内周面に対して、新鮮なメツキ液はほぼ 同様の速度、流量で流れることから、内周面に対するメツキ加工も一様に行われるこ ととなり、厚くメツキされる部分等が生じることを抑制することが可能である。
[0057] (変形例 1)
次に、本実施の形態に力かる導電性接触子ユニットの変形例 1について説明する。 本変形例 1では、導電性接触子を形成する第 1針状部材に形成される貫通孔の内径 力 接触部側から離隔するに従って単調減少する構造を有する。ここで、「単調減少 」とは、数学的な意味と同義であって、具体的には、内径が、接触部近傍から離隔す るに従って同一径もしくは減少するよう貫通孔が形成されることを言う。より具体的に は、「貫通孔の内径が接触部側力も離隔するに従って単調減少する」とは、接触部か らの距離を Xとし、距離 Xの地点における貫通孔の内径を f (x)とした場合に、
[0058] [数 1] f(x)≤。 ■■■("
dx の関係が成立するよう貫通孔が形成された状態を言う。
[0059] 図 4は、本変形例 1にかかる導電性接触子ユニットを構成する導電性接触子の全体 構成を示す模式図である。図 4に示すように、本変形例 1では、パネ部材 12および第 2針状部材 14は図 2と同様の構成を有する。一方、第 1針状部材 22は、長手方向に 形成された貫通孔 22aが、接触部 13b近傍に形成され、内径が dとなる第 1穴部 22b
1
と、第 1穴部 22bに対して接触部 13bと反対側に形成され、内径が d (< d )となる第
2 1
2穴部 22cとによって形成される点で図 2の構成と相違する。 [0060] 力かる構成の第 1針状部材 22の製造工程について簡単に説明する。第 1針状部材 22の製造工程は、基本的には図 3— 1一図 3— 5と同様に行うことが可能である力 図 3— 3に示す工程の代わりに、図 5— 1および図 5— 2に示す工程を行う必要がある。図 5 —1および図 5— 2は、変形例 1における第 1針状部材 22に対して貫通孔 22aを形成 する工程につ!、て示す図である。
[0061] まず、図 5— 1に示すように、棒状体 24を把持部材 17に固定した状態を維持しつつ 、内径 dの穴部 27を形成する。すなわち、内径 dの穴部を形成するための小口径用
2 2
ドリル 26を把持部材 25によって固定した後、小口径用ドリル 26を回転させつつ棒状 体 24の左側端面 (すなわち、接触部 13bが形成される面)に対して接触させる。そし て、小口径用ドリル 26を所定長さだけ右方向に移動させることによって、内径 dの穴
2 部 27が形成される。
[0062] その後、図 5— 2に示すように、図 5—1と同様に棒状体 24を把持部材 17に固定した 状態を維持しつつ、内径 dの穴部 29を形成する。すなわち、把持部材 25に固定さ
1
れていた小口径用ドリル 26を、内径 dの穴部を形成するための大口径用ドリル 28に
1
交換し、大口径用ドリル 28を回転させつつ棒状体 24の左側端面力も所定距離だけ 挿入することによって、穴部 29が形成される。
[0063] ここで、図 5— 2に示す工程では、大口径用ドリル 28の挿入距離を、図 5— 1における 小口径用ドリル 26の挿入距離よりも短い値とすることによって、棒状体 24に形成され た穴部 27の一部が残存することとなる。そして、残存した穴部 27の一部は第 1針状 部材 22において第 1穴部 22bとなり、図 5— 2に示す工程によって形成された穴部 29 は、第 1針状部材 22において第 2穴部 22cとなる。
[0064] このように、貫通孔が同一の内径となるよう形成された場合のみならず、接触部 13b 側から離隔するに従って内径が単調減少するよう形成された場合にも、本発明の利 点を享受することが可能である。すなわち、図 5— 1および図 5— 2に示すように、穴部 2 7および穴部 29を形成する際に棒状体 24の方向等を変化させる必要はなぐ実施 の形態と同様に、高品位の第 1針状部材 22を容易に作製することが可能である。ま た、実施の形態と同様に貫通孔 22aは 2つの開口端を有することから、均一なメツキ 加工が可能等のり点を有する。 [0065] さらに、本変形例 1にかかる導電性接触子ユニットは、実施の形態に力かる導電性 接触子ユニットと比較して新たな利点を有する。力かる利点について、図面を適宜参 照しつつ説明する。
[0066] 図 6— 1および図 6— 2は、本変形例 1における導電性接触子の利点を説明するため の模式図である。ここで、図 6— 1は、導電性接触子が長手方向に最も伸張した状態 を示し、図 6— 2は、導電性接触子が長手方向に最も収縮した状態を示しているものと する。また、図 6—1および図 6— 2では、理解を容易にするため、パネ部材 12の図示 を省略している。
[0067] 図 6— 1に示す状態において、本変形例 1における導電性接触子は、第 2穴部 22c の内周面によって支持部 14aの外周面と接触しており、第 1穴部 22bの内周面とは非 接触状態を維持している。従って、図 6— 1に示すように導電性接触子が長手方向に 最も伸張した状態において、貫通孔 22aの内周面と支持部 14aとが接触する領域は 、導電性接触子の長手方向に関して第 2穴部 22cの長手方向長さ、すなわち図 6— 1 における長さ d
3となる。
[0068] 次に、図 6— 2に示すように、導電性接触子が長手方向に最も収縮した状態につい て検討する。かかる場合、図 6— 1の状態と比較して貫通孔 22a内に挿入される支持 部 14aの長手方向の長さは長くなる一方で、貫通孔 22aの内周面と接触する領域は 、第 1穴部 22bの内周面と支持部 14aの外周面とが接触しないことから、導電性接触 子の長手方向に関して第 2穴部 22cの長手方向長さ、すなわち長さ dとなる。つまり、
3
本変形例 1における導電性接触子では、伸張した場合と収縮した場合とにおいて、 第 1針状部材 22と、第 2針状部材 14との接触面積が変化しないことになる。
[0069] 既に説明したように、実施の形態および変形例 1における導電性接触子は、第 2針 状部材 14に備わる支持部 14aの外周面と、第 1針状部材に形成される貫通孔の内 周面との接触によって、第 1針状部材と第 2針状部材 14との間の電気的導通を確保 することとしている。したがって、両者間における電気的な接触抵抗の値は、支持部 1 4aの外周面と貫通孔の内周面との接触面積に応じて変化することとなる。
[0070] これに対して、本変形例 1では、図 6— 1および図 6— 2に示したように、導電性接触 子の伸張時と収縮時とにおいて接触面積が変化することがない。従って、本変形例 1 における導電性接触子は、使用時における長手方向長さの変動にかかわらず第 1針 状部材 22と第 2針状部材 14との間の電気的な接触抵抗を一定の値に維持すること が可能であると 、う利点を有する。
[0071] また、導電性接触子の伸縮時における第 1針状部材 22と第 2針状部材 14との間に 生じる摺動抵抗も、電気的な接触抵抗の場合と同様に、第 1針状部材 22と第 2針状 部材 14との間の接触面積に応じて定まることとなる。従って、本変形例 1における導 電性接触子は、導電性接触子の長手方向の長さにかかわらず、伸縮動作を行う際に 生じる摺動抵抗を一定の値に維持することが可能であるという利点を有する。
[0072] さらに、本変形例における導電性接触子は、内径が dとなる第 1穴部 22bを備える
1
ことによって、第 2穴部 22cの内周面と支持部 14aの外周面との間に異物が入り込む ことを抑制できるという利点を有する。すなわち、導電性接触子ユニットは、図 1にも 示すように検査対象たる半導体集積回路 1に対して鉛直下方向に配置された状態で 使用される。従って、従来構造の導電性接触子ユニットでは、半導体集積回路 1に付 着した埃等の異物が導電性接触子内に徐々に蓄積され、導電性接触子の伸縮動作 に悪影響を及ぼすおそれが存在して!/ヽた。
[0073] し力しながら、本変形例における導電性接触子は、第 2穴部 22cの内径よりも大きな 内径を有する第 1穴部 22bが鉛直方向上部に形成された構造を有することから、外 部からの異物は、第 1穴部 22b内、例えば第 2穴部 22cとの境界近傍に蓄積されるこ ととなり、第 2穴部 22cの内周面と支持部 14aの外周面との間に異物が入り込むことを 抑制することが可能である。
[0074] なお、本変形例 1における第 1針状部材 22に形成される貫通孔 22aについて、図 4 に示すものに限定されないことは言うまでもない。すなわち、本変形例 1における第 1 針状部材 22は、形成される貫通孔の内径が、接触部カゝら離隔するに従って単調減 少、すなわち(1)式の関係を満たすように変化するものすベてを包含するものである 。従って、例えばテーパー形状のように、内径が接触部から離隔するに従って一定の 割合で減少する貫通孔を形成することとしても良い。
[0075] (変形例 2)
次に、変形例 2にかかる導電性接触子ユニットについて説明する。本変形例 2では 、導電性接触子を構成する第 1針状部材に形成された接触部の形状を工夫して ヽる 。図 7は、本変形例 2における導電性接触子の全体構成を示す模式図である。図 7に 示すように、本変形例 2における導電性接触子は、図 2に示す導電性接触子 5と基本 的な構造は同様である一方、第 1針状部材 30に形成される接触部 30aの形状が、複 数の先鋭部を備えたものから変化して 、る。
[0076] 具体的には、接触部 30aは、図 7に示すように球面または放物面状の凹部を備えた 形状、いわゆるボウル型 (椀型)の形状を有する。カゝかる形状の接触部 30aを備えた 場合にも、接触部 30aは、半導体集積回路 1に備わる接続用電極 8の周縁部近傍と 電気的に接続することが可能である。
[0077] なお、図 7に示す導電性接触子は、実施の形態と同様に、第 1針状部材に形成さ れる貫通孔 13gの内径は一定の値を保持したものとしている。し力しながら、かかるも のに限定する必要はなぐ変形例 1に示すように、異なる内径を有する複数の穴部に よって構成された貫通孔を形成することとしても良 、。
[0078] また、実施の形態および変形例 1、 2に示す構造において、第 1針状部材を被接触 体 (半導体集積回路 1)側に配置し、第 2針状部材を回路基板 2側に配置した構成を 示したが、力かる構成に限定して解釈する必要はない。すなわち、図 2、図 4および 図 7に示す導電性接触子について、第 1針状部材が回路基板 2側に配置され、第 2 針状部材が被接触体側に配置した状態でホルダ孔 3に収容した構成としても良ぐか カゝる構成とした場合に本発明の利点を享受できることはもちろんである。
産業上の利用可能性
[0079] 以上のように、本発明にカゝかる針状部材、導電性接触子および導電性接触子ュ- ットは、例えば半導体集積回路の電気特性の検査等の際に半導体集積回路に備わ る接続用電極に対して電気的接触を実現する際に有用であり、特に、作製容易な針 状部材等の実現に適して 、る。

Claims

請求の範囲
[1] 被接触体と、該被接触体に供給する電気信号を生成し伝達する回路または該回路 を備えた回路基板とを電気的に接続する導電性接触子を形成する針状部材であつ て、
使用時に前記被接触体と接触する部分が所定形状に加工された接触部と、 前記接触部と一体的に形成され、前記接触部から離隔するに従って同一の内径ま たは単調減少する内径を有する貫通孔が形成された柱状部と、
を備えたことを特徴とする針状部材。
[2] 前記接触部は、使用時に前記被接触体に備わる接続用電極の周縁部と接触する よう前記柱状部の長手方向周縁部近傍に形成されることを特徴とする請求項 1に記 載の針状部材。
[3] 被接触体と、該被接触体に供給する電気信号を生成し伝達する回路または該回路 を備えた回路基板とを電気的に接続する導電性接触子であって、
使用時に前記被接触体と前記回路または前記回路基板との一方と接触し、前記被 接触体と接触する部分が所定形状に加工された接触部と、前記接触部と一体的に 形成され、前記接触部力 離隔するに従って同一の内径または単調減少する内径を 有する貫通孔が形成された柱状部とを有する第 1針状部材と、
前記第 1針状部材と電気的に接続した状態で配置され、前記第 1針状部材に対し て相対的に長手方向に摺動する第 2針状部材と、
前記第 1針状部材および前記第 2針状部材と結合し、前記第 1針状部材と前記第 2 針状部材との間の距離に応じた弾性力を印加するパネ部材と、
を備えたことを特徴とする導電性接触子。
[4] 前記第 2針状部材は、
前記第 1針状部材に形成された貫通孔の内周面と接触した状態を維持しつつ長手 方向に摺動可能な支持部と、
前記支持部と一体的に形成され、使用時に前記被接触体と前記回路または前記 回路基板との他方と電気的に接触する接触部と、
を備えたことを特徴とする請求項 3に記載の導電性接触子。 被接触体に対して供給される電気信号を生成し伝達する回路または該回路を備え た回路基板と、
使用時に前記被接触体と前記回路または前記回路を備えた回路基板との一方と 接触し、前記被接触体と接触する部分が所定形状に加工された接触部および該接 触部と一体的に形成され、前記接触部から離隔するに従って同一または単調減少す る内径を有する貫通孔が形成された柱状部とを有する針状部材と、該針状部材に対 して前記被接触体と垂直な方向に付勢するパネ部材とを有する導電性接触子と、 前記導電性接触子を収容するホルダ孔が形成された導電性接触子ホルダと、 を備えたことを特徴とする導電性接触子ユニット。
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