WO2011036800A1 - 接触子及び電気的接続装置 - Google Patents

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WO2011036800A1
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contact
plunger
plungers
coil spring
contactor
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研 木村
勝之 柿崎
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株式会社日本マイクロニクス
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Definitions

  • the present invention relates to a contactor and an electrical connection device that are in contact with electrodes provided on a wiring board, a semiconductor integrated circuit, or the like.
  • a contactor for electrically connecting electrical circuits of wiring boards arranged opposite to each other is generally known.
  • Examples of such contacts include those described in Patent Document 1 and Patent Document 2, for example.
  • the contact 1 of Patent Document 1 includes two contact pins 2 having the same shape and a coil spring 3.
  • the contact pin 2 is mainly composed of a locking claw 4, a locking hole 5, a flange portion 6, and a pin tip portion 2A.
  • Two locking claws 4 are provided opposite to each other and supported by a flexible support bar 4A. Thereby, the two latching claws 4 come close to and away from each other.
  • the locking hole 5 is a hole into which the locking claw 4 is fitted, and is formed in a rectangular shape according to the width of the locking claw 4.
  • the flange portion 6 is a portion with which the coil spring 3 is abutted.
  • both ends of the coil spring 3 come into contact with the flange portions 6 and the contact 1 is assembled.
  • Both ends of the contact 1 assembled in a state in which the two contact pins 2 are fitted to each other are used as pin tip portions 2A that are in contact with and electrically connected to electrodes or the like.
  • Patent Document 2 is composed of a plunger 8 and a spring 9 as shown in FIG.
  • the plunger 8 is formed in a long and narrow plate shape, and a wide portion 8A for receiving the spring 9 is provided on an upper portion thereof, and a terminal portion 8B that is in contact with the electrode is formed on the upper portion of the wide portion 8A.
  • a mandrel portion 8C that is inserted into the spring 9 so as to be movable up and down is formed at the lower portion of the wide portion 8A.
  • the spring 9 is formed to have an inner diameter into which the mandrel portion 8C can be inserted up and down. The lower end of the spring 9 is narrowed down and brought into contact with an electrode or the like.
  • FIG. 1 In the socket for electrical components of Patent Document 3, a contact member that contacts a terminal of the electrical component, a board conduction member that is formed of a conductive plate material and is connected to a printed circuit board, and the contact member and the board conduction member A coil spring that is disposed between the two and electrically connects the two.
  • the contact member and the substrate conducting member are not in contact with each other, and are connected by a coil spring.
  • each contact pin 2 has only a locking claw 4 fitted in the other locking hole 5 and has a small contact area with each other, so that the coil spring 3 is mainly responsible for electrical connection. .
  • the coil spring 3 is connected to the contact pin. It is difficult to make the inner diameter enough to tighten 2.
  • the coil spring 3 is a compression spring and there are few contact points with the contact pin 2, the adhesiveness between each contact pin 2 and the coil spring 3 becomes weak. For this reason, the contact portion between the flange portion 6 of each contact pin 2 and the coil spring 3 becomes a central passage through which electricity flows.
  • the contact area is small, and wear, corrosion, etc. are likely to occur, and the electrical contact property is poor. . For this reason, there exists a problem that it is easy to raise
  • the plunger 8 and the spring 9 are in contact with each other.
  • the electrical contact is poor due to the failure.
  • the plunger 8 and the spring 9 are electrically connected mainly at the contact point between the wide portion 8 ⁇ / b> A of the plunger 8 and the upper end portion of the spring 9.
  • the contact area is narrow and contact failure is liable to occur due to wear, corrosion, etc., the electrical contact property is poor and the durability is insufficient.
  • the present invention has been made in view of the above problems, and provides a low-cost contact having improved electrical contact and improved durability, and an electrical connection device using the contact. With the goal.
  • the contact according to the present invention is made to solve the above-described problem, and includes a plate-like first plunger that contacts one member and a plate-like second plunger, A second plunger that contacts the other member in a state of being overlapped with the first plunger and cooperates with the first plunger to electrically connect the one member and the other member; A member for coupling the first plunger and the second plunger, covering the outer periphery of the coupling portion of the first plunger and the second plunger, and on each spring receiving portion of each plunger And a compression coil spring that abuts and supports each plunger so as to be relatively slidable.
  • the electrical connection device is an electrical connection device that performs a test by contacting an electrode of an object to be inspected.
  • the electrical connection device is disposed at a position corresponding to each electrode of the object to be inspected and contacts the electrode. And the above-described contact was used as the contact.
  • the first plunger coupling portion and the second plunger coupling portion overlap each other and are electrically connected to each other.
  • the plunger and the second plunger cooperate to electrically connect the one member and the other member.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view (a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 7) showing the electrical connection device according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view (a cross-sectional view taken along line BB in FIG. 7) showing the electrical connection device according to the first embodiment of the present invention.
  • It is a top view which shows the electrical connection apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line DD in FIG. 1. It is a front view which shows the 1st plunger of the contactor which concerns on 1st Embodiment of this invention. It is a front view which shows the 2nd plunger of the contactor which concerns on 1st Embodiment of this invention. It is a front view which shows the compression coil spring of the contactor which concerns on 1st Embodiment of this invention. It is a perspective view which shows the state which the protrusion of the contact piece of the contactor which concerns on 1st Embodiment of this invention bites into a bump electrode.
  • FIG. 19 is a cross-sectional view taken along line EE in FIG. 18.
  • the electrical connection device 11 is a device used for an energization test of the device under test 12 or the like.
  • the device under test 12 is a semiconductor device such as an integrated circuit.
  • the inspected object 12 is provided with a plurality of bump electrodes 13 (see FIG. 8) on the lower surface thereof.
  • the bump electrode 13 is an electrode provided on the lower surface of the inspection object 12.
  • Each bump electrode 13 is provided on the lower surface of the object to be inspected 12 in a single row, a plurality of rows, a matrix, or other arrangement.
  • the electrical connection device 11 mainly includes a wiring board 15, a lower housing 16, an upper housing 17, a frame 18, a guide plate 19, and a contact 20 (see FIG. 8). .
  • the wiring board 15 is a plate-like wiring board that supports the lower housing 16, the upper housing 17, and the like.
  • the wiring of this wiring board 15 is connected to the wiring of a tester body (not shown) for testing the object to be inspected.
  • the wiring board 15 is a member constituting an electrode on the tester main body side, and the lower end portion of the contact 20 comes into contact with a contact pad 22 provided on the upper surface of the wiring board 15 and is electrically connected.
  • the lower housing 16 is a member for supporting the contact 20 in a state of being combined with the upper housing 17.
  • the lower housing 16 is provided with a first support hole 16 ⁇ / b> A into which the lower end of the contact 20 is inserted with a diameter slightly larger than the outer diameter of the contact 20.
  • the first support holes 16 ⁇ / b> A are provided at positions corresponding to the bump electrodes 13 on the lower surface of the device under test 12.
  • a lower receiving portion 16B that receives and supports the contact 20 is formed in the first support hole 16A.
  • the lower receiving portion 16B is formed by reducing the inner diameter of the lower end portion of the first support hole 16A.
  • a lower support shoulder 73 of the contact 20 to be described later is caught on the lower receiving portion 16B, and the inner diameter of the lower receiving portion 16B is set so that the lower end portion of the contact 20 penetrates. Since the lower support shoulder 73 of the contact 20 is caught on the lower receiving portion 16B, the contact 20 is supported by the lower receiving portion 16B.
  • the lower housing 16 is overlaid on the upper side of the wiring board 15.
  • contact pads 22 connected to the tester body by wiring are provided at positions corresponding to the first support holes 16A.
  • Each contact pad 22 is pressed and electrically contacted with the lower end portion of the contact 20 inserted into the first support hole 16A.
  • the lower housing 16 is provided with a pin head fitting hole 23 (see FIG. 5).
  • the pin head fitting hole 23 is a hole for fitting a head 39 of a guide pin 37 described later.
  • the inner diameter of the pin head fitting hole 23 is set to be approximately the same as the outer diameter of the head 39 of the guide pin 37 so that the head 39 of the guide pin 37 is fitted without play. .
  • the upper housing 17 is a member for supporting the entire contact 20 in cooperation with the lower housing 16.
  • the upper housing 17 is superposed on the lower housing 16, and the lower housing 16 and the upper housing 17 support the contact 20 in a state in which the contact 20 can freely expand and contract.
  • the upper housing 17 is provided with a second support hole 17A at a position corresponding to the first support hole 16A of the lower housing 16.
  • the second support hole 17A is formed to have the same inner diameter as the upper opening of the first support hole 16A (a diameter slightly larger than the outer diameter of the contactor 20), and the contactor 20 is slidably accommodated therein and supported. To do.
  • the second support holes 17A are provided at positions corresponding to the respective bump electrodes 13 provided on the lower surface of the device under test 12 so that the upper ends of the respective contacts 20 are in electrical contact with the respective bump electrodes 13. It has become.
  • an upper receiving portion 17B that supports the contact 20 from above is formed in the second support hole 17A.
  • the upper receiving portion 17B is formed by reducing the inner diameter of the upper end portion of the second support hole 17A.
  • An upper support shoulder 79 of the contact 20 to be described later is caught on the upper receiver 17B, and the upper end of the contact 20 penetrates, so that the contact 20 is supported by the upper receiver 17B.
  • An inner diameter of 17B is set.
  • the first support hole 16A and the second support hole 17A constitute a contact support hole 27 that receives and supports the entire contact 20.
  • the contact 20 In a state where the contact 20 is received in the contact support hole 27, the contact 20 is in a preloaded state (a contracted state), and a lower end portion of the contact 20 is provided on the upper surface of the wiring board 15. The contact pad 22 is pressed.
  • the upper housing 17 is provided with a pin shaft portion fitting hole 28 (see FIG. 5).
  • the pin shaft portion fitting hole 28 is a hole for fitting a shaft portion 40 of a guide pin 37 described later.
  • the inner diameter of the pin shaft portion fitting hole 28 is set to be approximately the same as the outer diameter of the shaft portion 40 of the guide pin 37 so that the shaft portion 40 of the guide pin 37 is fitted without play. .
  • the frame 18 is a member for fixing and supporting the wiring board 15, the lower housing 16 and the upper housing 17 integrally, and supporting the guide plate 19 so as to be movable up and down.
  • the frame 18 includes an outer frame portion 31, a fixing flange portion 32, and a vertically moving support flange portion 33.
  • the outer frame portion 31 is formed in a rectangular frame shape so as to surround the peripheral portions of the lower housing 16, the upper housing 17 and the guide plate 19.
  • Positioning pins or positioning holes are provided on the lower side surface of the outer frame portion 31, and positioning pins or positioning holes on the outer frame portion 31 side are provided on the upper side surface of the wiring board 15. Are provided with positioning holes or positioning pins (both not shown).
  • the positioning pin or positioning hole on the lower surface of the outer frame portion 31 fits into the positioning hole or positioning pin on the upper surface of the wiring substrate 15 so that the outer frame portion 31 and the wiring substrate 15 are accurately positioned. It is positioned and supported.
  • Fixing screws 35 are attached to the four corners of the outer frame portion 31. The fixing screws 35 are screwed into screw holes (not shown) of the wiring board 15 through through holes (not shown) at the four corners of the outer frame part 31, and the outer frame part 31 and the wiring board 15 are connected to each other. It is fixed.
  • Each fixing flange portion 32 is provided opposite to each other on the inner side surfaces of the opposing sides (frames) of the opening of the rectangular outer frame portion 31.
  • Each fixing flange portion 32 is formed in a substantially semicircular shape extending horizontally inward from each other.
  • the height of the lower surface of each fixing flange portion 32 (height from the wiring board 15) is set to be approximately the same value as the height of the lower housing 16 and the upper housing 17 overlapped.
  • the lower housing 16 and the upper housing 17 stacked on the wiring board 15 are supported by being sandwiched between the fixing flange portions 32 and the wiring board 15.
  • the lower surface of the lower housing becomes the same as the lower surface of the outer frame portion 31.
  • a pin hole 38 into which the guide pin 37 is fitted is formed at the center of each fixing flange portion 32.
  • the inner diameter of the pin hole 38 is set to be approximately the same as the outer diameter of the shaft portion 40 of the guide pin 37.
  • the guide pin 37 is composed of a head portion 39 and a shaft portion 40.
  • the head 39 is formed in a disk shape having an outer diameter substantially the same as the inner diameter of the pin head fitting hole 23 of the lower housing 16.
  • the shaft portion 40 is formed in a circular rod shape having an outer diameter substantially the same as the inner diameter of the pin shaft portion fitting hole 28 of the upper housing 17 and the pin hole 38 of the fixing flange portion 32.
  • the pin head fitting hole 23 of the lower housing 16, the pin shaft part fitting hole 28 of the upper housing 17, and the pin hole 38 of each fixing flange part 32 can pass the guide pin 37 therethrough. Thus, they are provided on the same axis.
  • the head 39 of the guide pin 37 is fitted into the pin head fitting hole 23 of the lower housing 16, and the shaft portion 40 is connected to the pin shaft fitting hole 28 and the fixing flange portion 32 of the upper housing 17.
  • the lower housing 16, the upper housing 17 and the frame 18 are positioned by fitting into the pin holes 38. Further, the lower housing 16 and the upper housing 17 are sandwiched between the lower surface of each fixing flange portion 32 of the frame 18 and the wiring board 15 from above and below and supported in the opening of the frame 18, so that these wiring boards 15,
  • the side housing 16, the upper housing 17, and the frame 18 are accurately positioned and fixed integrally with each other.
  • the vertically moving support flange portion 33 is a portion for supporting the guide plate 19 in the opening of the frame 18 so as to be vertically movable.
  • the vertically moving support flange portions 33 are respectively formed at the four corners of the opening portion of the rectangular frame-shaped frame 18.
  • Each vertical movement support flange portion 33 includes a plate portion 42, a guide screw hole 43, and a spring hole 44.
  • the plate portion 42 is a plate material that is slanted over the four corners of the outer frame portion 31 of the frame 18.
  • the height of the lower surface of the plate portion 42 is set to be the same height as the lower surface of the fixing flange portion 32.
  • the height of the upper surface of the plate portion 42 is such that the upper surface of the plate portion 42 and the lower surface of the flange portion 54 of the guide plate 19 are in contact with each other, so that the bump electrode 13 of the device under test 12 and the contact 20 It is set so that the upper end is in optimum contact. Specifically, the upper surface of the plate portion 42 is brought into contact with the bump electrode 13 of the device under test 12 and the upper end of the contact 20 so that the contact 20 is compressed (the state shown in FIG. 9). The height of the side is set.
  • the plate portion 42 is provided with a guide screw hole 43 and a spring hole 44.
  • the guide screw hole 43 is a screw hole for screwing the guide screw 46.
  • One guide screw hole 43 is provided at the center of each plate portion 42 (see FIG. 7).
  • the spring hole 44 is a hole for supporting the spring 47. Two spring holes 44 are provided on both sides of each guide screw hole 43.
  • the guide screw 46 is a screw for positioning the guide plate 19 in the opening of the frame 18 and allowing the guide plate 19 to move up and down.
  • the guide screw 46 includes a head portion 48, a guide portion 49, and a screw rod portion 50.
  • the head 48 is a portion that suppresses the guide plate 19 and prevents it from falling off.
  • a minus groove 51 into which a minus driver is fitted is formed on the upper side surface of the head 48.
  • the guide portion 49 is a portion that guides the vertical movement of the guide plate 19.
  • the guide portion 49 is provided between the head portion 48 and the screw rod portion 50 and is fitted into the guide hole 59 of the guide plate 19 to guide the vertical movement of the guide plate 19.
  • the length (height) of the guide portion 49 is such that the lower surface of the head 48 is in contact with and supported by the guide plate 19 (the guide plate 19 is pushed up by the spring 47).
  • the upper end portion is set so as to be received by the reduction portion 57 of the guide plate 19 (so as to be in the state of FIG. 8).
  • the screw rod portion 50 is a portion for fixing the guide screw 46 to the plate portion 42.
  • the screw rod portion 50 is screwed into the guide screw hole 43 of the plate portion 42 to fix the guide screw 46 to the plate portion 42.
  • the spring 47 is a member for elastically supporting the guide plate 19.
  • the spring 47 is mounted in the spring hole 44 of the plate portion 42 and is in contact with the back surface of the flange portion 54 of the guide plate 19. Accordingly, a total of eight springs 47 urge the guide plate 19 supported by the guide portions 49 of the four guide screws 46 so as to be vertically movable from below. As a result, the flange portion 54 of the guide plate 19 is pushed upward until it contacts the lower surface of the head 48 of the guide screw 46, and is in a standby state before contact.
  • the guide plate 19 positions and supports the device under test 12 when mounting the device under test 12 to the electrical connection device 11, and also supports the bump electrodes 13 and the contacts 20 of the device under test 12. It is a member for alignment.
  • the guide plate 19 includes a receiving recess 53 and a flange portion 54.
  • the receiving recess 53 is a part that receives and supports the object to be inspected 12.
  • the receiving recess 53 is formed in a substantially square dish shape.
  • the inner bottom portion of the receiving recess 53 is formed in a quadrangular shape, and its size is set slightly larger than that of the device under test 12.
  • the inner bottom portion of the receiving recess 53 is also formed in a square shape.
  • the inner bottom portion of the receiving recess 53 is also inspected.
  • the shape matches the body 12.
  • the inspection object 12 is positioned in a state where the inspection object 12 is mounted on the inner bottom portion of the receiving recess 53.
  • a large number of guide holes 56 are provided in the bottom plate portion 55 of the receiving recess 53.
  • the guide hole 56 is an opening for guiding and receiving each bump electrode 13 of the device under test 12.
  • Each guide hole 56 is formed slightly larger than the bump electrode 13 so that the bump electrode 13 can be easily received. That is, by receiving the inspection object 12 in the receiving recess 53, each bump electrode 13 of the inspection object 12 can be easily fitted into each guide hole 56 from above.
  • a reduced portion 57 that receives the upper end portion of the contact 20 without passing through the bump electrode 13 is formed at the lower end portion of the guide hole 56. This reduction part 57 allows the contact 20 to contact the bump electrode 13 by accepting and penetrating the upper end of the contact 20.
  • An inclined surface 53B is formed below the upper opening 53A of the receiving recess 53.
  • the inclined surface 53 ⁇ / b> B is a surface for guiding the inspection object 12 and guiding it to the bottom of the receiving recess 53.
  • the flange portion 54 is formed at a position corresponding to the four-sided support flange portion 33 of the frame 18 at the four corners of the receiving recess 53.
  • Each flange portion 54 is provided with a counterbore portion 58 with which the head portion 48 of the guide screw 46 abuts.
  • the counterbore portion 58 is provided with a guide hole 59 that fits in the guide portion 49 of the guide screw 46 so as to be movable up and down.
  • the guide hole 59 of the receiving recess 53 is fitted into the guide portion 49 of the guide screw 46 so as to be movable up and down, and the guide plate 19 is urged upward by the spring 47.
  • the inspection object 12 is mounted in the receiving recess 53 and pushed downward, whereby the guide plate 19 is pushed down, and the bump electrode 13 of the inspection object 12 and the upper end of the contact 20 come into contact with each other for inspection. Is to be done.
  • the contact 20 is composed of a first plunger 62, two second plungers 63, and a compression coil spring 64, as shown in FIGS.
  • the first plunger 62 is a plate-like plunger for making contact with an electrode or the like (here, the contact pad 22 of the wiring board 15) as one member, and is cut or pressed by a conductive material. Alternatively, it is manufactured by plating using a photolithographic technique.
  • One first plunger 62 is provided.
  • the 1st plunger 62 is comprised from the connection part 66, the spring receiving part 67, and the contact piece 68 (refer FIG. 13).
  • the length of the first plunger 62 is substantially equal to the height dimension of the upper surface of the upper housing 17 from the contact pad 22 of the wiring board 15 when assembled to the electrical connection device 11.
  • the coupling portion 66 is directly overlapped when the first plunger 62 and the two second plungers 63 are coupled to each other, so that the first plunger 62 and the second plunger 63 are in electrical contact with each other. It is a part of.
  • the coupling portion 66 includes a coupling rod portion 69, a tip insertion portion 70, and a retaining portion 71.
  • the coupling portion 66 is formed in a long plate shape, and can be stably brought into contact with the second plunger 63 in as wide an area as possible.
  • the connecting rod portion 69 is a portion that is supported by a compression coil spring 64 described later, and is set to have a slightly longer dimension than the compression coil spring 64.
  • the width dimension of the connecting rod portion 69 is set to be approximately the same as the inner diameter of the contact small diameter portion 84 of the compression coil spring 64. That is, the four corners of the cross-sectional shape of the connecting rod portion 69 are in contact with the inner diameter portion of the contact small diameter portion 84 of the compression coil spring 64, and the inner diameter portion of the contact small diameter portion 84 of the compression coil spring 64 is circumscribed by the connection rod portion 69. It is assembled in a state of being tightened slightly as a circle (see FIGS. 11 and 12).
  • the tip insertion portion 70 is a portion for guiding the insertion of the coupling rod portion 69 into the compression coil spring 64 during assembly.
  • the distal end insertion portion 70 is formed at the distal end portion (upper end portion in FIG. 13) of the connecting rod portion 69.
  • the tip insertion portion 70 has a gently curved inclined surface so as not to obstruct the insertion direction, and can be easily inserted into the compression coil spring 64.
  • the thickness dimension of the distal end insertion portion 70 is such that the distal end insertion portion 70 is positioned between contact pieces 77 of two second plungers 63, which will be described later, when assembled, and the interval between the projections 77A of the contact piece 77 is set. It is set to stabilize.
  • the stopper portion 71 is a portion for preventing the tip insertion portion 70 from coming off the compression coil spring 64 when the tip insertion portion 70 is inserted into the compression coil spring 64.
  • the retaining portion 71 is provided at the proximal end portion of the distal end insertion portion 70 (the boundary portion between the coupling rod portion 69 and the distal end insertion portion 70). That is, the retaining portion 71 is formed at the end opposite to the spring receiving portion 67.
  • the retaining portion 71 is formed by projecting the proximal end portion of the distal end insertion portion 70 on both sides. The width of the retaining portion 71 protruding on both sides is set so as to protrude slightly from the inner diameter of the contact small diameter portion 84 at the end of the compression coil spring 64 (see FIG. 11).
  • the spring receiving portion 67 is a portion for receiving the compression coil spring 64.
  • the spring receiving portion 67 is a step provided at a boundary portion between the coupling portion 66 and the contact piece 68.
  • the contact piece 68 is formed wider than the width of the coupling portion 66, and a step portion at the boundary thereof is a spring receiving portion 67.
  • the first plunger 62 is elastically supported by the contactor 22 by the compression coil spring 64 by the contact of the small diameter portion 84 at the end of the compression coil spring 64 with the spring receiving portion 67. .
  • the contact piece 68 is a member for contacting and electrically connecting to one member (contact pad 22 of the wiring board 15).
  • the contact piece 68 is provided integrally with the base end side (the lower side in FIG. 13) of the coupling portion 66.
  • the contact piece 68 has a substantially rectangular plate-like portion whose width is slightly smaller than the inner diameters of the first support hole 16A of the lower housing 16 and the second support hole 17A of the upper housing 17, followed by the lower housing. 16 is formed with a tip having a smaller width than the upper part of the rectangular plate penetrating the lower receiving portion 16B.
  • the front end portion of the contact piece 68 is formed in a curved shape so as to be in stable contact with the contact pad 22 of the flat surface wiring board 15.
  • a lower support shoulder 73 is formed at the boundary between the upper part of the rectangular plate and the tip part.
  • the lower support shoulder 73 is caught by the lower receiving portion 16B of the lower housing 16 so that the contact piece 68 does not fall out of the first support hole 16A.
  • the end portion of the contact piece 68 protrudes downward from the first support hole 16A. It has become.
  • the second plunger 63 cooperates with the first plunger 62 to electrically connect between one member (the contact pad 22 of the wiring board 15) and the other member (the bump electrode 13).
  • the plunger is in the shape of a conductive material and is manufactured by cutting, pressing or the like using a conductive material or by plating using a photolithographic technique.
  • the 2nd plunger 63 is comprised from the coupling
  • Two second plungers 63 are provided and assembled by a compression coil spring 64 with the first plunger 62 interposed therebetween.
  • the coupling portion 66 of the first plunger 62 is sandwiched with the coupling portions 75 of the two second plungers 63 facing each other.
  • the two second plungers 63 have the same shape. Good contact with the contacting member (bump electrode 13) can be achieved by configuring the same shaped plungers to face each other. Each plunger 63 slides independently of each other with the first plunger 62 interposed therebetween. This is because when the shape of the contacting member (bump electrode 13) is non-uniform and when the contacting member (bump electrode 13) has a ball shape, the electrical contact is surely performed following the shape. It is to make it.
  • the coupling portion 75 is a portion for overlapping and electrically contacting the coupling portion 66 of the first plunger 62 when the first plunger 62 and the second plunger 63 are coupled to each other. That is, the coupling portion 66 of the first plunger 62 is overlapped so that the coupling portions 75 of the two second plungers 63 are sandwiched from both sides, and the first plunger 62 and the second plunger 63 are electrically connected. It comes to contact.
  • the coupling portion 75 includes a coupling rod portion 80, a tip insertion portion 81, and a retaining portion 82.
  • the coupling portion 75 is formed in a long plate shape, and can be brought into contact with the coupling portion 66 of the first plunger 62 over a wide area.
  • the connecting rod portion 80 is a portion that overlaps the connecting portion 66 of the first plunger 62 and is supported by the compression coil spring 64, and is set to have a slightly longer dimension than the compression coil spring 64.
  • the cross-sectional dimensions (width and thickness dimensions) of the connecting rod 80 are such that one connecting rod 69 and the two connecting rods 80 sandwich the connecting rod 69 of the first plunger 62 from both sides.
  • the eight corner portions (see FIG. 11) of the cross-sectional shape of the two connecting rod portions 80 sandwiched between are in a state in which they are in contact with the inner diameter portion of the contact small diameter portion 84 of the compression coil spring 64. That is, the inner diameter of the contact small-diameter portion 84 of the compression coil spring 64 is set to a dimension that forms a circumscribed circle having a cross-sectional shape to which the coupling rod portions 80, 69, 80 are coupled, and is assembled in a slightly tightened state (FIG. 11, 12).
  • the width dimension of the connecting rod portion 80 is narrower than the width dimension of the connecting rod portion 69 of the first plunger 62.
  • the tip insertion part 81 is a part for guiding the insertion of the connecting rod part 80 into the compression coil spring 64.
  • the distal end insertion portion 81 is formed at the distal end portion (the lower end portion in FIG. 14) of the connecting rod portion 80.
  • the distal end insertion portion 81 has a gently curved inclined surface so as not to obstruct the insertion direction, and can be smoothly inserted into the compression coil spring 64.
  • the tip insertion portion 81 of each coupling rod portion 80 can be smoothly inserted into the compression coil spring 64 in a state where the two coupling rod portions 80 are overlapped on both sides of the coupling rod portion 69 of the first plunger 62. It is like that.
  • the stopper 82 is a part for preventing the tip insertion portion 81 from coming out of the compression coil spring 64 when the tip insertion portion 81 is inserted into the compression coil spring 64.
  • the retaining portion 82 is provided at the proximal end portion of the distal end insertion portion 81 (the boundary portion between the coupling rod portion 80 and the distal end insertion portion 81).
  • the retaining portion 82 is formed by projecting the proximal end portion of the distal end insertion portion 81 on both sides.
  • the width dimension of the retaining portion 82 protruding on both sides is set so as to slightly protrude from the inner diameter of the contact small diameter portion 84 at the end of the compression coil spring 64 when assembled (see FIG. 12).
  • the spring receiving portion 76 is a portion for receiving the compression coil spring 64.
  • the spring receiving portion 76 is a step provided at a boundary portion between the coupling portion 75 and the contact piece 77.
  • the contact piece 77 is formed wider than the width of the coupling portion 75, and a step portion at the boundary thereof is a spring receiving portion 76.
  • the contact piece 77 is a member for contacting and electrically connecting to the other member (bump electrode 13).
  • the contact piece 77 is provided integrally with the base end side (the upper side in FIG. 14) of the coupling portion 75.
  • the contact piece 77 penetrates the substantially rectangular plate-like portion having a width dimension slightly smaller than the inner diameter of the second support hole 17A of the upper housing 17 and the upper receiving portion 17B of the upper housing 17 having a smaller width dimension.
  • the guide plate 19 is formed at the upper end of the width dimension that enters the reduced portion 57 of the guide plate 19.
  • An upper support shoulder 79 is formed on the contact piece 77 at the boundary between the upper part of the rectangular plate and the tip part.
  • the upper support shoulder 79 is caught by the upper receiving portion 17B of the upper housing 17 so that the contact piece 77 does not come out of the second support hole 17A.
  • the upper end portion (see FIG. 14) of the contact piece 77 protrudes upward from the second support hole 17A.
  • each contact piece 77 is formed in two protrusions. That is, the center of the tip of the contact piece 77 is recessed in a U shape to form a recess, and two protrusions 77A are formed on both sides thereof. Further, a tapered surface 77B (see FIG. 10) is formed on the protrusion 77A. Thus, the two protrusions 77A are formed in two cuts. A space formed by the two tapered surfaces 77B facing the concave portion serves as a space for receiving the top of the bump electrode 13.
  • the top of the bump electrode 13 is prevented from being received in the space and in contact with the tip surface of the second plunger 63 and being crushed.
  • the tapered surface 77B is arranged in a direction to open upward (see FIGS. 10 and 16).
  • the two protrusions 77A arranged in the direction of opening upward are surely in contact with the bump electrode 13 as shown in FIG. 16, and the four contact points as shown in FIG.
  • Each of the bump electrodes 13 is pierced by S to be surely electrically contacted.
  • the taper surface 77B exhibits the following functions.
  • the protrusion 77A try to contact the bump electrode 13
  • the protrusion 77A tries to slide in the circumferential direction on the spherical surface of the bump electrode, and a force that moves away from each other acts.
  • the force acts as a force for pressing the coupling portion 75, particularly the distal end insertion portion 81, located on the side opposite to the projection 77 ⁇ / b> A of the second plunger against the first plunger 62.
  • each protrusion 77A is pressed against the bump electrode 13, whereby the second plunger 63 is shifted downward.
  • the first plunger 62 and the second plunger 63 are rubbed and slid while being relatively pressed against each other at the coupling portions 66 and 75 so as to come into reliable contact.
  • the compression coil spring 64 covers the outer peripheries of the connecting rod portions 69 and 80 of the first plunger 62 and the second plunger 63 and abuts against the spring receiving portions 67 and 76, respectively. It is a member for elastically supporting the plungers 62 and 63 and electrically connecting the plungers 62 and 63.
  • the coupling portions 66 and 75 of the first plunger 62 and the second plunger 63 are stacked and supported at both ends of the compression coil spring 64.
  • the compression coil spring 64 has a large diameter at its intermediate portion, that is, a size in which the cross-sectional shape formed by the coupling rod portion 69 of the first plunger 62 and the coupling rod portion 80 of the two second plungers 63 sandwiching it is not in contact.
  • a compression coil spring is formed (see FIG. 11).
  • the outer diameter of the intermediate portion is set to be slightly larger than the maximum width dimension of the first plunger 62 and the second plunger -63. Both end portions of the compression coil spring 64 are formed with small diameter close contact small diameter portions 84.
  • the inner diameter of the contact small diameter portion 84 is slightly smaller than the diameter of the circumscribed circle circumscribing the cross-sectional shape formed by the coupling rod portion 69 of the first plunger 62 and the coupling rod portion 80 of the two second plungers 63 sandwiching the inner diameter. Is set.
  • the contact 20 allows the first plunger 62 and the second plunger 63 to be connected to the coupling portions 66 and 75 with the contact pieces 68 and 77 facing in opposite directions.
  • the compression coil springs 64 are superposed and integrated with each other, and the compression coil springs 64 are stopped at the positions of the respective spring receiving portions 67 and 76 so that they cannot be separated from each other, and are slidably assembled.
  • the contact 20 configured as described above is used as follows.
  • the device under test 12 is mounted on the electrical connection device 11. At this time, the device under test 12 is mounted in the receiving recess 53 of the guide plate 19. That is, the device under test 12 is mounted on the bottom plate portion 55 while being positioned along the inclined surface 53B of the upper opening 53A. Thereby, the bump electrode 13 of the device under test 12 is received in the guide hole 56 of the bottom plate portion 55. Further, the upper end portion of the contact piece 77 of the contact 20 is received by the reduction portion 57.
  • the protrusions 77A at the tips of the two contact pieces 77 of the two second plungers 63 try to contact the bump electrode 13
  • the protrusions 77A try to slide on the spherical surface of the bump electrode in the circumferential direction and away from each other.
  • a force that moves to the position of the second plunger is combined with the fact that the connecting rod portions 69 and 80 are supported by the small diameter portion of the compression coil spring 64, and the force is located on the side opposite to the projection 77A of the second plunger.
  • the coupling portion 75, particularly the distal end insertion portion 81 acts as a force that presses against the first plunger 62.
  • the compression coil spring 64 has the contact small diameter portions 84 at both ends pressed against the spring receiving portion 67 of the first plunger 62 and the spring receiving portion 76 of the second plunger 63, respectively. Are also reliably contacted electrically.
  • the two second plungers 63 are slid independently, the height of the contact portion between the projections 77A of the two second plungers 63 such as when the bump electrode 13 is deformed is high. Even if they are different, the two second plungers 63 come into contact with each other while following the shape.
  • each member (the wiring board 15 and the bump electrode 13) is electrically and reliably connected by the contactor 20. In this state, an electrical signal or the like is transmitted between the members via the contact 20.
  • the first plunger 62 and the second plunger 63 are in electrical contact with each other reliably, and the compression coil spring 64 and the plungers 62 and 63 are also electrically connected. Since the state is maintained, the electrical contact between each member (the wiring board 15 and the bump electrode 13) is greatly improved.
  • the contact 20 has a small number of parts and a simple structure, there are few causes of failure, so durability is improved. Since each plunger is formed in a plate shape, it can be easily manufactured by pressing or the like. Furthermore, since the structure of the contact 20 is simple and the number of parts is small, the cost can be reduced.
  • the inspection object 12 can be easily and accurately mounted on the electrical connection device 11 and the electrodes of the inspection object are not damaged, the inspection workability is improved and the inspection accuracy is also improved. .
  • the contact 20 Since the contact 20 has a small number of parts and a simple structure, the electrical contact can be maintained in a good state for a long time and the durability is improved. As a result, the reliability with respect to the contact 20 and the electrical connection device 11 is improved.
  • the contact according to this embodiment is configured by providing two first plungers to the contact 20 according to the first embodiment to form a Kelvin contact.
  • the overall configuration of the contact of this embodiment is substantially the same as that of the contact 20 of the first embodiment. That is, as shown in FIGS. 18 and 19, the contact 86 of the present embodiment has a different structure of the first plunger 87, and the material of the compression coil spring 64 is insulative. Other members are the same as those in the first embodiment. For this reason, the same code
  • two first plungers 87 are provided in the same manner as the second plunger 63.
  • the two first plungers 87 have the same shape, and an insulator 88 is provided between each first plunger 87.
  • the insulator 88 may be a plate-like member that can insulate between the two first plungers 87.
  • the insulator 88 insulates the two first plungers 87 and the two second plungers 63 that are in contact with the first plungers 87, respectively. These are integrally supported while being insulated by the compression coil spring 64. As shown in FIG.
  • the dimensions of the first plunger 87 and the second plunger 63 are such that the portions corresponding to the contact piece 68 and the retaining portion 71 of the first embodiment are compressed coil springs to prevent the retaining. It is set to be slightly larger than the 64 small contact diameter portion 84.
  • the close contact small diameter portion 84 is set so that the inner diameter portion is a circumscribed circle circumscribing the insulator 88, the two first plungers 87, and the two second plungers 63 in a stacked state. .
  • the small contact diameter portion 84, the first plunger 87, and the second plunger 63 are insulated from each other.
  • the number of contact pads 89 of the wiring board 15 is also two.
  • the compression coil spring 64 is made of an insulating material such as ceramic or engineer plastic. Further, an insulating coating may be applied to a normal metal spring material.
  • first plunger 87 and one second plunger 63 are electrically connected, and the other first plunger 87 and the other second plunger 63 are electrically connected, It is designed to transmit signals in two systems.
  • the compression coil spring 64 has a large diameter at the center and a small diameter close contact diameter portion 84 formed at both ends thereof.
  • the compression coil spring 64 has a large diameter at the center and both ends. It may be a barrel shape that is formed so as to gradually become smaller in diameter toward both ends, and has a minimum diameter close contact small diameter portion 84 formed at both ends thereof, or may have another shape.
  • the inner diameter of the contact small-diameter portion 84 is slightly smaller than the diameter of the circumscribed circle that circumscribes the cross-sectional shape in which the coupling portions of the first plunger 62 and the second plunger 63 are overlapped. Although set, it may be set to the same diameter as the circumscribed circle. Further, the inner diameter of the contact small diameter portion 84 may be set to be significantly smaller than the diameter of the circumscribed circle. It is sufficient that the first plunger 62 and the second plunger 63 have a diameter that can be slidably supported while maintaining conductivity.
  • two second plungers 63 and one first plunger 62 are provided, but one second plunger 63 and one first plunger 62 may be provided.
  • the small contact portions 84 at both ends of the compression coil spring 64 support the second plunger 63 and the first plunger 62 one by one to constitute a contact.
  • one second plunger 63 and two first plungers 62 may be provided. In these cases, the same operations and effects as those of the first embodiment can be obtained.
  • the contact of the present invention can be used for all devices that come into contact with electrodes provided on a wiring board, a semiconductor integrated circuit, or the like.
  • the electrical connection device can be applied to all devices that can use the contact of the present invention.

Abstract

 電気的接触性を改善して、耐久性を向上させ、コストの低減を図る。  本発明の接触子は、一方の部材に接触する板状の第1のプランジャーと、板状の第2のプランジャーであって、当該第1のプランジャーと重ね合わさった状態で他方の部材に接触して前記第1のプランジャーと協働して前記一方の部材と他方の部材との間を電気的に導通させる第2のプランジャーと、第1のプランジャーと第2のプランジャーを互いにその接触片を反対の向きの状態に結合する部材であって、前記第1のプランジャー及び第2のプランジャーの結合部の外周を覆い、かつ各プランジャーのバネ受け部にそれぞれ当接して各プランジャーを相対的にスライド可能に支持する圧縮コイルスプリングとを備えて構成した。電気的接続装置には前記接触子を組み込んだ。

Description

接触子及び電気的接続装置
 本発明は、配線基板や半導体集積回路等に備えられた電極に接触される接触子及び電気的接続装置に関するものである。
 対向して配設された配線基板の電気回路等を互いに電気的に接続する接触子は一般的に知られている。このような接触子の例としては、例えば特許文献1や特許文献2に記載のものがある。
 特許文献1の接触子1は、図2,3に示すように、同じ形状の2つの接触ピン2と、コイルスプリング3とから構成されている。
 接触ピン2は主に、係止爪4と、係止穴5と、フランジ部6、ピン先端部2Aとから構成されている。係止爪4は、対向して2つ設けられ、可撓性のある支持棒部4Aで支持されている。これにより、2つの係止爪4は、互いに近接離間するようになっている。係止穴5は、係止爪4が嵌合する穴で、係止爪4の幅に合わせて長方形状に形成されている。これにより、2つの接触ピン2が90度ずらして互いに向き合って嵌合することで、係止穴5の開口に、2つの係止爪4がそれぞれ係止して互いに抜け落ちないようなっている。フランジ部6は、コイルスプリング3が当接される部分である。2つの接触ピン2がそれぞれコイルスプリング3に挿入された状態で90度ずらして互いに嵌合することで、コイルスプリング3の両端が各フランジ部6に当接して接触子1が組み上げられる。2つの接触ピン2が互いに嵌合した状態で組み上げられた接触子1の両端部は電極等に接触して電気的に接続されるピン先端部2Aとされる。
 また、特許文献2の接触子7は、図4に示すように、プランジャー8と、スプリング9とから構成されている。
 プランジャー8は、細長い板状に形成され、その上部にスプリング9を受ける幅広部8Aが設けられ、この幅広部8Aの上部に電極と接触する端子部8Bが形成されている。幅広部8Aの下部には、スプリング9内に上下動自在に挿入される心棒部8Cが形成されている。スプリング9は、心棒部8Cを上下動自在に挿入できる内径に形成されている。スプリング9の下端部は、細く絞られて電極等に接触される。
 また、特許文献3のような構造のものもある。特許文献3の電気部品用ソケットでは、電気部品の端子に接触する接触部材と、導電性を有する板材により形成されプリント回路基板に接続される基板導通部材と、該接触部材及び前記基板導通部材の間に配設されて当該両者を導通させるコイルスプリングとを有する。接触部材と基板導通部材とは、互いに接触されず、これらの間はコイルスプリングで接続されている。
特表2008-516398号公報 特開2004-152495号公報 特開平11-317270号公報
 ところが、上記特許文献1の接触子1では、一方の接触ピン2の係止爪4が他方の接触ピン2の係止穴5に嵌合した状態で、接触子1の伸縮に伴って係止爪4が係止穴5の周縁に何度も接触すると、係止爪4や支持棒部4Aが摩耗等で損傷することがあり、耐久性に欠ける。
 また、各接触ピン2は、その係止爪4が相手側の係止穴5に嵌合するだけで、互いの接触面積が小さいため、電気的接続を主に担うのはコイルスプリング3となる。しかし、係止爪4や支持棒部4Aの部分は、コイルスプリング3内に挿入された状態で、広がって相手側の係止穴5に嵌合する必要があるため、コイルスプリング3が接触ピン2を締め付けるほどの内径にすることは難しい。さらに、コイルスプリング3は圧縮スプリングで、接触ピン2との接触点も少ないため、各接触ピン2とコイルスプリング3との間は密着性が弱くなる。このため、各接触ピン2のフランジ部6とコイルスプリング3との接触部分が中心的な電気の流れる通路になるが、接触面積が狭くて摩耗、腐食等を起こしやすく、電気的接触性が悪い。このため、接触不良を起こしやすく、耐久性に欠けるという問題がある。
 また、特許文献2の接触子7では、スプリング9の内径が、プランジャー8の心棒部8Cを上下動自在に挿入できる寸法に設定されているため、プランジャー8とスプリング9とが互いに接触したりしなかったりして電気的接触性が悪い。このため、プランジャー8とスプリング9とを電気的に接続するのは主に、プランジャー8の幅広部8Aとスプリング9の上端部との接点になる。このため、接触面積が狭くて摩耗、腐食等によって接触不良を起こしやすく、電気的接触性が悪くて耐久性に欠けるという問題がある。
 また、特許文献3の場合、プランジャー同士の接触がなく、スプリングで互いに電気的に接触されているだけなので、電気的接触性が悪いという問題がある。
 本発明はこのような問題点に鑑みてなされたもので、電気的接触性を改善して耐久性を向上させた低コストの接触子及びこの接触子を用いた電気的接続装置を提供することを目的とする。
 本発明に係る接触子は前記課題を解決するためになされたもので、一方の部材に接触する板状の第1のプランジャーと、板状の第2のプランジャーであって、当該第1のプランジャーと重ね合わさった状態で他方の部材に接触して前記第1のプランジャーと協働して前記一方の部材と他方の部材との間を電気的に導通させる第2のプランジャーと、第1のプランジャーと第2のプランジャーを結合する部材であって、前記第1のプランジャー及び第2のプランジャーの結合部の外周を覆い、かつ各プランジャーのバネ受け部にそれぞれ当接して各プランジャーを相対的にスライド可能に支持する圧縮コイルスプリングとを備えて構成した。
 また、本発明に係る電気的接続装置は、被検査体の電極に接触して試験を行う電気的接続装置において、前記被検査体の各電極に対応する位置に配設され当該各電極に接触して通電する接触子を備え、当該接触子として上述の接触子を用いた。
 本発明に係る接触子及び電気的接続装置においては、第1のプランジャーの結合部と第2のプランジャーの結合部とが重ね合わさって電気的に導通された状態で、これら前記第1のプランジャーと第2のプランジャーとが協働して前記一方の部材と他方の部材との間を電気的に導通させる。これにより、電気的接触性が改善して、耐久性が向上する。さらに、部品点数が減ってコスト低減を図れる。
本発明の第1実施形態に係る接触子を示す正面図である。 第1従来の接触子を示す斜視図である。 第1従来の接触子を示す分解斜視図である。 第2従来の接触子を示す斜視図である。 本発明の第1実施形態に係る電気的接続装置を示す断面図(図7のA-A線矢視断面図)である。 本発明の第1実施形態に係る電気的接続装置を示す断面図(図7のB-B線矢視断面図)である。 本発明の第1実施形態に係る電気的接続装置を示す平面図である。 本発明の第1実施形態に係る電気的接続装置の接触子装着部分を示す要部拡大断面図であり、被検査体の電極に接触していない状態を示す正面断面図と、側面断面図である。 本発明の第1実施形態に係る電気的接続装置の接触子装着部分を示す要部拡大断面図であり、被検査体の電極に接触している状態を示す正面断面図と、側面断面図である。 本発明の第1実施形態に係る接触子を示す側面図である。 図1のC-C線矢視断面図である。 図1のD-D線矢視断面図である。 本発明の第1実施形態に係る接触子の第1プランジャーを示す正面図である。 本発明の第1実施形態に係る接触子の第2プランジャーを示す正面図である。 本発明の第1実施形態に係る接触子の圧縮コイルスプリングを示す正面図である。 本発明の第1実施形態に係る接触子の接触片の突起がバンプ電極に食い込んでいる状態を示す斜視図である。 本発明の第1実施形態に係る接触子の接触片の突起がバンプ電極に食い込んだ跡を示す平面図である。 本発明の第2実施形態に係る電気的接続装置の接触子装着部分を示す要部拡大断面図である。 図18のE-E線矢視断面図である。
 11:電気的接続装置、12:被検査体、13:バンプ電極、15:配線基板、16:下側ハウジング、16A:第1支持穴、16B:下側受け部、17:上側ハウジング、17A:第2支持穴、17B:上側受け部、18:フレーム、19:ガイド板、20:接触子、22:コンタクトパッド、23:ピン頭部嵌合穴、27:接触子支持穴、28:ピン軸部嵌合穴、31:外枠部、32:固定用フランジ部、33:上下動支持用フランジ部、35:固定ネジ、37:ガイドピン、38:ピン穴、39:頭部、40:軸部、42:板部、43:ガイドネジ穴、44:スプリング穴、46:ガイドネジ、47:スプリング、48:頭部、49:ガイド部、50:ネジ棒部、51:マイナス溝、53:受入凹部、53A:上側開口、53B:傾斜面、54:フランジ部、55:底板部、56:ガイド穴、57:縮小部、58:ザグリ、62:第1プランジャー、63:第2プランジャー、64:圧縮コイルスプリング、66:結合部、67:バネ受け部、68:接触片、69:結合棒部、70:先端挿入部、71:抜け止部、73:下側支持肩部、75:結合部、76:バネ受け部、77:接触片、77A:突起、77B:テーパ面、79:上側支持肩部、80:結合棒部、81:先端挿入部、82:抜け止部、84:密着小径部、86:接触子、87:第1プランジャー、88:絶縁体、89:コンタクトパッド。
 以下、本発明の実施形態に係る接触子及び電気的接続装置について、添付図面を参照しながら説明する。
[第1実施形態]
 まず、図5~9に基づいて、本実施形態の電気的接続装置11を説明する。電気的接続装置11は、被検査体12の通電試験等に用いる装置である。被検査体12は、集積回路等の半導体デバイスである。被検査体12は、その下側面に複数のバンプ電極13(図8参照)が設けられている。このバンプ電極13は、被検査体12の下側面に設けられた電極である。各バンプ電極13は、被検査体12の下側面に、一列、複数列、マトリクス状又は他の配列で備えられている。
 電気的接続装置11は主に、配線基板15と、下側ハウジング16と、上側ハウジング17と、フレーム18と、ガイド板19と、接触子20(図8参照)とを備えて構成されている。
 配線基板15は、下側ハウジング16、上側ハウジング17等を支持する板状の配線基板である。この配線基板15の配線は被検査体を試験するテスタ本体(図示せず)の配線に接続されている。配線基板15は、テスタ本体側の電極を構成する部材であって、接触子20の下端部が配線基板15の上面に設けられたコンタクトパット22に接触して電気的に導通される。
 下側ハウジング16は、前記上側ハウジング17と合わされた状態で接触子20を支持するための部材である。下側ハウジング16には、接触子20の下端部が挿入される第1支持穴16Aが接触子20の外径よりも少し大きい径で設けられている。この第1支持穴16Aは、被検査体12の下面の各バンプ電極13に対応した位置にそれぞれ設けられている。第1支持穴16A内には、接触子20を受けて支持する下側受け部16Bが形成されている。下側受け部16Bは、第1支持穴16Aの下端部の内径を小さくして形成されている。この下側受け部16Bに後述する接触子20の下側支持肩部73がひっかかり、接触子20の下端部が貫通するように下側受け部16Bの内径が設定されている。この下側受け部16Bに接触子20の下側支持肩部73がひっかかることで、接触子20が下側受け部16Bで支持されるようになっている。
 下側ハウジング16は、配線基板15の上側に重ねられている。配線基板15の上側面には、前記第1支持穴16Aに対応する位置にテスタ本体に配線で接続されたコンタクトパッド22が設けられている。各コンタクトパッド22には、第1支持穴16Aに挿入された接触子20の下端部が押圧され電気的に接触される。
 下側ハウジング16には、ピン頭部嵌合穴23(図5参照)が設けられている。このピン頭部嵌合穴23は、後述するガイドピン37の頭部39が嵌合するための穴である。ピン頭部嵌合穴23の内径は、このガイドピン37の頭部39の外径とほぼ同じ寸法に設定されて、ガイドピン37の頭部39が遊びがなく嵌合するようになっている。
 上側ハウジング17は、下側ハウジング16と協働して、接触子20の全体を支持するための部材である。上側ハウジング17は、下側ハウジング16に重ねられて、この下側ハウジング16と上側ハウジング17とで、接触子20を自由に伸縮できる状態で支持するようになっている。上側ハウジング17には、下側ハウジング16の第1支持穴16Aに対応する位置に、第2支持穴17Aが設けられている。この第2支持穴17Aは、第1支持穴16Aの上側開口と同じ内径(接触子20の外径よりも少し大きい径)に形成されて、内部に接触子20をスライド可能に収納して支持する。第2支持穴17Aは、被検査体12の下側面に備えられた各バンプ電極13に対応する位置にそれぞれ設けられて、各接触子20の上端部が各バンプ電極13に電気に接触させるようになっている。
 第2支持穴17A内には、接触子20を上側から支持する上側受け部17Bが形成されている。この上側受け部17Bは、第2支持穴17Aの上端部の内径を小さくして形成されている。この上側受け部17Bに後述する接触子20の上側支持肩部79がひっかかり、接触子20の上端部が貫通することで、接触子20が上側受け部17Bで支持されるように、上側受け部17Bの内径が設定されている。
 そして、前記第1支持穴16Aと第2支持穴17Aとで、接触子20全体を受け入れて支持する接触子支持穴27が構成されている。接触子20が、接触子支持穴27に受け入れられた状態で、接触子20は予圧が掛かった状態(縮んだ状態)にあり、接触子20の下端部は配線基板15の上面に設けられたコンタクトパット22を押圧した状態になる。
 上側ハウジング17には、ピン軸部嵌合穴28(図5参照)が設けられている。このピン軸部嵌合穴28は、後述するガイドピン37の軸部40が嵌合するための穴である。ピン軸部嵌合穴28の内径は、このガイドピン37の軸部40の外径とほぼ同じ寸法に設定されて、ガイドピン37の軸部40が遊びがなく嵌合するようになっている。
 フレーム18は、配線基板15、下側ハウジング16及び上側ハウジング17を一体的に固定して支持すると共に、ガイド板19を上下動可能に支持するための部材である。フレーム18は、外枠部31と、固定用フランジ部32と、上下動支持用フランジ部33とから構成されている。
 外枠部31は、下側ハウジング16、上側ハウジング17及びガイド板19の周縁部を囲うように、四角形の枠体状に形成されている。外枠部31の下側面には、位置決め用ピン又は位置決め用穴(いずれも図示せず)が設けられ、配線基板15の上側面には、外枠部31側の位置決め用ピン又は位置決め用穴に対応して、位置決め用穴又は位置決め用ピン(いずれも図示せず)が設けられている。これにより、外枠部31の下側面の位置決め用ピン又は位置決め用穴が、配線基板15の上側面の位置決め用穴又は位置決め用ピンに嵌り合って、外枠部31と配線基板15とが正確に位置決めされて支持されるようになっている。外枠部31の四隅には、固定ネジ35(図7参照)が取り付けられている。この固定ネジ35は、外枠部31の四隅の貫通穴(図示せず)を介して配線基板15のネジ穴(図示せず)にねじ込まれて、これら外枠部31と配線基板15とを固定している。
 固定用フランジ部32は、四角形の外枠部31の開口部の対向する辺(枠)の内側面に、互いに対向して2つ設けられている。各固定用フランジ部32は、互いに内側へ水平に伸びた、ほぼ半円板状に形成されている。各固定用フランジ部32の下面の高さ(配線基板15からの高さ)は、下側ハウジング16及び上側ハウジング17を重ねた高さとほぼ同じ値に設定されている。これにより、配線基板15上に重ねられた下側ハウジング16及び上側ハウジング17を、各固定用フランジ部32と配線基板15とで挟んで支持するようになっている。具体的には、固定用フランジ部32の下に上側ハウジング17と下側ハウジング16を入れた時に、下側ハウジングの下面が外枠部31の下面と同じになる。
 各固定用フランジ部32の中央には、ガイドピン37が嵌合するピン穴38が形成されている。ピン穴38の内径は、ガイドピン37の軸部40の外径とほぼ同じ寸法に設定されている。
 ここで、ガイドピン37は、頭部39と、軸部40とから構成されている。頭部39は、下側ハウジング16のピン頭部嵌合穴23の内径とほぼ同じ外径の円盤状に形成されている。軸部40は、上側ハウジング17のピン軸部嵌合穴28および固定用フランジ部32のピン穴38の内径とほぼ同じ外径の円形棒状に形成されている。
 前記下側ハウジング16のピン頭部嵌合穴23と、前記上側ハウジング17のピン軸部嵌合穴28と、前記各固定用フランジ部32のピン穴38とは、これらにガイドピン37が通れることで、同一軸心上に設けられている。
 これにより、ガイドピン37の頭部39が下側ハウジング16のピン頭部嵌合穴23に嵌合し、軸部40が上側ハウジング17のピン軸部嵌合穴28及び固定用フランジ部32のピン穴38に嵌合して、これら下側ハウジング16、上側ハウジング17及びフレーム18の位置決めを行っている。さらに、下側ハウジング16及び上側ハウジング17を、フレーム18の各固定用フランジ部32の下面と配線基板15とで上下から挟んでフレーム18の開口内に支持することで、これら配線基板15、下側ハウジング16、上側ハウジング17及びフレーム18が、互いに正確に位置決めされて一体的に固定されるようになっている。
 上下動支持用フランジ部33は、ガイド板19を上下動可能にフレーム18の開口内に支持するための部分である。上下動支持用フランジ部33は、四角形の枠体状のフレーム18の開口部の四隅にそれぞれ形成されている。各上下動支持用フランジ部33は、板部42と、ガイドネジ穴43と、スプリング穴44とから構成されている。
 板部42は、フレーム18の外枠部31の四隅に斜めに架け渡された板材である。板部42の下側面の高さは、固定用フランジ部32の下側面と同じ高さになるように設定されている。板部42の上側面の高さは、この板部42の上側面とガイド板19のフランジ部54の下側面とが互いに当接することで、被検査体12のバンプ電極13と接触子20の上端部とが最適に接触するように設定されている。具体的には、被検査体12のバンプ電極13と接触子20の上端部とが接触して、接触子20が押し縮められる状態(図9の状態)になるように、板部42の上側面の高さが設定されている。
 板部42には、ガイドネジ穴43とスプリング穴44とが設けられている。ガイドネジ穴43は、ガイドネジ46をねじ込むためのネジ穴である。このガイドネジ穴43は、各板部42の中央(図7参照)に1つ設けられている。スプリング穴44は、スプリング47を支持するための穴である。このスプリング穴44は、各ガイドネジ穴43の両側に2つづつ設けられている。
 ガイドネジ46は、ガイド板19のフレーム18の開口内における位置決めをして、かつガイド板19の上下動を許容するためのネジである。ガイドネジ46は、頭部48と、ガイド部49と、ネジ棒部50とから構成されている。
 頭部48は、ガイド板19を抑えて抜け落ちを防止する部分である。頭部48の上側面には、マイナスドライバーが嵌合するマイナス溝51が形成されている。
 ガイド部49は、ガイド板19の上下動を案内する部分である。ガイド部49は、頭部48とネジ棒部50との間に設けられ、ガイド板19のガイド穴59に嵌合して、ガイド板19の上下動を案内する。ガイド部49の長さ(高さ)は、前記頭部48の下面がガイド板19と接触して支持された状態(ガイド板19が、スプリング47で押し上げられた状態)で、接触子20の上端部が、ガイド板19の縮小部57に受け入れられるように(図8の状態になるように)、設定されている。
 ネジ棒部50は、板部42にガイドネジ46を固定するための部分である。ネジ棒部50は、板部42のガイドネジ穴43にねじ込まれて、ガイドネジ46を板部42に固定している。
 スプリング47は、ガイド板19を弾性的に支持するための部材である。スプリング47は、板部42のスプリング穴44に装着されて、ガイド板19のフランジ部54の裏面に当接されている。これにより、合計8本のスプリング47が、4本のガイドネジ46のガイド部49に上下動可能に支持されたガイド板19を下側から付勢している。これにより、ガイド板19のフランジ部54がガイドネジ46の頭部48の下面に接触するまで上方へ押し上げられて、コンタクト前の待機状態になっている。
 ガイド板19は、被検査体12を電気的接続装置11に装着する際に、この被検査体12を位置決めして支持すると共に、被検査体12の各バンプ電極13と各接触子20とを整合させるための部材である。ガイド板19は、受入凹部53と、フランジ部54とから構成されている。
 受入凹部53は、被検査体12を受け入れて支持する部分である。受入凹部53は、ほぼ四角形の皿状に形成されている。受入凹部53の内側底部は、四角形に形成され、その寸法は被検査体12よりも僅かに大きく設定されている。なおここでは、被検査体12が四角形のために、受入凹部53の内側底部も四角形に形成されているが、被検査体12が他の形状の場合は、受入凹部53の内側底部も被検査体12に合わせた形状になる。
 これにより、被検査体12が受入凹部53の内側底部に装着された状態で、被検査体12の位置決めがなされるようになっている。受入凹部53の底板部55には、多数のガイド穴56が設けられている。このガイド穴56は、被検査体12の各バンプ電極13を案内して受け入れるための開口である。各ガイド穴56は、バンプ電極13よりも僅かに大きく形成され、バンプ電極13を容易に受け入れられるようになっている。即ち、被検査体12が受入凹部53に受け入れられることで、被検査体12の各バンプ電極13が、各ガイド穴56にその上側から容易に嵌り込むことができるようになっている。
 ガイド穴56の下端部には、バンプ電極13を通さず、接触子20の上端部を受け入れる縮小部57が形成されている。この縮小部57は、接触子20の上端部を受け入れると共に貫通する事を許して、接触子20がバンプ電極13と接触する事を可能にする。
 受入凹部53の上側開口53Aの下側には、傾斜面53Bが形成されている。この傾斜面53Bは、被検査体12を案内して受入凹部53の底部に導くための面である。
 フランジ部54は、受入凹部53の4角の、フレーム18の上下動支持用フランジ部33に対応する位置に形成されている。各フランジ部54には、ガイドネジ46の頭部48が当接するザグリ部58が設けられている。このザグリ部58には、ガイドネジ46のガイド部49に上下動可能に嵌合するガイド穴59が設けられている。これにより、受入凹部53のガイド穴59がガイドネジ46のガイド部49に嵌合して上下動可能にされ、スプリング47でガイド板19が上方へ付勢されている。この状態で、被検査体12を受入凹部53に装着して下方へ押すことで、ガイド板19が押し下げられ、被検査体12のバンプ電極13と、接触子20の上端部が接触して検査が行われるようになっている。
 接触子20は、図1,10~15に示すように、第1プランジャー62と、2つの第2プランジャー63と、圧縮コイルスプリング64とから構成されている。
 第1プランジャー62は、一方の部材としての電極等(ここでは配線基板15のコンタクトパッド22)に接触するための板状のプランジャーであり、導電性の材料により切削加工、プレス加工等により、または、フォトリソ技術を用いたメッキ等により製作される。第1プランジャー62は1つ設けられている。第1プランジャー62は、結合部66と、バネ受け部67と、接触片68とから構成されている(図13参照)。第1のプランジャー62の長さは、電気的接続装置11に組み付けられた時に、配線基板15のコンタクトパッド22から上側ハウジング17の上面の高さ寸法とほぼ等しくされている。
 結合部66は、第1プランジャー62と2つの第2プランジャー63とが互いに結合される際に直接重ね合わされて、第1プランジャー62と第2プランジャー63とを電気的に接触するための部分である。結合部66は、結合棒部69と、先端挿入部70と、抜け止部71とから構成されている。
 結合部66は、長い板状に形成され、第2プランジャー63となるべく広い面積で安定して接触させることができる。結合棒部69は、後述する圧縮コイルスプリング64に支持されるための部分であり、圧縮コイルスプリング64よりも少し長い寸法に設定されている。
 結合棒部69の幅寸法は、圧縮コイルスプリング64の密着小径部84の内径とほぼ同じ寸法に設定されている。即ち、結合棒部69の断面形状の四隅部分が圧縮コイルスプリング64の密着小径部84の内径部に接する状態であり、圧縮コイルスプリング64の密着小径部84の内径部が結合棒部69の外接円となって僅かに締め付ける状態に組み付けられる(図11,12参照)。
 先端挿入部70は、組立時に結合棒部69の圧縮コイルスプリング64内への挿入を案内するための部分である。先端挿入部70は、結合棒部69の先端部(図13中の上端部)に形成されている。先端挿入部70は、差し入れる方向に対して、障害になららないように、なだらかで湾曲した傾斜面を有し、圧縮コイルスプリング64内に容易に挿入できるようになっている。さらに、先端挿入部70の厚さ寸法は、組み付けられた時に先端挿入部70が後述する2つの第2プランジャー63の接触片77の間に位置して、接触片77の突起77Aの間隔を安定させるように設定されている。
 抜け止部71は、先端挿入部70が圧縮コイルスプリング64内に挿入されたとき、この先端挿入部70が圧縮コイルスプリング64から抜けないようにするための部分である。抜け止部71は、先端挿入部70の基端部(結合棒部69と先端挿入部70の境界部分)に設けられている。即ち、抜け止部71は、バネ受け部67と反対の端部に形成されている。抜け止部71は、先端挿入部70の基端部を両側に突起させて形成されている。この両側に突起した抜け止部71の幅は、圧縮コイルスプリング64の端部の密着小径部84の内径よりも僅かにはみ出すように設定されている(図11参照)。
 バネ受け部67は、圧縮コイルスプリング64を受けるための部分である。バネ受け部67は、結合部66と接触片68との境界部分に設けられている段差である。結合部66の幅に比べて接触片68は幅を広く形成され、これらの境界の段差部分がバネ受け部67になっている。このバネ受け部67に圧縮コイルスプリング64の端部の密着小径部84が当接することで、圧縮コイルスプリング64によって第1プランジャー62が接触子22において弾性的に支持されるようになっている。
 接触片68は、一方の部材(配線基板15のコンタクトパッド22)に接触して電気的に接続するための部材である。接触片68は、結合部66の基端側(図13の下側)に続いて一体的に設けられている。接触片68は、その幅寸法が下側ハウジング16の第1支持穴16A及び上側ハウジング17の第2支持穴17Aの内径よりも少し小さい寸法のほぼ長方形板状部と、それに続くに下側ハウジング16の下側受け部16Bを貫通する長方形板上部より幅の小さい寸法の先端部で形成されている。接触片68の先端部は湾曲して形成され、平坦面状の配線基板15のコンタクトパッド22に安定して接触するようになっている。接触片68には、長方形板上部と先端部の境に下側支持肩部73が形成されている。この下側支持肩部73は、下側ハウジング16の下側受け部16Bに引っかかって、接触片68が第1支持穴16Aから抜け落ちないようになっている。下側支持肩部73が下側ハウジング16の下側受け部16Bに引っかかった状態で、接触片68の端部(図8,9の下端部)が第1支持穴16Aから下方へ突出するようになっている。
 第2プランジャー63は、第1プランジャー62と協働して一方の部材(配線基板15のコンタクトパッド22)と他方の部材(バンプ電極13)との間を電気的に導通させるための板状のプランジャーであり、導電性の材料により切削加工、プレス加工等により、またはフォトリソ技術を用いたメッキ等により製作される。第2プランジャー63は、結合部75と、バネ受け部76と、接触片77とから構成されている(図14参照)。
 第2プランジャー63は、2つ設けられ、第1プランジャー62を挟んで圧縮コイルスプリング64により組み付けられている。2つの第2プランジャー63の各結合部75が対向する状態で、第1プランジャー62の結合部66を挟み込んでいる。これにより、1つの第1プランジャー62と2つの第2プランジャー63とが電気的に接続して導通された状態で、各プランジャー62,63がコンタクトパッド22とバンプ電極13にそれぞれ接触して、これらの間を電気的に導通させる。
 2つの第2プランジャー63は、同じ形状で構成されている。同じ形状のプランジャーを対向させ構成することにより接触する部材(バンプ電極13)への良好な接触を行える。各プランジャー63は、前記第1プランジャー62を挟んだ状態で互いに独立してスライドするようになっている。これは、接触する部材(バンプ電極13)の形状が不均一な場合に、また接触する部材(バンプ電極13)がボール形状の場合に、その形状に追従して電気的接触を確実に行うようにするためである。
 結合部75は、第1プランジャー62と第2プランジャー63とが互いに結合される際に、第1プランジャー62の結合部66と重ね合わされて電気的に接触するための部分である。即ち、第1プランジャー62の結合部66を2つの第2プランジャー63の結合部75が両側から挟むように重ね合わされて、これら第1プランジャー62と第2プランジャー63とを電気的に接触するようになっている。結合部75は、結合棒部80と、先端挿入部81と、抜け止部82とから構成されている。
 結合部75は、長い板状に形成され、第1プランジャー62の結合部66と広い面積で接触させることができる。
結合棒部80は、第1プランジャー62の結合部66と重なり合わさって圧縮コイルスプリング64に支持されるための部分であり、圧縮コイルスプリング64よりも少し長い寸法に設定されている。
 結合棒部80の断面寸法(幅、厚さ寸法)は、2つの結合棒部80が第1プランジャー62の結合棒部69を両側から挟んだ状態で、1つの結合棒部69とそれを挟む2つの結合棒部80の断面形状の8つの隅部分(図11参照)が、圧縮コイルスプリング64の密着小径部84の内径部に接する状態の寸法とされている。即ち、圧縮コイルスプリング64の密着小径部84の内径が結合棒部80,69,80が結合された断面形状の外接円となる寸法に設定され僅かに締め付ける状態に組み付けられている(図11,12参照)。
結果的に、結合棒部の80の幅寸法は、第1プランジャー62の結合棒部69の幅寸法よりも狭い寸法とされる。
 先端挿入部81は、結合棒部80の圧縮コイルスプリング64内への挿入を案内するための部分である。先端挿入部81は、結合棒部80の先端部(図14中の下端部)に形成されている。先端挿入部81は、差し入れる方向に対して、障害になららないように、なだらかで湾曲した傾斜面を有し、圧縮コイルスプリング64内にスムーズに挿入できるようになっている。これにより、第1プランジャー62の結合棒部69の両側に2つの結合棒部80が重ねられた状態で、各結合棒部80の先端挿入部81が圧縮コイルスプリング64内にスムーズに挿入できるようになっている。
 抜け止部82は、先端挿入部81が圧縮コイルスプリング64内に挿入されたとき、この先端挿入部81が圧縮コイルスプリング64から抜けないようにするための部分である。抜け止部82は、先端挿入部81の基端部(結合棒部80と先端挿入部81の境界部分)に設けられている。抜け止部82は、先端挿入部81の基端部を両側に突起させて形成されている。この両側に突起した抜け止部82の幅寸法は、組み上げた時に、圧縮コイルスプリング64の端部の密着小径部84の内径よりも僅かにはみ出すように設定されている(図12参照)。即ち、第1プランジャー62の結合棒部69の両側に2つの結合棒部80が重ねられた状態で、結合棒部69の両側に重ね合わされる2つの抜け止部82の外側に位置する4つの隅部(図12に示す、抜け止部82の外側に位置する各2つの隅部)が、圧縮コイルスプリング64の端部の密着小径部84の内径よりも僅かにはみ出すように設定されている。
 バネ受け部76は、圧縮コイルスプリング64を受けるための部分である。バネ受け部76は、結合部75と接触片77との境界部分に設けられた段差である。結合部75の幅に比べて接触片77は幅を広く形成され、これらの境界の段差部分がバネ受け部76になっている。このバネ受け部76に圧縮コイルスプリング64の端部の密着小径部84が当接することで、圧縮コイルスプリング64によって第2プランジャー63が接触子22において弾性的に支持されるようになっている。
 接触片77は、他方の部材(バンプ電極13)に接触して電気的に接続するための部材である。接触片77は、結合部75の基端側(図14の上側)に続いて一体的に設けられている。接触片77は、幅寸法が上側ハウジング17の第2支持穴17Aの内径よりも少し小さい寸法のほぼ長方形板状部と、それより幅寸法が小さく上側ハウジング17の上側受け部17Bを貫通して、ガイド板19の縮小部57に入り込む幅寸法の上端部に形成されている。接触片77には、長方形板上部と先端部の境に上側支持肩部79が形成されている。この上側支持肩部79は、上側ハウジング17の上側受け部17Bに引っかかって、接触片77が第2支持穴17Aから抜け出ないようになっている。上側支持肩部79が上側ハウジング17の上側受け部17Bに引っかかった状態で、接触片77の上端部(図14参照)が第2支持穴17Aから上方へ突出するようになっている。
 各接触片77の上端部先端は、2つの突起状に形成されている。即ち、接触片77の先端の中央がU字状に窪んで凹部に形成され、その両側に2つの突起77Aが形成されている。さらに、突起77Aには、テーパ面77B(図10参照)が形成されている。これにより、2つの突起77Aは、2つの切っ先状に形成されている。前記凹部と対向する2つのテーパ面77Bが作る空間は、バンプ電極13の頂部を受入る空間として働く。これにより、バンプ電極13と、第2プランジャー63との接触時に、バンプ電極13の頂部は、前記空間に受け入れられ第2プランジャ63の先端面に接触して押しつぶされることが防止される。このテーパ面77Bは、2つの第2プランジャー63が第1プランジャー62を挟んで向き合ったときに、上方へ向けて互いに開く方向に配設される(図10,16参照)。これにより、上方へ向けて互いに開く方向に配設された2つずつの突起77Aが、図16のように、バンプ電極13に確実に接触して、図17に示すように、4つの接触点Sでバンプ電極13にそれぞれ刺さって、電気的に確実に接触するようになっている。
 さらに、テーパ面77Bは、以下の機能を発揮するようになっている。2つずつの突起77Aがバンプ電極13に接触しようとすると、突起77Aはバンプ電極の球面上を円周方向に滑ろうとして、互いに相離れる方向へ移動する力が働く。その力は第2プランジャーの突起77Aとは反対側に位置する結合部75、特に先端挿入部81を、第1プランジャ62に押しつける力として作用する。このとき、各突起77Aがバンプ電極13に押しつけられることで、第2プランジャー63は下方にずれる。これにより、第1プランジャー62と第2プランジャー63とは、互いに結合部66、75において相対的に押し付けられながら擦れて滑り、確実に接触するようになっている。
 圧縮コイルスプリング64は、図15に示すように、前記第1プランジャー62及び第2プランジャー63の結合棒部69、80の外周を覆い、かつ各バネ受け部67,76にそれぞれ当接して各プランジャー62,63を弾性的に支持しかつ前記各プランジャー62,63との間を電気的に導通させるための部材である。圧縮コイルスプリング64の両端部に、前記第1プランジャー62及び第2プランジャー63の結合部66、75積み重なって支持される。
 圧縮コイルスプリング64は、その中間部を大径、即ち第1プランジャー62の結合棒部69と、それを挟み込む2つの第2プランジャ63の結合棒部80の作る断面形状が当接しない大きさ(図11参照)に形成され圧縮コイルバネを構成している。中間部の外径は、第1プランジャー62および第2プランジャ-63の最大幅寸法より少し大きく設定されている。圧縮コイルスプリング64の両端部は小径の密着小径部84が形成されている。密着小径部84の内径は、第1プランジャー62の結合棒部69と、それを挟み込む2つの第2プランジャ63の結合棒部80の作る断面形状に外接する外接円の径よりも僅かに小さく設定されている。
これにより、接触子20は、1つの第1のプランジャー62と2つの第2のプランジャー63とを、互いにその接触片68、77を反対の向きの状態で、結合部66、75部分を重ね合わせて、圧縮コイルスプリング64により一体とされ、各バネ受け部67,76の位置で圧縮コイルスプリング64を系止して離間不能に支持し、互いにスライド可能に組み立てられている。
 以上のように構成された接触子20は、次のようにして使用される。
 まず、電気的接続装置11に被検査体12が装着される。このとき、被検査体12は、ガイド板19の受入凹部53に装着される。即ち、被検査体12は、上側開口53Aの傾斜面53Bに沿って位置決めされながら底板部55に装着される。これにより、被検査体12のバンプ電極13が底板部55のガイド穴56に受け入れられる。また、接触子20の接触片77の上端部は、縮小部57に受け入れられている。
 この状態で、被検査体12が押し下げられると、図8の状態から図9の状態のように、各バンプ電極13が各2つの第2プランジャー63の突起77Aに接触して、各接触子20が押し縮められる。
 2つの第2プランジャー63の2つの接触片77の先端の突起77Aがバンプ電極13に接触しようとする時、突起77Aはバンプ電極の球面上を円周方向に滑ろうとして、互いに相離れる方向へ移動する力が働き、各結合棒部69、80が圧縮コイルスプリング64の密着小径部に支持されていることとあいまって、その力は第2プランジャーの突起77Aとは反対側に位置する結合部75、特に先端挿入部81を、第1プランジャ62に押しつける力として作用する。これにより、第1プランジャー62と第2プランジャー63との間が、相対的に押し付けられながら擦れて滑り、電気的に確実に接触される。さらにこのとき、圧縮コイルスプリング64はその両端の密着小径部84が、第1プランジャー62のバネ受け部67と、第2プランジャー63のバネ受け部76とにそれぞれ圧接して、これらの間も電気的に確実に接触される。
 また、2つの第2プランジャー63は独立してスライドするようになっているため、バンプ電極13が変形している場合等、2つの第2プランジャー63の突起77Aの接触部分の高さが違う場合でも、2つの第2プランジャー63がその形状に追随してずれながら接触する。
 これにより、各部材(配線基板15とバンプ電極13)間が接触子20で電気的に確実に接続される。この状態で、接触子20を介して各部材間に電気信号等が伝送される。
 以上のように、第1プランジャー62と第2プランジャー63との間が電気的に確実に接触されると共に、圧縮コイルスプリング64と各プランジャー62,63との間も電気的に導通した状態が保たれるため、各部材(配線基板15とバンプ電極13)間の電気的接触性が大幅に向上する。
 また、接触子20は部品点数が少く構造が簡単であるため、故障の要因が少ないことからため、耐久性が向上する。各プランジャーは、板状で構成した事からプレス加工等で容易に製作する事が出来、さらに、接触子20の構造が簡単で、部品点数が少ないため、コスト低減を図ることができる。
 また、電気的接続装置11に被検査体12を容易に正確に装着することができ、かつ被検査体の電極を破損する事がないため、検査作業性が向上すると共に、検査精度も向上する。
 接触子20は、部品点数が少なくて構造が簡単なため、電気的接触性を長期間良好な状態に維持できると共に、耐久性を向上する。この結果、接触子20及び電気的接続装置11に対する信頼性が向上する。
[第2実施形態]
 次に、本発明の第2の実施形態に係る接触子について説明する。本実施形態の接触子は、前記第1実施形態の接触子20に対して、第1プランジャーを2つ設けて、ケルビンコンタクトを構成したものである。本実施形態の接触子の全体構成は、前記第1実施形態の接触子20とほぼ同様である。即ち、本実施形態の接触子86は、図18,19に示すように、第1プランジャー87が異なる構造になっていること、圧縮コイルスプリング64の材質が絶縁性を有する事を除いて、他の部材は前記第1実施形態と同様である。このため、同一部材には同一符号を付してその説明を省略する。
 本実施形態の接触子86では、第1プランジャー87が、第2プランジャー63と同様に2つ設けられている。2つの第1プランジャー87は同一の形状を有し、各第1プランジャー87の間には絶縁体88が設けられている。絶縁体88は、2つの第1プランジャー87の間を絶縁できる板状の部材であればよい。この絶縁体88によって、2つの第1プランジャー87及び、各第1プランジャー87にそれぞれ接触した2つの第2プランジャー63を、それぞれ絶縁する。これらは、圧縮コイルスプリング64によって絶縁された状態で、一体的に支持されている。第1プランジャー87及び第2プランジャー63の寸法は、図19に示すように、第1実施形態の接触片68や抜け止部71に対応する部分が、抜け止めのために、圧縮コイルスプリング64の密着小径部84よりも少し大きく設定されている。
 密着小径部84はその内径部が、絶縁体88、2つの第1プランジャー87及び2つの第2プランジャー63が重ねられた状態で、これらに外接する外接円になるように設定されている。密着小径部84と、第1プランジャー87及び第2プランジャー63は、互いに絶縁されている。これに合わせて、配線基板15のコンタクトパッド89も2つとされている。
 圧縮コイルスプリング64は、セラミック、エンジニアプラスチック等の絶縁材料で製作されている。また、通常の金属製のバネ材に絶縁性のコーティングを施してもよい。
 これにより、一方の第1プランジャー87と一方の第2プランジャー63とが電気的に接続され、他方の第1プランジャー87と他方の第2プランジャー63とが電気的に接続されて、2系統で信号を伝えるようになっている。
 各系統で、前記第1実施形態と同様に作用して、電気的接触性が大幅に向上する。そして、確実にケルビンコンタクトを行うことができる。
 [変形例]
 前記第1実施形態では、圧縮コイルスプリング64は、中央部が大径で、その両端部に小径の密着小径部84を形成したが、圧縮コイルスプリング64は、中央部が大径で、両端に向けて徐々に小径になるように形成されて、その両端部に最小径の密着小径部84を形成した樽型でも良く、また他の形状でもよい。
 前記第1実施形態では、密着小径部84の内径を、第1プランジャー62及び第2プランジャー63の各結合部を重ね合わせた状態の断面形状に外接する外接円の径よりも僅かに小さく設定したが、外接円の径と同じに設定してもよい。また、密着小径部84の内径を、外接円の径よりも大幅に小さく設定してもよい。第1プランジャー62及び第2プランジャー63を、導電性を保って相対的にスライド可能に支持できる径であればよい。
 前記第1実施形態では、第2プランジャー63を2つ、第1プランジャー62を1つ設けたが、第2プランジャー63及び第1プランジャー62を1つずつ設けてもよい。この場合、圧縮コイルスプリング64の両端の密着小径部84で、1つずつの第2プランジャー63及び第1プランジャー62を支持して接触子を構成する。また、第2プランジャー63を1つ、第1プランジャー62を2つ設けてもよい。これらの場合も、前記第1実施形態同様の作用、効果を奏することができる。
 本発明の接触子は、配線基板や半導体集積回路等に備えられた電極に接触される装置全般に用いることができる。
 電気的接続装置は、本発明の接触子を用いることができるすべての装置に適用することができる。

Claims (9)

  1.  一方の部材に接触する板状の第1のプランジャーと、
     板状の第2のプランジャーであって、当該第1のプランジャーと重ね合わさった状態で他方の部材に接触して前記第1のプランジャーと協働して前記一方の部材と他方の部材との間を電気的に導通させる第2のプランジャーと、
     第1のプランジャーと第2のプランジャーを互いにその接触片を反対の向きの状態に結合する部材であって、前記第1のプランジャー及び第2のプランジャーの結合部の外周を覆い、かつ各プランジャーのバネ受け部にそれぞれ当接して各プランジャーを相対的にスライド可能に支持する圧縮コイルスプリングとを備えて構成されたことを特徴とする接触子。
  2.  請求項1に記載の接触子において、
    前記第1のプランジャー及び第2のプランジャーは、前記結合部と、当該結合部より幅寸法の大きな前記接触片とで構成され、前記バネ受け部は、結合部と接触片の境界部分に設けれた段差であることを特長とする接触子。
  3.  請求項1又は2に記載の接触子において、
     前記圧縮コイルスプリングは、その中間部が大径の圧縮コイルバネであり、両端部が小径の密着コイルバネである密着小径部で構成され、
     両端部の各密着小径部の内径が、前記第1のプランジャー及び第2のプランジャーの各結合部を重ね合わせた状態の断面形状に外接する外接円の径と同じ又は小さく設定されたことを特徴とする接触子。
  4.  請求項1又は3に記載の接触子において、
     前記第1のプランジャー及び第2のプランジャーのうちいずれか一方を1つ、他方を2つ備え、一方の1つのプランジャーの結合部を他方の2つのプランジャーの結合部で挟んで構成され、一方の一つのプランジャーの結合部の幅寸法は、他方の2つのプランジャーの結合部の幅寸法より大きいことを特徴とする接触子。
  5.  請求項4に記載の接触子において、
     前記他方の2つのプランジャーが、前記一方の1つのプランジャーを挟んだ状態で互いに独立してスライドすることを特徴とする接触子。
  6.  請求項4又は5に記載の接触子において、
     前記他方の2つのプランジャーの接触片の先端が、互いに開く方向にテーパ面を備えたことを特徴とする接触子。
  7.  請求項4乃至6のいずれか1項に記載の接触子において、
     前記他方の2つのプランジャーの接触片の先端には凹部が設けられ、2つの切っ先状に形成されてることを特徴とする接触子。
  8.  請求項4乃至7に記載の接触子において、
    前記第1のプランジャー及び第2のプランジャーの結合部は、バネ受け部と反対の端部に抜け止部を形成されていることを特徴とする接触子。
  9.  被検査体の電極に接触して試験を行う電気的接続装置において、
     前記被検査体の各電極に対応する位置に配設され当該各電極に接触して通電する接触子を備え、
     当該接触子として前記請求項1乃至7のいずれか1項に記載の接触子を用いたことを特徴とする電気的接続装置。
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