JP2001091538A - 接触ピン - Google Patents
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
- G01R1/06722—Spring-loaded
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 良好な接触を有する接触ピンを得る。
【解決手段】 導電性を有する筒体１１と、この筒体１
１内に設けられたバネ１３と、筒体１１の先端部１１
ａ，１１ｂに摺動可能に設けられるとともにバネ１３で
外側方向に押圧される導電性の接触部１４あるいは１７
とを備え、接触部１４，１７には、筒体１１内から接触
ピン２６の先端部１５，１８まで貫通した孔１６，１９
を設けた構成としたものである。これにより良好な接触
を得ることができる。
１内に設けられたバネ１３と、筒体１１の先端部１１
ａ，１１ｂに摺動可能に設けられるとともにバネ１３で
外側方向に押圧される導電性の接触部１４あるいは１７
とを備え、接触部１４，１７には、筒体１１内から接触
ピン２６の先端部１５，１８まで貫通した孔１６，１９
を設けた構成としたものである。これにより良好な接触
を得ることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、検査装置などに使
用される接触ピンに関するものである。
用される接触ピンに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】以下、従来の接触ピンについて説明す
る。従来の接触ピンは、図５に示す様に導電性の筒体１
と、この筒体１の先端に設けられた接触部２と、この接
触部２をＡ方向に押圧するバネ３とで形成されていた。
そしてこの接触部２は、プリント基板４上に設けられた
パターン５に接触させて検査などを行うものであった。
る。従来の接触ピンは、図５に示す様に導電性の筒体１
と、この筒体１の先端に設けられた接触部２と、この接
触部２をＡ方向に押圧するバネ３とで形成されていた。
そしてこの接触部２は、プリント基板４上に設けられた
パターン５に接触させて検査などを行うものであった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の構成では、パターン５上にフラックス６があ
るとこのフラックス６が絶縁性のため、たとえフラック
ス６を突き破ったとしても、フラックス６の粉などによ
りパターン５と接触部２との間に良好な接触が得られな
いという問題があった。
うな従来の構成では、パターン５上にフラックス６があ
るとこのフラックス６が絶縁性のため、たとえフラック
ス６を突き破ったとしても、フラックス６の粉などによ
りパターン５と接触部２との間に良好な接触が得られな
いという問題があった。
【０００４】本発明は、このような問題点を解決するも
ので良好な接触が得られる接触ピンを提供することを目
的としたものである。
ので良好な接触が得られる接触ピンを提供することを目
的としたものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の接触ピンの接触部には、筒体内から接触ピン
の先端部まで貫通した孔を設けたものである。
に本発明の接触ピンの接触部には、筒体内から接触ピン
の先端部まで貫通した孔を設けたものである。
【０００６】これにより良好な接触が得られる。
【０００７】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、導電性を有する筒体と、この筒体内に設けられた弾
性体と、前記筒体の端部に摺動可能に設けられるととも
に前記弾性体で外側方向に押圧される導電性の接触部と
を備え、前記接触部には前記筒体内から前記接触ピンの
先端部まで貫通した孔を設けた接触ピンであり、このよ
うに接触ピン内を貫通した孔を設けることにより、この
接触ピンを押圧すると筒体内の空気が接触ピンの先端か
ら噴出してピン先端のフラックスの粉などを除去するの
で良好な接触が得られる。
は、導電性を有する筒体と、この筒体内に設けられた弾
性体と、前記筒体の端部に摺動可能に設けられるととも
に前記弾性体で外側方向に押圧される導電性の接触部と
を備え、前記接触部には前記筒体内から前記接触ピンの
先端部まで貫通した孔を設けた接触ピンであり、このよ
うに接触ピン内を貫通した孔を設けることにより、この
接触ピンを押圧すると筒体内の空気が接触ピンの先端か
ら噴出してピン先端のフラックスの粉などを除去するの
で良好な接触が得られる。
【０００８】請求項２に記載の発明は、弾性体としてバ
ネを用いた請求項１に記載の接触ピンであり、バネを用
いることによりへたりの少ない安定した接触圧を得るこ
とができる。
ネを用いた請求項１に記載の接触ピンであり、バネを用
いることによりへたりの少ない安定した接触圧を得るこ
とができる。
【０００９】請求項３に記載の発明は、筒体の両端に各
々接触部を設けた請求項１に記載の接触ピンであり、接
触ピンの両端ともに接触部を得ることができるので、検
査装置などに使用すると非常に有用である。
々接触部を設けた請求項１に記載の接触ピンであり、接
触ピンの両端ともに接触部を得ることができるので、検
査装置などに使用すると非常に有用である。
【００１０】請求項４に記載の発明の接触部の先端部
は、一点で外部の導体に接する請求項１に記載の接触ピ
ンであり、一点で接触する事により大きな力が加わり、
そのため被検査物のフラックス等を突き破って確実で良
好な接触が得られるものである。
は、一点で外部の導体に接する請求項１に記載の接触ピ
ンであり、一点で接触する事により大きな力が加わり、
そのため被検査物のフラックス等を突き破って確実で良
好な接触が得られるものである。
【００１１】請求項５に記載の発明は、接触部の先端部
は、複数の点で外部の導体に接する請求項１に記載の接
触ピンであり、複数の点で接触する事により、１点当た
りの接触圧が小さくなり、接触する相手のパターンに与
えるダメージを少なくする事ができる。
は、複数の点で外部の導体に接する請求項１に記載の接
触ピンであり、複数の点で接触する事により、１点当た
りの接触圧が小さくなり、接触する相手のパターンに与
えるダメージを少なくする事ができる。
【００１２】請求項６に記載の発明の筒体及び接触部に
は、金メッキを施した請求項１に記載の接触ピンであ
り、金メッキが施されているので電気的接触抵抗が少な
く、良好な検査特性を得ることができる。
は、金メッキを施した請求項１に記載の接触ピンであ
り、金メッキが施されているので電気的接触抵抗が少な
く、良好な検査特性を得ることができる。
【００１３】請求項７に記載の発明は、筒体に鍔を設け
た請求項１に記載の接触ピンであり、鍔が設けられてい
るので接触ピンの固定が容易であるとともに、取り付け
の寸法精度を向上させることができる。
た請求項１に記載の接触ピンであり、鍔が設けられてい
るので接触ピンの固定が容易であるとともに、取り付け
の寸法精度を向上させることができる。
【００１４】請求項８に記載の発明は、接触部の押圧力
を略１００ｇとした請求項１に記載の接触ピンであり、
このような押圧力を与える事によって、たとえば被検査
物のフラックスを突き破って確実で良好な接触が得られ
る。
を略１００ｇとした請求項１に記載の接触ピンであり、
このような押圧力を与える事によって、たとえば被検査
物のフラックスを突き破って確実で良好な接触が得られ
る。
【００１５】請求項９に記載の発明は、一方の接触部と
他方の接触部との間に一つの弾性体を設けた請求項１に
記載の接触ピンであり、このように１つの弾性体で一方
の接触部と他方の接触部の両方に同じ圧力を加える事が
できる。
他方の接触部との間に一つの弾性体を設けた請求項１に
記載の接触ピンであり、このように１つの弾性体で一方
の接触部と他方の接触部の両方に同じ圧力を加える事が
できる。
【００１６】請求項１０に記載の発明は、筒体の端部と
接触部との間に気密性を保つべくパッキンを挿入した請
求項１に記載の接触ピンであり、パッキンが挿入されて
いるので気密性が向上し筒体中の空気が漏れることがな
い。
接触部との間に気密性を保つべくパッキンを挿入した請
求項１に記載の接触ピンであり、パッキンが挿入されて
いるので気密性が向上し筒体中の空気が漏れることがな
い。
【００１７】請求項１１に記載の発明は、接触部にスパ
イラル状の溝を設けた請求項１に記載の接触ピンであ
り、スパイラル状の溝を設けることにより接触部が回転
し、たとえば被検査物のフラックスを突き破り易くなり
確実で良好な接触を得ることができる。
イラル状の溝を設けた請求項１に記載の接触ピンであ
り、スパイラル状の溝を設けることにより接触部が回転
し、たとえば被検査物のフラックスを突き破り易くなり
確実で良好な接触を得ることができる。
【００１８】請求項１２に記載の発明は、筒体と摺動部
の接触面にスカート状の接触部を設けた請求項１に記載
の接触ピンであり、筒体との摺動部の接触面にスカート
状の接触部を有しているので、筒体と接触部との間の良
好な接触が得られる。又、スカート状の接触部を設ける
ことにより接触部の長寿命化を図ることができる。
の接触面にスカート状の接触部を設けた請求項１に記載
の接触ピンであり、筒体との摺動部の接触面にスカート
状の接触部を有しているので、筒体と接触部との間の良
好な接触が得られる。又、スカート状の接触部を設ける
ことにより接触部の長寿命化を図ることができる。
【００１９】請求項１３に記載の発明は、筒体に設けら
れた一方の接触部の先端部は一点で外部の導体に接する
とともに、他方の接触部の先端部は複数の点で外部の導
体と接する請求項３に記載の接触ピンであり、この接触
ピンを検査治具等に用いることにより、検査治具のパタ
ーンに与えるダメージを与えることがなく、又、被検査
物との間で良好な接触を得ることができる。
れた一方の接触部の先端部は一点で外部の導体に接する
とともに、他方の接触部の先端部は複数の点で外部の導
体と接する請求項３に記載の接触ピンであり、この接触
ピンを検査治具等に用いることにより、検査治具のパタ
ーンに与えるダメージを与えることがなく、又、被検査
物との間で良好な接触を得ることができる。
【００２０】以下、本発明の実施の形態について、図面
を用いて説明する。
を用いて説明する。
【００２１】（実施の形態１）図１は、実施の形態１に
於ける本発明の接触ピンの部分破砕断面図である。図１
に於いて、１１は黄銅で形成された筒体でありその表面
には金メッキが施されている。又、この筒体１１はその
約中央に設けられた鍔１２を有している。１３は弾性体
としてのバネであり、筒体１１の内部に挿入してある。
そしてこの筒体１１の両端には、黄銅で形成されるとと
もに、その表面には金メッキが施されている導電性の接
触部１４が筒体１１の一方の端部１１ａの方に摺動可能
に挿入されている。又、他方にも黄銅で形成されるとと
もに、その表面には金メッキが施されている導電性の接
触部１７が、筒体１１の他方の端部１１ｂの方に摺動可
能に挿入されている。そして、バネ１３で接触部１４と
接触部１７を略１００ｇの力で押圧する様にしている。
この押圧力は、８０〜１２０ｇの間なら良いが、１００
ｇが本実施の形態に於いては最適であった。
於ける本発明の接触ピンの部分破砕断面図である。図１
に於いて、１１は黄銅で形成された筒体でありその表面
には金メッキが施されている。又、この筒体１１はその
約中央に設けられた鍔１２を有している。１３は弾性体
としてのバネであり、筒体１１の内部に挿入してある。
そしてこの筒体１１の両端には、黄銅で形成されるとと
もに、その表面には金メッキが施されている導電性の接
触部１４が筒体１１の一方の端部１１ａの方に摺動可能
に挿入されている。又、他方にも黄銅で形成されるとと
もに、その表面には金メッキが施されている導電性の接
触部１７が、筒体１１の他方の端部１１ｂの方に摺動可
能に挿入されている。そして、バネ１３で接触部１４と
接触部１７を略１００ｇの力で押圧する様にしている。
この押圧力は、８０〜１２０ｇの間なら良いが、１００
ｇが本実施の形態に於いては最適であった。
【００２２】この接触部１４の先端部１５は外部の導体
と一点で接触するようになっており、その先端角度は約
６０度にしている。従って、この様に１点で当接するの
で、被検査物に対してはフラックス等を突き破って確実
で良好な接触が得られる。又、１６はこの先端部１５か
ら筒体１１の内部まで貫通して設けられた孔である。
と一点で接触するようになっており、その先端角度は約
６０度にしている。従って、この様に１点で当接するの
で、被検査物に対してはフラックス等を突き破って確実
で良好な接触が得られる。又、１６はこの先端部１５か
ら筒体１１の内部まで貫通して設けられた孔である。
【００２３】他方の接触部１７の先端部１８は外部の導
体と複数点で接触するようになっており、先端部１８は
先端が４ツ割になっており、その角度は約５０度にして
いる。この様に、４ツ割にする事により、１点当たりの
負荷を減らすことができ、接触する相手（例えば検査装
置）に損傷を与えることを少なくしている。１９はこの
先端部１８から筒体１１の内部まで貫通して設けられた
孔である。
体と複数点で接触するようになっており、先端部１８は
先端が４ツ割になっており、その角度は約５０度にして
いる。この様に、４ツ割にする事により、１点当たりの
負荷を減らすことができ、接触する相手（例えば検査装
置）に損傷を与えることを少なくしている。１９はこの
先端部１８から筒体１１の内部まで貫通して設けられた
孔である。
【００２４】又、２０はゴムで形成されたパッキンであ
り、筒体１１と接触部１４との間の気密性を向上させて
いる。又、２１もゴムで形成されたパッキンであり、筒
体１１と接触部１７との間の気密性を向上させている。
り、筒体１１と接触部１４との間の気密性を向上させて
いる。又、２１もゴムで形成されたパッキンであり、筒
体１１と接触部１７との間の気密性を向上させている。
【００２５】この接触ピン２６のおおよその大きさは、
その長さが５．５ｍｍで、その直径は約０．９ｍｍの寸
法をしている。
その長さが５．５ｍｍで、その直径は約０．９ｍｍの寸
法をしている。
【００２６】この様に接触部１４，１７を筒体１１の両
端部１１ａ，１１ｂに設けて、その間にバネ１３を挿入
する事により、接触部１４，１７はそれぞれ常にＢ方向
に押圧されている事になる。ここで、接触部１４あるい
は接触部１７を押圧することにより、筒体１１内の空気
が孔１６を通って外部へ出るとともに、他方の接触部１
７においても孔１９を通って外部へ出ることになる。こ
の事により、この空気により接触部１４，１７の先端部
１５，１８に付着したフラックスの粉等の不純物を飛ば
して、良好な接触を得るようになっている。
端部１１ａ，１１ｂに設けて、その間にバネ１３を挿入
する事により、接触部１４，１７はそれぞれ常にＢ方向
に押圧されている事になる。ここで、接触部１４あるい
は接触部１７を押圧することにより、筒体１１内の空気
が孔１６を通って外部へ出るとともに、他方の接触部１
７においても孔１９を通って外部へ出ることになる。こ
の事により、この空気により接触部１４，１７の先端部
１５，１８に付着したフラックスの粉等の不純物を飛ば
して、良好な接触を得るようになっている。
【００２７】（実施の形態２）図２は、実施の形態２に
於ける接触ピンの断面図である。図２に於いて、実施の
形態１との相違点は、接触部２２にスパイラル状の溝２
３が形成されていることである。このようにスパイラル
状の溝２３を形成することにより、接触部２２を押圧す
るとこの接触部２２がＣ方向に回転することになる。こ
のように接触部２２が回転することにより、パターン上
などに形成されるフラックスを突き破り易くなり良好な
接触を得ることができるようにしたものである。なお、
その他の説明しないものについては実施の形態１と同様
であるので説明を簡略化する。
於ける接触ピンの断面図である。図２に於いて、実施の
形態１との相違点は、接触部２２にスパイラル状の溝２
３が形成されていることである。このようにスパイラル
状の溝２３を形成することにより、接触部２２を押圧す
るとこの接触部２２がＣ方向に回転することになる。こ
のように接触部２２が回転することにより、パターン上
などに形成されるフラックスを突き破り易くなり良好な
接触を得ることができるようにしたものである。なお、
その他の説明しないものについては実施の形態１と同様
であるので説明を簡略化する。
【００２８】（実施の形態３）図３は、実施の形態３に
於ける接触ピンの断面図である。図３に於いて、接触部
２４には筒体１１と摺動可能に接触するとともにバネ性
を有するスカート状の接触部２５が設けられていること
である。このようにスカート状の接触部２５を設けるこ
とにより、筒体１１との間で良好な接触を得ることがで
きる。なお、その他の説明しないものについては実施の
形態１と同様であるので説明を簡略化する。
於ける接触ピンの断面図である。図３に於いて、接触部
２４には筒体１１と摺動可能に接触するとともにバネ性
を有するスカート状の接触部２５が設けられていること
である。このようにスカート状の接触部２５を設けるこ
とにより、筒体１１との間で良好な接触を得ることがで
きる。なお、その他の説明しないものについては実施の
形態１と同様であるので説明を簡略化する。
【００２９】（実施の形態４）図４は、本発明の接触ピ
ン２６を検査装置に用いた例である。図４に於いて、２
７はプリント基板であり、このプリント基板２７上には
検査する電気回路２８が設けられている。又、２９はコ
ネクターであり、このコネクター２９を介して外部の検
査装置本体に接続することもできる。
ン２６を検査装置に用いた例である。図４に於いて、２
７はプリント基板であり、このプリント基板２７上には
検査する電気回路２８が設けられている。又、２９はコ
ネクターであり、このコネクター２９を介して外部の検
査装置本体に接続することもできる。
【００３０】３０は、プリント基板２７の下方に密着し
て設けられた第１の基台である。又、３１は第１の基台
３０の下方に密着して設けられた第２の基台である。そ
して、第１の基台３０と第２の基台３１は各々絶縁性を
有する樹脂で形成されておりその厚さは約３ｍｍであ
る。
て設けられた第１の基台である。又、３１は第１の基台
３０の下方に密着して設けられた第２の基台である。そ
して、第１の基台３０と第２の基台３１は各々絶縁性を
有する樹脂で形成されておりその厚さは約３ｍｍであ
る。
【００３１】ここで、接触ピン２６の一方の接触部１４
は、第１の基台３０に設けられた孔３２を貫通して、プ
リント基板２７に設けられた電気回路２８のパターンに
接続するようになっている。又、接触ピン２６の他方の
接触部１４は、第２の基台３１に設けられた孔３３を貫
通してその先端部１５は、被検査物に接触するものであ
る。ここで、被検査物に接触する先端部１５は、一点で
接触するようになっているので、被検査物に付着したフ
ラックス等の不純物を突き破って良好な接触を得ること
ができるものである。
は、第１の基台３０に設けられた孔３２を貫通して、プ
リント基板２７に設けられた電気回路２８のパターンに
接続するようになっている。又、接触ピン２６の他方の
接触部１４は、第２の基台３１に設けられた孔３３を貫
通してその先端部１５は、被検査物に接触するものであ
る。ここで、被検査物に接触する先端部１５は、一点で
接触するようになっているので、被検査物に付着したフ
ラックス等の不純物を突き破って良好な接触を得ること
ができるものである。
【００３２】又、接触ピン２６の他方の接触部１７の先
端部１８は、電気回路２８のパターンに接触する方向で
あり、この先端部１８は複数の点で接触するようになっ
ているので、電気回路２８のパターンにダメージを与え
ることはない。
端部１８は、電気回路２８のパターンに接触する方向で
あり、この先端部１８は複数の点で接触するようになっ
ているので、電気回路２８のパターンにダメージを与え
ることはない。
【００３３】１２は、接触ピン２６の約中央に設けられ
た鍔であり、この鍔１２が第１の基台３０と第２の基台
３１で挟まれることにより安定して実装される。なお、
孔３２と３３の内壁は接触ピン２６の筒体１１の外壁と
密着するようになっているので、接触ピン２６は偏芯す
ることなく固定される。
た鍔であり、この鍔１２が第１の基台３０と第２の基台
３１で挟まれることにより安定して実装される。なお、
孔３２と３３の内壁は接触ピン２６の筒体１１の外壁と
密着するようになっているので、接触ピン２６は偏芯す
ることなく固定される。
【００３４】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、接触部に
は筒体内から接触ピンの先端部まで貫通した孔を設けて
いるので、この接触ピンを押圧すると筒体内の空気が接
触ピンの先端から噴出してピン先端のフラックスの粉な
どを除去することになり良好な接触を得ることができ
る。
は筒体内から接触ピンの先端部まで貫通した孔を設けて
いるので、この接触ピンを押圧すると筒体内の空気が接
触ピンの先端から噴出してピン先端のフラックスの粉な
どを除去することになり良好な接触を得ることができ
る。
【図１】本発明の実施の形態１に於ける接触ピンの部分
破砕断面図
破砕断面図
【図２】本発明の実施の形態２に於ける接触ピンの要部
断面図
断面図
【図３】本発明の実施の形態３に於ける接触ピンの要部
断面図
断面図
【図４】本発明の接触ピンを用いた検査装置の組立図
【図５】従来の接触ピンとその近傍の断面図
１１ 筒体 １１ａ 先端部 １１ｂ 先端部 １３ バネ １４ 接触部 １５ 先端部 １６ 孔 １７ 接触部 １８ 先端部 １９ 孔
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 津山 和彦 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 三木 利信 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Ｆターム(参考） 2G011 AA04 AA07 AB01 AB04 AB07 AC02 AC13 AC14 AE01
Claims (13)
- 【請求項１】 導電性を有する筒体と、この筒体内に設
けられた弾性体と、前記筒体の端部に摺動可能に設けら
れるとともに前記弾性体で外側方向に押圧される導電性
の接触部とを備え、前記接触部には前記筒体内から前記
接触ピンの先端部まで貫通した孔を設けた接触ピン。 - 【請求項２】 弾性体としてバネを用いた請求項１に記
載の接触ピン。 - 【請求項３】 筒体の両端に各々接触部を設けた請求項
１に記載の接触ピン。 - 【請求項４】 接触部の先端部は、一点で外部の導体に
接する請求項１に記載の接触ピン。 - 【請求項５】 接触部の先端部は、複数の点で外部の導
体に接する請求項１に記載の接触ピン。 - 【請求項６】 筒体及び接触部には金メッキを施した請
求項１に記載の接触ピン。 - 【請求項７】 筒体に鍔を設けた請求項１に記載の接触
ピン。 - 【請求項８】 接触部の押圧力を略１００ｇとした請求
項１に記載の接触ピン。 - 【請求項９】 一方の接触部と他方の接触部との間に一
つの弾性体を設けた請求項１に記載の接触ピン。 - 【請求項１０】 筒体の端部と接触部との間に気密性を
保つべくパッキンを挿入した請求項１に記載の接触ピ
ン。 - 【請求項１１】 接触部にスパイラル状の溝を設けた請
求項１に記載の接触ピン。 - 【請求項１２】 筒体と摺動部の接触面にスカート状の
接触部を設けた請求項１に記載の接触ピン。 - 【請求項１３】 筒体に設けられた一方の接触部の先端
部は一点で外部の導体に接するとともに、他方の接触部
の先端部は複数の点で外部の導体と接する請求項３に記
載の接触ピン。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27081199A JP2001091538A (ja) | 1999-09-24 | 1999-09-24 | 接触ピン |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27081199A JP2001091538A (ja) | 1999-09-24 | 1999-09-24 | 接触ピン |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001091538A true JP2001091538A (ja) | 2001-04-06 |
Family
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