KR200419765Y1 - Ｐｃｂ 검사장치용 프로브 - Google Patents

Abstract

본 고안에 따르면, 대략 원기둥 형상으로 상단부로부터 중간으로 갈수록 직경이 좁아지며 상단은 지그핀과 전기적으로 접촉되고 하단은 전선과 전기적으로 결합되는 탄성부재; 및 탄성부재의 외주면에 위치하여 탄성부재를 보호하는 하우징을 구비하는 것을 특징으로 하는 PCB 검사장치용 프로브가 개시된다. 개시된 PCB 검사장치용 프로브에 의하면, 구조가 간단하여 프로브의 제조 시간 및 제조 비용을 현저하게 절감할 수 있다. 또한, 하우징이 도체이기 때문에 탄성부재와 지그핀을 용이하게 접촉할 수 있다.

PCB, 프로브, 지그핀

Description

ＰＣＢ 검사장치용 프로브{Probe for tester of printed circuit board}

도 1은 종래의 PCB 검사장치용 프로브를 나타낸 단면도,

도 2는 본 고안의 실시예에 따른 PCB 검사장치용 프로브를 나타낸 단면도,

도 3은 도 2에 도시된 PCB 검사장치용 프로브와 지그핀이 접촉된 상태를 나타낸 단면도이다.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

200...PCB 검사장치용 프로브 210...탄성부재

220...하우징 230...지그핀

240...전선 250...삽입홀

본 고안은 프로브에 관한 것으로, 보다 상세하게는 PCB 검사장치용 프로브에 관한 것이다.

일반적으로, PCB(printed circuit board)란 전기 절연성 기판에 구리와 같은 전도성 재료로 회로 라인 패턴(line pattern)을 형성시킨 것으로 전자부품을 탑재하기 직전의 기판을 말한다.

이러한 PCB에 부품이 실장되어 전자 장치에 사용되기 위해서는 겉모양, 마이크로 섹션 및 치수검사, 전기적 성능 검사, 기계적 성능 검사 등을 거쳐야 하는데, 이를 위한 검사장치는 각종 측정기기들이 내장된 테스터 및 상기 테스터와 PCB를 전기적으로 연결시켜주는 프로브 장치를 갖추고 있다. 특히 프로브 장치는 지그핀과 접촉함으로써 접속단자에 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출하는 역할을 한다.

도 1은 종래의 PCB 검사장치용 프로브를 나타낸 단면도이다.

종래의 PCB 검사장치용 프로브(100)는, 도 1에 도시한 바와 같이, 지지판(110), 핀헤드(120), 몸체(130) 및 스프링(140)으로 구성된다.

먼저, 상기 지지판(110)은 상기 PCB 검사장치용 프로브(100)를 지지하며, 전선을 관통하는 홀이 형성된다.

상기 핀헤드(120)는, 삽입공(150)에 삽입되며, 일정 두께의 원형으로 일단이 지그핀과 전기적으로 접촉될 뿐만 아니라 도체의 금속 등을 사용하여 제작된다.

또한, 상기 몸체(130)는, 상기 핀헤드(120)의 하부면 중심에 일정길이 연장 형성되며, 상기 핀헤드(120)를 지지한다.

상기 스프링(140)은, 상기 삽입공(150)에 삽입 결합된 상태로 그 후단이 상기 지지판(110)에 의해서 지지된다. 또한, 상기 핀헤드(120) 하단의 몸체(130)에 일단이 전기적으로 결합되며 타단은 전선(160)과 전기적으로 연결된다. 게다가, 상기 핀헤드(120)가 지그핀과 접촉할 때 상기 스프링(140)의 탄성력에 의해 전기적인 접촉력이 보다 향상시킨다.

그러나 상기 PCB 검사장치용 프로브(100)는 복잡한 구조를 가지므로 제조하는 시간이 오래 걸릴 뿐만 아니라 비용이 많이 드는 문제점이 있었다.

본 고안은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로, 보다 상세하게는 구조가 간단하여 제조 시간 및 제조 비용을 현저하게 절감할 수 있도록 그 구조를 개선한 PCB 검사장치용 프로브에 관한 것이다.

본 고안의 다른 목적 및 장점들은 하기에 설명될 것이며, 본 고안의 실시예에 의해 알게 될 것이다. 또한, 본 고안의 목적 및 장점들은 실용신안청구범위에 나타낸 수단 및 조합에 의해 실현될 수 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안의 PCB 검사장치용 프로브는, 대략 원기둥 형상으로 상단부로부터 중간으로 갈수록 직경이 좁아지며 상단은 지그핀과 전기적으로 접촉되고 하단은 전선과 전기적으로 결합되는 탄성부재; 및 상기 탄성부재의 외주면에 위치하여 상기 탄성부재를 보호하는 하우징을 구비한다.

여기서, 상기 탄성부재는 나선 형태인 것이 바람직하다.

또한, 상기 탄성부재는 중간으로부터 하단부로 갈수록 직경이 넓어지는 것이 바람직하다.

한편, 상기 하우징은 도체인 것이 바람직하다.

또한, 상기 하우징의 하단은 상기 전선이 관통되도록 삽입홀이 형성되는 것이 바람직하다.

게다가, 상기 하우징의 상단은 상단의 직경이 하단의 직경보다 길도록 소정의 길이로 연장 돌출되는 것이 바람직하다.

이에 앞서 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니되며, 고안자는 그 자신의 고안을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 고안의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.

따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 고안의 가장 바람직한 일실시예에 불과할 뿐이고 본 고안의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.

도 2는 본 고안의 실시예에 따른 PCB 검사장치용 프로브를 나타낸 단면도, 도 3은 도 2에 도시된 PCB 검사장치용 프로브와 지그핀이 접촉된 상태를 나타낸 단면도이다.

먼저, 도 2 및 도 3을 참조하면, 본 고안의 실시예에 따른 PCB 검사장치용 프로브(200)는 탄성부재(210) 및 하우징(220)을 포함한다.

상기 탄성부재(210)는, 대략 원기둥 형상으로 상단부로부터 중간으로 갈수록 직경이 좁아지며 상단은 지그핀(230)과 전기적으로 접촉되고 하단은 전선(240)과 전기적으로 결합된다. 여기서, 상기 지그핀(230)은, 상기 PCB 검사장치용 프로브(200)와 접촉함으로써 접속단자에 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출하는 역할을 한다.

또한, 상기 탄성부재(210)는 나선 형태로 상기 지그핀(230)과의 전기적인 접촉을 보다 용이하게 이루어질 수 있도록 하며, 일반적으로 전기 또는 열을 잘 통하는 물체인 은, 구리, 쇠, 알루미늄 등을 사용한다.

상기 하우징(220)은, 상기 탄성부재(220)의 외주면에 위치하여 상기 탄성부재(220)를 보호하며, 하단은 상기 전선(240)이 관통되도록 삽입공(250)이 형성된다. 또한, 상기 하우징(220)은 상기 탄성부재(210)를 외부환경으로부터 보호할 뿐만 아니라 상기 탄성부재(210)의 이탈을 방지한다.

게다가, 상기 하우징(220)은 도체로써 알루미늄, 구리, 쇠와 같이 열이나 전기가 전달되기 쉬운 금속을 사용하여 제작되기 때문에 상기 탄성부재(210) 또는 지그핀(230)이 휘거나 상기 탄성부재(210)와 지그핀(230)이 완전히 접촉이 되지 않아도 상기 지그핀(230)과 상기 하우징(220)이 접촉되어 전기적으로 연결될 수 있다.

또한, 상기 하우징(220)의 상단은 상단의 직경이 하단의 직경보다 길도록 소정의 길이로 연장 돌출되는 것이 바람직하다.

여기서, 소정의 길이란 상기 PCB 검사장치용 프로브(200)를 지지하거나 검사장치에 결합하기 위하여 설정되는 기준값을 의미하는 것으로서, 상기 탄성부재(210)의 크기 및 탄성력의 정도, 상기 하우징(220)의 두께 등에 따라 결정되는 기준값을 의미한다.

도 3에 도시된 바와 같이, 상기 지그핀(230)의 일단은 상기 탄성부재(210)의 내면과 전기적으로 접촉하여 PCB의 전기적 성능을 검사할 수 있다.

한편, 상기 탄성부재(210)는 중간으로부터 하단부로 갈수록 직경이 넓어지기 때문에, 상기 탄성부재(210)를 지지할 수 있을 뿐만 아니라 휨을 방지할 수 있다.

이상과 같이, 본 고안은 비록 한정된 실시 예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 고안은 이것에 한정되지 않으며 본 고안이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 고안의 기술 사상과 아래에 기재될 실용신안청구범위의 균등 범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능함은 물론이다.

본 고안에 따르면, PCB 검사장치용 프로브는 구조가 간단하여 프로브의 제조 시간 및 제조 비용을 현저하게 절감할 수 있다.

또한, 하우징이 도체이기 때문에 탄성부재와 지그핀을 용이하게 접촉할 수 있다.

Claims (6)

1. 대략 원기둥 형상으로 상단부로부터 중간으로 갈수록 직경이 좁아지며 상단은 지그핀과 전기적으로 접촉되고 하단은 전선과 전기적으로 결합되는 탄성부재; 및

   상기 탄성부재의 외주면에 위치하여 상기 탄성부재를 보호하는 하우징을 구비하는 것을 특징으로 하는 PCB 검사장치용 프로브.
2. 제 1항에 있어서,

   상기 탄성부재는 나선 형태인 것을 특징으로 하는 PCB 검사장치용 프로브.
3. 제 2항에 있어서,

   상기 탄성부재는 중간으로부터 하단부로 갈수록 직경이 넓어지는 것을 특징으로 하는 PCB 검사장치용 프로브.
4. 제 1항에 있어서,

   상기 하우징은 도체인 것을 특징으로 하는 PCB 검사장치용 프로브.
5. 제 4항에 있어서,

   상기 하우징의 하단은 상기 전선이 관통되도록 삽입홀이 형성되는 것을 특징 으로 하는 PCB 검사장치용 프로브.
6. 제 5항에 있어서,

   상기 하우징의 상단은 상단의 직경이 하단의 직경보다 길도록 소정의 길이로 연장 돌출되는 것을 특징으로 하는 PCB 검사장치용 프로브.

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