KR200307494Y1 - 검사용 탐침장치 - Google Patents

Abstract

본 고안은 검사용 탐침장치에 관한 것으로, 상하가 개구되고 내측으로 절곡된 절곡홈이 원통둘레에 형성된 외통(10)과; 상기 외통 내부에 수용되어 외통 양단부 외부로 연장형성되며, 상기 절곡홈에 끼워지는 코일스프링(20);으로 구성되어 스프링이 검사대상물의 검사접촉면 및 회로기판과 직접 접촉하여 전류가 흐르게 됨을 기술적 요지로 하여, 검사시험 시 부품표면의 정밀도에 크게 좌우되지 않고 균등한 접촉저항을 가짐으로써 검사신뢰성을 향상시키고, 부품수가 감소되는 개선된 구조를 실현시켜 생산성을 높이는 효과를 가지는 검사용 탐침장치에 관한 것이다.

Description

검사용 탐침장치{probe}

본 고안은 검사용 탐침장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 코일스프링을 외통 양단부 외부로 연장시킴으로써 접촉핀과 탄성복원부가 일체화되어 부품수를 감소시키고 조립성을 향상시킬 수 있는 검사용 탐침장치에 관한 것이다.

일반적으로, 전자제품 내에는 다수의 칩이 장착되어 있으며, 이들 칩은 전자제품의 성능을 결정하는 중요한 역할을 한다. 칩은 반도체의 얇고 작은 조각판 표면에 구성된 논리 소자로 인해 각각 다양한 기능을 수행하게 되는 집적회로로, 회로기판으로부터 전해진 전기적 신호 등이 버스를 통해 전송되어 이러한 작용이 이루어지게된다.

회로기판(PCB, printed circuit board)은 절연체인 에폭시 또는 베이클라이트 수지 등으로 만든 얇은 기판에 전도체인 구리가 회로배선을 형성하며 도포된 형태로 구성되어 있으며, 집적회로, 저항기 또는 스위치 등의 전기적 부품들이 회로배선 상에 납땜됨으로써 이 인쇄 회로 기판에 설치된다.

마이크로 칩(Micro-chip)은 이러한 회로기판의 전자회로가 고밀도로 집적되어 만들어진 칩으로, 전자제품에 칩이 장착되어 조립완성되기 전에 정상적인 상태인지를 확인하기 위하여 검사장치에 의하여 검사되는 과정을 필수적으로 거치게 된다. 이러한 검사 방법으로 칩을 검사용 소켓장치에 장착함으로써 검사를 수행하는 방법이 있으며, 이러한 소켓장치 내에서 칩의 파손 없이 검사가 이루어지도록 하기위해 검사용 탐침장치가 장착되어 사용된다.

도 1은 이러한 검사용 탐침장치를 사용하여 검사대상물을 검사하는 상태를도시한 상태도이다. 검사용 회로기판 상에는 검사용 소켓(103)이 장착되어 있고, 소켓(103)의 상부에는 검사대상물인 마이크로 칩(102)이 놓여져 검사를 받을 수 있도록 되어있다. 검사용 소켓(103)에는 다수개의 검사용 탐침장치(105)가 장착되어, 전류가 검사대상용 마이크로 칩(102)의 여러지점에 접촉된 탐침장치(105)의 상부말단부로부터 탐침장치(105) 몸체부 및 탐침장치 하단부의 접촉핀을 통해 회로기판 측으로 흐름으로써, 검사대상용 칩의 검사가 수행될 수 있도록 되어있다.

도 2는 종래의 검사용 탐침장치(105)를 나타낸 종단면도를 도시한 것으로, 상하가 개구되고 양단부에 내측으로 절곡된 절곡부가 형성된 외통(111) 양단부에 외통내벽면과 접촉되어 상하로 유동되는 한쌍의 접촉핀(117)이 각각 수용되어 있으며, 상기 외통 내부에 코일스프링(121)이 상기 한쌍의 접촉핀(117)의 단부에 각각 접촉됨으로써 접촉핀(117)이 탄성적으로 지지될 수 있도록 되어있다.

상기의 검사용 탐침장치는 외통내벽면과 접촉핀 외표면 등 접촉부의 형상정밀도에 의해 접촉저항이 크게 좌우되고 상호연관적으로 구성되어있어, 부품 제작 및 조립과정에서 정밀성이 요구되므로 제조비용이 많이 소요되고 조립이 번거로워 생산성이 낮아지는 문제점이 있다.

또한 검사시험 시, 탄성력 및 복원력이 낮은 접촉핀에 집중적으로 충격이 가해짐으로써 반복적인 사용에 의해 수명이 급격히 낮아지는 단점이 있다.

따라서, 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 본 고안은 부품표면의 정밀도에 크게 좌우되지 않고 비교적 균등한 접촉저항을 가지며, 검사시험 시 충격을 집중적으로 받는 접촉핀의 탄성력을 향상시킴으로써 수명을 높이고, 부품수가 감소되는 개선된 구조를 실현시켜 생산성을 향상시킬 수 있는 검사용 탐침장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

도 1 - 검사용 탐침장치를 사용하여 검사대상물을 검사하는 상태를 도시한 상태도

도 2 - 종래의 검사용 탐침장치를 나타낸 종단면도

도 3 - 본 고안의 제 1 실시예에 따른 검사용 탐침장치를 나타낸 종단면도

도 4 - 도 3의 탐침장치를 통해 전류가 흐르는 상태를 도시한 상태도

도 5 - 본 고안의 제 2실시예에 따른 검사용 탐침장치를 나타낸 종단면도

도 6 - 본 고안의 제 3실시예에 따른 검사용 탐침장치를 나타낸 종단면도

도 7 - 본 고안의 제 4실시예에 따른 검사용 탐침장치를 나타낸 종단면도

<도면에 사용된 주요부호에 대한 설명>

10 : 외통 11 : 절곡부

20 : 코일스프링 21 : 상부 코일스프링

22 : 하부 코일스프링 30 : 접촉핀

31 : 접촉부 32 : 접촉편부

40 : 전도체

상술한 바와 같은 목적달성을 위한 본 고안은, 상하가 개구되고 내측으로 절곡된 절곡홈이 원통둘레에 형성된 외통(10)과;상기 외통(10) 내부에 수용되어 외통 양단부 외부로 연장형성되며, 상기 절곡홈에 끼워지는 코일스프링(20);으로 구성되어 코일스프링(20)이 검사대상물의 검사접촉면 및 회로기판과 직접 접촉하여 전류가 흐르게됨을 기술적 요지로 하는 검사용 탐침장치에 관한 것이다.

이에 따라 검사시험 시 부품들간에 일정한 접촉면적을 가짐으로써 각각의 탐침장치가 균등한 성능을 가지며, 충격을 집중적으로 받는 접촉부의 탄성력이 향상되어 수명이 높아지고, 부품수가 감소되어 제조 및 조립과정이 개선되는 이점이 있다.

이하로부터 본 고안의 바람직한 실시예에 대해 도면을 참조하면서 보다 상세하게 설명하기로 한다.

<제 1실시예>

도 3은 본 고안의 제 1 실시예에 따른 검사용 탐침장치를 나타낸 종단면도이며, 도 4는 도 3의 탐침장치를 통해 전류가 흐르는 상태를 도시한 상태도이다.

상기의 외통(10)은 상하가 개구되고 내부가 빈 원통형상으로 구성되며, 내측으로 절곡된 절곡홈이 횡방향으로 원통둘레 전체에 걸쳐 형성되어 있다.

상기의 절곡홈은 상기 외통(10)의 내측이 내부에 수용되는 코일스프링(20)과 맞물리는 원주를 형성할 정도로 절곡되며 상기 외통(10) 양단부에 인접한 지점에 형성되어, 검사대상물의 검사접촉면 및 회로기판과 접촉되는 코일스프링(20) 돌출부의 사이즈를 결정하고, 소켓으로부터의 가압 시, 상기 코일스프링(20) 돌출부가 상기 외통(10) 내측방향으로 소정길이 이상 함몰되지 않도록 코일스프링(20)을 고정시킨다.

상기의 코일스프링(20)은 상기 외통(10) 내부에 수용되어 외통(10) 양단부 외부로 연장형성되며, 상기 외통(10) 내부에 코일스프링(20)이 수용된 상태에서 롤링처리하여 형성된 절곡홈에 끼워져 고정된다.

따라서, 검사용 탐침장치를 구성하는 부품들간의 접촉부가 면상으로 형성되어 있지 않음으로써 형상정밀도에 의해 접촉저항이 크게 좌우되지 않고, 부품들간의 접촉부를 형성하기위한 제작과정이 간소화되며, 검사대상물 및 회로기판과 접촉되는 돌출부가 탄성력 및 복원력을 가짐으로써 검사용 탐침장치의 수명이 연장된다.

상기와 같이 구성되는 본 고안에 따른 검사용 탐침장치를 통해 전기적인 연결이 이루어지는 과정을 설명한다.

소켓에 설치된 가압부가 소켓의 상부에 안착된 검사대상물을 하방으로 가압합으로써 검사대상물의 검사접촉면은 탐침장치의 코일스프링(20)의 상부 돌출부와 접촉하게 된다. 이에따라 상기의 외통(10) 및 코일스프링(20)은 회로기판 표면까지 하방으로 이동하게되며, 동시에 코일스프링(20)의 상하 돌출부는 검사대상물의 검사접촉면과 회로기판에 각각 접촉된 상태에서 상기 외통(10)의 절곡홈에 걸려 압축되어 원통형상을 형성하게된다.

이 상태에서, 전류는 검사대상물로부터 코일스프링(20) 상부 돌출부와의 접촉을 통해 탐침장치로 전해지며, 상기 코일스프링(20) 상부 돌출부와 접촉하는 외통(10)의 절곡홈 내벽면을 통해 외통(10)의 몸체부 측으로 흘러서 외통(10) 하단부의 코일스프링(20) 하부 돌출부를 통해 회로기판으로 흘러가게 된다. 그리고, 검사대상물로부터 전해진 전류의 일부는 코일스프링(20)을 통해서 그대로 회로기판 측으로 흐르게 되며, 검사대상물의 논리구조에 따라 회로기판으로부터 검사대상물로의 전류 흐름도 동시에 이루어진다. 따라서, 회로기판의 전류가 검사장치의 탐침장치를 통해 흐르게 됨으로써, 검사대상물이 검사될 수 있게 된다.

검사를 마친 후에는 소켓의 가압부가 검사대상물을 가압해제함으로써, 상기 코일스프링(20)의 상부 돌출부가 검사대상물의 검사접촉면으로부터 이탈되고, 코일스프링(20)의 상하부 돌출부가 탄성복원력에 의해 검사전의 위치로 복귀하게 된다.

<제 2실시예>

다음으로는 본 고안의 제 2실시예에 대해 설명하기로 하며, 도 5는 본 고안의 제 2실시예에 따른 검사용 탐침장치를 나타낸 종단면도이다.

그 기본적인 구성은 언급한 제 1실시예의 경우와 같이 외통(10) 및 코일스프링(20)으로 이루어지며, 상기의 외통(10)은 상하가 개구되고 내부가 빈 원통형상으로, 내측으로 절곡형성된 횡방향의 절곡홈을 가지는 상기의 제 1실시예의 외통(10)과 동일하다.

상기의 코일스프링(20)은 상부 코일스프링(21)과 하부 코일스프링(22)으로 분리되어 상기 외통(10) 내부에 수용되어 외통 양단부 외부로 연장형성되며, 상기 외통(10) 내부로 절곡된 절곡홈에 끼워져 고정된다.

따라서, 본 실시예에 따른 검사용 탐침장치는 제 1실시예에 따른 검사용 참침장치와 비교해 전기적인 연결이 이루어지는 과정에서 차이가 없으면서도, 상부 코일스프링(21)과 하부 코일스프링(22) 사이에 해당하는 소재만큼을 절약하게 되고 무게를 감소시키는 효과를 얻게된다.

<제 3실시예>

다음으로 또 다른 하나의 실시예에 대해 설명하기로하며, 도 6은 이러한 본 고안의 제 3실시예에 따른 검사용 탐침장치를 나타낸 종단면도를 도시하고 있다.

본 실시예는 상기에서 언급한 제 2실시예의 경우와 같이 상하가 개구되고 내측으로 절곡형성된 횡방향의 절곡홈을 가지는 외통(10)과, 상기 외통(10) 내부에 수용되어 외통(10) 양단부 외부로 연장되는 상부 코일스프링(21) 및 하부 코일스프링(22)을 갖추고 있다.

그리고, 동을 주성분으로하여 원주형상으로 형성된 전도체(40)가 상기 상부 코일스프링(21)과 하부 코일스프링(22) 및 상기 외통(10)의 내벽과 접촉되도록 수용되어, 상기의 상부 및 하부 스프링과 외통(10)을 연결시킨다.

검사시험 시, 전류는 검사대상물로부터 상부 코일스프링(21)을 통해 상기 외통(10)의 몸체부 및 전도체(40)로 흘러서 하부 코일스프링(22)을 통해 회로기판으로 흘러가게 되며, 전류의 일부는 상부 코일스프링(21)에서 전도체(40)를 통해 하부 코일스프링(22)으로 흐르게 된다.

따라서, 본 실시예에 따른 검사용 탐침장치는 상기의 전도체(40)를 수용함으로써, 상기 코일스프링(21,22)의 외주부와 상기 외통(10)의 절곡홈만을 통해 전류가 전해지던 한정된 접촉경로에 전도체(40)로 연결되는 안정된 접촉경로를 부가적으로 제공함으로써 접촉저항을 감소시키는 이점이 있다.

<제 4실시예>

다음으로 또 다른 하나의 실시예에 대해 설명하기로하며, 도 7은 이러한 본 고안의 제 4실시예에 따른 검사용 탐침장치를 나타낸 종단면도를 도시한 것이다.

본 실시예는 제 1실시예와 같이 상하가 개구되고 내측으로 절곡된 절곡홈이 원통둘레에 형성되는 외통(10)과 상기 외통(10)의 절곡홈에 끼워져 외통(10) 외부로 연장형성되는 코일스프링(20)을 갖추고 있으나, 상기 외통(10)의 일측단부에 내측으로 절곡된 절곡부(11)가 형성되고, 상기 절곡부(11)가 형성된 외통(10) 단부 내부에 외통내벽면을 따라 상하로 유동되는 접촉핀(30)을 수용하고 있다.

상기의 접촉핀(30)은 상기 코일스프링과 접촉되는 원뿔형상의 단면부와 외통내벽면과 접촉되는 원통부로 구성되는 접촉부(31)와, 상기 접촉부(31)와 일체로 형성되며 상기 외통(10) 단부 내부에 수용되어 외부로 돌출되는 접촉첨부(32)로 구성된다. 상기의 접촉부(31)는 상기 외통의 내벽면에 접촉되어 접촉핀의 측면유동을 방지하고 상하로만 안정되게 유동되도록 하며, 상기의 접촉첨부(32)는 검사대상물이나 회로기판에 직접접촉되어 상호간을 전기적으로 연결시킨다.

상기의 코일스프링(20)에 의해 외통(10) 외부방향으로의 압력을 받게되는 상기의 접촉핀(30)은 상기의 접촉부(31)가 상기 외통(10)의 절곡부(11) 단부과 접촉되는 접촉첨부(32) 보다 큰 지름을 가지도록 형성됨으로써 상기 외통(10)의 절곡부(11) 내벽면에 걸리게되어, 상기 접촉핀(30)이 외통 외부로 무단돌출되는 것이 방지된다.

검사시험 시, 전류는 검사대상물로부터 상기 코일스프링(20)을 통해 상기 외통(10)의 몸체부로 흘러서 접촉핀(30)을 통해 회로기판으로 흘러가게 되며, 전류의 일부는 상기 코일스프링(20)을 통해 직접 접촉핀으로 흘러서 회로기판으로 흐르게 된다.

따라서, 본 실시예에 따른 검사용 탐침장치는 상기 외통(10)의 양단부에 각각 코일스프링(20)과 접촉핀(30)을 설치함으로써, 검사시험 시 충격을 집중적으로 받는 접촉부의 탄성력이 향상되어 탐침장치의 수명이 높아지는 이점과 상기 접촉핀의 접촉면적에 해당하는 안정된 접촉경로를 제공함으로써 검사신뢰성이 향상되는 이점을 동시에 가진다.

상술한 바와 같은 구성에 의한 본 고안은, 각각의 탐침장치가 균등한 성능을 가짐으로써 검사신뢰성을 향상시키는 효과가 있으며, 충격을 집중적으로 받는 접촉부의 탄성력이 향상되어 수명이 높아지고, 외통 및 코일스프링으로 부품수가 감소되어 비용이 절감되고 조립이 간단해지는 다른 효과가 있다.

Claims (4)

1. 상하가 개구되고 내측으로 절곡된 절곡홈이 원통둘레에 형성된 외통(10)과;

   상기 외통(10) 내부에 수용되어 외통(10) 양단부 외부로 연장형성되며, 상기 절곡홈에 끼워지는 코일스프링(20);으로 구성됨을 특징으로 하는 검사용 탐침장치.
2. 제 1항에 있어서, 상기 코일스프링(20)은 상하로 분리되어 상기 절곡홈에 끼워짐을 특징으로 하는 검사용 탐침장치.
3. 제 2항에 있어서, 상기 분리된 코일스프링(21,22) 사이에 원주형상으로 형성되며 상기 외통(10)의 내벽과 접촉하는 전도체(40)를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 검사용 탐침장치.
4. 상하가 개구되고 내측으로 절곡된 절곡홈이 원통둘레에 형성되며, 일측단부에 내측으로 절곡된 절곡부(11)가 형성된 외통(10)과;

   상기 절곡부가 형성된 외통(10) 단부 내부에 수용되어 외부로 돌출되며, 외통내벽면과 접촉되는 접촉부(31)가 형성되어 상하로 유동되는 접촉핀(30)과;

   상기 외통(10) 내부에 수용되어 일측은 상기 접촉핀(30)의 접촉부(31) 단부에 접촉되고, 타측은 상기 외통(10)의 절곡홈에 끼워져 외통(10) 외부로 연장형성되는 코일스프링(20);으로 구성됨을 특징으로 하는 검사용 탐침장치.