KR200352411Y1 - 검사용 탐침장치 - Google Patents

Abstract

본 고안은 검사용 탐침장치에 관한 것으로, 회로기판의 접촉단자에 접촉되는 돌기가 구비된 탐침부(10)와; 상기 탐침부(10) 상측에 일체로 연결형성되며, 상기 탐침부(10)보다 확장된 직경으로 형성됨에 따라 상하방으로의 걸림턱을 구비하여 소켓구(1)에 장착되는 소켓결합부(20)와; 상기 소켓결합부(20) 상측에 일체로 연결형성되며, 얇은 두께를 가지고 소정높이로 상방돌설됨에 따라 탄성적으로 절곡가능하고 상측이 개방된 중앙공간부를 이루도록 배치형성된 다수의 탄성돌기(31)가 구비되어 검사대상물의 접촉단자(2)에 탄성적으로 접촉되는 탄성접촉부(30);를 포함하여 구성됨을 기술적 요지로 하여, 간결한 구조로 이루어지고 일체로 제작됨에 따라 별도의 부품제작 및 조립과정이 이루어질 필요가 없어 생산성 및 조립성이 향상되고 제조원가가 절감되며, 일체로 형성된 개별의 탐침장치가 일정한 접촉저항을 가지게 되어 균등한 성능을 가짐으로써 검사신뢰성을 향상시킬 수 있고, 검사시험 시 탄성접촉부 및 탐침부와 검사대상물 및 회로기판의 접촉단자간 접촉이 안정되게 이루어지며, 검사시험 시 가해지는 압력 및 충격을 탄성접촉부의 절곡에 의해 안정적으로 상쇄시키는 검사용 탐침장치에 관한 것이다.

Description

검사용 탐침장치{probe}

본 고안은 검사용 탐침장치에 관한 것으로, 회로기판에 접촉되는 탐침부와, 소켓구에 결합되는 걸림턱이 구비된 소켓결합부와, 다수가 원형을 이루며 배치되며 탄성적으로 절곡가능함에 따라 내부공간부 상단 직경을 유연하게 확장시킬 수 있는 다수의 탄성돌기가 구비된 탄성접촉부가 일체로 연결형성되어 제작이 용이함에 따라 생산성을 향상시키고 제조원가를 절감시킬 수 있으며 검사대상물 및 회로기판의 접촉단자간 접촉이 안정되게 이루어지는 검사용 탐침장치에 관한 것이다.

일반적으로, 전자제품 내에는 다수의 칩이 장착되어 있으며, 이들 칩은 전자제품의 성능을 결정하는 중요한 역할을 한다. 칩은 반도체의 얇고 작은 조각판 표면에 구성된 논리 소자로 인해 각각 다양한 기능을 수행하게 되는 집적회로로, 회로기판으로부터 전해진 전기적 신호 등이 버스를 통해 전송되어 이러한 작용이 이루어지게된다.

회로기판(PCB, printed circuit board)은 절연체인 에폭시 또는 베이클라이트 수지 등으로 만든 얇은 기판에 전도체인 구리가 회로배선을 형성하며 도포된 형태로 구성되어 있으며, 집적회로, 저항기 또는 스위치 등의 전기적 부품들이 회로배선 상에 납땜됨으로써 이 인쇄 회로 기판에 설치된다.

마이크로 칩(Micro-chip)은 이러한 회로기판의 전자회로가 고밀도로 집적되어 만들어진 칩으로, 전자제품에 칩이 장착되어 조립완성되기 전에 정상적인 상태인지를 확인하기 위하여 검사장치에 의하여 검사되는 과정을 필수적으로 거치게 된다. 이러한 검사 방법으로 칩을 검사용 소켓장치에 장착함으로써 검사를 수행하는 방법이 있으며, 이러한 소켓장치 내에서 칩의 파손 없이 검사가 이루어지도록 하기위해 검사용 탐침장치가 장착되어 사용된다.

검사용 회로기판 상에는 상부에 검사대상물인 마이크로 칩이 놓여져 검사를 받을 수 있도록 검사용 소켓이 장착되어있다. 검사용 소켓에는 다수개의 검사용 탐침장치가 장착되어 마이크로 칩에 접촉하게 되며, 전류가 검사대상용 마이크로 칩의 여러지점에 접촉된 탐침장치의 상부말단부로부터 탐침장치 몸체부 및 탐침장치 하단부의 접촉핀을 통해 회로기판 측으로 흐름으로써, 검사대상용 칩의 검사가 이루어진다.

도 1은 종래의 검사용 탐침장치(105)를 나타낸 종단면도를 도시한 것으로, 상하가 개구되고 양단부에 내측으로 절곡된 절곡부가 형성된 외통(111) 양단부에 외통내벽면과 접촉되어 상하로 유동되는 한쌍의 접촉핀(117)이 각각 수용되어 있으며, 상기 외통 내부에 코일스프링(121)이 상기 한쌍의 접촉핀(117)의 단부에 각각 접촉됨으로써 접촉핀(117)이 탄성적으로 지지될 수 있도록 되어있다.

상기 검사용 탐침장치는 외통내벽면과 접촉핀 외표면 등 구성요소 상호간의 형상정밀도에 의해 접촉저항이 크게 좌우되며, 구성요소간의 접촉부도 접촉면적을 형성하기 위한 상호연관적인 형상을 가지고있어, 별도의 부품 제작 및 조립과정에서 정밀성이 요구됨에 따라 제조비용이 많이 소요되고, 조립이 번거로워 생산성이 낮아지는 문제점이 있었다.

또한 검사 시험 시 반복적으로 충격이 가해지는 접촉핀의 수명을 향상시키기 위해서 탄성력과 복원력을 부여하는 탄성스프링을 필수 구성요소로 구비함으로써 얇은 선재로 이루어진 탄성스프링과 다른 구성요소와의 접촉면적이 고르게 발생되기 어려워 검사시험 시 개별의 탐침장치가 서로 다른 접촉저항을 가지게 되는 문제점이 있었다.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 본 고안은, 일체로 형성됨에 따라 별도의 부품 제작 및 조립과정이 이루어질 필요가 없어 생산성 및 조립성이 향상되고 제조원가가 절감되는 검사용 탐침장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.

또한, 일체로 형성된 개별의 탐침장치가 일정한 접촉저항을 가지게 되어 균등한 성능을 가짐으로써 검사신뢰성을 향상시킬 수 있는 검사용 탐침장치를 제공하는 것을 다른 목적으로 한다.

도 1 - 종래의 검사용 탐침장치를 나타낸 종단면도.

도 2 - 본 고안에 따른 검사용 탐침장치의 일실시예를 도시한 사시도.

도 3 - 본 고안에 따른 검사용 탐침장치의 일실시예의 사용상태를 도시한 사시도.

<도면에 사용된 주요 부호에 대한 설명>

1 : 소켓구 2 : 검사대상물 접촉단자

10 : 탐침부 20 : 소켓결합부

21 : 함몰홈 30 : 탄성접촉부

31 : 탄성돌기

상기와 같은 목적달성을 위한 본 고안은, 회로기판의 접촉단자에 접촉되는 돌기가 구비된 탐침부(10)와; 상기 탐침부(10) 상측에 일체로 연결형성되며, 상기 탐침부(10)보다 확장된 직경으로 형성됨에 따라 상하방으로의 걸림턱을 구비하여 소켓구(1)에 장착되는 소켓결합부(20)와; 상기 소켓결합부(20) 상측에 일체로 연결형성되며, 얇은 두께를 가지고 소정높이로 상방돌설됨에 따라 탄성적으로 절곡가능하고 상측이 개방된 중앙공간부를 이루도록 배치형성된 다수의 탄성돌기(31)가 구비되어 검사대상물의 접촉단자(2)에 탄성적으로 접촉되는 탄성접촉부(30);를 포함하여 구성되는 검사용 탐침장치를 기술적 요지로 한다.

여기서, 상기 소켓결합부(20)는, 내부공간부를 형성하는 함몰홈(21);을 포함하여 구성됨이 바람직하다.

따라서, 간결한 구조로 이루어지고 일체로 제작됨에 따라 별도의 부품제작 및 조립과정이 이루어질 필요가 없어 생산성 및 조립성이 향상되고 제조원가가 절감된다는 이점이 있다.

또한, 일체로 형성된 개별의 탐침장치가 일정한 접촉저항을 가지게 되어 균등한 성능을 가짐으로써 검사신뢰성을 향상시킬 수 있다는 다른 이점이 있다.

그리고, 검사시험 시 탄성접촉부 및 탐침부와 검사대상물 및 회로기판의 접촉단자간 접촉이 안정되게 이루어지며, 검사시험 시 가해지는 압력 및 충격을 탄성접촉부의 절곡에 의해 안정적으로 상쇄시킨다는 다른 이점이 있다.

상기와 같은 구성을 가지는 본 고안을 다음의 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다. 도 2는 본 고안에 따른 검사용 탐침장치의 일실시예를 도시한 사시도이고, 도 3은 본 고안에 따른 검사용 탐침장치의 사용상태를 도시한 사시도이며, 도 4는 본 고안에 따른 검사용 탐침장치의 일실시예가 소켓구에 결합된 상태를 도시한 종단면도이다.

본 고안에 따른 검사용 탐침장치는 하측으로부터 탐침부(10), 소켓결합부(20), 탄성접촉부(30)로 구성되고 일체로 이루어지며, 소켓구(2)와의 결합 시 상기 소켓결합부(20)는 소켓구(1) 내측에 결합되고, 상기 탐침부(10)는 상기 소켓결합부(20) 하측에 형성되어 상기 소켓구(1) 하측으로 돌출설치되며, 상기 탄성접촉부(30)는 상기 소켓결합부(20) 상측에 형성되어 상기 소켓구(1) 상측으로 돌출설치된다.

검사시험 시 본 고안에 따른 검사용 탐침장치는 상기 소켓결합부(20)에 의해 상기 소켓구(1)에 고정결합된 채 상기 탄성접촉부(30)와 탐침부(10)의 상하단부가 상기 소켓구(2) 상하측의 검사대상물의 접촉단자(2) 및 회로기판의 접촉단자에 각각 접촉됨에 따라 전기적인 연결이 이루어지게 된다.

본 고안에 따른 검사용 탐침장치는 간결한 구조로 이루어지고 일체로 제작됨에 따라 별도의 부품제작 및 조립과정이 이루어질 필요가 없어 생산성이 향상되고 시간과 비용이 절감되며, 개별의 탐침장치가 일정한 접촉저항을 가짐에 따라 균등한 성능을 가짐으로써 검사의 신뢰성을 향상시키게 된다.

도 2, 3, 4에 도시된 일실시예에서 회로기판의 접촉단자에 접촉되는 상기 탐침부(10)는 원주형 바 하단부에 하측으로 갈수록 좁은 직경을 가지는 돌기형상으로 형성되어 하측의 회로기판 접촉단자에 접촉이 명확히 발생되도록 하였으며, 상기 소켓결합부(20)는 상기 탐침부(10)보다 확장된 직경을 가지고 상기 탐침부(10) 상측에 연결형성되어 상기 탐침부(10) 상단으로부터 걸림턱을 형성하게 된다.

여기서, 상기 탐침부(10)는 상기 일실시예와 같은 형상에 한정되지 않고 검사대상물 또는 회로기판의 접촉부 형상 및 결합조건에 따라 뾰족한 다수개의 하방돌기를 구비하는 등 적합한 형상으로 제작된 다양한 실시예들을 포함하여 통칭한 것이다.

또한, 상기 소켓결합부(20)는 소정높이를 가진 원주형 바형상으로 형성되고, 상기 탄성접촉부(30)가 상기 소켓결합부(20)의 외주보다 작은 직경의 둘레를 이루며 원형배치됨에 따라 상기 탄성접촉부(30) 하단으로부터 걸림턱을 형성하게 되어, 상기 소켓결합부(20)는 상기 탐침부(10)와 탄성접촉부(30)보다 확장된 직경으로 형성됨에 따라 상하방으로의 걸림턱이 형성되어 상기 소켓구(1)의 결합공에 장착 및 위치고정된다.

상기 소켓결합부(20) 상단면에는 하측으로의 함몰홈(21)이 형성되는데, 상기 함몰홈(21)은 공간부를 형성함에 따라 그 공간부에 해당되는 만큼 소재를 절약할수 있도록 하며, 상기 탄성접촉부(30) 등의 가공을 용이하게 하기 위해 기준축이 끼워질 수 있고, 가장 넓은 너비로 형성되어 외부충격 등에 피로를 받기 쉬운 상기 소켓결합부(20)의 두께를 줄임에 따라 피로에 강한 구조로 보완할 수 있다.

상기 소켓결합부(20) 상측에 일체로 연결형성된 상기 탄성접촉부(30)는 얇은 두께를 가지고 소정높이로 상방돌설된 다수의 탄성돌기(31)에 의해 이루어지며, 상기 탄성돌기(31)는 상기 소켓결합부(20) 상단에서 상기 소켓결합부(20)의 외경보다 안쪽에 중앙에 공간부를 형성하는 원형둘레 경로상에서 다수가 등간격을 이루며 배치형성된다.

상기 탄성돌기(31)는 얇은 두께로 형성됨에 따라 자유단인 상단부가 반경방향 외내측으로 소정간격내에서 탄성적으로 절곡가능한 성질을 가지게 되어, 검사대상물에 형성된 반구형의 접촉단자(2)가 다수의 상기 탄성돌기(31)에 둘러싸여 형성된 중앙의 원형공간부 상측에 위치한 채 하강되어 접촉이 이루어질 시, 도 3에 도시된 바와 같이 상기 다수의 탄성돌기(31)가 상기 검사대상물의 접촉단자(2)에 접촉된 채 검사대상물 접촉단자(2)로부터의 접촉압력에 의해 외측으로 절곡되어 중앙의 원형공간부 상단 직경이 유연하게 확장된다.

검사대상물에 형성된 다수의 접촉단자(2)가 크기나 높이 등이 일정하게 형성될 수 없고 하방압력 또한 위치에 따라 미세한 차이를 가지게 되는데, 본 고안에 따른 탄성접촉부(3) 구조는 상기와 같은 원리에 의해 고르게 형성되지 못한 검사대상물 접촉단자(2)의 검사시험 시에도 검사대상물의 접촉단자(2)와의 접촉이 안정되고 명확하게 이루어지게 된다.

또한, 본 고안에 따른 검사용 탐침장치는 검사시험 시 탐침장치 상하단부와 검사대상물 및 회로기판의 접촉에 의해 상하방으로의 압력 및 충격이 형성되면 상기 탄성접촉부(30)가 자연히 절곡되어 이를 상쇄시키게 되며, 다른 구성요소에는 충격이 전혀 발생되지 않음에 따라 수명을 향상시키는 효과도 얻을 수 있다.

상기와 같은 구성에 의한 본 고안은, 간결한 구조로 이루어지고 일체로 제작됨에 따라 별도의 부품제작 및 조립과정이 이루어질 필요가 없어 생산성 및 조립성이 향상되고 제조원가가 절감된다는 효과가 있다.

또한, 일체로 형성된 개별의 탐침장치가 일정한 접촉저항을 가지게 되어 균등한 성능을 가짐으로써 검사신뢰성을 향상시킬 수 있다는 다른 효과가 있다.

그리고, 검사시험 시 탄성접촉부 및 탐침부와 검사대상물 및 회로기판의 접촉단자간 접촉이 안정되게 이루어지며, 검사시험 시 가해지는 압력 및 충격을 탄성접촉부의 절곡에 의해 안정적으로 상쇄시킨다는 다른 효과가 있다.

Claims (2)

1. 회로기판의 접촉단자에 접촉되는 돌기가 구비된 탐침부(10)와;

   상기 탐침부(10) 상측에 일체로 연결형성되며, 상기 탐침부(10)보다 확장된 직경으로 형성됨에 따라 상하방으로의 걸림턱을 구비하여 소켓구(1)에 장착되는 소켓결합부(20)와;

   상기 소켓결합부(20) 상측에 일체로 연결형성되며, 얇은 두께를 가지고 소정높이로 상방돌설됨에 따라 탄성적으로 절곡가능하고 상측이 개방된 중앙공간부를 이루도록 배치형성된 다수의 탄성돌기(31)가 구비되어 검사대상물의 접촉단자(2)에 탄성적으로 접촉되는 탄성접촉부(30);를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 검사용 탐침장치.
2. 제 1항에 있어서, 상기 소켓결합부(20)는,

   내부공간부를 형성하는 함몰홈(21);을 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 검사용 탐침장치.