TWI239405B - Apparatus and method for the testing of circuit boards, and test probe for this apparatus and this method - Google Patents

Description

1239405 玖、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於一種測試電路板的設備與方 於此設備與方法的測試探棒。 【先前技術】 用以測試電路板的測試器於原理上可以分為 即具有指式測試器者與具有平行測試器者。平行 為測試器，其藉由轉接器，而同時接觸一予以測 板的所有或至少大部份之電路板測試點。指式測 測試器，用以測試沒有元件或有元件電路板，其 兩或更多測試指，序向或串列式地掃描個別接觸 指式測試器之串列式測試基本上係慢於以平行測 之平行測試。 測試指部大致被固定至一滑動件上，滑動件 一橫條移動，而橫條隨後被導通並可以沿著導軌 此，此等滑動件可以定位於一測試陣列中之任 上，該陣列通常為矩形。同樣地，具有固定式橫 器，橫條上提供有可動滑動件。配置於這些滑動 測試指，其具有若干長度並於一端被可樞轉地固 件上。經由測試指的旋轉移動，對橫條為直角的 可以被掃描。以上兩類型之指式測試器，予以測 板的所有電路板試點均可以被接觸與測試。 一指式測試器係描述於EP0468 1 53A1及使 法，與用 兩大類， 測試器係 試之電路 試器係為 可以使用 點。以一 試器進行 可以沿著 移動。因 一想要點 條之測試 件上的為 定至滑動 某些區域 試之電路 用指式測 1239405 試器以測試電路板的方法係描述於EP0853242A1中 使指式測試器能於市場上成功的主要因素為以該測試器所 可以進行之待測電路板的測試速度。為了加速測試速率， 特殊測試方法（例如EP0853242A1及相關之美國專利第 5,977,776號案）或特殊測試探棒（例如美國專利 或6,344,75 1號案）已經加以開發。用於此 ， 土、丁以測 試之電路板的電路板測試點的快速接觸的測試探棒係被美 國專利第5，113，133號案所揭示。 、、

以傳統指式測試器，兩校準程序必須在予以測試之電 路板的實際測試前被執行。於第一測試程序中，每一包人 滑動件及接觸指部之測試頭係參考測試器加以校準，及於 第二測試程序中，予以測試之電路板的CAD資料係被帶 成與插入測試器中之實質電路板相配合。 於第一校準程序中，一校準 板被插 藉由導 此安排 緣區域 路徑作 導體路 。當接 存，並 的位置 體路徑 以具有 中，形 電氣接 徑上， 觸到柵 共相關 係藉由

準板為一大電路板，其 條。此個別導體電路係 公分之間隔。只在此校 導體路徑，其係與所有 程序中，測試指之一係 叉點係使用另一測試指 時’測試指及滑動件的 相關相交點的座標。個 步階法加以進行，直到 準板的導體路徑之間。 表面上係 被相對彼 準板的邊 其他導體 放置於寬 加以掃描 座標被儲 別相交點 一導電連接係完成於兩 此步階法可以例如以一 器中。此校 而形成一柵 例如 1至 3 成有很寬的 觸。於校準 及柵條的交 條的交叉點 於校準板之 對交又點之 接觸指及校 圓形或螺旋 1239405 ::加以完成。對於每-測試量測，此涉及測試指 、杈準板然後被由校準板抬起。可能需要幾十測試 2找出一柵條點。若所有離開校準板的柵條點已經 匕測，則對於測試區的個別部份，用以驅動測試器 ^的=同校正值被決定及儲存。這些校正及校準值 2忒私可以被精確地驅動於測試器的座標系統中， 令其放置於測試區域中。 行、一竿程序係大致對每一予以測試的電路柄 仃。於此程序中，該批次之電路板被插入測試器中 ▲用測試指，丨以測試之電路板測點圖案的突出電 试點被檢測及其於測試器中之位置係被決定。去核 :測試點時’則用於予以測試電路板的電路：測 D資料可以配合實體電路板的座標，即用於一 電路：測試點圖案之扭曲及失準係被記錄。' 當兩校準程序均完成肖，則予以測試之電路 板測，點可以成功地通電，並為測試指所接觸。 母田測試器再重新設定時例如若一測試 換或測試器被再芊槿 已 丹朱構為一工作曰的開始時，則 校準程序。第-校準程序也在每當室溫: 時被執行。 ^ m例 y 八鼠个疋a： 的實質測試。因此，# 於電路板的測試中，這些未 產出量上有負面的影響。 — w〇92/1 1 541 搞一 m 竭不用於測試電路板的裝窨& 夏的成 降低 測值 成功 測試 得一 可以 以執 然後 板測 電路 點的 次之 電路 被更 第一 3°C 路板 序在 像系 5 1239405 統。類 其上安 安裝在 元件。 以顯示 頭，使 觸點並 觸點並 本 法，其 較傳統 設備與

似於 X-Y 記錄器’此成像系統具有可能 ’該測試頭具有垂直可動之 Ί式針旁的是—成像$ i& I —透冑 為成像t Ϊ戶斤i纟之影像係被顯示於一監 在榮幕上之影像的幫助，一作業員可以控 得於纣_會程序中，他可以追縱所有予以 規劃相關的座標。&測試時，裝置自動追 以測試針與之接觸。 發明係基於以測試指建立測試電路板的 中’可以增加於接觸電路板測試點之可靠 指式測試器所需為少之校準時間。本發明 方法之測試探棒。 裝有一測試^ 的橫條， 測試針。 及一 CCD 視器上。 制該測試 測試之接 縱個別接 這些係藉由申請專利範圍第1項之設備、申 圍第11項的方法與申請專利範圍第1 8項之測試 完成》 設備與方 度，並可 也提供此 5月專利範 探棒加以

【發明内容】 依據本發明’於測試程序時，接觸尖端係藉 檢測裝置加以監視，及至少當接觸予以測試之電 路板測試點的一部份時，其動作係為光學檢測裝 的結果加以自動校正，使得接觸尖端與有關之電 點完成可靠之接觸。藉由此方式，電路板測試點 地接觸，即使相關定位資料並未被校準或精確地 校準資料可以由此程序所提供之校正資料加 由一光學 路板的電 置所決定 路板測試 係被精確 校準。 以計算。

6 1239405 這些校準資料更換以傳統指式測試器所進行之兩校準 程序，因為它們清楚決定於測試指之接觸尖端與予以測試 之電路板的實體電路板測試點間之特殊關係。 以本發明之設備與方法，校準程序被執行與實質測試 或量測程序，而不必對量測程序有相當延遲。此代表使用 指式測試器之測試電路板方法的重大加速’並大量增加予 以測試之電路板的產量。 對於一行動電話之典型電路板及具有 1 0 00項的批 量，每小時7 8電路板可以依據本發明，以指式測試器加 以測試，考量設定時間、校準及實質測試。以傳統測試方 法與相同條件下，每小時只可測試3 2電路板。 相較於平行測試器，此結果為指式測試器不只是有效 於生產於多至 1 000項的批次的電路板中，同時，也有效 於對於生產多至 8000項的批次的電路板。這造成指式測 試器的應用領域相當大的擴張。 本發明將參考附圖加以詳細說明。 【實施方式】 第1及2圖顯示依據本發明之測試探棒1之兩不同實 施例。每一測試探棒1具有一光學檢測裝置3的光學接收 裝置2。沒有光學接收裝置之此測試探棒1的基本結構係 描述於未公開之德國專利申請DE1 01 60119.0號案中。因 此，其係列入本案作參考。 測試探棒1具有一測試針4，其於本實施例中係以具 7 1239405 不 緣 覆 由 尖 後 之 件 曲 角 供 導 % 連 在 形 頭 開 有 有直徑0.3至0.5 m m之針5加以形成。針5係例如由 鏽鋼或鎢作成。針5被塗覆以一例如由鐵弗龍作成之絕 層。該塗層隨後係被覆蓋以一導電層。此具有導電層的 蓋形成一屏蔽6，其將針5屏蔽對抗電場。針5的兩端 屏蔽6伸出，一端變尖成為一點並被設計以形成一接觸 端7。於接觸尖端7的另一相反端，測試針4或針被隨 被連接至稱為上扣臂8、9之兩扣臂8、9。另兩扣臂1 0 1 1被附著至屏蔽6，於離開上扣臂8、9及測試針4間 連接點一短距離處。扣臂1 0、11係被說明為下扣臂1 〇 1 1。每一對扣臂8、9及1 0、1 1分別由中間彎曲的線元 構成，以測試針4藉由例如銲接之導電連接被附著至彎 點。因此，兩對扣臂8、9及1 0、11分別形成一等腰三 形，測試針4係位在該等腰三角形的頂點。 於離開測試針4的最遠端，扣臂9至1 1被固定至 安裝件12。安裝件1 2係為一絕緣塑膠件，在其頂面提 有一列之接觸塾 13a-13h。每一上扣臂 8、9分別經由 電路徑被電氣連接至接觸墊13a及13h。每一下扣臂10 11被形成於安裝件12之底部的接觸墊（未示出）所電氣 接。 這些接觸墊被其他導電路徑（未示出）所連接至形成 安裝件12上之電氣插頭連接器（未示出）。安裝件12係 成為一插入元件，其可以被插入至一指式測試器的測試 内。於本實施例中，安裝件12具有一槽15，其通向離 測試針4最遠的安裝件1 2的側面。安裝件1 2同時也具 8 1239405 一貫孔16，安排對槽1 5呈直角。安裝件12因此可以為 槽所推至測試頭的薄臂1 7並藉由通過安裝件的貫孔1 6及 壁1 7中之對應貫孔之銷所固定。當安裝件1 2被滑動或放 置於測試頭的壁 1 7上時，連接至接觸墊的導體路徑也是 同時電氣連接至測試頭的對應導體路徑。

於安裝件1 2上，一光電開關元件1 8係安裝在鄰近測 試針4的側面上。由光電開關元件1 8上看到的是一 U型， 具有底部18a及兩分弧18b。在兩分弧18b之一的端部内 側為一光源，而另一分弧1 8b被提供有一光感應器，其接 收該光信號。因此，光源及光感應器形成一光學量測部。 固定至測試針4的是一由列如薄金屬片作成之量測葉片 1 9。此量測葉片放置於測試探棒1的縱向中心面中，其係 垂直排列並分別對扣臂8及9及1 0及11形成鏡面。量測 葉片1 9的上緣係被設計為量測緣2 0，當測試針4相對於 安裝件1 2作移動時，量測緣20被移動入光學量測部，使 得光學量測部之電量測信號再生相對於安裝件 1 2的位 置。 依據第1圖之測試探棒具有一以攝影晶片21形式表 示之光學接收器裝置2，晶片21藉由兩扣臂22、23固定 至安裝件1 2的兩焊接接點24。由例如線作成之扣臂22、 23作用為電導體並分別由來自焊接接點24之其他導體所 連接至接觸墊13b及13g。扣臂22、23作為至攝影晶片21 的電導線。因為一攝影晶片大致具有兩個以上之電連接， 所以，其可以方便地提供其他電導體及個別連接於扣臂 9 1239405 32，其延伸超出安裝區域。較佳，於每一例子中，有幾個 彼此相平行對準之檢條安排於安裝區域之上或下。橫條3 2 係於其末端被爽持於執道33中，其對第4圖之平面呈一 直角，即對橫條32呈直角並平行於安裝區域的平面。橫 條32也可以設計以可移動於軌道中。 安裝於本實施例之每一横條32中的是兩内滑動件 34,其可以沿著橫條往復移動。安裝在每一滑動件34上 在面向安裝區域側的是一測試頭35。安裝在每一測試頭35 j在面向女裝區域的是一測試探棒1，如第1圖所示。測 二頭3 5係被3又a十以予以可動於滑動件3 *上，於對予以測 直之電路板30呈直角之方向中，並對安裝區域的平面呈 角。為此目的，如於例如德國專利申請de10160119 0 -所述，提供一線性馬達。$同於、線性馬達，其他種調整 機1制4^7 —Γ 使1 、以被使用。測試頭也可以提供有旋轉機構， 直$代表測試指的測試探棒丨可旋轉繞著對電路板3〇呈 的軸。於此一實施例中，橫條3 2也可以作成固定。 '則試設備29具有一控制單元39，其係鏈結至組合之 檢測/分把-- 備2 9 早70 40。控制單元3 9係藉由配線4 1至測試設 機2、I知作疋件（滑動件34、測試頭35)及感應器（攝影 的動作^忒針5)而加以連接。控制單元自動控制測試針5 點。卜用以接觸予以測試之電路板3 0上之電路板測試 動分析^/；7析單凡4〇接收來自攝影機2之光學信號旅自 析單元們，如以下所詳述。控制單元3 9基於由檢測/分 4〇所決定之資料，控制測試針5的動作。 11 1239405 位置。 依據本發明之設備的操作模式係參考第5及6圖如以 解釋如下。第5圖顯示一第4圖之測試器的示意形式，及 電路板的詳細，其中測試頭3 5係被顯示於由電路板3 〇(卢 線）所移除的位置，及於測試針接觸電路板表面（斷線）= 程序開始（步驟S1)在電路板，更明確地說，為予、 測試之電路板批次的第一電路板已經被插入於測試器 後。 ' /、0 »中 然後，執行一定位動作（S2)，其中測試探棒平行於予 以測試之電路板3 0的平面，直到接觸尖端7位在立 路板測試點36上之焊錫37之區域附近為止。若測試器未 被校準’則觸發定位動作造成類似於第5圖所示之於 37及接觸尖端7間之偏差·於離開電路板3〇的間隙的位 使用光學檢測裝置，即攝影晶片21與一適當評估骏 置，完成了對電路板的背景的探棒尖端的影像（s 3 )，並且，X 此影像被用以決定探棒尖端7離開電路板測試點％ 心的距離。完成一校正動作動， 錫37。於校正動作的同時，或 移動向電路板30 —短距離。名 小 uu n J-A »1 h ，以使探棒尖端7更接近烊 或之則或之後，測試探棒被 在執行兩移動分量後，探棒 ，探棒

12 1239405 電路板30。探棒尖端7現在在 一步接近焊錫37及電路板 其較P1更進 傲3 〇。於此，探 記錄予以測試之電路板 坪次鳊7被再次 勺背景，決定了輪pq 試點3 6的中心的距離。 開電路板測 ^後有進一步校正 棒被移動至電路板3 〇，直 動作’測試探 置到探棒尖端7停芨*泰 試點％上。電路板3〇 宁敌在電路板測 苟蘇棒尖端7或測 檢測係為量測葉片19咬 X針4所接觸的 4九電開關元件18(第, 測試探棒1所檢測。 1及2圖）在 所有校正動作的向晋 開焊錫37的方向及距數疋接觸尖端7的原始位置離 久祀離的數量。此距離 以計算校準資料（S4 A 破儲存並被用

^ ^ /、係用於測試探棒至雷，々J 的新的移動。 電路板測試點 此方法係用以予以測試之 3 6的預定選擇。這些雷 的電路板測試點 當未被校準測試器完成：M點36係特別獨特的，即 板測試點搞混。例如部;二：時，它們並不會與其他電路 板測試點的較大面積中。— 於個別排列電路 或更大之面積。再者…Χ大面積係被了解為例如 A _ b痒特有電路板測試點3 6 士 -Γ 為位在電路板測試點群 36也可以 以交旦认， 透緣的電路板測試點，因此，伽可 以谷易地從攝影晶片 U此也可 於步驟S5中，柃杳Β所記錄的影像上認出（第8圖）。 經被測試否。若是否所有選定電路板測試點36均已 試點則以測試探棒探求另一選定電路板測 點可以為接觸尖端37 W再執行一次’使得電路板測試 所可靠地接觸。校準資料被再次由 13 9405 相關距離值加以決定 步驟S5 示所有校準資 序因此可以加 之電路板然後 於依據本 长，而以包含 影像的協助， 動決定並自動 並未精確地校 置，電路板測 式點的可靠性 測試器的 界定輸入座標 明之方法，這 質位置，並由 測試器本身被 料。因此，上 該單一校準程 發明之探求一 已經校準設備 分鐘至三分鐘 較於為校準設 時，以指式測 建立所有已經 料已經被決定 以推出（S6)。 以一般方式加 發明之方法中 探棒尖端及予 探棒尖端離開 執行一適當校 準或在電路板 試點被正確地 為本發明之方 控制單元係被 的輸入，而移 些輸入座標被 此而計算出校 校準並鏈結至 述之兩校準程 序係被執行於 選定電路板測 的探求方法， ’這係取決於 備所進行之測 試器之測試的 被測試之選定 。探求選定電 其他電路板測 以測試。 ’個別電路板 以接觸的電路 電路板測試點 正動作。藉此 測試點的位置 接觸。因此， 法所大大地增 設計以使得測 動至一特定點 鏈結至選擇電 準資料。藉此 予以測試之電 序係為單一校 電路板的實際 試點的方法只 使得整個測試 選定電路板測 試。這代表當 重大加速，傳 電路板測點， 路板測試點的 喊點及其他批 測試點被自動 板測試點的記 中心的距離係 ’即使位置資 偏離開其理想 接觸一電路板 加0 試探棒係被經 。使用依據本 路板測試點的 ，於一步驟中 路板的 CAD 準程序所替換 測試中。依據 半秒至兩秒長 程序被延遲約 試點的數量， 與傳統方法相 統方法中，測 表 程 次 探 錄 白 料 位 測 由 發 實 y 資 本 於 半 相 比 試 14 1239405 器必須在實際開始進行測試前首先校準。 於上述以第5及6圖協助之方法中’每一例中，取三 個影像並被分析，以探求/電路板測試點3 6。然而，在 本發明之範圍内，若攝影機的解析度夠高，則有可能只取 單一影像然後立即及正峰地探求電路板測試點3 6。然而， 這些偏移若較大或光學檢測裝置的解析度較低’則也可以 權宜地記錄幾個影像並取一對應數量的校正步驟。為攝影 晶片之影像的記錄取約3 〇毫秒。這表示影像的記錄只略 微延遲整個程序。 於本發明之範圍内，測試器可以權宜地以一批次第一 電路板的協助加以校準，以例如1 〇至1 〇 〇個選定電路板 測試點。以其他之予以測試之電路板，依據本發明之方法 中’/、有兩至十選定電路板測試點被探求，使得於每一予 以測試之電路板的測試器中之位置被驗證。於以1 〇至i 00 電路板測試點之校正程序中，決定出電路板測試點的配置 之失準、彎曲及/或扭曲。於電路板測試點配置中之此等 失準、弯曲及/或扭曲係於國際專利申請WO02/2 1 893A2 中加以說明，因此’WO02/21 893A2係併入本案作為參考。 也可以權宜地，在校準程序中，降低於予以取行之電路板 測試點的敖量，例如藉由每一例子中，5至2〇電路板測 試點。若於測試一電路板時，一故障接觸發生於一測試指 及一電路板測試點之間，則於校準程序中所採之電路板測 試點的數量可以再次增加。|故障接觸後，也可以權宜地 在校準中，回復最大量之取用電路板測試點。 15 1239405 對於電路板的兩側，最小電路板測試點數量為2，因 為以2點，測試平面中之電路板測試點之配置可以精確地 決定。若想要精確地決定於三維空間中之電路板的佈局， 則於校準中，至少需要考量三個電路板測試點。然而，也 可以權宜地使用至少四至十電路板測試點來校準每一電路 板。 使用測試探棒配合以整合光學接收器裝置並不要用於 攝影操作的額外機構，傳統指式測試器藉由一攝影機加以 校準測試器。 於上述設備的例子中，光學接收裝置於每一例子中係 安裝在測試探棒1上。第7圖顯示一實施例，其中，一攝 影機3 8係被提供於安裝區域的每一側，並固定安裝於橫 條3 2的外侧的區域中。測試探棒1的接觸尖端7可以藉 由每一攝影機 3 8加以檢測。此設計於機械上看來係遠簡 單於上述設備的變化者。然而，其需要具良好透鏡的高解 析度攝影機，使得接觸尖端7的點可以以由例如約0.0 5 mm 的必須精確地加以檢測。再者，所選定電路板測試點必須 被選擇，使得當其被探求時，接觸尖端並未為橫條或測試 器的其他部件而將攝影機38遮住。依據本發明之方法可 以以上述方法加以執行。 【圖式簡單說明】 第1圖為依據本發明之具有攝影晶片的測試探棒， 第2圖為依據本發明之具有光纜之測試探棒， 16 1239405 第3圖為經由一光纜之剖面圖， 第4圖為依據本發明之指式測試器的剖面圖， 第 5圖為執行依據本發明之方法的測試探棒動作的示意 圖， 第6圖為依據本發明之方法的流程圖， 第7圖為依據本發明之另一測試器實施例的剖面圖，及 第8圖為予以測試之電路板的放大詳細圖。

【元件代表符號簡單說明】

1 測試探棒 2 光學接收器裝置 3 光學檢測裝置 4 測試針 5 針 6 屏蔽 7 接觸尖端 8 扣臂 9 扣臂 10 扣臂 11 扣臂 12 安裝件 13a -h 接觸墊 14 導體路徑 15 槽 16 貫孔 17 壁 18 光電開關元件 19 量測葉片 20 量測邊緣， 21 扣臂 22 扣臂 23 扣臂 24 焊接接點 25 觀看錐區 26 光纜 27 自由端 28 光纖 29 設備 30 電路板 17 1239405 3 1 安裝框架 32 橫條 33 執道 34 滑動件 35 測試頭 36 電路板測試點 37 焊錫 38 攝影機 39 控制單元 40 檢測/分析單元 41 配線

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Claims (1)

1. ί 1239405 第號專利案个十年多月修正 3 捨、申請專利範圍： i .一種測試電路板的設備，其至少包含： 一安裝區域，用以固持欲予以測試之 測試指（1)，用於以一接觸尖端（7)連 試之電路板（30)的電路板測試點（36)， 由一可動裝置（32、34、3 5)沿著欲予以 表面移動，並可以被降低以其接觸尖端 一光學檢測裝置（2、21、26、38)，用 指的至少一接觸尖端（7) ’ 一分析單元，用以記錄接觸央端的影 端（7)離欲予以測試電路板測試點（36)中 一控制單元，其係依據分析單元所決 離欲予以測試之電路板測試點（3 6)的距 端（7)的動作。 2如申請專利範圍帛ί項所述之設備’ 置，用以對欲予以測試電路板（30)的表 式移動接觸尖端（7) ° 如申請專利範圍第2 電路板（30)的表面以 裝置具有一線性馬達 4.如申請專利範圍第

   項所述之没備’其 A約直角方式移3 項中所述之設備 電路板（30)， 續接觸欲予以測 其中測試指可藉 測試之電路板的 接觸電路板（3 )， 以光學檢測測試 像並決定探棒尖 心的距離，及 定該探棒尖端（7) 離來控制探棒尖 其中更包含一裝 面以大約直角方 中上述用以對一 勢接觸尖端（7)之 其中該可動装置 19 1239405 為數個橫條（32)，其可跨越該安裝區域且巧 中，至少一滑動件（3 4)係可動地安裝在其上 滑動件（3 4)上至少安裝有一測試指（1)。 5. 如申請專利範圍第3項所述之設備，其中該 數個橫條（32)，其可跨越該安裝區域且在每 至少一滑動件（3 4)係可動地安裝在其上，而 件（34)上至少安裝有一測試指（1)。 6. 如申請專利範圍第4項所述之設備，其中該 數個橫條（32)，其對其縱向範圍係以直角移S 測試指（1)係被設計以對該等橫條（32)的縱’ 角移動。 7. 如申請專利範圍第4項所述之設備，其中該 對其縱向範圍係以直角移動及/或該等測試^ 計以對該等橫條（32)的縱向範圍作直角移動£ 8. 如申請專利範圍第1至7項中任一項所述之 上述該等測試指的接觸尖端（7)於每一狀況 一測試探棒（1)上，且測試探棒（1)之至少一 學檢測裝置（3)的接收器裝置（2)。 9. 如申請專利範圍第8項所述之設備，其中上 ^每一情況 ，而在每一 可動裝置為 一情況中， 在每一滑動 可動裝置為 为及/或該等 向範圍作直 等橫條（32) 音（1)係被設 設備，其中 中係形成於 者係設有光 述之接收器 20 1239405 裝置為一攝影機晶片（21)。 10.如申請專利範圍第8項所述之設備，其中上述之接收器 裝置為一光纜（26)。 1 1 .如申請專利範圍第1項所述之設備，其中上述之光學檢 測裝置（3)為固定並被設計以用於光學檢測一或多數探 棒尖端（7)。 12.如申請專利範圍第7項所述之設備，其中上述之光學檢 測裝置（3)為固定並被設計以用於光學檢測一或多數探 棒尖端（7)。 1 3 .如申請專利範圍第1項所述之設備，其中上述之光學檢 測裝置（3)具有一攝影機。 14.如申請專利範圍第12項所述之設備，其中上述之光學 檢測裝置（3)具有一攝影機。 1 5 . —種以一用於測試電路板之設備測試電路板的方法，該 設備包含； 一安裝區域，用以固持一欲予以測試之電路板， 數個測試指，用於以一接觸尖端連續接觸欲予以測試 之電路板的電路板測試點，其中測試指可藉一可動裝置 21 1239405 沿著欲予以測試之電路板的表面移動，並可藉由其接觸 尖端接觸電路板， 一光學檢測裝置，用以光學檢測測試指的至少一接觸 尖端的位置， 其中該方法至少包含下列以一接觸尖端接近選定電路 板測試點的步驟， 執行該等接觸尖端之一者的定位動作，該接觸尖端係 被安排以由欲予以測試之電路板的表面相距一距離，其 中該接觸尖端係平行於電路板的表面移動，直到接觸尖 端係定位大約於一焊錫上，該焊錫係垂直於一電路板測 試點的中心， 以對於欲予以測試之電路板的表面呈直角的方式移動 接觸尖端，其中，藉由光學檢測裝置，該探棒尖端相對 於欲接觸之電路板測試點的位置會被檢測至少一次，且 該用於執行一校正動作（經引導平行於該欲作測試之電 路板表面）之移動裝置係以將該接觸尖端移向銲錫的方 式予以驅動。 16.如申請專利範圍第15項所述之方法，其中上述由校正 動作的引導及數量將可決定校準資料，以用於後續定位 動作。 1 7 ·如申請專利範圍第1 5項所述之方法，其中上述用以校 正接觸尖端位置的校正動作係被執行於數個動作步驟 22 1239405 中’其中於個別命》I u 動作步驟間，探棒尖端相對於欲接觸的 電路板測試點的位署 仅置係於每一情形中加以檢測。 18.如申請專利範圍帛16項所述之方法，其中上述校正-接觸尖端之位置的校正動作係以數個動作步驟進行，其 中於個別動作步驟間，探棒尖端相對於欲接觸之電路板 測試點的位置係於每一情形中加以檢測。 1 9 ·如申吻專利範圍第i 6項所述之方法，其中對於每一批 欲予以測试之電路板而言，欲予以測試之批次的第一電 路板的校準資料係藉助1 0至1 00個電路板測試點而加以 決定’以此校準資料可用於測試該批次的其他電路板。 20·如申請專利範圍第1 8項所述之方法，其中對於每一批 欲予以測試之電路板而言，欲予以測試之批次的第一電 路板的校準資料係藉助1 〇至1 00個電路板測試點而加以 決定，以此校準資料可用於測試該批次的其他電路板。 2 1 ·如申請專利範圍第1 9項所述之方法，其中於測試該抵 次的其他電路板時，係藉助若干電路板測試點以決定校 準資料，而該若干電路板測試點於每一測試板測試步驟 間已被降低。 22·如申請專利範圍第20項所述之方法，其中於測試該抵 23 1239405 次的其他電路板時，係藉助若干電路板測試點以決定校 準資料，而該若干電路板測試點於每一測試板測試步驟 間已被降低。 2 3 .如申請專利範圍第1 9項所述之方法，其中於測試該批 次的其他電路板時，校準資料係藉助於2至1 0個電路板 測試點而加以決定。 2 4.如申請專利範圍第20項所述之方法，其中於測試該批 次的其他電路板時，校準資料係藉助於2至10個電路板 測試點而加以決定。 2 5 .如申請專利範圍第2 1項所述之方法，其中於測試該批 次的其他電路板時，若一測試指在接觸一電路板測試點 出現誤差時，會以增加電路板測試點數目的方式決定校 準資料。 2 6.如申請專利範圍第2 4項所述之方法，其中於測試該批 次的其他電路板時，若一測試指在接觸一電路板測試點 出現誤差時，會以增加電路板測試點數目的方式決定校 準資料。 27. —種用於指式測試器的測試探棒，其中該測試探棒係安 裝於一可移向欲予以測試之電路板的測試頭（3 5)上，而 24 1239405 以一用於接觸一電路板測試點之接觸尖端接觸電路板測 試點，其特徵在於： 該測試探棒（1)具有一光學檢測裝置（2)，以藉此裝置 而光學地檢測該接觸尖端（7)。 2 8.如申請專利範圍第27項所述之測試探棒，其中上述之 檢測裝置（3)具有一接收器裝置（2)，其係為攝影晶片（21) 的形式。 29.如申請專利範圍第27項所述之測試探棒，其中上述之 檢測裝置（3)具有一接收器裝置（2)，其係為光纜（26)的形 式。 25