CN111258825B - 一种用于电路板中测试点布置的装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种用于电路板中测试点布置的装置，包括：触光鼠标，用于获取移动操作和触控操作手势；计算机，与所述触光鼠标连接；所述计算机包括显示器、输入设备、存储器、处理器；所述显示器用于显示待布置测试点的电路板的图像；所述输入设备用于输入待布置测试点的电路板中元器件的尺寸信息；所述存储器上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，根据预设规则和所述移动操作、所述触控操作手势在待布置测试点的电路板的图像上布置测试点。本发明还提供了一种用于电路板中测试点布置的方法。采用上述技术方案后，可以有效提高测试点布置的效率和准确性，减少废板率。

Description

一种用于电路板中测试点布置的装置及方法

技术领域

本发明涉及电路板技术领域，尤其涉及一种用于电路板中测试点布置的装置及方法。

背景技术

现有技术中，电路板为了更好地配合ICT(In-Circuit-Test)自动化测试的要求，在不损坏元器件焊脚及保证电路板可靠性的前提下测试电路板上的零组件是否符合规格，需要在电路板上设置测试点。测试点的外观通常是圆形，因为探针也是圆形，比较好生产，也比较容易让相邻探针靠得近一点，有利于增加ICT针床的植针密度。

然而，传统插件DIP的时代已经过去，目前SMD贴片器件及嵌入式发展的大量普及，加之电路板的尺寸日渐减小，在原理图设计及布板阶段，由于不能直观考察电路板尺寸及正反元器件排布，导致的手动布置测试点容易造成占用电路板空间不合理的问题，经常在设计端与制造端之间拔河，造成大量布板无效的工业废件。此外，手动布置测试点通常采用人工点击鼠标的手段进行布置，效率低下且容易出错。

因此，需要开发一种测试点布置效率高、布置合理且废板率低的测试点布置装置及方法。

发明内容

为了克服上述技术缺陷，本发明的目的在于提供一种测试点布置效率高、布置合理且废板率低的测试点布置装置及方法。

本发明公开了一种用于电路板中测试点布置的装置，包括：触光鼠标，用于获取移动操作和触控操作手势；计算机，与所述触光鼠标连接；所述计算机包括显示器、输入设备、存储器、处理器；所述显示器用于显示待布置测试点的电路板的图像；所述输入设备用于输入待布置测试点的电路板中元器件的尺寸信息；所述存储器上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，根据预设规则和所述移动操作、所述触控操作手势在待布置测试点的电路板的图像上布置测试点。

优选地，所述触光鼠标包括壳体和设置于所述壳体内的触控部、光学部、MCU和适配器；所述触控部用于感应手指在所述壳体表面的操作手势；所述光学部用于感应所述触光鼠标的移动；所述MCU与所述触控部和光学部连接，所述MCU内预设有操作手势和与所述操作手势对应的操作指令；所述适配器用于连接所述MCU和所述计算机；所述处理器用于根据所述触光鼠标的移动在所述显示器上生成同步移动的光标，并根据所述预设规则在光标区域的电路板图像上布置测试点；所述处理器还用于在所述触控部感应到的操作手势与所述MCU内预设的操作手势相匹配时，执行与该操作手势对应的操作指令。

优选地，所述触控部包括：微动开关，用于对手指的点击位置进行识别；电容矩阵列，用于根据电容感应来获知手指的位置和移动情况。

优选地，所述光学部包括：发光二极管，用于产生红外线；棱光镜，用于改变所述红外线的光路，使所述红外线自所述壳体底部的开口向外出射；光学传感器，用于收集自外部反射回来的红外线；光学透镜，用于光学成像，将被壳体底部开口外的图像呈现在后续的微成像仪中，所述图像包含被所述红外线照亮区域的图像；微成像仪，用于所述光学透镜的成像显示；数字微处理器，用于分析所述微成像仪的成像显示，判断所述触光鼠标的移动方向和位移距离，并形成脉冲信号汇入所述MCU形成所述触光鼠标的移动信息，所述处理器根据所述移动信息在所述显示器上生成同步移动的光标。

优选地，MCU内预设的操作手势包括敲击、点动、多点触控中的一种或多种；所述操作指令包括：确定、取消、翻页、翻面、缩放、光标移动中的一种或多种。

优选地，所述微动开关包括一机械开关，所述机械开关用于在开启状态时控制所述微动开关和所述电容矩阵列正常工作，在关闭状态时控制所述微动开关和所述电容矩阵列停止工作。

优选地，所述预设规则为电路板测试点布置所遵循的规则。

优选地，所述装置包括图像获取装置，所述图像获取装置与所述计算机连接，用于获取待布置测试点的电路板的图像，并传输到所述计算机。

优选地，所述图像获取装置为扫描仪或照相机。

本发明还公开了一种用于电路板中测试点布置的方法，基于计算机和触光鼠标，包括如下步骤：

S101：计算机获取待布置测试点的电路板的图像，并显示在显示器上；输入待布置测试点的电路板中元器件的尺寸信息；

S102：计算机获取对触光鼠标的移动操作和触控操作手势，在显示器上显示与移动操作同步移动的光标并执行与所述触控操作手势相匹配的操作指令；计算机根据预设规则在待布置测试点的电路板的图像上布置测试点。

采用了上述技术方案后，与现有技术相比，具有以下有益效果：

1.有效提高测试点布置的效率；

2.有效提高测试点布置的准确性，减少废板率；

3.操作方便，易用性好。

附图说明

图1本发明一实施例中用于电路板中测试点布置的装置的结构框图；

图2本发明一实施例中用于电路板中测试点布置的方法的流程框图；

图3本发明另一实施例中用于电路板中测试点布置的方法的流程框图。

附图标记：

100-触光鼠标，110-触控部，111-微动开关，112-电容矩阵列，120-光学部，121-发光二极管，122-棱光镜，123-光学感应器，124-光学透镜，125-微成像仪，126-数字微处理器，130-MCU，140-适配器，200-计算机，300-图像获取装置。

具体实施方式

以下结合附图与具体实施例进一步阐述本发明的优点。

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

在本公开使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本公开。在本公开和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。

应当理解，尽管在本公开可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本公开范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，除非另有规定和限定，需要说明的是，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。

在后续的描述中，使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本发明的说明，其本身并没有特定的意义。因此，“模块”与“部件”可以混合地使用。

参见附图1，本申请公开了一种用于电路板中测试点布置的装置，所述装置用于在原理图设计及布板阶段在电路板中布置测试点，所述装置包括触光鼠标100和与所述触光鼠标100连接的计算机200。

-触光鼠标100

所述触光鼠标100用于获取移动操作和触控操作手势，所述移动操作是指对所述触光鼠标100的移动操作，所述触控操作手势是指在所述触光鼠标100表面的操作手势。

具体地，所述触光鼠标100包括壳体和设置于所述壳体内的触控部110、光学部120、MCU130和适配器140。

所述触控部110用于感应手指在所述壳体表面的操作手势。优选地，所述触控部110包括微动开关111和电容矩阵列112。所述微动开关111是具有微小接点间隔和快动机构，用规定的行程和规定的力进行开关动作的接点机构，用于对手指的点击位置进行识别；所述电容矩阵列112用于根据电容感应原理来获知手指的位置和移动情况，当手指接触到壳体表面时，会使电容矩阵列112的电容量改变，其上的静电场会发生改变。优选地，所述壳体包括上壳体和下壳体，上、下壳体卡合，其内部具有容置空间，用于容纳所述触控部110、光学部120、MCU130和适配器140。优选地，所述电容矩阵列112以粘接的方式设置在上壳体内侧表面。所述电容矩阵列112可以为印刷电路板做成的成行和列的电容阵列。优选地，所述微动开关111包括一机械开关，所述机械开关与所述电容矩阵列112连接，所述机械开关的操作部分设置在所述壳体外，所述操作部分用于控制所述机械开关处于开启状态还是关闭状态，所述机械开关在开启状态时控制所述微动开关111和所述电容矩阵列112正常工作，在关闭状态时控制所述微动开关111和所述电容矩阵列112停止工作。通过所述机械开关，可以延长电容矩阵列112和微动开关111的使用寿命。

所述光学部120用于感应所述触光鼠标100的移动。优选地，所述光学部120包括：发光二极管121，用于产生红外线，所述发光二极管121优选地可以在设置在所述电容矩阵列112中。棱光镜122，用于改变所述红外线的光路，使所述红外线自所述壳体底部的开口向外出射。光学感应器123，用于收集自外部反射回来的红外线。光学透镜124，用于光学成像，将被壳体底部开口外的图像呈现在后续的微成像仪125中，所述图像包含被所述红外线照亮区域的图像。微成像仪125，与所述光学感应器123连接，用于所述光学透镜124的成像显示。数字微处理器126，用于分析所述微成像仪125的成像显示，是触光鼠标100内部的专用图像分析芯片，用于分析处理由运动轨迹生成的高速拍摄的连贯图像，来判断触光鼠标100的移动方向和移动距离，并形成脉冲信号汇入所述MCU130形成所述触光鼠标100的移动信息。

MCU130(Microcontroller Unit)，又称单片微型计算机200，与所述触控部110和光学部120连接，所述MCU130内预设有操作手势和与所述操作手势对应的操作指令，所述MCU130分析所述触控部110感应到的操作手势，并与预设的操作手势进行对比，判断是否相同，并在相同时向所述计算机200发出对应的操作指令。所述预设的操作手势可以为敲击、点动、多点触控，具体地，可以为左侧点击、右侧点击、单指左右滑动、单指前后滑动、单指按住移动、双指按住朝不同方向移动中的一种或多种。所述操作指令包括：确定、取消、翻页、左右切换、上下滚动、缩放、光标移动中的一种或多种。在所述MCU130中建立预设的操作手势与操作指令的对应关系，例如，将在壳体左侧点击的操作手势与确定的操作指令进行对应，则在判定触控部110感应到在壳体左侧点击的操作手势时，MCU130将确定的操作指令发送给计算机200。预设的操作手势与操作指令的对应关系可以根据需要灵活地设置。

适配器140同时与所述MCU130和所述计算机200连接，所述MCU130通过所述适配器140能够对所述MCU130进行信号传输；所述计算机200通过所述适配器140，可以对所述MCU130进行编译等操作，例如，修改MCU130中预设的操作手势或对应的操作指令。

-计算机200

所述计算机200包括显示器、输入设备、存储器、处理器。

所述显示器用于显示待布置测试点的电路板的图像。在一些实施例中，待布置测试点的电路板的图像是存储在计算机200中的原工程文件，在另一些实施例中，待布置测试点的电路板的图像可以通过外部设备导入计算机200，具体地，在该实施例中，用于电路板中测试点布置的装置还包括图像获取装置300，所述图像获取装置300与所述计算机200连接，用于获取待布置测试点的电路板的图像，并传输到所述计算机200。所述图像获取装置300优选地，可以为扫描仪或照相机等，用于扫描或拍摄待布置测试点的电路板的图像传输到计算。

所述输入设备用于输入待布置测试点的电路板中元器件的尺寸信息，所述输入设备优选地，可以为键盘或触摸显示屏。

所述存储器上存储有计算机200程序，所述计算机200程序被处理器执行，从而根据预设规则和所述移动操作、所述触控操作手势在待布置测试点的电路板的图像上布置测试点。

具体地，所述计算机200根据待布置测试点的电路板的图像和输入元器件的尺寸信息，可以得到电路板内元器件的基准布局分辨率以及电路板上所有元器件的实际尺寸和定位，并通过实际电路板尺寸和显示器显示屏尺寸的比例参数作为缩放比例，然后将布局内部所有元素的尺寸都乘以这个缩放比例，从而显示器能够自适应地根据PCB板的面积以及元器件分布来调整大小和定位，实现最佳的显示效果。所述计算机200根据触光鼠标100的移动操作，即光学部120感应到的触光鼠标100的移动信息，在所述显示器上生成同步移动的光标。优选地，所述触光鼠标100具有惯性移动功能，当触光鼠标100的移动速度很快时，光标的移动速度同样很快，当鼠标的移动速度很慢时，光标的移动速度同样很慢。进一步地，触光鼠标100的移动速度和光标移动速度的比例关系可以根据需要进行设置。所述计算机200根据所述触控手势，即在MCU130判定触控部110感应到的操作手势与预设的操作手势相同时，执行相应的操作指令。例如所述操作指令为翻页时，在所述显示器上执行翻页操作。所述预设规则为电路板测试点布置所遵循的规则，例如：测试点间隔PCB边缘需大于5mm；测试点不可被阻焊药或文字油墨笼罩；测试点需放置在元件周围1mm之外；测试点的直径不小于0.4mm等等，可以根据需求灵活地设置所述规则，这里不再详细阐述。所述处理器根据所述预设规则，对光标所在区域的电路板自动布置测试点，并将布置好的测试点显示在待布置测试点的电路板的图像中。

通过本申请的技术方案，计算机200通过触光鼠标100感应移动操作，在显示器上生成同步移动的光标；通过触光鼠标100感应触控操作手势，执行与操作手势对应操作，例如确定、取消、翻页、左右切换、上下滚动、缩放；通过预设规则，对光标所在区域的电路板自动布置测试点。本申请的技术方案操作方便，通过所述触光鼠标100的移动和操作手势，就就可以完成测试点布置的操作，有效提高测试点布置的效率。此外，测试点布置主要由计算机200根据预设规则自动完成，人工操作主要为确认、修改和调整，工作量小，不易出错，能有效降低废板率。

参见附图1，本为本发明一实施例中用于电路板中测试点布置的方法的流程框图，所述方法包括如下步骤：

S101：计算机200获取待布置测试点的电路板的图像，并显示在显示器上；输入待布置测试点的电路板中元器件的尺寸信息；

S102：计算机200获取对触光鼠标100的移动操作和触控操作手势，在显示器上显示与移动操作同步移动的光标并执行与所述触控操作手势相匹配的操作指令；计算机200根据预设规则在待布置测试点的电路板的图像上布置测试点。

参见附图2，在本发明的另一实施例中，上述的步骤S101之后还包括:

步骤S101-1：判断微动开关的机械开关的状态是开启状态还是关闭状态，当处于开启状态时，进行后续步骤；当处于关闭状态时，不再进行后续步骤。

步骤S102-1:在判定机械开关的状态是开启状态状态时执行，触光鼠标的光学部获取触光鼠标的移动距离和移动方向，并将脉冲信号发送给MCU；

步骤S102-2:在判定机械开关的状态是开启状态状态时执行，触光鼠标的触控部根据电容感应原理获取触光鼠标表面的操作手势；

步骤S102-3:在步骤S102-2之后执行，MCU判断感应到的操作手势与预设的操作手势是否相同，当判定为是时，执行后续步骤，当判定为否时，执行步骤S102-2；

步骤S102-4:在步骤S102-1和步骤S102-3之后执行，处理器根据所述触光鼠标的移动信息在所述显示器上生成同步移动的光标；处理器执行与操作手势对应的操作指令；处理器根据预设规则在光标区域的电路板图像上自动布置测试点。应该注意的是，操作指令可以用于执行例如翻面、翻页等操作，以便多层正反面的电路板布置测试点；操作指令也可以用于对自动步骤的测试点进行确定、取消或修改，具体的根据实际情况灵活设置。

重复执行步骤S102-1、S102-2、S102-3、S102-4，直至测试点全部布置完成。

优选地，前一实施例中的步骤S102，具体包括步骤本实施例中的步骤S101-1到S102-4。

应当注意的是，在步骤S101-1之前，还可以有如下过程：预设操作手势、预设操作指令、建立操作手势与操作指令的对应关系、预设测试点布置的规则、建立鼠标移动速度与光标移动速度的对应关系。

应当注意的是，本发明的实施例有较佳的实施性，且并非对本发明作任何形式的限制，任何熟悉该领域的技术人员可能利用上述揭示的技术内容变更或修饰为等同的有效实施例，但凡未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何修改或等同变化及修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (9)

1.一种用于电路板中测试点布置的装置，其特征在于，包括：

触光鼠标，用于获取移动操作和触控操作手势；

计算机，与所述触光鼠标连接；所述计算机包括显示器、输入设备、存储器、处理器；

所述显示器用于显示待布置测试点的电路板的图像；所述输入设备用于输入待布置测试点的电路板中元器件的尺寸信息；

所述存储器上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，根据预设规则和所述移动操作、所述触控操作手势在待布置测试点的电路板的图像上布置测试点；

所述触光鼠标包括壳体和设置于所述壳体内的触控部、光学部、MCU和适配器；所述触控部用于感应手指在所述壳体表面的操作手势；所述光学部用于感应所述触光鼠标的移动；所述MCU与所述触控部和光学部连接，所述MCU内预设有操作手势和与所述操作手势对应的操作指令；所述适配器用于连接所述MCU和所述计算机；所述处理器用于根据所述触光鼠标的移动在所述显示器上生成同步移动的光标，并根据所述预设规则在光标区域的电路板图像上布置测试点；所述处理器还用于在所述触控部感应到的操作手势与所述MCU内预设的操作手势相匹配时，执行与该操作手势对应的操作指令；

所述计算机根据所述待布置测试点的电路板的图像和输入的所述待布置测试点的电路板中元器件的尺寸信息，得到所述元器件的基准布局分辨率以及所述电路板中元器件的实际尺寸和定位，通过所述实际尺寸和所述显示器尺寸的比例参数作为缩放比例，将布局内所有元素的尺寸乘以所述缩放比例，所述显示器显示根据所述缩放比例调整后的待布置测试点的电路板的图像。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述触控部包括：

微动开关，用于对手指的点击位置进行识别；

电容矩阵列，用于根据电容感应来获知手指的位置和移动情况。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述光学部包括：发光二极管，用于产生红外线；

棱光镜，用于改变所述红外线的光路，使所述红外线自所述壳体底部的开口向外出射；

光学传感器，用于收集自外部反射回来的红外线；

光学透镜，用于光学成像，将被壳体底部开口外的图像呈现在后续的微成像仪中，所述图像包含被所述红外线照亮区域的图像；

微成像仪，用于所述光学透镜的成像显示；

数字微处理器，用于分析所述微成像仪的成像显示，判断所述触光鼠标的移动方向和位移距离，并形成脉冲信号汇入所述MCU形成所述触光鼠标的移动信息，所述处理器根据所述移动信息在所述显示器上生成同步移动的光标。

4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，MCU内预设的操作手势包括敲击、点动、多点触控中的一种或多种；所述操作指令包括：确定、取消、翻页、翻面、缩放、光标移动中的一种或多种。

5.如权利要求2所述的装置，其特征在于，所述微动开关包括一机械开关，所述机械开关用于在开启状态时控制所述微动开关和所述电容矩阵列正常工作，在关闭状态时控制所述微动开关和所述电容矩阵列停止工作。

6.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述预设规则为电路板测试点布置所遵循的规则。

7.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置包括图像获取装置，所述图像获取装置与所述计算机连接，用于获取待布置测试点的电路板的图像，并传输到所述计算机。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述图像获取装置为扫描仪或照相机。

9.一种用于电路板中测试点布置的方法，基于计算机和触光鼠标，其特征在于，计算机包括显示器、输入设备、存储器、处理器，包括如下步骤：

S101：计算机获取待布置测试点的电路板的图像，并显示在显示器上；输入待布置测试点的电路板中元器件的尺寸信息，包括：所述计算机根据所述待布置测试点的电路板的图像和输入的所述待布置测试点的电路板中元器件的尺寸信息，得到所述元器件的基准布局分辨率以及所述电路板中元器件的实际尺寸和定位，通过所述实际尺寸和所述显示器尺寸的比例参数作为缩放比例，将布局内所有元素的尺寸乘以所述缩放比例，所述显示器显示根据所述缩放比例调整后的待布置测试点的电路板的图像；

S102：计算机获取对触光鼠标的移动操作和触控操作手势，在显示器上显示与移动操作同步移动的光标并执行与所述触控操作手势相匹配的操作指令；计算机根据预设规则在待布置测试点的电路板的图像上布置测试点；所述触光鼠标包括壳体和设置于所述壳体内的触控部、光学部、MCU和适配器，所述触控部用于感应手指在所述壳体表面的操作手势；所述光学部用于感应所述触光鼠标的移动；所述MCU与所述触控部和光学部连接，所述MCU内预设有操作手势和与所述操作手势对应的操作指令；所述适配器用于连接所述MCU和所述计算机；所述处理器用于根据所述触光鼠标的移动在所述显示器上生成同步移动的光标，并根据所述预设规则在光标区域的电路板图像上布置测试点；所述处理器还用于在所述触控部感应到的操作手势与所述MCU内预设的操作手势相匹配时，执行与该操作手势对应的操作指令；

所述存储器上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，根据预设规则和所述移动操作、所述触控操作手势在待布置测试点的电路板的图像上布置测试点。