CN102607491A - 测试点自动查找与优化系统及方法 - Google Patents

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Abstract

一种测试点自动查找与优化方法,包括以下步骤:在该空间坐标系内设置至少一个定位点,及设置定位点到测试点的最大距离;导入电路板的各线路名称、各线路上的测试点及各测试点的坐标值;接收用户选取的线路名称,载入该线路上的测试点,计算各测试点到各定位点的距离,以查找到距离各测试点最近的定位点;比较各测试点与其最近的定位点间的距离,找出一个最小距离值;以构成该最小距离值的定位点为基准点,依据各测试点与基准点间的距离远近对各测试点进行优化排序并存储该优化排序后的测试点。本发明还提供一种测试点自动查找与优化系统。利用本发明可提高测试精度。

Description

测试点自动查找与优化系统及方法
技术领域
本发明涉及一种测试系统及方法,尤其涉及一种测试点自动查找与优化系统及方法。
背景技术
在执行自动化测试时,机械手臂得到了广泛的应用。目前,控制机械手臂测试待测物需提前选择一个标准定位点,以该定位点为基准位置,寻找测试点,以测试物体。然而,在实际工作中,由于长时间的操作、长距离的移动机械手臂,使得机械手臂累积了许多误差,这些误差常会造成机械手臂的误操作,轻则影响生产效率,重则危害操作人员的生命安全。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种测试点自动查找与优化系统,其无需自行计算线路的长度,可避免许多无法细算及小数点进位的问题,提升了测试的准确度,及排除了由于测不准而破坏探针的问题。
还有必要提供一种测试点自动查找与优化方法,其无需自行计算线路的长度,可避免许多无法细算及小数点进位的问题,提升了测试的准确度,及排除了由于测不准而破坏探针的问题。
一种测试点自动查找与优化系统,包括:设置模块,用于在电路板的电路图上建立空间坐标系,并在该空间坐标系内设置至少一个定位点,及设置定位点到测试点的最大距离;导入模块,用于导入电路板的各线路名称、各线路上的测试点及各测试点的坐标值,并将该导入的线路名称、测试点及各测试点的坐标值存入一个列表中;计算模块,用于接收用户于所述列表中选取的线路名称,载入该线路上的测试点,计算各测试点到各定位点的距离,以查找到距离各测试点最近的定位点;比较模块,用于比较上述各测试点与距离各测试点最近的定位点间的距离值,找出一个最小距离值;优化排序模块,用于以构成所述最小距离值的定位点为基准点,依据各测试点与该基准点间的距离远近对上述各测试点进行优化排序;及记录模块,用于将所述优化排序后的测试点存入该基准点的待测线路列表中。
一种测试点自动查找与优化方法,包括以下步骤:在电路板的电路图上建立空间坐标系,并在该空间坐标系内设置至少一个定位点,及设置定位点到测试点的最大距离;导入电路板的各线路名称、各线路上的测试点及各测试点的坐标值,并将该导入的线路名称、测试点及各测试点的坐标值存入一个列表中;接收用户于所述列表中选取的线路名称,载入该线路上的测试点,计算各测试点到各定位点的距离,以查找到距离各测试点最近的定位点;比较上述各测试点与距离各测试点最近的定位点间的距离值,找出一个最小距离值;以构成该最小距离值的定位点为基准点,依据各测试点与该基准点间的距离远近对上述各测试点进行优化排序;及将优化排序后的测试点存入该基准点的待测线路列表中。
相较于现有技术,所述测试点自动查找与优化系统及方法,其可对测试点进行查找与优化排序,并按照该优化排序控制机械手臂上的探针自动地查找各测试点,以完成精确测试电路板的目的,避免了机械手臂由于长时间长距离的移动所造成的误差,及排除了由于测不准而破坏探针的问题。
附图说明
图1是本发明测试点自动查找与优化系统较佳实施例的运行环境示意图。
图2是图1中测试点自动查找与优化系统的功能模块图。
图3是本发明测试点自动查找与优化方法较佳实施例的作业流程图。
主要元件符号说明
  主机   1
  机械手臂   2
  输入装置   3
  输出装置   4
  电路板   5
  测试点自动查找与优化系统   10
  数据库   12
  存储设备   14
  处理器   16
  设置模块   100
  导入模块   102
  计算模块   104
  比较模块   106
  优化排序模块   108
  记录模块   110
  控制模块   112
具体实施方式
如图1所示,是本发明测试点自动查找与优化系统较佳实施例的运行环境示意图。该测试点自动查找与优化系统10运行于主机1中,该主机1与机械手臂2相连,用于控制机械手臂2移动,该机械手臂2的末端可安装一根探针(图中未示出),实现对电路板5的测试点上的待测物体进行测试。本实施例中,该电路板5为印刷电路板,所述测试点上的待测物体如印刷电路板上某条线路上的端点或元器件。
另外,所述主机1还连接于一个输入装置3和一个输出装置4。该输入装置3可以为手柄或者鼠标,键盘等,控制机械手臂2移动到指定的位置。该输出装置4可以为显示器,用于显示参数设置界面及测试线路类型选择界面。该测试线路类型包括电路板5的缩印电路(Coupon)和电路板5的实际线路(Trace)。其中,Coupon为电路板5的缩小版电路。
在所述主机1内还存在一个数据库12、一个存储设备14和至少一个处理器16。所述数据库12用于存储与Coupon和Trace相关的所有文件。文件中记载了电路板5上的各线路名称、各线路上的测试点、各测试点的坐标值、测试面、线路长和测试引脚等资讯。
如图2所示的测试点自动查找与优化系统10包含一个或多个软件模块,该一个或多个软件模块是具有特定功能的软件程序段,存储在所述存储设备14中,并由所述至少一个处理器16来执行。
所述测试点自动查找与优化系统10包括设置模块100、导入模块102、计算模块104、比较模块106、优化排序模块108、记录模块110和控制模块112。
设置模块100用于在电路板5的电路图内建立空间坐标系,并在该空间坐标系内设置至少一个定位点,及设置定位点到测试点的最大距离。本实施例中,每个定位点包括一个待测线路列表和一个超出范围列表。
导入模块102用于根据选择的测试线路类型从数据库12中打开相应的文件,导入文件内记载的电路板5上的各线路名称、各线路上的测试点及各测试点的坐标值,并将该导入的线路名称、测试点及各测试点的坐标值存入一个列表中。所述测试线路类型包括Coupon和Trace。例如,数据库12中记载的Coupon的文件包括NetSinglePinNoPin.txt和EachLengthByLayer.htm,Trace的文件包括EachLengthByPinPare.htm和EachLengthByNet.htm,其中,NetSinglePinNoPin.txt中记录了每条线路上的所有端点的位置,EachLengthByLayer.htm中记录了每条线路上的所有端点的长度,EachLengthByPinPare.htm中记录了每条线路上所有端点位置及长度,EachLengthByNet.htm中记录了每条线路总长度。
计算模块104用于接收用户于所述列表中选取的线路名称,载入该线路上的测试点,并计算各测试点到各定位点的距离,以查找到距离各测试点最近的定位点。
比较模块106比较上述各测试点与距离各测试点最近的定位点间的距离值,找出一个最小距离值。例如,已知上述计算模块104计算出距离测试点a最近的定位点为定位点A,其距离为5厘米;距离测试点b最近的定位点为定位点B,其距离为3厘米;距离测试点c最近的定位点为定位点C,其距离为6厘米;距离测试点d最近的定位点为定位点B,其距离为4厘米,则比较模块106所找到的最小距离值为3厘米,即测试点b与定位点B间的距离最小。
优化排序模块108以构成该最小距离值的定位点为基准点,依据各测试点与该基准点间的距离远近对上述各测试点进行优化排序。本实施例中,所述优化排序模块108是依据各测试点与基准点间的距离由小到大或由大到小的顺序对上述各测试点进行的优化排序。例如,由上述例子可以得到测试点b与定位点B间的距离最小,优化排序模块108以定位点B为基准点,以与该基准点间的距离由小到大的顺序对上述各测试点进行优化排序。假设计算模块104计算出两个相等的距离值且该两个相等值均为最小距离值,如测试点b与定位点B间的距离为3厘米,测试点c与定位点C间的距离也为3厘米,则优化排序模块108以最先与测试点进行比较的定位点为基准点,如以定位点B为基准点。
记录模块110将所述优化排序后的测试点存入该基准点(如定位点B)的待测线路列表中。在此步骤中,若上述各测试点与基准点间的距离超过所设置的最大距离时,记录模块110会发出超范围警报,并将该测试点的坐标值存入该基准点(即上述定位点B)的超出范围列表中。
控制模块112用于控制所述机械手臂2移动至各定位点,根据各定位点的待测线路列表中记录的测试点的优化排序,依次测试各测试点上的待测物体。具体而言,计算模块104计算出每个定位点的待测线路列表中各个测试点之间的距离,控制模块112控制机械手臂2移动,使得该机械手臂2上的探针测试该待测线路列表中第一个测试点上的待测物体,然后,根据所述第一个测试点的位置、所述优化排序及上述计算出的测试点间的距离确定下一个测试点的相对位置,并测试该下一个测试点上的待测物体,直到控制模块112控制机械手臂2上的探针测试完该待测线路列表中所有测试点上的待测物体。
如图3所示,是本发明测试点自动查找与优化方法较佳实施例的作业流程图。
步骤S01,设置模块100在电路板5的电路图上建立空间坐标系,并在该空间坐标系内设置至少一个定位点,及设置定位点到测试点的最大距离。
步骤S02,导入模块102根据选择的测试线路类型从数据库12中打开相应的文件,导入文件内记载的电路板5上的各线路名称、各线路上的测试点及各测试点的坐标值,并将该导入的线路名称、测试点及各测试点的坐标值存入一个列表中。
步骤S03,计算模块104接收用户于所述列表中选取的线路名称,载入该线路上的测试点。
步骤S04,计算模块104计算各测试点到各定位点的距离,以查找到距离各测试点最近的定位点。例如,计算模块104计算测试点a、b、c、d与定位点A和B间的距离,根据计算出的距离值识别出距离各测试点最近的定位点,例如,计算模块104计算出距离测试点a最近的定位点A,距离测试点b最近的定位点B,距离测试点c最近的定位点C,距离测试点d最近的定位点B。
步骤S05,比较模块106比较上述各测试点与距离各测试点最近的定位点间的距离值,找出一个最小距离值。例如,已知上述计算模块104所计算出的测试点a与定位点A间的距离为5厘米,测试点b与定位点B间的距离为3厘米,测试点c与定位点C间的距离为6厘米,测试点d与定位点B间的距离为4厘米,则比较模块106所找到的最小距离值为3厘米,即测试点b与定位点B间的距离最小。
步骤S06,优化排序模块108以构成该最小距离值的定位点为基准点,依据各测试点与该基准点间的距离远近对上述各测试点进行优化排序。本实施例中,所述优化排序模块108是依据与基准点间的距离由小到大或由大到小的顺序对上述各测试点进行的优化排序。例如,由步骤S05中的例子可以得到测试点b与定位点B间的距离最小,优化排序模块108以定位点B为基准点,以与该基准点间的距离由小到大的顺序对上述各测试点进行优化排序。
在此步骤中,假设计算模块104计算出两个相等的距离值且该两个相等值均为最小距离值,如测试点b与定位点B间的距离为3厘米,测试点c与定位点C间的距离也为3厘米,则优化排序模块108以最先与测试点进行比较的定位点为基准点,如以定位点B为基准点。
步骤S07,记录模块110将所述优化排序后的测试点存入该基准点(即所述定位点B)的待测线路列表中。在此步骤中,若上述各测试点与基准点间的距离超过所设置的最大距离时,记录模块110会发出超范围警报,并将该测试点的坐标值存入该基准点(即所述定位点B)的超出范围列表中。
步骤S08,控制模块112控制机械手臂2移动至各定位点,根据各定位点的待测线路列表中记录的测试点的顺序,测试各测试点上的待测物体。具体而言,该步骤S08可包括如下步骤:(a)计算模块104计算上述各个测试点之间的距离;(b)控制模块112控制机械手臂2测试所述待测线路列表中第一个测试点上的待测物体;及(c)根据第一个测试点的位置、所述优化排序及上述计算出的测试点间的距离确定下一个测试点的相对位置,并测试该下一个测试点上的待测物体,直到测试完上述待测线路列表中各测试点上的待测物体。
最后所应说明的是,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制,尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换,而不脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (9)

1.一种测试点自动查找与优化系统,其特征在于,该系统包括:
设置模块,用于在电路板的电路图上建立空间坐标系,并在该空间坐标系内设置至少一个定位点,及设置定位点到测试点的最大距离;
导入模块,用于导入电路板的各线路名称、各线路上的测试点及各测试点的坐标值,并将该导入的线路名称、测试点及各测试点的坐标值存入一个列表中;
计算模块,用于接收用户于所述列表中选取的线路名称,载入该线路上的测试点,计算各测试点到各定位点的距离,以查找到距离各测试点最近的定位点;
比较模块,用于比较上述各测试点与距离各测试点最近的定位点间的距离值,找出一个最小距离值;
优化排序模块,用于以构成所述最小距离值的定位点为基准点,依据各测试点与该基准点间的距离远近对上述各测试点进行优化排序;及
记录模块,用于将所述优化排序后的测试点存入该基准点的待测线路列表中。
2.如权利要求1所述的测试点自动查找与优化系统,其特征在于,所述计算模块还用于计算上述各个测试点之间的距离。
3.如权利要求2所述的测试点自动查找与优化系统,其特征在于,该系统还包括控制模块,用于控制机械手臂测试上述待测线路列表中第一个测试点上的待测物体,根据第一个测试点的位置、所述优化排序及上述计算出的测试点间的距离确定下一个测试点的相对位置,并测试该下一个测试点上的待测物体,直至测试完所述待测线路列表中各测试点上的待测物体。
4.如权利要求1所述的测试点自动查找与优化系统,其特征在于,所述优化排序模块是依据各测试点与基准点间的距离由小到大或由大到小的顺序对上述各测试点进行优化排序。
5.如权利要求1所述的测试点自动查找与优化系统,其特征在于,所述记录模块还用于当上述各测试点与基准点间的距离超过所设置的最大距离时,发出超范围警报,并将该测试点的坐标值存入所述基准点的超出范围列表中。
6.一种测试点自动查找与优化方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:
在电路板的电路图上建立空间坐标系,并在该空间坐标系内设置至少一个定位点,及设置定位点到测试点的最大距离;
导入电路板的各线路名称、各线路上的测试点及各测试点的坐标值,并将该导入的线路名称、测试点及各测试点的坐标值存入一个列表中;
接收用户于所述列表中选取的线路名称,载入该线路上的测试点,计算各测试点到各定位点的距离,以查找到距离各测试点最近的定位点;
比较上述各测试点与距离各测试点最近的定位点间的距离值,找出一个最小距离值;
以构成该最小距离值的定位点为基准点,依据各测试点与该基准点间的距离远近对上述各测试点进行优化排序;及
将优化排序后的测试点存入该基准点的待测线路列表中。
7.如权利要求6所述的测试点自动查找与优化方法,其特征在于,该方法还包括:
当上述各测试点与基准点间的距离超过所设置的最大距离时,发出超范围警报;及
将该测试点的坐标值存入该基准点的超出范围列表中。
8.如权利要求6所述的测试点自动查找与优化方法,其特征在于,所述优化排序是指依据各测试点与基准点间的距离由小到大或由大到小的顺序对上述各测试点进行优化排序。
9.如权利要求6或8所述的测试点自动查找与优化方法,其特征在于,该方法还包括:
(a)计算上述各个测试点之间的距离;
(b)控制机械手臂测试所述待测线路列表中第一个测试点上的待测物体;及
(c)根据第一个测试点的位置、所述优化排序及上述计算出的测试点间的距离确定下一个测试点的相对位置,并测试该下一个测试点上的待测物体,直到测试完上述待测线路列表中各测试点上的待测物体。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104422845A (zh) * 2013-08-28 2015-03-18 深圳麦逊电子有限公司 一种pcb电气性能测试点的智能四线选点方法
CN104535103A (zh) * 2014-12-31 2015-04-22 东莞誉铭新工业有限公司 一种自动生成测试点的方法
CN109270438A (zh) * 2018-11-01 2019-01-25 郑州云海信息技术有限公司 一种测试电路板的方法及装置
CN109270084A (zh) * 2018-11-02 2019-01-25 郑州云海信息技术有限公司 基于检测ict测点确定pcb质量的方法、装置及介质
CN111174744A (zh) * 2019-12-30 2020-05-19 深圳市一博科技股份有限公司 一种能筛选及计算pcb板上测试点之间物理间距的方法
CN111258825A (zh) * 2018-11-30 2020-06-09 上海海拉电子有限公司 一种用于电路板中测试点布置的装置及方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1167926A (ja) * 1997-08-26 1999-03-09 Nec Corp 半導体集積回路のレイアウトパターン作成装置
JP2001357094A (ja) * 2000-06-13 2001-12-26 Sony Corp プリント基板の配線構造チェックシステム
JP2002009238A (ja) * 2000-06-19 2002-01-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd スキャンパス設計方法
JP2002174890A (ja) * 2000-12-07 2002-06-21 Hitachi Ltd 半導体集積回路の製造方法
TW200919239A (en) * 2007-10-25 2009-05-01 Inventec Corp System and method for testing PCB component placement
CN101667219A (zh) * 2009-09-29 2010-03-10 重庆大学 印制电路板测试路径优化方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1167926A (ja) * 1997-08-26 1999-03-09 Nec Corp 半導体集積回路のレイアウトパターン作成装置
JP2001357094A (ja) * 2000-06-13 2001-12-26 Sony Corp プリント基板の配線構造チェックシステム
JP2002009238A (ja) * 2000-06-19 2002-01-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd スキャンパス設計方法
JP2002174890A (ja) * 2000-12-07 2002-06-21 Hitachi Ltd 半導体集積回路の製造方法
TW200919239A (en) * 2007-10-25 2009-05-01 Inventec Corp System and method for testing PCB component placement
CN101667219A (zh) * 2009-09-29 2010-03-10 重庆大学 印制电路板测试路径优化方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104422845A (zh) * 2013-08-28 2015-03-18 深圳麦逊电子有限公司 一种pcb电气性能测试点的智能四线选点方法
CN104422845B (zh) * 2013-08-28 2017-06-23 深圳麦逊电子有限公司 一种pcb电气性能测试点的智能四线选点方法
CN104535103A (zh) * 2014-12-31 2015-04-22 东莞誉铭新工业有限公司 一种自动生成测试点的方法
CN109270438A (zh) * 2018-11-01 2019-01-25 郑州云海信息技术有限公司 一种测试电路板的方法及装置
CN109270084A (zh) * 2018-11-02 2019-01-25 郑州云海信息技术有限公司 基于检测ict测点确定pcb质量的方法、装置及介质
CN111258825A (zh) * 2018-11-30 2020-06-09 上海海拉电子有限公司 一种用于电路板中测试点布置的装置及方法
CN111258825B (zh) * 2018-11-30 2023-11-14 上海海拉电子有限公司 一种用于电路板中测试点布置的装置及方法
CN111174744A (zh) * 2019-12-30 2020-05-19 深圳市一博科技股份有限公司 一种能筛选及计算pcb板上测试点之间物理间距的方法
CN111174744B (zh) * 2019-12-30 2022-02-18 深圳市一博科技股份有限公司 一种能筛选及计算pcb板上测试点之间物理间距的方法

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