KR102534507B1 - 회로 기판 검사 시스템 - Google Patents

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KR102534507B1
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    • G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing

Abstract

본 발명은 다양한 형상의 회로 기판을 고정 지그(Fixture) 없이 전기적 특성 검사(BBT)를 수행할 수 있도록 구현한 고안된 회로 기판 검사 시스템에 관한 것으로, 하우징; 상기 하우징의 상측에 설치되어 피검사체인 회로기판이 거치되는 기판 안착부; 상기 하우징에 연결 설치되며, 상기 기판 안착부에 거치되어 있는 상기 회로기판 상부의 각 접점들의 캐패시턴스 값을 측정하는 제1 측정부; 상기 하우징에 연결 설치되며, 상기 제1 측정부와 독립적으로 구동하면서 상기 기판 안착부에 거치되어 있는 상기 회로기판 상부의 각 접점들의 캐패시턴스 값을 측정하는 제2 측정부; 및 상기 제1 측정부와 상기 제2 측정부에서 측정된 각 캐패시턴스 값들의 기준치 범위 내의 포함 여부 확인을 통해 상기 회로기판 상부의 각 접점들의 이상 여부를 판독하는 양품 판독부;를 포함한다.

Description

회로 기판 검사 시스템{circuit board inspection system}
본 발명은 회로 기판 검사 시스템에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 다양한 형상의 회로 기판을 고정 지그(Fixture) 없이 전기적 특성 검사(BBT)를 수행할 수 있도록 구현한 고안된 회로 기판 검사 시스템에 관한 것이다.
현재 인쇄회로기판의 전기적 특성 검사를 하기 위해서는 지그를 제작함으로 인해 자재비, 인건비 등의 비용과 소요시간이 길이 신속한 대응과 원가 절감에 문제가 발생되었다.
휴대폰과 전자제품은, 특성상 외국 제품 등과 개발 시기부터 경쟁하며 잦은 변경으로 지그 비용 증가 및 납기 대응이 늦어졌으나, 지그 없이 PCB BBT를 검사하여 신뢰성을 보장하고, 신속하고 정확한 대응이 필요한 실정이다.
한편, 전술한 배경 기술은 발명자가 본 발명의 도출을 위해 보유하고 있었거나, 본 발명의 도출 과정에서 습득한 기술 정보로서, 반드시 본 발명의 출원 전에 일반 공중에게 공개된 공지기술이라 할 수는 없다.
한국등록특허 제10-0747107호 (2007.08.07. 공고)
본 발명의 일측면은 다양한 형상의 회로 기판을 고정 지그(Fixture) 없이 회로 기판으로부터 상승되어 이동되는 검사용 프로브를 이용하여 회로 기판의 전기적 특성 검사(BBT)를 수행할 수 있도록 구현한 고안된 회로 기판 검사 시스템을 제공한다.
본 발명의 기술적 과제는 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 회로 기판 검사 시스템은, 하우징; 상기 하우징의 상측에 설치되어 피검사체인 회로기판이 거치되는 기판 안착부; 상기 하우징에 연결 설치되며, 상기 기판 안착부에 거치되어 있는 상기 회로기판 상부의 각 접점들의 캐패시턴스 값을 측정하는 제1 측정부; 상기 하우징에 연결 설치되며, 상기 제1 측정부와 독립적으로 구동하면서 상기 기판 안착부에 거치되어 있는 상기 회로기판 상부의 각 접점들의 캐패시턴스 값을 측정하는 제2 측정부; 및 상기 제1 측정부와 상기 제2 측정부에서 측정된 각 캐패시턴스 값들의 기준치 범위 내의 포함 여부 확인을 통해 상기 회로기판 상부의 각 접점들의 이상 여부를 판독하는 양품 판독부;를 포함한다.
일 실시예에서, 상기 제1 측정부는, 상기 기판 안착부로부터 상측으로 이격되어 좌우 수평 방향으로 슬라이딩 이동 가능하도록 상기 하우징의 상측에 연결 설치되는 제1 슬라이더; 상기 제1 슬라이더의 일측을 따라 전후 방향으로 슬라이딩 이동 가능하도록 상기 제1 슬라이더의 일측에 연결 설치되는 제2 슬라이더; 상하 수직 방향으로의 왕복 운동이 가능하도록 상기 제2 슬라이더의 하측에 연결 설치되는 제3 슬라이더; 및 상기 제3 슬라이더의 하측에 설치되며, 상기 슬라이더가 하강 이동 시 함께 하강 이동하여 상기 회로기판 상부의 접점에 밀착되면 해당 접점의 캐패시턴스 값을 측정한 뒤 실시간으로 상기 양품 판독부로 전송하는 프로브;를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 기판 안착부는, 상기 하우징의 상측에 설치되는 베이스 플레이트; 내측에 상기 회로기판이 안착될 수 있도록 "ㅁ" 형태로 형성되어 상기 베이스 플레이트의 상측에 설치되되, 4 개의 각 모서리가 경사면으로 이루어지는 안착 프레임; 및 상기 안착 프레임의 4 개의 각 모서리 경사면에 나사결합에 의해 각각 맞물려 연결 설치되며, 회전됨에 따라 상기 안착 프레임의 내측에 안착되어 있는 상기 회로기판의 각 모서리에 각각 밀착되어 상기 회로기판이 검사 도중에 움직이지 못하도록 체결할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 모서리 체결부는, 상기 안착 프레임의 모서리 경사면에 나사결합에 의해 맞물려 연결 설치되며, 정방향 또는 역방향으로 회전됨에 따라 상기 안착 프레임의 내측에 안착되어 있는 상기 회로기판의 모서리 방향으로 접근되도록 전진 이동되거나 멀어지도록 후진 이동되는 간격 조절 볼트; 및 상기 회로기판의 모서리에 밀착 안착될 수 있도록 "ㄱ" 형상으로 형성되어 상기 간격 조절 볼트의 전단에 연결 설치되는 "ㄱ"형 클램프;를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 "ㄱ"형 클램프는, 상기 회로기판의 모서리에 밀착 안착될 수 있도록 "ㄱ" 형상으로 절곡 형성되며, 상기 간격 조절 볼트가 연결 설치되는 배면이 상기 간격 조절 볼트의 전단과 직각되도록 경사면을 형성하는 클램프 바디; 상기 클램프 바디의 일측 절곡부의 전면에 연결 설치되어 상기 클램프 바디가 상기 회로기판의 모서리에 밀착 안착됨에 따라 상기 회로기판의 일 테두리면에 밀착 안착되는 제1 완충 밀착부; 상기 클램프 바디의 타측 절곡부의 전면에 연결 설치되어 상기 클램프 바디가 상기 회로기판의 모서리에 밀착 안착됨에 따라 상기 회로기판의 다른 테두리면에 밀착 안착되는 제2 완충 밀착부; 상기 클램프 바디의 배면을 따라 길이 방향으로 연장 형성되는 배면 슬라이딩홈; 및 상기 배면 슬라이딩홈에 슬라이딩 이동이 가능하도록 연결 설치되며, 후단에 상기 간격 조절 볼트의 전단이 회동 가능하도록 연결 설치되는 연결 슬라이더;를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 완충 밀착부는, 상기 클램프 바디의 일측 절곡부의 전면을 따라 길이 방향으로 연장 형성되는 수평 완충 슬라이딩홈; 상기 수평 완충 슬라이딩홈에서 좌우 수평 방향으로 슬라이딩 이동 가능하도록 연결 설치되는 수평 완충 슬라이더; 상기 수평 완충 슬라이딩홈의 일측에 설치되어 상기 수평 완충 슬라이딩홈에 안착되는 상기 수평 완충 슬라이더의 일측을 지지하는 제1 수평 완충 스프링; 상기 수평 완충 슬라이딩홈의 타측에 설치되어 상기 수평 완충 슬라이딩홈에 안착되는 상기 수평 완충 슬라이더의 타측을 지지하는 제2 수평 완충 스프링; 상기 수평 완충 슬라이딩홈의 연장 형성 방향과 직각되도록 상기 수평 완충 슬라이더의 전단으로 개구부를 형성하면서 상기 수평 완충 슬라이더의 내측을 따라 전후 수직 방향으로 연장 형성되는 수직 완충 슬라이딩홈; 전단이 상기 수평 완충 슬라이더의 전방으로 노출되고 후단이 상기 수직 완충 슬라이딩홈에서 전후 수직 방향으로 슬라이딩 이동이 가능하도록 연결 설치되는 수직 완충 슬라이더; 상기 수직 완충 슬라이딩홈의 후단 일측에 설치되어 상기 수직 완충 슬라이딩홈에 안착되는 상기 수직 완충 슬라이더의 후단 일측을 지지하는 제1 수직 완충 스프링; 및 상기 수직 완충 슬라이딩홈의 후단 타측에 설치되어 상기 수직 완충 슬라이딩홈에 안착되는 상기 수직 완충 슬라이더의 후단 타측을 지지하는 제2 수직 완충 스프링;을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 완충 밀착부는, 상기 수직 완충 슬라이딩홈의 후단에서 상기 제1 수직 완충 스프링과 상기 제2 수직 완충 스프링 사이에 설치되어 상기 수직 완충 슬라이딩홈에 안착되는 상기 수직 완충 슬라이더의 후단을 지지하며, 상기 수직 완충 슬라이더가 상기 수직 완충 슬라이딩홈을 따라 삽입됨에 따라 압축되면서 내부 공간에 수용 중인 유체를 공급하는 제1 완충 실린더; 상기 수평 완충 슬라이더의 일측에 설치되어 상기 제1 수평 완충 스프링의 내측을 따라 배치되며, 상기 제1 완충 실린더로부터 유체가 공급됨에 따라 신장되는 제2 완충 실린더; 및 상기 수평 완충 슬라이더의 타측에 설치되어 상기 제2 수평 완충 스프링의 내측을 따라 배치되며, 상기 제1 완충 실린더로부터 유체가 공급됨에 따라 신장되는 제3 완충 실린더;를 포함할 수 있다.
상술한 본 발명의 일측면에 따르면, 휴대폰의 경우 한 번의 양산을 위해서는 최소한 부품 별로 10 번 내지 20 번의 변경이 발생되는 바, 5 개의 부품이 있을 경우 50 내지 100 벌의 BBT Fixture용 지그를 제작하여야 하는 바 그 비용이 상당한데, 본 발명에 의할 경우 각 부품 별로 별도 구비하여야 했던 BBT Fixture용 지그를 구비할 필요 없이 검사 수행이 가능하여 납기에 필요한 시간을 감축시키는 효과를 제공할 수 있다.
본 발명의 효과는 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 이하에서 설명할 내용으로부터 통상의 기술자에게 자명한 범위 내에서 다양한 효과들이 포함될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 회로 기판 검사 시스템의 개략적인 구성이 도시된 도면이다.
도 2는 도 1의 양품 판독부를 보여주는 도면이다.
도 3은 도 1의 제1 측정부를 보여주는 도면이다.
도 4 및 도 5는 도 1의 기판 안착부의 일 실시예를 보여주는 도면들이다.
도 6 및 도 7은 도 5의 "ㄱ"형 클램프를 보여주는 도면들이다.
도 8 및 도 9는 도 7의 제1 완충 밀착부를 보여주는 도면들이다.
후술하는 본 발명에 대한 상세한 설명은, 본 발명이 실시될 수 있는 특정 실시예를 예시로서 도시하는 첨부 도면을 참조한다. 이들 실시예는 당업자가 본 발명을 실시할 수 있기에 충분하도록 상세히 설명된다. 본 발명의 다양한 실시예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 여기에 기재되어 있는 특정 형상, 구조 및 특성은 일 실시예와 관련하여 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 다른 실시예로 구현될 수 있다. 또한, 각각의 개시된 실시예 내의 개별 구성요소의 위치 또는 배치는 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 변경될 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 후술하는 상세한 설명은 한정적인 의미로서 취하려는 것이 아니며, 본 발명의 범위는, 적절하게 설명된다면, 그 청구항들이 주장하는 것과 균등한 모든 범위와 더불어 첨부된 청구항에 의해서만 한정된다. 도면에서 유사한 참조부호는 여러 측면에 걸쳐서 동일하거나 유사한 기능을 지칭한다.
이하, 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 보다 상세하게 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 회로 기판 검사 시스템의 개략적인 구성이 도시된 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 회로 기판 검사 시스템(10)은, 하우징(100), 기판 안착부(200), 제1 측정부(300), 제2 측정부(400) 및 양품 판독부(500)를 포함한다.
하우징(100)은, 본 발명의 일 실시예에 따른 회로 기판 검사 시스템(10)의 외형을 형성하며, 기판 안착부(200), 제1 측정부(300), 제2 측정부(400) 및 양품 판독부(500) 등의 구성들이 설치된다.
기판 안착부(200)는, 하우징(100)의 상측에 설치되어 피검사체인 회로기판(P)이 거치된다.
제1 측정부(300)는, 하우징(100)에 연결 설치되며, 기판 안착부(200)에 거치되어 있는 회로기판(P) 상부의 각 접점들의 캐패시턴스 값을 측정한 뒤 양품 판독부(500)로 전달한다.
제2 측정부(400)는, 하우징(100)에 연결 설치되며, 제1 측정부(300)와 독립적으로 구동하면서 기판 안착부(200)에 거치되어 있는 회로기판(P) 상부의 각 접점들의 캐패시턴스 값을 측정한 뒤 양품 판독부(500)로 전달한다.
양품 판독부(500)는, 제1 측정부(300)와 제2 측정부(400)에서 측정된 각 캐패시턴스 값들의 기준치 범위 내의 포함 여부 확인을 통해 회로기판(P) 상부의 각 접점들의 이상 여부를 판독한다.
상술한 바와 같은 구성을 가지는 본 발명의 일 실시예에 따른 회로 기판 검사 시스템(10)은, 휴대폰의 경우 한 번의 양산을 위해서는 최소한 부품 별로 10 번 내지 20 번의 변경이 발생되는 바, 5 개의 부품이 있을 경우 50 내지 100 벌의 BBT Fixture용 지그를 제작하여야 하는 바 그 비용이 상당한데, 본 발명에 의할 경우 각 부품 별로 별도 구비하여야 했던 BBT Fixture용 지그를 구비할 필요 없이 검사 수행이 가능하여 납기에 필요한 시간을 감축시키는 효과를 제공할 수 있다.
도 3은 도 1의 제1 측정부를 보여주는 도면이다.
도 3을 참조하면, 제1 측정부(300)는, 제1 슬라이더(310), 제2 슬라이더(320), 제3 슬라이더(330) 및 프로브(340)를 포함한다.
제1 슬라이더(310)는, 기판 안착부(200)로부터 상측으로 이격되어 좌우 수평 방향으로 슬라이딩 이동 가능하도록 하우징(100)의 상측에 연결 설치된다.
제2 슬라이더(320)는, 제1 슬라이더(310)의 일측을 따라 전후 방향으로 슬라이딩 이동 가능하도록 제1 슬라이더(310)의 일측에 연결 설치된다.
제3 슬라이더(330)는, 상하 수직 방향으로의 왕복 운동이 가능하도록 제2 슬라이더(320)의 하측에 연결 설치된다.
프로브(340)는, 제3 슬라이더(330)의 하측에 설치되며, 슬라이더가 하강 이동 시 함께 하강 이동하여 회로기판(P) 상부의 접점에 밀착되면 해당 접점의 캐패시턴스 값을 측정한 뒤 실시간으로 양품 판독부(500)로 전송한다.
상술한 바와 같은 구성을 가지는 제1 측정부(300)는, 회로기판(P)으로부터 상승 이격되어 이동되는 프로브(340)를 이용하여 회로기판(P)의 각 접점을 이동하면서 접점의 캐패시턴스 값을 측정한 뒤 실시간으로 양품 판독부(500)로 전송함으로써, 회로기판(P)의 규격에 구애됨이 없이 다양한 형상의 회로기판(P)을 하나의 시스템을 이용하여 측정할 수 있다.
도 4 및 도 5는 도 1의 기판 안착부의 일 실시예를 보여주는 도면들이다.
도 4 및 도 5를 참조하면, 기판 안착부(200)는, 베이스 플레이트(210), 안착 프레임(220) 및 4 개의 모서리 체결부(600)를 포함한다.
베이스 플레이트(210)는, 하우징(100)의 상측에 설치되며, 회로기판(P)을 올려 놓을 수 있도록 평면을 형성한다.
안착 프레임(220)은, 내측에 회로기판(P)이 안착될 수 있도록 "ㅁ" 형태로 형성되어 베이스 플레이트(210)의 상측에 설치되되, 4 개의 각 모서리가 경사면(221)으로 이루어진다.
4 개의 모서리 체결부(600)는, 안착 프레임(220)의 4 개의 각 모서리 경사면(221)에 나사결합에 의해 각각 맞물려 연결 설치되며, 도 5에 도시된 바와 같이 회전됨에 따라 안착 프레임(220)의 내측에 안착되어 있는 회로기판(P)의 각 모서리에 각각 밀착되어 회로기판(P)이 검사 도중에 움직이지 못하도록 체결한다.
일 실시예에서, 모서리 체결부(600)는, 간격 조절 볼트(610) 및 "ㄱ"형 클램프(620)를 포함할 수 있다.
간격 조절 볼트(610)는, 안착 프레임(220)의 모서리 경사면(221)에 나사결합에 의해 맞물려 연결 설치되며, 사용자가 정방향 또는 역방향으로 회전됨에 따라 전단에 연결 설치되는 "ㄱ"형 클램프(620)를 안착 프레임(220)의 내측에 안착되어 있는 회로기판(P)의 모서리 방향으로 접근되도록 전진 이동되거나 멀어지도록 후진 이동된다.
"ㄱ"형 클램프(620)는, 회로기판(P)의 모서리에 밀착 안착될 수 있도록 "ㄱ" 형상으로 형성되어 간격 조절 볼트(610)의 전단에 연결 설치된다.
상술한 바와 같은 구성을 가지는 기판 안착부(200)는, 다양한 규격의 회로기판(P)을 체결함으로써, 회로기판(P)의 규격에 대응하여 별도의 지그를 구비함에 따라 발생될 수 있는 비용의 증가를 방지할 수 있다.
도 6 및 도 7은 도 5의 "ㄱ"형 클램프를 보여주는 도면들이다.
도 6 및 도 7을 참조하면, "ㄱ"형 클램프(620)는, 클램프 바디(621), 제1 완충 밀착부(622), 제2 완충 밀착부(623), 배면 슬라이딩홈(624) 및 연결 슬라이더(625)를 포함한다.
클램프 바디(621)는, 회로기판(P)의 모서리에 밀착 안착될 수 있도록 "ㄱ" 형상으로 절곡 형성되며, 간격 조절 볼트(610)가 연결 설치되는 배면이 간격 조절 볼트(610)의 전단과 직각되도록 경사면(621c)을 형성하며, 제1 완충 밀착부(622), 제2 완충 밀착부(623), 배면 슬라이딩홈(624) 및 연결 슬라이더(625) 등의 구성들이 설치된다.
제1 완충 밀착부(622)는, 클램프 바디(621)의 일측 절곡부(621a)의 전면에 연결 설치되어 클램프 바디(621)가 회로기판(P)의 모서리에 밀착 안착됨에 따라 회로기판(P)의 일 테두리면에 밀착 안착된다.
제2 완충 밀착부(623)는, 클램프 바디(621)의 타측 절곡부(621b)의 전면에 연결 설치되어 클램프 바디(621)가 회로기판(P)의 모서리에 밀착 안착됨에 따라 일 테두리면과 직각되도록 만나는 회로기판(P)의 다른 테두리면에 밀착 안착된다.
배면 슬라이딩홈(624)은, 클램프 바디(621)의 배면(621c)을 따라 길이 방향으로 연장 형성된다.
연결 슬라이더(625)는, 배면 슬라이딩홈(624)에 슬라이딩 이동이 가능하도록 연결 설치되며, 후단에 간격 조절 볼트(610)의 전단이 회동 가능하도록 연결 설치된다.
상술한 바와 같은 구성을 가지는 형 클램프(620)는, 간격 조절 볼트(610)에 의해 전진 이동된 뒤 회로기판(P)의 모서리에 정밀하게 밀착 안착되어 회로기판(P)을 체결함으로써, 접점 검사 도중에 움직이는 것을 방지함으로써 보다 정밀한 검사가 이루어지도록 할 수 있다.
도 8 및 도 9는 도 7의 제1 완충 밀착부를 보여주는 도면들이다.
도 8 및 도 9를 참조하면, 제1 완충 밀착부(622)는, 수평 완충 슬라이딩홈(6221), 수평 완충 슬라이더(6222), 제1 수평 완충 스프링(6223), 제2 수평 완충 스프링(6224), 수직 완충 슬라이딩홈(6225), 수직 완충 슬라이더(6226), 제1 수직 완충 스프링(6227) 및 제2 수직 완충 스프링(6228)을 포함한다.
여기서, 제2 완충 밀착부(623)는, 후술하는 제1 완충 밀착부(622)와 동일한 구성으로서, 제1 완충 밀착부(622)의 수평 완충 슬라이딩홈(6221), 수평 완충 슬라이더(6222), 제1 수평 완충 스프링(6223), 제2 수평 완충 스프링(6224), 수직 완충 슬라이딩홈(6225), 수직 완충 슬라이더(6226), 제1 수직 완충 스프링(6227) 및 제2 수직 완충 스프링(6228) 등의 구성들이 동일하게 적용될 수 있다.
수평 완충 슬라이딩홈(6221)은, 클램프 바디(621)의 일측 절곡부(621a)의 전면을 따라 길이 방향으로 연장 형성된다.
수평 완충 슬라이더(6222)는, 수평 완충 슬라이딩홈(6221)에서 좌우 수평 방향으로 슬라이딩 이동 가능하도록 연결 설치된다.
일 실시예에서, 수평 완충 슬라이더(6222)는, 수평 완충 슬라이딩홈(6221)의 일측 및 타측을 따라 연장 형성되는 슬라이딩 유도홈(설명의 편의상 도면에는 도시하지 않음)에 안착되어 슬라이딩 하기 위한 슬라이딩 유도 돌기(6222a)가 일측 및 타측에 형성될 수 있다.
제1 수평 완충 스프링(6223)은, 수평 완충 슬라이딩홈(6221)의 일측에 설치되어 수평 완충 슬라이딩홈(6221)에 안착되는 수평 완충 슬라이더(6222)의 일측을 지지한다.
제2 수평 완충 스프링(6224)은, 수평 완충 슬라이딩홈(6221)의 타측에 설치되어 수평 완충 슬라이딩홈(6221)에 안착되는 수평 완충 슬라이더(6222)의 타측을 지지한다.
수직 완충 슬라이딩홈(6225)은, 수평 완충 슬라이딩홈(6221)의 연장 형성 방향과 직각되도록 수평 완충 슬라이더(6222)의 전단으로 개구부를 형성하면서 수평 완충 슬라이더(6222)의 내측을 따라 전후 수직 방향으로 연장 형성된다.
수직 완충 슬라이더(6226)는, 전단이 수평 완충 슬라이더(6222)의 전방으로 노출되고 후단이 수직 완충 슬라이딩홈(6225)에서 전후 수직 방향으로 슬라이딩 이동이 가능하도록 연결 설치되며, 회로기판(P)의 테두리에 밀착 안착되어 회로기판(P)을 체결한다.
제1 수직 완충 스프링(6227)은, 수직 완충 슬라이딩홈(6225)의 후단 일측에 설치되어 수직 완충 슬라이딩홈(6225)에 안착되는 수직 완충 슬라이더(6226)의 후단 일측을 지지한다.
제2 수직 완충 스프링(6228)은, 수직 완충 슬라이딩홈(6225)의 후단 타측에 설치되어 수직 완충 슬라이딩홈(6225)에 안착되는 수직 완충 슬라이더(6226)의 후단 타측을 지지한다.
상술한 바와 같은 구성을 가지는 제1 완충 밀착부(622)는, 제1 완충 실린더(S1), 제2 완충 실린더(S2) 및 제3 완충 실린더(S3)를 포함한다.
제1 완충 실린더(S1)는, 수직 완충 슬라이딩홈(6225)의 후단에서 제1 수직 완충 스프링(6227)과 제2 수직 완충 스프링(6228) 사이에 설치되어 수직 완충 슬라이딩홈(6225)에 안착되는 수직 완충 슬라이더(6226)의 후단을 지지하며, 수직 완충 슬라이더(6226)가 수직 완충 슬라이딩홈(6225)을 따라 삽입됨에 따라 압축되면서 내부 공간에 수용 중인 공기 등의 압축성 유체를 제2 완충 실린더(S2) 및 제3 완충 실린더(S3)로 공급한다.
제2 완충 실린더(S2)는, 수평 완충 슬라이더(6222)의 일측에 설치되어 제1 수평 완충 스프링(6223)의 내측을 따라 배치되며, 제1 완충 실린더(S1)로부터 유체가 공급됨에 따라 신장됨으로써, 수평 완충 슬라이더(6222)가 수평 완충 슬라이딩홈(6221)에서 일측 방향으로 이동되려는 힘을 감소시켜 준다.
제3 완충 실린더(S3)는, 수평 완충 슬라이더(6222)의 타측에 설치되어 제2 수평 완충 스프링(6224)의 내측을 따라 배치되며, 제1 완충 실린더(S1)로부터 유체가 공급됨에 따라 신장됨으로써, 수평 완충 슬라이더(6222)가 수평 완충 슬라이딩홈(6221)에서 일측 방향으로 이동되려는 힘을 감소시켜 준다.
상술한 바와 같은 구성을 가지는 제1 완충 밀착부(622)는, 회로기판(P)의 테두리에 밀착 안착되어 회로기판(P)을 체결하는 동시에, 회로기판(P)으로부터 전달되는 진동 또는 충격 등을 효과적으로 완충시켜 줌으로써, 회로기판(P)의 검사 도중에 회로기판(P)가 움직이는 것을 효과적으로 방지할 수 있다.
상술된 실시예들은 예시를 위한 것이며, 상술된 실시예들이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 상술된 실시예들이 갖는 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 상술된 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.
본 명세서를 통해 보호받고자 하는 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태를 포함하는 것으로 해석되어야 한다.
10: 회로 기판 검사 시스템
100: 하우징
200: 기판 안착부
300: 제1 측정부
400: 제2 측정부
500: 양품 판독부

Claims (3)

  1. 하우징;
    상기 하우징의 상측에 설치되어 피검사체인 회로기판이 거치되는 기판 안착부;
    상기 하우징에 연결 설치되며, 상기 기판 안착부에 거치되어 있는 상기 회로기판 상부의 각 접점들의 캐패시턴스 값을 측정하는 제1 측정부;
    상기 하우징에 연결 설치되며, 상기 제1 측정부와 독립적으로 구동하면서 상기 기판 안착부에 거치되어 있는 상기 회로기판 상부의 각 접점들의 캐패시턴스 값을 측정하는 제2 측정부; 및
    상기 제1 측정부와 상기 제2 측정부에서 측정된 각 캐패시턴스 값들의 기준치 범위 내의 포함 여부 확인을 통해 상기 회로기판 상부의 각 접점들의 이상 여부를 판독하는 양품 판독부;를 포함하며,
    상기 기판 안착부는,
    상기 하우징의 상측에 설치되는 베이스 플레이트;
    내측에 상기 회로기판이 안착될 수 있도록 "ㅁ" 형태로 형성되어 상기 베이스 플레이트의 상측에 설치되되, 4 개의 각 모서리가 경사면으로 이루어지는 안착 프레임; 및
    상기 안착 프레임의 4 개의 각 모서리 경사면에 나사결합에 의해 각각 맞물려 연결 설치되며, 회전됨에 따라 상기 안착 프레임의 내측에 안착되어 있는 상기 회로기판의 각 모서리에 각각 밀착되어 상기 회로기판이 검사 도중에 움직이지 못하도록 체결하는 4 개의 모서리 체결부;를 포함하며,
    상기 모서리 체결부는,
    상기 안착 프레임의 모서리 경사면에 나사결합에 의해 맞물려 연결 설치되며, 정방향 또는 역방향으로 회전됨에 따라 상기 안착 프레임의 내측에 안착되어 있는 상기 회로기판의 모서리 방향으로 접근되도록 전진 이동되거나 멀어지도록 후진 이동되는 간격 조절 볼트; 및
    상기 회로기판의 모서리에 밀착 안착될 수 있도록 "ㄱ" 형상으로 형성되어 상기 간격 조절 볼트의 전단에 연결 설치되는 "ㄱ"형 클램프;를 포함하며,
    상기 "ㄱ"형 클램프는,
    상기 회로기판의 모서리에 밀착 안착될 수 있도록 "ㄱ" 형상으로 절곡 형성되며, 상기 간격 조절 볼트가 연결 설치되는 배면이 상기 간격 조절 볼트의 전단과 직각되도록 경사면을 형성하는 클램프 바디;
    상기 클램프 바디의 일측 절곡부의 전면에 연결 설치되어 상기 클램프 바디가 상기 회로기판의 모서리에 밀착 안착됨에 따라 상기 회로기판의 일 테두리면에 밀착 안착되는 제1 완충 밀착부;
    상기 클램프 바디의 타측 절곡부의 전면에 연결 설치되어 상기 클램프 바디가 상기 회로기판의 모서리에 밀착 안착됨에 따라 상기 회로기판의 다른 테두리면에 밀착 안착되는 제2 완충 밀착부;
    상기 클램프 바디의 배면을 따라 길이 방향으로 연장 형성되는 배면 슬라이딩홈; 및
    상기 배면 슬라이딩홈에 슬라이딩 이동이 가능하도록 연결 설치되며, 후단에 상기 간격 조절 볼트의 전단이 회동 가능하도록 연결 설치되는 연결 슬라이더;를 포함하며,
    상기 제1 완충 밀착부는,
    상기 클램프 바디의 일측 절곡부의 전면을 따라 길이 방향으로 연장 형성되는 수평 완충 슬라이딩홈;
    상기 수평 완충 슬라이딩홈에서 좌우 수평 방향으로 슬라이딩 이동 가능하도록 연결 설치되는 수평 완충 슬라이더;
    상기 수평 완충 슬라이딩홈의 일측에 설치되어 상기 수평 완충 슬라이딩홈에 안착되는 상기 수평 완충 슬라이더의 일측을 지지하는 제1 수평 완충 스프링;
    상기 수평 완충 슬라이딩홈의 타측에 설치되어 상기 수평 완충 슬라이딩홈에 안착되는 상기 수평 완충 슬라이더의 타측을 지지하는 제2 수평 완충 스프링;
    상기 수평 완충 슬라이딩홈의 연장 형성 방향과 직각되도록 상기 수평 완충 슬라이더의 전단으로 개구부를 형성하면서 상기 수평 완충 슬라이더의 내측을 따라 전후 수직 방향으로 연장 형성되는 수직 완충 슬라이딩홈;
    전단이 상기 수평 완충 슬라이더의 전방으로 노출되고 후단이 상기 수직 완충 슬라이딩홈에서 전후 수직 방향으로 슬라이딩 이동이 가능하도록 연결 설치되는 수직 완충 슬라이더;
    상기 수직 완충 슬라이딩홈의 후단 일측에 설치되어 상기 수직 완충 슬라이딩홈에 안착되는 상기 수직 완충 슬라이더의 후단 일측을 지지하는 제1 수직 완충 스프링; 및
    상기 수직 완충 슬라이딩홈의 후단 타측에 설치되어 상기 수직 완충 슬라이딩홈에 안착되는 상기 수직 완충 슬라이더의 후단 타측을 지지하는 제2 수직 완충 스프링;을 포함하는, 회로 기판 검사 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 측정부는,
    상기 기판 안착부로부터 상측으로 이격되어 좌우 수평 방향으로 슬라이딩 이동 가능하도록 상기 하우징의 상측에 연결 설치되는 제1 슬라이더;
    상기 제1 슬라이더의 일측을 따라 전후 방향으로 슬라이딩 이동 가능하도록 상기 제1 슬라이더의 일측에 연결 설치되는 제2 슬라이더;
    상하 수직 방향으로의 왕복 운동이 가능하도록 상기 제2 슬라이더의 하측에 연결 설치되는 제3 슬라이더; 및
    상기 제3 슬라이더의 하측에 설치되며, 상기 슬라이더가 하강 이동 시 함께 하강 이동하여 상기 회로기판 상부의 접점에 밀착되면 해당 접점의 캐패시턴스 값을 측정한 뒤 실시간으로 상기 양품 판독부로 전송하는 프로브;를 포함하는, 회로 기판 검사 시스템.
  3. 삭제
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Citations (3)

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KR100747107B1 (ko) 2002-05-07 2007-08-07 에이티지 테스트 시스템즈 게엠베하 인쇄회로기판 검사용 장치 및 방법과, 상기 장치 및방법용 검사 프로브
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