TWI231315B - Electronic part and method for manufacturing the same - Google Patents

Electronic part and method for manufacturing the same Download PDF

Info

Publication number
TWI231315B
TWI231315B TW091134485A TW91134485A TWI231315B TW I231315 B TWI231315 B TW I231315B TW 091134485 A TW091134485 A TW 091134485A TW 91134485 A TW91134485 A TW 91134485A TW I231315 B TWI231315 B TW I231315B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
alloy
plating
metal
conductive medium
nickel
Prior art date
Application number
TW091134485A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200302877A (en
Inventor
Tatsuo Kunishi
Toshi Numata
Junichi Saitoh
Yukio Sakabe
Original Assignee
Murata Manufacturing Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co filed Critical Murata Manufacturing Co
Publication of TW200302877A publication Critical patent/TW200302877A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI231315B publication Critical patent/TWI231315B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/228Terminals
    • H01G4/248Terminals the terminals embracing or surrounding the capacitive element, e.g. caps
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/31Coating with metals
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/31Coating with metals
    • C23C18/32Coating with nickel, cobalt or mixtures thereof with phosphorus or boron
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/54Contact plating, i.e. electroless electrochemical plating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G2/00Details of capacitors not covered by a single one of groups H01G4/00-H01G11/00
    • H01G2/02Mountings
    • H01G2/06Mountings specially adapted for mounting on a printed-circuit support
    • H01G2/065Mountings specially adapted for mounting on a printed-circuit support for surface mounting, e.g. chip capacitors
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/24Reinforcing the conductive pattern
    • H05K3/245Reinforcing conductive patterns made by printing techniques or by other techniques for applying conductive pastes, inks or powders; Reinforcing other conductive patterns by such techniques
    • H05K3/246Reinforcing conductive paste, ink or powder patterns by other methods, e.g. by plating

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)

Description

0) I2313i5 發明說明 ·;7'\: 明說明應敘明:發明所屬之技術領域、先前技術、内容、實施方式及圖式簡單說明) 【發明之詳細說明】 【發明所屬之技術領域】 本發明關於無電解鍍膜(無電敷鍍)方法、電子零件的製 &方法以及電子零件,特別關於疊層電容器或雜訊篩檢程 式等晶片型電子零件的製造方法以及使用該製造方法製 造的電子零件。 【習知技術】 對陶瓷基體表面已形成電極的電子零件,爲了提高電極 的耐熱性和焊接潤濕性常進行^鎳或鍍錫,在電極表面形 成鍍祺。 敷鍍按照覆蓋方法分類時可大致區分爲以下兩種方 法。在含有金屬離子的鍍浴中通過電流而進行電解,從而 把金屬析出到被敷鍍物體上的電鍍方法和無電敷鍍方 法 無電敷錢有向錢液添加還原劑,利用該還原劑的氧化 反應中生成的電子使金屬析出的反應的自催化蜇,以及利 用溶液中的金屬離子與基體金屬之間的置換反應的置換 型〇 自催化型的無電敷鍍中,有必要把電極表面處理成對還 原劑的氧化反應有催化活性的表.面。所以把被敷鍍物體浸 潰在含有鈀(pd)的催化劑液中而進行電極的表面處理,使 電極表面具有催化活性。 但是,把被敷鍍物體浸潰在如上所述的含有Pd的催化劑 液中時除電極以外的部分也附著Pd而被催化活化,從而以 -6 ·
1231315 (2) 該Pd作核也進行鍍Ni,其結果是除電極以外的部分也有可 能析出Ni。並且因爲要進行作爲附著Pd催化劑的預處理的 脫脂或浸蝕等處理,工序繁瑣,所以這種敷鍍主要採用電 鍍方法進行。 另一方面,近年來發現還原劑使用硼化合物時不用進行 Pd的催化處理也可以在電極上直接實施無電敷鍍,從而提 出了通過基於這些發現的無電敷鍍在Cu電極表面依次把 Ni-B層、Ni-P層、以及Au層順序疊層的技術(特開平 10-135607號公報)。 通過這個技術,在被敷鍍物體上不附著Pd催化劑也可以 實施無電敷鍍,可以把Ni-B層、Ni-P層、以及Au層順序最 層,所以可以只在電極表面形成Ni類鍍膜以及All錢膜,電 極以外的部分不會生成鍍膜。 【發明所欲解決之課題】 上述敷鍍方法中的電鍍方法存在以下的問題。 (1)現在越來越要求電子零件的小型化,像晶片型電子零 件的小型物品一般用滾筒式電鍍方法進行電鍍處理。 伴隨這些電子零件的小型化,電子零件有可能被夾在滾 筒内壁存在的很多孔中,所以有必要使上述孔的孔徑變 小’但是孔徑變小後鍍浴的流通就會變得困難。 使用滾筒式電鍍時爲了確保電極的通電性,採用把很多 導電媒體(media)投入到滾筒裝置内部的電鍍處理方法。從 而,伴隨電子零件的小型化,爲了使其浮到表面上導電媒 體也必須使用直徑在〇 · 8 m m以下的媒體,所以不能使用混 1231315(3) 有直徑爲1 mm左右的比較大的導電媒體的廉價導電媒體 (所謂”鋼球’’)。從經濟性觀點來看希望往滾筒裝置内投入 形狀不一致的廉價的鋼球而進行電鍍處理,但是伴隨著電 子零件的小型化,滾筒裝置的孔徑也必須變小,結果導電 媒體會被這種孔徑小的孔夾住,所以不得不使用價格高的 直徑小的導電媒體或形狀一致的鋼球,導致生産成本的急 劇上升。 (2) 處理具有多個端子的多端子電子零件時,要使對各個 端子的供電狀態保持一致是比較困難的一件事情,所以各 個端子之間鍍膜的膜厚沒有均勻性,鍍膜的膜厚産生偏 差。這時,必須確保最小限度p必要的膜厚度,因此要設 定可以形成以最小膜厚爲基準的鍍膜的電鍍條件,這時從 整體來說膜厚增加,所以例如進行鍍Ni.時因爲鍍膜的應力 使鍍膜有可能從電極剝離。 (3) 還有,處理非線性電阻等以陶瓷材料作爲基材的低電 阻的電子零件時,通過電鍍,電子會流到陶瓷基材表面, 所以陶瓷基材的表面也會異常析出電鍍金屬。特別是滾筒 中因爲電流分佈複雜,所以避免這些電鍍金屬在陶瓷基材 上的異常析出是困難的事情。 以上是存在的問題。 一 另一方面,特開平10-135607號公報中列出的無電敷鍍 方法因爲不須在電極表面附著Pd催化劑也可以進行敷鍍 處理,所以可以只在電極上形成希望的鍍膜,但是還原劑 一般要使用高價的二甲基胺甲硼烷((CH3)2NHBH3 :以下稱
1231315 (4) 爲nDMABn),所以把這種技術用在製造用於各種用途的不 同電子零件時會導致生産成本的急遽上升。 而且,實施鍍錫的時候,因爲錫的自催化性能較低,所 以一般的無電敷鍍中不能持續並且自發地析出錫,從而使 現在的無電敷鍍存在難以得到具有任意膜厚的錫鍍膜的 問題。 本發明是爲了解決這些問題而進行的,它的目的在於提 供廉價而且只在指定的部位容易地形成所希望的鍍膜的 電子零件的製造方法以及提供採用該製造方法製造的成 本低並且具有良好的可靠性的電子零件。 【發明之解決課題之手段】_ 以往,採用電鍍方法對像晶片型電子零件的小型部件進 行滾筒式電鍍時必須如上述那樣要往滾筒内投入小直徑 的導電媒體,而且導電媒體的表面也會析出電鍍金屬,因 此需要過量的電鍍金屬,從而導致生産成本的急遽上升, 並且對於多端子電子零件存在膜厚分佈變大等問題點。而 且電鍍中解決這些問題存在技術上的困難。 於是,本發明者們著眼於無電敷鍍方法,專心研究了只 在指定的部位形成鍍膜的方法,並得到了如下觀點。在鍍 浴中混合被敷鍍物體與電化~學上具有比析出金屬的析出 電位低的浸潰電位的導電媒體,通過使該導電媒體與被敷 鍍物體的電極接觸,電極的可逆電位受到析出電位的影響 在電化學上往低的方向偏移,其結果是,往鍍浴中不添加 還原劑也有可能通過鍍液中的金屬離子與導電媒體的化 (5) (5) 學 子 敷 混 電 電 法 合 與 轉 體 電 以 是 也 提 媒 媒 製 電 1231315 反應在電極上析出金屬。 本發明是基於這些觀點而完成的,採用本發明方法的電 令件的製造方法具有如下特點。對表面已形成電極的被 鍍物體實施敷鍍處理而製造電子零件時,通過在鍍浴中 合上述被敷鍍物體與具有電化學上比析出金屬的析出 位更低的浸潰電位的導電媒體而實施無電敷鍍,在上述 極上形成鍍膜。 另外’作爲混合上述導電媒體與上述被敷鍍物體的方 ’通過授拌鍍浴槽使上述導電媒體與上述被敷鍍物體混 的方法對小型的被敷鍍物體進行敷鍍處理比較理想。 因此本發明具有如下特點。$過把放有上述被敷鍍物體 上述導電媒體的容器在裝滿上述鍍浴的鍍浴槽内旋 、搖動、傾斜或振盪而使上述被敷鍍物體與上述導電媒 接觸0 則所但 題以電電且導 否。 。問可導導而的 , 亂球的也的的。小 小散鋼上且狀大況徑 大的的應並形較情直 的佈致反,種比的的 定分一,度各的住價 一 流不小程用右夾高 到電狀很的使左孔ffl 達致形徑小以 m 的吏 要導或孔極可m筒 Μ 一 ο 要 徑會體的到 ,1 滾 、、 孔而媒置達度爲被 U 的從電裝徑由徑體广 。 置,導筒孔自直媒候球 裝難的滾使的均電時鋼 筒困徑使能狀平導的的 滾得直使可形用生件致 中變小即有的使産零 一 鍍會用中以體過免子狀 電通使鍍所媒通避電形 的流合敷,電即以型或 往的適電少導。可小體 以流不無很高體體造媒
-10·
1231315, 所以本發明具有以下特點。即上述導電媒體的平均直徑 在1 · 0 mm以上。在這裏,平均直徑雖只指球形物體的平均 直從’但是對於球形物體以外的各種立體形狀物體,平均 直徑指的是立體的最大徑的平均值。 還有’本發明的電子零件製造方法具有以下特點。上述 電極由Cu、Cii合金、Ag或Ag合金製成,同時上述導電媒 體使用從 A卜 Zn、Fe、Mn、v、、Ta、Nb、Ga、Cd、In 或這些元素的合金中選擇的至少1種金屬片,在含有Ni化 合物的鑛浴中混合上述被敷鍍物體與上述金屬片,從而實 %上述無電敷鍍’在上述電極上形成以…爲主要成分的第 1層鍍膜(Ni鍍膜或m合金鍍膜p 即,Al 、 Zn 、 Fe 、 Mn 、 v 、 Cr 、 Ta 、 Nb 、 Ga 、 cd 、 In 或這些元素的合金的浸潰電位在電化學上低於構成電極 的Cu、Cu合金、Ag或Ag合金,所以把由Al、Zn、Fe、Μη、 V、Cr、Ta、Nb、Ga、Cd、In或這些元素的合金製成的金 屬片與被敷鍍物體混合時,該金屬片溶解的同時對這些電 極材料(Cu、Cu合金、Ag以及Ag合金)産生影響。其結果是, Cu、Ag以及Ag合金的可逆電位往低的方向偏移,所以在 電極上析出電化學上電位高的Ni或Ni合金而形成第i層鍍 膜。 ,· 鍍液的pH值或有無絡合劑對導電媒體的浸潰電位的影 響較大,所以在鹼性鍍浴中可以使用的導電媒體的種類更 多0 還有,本發明的電子零件的製造方法具有以下特點。上 1231315 _ ⑺ 述導電媒體使用從Al、Zn、Fe、Μη、V、Cr、Ta、Nb或這 些元素的合金中選擇的至少!種金屬片,在至少含有 合物的鍍浴中混合上述被敷鍍物體與上述金屬片,從而實 施上述無電敷鍍,在上述第丨層鍍膜的上面形成第2層鍍膜 (Sn或Sn合金)。 根.據上述製造方法,構成第!層鍍膜的別或川合金受到 了電化學上浸潰電位低的Al、Zn、Fe、Μη、V、Cr、Ta、 Nb或這些元素的合金的影響,其結果是,第i層鍍膜(Ni 鍍膜)的可逆電位向低的方向偏移,從而在第1層鍍膜上析 出金屬,形成了第2層鍍膜(Sn或Sn合金)。 另外’本發明具有以下特點。上述電極由Ni、Ni合金、 Cu、Cu合金、Ag或Ag合金形成,同時上述導電媒體使用 從Al、Zn、Fe、Μη、V、Cr、Ta、Nb或這些元素的合金中 選擇的至少1種金屬片,在至少含有Sn化合物的鍍浴中混 合上述被敷鍍物體與上述金屬片,從而實施上述無電敷 鍍,在上述電極的表面形成鍍膜(S η鍍膜或Sn合金鍍膜)。 即’構成電極的Ni、Ni合金、Cu、Cu合金、Ag或Ag合 金受到電化學上具有低的浸潰電位的A卜Zn、Fe、Μη、V、 Cr、Ta、Nb或這些元素的合金的影響,使電極的可逆電位 向低的方向偏移,在電極上開始析出金屬,通過這些過程 形成鍍膜(S η或S η合金)。所以在以往認爲沒有自催化性 能,不適合於無電敷鍍方法的Sn或Sn-Pb合金、Sn-Ag合 金、Sn-Bi合金等的Sn合金敷鍍中也可以利用本發明的無 電敷鑛而容易地進行敷鏡。 -12- 1231315
⑻ 另外,本發明是如上所述的那樣把電化學上具有比析出 金屬的析出電位低的浸潰電位的導電媒體在鍍浴中與上 述被敷鍍物體混合,通過這個措施使電極材料的電位向低 的方向偏移,從而在電極上析出金屬的。因此本發明可以 貫現析出金屬、導電媒體、電極材料之間的各種組合。 即’本發明的電子零件的製造方法具有以下特點。上述 電極由Ni、Ni合金、Cu、Cu合金、Ag或Ag合金製成的同 時’上述導電媒體使用從Al、Zn、Fe、Μη、V、Cr、Ta、 Nb、Ga、Cd、In或這些元素的合金中選擇的至少i種金屬 片,在含有Co化合物的鍍浴中混合上述被敷鍍物體與上述 金屬片,從而實施上述無電敷鍍,在上述電極上形成Co 或Co合金的鍍膜。 另外本發明還具有如下特點。上述電極由Ni、Ni合金、 Cu、Cu合金、Ag或Ag合金形成的同時,上述導電媒體使 用從 Al、Zn、Fe、Ni、Ni 合金、Sn、Μη、V、Cr、Ta、Nb、 Ga、Cd、In、Co、Mo、Pb或這些元素的合金中選擇的至 少1種金屬片,在含有從Pd化合物或Au化合物中選擇的1 種金屬化合物的鍍浴中混合上述被敷鍍物體與上述金屬 片,從而實施上述無電敷鍍,在上述電極上形成Pd或Au 或它們的合金的鍍膜。 一 另外本發明還具有如下特點。上述電極由Ni、Ni合金、 Ag或Ag合金形成的同時,上述導電媒體使用從Al、Zn、 Fe、Ni、Ni合金、Sn、Μη、V、Cr、Ta、Nb、Ga、Cd、In、 Co、Mo、Pb或這些元素的合金中選擇的至少1種金屬片, (9) 1231315 在含有Cu化合物的錢浴中混合上述被敷鍍物體與上述金 屬片,從而實施上述無電敷鍍,在上述電極上形成Cu鍍膜。 本發明還具有以下特點。上述電極由Ni、Ni合金、Cu 或Cu合金形成的同時’上述導電媒體使用從a卜Fe、 Ni、Ni合金、Sn、Mn、v、以、Ta、价、cd、
Co、Mo、Pb或攻些疋素的合金中選擇的至少又種金屬片, 在含有Ag化合物的鍍浴中混合上述被敷鍍物體與上述金 屬片,從而實施上述無電敷鍍,在上述電極上形成α§鍍膜。 另外本^月的電子零件以採用上述製造方法製造爲其 特點。 即本發月的電子零件通過無電以&冑並 地得到只在電極表面由所去《 μ 田所希望的金屬形成鍍膜的電子零 件。 特別是因爲可以連續地析出Sn而形成sn鍍膜或Sn合金 鍍膜’所以可以廉價並且容易地得到形成所希望的Ni-Sn 鍍膜的具有良好的可靠性的電子零件。 另外,本發明提供了以下無電敷鍍方法。在含有析出金 屬的先驅物與電化學上具有低於上述析出金屬的析出電 位的浸潰電位的導電媒體的鍍浴中,通過混合具有被敷鍍 部分的工件(work: piece)和上述導電媒體,在上述被敷鍍 部分形成上述析出金屬的鏡膜的.無電敷鍍方法。 本發明的無電敷鍍方法較好的是通過把放有上述工件 與上述導電媒體的容器在裝滿上述鍍浴的鍍浴槽内旋 轉、搖動、傾斜或振盪而使上述工件與上述導電媒體接 -14- (10)1231315
觸。另外, 在本發 含有從鋁 它們的合 物作爲上 被敷鍍部 述被敷鍍 另外, 電媒體含 合金中選 作爲上述 件,在上 另外,. 電媒體含 合金中選 作爲上述 述被敷鍍 成的工件 另外,, 電媒體含 銦或它們 化合物作 片和上述 合金形成 導電媒體的平均直徑在1.0 mm以上的比較理想。 明的無電敷錢方法中,鍍浴中作爲上述導電媒體 辞鐵、毅、釩、鉻、鉈、鈮、鎵、鎘、銦或 · 金中込擇的至少1種金屬片,通過在含有鎳化合 述析出金屬先驅物的鍍浴中混合金屬片和上述 分由銅、銅合金、銀或銀合金形成的工件,在上 部分上形成含鎳的第1層鍍膜。 在本發明的無電敷鍍方法中,鍍浴中作爲上述導 有從!呂鋅、鐵、猛、鈒、絡、銘、銳或它們的Φ 擇的至夕1種金屬通過在至少含有錫化合物 析出金屬先驅物的鍍—浴中混合金屬片和上述工 述第1層鍍膜上由錫或錫合金形成第2層鍍膜。 在本發明的無電錢方法巾,㈣巾作爲上述導 有從鋁、鋅、鐵、錳、釩、鉻、鉈、鈮或它們的· 擇的至少1種金屬[通過在至少含有錫化合物 析出金屬先驅物的鍍浴中混合上述金屬片和上 部分由錄、錄合金、銅、銅合金、銀或銀合金形 Φ ,在上述被敷錢部分上由踢或錫合金形成錢膜i 在本發明的無電敷錢方法中’鍍浴中作爲上述導· 有從鋁、鋅、鐵、錳、釩、鉻、鉈、鈮、鎵、鎘、, 的合金中選擇的至少1種金屬片,通過在含有姑 爲上述析出金屬先驅物的鍍浴中混合上述金屬 - 被敷鍍部分由鎳、鎳合金、銅、銅合金、銀或銀· 的工件’在上述被敷鍍部分上由鈷或鈷合金形成 -15 -
1231315
GO 鍍膜。 另外,在本發明的無電敷鍍方法中,鍍浴中作爲上述導 電媒體含有從銘、鋅、鐵、鎮、鎮合金、錫、锰、飢、鉻、 4它、銳、鎵、編、銦、始、翻、船或它們的合金中選擇的 至少1種金屬片,通過在含有從鈀化合物或金化合物中選 擇的1種金屬化合物作爲上述析出金屬先驅物的鑛浴中混 合上述金屬片和上述被敷鍍部分由鎮、錄合金、銅、銅合 金、銀或銀合金形成的工件,在上述被敷鍍部分上由鈀或 金或它們的合金形成鍍膜。 另外,在本發明的無電敷鍍方法中,鍍浴中作爲上述導 電媒體含有從鋁、鋅、鐵、鎳、_鎳合金、錫、錳、釩、鉻、 蛇、銳、鎵、編、钢、始、、斜或它們的合金中選擇的 至少1種金屬片,通過在含有銅化合物作爲上述析出金屬 先驅物的鍍浴中混合上述金屬片和上述被敷鍍部分由 鎳、鎳合金、銀或銀合金形成的工件,在上述被敷鍍部分 上形成含銅鍍膜。 還有,在本發明的無電敷鍍方法中,鍍浴中作爲上述導 電媒體含有從鋁、鋅、鐵、鎳、鎳合金、錫、錳、釩、鉻、 鉈、鈮、鎵、鎘、銦、鈷、鉬、鉛或它們的合金中選擇的 至少1種金屬片,通過在含有銀化合物作爲上述析出金屬 先驅物的鍍浴中混合上述金屬片和上述被敷鍍部分由 錄、錄合金、銅或銅合金形成的工件,在上述被敷鐘部分 上形成含銀鍍膜。 【具體實施方式】 1231315 - (η) \^^mi 下面,將參考附圖詳細說明本發明的實施方式。 圖1是表示按照本發明的電子零件的製造方法製造出來 的晶片型電子零件的一種實施方式的類比剖視圖。 圖中,陶瓷基材1是用鈦酸鋇或锆鈦酸鉛(PZT)等陶瓷材 料加工成方形板狀而製成的,陶竟基材1的兩端由Cu、Cii 合金、Ag、Ag-Pd等形成了電極部分2。另外,上述電極部 分2的表面覆蓋有Ni鍍膜3,該Ni鍍膜3的表面覆有Sn鍍膜 4 〇 以下說明該電子零件的製造方法。 首先,把經規定的成型·焙燒處理製成的陶瓷燒結體切 成方形板狀而製造出陶瓷基材_1,然後採用衆所周知的方 法把Cu、Cu合金、Ag、Ag-Pd等電極材料印刷在陶瓷基材 1的兩端並烘焙,從而在該陶瓷基材1的兩端形成電極部分 2 ° 還有,在本實施方式中,用導電媒體使電極電位往低的 方向偏移後通過與鍍浴中的金屬離子的氧化還原反應在 電極表面析出金屬,從而在電極部分2的表面生成Ni鍍膜3 以及Sn鍍膜4。 以下將詳細說明Ni鍍膜3以及Sn鍍膜4的生成方法。 (l)Ni 鍍膜 3 一 本實施方式中,把平均直徑爲1 mm並且電化學上浸潰電 位低於析出金屬N i的析出電位的Ζ η片浸潰在含有N i化合 物的鍍浴中後,通過在該鍍浴中與被敷鍍物體混合攪拌使 Zn片與被敷鍍物體接觸。按照這樣的方法使作爲電極的
1231315 (13)
Cu、Cu合金、Ag、Ag-Pd的電位往低的方向偏移’從而在 電極表面析出Ni而形成Ni鑛膜3。 即,把電化學上浸潰電位低於析出金屬(Ni)的析出電位 的Zn片浸潰在含有該析出金屬(Ni)的鍍浴中後’ Zn片溶解 在鍍浴中如式1所示的那樣放出電子。
Zn—Zn2 + + 2e- · · · (1) 另一方面,通過混合·攪拌Zn片與被敷鐘物體’ Zn與電 極接觸使電極電位往低的方向偏移後如式(2)所示的那 樣,使電化學上電位高於Zn的Ni離子被還原後析出到電極 上。按照這種方法生成Ni鍍膜_3。
Ni2 + + 2e_—Ni (2) C2)Sn鍍膜4
Sn鍍膜4的形成原理也與上述Ni鍍膜3—樣。 把平均直徑爲1 mm且電化學上浸潰電位低於析出金屬 S η的析出電位的Zn片浸潰在含有Sη化合物的鍵浴中後,採 用與上述同樣的方法使Zn片溶解在鍍浴中,放出電子(失 考式(1)) ° 通過混合·攪拌Zn片與被敷鍍物體的過 _ . ^ ,Zn與電極接 觸而使電極電位往低的方向偏移後如式d、 飞(3)所示的那樣,電 化學上電位r^KZn的Sn離子被還原後析出 ^ 〜則鐘膜3上。按 照這種方法形成Sn鍍膜4。
Sn2 + + 2e·— Sn · (3) -18 ·
1231315⑼ 如上所述,本實施方式中使接觸電極表面的Zn與作爲析 出金屬的Ni或Sn之間發生化學反應,按照這種方法可以在 電極電位往低的方向偏移的電極上形成Ni鍍膜3以及Sn鍍 膜4 〇 從而,即使是製造小型電子零件的時候也沒必要像滾鍍 的那樣使用直徑在〇. 8 mm以下的直徑小的導電媒體或形 狀一致的鋼球,可以以低成本製造所希望的小型電子零 件。
另外,多端子型電子零件的電鍍中生成Ni鍍膜以及Sn鍍 膜的時候存在難以對各個端子控制均一的供電狀態,從而 難以得到均勻的膜厚的問題。但是本實施方式中,所有電 極可以大致均勻地進行與鍍浴的接觸,可以得到各個端子 之間膜厚均勻性良好的電子零件。 還有,因爲不用進行以往的用P d催化劑進行的表面處 理,所以電極以外的非金屬部分上不會析出敷鍍,可以只 在要求的部分上形成鍍膜。
還有,以往的置換型無電敷鍍中通過電極材料與析出金 屬之間的置換反應析出金屬,所以在析出金屬覆蓋電極的 時刻反應即停止,因此只能生成較薄的鍍膜。但是本實施 方式中因爲利用了導電媒體-與析出金屬之間的化學反應 (氧化還原反應),所以通過調整浸潰在鍍浴中的導電媒體 的投入量,可以容易地控制膜厚。 還有,本發明並不是限定在上述實施方式的。雖然在上 述實施方式中作爲導電媒體使用了 Zn片,但只要滿足浸潰 -19- (15) 1231315
電位低於析出金屬Niil 析出電位的條件即可,例如形 成⑽膜的時候使用八卜Fe、Mn、v、。、〜、 dm或這些元素的合金也可以産生相同的作用.效果, 還例如>形成Sn鍍琪的時候使用A1、Fe、Μη、V、Ta、
Nb或這些元素的人+ ★可 于扪。金也了以産生相同的作用·效果。另 外’上述實施方式中在Ni鍍膜上形成了 sn鍍膜,但採用同 樣的方法可以在⑴鍍琪上形成Sn_Pb、sn Ag、sn_Bi等“ =金鑛媒。把NUCu、A“Ag_pd作爲基底電極後通過實 施上述無電敷鍍可以在該電極上形成Sn鍍膜或Sn合金鍍 還有,本發明是如上所述的·那樣,通過與電極部分2接 觸的導電媒體與析出金屬之間的化學反應,在電極電位往 低的方向偏移的電極部分2的表面析出金屬,所以通過對 析出金屬合適地選擇導電媒體與電極材料,可以獲得各種 組合。 以下將詳細說明關於析出金屬使用Co或Co合金、Cu、
Ag、Pd或Pd合金、Au的情況。 籲 (l)Co或Co合金 電化學上浸潰電位低於作爲析出金屬的〇〇或c〇合金的 析出電位的導電媒體使用ΑΓ、Zn、Fe、Mn、v、&、Ta、
Nb、Ga、Cd或In的金屬片(可以·是i種也可以是2種以上), 把該金屬片浸潰在含有Co化合物的鍍浴中後該金屬片溶 解在鍍浴中並且放出電子,還原c〇離子,其結果是可以在’ 與金屬片接觸的Ni或Ni合金、Cu、Cu合金、Ag或Ag-Pd的 -20- 1231315 (16) 電極上析出Co或Co合金而形成c〇鍍膜或Co合金鍍膜。 (2)Cu 電化學上浸潰電位低於作爲析出金屬的C u的析出電位 的導電媒體使用Al、Zn、Fe、Ni、Ni合金、Sn、Μη、V、 Cr、Ta、Nb、Ga、Cd、In、Co、Mo 或 Pb 的金屬片(可以是 1種也可以是2種以上),把該金屬片浸潰在含有cu化合物 的鍍浴中後該金屬片溶解在鍍浴中放出電子,還原Cu離 子’其結果可以在與金屬片接觸的Ni或Ni合金、Ag或Ag-Pd 的電極上析出Cu而形成Cu鍍膜。 (3 ) Ag 電化學上浸潰電位低於作爲析出金屬的Ag的析出電位 的導電媒體使用Al、Zn、Fe、Ni、Ni合金、Sn、Μη、V、 Cr、Ta、Nb、Ga、Cd、In、Co、Mo或 Pb 的金屬片(可以是 1種也可以是2種以上),把該金屬片浸潰在含有Ag化合物 的鍍浴中後該金屬片溶解在錄浴中放出電子,還原Ag離 子,其結果可以在與金屬片接觸的Ni、Ni合金、Cu或Cu 合金的電極上析出Ag而形成Ag錄膜。 (4)Pd或Pd合金 電化學上浸潰電位低於作爲析出金屬的p d或P d合金的 析出電位的導電媒體使用ΑΓ、Zn、Fe、Ni、Ni合金、Sn、 Μη' V、Cr、Ta、Nb、Ga、Cd、ln、c〇、Mo 或 Pb 的金屬 片(可以是1種也可以是2種以上),把該金屬片浸潰在含有 Pd化合物的鍍浴中後該金屬片溶解在鍍浴中放出電子,還 原Pd離子,其結果可以在與金屬片接觸的Ni或Ni合金、
1231315 ⑼
Cu、Cu合金、Ag或Ag-Pd的電極上析出Pd或Pd合金而形成 Pd鍍膜或Pd合金鍍膜。 (5)Au 電化學上浸潰電位低於作爲析出金屬的Au的析出電位 的導電媒體使用Al、Zn、Fe、Ni、Ni合金、Sn、Μη、V、 Cr、Ta、Nb、Ga、Cd、In、Co、Mo 或 Pb 的金屬片(可以是 1種也可以是2種以上),把該金屬片浸潰在含有Au化合物 的鍍浴中後該金屬片溶解在鍍浴中放出電子,還原Au離 子,其結果可以在與金屬片接觸的Ni或Ni合金、Cu、Cu 合金、Ag或Ag-Pd的電極上析出Au而形成鍵膜。 把上述(1)〜(5 )的結果匯總在表1中。 :表1】 No. 析出金屬 導電媒體 電極材料 1 Sn (或Sn合金) Al、Zn、Fe、Μη、V、Cr、Ta、Nb Ni、Cu、Ag、Ag-Pd 2 Ni (或Ni合金) Al、Zn、Fe、Μη、V、Cr、Ta、Nb ' Ga、Cd、In Cu、Ag、Ag-Pd 3 Co (或Co合金) Al' Zn、Fe、Μη、V、Cr、 Ta、Nb、Ga、Cd、In Ni、Cu、Ag、Ag-Pd 4 Cu A卜 Zn、Fe、Ni(或Ni合金)、Sn、 Μη、V、Cr、Ta、Nb、Ga、Cd、In、 Co、Mo、Pb Ni、Ag、Ag-Pd 5 Ag A卜 Zn、Fe、Ni(或Ni合金)、Sn、 Μη、V、Cr、Ta、Nb、Ga、Cd、In、 Co、Mo、Pb Ni、Cu -22-
1231315 (18) 6 Pd (或Pd合金) A卜 Zn、Fe、Ni(或Ni合金)、Sn、 Μη、V、Cr、Ta、Nb、Ga、Cd、In、 Co、Mo、Pb Ni、Cu、Ag、Ag-Pd 7 Au A卜 Zn、Fe、Ni(或Ni合金)、Sn、 Ni、Cu、Ag、Ag-Pd Μη、V、Cr、Ta、Nb、Ga、Cd、In、 Co、Mo、Pb 如表1所示,可以採用析出金屬、導電媒體以及電極材 料的各種組合實施所希望的敷鍍處理,這種方法也可以廣 泛地應用於晶片型以及印刷晶片等適用於各種用途的各 種電子零件的敷鍍處理中。 如上所述,根據本發明不管有無自催化功能,都可以通 過導電媒體與析出金屬之間的氧化還原反應製造出在電 極表面形成所希望的膜厚的鍍膜的電子零件。 下面將具體說明本發明的實施例。 [第1組實施例] (實施例1) 本發明的發明者們製造了 30,000個在長度3.2 mm,寬度 1.6mm,厚度1.0mm的陶瓷基材的兩端形成Cu電極的被敷 鍍物體。 而後,把上述被敷鍍物體浸潰在内容積爲0.001 m3並且 裝滿具如下所述的組成的鍍浴的容器中,同時又往該容器 投入1 0,000個平均直徑爲1 mmc|)的Zn片後攪拌30分鐘,實 施無電敷鍍使Cu電極的表面生成Ni鍍膜。 [第1種鍍浴組成] -23-
1231315⑽ 金屬鹽:氯化鎳30,0 kg /m3 絡合劑·· 檸檬酸納1 0.0 kg / m ° 經基乙酸納1〇·〇 kg/m3 pH : 4.2
溫度: 8 5 °C 接著,把已經實施了上述無電敷鍍的被敷鍍物體浸潰在 裝滿具如下所述的組成的鍍浴(第2種鍍浴)的容器中,同時 投入80個平均直徑爲1 mm的Zn片後攪拌30分鐘,實施無電 敷鍍使Ni鍍膜上形成Sn鍍膜,從而製得實施例1的試驗片 樣品。 [第2種鍍浴組成] 金屬鹽:硫酸亞錫5.5 kg /m3 絡合劑:葡糖酸納140.0 kg /m3 添加劑:聚乙二醇(分子量7500) 1.0 kg/m3 對曱氧基苯甲醛0.1 kg /m3 3 7%甲醛溶液0.6 kg /m3 pH : 6.0
溫度: 3 5 °C (實施例2) 在與實施例1中的一樣的陶瓷基材的兩端形成Ag-Pd電 極,然後實施無電敷鍍,按照與實施例1同樣的順序在 Ag-Pd電極的表面生成Ni鍍膜以及Sn鍍膜,從而製得實施 例2的試驗片樣品。 (實施例3) -24- 1231315 (20)
在與實施例1中的一樣的陶瓷基材的兩端形成A g電極, 然後實施無電敷鍍,按照與實施例1同樣的步驟在Ag電極 的表面生成Ni鍍膜以及Sn鍍膜,從而製得實施例3的試驗 片樣品。 (實施例4) 使用了長度〇.6mm,寬度0.3mm,厚度0.3mm的陶瓷基 材,然後實施無電敷鍍,按照與實施例1同樣的步驟在Cu 電極的表面生成Ni鍍膜以及Sn鍍膜,從而製得實施例4的 試驗片樣品。 表2中列出了各個實施例中的膜厚。 膜厚度的測定採用螢光X射線測厚儀(精工儀器公司製 SEA5 120)。 【表2】 電極材料 膜厚(μπι) Ni鍍膜 Sn鐘膜 實施例 1 Cu① 5.23 3.24 2 Ag-Pd 5.01 3.55 3 Ag 4.35 3.51 4 Cu② 3.90 1.16 從表2中可以看出,鍍浴中不添加還原劑也可以生成N i 鍍膜。另外確認了使用自催化性能低的S η也可以得到所希 望的膜厚的事實。 另外,像實施例4中顯示的那樣,對於小型的晶片型電 -25-
1231315 (21) 子零件也可以通過往容器内投入平均直徑爲1 mm的Zn 片,與被敷鍍物體混合而生成Ni鍍膜以及Sn鍍膜。 [第2組實施例]
本發明者們使用了長度0.6 mm,寬度0.3 mm,厚度0.3 mm的陶瓷基材,然後按照與第1個實施例中的實施例1同 樣的步驟在Cu電極的表面生成Ni鍍膜後,把被敷鑛物體浸 潰在裝滿具如下所述的組成的鍍浴(第3種鍍浴)的容器 中,同時投入1 000個平均直徑爲1 mm的Zn片後攪拌30分 鐘,實施無電敷鍍,在Ni鍍膜上形成Sn-Pb鍍膜,從而製 得實施例1 1〜1 4的試驗片樣品。 [第3種鍍浴組成] 金屬鹽:硫酸亞錫31.1 kg/m3 乙酸亞鉛1 7·9 kg /m3 絡合劑:葡糖酸鈉109.1 kg/m3
乙二胺四乙酸·二鈉18.5 kg/m3 添加劑:聚乙二醇(分子量7500) 1.0 kg/m3 對甲氧基苯甲醛0.1 kg /m3 37%甲醛溶液0.6 kg /m3 pH : 8.0 溫度 :3 5 °C 一 26-
1231315 ㈤丨 表3中列出了其測定結果。 【表3】 電極 膜厚(#m) Sn-Pb鍍膜中 材料 Ni鍍膜 Sn-Pb鍍膜 的Pb含量(wt%) 11 Cu 4.02 1.41 39.2 12 Cu 3.51 1.68 37.8 實施例 13 Cu 3.96 1.80 38.1 14 Cu 3.66 1.20 38.5 從.表3中可以看出,與_成Sn鍍膜一樣,對小型的晶片 型電子零件也.可以在Ni鍍膜的毒面生成Sn-Pb鍍膜。 如上所述,本發明的電子零件的製造方法是在對表面上 已形成電極的被敷鍍物體實施敷鍍處理而製造電子零件 的電子零件的製造方法中按照以下步驟進行敷鍍的方 法。在鍍浴中混合被敷鍍物體與電化學上浸潰電位低於析 出金屬的析出電位的導電媒體,通過無電敷鍍在上述電極 上生成上述鍍膜。通過該導電媒體與被敷鍍物體的電極接 觸,使電極的可逆電位受到析出電位的影響而往電化學上 低的方向偏移。其結果是,往鍍浴中不添加還原劑也可以 通過導電媒體與析出金屬之間的氧化還原反應而在電極 上析出金屬,可以製造出具有均勻的膜厚的鍍膜的電子零 件。並且因爲採用無電敷鍍方法析出金屬,所以不會像電 鍍那樣在電極部分以外的非金屬部分也析出金屬。對於多 端子電子零件也可以只在電極部分生成具有均勻的膜厚 -27-
1231315 (23) 的鍍膜。而且因爲鍍膜的均勻性良好,可以避免生産成本 提高。 另外,通過攪拌上述鍍浴而混合上述導電媒體與上述被 敷鍍物體的方法,在被敷鍍物體的形狀小的時候也可以使 導電媒體與被敷鍍物體良好地接觸,可以容易地使電極表 面的電位往低的方向偏移。 另外,通過使上述導電媒體的平均直徑達到1.0 mm,可 以避免在電鍍中使用的滾筒容器中進行上述無電敷鍍時 導電媒體被滾筒的孔夾住的情況,而且沒必要使用高價的 直徑小的導電媒體,並且製造小型的電子零件時也不會提 南生産成本。 特別是,通過以下步驟可以在電極上析出盡可能排除不 純物的高純度的Ni。即,上述電極由C.u、C u合金、A g或 Ag合金形成,同時上述導電媒體使用從Al、Zn、Fe、Μη、 V、Cr、Ta、Nb、Ga、Cd、In或這些元素的合金中選擇的 至少1種以上的金屬片,在含有Ni化合物的鍍浴中混合上 述被敷鍍物體與上述金屬片,從而實施無電敷鍍,在上述 電極的表面生成第1層鍍膜。 另外,上述導電媒體使用從Al、Zn、Fe、Μη、V、Cr、 Ta、Nb或這些元素的合金斜選擇的至少1種以上的金屬 片,在至少含有S η化合物的鍍浴中混合上述被敷鍍物體與 上述金屬片,從而實施無電敷鍍,可在上述第1層鍍膜上 形成第2層鍍膜(Sn鍍膜或Sn合金鍍膜),因此自催化性能 低的錫,也可以通過無電敷鍍在Ni鍍膜或Ni合金鍍膜上形 •28-
1231315 (24) 成錫錢膜。 並且形成該Ni鍍膜或Sn鍍膜時沒必要使用還原劑,可以 進行容易並且低成本的敷鍍處理。 還有,根據本發明,電極用Ni、Ni合金、Cu、Cu合金、 Ag或Ag合金形成時也可以容易並且低成本地進行無電敷 鍍,可以簡單並且低成本地進行以往沒有實現工業化的錫 的無電敷鍍。 另外,根據本發明,作爲析出金屬使用Co(或Co合金)、 Cu、Ag、Pd(或Pd合金)、Au的時候通過採用選擇合適的導 電媒體、以及電極材料而組成的各種組合,可以進行所希 望的敷鍍處理,這種方法也可以廣泛地應用在不是晶片型 的印刷基板等適用於種種用途的各種電子零件的敷鍍處 理中。 另外,本發明的電子零件因爲採用上述製造方法製造, 所以不用像以往的無電敷鍍方法那樣使用含P d的催化劑 液實施表面處理,也可以容易地得到只在電極部分均勻地 形成鍍膜的電子零件。 特別是通過本發明的無電敷鍍可以容易地得到Ni-Sn鍍 膜或Ni-Sn合金鍍膜,所以可以廉價地得到高品質並且具 有良好的可靠性的電子零件& 【圖式之簡單說明】 圖1是表示按照本發明的製造方法製造的電子零件的一 個實施方式的剖視圖。 【圖式代表符號說明】 -29-
1231315 (25) 1 陶瓷基材 2 電極部分(電極) 3 Ni鍍膜(第1層鍍膜) 4 Sn鍍膜(第2層鍍膜)
-30-

Claims (1)

1134485號專利申請案⑽& l3 中文申請專利範圍替換本(93 '年8与y 拾、申請專利範圍 1 . 一種電子零件的製造方法,其係對表面已形成有電極的 被敷鍍物體實施敷鍍處理製得電子零件者,其特徵在 於: 將電化學上浸潰電位低於析出金屬的析出電位的導 電媒體在鍍浴中與上述被敷鍍物體混合,實施無電敷 鍍,在上述電極上形成鍍膜。 2 .如申請專利範圍第1項之電子零件的製造方法,其中使 放有上述被敷鍍物體與上述導電媒體的容器在裝滿上 述鍍浴的鑛浴槽内旋轉、搖動、傾斜或振盪,而使上述 被敷鍍物體與上述導電媒體接觸。 3. 如申請專利範圍第1項之電子零件的製造方法,其中上 述導電媒體的平均直徑在1 · 〇 mm以上。 4. 如申請專利範圍第1項之電子零件的製造方法,其中上 述電極由銅、銅合金、銀或銀合金製成,並且上述導電 媒體使用從铭、鋅、鐵、锰、飢、鉻、#2、銳、鎵、錢、 銦或這些元素的合金中選擇的至少1種金屬片,在含有 鎳化合物的鍍浴中混合上述被敷鍍物體與上述金屬片 實施上述無電敷鍍,在上述電極上形成第1層鍍膜。 5. 如申請專利範圍第4項之電子零件的製造方法,其中上 述第1層鍍膜包含鎳或鎳合金。 6. 如申請專利範圍第4項之電子零件的製造方法,其中上 述導電媒體使用從鋁、鋅、鐵、錳、釩、鉻、鉈、鈮或 該等之合金中選擇的至少1種金屬片,在至少含有錫化 申請專利範圍續黄 1231315 合物的鍍浴中混合上述被敷鍍物體與上述金屬片實施 無電敷鍍,在上述第1層鍍膜上形成第2層鍍膜。 7. 如申請專利範圍第6項之電子零件的製造方法,其中上 述第2層鑛膜包含錫或錫合金。
8. 如申請專利範圍第項1之電子零件的製造方法,其中上 述電極由鎳、鎳合金、銅、銅合金、銀或銀合金形成, 並且上述導電媒體使用從鋁、鋅、鐵、錳、釩、鉻、鉈/ 鈮或這些元素的合金中選擇的至少1種金屬片,在至少 含有錫化合物的鍍浴中混合上述被敷鍍物體與上述金 屬片實施上述無電敷鍍,在上述電極表面形成鍍膜。 9. 如申請專利範圍第8項之電子零件的製造方法,其中上 述鑛膜包含锡或錫合金。
1 〇.如申請專利範圍第1項之電子零件的製造方法,其中上 述電極由鎳、鎳合金、銅、銅合金、銀或銀合金形成, 並且上述導電媒體使用從鋁、鋅、鐵、錳、釩、鉻、鉈、 鈮、鎵、鎘、銦或這些元素的合金中選擇的至少1種金 屬片,在含有鈷化合物的鍍浴中混合上述被敷鍍物體與 上述金屬片實施上述無電敷鍍,在上述電極表面形成鈷 或始合金的鍍膜。 1 1.如申請專利範圍第1項之電子零件的製造方法,其中上 述電極由錄、鎳合金、銅、銅合金、銀或銀合金形成, 並且上述導電媒體使用從鋁、鋅、鐵、鎳、鎳合金、錫、 錳、釩、鉻、鉈、鈮、鎵、鎘、銦、鈷、鉬、鉛或這些 元素的合金中選擇的至少1種金屬片,在含有從鈀化合 -2 - 申請專利範圍續貢 1231315 物或金化合物中選擇的1種金屬化合物的鍍浴中混合上 述被敷鍍物體與上述金屬片實施上述無電敷鍍,在上述 電極表面形成鈀或金或該等之合金的鍍膜。 1 2 .如申請專利範圍第1項之電子零件的製造方法,其中上 述電極由鎳、錄合金、銀或銀合金形成,並且上述導電 媒體使用從Is、鋅、鐵、錄、錄合金、錫、锰、飢、鉻、 4它、銳、鎵、錢、銦、始、I目、船或這些元素的合金中 選擇的至少1種金屬片,在含有銅化合物的鍍浴中混合 上述被敷鍍物體與上述金屬片實施上述無電敷鍍,在上 述電極表面形成銅鍍膜。 1 3 .如申請專利範圍第1項之電子零件的製造方法,其中上 述電極由錄、錄合金、銅或銅合金形成’並且上述導電 媒體使用從鋁、鋅、鐵、鎳、鎳合金、錫、錳、釩、鉻、 鉈、銳、鎵、鎘、銦、鈷、鉬、鉛或這些元素的合金中 選擇的至少1種金屬片,在含有銀化合物的鍍浴中混合 上述被敷鍍物體與上述金屬片實施上述無電敷鍍,在上 述電極表面形成銀鍍膜。 1 4 . 一種無電敷鍍方法,其特徵在於:在含有析出金屬的先 驅物與電化學上具有低於上述析出金屬的析出電位的 浸潰電位的導電媒體的鍍浴中,藉由混合具有被敷鍍部 分的工件和上述導電媒體,在上述被敷鍍部分形成上述 析出金屬的鍍膜。 1 5 .如申請專利範圍第1 4項之無電敷鍍方法,其中藉由把放 有上述工件與上述導電媒體的容器在裝滿上述鍍浴的 申請專利範圍續頁 1231315 鍍浴槽内旋轉、搖動、傾斜或振盡,而使上述工件與上 述導電媒體接觸。 i 6 .如申請專利範圍第1 4項之無電敷鍍方法,其中上述導電 媒體的平均直徑在1 . 〇 m m以上。 1 7 .如申請專利範圍第1 4項之無電敷鍍方法,其中鍍浴中作 爲上述導電媒體含有從鋁、鋅、鐵、錳、釩、鉻、鉈、 鈮、鎵、鎘、銦或該等之合金中選擇的至少1種金屬片/ 藉由在含有鎳化合物作爲上述析出金屬先驅物的鍍浴 中混合上述金屬片和上述被敷鍍部分由銅、銅合金、銀 或銀合金形成的工件,在上述被敷鍍部分上形成含鎳的 第1層鍍膜。 1 8 .如申請專利範圍第1 7項之無電敷鍍方法,其中鍍浴中作 爲上述導電媒體含有從鋁、鋅、鐵、錳、釩、鉻、鉈、 鈮或該等之合金中選擇的至少1種金屬片,藉由在至少 含有錫化合物作爲上述析出金屬先驅物的鍍浴中混合 上述金屬片和上述工件,在上述第1層鍍膜上由錫或錫 合金形成第2層鍍膜。 1 9 .如申請專利範圍第1 4項之無電敷鍍方法,其中鍍浴中作 爲上述導電媒體含有從鋁、鋅、鐵、錳、釩、鉻、鉈、 鈮或該等之合金中選擇的至少1種金屬片,藉由在至少 含有錫化合物作爲上述析出金屬先驅物的鍍浴中混合 上述金屬片和上述被敷鍍部分由鎳、錄合金、銅、銅合 金、銀或銀合金形成的工件,在上述被敷鍍部分上由錫 或錫合金形成鑛膜。 申請專利範圍續頁 1231315 2 0 .如申請專利範圍第1 4項之無電敷鍍方法,其中鍍浴中作 爲上述導電媒體含有從鋁、鋅、鐵、錳、釩、鉻、鉈、 鈮、鎵、鎘、銦或該等之合金中選擇的至少1種金屬片, 藉由在含有結化合物作爲上述析出金屬先驅物的鑛浴 中混合上述金屬片和上述被敷鍍部分由鎳、鎳合金、 銅、銅合金、銀或銀合金形成的工件,在上述被敷鍍部 分上由鈷或始合金形成鍍膜。 2 1 .如申請專利範圍第項1 4之無電敷鍍方法,其中鍍浴中作 爲上述導電媒體含有從銘、鋅、鐵、錄、錄合金、錫、 猛、飢、絡、銳、銳、鎵、鑛、銦、始、鉬、热或該等 之合金中選擇的至少1種金屬片,藉由在含有從鈀化合 物或金化合物中選擇的1種金屬化合物作爲上述析出金 屬先驅物的鍍浴中混合上述金屬片和上述被敷鍍部分 由鎳、鎳合金、銅、銅合金、銀或銀合金形成的工件, 在上述被敷鍍部分上由鈀或金或該等之合金形成鍍膜。 2 2 .如申請專利範圍第1 4項之無電敷鍍方法,其中鍍浴中作 爲上述導電媒體含有從鋁、鋅、鐵、鎳、鎳合金、錫、 猛、鈒、絡、銳、銳、鎵、锡、銦、始、鉑、絡或該等 之合金中選擇的至少1種金屬片,藉由在含有銅化合物 作爲上述析出金屬先驅物的鍍浴中混合上述金屬片和 上述被敷鍍部分由鎳、鎳合金、銀或銀合金形成的工 件,在上述被敷鍍部分上形成含銅鍍膜。 2 3 .如申請專利範圍第1 4項之無電敷鍍方法,其中鍍浴中作 爲上述導電媒體含有從鋁、鋅、鐵、鎳、鎳合金、錫、 申請專利範圍續頁 1231315 锰、鈒、絡、蛇、銳、鎵、編、銦、鈷、铜、船或該等 之合金中選擇的至少丨種金屬片,藉由在含有銀化合物 作爲上述析出金屬先驅物的鍍浴中混合上述金屬片和 上述被敷鍍部分由鎳、鎳合金、銅或銅合金形成的工 件,在上述被敷鍍部分上形成含銀鍍膜。
TW091134485A 2001-12-18 2002-11-27 Electronic part and method for manufacturing the same TWI231315B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001385167A JP3678196B2 (ja) 2001-12-18 2001-12-18 チップ型電子部品の製造方法、及びチップ型電子部品

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200302877A TW200302877A (en) 2003-08-16
TWI231315B true TWI231315B (en) 2005-04-21

Family

ID=19187795

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW091134485A TWI231315B (en) 2001-12-18 2002-11-27 Electronic part and method for manufacturing the same

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20030134050A1 (zh)
JP (1) JP3678196B2 (zh)
KR (1) KR100497076B1 (zh)
CN (1) CN1210439C (zh)
TW (1) TWI231315B (zh)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005194562A (ja) * 2004-01-06 2005-07-21 Murata Mfg Co Ltd 無電解ニッケルめっき液、及びセラミック電子部品の製造方法
JP2007154298A (ja) * 2005-12-08 2007-06-21 Tokyo Electron Ltd 無電解めっき装置および無電解めっき方法
CN101983818B (zh) * 2010-11-11 2012-10-03 西安北方捷瑞光电科技有限公司 一种直径1mm以下镍铬丝的焊接方法
KR101228752B1 (ko) * 2011-11-04 2013-01-31 삼성전기주식회사 적층 세라믹 전자 부품 및 그 제조 방법
JP6186596B2 (ja) * 2013-10-23 2017-08-30 石原ケミカル株式会社 接触型無電解スズメッキ方法
KR101643333B1 (ko) * 2015-06-11 2016-07-27 엘비세미콘 주식회사 범프 구조체의 제조방법
CN105296974A (zh) * 2015-08-27 2016-02-03 中国科学院兰州化学物理研究所 一种镀钯液及使用其在铜表面镀钯的方法
JP6615024B2 (ja) * 2016-03-24 2019-12-04 太陽誘電株式会社 電子部品
CN110136957A (zh) * 2019-04-25 2019-08-16 浙江倍禹电气科技有限公司 一种电容器的生产工艺

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3400012A (en) * 1964-06-10 1968-09-03 Minnesota Mining & Mfg Process of plating metal objects
JPS50147437A (zh) * 1974-05-20 1975-11-26
US3956528A (en) * 1974-11-15 1976-05-11 Minnesota Mining And Manufacturing Company Selective plating by galvanic action
JPS5553017A (en) * 1978-10-16 1980-04-18 Nippon Mining Co Method of manufacturing multiple coating composite powder
US4265943A (en) * 1978-11-27 1981-05-05 Macdermid Incorporated Method and composition for continuous electroless copper deposition using a hypophosphite reducing agent in the presence of cobalt or nickel ions
JPS5633467A (en) * 1979-08-22 1981-04-03 Dowa Mining Co Ltd Copper coating method
JPS5953667A (ja) * 1982-09-20 1984-03-28 Pentel Kk 無電解めつき法
JPS59170256A (ja) * 1983-03-16 1984-09-26 Hitachi Ltd 摩擦による無電解金、白金銅めつき用組成物およびめつき方法
JPS60125393A (ja) * 1983-12-07 1985-07-04 Ngk Spark Plug Co Ltd 超小型半導体容器の金メッキ方法
JPS61121501A (ja) * 1984-11-17 1986-06-09 Tdk Corp 誘電体共振器およびその製造方法
US4618513A (en) * 1984-12-17 1986-10-21 Texo Corporation Tin plating immersion process
JPH02228478A (ja) * 1989-02-28 1990-09-11 Rohm Co Ltd バレルめっき方法およびバレルめっき用内バレル
JP2830456B2 (ja) * 1990-11-06 1998-12-02 三菱マテリアル株式会社 セラミックコンデンサ
JPH0656825B2 (ja) * 1991-05-09 1994-07-27 三菱マテリアル株式会社 セラミックコンデンサ
JPH0649653A (ja) * 1992-06-02 1994-02-22 Kayou Giken Kogyo Kk 金属被膜形成方法及びその方法を用いたプリント配線板の製法
US5750264A (en) * 1994-10-19 1998-05-12 Matsushita Electric Industrial Co., Inc. Electronic component and method for fabricating the same
JPH08264372A (ja) * 1995-03-17 1996-10-11 Taiyo Yuden Co Ltd 無電解メッキ膜付電子部品の製造方法
JPH08264371A (ja) * 1995-03-17 1996-10-11 Taiyo Yuden Co Ltd 無電解メッキ膜付電子部品の製造方法
JPH08306584A (ja) * 1995-05-02 1996-11-22 Taiyo Yuden Co Ltd 外部接続電極付電子部品及び回路モジュール
US5720859A (en) * 1996-06-03 1998-02-24 Raychem Corporation Method of forming an electrode on a substrate
JP3728572B2 (ja) * 1996-10-31 2005-12-21 株式会社日立製作所 配線基板の製造方法
JPH10330950A (ja) * 1997-06-02 1998-12-15 Nippon Parkerizing Co Ltd 改良充填置換析出型めっき金属材料及びその製造方法
JP2001164376A (ja) * 1999-12-09 2001-06-19 Hoshizaki Electric Co Ltd 接触鍍金法
JP3437980B2 (ja) * 2000-04-10 2003-08-18 有限会社関東学院大学表面工学研究所 無電解パラジウム−ニッケルめっき浴およびこれを用いるめっき方法ならびにこの方法により得られるめっき製品
JP3689861B2 (ja) * 2000-09-22 2005-08-31 鶴見曹達株式会社 無電解銅メッキ方法及びメッキ粉末
JP4534183B2 (ja) * 2001-02-26 2010-09-01 日立金属株式会社 電子部品
JP4982935B2 (ja) * 2001-09-05 2012-07-25 日立金属株式会社 ニッケルめっき被膜の接着性劣化防止方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN1210439C (zh) 2005-07-13
KR100497076B1 (ko) 2005-06-28
JP3678196B2 (ja) 2005-08-03
CN1428457A (zh) 2003-07-09
KR20030051348A (ko) 2003-06-25
US20030134050A1 (en) 2003-07-17
JP2003183844A (ja) 2003-07-03
TW200302877A (en) 2003-08-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3678195B2 (ja) 電子部品の製造方法、及び電子部品
US5178745A (en) Acidic palladium strike bath
JP6231982B2 (ja) 無電解金めっき処理方法、および金めっき被覆材料
EP2545194B1 (en) Coated articles and methods
TWI231315B (en) Electronic part and method for manufacturing the same
JPH08264372A (ja) 無電解メッキ膜付電子部品の製造方法
JP2019007067A (ja) 無電解めっきプロセス
JP2019007068A (ja) 無電解ニッケルストライクめっき液及びニッケルめっき皮膜の成膜方法
JP4311449B2 (ja) 無電解めっき方法、およびめっき皮膜が形成された非導電性被めっき物
JP5278685B2 (ja) 電子部品の製造方法
JP2003253454A (ja) 電子部品のめっき方法、及び電子部品
EP3009529B1 (en) Palladium plate coated material and production method therefor
JP6754152B1 (ja) めっき積層体
JP6754151B1 (ja) めっき積層体
JP4232012B2 (ja) めっき方法、及び電子部品の製造方法
JP2002180260A (ja) 無電解ニッケルめっきによるニッケル被膜の形成方法
JPS59176907A (ja) マイクロ波用誘電体共振器セラミツクス
JP2022183021A (ja) 無電解Co-Wめっき皮膜、および無電解Co-Wめっき液
WO2012158056A1 (ru) Способ нанесения нанокристаллического покрытия из металлов и сплавов на металлические детали

Legal Events

Date Code Title Description
MK4A Expiration of patent term of an invention patent