TW508521B - Interface circuit - Google Patents
Interface circuit Download PDFInfo
- Publication number
- TW508521B TW508521B TW088111181A TW88111181A TW508521B TW 508521 B TW508521 B TW 508521B TW 088111181 A TW088111181 A TW 088111181A TW 88111181 A TW88111181 A TW 88111181A TW 508521 B TW508521 B TW 508521B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- aforementioned
- potential
- node
- input
- type transistor
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/003—Modifications for increasing the reliability for protection
- H03K19/00315—Modifications for increasing the reliability for protection in field-effect transistor circuits
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
508521 五、發明說明(1) [技術之領域] 本發明與一種半導體電路之界面電路有關,詳言之,即 一般所稱之電壓寬容電路,可從外部接受與電路内部電源 電位不同、更高電位之電位之輸出入電路。 [先前之技藝] 近年來、半導體電路(1C),使用超過數百萬問之電晶體 數、及超過5 0 0之半導體實裝梢數,以邏輯、記憶體、 CPU、類比單元等、迄今以個別之晶粒構成者,即能以一 個晶粒構成糸統。 又、半導體之處理技術,亦從O.Sem、0.65/zm之亞微 米處理'轉換為能應付更面集成、南速度、低消耗電力需求 之0. 3 5 // m、0. 2 5 # m之深亞微米處理。更有多家公司正開 #0.18 β m、0.15 //m 及 0.13 之更細處理。 如此、隨著處理加工尺寸之細微化,閘極絕緣膜厚亦細 微化。由此、隨著可高速化換來閘極絕緣膜耐壓之界限電 壓降低。即再亦無法保證對先前一般I C之電源電壓5 V之品 質。又、因降低電源電壓對低消耗電力最為有效,故I C之 電源電壓從亞微米處理止之5 V至深亞微米處理以3. 3 V為主 體。 · 但、在I C之周邊機器無法全部轉換為3 . 3 V之現狀下,需 要5V與3. 3V之雙方電壓之界面。例如個人電腦同PC I卡或 SCSI卡之1C本身為3. 3V單一電源,惟連接其卡之連在匯流 排線之其他卡之電源電壓可考慮3. 3 V與5 V雙方。此種情形 時勢必需要輸入3. 3V訊號與5V訊號之任何訊號時對3. 3 V單
508521 五、發明說明(2) 一電源之1C均不引起問題之界面電路。 一 ί i0厂心m以下之處s時3.3 v之電壓保證亦趨困難, 笔源$壓勢必降至2· 5V或2V甚至2V以下。 、·下用圖la及圖lb說明先前之界面電路之輸出入電路 將5V施加於電源電壓3· 3 V2K時究將發生何問題。 圖1 a係輸出入電路之臨私立 弘格之驅動部鉼面圖,圖1 b係其等效電路 圖。在‘作於N井103上之p^;]帝曰;a^irn 生兒日日肢1 〇 1汲極與基片N井1 0 3 間形成二極體丨〇 2。在製作於ρ Λ ^ a u η ^ 衣作方、Ρ井1 0 8上之Ν型電晶體1 〇 6汲 極,、/片Ρ井108間形成二極體107。因為此等二極體1〇2及. 1 07係由於如此構成電晶體必然產生之寄生二極體,故益馨 法僅製·作電晶體而不製作二極體1〇2及1〇7。 口日日體101源極與^井1〇3連接於電源(VDD) 1〇4, 而N型電晶體1〇6源極與p井1〇8連接於主電源(vss) 1〇9, 故二極體102構成在墊105與VDD1〇4間而二極體1〇了構成在 墊1 〇 5與\ SS 1 0 9間。以圖丨b表示此等效電路。輸出入電路 為輸入狀態時,由於將p型電晶體1〇1閘極為VDD電位,而 2 N型電晶體1 〇 6閘極為v ss電位,俾使各電晶體為斷開狀 二,因此、把防止與輸入墊1 0 5之訊號之短路。但、若大 方、' D D之汛唬%加於墊1 〇 5時,墊1 〇 5與v D D將成短路狀態。 即將5 \輸入3· 3V之ic時5 V訊號與3· 3V電源將短路。此將弓P 起I C之錯誤工作或甚至丨c之損壞。 、又、因提升電阻器亦在墊與VDD間連接p型電晶體構成電 2亞’故71等產生同樣問題。即如前述同匯流棑線連接多種 各功邊電路’為防止該匯流排線之匯流排浮動,需裝下拉
H11
508521 五、發明說明(3) 電阻器或提升電阻器。但、可從 ^ ^~ 電源之電源之寬容带 由 邛輸入咼於電硌内部 僅此具現用下拉電阻器之電路。 ”且 上述主要為解決電流洩漏之問題,Usps彳彳q 號)及USP5,721,5 0 8記載:浮動N井上(日本特二千二79 232 型電晶體中幾個電晶體,而_構=界面㈣之 254749 1號)及_4 963 太144,165 (曰本專利第 載:連接於5v-://51 L 開平3-116316號)記 中幾個“辦 之N井上構成形成界面電路之P型電晶μ 號) 635記載:為防止干* ^本特開平8~8715號)及USP5, 5?6’ [發明欲解決之課題] 1网弘路。 而 上述先前之技藝,可妒從冰A 與高於内料源、電壓之電壓 。"包加内㉛冑源電壓 以態及任何輪出 =轉換狀…有無法防止實質 帝卩日。。先刖之技蟄,無法實現由Ρ型電曰财姐^ 2 屯阻益之電壓寬容電路之界 兒日日體構成之附提升· 故、本申請之發明之目的、\曰 電源電壓與高於内部+ % +為.提供可能從外部施加内部 路,訊號輪出入時在可考:壓壓寬容電路之界面電 考慮之任何電壓轉換狀態,所有情 508521 五、發明說明(4) 形下能防止問題之電流洩漏、更高品質、高附加價值之界 面電路3 又、本申請之發明之目的為:提供可能從外部施加内部 電源電壓與高於内部電源電壓之電壓寬容電路之界面電 ' 路,訊號輸出入時在可考慮之任何電壓轉換狀態,所有情. 形下能防止問題之電流洩漏、更高品質、高附加價值之附 提升電阻器之界面電路。 [解決課題之方法] 本申請發明之界面電路,其特徵為包含例如: (1 )供給第1電源(Vdd )之端子,該電源由第1電位而成;® (2) 供給第2電源(V s s )之端子,該電源由低於第1電位之 第2電位而成; (3) 第1驅動電路(P8、N2),將資料訊號做為輸入接受; (4) 第2驅動電路(PI、N1),將來自前述第1驅動電路 (P 8、N 2 )之輸出訊號介以第1節點(節點a )做為輸入接受; (5 )輸出入墊,與前述第2驅動電路(P 1、N 1 )之輸出部作 電氣連接; (6)第2節點(節點b),與前述第1電源(Vdd)及前述第2電 源(Vss)電氣連接; (7 )保護電路(N 3 ),從外部將與前述第2電源(Y s s )相等胃 或大致相寺之電位施加於&述輸出入塾時’使片彳述弟2師 點(節點b )作為前述第2電位以控制前述第1黯動電路(P 8、 N2)之狀態。 如此、本申請之發明,可從外部施加例如3. 3 Y之内部電
508521 五、發明說明(5) 源電壓與高於電路之内部電源電壓之例如5 V之電壓之電壓 見容電路之界面電路’無論任何模式、即如訊號輸出模式 及訊號輸入模式之訊號輸出入時,又在可考慮之任何電壓 轉換狀態,即0V與3. 3V與5V之任何順序組合之輸入,所有 / 情形下由於消除内部電路之浮動狀態,以防止實質問題之 ^ 電流〉曳漏。 [實施形態] 首先、依圖2說明。圖2係將本申請發明之基本特徵、尤 與圖4之比較說明圖。 墊係使用於從外部之訊號輸出入。埠A表示資料訊號。_ 埠E表示致能訊號,低(「0」)狀態表示輸出模式,高 (「1」)狀態表示輸入模式。埠X係輸入模式時將塾電位 (輸入訊號)傳給内部電路之輸出埠。VDD係電源電壓(正確 為供給VDD電位之端子)、例如表示3. 3V,VSS係主電源電 壓(正確為供給VSS電位之端子)、例如表示0V,VDSUB2表 示浮動N丼之電位(正確為供給浮動N井電位之端子)。R 1係 電阻器,L 1〜L 7係邏輯電路。其中、L 1、L 2、L 3、L 5及L 7 係反相器,L6係非或閘,L4係非且閘。P卜P8係P型電晶 體,其中P卜P7之電晶體係形成在浮動N井上。Ml、N2及 N4〜N8係\型電晶體。節點(Node) a形成在P1閘極與P5汲極_ 之連接部,而節點(Node ) b形成在P6閘極與P7汲極與N 7汲 極與N 7汲極與N 8汲極之連接部。又、P 1及N 1稱謂驅動電路 (Driver),P8及N2稱謂預置驅動電路(Pre-driver)。 其次說明構成圖2之各電晶體之作用。
第8頁 508521 五、發明說明(6) 〈圖2 -說明1 : P1〜P 7 > 將PI ~P7之7個P型電晶體形成在浮動N井上。 如此、將P1〜P7之7個P型電晶體形成在浮動N井上。由 此、如圖3之等效電路所示,即在p型電晶體之源極與汲極 間構成以VDSUB2 (浮動N井)為中心對抗之2個二極體。 ’故、即使將高於源極電位之5V施加於汲極,惟因有 \ DSUB2與源極間之二極體,故能遮斷從汲極流至源極之電 "IL路從。即能防止茂漏電流之發生。 〈圖2 -說明2 ·· P 2 > 用P2之P型電晶體將VDSU]B2充電至5V。 _ 以P之連接墊與VDSUB2間。又、由於P2之閘極連在VDD, 故即使將0V或3· 3V施加於墊,惟p2為斷開狀態。但、”,輸 入墊時’因汲極與閘極間有vtp (表示p型電晶體之間電 壓,一般約0.8V)以上之電位差,故p2成接通狀態。 如此由於P2之存在,故可將VDSUB2充電至與輸入墊之 同電位。然该P2時,VDSUB2祗能充電至比藉P1之?型電晶 體生二:體輸入之5',僅低其二極體之VF (二極體之閾 值電壓)之電位。 〈圖2 -說明3 : P 5 > ιΡ 以P5之P型電晶體確保ρι之?型電晶體(又稱驅 開狀態。 以Ρ5連接Ρ1之閘極與VDSUB2。因ρ5之閘極連在_,致 5V輸圓為5V時,即、將VDD亦即3^施加於問 極欣”、、3 ^加灰源極之狀態,閘極與源極之電位差成為
第9頁 508521
私日a社之閾值電壓(一般約〇 · 8 v )以上之值,故此種狀況時 P5成為接通狀態。因此、節點&成為5v,而可使?1之閘極 為=。如此、由於P5之存在,使P1之閘極為5V,可謂P5達 成又向輪出入電路之輸出驅動器即p丨之?型電晶體成斷開 狀態之角色。 恭Γ ί、雙向輸出入電路之輸入模式時,將3 · 3 V供給P型 屯日日、粗(又稱驅動器)P1之閘極,而將〇v供給N型電晶體 (又^驅動器)N 1之閘極,兩電晶體均成斷開狀態。輸入 Ws然因屬輸入模式故ρι及…之電晶體應成斷開狀態。 但、5 V輪入墊時,因P1之閘極為3 · 3 V而沒極為5 V,致P 1成馨 接通狀.態。因此、雖不至成短路狀.態,惟墊與VDD間連 接,喪失以浮動N井藉二極體遮斷電流路徑之效果。 圖2、例中、由於P 5之存在,如上述5 V輸入墊時因使p 1之 閘,為,故即使P1之沒極成為5V,仍可碟實使ρι為斷開 狀態,而可防止電流之汽漏。 〈圖2-說明4 : P6及P7> 州r d汉r ί 、 — > ,立·他切邱〈m流茂漏。 通¥ 、由P8及N2構成之反相器(置 毹⑽加 am, σ、頂置驷動态)控制P1之 動益。仁、由方;如前述以?5將節點a提升至5 動部P8亦產生與Pi同样获泰曰顺 义預且 對μ &入替之+? 日之電流茂漏路徑。如此、 封5\輸入墊之兒流洩漏路徑之遮 預置驅動部’隨時向其前段 如厂驅動部命 施此種糊漏路徑對[二對各=晶體實 間,而無法對應高速運作。 長^至塾之傳#延遲時
苐10頁 (8) ' "-------- 遮斷對„此事,將P6插入P8與節點a間,即可將電流洩漏 成之電朿路ί移出埠A至墊之傳播延遲路徑。即P8與N2構 渴對】路之丽段電路L5之反相器無需實施輸入5V之電流洩 置廢動^於设置對1"6實施與P5同樣工作之P7,即可遮斷預, 時,1 (節點a )之電流洩漏路徑。即、有從外部輸入5 V 電位、,於如前述P 5因施加於閘極之電壓與加於源極電壓之 開狀^致1"7成接通狀態而節點b提升至5V,使P6確實成斷 〜因此、預置驅動部之電流洩漏路徑確實被遮斷。 、圖 2 —說明 5 : n 1、N 2 及 N 4 〜N 7 > · = 、N2及N4〜N7之N型電晶體削減不穩定狀態。 為j叫不穩定狀態即指例如節點b成為浮動狀態。節點b成 之ί ^狀態即為不知P6為接通狀態或斷開狀態之任何狀態 徑^態二此對1C為不穩定狀態,即可謂易產生電流洩漏路 狀態。茲從節點b開始說明。
P R 以 之p型兒晶體,為保證I C之穩定工作,即理想上需為 下狀態。 ^
••輪入模式’輸入5V時:P6為斷開狀態—節點b ·· 5V 伯其他模式 :P6為接通狀態—節點b : 0V 、圖2之情形為如下狀態。 ’ 由2入模式(埠E為高狀態),5V輸入墊時P7成接通狀態。 装 因P 6之㈤極電位之節點b為5 ,故p 6成斷開狀態。 〜他模式中、節點b為以下狀態。 崎出模式(埠E為低狀態):因N 8之N型電晶體接通,故
508521 五、發明說明(9) 節點b為0 \。 •輸入模式,輸入0 \時·依輸入0 \前之輸入電位狀態分 為以下3種情形。 (1) 輸入電位做〇V —3.3 V —0V轉換時:因N4〜N7為接通 狀態及P7為斷開狀態,故節點b成3.3V—4xVtn (N型電晶 體之閾值電壓,一般約0 . 7 V )。 (2 )輸入電位做5V — 3. 3 V — 0 V轉換時:因N8為斷開狀 態而N7仍為斷開狀態(依輸入5V,詳情參考後述記載),故 節點b成浮動狀態。 (3)輸入電位做5V — 0V轉換時:與上述(2)之情形同 I 樣,’節‘點b成浮動狀態。 •輸入模式,輸入3. 3 V時:依輸入3 . 3 V前之輸入電位狀 態分為以下2種情形。 (1 )輸入電位做0V — 3· 3V轉換時:因N8及N7為斷開狀 態而N4〜N7為接通狀態,故節點b成3. 3V — 4 X Vtn (N型電 晶體之閾值電壓,一般約0 . 7 V )之狀態。 (2) 輸入電位做5V —3· 3V轉換時:因N8為斷開狀態而 N 7仍為斷開狀態(依輸入5 V,詳情參考後述記載),故節點 b成浮動狀態。 ^ 以上之輸入模式3. 3 V時,上述(1 )之情形若其前之輸入 電位狀態為5V,則與上述(2)同樣節點b成浮動狀態。 I C之電晶體之閘極電位成浮動狀態,即指發生無法保證 工作情形之意。故、輸入模式之輸入電壓從高電位至〇 V或 3 . 3 V 時、即成為 5 \ — 3 . 3 V 時、成為 5 ~^ 0 \ 時、成 5 Y ^ 3 . 3'
第Γ2頁
W 之3J重情形時’對成為圖2之界面電路之輸出入電路可 =不穩疋狀態。此乃由節點b之浮動狀態引起之不穩定 又但、其他狀態表示極穩定之運作。 即d 成i為不穩定,即指不知p 6為接通狀態或斷開狀態 ^任何,狀之意。故、輸入3· 3V時若p6成斷開狀態時,節 j b亦成子動狀態。由此、P 1之P型電晶體(驅動器)可能成 為接通狀態。即、墊與VDD可能相連接。 故、N4〜N 7之4個N型電晶體係為削減節點b之不穩定(浮 動)狀態所構成之電路。 由方、\ DD連接n型電晶體之N4,故N4之汲極電位僅能充電H ^僅·比VDD低Vtn (N型電晶體之閾值電壓,一般約〇 . 7V)之 兒位此兒位雖不成為〇 V,惟為對P 6識別為低電位之十分 低之電位。故、由N4〜N7之N型電晶體之接通,可使P6為接 通狀態並將節點a固定在3. 3 V。 炫因N型電晶體之閡值電壓一般約為0 · 7 V,故相當於 N 4机N 7之電晶體段數以2段以上及4段以下為宜。圖2係採用 。此乃為了確實使P6為接通狀態,換言之、為了使節 ”’、占b更接近〇 \’而採用4段。段數比此更多時使節點匕接近〇 v 之速度將變慢。又、若此段數過少時p6之控制、甚至節點 b之控制將更困難。 ”鲁 又、圖2之電路係由u之反相器控制N4之間極,而由淳£ 之2號控制L3。故、N8為接通狀態時,N4為斷開狀態,短 路電流不致從VDD流至VSS。更若AC運作時發生爭用時,亦 由N 4〜N 7之4段連接而電晶體之能力極降低,致短路電流僅
第13頁 、發3月說明(11) 流約10 ^。 此j —人、5~’輸入墊時,因P7成接通狀態使節點b成為5V。 兩ί Λ由於N4〜N6之3個丨、型電晶體為接通狀態惟N7之汲極 2 (郎點b)為高於閘極電位之5 v,故N7成斷開狀離。因 丄可遮斷從VDSUB2至VDD之茂漏路徑^此即為5V 為輸 =,輸入,然後輸入〇 v、3 . 3V時由於該”成斷開狀態, 之N7即點^成洋動狀態之原因。如此、由一旦成斷開狀態 ^,使節點b再度輸入5 V、或祗要不成為輸出模式仍為 〉于動狀態。 里如此、N7之N型電晶體,在一旦成為斷開狀態時,若節· 部不成為0 \ (貫際上、比N 7之閘極電位低閾值電壓v ^ 〇分 之兒位)即不回復至接通狀態。此乃指Ν4〜Ν7之電路如前沭 在輪入模式如以下工作之意。 < « 0〜成為3 · 3 \時··保持節點b於低電位。 乂 5 \成為3 · 3 V時:節點b為浮動狀態。 故、N4〜N7之電路可謂是節點b之2種不穩定狀態中解決 個條件之電路。 ' 〈圖2 —說明6 : P3及P4> 由P3及P4 ;!字VDSUB2固定在3· 3V 。 口在^出模式時媒需,考慮一切訊號輸入,故V D S U B 2以3 定在與\ D D同電位為佳。此「無需考慮一切訊號輸入」之 思即逍¥如圖2之界面電路之輸出入電路之墊在其前被連 接於貧料®流棑。其資料匯流排亦連接其他各種電路,惟 一次僅接通1個電路之概念之故。
I圓國盡__ 苐14頁 508521
^\DSLB2 E]疋在與VDD同電位 晶達成。由PI Ml m、 艾工1卞係由P3及P4之P型電 墊之任何一方必成0V。故、節f τ M式町,即點3从 將VDSUB2充電為VDD電位。·…時P3成接通狀態並 茲因P 3之間極從 被損壞。故、與L1 器連接墊與P3之問 之損壞。 塾直接接受訊號, 之反相器之輪入同 極’使其不易引起 故靜電施加於墊時易 樣’藉R 1之保護電阻 因靜電之閘極絕緣膜 又、P3亦達成在輸入模式 V D D電位之工作。 將上.述圖2電路之各模式、 電位狀態整理於下表1。 表1 輪入墊時將VDSUB2充電至^ 各條件之浮動N井、節點b之 模式 輸出入電位 轉換狀態 VDSUB2 之臺^ 輸入模式 0V 3.3W0V 3.3V 5V ->〇V 3.3V ^^ 3.3V 〇V ->3.3V 浮動 (3.3V —V ⑻ 5V->3.3V 浮動~ (3.3 V-VtP) 5V 〇V 5V 5V ^' 丨 3·3νΤ^Ϋ~ 5V ^— 輸出模式 ------- 一 0V 3.3V-> 〇V 3.3V 3.3V 〇V 3.3V 3.3V ^^ 節點b之 浮動 (5 —> 3.3 —> 〇) 3.3V — 4xVtn (0 —> 3.3 〇) 3.3 V —4x Vtn 其次、依圖4說明 浮動
5 V 5V~ow ov 步改良圖2更防止洩漏電 圖4係進一
第15頁
508521 五、發明說明(13) 流之界面電路。尤其圖4之特徵係與圖2比較’確貫防止輸 入模式之輸入電位0 \狀悲之)¾漏電流。 圖4中表示與圖2同樣構造者,如以下說明附予相同之圖 號。墊係使用於從外部之訊號輸出入。埠A表示資料訊 號。埠E表示致能訊號,低(「0」)狀態表示輸出模式,高 (「1」)狀態表示輸入模式。i皐X係輸入模式時將塾電位 (輸入訊號)傳給内部電路之輸出埠。VDD係電源電壓(正確 為供給VDD電位之端子)、例如表示3.3V,VSS係主電源電 壓(正確為供給VSS電位之端子)、例如表示OV,VDSUB2表 示浮動N井之電位(正確為供給浮動N井電位之端子)。R 1係_ 電阻·器·,L卜L7係邏輯電路。其中、LI、L2、L5及L7係反 相器,L3及L6係非或閘,L4係非且閘。P1〜P8係P型電晶 體,其中P卜P 7之電晶體係形成在浮動N井上。N卜N 8係N型 電晶體。節點(N 〇 d e ) a形成在P 1閘極與P 5沒極之連接部, 而節點(Node ) b形成在P6閘極與P7汲極與N3汲極與N7汲極 與N8汲極之連接部。又、P1及N1稱謂驅動電路(Dri ver), P8及N2稱謂預置驅動電路(Pre_driver)。以上、圖2與圖4 之差異即N3之N型電晶體之有無。 其次說明構成圖4之各電晶體之作用。 _ 〈圖4 -說明1 ·· P 1〜P 7 > 將P1〜P7之7個P型電晶體形成在浮動N井上。 如此、將P1〜P7之7個:P型電晶體形成在浮動N井上=甴 此、如圖3之等效電路所示,即在P型電晶體之源極與汲極 間構成以VDSUB2 (浮動N井)為中心對抗之2個二極體。
第16頁 508521 五、發明說明(14) 故、即將南於源極電位之5V施加於汲極,惟因有vdSUB2 與源極間之二極體,故能遮斷從汲極流至源極之電流路 徑。即能防止洩漏電流之發生。 〈圖4 -說明2 : p 2 > 用P2之P型電晶體將VDSUB2充電至5V。 以P2連接墊與VDSUB2間。又、由於p2之閘極連在㈣, 故即使將0V或3. 3 V施加於塾,惟P2為斷開狀够。但、5 v輸 二墊時’因:及極與閘極間有vtp (表示?型電晶體之閾電 壓,一般约0.8V)以上之電位差,故p2成接通狀態。 如此由於P2之存在,故可*VDSUB2充電至與輸入整之# 同電位·。無該P2時,V0SUB2 + r 了 抵把充電至比藉Ρ1之Ρ型電晶 體之可生一極體輸入之5V僅低盆-技細 J V惶低其一極體之VF (二極體之閾 值電壓)之電位。 〈圖4 -說明3 : P 5 > 以P5之P型電晶體確保P1 p 财 開狀態。 之^…(又稱驅動器)之斷 以卩5連接ίΜ之問極與VDSUB2。因p 5V輸入墊而VDSUB2為5?時’ 、在~DD致 極,成為5V施加於源極^狀:二亦即3.3V施加於閘 +曰_夕卩彳+ 怨,問極與源極之電位差成為 電晶體之閭值電壓(一般約(3 8 y Χ (§ Ρ5成為接通狀態。因此、節二二故此種狀況時 為5'「。如此、由於Ρ5之存:二厂;V而可使P1之間極 . 使P 之極為5 \,,可謂p 5逵 成雙向輸出入黾路之輪出哭 〇r 一 狀態之角色。 動σσ PP 1型電晶體成斷開
第17頁 508521 五、發明說明(15) + :股、雙向輸出入電路之輸入模式時,將3· 3V供給p型 電晶體(又稱驅動器)P 1之閘極,而將0 V供給N型電晶體^ y又稱驅動器)N丨之閘極,兩電晶體均成斷開狀態。 〇二Vi因屬ί入模式故㈧及旧之電晶體應成斷開狀態。 ㈣入塾k ’因ρ 1之閘極為3 · 3 ν而汲極為5 ν ,致ρ 艾失以汙動N井藉二極體遮斷電流路徑 圖4例中、由於P ^又果 間極為5/,二Si,存九、述⑼輸入塾時因使P1之 m·,而可防止電流之" 4^ 〈圖4 -說明4 : P6及P7> 用P6及P7之P型電晶體遮斷預置驅動部之 通常、由P8及N2構成之;5如哭广辟翠 凍属 私t ^ κ 成之反相态(預置驅動器)控制Ρ1之驅 動為。但、由於如前述以ρ 5 Ιθ …, 一 動部PS介洋斗命P1 A ,“ 5 71夺點a促升至bv,致預置驅 / ,、 /、同樣藉電晶體之電流洩漏路徑。如此、 封5\輪入墊之電流洩漏 _ ^ 七 ^之遮辦對朿,正如從驅動部向 '且驅動部,卩边時向其前段電路推 施此種電流沒漏路徑對策,gp &具A f "Ba ^ Λ 間,而無法對應高速運:。即延長4Α至墊之傳播延遲時 為防止此事,將Ρ6插入g | 埔斷蚪一,々π私山$ ,、即·,.,占a間’即可將電流洩漏’ 心鉼对朿路位移出埠A至墊之值嫱%、尸 成之兩改β + we 傳 遲路徑。即⑺與⑽構 风·^兒路之刚&電路L5之反相哭益兩余 ^ ^ ^ 漏對策。 相。。热而貫施輸入5\之電流洩 又、由於設置對P6實施與p5同樣卫作⑼,即可遮斷預 508521 五、發明說明(16) — '^—------
2 2 4 (,即、』a)之電流漏路徑3即、有從外部輸入5V 兩位差致P7 = "^Ρ5因鈀加於閘極之電壓與加於源極電壓之 雖因成接通狀態而節點b提升至5V,使Ρ6確實成斷 動4之電流^漏路後確實被遮斷。 N7^N型電晶體削減不穩定狀態。 ^不t疋狀態即指例如 Μ Ψ1; h Λ 為淨動狀態即為不知PR U 欣為子。即點b成 之狀態。此二為接通狀態或斷開狀態之任何狀態 徑之狀態…上ί不穩定狀態,即可謂易產生電流茂漏路, 故k郎點b開始說明。 讀 P 6之p型電曰娜 达7口” τ 以下狀態。日日处',為保奋1 C之穩定工作,即理想上需為 •輪入槿4、 ^ ττ •其他桓工、’輪入5 V時:Ρ 6為斷開狀態—節點b : 5 v 但、圖4、式 :Ρ6為接通狀態—節點b:〇v :"之情形為如下狀態。
才莫 -V 由I、(埠E為高狀態),5V輸入墊時?7成接通狀態。 其他r *之間極電位之節點b為^ ’故P6成斷開狀態。 /吴式中、節點b為以下狀態。 •輸出穆:4、, β ΤΛ 1 節點b為^、式(埠Ε為低狀態):因Ν8之Ν型電晶體接通 •輸入楦★ , 點13為(^,。、式,輪入〇V時··因N3之N型電晶體接通,故節 . °此情形為與圖2比較時之圖4之特徵。 故節點b,、、、式,輪入3 ♦ 3 V時:因N 3、N 8及P 7為斷開狀態’ "”枚為浮動狀態。
第19頁 508521 五、發明說明(π) I C之電晶體之閘極電位成浮動狀態’即指發生無法保證 工作情形之意。故、輸入模式之輸入電壓成為3. 3V時,對 成為圖4之界面電路之輸出入電路可謂不穩定狀態。此乃 由節點b之浮動狀態引起之不穩定度。但、其他狀態與圖2 比較表示極穩定之運作。這是因N型電晶體之N 3之存在, 圖4之電路能比圖2電路穩定運作之故。
節點b成為不穩定,即指不知P 6為接通狀態或斷開狀態 之任何狀態之意。故、輸入3. 3V時若P6成斷開狀態時,節 點a亦成浮動狀態。由此、P 1之P型電晶體(驅動器)可能成 為接通狀態。即、墊與VDD可能相連接。 I 但·、·與圖2比較,在I C實用上可認為圖4之電路並無太大 問題。因為圖4中成為此問題時之VD D與墊之電位、兩電位 均為3 . 3 V之故。即、因浮動致P 1不穩定化之現象係由I C之 VDD (此時為3.3V)與從外部輸入之VDD (此時為3.3V)之差 分成為電動勢之故,此次因其差等於幾乎零,故洩漏電流 亦不易發生。但、對I C而言確為不佳之狀態。 故、N4〜N7之4個N型電晶體係為更削減節點b之不穩定 (浮動)狀態所構成之電路。 由於VDD連接N型電晶體之N4,故N4之汲極電位僅能充$ 至僅比V D丨)低V t n ( N型電晶體之閾值電壓,一般約0 . 7 V ) Θ 電位。Ν 5至Ν 7之3段Ν型電晶體亦因將各閘極連在源極電 位,故各〉及極電位成為比源極電位僅低\ t η之電壓。因 此、節點b成為比V D D低V t η 4段分之電位。此電位雖不成為 0 V,惟為對Ρ 6識別為低電位之十分低之電位。故、由
苐20頁
N 4 N 7之N型電晶禮之接通,可使p 6為接通狀態並 固定在3.3V。 兀4即點a r兹因N型電晶體之閾值電壓一般約為0· 7V,故相當於 N4〜N7之電晶體段數以2段以上及4段以下為宜。苐&圖伏二 用4段。此乃為了確實使P6為接通狀態,換言之、57 τ' ^ 卜卜 了 {吏^ 卽點b更接近〇 \而採用4段。段數比此更多時使節點匕接、斤 0 之速度將變慢。又、若此段數過少時p 6之控制、甚至μ 點b之控市彳將更困難。 … 又、圖4之電路係由L3之非或閘控制N4之問極,而由塾 與埠E之訊號控制l 3。故、N 3或N 8為接通狀態時,n 4為斷_ 開狀·態·,短路電流不致從VDD流至VSS。更若AC運作時發生 爭用時,亦由N4〜N 7之4段連接而電晶體之能力極降低,致 短路電流僅流約1 0 // A。 其次、5V輸入墊時,因P7成接通狀態使節點b成為5V。 此時、由於N4〜N6之3個^型電晶體為接通狀態惟N7之汲極 電位(節點b )為高於閘極電位之5 V,故N 7成斷開狀態。因 此、可遮斷從VDSUB2至VDD之洩漏路徑。此即為5V做為輪 入電位輸入,然後輸入〇 V、3 · 3 V時由於該N 7成斷開狀態, 致使節點b成浮動狀態之原因。如此、由一旦成斷開狀,能 之N7,使節點b其次輸入〇V、再度輸入5V、或祗要不成為錢 輸出模式仍為浮動狀態。此點、可謂圖4優於圖2。… ,丁 ^ 1 惟 4、不問前輸入電位如何,能以輸入電位〇 v使節%匕 (〇V),而圖2在前輸入電位為5V時,雖輪入電位為〇v\ SS 節點b仍為浮動狀態。 .....
第21頁 五 發明說明(19) 如此、N 7之n型兩曰蝴 點b不成為〇v (=二=租,在一旦成為斷開狀態時,若節 之電位)即不二二 ' 比N7之閘極電位低閾值電壓Vtn分 在輸入模式如二Λ^1。。此乃鲁N7之電路如前述 乂 〇〜成為3 · 3 V時:伴持ρ •從5¥成;^ 保持即點b於低電位。 故、節點b為浮動狀態。 醉決1個條件之】:可謂是節點b之2種不穩定狀態中 〈圖4-說明6 :p3及p4> 由P3及P4將VDSUB2固定在3. 3V。 φ a ^在輪出梃式時無需考慮一切訊號輸入,故VDSUB2以周 2與同電位為佳。此「無需考慮〆切訊號輸入」之 :pjg如圖4之界面電路之輸出入電路之墊在其前被 接於貧料匯流棑。其資料匯流排亦連接其他各種電路, 一次僅接通1個電路之概念之故。 嘴 a彐 4\’DSUB2固定在與”!)同電位之工作係由p3及以之?型帝 達成。由P 1及N 1構成之驅動器在輪出模式時,節點&或兒 墊之任何一方必成0V。故、節點a為〇\,時P4成接通狀態# 將VDSUB2充電為VDD電位。又、墊為〇v時”成接通狀^ 將VDSUB2充電為VDD電位。 〜亚, 兹因P3之間極從塾直接接受訊號,故靜電施加於塾 ,損壞。故、與L1之反相器之輸入同樣,藉R1之保護 范連接塾與P3之閘極,使其不易引起因靜電之閘極 之損壞。,、不胰
第22頁 508521 _ 案號 88111181 年 且 a 五、發明說明(20) 又、P3亦達成在輸入模式、〇 VDD電位之工作。 由上$圖4電路可構成:於輸出模式時可輸出3. 3V,且 於輸入杈式時失誤輸入5 V亦無問題,且實質上亦無電流 漏問題之雙向輸出入電路等之界面電路。將圖4之各模 式、各條件之浮動N井、節點b之電位狀態整理於次表2。 表2 ?。年%%修正’ V輸入墊^_VDSUB2充電至
模式 輸入模式 waj入電位 δν^~ _轉換狀態 VDSUB2之電位 節點 3.3 V — OV 3.3V ον 5V — 0V 3.3V ον ^ 3.3V ——--- OV-> 3.3V 浮動 (3.3 V—VF) 5V~>3.3V 浮動 (3.3V-VF) 5V 0V-^5V 5V 5V' 3.3 V-^5V 5V 5V ^ 輸出模式 3.3V 4 OV 3.3V OV ^^ 3.3V 0V-^3.3V 3.3V ’ OV " > iSl R ^ on ^ r- ,ν. . . . . J 以消 除圖4發生之某狀態時之VDSUB2之浮動狀態之 J 其他特徵及性能同圖4。 |曲電路 圖5中表示與圖4同樣構造者,如以下說明附 。墊係使用於從外部之訊號輸出入。埠A表示資料^之圖 號 號 埠E表示致能訊號,低(「 0」)狀態表示輪屮握斗、 (「1」)狀態表示輸入模式。埠χ係輸入模式時.ς,高 (輸入訊號)傳給内部電路之輸出埠。VDD係電呢雷茂^位 為供給VDD電位之端子)、例如表示3. 3V,VSS ’係主^(、正確 '、 电源電
O:\58\58811.ptc 第23頁 2001 肩· 26· 023 508521 五、發明說明(21) 壓(正確為供給\ S S電位之端子)、例如表示〇 V,v d $ u b 9 士 示浮動N井之電位(正確為供給浮動N井電位之端子)。& 二 v 。κ i 係 電阻器,L卜L7係邏輯電路。其中、Li、L2、L5及L7侍反 相器,L3及L6係非或閘,L4係非且閘。P卜P8及ρ! !係^刑 電晶體,其中P1〜P7及Pi 1之電晶體係形成在浮動N井上: Μ〜N8係N型電晶體。節點(Node) a形成在P1閘極鱼pr 之連接部,而節點(Node)b形成在P6閘極與P7汲極與” 極與N7汲極與N8汲極與p 1丨之閘極之連接部。又、p丨^ 稱謂驅動電路(Dri ver),P8及N2稱謂預置驅動電路 ^ 曰曰 (Pre —driver)。以上、圖5與圖4之差異即Pn之p型 之有·無。 ^ 〈圖5 -說明1 : P 1 1 > 構成圖5之各電晶體之作用,除p u 曰 ^ ^ ^ ® 4 ^ „P11 . ^ " 其他各電晶體之作用,tt參考圖4之說明用…月。關於 、圖4所示界面電路之輪出入電路,如 電位3 · 3 時,表示下列特性。 洲 琴式輪入 • 電位3.3V時,前輸入電位_時· 為;干動(3· 3V - VF), 節點b之電位為3 3v — 4xvtn。 輪入模式、輸入電位3 ,么 VDSUB2為浮動(3. 3v_ vf),⑴伸入電位為“時: 節點b之電位為浮動。 此時、PI 1之p哥带曰4 兒日日體形成在浮動N井上,其閘極連接
第24頁 508521 五、發明說明(22) ' 於郎點b,而其源極及汲極分別連接在VDD電位及VDSUB2電 位。該PI 1之P型電晶體之作用與P3及P4之p型電晶體同-包 樣,將VDSUB2電位固定在VDD電位。 圖5之輸出入電路,與圖4之電路同樣,在輸入模式、輸 入電位0V時,無論其前電位之值如何,節點b之電位必成 為0 ~ °故、上述說明之輸入模式、輸入電位3 · 3 V時,而其 削輸入電位為0 V時,節點b之電位成為3 · 3 V - 4 X V t η,成 為接通Ρ型黾晶體足夠之值。由此、pi〗之ρ型電晶體在輸 入模式、輸入電位3· 3V時,而其前輸入電位為0V時,可將 VDSUB2電位固定在VDD電位、即3. 3V。 < 因此·、圖5之輸出入電路,與圖4之電路比較,具有減少 1 C内部之浮動狀態之功能。 71字圖5之各模式、各條件之浮動N井、節點b之電位狀熊 整理於次表3。 〜 表3
模式 輪出入電位 轉換狀態 VDSUB2之電位 節點b之電位 0V 3.3V^〇V ; Ϊ3Υ OV ------ 5V->0V 3.3V OV 3.3V 〇V-> 3.3V 3.3V 3.3V-4xVtn 5V — 3.3V 浮動 浮動 (3.3V-VF) 5V 0V-> 5V 5V 5V i/v ,Li 1**· _L· ---- 3.3V->5V 5V 5V 輸出^式 ‘ 0V 3.3V — 0V 3.3V OV 3.3V ---- 0V--^3.3V 3.3V OV
? 依圖6說明。圖6係由附提升電阻器之輸出入電路 構成之介157電路。圖6係圖4追加提升電阻器,以消除圖4
508521 五、發明說明(23) 發生之某狀態時之浮動狀態之界面電路。其他特徵及性能 同圖4 。 圖6中表示與圖4同樣構造者,如以下說明附予相同之圖 號。墊係使用於從外部之訊號輸出入。埠A表示資料訊 號。埠E表示致能訊號,低(「0」)狀態表示輸出模式,高 (「1」)狀怨表不輸入模式。璋X係輸入模式時將塾電位 (輸入訊號)傳給内部電路之輸出埠。V D D係電源電壓(正確 為供給VDD電位之端子)、例如表示3.3V,VSS係主電源電 壓(正確為供給VSS電位之端子)、例如表示OV,VDSUB2表 不〉午動N井之電位(正確為供給浮動N井電位之端子)。R 1 電阻·器,L1〜L7係邏輯電路。其中、LI、L2、L5及L7係反 相器,L3及L6係非或閘,L4係非且閘。P卜P1 0係P型電晶 體,其中P卜P7、P9及P1 0之電晶體係形成在浮動N井上。 N1〜N12係N型電晶體。節點(Node) a形成在P1閘極與P5汲 極之連接部,而節點(N 〇 d e ) b形成在P 6閘極與P 7汲極與N 3 汲極與N 7汲極與N 8汲極與P 1 0閘極之連接部。又、P 1及N1 稱謂驅動電路(Dri ver),P8及N2稱謂預置驅動電路 (Pre-driver)。以上、圖6與圖4之差異即P9及P10之P型電 晶體之有無,以及N 9〜N 1 2之N型電晶體之有無。 一般、將如附提升電阻器之輸出入電路構成之界面電 路,做為對應電壓寬容電路之電路、即做為此次圖6之電 路,比將P型電晶體做為對應電壓寬容電路之電路、即做 為圖2、圖4及圖5之電路更含困難之問題。 因為、做為驅動器之P型電晶體在輸入模式時經常為斷
第26頁 508521 五、發明說明 88111181 nir 開狀態,而提升電阻器則需對應下i狀益為 •輸入電位為0V〜3.3V :提升電阻器為接通狀離 •輸入電位為3· 3V〜5V :提井雷阳哭=f ^狀:: 圖6中所示之界面電路,包人傲炎;二斷開狀悲 λ ^ . 甘姑L 做為電壓寬容電路之輸出 入電路,其解決了此一問題。 又、構成圖6之各電晶體之作用,除p9及?1〇之p型電晶 體之作用、以及N9〜N1 2之N型電晶體之作用外,與前述圖4 相同。故茲僅就P9及P10之P型電晶體之作用、以及N9~Nl2 之N型電晶體之作用加以說明。關於其他各電晶體之作 用,請參考圖4之說明。 〈圖6-說明1 : P9及P1 〇> 將P9及P 10之P型電晶體形成在浮動N井上。 將附提升電阻器用P型電晶體P 9與電流洩漏路徑遮斷用p 型電晶體P 1 0 —同形成在浮動N井上。因此、將p型電晶體 之汲極直接連接在墊,亦可遮斷因二極體之,電流洩漏路 徑。 . P 9之P型電晶體由預置驅動部之電路L 6之輸出控制成與 通常之提升電阻器同樣,在輸出模式時成斷開狀態而在輸 入模式時成接通狀態。 輸入模式時P9成接通狀態,惟為防止輸入”時墊與vdd 之短路電流,在P9與VDD間設置P1 〇之p型電晶體。即、、在 輸入模式而輸入電位為5 v時,節點b為5 V。P 1 〇之p型電晶 體之閘極因連接在節點b,故輸入5 V時P 1 0之p型電晶體即 成斷開狀態。因此、能確實防止墊與V D D間之短路電流。
O:\58\58811.ptc Η
第27頁 2001.06. 26. 027 508521
苐28頁 k έ 备正 7--案—88111181--了°年b丨月干I 、:絛正1 五、發明朗(26) Τ .. . .. . . ::::7 又、為了將節點b接近〇V,可減少M9〜N12之N型電晶體。 〇此做對使P1 0之P型電晶體為接通狀態為一良好之條件。 〜但、、由於N9〜N1 2之N型電晶體在輸入5V時亦為接通狀 並因该N 9〜N1 2之N型電晶體之存在,藉μ之p型電晶體 ^藉VDSUB2之節點b使短路電流流sVSS。此時、因由輸入 之5V訊號充電VDSUB2,故該充電電流照舊成為輸入電流 漏。 為減小此種輸入電流洩漏,需要如N 9〜N丨2之多數段N型 ,晶體。黹該N型電晶體之段數增加至多於4段之5段、6 奴’即使將各電晶體設定為小閾值電壓,惟將增高節點b 之電位’甚至無法確保從輸入5 V轉換為輸入3 · 3V時^ 〇之p 型電晶體之接通狀態。 治圖6之做為電壓寬容電路之輸出入電路,考慮將輸入電 机戌漏值之規格為數μ A單位,構成4段之n型電晶體構 流件模 且式a。 電條 入 模」路 漏、 輸 V何1¾電 洩式 在 3任h、面 該模 除 3論、j界 。出 成 准他 消 、無卜之 ,其 有W Μ於;:等 流在 具Η由卜路 電, ,之1且5電 I L 乏態式,、 之济争狀模,態入 12電Λ S狀出 Ν ^ 4 t a ^ ~ 圖一手輸 動 9曳 S、>幸 W 之/ Η亦ί雙 為時跆點幹卩之之 >日 電黑當5 b爻 漏5V節 入點器 茂入iBA之洛輸節阻 流輸 險時電誤除電 f ^ J3vj失消升 之3之 入模。6 3 6時均提 輸入流圖位圖式件附 此輸電、電述模條、 、在此此入上入何題 又僅無因輸由輸任問 係並 式 於及漏
O:\58\58811.ptc 第29頁 2001.06. 26.029 刈8521
案號88111H ‘發明說明(27) _____ 將圖6之各模式、各條件之浮動N井、 整理於次表4。 即點13之電位狀態 表4 輸出入電位 轉換狀態
[發明之效果] ^ ^述、依本發明,因可從外部施 電位之電&,做$電壓寬容電路之=内#電源電壓 ,二於輸出模式時可輸出3. 3V, 人電路等界面 =亦,,且無論任何模式 匕模式時失誤輸 之净動狀態,故可構成實質上無電户條件均實際消除節 輸出入電路等之界面電路。、 义洩漏問題之雙向 等提升電阻器之做為電壓寬容 =::'亦於輸出模式時可輸出3.3 V之輸出入電路 P、、肖^ Ϊ入亦無問題,且無論任何模式$且於輸入模式 ϊ i ϊ郎點b之浮動狀態,故可構成益雷\及任何條件均實 向輸出入電路等之界面電 、電 < 洩漏問題之雙 [圖式之簡單說明] 。 圖a係輸出入電路之驅動部斷面圖。
O:\58\58811.ptc 第30頁 2001.06.26. 030 508521
O:\58\58811.ptc 第30a頁 2001.06.26.031 508521 五、發明說明(28) 圖3係形成在洋動N井上之P型電晶體圖。 圖4係進一步改良2圖更防止洩漏電流之界面電路。 圖5係圖4追加一個中間電晶體,消除圖4發生之某狀態 時之VDSUB2之浮動狀態之界面電路。 圖6係由附提升電阻器之輸出入電路構成之界面電路。 [圖號說明] 101... ...P型電晶 體 102... ...二極體 103... • . J井 104... …VDD 105.·.. …墊 106... ...N型電晶 體 107... ...二極體 108... • · . P 井 109... …VSS L..... ...反相器 N........N型電晶體 P........P型電晶體
第31頁
Claims (1)
- 508521 々、申請專利範圍 1. 一種界面電路’其特徵為包含: (1)供給第1電源(Vdd)之端子,該電源由第1電位而 成, (2 )供給第2電源(Vs s )之端子,該電源由低於第1電 位之第2電位而成; (3 )弟1驅動電路(P 8、N 2 ) ’將貧料訊號做為輸入接 受; (4 )第2驅動電路(P 1、N 1 ),將來自前述第1驅動電 路(P 8、N 2 )之輸出訊號介以第1節點(節點a )做為輸入接 受; · • (5)輸出入墊,與前述第2驅動電路(PI、N1)之輸出 部作電氣連接; (6) 第1保護電路(P2、P5),從外部將高於前述第1 電源(V d d )之第1電位之電位施加於前述輸出入墊時,將前 述第1節點(節點a )設為高於第1電位之電位,藉而使前述 第2驅動電路(P 1 、N 1 )為斷開狀態; (7) 第2保護電路(P2、P6、P7),具有第2節點(節點 b )電連接於供給前述第1電源(Vd d)之端子及供給前述第2 電源(V s s )之端子,從外部將高於前述第1電源(Vdd )之 電位之電位施加於前述輸出入墊時,將前述第2節點(節 b)設為面於第1電位之電位’藉而使前述第1驅動電路 (P 8、N 2 )為斷開狀態;及 (8 )第3保護電路(N3 ),從外部將與前述第2電源 (V s s )相等或大致相等之電位施加於前述輸出入墊時,將第32頁 508521 ——_ 六、申請專利範圍 I ; :2二广(節點b)設為前述第2電位 " 电路(P 8 、N 2 )之狀態。 二it請專利範圍第1項之界面電路 】P 2、N 5 )及第2保護電路(p 2 ir、存在於浮動井上。 3 ·如申請專利範圍第2項之界面電路 (1 )如述第1驅動電路(P 8、N 2 ) (P8)及第1N型電晶體(N2)構成; (2 )前述第2驅動電路(p工 (P 1 )及第2 N型電晶體(N丨)構成; (3) 前述第!保護電路(p2 ^ 〇 1 -¾ -, (f2),從外部將高於前述第1電源(Vdd)之第1電位之電位 施加於前述輸出入墊時,將浮動N井之電位充電至高於发 弟1電位之電位;及第4P型電晶體(P5),使前述第”型雷 晶體(P 1)為斷開狀態之上述二件構成; (4) 4述第2保護電路(P2、P6、P7),由:第5p型電 晶體(P6),配置在前述第1P型電晶體(p8)與前述第1節點a (節點a )間而其閘極與前述第2節點(節點b)電氣連接;第 3P型電晶體(P2);及第6P型電晶體(p7),從外部將高於於 述第1電源(Vdd )之第1電位之電位施加於前述輪出入墊時_ 使前述第5P型電晶體(P6)為斷開狀態之上述三件構成;^ (5 )剞述第3保護電路(N 3 ),由:第3 N型電晶體 (N3)’其閘極與前述輸出入墊電氣連接,其源極連接於供 給如述第2電源(V s s )之端子,其汲極介以前述第2節點(節 ,藉以控制前述第1 1其中構成前述第1P 6、P 7 )之電晶體 其中 由第1 P型電晶體 N1 ),由第2P型電晶體 P5 由:第3P型電 體第33頁 六、申請專利範圍 點b )連接於供給前述第1電 4·如申請專利範圍第3項= 之端子所構成 電晶體群(N4、N5、N6、N?),丨呈电路,更包含:多數丨\型 前述輸出入墊之電位做為轸了有閘極,以從外部施加於 (vdd)之端子與前述第2節點 =在供給前述第1電源 接。 A即點b)間構成,以串聯連 5 ·如申請專利範圍第4項 電晶體群為2個以上4個以下 ㈣,其中前述多㈣型 6 ·如申凊專利範圍第4項 兩 電晶體群具有:因應從外部扩加$ ^路’其中前述多數N 使前·述第2節點(節點b)電位机A迷輪出入墊之電位’ !電位減去構成前述多㈣型電又第1電源(刚)之第 計值之電位,使前述第5P刑二Γ肢鮮各電晶體閾值電壓合 t黾曰曰體(p 6 )兔齡門业台t ,, 前述第1節點(節點a)固定 b)為斷開狀怨,亚將 之作用。 疋表刖述弟1電源(Vdd)之第i電位 7 ·如申清專利範圍第1 + 電晶體群(P11),呈有門朽^面@路’更包含:第7P型 b),並在供’给前述第^源’ ^接於前述第2節點(節點 井電位之端子間構成二Vdd)”子與供給前述糊 8.如申請專利範圍第3且么成以^ 電晶體群(P9)盎第qP刑干 命兒路更包3 ·弟8P型 輸出入塾與供給前述^/曰體(P10),以串聯構成在前述 型電晶體群(p9)盘1、+. /源(Vdd)之端子間,且前述第8P 浮動N井上,$、,,、則述弟卯型電晶體(P1〇)均形成在前述 /于動1井上又所述第卟型電晶體群(P9)之問極與前述第508521(1)供給第1電源(Vdd)之端子 電晶體 2N型電晶體群(j\fl)之問極相連 (P1 0 )之閘極連接於前述第2節 9 · 一種界面電路,其特徵為 成; 接,另前述第9P型 點(節點b )。 包含: 該電源由第1電位而 子,該電源由低於第1電 將資料訊號做為輸入接 (2)供給第2電源(VSS)之端 位之弟2電位而成; (3 )苐1驅動電路(p 8、n 2 ), 受; (4)第2驅動電路⑺、N1),將來自前述第丨驅動電 ☆ . 、N2之輸出訊號介以第1節點(節點a)做為輸入接 受; (5) 輸出入墊,與前述第2驅動電路(ρι、ni)之輸出 部作電氣連接; (6) 第2節點(節點b),與前述第1電源(Vdd)及前述 第2電源(V s s )作電氣連接; 々、(7)保護電路(N3),從外部將與前述第2電源(VsS) 相~專或大致相專之電位施加於前述輸出入墊時,將前述第 2節點(節點b )設為前述第2電位以控制前述第i驅動電路 (P8、N2)之狀態。 1〇·如申請專利範圍第9項之界面電路,其中前述保護電 路U3),由:第3N型電晶體(^}3),其閘極與前述輸出入墊 電氣連接,且其源極連接於供給前述第2電源(Vss)之端 子,其汲極介以前述第2節點(節點b)連接於供給前述第i^8521 六、申請專利範圍 電源(V d d )之端子所構成。 1 1 ·如申請專利範圍第1 〇項之界面電路,其中 ’由第1 P型電晶體 ’由第2 P型電晶體 又包 第3P型電晶體 (1 )前述第1驅動電路(P 8、n 2 ) (P8)及第1N型電晶體U2 )構成; (2 )前述第2驅動電路(p 1 m (P 1 )及第2N型電晶體(N 1 )構成;以外, (3) 第1保護電路(P2、P5 ),由 π电日日.拉 (Ρ2 ),從外部將高於前述第丨電源(v dd )之第1電位之電位 施加於前述輸出入墊時,將浮動N井之電位 $ 於苴 ^電位之電位;及第4P型電晶體(P5),使前^^2?型電# 晶體(P 1 )為斷開狀怨之上述二件構成; (4) 第2保護電路(P2、P6、P7),由·〜 + 體(P6),配置在前述第1P型電晶體(p8)與前^3Pf電晶 點a)間而其閘極與前述第2節點(節) =弟1郎點(節 3P型電晶體⑽;及第6?型電晶體(·ρ7)υ^前述第 述第1電源、(V’d d)之第丨電位之電位施加於前述輸「出將入南於前 時,使丽述第5P梨電晶體(P6)為斷開狀態之上啼_ 成。 --1千構 1 2·如申請專利範圍第U項之界面電路,其 2晶體群(P1)、前述第3P型電晶體群(p2)、前^ 體鮮(P5)、前述第5P型電晶體群(p6)、菌述g6p刑二 晶體群(p 7 )係存在於前述浮動N井上。 不i 土兒 1 3·如申請專利範圍第丨丨項之界面 型電晶體群(N4、N5、N6 、Nh , 更匕己·多數Μ ,具有閘極,以從外部施加 II麵 第36頁 六、申請專利範圍 於前述輸出入墊之電、 電源(Vdd)之端子邀立做為翰入,並構成在供給前述第1 接。 /、別返第2節點(節點b)間,以串聯連 14·如申請專利範 型電晶體群為2個,v 乐1 d項之界面電路,其中前述多數N ,,,^ 乂上4個以下。 15·如申凊專利範 型電晶體群具有··因隹,項之界面電路,其中前述多數N 位,使前述第2節點(從外部施加於前述翰出入墊之電 之第1電位減去構成” b )黾位设為從前述第1電源(V d d ) 壓合計值之電位,倍則二述多數1^型電晶體群各電晶體閾值電^ 並將.前.述⑴糾型電晶體(P6)為斷開狀態,1 電位之作用。 』a)固定於前述第1電源(Vdd)之第1 16·如申請專利範圍第9項之界面 電晶體群(P1 1),呈右門代 ^ 丈匕。·弟m b ) > It t U iK - V ,連接於前述第2節點(節點 =亚在供給河述W電源(Vdd)之端 井電位之端子間構成,且形成在前述浮動N井上。〜子動 丄7如申請專利範圍第u項之界面電路,更包含:第δρ =曰3體群(Ρ9)與第,電晶體(ρι〇),以串聯構成在前 述说出入墊與供給珂述第1電源(Vdd )之端子間,且前述 δΡ型電晶體群(P9)與前述第9P型電晶體(ρι〇)均形成在〜前 述浮動ιΝ井上,又前述第8P型電晶體群(p9)之閘極與前述 第2N型電晶體群(N1)之閘極相連帛’另前述苐9p型電晶〜體 (P 1 0 )之閘極連接於如逆苐2節點(節點匕)。 18· —種界面電路,其特徵為包含:第37頁 、申清專利範圍 (1)供給第1曾、、店,v」」、 , 而成; 兒源〇 d d )之知子,該電源由第i電位 電位之第(;)電供位給而:電源(Vss)之端子,該電源由低於第1 接受並山(3丄第。1驅動電路(P8 ' N2 ) ’將資料訊號做為輸入 生電晶體(P8 )及第1 n型電晶體(N2 )構成; 路(P8第^動電路(P1、N1),將來自前述第1驅動電 .、,士 輸出訊號介以第1節點(節點a)做為輸入接 又亚由弟2P型電晶體⑺)及第2N型電晶體⑻)構成; 輸出入塾,與前述第2驅動電彳馨 出部·電·氣連接; 兒格m )之輸 (6)第3P型電晶體(P2),存在於浮動n 部將高於前述第1電源(v dd )之第丨帝 攸外 扒屮入舦3士竹,斤八之弟1兒位之電位施加於前述 卞削出入墊枯,將前述浮動N井之電位 之電位: 凡兒至尚於其第1電位 八,”.;7丄第乂型!晶體(P5) ’存在於浮動N井上,呈有 "以刖述弟1即點(郎點a )以電連接前 ” 之問極與前述浮動w之作用,並心4/2p型二電晶體⑺) (Vdd )之瑞子電氣連接之閘極;從外部二=給=迷,1電源 (Vdd )之第1電位之電位施加於前述嘹'回&刖述第1電1· 2P型電晶體(PI )為斷開狀態·, 上时便則述弟 (8)第5P型電晶體(P6) ’存在於“ 在前述第1P型電晶體(P8)與前述第1節井上並配置 閘極與第2節點(節點b)電氣連接;P ^ (郎點a )間’且其苐38頁508521 六、申請專利範圍 (9 )第6 P型電晶體(P 7 ),存在於浮動N井上,具有 電氣連接前述第5P型電晶體(P6)之閘極與前述浮動N井之 作用,並包含與供給前述第1電源(Vdd)之端子電氣連接之 閘極,從外部將高於前述第1電源(V dd )之第1電位之電位 施加於前述輸出入墊時,使前述第5 P型電晶體(P6 )為斷開 狀癌, (10)第3N型電晶體(N3),具有閘極,將從外部施 加於前述輸出入墊之電位做為輸入,並從外部將與前述第 2電源(V s s)相等或大致相等之電位施加於前述輸出入墊時 使前述第2節點(節點b)作為前述第2電位; ® • · (11)多數N型電晶體群(N4、N5、N6、N7),具有閘 極,以從外部施加於前述輸出入墊之電位做為輸入,並構 成在供給前述第1電源(V dd )之端子與前述第2節點(節點b ) 間,串聯連接。 1 9.如申請專利範圍第1 8項之界面電路,其中前述多數N 型電晶體群為2個以上4個以下。 2 0.如申請專利範圍第1 8項之界面電路,其中前述多數N 型電晶體群具有:因應從外部施加於前述輸出入墊之電 位,使前述第2節點(節點b )電位作為從前述第1電源(Vdd ^ 之第1電位減去構成前述多數N型電晶體群各電晶體閾值電_ 壓合計值之電位,藉而使前述第5P型電晶體(P6)為斷開狀 態,並將前述第1節點(節點a)固定於前述第1電源(Vdd)之 第1電位之作用。 2 1.如申請專利範圍第1 8項之界面電路,更包含:第7P第39頁 508521 六 、申請專利範圍 二包H : ( P1 1 )’二具有閑極’連接於前述第2節點(節點 ίΗ # + & β /共?給則述第1電源(Vdd )之端子與供給前述浮 子f,且形成在前述謂井上。 Z…如申清專利|色園莖1 型電晶體群(P9)與第9?刑〜之/面電路’更包含:第δΡ 述輪出入塾與供給以串料成在前 8Ρ型雷曰辦^rpQWl? 兒源〇化)之端子間,且前述第 述‘二()與前述第9P型電晶體⑻〇)均形成在前 ΐ二V體二述第㈣電晶⑽ 體(ρ丨0)之門 之閘極相連接,另,前述第9Ρ型電晶 0)之閘極連接於前述第2節點(節點㈨。 •一種界面電路,其特徵為包含·· 而成;(1)供給第1電源(Vdd)之端子,該電源由第1電位 (2 )供給第2電源(V s ς 1_ 電位之第2電位而成 而子,遠電源由低於第1 义?驅動電路(ρδ、N2),將資料訊號做為輪入 又亚m型電晶體(P8)及第1N型電晶體(N2)構成: 路(P8、 It驅屮動電路⑺、N1) ’將來自前述第1驅動電 並由n訊號介以第1節點(節點a)做為輸入接受 弟 土私日3肢(P丨)及第2 N型電晶體(N丨)構成· *部電出入墊’與前述第2驅動電路(二"之輸 部將二)们"電晶體(P2),存在於浮動N井上益從外 U、Μ述弟i電源(Vdd)之第i電位之電位施加於前述輪出入墊時,將前述浮動N井之電位充 之電位: 王辱於其第1電位 (7) 第4P型電晶體(P5),存在於浮 介以前述第1節點(節點a)以電連接前述第^井上’具有 之閘極與前述浮動N井之作用,並包含間極土笔日日體(P1 ) 第1電源(Vdd )之端子電氣連接,從外部將古與供給前述 源(Vdd)之第1電位之電位施加於前述輪出:於前述第1、電 第2 P型電晶體(p丨)為斷開狀態; 藝k,使别述 (8) 第5P型電晶體(P6),存在於浮 置在前述第1P型電晶體(P8)與前述第}節點1井上,並配 其閘極.與第2節點(節點b)電氣連接;郎點a)間,且聲 (9) 第6P型電晶體(P7),存在於浮 €連接前述第5P型雷曰托.、, 具有 用,巧八M ,私日日肢(P6)之閘極與丽述浮動N井之作 亚b。3極,與供給前述第1電源(Vdd)之端子帝々、 接,f外部將高於前述第丨電源(Vdd)之第丨電位之電n連 t於刖述輪出入墊時,使前述第5P型電晶體(P6)為斷開匕狀 (1 0 /第3 N型電晶體(M3 ),具有閘極,將從外邛扩 加於前述輸出入墊之電位做為輸入,並從外部將與前°述1 \電源〇 S S )相等或大致相等之電位施加於前述輸出入墊巧 時’使前述第2節點(節點b)作為前述第2電位; (1 1 )多數Ντ型電晶體群(N4、N5、N6、N7 ),具 極’以從2部施加於前述輪出入墊之電位做為輸入,益橋 成在供給前述第1電源(Vdd)之端子與前述第2節點(節點b)六、申請專利範圍 間’以串聯連接。 (12)第8P型雷a娜 型電晶體⑻)之閘極相連\電日之閘極與前述第2N 連接於前述第電晶體(P1〇)之閉極 叙粃Ρ ί ί ),以串聯構成在前述輸出入墊 與供給刖述第1電源(Vdd)之端子間。 24.如申請專利範圍第23項之界面電路,更包含: 型電晶體群(p 11 ),具有閘極,連接於前述第2節點(r f b ) ’並構成在供給前述第1電源(v ^ ^ )之端子與供給前、/、、、占 動N井電位之端子間,且形成在前述浮動N井上。則述浮o:\58\58811.PTD 第42頁
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US9157798P | 1998-07-02 | 1998-07-02 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW508521B true TW508521B (en) | 2002-11-01 |
Family
ID=22228509
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW088111181A TW508521B (en) | 1998-07-02 | 1999-07-01 | Interface circuit |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US6144221A (zh) |
JP (1) | JP3687422B2 (zh) |
CN (1) | CN1166060C (zh) |
TW (1) | TW508521B (zh) |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6144221A (en) * | 1998-07-02 | 2000-11-07 | Seiko Epson Corporation | Voltage tolerant interface circuit |
US6759746B1 (en) * | 2000-03-17 | 2004-07-06 | Robert Bruce Davies | Die attachment and method |
TWI275247B (en) * | 2001-12-07 | 2007-03-01 | Brilliance Semiconductor Inc | Variable voltage tolerant input/output circuit |
KR100466540B1 (ko) * | 2002-08-28 | 2005-01-15 | 한국전자통신연구원 | 입출력 포트 회로 |
JP3804633B2 (ja) * | 2003-05-28 | 2006-08-02 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体集積回路 |
WO2004110919A2 (en) * | 2003-05-29 | 2004-12-23 | Chapin Manufacturing, Inc. | Stackable pressure vessel |
US7239177B2 (en) * | 2004-06-09 | 2007-07-03 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. | High voltage tolerant off chip driver circuit |
FR2875950B1 (fr) * | 2004-09-28 | 2008-04-04 | Atmel Corp | Structure tolerante a la tension pour des cellules d'entree/ sortie |
JP4568096B2 (ja) * | 2004-11-25 | 2010-10-27 | Okiセミコンダクタ株式会社 | 入出力回路 |
US7375555B1 (en) * | 2007-05-15 | 2008-05-20 | Microchip Technology Incorporated | Five volt tolerant integrated circuit signal pad with three volt assist |
JP4670972B2 (ja) * | 2009-02-03 | 2011-04-13 | セイコーエプソン株式会社 | 集積回路装置、及び電子機器 |
GB2469636B8 (en) * | 2009-04-20 | 2017-08-02 | Advanced Risc Mach Ltd | Protecting lower voltage domain devices during operation in a higher voltage domain |
JP5359614B2 (ja) | 2009-07-01 | 2013-12-04 | セイコーエプソン株式会社 | 入出力インターフェース回路、集積回路装置および電子機器 |
JP4981159B2 (ja) * | 2010-07-13 | 2012-07-18 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 入出力回路 |
JP6223171B2 (ja) * | 2012-12-28 | 2017-11-01 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 蓄電装置の制御システム、蓄電システム、及び電気機器 |
JP6234729B2 (ja) * | 2013-08-06 | 2017-11-22 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | センサ装置 |
JP6198642B2 (ja) * | 2014-03-06 | 2017-09-20 | アルプス電気株式会社 | 電圧選択回路及びこれを有する半導体集積回路装置 |
JP6836163B2 (ja) * | 2017-03-10 | 2021-02-24 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体装置及びそれを用いた電子機器 |
JP7175555B2 (ja) * | 2018-03-09 | 2022-11-21 | エイブリック株式会社 | テスト回路及び半導体装置 |
US10879889B2 (en) * | 2018-10-01 | 2020-12-29 | Empower Semiconductor, Inc. | Voltage tolerant circuit and system |
JP7439627B2 (ja) | 2020-04-07 | 2024-02-28 | セイコーエプソン株式会社 | Cmos出力回路、半導体装置、電子機器および移動体 |
CN114050821B (zh) * | 2021-11-16 | 2022-07-19 | 无锡力芯微电子股份有限公司 | 具有抑制端口反向漏电功能的输出电路 |
Family Cites Families (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61101123A (ja) * | 1984-10-24 | 1986-05-20 | Nec Corp | 初段用のインバ−タ回路 |
US4963766A (en) * | 1989-06-28 | 1990-10-16 | Digital Equipment Corporation | Low-voltage CMOS output buffer |
US5151619A (en) * | 1990-10-11 | 1992-09-29 | International Business Machines Corporation | Cmos off chip driver circuit |
US5144165A (en) * | 1990-12-14 | 1992-09-01 | International Business Machines Corporation | CMOS off-chip driver circuits |
CA2104753C (en) * | 1992-10-29 | 1999-02-16 | Kotikalapudi Sriram | Bandwidth allocation, transmission scheduling, and congestion avoidance in broadband atm networks |
JP3116316B2 (ja) | 1993-08-27 | 2000-12-11 | ヤマハ発動機株式会社 | V形エンジン用シリンダヘッド |
US5396128A (en) * | 1993-09-13 | 1995-03-07 | Motorola, Inc. | Output circuit for interfacing integrated circuits having different power supply potentials |
JPH07118644A (ja) * | 1993-10-21 | 1995-05-09 | Nippon Steel Corp | コークス炉窯口の断熱構造 |
JP3392497B2 (ja) * | 1994-02-25 | 2003-03-31 | 株式会社東芝 | テスト電位転送回路およびこれを用いた半導体記憶装置 |
US5451889A (en) * | 1994-03-14 | 1995-09-19 | Motorola, Inc. | CMOS output driver which can tolerate an output voltage greater than the supply voltage without latchup or increased leakage current |
KR0120565B1 (ko) * | 1994-04-18 | 1997-10-30 | 김주용 | 래치-업을 방지한 씨모스형 데이타 출력버퍼 |
JP2978065B2 (ja) * | 1994-07-07 | 1999-11-15 | 東京製綱株式会社 | 複層型繊維複合ケーブルの端末定着方法 |
JP2922424B2 (ja) * | 1994-07-13 | 1999-07-26 | 松下電器産業株式会社 | 出力回路 |
US5467031A (en) * | 1994-09-22 | 1995-11-14 | Lsi Logic Corporation | 3.3 volt CMOS tri-state driver circuit capable of driving common 5 volt line |
JP3199989B2 (ja) * | 1994-09-30 | 2001-08-20 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置とその過書込み救済方法 |
US5576635A (en) * | 1995-02-14 | 1996-11-19 | Advanced Micro Devices, Inc. | Output buffer with improved tolerance to overvoltage |
JP3190233B2 (ja) * | 1995-08-22 | 2001-07-23 | 株式会社東芝 | 出力バッファ回路 |
JP3629308B2 (ja) * | 1995-08-29 | 2005-03-16 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置およびその試験方法 |
JP3581459B2 (ja) * | 1995-10-24 | 2004-10-27 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置 |
DE69621576T2 (de) * | 1995-12-26 | 2002-12-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba, Kawasaki | Integrierte Halbleiterschaltung |
US5721508A (en) * | 1996-01-24 | 1998-02-24 | Cypress Semiconductor Corporation | 5 Volt tolerant 3.3 volt output buffer |
JP3707888B2 (ja) * | 1996-02-01 | 2005-10-19 | 株式会社日立製作所 | 半導体回路 |
US5825206A (en) * | 1996-08-14 | 1998-10-20 | Intel Corporation | Five volt safe output buffer circuit that controls the substrate and gates of the pull-up devices |
JP3709246B2 (ja) * | 1996-08-27 | 2005-10-26 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路 |
JPH10135424A (ja) * | 1996-11-01 | 1998-05-22 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
US5804998A (en) * | 1996-12-26 | 1998-09-08 | International Business Machines Corporation | Voltage upwardly compliant CMOS off-chip driver |
US6040968A (en) * | 1997-06-30 | 2000-03-21 | Texas Instruments Incorporated | EOS/ESD protection for high density integrated circuits |
JP4330183B2 (ja) * | 1997-09-30 | 2009-09-16 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置 |
KR100272508B1 (ko) * | 1997-12-12 | 2000-11-15 | 김영환 | 내부전압(vdd) 발생회로 |
US5973530A (en) * | 1998-05-29 | 1999-10-26 | Lucent Technologies Inc. | Low power, high voltage-tolerant bus holder circuit in low voltage technology |
US6144221A (en) * | 1998-07-02 | 2000-11-07 | Seiko Epson Corporation | Voltage tolerant interface circuit |
-
1999
- 1999-06-18 US US09/336,465 patent/US6144221A/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-06-30 JP JP18663199A patent/JP3687422B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1999-07-01 TW TW088111181A patent/TW508521B/zh not_active IP Right Cessation
- 1999-07-02 CN CNB991101200A patent/CN1166060C/zh not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-09-29 US US09/675,164 patent/US6252423B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-09-29 US US09/676,378 patent/US6323684B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6323684B1 (en) | 2001-11-27 |
CN1166060C (zh) | 2004-09-08 |
US6144221A (en) | 2000-11-07 |
US6252423B1 (en) | 2001-06-26 |
JP3687422B2 (ja) | 2005-08-24 |
CN1244070A (zh) | 2000-02-09 |
JP2000077996A (ja) | 2000-03-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW508521B (en) | Interface circuit | |
KR102538700B1 (ko) | 저전압 소자로 구현되는 고전압 출력 드라이버 | |
JP3435007B2 (ja) | 低電圧技術による高い電圧の振れを出力するバッファ | |
JPH03116316A (ja) | 低電圧cmos出力バッファ | |
KR100245360B1 (ko) | 반도체 출력 회로 | |
US7969191B2 (en) | Low-swing CMOS input circuit | |
TWI241010B (en) | Electrostatic discharge clamping circuit for interface circuit of the mixed voltage source | |
JPH07183786A (ja) | 多段電圧に適合可能な双方向バッファ | |
US6184716B1 (en) | High voltage output stage for driving an electric load | |
TW200415851A (en) | Method for reducing power consumption in a state retaining circuit, state retaining circuit and electronic device | |
CN104753503A (zh) | 利用薄氧化物场效应晶体管的数字输出驱动器和输入缓冲器 | |
JPS62203416A (ja) | 特にマイクロプロセツサの周辺装置用の、mos技術の論理回路のためのパワ−オンリセツテイング回路 | |
US6946892B2 (en) | Level transforming circuit | |
US5723987A (en) | Level shifting output buffer with p channel pulldown transistors which are bypassed | |
CN104052454A (zh) | 用于高密度集成电路的电平转换器 | |
CN107894933B (zh) | 支持冷备份应用的cmos输出缓冲电路 | |
TW200805884A (en) | Signal gate oxide level shifters | |
US6215329B1 (en) | Output stage for a memory device and for low voltage applications | |
US6188243B1 (en) | Input/output circuit with high input/output voltage tolerance | |
US6580291B1 (en) | High voltage output buffer using low voltage transistors | |
EP2326008A1 (en) | A simple self-adjusting overvoltage-protection circuit for low voltage CMOS input and output interface circuits with high voltage tolerance and with full rail-to-rail bidirectional voltage levels | |
CN107800422A (zh) | 电平转移电路和半导体装置 | |
JP3400294B2 (ja) | プル・アップ回路及び半導体装置 | |
US7098694B2 (en) | Overvoltage tolerant input buffer | |
TWI376096B (en) | Pad circuit for the programming and i/o operations |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |