TW490778B - Device with a clock output circuit - Google Patents

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TW490778B
TW490778B TW088101750A TW88101750A TW490778B TW 490778 B TW490778 B TW 490778B TW 088101750 A TW088101750 A TW 088101750A TW 88101750 A TW88101750 A TW 88101750A TW 490778 B TW490778 B TW 490778B
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TW088101750A
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Inventor
Youji Terauchi
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Nippon Electric Co
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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
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Description

490778 五、發明說明(1) 【發明之背景】 發明之領域 本發明係關於一種具有一内部電路與一時計信號產生 電路的裝置,其中,内部電路係用以執行一個預先決定的 處理,並將來自一個輸出端.子之信號輸出至外部,而時計 信號產生電路(例如一振盪電路)係用以產生一時計信號, 並提供產生的時.計信號.至内部電路與其他的電路。 習用技術之描述 傳統上,振盪,電路之測試(例如,一振盪電路之輸出 波形之功率,或振盪之穩定時間的檢查),係依下述方式執 行之。亦即,如圖1所示般,在微電腦1 C設有與輸出端子7 分開之專用的時計信號輸出端子丄2,將來.自振盪電路1 0之 輸出波形提供至微電觸外部,並藉由一種示波器裝置觀察 此波形。其中,微電腦1 有一振盪電路1 Q (包含一反相 器2、回授電阻3、一遲滯反相器4與一振盪器6)與一内部 電路5(包含一CPU、一計時器、一串聯介面電路等)。 又,如圖2所示,C P U 5 a以一種殘如無R 0 Μ模式之測試模式 使CPU 5a勢作,於此模式中,舉例而言,與分_頻;的時計信 號1 1 a之某一個群組同,時傳輸之時計信號5 c,係從一個串 聯介面電路5 b輸出至一微電麗1 C外部。藉由觀察時計信號 以間接地確認一時計信號分頻電路1 ]之動作。 然而,上述的習知技術具有下述的缺點:第一,除了 一個在正常運作期間所使用的绵子之外,尚需要一個專用 的測試.端子;第二,當内部電路運作於作观試時,此種測 490778 五、發明說明(2) 試是更複雜的,此乃因為在内部電路運作時,是需要一個 專用的握令的。 【發明之綜合說明】 本發明之一個目的係提供一種上述型式之裝置,此裝 置不需要一個專用的測試端子,並能以一種簡單方式為時 計信號執行一種測試。 為達成上述目的,本發明之裝置具有:一時計信號輸 出電路,用以接收一測試模式信號,並依據此測試模式信 號,而將一時計信號或來自内部電路之輸出信號輸出至一 個輸、屯端子。
因此,一種專用的測試模式與時計信號輸出電路,能 使不需設置一個專用端子而簡單地為一内部時計信號執行 測試成為可能。 本發明之上述與其他目的、特徵與優點將從以下參考 本發明實施例之附圖的詳細說明而得以更顯清楚。 【圖式之簡單說明】 圖1顯示第一個習知技術之方塊圖; 圖2顯示第二個習知技術之方塊圖; 圖3顯示本發明第一實施例之方塊圖; 圖4顯示第一實施例之運作之時序圖;
圖5顯示本發明第二實施例之方塊圖;以及 圖6顯示第二實施例之運作之時序圖。 【符號之說明】 1A〜微電腦
第6頁 490778 五、發明說明(3) 1 B〜微電腦 2〜反相器 3〜回授電阻 4〜遲滯反相器 5〜内部電路 6〜振盪器 7a-7d〜輸出端子 8〜測試模式信號 9 A〜時計信號輸出電路 9〜時計信號輸出電路 1 0〜振盪電路 1 1〜時計信號分頻電路 【較佳實施例之說明】 圖3顯示出依本發明第一實施例之微電腦1 A裝置。 微電腦1 A裝置包含:一内部電路5,用以執行一個預 先決定的處理;一振盪電路](),用以產生一時計信號;一 時計信號輸出電路9 A,用以接收一測試模式信號、8,並依 據測試模式信號&,而從一個輸出端子把時計信號或來自 内部電路5之輸出信號輸出到外部;以及其它電路(未顯 示)。 振盪電路1 0包含一反相器2、一回授電陴3與一遲滯反 相器4。一振盪器6係連接於反相器2之輸入端與輸出端之 間。内部電路5包含一CPU、一計時器、一串聯介面電路等 等0
490778 五、發明說明(4) 其次,將參考圖4而說明本實施例之運作。為了確認 來自振盪電路1 0之輸出I形,微電腦1 A係設定成一種測試 模式。這種測試模式會導致測試模式信號L變成I度啟動 狀態。當測試模式信號8變成敢動狀態時,來自振盪電路 1 0灸輸出波形會從輸出端子7輸出。 於此實施例中,藉由使用時計信號輸出電路9A,用以 輸出振盪電路10之輸出波形的端子亦作為内部電路5之輸 出端子7,俾能不需要只為測試而增加一個額外的端子。 又,因為來自振盪電路10之輸出可直接從外部晶片觀察 到,所以内部電路5不需要為測試而運作,從而可簡化測 試。 參考圖5,依本發明第二實施例之微電腦1 B亦包含時 計信號分頻電路1 1 。此時計信號分頻電路1 1係用以接收來 自振盪電路1 0之輸出將計信號,並分別將接收的時計信號 分頻成1 / 2分頻、1 / 4分頻、1 / 8 .分頻以及1 / 1 6分頻,以提 供至内部電路5與時計信號輸出重路9。時計信.號輸出電路 9切換個別的分頻時計信號與一個/具有測試模式信號8之内 部信號,以輸出個別的分頻時計信號至輸出端子7 a到7 d。 吾人應注意到在第二實施例中,輸出端子7 a至7 d之數目與 時計信號輸出電路之構件的群組不限於^個,且視需要, 輸出端子與構件可包含兩個或兩個以上的元件。 因此,來自時計信號分頻電路1 1之時計信號,係直接 地從輸出端子7 a至7 d輸出以觀察其波形,藉以容易地為時 計信號分頻電路1 1執行刿試,而不需要.使内部電路5考
490778

Claims (1)

  1. 490778 六、申請專利範圍 1. 一種裝置,包含: 内部電路機構,用以執行一個預先決定的處理,並從 其輸出端子輸出一個信號至外部; 時計信號產生電路機構,用以產生一個時計信號,並 提供產生的時計信號至該内部電路機構與其它的電路機 構;以及 時計信號輸出電路機構’用以接收一個測試模式信 號,並依據此測試模式信號,而將此時計信號或來自該内 部電路機構之輸出信號輸出至輸出端子。 2. 如申請專利範圍第1項之裝置,其中,該裝置係 為一微電腦,該内部電路機構包含至少一 CPU,而且該時 計信號產生電路機構係為一振盪電路。 3. 如申請專利範圍第1項之裝置,其中該裝置係為 一微電腦,該内部電路機構包含至少一CPU,上述輸出端 子之數目係大於或等於η (η是大於或等於2之整數),該時 計信號產生電路機構包含一振盪電路與一時計信號分頻電 路,用以接收來自該振盪電路之輸出時計信號,以將時計 信號分頻成1 / 2分頻,1 / 22分頻,…,1 / 2η分頻,並依測試 模式信號將來自該内部電路機構之η個輸出信號或該時計 信號分頻電路之η個分頻的時計信號輸出。 4. 如申請專利範圍第2項之裝置,其中,該時計信 號輸出電路機構包含: 一第一 AND電路,用以接收來自該振盪電路之輸出時 計信號,以及測試模式信號或其反轉信號:
    第10頁 490778 六、申請專利範圍 一第二AND電路,用以接收來自該内部電路機構之輸 出,以及測試模式信號之反轉信號或其非反轉信號;以及 一 0R電路,用以接收來自該第一與第二AND電路之輸出, 並將此輸出提供至輸出端子。 5. 如申請專利範圍第3項之裝置,其中,該時計信 號產生電路機構包含η個單元電路,各該單元電路具有: 一第一 A N D電路,用以接收該時計信號分頻電路之分 頻的時計信號的其中一個,以及測試模式信號或其反轉信 號;
    一第二AND電路,用以接收來自該内部電路機構之輸 出的其中一個,以及測試模式信號之反轉信號或其非反轉 信號;以及 一 0R電路,用以接收來自第一與第二AND電路之輸 出,並將.一輸出提供至其中一個輸出端子。
    第11頁
TW088101750A 1998-02-17 1999-02-04 Device with a clock output circuit TW490778B (en)

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