JPH02180428A - リセット回路 - Google Patents

リセット回路

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JPH02180428A
JPH02180428A JP64000672A JP67289A JPH02180428A JP H02180428 A JPH02180428 A JP H02180428A JP 64000672 A JP64000672 A JP 64000672A JP 67289 A JP67289 A JP 67289A JP H02180428 A JPH02180428 A JP H02180428A
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JP
Japan
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reset
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oscillator
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frequency divider
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JP64000672A
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Takeshi Hirayama
平山　武司
Yutaka Wabuka
裕 和深
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体集積回路のリセットに関し、特にシステ
ムクロックの分周回路のリセット回路に関する。
〔従来の技術〕
従来、半導体集積回路の発振器と分周回路からなるシス
テムクロック発生回路はリセット回路が接続されておら
ず、テスト時に分周回路をリセットして初期値をユニー
クに決められながった。
〔発明が解決しようとする課題〕
このようにテスト時に発振回路をリセットして初期値を
ユニークに決められなかったため、ＬＳ■テスタ等によ
るテスト時には発振器のマツチングをとるためにテスト
時間が増大し、またテストに使用する外部のハードウェ
アおよびソフトウェアに多くのテクニックやノウハウが
必要であった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の半導体集積回路のリセット回路は、テスト状態
にあることを示す入力と、リセット入力によりテスト状
態でのみ有効なリセットパルスを生成し、分周回路等を
リセットし、初期状態を決定する。
〔実施例〕
次に、本発明を実施例によって説明する。
第１図、第２図は本発明の一実施例である。第１図はリ
セット回路部分、第２図は発振器と分周器からなるシス
テムクロック発生回路部分である。
発振回路の分周器１０．１１を第３図の様にリセット入
力を持つものとし、発振回路９とリセット回路１０．１
１を接続した。
その結果、第４図の様にテスト状態（ＴＥＳＴ＝０）で
リセット入力（ＲＥＳＥＴ＝Ｏ）があると、ＴＳＲ８Ｔ
端子よりワンショットのリセットパルスが出力され、分
周器の出力が“１″から０”へ変化し、ＲＥＳＥＴ信号
の立ち下がりエツジで発振器の分周回路がリセットでき
る。
第５図は本発明の他の実施例である。
テスト状態であることを示すために、通常の使用状態で
は考えられない信号を入力（本実施例ではＷπ端子、π
π端子を同時にロウレベル“０”に設定）することによ
ってテストモードの端子のない半導体集積回路でも発振
器と分周回路とからなるシステムクロック発生回路をリ
セットし、クロックの初期状態を決定できる。
〔発明の効果〕
本発明では、半導体集積回路の分周回路をテスト時にリ
セットし初期値をユニークに決定できるため、システム
クロックとＬＳＩテスタの信号とのマツチングが容易に
実現し、発振器を有する半導体集積回路のテスト時間を
大幅に短縮できテスト時に必要なハードウェアおよびソ
フトウェアを簡略化できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第１図、第２図、第３図は本発明の半導体集積回路のリ
セット回路の第１の実施例で、第４図は第１の実施例の
タイミングチャート、第５図は他の実施例回路図である
。 １・・・・・・リセット入力、２・・・・・・テストモ
ード入力、３・・・・・・分周回路リセットパルス、４
・・・・・・発振器入力、訃・・・・・ＣＧ出力、６・
・・・・・分周器出力、７・・・・・・発振器出力、８
・・・・・・分周器入力、９・・・・・・分周器出力、
１０・・・・・・分周器リセット入力。 代理人　弁理士　　内　原　　　晋 ＴＥＳＴ（２） 革　１　面 頌器劫（１）　　　　　　　　。 茅　２　図 第　４　回 茅　！；　ゴ 第　３６Ｉ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. システムクロック発生のための分周回路をテスト時にリ
    セットして初期値を決定させることを特徴とするリセッ
    ト回路。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04245314A (ja) * 1991-01-31 1992-09-01 Nec Corp システムクロック発生回路
KR100336753B1 (ko) * 1999-08-06 2002-05-16 박종섭 상태 클럭 발생기

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6089937A (ja) * 1983-10-24 1985-05-20 Nec Corp 集積回路装置

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KR100336753B1 (ko) * 1999-08-06 2002-05-16 박종섭 상태 클럭 발생기

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