JPH01236732A - リセット回路 - Google Patents
リセット回路Info
- Publication number
- JPH01236732A JPH01236732A JP63064228A JP6422888A JPH01236732A JP H01236732 A JPH01236732 A JP H01236732A JP 63064228 A JP63064228 A JP 63064228A JP 6422888 A JP6422888 A JP 6422888A JP H01236732 A JPH01236732 A JP H01236732A
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- JP
- Japan
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- signal
- reset
- oscillation
- circuit
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- Pending
Links
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims abstract description 70
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 102100023696 Histone-lysine N-methyltransferase SETDB1 Human genes 0.000 description 1
- 101710168120 Histone-lysine N-methyltransferase SETDB1 Proteins 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明はリセット回路に関し、特にVTRなどに用い
られるクロック周期式の回路のリセット回路に関する。
られるクロック周期式の回路のリセット回路に関する。
(従来の技術)
第3図は従来のクロック周期式の回路のリセット回路を
示すブロック図である。図において、Aは半導体集積回
路チップであり、第1および第2の信号入力端子1.2
ならびに外部リセット信号入力端子3を有している。第
1の信号入力端子1には例えばセラミック発振子による
発振信号などの第1の発振信号×1が入力され、第2の
信号入力端子2には例えば水晶発振子による発振信号な
どの第2の発振信号×2が入力される。第2の発振信号
×2の立上りは第1の発振信号×1より遅いものとする
。外部リセット信号入力端子3には外部リセット信号R
ESETが入力される。第1の発振信号×1はタイミン
グ発生回路4に入力され、タイミング発生回路4は第1
の発振信号×1を信号源として、システムクロックφお
よびこのシステムクロックφとデユーティ−の相違する
クロック信号を発生する。例えばCPUなどのクロック
周期式の内部回路5は、タイミング発生回路4により生
成されたシステムクロックφを周期信号として動作する
。なお、内部回路5の正常動作には第1の発振信号×1
の他に第2の発振信号×2が必要であるものとする。
示すブロック図である。図において、Aは半導体集積回
路チップであり、第1および第2の信号入力端子1.2
ならびに外部リセット信号入力端子3を有している。第
1の信号入力端子1には例えばセラミック発振子による
発振信号などの第1の発振信号×1が入力され、第2の
信号入力端子2には例えば水晶発振子による発振信号な
どの第2の発振信号×2が入力される。第2の発振信号
×2の立上りは第1の発振信号×1より遅いものとする
。外部リセット信号入力端子3には外部リセット信号R
ESETが入力される。第1の発振信号×1はタイミン
グ発生回路4に入力され、タイミング発生回路4は第1
の発振信号×1を信号源として、システムクロックφお
よびこのシステムクロックφとデユーティ−の相違する
クロック信号を発生する。例えばCPUなどのクロック
周期式の内部回路5は、タイミング発生回路4により生
成されたシステムクロックφを周期信号として動作する
。なお、内部回路5の正常動作には第1の発振信号×1
の他に第2の発振信号×2が必要であるものとする。
分周器6は外部リセット信号RESETがL″どなると
リセットされ、” H”となるとタイミング発生回路4
からの信号を1/nに分周する。分周数nは通常2〜3
2程度である。分周器6はタイミング発生回路4からの
信号の発振回数がn回になるとオーバフロー信号として
L′°を出力し、それ以外の場合はH”を出力する。以
下、分周器6が発生ずる信号をVとする。この信号Vは
、外部リセット信号RESETがセット端子Sに入力さ
れている″L ”レベル動作のリセット・セット・フリ
ップ70ツブ7(以下R−3−FFと略す。)のリセッ
ト端子Rに入力される。R−3−FF7の出力Qは周期
回路8に与えられ、周期回路8はこの出力Qをシステム
クロックφに周期させ、内部リセット信@R8Tとして
内部回路5へ与える。内部回路5は、内部リセット信号
R3Tの′L″に応答してリセット状態となる。
リセットされ、” H”となるとタイミング発生回路4
からの信号を1/nに分周する。分周数nは通常2〜3
2程度である。分周器6はタイミング発生回路4からの
信号の発振回数がn回になるとオーバフロー信号として
L′°を出力し、それ以外の場合はH”を出力する。以
下、分周器6が発生ずる信号をVとする。この信号Vは
、外部リセット信号RESETがセット端子Sに入力さ
れている″L ”レベル動作のリセット・セット・フリ
ップ70ツブ7(以下R−3−FFと略す。)のリセッ
ト端子Rに入力される。R−3−FF7の出力Qは周期
回路8に与えられ、周期回路8はこの出力Qをシステム
クロックφに周期させ、内部リセット信@R8Tとして
内部回路5へ与える。内部回路5は、内部リセット信号
R3Tの′L″に応答してリセット状態となる。
次に動作について説明する。まず、外部リセット信号入
力端子3に入力される外部リセット信号RESETが1
1 L 11の場合について説明する。このL゛′はR
−8−FF7のセット端子S及び分周器6に入力される
。分周器6はL″の入力によりリセットされ、分周器6
には初期値がセットされる。このため、分周器6の信号
■は“トド′となり、このHIIがR−8−FF7のリ
セット端子Rに入力される。そして、R−8−FF7は
セット端子Sに与えられた°“し″の信号に応答してセ
ットされ、出力Qは“L″となる。周期回路8は該II
L 11をシステムクロックφに周期させ、内部リセ
ット信号R8Tとして内部回路5に与える。
力端子3に入力される外部リセット信号RESETが1
1 L 11の場合について説明する。このL゛′はR
−8−FF7のセット端子S及び分周器6に入力される
。分周器6はL″の入力によりリセットされ、分周器6
には初期値がセットされる。このため、分周器6の信号
■は“トド′となり、このHIIがR−8−FF7のリ
セット端子Rに入力される。そして、R−8−FF7は
セット端子Sに与えられた°“し″の信号に応答してセ
ットされ、出力Qは“L″となる。周期回路8は該II
L 11をシステムクロックφに周期させ、内部リセ
ット信号R8Tとして内部回路5に与える。
内部回路5は内部リセット信号R8Tの“L″に応答し
てリセット状態となる。
てリセット状態となる。
その後、外部リセット信号RESETがL′′から“H
IIに変化した場合について説明する。まず、R−3−
FF7のセット端子Sには“” l−1”が入力される
。また、分周器6にも゛′トドが入力されるので分周器
6は、第1の発振信号×1を信号源としてタイミング発
生回路4から発生される信号の分周を開始する。タイミ
ング発生回路4がらの信号の発振回数がn回に達してい
なければ信号Vl;i ”H” であるkめR−8−F
F7は保持状態であり、出力Qは°L″のままなので、
内部回路5はリセット状態を維持する。タイミング発生
回路4からの信号の発振回数がn回に達すると、分周器
6はオーバフローとなり信号Vは“L′となり、R−8
−FF7のリセット端子RにはL”が入力される。従っ
て、R−3−FF7はリセット状態となり、出力QがL
IIから゛Hパに変化する。そして、この゛1−ビ′
が周期回路8によりシステムクロックφと周期がとられ
、内部リセット信号R8Tとして内部回路5に与えられ
る。内部回路5は内部リセット信号R3Tの°゛H″に
応答してリセット解除状態となり、システムクロックφ
を周期信号とする動作を開始する。第2の発振信号×2
はこの内部回路5の動作に用いられる。
IIに変化した場合について説明する。まず、R−3−
FF7のセット端子Sには“” l−1”が入力される
。また、分周器6にも゛′トドが入力されるので分周器
6は、第1の発振信号×1を信号源としてタイミング発
生回路4から発生される信号の分周を開始する。タイミ
ング発生回路4がらの信号の発振回数がn回に達してい
なければ信号Vl;i ”H” であるkめR−8−F
F7は保持状態であり、出力Qは°L″のままなので、
内部回路5はリセット状態を維持する。タイミング発生
回路4からの信号の発振回数がn回に達すると、分周器
6はオーバフローとなり信号Vは“L′となり、R−8
−FF7のリセット端子RにはL”が入力される。従っ
て、R−3−FF7はリセット状態となり、出力QがL
IIから゛Hパに変化する。そして、この゛1−ビ′
が周期回路8によりシステムクロックφと周期がとられ
、内部リセット信号R8Tとして内部回路5に与えられ
る。内部回路5は内部リセット信号R3Tの°゛H″に
応答してリセット解除状態となり、システムクロックφ
を周期信号とする動作を開始する。第2の発振信号×2
はこの内部回路5の動作に用いられる。
従来のリセット回路は以上のように構成され、内部回路
5の正常動作に第2の発振信号×2が必要であるにも拘
らず、内部回路5のリセット状態は、第1の発振信号×
1及び外部リセット信号RESETにのみ依存し第2の
発撮信@×2には無関係に解除されるので、第2の発振
信号x2の立上りが遅い場合や発振が安定するまでの時
間が長い場合などに内部回路5の正常動作が保障できな
いという問題点があった。
5の正常動作に第2の発振信号×2が必要であるにも拘
らず、内部回路5のリセット状態は、第1の発振信号×
1及び外部リセット信号RESETにのみ依存し第2の
発撮信@×2には無関係に解除されるので、第2の発振
信号x2の立上りが遅い場合や発振が安定するまでの時
間が長い場合などに内部回路5の正常動作が保障できな
いという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、内部回路のリセット解除が第1、第2の発振
信号及び外部リセット信号などの第1のリセット信号に
依存して行われるリセット回路を得ることを目的とする
。
たもので、内部回路のリセット解除が第1、第2の発振
信号及び外部リセット信号などの第1のリセット信号に
依存して行われるリセット回路を得ることを目的とする
。
〔課題を解決するための手段〕
この発明にかかるリセット回路は、クロック信号と発振
信号がその正常動作に必要な内部回路と、前記発振信号
が与えられ、該発振信号の発振回数が所定数に達すると
検出信号を出力する発振回数検出手段と、前記クロック
信号、前記検出信号および、前記内部回路のリセットを
指示する第1のリセット信号が与えられ、前記検出信号
と前記第1のリセッi・信号との組合せに応じた第2の
リセット信号を前記クロック信号に周期させて生成し前
記内部回路に供給するリセット信号生成手段とを備えた
構成としている。
信号がその正常動作に必要な内部回路と、前記発振信号
が与えられ、該発振信号の発振回数が所定数に達すると
検出信号を出力する発振回数検出手段と、前記クロック
信号、前記検出信号および、前記内部回路のリセットを
指示する第1のリセット信号が与えられ、前記検出信号
と前記第1のリセッi・信号との組合せに応じた第2の
リセット信号を前記クロック信号に周期させて生成し前
記内部回路に供給するリセット信号生成手段とを備えた
構成としている。
この発明における発振回数検出手段は、発振信号の発振
回数が所定数になると検出信号を出力し、リセット信号
生成手段はこの検出信号と第1のリセット信号の組合せ
により、第2のリセット信号をクロック信号に周期させ
て生成し内部回路に与え、内部回路は第2のリセット信
号に応じり廿ツ(−およびリセット解除される。
回数が所定数になると検出信号を出力し、リセット信号
生成手段はこの検出信号と第1のリセット信号の組合せ
により、第2のリセット信号をクロック信号に周期させ
て生成し内部回路に与え、内部回路は第2のリセット信
号に応じり廿ツ(−およびリセット解除される。
11図は、この発明の一実施例を示すブロック図である
。図において、第3図に示す従来例との相違点は、分周
器6で分周する信号をタイミング発生回路4からの信号
ではなく第2の発振信@X2としたことである。なお、
分周器6の分周数nは第2の発振信号×2の発振が安定
になるまでのサイクル数に依存して決定すればよいと考
えられるが、あまり大きすぎると内部回路5の動作開始
まで時間が掛りすぎるので実際の応用システムの条件に
より決定する。分周数nは通常256〜4096程度で
ある。
。図において、第3図に示す従来例との相違点は、分周
器6で分周する信号をタイミング発生回路4からの信号
ではなく第2の発振信@X2としたことである。なお、
分周器6の分周数nは第2の発振信号×2の発振が安定
になるまでのサイクル数に依存して決定すればよいと考
えられるが、あまり大きすぎると内部回路5の動作開始
まで時間が掛りすぎるので実際の応用システムの条件に
より決定する。分周数nは通常256〜4096程度で
ある。
次に、第1図に示した回路の動作を第2図に示すタイミ
ング図を用いて説明する。外部リセッ1−入力端子3に
入力される外部リセット信号RESETIfi時刻t1
に“L′′となると、分周器6は時刻t1においてリセ
ットされ初期値がセットされ、分周器6の発生する信号
Vは°゛H″となる。そして、R−8−FF7のリセッ
ト端子Rには’ l−1”、セット端子SにはL IT
が各々入力されるのでR−8−FF7はセット状態とな
り、出力QはL″となる。そしてこの“L”は、周期回
路8によりタイミング発生回路4で作成されたシステム
クロックφに周期され内部リセット信号R8Tとなり内
部回路5に与えられる。この内部リセット信号R3Tの
“L”に応答して内部回路5はリセット状態となる。
ング図を用いて説明する。外部リセッ1−入力端子3に
入力される外部リセット信号RESETIfi時刻t1
に“L′′となると、分周器6は時刻t1においてリセ
ットされ初期値がセットされ、分周器6の発生する信号
Vは°゛H″となる。そして、R−8−FF7のリセッ
ト端子Rには’ l−1”、セット端子SにはL IT
が各々入力されるのでR−8−FF7はセット状態とな
り、出力QはL″となる。そしてこの“L”は、周期回
路8によりタイミング発生回路4で作成されたシステム
クロックφに周期され内部リセット信号R8Tとなり内
部回路5に与えられる。この内部リセット信号R3Tの
“L”に応答して内部回路5はリセット状態となる。
次に時刻t2のタイミングで外部リセット信号RESE
Tが“L 11から“H”になると、分周器6はセット
状態となる。しかし、時刻t2では図に示すように第2
の発振信@X2は発振を開始していないため、分周器6
は初期値がセットされたままであり、信号■も“H11
のままである。このとき、R−8−FF7のセット端子
S及びリセット端子Rに”H″が入力されているので、
R−8−FF7はセット状態を維持し出力QはL°′の
ままであり、内部リセット信号R3Tも“L″のままで
ある。従って、時刻t2では内部回路5はリセット状態
のままである。
Tが“L 11から“H”になると、分周器6はセット
状態となる。しかし、時刻t2では図に示すように第2
の発振信@X2は発振を開始していないため、分周器6
は初期値がセットされたままであり、信号■も“H11
のままである。このとき、R−8−FF7のセット端子
S及びリセット端子Rに”H″が入力されているので、
R−8−FF7はセット状態を維持し出力QはL°′の
ままであり、内部リセット信号R3Tも“L″のままで
ある。従って、時刻t2では内部回路5はリセット状態
のままである。
時刻t3で第2の発振信@×2の発振が開始されたとす
る。この時点で分局器6は分周動作を開始する。第2の
発振信号×2の発振が安定するまで時間がかかる場合、
発ll1i開始直後は発振波形が安定せず振幅が小さか
ったり、高周波成分で発振したりするため、分周動作に
ミスカウントが生ずる。また、この不安定な状態で1S
号VがL″になり、内部回路5がリセット解除状態にな
ることは、内部回路5が不安定な動作を行なうことにな
るので妥当でない。そこで分周数nを十分に大きく取り
、第2の発振信号×2が安定な発振に至る時刻t4で分
周器6がオーバフローになるようにした。つまり、時間
t3〜t4の期間すで実際の分周動作が行われるように
分周数nを設定している。そして、時刻t4で信号vが
“H11から“L IIに変化し、R−3−FF7はセ
ット状態からりセット状態に変化し、出力QはL″から
°“H″”に変化する。この゛H′ルベルの信号が周期
回路8に入力される。周期回路8はこの゛“H11レベ
ルの信号をシステムクロックφに周期させる。この場合
の周期持ち時間が第2図中に示したaである。
る。この時点で分局器6は分周動作を開始する。第2の
発振信号×2の発振が安定するまで時間がかかる場合、
発ll1i開始直後は発振波形が安定せず振幅が小さか
ったり、高周波成分で発振したりするため、分周動作に
ミスカウントが生ずる。また、この不安定な状態で1S
号VがL″になり、内部回路5がリセット解除状態にな
ることは、内部回路5が不安定な動作を行なうことにな
るので妥当でない。そこで分周数nを十分に大きく取り
、第2の発振信号×2が安定な発振に至る時刻t4で分
周器6がオーバフローになるようにした。つまり、時間
t3〜t4の期間すで実際の分周動作が行われるように
分周数nを設定している。そして、時刻t4で信号vが
“H11から“L IIに変化し、R−3−FF7はセ
ット状態からりセット状態に変化し、出力QはL″から
°“H″”に変化する。この゛H′ルベルの信号が周期
回路8に入力される。周期回路8はこの゛“H11レベ
ルの信号をシステムクロックφに周期させる。この場合
の周期持ち時間が第2図中に示したaである。
時刻t4から周期待ち時間a経過後の時刻t5において
、内部リセット信号R8Tはl H1″となり、これに
応答して内部回路5は、システムクロックφを周期信号
として動作を開始する。このように、内部回路5は、第
2の発振信号×2の発振が十分に安定した後に、内部リ
セット信号RS Tが“’ l−1”になりリセツ1へ
されるので、内部回路5の正常動作は保障される。
、内部リセット信号R8Tはl H1″となり、これに
応答して内部回路5は、システムクロックφを周期信号
として動作を開始する。このように、内部回路5は、第
2の発振信号×2の発振が十分に安定した後に、内部リ
セット信号RS Tが“’ l−1”になりリセツ1へ
されるので、内部回路5の正常動作は保障される。
なお、上記実施例では第2の発振信号×2の発振回数を
検出するのに分周器6を用いたが、発振回数が検出でき
る手段(例えばカウンター)であればどのような手段で
もよい。
検出するのに分周器6を用いたが、発振回数が検出でき
る手段(例えばカウンター)であればどのような手段で
もよい。
また、上記実施例では第2の発振信号×2の発振が安定
した時刻t4で分周器6がオーバフローになるように分
周数nを設定したが、分周数nをさらに大きくすること
により115 &’J L4以陪に分周器6がオーバフ
ローになるようにし、余裕をもって内部回路5をリセッ
ト解除しても同様の効果が得られる。
した時刻t4で分周器6がオーバフローになるように分
周数nを設定したが、分周数nをさらに大きくすること
により115 &’J L4以陪に分周器6がオーバフ
ローになるようにし、余裕をもって内部回路5をリセッ
ト解除しても同様の効果が得られる。
さらに上記実施例では第2の発振信号×2の発振が安定
するまでの時間が比較的長い場合(時刻t3〜t4)に
ついて説明したが、発振が瞬時に安定する場合は分周数
nを小さくすることにより上記実施例と同様の効果が得
られる。
するまでの時間が比較的長い場合(時刻t3〜t4)に
ついて説明したが、発振が瞬時に安定する場合は分周数
nを小さくすることにより上記実施例と同様の効果が得
られる。
以上のようにこの発明によれば、発振信号の発振回数が
所定数に達すると検出信号を出力する発振回数検出手段
を設け、内部回路に与えられる第2のリセット信号がこ
の検出信号に基づいて生成されるようにしたので、発振
信号の発振が安定した後に内部回路の動作を開始させる
ことができ、内部回路の正常動作が保障できるという効
果がある。
所定数に達すると検出信号を出力する発振回数検出手段
を設け、内部回路に与えられる第2のリセット信号がこ
の検出信号に基づいて生成されるようにしたので、発振
信号の発振が安定した後に内部回路の動作を開始させる
ことができ、内部回路の正常動作が保障できるという効
果がある。
特に当該リセット回路を半導体集積回路として形成する
時には、オンチップでクローズドなシステムとして構成
することができ、コストを低減できるという効果もある
。
時には、オンチップでクローズドなシステムとして構成
することができ、コストを低減できるという効果もある
。
第1図はこの発明の一実滴例を示すブロック図、第2図
は第1図に示した回路の動作を説明するためのタイミン
グ図、第3図は従来のリセット回路を示すブロック図で
ある。 図において、5は内部回路、6は分周器、7はR−5−
FF、8は周期回路、φはシステムクロック、×2は第
2の発振信号、■はオーバフロー1ご弓、l(L Sヒ
1は外部リセット信号、R3王は内部リセット信号であ
る。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示ず。
は第1図に示した回路の動作を説明するためのタイミン
グ図、第3図は従来のリセット回路を示すブロック図で
ある。 図において、5は内部回路、6は分周器、7はR−5−
FF、8は周期回路、φはシステムクロック、×2は第
2の発振信号、■はオーバフロー1ご弓、l(L Sヒ
1は外部リセット信号、R3王は内部リセット信号であ
る。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示ず。
Claims (1)
- (1)クロック信号と発振信号がその正常動作に必要な
内部回路と、 前記発振信号が与えられ、該発振信号の発振回数が所定
数に達すると検出信号を出力する発振回数検出手段と、 前記クロック信号、前記検出信号および、前記内部回路
のリセットを指示する第1のリセット信号が与えられ、
前記検出信号と前記第1のリセット信号との組合せに応
じた第2のリセット信号を前記クロック信号に周期させ
て生成し前記内部回路に供給するリセット信号生成手段
とを備えたリセット回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63064228A JPH01236732A (ja) | 1988-03-16 | 1988-03-16 | リセット回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63064228A JPH01236732A (ja) | 1988-03-16 | 1988-03-16 | リセット回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01236732A true JPH01236732A (ja) | 1989-09-21 |
Family
ID=13252044
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63064228A Pending JPH01236732A (ja) | 1988-03-16 | 1988-03-16 | リセット回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01236732A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01284914A (ja) * | 1988-05-12 | 1989-11-16 | Fujitsu Ltd | パワーオンリセット装置 |
-
1988
- 1988-03-16 JP JP63064228A patent/JPH01236732A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01284914A (ja) * | 1988-05-12 | 1989-11-16 | Fujitsu Ltd | パワーオンリセット装置 |
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