TW419796B - Metal-based semiconductor circuit substrates - Google Patents

Metal-based semiconductor circuit substrates Download PDF

Info

Publication number
TW419796B
TW419796B TW087105240A TW87105240A TW419796B TW 419796 B TW419796 B TW 419796B TW 087105240 A TW087105240 A TW 087105240A TW 87105240 A TW87105240 A TW 87105240A TW 419796 B TW419796 B TW 419796B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
layer
metal
polyimide
semiconductor circuit
gold
Prior art date
Application number
TW087105240A
Other languages
English (en)
Inventor
Moritsugu Morita
Hirofumi Tanaka
Kazuhito Fujita
Original Assignee
Mitsui Chemicals Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsui Chemicals Inc filed Critical Mitsui Chemicals Inc
Application granted granted Critical
Publication of TW419796B publication Critical patent/TW419796B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/05Insulated conductive substrates, e.g. insulated metal substrate
    • H05K1/056Insulated conductive substrates, e.g. insulated metal substrate the metal substrate being covered by an organic insulating layer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • H01L23/13Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • H01L23/14Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the material or its electrical properties
    • H01L23/142Metallic substrates having insulating layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L24/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01019Potassium [K]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01077Iridium [Ir]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01078Platinum [Pt]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01087Francium [Fr]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/0132Binary Alloys
    • H01L2924/01322Eutectic Alloys, i.e. obtained by a liquid transforming into two solid phases
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1204Optical Diode
    • H01L2924/12042LASER
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3025Electromagnetic shielding

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Insulated Metal Substrates For Printed Circuits (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)

Description

419796 A7 B7 經濟部中决標卒局兵工消費合作社印欠 五、發明説明 ( 1) 1 1 1 C 發 明 之 詳 细 說 明 1 1 I [ 發 明 之 技 術 領 域 ] 1 I 本 發 明 係 顢 於 — 種 金 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 板 及 其 製 造 方 請 先 1 1 閲 | 法 〇 如 果 說 得 更 加 詳 细 一 點 的 話 本 發 明 係 m 於 —* 種 圼 輕 讀 背 j ifi ! 量 化 而 容 易 進 行 加 工 並 且 其 半 導 體 電 路 基 板 和 外 部 電 s 1 意 1 1 路 基 板 間 之 接 合 可 靠 性 相 當 良 好 的 金 展 基 底 半 導 體 電 路 基 事 項 ! ] 再 1 板 及 其 製 造 方 法 〇 填 ίξ 本 裝 [ 先 前 技 術 ] 頁 1 1 近 年 來 金 屬 基 底 半 専 體 電 路 基 板 之 需 隶 係 m 著 /Hit 微 電 1 1 腦 及 微 處 理 器 等 之 半 導 體 封 裝 體 用 之 利 用 而 正 在 不 新 1 1 地 提 高 當 中 〇 該 作 為 金 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 板 之 具 代 表 性 1 訂 之 用 途 例 子 係 有 美 國 專 利 (USP) 5 ,420 ,460 號 中 之 所 揭 示 1 1 出 之 金 团 腾 基 底 之 BGA (Ba 1 1 G r id A r r ay 球 閘 陣 列 Μ 下 1 1 1 則 簡 寫 為 BG A ) 基 板 Μ 及 Η 本 專 利 特 開 平 6- 5 3621 號( 美 1 1 國 專 利 (USP)5 ,639 ,990號 )中之所揭示出之金靥基底之 1 Λ MQP (Meta 1 Q υ ad P a c k a s e 金 屬 四 逢 型 封 装 體 » Μ 下 則 簡 1 ί 寫 為 MQP ) 0 在 前 述 之 MQP (He t a 1 Qu ad P a c k a g e 金 鼷 四 i 邊 型 封 裝 體 )構造中 係對於電路配線基板 進行引深加 1 1 1 工 處 理 而 使 得 前 述 之 電 路 配 線 基 板 成 為 箱 形 狀 並 且 1 ί 1 在 該 箱 形 狀 電 路 配 線 基 板 之 開 □ 面 之 周 Ά 上 遵 形 成 有 1 1 導 線 部 〇 1 1 金 鼷 基 底 半 導 體 電 路 基 板 係 具 備 有 相 當 良 好 之 散 熱 性 1 I Μ 及 電 磁 遮 蔽 性 等 特 性 0 該 金 屬 基 底 半 m 體 電 路 基 板 中 之 1 1 1 所 使 用 的 基 底 金 屬 係 具 備 有 電 路 之 補 強 用 材 料 半 導 體 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 4 419796 B7 經濟部中央標準局員工消费合作社印裝 五、發明説明( 2) 1 I 中 之 所 產 生 之 熱 能 的 敗 熱 用 材 料 以 及 電 氣 之 接 地 用 材 料 1 I I 等 之 功 能 0 在 基 底 金 鼷 之 表 面 及 背 面 中 9 係 Μ 電 路 形 成 面 1 I 9 作 為 表 面 t 而 該 電 路 形 成 面 之 相 反 面 > 作 為 m 面 〇 前 述 5 1 1 I 之 背 面 f 係 具 備 有 該 作 為 金 靥 基 底 半 導 體 電 路 基 板 之 敗 熱 讀 背 1 I 1 面 的 功 能 、 Μ 及 該 作 為 使 用 IR (紅外線) 迴 焊 (Γ e f 1 〇 W ) 而 將 冬 I 意 1 j 金 靥 基 底 半 導 體 電 路 基 板 構 裝 於 主 機 板 上 之 時 的 IR (紅夕卜 事 項 I 1 1 線 )吸收面之功能 並且 還隨著狀態之不同 而具備有 填 本 裝 所 謂 絕 緣 層 等 之 功 能 〇 頁 1 I 然 而 > 就 正 如 B 本 專 利 特 開 平 7 — 321250 5R (美國專利 1 1 (USP)5 ,583 ,378號 )中之所記載的 可Μ在習知之金屬基 1 1 底 半 導 體 電 路 基 板 之 背 面 上 設 置 有 環 氣 樹 脂 或 者 瓖 氧 樹 1 訂 脂 以 外 之 適 當 材 料 之 薄 膜 暦 〇 刖 述 之 薄 膜 層 係 可 以 發 揮 I I 出 該 作 為 保 護 層 之 功 能 〇 通 常 前 述 之 金 層 基 底 半 導 體 電 1 1 1 路 基 板 之 背 面 係 為 不 锈 m (SUS)之表面以及該施加過鋅 1 1 鉻 酸 鹽 變 色 防 止 處 理 之 飼 表 面 或 該 藉 由 Hi 電 鍍 處 理 過 之 1 A 保 護 層 Μ 及 N i 電 鍍 + Au 電 鍍 之 處 理 過 之 保 護 層 \ 或 者 環 氧 I 1 樹 脂 層 而 被 覆 住 前 述 之 金 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 板 之 stts. 面。 1 除 了 該 被 環 氧 樹 脂 層 而 被 覆 住 之 狀 態 之 外 其 餘 之 狀 態 1 1 1 下 之 金 鼷 基 底 半 導 體 電 路 基 板 之 ^(ba m 面 的 輻 射 電 熱 係 數 係 1 1 為 比 較 小 > 而 在 進 行 著 敗 熱 處 理 時 之 輻 射 現 象 也 會 比 較 小 1 1 因 此 在 娌 焊 (Γ e f 1 〇 W ) 訄 内 特 別 是 在 IR (紅外媒)迴 焊 1 1 (Γ e f 1 0 W ) 爐 内 之 IR (紅外線) 吸 收 效 率 會 變 得 比 較 低 0 因 1 1 此 r 在 m 焊 (r e f 1 〇 w) 逋 内 > 比 較 起 該 構 裝 於 主 賭 板 上 之 i 1 I QFP (Qu a d F la t Pa c k a g e :四邊扁平型封装體) 等 之 其 他 零 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規枋(210 X 297公筇) '419796 Μ Β7 五、發明説明( 3) 1 I 件 之 溫 度 該 封 裝 體 之 溫 度 會 變 得 比 較 低 结 果 在 1 1 I 同 時 地 進 行 著 各 種 零 件 之 構 装 作 業 之 狀 態 下 該 酒 焊 1 i (Γ e f 1 〇 W)爐之條件之範圍 會 變 成 為 相 當 地 狹 窄 而 使 得 請 先 閱 背 面 之 注 1 I 1 該 銲 錫 強 度 變 得 相 當 地 不 安 定 0 1 1 此 外 在 製 造 出 金 雇 基 底 之 半 導 體 電 路 用 基 板 之 後 接 | 意 1 I 著 再 進 行 著 電 路 加 工 之 狀 態 下 1 打 媒 用 襯 墊 (v i r e P 〇 n d 事 項 | 再 1 i pad) 係 與 前 述 之 金 羼 基 底 之 半 導 體 電 路 用 基 板 的 背 面 填 寫 本 裝 同 時地進行著Hi/ A u 電 鍍 處 理 〇 因 此 在 並 不 需 要 進 行 Au 頁 «· 1 ί 電 鍍 處 理 之 金 屬 基 底 之 半 導 體 電 路 用 基 板 的 背 面 上 也 被 1 I 電鍍上Au金屬 而 使 得 金 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 板 之 製 造 成 1 1 本 圼 提 高 Ο 並 且 由 於 熱 能 特 性 Μ 及 電 氣 特 性 的 醑 係 在 1 訂 基 底 金 屬 方 面 係 大 多 使 用 銅 金 屬 〇 在 這 樣 之 狀 態 下 由 1 I 於 N i 電 鍍 層 之 埶 膨 脹 係 數 低 於 基 底 鋦 金 屬 之 熱 膨 脹 係 數 1 1 j > 因 此 會 形 成 有 一 種 雙 金 鼷 (b i m e t a Π c >結果, 由於溫 1 1 度 變 化 的 關 係 而 使 得 封 装 體 發 生 有 變 形 現 象 〇 i 係 使 用 基 底 金 靨 厚 度 0 . 1 n -0 .4ιοιι之金屬基底半導體電路 i 1 基 板 作 為 超 薄 型 金 靥 基 底 半 導 體 電 路 基 板 0 在 超 薄 型 金 1 1 I 羼 基 底 半 導 體 電 路 基 板 比 較 多 之 狀 態 下 於 基 底 金 圈 方 面 j 係 大 多 使 用 不 锈 鋼 (SUS)或者銅金靨< >特別是 在大多 I I 數 之 狀 況 下 % 使 用 該 具 備 有 相 當 良 好 之 熱 傳 遞 特 性 及 電 I I 氣 特 性 之 飼 金 臛 或 者 銅 合 金 該 鋦 金 屬 或 者 鋦 合 金 其 彎 I I 曲 剛 性 比 較 小 而 且 也 比 較 不 容 易 因 為 溫 度 變 化 的 Ηβ 關 係 * I I 就 發 生 有 變 形 琨 象 〇 \ 1 | 該 發 生 有 變 形 之 原 因 係 為 金 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 板 之 1 1 本紙張尺度適用中國國家標率(CNS ) Λ4規格(210Χ 297公婼) 6 經濟部中央標本局β工消贽合作社印來 4i9796 at B7五、發明説明(4) 所使用之材料的熱膨脹係数並不相同的«係。該在25 υ之 狀態下之熱膨脹係數的例子,大致躭正如Μ下所敘述的。 其中前面之编號,也是代表著該進行層合處理時之蘑合顒 序。 1 . Hi / A u 電鍍層:1 3 X 1 0 _ 6 / d e g 2. 不锈鋼(SUS)、飼、飼合金之基底金屬:17X10 — s/deg 3. 電路絕緣用聚醢亞胺(Polyiieide)樹脂層:2〇xi〇-£ / deg〜55χ 10** 6 / deg 4 ,電路用銅箔:1 7 x 1 0 - e / d e s 5,姐劑用墨水層:60X10 - 6 / deg 〜80X10_ 6 / deg 如果由熱膨脹係數之觀點而來観察前面所敘述之薄膜層 構造之時,前述之薄膜層構造之熱膨脹係數,係沿著Z釉 方向,而進行著傾斜。因此,在金厪基底半導體電路基板 之溫度圼上升之狀態下,會發生有應力,而使得該金屬基 底半導體電路基板之背面*變成為凹狀面。 基底金羼之厚度,係為〇.4mii以下;特別是在基底金屬 之厚度為0.2ia»K下之狀態下,該金屬基底半導體電路基 板之彎曲剛性,會變得比較小。尤其就正如在1996年12月 之高度成長中之日本第三代超大型積體電路封裝廠(The Third VLSI PACKAGING WORKS HOPS of Japan)之高度技 術水準之空孔降低型金鼷基底球閘陣列封裝體(High Performance Cavity-Down Metal Based BGA(MeBGA) Package)(技術文摘,153頁(TECHNICHDIGEST, Page 153) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) _ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) .1 衣. 419796 A7 經濟部中央標準局Η工消费合作社印來 B7五、發明説明(5) )中之所發表的,在基底金觴上而打開有檢测用端子之孔 洞的金匾基底半導體電路基板中,球體搭載部之基底金屬 面積,會發生有減少現象,並且,其哿曲剛性,遷會更進 一步地降低。结果,在金鼷基底半導體電路基板之溫度呈 上升之狀態下*其彎曲量會變得比較大。例如在藉由銲錫 球而將金屬基底半導體電路基板構装於主機板上之時*於 25¾之狀態下*該金屬基底半導體電路基板之平坦度*係 相當地良好,因此,能夠非常容易地進行安裝處理,而將 金屬基底半導體電路基板,構装於主機板上。但是,在溶 解有銲錫球之185C之狀態下,由於金屬基底半等體電路 基板之彎曲現象的翻係,使得金屬基底半導體電路基板之 角落中之銲錫球圼浮上來,以至於無法進行理想之銲錫球 接合作業。此外,在將金屬基底半導體電路基板而構裝於 主機板上之狀態下,該由於溫度變化而產生之金屬基底半 導體電路基板之彎曲現象,會帶給銲錫球接合作業之接合 可靠性,柜當大之不良影響。 可K使用科菲—曼森(Coffin-Manson)公式,Μ便於進 行著該藉由應力解析而求出之銲錫球的接合可靠性之模擬 試驗。捍錫球接合之壽命,係陲著彎曲程度之大小•而在 數倍Κ上之範圍中·進行著變化。 該作為能夠解決前述缺點之方法,則可Μ考慮使用下固 所敘述之方法。 第1種方法:在金鼷基底半導體電路基板之背面上,肜 成有热膨脹係數比較高之環氧樹脂層《 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格{ 2ΙΟΧ297公釐) _ S4 _ -----------( ^------訂 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 41 9796 經濟部中央橾苹局貝工消费合作社印繁 A7 B7五、發明説明(8) 第2種方法:藉由增加基底金匾之厚度/而提高基底金 屬之彎曲醣性,K便於對抗該由於熱膨脹係數之差異而產 生之應力。 第3種方法:藉由使用彎曲彈性係數相當高之金龎,作 為基底金羼,K便於提高基底金屬之彎曲剛性*而能夠對 抗該由於熱膨脹係數之差異而產生之應力。 第4種方法:使用熱膨脹係數比較小之聚醢亞胺 (PolyiiBide)樹脂,作為電路絕.緣用。 第5種方法:使得焊料用阻劑層之厚度,比起一般之阻 劑層之厚度,還來得更薄。 第6種方法:使用熱膨脹係數比較低之焊料用阻劑。 但是,由於IR(紅外線)吸收對策K及彎曲對策的關係而 在金鼷基底半導體電路基板之背面上、形成有環氧樹脂層 之狀態下,會有Μ下所敘述之各種問題產生。 在第1種方法中,於使用該預先在金屬基底半専體電路 基板之背面上而形成有環氧樹脂層的基底金靥之狀態下, 當藉由引深加工而形成有空孔(cavity)構造之時,則在前 述之環氧樹脂層中,會產生有裂鏠•因此,會損害到金屬 基底半導體電路基板之耐久可靠性,同時,也會損害到外 觀。 在第2種方法中•為了避免前述之裂缝現象發生|而使 用環氧系阻劑用墨水,在除了引深郜Μ外之金屬基底半導 體電路基板之背面上,形成有樹脂層;然而*在前述瑄揉 之狀態下*由於該樹脂層形成部和該並無樹脂層存在之部 ί請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 装-
'-B 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(210Χ 297公f ) 9 B7 蛭濟部中央標率局員工消費合作社印取 五、發明説明( ( ') I 1 分 之 間 的 形 狀 位 差 現 象 的 存 在 會 m 致 該 引 深 肜 吠 之 精 密 1 1 | 度 呈 降 低 结 果 並 不 適 用 於 半 導 體 構 裝 上 〇 此 外 在 進 行 1 I 金 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 板 表 面 之 電 路 加 工 之 時 m 必 須 罩 請 先 閱 讀 背 1 ! 1 住 金 靨 基 底 半 導 體 電 路 基 板 之 背 面 以 避 免 該 圼 曝 露 出 之 1 I 面 1 引 深 加 工 部 之 基 底 金 臑 暴 露 於 蝕 刻 液 中 0 之 1 在第3種方法中 於金屬基底半導體電路基板之背面上 意 事 項 | 再 1 1 而 設 置 有 檢 測 用 端 子 之 狀 態 下 由 於 圖 案 係 相 當 地 微 细 » 填 因 寫 本 裝 此 並 不 容 易 僅 在 該 並 無 檢 測 用 端 子 存 在 之 背 面 部 分 上 頁 1 I > 肜 成 有 環 氧 樹 脂 曆 〇 也 可 以 考 慮 在 形 成 有 空 孔 (c a v ΐ ty) 1 1 之 後 接 著 進 行 環 氧 樹 脂 之 電 著 塗 裝 作 業 〇 但 是 在 這 樣 1 1 之 狀 態 下 3 其 製 造 成 本 比 較 高 0 並 且 還 由 於 黏 著 性 的 關 1 訂 係 而 使 用 玻 璃 轉 移 溫 度 比 較 低 並 且 相 當 柔 軟 之 環 氧 樹 脂 > 1 | 因 此 在 進 行 著 打 媒 (v i r e - b 〇 nd)作業之時 於基板加熱 1 1 用 治 具 上 會 m 褶 (t U C k)上環氧榭脂 〇 而 且 在 電 子 電 路 1 1 中 之 並 不 需 要 tw 埸 氧 樹 腊 之 部 分 上 也 會 電 著 塗 裝 上 環 氧 樹 1 A 脂 0 1 1 所 謂 增 加 基 底 金 屬 之 厚 度 係 意 味 著 增 加 金 屬 基 底 半 導 1 體 電 路 基 板 之 重 量 同 時 還 加 大 該 在 進 行 著 引 深 加 X 和 彎 1 1 1 曲 加 I 時 之 電 路 之 介 電 質 之 延 伸 現 象 Μ 及 電 路 下 面 之 介 電 1 1 質 之 延 伸 規 象 〇 由 於 介 電 質 之 延 伸 琨 象 的 關 係 而 會 限 制 I 1 住 該 在 進 行 著 鼙 曲 加 工 時 之 曲 率 半 徑 0 1 I 所 m 提 高 基 底 金 屬 之 彎 曲 彈 性 係 數 像 有 著 極 限 度 存 在 1 I 著 也 就 是 說 並 不 容 易 藉 由 提 高 基 底 金 屬 之 η 曲 彈 性 像 1 1 | 數 而 進 行 所 謂 之 彎 曲 引 深 加 工 作 業 0 1 1 一 10 ~ 本紙張尺度適用中國國家標芈(CNS ) Λ4^格(210X297公趁) 419796 A7 137五、發明説明(8 ) 止 為 de前 • 1 a g *1 Hy y 至 01直 { 1 胺, 亞是 醯但 聚’ 用用 緣有 絕地 路當 電相 低係 降 ' 謂数 所係 脹 膝 熱 之 脂 樹 醢 聚 該 姐 用 料 焊 之 大 較 比 數 係 脹 膨 熱 該 與 脂 樹 醯 聚 之 低 較 比 數 係 脹 膨 熱 J3.J- 該 外 此 ο 衡 平 de得 B 取 yl法 01無 (P還 胺, 亞劑 媛 遲 較 比 度 ffp S 刻 蝕 之 下 態 , 狀 } 之 de體 ΙΠ1氣 • I y 用 01獎 (P罨 胺者 亞或 低 較 比 性 著 黏 合 層 其 且 並 體 液 其 容 不 並 而 而加 ’ 深 高 引 較行 比進 性在 剛該 曲住 _ 制 其限 , 謂 時所 同有 , \Jr- e > oi此 h因 3 *1 ο (V低 孔較 盲比 有率 成伸 形延 易且 降 度 密 精 Η 加 得 使 而 生 產 象 現 42? ΑΡ 小 大 之 徑 半 率 曲 之 時。 Η 低
得之 來低 還降 而 圼 度性 厚靠 之可 劑之 阻劑 之胆 般用 一 料 起焊 比致 度導 厚 會 之該 劑 *. 阻著 用味 料意 焊係 諝 , ο 所薄寅 sc Μ. § W
X 用 料 焊 之 相 有 備 具 其 成 形 Μ 可 該 到 Λν IP 3 得 於法 低無 數並 係 * 脹上 膨際 熱實 其在 用 . 使 好 最劑 阻 是 但 X ο 3 數 係 脹 膨 熱 且 而 案 圖 之 细 微 之 性 光 感 之 好 良 當 劑 姐 用 料 焊 之 下 以 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁 經濟部中央標隼局貝工消費合作杜印掣 中迴且 之在並 板該 , 基行業 路進作 電易良 體不改 導也之 半時性 底同特 基-收 匾性吸 金工丨 在加 , 深 的引 述其IR 敘住之 所持内 上維爐 K 易W) 如容10 正不ef 就並(Γ , 焊 線 外 紅 薄路 超電 在體 是導 別半 特底 。 基 業屬 作金 予於 賦 , 之中 性之 特板 劑基 胆路 月 驾 鍍體 電導 行半 進底 易基 容 騸 不金 也型 因狀 之形 同 之 不板 棰基 各.路 有電 於體 由導 會半 , 底 下基 態屬 狀金 之少 化減 變易 有容 生不 發並 度而 溫 ’ 之在 板存 基素 本紙張尺度適用中國國家標车(CNS ) A4規格(2丨0X297公ft ) 11* 11 41979s A7 B7 五、發明説明(9) 經濟部中央標準局員工消費合作枉印製 變化。 圖1係為目前習知之一種金屬基底半導體電路基板。前 述之金屬基底半専體電路基板,係按照順序地而層合及形 成有厚度O.lmmM上而5mm以下之成為基底的金鼷板(001) 、厚度5w 上而200u m以下之介電質(010)、K及厚度 0.5a 上而100u mM下之導電體電路(100)。在前述之 金屬基底半導體電路基板之背面上,遨形成有Hi電鍍等之 保護層(300)。此外·該成為基底的金鼷板(001)、Μ及導 電體電路(100) *也藉由BVH(Biind Via Hole:盲貫通孔 )(200 ),而圼部分地相連接在一起。 圖2係為該由第1層介電質(010)、第2層介電質(011)、 第1層専電體電路(100)、以及第2層導電體電路U01)*層 合於金臑基底半導體電路基板上,而成為多層構造之金靨 基底半導體電路基板。該圼多層構造之導電體,係藉由 BVH(Blind Via Hole:盲貫通孔)(200) 、 IVH(Interstitial Via Hole:插入型盲孔)(201)、 K 及TH(Throush Hole: 貫通孔)等,而圼層間狀態地連接在一起。 圖3係為藉由BVH(Blind Via Hole:盲貫通孔)(200), 而連接上一部分之導電體電路(100)、以及金靨板(001), 並且 > 對於該在BVH(Biind Via Hole:盲貫通孔)(200)正 下方而且成為基底之金屬板(001),進行加工處理*以便 於形成該與前述之金鼷板(001)單獨地成為不同個體之檢 测用端子。 以下之例子所顯示出的,係為前述這呰先前技術之金屬 ^ 1 0 _ 本紙张尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(2!〇Χ 297公#.) -----Ί--,--裝------訂------^ j (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 12 419796 Α7 Β7 五、發明説明(ίΟ) 經濟部中央標嗥局貝工消費合作社印裝 基底半導體電路基板之製造方 1) 使用黏著劑,並且遨利用 性,而層合上基底金屬以及介 般之方法*而在導電體箔上* 劑層,最後邐進行Ni電鍍處理 2) 使用該由介電質薄片及導 著,按照著一般之方法,而在 然後再肜成阻劑層,最後堪進 便於得到電路形成用薄片。此 用該介電質本身所具有之黏著 有前逑之介電質。 3) 在將介電質而層合於基底 加(additive)法*而形成有導 層,最後還進行Ni電鍍及Au電 4) 在前逑之1)〜3)中之所形 板之背面上*呈選擇性地電著 絕緣體。藉由前述之處理,而 板之背面*成為絕緣狀態。 5) 於前述之1)〜3)中之所 上,係預先地塗裝上環氧樹脂 由於在金靨基底半導體電路 (wire bond pad) (J}(後則簡稱 /Au電鍍的關係,因此,在前 示出之金饜基底半導體電路基 法。 該介電質本身所具有之黏著 電質薄片。接著,按照著一 形成有電路*然後再形成胆 、或者Ni電鍍及Au電鍍處理 電體箔而形成之層合體*接 導電體箔上,形成有電路* 行Ni電鍍及Au電鍍處理,K 外,堪使用黏著劑*以及利 性,而在基底金鼷上*層合 金屬上之後,藉由所諝之添 電體電路,然後再形成阻劑 鍍處理。 成之金屬基底半専體電路基 塗裝上環氧楢脂,而形成有 使得金靥基底半導體電路基 使用之基底金靥之背面部位 〇 基板之表面上之打線用襯墊 為W B襯墊),進行有H ί電鍍 述之例子1及例子3中之所顯 板之背面上,也與前述之打 (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS ) Λ4規栳(210Χ2?7公楚) 13 419796 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明 (-U) 線 用 櫬 墊 (W i r e bo nd P ad) 1 同時地形成有相同之電鍍金 靥 〇 在 « r 刖 述 之 例 子 2中 於基底金龎上而層合有電路形成 用 薄 片 之 前 » 大 多 會 在 刖 逑 之 基 底 金 龎 上 預 先 地 形 成 有 N i 電 鍍 等 之 防 m 用 薄 膜 〇 於 刖 述 之 例 子 4中 則形成有環 氧 樹 脂 層 〇 不 管 是 前 述 之 任 何 一 種 情 U 即 使 採 用 該 由 其 具 備 有 防 锈 能 力 之 金 靥 或 者 環 氧 樹 脂 而 組 成 之 保 護 層 來 覆 蓋 住 金 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 板 之 背 面 也 會 產 生 有 像 前 面 所 敘 述 之 各 種 問 題 〇 C 發 明 所 欲 解 決 之 問 題 ] 本 發 明 之 g 的 係 為 提 供 一 種 具 備 有 半 導 體 電 路 基 板 與 外 部 端 子 之 間 的 接 合 部 之 平 坦 性 相 當 良 好 Λ 溫 度 發 生 有 改 變 之 狀 態 下 的 形 狀 變 化 比 較 小 將 半 導 體 電 路 基 板 構 裝 至 主 機 板 上 之 構 裝 性 能 相 當 良 好 可 K 改 善 在 進 行 著 銲 錫 迴 焊 (Γ e f 1 〇 W ) 作 業 時 之 紅 外 線 吸 收 性 能 % 具 有 電 鍍 用 阻 劑 特 性 > Μ 及 相 當 高 之 連 接 可 靠 性 之 等 特 性 的 金 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 板 0 此 外 特 別 是 本 發 明 之 巨 的 係' 為 提 供 一 種 具 備 有 該 藉 由 半 導 體 電 路 基 板 之 引 深 加 X 而 形 成 之 空 孔 (C a v i t y) 的 金 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 板 〇 並 且 * 本 發 明 之 g 的 • 遨 提 供 一 種 金 靨 基 底 半 導 體 電 路 基 板 係 為 BGA (Ba I 1 G r ί d A r r a y :球閘陣列) 基 板 LGA (L a η d G Γ 1 d Ar ray :帶閘陣列) 基 板 λ 或 者 HQP (Me t a 1 Q υ ad Pa c k a g e :金鼷四邊型封装體) 基 板 之 金 匾 基 底 半 導 本紙張尺度通用中國國家.標準(CNS > Λ4現格U10X297公φ ) -14 - 請 先 閲 讀 背 'it 之 注 意 事 項 再 填 寫裝 本衣 頁 訂 419796 A7 B7 五、發明説明(ί 2) 業引 句 作有均 成備當 形具相 路該為 電及成 在 Μ 變 該、度 種法厚 一 方之 供的屬 提度金 還厚底 係之基 , 屬 得 的金使 目底而 之基工 明變加 。 發改曲 板本會彎 基,不和 路外並 Η 電 另而加 體中深 經濟部中央標準局員工消費合作社印繁 之方法。 【解決問題之手段】 係藉由製造出以下所敘述之金饜基底半導體電路基板, 而達成前述問題之解決效果:一種金龎基底半導體電路基 板,係為在基底金屬之表面上,使用聚醯亞胺(polyiraide) 層|作為介電質,並且*在前述之聚醢亞胺(P〇丨yindde) 層之上,還形成有半導體搭載用電路的金靨基底半導體電 路基板之中,其中該基底金屬之背面上之聚醢亞胺 (polyinide)層合體之25T下之熱膨脹係數,係在14X 10 - 6 / deg〜60X10 - 6 / deg之範圍内,而聚醢亞胺 (po丨yimide)層合體之延伸率,係在5%〜120¾之範圍内 ,並且,如果由基底金屬之角度來觀察的話,則最外側之 聚醢亞胺(PolyUide)層之玻璃轉移溫度係為2001以上* 而且,如果由基底金屬之角度來觀察的話,則最內側之聚 醢亞胺(polyiraide)層對於基底金屬之黏著力*係為0,5kg / C Η Μ 上。 若說得更加具體一點,係藉由茌前述之金屬基底半専體 電路基板之中,使用該相當於以下所敘述之任何一種之聚 醢亞胺(polyimide)層I作為該層合於金臛基底半導體電 路基板背面上之聚醢亞胺(poly Uide)層* K便於製造出 本紙張尺度適用中國國家棉準(CNS > A4現梏(210X 297公f ) (诘先閱讀背面之注意事項再填疼本頁) -15 - 經濟部中央標隼局員工消費合作杜印製 419796 A7 137五、發明説明(i3) 金屬基底半導體電路基板,而達成前述問題之解決效果。 (A) 2層構造之聚醯亞胺(polyimide)層,傜按照著Μ下 之順序,而層合在基底金藤之背面上;前述之2層構造之 聚酿亞胺(polyira丨de)層,其層合順序正如下面所敍述的 :熱塑性聚醱亞胺(PolyiinideMl)層,其玻璃轉移溫度為 1 20 Μ上和300 1C K下*並且,該在玻璃轉移溫度+ 30 t 之狀態下的彈性係數,為該在玻璃轉移溫度之狀態下的彈 性係數之1/100M下;非熱塑性聚醢亞胺(polyimide)層 ,其玻璃轉移溫度為200 °CK上,並且*該在玻璃轉移溫 度+ 3〇υ之狀態下的彈性係數,為大於該在玻璃轉移溫度 之狀態下的彈性係數之1/10,而且,其單獨之聚醢亞胺 (polyimide)之厚度之薄膜的延伸率,為上。 (B) l層構造之聚醢亞胺(P〇丨yUide)層,係由熱塑性聚 醢亞胺(polyi«丨de)(2)層或者前述之非熱塑性聚醯亞肢 (polyimide)層而組成的,並且,前逑之1層構造之聚醯亞 胺(polyiBide)層,係層合在基底金臛之背面上;而前述 之熱塑性聚醢亞胺(P〇lyi®ide)(2)層,其玻璃轉移溫度為 200 1CK上和300它以下,並旦,其在玻璃轉移溫度+ 30t 之狀態下的彈性係數,為該在玻璃轉移溫度之狀態下的彈 性係數之1/10Μ下。 (C) 3層構造之聚醢亞胺(poly hide)層,係按照著Μ下 之順序而層合在基底金靥之背面上;按照著熱塑性聚酿 亞胺(P〇lyimide)(l)層、前述(Α)中之所顯示出之非熱塑 性聚醯亞胺(poly in ide)層、K及前述(B)中之所顧示出之 本紙張尺度適用中國國家標土( CNS ) Λ4规梏(210X29?公釐) 一 -16 - I » u^— n^il «. nn JI^H 1 --1 - 1 、V5 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 419796 A7 137 經濟部中央標隼局員工消費合作杜印製 五、發明説明 (M ) 1 1 I 熱 塑 性 聚 醢 亞 胺 (P ο 1 y i m i d e )( 2) 層 的 順 序 S 而 層合 出3層 1 1 I 構 造 之 聚 醢 亞 胺 (P ο 1 y i m i d e )層 c 1 I 藉 由 按 照 著 電 路 形 成 用 鋦 萡 Λ 表 面 聚 醯 亞 胺 (ρ 〇 1 y i id i d e ) 請 先 Μ 1 I I 層 基 底 金 画 、 及 背 面 聚 醯 亞 胺 (Ρ ο 1 y i m \ d e )層之順序、 讀 背 1 | 丨έ 1 或 者 電 路 形 成 用 銅 箔 表 面 聚 醯 亞 胺 (P ο 1 y i mi d e )層、基 之 注 \ 1 意 1 I 底 金 臑 Λ 背 面 聚 醯 亞 胺 (P ο 1 y i m i d e )層、 及銅箔之順序, 事 項 J I 1 而 層 合 出 層 合 體 之 後 接 著 對 於 a * 刖 述 之 層 合 體, 進行著 本 装 加 熱 壓 接 處 理 而 製 造 出 層 合 基 板 並 且 t 對 於前 述之層 頁 I I 合 基 板 進 行 電 路 加 工 處 理 Μ 便 於 達 成 前 述 問題 之解決 1 1 效 果 〇 1 1 若 對 於 前 述 之 基 底 金 屬 之 背 面 上 而 形 成 有 聚 醢亞 胺 I 訂 (P 〇 1 y i mi de)層的金靨基底半導體電路基板 進行著引深 1 I 加 X 處 理 的 話 則 能 夠 相 當 容 易 地 製 造 出 該 具 備有 1段式 1 I 或 者 2段式之空孔( c a v i t y )構造的BG A (B a 1 t G r id A r r a y : 1 1 球 閘 陣 列 )構造或者LG A (L an d G rid Ar r a y : 帶閘陣列)構 f -4、 造 之 金 面 腾 基 底 半 導 體 電 路 基 板 0 此 外 藉 由 引 深加 工或者 1 ί 彎 曲 加 工 也 能 夠 製 造 出 該 具 備 有 HQP (Me t a 1 Quad 1 Γ Pa c k a g e 金屬四邊型封裝體)構 造 之 金 臑 基 底 半導 體電路 1 1 基 板 0 1 1 在 附 加 有 檢 測 用 端 子 之 金 屬 基 底 半 導 體 電 路 基板 之狀態 1 1 下 根 據 該 使 用 著 聯 胺 (h y c r a ^ 1 n e )等之液體 hf3 等之電 1 1 漿 用 氣 體 或 者 雷 射 等 之 一 般 方 法 而 圼 選 擇 性地 對於該 1 I 用 Μ 覆 蓋 住 前 述 之 檢 測 用 端 子 的 聚 醢 亞 胺 (P ο 1 y i m i d e )層 1 1 1 > 進 行 著 蝕 刻 加 工 處 理 〇 此 外 前 述 之 方 法 也可 以相當 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(210X 297公f ) -17 - 經濟部中央樣準局貝工消費合作社印^ . Λ 7 Β7 五、發明説明(i5) 有效地使用於前述之檢測用端子以外之部分上的聚醢亞骹 (polyimide)層。在電路加工面上,使用液體或者氣體, 而同時地進行著該用以形成盲孔(via-hole)之聚醯亞胺 (polyiioide)蝕刻處理Μ及該用以形成背面之檢测用端子 的聚醢亞胺(polyimide)蝕刻處理。 【發明之實施形態】 本發明之層合於金屬基底半導體電路基板之背面上的聚 醢亞胺(polyimide)層*其熱膨脹係數係為14X10_ 6 / deg〜60X10 - 6 / deg,若更加理想的話,則最好為17X 10 — 6 / deg〜60X10 - e / deg,並且,其紅外線之极收 能力及遠紅外線之吸收能力也相當地高,而且,該聚瞌亞 胺(PolyUide)層,還具備有相當高之延伸性、耐熱性、 Μ及耐久性*此外,前述之聚藤亞瞭(polyimide)層之厚 度*係為O.lwmM上和5〇wmK下。 藉由前述之聚醢亞胺(polyifflide)層》而可以得到如Μ 下所敘述之效果。 1) 並不會損害到金屬基底半導體電路基板之引深加工性。 2) 在進行著電路之Ni/Au電鍍加工處理之時,可Μ防止 注所謂熱膨脹该數比較低之Ni、或者Hi和Ρ之合金等之防 锈用電鑛金靥而層合於基底金屬之背面上的現象發生。 3 )能夠取得達到該聚醯亞胺(p ο 1 y i m ί d e )層Μ及該層合 於電路表面上之熱膨脹係數比較高之銲劑用姐劑等層之間 的平衡作用。 4)可以提高前述之基底金匾之背面上的幅射熱傳遞係數 本紙乐尺度適用中國國家標準{〔奶);\4規栳(2丨0'/ 297公赴) _ τ 〇 _ 1^1 1— - ...... - I . I3·'^1 J In— ^^^1 1 —r 牙 --0-(請先間讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印聚 419T96 , A 7 B7五、發明説明(1Π ) 之大小。 像前述這樣處理過而得到之基板,係具備有Μ下所敘述 之特激。 1) 司Μ提高前述之基底金鼷之背面上的輻射熱傳遞係數 之大小,並且,遨可以提高該在進行著基板構裝於主機板 上之IR (紅外線)迴焊(reflow)構裝作業時之基底金屬背面 上的IR (紅外線)吸收效率。並且,該在進行著I R (紅外線) 娌焊(ref low)構装作業時之金鼷基底半導體電路基板之溫 度,係與該被樹脂所封裝之QFP (Quad Flat Package :四 邊_平型封装體)之溫度Μ及其他之分雜用零件之溫度, 成為相同之狀態。並不會導致前述之QFP(Quad Flat Package:四邊扁平型封裝體)K及其他之分離用零件的劣 化規象發生。因此 > 可Μ提高金屬基底半導體電路基板和 主機板之間的銲锡结合強度。 2) 在金屬基底半導體電路基板之溫度發生有變化之狀態 下,可Μ降低該金屬基底半導體電路基板之形狀變化。 3) 藉由前逑之1)及2)之相乘效果*而可以提高金屬基底 半導體電路基板和主機板之間的接合可靠性》 4) 由於聚醯亞胺(Pobimide)層馀具備有電鍍用阻劑特 性*因此*能夠防止住所諝金臛電鍍之附著琨象發生。特 別是|藉由防止住Au電鍍之附著現象發生,而可以降低金 騸基底半専體電路基板之製造成本。 5) 由於層合有該具備著相當良好之延伸性、耐熱性、以 及耐久性的聚醯亞胺(polyimide)層•因此,即使減少前 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(210X297公f ) . Λ (請先閱讀背面之注意事項再填艿本頁) 419796 A*? 經濟部中央標準局貝工消費合作社印" B7五、發明説明(Γ7 ) 述之聚醢亞胺(polyimide)層之厚度*也能夠得到可靠性 相當高之層合膜。所以*不管是否具備有前述之層合膜, 在實際上,也並不會損害到金屬基底半導體電路基板之某 一項特徵··散熱性。 6) 由於層合有該具備著相當良好之延伸性以及基底金鼷 間之黏著性的聚醢亞胺(poly丨層,因此,即使對於 該金匾基底半導體電路基板,進行引深加工,也不會在前 述之聚_亞胺(poly丨snide)層,產生有所謂之裂縫規象。 所Μ,能夠形成該具備有1段式或2段式之空孔(cavity)構 造的BGA(Ball Grid Array:球閘陣列)金屬基底半導體電 路基板、或者LGA(Land Grid Array:帶閘陣列)金屬基底 半導體電路基板Μ及MQP(Metal Quad Package:金雇四逢 型封裝體)金匾基底半導體電路基板;甚至如果有需要的 話,也可以形成該具備有3段式Μ上之空孔(cavity)構造 的金颶基底半導體電路基板。 7) 藉由根據一般常用之方法,而呈選擇性地對於該用Μ 覆蓋住檢測用端子之聚醢亞胺(Ρ〇丨yiffiide)層,進行蝕刻 加工處理,K便於能夠製造出該在前述之檢測用端子Μ外 之部分上而層合有聚醯亞胺(polyimide)層之金屬基底半 導體電路基板。 δ)該在基板之背面上而層合有聚醯亞胺(Polyimide)層 並且還具餚有2段式之空孔(cavity)構造的金屬基底半導 體電 路基板*係適合被使用在如以下所敘述之典型之小 型封装體、例如UA(Land Grid Array:帶閛陣列)封装體 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS ) Λ4規栳(210X 297公筇) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -20 - 419796 B7 經濟部中央標隼局肩工消費合作社印聚 五、發明説明 (18) 1 1 I 或 者 該 具 有 比 較 小 之 直 徑 的 BG A ( Ba 11 G Γ 1 d A r r a y, 1 1 I 球 閘 陣 列 )封裝體= ! ! 8 - 1) 在 引 深 部 之 第 1段(第 1段之空孔(ca v i ty )) * 係 形 成 請 先 閲 1 1 有 壓 接 縫 合 (b 0 Ω d ί n g ~ S t I t C h) 部 0 相 對 地 加 大 該 具 備 有 電 讀 背 1 1 路 之 部 分 上 的 引 深 曲 率 半 涇 則 可 Μ 防 止 所 謂 在 電 路 上 而 J I 意 ί I 發 生 之 裂 m 琨 象 0 在 第 2段( 第 2段之空孔( c a V 1 ty )) 相 對 事 項 I 1 地 減 少 該 並 無 具 備 有 電 路 之 部 分 上 的 引 深 曲 率 半 徑 〇 並 且 本 装 9 還 縮 短 半 導 體 晶 片 和 壓 接 縫 合 (b on ding t 1 t C h) 部 之 間 頁 、· 1 1 的 距 離 〇 此 外 , 也 使 得 半 導 體 晶 片 之 接 合 用 襯 墊 (b ο η di n g \ ! -P ad)之水平位置和壓接鏠合(bo π d in g 一 S t it ch )部之水平 1 1 位 置 幾 乎 成 為 相 同 之 水 平 位 置 〇 藉 由 前 述 之 處 理 則 可 ! 訂 Μ 縮 短 金 線 之 長 度 〇 1 1 8- 2)該 引 深 部 之 斜 面 係 可 以 發 揮 出 所 謂 用 以 作 為 該 堵 1 1 注 疲 體 狀 封 裝 用 材 科 之 水 vm m 的 功 跬 〇 前 述 之 封 裝 用 材 料 部 1 1 分 並 沒 有 突 出 至 該 比 起 分 型 面 部 之 水 平 位 置 或 者 比 較 小 1 ...Λ 直 徑 之 球 體 (0 .5 mm Μ 下 )部位之水平位置還更高之位置上。 ! 1 8- 3) 藉 由 金 腸 基 底 半 導 體 電 路 基 板 背 面 上 之 聚 醢 亞 胺 1 ί { Ρ 〇 1 y i m i d e ) 而得到相當良好之電氣絕緣性 因此 在 1 1 I 相 當 狹 窄 之 空 間 中 即 使 前 述 之 金 屬 基 底 半 m 體 電 路 基 板 1 1 t 接 觸 到 其 他 之 零 件 Λ 或 者 是 箱 盒 (穀體) 也 m 能 夠 保 持 1 1 庄 相 當 良 好 之 電 氣 絕 緣 性 〇 1 1 基 底 金 靥 係 為 熱 傳 遞 性 相 當 良 好 之 金 颺 該 基 底 金 屬 ϊ 1 | 可 適 用 銅 銅 合 金 以 及 SUS (不 m 鋼 )等之材枓 >特別 1 1 | 是 t 最 適 合 採 用 該 具 備 有 栢 當 良 好 之 熱 傳 遞 性 Μ 及 電 氣 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規祐(2丨0X 297公笕) 419796 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製
五、發明説明( 19) 1 1 I 傳 m 性 引 深 加 I 性 > 鼙 曲 加 工 性 的 銅 和銅 合金。 1 1 i 該 在 基 底 金 屬 之 背 面 上 而 廇 α 上 聚 藤 亞胺 (ρ 〇 1 y ί mi d e ) I I 層 之 方 法 t 則 大 致 可 K 分 為 有 2種方法C 其中1種方 法 係 為 請 先 1 1 I 使 用 熱 塑 性 聚 醯 亞 胺 (Ρ 0 1 y i w i d e )層, 作為該黏著層 讀 背 1 I ιέ ] 而 進 行 著 加 熱 壓 接 處 理 之 方 法 〇 至 於 另 1種方法係為 將 之 注 1 I 意 1 1 該 兼 具 有 黏 著 性 之 聚 醯 亞 胺 (P ο 1 y i m i d e )樹脂、或者該聚 事 項 | 1 醯 亞 胺 (po 1 y z m i de)樹脂之清漆前驅物質,塗敷於基底金 填 % 本 裝 靥 之 上 接 著 進 行 乾 燥 處 理 並 且 還 隨晋 實際之 需 要 , 頁 1 | 而 進 行 著 醢 亞 胺 化 之 作 業 的 方 法 〇 但 是 *由 於前述 之 基 底 1 1 金 臛 之 厚 度 係 為 0 . 1 m οι Κ上 因此 在後者之第2 種 方 法 1 ! 中 並 不 容 易 進 行 著 所 諝 捲 繞 進 出 式 (Γ oil·' to-r ο 1 1) 之 清 1 訂 漆 塗 敷 作 業 〇 雖 然 圼 1 Η 1 片 地 進 行 著 塗 敷及 乾燥作 業 而 1 I 使 得 其 生 產 效 率 栢 當 地 低 但 是 該 使 用熱 塑性聚 醯 亞 胺 1 I (P 0 1 y i fflide)層而作為其黏著層之前者之第1 種方法 係 tfc 1 1 1 較 容 易 實 行 0 1 Λ 該 使 用 熱 塑 性 聚 醯 亞 胺 (Ρ ο 1 y i m i d e )層而作為其黏著層 [ 1 之 製 造 方 法 之 例 子 9 就 正 如 Μ 下 所 敘 述 的。 1 I 1) 在 基 底 金 臑 之 上 » 按 照 順 序 地 層 合 上熱 塑性聚 藤 亞 胺 1 1 (P 〇1 y i 10 1 d e )(2) 之 薄 膜 Μ 及 飼 箔 接 著, 在進行 過 加 熱 1 1 壓 接 處 理 之 後 * 根 據 一 般 常 用 之 方 式 而除 去前述 之 銅 萡 1 I 的 方 法 〇 1 I 2) 在 基 底 金 HB πβ 之 上 , 層 合 上 熱 塑 性 聚 豳亞 胺(ρ ο 1 y ί mi d e ) 1 I (2)之薄膜 *然後 *再搭載上該與前述之熱塱性聚豳亞胺 1 I (P 〇 1 y i Bl ί d e )(2) 之 薄 膜 之 間 的 黏 著 力 相 當微 弱之戡 氣 龍 薄 1 I 本紙掁尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210'X297公苋) 4\9796 Λ7
IP 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明 (以” 1 I 膜 ,接 著 在 進 行 過 加 熱 壓 接 處 理 之 後 剝 離 掉 前 述 之 鐵 1 1 i 氟 龍薄 膜 的 方 法 〇 1 I 3)在 基 底 金 屬 之 上 , 按 昭 順 序 地 增 合 上 熱 塑 性 聚 醢 亞 胺 先 閲 1 ! I (Ρ 〇 1 y i fli i d e )(1) 之 薄 膜 Η 及 非 熱 塑 性 聚 醢 亞 胺 讀 背 1 1 (Ρ ο l y \ m i d e )之薄膜, 接著 進行著加熱壓接處理的方法。 之 注 1 1 意 1 I 4)將 熱 塑 性 聚 醯 亞 胺 (Ρ 〇 J y i m i d e )( 1) 或 者 該 聚 醢 亞 胺 事 項 J I 再 ! (Ρ 〇 1 ϊ i m l d e )⑴之 前 驅 物 質 之 清 漆 t 塗 敷 於 非 熱 塑 性 聚 醯 填 裝 本 亞 胺(Ρ o 1 y i IB 1 d e )之薄膜上 接著 在進行過乾燥處理 、-· 1 1 Μ 及醢 亞 胺 化 作 業 之 後 使 得 .> -t·. 刖 逑 之 熱 塑 性 聚 醒 亞 胺 1 1 I (Ρ 〇 1 y i mi d e )(1) 層 合 體 之 表 面 接 合 於 基 底 金 靥 之 表 面 上 1 1 9 然後 再 進 行 著 層 合 Μ 及 加 熱 壓 接 處 理 的 方 法 0 [ 訂 5)在 飼 萡 上 按 眧 順 序 地 層 合 上 非 熱 塑 性 聚 醯 亞 胺 1 I (Ρ 〇 1 y i mi d e )之前驅物質 Μ及熱塑性聚醯亞胺 1 1 (Ρ ο 1 y i mi d e )⑴ 之 前 驅 物 質 之 清 漆 接 著 在 進 行 UEL 週 乾 燥 1 1 i 處 理、 以 及 釀 亞 胺 化 作 業 之 後 使 得 前 述 之 熱 塑 性 聚 醯 亞 1 Λ 胺 (ρ ο 1 y ί Πϊ 1 d e )( 1)層 合 體 之 表 面 接 合 於 基 底 金 靥 之 表 面 ι 1 上 ,然 後 在 進 行 過 層 八 α 以 及 加 熱 壓 接 處 理 之 後 根 摟 一 1 1 般 常用 之 方 式 而 除 去 * 刖 述 之 銅 箔 的 方 法 〇 1 I 6)在 基 底 金 靥 之 上 按 昭 順 序 地 層 合 上 熱 塑 性 聚 醯 亞 胺 1 1 (Ρ 〇 1 y i aide )( 1) 之 薄 膜 Λ 非 熱 塑 性 聚 醢 亞 胺 (P 〇 1 y i m i d e ) 1 ! 之 薄膜 Μ 及 熱 塑 性 聚 臞 亞 胺 (P ο 1 y i W. 1 d e )(2) 之 薄 膜 此 1 1 外 ,遒 搭 載 上 該 與 前 述 之 熱 塑 性 聚 豳 亞 胺 (P ο 1 y i mi d e ) ( 2 ) 1 1 之 薄膜 之 間 的 黏 著 力 相 當 微 弱 之 截 氟 龍 薄 膜 f 接 著 在 進 f I 行 過加 熱 壓 接 處 理 之 後 » m 離 掉 前 述 之 鐵 氟 龍 薄 膜 的 方 法0 1 1 -ο ο 本紙張尺度適用中國國家嫖準{ CNS ) Λ4規梏(210Χ297公尨) 23 419796 A7 經濟部中央標率局員工消費合作社印製 B7五、發明説明(2ί ) 7) 在非熱塑性聚_亞胺(Polyiraide)之薄膜之某1個面上 ,塗敷有熱塑性聚醯亞胺(P〇lyUide)(l)、或者該熱塑性 聚醯亞胺(f>o丨yimideMl)之前驅物質之清漆*並且,在前 述之非熱塑性聚醯亞胺(polyiraide)之薄膜之另外1個面上 ,遨塗敷有熱塑性聚醯亞胺(P〇〗yi»iide)(2)之薄膜、或者 該熱塑性聚醯亞胺(P〇Iyimide)(2)之前驅物質之清漆,接 著*在進行過乾煉處理、K及醢亞胺化作業之後1使得前 述之熱塑性聚醯亞胺(PolyiaHeMl)層合體之表面,接合 於基底金屬之表面上,然後,再進行著層合Μ及加熱壓接 處理的方法。 8) 在鋦箔上,按照顒序地層合上熱塑性聚醢亞胺 (poly丨aiide)(2)之前驅物質、非熱塑性聚醯亞胺 (polyimide)之前驅物質、Μ及熱塑性聚醢亞胺 (polyiinide)U)之前驅物質之清漆,接著,在進行過乾燥 處理、Μ及醯亞胺化作業之後,使得前逑之熱塑性聚醢亞 胺(Ρ〇丨yiioide)(l)層合體之表面,接合於基底金靥之表面 上*然後,在進行過層合Μ及加熱壓接處理之後,根據一 般常用之方式,而除去前逑之飼萡的方法。 此外,該將兼具有黏著性之聚醯亞胺(polyimide)樹脂 、或者該聚醢亞胺(polyiroide)樹脂之前驅物質之清漆, 塗敷於基底金靥之上,接著,進行乾燥處理,並且還随著 實際之需要*而進行著醯亞胺化之作業的方法之例子,就 正如以下所敘述的。 1)在基底金屬上,塗敷有熱塑性聚_亞胺(polyinn’de) (請先閱讀背面之注意事項再填βΓ·3本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4^格(2ίΟΧ 297公沒_ ) 419796 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印繁 五、發明説明 (22) 1 1 (2 )之薄膜、 或者該熱塑β 聚醢®胺(P0 1 y i ra i d e ) ( 2 )之前 1 1 I 驅 物 質 之 清 漆 9 接 著 進 行 乾 燥 處 理, 並且 還隨著實際之 1 I 需 要 t 而 進 行 著 醢 亞 胺 化 之 作 業 的 方法 0 請 先 Μ 1 1 I 2) 在 基 底 金 龎 上 3 塗 敷 有 非 熱 塑 性聚 醢亞 胺 讀 背 1 1 (P 〇 1 y i hi i d e )之薄膜、 或者該非熱塑性聚醯亞胺 之 注 [ 1 意 \ 1 (P 〇 1 y i IB i de)之前驅物質之清漆, 接著, 進行乾燥處理, 事 項 1 I 1 並 且 遒 随 著 實 際 之 需 要 > 而 進 行 著 醯亞 胺化 之作業的方法。 填 本 裝 3) 在 基 底 金 鼷 上 > 按 照 顒 序 地 塗 敷有 熱塑 性聚醯亞胺 頁 1 I (P 〇 1 y i mi d e )( 1) 或 (2)之薄膜之前驅物質之清漆、K及非 1 t 熱 塑 性 聚 醢 亞 胺 (P 〇 1 y ί mi d e )之薄膜之前驅物質之清漆, I I 狀 後 進 行 著 乾 燥 處 理 > 以 及 醯 亞 胺化 作業 的方法。 1 訂 就 正 如 前 面 所 敘 述 的 係 有 著 數 個之 所謂 可以在基底金 1 1 靥 之 背 面 上 而 層 合 有 聚 tP·*& 趣 亞 胺 (P ο 1 y i m ί de)之時機存在著 ! 1 〇 在 前 述 之 方 法 中 特 別 是 最 好 適 用該 按照 順序地層合有 1 1 電 路 形 成 有 m 萡 表 面 聚 藤 亞 胺 (P ο 1 y i in i d e )層、基底金 1 靥 Μ 及 μ m 面 聚 ]C-tt 臨 亞 胺 (P ο 1 y i mi d e )層 或者按照順序地 1 層 合 有 電 路 形 成 有 飼 箔 表 面 聚 醒 亞胺 (ρ 〇 1 y i in i d e )層、 1 f 基 底 金 屬 背 面 聚 m 亞 胺 (P 〇 1 y i mi d e )層、以及飼箔之後 1 I f 接 著 r 同 時 地 進 行 著 加 熱 壓 接 處 理, 而形 成有金羼基底 1 1 半 導 體 電 路 基 板 的 方 法 〇 ί ! 其 理 由. » 就 正 如 Μ 下 所 敘 述 的 0 1 1 1) 由 於 對 於 基 底 金 龎 之 表 面 背 面 之聚 醯亞 胺 1 I (F 0 1 y i tn 1 de)層 I同時地進行著加熱壓接處理,因此,可 1 I Μ 1次就完成該層合作業 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(210X 297公觉) 25 419796 經濟部中央標準局員工消費合作社印策 A7 B7五、發明説明(23) 2) 在金屬基底半導體電路基板之引深加工及彎曲加工作 業之中,該基底金屬之厚度,會影響到該加工精密度。但 是,藉由使用聚醯亞胺(polyimide)層而被覆住前述之基 底金屬之表面背面,K便於在銅箔上而彤成有電路之時, 能夠使得前述之基底金羼,並不會接觸到鋦萡之蝕刻疲, 因此*該基底金屬之厚度》並不會發生有變化。 3) 在按照順序地層合有電路形成有銅箔、表面聚醯亞胺 (polyimide)層、基底金屬、背面聚藤亞胺(polyimide)層 、以及鋦箔之狀態下,遒會具備有以下之儍點。 3-1)在進行聚醸亞胺(polyimide)之蝕刻處理而形成有 盲孔(via ho i_e)之後*接著,在前述之盲孔(via hole)內 之聚醯亞胺(poly丨rnide)表面上,進行著無罨解飼電鍍以 及電解銅電鍍作業,Μ便於達到電路用飼箔和基底金屬之 間的導通效果。在僅使用聚醯亞胺(polyiiide)層而覆蓋 住前述之基底金屬之背面之狀態下*由於無電解銅電鍍金 臛之電氣導電度比較低,因此,在進行著電解銅電鍍作業 之時*會產生有氫氣等之氣體*而使得前逑之無電解銅電 鍍金靨Μ及電解銅電鍍金羼,發生有膨脹現象,Μ至於在 搬運途中,該無電解铜電鍍Μ及電解飼電鍍,會產生有剝 離之現象。结果,會發生有所謂圼剝離掉之铜箔Μ及銅粉 污染到電鍍槽等之問題。在藉由飼箔而被覆住大部分之背 面聚醯亞胺(polyimide)層之狀態下,並沒有専致所謂氣 體產生等之現象•因此,在基底金屬之背面上,也可Μ相 當順利地進行著電鍍作業。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規栺(2丨0X2W公飨) ~ -2 6 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 4 1 9 T 9 6 a? Β7 經濟部中央標隼局員工消費合作社印製 五、發明説明 (24 ) 1 1 3- 2) 在 附 加 有 檢 測 用 端 子 之 金 龎 基 底 半 導 體 電 路 基 板之 1 1 狀 態 下 f 係 使 用 該 形 成 為 圖 案 之 飼 箔 > 作 為 基 底 金 屬 之背 1 1 面 的 蝕 刻 用 阻 劑 〇 圼 選 擇 性 地 對 於 該 覆 蓋 住 前 逑 之 檢 潮用 請 1 先 1 端 子 之 的 面 聚 醯 亞 胺 (Ρ ο 1 y i mi d e )層 進行著蝕刻加工 閱 讀 1 1 處 理 0 像 瑄 樣 前 述 之 處 理 係 可 Μ 相 當 有 效 地 使 用 於 前述 ιδ 之 1 1 之 檢 測 用 端 子 Μ 外 之 部 分 之 聚 醢 亞 胺 (P ο 1 y ί mi d e )層上。 ’意 事 1 項 1 3- 3) 在 電 路 加 工 面 上 , 可 以 藉 由 液 體 或 者 氣 體 而 同時 再 填 1 地 進 行 著 該 用 形 成 有 盲 孔 (V i a h 〇 1 e ) 的 聚 醯 亞 胺 寫 本 百 笨 I (ρ 〇 1 y i m i d e )蝕刻處理 Μ及該用以形成有基底金羼之背 ·· 1 1 面 之 檢 測 用 端 子 的 聚 醯 亞 胺 (P ο 1 y i mi d e )蝕刻處理 > 1 1 I 該 作 為 用 以 對 於 聚 醯 亞 胺 (P ο 1 y i m ι d e )層而進行著蝕刻 1 1 訂 處 理 之 蝕 刻 用 液 體 係 有 -— 般 已 知 之 聯 胺 (h y d r a z i n e )和 1 ΚΟΗ之水溶液 > Μ及羥基肟(h y dr 0 X y - ox im e ) 和 Κ0Η之水溶 1 1 液 至 於 氣 體 ΛΙ tf. 則 適 合 使 用 NF 3 " 及cf3 等 之 電 漿 用 氣 體。 1 I 如 果 該 在 本 發 明 中 之 熱 塑 性 聚 醢 亞 胺 (P ο 1 y i mi d e )(1)層 1 1 9 係 為 具 備 有 以 下 所 敘 述 之 特 性 的 聚 醢 亞 胺 (Ρ 0 1 y i m i d e ) Λ 1 層 的 話 則 不 管 其 構 造 等 條 件 為 何 皆 可 Μ 作 為 熱 塑 性聚 f 1 醢 亞 胺 (P 〇 1 y i ID 1 d e )(1) 層 0 也 就 是 說 其 玻 璃 轉 移 溫 度, 1 1 馀 為 1 2 0 t: Μ 上及 3 0 0 υ Μ 下 並 且 該 在 玻 璃 轉 移 溫 度+ 1 I 30 之 狀 態 下 的 彈 性 係 數 係 為 該 在 玻 璃 轉 移 溫 度 之 狀態 1 1 1 下 的 彈 性 係 數 之 1/ 100M 下 最 好 為 1 / 1000M 下 >此外 1 i 9 在 非 熱 塑 性 聚 醯 亞 胺 (Ρ ο 1 y i mi d e )層上而層合有前述之 i 1 熱 塑 性 聚 醚 亞 胺 (P 0 ] y i m i d e )(1) 層 之 狀 態 下 該 層 合 薄膜 1 1 的 延 伸 率 » 係 為 2 0 Μ 上 , 但 是 最 好 為 30 % Μ 上 (係根據 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4规格(210Χ297公#_ ) - 27 - 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 419796 . A7 B7五、發明説明(25) ASTM(美國材料試驗協會)D882而測定出前述之延伸率)。 就層合可靠性而言*聚醯亞胺(polyimide)層和基底金 屬之間的剌離時黏著力,係為0.5kg/cmM上,最好為 0.8kg / cfflM 上。 如果玻璃轉移溫度低於1 2 0 υ的話,則會使得該在進行 銲錫迴焊(reflov)時之膨脹問題,浮現到墦面上。如果玻 璃轉移溫度高於300t的話,則在藉由加熱壓接處理而將 聚醯亞胺(polyiraide)層•層合於基底基板之狀態下,必 須要使用330亡以上之高溫*因此,並不適合被使用在實 際的生產作業上。於該在玻璃轉移溫度+ 30¾之狀態下的 彈性係数大於該在玻璃轉移溫度之狀態下的彈性係數之1 /100的狀態下,在將聚醯亞胺(polyimide)層*層合於基 底基板上之狀態之時,必須要使用高溫从及高壓。此外, 在層合有熱塑性聚醯亞胺(PolyimideMl)曆和非熱塑性聚 醯亞胺(polyimide)層之層合體的延伸率,小於20%之吠 態下,則在進行著引深加工作業之時•相當容易地發生有 薄膜之裂縫現象。熱塑牲聚醯亞胺(Polyimide)U)層之厚 度,係為lOwmM下、0.5wmM上,但是最好為5umK下 、:U mK上。在熱塑性聚醢亞胺(P〇lyim[de)(l)層之厚度 超過10wm之狀態下,由於吸水作用的闞係•因此在進行 著銲鋦迴焊(reflow)之時,很可能會發生有所謂之膨脹現 象,因此,會使得該在進行著打線(wire-bonding)作業下 之超音波吸收特性,變得比較大。並且,在熱塑性聚醢亞 胺(PolyinideMl)層之厚度未滿0.5wtn之狀態下,則會使 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(210X 297公麓) -28 - t II ------r - I -<^^1 I^---I ^—^1 1— -I -- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 419796 at B7五、發明説明(如) 得聚藤亞胺(polyiiaide)層和基底金羼之間的黏著性圼降 經濟部中央標隼局負工消t合作杜印製 本發明之熱塑性聚醯亞胺(P〇lyimide)(2)層,其玻璃轉 移溫度,係為200 t以上及350 t: K下,但是最好為230 T: K上及30010K下;並且,該在玻璃轉移溫度+ 301之吠 態下的彈性係數,僳為該在玻璃轉移溫度之狀態下的彈性 係數之1/10以下_但是最好為1/50M下、1/1000以上 。也就是說,係意味著:在層合有前述之熱塑性聚醢亞胺 (P〇Uimide)(2)層和非熱塑性聚醢亞胺(polyimide)層之 狀態下,前述之聚醯亞胺(P〇丨yimide)層,偁為前述之層 合薄膜之延伸率為20 % Μ上之聚醯亞胺(po ly iiaide)層(係 根據ASTH (美國材料試驗協會)D 8 82而測定出前逑之延伸 率)。此外*在層合有基底金屬之狀態下,前述之層合體 之延伸率,係為5 % Μ上。如果可Μ滿足前述之特性的話 *則該熱塑性聚醯亞胺(P〇lyimide)(2)層,也可Κ與前述 之熱塑性聚醢亞胺(P〇lyimide)(l)層為栢同之熱塑性聚醢 亞胺(polyiieide)層。 就層合可靠性而言,聚醯亞胺(polyimide)層和基底金 屬之間的剝離時黏著力,係為〇.5kg/cmM上,但是最好 為 0.8kg / cmJi(上。 如果玻璃轉移溫度低於2 0 0 t的話·則會使得該在2 00 以上之溫度中而维行著之打線(wire-bonding)作業,發生 有所謂之超音波吸收現象,因此*會導致該打線Uire-bondins)作業特性呈降低,同時*遒發生有所謂聚醚亞胺 ^^^1 41— ^^^1« -I I / -. i ^^^^1 一「 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS ) A4規袼(210X297公f ) 29 A7 B7 五、發明説明(27) 線 打 於 稻 缝 \1/ 0 d π ♦ 1 y l^x 象 現 之 上 具 治 用 胺 亞 醯 聚 性 塑 熱 於 由 說 是 就 也 層 其 面 表 之 靥 金 底 基 謂 所 HMJ 至 達 夠 能 此 因 大 較 比 數 係 脹 膨 熱 下 。態s Η - 之 之 層 等)F 衡de 平ml 呈yi 數 Ο 係(p 0 胺 ΟΠΗ Ho 膨亞 熱醢 之聚 面性 背塑 和熱 非 有 用 併 在 是 但 醢 聚 性 塑 熱 於 • 1 m y ο ρ //y 胺 亞 滿 未 度 厚 之 層 吠 之 衡 平 圼 數 係 脹 膨 熱 之 面 背 和 面 表 之 屬 金 底 基 之 述, 前果 ' 效 下 之 態等 為 成 變 會 就 e d * 1 ffl *1 y 胺 亞 醢 聚 性 塑 熱 在10 , 過 外超 此度 ο 厚 少之 地 層 當 2 相)( 下 態 狀 之 m 金 底 基 則 (請先閲請背面之注意事項再填寫本頁) 裝- 胺 亞 醯 聚 個 各 之 上 面 背 之 度 厚 總 計 合 之 層 在 〇 大 較 比 得 變 會 ^.1 阻 電 熱 其 得 使 而 厚 較 比 得 變 會 胺 亞 醯 聚 性 塑 將 地 獨 翬金 底 基 於 合 層 層 ,-β 胺 亞 醢 聚 性 塑 熱 於 下 態 狀 之 上 屬 之 層 面此 背 因 和 -面少 表地 之當 屬相 金為 底成 基變 之 會 ", 前果 ’ 效 下之 態等 狀衡 之平 ffl圼 ti 1 數 0.係 滿脹 未膨 度 熱 厚之 ο 3 曲 彎 著 行 進 在 象 規 斷 破 0 所 有 生 發d€ 地 E 易yl 容01 當(P 相胺 , 亞 下醢 態聚 狀性 之塑 工熱 加在 深 -引 且 和並 Η 。 經濟部中央標隼局員工消費合作社印焚 下 態 狀 之 In y ο 5 過 超 度 厚 之 層 也 胆 電 熱 其 得 使 大 較 比 得 變 會 此外*本發明之非熱塑性聚醢亞胺(polyimide)層,其 玻璃轉移溫度,係為2001以上•並且,該在玻璃轉移溫 度+ 3010之狀態下的彈性係数,係為大於該在玻璃轉移溫 度之狀態下的彈性係數之1/10;而且*前述之單獨之聚 醯亞胺(polyimide)之厚度25wm之薄瞑之延伸宰•像為20 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS ) A4规格(2!0X297公f ) " 3 0 一 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明 (28) 1 % 以 上 r 但 是 最 好 為 30 % Μ 上 (係根據ASTM ( 美 國材料試驗 1 1 協 會 ) D88 2 而 測 定 出 前 述 之 延 伸 率)( 1 1 就 層 合 可 靠 性 而 言 * 聚 醯 亞 胺 (p ο 1 y i 1 i d e )層和基底金 請 1 先 ! 屬 之 間 的 剝 離 時 黏 著 力 係 為 0 . 5kg/ c m Μ上* 但是最好 Μ 讀 I 1 為 0 . 8k s / c m以上c 之 [ 注 1 如 果 玻 璃 轉 移 溫 度 低 於 2 ο ο υ的話 則會使得該在2 0 0 "Π 意 事 I 項 I 以 上 之 溫 度 中 而 進 行 著 之 打 線 (W ire- bo n d in S ) 作業,發生 再 填 有 所 m 之 超 音 波 吸 收 現 象 因 此 ,會 導 致 該 打 線(v i r e - 寫 本 頁 装 I b 〇 n d i η g) 作 業 特 性 呈 降 低 0 在 前 述之 聚 醢 亞 胺 ^ 1 I (P 0 1 y i mi d e )之厚度25 w m 之 薄 膜 之延 伸 率 低 於 20 %之狀態 1 1 下 於 進 行 著 引 深 加 工 作 業 之 時 ,在 前 述 之 薄 膜上,係相 1 1 訂 當 容 易 地 發 生 有 所 明 之 裂 縫 現 象 〇 1 在 本 發 明 中 該 層 合 於 基 底 金 屬之 背 面 上 之 各個之聚瞌 1 1 亞 胺 (P ο 1 y i mi d e )之合計總厚度 係為0 .5 U 祖K上、5 0 u a I I Μ 下 但 是 最 好 為 30 U m以下 =當前述之厚度超過之 Ϊ 1 Λ 時 則 會 使 得 金 屬 基 底 半 導 體 電 路基 板 之 某 1項之特徵, 1 也 就 是 所 謂 金 饜 基 底 半 導 體 電 路 基板 之 敗 熱 性 ,圼現出減 1 ! 少 之 琨 象 〇 登 FT1 前 述 之 厚 度 為 0 . 5 ϋ m以 下 之 時 則會發生有 1 1 薄 膜 之 缺 陷 現 象 於 進 行 著 引 深 加工 作 業 之 時 ,在前述之 1 I 薄 膜 上 相 當 容 易 地 發 生 有 所 諝 之裂 缝 現 象 〇 1 1 I 就 正 如 前 面 所 敘 述 的 t 基 底 金 臑和 聚 醢 亞 胺 (P 〇 1 y i m i d e ) 1 1 層 之 間 的 剝 離 時 黏 著 力 係 為 〇. 5kg/ c m以上 但是最好 1 1 為 0 . 8k s / c m Μ上 =就該作為用Μ實琨前述之效果的手段 1 1 而 言 底 基 金 屬 之 表 面 處 理 和 聚 醢亞 胺 (P ο 1 y i m i d e )樹脂 I 1 本紙張尺度適用中國國家標孪(CNS ) Λ4規梠(2丨0X297公费) -3 1 - 41 9 79 6 a7 137 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明 (29 ) 1 1 之 選 擇 > 係 相 當 地 重要 f 但是 ,如 果可以滿足前述之特性 1 1 的 話 則 並 沒 有 特 別地 限 定樹 脂之 種類。該作為基底金靥 1 1 之 表 面 處 理 之 適 當 之例 子 *係 有三 菱伸飼(股 )公司製之氧 請 1 先 1 化 鉻 (產品名稱: P lama t e )處理、或者銅萡之 表 面處 理 中 閱 讀 I f t 之 所 使 用 之 Hi / C u 合金 處 理、 Hi/ C U / C 0合金處理 Μ及 & 之 1 注 | n i / Cu / Mo / C u 合 金處 理 等。 意 京 1 Ύ 項 I 此 外 t 該 作 為 埶 塑性 聚 醯亞 胺(f> 〇 1 y i πϊ i d e ) (1 ),係可Μ 再 填 1 適 用 該 聚 合 有 曰 本 專利 持 開昭 62-053827號之 所 記載 之 寫 本 頁 裝 | 3 , 3 ' -二胺基苯氣基苯和3 .3 ', 4,4' 二苯甲酮四羧酸二酐而 、, 1 1 得 到 之 聚 醯 亞 胺 (P 〇 1 y ϊ IH ί d e )、 K及該聚合有 3, 3 ’ -二胺基 1 1 I 苯 氧 基 苯 和 3 , 3 ' ,4 ,4'苯并醚四羧酸二酐而得 到 之聚 盤 亞 1 1 胺 (P ο 1 y ί m i d e )等 c 並且, 該作為熱塑性聚醯 亞 胺 訂 1 (ρ ο 1 y i m ί d e )(2) , 係可 以 適用 該聚 合有3 , 3 '- 二 胺基 二 苯 1 I 甲 酮 和 3, 3 ' ,4 ,4 '二苯甲酮四羧酸二酐而得到 之 聚醢 亞 胺 I | (P 〇 1 y i m i d e )、 該聚合有4 * 4 f - 二胺 基苯基醚和3 ,3 ', 4, 4 , 1 1 聯 苯 四 羧 酸 二 酐 而 得到 之 聚醯 亞胺 (poly i m i d e) 、該 聚 合 1 有 4, 4 ' -貳(3- 二 胺 基苯 氧 基)聯苯和苯四甲酸 二 酐等 而 得 1 1 到 之 聚 m 亞 胺 (P 〇 1 y i la i de )、Μ及三井化學(股)公司 製 之 ί | R e ε u 1 u s ( 產 品 名 稱 )等 ϊ 1 1 該 作 為 非 熱 塑 性 聚醯 亞 胺(Ρ 〇 1 y i ir i d e )層, 係 可Μ 適 用 1 1 1 該 將 聚 醯 亞 胺 (P ο 1 y i hi i d e )之前驅物質|塗敷 於 基底 金 屬 1 1 上 接 著 經 過 乾 燥 處理 > 以及 醯亞 胺化處理 而成為該具 f 1 備 有 黏 著 性 之 聚 酿 亞胺 (P 〇 1 y i m ί d e ),或者也 可 以適 用 市 1 1 面 上 所 販 賣 之 東 麗 杜邦 公 司之 C a p t on Η 、 V ^ E ΕΝ- ZT (商 I 1 本紙張尺度適用中國圈家標準(CNS ) ( 210X297公焙) -32 - A7 B7 經濟部中央標隼局貝工消費合作社印裝 五、發明説明 (30) 1 品 名 稱 )、 宇部興產公司之E up i 1 e x SG A (箱 ί品名稱) > 鐘 淵 1 ί 化 學 公 司 之 Αρ 1 C a i AH、 NP I (商品名稱) 等 產 品 S VX 便 於 在 i 1 35 : 65之 當 量 比 之 狀 態 下 j 而 將 曰 本 專 利 特 開 昭 62 — 請 1 先 1 208690所 記 載 之 間 位 (HI e t a )配 位 芳 香 族 二 胺 及 對 (P a r a)配 閱 讀 1 1 位 芳 番 族 二 胺 與 芳 香 族 酸 二 酐 * 發 生 著 聚 合 反 愿 , 而 生 ιδ 之 1 1 成 為 聚 醢 亞 胺 (Ρ ο 1 y i mi d e )c 意 窜 ! 項 I 為 了 更 加 有 效 果 地 實 施 本 發 明 9 因 此 最 好 再 採 取 前 述 之 再 填 1 基 板 的 鬻 曲 解 決 對 策 〇 至 於 具 體 之 内 容 就 正 如 Μ 下 之 例 寫 本 裝 頁 1 子 所 顯 示 的 〇 1 I 1) 在 並 不 會 妨 礙 到 重 量 限 制 Λ 引 深 彎 曲 加 工 以 及 檢 1 1 測 用 端 子 形 成 作 業 之 範 圍 内 增 加 前 逑 基 板 之 厚 度 〇 1 1 2)在 並 不 會 妨 礙 到 引 深 彎 曲 加 工 之 精 密 度 之 範 圍 内 提 IT 1 高 1 r- 月U 逑 基 板 之 彈 性 係 數 〇 ! 1 3) 在 並 不 會 妨 礙 到 層 合 作 業 Λ 樹 脂 蝕 刻 作 業 % Η 及 引 1 I 深 彎 曲 加 工 之 範 圍 内 降 低 電 路 絕 緣 用 聚 醢 亞 胺 1 I ,Ά (P ο 1 y i mi d e )樹脂之熱膨脹係數 > 1 4) 在 可 Μ 滿 足 所 需 要 之 可 靠 性 的 範 圍 内 y 使 得 焊 料 用 m 1 1 劑 之 厚 度 變 得 比 較 薄 並 且 m 使 用 熱 膨 脹 像 數 及 彈 性 係 數 ί I 比 較 低 的 樹 脂 0 1 I Μ 下 9 則 藉 有 實 腌 例 > 而 就 本 發 明 負 來 進 行 相 m 之 說 明。 1 I Ι [ 實 施 例 ] 1 ! (實胞例1 ) i 1 使 用 二 甲 基 乙 ICjff 膝 胺 (d i π e t h ϊ 1 a c e t a 頂i d e )作為溶劑 ,並 1 I 且 Μ 1 :0 . 9 9之當量比 ,混和人3 .3 * _ -二 胺 基 苯 氧 基 苯 Η 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4说格(210X297公釐) -33 ~ 經濟部中央標隼局员工消費合作社印製 Λ7 B7五、發明説明(H) 及3,3',4,4夂二苯甲嗣四羧酸二酐,接著在251之狀態下 ,進行2 4小時之反應,而得到醯胺酸溶液(Μ下則作為P A A-A) 0 使用模塗敷器,將前述之PAA-A,塗敷在厚度25Wm之 Capton Η (東麗杜邦公司製)之兩個面上,於100〜200t之 狀態下,進行著乾燥處理,而且在220〜260C之狀態下, 進行著醢亞胺化處理,最後再進行著乾燥處理。使得該形 成於前述之Capton Η(商品名稱)之兩個面上之PA A-A*發 生有醯亞胺化反應;有關於該由前述之醢亞胺化反應而形 成之聚醢亞胺(Polyimide)A(M下則作為PI-A)之厚度,其 各個面之厚度•皆為使用該在厚度25wm之Capton Η(商品名稱)之兩個面上而層合有厚度1之PI-A的薄膜 •作為结合合成用薄膜(bondply)A。 此外*與在前述之厚度25w m之Capton Η(商品名稱)之 兩個面上而塗敷有ΡΑΑ-Α之狀態同樣地,而在厚度25ϋΐη之 Capton Η (商品名稱)之單一面上而塗敷有PAA-A |接著進 行著乾燥處理、以及醯亞胺化處理。該形成於前述之 Capton Η(商品名稱)之單一面上的ΡΙ-Α之厚度,係為3wm 。而且,遇使用該在厚度25// m之Capton Η(商品名稱)之 單一面上而層合有厚度3wra 之PI-A的薄膜,作為覆蓋用 薄膜A。 前述之PI-A僑為熱塑性聚_亞胺(polyimide),其圾璃 轉移溫度為198T:,而該在玻璃轉移溫度+ 301C之狀態下 的彈性係数,係為該在玻璃轉移溫度之狀態下的彈性係數 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4現栝(210X297公釐) -34 _ ^^1 n^— - - - - - -fc - - - -I - n^l f ^^^1 .^ϋ - I 二—, 牙 T功 (請先閲讀背而之注意事項再填商本頁) 經濟部中央標隼局員工消費合作社印製 419796 a7 B7 五、發明説明(32 ) 之1/700。前述之Capton Η(商品名稱)係為非熱塑性聚醯 亞胺(polyimide),其玻璃轉移溫度為4001CM上,而延伸 率則為8 0 %。此外*前述之結合合成用薄膜(b ο n d p 1 y ) AM 及覆蓋用薄膜A的薄膜之延伸率,係分別地為55¾ 、以及 6 0 % 〇 接著,按照順序地層合上厚度18ϋΐη之壓延銅箔(BHN-02BT日本能源(ENERGY)公司製)U〇4)、结合合成用薄膜 (bondply)A、厚度0.3fflra之基底掘板(C-1020三菱伸飼公司 製)(002 )、Μ及覆蓋用薄膜A,並且還使得前述之覆蓋用 薄膜A之熱塑性聚釀亞胺(poiyiinide)面*接觸到前述之基 底銅板(002)面。在真空中,於溫度250T:及壓力65kg/cm2 之狀態下,對於前述之所得到的層合體,進行著60分鐘之 沖壓成彤處理。於日本電解(股)公司,藉由Hi、及Co等之 電氣電鍍作業,而在前述之基底銅板(002)之兩個面上* 進行所謂黏著力改善用之表面粗化處理。使用前述之成形 品,作為金靨基底基板(1)。經過確認:該金靥基底基板 (1)之全部之層間之黏著力,係為0.8kg/cm2 Μ上。 在圖8中之所顯示出的*係為金龎基底基板(1)之剖面模 式圖。在前逑之圖8中,元件編號012係為结合合成用薄膜 (botidplyU*而元件編號500係為覆蓋用薄膜Α。使用該層 合品,而製造出像圖4所示之金靥基底半導體電路基板。 在前述之圖4中*元件编號01 2係為結合合成用薄膜 (bondply)A,而元件煸號500偽為覆蓋用薄膜/\。 接著,進行Μ下所敘述之製造作業。使用蝕刻用阻劑, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規袼(210X297公楚) -35 - · ..... tmI 一 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 419796 A7 B7 五、發明説明(33') 而在壓延飼箔上,描繪出圈案;然後,藉由氯化銅 (CuCU),對於前述之歷延嗣萡•進行蝕刻處理,而形成 出銅電路(102)、Μ及壓接縫合(bonding-stitch)部U00) ,並且,遨在導電體電路上,塗敷上厚度20wm之感光性 焊料用阻劑(太陽墨水公司製造、商品名稱:PS R 4000)。 然後,再彤成出圖案,接著*還形成有阻劑用墨水層 (δ 00)。此外,還進行深度0. 4 πππ之引深加工處理,以便於 形成出金靨基底半導體電路基板之模搭載用座台 (1 000)(13am角)。接著,再藉由無電解電鍍法,Κ便於形 成出該由Ni罨鍍(3« m)及Au電鍍(0.5w in)所組成之罨鍍層 (700) *而得到該面朗上型(face-up type)之BGA(Ball Grid Array :球聞陣列)用之角的金靨基底半等體電 路基板。其引深部之最小曲率半徑,係為0.8mm。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經過引深加工後之檢査作業•在前述之基底鋦板(1)兩 個面之聚醢亞胺(polyimide)層上,完全並無檢査出任何 之裂鏠等之外觀異常現象。並沒有受到該電鍍於電路部位 中之壓接縫合(bonding-stitch)部和銲錫球搭載用襯墊上 之Hi電鍍Μ及Au電鍍的影響,在金靥基底半導體電路基板 之背面上之背面聚醚亞胺(polyimide)層之表面,完全並 無形成有任何之電鍍金屬,而且,該電锻液|也完全並無 滲透沾染於前述之背面聚醢亞胺(polyimide)層之表面和 基底飼板(002)之間的界面中。圖4係為在搭載有半導體晶 片(1001)而藉由金線(1010)進行著打線Uire-bonding)作 業之狀態下的金匾基底半専體電路基板的模式圖。 本紙張尺度適用中國國家標準{ CNS ) Λ4規格(210X297公釐) -36 - 經濟部中央樣準局貝工消費合作社印" ! 419 7 9 6 ; A7 B7五、發明説明(31) 前述之背面聚醯亞胺(polyiraide)層之表面之IR(紅外線 )吸收率,係為90¾ K上,大於該被樹脂所封裝住之四遴 扁平型封裝體(Quad Flat Package:以下則稱為QFP。)之 表面之80%的IR(紅外線)吸收率,因此,該背面聚醯亞胺 (polyimide)層之表面之IR (紅外線)吸收率,係相當地良 好。在前述之金屬基底半導體電路基板,搭載上直徑 〇.76πιιιι0之共晶銲錫球,並且,還在IR(紅外線)迴焊 (reflow)爐中*將前述之金屬基底半導體電路基板,與 QFP(Quad Flat Package:四邊扁平型封裝體)以及其他之 分離用零件,同時地進行表面構装處理,而構裝於該由 FR-4所組成之主機板上。調整前述之IR(紅外線)之輸出, Μ便於使得前述之FR-4之表面溫度,成為最高溫度之230 t。藉由熱電偶而測定出前述之金靥基底半導體電路基板 之基底金龎之溫度,结果,可以得知,該基底金靥之溫度 ,已經成為最高溫度之230Ό。 在進行過前述之表面構装處理之後》圼機械式地破壞掉 前逑之金臛基底半導體電路基板*而以便於檢査該銲錫球 接合於主機板上之接合面,结果發現到:所有之銲錫部分 ,皆已經被破壊掉,但是,該銲錫球接合之狀況,還是相 當地良好。此外,在藉由環氧樹脂黏著劑而將LSI(大型積 體雷路)接合於模搭載用座台上之後|使用超音波,在230 ΐ)之狀態下,將金(Au)線,Μ打線(wire-bonding)之方式 ,而連接至LSI(大型積體電路)之襯墊以及金屬基底半導 體電路基板之壓接链合(bonding-stitch)部之上。前述之 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS } Λ4規格(210X 297公# ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -37 - 經濟部中央標隼局貝工消費合作社印^ 419796 μ Β7 五、發明説明(35) 打線(wire-bonding)接合之狀況,係相當地良好·並無所 諝金屬基底半導體電路基板背面之聚醢亞胺(polyimide) 樹脂鏠褶(tuck)於打線(wire-bonding)用治具上的現象發 生。前述之金靥基底半導體電路基板之風速lm/sec狀態 下之熱抵抗,係為12C/W,因此*對於金屬基底半導體 電路基板背面之覆蓋用薄膜之影響,係相當地微小。 (比較例1) 除了並無層合有該覆蓋用薄膜A之外,其餘則進行與前 述之實施例1相同之加工作業,而得到BGA(Bali Grid Array:球閛陣列)用之金靨基底半導體電路基板。在該金 屬基底半専體電路基板之背面上,進行著Ni/Au電鍍處理 。前述之金屬基底半導體電路基板之背面之IR(紅外線)吸 收率,係為30 % Μ下。與前述之實施例1同樣地,在前述 之金匾基底半導體電路基板,搭載上直徑〇.76ββ4之共晶 銲錫球,並且,還在IR(紅外線)迴焊(refUv)爐中*將前 述之金屬基底半導體電路基板,與QFP(Quad Flat Package :四邊扁平型封裝體)Μ及其他之分離用零件,同時地進 行表面構裝處理,而構裝於該由FR-4所組成之主櫧板上。 調整前述之IR(紅外線)之輸出* Μ便於使得前述之FR-4之 表面溫度*成為最高溫度之2301C。藉由熱電偶而測定出 前述之金屬基底半導體電路基板之基底金靥之溫度,结果 ,可Κ得知*該基底金鼷之溫度,已經成為最高溫度之 230 10。 在進行過前述之表面構裝處理之後,圼機械式地破壊掉 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(210X297公麓) —W - n ^^^1 ·,1 --·:·.'. 士穴 ^—^1 I— I II 1 J - --I ^^^1 ^—1 .-¾ \ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標牟局員工消費合作社印製 419796 A7 B7 五、發明説明(36) 前述之金屬基底半導體電路基板,而以便於檢査該銲錫球 接合於主機板上之接合面,結果發現到:該銲錫球和金鼷 基底半導體電路基板之間的接合面,係為界面破壞現象, 幾乎沒有任何強度可言。接著,與前述之實施例1同樣地 ,在提高前述之IM紅外線)之輸出而使得前述之FR-4之表 面溫度成為280TC之時,提高金屬基底半導體電路基板之 基底金屬之最高溫度至230¾,而該銲錫球和主機板之間 的接合狀態,係相當地良好。但是,前述之樹脂所封裝住 之一郜份之QFP(Quad Flat Package:四邊扁平型封裝體) ,會發生有所諝之膨脹現象。並且,前述之金靨基底半導 體電路基板之風速lm/ sec狀態下之熱抵抗•係為11 °C/W。 (實施例2 ) 將該由實施例1中之所得到之PAA-A,與前述之簧施例1 同樣地,塗敷在厚度25wffl之Capton EN-ZT(東麗杜邦公司 製)之兩個面上*接著*進行著乾燥處理,而且•還進行 著醯亞胺化處理〇該胗成於前述之Capton SN-ZT(商品名 稱)之兩個面上之PI-A之厚度,其各個面之厚度,皆為5u hi。而且,遇使用該在厚度25uin之Capton EN-ZT (商品名 稱)之兩個面上而層合有厚度5wm之PI-A的薄膜,作為該 結合合成用薄膜(bondpIy)A^ 此外,遇準備有該在質胞例1中之所製造出之覆蓋用薄 膜A。前述之Capton EN-ZT (商品名稱)係為非熱塑性聚醢 亞胺(polyimide)之薄膜,其玻璃轉移溫度為400t以上| 而延伸率為60%K上。此外,前述之結合合成用薄膜 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規袼(210X297公荩) n n I--!------ 1 艮 . f —_ 丁---- n _ ·Λ 、vs (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -39 - 經濟部中央標举局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(37 ) (b ο n d p 1 y ) A '之薄膜之延伸率,係為45 % 。接著,按照順 序地層合上厚度18wm之壓延飼箔(BHN-0 2BT日本能源 (ENERGY)公司製)(104)、结合合成用薄膜(bondplyU1、 厚度0,2rara之基底綱板(C-1020 三菱伸铜公司製)(002)、 K及覆蓋用薄膜A,並且遒使得前逑之覆蓋用薄膜A之熱塑 性聚醢亞胺(Polyimide)層之表面,接觸到前述之基底銅 板(002)面。然後,在真空中,於溫度2501及壓力65kg/ cm3之吠態下,對於前述之所得到的層合體,進行著60分 鐘之沖壓成形處理。於日本電解(股)公司,藉由Ni、及Co 等之電氣電鍍作業,而在前述之基底飼板(002)之兩個面 上,進行所謂黏著力改善用之表面粗化處理。使用前述之 成形品|作為金鼷基底基板(2)。經過確認:該金屬基底 基板(2)之全部之層間之黏著力,係為l.〇kg/cm2 K上。 在圖8中之所顯示出的,係為金臛基底基板(2)之剖面模 式圖。在前述之圖S中*元件®號012係為結合合成用薄膜 (bondPly)A\而元件編號500係為覆蓋用薄膜A。使用該 層合品•而與前述之簧施例1同樣地,製造出像圖4所示之 金屬基底半導體電路基板。在前述之圖4中,元件编號012 係為結合合成用薄膜(bondply)A',而元件編號500係為覆 蓋用薄膜A。 進行與前述之實施例1相同之製造作業。對於前述之® 延飼箔(104),進行電路加工處理,而形成有銅電路(102) 、以及壓接縫合(bonding-stitch)(800);並且·在導電 體電路上,塗敷上厚度20ϋΐη之感光性焊料用阻劑(田村製 本紙乐尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ 297公# ) 邐· - -Μ 1 一 (請先閱讀背面之注意事項再填筠本頁) -40 - , 3 經濟部中央標嗥局員工消費合作社印製 A7 B7五、發明説明(38 ) 作所製造、商品名稱:BGX-5)之後·再形成出圖案,接著 ,還形成有姐劑用墨水層(600)。此外,還進行深度〇.4ιππι 之引深加工處理,以便於形成出金屬基底半導體電路基板 之模搭載用座台(IOOOMUiid角)。接著,再藉由無電解電 鍍法,以便於形成出該由Νί電鍍(3/iin)及Αιι電鍍(0.5wm) 所組成之電鍍層(700) >而得到該面朝上型(face-up type)之 BGA(Ball Grid Array:球閘陣列)用之 40πΐ!ΐι 角的 金靨基底半導體電路基板。其引深部之最小曲率半徑,係 為 0 · 8 m m。 此外,該由電路表面之相反部位而觀察到之俯視模式圖 *就正如圖9所顯示的。經過引深加工後之檢査作業,在 前逑之基底金屬之兩個面之聚醯亞胺(poiyiiaide)層上, 完全並無檢査出任何之裂鏠等之外観異常現象。並沒有受 到該電鍍於電路部位中之壓接Μ合(bondimsUtch)部和 銲錫球搭載用襯墊上之Hi電鍍K及Au電鍍的影響,在金屬 基底半導體電路基板之背面上之背面聚醯亞胺(polyhide) 層之表面,完全並無形成有任何之電鍍金屬,而且,該電 鍍液,也完全並無滲透沾染於前述之背面聚醯亞胺 (polyiniide)層之表面和基底銅板(002)之間的界面中。 在圖9中,Μ金屬基底半専體電路基板之角落,分別地 作為Xi、Χ2、Χ3、Κ及!U。並且,遒以引深部之外側之角 落,分別地作為h、丫ζ、、Μ及Λ。接著,堪連接上角 落父1以及角落1^。由角落丫,開始而至前述之角落I部位為 止,連成為一直線Xt—丫,,而將該僅在距離前述之角落丫 1 本紙張尺度適用中國國家標準(0~5)厶4規格(2!0/ 297公楚) „ t -4 1 - y 裝 1! 1 訂 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 419796 經濟部中央標準局員工消费合作社印製 A7 B7五、發明説明(39 ) 之Irani之位置上之點,作為a點;由角落\ ,開始而至前逑之 角落丫 ^ίί位為止*連成為一直線L 一丫L,而將該僅在距離 前述之角落Xiiliam之位置上之點,作為b點》使用前述之 a點,作為基準點,而測定出b點之高度。係使用非接觸式 雷射異位計(Keyence公司製之LT-8110),而進行高度之测 定作業。係在溫度2510、室內相對溼度(RH)30%之狀態下 、以及在進行升溫而達到之狀態下,分別地進行高 度之測定作業。將a點和b點之間的高度差,作為所謂之彎 曲程度;在b點比較高之狀態下,則該彎曲程度係成為” + ”。在溫度25t之狀態下,進行該成形調整處理,Μ便於 使得所諝之彎曲程度成為OiiBi。當升溫至185 °C之時,則 所謂之彎曲程度成為+ 60«ιβ。因此,前述之彆曲程度* 係在並不會造成任何之金鼷基底半導體電路基板之構装作 業上之問題產生之範圍内。 此外,在藉由環氧樹脂黏著劑而將UI(大型積體電路) 接合於模搭載用座台上之後,使用超音波,在230t之狀 態下,將金(Au)線,Μ打線(wire-bonding)之方式,而連 接至LSI(大型積體電路)之襯墊以及金匾基底半専體電路 基板之壓接鏠合(bondins-stitch)部之上。前述之打線 (wire-bonding)接合之狀況,係枏當地良好,並無所謂金 饜基底半導體電路基板背面之聚醯亞胺(polyUide)樹脂 縫褶(tuck)於打線(wire-bondins)用治具上的現象發生。 前逑之金靥基底半専體電路基板之風速lni/sec狀態下之 熱抵抗,係為12它/«,因此,對於金屬基底半導體電路 本紙張尺度適用中囷國家標準(CNS ) Λ4規栳(210X297公焓) -4 2 — (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) 419796 經濟部中央標準局員χ消資合作社印製 A7 B7五、發明説明(4()) 基板背面之覆蓋用薄膜之影響,係相當地微小。 (比較例2) 除了並無層合有該覆蓋用薄膜A之外*其餘則進行與前 述之實施例2相同之加工作業,而得到BGAUall G「id Ar「ay:球閘陣列)用之金鼷基底半導體電路基板。在該金 麕基底半導體電路基板之背面上1分別地進行著Νί電鍍及 Au電鍍處理,而電鍍上厚度3wm之Ni金靥Μ及厚度0.5μιβ 之Au金屬。在溫度25υ及室内相對溼度UH)30%之狀態下 ,進行該成形調整處理,以便於使得所謂之彎曲程度成為 Owin。當升溫至185¾之時,則所謂之彎曲程度,會增大 成為+ 380«m;而前述之彎曲程度,會使得金鼷基底半導 體電路基板之構裝作業,變得相當不容易進行。此外,前 述之金龎基底半導體電路基板之風速lm/seC狀態下之熱 抵抗,係為11/ W。 (苴施例3) 在該層合於基底金靥之背面部位上之熱塑性聚醯亞胺 (polyifflide)層,係使用二井化學(股)公司製之Regulus PM(產品名稱);而該三井化學(股)公司製之Regulus PM ( 產品名稱),其玻璃轉移溫度為240¾ ,而該在玻璃轉移溫 度下之彈性係數為3x 10M dyn/mffli,而該在2701溫度下 之彈性係數為2X lO^yn/raii^(為該在玻璃轉移溫度下之 彈性係數的2/300):其厚度為25wm,而延伸率為15 %。 此外1該由前述之Regulus PM(產品名稱)和基底飼板而組 成之層合品之延伸率,係為1 2 % 。接著*按照順序地層合 本紙張尺度適用中國國家標準((:^5)六4規格(210/ 297公釐) -4 3 - .!. 1!..-- . - —· - 1-- I 1' 1 HI m τΐ 3."ίο (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 419796 A7 B7五、發明説明Uj) 上懕延鋦萡(BHN-02BT日本能源(EHERGm公司製)(104)、 Regulus PM(產品名稱)、厚度〇.2bb之基底銅板(C-102 0 三菱伸鋦公司製)(〇〇2)、结合合成用薄膜(bondply)A’ (012)、Μ及壓延銅萡(BO-02BT日本能源(ENERGY)公司製 )(104)之後,接著*在真空中,於溫度260¾及壓力65kg /cm2之狀態下*對於前述之所得到的層合體,進行著60 分鐘之沖壓成形處理。使用前逑之成形品,作為金颶基底 基板(3)。經過確認:該金鼷基底基板(3)之全部之罾間之 黏著力,係為0 · 8ks/ cm2 Μ上。 然後,進行與前述之實施例1之金廳基底基板Π)之相同 之處理,而得到BGA(Ball Grid Array:球閘陣列)用之金 靨基底半導體電路基板。在形成有铜電路之時,除去該層 合於前述之ReguUs PM(產品名稱)上之壓延鋦箔(104)。 並且*就正如圈10所顯示的,歷接缝合(bonding-stitch) 部(800),係隨著電路而進行著延長,並旦,該壓接縫合 (bonding-stitch)部(800)之某一端,會到達至該引深部 底邊。 經過引深加工後之檢査作業,在前逑之基底金臛之兩個 面之聚醢亞胺(polyinide)層上,完全並無檢査出任何之 裂鏠等之外觀異常現象。並沒有受到該電鍍於電路部位中 之壓接鐽合(bonding-stitch)部和銲錫球搭載用襯墊上之 Hi電鍍以及Au電镀的影響,在金匾基底半導體電路基板之 背面上之背面聚醯亞胺(polyimide)層之表面,完全並無 形成有任何之電镀金屬,而且,該電鍍液,&完全並無滲 -----------^------II------/ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家榇準(CNS > A4規格(210X 297公楚) 44 419 796 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明 (42) 1 I 透 沾 染 於 前 述 之 背 面 聚 醯 亞 胺(P 〇 1 y i mi d e )層之表面和基 1 1 1 底 m 板 (0 0 2 )之間的界面中 > I i 此 外 遷 ι?>Τ 興 J i. 刖 述 之 實 施 例 2同樣地 |在溫度25t及室內 請 先 1 I I 相 對 溼 度 (RH) 30 % 之 狀 態 下 ,進 行該 成 形 調整處理· K便 讀 背 1 ! 於 使 得 所 謂 之 彎 曲 程 度 成 為 0 Ad m 。當 升 溫 至1851:之時* 冬 ί I 意 1 I 則 所 謂 之 彎 曲 程 度 會 變 成 為+ 30 u m 而前逑之彎曲程 事 項 1 I 化 再 1 度 之 變 係 栢 當 地 微 小 因此 ,該 金 屬 基底半導體電路 填 基 板 本 裝 之 構 裝 性 能 係 相 當 地 良好 〇 頁 、_»- i 1 並 且 在 藉 由 ΤΜ» 環 氧 樹 脂 黏 著劑 而將 LS I (大型積體電路) 1 1 接 合 於 模 搭 載 用 座 台 上 之 後 ,使 用超 音 波 ,在1S51之狀 1 f 態 下 將 金 (Au) 線 Μ 打 線 (w I Γ e - b 〇 n d in g)之方式,而連 1 訂 接 至 LS I (大 型 稹 體 電 路 )之襯墊以及金臛基底半専體電路 1 ] 基 板 之 壓 接 m 合 (b on d ϊ n g —s t 1 t C h)部 之 上 。前述之打線 1 1 I (W 1 Γ e - bo n d in ε ) 接 合 之 狀 況 ,係 相當 地 良 好,並無所謂金 1 ! 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 板 背 面 之聚 醢亞 肢 (P 〇 1 y i m i d e )樹脂 ί m 褶 (t U C k) 於 打 線 (w i r e - bo n d i η u用 治 具 上的現象發生。 [ 1 前 述 之 金 靨 基 底 半 導 體 電 路 基板 之風 速 1 m / sec狀態下之 ! I 熱 抵 抗 t 係 為 12¾ / y 因此,對於金鼷基底半導體電路 1 I I 基 板 背 面 之 覆 蓋 用 薄 膜 之 影 響 , 係相 當 地 微小。 1 ί (實陁例4) 1 1 使 用 刖 述 之 實 施 例 1之金靥基底基板U) >進行與前述之 ! 1 實 施 例 1相同之加工處理 而得到L G A (L an d Grid Array: 1 I 帶 閘 陣 列 )用之金屬基底半専體電路基板。 對於前述之 1 1 I LG A (La n d G r i d A r r a y 帶閘陣列)用 之 金 屬基底半導體電 1 1 本紙乐尺度適用中國國家標準(CNS )六4坭輅(210X297公犮) 45 419796 A7 B7 經濟部中央標本局負工消費合作社印製 "X、發明説明(4J ) 1' I 路 基 板,進 行 加 工 處 理 而得到圖 11所示 之 2段式引深之 1 1 I 金 鼷 基底半 導 體 電 路 基 板 。對於該 朦接縫 合 (bonding- 1 1 I s t ί t ch)部(800) * 進 行 加 工處理, Μ便於 使 得前述之壓接 請 先 1 1 縫 合 (b ο n d i n g 一 S t 1 t C h)部 (800 ),可Μ到達至第1段之空孔 背 1 1 (C a v i ty)之 内 面 0 在 第 2段之空孔(cav Uy> 係形成有半 δ 之 注 1 — 1 | 導 體 晶片搭 載 用 之 模 搭 載 用座台(1〇〇〇) ° 就 正如在圖11中 意 事 項 1 1 之 圼 模式地 而 顯 示 出 的 * 第1段之空孔(ca V 1 ty)之引深曲 再 填 1 率 半 徑*係 大 於 第 2段之空孔(cavi ty)之引深曲率半徑。 本 頁 裝 1 此 外 ,圖11係 為 顧 示 出 該 藉由模附 上用材 料 (900),而將 I f 半 専 體晶片 (1001)接 合 及 搭載於前 述之模 搭 載用座台 1 1 ( 1000)上- 並 且 使 用 金 線(1010) ,而連 接 上前述之半導 1 訂 ί I 體 晶 片(1001) 之 打 線 (W i r e _ b ο n d i η g)用襯 墊 和金臛基底半 導 體 電路基 板 之 壓 接 縫 合 (bonding -s t1 t C h) 部,然後*再 1 1 I 藉 由 液態狀 封 裝 用 材 料 (1100),而 進行著 前 述之半導體晶 1 1 片 (1001)之 封 裝 處 理 之 狀 態下的模 式剖面 圖 。像這樣,使 f 得 液 態狀封 装 用 材 料 之 表 面並不會 高於分 型 面•因此,前 ί 述 之 LG A (La n d G Γ 1 d A r r a y :帶閛陣列)用 之 金雇基底半導 1 ί 體 電 路基板 可 Μ 相 當 容 易地被夠 裝於主 機 板上。 I 1 1 (實施例5) I 1 使 用N-甲 基 nJt 路 啼 (H -ΠΙ e t h y 1 P y r r ο 1 i d 〇 ne)作為溶劑* 1 1 並 且 以1 : 0 .9 9之當量比 混和入3 ,3,-二 胺 基二苯甲嗣、 1 1 >λ 及 3,3.,4 .4 t — 二 苯 甲 詷 四羧酸二 酐,接 著 在2 5 之狀態 1 ! 下 進行24小 時 之 反 應 而得到醢 胺酸溶 液 (以下則作為 1 1 1 ΡΑΑ- U。使 用 N- 甲 基 nit 硌 陡(Ν - ιβ e t h y 1 p y r Γ 0 1 i d ο n e )作為 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(210X 297公楚) 46 4 i 9 796 經濟部中央標隼局員工消资合作社印取 Μ B7五、發明説明(H ) 溶劑,並且MO.6: 0.4: 0.993之當量比,混和人4,4'-二 胺基二苯基醚、1,4' -二胺基苯、Μ及苯四甲酸二酐。接 著*在25C之狀態下,進行24小時之反應,而得到醯胺酸 溶液(Μ下則作為ΡΑΑ-Κ)。 將前述之PAA-L*塗敷於厚度18Wm之壓延銅萡(104)之 處理面上,並且*不斷地進行著乾燥處理* 一直到並無縫 褶產生為止。接著,再將前逑之PAA-K,塗敷於前述之處 理面上,不斷地進行著乾燥處理,一直到並無縫褶產生為 止;然後,在前述之PAA-K,再塗敷上前述之PAA-A·而對 於所塗敷上之整個之醢胺酸,進行乾燥處理,而成為所謂 之醢亞胺化之狀態。這些聚醯亞胺(polyiinide)之殘留溶 劑,係為O.lwt% 。將PAA-L及PAA-K之圼醢亞胺化狀態之 聚醯亞胺(polyimide),分別地作為PI-L及PI-K。將前述 之壓延銅箔(104)、PI-L、PI-K、及PI-A之層合品,作為 包裝用薄膜(wrapping-fi丨m)LKA。該形成於前述之壓延鋦 萡(104)上之聚醯亞胺(polyintide)中之PI-L、PI-K、及 PI-A之薄膜厚度,係分別為1.5/u m、6.0w m、以及2.5ϋ ι ;前述之聚醯亞胺(polyimide)中之PI-L、PI-K、及PI-A 之薄膜厚度,係合計成為lOwra。此外,在相同之乾燥及 醢亞胺化之條件下,對於前述之PI-L及PI-K,分別地製造 出不同用途之薄膜,而測定出不同用途之薄膜特性,結果 ,PI-L之玻璃轉移溫度,係為25〇υ ,而PI-K之坡璃轉移 溫度,係為400Τ:以上;就前述之PI-L而言,該在玻璃轉 移溫度+ 30Τ;之狀態下的彈性係数ι係為該在玻璃轉移溫 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(210X297公# ) -- -I--—Γ I.. K H , 士κ I I--- ί.... τ I- I _ fn 1- I _ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -47 - 419796 A7 B7 經濟部中央標隼局負工消費合作社印製 五、發明説明 (45) Ϊ 度 之 狀 態 下 的 彌 性 係 數 之 1/ 90 至於前述之PI-JC而言* 1 1 則 無 法 測 定 出 該 在 玻 璃 轉移溫度 之吠態下的彈性係数、以 1 I 及 該 在 玻 璃 轉 移 溫 度 + 3 0°C之狀 態下的強性係数。 請 i 先 t 對 於 前 述 之 壓 延 铜 萡 (104)進行著蝕刻處理,而由包裝 閱 讀 1 I 用 薄 膜 (W r a PP i η g - f i 1 πϊ )LU,除 掉取下前述之壓延鋦萡 背 ιδ 之 1 ! (104) 以便於得到聚藤亞胺(P 0 ly丨iside)薄膜;而該聚醯 注 意 事 1 i 亞 胺 (P ο 1 y i mi de)薄膜之延伸率 係為28% 。接著,按照 項 再 ! 填 裝 I 順 序 地 層 合 上 厚 度 18 U m之壓延銅箔(104)、结合合成用薄 % 本 頁 膜 (b on dp ly )A » - 、厚度0 .2 in m之基 底飼板(C-1020三菱伸銅 、· 1 1 公 司 製 )(002 ) 、 及 包 裝用薄膜 (wrapping-fiim)LKA0 接 1 I I 著 在 真 空 中 於 溫 度 2 5 0 C及壓力6 5 k s / c a 2之狀態下 1 1 , 對 於 前 述 之 所 得 到 的 層合體, 進行著60分鐘之沖壓成形 訂 1 處 理 0 於 曰 本 電 解 (股)公司,藉 由Hi、及C 〇等之電氣電鍍 1 1 作 業 i 而 在 前 述 之 基 底 銅板(002)之兩個面上,進行所謂 1 I 黏 著 力 改 善 用 之 表 面 粗 化處理。 使用前述之成形品,作為 1 1 d 金 屬 基 底 基 板 (4) ,經過確認:該金靥基底基板(4)之全部 之 層 間 之 黏 著 力 係 為 0.8kg/ c τη2以上。前述之金屬基 1 I 底 半 導 J9M 腊 電 路 基 板 之 模 式圖*係 就正如圖12之所顯示的。 i 1 使 用 前 述 之 層 合 品 與前述之 實施例2同樣地,在結合 1 | 合 成 用 薄 膜 (b on dp ly)部位之壓延銅萡上*形成有電路· I 1 J 接 著 還 形 成 有 m m 用 墨水層。 藉由全面之蝕刻法*而除 1 1 去 前 述 之 包 裝 用 薄 膜 (V rapping- f i 1 m )之銅萡。此外,遒 1 1 進 行 深 度 0 . 4 m m之引深加工處理 K便於形成出金屬基底 1 | 半 導 體 電 路 基 板 之 模 搭 載用座台 (1 3 m ra角)。接著,再藉由 1 1 本紙張尺度適用中國國家標率(CNS ) A4規格(210X 297公趋) 一 48 - 419796 A7 B7 經濟部中央標隼局貝工消費合作社印製 五、發明説明 (40 1 無 電 解 電 鍍 法* Μ 便 於 形成 出該 由Hi電鍍 (3 w m )及 A u電鍍 1 1 (0 .5 U m) 所 組成 之 電 鍍 層, 而得 到圖4所示之面朝上 型 ! I (f a c e 一 up t y p e) 之 BGA (Ba 1 1 Grid Array 球閘陣列 )用之 請 1 先 1 40 mm 角 的 金 屬基 底 半 尋 體電 路基 板。 間 讀 1 1 其 引 深 部 之最 小 曲 率 半徑 ,係 為 0 . 8 m m ( >經過引深 加工 1 注 i 後 之 檢 查 作 業* 在 前 述 之基 底金 靨之兩個 面之聚醢亞胺 意 事 1 (P ο 1 y i mi de )層上 完全並無檢査出任何之裂縫等之 外觀 項 i 填 裝 I 異 常 現 象 0 並沒 有 受 到 該電 鍍於 電路部位 中之壓接缝合 本 (b on d i n g _S t 1 t C h) 部 和 銲錫 球搭 載用襯墊 上之N丨電鍍K及 、* J 1 1 Au 電 鍍 的 影 響 , 在 金 靥 基底 半導 體電路基 板之背面上之背 1 ! 面 聚 醢 亞 胺 (Ρ ο 1 y i mi d e )層之表面,完全並無形成有 任何 f 1 之 電 鍍 金 龎 〇 訂 1 在 溫 度 2 5T:及 室 内 相 對溼 度(R Η ) 3 0 % 之 狀態下,進行該 ! I 成 形 調 整 處 理, Μ 便 於 使得 所諝 之彎曲程 度成為-30 U ffl ° ί I 當 升 溫 至 185 之時 則所謂之彆曲程度 會變成為 + 80 1 1 U IQ 而前述之彎曲程度之變化 係相當地微小,因 此, 該 金 屬 基 底 半導 體 電 路 基板 ,係 在所謂可 Μ充分地進行著 I 1 構 裝 之 區 域 内。 ί I 此 外 在 藉由 環 氧 樹 脂黏 著劑 而將LSI (大型積體電路) 1 1 I 接 合 於 模 搭 載用 座 台 上 之後 ,使 用超音波 ,在 230 t 之狀 1 1 態 下 將 金 (Au) 線 打媒 (W ί Γ e ~ b ο n d ί η s)之方式1 而連 1 1 接 至 LS I (大 型積 體 電 路 )之襯墊以及金屬基底半導體 電路 I 1 基 板 之 壓 接 縫合 (b ο η d i n g ~ s t i t C h)部之上 。前述之打線 1 Ι (w ί Γ e - b 〇 n d i ng) 接 合 之 狀況 ,係 相當地良 好,並無所謂金 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨OX 297公楚) 419796 A7 H7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明 (47) 1 1 屬 基 底 半 m 體 電 路 基 板 背 面 之 聚 m 亞 胺(P 〇 1 y i m id e)樹脂 I 1 I 縫 褶 (t U C k) 於 打 線 (W i r Θ - bo n d in g ) 用 治具 上的現象發生。 1 I 並 且 前 述 之 金 靥 基 底 半 導 體 電 路 基 板之 風速1 id/ sec狀 請 先 1 1 I 態 下 之 熱 抵 抗 係 為 11 .5 r / y 因此,對於該 形 成在金 讀 背 ,ΪΓ> 1 ! 屬 基 底 半 m 體 電 路 基 板 背 m 上 之 聚 醢 亞胺 (poly i m i d e )層 冬 L 1 1 之 影 饗 係 相 當 地 微 小 0 意 事 項 1 | 再 1 (實施例6) 填 寫 本 裝 按 照 順 序 地 層 合 上 厚 度 18 U m之壓延飼箔(104)、 结合合 頁 S, 1 I 成 用 薄 膜 Cb on dp ly) A (12) 、 厚 度 0 . 3 m ffl之基底_ 板 (C-1020 1 1 三 菱 伸 錮 公 司 製 )(002) Μ 及 包 裝 用 薄膜 (wrap p i n g - f i 1 in) 1 1 LKA之後 接著 在真空中, 於溫度2 5 0 t 及壓力65kg / cm2 1 訂 之 狀 態 下 對 於 前 逑 之 所 得 到 的 層 合 Jte 體, 進行著60分鐘之 1 1 沖 壓 成 形 處 理 〇 使 用 前 述 之 成 形 品 作為 金屬基底基板{5) \ 1 I 〇 經 過 確 認 : 該 金 靥 基 底 基 板 (5 )之全部之層間 之 黏著力 1 I t 係 為 〇. 8k g / C π 2 以上 > I 使 用 刖 述 之 層 合 品 與 前 述 之 實 施 例4同樣地 * 在结合 1 合 成 用 薄 膜 (b on dp ly ) A部 位 之 壓 延 銅 萡上 ,形成有電路| ! 1' 接 著 m 形 成 有 阻 劑 用 墨 水 層 〇 藉 由 全面 之蝕刻法,而除 1 1 I 去 前 述 之 包 裝 用 薄 膜 (W r a Ρ Ρ in g 一 f i 1 m )部位之壓 延 飼范。 1 1 此 外 m 進 行 深 度 0 . 4 m nt之引深加工處理 Μ便 於 形成出 ! 1 金 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 板 之 模 搭 載 用 座台 (1 3 ram 角 )。接著 1 1 * 再 藉 由 無 電 解 電 鍍 法 Μ 便 於 形 成 出該 由N i電鑛(3 ju si) 1 | 及 Au 電 m (0 .5 U Π ) 所 組 成 之 電 鍍 層 而得 到圖4所 示之面 1 1 I 朝 上 型 tf a c e - U P ty P e )之 BGA (B a 1 1 Grid A r r a y : 球閘陣 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ),\4規格(210X 297公#_ ) -5 0 - 4 ΐ 9 了 9 6 Α7 137 經濟部中央標準局員工消资合作社印裝 五、發明説明 (48) 1 列 )用之40m m角的金屬基底半導體電路基板 > 1 1 其 引 深 部 之 最 小 曲 率 半 徑 係 為 0 * 8 ra ra。經過引深加工 ! I 後 之 檢 査 作 業 在 前 述 之 基 底 金 屬 之兩 個面 之聚 醢 亞 胺 請 1 先 1 (P 〇 1 y i nt i d e )% 1上 完全並無檢査出任何之裂縫等之外觀 閱 讀 1 f 1 異 常 現 象 0 並 沒 有 受 到 該 電 鍍 於 電 路部 位中 之壓 接 m 合 'έ 之 注 1 (b on d i n g -S t i t C h) 部 和 銲 錫 球 搭 載 用襯 墊上 之N i 電 m 及 意 京 1 項 I Au 電 鍍 的 影 響 在 金 屬 基 底 半 導 體 電路 基板 之背 面 上 之 背 再 填 面 聚 醯 亞 胺 (P 0 1 y i m i d e )層之表面 完全並無形成有任何 % 本 頁 裝 | 之 電 鍍 金 羼 〇 1 I 此 外 前 述 之 背 面 聚 醢 亞 胺 (P 0 1 y i m i d e )層之表面之I R ( 1 1 1 紅 外 線 )吸收率 係為9 0 ? ί以上( >在前述之金屬基底半導 1 1 訂 1 體 電 路 基 板 搭 載 上 直 徑 0 . 76 in m Φ 之共 晶擇 錫球 9 並 且 9 還 藉 由 一 般 已 知 的 方 法 在 I R (紅外線) 迴焊 (ref 1 〇 V) 爐 中 1 I » 將 前 述 之 金 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 板, 與 QFP (Qu ad F 1 a t 1 I Pa c k ag e 四邊扁平型封装體)Μ 及 其他 之分 雛用 零 件 同 1 1 時 地 進 行 表 面 構 裝 處 理 而 構 裝 於 該由 FR-4所組 成 之 主 機 板 上 ΰ 調 整 前 述 之 IR (紅外線) 之 輸 出, Μ便 於使 得 前 述 之 1 1 FR -4之 表 面 溫 度 成 為 最 高 溫 度 之 230t。藉由熱電偁而 1 I 測 定 出 前 述 之 金 靥 基 底 半 専 體 電 路 基板 之基 底金 靥 之 溫 度 1 I t 結 果 可 Μ 得 知 該 基 底 金 屬 之 溫度 -已 經成 為 最 高. 溫 1 1 度 之 23 0 t: >在進行過前述之表面構装處理之後 圼機械 1 1 式 地 破 壞 掉 前 述 之 金 屬 基 底 半 導 體 電路 基板 ,而 便 於 檢 1 1 査 該 銲 錫 球 接 合 於 主 機 板 上 之 接 合 面, 結果 發現 到 所 有 1 1 之 銲 錫 部 分 皆 已 經 被 rrtf 吸 m 掉 但 是, 該Ρ 錫球 接 a 之 狀 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > Α4現格(2丨0X 297公《 ) - 51 - 419796 A7 B7 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 五、發明説明 (49 ) i 況 t 還 是 相 當 地 良 好 〇 1 t 此 外 f 在 藉 由 環 氧 樹 脂 黏 著 劑 而 將 LS I (大 型積體電路) 1 1 接 合 於 模 搭 載 用 座 台 上 之 後 使 用 超 音 波 9 在23 0 t之狀 •—V 請 1 先 1 態 下 t 將 金 (An ) 線 1 打 線 (w i Γ e, bo n d in g ) 之方式,而連 閲 讀 1 f 1 接 至 LS I (大 型 積 體 電 路 )之襯墊Μ及金屬基底半導體電路 面 1 基 板 之 壓 接 缝 合 (b on d ί n g 一 S t i t C h) 部 之 上 〇 前述之打線 意 事 ( (W i r e - b 〇 n d in g) 接 合 之 狀 況 係 相 當 地 良 好 •並無所謂金 項 再 1 填 裝 1 靥 基 底 半 導 體 電 路 基 板 背 面 之 聚 賜 亞 胺 (P ο 1 y ί in i d e )樹脂 本 f 縫 褶 (t U C k) 於 打 線 (tf 1 Γ e - bo n d i η g ) 用 治 具 上 的現象發生。 t 1 I 而 且 前 述 之 金 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 板 之 風 速lm/ sec狀 1 1 態 下 之 熱 抵 抗 係 為 11 .5°C / V 因此 對於該彤成在金 ! I 靥 基 底 半 導 體 電 路 基 板 面 上 之 聚 n>**· 臨 亞 胺 (P ο 1 y i 姐 i d e )層 訂 I 之 影 m 係 相 當 地 微 小 ο 1 I (實施例7) 1 1 1 使 用 該 在 前 述 之 實 施 例 5中之所得到之金匾基底基板(5) 1 1 Λ 1 進 行 如 下 Μ 所 敘 述 之 加 工 處 理 而 得 到 該 附加有檢測用 端 子 之 金 靨 基 底 半 導 體 電 路 基 板 〇 藉 由 在 结 合合成用薄膜 I 1 (b on d p ly )A部 位 之 壓 延 飼 萡 上 使 用 氮 化 銅 (CuC 1 2)溶液 1 I 9 而 打 開 出 直 徑 0 . 25 m m Φ 之 孔 洞 Μ 便 於 m 露出該聚騮亞 J 1 I 胺 (P ο 1 y i mi d e )層之表面 =前述之孔洞之位置,係為銲镯 1 1 球 搭 載 用 襯 墊 之 週 當 場 所 〇 藉 由 在 包 裝 用 薄 膜(wrapping- 1 1 f i 1 m )LKASU 位 之 壓 延 铜 萡 中 使 用 氮 化 飼 (C uC U )溶液* 1 1 而 打 開 出 該 由 直 徑 0 . 8 1 之外圓Μ及直徑0 * 5 5 m m 4之内 1 I 圓 之 所 夾 注 而 形 成 之 環 圈 狀 之 孔 m » 梗 於 暘露出該聚醚 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CMS〉Λ4規枱(2丨OX 29?公ϋ 一 5 2 ~ 419796 A7 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 五、發明説明(50) 亞胺(polyimide)層之表面。該孔洞之位置,係具備有與 前述之孔洞之相同之座標,也就是說,相當於該孔洞之背 面部位的位置。同時地打開出前述之兩個表面上之孔洞。 然後,藉由雷射式蝕刻法,以便於除去前述之所曝露出之 基底銅板(002)之兩個面之聚醯亞胺(polyimide)層,而分 別地曝露出直徑0.23^1^0之圓形之基底銅板、Μ及該由直 徑0.79miB4之外圓Μ及直徑0.56ram4之内圓之所夾住而形 成之環圈狀之基底飼板(請參照圖5(a))。 然後,藉由無電解電鍍銅K及電解電鍍铜*而對於前述 之結合合成用薄膜(bondply)A面部位之金屬基底基板之表 面,進行電鍍處理,K便於達到前述之基底飼板和銅箔之 間的導通琨象,而形成有BVH(Blind Via Hole:盲貫通孔 ) 200 (請參照圖5(b))。在進行著前述之銅電鍍處理之時, 雖然在前述之BVHUlind Via HoU:盲貫通孔)200之背面 部位,也電鍍上銅金靨,但是*該電鍍上之銅金屬,並沒 有發生所謂之膨脹或者剝離現象。 接著,藉由使用前逑之结合合成用薄膜(bondply)部位 之聚醯亞胺(polyimide)層·作為基底銅板之蝕刻用阻劑 ,而尉於前述之基底飼板,進行蝕刻處理,以便於形成有 環圈狀之孔洞,而形成有檢測用端子(400>(請參照圖5(c))。 然後*藉由雷射,而對於該並不需要之聚醯亞胺 (polyimide)層*進行触刻處理•而除去該並不需要之聚 醯亞胺(polyimide)層,Μ便於成為圖6之形狀。在前述之 結合合成用薄膜(b ο n d ρ 1 y ) Α部位之銅萡上,形成有電路| 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS ) Λ4規格(210X297公筇) -5 3 - (請先間讀背面之注意事項再填寫本頁) 4^9796 A7 B7 經濟部中央標隼局員工消費合作社印11 五、發明锐明 (51 ) 丨 也 就 是 說 形 成 有 飼 電 路 (102)以及球體搭載用襯墊(105) 1 1 I 0 前 述 之 基 底 飼 板 之 剖 面 形 狀 i 就 正 如 圖7所顯示的 前 1 | 述 之 基 底 飼 板 之 突 起 係 成 為 * 刖 述 之 球 體搭載 用襯 墊 請 S3 1 1 ί (105)之檢測用端子 背 I I ιέ m 後 在 前 述 之 電 路 郜 位 上 形 成 有 阻劑用 墨水 層 〇此 i 意 i 1 外 在 進 行 深 度 0 . 4 IQ HI之引深加工處理 Μ便於形成出金 事 項 l I 再 1 臑 基 底 半 導 體 電 路 基 板 之 模 搭 載 用 座 台 (1 3 m in 角)之 後 ,接 填 寫 本 裝 著 再 藉 由 無 電 解 電 鍍 法 以 便 於 形 成 出該由 Mi電 鍍 (3 u 頁 1 I m) 及 Au 電 鍍 (0 .5 U IB ) 所 組 成 之 電 鍍 層 而得到 該面 朝 上型 1 1 (f a c e - u P t y p € ) 之 BGA (Ba 11 G r i d Ar r a y :球閛陣列) 用之 1 1 40 m ία 角 的 金 靨 基 底 半 導 體 電 路 基 板 〇 僅 有在電 路部 位 中之 1 訂 壓 接 縫 合 (b on d ί n g -S t 1 t C h) 部 飞 銲 錫 球 搭載用 襯墊 以及 1 I 檢 測 用 端 子 之 上 進 行 著 Ν ί 電 鍍 及 Au 電鍍, 然而 在金 1 1 | 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 板 之 背 面 上 之 背 面 聚醯亞 胺 1 1 (P 〇 1 y i 01 1 de )層之表面 則完全並無形成有任何之電鍍金 1 、'木 屬 0 1 此 外 前 述 之 背 面 聚 醢 亞 胺 (P ο 1 y i mide)層之表面之IR( 1 紅 外 線 )吸收率 係為9 0 s s Μ上t >在前述之金靨基底半導 1 1 I 體 電 路 基 板 搭 載 上 直 徑 0 . 76 m m φ 之 共 晶銲踢 球, 並 且, 1 1 還 藉 由 一 般 已 知 的 方 法 在 IR (紅外線) 迴焊(Γ e f I 〇 w ) 爐中 1 1 f 將 前 述 之 金 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 板 與 QFP (Quad Flat 1 1 Pa c k a g e 四邊扁平型封裝體)Μ 及 其 他 之分離 用零 件 ,同 1 I 時 地 進 行 表 面 構 裝 處 理 而 構 裝 於 該 由 F R - 4 所 組成 之 主機 1 1 I 板 上 0 調 整 前 述 之 IR (紅外線) 之 輸 出 以便於 使得 前 述之 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 29*7公楚) -54 一 419 ?9〇 A7 137 經濟部中央標隼局員工消費合作社印製 五、發明説明 (52 ) 1 FR -4之 表 面 溫 度 成 為 最 高 溫 度 之 240 1 3藉由熱電偶而 1 1 測 定 出 前 述 之 金 匾 基 底 半 導 體 電 路基板 之 基 底 金 屬 之 溫 度 1 1 9 结 果 f 可 K 得 知 該 基 底 金 屬 之溫度 已 經 成 為 最 高 溫 請 1 先 1 度 之 24〇r。 閱 讀 I 1 在 進 行 過 前 述 之 表 面 構 装 處 理 之後, 圼 機 械 式 地 破 壞 掉 ιδ 之 注 I 前 述 之 金 靥 基 底 半 導 «Mr 體 電 路 基 板 ,而Κ 便 於 檢 查 該 銲 錫 球 意 事 1 項 I 接 合 於 主 機 板 上 之 接 合 面 结 果 發現到 所 有 之 銲 錫 部 分 再 填 1 t 皆 已 經 被 破 壞 掉 怛 是 該 銲 錫球接 八 〇 之 狀 況 遒 是 相 寫 本 頁 蒗 | 當 地 良 好 〇 此 外 前 述 之 金 臛 基 底半導 體 電 路 基 板 之 風 速 1 I 1 m / s e C狀態下之熱抵抗 係為121: / w 〇 1 1 1 (實施例8) 1 1 使 用 該 在 前 逑 之 實 施 例 5中之所得到之金屬基底基板(4) 訂 i 進 行 如 下 面 所 敘 述 之 加 工 處 理 *而得 到 該 附 加 有 檢 測 用 1 I 端 子 之 金 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 板 。在结 σ 合 成 用 薄 m 1 I (b on d p ly )A '部位之壓延銅萡上 藉由蝕刻處理 而打開 1 I 出 直 徑 0 . 25 m m φ 之 孔 洞 Μ 便 於 暘露出 該 聚 醯 亞 胺 ·«、 1 (P ο 1 y i mi de )層之表面 >前述之孔洞之位置 係為銲錫球 1 1 搭 載 用 襯 墊 之 適 當 場 所 0 此 外 藉由在 包 装 用 薄 膜 I (W r a P P ί η 8 - f i 1 ΕΠ )UA部 位 之 壓 延 铜萡中 藉 由 蝕 刻 處 理 » I I 而 打 開 出 直 徑 0 . 8 m m 0之孔洞 以便於曝31出該聚雖亞胺 1 1 (P 〇 1 y i m i d e )層之表面、 >該孔洞之位置 係具備有與前述 1 1 之 孔 洞 之 柜 同 之 座 標 也 就 是 說 ,相當 於 該 孔 洞 之 背 面 部 I 1 位 的 位 置 0 同 時 地 打 開 出 前 述 之 兩個表 面 上 之 孔 洞 〇 然 後 1 I f 藉 由 該 包 含 有 聯 胺 (h y d r a z i n e )及Κ 0 Η (氳氧化鉀) 之 水 溶 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準((^5)/\4規格(210/297公#) -55- 419796 經濟部中央標準局員工消費合作社印^ A7 B7五、發明説明(53) 液,進行蝕刻處理,μ便於同時地除去前述之基底銅板 (002)之表面和背面兩個面上之所曝露出之聚醯亞胺( ρο丨yimide)層*而分別地曝露出直徑Ο.23ιβιπ0之圓形之基 底銅板面、以及直徑0.83mni必之圓形之基底飼板面(請參 照圖 15 (a))。 然後,藉由輕微之蝕刻處理,而除去該呈突出 (overhang)狀之鋦萡(請參照圖15(b))。然後,藉由無電 解電鍍飼Μ及電解電鍍銅處理,而對於前述之结合合成用 薄膜(bondply)A面部位之金靥基底基板之兩個面,進行電 鍍處理· K便於達到前述之基底铜板和洞萡之間的導通現 象,而彤成有BVH (B 1 i nd V i a Ho 1 e :盲貫通孔)20 0 (請參 照圖 15(c))。 接著,在包裝用薄膜(v/fappUs-fUmUlU部位之壓延铜 箔中*藉由蝕刻甩咀劑而描繪出圖案,从便於能夠形成出 檢測用端子之後,接著,藉由對於前述之基底銅板,進行 蝕刻處理,>i便於使得該基底飼板|成為環圈狀,而形成 有檢測用端子(400)。然後*藉由剝離用溶液,而除去該 蝕刻用阻劑(請參照圖6)。對於前述之包裝用薄膜( wrapping-filinHlU部位之銅圖案,進行電路加工處理, 而形成有銅電路(102)以及球體搭載用襯墊U05)。前逑之 基底铜板之剖面形狀,就正如圖7所顯示的;前述之基底 銅板之突起,係成為前述之球體搭載用襯墊(105)之檢測 用端子。 然後,在前述之電路部位上*形成有阻劑用墨水圄。此 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規枱(210Χ 297公t ) _ c 〇 _ -I— m n- - 1· »^1 l ^ - ϋ I i _ n T -5 (請先閲請背面之注意事項再填寫本頁) .419796 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印^ 五、發明説明 (51) ί 外 9 在 進 行深度 0 . 4tnm之引深加工處理 K梗於形 成 出 金 1 1 屬 基 底 半 等體電 路 基板之横 搭載 用座 台 (1 3mm角)之後* 接 1 1 著 1 再 藉 由無電 解 電鍍法* K便 於形 成 出該由N i電鍍( 3 u 請 1 先 I m ) 及 Au 電 鍍(0 , 5 a m)所組成 之電 鍍層 9 而得到該面朝上型 間 if 1 背 1 (f a c e - U P type) 之 BGA (Ba 1 1 G r ϊ d A r r a y :球閘陣 列 )用之 面 之 i 1 40 ώι m 角 的 金屬基 底 半導體電 路基 板。 僅 有在電路部位中之 意 事 1 ί 壓 接 縫 合 (b ο n d i η ε -stitch) 部、 銲錫 球 搭載用襯墊 Μ及 再 填 1 檢 測 用 端 子之上 1 進行著H ί 電鍍 以及 Au 電鍍,然而< 在金 寫 本 頁 装 1 屬 基 底 半 導體電 路 基板之背 面上 之背 面 聚醢亞胺 1 I (P 〇 1 y i mi de)層之表面,則完全並無形成有任何之 電 鍍 金 1 1 I 面 腾 〇 1 1 訂 在 溫 度 251、 室 内相對溼 度(RH)30 % 之狀態下, 進行該 1 成 形 調 整 處理| Μ 便於使得 所謂 之彎 曲 程度成為- -30 t t ID 1 1 ΰ 在 185T:之時 所謂之彎曲程度,會變成為小至 + 110 U 1 I ID 因此 在構裝作業上,成為可K充分地發揮出 效 用 之 1 區 域 0 該 金覇基 底 半導體電 路基 板之 風 速 1 m / s e c 之 狀 態 ..-Λ 1 下 的 熱 抵 抗係數 係為1 2 t / W = I 1 (實施例9) P- 1 1 使 用 前 述之實 陁 例6中之所得到之金靥基底半導 體 電 路 1 1 基 板 (5) 而在结合合成用薄膜(bond p 1 y ) A部位上 之 飼 箔 1 1 I 1 進 行 電 路加工 處 理。接著 ,進 行著 圖 13所示之引深加工 1 1 t 而 得 到 HQP (Me t a 1 Quad Pack age* 金麋四邊型 封 裝 體) 1 I 型 之 金 臛 基底半 導 體電路基 板。 1 1 引 深 部 之最小 曲 率半徑, 係為 1 πι ra ^ 在進行過引 深 加 工 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規袼(210X297公釐) -57 - 4/9796 A7 經濟部中央標隼局員工消費合作社印製 B7五、發明説明(55 ) 後之檢査作業中•於基底銅板(002)之兩個面之聚醢亞胺 (poly iraide)層(012或者500)上•完全並無檢測出裂鏠等 之外觀異常現象。並沒有受到電路部位上之Ni電鍍、及Au 電鍍之影響,在金鼷基底半導體電路基板之背面上之背面 聚醢亞胺(polyimide)層之表面上,完全並無形成有任何 之電鍍金臛。 此外|金屬基底半導體電路基板之背面聚醯亞胺 (polyimide)層之表面之IM釭外線)吸收率,係為90%K 上。藉由一般已知之使用焊錫音之方法,而在IR(紅外線) 迴焊(reilo»)爐中,將前述之金屬基底半導體電路基板, 與QFP(Quad Flat Package:四邊_平型封裝體)Μ及其他 之分離用零件*同時地進行表面構装處理,而構装於該由 FR-4所組成之主機板上=調整前逑之IR(紅外線)之輸出, Μ便於使得前述之FR-4之表面溫度,成為最高溫度之2 30 它。藉由熱電偁而測定出前述之金鼷基底半導體電路基板 之基底銅板之溫度,结果*可以得知*該基底飼板之溫度 ,已經成為最高溫度之230t。在進行過構裝作業之後| 銲錫可Μ相當充分地上升至MQP(Metal Quad Package:金 屬四邊型封裝體)之専線狀铜電路部分,因此,就顯示出 :該専線狀铜電路部分之溫度 > 係可Μ相當充分地滿足銲 錫接合作業之需求。 (茛施例10) 使用前述之實施洌2中之所得到之金屬基底半導體電路 基板(2 ),而在結合合成用薄膜(b ο n d ρ 1 y ) Α部位上之銅萡 本紙張尺度適用中國國家榇準(CNS ) Λ4规梏(210X297公矩) ~ 5 8 - -- - - —1---^ — - - n _ 1 T _ I____ _ ![ A .¾. ,va\ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中失標卑局貞工消費合作社印^ B7五、發明説明(5Π ) ,進行電路加工處理。接著*進行著引深加工,而使得該 由電路面之祖反部位之角度而觀察前述之圖13之MQP(Metal Quad Package:金靥四邊型封裝體)型之金屬基底半導體 電路基板的剖面模式圖之狀態下的俯視模式圏,成為圖14 所示之形狀1以便於得到MQP(Metal Quad Package:金屬 四邊型封裝體)型之金屬基底半導體電路基板。 引深部之最小曲率半徑•係為1mm。在進行過引深加工 後之檢查作業中,於基底銅板(002)之兩個面之聚釀亞胺 (polyimide)層(012或者500)上,完全並無檢測出裂縫等 之外觀異常現象。並沒有受到電路部位上之Hi電鍍、及Au 電鍍的影饗,在金靥基底半導體電路基板之背面上之背面 聚醢亞胺(polyimide)層之表面上,完全並無胗成有任何 之電鍍金屬。 在圖14中,K金鼷基底半導體電路基板之背面之中心點 ,作為c點*並且*由引深部之内側角落Χί開始而至前述 之c點為止,連成為一直線,而將該僅在距離前逑之内側 角落Χ5之Ιιπιπ之位置上之點,作為d點。使用前述之c點, 作為基準點,而測定出d點之高度。係在溫度2 5 ΐ:、室內 相對溼度(ϋ Η ) 3 0 %之狀態下、以及在進行升溫而達到1 85 之狀態下,分別地進行d點之高度測定作業。將c點和d 點之間的高度差*作為所謂之彎曲程度;在d點比較高之 狀態下,則該彎曲程度係成為” + ”。在溫度2 5 t 、室内相 對溼度(RH)30 %之狀態下,進行該成形調整處理| Μ便於 使得所謂之彎曲程度成為0 u m。當升溫至1 δ 5 C之時,則 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(210X297公犮) ^^1 ^—^1 ^—^1 - --'-* i ^^^1 Λ I ^^^1 1 I \ ’ 、-='° (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 419796 A7 B7五、發明説明(57) 所謂之彎曲程度成為+ 10W1D。該彆曲形狀變化係為ΙΟ^ΙΒ •也就是說,該在溫度發生有改變之狀態下的形狀變化, 係相當地微小,因此*作為金靥基底半導體電路基板,可 以顯示出相當良好之特性。 (比較例3) 除了並無層合有覆蓋用薄膜A之外,則進行著與賁施例9 相同之加工處理*而得到MQP(Metal Quad Package:金靥 四邊型封装體)型之金屬基底半導體電路基板。在前述之 金匾基底半導體電路基板之背面上,係電鍍有厚度之 Νί金靨、以及0.5w m之Au金鼷。在溫度25υ、室内相對溼 度(RH)30%之狀態下,進行該成形調整處理,以便於使得 所諝之鬻曲程度成為0« m。然後再升溫至。所謂之 彆曲程度•成為增大至+ 60ϋϋΐ。因此*在金屬基底半導 體電路基板之溫度發生變化之狀態下的模搭載用座台中之 彎曲程度,會變得比較大*而在金靥基底半導體電路基板 和IC (半導體)晶片之間,產生有所謂之剝離應力。所Μ, 可以預測出:比較起前述之實施例9·該比較例3之金屬基 底半導體電路基板之黏著可靠性,相對地會變得比較低。 【發明之效果】 在該使用聚醢亞胺(ρ ο 1 y i π i d e )作為絕緣體之金靨基底 半導體電路基板之中,藉由在基底金屬之背面上|層合有 聚豳亞胺(p 〇 1 y i m i d e )層,以便於能夠發揮出Μ下所敘述 之相當良好之效果。 1)可Κ在背面上而仍然附加有聚醯亞胺(Ρ〇丨yimide)層 本紙张尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規掊(2I0X297公f ) ~ 6 0~二 ^^^1 ^^^^1 Λ ^^^^1 ....... ^^^^1 ^ W3. *-Β (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) •4.1 <9 7 9 6 A7 B7 經濟部中央標嗥局員工消費合作社印聚 五、發明説明( 5 1' 1 之 狀 態 下 進 行 著 引 深 加 工 而 能 夠 形 成 有 空 孔 (C a v it y ) 0 1 1 I 2)係 具 備 有 相 當 良 好 之 電 鍍 用 阻 劑 效 果 因 此 在 金 _ 1 1 基 底 半 導 體 電 路 基 板 之 背 面 上 並 不 會 層 合 有 熱 膨 脹 係 數 請 先 1 1 閱 | 比 較 低 之 Ni 電 鍍 層 並 且 在 金 匾 基 底 導 體 電 路 基 板 之 讀 背 I 背 面 上 也 並 不 會 電 鍍 上 高 價 昂 貴 之 Au 金 屬 0 \UJ 之 注 I 意 1 [ 3)由 於 在 金 屬 基 底 半 専 體 電 路 基 板 之 sit m 面 上 傜 藉 由 Hi 事 項 L I 1 電 鍍 層 而 形 成 有 熱 膨 脹 係 數 比 較 大 之 聚 2B££ 脑 亞 胺 (P ο 1 y i 0E i d e ) 4 本 装 層 因 此 可 以 減 少 金 靥 基 底 半 尋 體 電 路 基 板 之 形 狀 變 化 頁 V*· 1 I 9 而 使 得 所 m 之 彎 曲 琨 象 會 變 得 比 較 少 0 所 Μ 銲 錫 球 1 1 能 夠 在 25 t Μ 及 銲 錫 熔 融 溫 度 之 狀 態 下 相 當 均 匀 地 接 觸 1 1 到 主 機 板 0 ί 訂 4)由 於 可 以 提 高 金 屬 基 底 半 m 體 ru£ 電 路 基 板 3匕 m 面 之 IR (紅 1 ! 外 線 )吸收效率 因此 該在迴焊( re f 1 OW)爐内之熱吸收 1 1 I 作 用 係 相 當 地 良 好 並 且 銲 錫 球 等 之 銲 錫 溫 度 係 與 其 1 I 他 之 分 雛 用 零 件 呈 相 同 0 藉 由 前 述 之 作 用 而 使 得 銲 錫 球 1 等 之 銲 錫 接 合 強 度 變 成 為 相 當 良 好 0 1 1 5) 在 溫 度 發 生 有 變 化 之 狀 態 下 金 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 ! I 板 之 形 狀 變 化 係 比 較 少 0 並 且 該 銲 錫 球 等 接 合 於 主 機 板 1 1 I 上 之 銲 錫 接 合 強 度 係 相 當 地 良 好 〇 藉 由 前 述 之 作 用 而 1 1 使 得 金 屬 基 底 半 導 體 電 路 基 板 和 主 機 板 之 間 的 接 合 可 靠 性 1 1 t 變 成 為 相 當 良 好 〇 1 1 [ 圖 式 之 簡 單 說 明 ] 1 I 圖 1係為該由金屬板0 0 1 介 電 質 0 1 0 、導電體電路100 1 1 I BVH (B 1 i η d V i a Η 〇 1 e :盲貫通孔> 200 、以及保護用層3 0 0 1 1 本紙張尺度適用中國國家榡準(CNS ) A4規袼(21 OX 297公总) ™ 6 1 — 419796 經濟部中央標準局員工消費合作社印^ A7 B7五、發明説明(59) 之所组成之先前技術型式之金鼷基底半導體電路基板的剖 面模式圖。 圖2係為該由金屬板001、第1層介電質010、第1層導電 體電路100、第2層介電質011、第2層導電體電路101、其 用以结合第1層導電體電路100和第2層専電體電路101的 BVH(Blind Via H〇U:盲貫通孔)200、Μ及其用Μ结合第 1層専電體電路100和金屬板001的IVHUnterstitia丨Via Hole:插入型盲孔)201之所組成之先前技術型式之2層配 線金鼷基底半専體電路基板的剖面模式圖。 圖3係為該由金屬板001、介電質010、導電體電路100、 BVH(Biind Via Hole:盲貫通孔)200、Μ及其用K對於前 述之金靥板001而進行蝕刻加工處理之檢測用端子400之所 组成之先前技術型式之金屬基底半導體電路基板的部分剖 面模式圖。 圖4傜為該由基底銅板0 02、結合合成用薄膜(bo n dp iy) 012、飼電路 102、壓接縫合(bonding-stitch)部 800、阻 劑用墨水層600、Ni/iU電鍍層700、Μ及背面聚醯亞胺 (polyimide)層500之所组成並且邐具備有其由引深加工而 形成之模搭載用座台1000的金屬基底半導體電路基板的部 分剖面模式圖。 圖5U)像為該由基底跼板002、结合合成用薄膜 (b〇ndply)012、銅圖案103、Μ及背面聚醱亞胺 (polyiraide)層500之所構成並且還對於前述之结合合成用 薄膜(bondply)012及背面聚醸亞胺(polyimide)層500進行 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規袼(210X297公釐) -52 - Α7 137 經濟部中央標隼局貝工消費合作社印製 五、發明説明(60 ) 1 蝕 刻處 理而被加工 成 為 能夠看 得 見 前 述 之 基 底 銅 板 002之 1 1 I 所 規定 部分之加工 階 段 的半専 體 電 路 基 板 之 部 分 剖 面 模式 1 | 圖 0 請 先 閱 1 ! I 圖5 ( b )係為在前 逑 之 圖 5 (a) 之 加 X 階 段 中 另 外 m 進行 讀 背 1 銅 電鍍 處理,而形 成 有 BVH (B 1 in d V i a Ho 1 e 盲 貫 通孔 之 注 I 意 1 I )200 之 加工階段的 半 導 體電路 基 板 之 部 分 剖 面 模 式 rsr 圖 〇 事 項 | 圖5 ( 再 1 e)係為在前 逑 之 圖 5 (b) 之 加 X 階 段 中 另 外 還 進行 填 述之 % 本 裝 前 基底銅板0 0 2之蝕刻處理 而形成有檢測用端子400 % 1 之 加工 階段的半導 Μ 體 電 路基板 之 部 分 剖 m 模 式 圖 0 1 1 圖6係為在圖5 (c )中而對於前逑之檢測用端子400上 之背 1 ! 面 聚醢 亞胺(ρ 〇 1 y i id i d e )層 500 進 行 蝕 刻 及 除 去 處 理 時 之加 1 訂 1 1 工 途中 之附加有檢 測 用 端子的 半 導 體 電 路 基 板 之 部 分 剖面 模 式圖 0 1 1 I 圖7係為在圖6中 而 對 於前述 之 鋦 圜 案 103進行加工而肜 1 1 成 有球 體搭載用襯 墊 105及銅電路102時 之 加 工 途 中 之 附加 1 有 檢測 用端子的金 屬 基 底半導 體 電 路 基 板 之 剖 面 模 式 圖0 ί 圖8係為該由基底銅板002、 背 面 聚 觸 亞 胺 (P 〇 1 y i mi d e ) 1 r 層 500 结合合成用薄膜(b 0 η d P i y ) 012、 Μ及壓延飼箔104 1 I I 之 所組 成的金靥基 底 半 導體電 路 基 板 的 剖 瓸 橫 式 圖 〇 1 i 圖9係為該由電路面之相反部位之角度而觀察前述之圖4 I 1 之 金饜 基底半導體 電 路 基板的 剖 面 棋 式 圖 之 狀 態 下 的 俯視 1 I 模 式圖 〇 1 I 圖10係為在引深 部 底 遏上而 形 成 有 壓 接 縫 合 (b on d i n g ^ 1 1 | S t i t c h )部 8 0 0 之一 端 的 金匾基 底 半 導 體 電 路 基 板 的 剖 面模 1 1 本紙張尺度適用中國國家標準(C叫Μ規格(膽歸f) _ 419796 kl 經濟部中央標準局負工消費合作社印製 B7五、發明説明(SI) 式圖。 圖11係為在引深部第1段而形成有壓接缝合(bonding-stitch) 部 800 並 且在引 深部第 2 段而 形成有 模搭載 用座台 1000的金靥基底半専體電路基板之剖面模式圖。此外*圖 11S顯示出該藉由模附上用材料900,而將半導體晶片1001 接合於前述之模搭載用座台1000上,並且,使用金線1010 •而連接上前述之半導髖晶片1001和壓接縫合(bontUns-stitch)部800,然後,再藉由液態狀封裝用材料1100,而 進行著前述之半導體晶片1001之封裝處理之加工階段》 圖12係為該由基底鋦板002、背面聚醢亞胺(polyiraide) 層500、结合合成用薄膜(bondpiy)012、Μ及壓延飼箔104 之所組成的金屬基底半導體電路基板的剖面模式圖。 圖13係為該由基底飼板002、背面聚醯亞胺(polyimide) 層500、結合合成用薄膜(bondp丨y)012、Μ及飼電路102之 所組成的MQP (Meta丨 Qu a d P a c k a g e :金羼四邊型封裝體) 型之金龎基底半導體電路基板的剖面模式圖。 圖14係為該由電路面之相反部位之角度而觀察前述之圖 13之HQP(Metal Quad Package:金蘑四遴型封裝體)型之 金屬基底半導體電路基板的剖面模式圖之狀態下的俯視模 式圖。 圖15(a)偽為該由基底飼板002、结合合成用薄膜 (bondply)012、飼圖案103、Μ及背面聚醯亞胺 (polyimide)層500之所構成並且堪對於前述之结合合成用 薄膜(bondply)012及背面聚醢亞胺(polyimide)層500進行 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規袼(210X 297公费) -6 4 - ! I - IT I —l· II 1^1 I n If m n T ----- HI ——[n A US. i (請先閱讀背面之注意事項再填寫本買) 419796 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B?五、發明説明(62) 蝕刻處理而被加工成為能夠看得見前述之基底銅板002之 所規定部分之加工階段的半導體電路基板之部分剖面模式 _。 圖15(b)係為茌前述之圖15(a)之加工階段中|另外遨對 於前述之飼圖荼103,進行相當輕微之蝕刻處理,而除去 前述之圖15U)之加工階段中之铜圖察103之突出 (overhang)部分106之加工階段的半導體電路基板之部分 剖面横式圖。 圖15(c)像為在前述之圖15(b)之加工階段中,另外遒進 行鋦電鏤處理*而形成有BVH(Blinci Via Hole:盲貫通孔 )200之加工階段的半導體電路基板之部分剖面模式圖。 【元件编號之說明】 001 :金靨板 002 :基底銅板 010:介電質或者第1層介電質 0 11 :第2層介電質 012:结合合成用薄膜(bondoly)(结合合成用薄膜A或者结 合合成用薄膜A ’) 100:専電體電路或者第1層専電體電路 101:第2層導電體電路 1 02 :銅電路 103 :铜圖案 104 :壓延銅萡 105 ··球體搭載用襯墊 本紙乐尺度適用中國國家標準(CNS ) A4現格(2i0X297公犛) -6 5 - ^lt 1-i I- I Jf^i ^m4 m nl^— ft -¾ 、-& (請先間讀背面之注意事項再填寫本頁) 419796 A7 * 137五、發明説明 106:銅圖案之突出(overhang)部份 200: BVH(Blind Via Hole:盲貫通孔) 201: IVH(Inter*stitial Via Hole:插入型盲孔) 3 0 0 :保護用層 400 :檢測用端子 500:背面聚驢亞胺(polyimide)層 6 00 :阻劑用墨水層 70 0 : Ν ί / Au電鍍層 800:® 接縫合(bonding-stitch)部 9 0 0 :模附上用材料 1 000 :模搭載用座台 1001 :半導體晶片 1010 :金線 1100:液態狀封裝用材料 II__I__Γ _ ._广__n _ I n --- - 丁----I --Λ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印裝 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Λ4規格(210X 297公蝥) 66 _ R R -

Claims (1)

  1. 419796 A8 B8 C8 D8 經濟部令央標牟局負工消費合作社印装 六、申請專利範 圍 1 1 1 1 . 種 金 屬 基 底 半 導 體電 路基板 > 係為在基底金臛之表 1 1 1 面 上 使 用 聚 醯 胺 (P 〇 1 y i mide)層而作為介電質,並 且 y—S 1 | 9 在 前 述 之 聚 賭 亞 胺 (P ο 1 y i mide)層之上,遷彩成有半 導 請 先 1 聞 1 體 搭 載 用 電 路 的 金 靨 基 底半 導體電路基板,其特徽為 係 背 1 面 I 按 照 著 Μ 下 之 順 序 而 在基 底金屬之背面上,層合有下面 之 注 I 意 | 所 敘 述 之 聚 醯 亞 胺 (P 〇 1 y i in i de)層:熱塑性聚醯亞胺 事 項 1 I 再 1 1 (P 〇 1 y i mi d e )( 1) 層 其 玻璃 轉移溫度為120T: Μ上和300 °C 填 寫 本 裝 以 下 並 旦 該 在 玻 璃 轉移 溫度+ 30t:之狀態下的彈性係 頁 f I 數 為 該 在 玻 璃 轉 移 溫 度之 狀態下的彈性傜數之1/ 100以 1 1 下 非 熱 塑 性 聚 醢 亞 胺 (ρ 〇 1 y i in i d e )層,其玻璃轉移溫 度 1 1 為 200 ¾ Μ 上 並且 該在玻璃轉移溫度+ 3〇υ之狀態 下 1 訂 的 彈 性 係 數 為 大 於 該 在玻 璃轉移溫度之狀態下的彈性係 ί I 數 之 1/ 10 而且 其單獨之聚醯亞胺(poiyimide)之厚度 1 1 25 U ία之薄膜的延伸率 為2 0 %以上。 1 1 r 2 . 如 申 請 專 利 範 圍 第 1項之金臛基底半専體電路基板 f I 其 中 在 前 述 之 非 埶 塑 性 聚醯 亞胺(polyimide)層之上, 係 1 1 層 合 有 熱 塑 性 聚 醒 亞 胺 (ρ 〇 1 y iiide) (2)層;而該熱塑性聚 1 I 藤 亞 胺 (P ο 1 y ί m 1 de )(2) 層, 其玻璃轉移溫度為2001M 上 1 和 3 0 0 °C Κ 下 並且 其在玻璃轉移溫度+ 3〇υ之狀態 下 1 1 的 弾 性 係 數 為 該 在 玻 璃轉 移溫度之狀態下的彈性僑數之 1 1 1/ 10以下 1 1 3 . — 種 金 屬 基 底 半 導 體電 路基板,係為在基底金臛之表 1 1 面 上 使 用 聚 醯 亞 胺 (Ρ 〇 1 y i mide)層而作為介電質 > 並 且 1 I f 在 前 述 之 聚 m 亞 胺 (Ρ ο 1 y i mide)層之上,埵形成有半 導 1 i 本紙張尺度逍用中圃國家梂準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 經濟部中央棣準局員工消費合作社印製 六、申請專利範圍 體搭載用電路的金靥基底半導體電路基板*其特擞為:在 基底金羼之背面上,層合有熱塑性聚醢亞胺(polyimide) (2)層;而該熱塑性聚醢亞胺(P〇lyimide)(2)層,其玻璃 轉移溫度為200tM上和30〇υΜ下,並且,其在玻璃轉移 溫度+ 30TC之狀態下的彈性係數,為該在玻璃轉移溫度之 狀態下的強性係數之1/10以下。 4. —種金屬基底半導體電路基板,係為在基底金臛之表 面上,使用聚醢亞鞍(poly iai.ide)層而作為介電質,並且 *在前述之聚醯亞胺(polyamide)層之上,遒形成有半導 體搭載用電路的金屬基底半導體電路基板,其特激為:在 基底金靥之背面上,層合有非熱塑性聚醯亞胺(polyiatide) 層;而該非熱塑性聚醯亞胺(pobiraide)屠,其玻璃轉移 溫度為200 °C Μ上,並且,該在玻璃轉移溫度+ 30Ό之狀 態下的彈性係數,為大於該在玻璃轉移溫度之狀態下的彈 性係數之1/10,而且,其單獨之聚驢亞瞭(polyimide)之 厚度2 5 w ίο之薄膜的延伸率,為2 0 %蚁上〇 5. 如申讅專利範圍第1至4項中任一項之金屬基底半導體 電路基板,其中該基底金屬之背面上之聚醯亞胺(polyi Hide) 層合體之25 °C下之熱膨脹係數,係在14X10 - 6 / deg〜 60 X 10 * 6 / deg之範圍内,而聚醢亞胺(P0丨yiKide)層之 延伸率,係在5¾〜120 %之範圍内,並且,如果由基底金 屬之角度來觀察的話,則最内側之聚醢亞胺(p 0丨y i m i d e ) 層對於基底金屬之黏著力*係為〇,5kg/cmM上。 6. 如申請專利範圍第1至4項中任一項之金屬基底半導體 本紙張尺度逋用中國國家樣率(CNS ) A4洗格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 419796 as Β8 C8 D8六、申請專利範圍 電路基板*其中各個之聚醢亞胺(polyimide)層之厚度緦 合*係為在0.5« m〜50« m之範圍内0 7. 如申請專利範圍第1至2項中任一項之金屬基底半導體 電路基板,其中熱塑性聚醢亞胺(P〇lyiniide)(l)層之厚度 ,係為在O.luffl〜lOiiii之範圍内。 8. 如申請專利範圍第1至4項中任一項之金屬基底半導體 電路基板*其中係具備有該藉由引深加工而形成有金屬基 底半専體電路基板的空孔(cavity)。 9. 如申請專利範園第8項之金靥基底半導體電路基板, 其中金屬基底半導體電路基板,係為BGAUaH Grid Array:球鬧陣列)基板。 10*如申請專利範圍第9項之金靨基底半導體電路基板, 其中空孔(cavity),傜為2段式構造,而第1段構造,係成 為壓接縫合(bonding-sUtch)形成部,並且,第2段構造 ,係成為晶Η搭載部、或者第2壓接缝合 (bonding-stitch)形成部及晶片搭載部。 11. 如申請專利範圍第8項之金靨基底半専體電路基板, 其中金靨基底半専體電路基板…係為LGA(Und Grid A r r 3 y :帶閛陣列)基板。 12. 如申請專利範圍第11項之金羼基底半専體電路基板 ,其中空孔(cavity)·係為2段式構造,而第1段構造,係 成為壓接縫合(bonding-stitch)形成部,並且τ第2段構 造,係成為晶片搭載部、或者第2壓接Μ合 (bonding-stitch)彤成部及晶Η搭載部。 本紙張尺度適用中困a家橾準(CNS )八4規格(210Χ297公釐) -3 - ml 1 I —IJ« nn ^ϋι— 11_ n ^111 .^n ------ 一BJ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 4 ^796 8 8 S 8 ABCD 經濟部中央標準局員工消費合作社印策 六、申請專利範圍 13. 如申請專利範圍第8項之金靨基底半導體電路基板, 其中金匾基底半導體電路基板,馀為MQP(Metal Quad Package :金靥四邊型封裝體)構造。 14. 如申謓專利範圍第9項之金屬基底半導體電路基板, 其中BGA(BaU Grid Array:球閘陣列)基板,係為該在基 底金屬之一部份之背面上而具備有檢測用端子構造的BGA (Ba丨1 Grid Array:球閘陣列)基板,並且,在該並無具 備有檢測用端子之背面的其他部分上,係由聚醯亞胺 (polyimide)層而被覆住。 15. —種金臛基底半導體電路基板之製造方法,其特激為 :在按照順序地層合上電路形成用銅萡、表面聚醯亞胺 (polyimide)層、基底金屬、Μ及背面聚臨亞胺(polyimide) 層之時,同時地進行著加熱壓接處理,K便於在該基板上 ,進行電路加工作業。 16 —種金靥基底半導體電路基板之製造方法,其特徵為 :在按照順序地曆合上電路形成用飼箔、表面聚醯亞胺 (P〇丨yimide)層、基底金屬、背面聚醢亞胺(polyimide)層 、K及飼箔之時,同時地進行著加熱壓接處理,接著,在 該基板上,進行電路加工作業。 17.如申請專利範圍第16項之金靥基底半導體電路基板 之製造方法,其中係藉由液體或者氣體,而同時地進行著 表面及背面之聚醢亞胺(polyimide)層的蝕刻處理。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS > A4洗格(210 X 297公釐) 4
TW087105240A 1997-04-09 1998-04-08 Metal-based semiconductor circuit substrates TW419796B (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9079497 1997-04-09
JP03765398A JP3982895B2 (ja) 1997-04-09 1998-02-19 金属ベース半導体回路基板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW419796B true TW419796B (en) 2001-01-21

Family

ID=26376785

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW087105240A TW419796B (en) 1997-04-09 1998-04-08 Metal-based semiconductor circuit substrates

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5990553A (zh)
EP (1) EP0871219A3 (zh)
JP (1) JP3982895B2 (zh)
KR (1) KR100306447B1 (zh)
SG (1) SG66452A1 (zh)
TW (1) TW419796B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111727667A (zh) * 2018-02-19 2020-09-29 荷兰应用科学研究会(Tno) 热成形具有表面曲率的电子装置的技术

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6495394B1 (en) * 1999-02-16 2002-12-17 Sumitomo Metal (Smi) Electronics Devices Inc. Chip package and method for manufacturing the same
JP3097653B2 (ja) 1998-04-17 2000-10-10 日本電気株式会社 半導体装置用パッケージおよびその製造方法
JP2000261137A (ja) * 1999-03-12 2000-09-22 Nec Corp 電子部品接続状態検査装置及び電子部品接続状態検査方法
US6461745B2 (en) * 2000-04-25 2002-10-08 Nippon Denkai, Ltd. Copper foil for tape carrier and tab carrier tape and tab tape carrier using the copper foil
US6309912B1 (en) * 2000-06-20 2001-10-30 Motorola, Inc. Method of interconnecting an embedded integrated circuit
US6527162B2 (en) * 2000-08-04 2003-03-04 Denso Corporation Connecting method and connecting structure of printed circuit boards
US6274491B1 (en) * 2000-08-11 2001-08-14 Orient Semiconductor Electronics Limited Process of manufacturing thin ball grid array substrates
US20030059976A1 (en) * 2001-09-24 2003-03-27 Nathan Richard J. Integrated package and methods for making same
TW554500B (en) * 2002-07-09 2003-09-21 Via Tech Inc Flip-chip package structure and the processing method thereof
JP2004103700A (ja) * 2002-09-06 2004-04-02 Toyota Industries Corp 低膨張部材及びその製造方法並びに低膨張部材を用いた半導体装置
KR20050089019A (ko) * 2002-12-03 2005-09-07 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 전기전자부품용 금속재료
TWI377224B (en) * 2004-07-27 2012-11-21 Kaneka Corp Polyimide film having high adhesiveness and production method therefor
KR100981852B1 (ko) * 2004-09-24 2010-09-13 가부시키가이샤 가네카 높은 접착성을 갖는 폴리이미드 필름의 제조 방법
US7332801B2 (en) * 2004-09-30 2008-02-19 Intel Corporation Electronic device
JP5185535B2 (ja) * 2005-01-18 2013-04-17 株式会社カネカ 接着性の改良された新規なポリイミドフィルム
WO2007015545A1 (ja) * 2005-08-04 2007-02-08 Kaneka Corporation 金属被覆ポリイミドフィルム
DE102005043657B4 (de) * 2005-09-13 2011-12-15 Infineon Technologies Ag Chipmodul, Verfahren zur Verkapselung eines Chips und Verwendung eines Verkapselungsmaterials
US20080302564A1 (en) * 2007-06-11 2008-12-11 Ppg Industries Ohio, Inc. Circuit assembly including a metal core substrate and process for preparing the same
US7824965B2 (en) * 2007-08-07 2010-11-02 Skyworks Solutions, Inc. Near chip scale package integration process
JP5110441B2 (ja) * 2008-01-15 2012-12-26 大日本印刷株式会社 半導体装置用配線部材、半導体装置用複合配線部材、および樹脂封止型半導体装置
JP2009302212A (ja) * 2008-06-11 2009-12-24 Fujitsu Microelectronics Ltd 半導体装置及びその製造方法
KR101444694B1 (ko) * 2009-05-25 2014-10-01 에스케이이노베이션 주식회사 연성금속박적층체 및 이의 제조방법
JP5313191B2 (ja) * 2010-02-26 2013-10-09 新日鉄住金化学株式会社 金属張積層板及びその製造方法
US8809690B2 (en) * 2010-03-04 2014-08-19 Rogers Corporation Dielectric bond plies for circuits and multilayer circuits, and methods of manufacture thereof
US8487426B2 (en) * 2011-03-15 2013-07-16 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor package with embedded die and manufacturing methods thereof
JP6094044B2 (ja) * 2011-03-23 2017-03-15 大日本印刷株式会社 放熱基板およびそれを用いた素子
KR101330770B1 (ko) * 2011-11-16 2013-11-18 엘지이노텍 주식회사 백라이트 유닛용 절곡 인쇄회로기판
CN103167729B (zh) * 2013-02-25 2016-01-20 合肥京东方光电科技有限公司 柔性印刷电路板及显示装置

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3364400A (en) * 1964-10-22 1968-01-16 Texas Instruments Inc Microwave transistor package
US4543295A (en) * 1980-09-22 1985-09-24 The United States Of America As Represented By The Director Of The National Aeronautics And Space Administration High temperature polyimide film laminates and process for preparation thereof
JPS6147246A (ja) * 1984-08-11 1986-03-07 松下電工株式会社 金属ベ−ス金属張積層板
US4679122A (en) * 1984-10-09 1987-07-07 General Electric Company Metal core printed circuit board
JPH0258887A (ja) * 1988-08-25 1990-02-28 Mitsubishi Plastics Ind Ltd アルミニウムベース銅張り積層板
JP2815462B2 (ja) * 1990-06-01 1998-10-27 三菱樹脂株式会社 金属積層基板
JPH0653621A (ja) * 1992-06-05 1994-02-25 Mitsui Toatsu Chem Inc 立体印刷基板、これを用いた電子回路パッケージ及び印刷基板の製造方法
DE69329542T2 (de) * 1992-06-05 2001-02-08 Mitsui Chemicals Inc Dreidimensionale leiterplatte, elektronische bauelementanordnung unter verwendung dieser leiterplatte und herstellungsverfahren zu dieser leiterplatte
US5406124A (en) * 1992-12-04 1995-04-11 Mitsui Toatsu Chemicals, Inc. Insulating adhesive tape, and lead frame and semiconductor device employing the tape
JP2912526B2 (ja) * 1993-07-05 1999-06-28 三菱電機株式会社 半導体パワーモジュールおよび複合基板
JPH0883861A (ja) * 1994-07-12 1996-03-26 Nitto Denko Corp 半導体パッケージ被覆用金属箔材料および半導体装置
JPH08148608A (ja) * 1994-09-20 1996-06-07 Fujitsu Ltd 半導体装置及びその製造方法及び半導体装置用基板
JPH08172142A (ja) * 1994-12-16 1996-07-02 Nippon Micron Kk 半導体パッケージ及びその製造方法並びに半導体装置
US6117616A (en) * 1995-04-17 2000-09-12 Nitto Denko Corporation Circuit-forming substrate and circuit substrate
JP2679681B2 (ja) * 1995-04-28 1997-11-19 日本電気株式会社 半導体装置、半導体装置用パッケージ及びその製造方法
JP3396566B2 (ja) * 1995-10-25 2003-04-14 三菱電機株式会社 半導体装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111727667A (zh) * 2018-02-19 2020-09-29 荷兰应用科学研究会(Tno) 热成形具有表面曲率的电子装置的技术
CN111727667B (zh) * 2018-02-19 2022-08-19 荷兰应用科学研究会(Tno) 热成形具有表面曲率的电子装置的技术

Also Published As

Publication number Publication date
KR19980081172A (ko) 1998-11-25
JPH10340973A (ja) 1998-12-22
KR100306447B1 (ko) 2002-03-08
EP0871219A3 (en) 1999-08-11
JP3982895B2 (ja) 2007-09-26
SG66452A1 (en) 1999-07-20
EP0871219A2 (en) 1998-10-14
US5990553A (en) 1999-11-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW419796B (en) Metal-based semiconductor circuit substrates
TWI269423B (en) Substrate assembly with direct electrical connection as a semiconductor package
TW519863B (en) Multilayer circuit board and method for manufacturing multilayer circuit board
US5814894A (en) Semiconductor device, production method thereof, and tape carrier for semiconductor device used for producing the semiconductor device
TW449844B (en) Ball grid array package having an integrated circuit chip
TWI262539B (en) Circuit device and manufacturing method thereof
JPS58128753A (ja) 電気構成部分のためのケ−シング
JP2004349497A (ja) パッケージ部品及び半導体パッケージ
TW200531142A (en) Semiconductor device and method for making same
JP2005520342A5 (zh)
JPS5933894A (ja) 混成集積用回路基板の製造法
TW200810639A (en) Conductive connection structure formed on the surface of circuit board and manufacturing method thereof
TWI286807B (en) Carrying structure of electronic component
JPH11274223A (ja) 2重金属被覆パッド面へのワイヤ・ボンディング方法及びそのワイヤ・ボンディングを含む電気カ―ド構造
TWI249231B (en) Flip-chip package structure with embedded chip in substrate
JP3589109B2 (ja) スティフナ付きtabテープおよびbgaパッケージ
TWI246135B (en) Semiconductor element with under bump metallurgy structure and fabrication method thereof
TWI351749B (en) Packaging substrate and method for menufacturing t
US20110198749A1 (en) Semiconductor chip package and method of manufacturing the same
TWI313925B (en) A semiconductor connection package for an integrated circuit, a method of connecting a semiconductor connection package to an integrated circuit and an apparatus
TWI397136B (zh) Cof用積層板及cof薄膜載帶以及電子裝置
JP2002057238A5 (zh)
JPH046893A (ja) パッケージ
TW434762B (en) Flexible substrate based ball grid array package structure
JPH11224912A (ja) 半導体パッケ−ジ用チップ支持基板及び半導体パッケ−ジ

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees