TW392232B - Method and apparatus for identifying integrated circuits - Google Patents
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Description
A7 A7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明(i ) 技術領域 * 本發明一般係關於積體電路, 路更尤其是關於積體電路之 滅別資訊。 發明背景 典型上,在半導體材料之單一晶_ p b 早卵圓上即可製造許多相同 之積體電路,諸如單結晶矽或砷化録。 ' & 稣。由单—之積體電路 所佔晶圓之部份被稱之爲-印模。在積體電路完成製造之 後,在測試每一印模之功能内可執 匕鬥』執仃連串測試(通稱爲探 Μ Ί Ρϋ I Μ / & |步驟内可使用每—印模所收集之 測試資料以確保㈣裝功能正確之印模爲積體電路晶片。 在探測試驗以後,將個別印模彼此分開,且將每一功能 正確之印模裝入在(通常爲塑膠或陶質)—封包内且有電; 線以形成-積體電路晶片。隨後,對每—積體電路晶片, 以其收集之測式資料,執行一連串測試作業。 爲欲使不同測試結果與適當印模有關聯,則在包裝成積 體電路晶片前及後兩者均需要每一印模之正確識別。識別 特定印模之能力在完成製造積體電路晶片之後亦爲重要。 例如,當一積體電路晶片在後來使用中意外失效時,晶片 製造商希望可識別其他潛在失效之晶片及其使用者。 $當今許多積體電路可提供能1電子閲讀之識別資訊,通 常在探測中本身即被程式設計—在積體電路内。⑽,晶片 封包通常有墨水或雷射書寫之指標它可提供—些有用之資 訊,諸如製造之日期及國家,產品及封包型式,速度及其 他測該參數,製造批號識別。在可電子閲讀之識別資訊内 广請先開讀背面年浮意#項真填寫冬頁) •裝. ~4~ 五、發明説明 ΑΊ Β7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 僅包括^可識別在晶片以内特殊積體電t 電子可謂之識別資訊通常 ^ ^ ^ 、在%虱測試積體電路内之該 寺“私序中才可獲得。同時,通常用相 測試裝置可完成恢復電 ,半導- g ·<*成別貝訊,爲進接場丨資 訊此程序必需實質接觸積體哲Β ^ 未發生期間尚存在料多片在此種,、質接觸並 许在有4^製造進程之步驟,i因之經由不 同製造進程個別積體電路晶片之可追踪識別係甚困難。而 :二:製造两運交積體電路晶片给顧主時,此獨—識別 貝訊並非立即可以獲得〇 發明之摘要 :提供-種識別積體電路之方法其中資訊程式 ^積農仏4-是二相應之機器!S分 -γ— _}-/ \ > m ^ ............................... ---------------- ----....,,.11.-- 1 "' ^^丁。』電路可用—附著標籤予以標誌、,用雷射刻 寫’或用任1示機器可讀光學識別狀不㈣當方法加 以《。積體電路包括可予程式設計以存儲電子識別資訊 I多數可程式化鏈’或包括任一非揮發資料存儲之不同適 當適用電路。 本方法更包括可閱讀光學識別碼及使其與相應電子識別 資訊聯合之兩步驟。因執行聯合步驟可使用一查明表或其 他適當相關方法。交替地,光岑識別碼可正確使相同資料 編碼爲電子識別資訊。 .- —_ 附圖之簡要説明 ,1爲描述包括有識別電路及可:機器閲讀光學指標之積 體電路之方塊圖。 -5- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
W •裝— 訂 本紙法尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210x 297公楚) A7 A7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 B7 五、發明説明(3 ) 圖2係描述包括多數印模之半導體晶圓·,每—印模具有一 可機器閲讀之光學指標。 圖3係描述含有可機器閱讀光學指標之加封包積體電路。 發明之詳細説明 电 接以下詳述,說明某些特定細節以便提供本發明實體之 澈底了解 '然對精於此工藝之人員完全了解没有此等細節 2述亦可實行本發明。按其他實例,尚未詳細顯示熟知之 電路及結構以便必需隱藏本發明實體之説明。 圖1敘明一積體電路10,它可爲任一由習用或新發展方法 所製造之各型不同積體電路。積體電路10包括—可程式役 計·^識別電路12具有-排可程式化鍵13,供存儲唯獨識別 積體電路之電子識別資訊。識別電路12可爲任—適於此種 用途之不同電路,是目前所熟知者還是隨後所開發者。可 程式化鏈可爲保險絲,防保險係,或任一適於非揮發資料 存^之不同電路元件,是目前所熟知者還是隨後所開發者 。藉識別電路12係可程式設計以存儲電子識別資訊之方法 ,以及將此種資訊由識別電路予以恢復之方法,均爲供此 種目的之任一許多不同方法,是目前所熟知還是隨後開發 者。例如,併入本文内供參考之美國專利N〇 5,3〇U43至 〇hn et d,即説明一種供存i遗復(取回)資料之範例式可 程式化識別電路12及方法。 — 〜 積體電路10亦包括一可機器閲讀光學識別指標14。識別 指標14可爲一附著標籤,一雷射刻記之指標,或任一不同 適合指標。識別指標14可顯示能符合存儲在可程式化識別 一 6 — —Γ^----------- 一,讀先知该賞萄"^系#^^4'寫^貧〕 ;線--------------- A7 B7 五、發明説明(4 ) 电路12内電子識別資訊之光學識別碼…光學識別碼η可 馬任—許多不同可機器閲讀之光學識別碼,是目前所孰知 還是隨後所開發者。由任-許多不同方法並和不同光學讀 碼機即可項得光學識別碼15,是目今所熟知還是随後所開 發者例如,在併入本文供參考之美國專利^^ 5,3的,7%至
Ackley内可説明—特殊光學識別碼及閲讀碼與解碼之方法 及裝置。 圖2描述已構造許多積體電路1〇在其上之半導體晶圓^, 每-電路造在許多半導體印模18中之一相應印模上。每一 印模1S上係多數光學識別指標14A中之一相應指標,每一 印模具有與存儲在識別電路12(見圖1)以内之電子識別資訊 相符〈光學哉別碼15A。圖3描述一加封包之積體電路晶片 在卵片内膠裝一個印模18(見圖2)。積體電路1〇(見圖工 及2)係經由多數電導線22可電氣接達。包裝之晶片2〇之外 層表面係用具有光學識別碼14B之光學識別指標予以標誌 15B與存儲在識別電路12(見圖丨)以内之電子識別資訊相 符。應注意使用個別參考數字以識別圖1-3内之光學識別指 k與代碼,即指示在製造進程之不同階段時可使用不同非 相似之識別指標及代碼。 典型上’在探測測試包括晶_慮在内之不同印模中係將 電子識別資訊程式設計在識別電路12之〜内。然後可產生一 個或夕個藏別指標14-14B以包括一光學識別碼,此碼可使 與所存儲在識別電路12内之資料相同之資料編碼。換言之 ’存错在識別電路12内l’S及〇'S之電子可接達型態係與在一 -7- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) IL--------o·^.--- -(請-£閲讀背面之注意Ϋ項再填筠本頁) 經濟、哪中央標準局員工消費合作社印製 ... — inn-—I tm· ί ^ κ - ^—^1 -1 - ^^i·— m^— , i 4* tn n.—-- - n.^— I1^1 A7 B7 五、發明説明( 個或多個識別指標14-14B所編碼之rs及〇,s之可光學接達刑 態完全相同。交替地,,經由一查明表或其他習用相關度; 法可使一個或多個識別指標14_14b發生相關,同時有存儲 在識別電路12内之特殊電子識別資料—一種比需要相同資 料更靈活之方法。 精於此工藝人員會了解由上述本發明之實體所獲致之諸 多優點。習用i,積體電路只包括可電子接達之識別資訊 ,以及設計供人眼之目«兹資訊。因此只在可電氣㈣ 積體電路内之製造進程中個別積體電路之準確識別現已可 獲得。對照上,本發明可提供具有與電子識別資訊聯合之 光學識別碼,因之在製造進程中及其以後亦可提供個別積 體電路方便,準確而可追踪之識別。而且,光學上識別積 體電路之能力可避免實質接觸之需要,因而可減少因電子 閱1買識別資料之動作而損壞積體電路之可能性—爲—現代 科技所共同_關切者。 經濟部中央標準局員工消費合作社印袋 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 如上述,光學識別指標14_14B係任—此種許多不同指標 ,使光學識別資訊編碼及閲讀此種資訊之方法及装置係: 此種目的之任一不同適合者。同樣,識別電路。即係任一 不同之適當適合電路,且程式設計及恢復電子識別資訊之 特別方法即係任—各㈣同^方法。此爲電氣可接達識 別資訊與聯合之機器可閱讀光學識別%巧煮支氣合,它可 製造進程可提供積體電路之可追踪度,以及在將其運交顧 主以後亦然。雖爲例圖敘述已説明本發明之某種實體,但 確完成不同之修改並未偏離本發明之精神及範圍。多數變 -8- 本紙張尺度適用中關家標準(CNS ) A4規格(21()>< 297公楚) 經濟部中央標準局員工消費合作社印— 392232 A7 B7 五、發明説明(6 ) ^ 動係洽在本發明之範圍以内,因此除由所附專利申請範圍 以外本發明並未受限制。 (請先閱讀背面之注意事_項再填寫本頁) .裝. 訂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)
Claims (1)
- 相 步 積 諸、 上 經濟部中央標率局員工消費合作社印製 讀取 電 第Π107534號專利申請案 A8 中文申請專利範圍修正本(狀年丨〇月)g 、申請專利範圍以以約抑32 1. 一種識別積體電路之方法,包括下列步驟: 以電子識別.資訊程式化該積體電路;及 以與電子識別資訊相符之光學識別碼標記積體電路 2:如:請專利範園第1項之方法,進-步包括下綱: 項取光學識別碼;及 將光學識別碼與相應電子識別資訊鈐人。 3.:申請專利範圍第2項之方法,其;二學識別碼與 ‘“子識別資訊結合之該步驟包括存取一查閱表之 驟。 4·:=範圍第1項之方法’其中以電子識別資訊程 式化積體電路之該步驟包括使多數可程式化鏈— 個鏈結予以程式化之步驟。 5·如申請專利範圍第丨項之方法,其中以 誌積體電路標誌之該步驟内包括將„ 0 刀&織貼於 6.:申請專利範圍第1項之方法,其中以光學識別Μ Ϊ =路標誌之該步驟内包括刻印一符號在積體電: 7· —種識別—積體電路之方法,該積體電路包括—。, 化電路,用以儲存包括可識別該積體電路之恭I^式 識別碼,該識別該積體電路的方法包括下 以光學識別碼標記該積體電路;以及 將光學識別碼與該電子可讀取識別碼結合。 8.如申請專利範圍第7項之方法,其中將風 予硪別碼與 本紙張尺度適用中國國家榡準(CNS) A4i^T^-x297/>jy (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁}相 步 積 諸、 上 經濟部中央標率局員工消費合作社印製 讀取 電 第Π107534號專利申請案 A8 中文申請專利範圍修正本(狀年丨〇月)g 、申請專利範圍以以約抑32 1. 一種識別積體電路之方法,包括下列步驟: 以電子識別.資訊程式化該積體電路;及 以與電子識別資訊相符之光學識別碼標記積體電路 2:如:請專利範園第1項之方法,進-步包括下綱: 項取光學識別碼;及 將光學識別碼與相應電子識別資訊鈐人。 3.:申請專利範圍第2項之方法,其;二學識別碼與 ‘“子識別資訊結合之該步驟包括存取一查閱表之 驟。 4·:=範圍第1項之方法’其中以電子識別資訊程 式化積體電路之該步驟包括使多數可程式化鏈— 個鏈結予以程式化之步驟。 5·如申請專利範圍第丨項之方法,其中以 誌積體電路標誌之該步驟内包括將„ 0 刀&織貼於 6.:申請專利範圍第1項之方法,其中以光學識別Μ Ϊ =路標誌之該步驟内包括刻印一符號在積體電: 7· —種識別—積體電路之方法,該積體電路包括—。, 化電路,用以儲存包括可識別該積體電路之恭I^式 識別碼,該識別該積體電路的方法包括下 以光學識別碼標記該積體電路;以及 將光學識別碼與該電子可讀取識別碼結合。 8.如申請專利範圍第7項之方法,其中將風 予硪別碼與 本紙張尺度適用中國國家榡準(CNS) A4i^T^-x297/>jy (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁}392222 ·—二一^一______.經濟部十央標準局員工消費合作社印製 、申請專利範圍 子可讀取識別碼結合之步..驟包括下列步騾:讀取該電子可閱讀識別碼;讀取該光學.識別碼;及使讀取入之電于可讀取識別瑪與讀取λ之光學識別碼 相關。 ...二.: 9. 如申請專利範圍第8項之方法,其中咚讀入電予可讀取 識別碼與光學識別碼相關之該步驟包括產生一杳 步驟。 —表孓 10. 如申料利範圍第7項之方法,其中使光學識別馬與 子可閱、讀識別碼聯合之該步驟而包括使光學及電子可 謂識別碼内之相同資料編碼之步驟。11·一種積體電路,包括:, —可操作以存儲識別資料之可程式化識別電路;以 相符於識別資料之一光學識別標記編碼資訊。 12.如申請專利範圍第丨i項之積體電路,其中可程式化識 電路包括多數可程式設計鏈結。13·如申請專利範園策11項之積體電路,其中光學識別標諸 可將相同於識別資料之資訊編碼。I4·一種積體電路晶片,包择: 一外殼;—積體電路,被封裝在外殼内,並包括一可操作以存 儲識別資料之識別電路;及—光學標記位於外殼之外表面上且將相符於識別資料 之識別資訊編碼。 *?ΪΡ· 閱 及 別 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) •訂_ -2 -392222 ·—二一^一______.經濟部十央標準局員工消費合作社印製 、申請專利範圍 子可讀取識別碼結合之步..驟包括下列步騾:讀取該電子可閱讀識別碼;讀取該光學.識別碼;及使讀取入之電于可讀取識別瑪與讀取λ之光學識別碼 相關。 ...二.: 9. 如申請專利範圍第8項之方法,其中咚讀入電予可讀取 識別碼與光學識別碼相關之該步驟包括產生一杳 步驟。 —表孓 10. 如申料利範圍第7項之方法,其中使光學識別馬與 子可閱、讀識別碼聯合之該步驟而包括使光學及電子可 謂識別碼内之相同資料編碼之步驟。11·一種積體電路,包括:, —可操作以存儲識別資料之可程式化識別電路;以 相符於識別資料之一光學識別標記編碼資訊。 12.如申請專利範圍第丨i項之積體電路,其中可程式化識 電路包括多數可程式設計鏈結。13·如申請專利範園策11項之積體電路,其中光學識別標諸 可將相同於識別資料之資訊編碼。I4·一種積體電路晶片,包择: 一外殼;—積體電路,被封裝在外殼内,並包括一可操作以存 儲識別資料之識別電路;及—光學標記位於外殼之外表面上且將相符於識別資料 之識別資訊編碼。 *?ΪΡ· 閱 及 別 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) •訂_ -2 -衫.上 年Λ ή 一* -r: —( 3B2232 7、申請專利範園 15. 如令請專利範園第14項之積體電路 ,· , 電氣接點,連接至該外殼且適於 進-步包括諸 外部電路間之電氣連接。 、供在積體電路與外殼 16. 如申請專利範圍第14項之積體電路 係一編瑪筮 阳片,其中光學標記 -識別資訊之第一光學標記,且更包括― 一光予榣圮係位於封裝於外殼 ^ 1政鬥又積體電路上且將符合 滅別資料之第二識別資訊予以編碼。 口' 17. :申請專利範園第16項之積體電路晶片,其中第—識別 只訊係與第二識別資訊相同。 a 18:.申請專利範圍第14項之積體電,^ 係與識別資料相同。 ° 袈— (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂I--- 經濟·那中央標準局員工消費合作社印製 -3 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 衫.上 年Λ ή 一* -r: —( 3B2232 7、申請專利範園 15. 如令請專利範園第14項之積體電路 ,· , 電氣接點,連接至該外殼且適於 進-步包括諸 外部電路間之電氣連接。 、供在積體電路與外殼 16. 如申請專利範圍第14項之積體電路 係一編瑪筮 阳片,其中光學標記 -識別資訊之第一光學標記,且更包括― 一光予榣圮係位於封裝於外殼 ^ 1政鬥又積體電路上且將符合 滅別資料之第二識別資訊予以編碼。 口' 17. :申請專利範園第16項之積體電路晶片,其中第—識別 只訊係與第二識別資訊相同。 a 18:.申請專利範圍第14項之積體電,^ 係與識別資料相同。 ° 袈— (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂I--- 經濟·那中央標準局員工消費合作社印製 -3 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)
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US6693033B2 (en) | 2000-02-10 | 2004-02-17 | Motorola, Inc. | Method of removing an amorphous oxide from a monocrystalline surface |
AU2001272081A1 (en) * | 2000-02-28 | 2001-09-03 | Ericsson Inc. | Integrated circuit package with device specific data storage |
SG106050A1 (en) * | 2000-03-13 | 2004-09-30 | Megic Corp | Method of manufacture and identification of semiconductor chip marked for identification with internal marking indicia and protection thereof by non-black layer and device produced thereby |
US6432796B1 (en) | 2000-06-28 | 2002-08-13 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for marking microelectronic dies and microelectronic devices |
US6673692B2 (en) * | 2000-06-28 | 2004-01-06 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for marking microelectronic dies and microelectronic devices |
DE10032128A1 (de) * | 2000-07-05 | 2002-01-17 | Giesecke & Devrient Gmbh | Sicherheitspapier und daraus hergestelltes Wertdokument |
US6555946B1 (en) | 2000-07-24 | 2003-04-29 | Motorola, Inc. | Acoustic wave device and process for forming the same |
DE10038998A1 (de) * | 2000-08-10 | 2002-02-21 | Bosch Gmbh Robert | Halbleiterbauelement und Verfahren zur Identifizierung eines Halbleiterbauelementes |
DE10044502A1 (de) * | 2000-09-08 | 2002-04-04 | Infineon Technologies Ag | Verfahren und Markierung zum Kennzeichnen integrierter Schaltkreise |
DE10045196C2 (de) * | 2000-09-13 | 2002-12-05 | Infineon Technologies Ag | Maschinenlesbares Etikett |
US6795743B1 (en) * | 2000-09-18 | 2004-09-21 | Dell Products L.P. | Apparatus and method for electronically encoding an article with work-in-progress information |
US6638838B1 (en) | 2000-10-02 | 2003-10-28 | Motorola, Inc. | Semiconductor structure including a partially annealed layer and method of forming the same |
US6673646B2 (en) | 2001-02-28 | 2004-01-06 | Motorola, Inc. | Growth of compound semiconductor structures on patterned oxide films and process for fabricating same |
US6709989B2 (en) | 2001-06-21 | 2004-03-23 | Motorola, Inc. | Method for fabricating a semiconductor structure including a metal oxide interface with silicon |
TW550724B (en) * | 2001-06-27 | 2003-09-01 | Shinko Electric Ind Co | Wiring substrate having position information |
US6646293B2 (en) | 2001-07-18 | 2003-11-11 | Motorola, Inc. | Structure for fabricating high electron mobility transistors utilizing the formation of complaint substrates |
US6693298B2 (en) | 2001-07-20 | 2004-02-17 | Motorola, Inc. | Structure and method for fabricating epitaxial semiconductor on insulator (SOI) structures and devices utilizing the formation of a compliant substrate for materials used to form same |
US6667196B2 (en) | 2001-07-25 | 2003-12-23 | Motorola, Inc. | Method for real-time monitoring and controlling perovskite oxide film growth and semiconductor structure formed using the method |
US6589856B2 (en) | 2001-08-06 | 2003-07-08 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for controlling anti-phase domains in semiconductor structures and devices |
US6639249B2 (en) | 2001-08-06 | 2003-10-28 | Motorola, Inc. | Structure and method for fabrication for a solid-state lighting device |
US6673667B2 (en) | 2001-08-15 | 2004-01-06 | Motorola, Inc. | Method for manufacturing a substantially integral monolithic apparatus including a plurality of semiconductor materials |
JP3941620B2 (ja) * | 2001-08-31 | 2007-07-04 | 株式会社デンソーウェーブ | Idタグ内蔵電子機器 |
JP3870780B2 (ja) * | 2001-12-21 | 2007-01-24 | ヤマハ株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
DE10216874A1 (de) * | 2002-04-17 | 2003-07-10 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Ablegen einer Information auf einem Halbleiter-Chip eines Wafers sowie Halbleiter-Chip |
US7046536B2 (en) * | 2002-05-29 | 2006-05-16 | Micron Technology, Inc. | Programable identification circuitry |
JP3614418B2 (ja) * | 2002-10-04 | 2005-01-26 | 株式会社Neomax | 薄膜磁気ヘッド用基板およびその製造方法 |
DE10259049A1 (de) * | 2002-12-17 | 2004-07-15 | Infineon Technologies Ag | Integriertes Halbleitermodul |
US8316068B2 (en) | 2004-06-04 | 2012-11-20 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) | Memory compression |
US20060055535A1 (en) * | 2004-09-13 | 2006-03-16 | Shoei-Lai Chen | Method of building electronic label for electronic device |
US7291507B2 (en) * | 2004-09-23 | 2007-11-06 | Pixim, Inc. | Using a time invariant statistical process variable of a semiconductor chip as the chip identifier |
US20080121709A1 (en) * | 2004-12-13 | 2008-05-29 | Tokyo Electron Limited | Semiconductor Chip With Identification Codes, Manufacturing Method Of The Chip And Semiconductor Chip Management System |
JP2006351772A (ja) * | 2005-06-15 | 2006-12-28 | Fujifilm Holdings Corp | 半導体チップの識別情報記録方法及び撮像装置 |
DE102006001601B4 (de) * | 2006-01-11 | 2008-06-26 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterwafers mit Rückseitenidentifizierung |
US8108700B2 (en) * | 2009-03-10 | 2012-01-31 | International Business Machines Corporation | Power supply identification using a modified power good signal |
US8415813B2 (en) | 2011-06-15 | 2013-04-09 | Truesense Imaging, Inc. | Identification of dies on a semiconductor wafer |
US8415175B2 (en) * | 2011-06-15 | 2013-04-09 | Truesense Imaging, Inc. | Identification of dies on a semiconductor wafer |
US9305664B2 (en) | 2014-03-26 | 2016-04-05 | Texas Instruments Incorporated | Memory repair categorization tracking |
DE112015003753T5 (de) | 2014-08-14 | 2017-06-29 | Octavo Systems Llc | Verbessertes substrat für system-in-package (sip)-vorrichtungen |
CN106663595B (zh) * | 2014-09-01 | 2019-12-20 | 三菱电机株式会社 | 半导体装置及半导体芯片 |
WO2017040967A1 (en) | 2015-09-04 | 2017-03-09 | Octavo Systems Llc | Improved system using system in package components |
US20170221871A1 (en) * | 2016-02-01 | 2017-08-03 | Octavo Systems Llc | Systems and methods for manufacturing electronic devices |
US10079206B2 (en) | 2016-10-27 | 2018-09-18 | Mapper Lithography Ip B.V. | Fabricating unique chips using a charged particle multi-beamlet lithography system |
US10522472B2 (en) | 2016-09-08 | 2019-12-31 | Asml Netherlands B.V. | Secure chips with serial numbers |
US20180269091A1 (en) * | 2017-03-16 | 2018-09-20 | Elenion Technologies, Llc | Chip identification system |
US11032910B2 (en) | 2017-05-01 | 2021-06-08 | Octavo Systems Llc | System-in-Package device ball map and layout optimization |
US10470294B2 (en) | 2017-05-01 | 2019-11-05 | Octavo Systems Llc | Reduction of passive components in system-in-package devices |
US11416050B2 (en) | 2017-05-08 | 2022-08-16 | Octavo Systems Llc | Component communications in system-in-package systems |
US10714430B2 (en) | 2017-07-21 | 2020-07-14 | Octavo Systems Llc | EMI shield for molded packages |
US11276098B2 (en) * | 2017-10-25 | 2022-03-15 | Xilinx, Inc. | Database lookup using a scannable code for part selection |
KR20200011142A (ko) | 2018-07-24 | 2020-02-03 | 삼성전기주식회사 | 통신 모듈 및 이의 제조방법 |
Family Cites Families (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57122544A (en) * | 1981-01-23 | 1982-07-30 | Hitachi Ltd | Semiconductor device |
DE3138085A1 (de) * | 1981-09-24 | 1983-04-07 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zur kennzeichnung von randsystemen auf halbleiterscheiben bei der herstellung von halbleiterbauelementen, insbesondere von integrierten halbleiter-schaltkreisen |
DE3226733A1 (de) * | 1981-11-26 | 1983-07-07 | Softelec S.A., 1400 Yverdon | Integrierter schaltkreis |
US4967381A (en) * | 1985-04-30 | 1990-10-30 | Prometrix Corporation | Process control interface system for managing measurement data |
JPH0793413B2 (ja) * | 1987-03-09 | 1995-10-09 | 日本電気株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
US4904853A (en) | 1987-09-22 | 1990-02-27 | Kabushiki Kaisha Astex | Dual-function information-carrying sheet device |
KR920007535B1 (ko) * | 1990-05-23 | 1992-09-05 | 삼성전자 주식회사 | 식별회로를 구비한 반도체 집적회로 칩 |
DE4124833A1 (de) * | 1990-07-28 | 1992-02-06 | Christian Berg | Etikettierungsbaustein fuer elektronische baugruppen |
JPH0775028B2 (ja) * | 1990-08-15 | 1995-08-09 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション | バーコードによる基板のマーク方法、その方法によってマークされた基板及び識別情報を有する基板 |
US5129974A (en) | 1990-08-23 | 1992-07-14 | Colorcode Unlimited Corporation | Microlabelling system and method of making thin labels |
JPH07123101B2 (ja) * | 1990-09-14 | 1995-12-25 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
JPH04199733A (ja) * | 1990-11-29 | 1992-07-20 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 半導体チップの製造方法及びその装置 |
US5226118A (en) * | 1991-01-29 | 1993-07-06 | Prometrix Corporation | Data analysis system and method for industrial process control systems |
US5482008A (en) * | 1991-09-13 | 1996-01-09 | Stafford; Rodney A. | Electronic animal identification system |
US5434870A (en) * | 1992-04-17 | 1995-07-18 | Unisys Corporation | Apparatus and method for verifying the authenticity of a circuit board |
US5787174A (en) * | 1992-06-17 | 1998-07-28 | Micron Technology, Inc. | Remote identification of integrated circuit |
JP3659981B2 (ja) * | 1992-07-09 | 2005-06-15 | アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド | ダイ特定情報に特徴付けられるダイ上の集積回路を含む装置 |
JPH0684730A (ja) * | 1992-08-31 | 1994-03-25 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の製造方法 |
US5313174A (en) * | 1992-09-18 | 1994-05-17 | Rockwell International Corporation | 2:1 bandwidth, 4-way, combiner/splitter |
US5301143A (en) * | 1992-12-31 | 1994-04-05 | Micron Semiconductor, Inc. | Method for identifying a semiconductor die using an IC with programmable links |
US5389770A (en) * | 1993-01-22 | 1995-02-14 | Intermec Corporation | Method and apparatus for decoding unresolved bar code profiles |
US5360747A (en) | 1993-06-10 | 1994-11-01 | Xilinx, Inc. | Method of reducing dice testing with on-chip identification |
US5801067A (en) | 1993-10-27 | 1998-09-01 | Ronald Shaw | Method for recording and identifying integrated circuit chips and the like |
JP2776247B2 (ja) * | 1993-11-17 | 1998-07-16 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路及びその製造方法 |
US5420796A (en) * | 1993-12-23 | 1995-05-30 | Vlsi Technology, Inc. | Method of inspecting planarity of wafer surface after etchback step in integrated circuit fabrication |
US5511005A (en) * | 1994-02-16 | 1996-04-23 | Ade Corporation | Wafer handling and processing system |
US5446447A (en) * | 1994-02-16 | 1995-08-29 | Motorola, Inc. | RF tagging system including RF tags with variable frequency resonant circuits |
US5641164A (en) | 1994-10-13 | 1997-06-24 | The M2000 Group Inc. | Talking trading cards |
US5743801A (en) | 1995-08-18 | 1998-04-28 | Welander; Paul M. | Collectable video sports card |
US5742526A (en) | 1996-01-03 | 1998-04-21 | Micron Technology, Inc. | Apparatus and method for identifying an integrated device |
US5748731A (en) | 1996-07-02 | 1998-05-05 | Shepherd; Henry G. | Electronic trading cards |
US5949059A (en) * | 1996-12-09 | 1999-09-07 | International Business Machines Corporation | Tamper evident labelling system with embedded storage device |
US5927512A (en) * | 1997-01-17 | 1999-07-27 | Micron Technology, Inc. | Method for sorting integrated circuit devices |
US5962834A (en) * | 1997-03-17 | 1999-10-05 | Markman; Herbert L. | Inventory tracking and management apparatus with multi-function encoding unit |
ES2344741T3 (es) * | 1998-08-14 | 2010-09-06 | 3M Innovative Properties Company | Lector de rfid. |
-
1997
- 1997-05-15 US US08/857,100 patent/US5984190A/en not_active Ceased
-
1998
- 1998-05-15 JP JP54967698A patent/JP2001525993A/ja active Pending
- 1998-05-15 TW TW087107534A patent/TW392232B/zh not_active IP Right Cessation
- 1998-05-15 AU AU74978/98A patent/AU7497898A/en not_active Abandoned
- 1998-05-15 KR KR1019997010556A patent/KR100839003B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1998-05-15 WO PCT/US1998/010226 patent/WO1998052226A1/en not_active Application Discontinuation
- 1998-05-15 EP EP98922427A patent/EP1004142A1/en not_active Ceased
-
2001
- 2001-11-16 US US09/998,594 patent/USRE40623E1/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1998052226A1 (en) | 1998-11-19 |
KR20010012597A (ko) | 2001-02-15 |
JP2001525993A (ja) | 2001-12-11 |
US5984190A (en) | 1999-11-16 |
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AU7497898A (en) | 1998-12-08 |
USRE40623E1 (en) | 2009-01-20 |
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