TW392232B - Method and apparatus for identifying integrated circuits - Google Patents

Method and apparatus for identifying integrated circuits Download PDF

Info

Publication number
TW392232B
TW392232B TW087107534A TW87107534A TW392232B TW 392232 B TW392232 B TW 392232B TW 087107534 A TW087107534 A TW 087107534A TW 87107534 A TW87107534 A TW 87107534A TW 392232 B TW392232 B TW 392232B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
integrated circuit
identification
optical
item
identification code
Prior art date
Application number
TW087107534A
Other languages
English (en)
Inventor
Leland R Nevill
Original Assignee
Micron Technology Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Micron Technology Inc filed Critical Micron Technology Inc
Application granted granted Critical
Publication of TW392232B publication Critical patent/TW392232B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/544Marks applied to semiconductor devices or parts, e.g. registration marks, alignment structures, wafer maps
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67282Marking devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/544Marks applied to semiconductor devices or parts
    • H01L2223/54413Marks applied to semiconductor devices or parts comprising digital information, e.g. bar codes, data matrix
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/544Marks applied to semiconductor devices or parts
    • H01L2223/54473Marks applied to semiconductor devices or parts for use after dicing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/544Marks applied to semiconductor devices or parts
    • H01L2223/54473Marks applied to semiconductor devices or parts for use after dicing
    • H01L2223/5448Located on chip prior to dicing and remaining on chip after dicing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/544Marks applied to semiconductor devices or parts
    • H01L2223/54473Marks applied to semiconductor devices or parts for use after dicing
    • H01L2223/54486Located on package parts, e.g. encapsulation, leads, package substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

A7 A7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明(i ) 技術領域 * 本發明一般係關於積體電路, 路更尤其是關於積體電路之 滅別資訊。 發明背景 典型上,在半導體材料之單一晶_ p b 早卵圓上即可製造許多相同 之積體電路,諸如單結晶矽或砷化録。 ' & 稣。由单—之積體電路 所佔晶圓之部份被稱之爲-印模。在積體電路完成製造之 後,在測試每一印模之功能内可執 匕鬥』執仃連串測試(通稱爲探 Μ Ί Ρϋ I Μ / & |步驟内可使用每—印模所收集之 測試資料以確保㈣裝功能正確之印模爲積體電路晶片。 在探測試驗以後,將個別印模彼此分開,且將每一功能 正確之印模裝入在(通常爲塑膠或陶質)—封包内且有電; 線以形成-積體電路晶片。隨後,對每—積體電路晶片, 以其收集之測式資料,執行一連串測試作業。 爲欲使不同測試結果與適當印模有關聯,則在包裝成積 體電路晶片前及後兩者均需要每一印模之正確識別。識別 特定印模之能力在完成製造積體電路晶片之後亦爲重要。 例如,當一積體電路晶片在後來使用中意外失效時,晶片 製造商希望可識別其他潛在失效之晶片及其使用者。 $當今許多積體電路可提供能1電子閲讀之識別資訊,通 常在探測中本身即被程式設計—在積體電路内。⑽,晶片 封包通常有墨水或雷射書寫之指標它可提供—些有用之資 訊,諸如製造之日期及國家,產品及封包型式,速度及其 他測該參數,製造批號識別。在可電子閲讀之識別資訊内 广請先開讀背面年浮意#項真填寫冬頁) •裝. ~4~ 五、發明説明 ΑΊ Β7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 僅包括^可識別在晶片以内特殊積體電t 電子可謂之識別資訊通常 ^ ^ ^ 、在%虱測試積體電路内之該 寺“私序中才可獲得。同時,通常用相 測試裝置可完成恢復電 ,半導- g ·<*成別貝訊,爲進接場丨資 訊此程序必需實質接觸積體哲Β ^ 未發生期間尚存在料多片在此種,、質接觸並 许在有4^製造進程之步驟,i因之經由不 同製造進程個別積體電路晶片之可追踪識別係甚困難。而 :二:製造两運交積體電路晶片给顧主時,此獨—識別 貝訊並非立即可以獲得〇 發明之摘要 :提供-種識別積體電路之方法其中資訊程式 ^積農仏4-是二相應之機器!S分 -γ— _}-/ \ > m ^ ............................... ---------------- ----....,,.11.-- 1 "' ^^丁。』電路可用—附著標籤予以標誌、,用雷射刻 寫’或用任1示機器可讀光學識別狀不㈣當方法加 以《。積體電路包括可予程式設計以存儲電子識別資訊 I多數可程式化鏈’或包括任一非揮發資料存儲之不同適 當適用電路。 本方法更包括可閱讀光學識別碼及使其與相應電子識別 資訊聯合之兩步驟。因執行聯合步驟可使用一查明表或其 他適當相關方法。交替地,光岑識別碼可正確使相同資料 編碼爲電子識別資訊。 .- —_ 附圖之簡要説明 ,1爲描述包括有識別電路及可:機器閲讀光學指標之積 體電路之方塊圖。 -5- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
W •裝— 訂 本紙法尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210x 297公楚) A7 A7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 B7 五、發明説明(3 ) 圖2係描述包括多數印模之半導體晶圓·,每—印模具有一 可機器閲讀之光學指標。 圖3係描述含有可機器閱讀光學指標之加封包積體電路。 發明之詳細説明 电 接以下詳述,說明某些特定細節以便提供本發明實體之 澈底了解 '然對精於此工藝之人員完全了解没有此等細節 2述亦可實行本發明。按其他實例,尚未詳細顯示熟知之 電路及結構以便必需隱藏本發明實體之説明。 圖1敘明一積體電路10,它可爲任一由習用或新發展方法 所製造之各型不同積體電路。積體電路10包括—可程式役 計·^識別電路12具有-排可程式化鍵13,供存儲唯獨識別 積體電路之電子識別資訊。識別電路12可爲任—適於此種 用途之不同電路,是目前所熟知者還是隨後所開發者。可 程式化鏈可爲保險絲,防保險係,或任一適於非揮發資料 存^之不同電路元件,是目前所熟知者還是隨後所開發者 。藉識別電路12係可程式設計以存儲電子識別資訊之方法 ,以及將此種資訊由識別電路予以恢復之方法,均爲供此 種目的之任一許多不同方法,是目前所熟知還是隨後開發 者。例如,併入本文内供參考之美國專利N〇 5,3〇U43至 〇hn et d,即説明一種供存i遗復(取回)資料之範例式可 程式化識別電路12及方法。 — 〜 積體電路10亦包括一可機器閲讀光學識別指標14。識別 指標14可爲一附著標籤,一雷射刻記之指標,或任一不同 適合指標。識別指標14可顯示能符合存儲在可程式化識別 一 6 — —Γ^----------- 一,讀先知该賞萄"^系#^^4'寫^貧〕 ;線--------------- A7 B7 五、發明説明(4 ) 电路12内電子識別資訊之光學識別碼…光學識別碼η可 馬任—許多不同可機器閲讀之光學識別碼,是目前所孰知 還是隨後所開發者。由任-許多不同方法並和不同光學讀 碼機即可項得光學識別碼15,是目今所熟知還是随後所開 發者例如,在併入本文供參考之美國專利^^ 5,3的,7%至
Ackley内可説明—特殊光學識別碼及閲讀碼與解碼之方法 及裝置。 圖2描述已構造許多積體電路1〇在其上之半導體晶圓^, 每-電路造在許多半導體印模18中之一相應印模上。每一 印模1S上係多數光學識別指標14A中之一相應指標,每一 印模具有與存儲在識別電路12(見圖1)以内之電子識別資訊 相符〈光學哉別碼15A。圖3描述一加封包之積體電路晶片 在卵片内膠裝一個印模18(見圖2)。積體電路1〇(見圖工 及2)係經由多數電導線22可電氣接達。包裝之晶片2〇之外 層表面係用具有光學識別碼14B之光學識別指標予以標誌 15B與存儲在識別電路12(見圖丨)以内之電子識別資訊相 符。應注意使用個別參考數字以識別圖1-3内之光學識別指 k與代碼,即指示在製造進程之不同階段時可使用不同非 相似之識別指標及代碼。 典型上’在探測測試包括晶_慮在内之不同印模中係將 電子識別資訊程式設計在識別電路12之〜内。然後可產生一 個或夕個藏別指標14-14B以包括一光學識別碼,此碼可使 與所存儲在識別電路12内之資料相同之資料編碼。換言之 ’存错在識別電路12内l’S及〇'S之電子可接達型態係與在一 -7- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) IL--------o·^.--- -(請-£閲讀背面之注意Ϋ項再填筠本頁) 經濟、哪中央標準局員工消費合作社印製 ... — inn-—I tm· ί ^ κ - ^—^1 -1 - ^^i·— m^— , i 4* tn n.—-- - n.^— I1^1 A7 B7 五、發明説明( 個或多個識別指標14-14B所編碼之rs及〇,s之可光學接達刑 態完全相同。交替地,,經由一查明表或其他習用相關度; 法可使一個或多個識別指標14_14b發生相關,同時有存儲 在識別電路12内之特殊電子識別資料—一種比需要相同資 料更靈活之方法。 精於此工藝人員會了解由上述本發明之實體所獲致之諸 多優點。習用i,積體電路只包括可電子接達之識別資訊 ,以及設計供人眼之目«兹資訊。因此只在可電氣㈣ 積體電路内之製造進程中個別積體電路之準確識別現已可 獲得。對照上,本發明可提供具有與電子識別資訊聯合之 光學識別碼,因之在製造進程中及其以後亦可提供個別積 體電路方便,準確而可追踪之識別。而且,光學上識別積 體電路之能力可避免實質接觸之需要,因而可減少因電子 閱1買識別資料之動作而損壞積體電路之可能性—爲—現代 科技所共同_關切者。 經濟部中央標準局員工消費合作社印袋 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 如上述,光學識別指標14_14B係任—此種許多不同指標 ,使光學識別資訊編碼及閲讀此種資訊之方法及装置係: 此種目的之任一不同適合者。同樣,識別電路。即係任一 不同之適當適合電路,且程式設計及恢復電子識別資訊之 特別方法即係任—各㈣同^方法。此爲電氣可接達識 別資訊與聯合之機器可閱讀光學識別%巧煮支氣合,它可 製造進程可提供積體電路之可追踪度,以及在將其運交顧 主以後亦然。雖爲例圖敘述已説明本發明之某種實體,但 確完成不同之修改並未偏離本發明之精神及範圍。多數變 -8- 本紙張尺度適用中關家標準(CNS ) A4規格(21()>< 297公楚) 經濟部中央標準局員工消費合作社印— 392232 A7 B7 五、發明説明(6 ) ^ 動係洽在本發明之範圍以内,因此除由所附專利申請範圍 以外本發明並未受限制。 (請先閱讀背面之注意事_項再填寫本頁) .裝. 訂 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)

Claims (1)

  1. 相 步 積 諸、 上 經濟部中央標率局員工消費合作社印製 讀取 電 第Π107534號專利申請案 A8 中文申請專利範圍修正本(狀年丨〇月)g 、申請專利範圍以以約抑32 1. 一種識別積體電路之方法,包括下列步驟: 以電子識別.資訊程式化該積體電路;及 以與電子識別資訊相符之光學識別碼標記積體電路 2:如:請專利範園第1項之方法,進-步包括下綱: 項取光學識別碼;及 將光學識別碼與相應電子識別資訊鈐人。 3.:申請專利範圍第2項之方法,其;二學識別碼與 ‘“子識別資訊結合之該步驟包括存取一查閱表之 驟。 4·:=範圍第1項之方法’其中以電子識別資訊程 式化積體電路之該步驟包括使多數可程式化鏈— 個鏈結予以程式化之步驟。 5·如申請專利範圍第丨項之方法,其中以 誌積體電路標誌之該步驟内包括將„ 0 刀&織貼於 6.:申請專利範圍第1項之方法,其中以光學識別Μ Ϊ =路標誌之該步驟内包括刻印一符號在積體電: 7· —種識別—積體電路之方法,該積體電路包括—。, 化電路,用以儲存包括可識別該積體電路之恭I^式 識別碼,該識別該積體電路的方法包括下 以光學識別碼標記該積體電路;以及 將光學識別碼與該電子可讀取識別碼結合。 8.如申請專利範圍第7項之方法,其中將風 予硪別碼與 本紙張尺度適用中國國家榡準(CNS) A4i^T^-x297/>jy (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁}
    相 步 積 諸、 上 經濟部中央標率局員工消費合作社印製 讀取 電 第Π107534號專利申請案 A8 中文申請專利範圍修正本(狀年丨〇月)g 、申請專利範圍以以約抑32 1. 一種識別積體電路之方法,包括下列步驟: 以電子識別.資訊程式化該積體電路;及 以與電子識別資訊相符之光學識別碼標記積體電路 2:如:請專利範園第1項之方法,進-步包括下綱: 項取光學識別碼;及 將光學識別碼與相應電子識別資訊鈐人。 3.:申請專利範圍第2項之方法,其;二學識別碼與 ‘“子識別資訊結合之該步驟包括存取一查閱表之 驟。 4·:=範圍第1項之方法’其中以電子識別資訊程 式化積體電路之該步驟包括使多數可程式化鏈— 個鏈結予以程式化之步驟。 5·如申請專利範圍第丨項之方法,其中以 誌積體電路標誌之該步驟内包括將„ 0 刀&織貼於 6.:申請專利範圍第1項之方法,其中以光學識別Μ Ϊ =路標誌之該步驟内包括刻印一符號在積體電: 7· —種識別—積體電路之方法,該積體電路包括—。, 化電路,用以儲存包括可識別該積體電路之恭I^式 識別碼,該識別該積體電路的方法包括下 以光學識別碼標記該積體電路;以及 將光學識別碼與該電子可讀取識別碼結合。 8.如申請專利範圍第7項之方法,其中將風 予硪別碼與 本紙張尺度適用中國國家榡準(CNS) A4i^T^-x297/>jy (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁}
    392222 ·—二一^一______.
    經濟部十央標準局員工消費合作社印製 、申請專利範圍 子可讀取識別碼結合之步..驟包括下列步騾:讀取該電子可閱讀識別碼;讀取該光學.識別碼;及使讀取入之電于可讀取識別瑪與讀取λ之光學識別碼 相關。 ...二.: 9. 如申請專利範圍第8項之方法,其中咚讀入電予可讀取 識別碼與光學識別碼相關之該步驟包括產生一杳 步驟。 —表孓 10. 如申料利範圍第7項之方法,其中使光學識別馬與 子可閱、讀識別碼聯合之該步驟而包括使光學及電子可 謂識別碼内之相同資料編碼之步驟。11·一種積體電路,包括:, —可操作以存儲識別資料之可程式化識別電路;以 相符於識別資料之一光學識別標記編碼資訊。 12.如申請專利範圍第丨i項之積體電路,其中可程式化識 電路包括多數可程式設計鏈結。13·如申請專利範園策11項之積體電路,其中光學識別標諸 可將相同於識別資料之資訊編碼。I4·一種積體電路晶片,包择: 一外殼;—積體電路,被封裝在外殼内,並包括一可操作以存 儲識別資料之識別電路;及—光學標記位於外殼之外表面上且將相符於識別資料 之識別資訊編碼。 *?ΪΡ· 閱 及 別 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) •訂_ -2 -
    392222 ·—二一^一______.
    經濟部十央標準局員工消費合作社印製 、申請專利範圍 子可讀取識別碼結合之步..驟包括下列步騾:讀取該電子可閱讀識別碼;讀取該光學.識別碼;及使讀取入之電于可讀取識別瑪與讀取λ之光學識別碼 相關。 ...二.: 9. 如申請專利範圍第8項之方法,其中咚讀入電予可讀取 識別碼與光學識別碼相關之該步驟包括產生一杳 步驟。 —表孓 10. 如申料利範圍第7項之方法,其中使光學識別馬與 子可閱、讀識別碼聯合之該步驟而包括使光學及電子可 謂識別碼内之相同資料編碼之步驟。11·一種積體電路,包括:, —可操作以存儲識別資料之可程式化識別電路;以 相符於識別資料之一光學識別標記編碼資訊。 12.如申請專利範圍第丨i項之積體電路,其中可程式化識 電路包括多數可程式設計鏈結。13·如申請專利範園策11項之積體電路,其中光學識別標諸 可將相同於識別資料之資訊編碼。I4·一種積體電路晶片,包择: 一外殼;—積體電路,被封裝在外殼内,並包括一可操作以存 儲識別資料之識別電路;及—光學標記位於外殼之外表面上且將相符於識別資料 之識別資訊編碼。 *?ΪΡ· 閱 及 別 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) •訂_ -2 -
    衫.上 年Λ ή 一* -r: —( 3B2232 7、申請專利範園 15. 如令請專利範園第14項之積體電路 ,· , 電氣接點,連接至該外殼且適於 進-步包括諸 外部電路間之電氣連接。 、供在積體電路與外殼 16. 如申請專利範圍第14項之積體電路 係一編瑪筮 阳片,其中光學標記 -識別資訊之第一光學標記,且更包括― 一光予榣圮係位於封裝於外殼 ^ 1政鬥又積體電路上且將符合 滅別資料之第二識別資訊予以編碼。 口' 17. :申請專利範園第16項之積體電路晶片,其中第—識別 只訊係與第二識別資訊相同。 a 18:.申請專利範圍第14項之積體電,^ 係與識別資料相同。 ° 袈— (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂I--- 經濟·那中央標準局員工消費合作社印製 -3 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 衫.上 年Λ ή 一* -r: —( 3B2232 7、申請專利範園 15. 如令請專利範園第14項之積體電路 ,· , 電氣接點,連接至該外殼且適於 進-步包括諸 外部電路間之電氣連接。 、供在積體電路與外殼 16. 如申請專利範圍第14項之積體電路 係一編瑪筮 阳片,其中光學標記 -識別資訊之第一光學標記,且更包括― 一光予榣圮係位於封裝於外殼 ^ 1政鬥又積體電路上且將符合 滅別資料之第二識別資訊予以編碼。 口' 17. :申請專利範園第16項之積體電路晶片,其中第—識別 只訊係與第二識別資訊相同。 a 18:.申請專利範圍第14項之積體電,^ 係與識別資料相同。 ° 袈— (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂I--- 經濟·那中央標準局員工消費合作社印製 -3 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)
TW087107534A 1997-05-15 1998-05-15 Method and apparatus for identifying integrated circuits TW392232B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/857,100 US5984190A (en) 1997-05-15 1997-05-15 Method and apparatus for identifying integrated circuits

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW392232B true TW392232B (en) 2000-06-01

Family

ID=25325182

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW087107534A TW392232B (en) 1997-05-15 1998-05-15 Method and apparatus for identifying integrated circuits

Country Status (7)

Country Link
US (2) US5984190A (zh)
EP (1) EP1004142A1 (zh)
JP (1) JP2001525993A (zh)
KR (1) KR100839003B1 (zh)
AU (1) AU7497898A (zh)
TW (1) TW392232B (zh)
WO (1) WO1998052226A1 (zh)

Families Citing this family (57)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69722403T2 (de) * 1997-09-23 2004-01-15 St Microelectronics Srl Banknote mit einer integrierten Schaltung
US6659353B1 (en) * 1998-07-12 2003-12-09 Hitachi, Ltd. Method of checking authenticity of sheet with built-in electronic circuit chip
KR20010074753A (ko) * 1998-07-27 2001-08-09 외르겐 브로소프 보안 용지와, 그 보안 용지상에 기록된 문서의 진위를검사하기 위한 방법 및 장치
US6268228B1 (en) 1999-01-27 2001-07-31 International Business Machines Corporation Electrical mask identification of memory modules
US6161213A (en) * 1999-02-17 2000-12-12 Icid, Llc System for providing an integrated circuit with a unique identification
JP2001118232A (ja) * 1999-10-20 2001-04-27 Tdk Corp 記号読取方法および装置
US6731221B1 (en) * 1999-12-20 2004-05-04 Intel Corporation Electrically modifiable product labeling
US6693033B2 (en) 2000-02-10 2004-02-17 Motorola, Inc. Method of removing an amorphous oxide from a monocrystalline surface
AU2001272081A1 (en) * 2000-02-28 2001-09-03 Ericsson Inc. Integrated circuit package with device specific data storage
SG106050A1 (en) * 2000-03-13 2004-09-30 Megic Corp Method of manufacture and identification of semiconductor chip marked for identification with internal marking indicia and protection thereof by non-black layer and device produced thereby
US6432796B1 (en) 2000-06-28 2002-08-13 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for marking microelectronic dies and microelectronic devices
US6673692B2 (en) * 2000-06-28 2004-01-06 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for marking microelectronic dies and microelectronic devices
DE10032128A1 (de) * 2000-07-05 2002-01-17 Giesecke & Devrient Gmbh Sicherheitspapier und daraus hergestelltes Wertdokument
US6555946B1 (en) 2000-07-24 2003-04-29 Motorola, Inc. Acoustic wave device and process for forming the same
DE10038998A1 (de) * 2000-08-10 2002-02-21 Bosch Gmbh Robert Halbleiterbauelement und Verfahren zur Identifizierung eines Halbleiterbauelementes
DE10044502A1 (de) * 2000-09-08 2002-04-04 Infineon Technologies Ag Verfahren und Markierung zum Kennzeichnen integrierter Schaltkreise
DE10045196C2 (de) * 2000-09-13 2002-12-05 Infineon Technologies Ag Maschinenlesbares Etikett
US6795743B1 (en) * 2000-09-18 2004-09-21 Dell Products L.P. Apparatus and method for electronically encoding an article with work-in-progress information
US6638838B1 (en) 2000-10-02 2003-10-28 Motorola, Inc. Semiconductor structure including a partially annealed layer and method of forming the same
US6673646B2 (en) 2001-02-28 2004-01-06 Motorola, Inc. Growth of compound semiconductor structures on patterned oxide films and process for fabricating same
US6709989B2 (en) 2001-06-21 2004-03-23 Motorola, Inc. Method for fabricating a semiconductor structure including a metal oxide interface with silicon
TW550724B (en) * 2001-06-27 2003-09-01 Shinko Electric Ind Co Wiring substrate having position information
US6646293B2 (en) 2001-07-18 2003-11-11 Motorola, Inc. Structure for fabricating high electron mobility transistors utilizing the formation of complaint substrates
US6693298B2 (en) 2001-07-20 2004-02-17 Motorola, Inc. Structure and method for fabricating epitaxial semiconductor on insulator (SOI) structures and devices utilizing the formation of a compliant substrate for materials used to form same
US6667196B2 (en) 2001-07-25 2003-12-23 Motorola, Inc. Method for real-time monitoring and controlling perovskite oxide film growth and semiconductor structure formed using the method
US6589856B2 (en) 2001-08-06 2003-07-08 Motorola, Inc. Method and apparatus for controlling anti-phase domains in semiconductor structures and devices
US6639249B2 (en) 2001-08-06 2003-10-28 Motorola, Inc. Structure and method for fabrication for a solid-state lighting device
US6673667B2 (en) 2001-08-15 2004-01-06 Motorola, Inc. Method for manufacturing a substantially integral monolithic apparatus including a plurality of semiconductor materials
JP3941620B2 (ja) * 2001-08-31 2007-07-04 株式会社デンソーウェーブ Idタグ内蔵電子機器
JP3870780B2 (ja) * 2001-12-21 2007-01-24 ヤマハ株式会社 半導体装置の製造方法
DE10216874A1 (de) * 2002-04-17 2003-07-10 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Ablegen einer Information auf einem Halbleiter-Chip eines Wafers sowie Halbleiter-Chip
US7046536B2 (en) * 2002-05-29 2006-05-16 Micron Technology, Inc. Programable identification circuitry
JP3614418B2 (ja) * 2002-10-04 2005-01-26 株式会社Neomax 薄膜磁気ヘッド用基板およびその製造方法
DE10259049A1 (de) * 2002-12-17 2004-07-15 Infineon Technologies Ag Integriertes Halbleitermodul
US8316068B2 (en) 2004-06-04 2012-11-20 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Memory compression
US20060055535A1 (en) * 2004-09-13 2006-03-16 Shoei-Lai Chen Method of building electronic label for electronic device
US7291507B2 (en) * 2004-09-23 2007-11-06 Pixim, Inc. Using a time invariant statistical process variable of a semiconductor chip as the chip identifier
US20080121709A1 (en) * 2004-12-13 2008-05-29 Tokyo Electron Limited Semiconductor Chip With Identification Codes, Manufacturing Method Of The Chip And Semiconductor Chip Management System
JP2006351772A (ja) * 2005-06-15 2006-12-28 Fujifilm Holdings Corp 半導体チップの識別情報記録方法及び撮像装置
DE102006001601B4 (de) * 2006-01-11 2008-06-26 Infineon Technologies Ag Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterwafers mit Rückseitenidentifizierung
US8108700B2 (en) * 2009-03-10 2012-01-31 International Business Machines Corporation Power supply identification using a modified power good signal
US8415813B2 (en) 2011-06-15 2013-04-09 Truesense Imaging, Inc. Identification of dies on a semiconductor wafer
US8415175B2 (en) * 2011-06-15 2013-04-09 Truesense Imaging, Inc. Identification of dies on a semiconductor wafer
US9305664B2 (en) 2014-03-26 2016-04-05 Texas Instruments Incorporated Memory repair categorization tracking
DE112015003753T5 (de) 2014-08-14 2017-06-29 Octavo Systems Llc Verbessertes substrat für system-in-package (sip)-vorrichtungen
CN106663595B (zh) * 2014-09-01 2019-12-20 三菱电机株式会社 半导体装置及半导体芯片
WO2017040967A1 (en) 2015-09-04 2017-03-09 Octavo Systems Llc Improved system using system in package components
US20170221871A1 (en) * 2016-02-01 2017-08-03 Octavo Systems Llc Systems and methods for manufacturing electronic devices
US10079206B2 (en) 2016-10-27 2018-09-18 Mapper Lithography Ip B.V. Fabricating unique chips using a charged particle multi-beamlet lithography system
US10522472B2 (en) 2016-09-08 2019-12-31 Asml Netherlands B.V. Secure chips with serial numbers
US20180269091A1 (en) * 2017-03-16 2018-09-20 Elenion Technologies, Llc Chip identification system
US11032910B2 (en) 2017-05-01 2021-06-08 Octavo Systems Llc System-in-Package device ball map and layout optimization
US10470294B2 (en) 2017-05-01 2019-11-05 Octavo Systems Llc Reduction of passive components in system-in-package devices
US11416050B2 (en) 2017-05-08 2022-08-16 Octavo Systems Llc Component communications in system-in-package systems
US10714430B2 (en) 2017-07-21 2020-07-14 Octavo Systems Llc EMI shield for molded packages
US11276098B2 (en) * 2017-10-25 2022-03-15 Xilinx, Inc. Database lookup using a scannable code for part selection
KR20200011142A (ko) 2018-07-24 2020-02-03 삼성전기주식회사 통신 모듈 및 이의 제조방법

Family Cites Families (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57122544A (en) * 1981-01-23 1982-07-30 Hitachi Ltd Semiconductor device
DE3138085A1 (de) * 1981-09-24 1983-04-07 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zur kennzeichnung von randsystemen auf halbleiterscheiben bei der herstellung von halbleiterbauelementen, insbesondere von integrierten halbleiter-schaltkreisen
DE3226733A1 (de) * 1981-11-26 1983-07-07 Softelec S.A., 1400 Yverdon Integrierter schaltkreis
US4967381A (en) * 1985-04-30 1990-10-30 Prometrix Corporation Process control interface system for managing measurement data
JPH0793413B2 (ja) * 1987-03-09 1995-10-09 日本電気株式会社 半導体装置の製造方法
US4904853A (en) 1987-09-22 1990-02-27 Kabushiki Kaisha Astex Dual-function information-carrying sheet device
KR920007535B1 (ko) * 1990-05-23 1992-09-05 삼성전자 주식회사 식별회로를 구비한 반도체 집적회로 칩
DE4124833A1 (de) * 1990-07-28 1992-02-06 Christian Berg Etikettierungsbaustein fuer elektronische baugruppen
JPH0775028B2 (ja) * 1990-08-15 1995-08-09 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション バーコードによる基板のマーク方法、その方法によってマークされた基板及び識別情報を有する基板
US5129974A (en) 1990-08-23 1992-07-14 Colorcode Unlimited Corporation Microlabelling system and method of making thin labels
JPH07123101B2 (ja) * 1990-09-14 1995-12-25 株式会社東芝 半導体装置
JPH04199733A (ja) * 1990-11-29 1992-07-20 Tokyo Seimitsu Co Ltd 半導体チップの製造方法及びその装置
US5226118A (en) * 1991-01-29 1993-07-06 Prometrix Corporation Data analysis system and method for industrial process control systems
US5482008A (en) * 1991-09-13 1996-01-09 Stafford; Rodney A. Electronic animal identification system
US5434870A (en) * 1992-04-17 1995-07-18 Unisys Corporation Apparatus and method for verifying the authenticity of a circuit board
US5787174A (en) * 1992-06-17 1998-07-28 Micron Technology, Inc. Remote identification of integrated circuit
JP3659981B2 (ja) * 1992-07-09 2005-06-15 アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド ダイ特定情報に特徴付けられるダイ上の集積回路を含む装置
JPH0684730A (ja) * 1992-08-31 1994-03-25 Fujitsu Ltd 半導体装置の製造方法
US5313174A (en) * 1992-09-18 1994-05-17 Rockwell International Corporation 2:1 bandwidth, 4-way, combiner/splitter
US5301143A (en) * 1992-12-31 1994-04-05 Micron Semiconductor, Inc. Method for identifying a semiconductor die using an IC with programmable links
US5389770A (en) * 1993-01-22 1995-02-14 Intermec Corporation Method and apparatus for decoding unresolved bar code profiles
US5360747A (en) 1993-06-10 1994-11-01 Xilinx, Inc. Method of reducing dice testing with on-chip identification
US5801067A (en) 1993-10-27 1998-09-01 Ronald Shaw Method for recording and identifying integrated circuit chips and the like
JP2776247B2 (ja) * 1993-11-17 1998-07-16 日本電気株式会社 半導体集積回路及びその製造方法
US5420796A (en) * 1993-12-23 1995-05-30 Vlsi Technology, Inc. Method of inspecting planarity of wafer surface after etchback step in integrated circuit fabrication
US5511005A (en) * 1994-02-16 1996-04-23 Ade Corporation Wafer handling and processing system
US5446447A (en) * 1994-02-16 1995-08-29 Motorola, Inc. RF tagging system including RF tags with variable frequency resonant circuits
US5641164A (en) 1994-10-13 1997-06-24 The M2000 Group Inc. Talking trading cards
US5743801A (en) 1995-08-18 1998-04-28 Welander; Paul M. Collectable video sports card
US5742526A (en) 1996-01-03 1998-04-21 Micron Technology, Inc. Apparatus and method for identifying an integrated device
US5748731A (en) 1996-07-02 1998-05-05 Shepherd; Henry G. Electronic trading cards
US5949059A (en) * 1996-12-09 1999-09-07 International Business Machines Corporation Tamper evident labelling system with embedded storage device
US5927512A (en) * 1997-01-17 1999-07-27 Micron Technology, Inc. Method for sorting integrated circuit devices
US5962834A (en) * 1997-03-17 1999-10-05 Markman; Herbert L. Inventory tracking and management apparatus with multi-function encoding unit
ES2344741T3 (es) * 1998-08-14 2010-09-06 3M Innovative Properties Company Lector de rfid.

Also Published As

Publication number Publication date
WO1998052226A1 (en) 1998-11-19
KR20010012597A (ko) 2001-02-15
JP2001525993A (ja) 2001-12-11
US5984190A (en) 1999-11-16
KR100839003B1 (ko) 2008-06-18
EP1004142A1 (en) 2000-05-31
AU7497898A (en) 1998-12-08
USRE40623E1 (en) 2009-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW392232B (en) Method and apparatus for identifying integrated circuits
TW378346B (en) Semiconductor device and information control system thereof
TW493206B (en) Identification method of semiconductor integrated circuit device, manufacturing method of semiconductor integrated circuit device, and semiconductor integrated circuit device
TWI259039B (en) Identification tag and identified article
TW421760B (en) Method and system for creating and using a logotype contact module with a smart card
NL8003165A (nl) Veiligheidshouder voor diamanten en andere edelstenen.
TW446952B (en) Circuit-arrangement with temperature dependent semiconductor element test and repair logic
KR100339264B1 (ko) 다중마스크층을사용하여집적회로내에논리레벨을프로그래밍하는장치및그방법
CN107635879B (zh) 用于多实例感光认证的包装
JP2008009975A (ja) 起動番号の発生および関係付け
JPS62500824A (ja) 携帯用支持体を特定個人へ専用化する方法
ITRM980200U1 (it) Confezione per denti artificiali ad uso protesico
JPWO2002063675A1 (ja) 半導体集積回路および検査方法並びに製造方法
TW419666B (en) Arrangement to test several memory-chips on a wafer
JP4368805B2 (ja) 集積回路およびこの集積回路に対応する集積回路パッケージ
TW471076B (en) Manufacture of wafer level semiconductor device and semiconductor device
TW517376B (en) Semiconductor device system
JP4287258B2 (ja) Icカードの発行処理方法、およびicカード用icモジュール、icカード
TW531656B (en) Circuit arrangement to burn-in-test the semiconductor module
CN117151744B (zh) 数字化包装信息追溯方法和系统
JP3870780B2 (ja) 半導体装置の製造方法
TWI248586B (en) Establishing method of electronic label for electronic device
JPS61131549A (ja) 半導体回路パツケ−ジ
JP4570117B2 (ja) Icモジュール部材入り封書の製造方法
CN117038000A (zh) 一种处方药品销售信息存储方法、装置及存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees