JPH04199733A - 半導体チップの製造方法及びその装置 - Google Patents
半導体チップの製造方法及びその装置Info
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- JPH04199733A JPH04199733A JP2332095A JP33209590A JPH04199733A JP H04199733 A JPH04199733 A JP H04199733A JP 2332095 A JP2332095 A JP 2332095A JP 33209590 A JP33209590 A JP 33209590A JP H04199733 A JPH04199733 A JP H04199733A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体チップの製造方法及びその装置に係り、
特にウェハの品種に合わせてダイサのデータを切換えて
ウェハを切断して半導体チップを製造する半導体チンプ
の製造方法及びその装置に関する。
特にウェハの品種に合わせてダイサのデータを切換えて
ウェハを切断して半導体チップを製造する半導体チンプ
の製造方法及びその装置に関する。
口従来の技術〕
ウェハの製造工程には、各々の製造工程を実行する為の
データが必要であり、このデータは予めコントロール用
コンピュータに登録されている。
データが必要であり、このデータは予めコントロール用
コンピュータに登録されている。
そして各々の製造工程毎にコントロール用コンピュータ
から必要なデータを呼び出し、そのデータに基づいて各
々の製造工程を実行している。
から必要なデータを呼び出し、そのデータに基づいて各
々の製造工程を実行している。
このデータをコントロール用コンピュータカラ呼び出す
為に、第9図に示すように、ウェハ10の直線部にID
記号12が表示されている。各製造工程で、このID記
号12を読み取りID記号12に対応するデータを各々
の製造工程毎にコントロール用コンピュータから呼び出
すことができる。すなわちID記号12は、物流におけ
る識別記号の役割を果たすものである。
為に、第9図に示すように、ウェハ10の直線部にID
記号12が表示されている。各製造工程で、このID記
号12を読み取りID記号12に対応するデータを各々
の製造工程毎にコントロール用コンピュータから呼び出
すことができる。すなわちID記号12は、物流におけ
る識別記号の役割を果たすものである。
しかしながら、ウェハがダイサで切断されるとID記号
12も切断される場合があり、ダイシンク工程の後工程
でID記号12を正確に認識できない場合がある。そこ
で、この問題を解決すべく第10図に示すように、ウェ
ハ10がテープ14を介して装着されたフレーム16や
テープ14にID記号12に対応する識別記号18を表
示する方法が開示されている(特公昭64−12094
号公報等)。
12も切断される場合があり、ダイシンク工程の後工程
でID記号12を正確に認識できない場合がある。そこ
で、この問題を解決すべく第10図に示すように、ウェ
ハ10がテープ14を介して装着されたフレーム16や
テープ14にID記号12に対応する識別記号18を表
示する方法が開示されている(特公昭64−12094
号公報等)。
これによれば、ID記号12とフレーム16に施された
識別記号18の相対関係信号を生成する手段と該相対関
係生成手段で生成された相対関係信号を記憶する記憶手
段を具備することによりID記号12が切断されてもフ
レーム16の識別記号18が残るのでダイシング工程の
後工程でも識別記号18を認識することにより、結果的
にID記号12を識別することが可能となる。
識別記号18の相対関係信号を生成する手段と該相対関
係生成手段で生成された相対関係信号を記憶する記憶手
段を具備することによりID記号12が切断されてもフ
レーム16の識別記号18が残るのでダイシング工程の
後工程でも識別記号18を認識することにより、結果的
にID記号12を識別することが可能となる。
ところで、一般にウェハの製造工程ではフレーム16に
取付けられたウェハ10をロット単位毎にキャリアに収
納して運搬する場合や、ウェハを一枚毎にケースに収納
して運搬する場合が多く、この場合、フレーム16に登
録された識別記号18をg、Rlflせずに、キャリア
又はケースに添付されたカードや伝票に記入されている
ウェハ10の品種名等を、オペレータがキー人力して必
要なデータをダイサ又はダイサに接続されているコント
ロール用コンピュータから呼び出し、呼び出したデータ
に基づいてダイサでウェハ10を切断する。
取付けられたウェハ10をロット単位毎にキャリアに収
納して運搬する場合や、ウェハを一枚毎にケースに収納
して運搬する場合が多く、この場合、フレーム16に登
録された識別記号18をg、Rlflせずに、キャリア
又はケースに添付されたカードや伝票に記入されている
ウェハ10の品種名等を、オペレータがキー人力して必
要なデータをダイサ又はダイサに接続されているコント
ロール用コンピュータから呼び出し、呼び出したデータ
に基づいてダイサでウェハ10を切断する。
しかしながら、近年ウェハ製造の各工程の自動化が進み
1人のオペレータが複数のマシンを操作しているので、
オペレータが個々のマシン及び製造されるウェハに対し
て専門的な知識を持つことが難しくなっている。これに
より、トラブルが発生したり操作を迅速に行うことが困
難となり、生産性が低下するという問題が発生した。
1人のオペレータが複数のマシンを操作しているので、
オペレータが個々のマシン及び製造されるウェハに対し
て専門的な知識を持つことが難しくなっている。これに
より、トラブルが発生したり操作を迅速に行うことが困
難となり、生産性が低下するという問題が発生した。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、専門
的な知識がなくても簡単に操作することができ、これに
より生産性の向上を図ることができる半導体チップの製
造方法及びその装置を提供することを目的とする。
的な知識がなくても簡単に操作することができ、これに
より生産性の向上を図ることができる半導体チップの製
造方法及びその装置を提供することを目的とする。
本発明は、前記目的を達成する為に、ウェハが収納され
た収納ケースを切断装置まで搬送して、収納ケースから
ウェハを取り出し、ウェハを所望の形状に切断して半導
体チップを製造する半導体チップの製造方法において、
前記収納ケースに添付されるウェハの識別用カードに前
記ウェハに表示されているID記号、又は該ID記号に
対応する記号を識別記号として登録し、前記収納ケース
が前記切断装置まで搬送された時、前記識別用カードの
表面に識別手段を当接して前記識別記号を認識すると共
に、認識した識別記号の信号を認識手段から出力し、出
力された前記信号に基づいて前記ウェハのID記号を求
め、該ID記号に基づいて前記ウェハの切断に必要なデ
ータを呼び出し、呼び出した前記データに基づいて前記
ウェハを切断することを特徴とする。
た収納ケースを切断装置まで搬送して、収納ケースから
ウェハを取り出し、ウェハを所望の形状に切断して半導
体チップを製造する半導体チップの製造方法において、
前記収納ケースに添付されるウェハの識別用カードに前
記ウェハに表示されているID記号、又は該ID記号に
対応する記号を識別記号として登録し、前記収納ケース
が前記切断装置まで搬送された時、前記識別用カードの
表面に識別手段を当接して前記識別記号を認識すると共
に、認識した識別記号の信号を認識手段から出力し、出
力された前記信号に基づいて前記ウェハのID記号を求
め、該ID記号に基づいて前記ウェハの切断に必要なデ
ータを呼び出し、呼び出した前記データに基づいて前記
ウェハを切断することを特徴とする。
本発明によれば、ウェハに表示されているID記号又は
このID記号に対応する記号を、収納ケース又は収納ケ
ースに添付されるカードに識別記号として登録し、この
識別記号が収納ケース又はカードの表面を認識手段で当
接するだけで識別される。また、この認識手段は識別記
号を認識すると共に認識した信号を出力することができ
るので、出力信号に基づいてウェハの切断に必要なデー
タを要求することができる。従ってマシン及び製造され
るウェハに対して専門的な知識を持っていなくてもその
マシンを容易に操作することができる。
このID記号に対応する記号を、収納ケース又は収納ケ
ースに添付されるカードに識別記号として登録し、この
識別記号が収納ケース又はカードの表面を認識手段で当
接するだけで識別される。また、この認識手段は識別記
号を認識すると共に認識した信号を出力することができ
るので、出力信号に基づいてウェハの切断に必要なデー
タを要求することができる。従ってマシン及び製造され
るウェハに対して専門的な知識を持っていなくてもその
マシンを容易に操作することができる。
以下添付図面に従って本発明に係る半導体チップの製造
方法及びその装置について詳説する。
方法及びその装置について詳説する。
第1図はダイサ20の平面図である。ダイサ20はウェ
ハ供給部22を備え、ウェハ供給部22は前工程から搬
送されてきたウェハケース24を受は入れることができ
る。このウェハケース24にはウェハ24Aが収納され
ている。またダイサ20にはバーコードリーダ26が設
けられ、バーコードリーダ26は後述するカード28の
表面をなぞるだけで、カード28に表示されているバー
コード28Δを認識することができる。このカード28
はウェハケース24に添付されてウェハケース24と共
に搬送される。
ハ供給部22を備え、ウェハ供給部22は前工程から搬
送されてきたウェハケース24を受は入れることができ
る。このウェハケース24にはウェハ24Aが収納され
ている。またダイサ20にはバーコードリーダ26が設
けられ、バーコードリーダ26は後述するカード28の
表面をなぞるだけで、カード28に表示されているバー
コード28Δを認識することができる。このカード28
はウェハケース24に添付されてウェハケース24と共
に搬送される。
またダイサ20は第2図に示すようにコントロール用コ
ンピュータ30に接続され、−船釣にはコントロール用
コンピュータ30には予めダイサ20が必要とするデー
タが登録されている。しかし、コントロール用コンピュ
ータ30に登録されていないデータはダイサ2oの記憶
部に登録され、その登録されたデータはコントロール用
のコンピュータ30と送信可能にしておく。
ンピュータ30に接続され、−船釣にはコントロール用
コンピュータ30には予めダイサ20が必要とするデー
タが登録されている。しかし、コントロール用コンピュ
ータ30に登録されていないデータはダイサ2oの記憶
部に登録され、その登録されたデータはコントロール用
のコンピュータ30と送信可能にしておく。
前述したカード28の形状や種類に関しては第3図、第
4図に示すようなものが考えられる。第3図に示すカー
ド28は、いわゆるマークシートカードのサイズ(長さ
約200mm、高さ約80mm>に形成され、バーコー
ド28Aはカード28の左上端部に糊付は又は印刷等に
より表示されている。
4図に示すようなものが考えられる。第3図に示すカー
ド28は、いわゆるマークシートカードのサイズ(長さ
約200mm、高さ約80mm>に形成され、バーコー
ド28Aはカード28の左上端部に糊付は又は印刷等に
より表示されている。
このバーコード28Aはウェハ10に表示されているI
D記号12 (第9図参照)と一定の関係が成り立つよ
うに設定される。
D記号12 (第9図参照)と一定の関係が成り立つよ
うに設定される。
例えば1例としてバーコード28.AのNo、をウェハ
24Aが収納されるキャリア24 (第5図参照)に固
をの値として持たせ、フレームの枚数分のNo、で管理
する方法が考えられる。すなわち、ダイサ20の前工程
でマウンタ(図示せず)によりウェハ24Aをフレーム
24Cに貼る時か、貼った後にウェハ24の品種名に対
応させてキャリア24に第1表に示すバーコードNαを
符号し、この符号データをコントロール用コンビ二一タ
でt理するか、フロッピ、メモリカード、磁気カード等
に記憶させる。そして、このバーコードNo。をカード
28に登録する。尚、第5図上で24DはID記号であ
る。
24Aが収納されるキャリア24 (第5図参照)に固
をの値として持たせ、フレームの枚数分のNo、で管理
する方法が考えられる。すなわち、ダイサ20の前工程
でマウンタ(図示せず)によりウェハ24Aをフレーム
24Cに貼る時か、貼った後にウェハ24の品種名に対
応させてキャリア24に第1表に示すバーコードNαを
符号し、この符号データをコントロール用コンビ二一タ
でt理するか、フロッピ、メモリカード、磁気カード等
に記憶させる。そして、このバーコードNo。をカード
28に登録する。尚、第5図上で24DはID記号であ
る。
第1表
また他の1例としてバーコード28AのNo、を第2表
に示すようにウェハ24Aの品種名と同一に設定する方
法が考えられる。
に示すようにウェハ24Aの品種名と同一に設定する方
法が考えられる。
第2表
尚、カード28の他のスペースにはユーザのマーク名、
ロッドNo1処理日、ウェハサイズ等を書き込むことが
できる。
ロッドNo1処理日、ウェハサイズ等を書き込むことが
できる。
第4図に示すカード28は、いわゆるテレポンカードサ
イズ(長さ約100m+n、高さ約60mm) に形
成され、第3図と同様にカード28の左端部にバーコー
ド28Aが表示され、このカード28の他のスペースに
はユーザのマーク名、インデックス、ウェハサイズ等を
書き込むことができる。また裏面の磁気部分にはロンド
NO1処理日等の内容を登録することができ、これらの
磁気部分に登録されたデータは書換ることができる。
イズ(長さ約100m+n、高さ約60mm) に形
成され、第3図と同様にカード28の左端部にバーコー
ド28Aが表示され、このカード28の他のスペースに
はユーザのマーク名、インデックス、ウェハサイズ等を
書き込むことができる。また裏面の磁気部分にはロンド
NO1処理日等の内容を登録することができ、これらの
磁気部分に登録されたデータは書換ることができる。
このように構成された本発明に係る半導体チップの製造
装置の作用について説明する。
装置の作用について説明する。
先ス、第2図に示すコントロール用コンピュータ30に
ウェハの処理データを、ウエノ\のID記号に対応させ
て予め登録する(すなわち、第1表又は第2表の関係を
登録する)。又は、コン)。
ウェハの処理データを、ウエノ\のID記号に対応させ
て予め登録する(すなわち、第1表又は第2表の関係を
登録する)。又は、コン)。
−ル用コンピュータ30に登録されていないデータに対
しては、予約データをダイサ20の記憶部に登録し、そ
のデータをコントロール用のコンピュータ30に送信可
能にしておく。
しては、予約データをダイサ20の記憶部に登録し、そ
のデータをコントロール用のコンピュータ30に送信可
能にしておく。
次に、ダイサ20の前工程のバーコードライタ(図示せ
ず)でカード28の所定の位置にバーコード28Aを貼
付は又は印刷し、カード28をウェハケース24に添付
してウェハケース24と共に搬送する。そして、ウェハ
ケース24がダイサ20のウェハ供給部22まで搬送さ
れると、オペレータがウェハケース24に添付されてい
るカード28を取り、バーコードリーダ2Bをカード2
8の表面に当接してバーコード28Aを読み取る。
ず)でカード28の所定の位置にバーコード28Aを貼
付は又は印刷し、カード28をウェハケース24に添付
してウェハケース24と共に搬送する。そして、ウェハ
ケース24がダイサ20のウェハ供給部22まで搬送さ
れると、オペレータがウェハケース24に添付されてい
るカード28を取り、バーコードリーダ2Bをカード2
8の表面に当接してバーコード28Aを読み取る。
バーコー)’IJ−1”26はバーコード28Aを読み
取ると共にバーコード28Aの信号に基づいて必要なデ
ータをコントロール用コンピュータ30に要求する。こ
れによりコントロール用コンピュータ30からダイサ2
0に必要なデータが加えられ、ダイサ20はそのデータ
に基づいてウェハケース24のウェハ24Aをアライメ
ント手段でアライメントし、回転刃で所望の半導体チッ
プに切断する。
取ると共にバーコード28Aの信号に基づいて必要なデ
ータをコントロール用コンピュータ30に要求する。こ
れによりコントロール用コンピュータ30からダイサ2
0に必要なデータが加えられ、ダイサ20はそのデータ
に基づいてウェハケース24のウェハ24Aをアライメ
ント手段でアライメントし、回転刃で所望の半導体チッ
プに切断する。
前記実施例ではコントール用コンピュータ30を使用し
てダイサ20てのウェハの品種切換を行ったが、これに
限らずダイサ20の記憶部のみを使用して切換を行うこ
ともてきる。この場合、バーコードリーダ26は読み取
ったバーコード28Aに対応するデータをダイサ20の
記憶部から呼びだし、呼びだされたデータでダイサ20
が作動できるように整えられる(すなわち、ダイサ20
はウェハ24Aの加工に適した状態に切換えられる)。
てダイサ20てのウェハの品種切換を行ったが、これに
限らずダイサ20の記憶部のみを使用して切換を行うこ
ともてきる。この場合、バーコードリーダ26は読み取
ったバーコード28Aに対応するデータをダイサ20の
記憶部から呼びだし、呼びだされたデータでダイサ20
が作動できるように整えられる(すなわち、ダイサ20
はウェハ24Aの加工に適した状態に切換えられる)。
これによりウェハ24Aはアライメント及びダイシンク
の処理が行われる。
の処理が行われる。
このように、ダイサ20のバーコードリーダ26はカー
ド28の表面に当接するだけでバーコード28Aを認識
すると共に、S2識した信号を出力して必要なデータを
コントロール用コンピュータ30から呼び出すことがで
きる。従って、ダイサ20てウェハ24Aのダイシンク
を行う時、オペレータがデータをキー人力する必要がな
いので、トラブルの発生を少なくし生産性の効率を向上
させることができる。
ド28の表面に当接するだけでバーコード28Aを認識
すると共に、S2識した信号を出力して必要なデータを
コントロール用コンピュータ30から呼び出すことがで
きる。従って、ダイサ20てウェハ24Aのダイシンク
を行う時、オペレータがデータをキー人力する必要がな
いので、トラブルの発生を少なくし生産性の効率を向上
させることができる。
また、バーコードリーダ26はID記号を認識する為の
etc’ a装置より安価なので、ウェハの各製造工程
毎にバーコードリーダを備えても生産ラインのコストア
ップ要因とならない。
etc’ a装置より安価なので、ウェハの各製造工程
毎にバーコードリーダを備えても生産ラインのコストア
ップ要因とならない。
更に、前記実施例ではID記号の別形態の表示方法とし
てバーコード28Aを登録したが、これに限らず、例え
ば磁気カードの表示方法のような、その他の識別容易な
表示方法を採用してもよい。
てバーコード28Aを登録したが、これに限らず、例え
ば磁気カードの表示方法のような、その他の識別容易な
表示方法を採用してもよい。
前記実施例ではカード28にバーコード28Aを表示し
たが、これに限らず第5図に示すようにウェハキャリア
24にバーコード24Bを表示してもよい。この場合、
オペレータは第6図に示すようにウェハキャリア24が
ウェハ供給部20にまで搬送された時バーコードリーダ
26を使用してバーコード24Bを読み取る。尚、第5
図は第8図を平面的に書き表した図で、機構の図示を簡
単化したものであり、バーコード24Bはウェハキャリ
ア24の上面又は側面等に表示できる。また第8図上で
24Eはウェハ24Aが取付けられる溝である。
たが、これに限らず第5図に示すようにウェハキャリア
24にバーコード24Bを表示してもよい。この場合、
オペレータは第6図に示すようにウェハキャリア24が
ウェハ供給部20にまで搬送された時バーコードリーダ
26を使用してバーコード24Bを読み取る。尚、第5
図は第8図を平面的に書き表した図で、機構の図示を簡
単化したものであり、バーコード24Bはウェハキャリ
ア24の上面又は側面等に表示できる。また第8図上で
24Eはウェハ24Aが取付けられる溝である。
また前記実施例ではカード28又はウェハケース24に
バーコードを表示したが、第7図に示すようにバーコー
ド42と、バーコード42に対応するウェハ品種名44
とを一枚の用紙40に登録しておき、ウェハと共に搬送
されてきたカードに記入されているウェハ品種名(例え
ばTSO[12)をオペレータが見て、オペレータがウ
ェハ品種名(TSOO2>に対応するバーコード42A
にバーコードリーダ26を当接してバーコード42Aを
読み取ってダイサ20の切換をしてもよい。
バーコードを表示したが、第7図に示すようにバーコー
ド42と、バーコード42に対応するウェハ品種名44
とを一枚の用紙40に登録しておき、ウェハと共に搬送
されてきたカードに記入されているウェハ品種名(例え
ばTSO[12)をオペレータが見て、オペレータがウ
ェハ品種名(TSOO2>に対応するバーコード42A
にバーコードリーダ26を当接してバーコード42Aを
読み取ってダイサ20の切換をしてもよい。
以上述べたように本発明に係る半導体チップの製造方法
及びその装置によれば、マシン及び製造されるウェハに
対して専門的な知識を持っていなくても、そのマシンを
容品に操作することができるので、生産性の向上を図る
ことができる。
及びその装置によれば、マシン及び製造されるウェハに
対して専門的な知識を持っていなくても、そのマシンを
容品に操作することができるので、生産性の向上を図る
ことができる。
第1図は本発明に係る半導体チップの製造装置のダイサ
を示す平面図、第2図はダイサとコントロール用コンピ
ュータとの関係を示す平面図、第3図及び第4図は本発
明に係る半導体チップの製造方法に使用するカードの平
面図、第5図はウェハを収納するウェハケースの平面図
、第6図はウェハケースがダイサまで搬送された状態を
示す平面図、第7図は本発明に係るウェハの製造方法の
他の実施例を示す平面図、第8図はウェハがキャリアに
収納された状態を示す傾視図、第9図はつエバの平面図
、第10図はウェハをフレームに装着した状態を示す平
面図である。 20・・・ダイサ、 24・・・キャリア、24A
・・・ウェハ、 24B、2.8A・・・バーコード
、26・・・バーコードリーグ、 28・・カード、
30・・コントロール用コンピ二−タ、46・・・キャ
リア。
を示す平面図、第2図はダイサとコントロール用コンピ
ュータとの関係を示す平面図、第3図及び第4図は本発
明に係る半導体チップの製造方法に使用するカードの平
面図、第5図はウェハを収納するウェハケースの平面図
、第6図はウェハケースがダイサまで搬送された状態を
示す平面図、第7図は本発明に係るウェハの製造方法の
他の実施例を示す平面図、第8図はウェハがキャリアに
収納された状態を示す傾視図、第9図はつエバの平面図
、第10図はウェハをフレームに装着した状態を示す平
面図である。 20・・・ダイサ、 24・・・キャリア、24A
・・・ウェハ、 24B、2.8A・・・バーコード
、26・・・バーコードリーグ、 28・・カード、
30・・コントロール用コンピ二−タ、46・・・キャ
リア。
Claims (4)
- (1)ウェハが収納された収納ケースを切断装置まで搬
送して、収納ケースからウェハを取り出し、ウェハを所
望の形状に切断して半導体チップを製造する半導体チッ
プの製造方法において、 前記収納ケースに添付されるウェハの識別用カードに前
記ウェハに表示されているID記号、又は該ID記号に
対応する記号を識別記号として登録し、 前記収納ケースが前記切断装置まで搬送された時、前記
識別用カードの表面に識別手段を当接して前記識別記号
を認識すると共に、認識した識別記号の信号を認識手段
から出力し、出力された前記信号に基づいて前記ウェハ
のID記号を求め、該ID記号に基づいて前記ウェハの
切断に必要なデータを呼び出し、 呼び出した前記データに基づいて前記ウェハを切断する
ことを特徴とするウェハの切断方法。 - (2)前記識別記号は前記収納ケースに施されたことを
特徴とする請求項(1)記載のウェハの製造方法。 - (3)ウェハが収納された収納ケースを切断装置まで搬
送し、収納ケースからウェハを取り出してウェハを所望
の形状に切断して半導体チップを製造する半導体チップ
の製造装置において、 前記ウェハに表示されているID記号、又は該より記号
に対応する記号が識別記号として登録され、前記収納ケ
ースに添付されて収納ケースと共に搬送される識別用カ
ードと、 前記識別用カードの表面に当接して識別用カードに登録
されている識別記号を認識すると共に、認識した識別記
号の信号を出力する認識手段と、前記認識手段から出力
された信号に基づいて、予め登録されているウェハの製
造工程に必要なデータを呼び出す手段と、 を備え、呼び出されたデータに基づいてウェハの各製造
工程を実行して半導体チップを製造することを特徴とす
る半導体チップの製造装置。 - (4)前記識別記号は前記収納ケースに施されたことを
特徴とする請求項(3)記載のウェハの製造装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2332095A JPH04199733A (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 半導体チップの製造方法及びその装置 |
DE1991620904 DE69120904T2 (de) | 1990-11-29 | 1991-11-21 | Methode zur Herstellung eines Halbleiterchips |
EP91119860A EP0488053B1 (en) | 1990-11-29 | 1991-11-21 | Method for manufacturing a semiconductor chip |
US08/268,185 US5570293A (en) | 1990-11-29 | 1994-06-29 | Method and device for manufacturing a semiconductor chip |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2332095A JPH04199733A (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 半導体チップの製造方法及びその装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04199733A true JPH04199733A (ja) | 1992-07-20 |
Family
ID=18251089
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2332095A Pending JPH04199733A (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 半導体チップの製造方法及びその装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0488053B1 (ja) |
JP (1) | JPH04199733A (ja) |
DE (1) | DE69120904T2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005101290A (ja) * | 2003-09-25 | 2005-04-14 | Disco Abrasive Syst Ltd | 半導体ウエーハの分割方法 |
JP2008004806A (ja) * | 2006-06-23 | 2008-01-10 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの加工結果管理方法 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05121521A (ja) * | 1991-10-29 | 1993-05-18 | Komatsu Electron Metals Co Ltd | 半導体ウエハ製造装置および製造方法 |
US5956596A (en) * | 1995-11-06 | 1999-09-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of forming and cleaning a laser marking region at a round zone of a semiconductor wafer |
US5984190A (en) | 1997-05-15 | 1999-11-16 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for identifying integrated circuits |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6235637A (ja) * | 1985-08-09 | 1987-02-16 | Hitachi Ltd | ウエハ貼付装置 |
JPS62128143A (ja) * | 1985-11-28 | 1987-06-10 | Nec Corp | 半導体基板カセツト |
JPH0270403A (ja) * | 1988-09-06 | 1990-03-09 | Nec Corp | 全自動ウエハ切断機 |
JPH02164016A (ja) * | 1988-12-19 | 1990-06-25 | Hitachi Ltd | ウエハ処理方法およびそれに用いるウエハ処理装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4510673A (en) * | 1983-06-23 | 1985-04-16 | International Business Machines Corporation | Laser written chip identification method |
KR900008384B1 (ko) * | 1986-05-20 | 1990-11-17 | 후지쓰 가부시끼가이샤 | 바아 코우드 패턴을 형성시킨 반도체 웨이퍼의 식별방법 및 반도체 장치의 제조방법 |
-
1990
- 1990-11-29 JP JP2332095A patent/JPH04199733A/ja active Pending
-
1991
- 1991-11-21 DE DE1991620904 patent/DE69120904T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-11-21 EP EP91119860A patent/EP0488053B1/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6235637A (ja) * | 1985-08-09 | 1987-02-16 | Hitachi Ltd | ウエハ貼付装置 |
JPS62128143A (ja) * | 1985-11-28 | 1987-06-10 | Nec Corp | 半導体基板カセツト |
JPH0270403A (ja) * | 1988-09-06 | 1990-03-09 | Nec Corp | 全自動ウエハ切断機 |
JPH02164016A (ja) * | 1988-12-19 | 1990-06-25 | Hitachi Ltd | ウエハ処理方法およびそれに用いるウエハ処理装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005101290A (ja) * | 2003-09-25 | 2005-04-14 | Disco Abrasive Syst Ltd | 半導体ウエーハの分割方法 |
JP2008004806A (ja) * | 2006-06-23 | 2008-01-10 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの加工結果管理方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69120904T2 (de) | 1996-11-28 |
EP0488053B1 (en) | 1996-07-17 |
DE69120904D1 (de) | 1996-08-22 |
EP0488053A1 (en) | 1992-06-03 |
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