KR970067936A - 스플릿 게이트 트랜지스터 및 그 제조 방법 - Google Patents
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Abstract
반도체 기판, 및 반도체 기판 상부에 형성된 소스 영역 및 드레인 영역을 구비한 스플릿 게이트 트랜지스터가 개시되어 있다. 소스 영역과 드레인 영역 간에 채널 영역이 형성된다. 채널 영역의 실질적인 상부에 부동 게이트 전극이 형성된다. 부동 게이트 전극은 단부면을 갖고 있다. 반도체 상부에 부동 게이트 전극과 중첩되도록 제어 게이트 전극이 제공된다. 제어 게이트 전극은 부동 게이트 전극의 단부면과 평평하게 형성된 단부면을 갖고 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예에 따른 플레서 EEPROM의 메모리 셀 어레이의 일부의 횡단면도.
Claims (28)
- 반도체 기판; 상기 반도체 기판 상부에 형성된 소스 영역 및 드레인 영역; 상기 소스 영역과 드레인 영역 사이에 형성된 채널 영역; 상기 채널 영역의 실질적인 상부에 형성되어 단부면을 구비한 부동게이트 전극; 및 상기 부동 게이트 전극과 중첩되도록 상기 반도체 기판 상부에 제공되어 상기 부동 게이트 단부면과 평평하게 형성된 단부면을 구비한 제어 게이트 전극을 포함하는 트랜지스터.
- 제1항에 있어서 상기 제어 게이트 전극의 일부는 상기 채널 영역 상부에 위치하여 상기 제어 게이트 전극의 단부면과 대향 배치된 선택 게이트를 형성한 트랜지스터.
- 제2항에 있어서 상기 제어 게이트 전극 및 상기 부동 게이트 전극의 단부면들을 덮기 위한 절연막으로 구성된 스페이서를 더 포함하는 트랜지스터.
- 제3항에 있어서 상기 반도체 기판으로부터 상기 부동 게이트 전극을 전기적으로 절연시키기 위한 게이트 절연막을 더 포함하는 트랜지스터.
- 제4항에 있어서 상기 부동 게이트 전극으로부터 상기 제어 게이트 전극을 전기적으로 절연시키기 위한 터널 절연막을 더 포함하는 트랜지스터.
- 제5항에 있어서 상기 게이트 절연막 및 상기 터널 절연막은 각각 상기 제어 게이트 전극의 단부면과 평평하게 형성된 단부면을 구비하며, 상기 스페이서는 상기 게이트 절연막, 부동 게이트 전극, 터널 절연막 및 제어 게이트 전극의 단부면들을 덮고 있는 트랜지스터.
- 제1항에 있어서 상기 제어 게이트 전극 및 상기 부동 게이트 전극의 단부면들은 상기 반도체 기판의 두께방향을 따라 배치된 트랜지스터.
- 제1항에 잇어서 상기 소스 영역에 접속되고, 상기 스페이서에 의해 상기 제어 게이트 전극 및 상기 부동 게이트 전극으로부터 절연된 소스 전극을 더 포함하는 트랜지스터.
- 제1항에 따른 트랜지스터를 메모리 셀로서 구비한 비휘발성 반도체 메모리.
- 반도체 기판; 상기 반도체 기판 상부에 형성된 소스 영역 및 드레인 영역; 상기 소스 영역과 드레인 영역 사이에 형성된 채널 영역; 상기 채널 영역의 실질적인 상부에 형성되어 단부면을 구비한 부동게이트 전극; 및 상기 부동 게이트 전극과 중첩되도록 상기 반도체 기판 상부에 제공되어 단부면을 구비한 제어 게이트 전극; 상기 제어 게이트 전극의 단부면을 덮기 위한 것으로 절연막으로 구성되고 외측면을 구비한 내측 스페이서; 및 상기 부동 게이트 전극의 단부면 및 상기 내측 스페이서의 외측면을 덮기 위한 외측 스페이서를 포함하는 트랜지스터.
- 제10항에 있어서 상기 제어 게이트 전극의 일부는 상기 채널 영역 상부에 위치하여 상기 제어 게이트 전극의 단부면에 대향 배치된 선택 게이트를 형성한 트랜지스터.
- 제11항에 있어서 상기 반도체 기판으로부터 상기 부동 게이트 전극을 전기적으로 절연시키기 위한 게이트 절연막을 더 포함하는 트랜지스터.
- 제12항에 있어서 상기 부동 게이트 전극으로부터 상기 제어 게이트 전극을 전기적으로 절연시키기 위한 터널 절연막을 더 포함하는 트랜지스터.
- 제13항에 있어서 상기 게이트 절연막은 상기 부동 게이트 전극의 단부면과 평평하게 형성된 단부면을 구비하며, 상기 게이트 절연막 및 상기 제어 게이트 전극의 단부면들은 상기 외측 스페이서로 덮혀 있는 트랜지스터.
- 제14항에 있어서 상기 터널 절연막은 상기 제어 게이트 전극의 단부면과 평평하게 형성된 단부면을 구비하며, 상기 게이트 절연막 및 상기 제어 게이트 전극의 단부면들은 상기 내측 스페이서로 덮혀 있는 트랜지스터.
- 제10항에 있어서 상기 소스 영역에 접속되고, 상기 스페이서에 의해 상기 부동 게이트 전극으로부터 절연된 소스 전극을 더 포함하는 트랜지스터.
- 제10항에 따른 트랜지스터를 메모리 셀로서 구비한 비휘발성 반도체 메모리.
- 반도체 기판상에 트랜지스터를 제조하기 위한 방법에 있어서 반도체 기판 상부에 제1도전체막을 형성하는 단계; 상기 제1도전체막 상부에 제2도전체막을 형성하는 단계; 상기 제2도전체막 상부에 전기적 절연성을 가진 제3막을 형성하는 단계; 에칭 마스크를 사용한 이방성 에칭으로 상기 제3막을 패터닝하는 단계; 및 상기 제3막을 에칭 마스크로 사용한 이방성 에칭으로 상기 제1 및 제2도전체막을을 패터닝하여 상기 제2도전막으로부터 제어 게이트 전극을 형성하고 상기 제1도전체막으로부터 부동 게이트 전극을 형성하는 단계를 포함하는 트랜지스터 제조 방법.
- 제18항에 있어서 상기 제1도전체막 형성 단계 전에 상기 반도체 기판 상부에 게이트 절연막을 형성하는 단계를 포함하는 트랜지스터 제조 방법.
- 제19항에 있어서 상기 제2도전체막 형성 단계 전에 상기 제1도전체막 상부에 터널 절연막을 형성하는 단계를 포함하는 트랜지스터 제조 방법.
- 제18항에 있어서 상기 제어 게이트 전극 및 상기 부동 게이트 전극을 형성하기 위해 사용된 상기 제3막을 에칭 마스크로 사용하여 접속홀이 형성되는 트랜지스터 제조 방법.
- 제21항에 있어서 상기 제어 게이트 전극 및 상기 부동 게이트 전극을 형성한 수 상기 제어 게이트 전극 및 상기 부동 게이트 전극의 단부면들을 상기 스페이서로 덮는 단계를 더 포함하는 트랜지스터 제조 방법.
- 제22항에 있어서 상기 스페이스를 형성한 후 상기 반도체 기판 상부에 소스영역 및 드레인 영역을 형성한 다음, 상기 소스 영역 및 상기 드레인 영역에 각각 접속되도록 소스 전극 및 드레인 전극을 형성하는 단계를 더 포함하는 트랜지스터 제조 방법.
- 반도체 기판상부에 트랜지스터를 제조하기 위한 방법에 있어서 반도체 기판 상부에 제1도전체막을 형성하는 단계; 상기 제1도전체막 상부에 제2도전체막을 형성하는 단계; 상기 제2도전체막 상부에 전기적 절연성을 가진 제3막을 형성하는 단계; 에칭 마스크를 사용한 이방성 에칭으로 상기 제3막을 패터닝하는 단계; 상기 제3막을 에칭 마스크로 사용한 이방성 에칭으로 상기 제2도전체막을 에칭하는 단계; 상기 에칭된 제2도전체막의 단부면 상부에 절연막으로 구성된 내측 스페이서를 형성하는 단계; 및 상기 제3막 및 상기 내측 스페이서를 에칭 마스크로 사용한 이방성 에칭으로 상기 제1 및 제2 도 전체막들을 패터닝하여 상기 제2도전체막으로부터 제어 게이트 전극을 형성하고 상기 제1도전체막으로부터 부동 게이트 전극을 형성하는 단계를 포함하는 트랜지스터 제조 방법.
- 제24항에 있어서 상기 제1도전체막 형성 단계 전에 상기 반도체 기판 상부에 게이트 절연막을 형성하는 단계를 포함하는 트랜지스터 제조 방법.
- 제25항에 있어서 상기 제2도전체막 형성 단계 전에 상기 제1도전체막 상부에 터널 절연막을 형성하는 단계를 포함하는 트랜지스터 제조 방법.
- 제24항에 있어서 상기 제어 게이트 전극 및 상기 부동 게이트 전극을 형성한 후 상기 내측 스페이서와 상기 제어 게이트 전극 및 상기 부동 게이트 전극의 단부면들을 외측 스페이서로 덮는 단계를 더 포함하는 트랜지스터 제조 방법.
- 제27항에 있어서 상기 외측 스페이서를 형성한 후, 상기 반도체 기판 상부에 소스 영역 및 드레인 영역을 형성한 다음, 상기 소스 영역 및 상기 드레인 영역에 각각 접속되도록 소스 전극 및 드레인 전극을 형성하는 단계를 더 포함하는 트랜지스터 제조 방법.
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