KR910019337A - 다기능 스캔 플립플롭 - Google Patents

다기능 스캔 플립플롭 Download PDF

Info

Publication number
KR910019337A
KR910019337A KR1019910006306A KR910006306A KR910019337A KR 910019337 A KR910019337 A KR 910019337A KR 1019910006306 A KR1019910006306 A KR 1019910006306A KR 910006306 A KR910006306 A KR 910006306A KR 910019337 A KR910019337 A KR 910019337A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
data
clock
latch
scan
multifunction
Prior art date
Application number
KR1019910006306A
Other languages
English (en)
Other versions
KR940003082B1 (ko
Inventor
소이찌 가와사끼
다까시 요시모리
게이지 마쯔모또
Original Assignee
아오이 죠이찌
가부시까가이샤 도시바
다께다이 마사다까
도시바 마이크로 일렉트로닉스 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 아오이 죠이찌, 가부시까가이샤 도시바, 다께다이 마사다까, 도시바 마이크로 일렉트로닉스 가부시끼가이샤 filed Critical 아오이 죠이찌
Publication of KR910019337A publication Critical patent/KR910019337A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR940003082B1 publication Critical patent/KR940003082B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/027Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
    • H03K3/037Bistable circuits
    • H03K3/0375Bistable circuits provided with means for increasing reliability; for protection; for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied; for storing the actual state when the supply voltage fails

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

다기능 스캔 플립플롭
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 제 1A도 및 제 1B는 본 발명의 각각 다른 실시예의 개략을 도시한 블럭도, 제 2 도는 제 1 도(제 1A)의 구체예를 도시한 회로도, 제 3 도는 제 2 도의 회로 동작을 설명하기 위한 타이밍 챠트, 제 6 도는 일반적인 순서회로의 블럭도.

Claims (6)

  1. 데이타가 가해지는 데이타 입력단, 클럭이 가해지는 클럭 입력단, 통상 기능시에 사용되는 통상 기능용 제 1 래치, 스캔 기능시에 사용되는 스캔 기능용 제 2 래치, 및 상기 데이타 및 클럭 중 어느 하나를 다른 것보다 상대적으로 지연시키는 제어수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 다기능 스캔 플립플롭.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 래치 중 어느 하나에 테스트 데이타를 기입하는 데이타 기입 수단을 포함하고, 상기 제어수단이 데이타 기입 수단에 의해 제 1 또는 제 2 래치에 기입된 상기 테스트 데이타에 따라 동작하는 것을 특징으로 하는 다기능 스캔 플립플로.
  3. 제 1 또는 제 2 항에 있어서, 상기 제어 수단이 상기 클럭을 상기 데이타보다 지연시키는 것을 특징으로 하는 다기능 스캔 플립플롭.
  4. 제 1 또는 제 2 항에 있어서, 상기 제어 수단이 상기 데이타를 상기 클럭보다 지연시키는 것을 특징으로 하는 다기능 스캔 플립플롭.
  5. 복수의 데이타가 가해지는 복수의 입력단, 클럭이 가해지는 클럭 입력단, 통상 기능시에 사용되는 통상 기능용 제1래치 스캔 기능시에 사용되는 스캔 기능용 제2 래치, 상기 제1 및 제2 래치 중 어느 하나에 변환 데이타를기입하는 데이타 기입 수단, 및 상기 데이타 기입 수단에 변환 데이타에 따라 상기 데이타 입력단에 가해지는 상기 복수의 데이타 중 하나를 선택하는 입력 선택 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 다기능 스캔 플립플롭.
  6. 데이타가 가해지는 데이타 입력단, 클럭이 가해지는 클럭 입력단, 통상 기능시에 사용되는 통상 기능용 제 1 래치, 스캔 기능시에 사용되는 스캔 기능용 제 2 래치, 상기 제 1 및 제 2 래치 중 어느 하나에 변환 데이타를 기입하는 데이타 기입 수단, 및 상기 데이타 기입 수단에 기입된 변환 데이타에 따라 출력단에서 출력되는 Q출력 및 Q출력을 변환하는 출력 변환 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 다기능 스캔 플립플롭.
    ※ 참고사항 : 최초출원내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019910006306A 1990-04-20 1991-04-19 다기능 스캔 플립플롭 KR940003082B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2104520A JP2614345B2 (ja) 1990-04-20 1990-04-20 スキャンフリップフロップ
JP02-104520 1990-04-20
JP2-104520 1990-04-20

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR910019337A true KR910019337A (ko) 1991-11-30
KR940003082B1 KR940003082B1 (ko) 1994-04-13

Family

ID=14382769

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019910006306A KR940003082B1 (ko) 1990-04-20 1991-04-19 다기능 스캔 플립플롭

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5175447A (ko)
JP (1) JP2614345B2 (ko)
KR (1) KR940003082B1 (ko)

Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0785101B2 (ja) * 1991-03-20 1995-09-13 株式会社東芝 論理信号検査方法及び検査装置
JPH05199080A (ja) * 1992-01-17 1993-08-06 Sony Corp 相補型論理回路
US5384494A (en) * 1993-04-13 1995-01-24 Hughes Aircraft Company Programmable hold-off for integrated circuit I/O pins
US5463338A (en) * 1993-06-07 1995-10-31 Vlsi Technology, Inc. Dual latch clocked LSSD and method
US5416362A (en) * 1993-09-10 1995-05-16 Unisys Corporation Transparent flip-flop
JPH07131298A (ja) * 1993-11-04 1995-05-19 Nec Corp 半導体集積回路装置
JP2882272B2 (ja) * 1994-02-17 1999-04-12 日本電気株式会社 ラッチ回路
US5444404A (en) * 1994-03-03 1995-08-22 Vlsi Technology, Inc. Scan flip-flop with power saving feature
GB2288666B (en) * 1994-04-12 1997-06-25 Advanced Risc Mach Ltd Integrated circuit control
US5552737A (en) * 1994-07-11 1996-09-03 International Business Machines Corporation Scannable master slave latch actuated by single phase clock
TW418329B (en) * 1994-08-24 2001-01-11 Ibm Integrated circuit clocking technique and circuit therefor
US5469079A (en) * 1994-09-13 1995-11-21 Texas Instruments Incorporated Flip-flop for use in LSSD gate arrays
JP2734394B2 (ja) * 1995-01-27 1998-03-30 日本電気株式会社 半導体集積回路装置
US5493240A (en) * 1995-03-01 1996-02-20 International Business Machines Corporation Static combinatorial logic circuits for reversible computation
US5867409A (en) * 1995-03-09 1999-02-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Linear feedback shift register
US5880595A (en) * 1995-04-28 1999-03-09 Texas Instruments Incorporated IC having memoried terminals and zero-delay boundary scan
US5633606A (en) * 1995-05-25 1997-05-27 National Semiconductor Corporation Scan flip-flop that holds state during shifting
US5854565A (en) * 1995-10-06 1998-12-29 Qualcomm Incorporated Low power latch requiring reduced circuit area
US5783960A (en) * 1995-11-28 1998-07-21 International Business Machines Corporation Integrated circuit device with improved clock signal control
US5640114A (en) * 1995-12-27 1997-06-17 Vlsi Technology, Inc. Versatile select and hold scan flip-flop
JP3478033B2 (ja) * 1996-12-30 2003-12-10 ソニー株式会社 フリップフロップ回路
JPH10242809A (ja) * 1997-02-26 1998-09-11 Nec Corp スキャン用フリップフロップ回路
US6023767A (en) * 1997-05-05 2000-02-08 Intel Corporation Method for verifying hold time in integrated circuit design
US5878055A (en) * 1997-12-09 1999-03-02 International Business Machines Corporation Method and apparatus for verifying a single phase clocking system including testing for latch early mode
US6405335B1 (en) 1998-02-25 2002-06-11 Texas Instruments Incorporated Position independent testing of circuits
KR100348303B1 (ko) * 1999-11-09 2002-08-10 주식회사 하이닉스반도체 다양한 클럭신호에 의한 클럭신호간 딜레이보상방법
US6728915B2 (en) 2000-01-10 2004-04-27 Texas Instruments Incorporated IC with shared scan cells selectively connected in scan path
US6606720B1 (en) * 2000-02-22 2003-08-12 Hewlett-Packard Development Company Scan structure for CMOS storage elements
US6769080B2 (en) 2000-03-09 2004-07-27 Texas Instruments Incorporated Scan circuit low power adapter with counter
US6501236B1 (en) 2000-09-28 2002-12-31 Tim Simon, Inc. Variable switch with reduced noise interference
JP2003068855A (ja) * 2001-08-24 2003-03-07 Fujitsu Ltd 半導体集積回路のレイアウト方法
KR100604852B1 (ko) * 2004-05-15 2006-07-31 삼성전자주식회사 제어신호 발생기, 스캔 기능을 수행하는 래치회로, 및상기 펄스 발생기와 상기 래치를 구비하는 플립플롭
JP4906030B2 (ja) * 2004-10-15 2012-03-28 川崎マイクロエレクトロニクス株式会社 テスト回路およびテスト方法
US7496809B2 (en) * 2005-06-10 2009-02-24 Stmicroelectronics Pvt. Ltd. Integrated scannable interface for testing memory
US20070208979A1 (en) * 2006-01-13 2007-09-06 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Split clock scan flip-flop
JP2009222558A (ja) * 2008-03-17 2009-10-01 Nec Computertechno Ltd スキャン用フリップフロップ回路
JP2010019662A (ja) * 2008-07-10 2010-01-28 Nec Electronics Corp テスト方法及び半導体集積回路
US8516316B2 (en) * 2009-03-26 2013-08-20 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method and apparatus for diagnosing an integrated circuit
US8803581B2 (en) * 2009-04-15 2014-08-12 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Fast flip-flop structure with reduced set-up time
US8866527B1 (en) 2010-04-02 2014-10-21 Altera Corporation Integrated circuits with hold time avoidance circuitry
KR20120100385A (ko) * 2011-03-04 2012-09-12 삼성전자주식회사 플립-플롭 및 이를 포함하는 반도체 장치
US8970274B2 (en) * 2012-06-08 2015-03-03 Mediatek Singapore Pte. Ltd. Pulse latches
US9188640B1 (en) 2014-05-19 2015-11-17 Freescale Semiconductor, Inc. Scan flip-flop circuit with LOS scan enable signal
CN105306017B (zh) 2015-12-04 2018-09-14 上海兆芯集成电路有限公司 信号产生电路以及工作周期调整电路

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4540903A (en) * 1983-10-17 1985-09-10 Storage Technology Partners Scannable asynchronous/synchronous CMOS latch
JPH0782071B2 (ja) * 1984-12-24 1995-09-06 株式会社日立製作所 故障診断機能を有する論理回路
JPH0648779B2 (ja) * 1985-07-18 1994-06-22 富士通株式会社 フリップフロップ回路
JPS63280514A (ja) * 1987-05-12 1988-11-17 Mitsubishi Electric Corp 論理集積回路
US4961013A (en) * 1989-10-18 1990-10-02 Hewlett-Packard Company Apparatus for generation of scan control signals for initialization and diagnosis of circuitry in a computer
US5003204A (en) * 1989-12-19 1991-03-26 Bull Hn Information Systems Inc. Edge triggered D-type flip-flop scan latch cell with recirculation capability

Also Published As

Publication number Publication date
JP2614345B2 (ja) 1997-05-28
KR940003082B1 (ko) 1994-04-13
US5175447A (en) 1992-12-29
JPH042977A (ja) 1992-01-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR910019337A (ko) 다기능 스캔 플립플롭
KR950012663A (ko) 경계주사 테스트 회로를 가진 반도체 장치
KR920001850A (ko) 스캔패스기능이 부가된 플립플롭
KR910002119A (ko) 신호발생기
KR890006003A (ko) 데이타 입출력 회로
KR960018901A (ko) 피이드백 래치 및 피이드백 래치의 피이드백 동작 형성 방법
KR880008539A (ko) 논리 집적 회로
KR910020732A (ko) 의사 스태틱 ram의 제어회로
KR910006986A (ko) 기능선택회로
KR920005531A (ko) 고속도신호 다중화장치
KR920007187A (ko) 반도체 기억장치
KR860009550A (ko) 테스트 데이타 부하기능을 갖춘 논리회로
KR0140966B1 (ko) 스캔 변환장치
KR900002573A (ko) 비트수 변환회로
KR970055398A (ko) 래치와 플립-플롭 겸용 회로
KR930006067Y1 (ko) 전자오르간의 자동반주 신호 발생회로
KR900008781A (ko) 플립플롭회로를 이용한 업-다운 계수기
JPH0664665B2 (ja) 警報の待ち受け回路
KR910010716A (ko) 반도체집적회로
KR950024056A (ko) 하프 픽셀 처리 회로
KR890008721A (ko) 레이저 프린터의 이미지 발생장치
KR940012863A (ko) 배럴 시프터용 신장기
KR910014716A (ko) 레이다 동작상태 체크회로
KR920013102A (ko) 동기 및 비동기 혼용방식의 메모리 액세스에서 대기상태 처리회로
KR920010447A (ko) 이중포트 ram을 이용한 cpu간 데이터손실 방지회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20030401

Year of fee payment: 10

LAPS Lapse due to unpaid annual fee