KR950012663A - 경계주사 테스트 회로를 가진 반도체 장치 - Google Patents

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Abstract

경계 주사 체스트 회로(boundary scan test circuit)는 반도체 장치의 외부 핀에 대응하는 복수개의 레지스터 셀을 구비하며, 이들 레지스터 셀은 함께 연결되민 체스트 동작 모드 동안 시프트 레지스터를 형성한다. 상기 레지스터 셀은 병렬 입력 데이타, 직렬 입력 데이타, 및 코드 신호중 하나를 선택하는 제1셀렉터와, 후속 레지스터 셀에 입력될 직렬 데이타를 출력하도록 상기 제1셀렉터의 출력을 래칭하는 제1레지스터와, 상기 제1레지스터의 출력을 래칭하는 제1레지스터와, 병렬 데이타 또는 병렬 데이타를 출력하기 위한 제2레지스터의 출력을 선택하는 제2셀렉터를 포함한다. 상기 코드 신호는 반도체 장치의 ID 코드 비트중 대응하는 하나에 의거하여 결정된다 상기 ID 코드는 ID 코드 레지스터를 제공하지 않고도 레지스터 셀로부터 출력되며, 결국 레지스터 셀의 구조를 간단하게 하고 반도체 장치의 칩 면적을 축소시키게 된다

Description

경계주사 체스트 회로를 가진 반도체 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제5도는 본 발명의 제1실시예에 따른 경계 주사 체스트 회로에서의 경계 주사 레지스터 셀중 한 셀의 회로도,
제6도는 상기 제1실시예에 따른 경계 주사 체스트 회로에서의 신호의 타이밍도.

Claims (3)

  1. 하나의 내부 논리 회로와, 다수의 외부 핀, 및 관련된 외부 핀에 대응적으로 배치되어 상기 내부 논리회로와 상기 관련된 외부핀 사이에서 병렬 데이타를 전달하고, 서로 전기적으로 접속되어 외부 신호에 응답하여 직렬 데이타를 전달하도록 시프트 레지스터를 형성하는 복수개의 경계 주사 레지스터 셀을 보유한 경계 주사 체스트 회로를 구비한 반도체 장치에 있어서, 상기 각각의 경계 주사 레지스터 셀이, 상기 병렬데이타를 입력하는 제1입력과, 상기 직렬 데이타를 입력하는 제2입력, 및 반도체 장치의 ID 코드 비트를 나타내는 코드 신호를 입력하는 제 3입력을 가지며, 입력 스위칭 신호에 따라 상기 병렬 데이타, 직렬 데이타, 및 코드 신호중 하나를 선택하는 제1셀렉터와 ; 제1래치 신호에 응답하여 상기 제1셀렉터의 출력 신호를 래치하는 제1레지스터와 ; 제2래치 신호에 응답하여 상기 제1레지스터의 출력 신호를 래치하는 제2레지스터 및 출력 스위칭 신호에 따라 상기 병렬 데이타 또는 상기 제2레지스터의 출력 신호를 선택하는 제2셀렉터를 구비하며, 상기 한 경계 주사 레지스터 셀의 제1레지스터의 출력 신호가, 상기 경계 주사 레지스터 셀들이 시프트 레지스터를 형성하도록 접속될 때, 후속 레지스터 셀에 입력될 직렬 데이타를 구성하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제 3입력이 상기 ID 코드 비트에 따라 제1퍼텐셜 또는 제2퍼텐셜에 세트되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
  3. 하나의 내부 논리 회로와, 다수의 외부 핀, 및 관련 외부 핀에 대응적으로 배치되어 상기 내부 논리회로와 상기 관련된 외부 핀 사이에서 병렬 데이타를 전달하고, 서로 전기적으로 접속되어 제1외부 신호에 응답하여 직렬 데이타를 전달하기 위한 시프트 레지스터를 형성하는 복수개의 경계 주사 레지스터 셀을 보유한 경계 주사 체스트 회로를 구비한 반도체 장치에 있어서, 상기 각 경계 주사 레지스터 셀이. 입력 스위칭 신호에 따라 상기 병렬 데이타, 및 직렬 데이타중 하나를 선택하는 제1셀렉터와,. 제1래치 신호에 응답하여 상기 제1 셀렉터의 출력 신호를 래치하며, 제2외부 신호에 응답하여 상기 반도체 장치의 ID 코드비트를 나타내는 코드 신호에 따라 세트 또는 리세트되는 제1레지스터와 ; 제2레지스터 신호에 응답하여 상기 제1레지스터의 출력 신호를 래치하는 제2레지스터 , 및 출력 스위칭 신호에 따라 상기 병렬 데이타 또는상기 제2레지스터의 출력 신호를 선택하는 제2셀렉터를 구비하며, 상기 한 경계 주사 레지스터 셀의 제1레지스터의 출력 신호가 상기 경계 주사 레지스터 셀들이 시프트 레지스터를 형성하도록 접속될 때. 후속 레지스터 셀에 입력될 직렬 데이타를 구성하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940024676A 1993-10-04 1994-09-29 경계주사 테스트 회로를 가진 반도체 장치 KR0167591B1 (ko)

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