KR880009382A - 반도체 집적회로장치 - Google Patents

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KR880009382A
KR880009382A KR870003847A KR870003847A KR880009382A KR 880009382 A KR880009382 A KR 880009382A KR 870003847 A KR870003847 A KR 870003847A KR 870003847 A KR870003847 A KR 870003847A KR 880009382 A KR880009382 A KR 880009382A
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사도루 기시다
도시아끼 하니부찌
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시기모리야
미쓰비시 뎅끼 가부시끼가이샤
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Abstract

내용 없음.

Description

반도체 집적회로장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 일실시예를 표시한 블록도.
제2도는 제1도에서의 각 부의 파형을 표시한 타이밍 챠트.
제3도는 제1도의 신호선택기능을 가진 시프트레지스터(SL1)∼(SL4)를 표시한 회로도.

Claims (3)

  1. 논리기능을 보유하고 또한 복수의 출력신호를 송출하는 논리회로부와 상기 각 출력신호를 외부로 각기 송출하는 복수의 출력버퍼와를 구비한 반도체 집적회로장치에 있어서 상기 각 출력버퍼의 입력측에 접속된 일시기억기능을 가진 기억회로와 당해 기억회로의 입력측에 접속된 신호선택 기능을 가진 스프트레지스터와 당해 시프트레지스터의 복수개의 입력단자에서 데이터를 선택하고 유지시키는 동작이나 또는 당해 시프트레지스터의 복수개의 입력단자에 데이터를 선택하고 당해 시프트레지스터의 출력단자에 당해 데이터를 유지하는일 없이 그래도 전반시키는 동작을 선택지시하는 제1의 수단과 ; 당해 기억회로의 입력단자에서의 데이터를 내부에 유지하고 출력단자에 출력시키는 동작이나 또는 당해 기억회로의 입력단자에서의 데이터를 내부에 유지하는 일 없이 그 상태대로 출력단자에 출력시키는 동작을 선택지시하는 제2의 수단과 ; 상기 시프트레지스터 내의 적어도 시프트레지스터의 일단을 형성할 수 있는 회로의 소정의 입력단자와 별도의 시프트레지스터의 적어도 시프트레지스터의 일단을 형성할 수 있는 회로의 소정의 출력단자와를 순차 접속하고 그 결과로서 1개의 시프트레지스터 패스를 형성할 수 있는 제3의 수단과 ; 상기 시프트레지스터 패스의 각 단에 장치 외부에서 입력되는 소정의 시리얼데이터를 설정하는 제4의 수단과 ; 상기 시프트레지스터 패스의 각 단의 데이터를 시리얼데이터로 하여 장치외부로 순차송출하는 제5의 수단과를 형성함을 특징으로 하는 반도체 집적회로장치.
  2. 제1항에 있어서 일시기억회로를 데이터 래치회로로 구성하는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서 시프트레지스터를 트랜스 미션게이트와 데이터래치회로로 구성한 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019870003847A 1986-08-22 1987-04-20 반도체 집적회로장치 KR900006158B1 (ko)

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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0746122B2 (ja) * 1987-04-21 1995-05-17 日本電気株式会社 半導体集積論理回路
US6304987B1 (en) * 1995-06-07 2001-10-16 Texas Instruments Incorporated Integrated test circuit
KR910006241B1 (ko) * 1988-12-14 1991-08-17 삼성전자 주식회사 복수 테스트모드 선택회로
JP3005250B2 (ja) * 1989-06-30 2000-01-31 テキサス インスツルメンツ インコーポレイテツド バスモニター集積回路
GB9008544D0 (en) * 1990-04-17 1990-06-13 Smiths Industries Plc Electrical assemblies
JPH0719217B2 (ja) * 1990-04-24 1995-03-06 株式会社東芝 情報処理装置
US5159598A (en) * 1990-05-03 1992-10-27 General Electric Company Buffer integrated circuit providing testing interface
JPH0461420A (ja) * 1990-06-28 1992-02-27 Canon Inc データ検出装置
US5880595A (en) * 1995-04-28 1999-03-09 Texas Instruments Incorporated IC having memoried terminals and zero-delay boundary scan
US5656953A (en) * 1995-05-31 1997-08-12 Texas Instruments Incorporated Low overhead memory designs for IC terminals
JPH1183947A (ja) * 1997-09-03 1999-03-26 Mitsubishi Electric Corp Dcテスト用テスト回路およびdcテスト用テスト回路を用いたdcテスト方法
US6405335B1 (en) 1998-02-25 2002-06-11 Texas Instruments Incorporated Position independent testing of circuits
US6728915B2 (en) 2000-01-10 2004-04-27 Texas Instruments Incorporated IC with shared scan cells selectively connected in scan path
US6769080B2 (en) 2000-03-09 2004-07-27 Texas Instruments Incorporated Scan circuit low power adapter with counter

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4139818A (en) * 1977-09-30 1979-02-13 Burroughs Corporation Circuit means for collecting operational errors in IC chips and for identifying and storing the locations thereof
US4498174A (en) * 1982-08-25 1985-02-05 Ael Microtel Limited Parallel cyclic redundancy checking circuit
JPS59119443A (ja) * 1982-12-27 1984-07-10 Toshiba Corp 論理回路
US4648104A (en) * 1983-09-27 1987-03-03 Nippon Seiki Corporation Pulse counting and pulse rate indicating device responsive to abrupt pulse rate change to accurately indicate current rate
US4698588A (en) * 1985-10-23 1987-10-06 Texas Instruments Incorporated Transparent shift register latch for isolating peripheral ports during scan testing of a logic circuit

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