KR880009382A - 반도체 집적회로장치 - Google Patents
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Abstract
내용 없음.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 일실시예를 표시한 블록도.
제2도는 제1도에서의 각 부의 파형을 표시한 타이밍 챠트.
제3도는 제1도의 신호선택기능을 가진 시프트레지스터(SL1)∼(SL4)를 표시한 회로도.
Claims (3)
- 논리기능을 보유하고 또한 복수의 출력신호를 송출하는 논리회로부와 상기 각 출력신호를 외부로 각기 송출하는 복수의 출력버퍼와를 구비한 반도체 집적회로장치에 있어서 상기 각 출력버퍼의 입력측에 접속된 일시기억기능을 가진 기억회로와 당해 기억회로의 입력측에 접속된 신호선택 기능을 가진 스프트레지스터와 당해 시프트레지스터의 복수개의 입력단자에서 데이터를 선택하고 유지시키는 동작이나 또는 당해 시프트레지스터의 복수개의 입력단자에 데이터를 선택하고 당해 시프트레지스터의 출력단자에 당해 데이터를 유지하는일 없이 그래도 전반시키는 동작을 선택지시하는 제1의 수단과 ; 당해 기억회로의 입력단자에서의 데이터를 내부에 유지하고 출력단자에 출력시키는 동작이나 또는 당해 기억회로의 입력단자에서의 데이터를 내부에 유지하는 일 없이 그 상태대로 출력단자에 출력시키는 동작을 선택지시하는 제2의 수단과 ; 상기 시프트레지스터 내의 적어도 시프트레지스터의 일단을 형성할 수 있는 회로의 소정의 입력단자와 별도의 시프트레지스터의 적어도 시프트레지스터의 일단을 형성할 수 있는 회로의 소정의 출력단자와를 순차 접속하고 그 결과로서 1개의 시프트레지스터 패스를 형성할 수 있는 제3의 수단과 ; 상기 시프트레지스터 패스의 각 단에 장치 외부에서 입력되는 소정의 시리얼데이터를 설정하는 제4의 수단과 ; 상기 시프트레지스터 패스의 각 단의 데이터를 시리얼데이터로 하여 장치외부로 순차송출하는 제5의 수단과를 형성함을 특징으로 하는 반도체 집적회로장치.
- 제1항에 있어서 일시기억회로를 데이터 래치회로로 구성하는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로장치.
- 제1항 또는 제2항에 있어서 시프트레지스터를 트랜스 미션게이트와 데이터래치회로로 구성한 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP197587 | 1986-08-22 | ||
JP61197587A JPH06105285B2 (ja) | 1986-08-22 | 1986-08-22 | 半導体集積回路装置 |
JP61-197587 | 1986-08-22 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR880009382A true KR880009382A (ko) | 1988-09-15 |
KR900006158B1 KR900006158B1 (ko) | 1990-08-24 |
Family
ID=16376969
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019870003847A KR900006158B1 (ko) | 1986-08-22 | 1987-04-20 | 반도체 집적회로장치 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4825439A (ko) |
JP (1) | JPH06105285B2 (ko) |
KR (1) | KR900006158B1 (ko) |
DE (1) | DE3727941A1 (ko) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0746122B2 (ja) * | 1987-04-21 | 1995-05-17 | 日本電気株式会社 | 半導体集積論理回路 |
US6304987B1 (en) * | 1995-06-07 | 2001-10-16 | Texas Instruments Incorporated | Integrated test circuit |
KR910006241B1 (ko) * | 1988-12-14 | 1991-08-17 | 삼성전자 주식회사 | 복수 테스트모드 선택회로 |
JP3005250B2 (ja) * | 1989-06-30 | 2000-01-31 | テキサス インスツルメンツ インコーポレイテツド | バスモニター集積回路 |
GB9008544D0 (en) * | 1990-04-17 | 1990-06-13 | Smiths Industries Plc | Electrical assemblies |
JPH0719217B2 (ja) * | 1990-04-24 | 1995-03-06 | 株式会社東芝 | 情報処理装置 |
US5159598A (en) * | 1990-05-03 | 1992-10-27 | General Electric Company | Buffer integrated circuit providing testing interface |
JPH0461420A (ja) * | 1990-06-28 | 1992-02-27 | Canon Inc | データ検出装置 |
US5880595A (en) * | 1995-04-28 | 1999-03-09 | Texas Instruments Incorporated | IC having memoried terminals and zero-delay boundary scan |
US5656953A (en) * | 1995-05-31 | 1997-08-12 | Texas Instruments Incorporated | Low overhead memory designs for IC terminals |
JPH1183947A (ja) * | 1997-09-03 | 1999-03-26 | Mitsubishi Electric Corp | Dcテスト用テスト回路およびdcテスト用テスト回路を用いたdcテスト方法 |
US6405335B1 (en) | 1998-02-25 | 2002-06-11 | Texas Instruments Incorporated | Position independent testing of circuits |
US6728915B2 (en) | 2000-01-10 | 2004-04-27 | Texas Instruments Incorporated | IC with shared scan cells selectively connected in scan path |
US6769080B2 (en) | 2000-03-09 | 2004-07-27 | Texas Instruments Incorporated | Scan circuit low power adapter with counter |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4139818A (en) * | 1977-09-30 | 1979-02-13 | Burroughs Corporation | Circuit means for collecting operational errors in IC chips and for identifying and storing the locations thereof |
US4498174A (en) * | 1982-08-25 | 1985-02-05 | Ael Microtel Limited | Parallel cyclic redundancy checking circuit |
JPS59119443A (ja) * | 1982-12-27 | 1984-07-10 | Toshiba Corp | 論理回路 |
US4648104A (en) * | 1983-09-27 | 1987-03-03 | Nippon Seiki Corporation | Pulse counting and pulse rate indicating device responsive to abrupt pulse rate change to accurately indicate current rate |
US4698588A (en) * | 1985-10-23 | 1987-10-06 | Texas Instruments Incorporated | Transparent shift register latch for isolating peripheral ports during scan testing of a logic circuit |
-
1986
- 1986-08-22 JP JP61197587A patent/JPH06105285B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-04-20 KR KR1019870003847A patent/KR900006158B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1987-08-18 US US07/086,447 patent/US4825439A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-08-21 DE DE19873727941 patent/DE3727941A1/de active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3727941A1 (de) | 1988-02-25 |
JPS6352074A (ja) | 1988-03-05 |
JPH06105285B2 (ja) | 1994-12-21 |
KR900006158B1 (ko) | 1990-08-24 |
US4825439A (en) | 1989-04-25 |
DE3727941C2 (ko) | 1989-06-15 |
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