KR20090057409A - 발광 소자의 전류 분산 - Google Patents

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Abstract

활성층을 포함하는 복수의 에피택시얼층들, 에피택시얼층들의 제1 측의 반사막과 오믹 콘택 중 적어도 하나, 및 에피택시얼층들의 제2 측의, 발광면을 갖는 도전성 금속의 층을 포함하는 발광 소자가 개시된다. 터미널이 발광면 상에 있고, 터미널은 전류를 확산시키고 광출력에의 영향을 최소화시키는 어레이를 포함한다. 이 어레이는 전류 분산을 위한 본딩 패드, 외부(outer portion), 및 결합부를 포함할 수 있다.
발광 소자, 분산, 광출력

Description

발광 소자의 전류 분산{ELECTRICAL CURRENT DISTRIBUTION IN LIGHT EMITTING DEVECES}
본 발명은 발광소자의 전류 분산에 관한 것으로 보다 상세하게는, 이에 한정되는 것은 아니나, 광출력을 최대화하기 위해 전류를 방사(spreading)하기 위한 장치에 관한 것이다.
발광 다이오드 및 레이저 다이오드와 같은 대부분의 발광 소자에 있어서, 본딩 패드(bonding pad)는 표면 영역의 약 15%를 차지한다. 빛은 본딩 패드가 배치되는 곳에서 발광될 수 없다.
또한, 전류가 본딩 패드로부터 활성 영역으로 흐르고, 전류는 가장 저항이 낮은 경로(일반적으로 동일한 물질 내에서 최단 경로)로 흐를 것이므로, 최대 전류량 따라서 최대 광출력은 본딩 패드의 아래 쪽에서 나타난다. 이것은 상당한 광출력의 감소를 야기시킨다.
[관련 출원의 참조]
본 출원의 참조문헌은 본 출원 이전인 2005년 9월 29일에 출원된 본 출원인의 싱가폴 특허 출원 20506301-1이며 동 문헌에 개시된 내용 전부가 본 출원에 포함된다.
바람직한 제1 관점에 따르면, 활성층을 포함하는 복수의 에피택시얼 층(epitaxial layers); 상기 에피택시얼 층의 제1 측의 반사막(reflective layer)과 오믹 콘택 중 적어도 하나; 및 상기 에피택시얼층의 제2 측에 배치되고 발광면(light emitting surface)을 갖는 도전성 금속의 막을 포함하는 발광 소자가 제공된다. 터미널(terminal)은 상기 발광면 상에 배치된다. 상기 터미널은 전류를 분산하고 광출력에 미치는 효과를 최소화하는 어레이(array)를 갖는다.
상기 어레이는 본딩 패드, 외부(outer portion), 및 상기 본딩 패드와 상기 외부를 연결하는 결합부(joining portion)를 포함할 수 있고, 상기 외부와 상기 결합부는 전류를 방산(dissipation)시킨다. 상기 외부는 상기 발광면의 주변에 있거나, 상기 발광면의 주변에 혹은 그 주변에 인접할 수 있다. 상기 결합부는 상기 본딩 패드와 상기 외부를 연결시키는 복수의 스포크(spoke)를 포함할 수 있다.
상기 어레이와 상기 발광면 사이에 제2 반사막이 있을 수 있다. 이와 달리, 상기 제2 반사막은 상기 발광면 내의 트랜치(trench)의 바닥에 있을 수 있다.
바람직한 제2 관점에 따른 발광 소자의 형성 방법이 제공된다. 상기 발광 소자는 활성 영역을 포함하는 복수의 에피택시얼층들, 상기 에피택시얼층들의 제1 측의 반사막, 및 상기 에피택시얼층의 제2 측의 도전 금속을 갖는다. 상기 방법은 상기 도전성 금속의 발광면 상에 터미널을 형성하는 것을 포함하며, 상기 터미널은 전류를 분산하고 광출력에 미치는 영향을 최소화하는 어레이를 갖는다.
상기 어레이를 형성하는 것은, 본딩 패드, 외부 및 상기 본딩 패드와 외부를 전기적으로 연결하는 결합부를 형성하는 것을 포함하고, 상기 외부와 결합부는 전류를 분산시킨다. 상기 외부는 상기 발광면의 주변에 있거나 상기 발광면의 주변에 인접할 수 있다. 상기 결합부는 상기 본딩 패드와 상기 외부를 결합하는 복 수의 스포크들을 포함할 수 있다.
상기 방법은 상기 제2 반사면 상에 어레이를 형성하기 전에 상기 발광면 상에 제2 반사막을 형성하는 것을 더 포함할 수 있다.
이와 달리, 상기 방법은 상기 발광면 내의 트랜치를 형성하는 것, 상기 트랜치의 바닥에 상기 제2 반사막을 형성하는 것을 더 포함할 수 있으며, 상기 어레이는 상기 제2 반사막 상에 형성될 수 있다.
본 발명을 완전히 이해하도록 설명하고 실질적인 효과를 설명하기 위해, 본 발명의 바람직한 실시예, 그러나 한정되지 않는 예가 설명될 것이며, 이 설명은 설 명적인 도면을 참조하여 이루어질 것이다.
도면들에서,
도 1은 발광 소자의 개략적인 측면도이다;
도 2는 발광 소자의 바람직한 실시예의 개략적인 측면도이다;
도 3은 도 2의 장치의 투시도이다;
도 4는 도 3의 화살표 방향의 선을 따라 취한 수직 단면도이다;
도 5는 도 4의 트랜치를 확대한 도면이다;
도 6은 도 5의 다른 배치를 보여주는 도면이다;
도 7 내지 도 13은, 도 2 내지 도 4의 장치의 형성방법을 보여주는, 도 4에 대응하는 일련의 도면들이다.
먼저, 도 1을 참조하여, 발광 다이오드 또는 레이저 다이오드와 같은 발광 소자가 보여진다. 이 발광 소자는 활성 영역(102)을 포함하는 복수의 에피택시얼 층의 제1 측의 반사막(reflective layer) 또는 오믹 콘택(103) 또는 반사막 및 오믹 콘택 모두를 갖는다. 상기 에피택시얼층의 제2 측에 도전성 금속층(104)이 있다. 상기 반사막(103)은 상기 에피택시얼층 상에 그리고 상기 반사막 상에 오믹 콘택이 있거나, 또는 이와 반대일 수 있고, 이들 중 오직 하나일 수 있다. 본딩 패드(105)는 상기 광출력면(107) 상에 제공된다. 상기 전류는 상기 금속막(104) 내에 서, 도 1에 점선으로 도시된 경로(path)를 따라 상기 활성층(102)으로 흐른다. 보여지는 바와 같이, 최대 전류는 상기 본드 패드(105) 아래에 집중된다. 이것은 상기 활성층(102)에 의한 최대 빛(maximum light) 또한 상기 본딩 패드(105) 아래로 집중될 것이라는 것을 의미한다. 이러한 빛은 상기 본딩 패드(105)에 의해 금속층(104)으로 재반사될 것이다. 이것은 광출력을 현저하게 감소시킨다.
도 2 내지 도 4는 바람직한 실시예를 보여주는 것으로, 동일한 구성요소에 동일한 참조부호가 사용되었으나, 앞자리 "1"이 "2"로 변경되었다. 여기서, 상기 본딩 패드(105)는 터미널층(215)으로 대체되었다.
상기 터미널층(215)은 전기적으로 도전성 물질로 구성된 어레이(214)를 포함하고, 바람직하게 상기 본딩 패드(205)와 동일한 물질을 포함하며, 상기 본딩 패드(205)와 상기 광출력면(207)을 모두 전기적으로 연결한다. 상기 어레이(214)는 상기 면(207) 상으로 분산(distributed)되어, 전류가 확산(diffusion) 또는 분산 (distribution)방식으로 상기 터미널층(215)에서 상기 활성 영역(202)으로 흐를 것이다.
상기 어레이(214)는 바람직하게 중심으로 상기 본딩 패드(205)를 가지며, 상기 어레이(214)의 분산은 상기 면(207)에 걸쳐 상대적으로 균일하다. 또한, 상기 상기 어레이(214)는 바람직하게, 본딩 패드(205)에 비해 감소된 높이를 갖는다.
도시된 바와 같이, 상기 어레이(214)는, 면(207)의 주변에 있거나 주변에 인접한 외부(206)를 포함한다. 이것은 상기 활성 영역(202)의 상기 주변으로부터, 그리고 주변에 인접한 곳으로부터 발광을 제공하기 위함이다. 상기 외부(206)와 상기 본딩 패드(205)를 전기적으로 및 물리적으로 연결하는 것은, 접합부(208)로, 본 예에서는, 상기 본딩 패드(205)로부터 상기 외부(206)로 연장되는 4개의 동등하게 구획된 방사상의 "스포크들(spokes)"이다. 모든 스포크들(208)은 바람직하게 동일하고, 보다 바람직하게 상기 외부(206)과 동일한 높이와 폭을 갖는다. 4개의 스포크들(208)이 십자형으로 도시되었으나, 상기 스포크의 갯수는 예를 들어, 한 개, 두 개, 세 개, 네 개, 다섯 개, 여섯 개 등으로 가능하다.
상기 스포크들(208) 및 상기 외부(206) 사이에는 상기 광출력면(207)로부터의 발광을 위한 발광 개구부(209)가 있다.
상기 외부(206) 및/또는 각 스포크(208) 또는 어레이(214)는 상기 광출력면(207) 내에 형성된 트랜치(trench, 211) 내에 위치될 수 있다. 상기 트랜치(211)는 바닥(213)에 반사막(212)을 포함하여, 상기 어레이(214) 아래의 활성 영역(202)에 의해 전달되는 빛이 보다 효율적으로 상기 반사막(212)에 의해 반사될 수 있다. 상기 반사막(212)은 확산면(diffusing surface)을 가질 수 있어, 빛이 90도 이외의 각도로 이로부터 반사될 것이다. 상기 반사막(212)은 전기적으로 도전성으로 상기 어레이(214)로부터 상기 활성 영역(202)으로 전류가 통과되도록 할 수 있다. 바람직하게, 상기 반사막(212)의 형태 및 상기 면(207) 상의 상기 반사막(212)의 면적은 상기 어레이(214)와 동일하다.
도 6에 도시된 바와 같이, 상기 트랜치(211)는 사용되지 않고, 상기 반사막(212)이 상기 어레이(214) 아래의 상기 광출력면(207)에 직접 적용될 수 있다.
도 7 내지 도 13은 공정을 보여준다. 이들은 관련된 출원(참조문헌)의 도 11 내지 도 17이며, 본래의 사파이어 기판(4)이 제거된 이후의 공정 과정이다.
도 8에 도시된 바와 같이, 상기 사파이어 기판(4)의 제거 이후, 상기 메사(mesa)의 가장자리를 따라 새롭게 노출된 표면(13)을 트랜치 에칭하여 분리된다. 도 8 내지 10에 도시된 바와 같이, 상기 에칭 공정동안 상기 n형 GaN층(3)은 포토레지스터막(6(d))에 의해 보호된다.
이와 달리, 상기 n-형 층(n-type layer)의 최하부면(13)이 상기 포토레지스터(12)와의 정렬된 위치에서 쪼개져 상기 다이가 분리될 수 있다. 이것은, 레이저 다이오드에서의 유리한 점(advantage)이다. 왜냐하면, 상기 n-형 층(3)의 노출된 측면은 실질적으로 평행하므로 많은 양(amount)의 내부 반사를 일으키기 때문이다. 이것은 상승되고 직사된(directed) 빛, 출력을 위한 광증폭 시스템으로 동작한다.
상기 노출된 SiO2 층(8), 상기 n-형 GaN층(3)의 옆 및 n-형 GaN층(3)의 중심 상에 제5 레지스트막(6(e))을 적용한 후, 패드 에칭을 수행하여[도 9(a) 및 도 9(b)] n-형 GaN층(3)으로 구성된 조사부(14)와 리세스부(15)를 형성한다.
상기 레지스트(6(e))는 제거되고 상기 n-형 GaN층(3) 및 상기 SiO2층(8)의 바깥 주변부의 노출된 표면 상에 레지스트(6(f))가 더 적용되어, 다이 분리를 위한 갭(16)이 남는다. 상기 두꺼운 포토 레지스트(12)의 끝들이 노출될 때까지 상기 갭(16)과 상기 SiO2 층(8)을 관통하여 에칭이 수행된다. 상기 레지스트 (6(f))는 제거된다.
마지막 레지스트막(6(g))은 상기 SiO2 막(8)의 가장자리부터 상기 n-형 GaN층(3)의 중심에 인접한 곳에 이르는 모든 노출된 하부면에 적용되고, 중앙의 갭(17)이 남는다(도 11).
막의 어레이(214) 또는 n형 금속들의 막들(18)이, 상기 레지스트(6(g)) 상에 적용된다. 상기 n-형 GaN 층(3)의 중심부의 상기 갭(17)의 상기 층(18)은 상기 GaN 층(3)에 직접 적용된다. (도 12). 상기 막(18)이 부착된 상기 레지스트막(6(g))이 제거되고, 이전에 갭(17)이 위치했던 상기 n-형 GaN층(3)의 중심에 부착된 상기 막(18)이 남는다.
이러한 방식으로 상기 시드층(11, 10, 9) 및 상기 구리층(9(a))은 발광을 증가시키기 위한 반사기(reflector)로 작용하고, 상기 구리층(9(a))은 일 터미널에 배치되어 발광을 방해하지 않는다. 상기 제2 터미널은 GaN의 n형 층(3) 상의 어레이(214) 내의 층(18)이고, 이것은 상기 층(3)의 중심 또는 중심의 주변 또는 중심 및 중심의 주변의 어레이이며, 발광에서의 효과를 최소화시키고, 전류의 확산을 증가시킨다.
본 발명의 바람직한 실시예들이 설명되었고, 구성 또는 설계의 구체적인 사항에서의 변경 또는 변화가 본 발명에서 벗어나지 않고 당업자에게 이루어질 수 있음이 자명할 것이다.

Claims (12)

  1. (a) 활성층을 포함하는 복수의 에피택시얼층;
    (b) 상기 에피택시얼층들의 제1 측의 적어도 하나의 반사막과 오믹 콘택;
    (c) 상기 에피택시얼층들의 제2 측의, 발광면을 갖는 도전성 금속층;
    (d) 상기 발광면 상의, 전류를 확산시키기며 광출력에 영향을 최소화시키는 어레이를 포함하는 터미널을 포함하는 발광 소자.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 어레이는 본딩 패드, 외부 및 상기 본딩 패드와 상기 외부를 연결하는 결합부를 포함하되, 상기 외부와 상기 결합부는 전류 방산(dissipation)을 위해 존재하는 발광소자.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 외부는 상기 발광면의 주변 또는 주변에 인접한 영역에 있는 발광소자.
  4. 청구항 2 또는 3에 있어서,
    상기 결합부는 상기 본딩 패드와 상가 외부를 결합하는 복수의 스포크(spokes)를 포함하는 발광 소자.
  5. 청구항 1 내지 4 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 어레이와 상기 발광면 사이의 제2 반사막이 배치되는 발광 소자.
  6. 청구항 2 내지 4 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제2 반사막은 상기 발광면의 트랜치의 바닥에 배치되는 발광소자.
  7. 활성층을 포함하는 복수의 에피택시얼층, 상기 에피택시얼층의 제1 측의 반사막과 상기 에피택시얼층의 제2 측의 도전성 금속을 포함하되, 상기 도전성 금속은 발광면을 포함하는 발광 소자의 형성 방법에 있어서,
    상기 도전성 금속의 상기 발광면 상에, 전류를 확산시키고 광출력에 대한 이의 영향을 최소화시키는 어레이를 포함하는 터미널을 포함하는 발광 소자의 형성방법.
  8. 청구항 7에 있어서,
    상기 어레이를 형성하는 것은 본딩 패드, 외부 및 상기 본딩 패드와 외부를 전기적으로 연결하는 결합부를 형성하는 것을 포함하되, 상기 외부와 결합부는 전류 방산을 위해 존재하는 발광 소자의 형성방법.
  9. 청구항 8에 있어서,
    상기 외부는 상기 발광면의 주변에 있거나 주변에 인접한 발광 소자의 형성 방법.
  10. 청구항 8 또는 9에 있어서,
    상기 결합부는 상기 본딩 패드와 외부를 연결하는 복수의 스포크들을 포함하는 발광 소자의 형성방법.
  11. 청구항 7 내지 10 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제2 반사막 상에 어레이를 형성하기 전에 상기 발광면 상에 제2 반사막을 형성하는 것을 더 포함하는 발광 소자의 형성방법.
  12. 청구항 8 내지 10 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 발광면에 트랜치를 형성하는 것, 상기 트랜치의 바닥에 제2 반사막을 형성하는 것을 더 포함하되, 상기 어레이는 상기 제2 반사막 상에 형성되는 발광 소자의 형성방법.
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SG (1) SG140512A1 (ko)
TW (1) TWI440209B (ko)
WO (1) WO2008030188A1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101250964B1 (ko) * 2009-11-06 2013-04-05 세미엘이디즈 옵토일렉트로닉스, 컴퍼니 리미티드 발광다이오드 장치

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101335320B (zh) 2003-09-19 2012-06-06 霆激科技股份有限公司 用于制作发光器件的方法
JP2007535804A (ja) 2004-03-15 2007-12-06 ティンギ テクノロジーズ プライベート リミテッド 半導体デバイスの製造
CN1998094B (zh) * 2004-04-07 2012-12-26 霆激技术有限公司 半导体发光二极管上的反射层的制造
SG130975A1 (en) 2005-09-29 2007-04-26 Tinggi Tech Private Ltd Fabrication of semiconductor devices for light emission
SG131803A1 (en) 2005-10-19 2007-05-28 Tinggi Tech Private Ltd Fabrication of transistors
SG133432A1 (en) 2005-12-20 2007-07-30 Tinggi Tech Private Ltd Localized annealing during semiconductor device fabrication
SG140473A1 (en) 2006-08-16 2008-03-28 Tinggi Tech Private Ltd Improvements in external light efficiency of light emitting diodes
TW200926440A (en) * 2007-12-12 2009-06-16 Advanced Optoelectronic Tech Light emitting diode and manufacturing method thereof
JP2015038957A (ja) * 2013-07-16 2015-02-26 株式会社東芝 半導体装置及びその製造方法
US11025033B2 (en) * 2019-05-21 2021-06-01 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Bump bonding structure to mitigate space contamination for III-V dies and CMOS dies

Family Cites Families (130)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3848490A (en) 1973-11-02 1974-11-19 Gerber Garment Technology Inc Method and apparatus for controlling a cutting tool
US3897627A (en) 1974-06-28 1975-08-05 Rca Corp Method for manufacturing semiconductor devices
CA1027257A (en) 1974-10-29 1978-02-28 James A. Benjamin Overlay metallization field effect transistor
JPS5831751B2 (ja) 1975-10-31 1983-07-08 松下電器産業株式会社 半導体レ−ザの製造方法
JPS59112667A (ja) 1982-12-17 1984-06-29 Fujitsu Ltd 発光ダイオ−ド
JPS6395661A (ja) 1986-10-13 1988-04-26 Toshiba Corp 半導体素子電極
US5192987A (en) 1991-05-17 1993-03-09 Apa Optics, Inc. High electron mobility transistor with GaN/Alx Ga1-x N heterojunctions
JPH06310500A (ja) 1993-01-22 1994-11-04 Toshiba Corp 半導体装置の製造方法
US5376580A (en) 1993-03-19 1994-12-27 Hewlett-Packard Company Wafer bonding of light emitting diode layers
US5654228A (en) 1995-03-17 1997-08-05 Motorola VCSEL having a self-aligned heat sink and method of making
JP3511970B2 (ja) 1995-06-15 2004-03-29 日亜化学工業株式会社 窒化物半導体発光素子
FR2737342B1 (fr) 1995-07-25 1997-08-22 Thomson Csf Composant semiconducteur avec dissipateur thermique integre
KR0159388B1 (ko) 1995-09-30 1999-02-01 배순훈 평탄화 방법
JP2005260255A (ja) 1996-02-19 2005-09-22 Sharp Corp 化合物半導体装置及びその製造方法
US5811927A (en) 1996-06-21 1998-09-22 Motorola, Inc. Method for affixing spacers within a flat panel display
US6210479B1 (en) 1999-02-26 2001-04-03 International Business Machines Corporation Product and process for forming a semiconductor structure on a host substrate
US6784463B2 (en) 1997-06-03 2004-08-31 Lumileds Lighting U.S., Llc III-Phospide and III-Arsenide flip chip light-emitting devices
US6559038B2 (en) 1997-11-18 2003-05-06 Technologies And Devices International, Inc. Method for growing p-n heterojunction-based structures utilizing HVPE techniques
KR19990052640A (ko) 1997-12-23 1999-07-15 김효근 오믹접촉 형성을 이용한 다이오드용 금속박막및 그의 제조방법
US6071795A (en) 1998-01-23 2000-06-06 The Regents Of The University Of California Separation of thin films from transparent substrates by selective optical processing
US6091085A (en) 1998-02-19 2000-07-18 Agilent Technologies, Inc. GaN LEDs with improved output coupling efficiency
JP3144377B2 (ja) 1998-03-13 2001-03-12 日本電気株式会社 半導体装置の製造方法
DE19921987B4 (de) 1998-05-13 2007-05-16 Toyoda Gosei Kk Licht-Abstrahlende Halbleitervorrichtung mit Gruppe-III-Element-Nitrid-Verbindungen
JP3847477B2 (ja) 1998-12-17 2006-11-22 豊田合成株式会社 Iii族窒化物系化合物半導体発光素子
US6803243B2 (en) 2001-03-15 2004-10-12 Cree, Inc. Low temperature formation of backside ohmic contacts for vertical devices
JP3525061B2 (ja) 1998-09-25 2004-05-10 株式会社東芝 半導体発光素子の製造方法
US6307218B1 (en) 1998-11-20 2001-10-23 Lumileds Lighting, U.S., Llc Electrode structures for light emitting devices
JP3739951B2 (ja) 1998-11-25 2006-01-25 東芝電子エンジニアリング株式会社 半導体発光素子およびその製造方法
JP3531722B2 (ja) 1998-12-28 2004-05-31 信越半導体株式会社 発光ダイオードの製造方法
US6744800B1 (en) 1998-12-30 2004-06-01 Xerox Corporation Method and structure for nitride based laser diode arrays on an insulating substrate
EP1039555A1 (en) 1999-03-05 2000-09-27 Toyoda Gosei Co., Ltd. Group III nitride compound semiconductor device
JP2000294837A (ja) 1999-04-05 2000-10-20 Stanley Electric Co Ltd 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
US6020261A (en) 1999-06-01 2000-02-01 Motorola, Inc. Process for forming high aspect ratio circuit features
GB9913950D0 (en) 1999-06-15 1999-08-18 Arima Optoelectronics Corp Unipolar light emitting devices based on iii-nitride semiconductor superlattices
JP4189710B2 (ja) 1999-07-16 2008-12-03 Dowaエレクトロニクス株式会社 発光ダイオードの製造方法
JP2001035974A (ja) 1999-07-19 2001-02-09 Nec Corp 半導体装置及びその製造方法
JP2001049491A (ja) 1999-08-04 2001-02-20 Fujitsu Ltd Cu電解めっき成膜方法
JP3633447B2 (ja) 1999-09-29 2005-03-30 豊田合成株式会社 Iii族窒化物系化合物半導体素子
US6492661B1 (en) 1999-11-04 2002-12-10 Fen-Ren Chien Light emitting semiconductor device having reflection layer structure
JP5965095B2 (ja) 1999-12-03 2016-08-10 クリー インコーポレイテッドCree Inc. 内部および外部光学要素による光取出しを向上させた発光ダイオード
JP2001168094A (ja) 1999-12-06 2001-06-22 Murata Mfg Co Ltd 配線構造、配線形成方法及び半導体装置
US6514782B1 (en) 1999-12-22 2003-02-04 Lumileds Lighting, U.S., Llc Method of making a III-nitride light-emitting device with increased light generating capability
US6573537B1 (en) 1999-12-22 2003-06-03 Lumileds Lighting, U.S., Llc Highly reflective ohmic contacts to III-nitride flip-chip LEDs
JP4501225B2 (ja) 2000-02-21 2010-07-14 日亜化学工業株式会社 発光素子および発光素子の製造方法
JP2001237461A (ja) 2000-02-22 2001-08-31 Toshiba Corp 半導体発光素子
EP1139409A3 (en) 2000-02-29 2003-01-02 Agere Systems Guardian Corporation Selective laser anneal on semiconductor material
JP4060511B2 (ja) 2000-03-28 2008-03-12 パイオニア株式会社 窒化物半導体素子の分離方法
DE10051465A1 (de) 2000-10-17 2002-05-02 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements auf GaN-Basis
JP2003533030A (ja) 2000-04-26 2003-11-05 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング GaNをベースとする発光ダイオードチップおよび発光ダイオード構造素子の製造法
JP2002083999A (ja) 2000-06-21 2002-03-22 Sharp Corp 半導体発光素子
US6420732B1 (en) 2000-06-26 2002-07-16 Luxnet Corporation Light emitting diode of improved current blocking and light extraction structure
US6661028B2 (en) 2000-08-01 2003-12-09 United Epitaxy Company, Ltd. Interface texturing for light-emitting device
TW456058B (en) 2000-08-10 2001-09-21 United Epitaxy Co Ltd Light emitting diode and the manufacturing method thereof
US6380564B1 (en) 2000-08-16 2002-04-30 United Epitaxy Company, Ltd. Semiconductor light emitting device
US6562648B1 (en) 2000-08-23 2003-05-13 Xerox Corporation Structure and method for separation and transfer of semiconductor thin films onto dissimilar substrate materials
TW466784B (en) 2000-09-19 2001-12-01 United Epitaxy Co Ltd Method to manufacture high luminescence LED by using glass pasting
TW475276B (en) 2000-11-07 2002-02-01 Ind Tech Res Inst GaN based III-V compound semiconductor light-emitting device
US6791119B2 (en) 2001-02-01 2004-09-14 Cree, Inc. Light emitting diodes including modifications for light extraction
JP3970530B2 (ja) 2001-02-19 2007-09-05 三菱電機株式会社 半導体装置およびその製造方法
US6956250B2 (en) 2001-02-23 2005-10-18 Nitronex Corporation Gallium nitride materials including thermally conductive regions
US6611002B2 (en) 2001-02-23 2003-08-26 Nitronex Corporation Gallium nitride material devices and methods including backside vias
CN1185720C (zh) 2001-03-05 2005-01-19 全新光电科技股份有限公司 一种镀有金属反射镜膜基板的发光二极管及其制造方法
US6468824B2 (en) 2001-03-22 2002-10-22 Uni Light Technology Inc. Method for forming a semiconductor device having a metallic substrate
US6589857B2 (en) 2001-03-23 2003-07-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Manufacturing method of semiconductor film
US6509270B1 (en) 2001-03-30 2003-01-21 Cypress Semiconductor Corp. Method for polishing a semiconductor topography
KR100482174B1 (ko) 2001-08-08 2005-04-13 삼성전기주식회사 기판제거 기술을 이용한 GaN계 LED 제작 방법
US20030064535A1 (en) 2001-09-28 2003-04-03 Kub Francis J. Method of manufacturing a semiconductor device having a thin GaN material directly bonded to an optimized substrate
JP4336071B2 (ja) 2001-11-08 2009-09-30 古河電気工業株式会社 放熱性に優れた半導体装置
US6784462B2 (en) * 2001-12-13 2004-08-31 Rensselaer Polytechnic Institute Light-emitting diode with planar omni-directional reflector
US6455340B1 (en) 2001-12-21 2002-09-24 Xerox Corporation Method of fabricating GaN semiconductor structures using laser-assisted epitaxial liftoff
JP3782357B2 (ja) 2002-01-18 2006-06-07 株式会社東芝 半導体発光素子の製造方法
JP2003243700A (ja) 2002-02-12 2003-08-29 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物系化合物半導体発光素子
JP4242599B2 (ja) 2002-04-08 2009-03-25 パナソニック株式会社 窒化物半導体装置の製造方法及び窒化物半導体基板の製造方法
US8294172B2 (en) 2002-04-09 2012-10-23 Lg Electronics Inc. Method of fabricating vertical devices using a metal support film
US20030189215A1 (en) 2002-04-09 2003-10-09 Jong-Lam Lee Method of fabricating vertical structure leds
JP3896027B2 (ja) 2002-04-17 2007-03-22 シャープ株式会社 窒化物系半導体発光素子およびその製造方法
JP4233268B2 (ja) 2002-04-23 2009-03-04 シャープ株式会社 窒化物系半導体発光素子およびその製造方法
JP3962282B2 (ja) 2002-05-23 2007-08-22 松下電器産業株式会社 半導体装置の製造方法
JP3962283B2 (ja) 2002-05-29 2007-08-22 松下電器産業株式会社 半導体装置の製造方法
JP2004014938A (ja) 2002-06-10 2004-01-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2004088083A (ja) 2002-06-25 2004-03-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体発光素子、その製造方法及びその実装方法
TW540171B (en) 2002-07-18 2003-07-01 United Epitaxy Co Ltd Manufacturing method of high-power light emitting diode
JP2004072052A (ja) 2002-08-09 2004-03-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置及びその製造方法
US6649437B1 (en) 2002-08-20 2003-11-18 United Epitaxy Company, Ltd. Method of manufacturing high-power light emitting diodes
US20040104395A1 (en) 2002-11-28 2004-06-03 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Light-emitting device, method of fabricating the same, and OHMIC electrode structure for semiconductor device
KR100495215B1 (ko) 2002-12-27 2005-06-14 삼성전기주식회사 수직구조 갈륨나이트라이드 발광다이오드 및 그 제조방법
US6825559B2 (en) 2003-01-02 2004-11-30 Cree, Inc. Group III nitride based flip-chip intergrated circuit and method for fabricating
JP4179539B2 (ja) 2003-01-15 2008-11-12 富士通株式会社 化合物半導体装置及びその製造方法
JP4492034B2 (ja) 2003-04-11 2010-06-30 日亜化学工業株式会社 Hemt及びその製造方法
CN101697366B (zh) 2003-05-09 2012-12-19 克里公司 通过离子注入进行隔离的发光二极管
JP4295669B2 (ja) 2003-05-22 2009-07-15 パナソニック株式会社 半導体素子の製造方法
US7244628B2 (en) 2003-05-22 2007-07-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for fabricating semiconductor devices
KR100483049B1 (ko) 2003-06-03 2005-04-15 삼성전기주식회사 수직구조 질화갈륨계 발광다이오드의 제조방법
US6921924B2 (en) 2003-06-18 2005-07-26 United Epitaxy Company, Ltd Semiconductor light-emitting device
US6967346B2 (en) 2003-08-02 2005-11-22 Formosa Epitaxy Incorporation Light emitting diode structure and manufacture method thereof
US6958494B2 (en) * 2003-08-14 2005-10-25 Dicon Fiberoptics, Inc. Light emitting diodes with current spreading layer
CN101335320B (zh) 2003-09-19 2012-06-06 霆激科技股份有限公司 用于制作发光器件的方法
CN100452328C (zh) 2003-09-19 2009-01-14 霆激技术有限公司 半导体器件上导电金属层的制作
US6911376B2 (en) 2003-10-01 2005-06-28 Wafermasters Selective heating using flash anneal
US7700973B2 (en) 2003-10-10 2010-04-20 The Regents Of The University Of California GaN/AlGaN/GaN dispersion-free high electron mobility transistors
TWI313071B (en) 2003-10-15 2009-08-01 Epistar Corporatio Light-emitting semiconductor device having enhanced brightness
US7119372B2 (en) * 2003-10-24 2006-10-10 Gelcore, Llc Flip-chip light emitting diode
US7012281B2 (en) 2003-10-30 2006-03-14 Epistar Corporation Light emitting diode device and manufacturing method
WO2005064666A1 (en) 2003-12-09 2005-07-14 The Regents Of The University Of California Highly efficient gallium nitride based light emitting diodes via surface roughening
US7033912B2 (en) 2004-01-22 2006-04-25 Cree, Inc. Silicon carbide on diamond substrates and related devices and methods
JP4647216B2 (ja) 2004-02-19 2011-03-09 信越半導体株式会社 GaP発光素子の製造方法
JP2007535804A (ja) 2004-03-15 2007-12-06 ティンギ テクノロジーズ プライベート リミテッド 半導体デバイスの製造
JP4955384B2 (ja) 2004-03-30 2012-06-20 日本電気株式会社 半導体装置
JP4356494B2 (ja) 2004-03-30 2009-11-04 株式会社デンソー 半導体装置
CN1998094B (zh) 2004-04-07 2012-12-26 霆激技术有限公司 半导体发光二极管上的反射层的制造
CN101901858B (zh) 2004-04-28 2014-01-29 沃提科尔公司 垂直结构半导体器件
US7791061B2 (en) 2004-05-18 2010-09-07 Cree, Inc. External extraction light emitting diode based upon crystallographic faceted surfaces
TWI433343B (zh) 2004-06-22 2014-04-01 Verticle Inc 具有改良光輸出的垂直構造半導體裝置
WO2006065010A1 (en) 2004-12-13 2006-06-22 Lg Chem, Ltd. METHOD FOR MANUFACTURING G a N-BASED LIGHT EMITTING DIODE USING LASER LIFT-OFF TECHNIQUE AND LIGHT EMITTING DIODE MANUFACTURED THEREBY
US7378288B2 (en) 2005-01-11 2008-05-27 Semileds Corporation Systems and methods for producing light emitting diode array
US7195944B2 (en) 2005-01-11 2007-03-27 Semileds Corporation Systems and methods for producing white-light emitting diodes
US20060154393A1 (en) 2005-01-11 2006-07-13 Doan Trung T Systems and methods for removing operating heat from a light emitting diode
US7186580B2 (en) 2005-01-11 2007-03-06 Semileds Corporation Light emitting diodes (LEDs) with improved light extraction by roughening
US7413918B2 (en) 2005-01-11 2008-08-19 Semileds Corporation Method of making a light emitting diode
US20060151801A1 (en) 2005-01-11 2006-07-13 Doan Trung T Light emitting diode with thermo-electric cooler
US7335920B2 (en) 2005-01-24 2008-02-26 Cree, Inc. LED with current confinement structure and surface roughening
EP1693891B1 (en) 2005-01-31 2019-07-31 IMEC vzw Method of manufacturing a semiconductor device
JP4980615B2 (ja) 2005-02-08 2012-07-18 ローム株式会社 半導体発光素子およびその製法
US7348212B2 (en) 2005-09-13 2008-03-25 Philips Lumileds Lighting Company Llc Interconnects for semiconductor light emitting devices
US20070029541A1 (en) 2005-08-04 2007-02-08 Huoping Xin High efficiency light emitting device
SG130975A1 (en) 2005-09-29 2007-04-26 Tinggi Tech Private Ltd Fabrication of semiconductor devices for light emission
SG131803A1 (en) 2005-10-19 2007-05-28 Tinggi Tech Private Ltd Fabrication of transistors
SG133432A1 (en) 2005-12-20 2007-07-30 Tinggi Tech Private Ltd Localized annealing during semiconductor device fabrication
US7413980B2 (en) 2006-04-25 2008-08-19 Texas Instruments Incorporated Semiconductor device with improved contact fuse
SG140473A1 (en) 2006-08-16 2008-03-28 Tinggi Tech Private Ltd Improvements in external light efficiency of light emitting diodes

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101250964B1 (ko) * 2009-11-06 2013-04-05 세미엘이디즈 옵토일렉트로닉스, 컴퍼니 리미티드 발광다이오드 장치

Also Published As

Publication number Publication date
TWI440209B (zh) 2014-06-01
WO2008030188A1 (en) 2008-03-13
TW200822402A (en) 2008-05-16
JP2010503229A (ja) 2010-01-28
US8124994B2 (en) 2012-02-28
CN101584052A (zh) 2009-11-18
SG140512A1 (en) 2008-03-28
US20100117107A1 (en) 2010-05-13

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