JPS59112667A - 発光ダイオ−ド - Google Patents
発光ダイオ−ドInfo
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- JPS59112667A JPS59112667A JP57222802A JP22280282A JPS59112667A JP S59112667 A JPS59112667 A JP S59112667A JP 57222802 A JP57222802 A JP 57222802A JP 22280282 A JP22280282 A JP 22280282A JP S59112667 A JPS59112667 A JP S59112667A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0062—Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(al 発明の技術分野
本発明は発光タイオートに係り、特に近視!l’l’橡
の周辺光を除去し得る構造に関する。
の周辺光を除去し得る構造に関する。
(l〕) 従来技術と問題点
第1図の断面図に示す光通信用のAQ X Ga、−X
As発光クイオート素子は、Ga/Is基板上にウィン
ドウ層1、活性IH2,閉し込め層3を順次成長さ一ロ
た後、1記G a A s基板を除去し、閉し込め層3
表向にp電極4と、該p電極4形成部以外の部分に二酸
化ソリコン(5iO2) 膜5を形成し、史にヒートシ
ンクを兼ねる金(Au)メッキ層6を形成し、一方ウイ
ン1つ層1表面にn電極7を形成することによって得ら
れる。なお8ば主発光91を示ず。
As発光クイオート素子は、Ga/Is基板上にウィン
ドウ層1、活性IH2,閉し込め層3を順次成長さ一ロ
た後、1記G a A s基板を除去し、閉し込め層3
表向にp電極4と、該p電極4形成部以外の部分に二酸
化ソリコン(5iO2) 膜5を形成し、史にヒートシ
ンクを兼ねる金(Au)メッキ層6を形成し、一方ウイ
ン1つ層1表面にn電極7を形成することによって得ら
れる。なお8ば主発光91を示ず。
上記ウィンドウ層1及び閉じ込め履3は、活性JL?f
2のエネルキ・ギ中ツブより広い工不ルキ・キャップ
を有している(即ちX値が大)ので、この両層は発光波
長に対して透明であるが、GaAs基板は仮に活性層2
がGaAsである場合でも不透明となるので、製造工程
の途中で除去される。
2のエネルキ・ギ中ツブより広い工不ルキ・キャップ
を有している(即ちX値が大)ので、この両層は発光波
長に対して透明であるが、GaAs基板は仮に活性層2
がGaAsである場合でも不透明となるので、製造工程
の途中で除去される。
第2図(81は」−記第1図の発光タイオーI・の平面
図で、第1図a、を第2図の1−1矢視部断面を示して
いる。第2図(blは上記発光タイオートの近視野像を
示す図で、発光光は素子中央部から放射される主発光光
9のみならず、素子周辺部からも放射される。この素子
周辺部から放射される周辺光10は、発光ダイオードの
放射光を光ファイバにより受光し伝送する場合には主発
光光9のみが受光されるので問題にはならない。しかし
光通信用発光ダイオードのような微小発光径の発光ダイ
オードをレノス結合して、制御或いは計測に使用する場
合が有り、このような場合には」1述の周辺光IOもレ
ノスに入射するのて、レノスにより結像された像は図示
した近視野像と相似のものとなる。
図で、第1図a、を第2図の1−1矢視部断面を示して
いる。第2図(blは上記発光タイオートの近視野像を
示す図で、発光光は素子中央部から放射される主発光光
9のみならず、素子周辺部からも放射される。この素子
周辺部から放射される周辺光10は、発光ダイオードの
放射光を光ファイバにより受光し伝送する場合には主発
光光9のみが受光されるので問題にはならない。しかし
光通信用発光ダイオードのような微小発光径の発光ダイ
オードをレノス結合して、制御或いは計測に使用する場
合が有り、このような場合には」1述の周辺光IOもレ
ノスに入射するのて、レノスにより結像された像は図示
した近視野像と相似のものとなる。
このようにかかる発光クイオートをレノス結合して使用
するには、上記望ましくなし1近視野像の周辺光10を
除去することが必要である。
するには、上記望ましくなし1近視野像の周辺光10を
除去することが必要である。
(C1発明の目的
本発明の目的は、上述の不要な周辺光か放射されること
のない発光ダイオードを提供することにある。
のない発光ダイオードを提供することにある。
((j)発明の構成
本発明の特徴は、半導体基体と、該半導体基体の内部に
設りられた発光部と、該」4導体基体の)し放出面」二
に配設された環状電極と、該環状電極の外側の光放出面
」−に配設された遮光体とを其備J゛ることにある。
設りられた発光部と、該」4導体基体の)し放出面」二
に配設された環状電極と、該環状電極の外側の光放出面
」−に配設された遮光体とを其備J゛ることにある。
((・)発明の実施例
以上本発明の実施例を図面を参照しなから説明する。
第3図〜第6図は本発明の第1の実施例を製造工程とと
もに示す要部断面図である。第3図は、前記第1図及び
第2図に示した状態、即ぢGaAs基板上にウィンI・
つ層1.活性層2.閉し込め層3を順次成長さゼた後、
閉じ込め闇3表面にn電極4.5i02膜5.Auメッ
キ層6を形成し、次いでGaAs基板を除去してウィン
ドウ層1表面を露呈させ、ウィンドウ層1表面にn電極
7の形成工程を終了した状態を示す。
もに示す要部断面図である。第3図は、前記第1図及び
第2図に示した状態、即ぢGaAs基板上にウィンI・
つ層1.活性層2.閉し込め層3を順次成長さゼた後、
閉じ込め闇3表面にn電極4.5i02膜5.Auメッ
キ層6を形成し、次いでGaAs基板を除去してウィン
ドウ層1表面を露呈させ、ウィンドウ層1表面にn電極
7の形成工程を終了した状態を示す。
このあと第4図に示す如く、上記n電極7上を含むウィ
ンl−9層1表面に5iO2rI’jt’llをスパッ
タ法により形成する。該5i02膜11ば無反射コート
膜とするため、発光波長の1/4の厚さに形成する。次
いでこれを選択的に除去してn電極7上に開口を設りた
のも、低融点金属の金・錫(AuSn)を蒸着法により
被着せしめ、更に超音波洗浄を行う。AuSnと 5i
02とは接着性か悪いので、この超音波洗浄により 5
i02膜ll上のAuSnは殆ど依Ii++・除去され
、上記5i02膜11の開口部にAuSn層12層形2
される。
ンl−9層1表面に5iO2rI’jt’llをスパッ
タ法により形成する。該5i02膜11ば無反射コート
膜とするため、発光波長の1/4の厚さに形成する。次
いでこれを選択的に除去してn電極7上に開口を設りた
のも、低融点金属の金・錫(AuSn)を蒸着法により
被着せしめ、更に超音波洗浄を行う。AuSnと 5i
02とは接着性か悪いので、この超音波洗浄により 5
i02膜ll上のAuSnは殆ど依Ii++・除去され
、上記5i02膜11の開口部にAuSn層12層形2
される。
次いで第5図に見られるように、上記n電極7の外+!
!II (スクライソライン)及びn電極7」二の5i
0211史11を除去した後、個々の素子にζIJ t
lJi分離する。
!II (スクライソライン)及びn電極7」二の5i
0211史11を除去した後、個々の素子にζIJ t
lJi分離する。
よいで第6図に示すように七記個々に分離された素子を
加熱して、Au5nlを12を溶融さ・Uるごとにより
、−に記1’luSn1m12ばn電極7外側のウィン
ドウ′j行1の露呈された表面を被覆する。
加熱して、Au5nlを12を溶融さ・Uるごとにより
、−に記1’luSn1m12ばn電極7外側のウィン
ドウ′j行1の露呈された表面を被覆する。
このようにして得られた本実施例の発光ダイ側−1′は
、素子周辺部力<Au5nXにより被tFされるので、
周辺光は八uSnR5+2により遮られ、従木の素子の
ように外fl(に放射されることはない。
、素子周辺部力<Au5nXにより被tFされるので、
周辺光は八uSnR5+2により遮られ、従木の素子の
ように外fl(に放射されることはない。
第7図及び第8図は本実施例の第2の実施例を示す図で
、2157図は本実施例に用いた遮光板を示す平面図、
第8図は本実施例の完成体を示す要部1折而図である。
、2157図は本実施例に用いた遮光板を示す平面図、
第8図は本実施例の完成体を示す要部1折而図である。
前記第1の実施例においては、素子周辺部上に低副;点
金属層を形成し、これを遮光材とし′(周辺光が外部に
放射されるのを防止したのに対し、本実施例では素子の
光放射面側即ちウィンドウIM l側表面に、第7図に
見られるような金(ΔU)また圓その他の金属よりなる
遮光板15を配設し、これにより素子周辺illから周
辺光か外部に放射されるのを防止しようとするものであ
る。
金属層を形成し、これを遮光材とし′(周辺光が外部に
放射されるのを防止したのに対し、本実施例では素子の
光放射面側即ちウィンドウIM l側表面に、第7図に
見られるような金(ΔU)また圓その他の金属よりなる
遮光板15を配設し、これにより素子周辺illから周
辺光か外部に放射されるのを防止しようとするものであ
る。
この遮光板15の中央部には貫通孔16を設りておく。
ごこで該貫通孔16の直径はn電極7の内径よりやや大
きく、またその外寸は、第8図に見られるように、素子
17の外形寸法よりも大きいものとしておくことが必要
である。この遮光板154こは錫(Sn)または金・′
錫(AuSn)等の低融点金属を予め蒸着法等により形
成しておき、これを加熱熔融さ一已て前記r1電極7上
に接着させる。
きく、またその外寸は、第8図に見られるように、素子
17の外形寸法よりも大きいものとしておくことが必要
である。この遮光板154こは錫(Sn)または金・′
錫(AuSn)等の低融点金属を予め蒸着法等により形
成しておき、これを加熱熔融さ一已て前記r1電極7上
に接着させる。
上記遮光板15の延長部はステム18のステム基板I9
にカラス2 Q J 1こより取りつ4ノられたリー1
21に接着され、また金メッキ層6はステム基板に接着
されて本実施例の発光タイオートが完成する。
にカラス2 Q J 1こより取りつ4ノられたリー1
21に接着され、また金メッキ層6はステム基板に接着
されて本実施例の発光タイオートが完成する。
このようにして得られた本実施例の発光タイオートは、
周辺光は遮光板15に遮られて外部に放射されることは
ない。また主発光部上には貫通孔16が設りられている
ので、主発光部からの放射光に対しては何の影響も及は
さない。
周辺光は遮光板15に遮られて外部に放射されることは
ない。また主発光部上には貫通孔16が設りられている
ので、主発光部からの放射光に対しては何の影響も及は
さない。
(「)発明の効果
以−J=説明しノこ如く本発明によれは、素子周辺部は
金属層または金属板等の遮光材によって遮光され、周辺
光が外部に放射されるごとはない。従ってレノス結合に
より使用した場合において4)、主発光光の乃を利用す
ることが可能となり、使用「1的に対して不都合を及は
ずことばない。
金属層または金属板等の遮光材によって遮光され、周辺
光が外部に放射されるごとはない。従ってレノス結合に
より使用した場合において4)、主発光光の乃を利用す
ることが可能となり、使用「1的に対して不都合を及は
ずことばない。
第1図及び第2図ta)、(blは従来の光光り・fオ
ードのゲ1f点を説明するための断面図、甲面図及び曲
線図、第゛3図〜第6図は本発明の第1の実施例を示す
要部断面図、第7図及び第8図は本発明の第2の実施例
を示す平面図及び断面図である。 艮1において、1はウィンドウ層、2ば活性層、3は閉
じ込め層、4はp電(1m6は金メツ:1一層、7はn
電極、8ば主発光部、9ば主発光光、10は周辺光、1
1は5i02股、」2は金属遮光jてづ、I!i4;I
金属遮光板を示す。 第4図。 第2121 ) 327−
ードのゲ1f点を説明するための断面図、甲面図及び曲
線図、第゛3図〜第6図は本発明の第1の実施例を示す
要部断面図、第7図及び第8図は本発明の第2の実施例
を示す平面図及び断面図である。 艮1において、1はウィンドウ層、2ば活性層、3は閉
じ込め層、4はp電(1m6は金メツ:1一層、7はn
電極、8ば主発光部、9ば主発光光、10は周辺光、1
1は5i02股、」2は金属遮光jてづ、I!i4;I
金属遮光板を示す。 第4図。 第2121 ) 327−
Claims (1)
- 半導体基体と、該半導体基体の内部に設りられノコ発光
部と、該半導体基体の光放出面L−に配設された環状電
極と、該環状電極の外側の光放出面」二に配設・された
遮光体とを具備することを’Ri徴とする発光タイオー
ド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57222802A JPS59112667A (ja) | 1982-12-17 | 1982-12-17 | 発光ダイオ−ド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57222802A JPS59112667A (ja) | 1982-12-17 | 1982-12-17 | 発光ダイオ−ド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59112667A true JPS59112667A (ja) | 1984-06-29 |
Family
ID=16788119
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57222802A Pending JPS59112667A (ja) | 1982-12-17 | 1982-12-17 | 発光ダイオ−ド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59112667A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1668687A1 (en) * | 2003-09-19 | 2006-06-14 | Tinggi Technologies Private Limited | Fabrication of conductive metal layer on semiconductor devices |
US7763477B2 (en) | 2004-03-15 | 2010-07-27 | Tinggi Technologies Pte Limited | Fabrication of semiconductor devices |
US8004001B2 (en) | 2005-09-29 | 2011-08-23 | Tinggi Technologies Private Limited | Fabrication of semiconductor devices for light emission |
US8034643B2 (en) | 2003-09-19 | 2011-10-11 | Tinggi Technologies Private Limited | Method for fabrication of a semiconductor device |
US8067269B2 (en) | 2005-10-19 | 2011-11-29 | Tinggi Technologies Private Limted | Method for fabricating at least one transistor |
US8124994B2 (en) | 2006-09-04 | 2012-02-28 | Tinggi Technologies Private Limited | Electrical current distribution in light emitting devices |
CN106703821A (zh) * | 2017-02-15 | 2017-05-24 | 河海大学 | 一种地下掘进装置及其掘进方法 |
-
1982
- 1982-12-17 JP JP57222802A patent/JPS59112667A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1668687A1 (en) * | 2003-09-19 | 2006-06-14 | Tinggi Technologies Private Limited | Fabrication of conductive metal layer on semiconductor devices |
EP1668687A4 (en) * | 2003-09-19 | 2007-11-07 | Tinggi Tech Private Ltd | FABRICATION OF A CONDUCTIVE METAL LAYER ON SEMICONDUCTOR DEVICES |
US8034643B2 (en) | 2003-09-19 | 2011-10-11 | Tinggi Technologies Private Limited | Method for fabrication of a semiconductor device |
US7763477B2 (en) | 2004-03-15 | 2010-07-27 | Tinggi Technologies Pte Limited | Fabrication of semiconductor devices |
US8004001B2 (en) | 2005-09-29 | 2011-08-23 | Tinggi Technologies Private Limited | Fabrication of semiconductor devices for light emission |
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US8124994B2 (en) | 2006-09-04 | 2012-02-28 | Tinggi Technologies Private Limited | Electrical current distribution in light emitting devices |
CN106703821A (zh) * | 2017-02-15 | 2017-05-24 | 河海大学 | 一种地下掘进装置及其掘进方法 |
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