TWI739506B - 焊接用波長轉換構件、波長轉換裝置及光源裝置 - Google Patents

焊接用波長轉換構件、波長轉換裝置及光源裝置 Download PDF

Info

Publication number
TWI739506B
TWI739506B TW109123149A TW109123149A TWI739506B TW I739506 B TWI739506 B TW I739506B TW 109123149 A TW109123149 A TW 109123149A TW 109123149 A TW109123149 A TW 109123149A TW I739506 B TWI739506 B TW I739506B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
wavelength conversion
film
layer
ceramic phosphor
bonding
Prior art date
Application number
TW109123149A
Other languages
English (en)
Other versions
TW202107013A (zh
Inventor
八谷洋介
荒川龍一
櫻井利之
伊藤經之
竹內裕貴
田中智雄
勝祐介
Original Assignee
日商日本特殊陶業股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日商日本特殊陶業股份有限公司 filed Critical 日商日本特殊陶業股份有限公司
Publication of TW202107013A publication Critical patent/TW202107013A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI739506B publication Critical patent/TWI739506B/zh

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B21/00—Projectors or projection-type viewers; Accessories therefor
    • G03B21/14—Details
    • G03B21/20—Lamp housings
    • G03B21/2006—Lamp housings characterised by the light source
    • G03B21/2033—LED or laser light sources
    • G03B21/204—LED or laser light sources using secondary light emission, e.g. luminescence or fluorescence
    • F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21—LIGHTING
    • F21V—FUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V29/00—Protecting lighting devices from thermal damage; Cooling or heating arrangements specially adapted for lighting devices or systems
    • F21V29/50—Cooling arrangements
    • F21V29/502—Cooling arrangements characterised by the adaptation for cooling of specific components
    • F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21—LIGHTING
    • F21V—FUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V9/00—Elements for modifying spectral properties, polarisation or intensity of the light emitted, e.g. filters
    • F21V9/30—Elements containing photoluminescent material distinct from or spaced from the light source
    • F21V9/32—Elements containing photoluminescent material distinct from or spaced from the light source characterised by the arrangement of the photoluminescent material
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K1/00—Soldering, e.g. brazing, or unsoldering
    • B23K1/005—Soldering by means of radiant energy
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K3/00—Tools, devices, or special appurtenances for soldering, e.g. brazing, or unsoldering, not specially adapted for particular methods
    • B23K3/08—Auxiliary devices therefor
    • B23K3/085—Cooling, heat sink or heat shielding means
    • F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21—LIGHTING
    • F21V—FUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V29/00—Protecting lighting devices from thermal damage; Cooling or heating arrangements specially adapted for lighting devices or systems
    • F21V29/50—Cooling arrangements
    • F21V29/70—Cooling arrangements characterised by passive heat-dissipating elements, e.g. heat-sinks
    • F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21—LIGHTING
    • F21V—FUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V7/00—Reflectors for light sources
    • F21V7/22—Reflectors for light sources characterised by materials, surface treatments or coatings, e.g. dichroic reflectors
    • F21V7/28—Reflectors for light sources characterised by materials, surface treatments or coatings, e.g. dichroic reflectors characterised by coatings
    • F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21—LIGHTING
    • F21V—FUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V9/00—Elements for modifying spectral properties, polarisation or intensity of the light emitted, e.g. filters
    • F21V9/30—Elements containing photoluminescent material distinct from or spaced from the light source
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00—Optical elements other than lenses
    • G02B5/20—Filters
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B21/00—Projectors or projection-type viewers; Accessories therefor
    • G03B21/005—Projectors using an electronic spatial light modulator but not peculiar thereto
    • G03B21/006—Projectors using an electronic spatial light modulator but not peculiar thereto using LCD's
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B21/00—Projectors or projection-type viewers; Accessories therefor
    • G03B21/14—Details
    • G03B21/20—Lamp housings
    • G03B21/2066—Reflectors in illumination beam
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/50—Wavelength conversion elements
    • H01L33/507—Wavelength conversion elements the elements being in intimate contact with parts other than the semiconductor body or integrated with parts other than the semiconductor body
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00—Semiconductor lasers
    • H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/022—Mountings; Housings
    • H01S5/0225—Out-coupling of light

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Non-Portable Lighting Devices Or Systems Thereof (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)
  • Vessels And Coating Films For Discharge Lamps (AREA)

Abstract

提供一種提升焊接用波長轉換構件中的陶瓷螢光體 與散熱構件之間的熱傳導性之技術。

焊接用波長轉換構件係具備：陶瓷螢光體，將 從入射面入射之光的波長施行轉換；反射層，配置於陶瓷螢光體之和入射側相反側的背面，將背面的一部分或整體覆蓋；及接合層，將陶瓷螢光體之背面與反射層中的至少反射層覆蓋，且由1層以上的膜所構成，其中，接合層係在和覆蓋背面與反射層之中至少反射層之側的面相反側之面的中心部中，具有相對於外周部突出的突出部。

Description

焊接用波長轉換構件、波長轉換裝置及光源裝置
本發明係關於焊接用波長轉換構件、波長轉換裝置及光源裝置。
習知技術中，將光源發出之光的波長施以轉換的波長轉換裝置已為公知。一般而言，波長轉換裝置係由將入射之光的波長施以轉換的螢光體、散熱構件及將螢光體和散熱構件接合的焊料層所構成。螢光體的熱藉由散熱構件散熱。此時，包含於焊料的孔洞(void)係為導致螢光體與散熱構件之間的熱傳導性降低的原因。例如，在專利文獻1中，即揭示了將包含於焊料層的孔洞之大小訂在規定值以下的技術。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1] 日本專利6020631號公報
然而，即使是在藉專利文獻1所載之技術施行螢光體與散熱構件之接合的情況中，由於螢光體與散熱構件之間殘留有孔洞，故焊料層的熱傳導性不易進一步提升。
本發明係為解決上述課題而研發的技術，其目的在於提供一種提升在焊接用波長轉換構件中的陶瓷螢光體與散熱構件之間的熱傳導性之技術。
本發明係為解決上述課題之至少一部分而研發者，其可以下述的形態來實現。
(1).若依據本發明之一形態，可提供焊接用波長轉換構件。該焊接用波長轉換構件具備：陶瓷螢光體，將從入射面入射之光的波長轉換；反射層，配置於前述陶瓷螢光體之和前述入射面相反側的背面，並覆蓋前述背面的一部分或整體；及接合層，將前述陶瓷螢光體之前述背面與前述反射層之中至少前述反射層覆蓋，且由1層以上的膜所構成，其中，前述接合層係在和覆蓋前述背面與前述反射層之中至少前述反射層之側的面相反側之面的中心部，具有相對於外周部突出的突出部。
若依據該構成，接合層係在和覆蓋反射層側之面相反側之面的中心部，具有相對於外周部突出的突出部。透過接合層將陶瓷螢光體與散熱構件焊接時，配置於接合層與散熱構件之間的焊料中，突出部與散熱構件之間的焊料會被從中央向外側擠出。此時，包含於突出部與散熱構件之間的焊料中的孔洞會和焊料一起從突出部與散熱構件之間移動到外周部與散熱構件之間。藉此作用，因突出部與散熱構件之間的孔洞數量減少，陶瓷螢光體與散熱構件之間的熱傳導不易因孔洞而受阻礙。因此，陶瓷螢光體與散熱構件之間的熱傳導性可獲得提升。
(2).上述形態的焊接用波長轉換構件中，前述接合層係直接覆蓋前述陶瓷螢光體之前述背面之中露出的面及前述反射層的雙方；前述接合層之中，前述突出部也可覆蓋前述反射層。若依據該構成，因反射層係形成為覆蓋陶瓷螢光體之背 面的一部分，故將接合層形成在露出的陶瓷螢光體的背面之上及反射層之上時，形成於反射層之上的接合層會比形成於陶瓷螢光體背面之上的接合層更突出。亦即，接合層的突出部係形成在反射層之上，且接合層的外周部可形成在露出的陶瓷螢光體的背面之上。藉此，因可利用反射層的形狀來形成具有突出部及外周部的接合層，故可容易提升陶瓷螢光體與散熱構件之間的熱傳導性。
(3).上述形態的焊接用波長轉換構件中，前述接合層具有：接合膜；及由鉻或鈦所構成的密接膜，且配置於前述陶瓷螢光體與前述接合膜之間，使前述陶瓷螢光體與前述接合膜密接。若依據該構成，覆蓋陶瓷螢光體之背面及反射層雙方的接合層係具有：接合膜，用以將陶瓷螢光體焊接於散熱構件等；及密接膜，配置於陶瓷螢光體與接合膜之間。密接膜因可提高陶瓷螢光體與接合膜的密接性，故可藉焊接提升陶瓷螢光體與散熱構件的接合強度。藉此，可抑制陶瓷螢光體與散熱構件的接合不良。
(4).在上述形態的焊接用波長轉換構件中，前述接合層之中，構成和覆蓋前述背面及前述反射層之中至少前述反射層之側的面相反側之面的膜，係以鎳、鈀、白金、鉬、鎢的至少1種為主成分。若依據該構成，接合層之中，構成和覆蓋反射層側之面相反側之面的膜，係以熔點較高、難氧化、難氮化的鎳、鈀、白金、鉬、鎢的至少1種為主成分。藉此，接合層之中，構成和覆蓋反射層之側的面相反側之面的膜，因不易和金產生擴散，故接合層的成分固溶於焊料的量會受到抑制，且可抑制陶瓷螢光體與散熱構件的接合不良。
(5).若依據本發明的其他形態，係提供波長轉換裝置。該波長轉換裝置具備：上述的焊接用波長轉換構件；散熱構件，將前述陶瓷螢光體的熱釋放到外部；及焊料層，設於前述接合層與前述散熱構件之間，將前述焊接用波長轉換構件與前述散熱構件接合，其中，前述焊料層具有圍繞前述接合層之前述突出部的凹陷部。若依據該構成，將陶瓷螢光體與散熱構件焊接時，從中央朝向外側擠出的突出部與散熱構件之間的焊料會在接合層的外周部與散熱構件之間移動，且在突出部的周圍形成凹陷部。此時，包含於突出部與散熱構件之間的焊料的孔洞也會從突出部與散熱構件之間移動到凹陷部，使突出部與散熱構件之間的孔洞數量變少。藉此，陶瓷螢光體與散熱構件之間的傳熱較不易因孔洞而受到阻礙，故可使陶瓷螢光體與散熱構件之間的熱傳導性提升。
(6).若依據本發明的再一其他形態，係提供一種光源裝置。該光源裝置係具備：上述的波長轉換裝置；及光源，將光照射於前述陶瓷螢光體。若依據該構成，光源裝置可將波長和利用光源照射於陶瓷螢光體之波長不同的光放射到外部。具備有轉換光之波長的陶瓷螢光體的波長轉換裝置中，以陶瓷螢光體轉換光之波長時所產生的熱係通過焊料從散熱構件放出到外部。波長轉換裝置中，由於接合層具有的突出部，突出部與散熱構件之間的孔洞數量會減少，容易將陶瓷螢光體的熱傳導於散熱構件。藉此，可抑制因溫度消光所導致的光源裝置發光強度降低。
另外，本發明可以各種態樣來實現，例如，使用焊接用波長轉換構件或波長轉換裝置的發光系統、焊接用波長轉換構件、波長轉換裝置或光源裝置的製造方法、將令電腦執行這些製程的電腦程式、用以分配電腦程式的伺服器裝置、記憶電腦程式的非暫時性記憶媒體等等的形態來實現。
[用以實施發明的形態]
＜第1實施形態＞ 圖1為具備第1實施形態之波長轉換裝置6a的光源裝置5a的剖面圖。本實施形態的光源裝置5a係具備光源7及波長轉換裝置6a。波長轉換裝置6a在被外部的發光二極體(LED：Light Emitting Diode)或半導體雷射(LD：Laser Diode)等光源7所發出的光L1照射時，會產生和光L1不同波長的光L2。該波長轉換裝置6a係使用在例如頭燈、照明裝置、投影機等各種光學設備中。波長轉換裝置6a係具備焊接用波長轉換構件1a、散熱構件40及焊料層50。另外，圖1中，為了方便說明，焊接用波長轉換構件1a、散熱構件40及焊料層50每一者的厚度關係，係以與實際的厚度關係相異之方式圖示。
圖2為第1實施形態之焊接用波長轉換構件1a的剖面圖。焊接用波長轉換構件1a係具備陶瓷螢光體10、反射層20及接合層30。陶瓷螢光體10係由陶瓷燒結體所構成，將從入射面11入射之光的波長施以轉換。陶瓷燒結體具有以具螢光性的結晶粒子為主體的螢光相、及以具有透光性的結晶粒子為主體的透光相。透光相的結晶粒子具有以化學式Al2 O3 表示的組成，螢光相的結晶粒子較佳為具有以化學式A3 B5 O12 ：Ce表示的組成(所謂的石榴石(garnet構造)。所稱「A3 B5 O12 ：Ce」係表示Ce固溶於A3 B5 O12 中，元素A的一部分置換為Ce。
化學式A3 B5 O12 ：Ce中的元素A及元素B係各自由選自下述之元素群的至少1種元素所構成。 元素A：除了Sc、Y、Ce以外的鑭系元素(lanthanoid) (其中，元素A也可再包含Gd)。 元素B：Al(其中，元素B也可再包含Ga)。 作為陶瓷螢光體10，透過使用陶瓷燒結體，光線會在螢光相與透光相的界面散射，可減低光色的角度依存性。藉此，可提升顏色的均質性。另外，陶瓷螢光體10的材料並不受上述的材料所限定。
反射層20係以配置在和陶瓷螢光體10之入射面11相反側的背面12，且覆蓋背面12的整體之方式形成。反射層20具有增反射膜21及反射膜22。反射層20中，從陶瓷螢光體10側按照增反射膜21及反射膜22之順序作配置。
增反射膜21係具有由二氧化鈦(TiO2 )形成的第1層21a、及由氧化矽(SiO2 )形成的第2層21b。增反射膜21係依第1層21a與第2層21b之折射率的差異，而將陶瓷螢光體10的內部之光反射。反射膜22係由銀(Ag)或鋁(Al)所形成，將透射增反射膜21的陶瓷螢光體10的內部之光反射。另外，上述反射層20的構成僅為一個例子，例如，也可為由鋁、氧化鈮、氧化鈦、氧化鑭、氧化鉭、氧化釔、氧化鎵、氧化鎢、氧化鉿、氧化鋁、氧化矽所形成的單層膜，也可為由不同於上述材料的材料所形成的多層膜。
接合層30係配置於反射層20之和陶瓷螢光體10側相反側的下表面23，且由覆蓋反射層20的1層以上之膜所構成。本實施形態中，接合層30係具有保護膜31、密接膜32及接合膜33。接合層30中，按照保護膜31、密接膜32及接合膜33的順序從陶瓷螢光體10側作配置。
保護膜31係由氧化鋁(Al2 O3 )所形成，以抑制反射膜22的氧化。密接膜32係由鉻(Cr)或鈦(Ti)所形成，以提高保護膜31與接合膜33的密接性。另外，形成保護膜31及密接膜32的材料並不受此所限定。
接合膜33係為在接合層30中構成和覆蓋反射層20之側的面34相反側之面35的膜。接合膜33係由以鎳(Ni)、鈀(Pd)、白金(Pt)、鉬(Mo)、鎢(W)的至少一種為主成分的材料所形成。本實施形態中，接合膜33係以鎳(Ni)為主成分。此處，所謂「主成分」係指藉EDS分析偵測出含有50at%以上的成分。如圖2所示，接合膜33係在接合層30的和覆蓋反射層20側之面34相反側之面35的中心部，具有相對於外周部36突出的突出部37。藉此，如圖2所示，接合膜33係成為凸狀。在此處，所謂凸狀係指具有膜厚不同的部分，且形成為階梯狀。接合膜33會和焊料反應，並將陶瓷螢光體10和焊料接合。
散熱構件40係由例如銅、銅鉬合金、銅鎢合金、鋁、氮化鋁等具有較陶瓷螢光體10更高的熱傳導性的材料所形成。散熱構件40在陶瓷螢光體10側之主面41配置有未圖示的金屬膜。該金屬膜可提升散熱構件40之焊料潤濕性。散熱構件40係將藉由焊料層50等傳導的陶瓷螢光體10之熱釋放到外部。另外，散熱構件40可為由上述材料構成的單層構造的構件，也可為由同種或不同種材料形成的多層構造的構件。
焊料層50係設在接合層30與散熱構件40之間，且由金及錫所形成。如圖1所示，焊料層50具有位於接合膜33之突出部37與散熱構件40之間的中央部51、及配置於中央部51之外側並圍繞接合膜33的突出部37的凹陷部52。如圖1所示，凹陷部52從散熱構件40之主面41起算的高度H2係較中央部51的自主面41起算的高度H1更高。焊料層50係將焊接用波長轉換構件1a與散熱構件40接合。
接著，就波長轉換裝置6a的製造方法加以說明。首先，藉真空蒸鍍或濺鍍，將反射層20及接合層30依序成膜在陶瓷螢光體10。在接合膜33的成膜中，係將突出部37的厚度份量成膜後，藉光刻法予以圖案化，將外周部36及突出部37成膜。再者，對散熱構件40鍍敷金屬膜。接著，在陶瓷螢光體10的接合膜33、與散熱構件40的金屬膜之間夾持著金錫焊料箔的狀態下，在氮氣環境中或氫氣環境的迴焊爐中加熱，將陶瓷螢光體10與散熱構件40接合。另外，在散熱構件40的表面成膜金屬膜的情況中，也可藉由電鍍成膜。再者，也可使用金錫合金糊膏來替代金錫焊料箔。
圖3為波長轉換裝置6a之製造方法的說明圖。在藉由迴焊爐的加熱將陶瓷螢光體10與散熱構件40接合時，如圖3(a)所示，要成為焊料層50的金錫糊膏會因構件間的間隙而產生孔洞V1。將陶瓷螢光體10與散熱構件40施壓接合時(參照圖3(a)所示的空白箭號F10、F20)，焊料層50之中，位於突出部37與散熱構件40之間的焊料會從突出部37與散熱構件40之間擠出，並突出於突出部37的外側。此時，存在於突出部37與散熱構件40之間的孔洞V1會和焊料一起從突出部37與散熱構件40之間向外側擠出(圖3(a)的虛線箭號D1)。突出於突出部37之外側的焊料係在外周部36與散熱構件40之間隆起，形成圍繞突出部37的凹陷部52。此時，孔洞V1係和在外周部36與散熱構件40之間隆起的焊料一起移動(圖3(a)的虛線箭號D2)。如此，位在突出部37與散熱構件40之間的孔洞V1係移動到凹陷部52。藉此，本實施形態的製造方法中，如圖3(b)所示，焊料層50的孔洞V1會集中於凹陷部52，中央部51的孔洞V1的數量則減少。中央部51的孔洞V1之數量若變少，中央部51之處的陶瓷螢光體10與散熱構件40之間的熱傳導變得不易因孔洞V1而受到阻礙。
如上所述，若依據上述說明的本實施形態之焊接用波長轉換構件1a，接合層30會在和覆蓋反射層20之側的面34相反側之面35的中心部，具有相對於外周部36突出的突出部37。在藉由接合層30將陶瓷螢光體10與散熱構件40焊接時，配置於接合層30與散熱構件40之間的焊料中的突出部37與散熱構件40之間的焊料即從中央向外側擠出。此時，包含於突出部37與散熱構件40之間的焊料中的孔洞V1係和焊料一起從突出部37與散熱構件40之間移動到外周部36與散熱構件40之間。藉此，因突出部37與散熱構件40之間的孔洞V1的數量會變少，故陶瓷螢光體10與散熱構件40之間的傳熱變得不易因孔洞V1而受到阻礙。因此，能提升陶瓷螢光體10與散熱構件40之間的熱傳導性。
再者，若依據本實施形態的焊接用波長轉換構件1a，在接合層30之中，構成和覆蓋反射層20之側的面34相反側之面35的接合膜33係由以鎳(Ni)為主成分的材料所形成。藉此，在利用焊料將焊接用波長轉換構件1a與散熱構件40接合時，接合層30的成分從接合層30擴散到焊料的情形會受到抑制。因此，因接合層30的成分固溶於焊料的量受到抑制，故可抑制陶瓷螢光體10與散熱構件40的接合不良。
再者，若依據本實施形態的波長轉換裝置6a，焊料層50係具有圍繞接合層30之突出部37的凹陷部52。在將陶瓷螢光體10與散熱構件40焊接時，從中央朝向外側擠出的突出部37與散熱構件40之間的焊料會移動到接合層30的外周部36與散熱構件40之間，在突出部37的周圍形成凹陷部52。此時，因突出部37與散熱構件40間所包含的焊料的孔洞V1也會從突出部37與散熱構件40之間移動到凹陷部52，故突出部37與散熱構件40間之孔洞V1的數量會減少。藉此，因陶瓷螢光體10與散熱構件40間之傳熱變得不易因孔洞V1而受到阻礙，故能提升陶瓷螢光體10及散熱構件40之間的熱傳導性。
再者，若依據本實施形態的光源裝置5a，光源裝置5a係將波長不同於藉光源7照射到陶瓷螢光體10之光L1的波長的光L2釋放到外部。在具備有將光L1之波長施以轉換的陶瓷螢光體10的波長轉換裝置6a中，在藉陶瓷螢光體10轉換光L1之波長時所產生的熱係通過焊料從散熱構件40釋放到外部。波長轉換裝置6a中，因接合層30所具有的突出部37，會使突出部37與散熱構件40之間的孔洞V1的數量減少，故陶瓷螢光體10的熱容易傳導到散熱構件40。藉此，可抑制因溫度消光所導致的光源裝置5a的發光強度降低的情形。
＜第2實施形態＞ 圖4為具備有第2實施形態之波長轉換裝置6b的光源裝置5b的剖面圖。圖5為本實施形態之焊接用波長轉換構件1b的剖面圖。本實施形態之波長轉換裝置6b所配備的焊接用波長轉換構件1b，若和第1實施形態的焊接用波長轉換構件1a(圖2)比較，係在接合層60具有焊料潤濕膜38的點上有所不同。
本實施形態的焊接用波長轉換構件1b具有陶瓷螢光體10、反射層20及接合層60。接合層60係配置於反射層20之和陶瓷螢光體10側相反側的下表面23，且由覆蓋反射層20之1層以上的膜所構成。本實施形態中，接合層60具有保護膜31、密接膜32、接合膜33及焊料潤濕膜38。
焊料潤濕膜38係以覆蓋接合膜33之面35的方式配置，且由金所形成。焊料潤濕膜38具有外周部38a及突出部38b。在接合膜33之面35中，外周部38a係覆蓋外周部36所形成之面35a。接合膜33的面35之中，突出部38b具有覆蓋突出部37所形成之面35b的突出部38b。外周部38a的膜厚與突出部38b的膜厚係大致相同。外周部38a及突出部38b會提升陶瓷螢光體10之焊料潤濕性。
接著，就波長轉換裝置6b的製造方法加以說明。首先，波長轉換裝置6b係藉由真空蒸鍍或濺鍍將反射層20及接合層60依序成膜在陶瓷螢光體10。此時，係在使用光刻法以和第1實施形態相同的方法將具有外周部36及突出部37的接合膜33成膜後，將焊料潤濕膜38成膜在接合膜33上。然後，將金錫焊料箔夾持在陶瓷螢光體10之焊料潤濕膜38與散熱構件40之金屬膜間的狀態下，將陶瓷螢光體10及散熱構件40在迴焊爐中加熱，以接合陶瓷螢光體10與散熱構件40。
若依據以上說明的本實施形態之焊接用波長轉換構件1b，在藉由接合層60將陶瓷螢光體10與散熱構件40焊接時，在突出部38b與散熱構件40間的焊料所包含的孔洞係和焊料一起從突出部38b與散熱構件40之間移動到外周部38a與散熱構件40之間。藉此，因突出部38b與散熱構件40之間的孔洞數量會變少，故可提升陶瓷螢光體10與散熱構件40之間的熱傳導性。
此外，若依據本實施形態之焊接用波長轉換構件1b，接合層60具有焊料潤濕性優良的外周部38a及突出部38b。藉此，突出部38b與散熱構件40之間的焊料所包含的孔洞V1較容易移動到外周部38a與散熱構件40之間，突出部38b與散熱構件40之間的孔洞V1的數量會變得更少。因此，陶瓷螢光體10與散熱構件40之間的熱傳導性可再提升。
＜第3實施形態＞ 圖6為具備第3實施形態之波長轉換裝置6c的光源裝置5c的剖面圖。圖7為本實施形態之焊接用波長轉換構件1c的剖面圖。本實施形態之波長轉換裝置6c所具備的焊接用波長轉換構件1c，若和第2實施形態之焊接用波長轉換構件1b(圖5)比較，反射層25的寬度並不相同。
本實施形態的焊接用波長轉換構件1c具有陶瓷螢光體10、反射層25及接合層70。如圖7所示，具有增反射膜21及反射膜22的反射層25的寬度係比陶瓷螢光體10之背面12的寬度更小。接合層70係由直接覆蓋從陶瓷螢光體10之背面12中露出的背面12a及反射層25的雙方的1層以上的膜所構成。本實施形態中，接合層70具有密接膜71、接合膜72及焊料潤濕膜73。
密接膜71係由鉻(Cr)或鈦(Ti)形成。密接膜71具有：外周部71a，配置於陶瓷螢光體10的露出的背面12a上；及突出部71b，配置於反射層25之和陶瓷螢光體10相反側的下表面23。本實施形態中，外周部71a與突出部71b係呈分開狀態。外周部71a的膜厚與突出部71b的膜厚係大致相同，該膜厚為10nm以上500nm以下。密接膜71可提高反射層25及陶瓷螢光體10與接合膜72的密接性。本實施形態中，透過將密接膜71的膜厚設在10nm以上500nm以下，可進一步提高陶瓷螢光體10和接合膜72的密接性。另外，本實施形態中，外周部71a的膜厚與突出部71b的膜厚雖設為大致相同，但也可不同。
接合膜72係由以鎳(Ni)為主成分的材料所形成。接合膜72係具有：外周部72a，覆蓋密接膜71之外周部71a；及突出部72b，覆蓋密接膜71之突出部71b。外周部72a及突出部72b係呈分開狀態，外周部72a的膜厚與突出部72b的膜厚係大致相同。接合膜72會和焊料潤濕膜73反應，且將陶瓷螢光體10與焊料潤濕膜73接合。
焊料潤濕膜73係由金(Au)所形成，具有：外周部73a，覆蓋接合膜72的外周部72a；及突出部73b，覆蓋接合膜72的突出部72b。外周部73a與突出部73b係呈分開狀態，外周部73a的膜厚與突出部73b的膜厚係大致相同。焊料潤濕膜73可提升陶瓷螢光體10的焊料潤濕性。
如此，在本實施形態中，接合層70係在和直接覆蓋陶瓷螢光體10之背面12a與反射層25雙方之面74相反側之面75的中心部，具有相對於外周部71a、72a、73a突出的突出部71b、72b、73b。突出部71b、72b、73b係以覆蓋反射層25的方式形成。
接著，說明有關波長轉換裝置6c的製造方法。首先，波長轉換裝置6c係藉真空蒸鍍或濺鍍，將反射層25及接合層70依序成膜在陶瓷螢光體10。此時，反射層25係使用光刻法以其寬度較陶瓷螢光體10之背面12的寬度小的方式進行成膜。反射層25成膜後，使接合層70成膜在和反射層25之和陶瓷螢光體10側相反側的下表面23、及從反射層25的周圍露出的陶瓷螢光體10的背面12a。然後，在將金錫焊料箔夾持於陶瓷螢光體10的焊料潤濕膜73與散熱構件40的金屬膜之間的狀態下，將陶瓷螢光體10及散熱構件40在迴焊爐中加熱，以接合陶瓷螢光體10及散熱構件40。
綜上，若依據上述說明的本實施形態的焊接用波長轉換構件1c，在藉由接合層70將陶瓷螢光體10與散熱構件40焊接時，突出部73b與散熱構件40間之焊料所包含的孔洞，會和焊料一起從突出部73b與散熱構件40之間移動到外周部73a與散熱構件40之間。藉此，由於突出部73b與散熱構件40之間的孔洞數量會減少，故能提升陶瓷螢光體10與散熱構件40之間的熱傳導性。
再者，若依據本實施形態的焊接用波長轉換構件1c，因反射層25係以覆蓋陶瓷螢光體10的背面12的一部分的方式形成，故在露出的陶瓷螢光體10的背面12a上及反射層25上形成接合層70時，形成於反射層25上的接合層70係較形成於陶瓷螢光體10的背面12a上的接合層70更突出。亦即，在反射層25上形成接合層70的突出部71b、72b、73b，在露出狀態的陶瓷螢光體10的背面12a上形成接合層70的外周部71a、72a、73a。藉此，因可利用反射層25的形狀來形成具有突出部71b、72b、73b及外周部71a、72a、73a的接合層70，故可容易提升陶瓷螢光體10與散熱構件40之間的熱傳導性。
此外，若依據本實施形態的焊接用波長轉換構件1c，覆蓋陶瓷螢光體10之背面12及反射層20雙方的接合層70具有：接合膜72，用以將陶瓷螢光體10焊接於散熱構件40；及密接膜71，配置於陶瓷螢光體10及接合膜72之間。因密接膜71能提高陶瓷螢光體10和接合膜72的密接性，故可藉由焊接提升陶瓷螢光體10與散熱構件40的接合強度。藉此，可抑制陶瓷螢光體10與散熱構件40的接合不良。
＜第4實施形態＞ 圖8為具備第4實施形態之波長轉換裝置6d的光源裝置5d的剖面圖。圖9為本實施形態之焊接用波長轉換構件1d的剖面圖。本實施形態之波長轉換裝置6d所具備的焊接用波長轉換構件1d，若和第3實施形態的焊接用波長轉換構件1c(圖7)相比，密接膜81、接合膜82及焊料潤濕膜83的每一者在突出部與外周部相連接這點上並不相同。
本實施形態的焊接用波長轉換構件1d具有陶瓷螢光體10、反射層25及接合層80。接合層80係由直接覆蓋陶瓷螢光體10的背面12之中露出的背面12a及反射層25的雙方的1層以上的膜所構成。本實施形態中，接合層80係具有密接膜81、接合膜82及焊料潤濕膜83。
密接膜81係由鉻(Cr)或鈦(Ti)所形成。本實施形態中，密接膜81的膜厚係設在10nm以上500nm以下，且具有外周部71a、突出部71b及在反射層25之側面中將外周部71a與突出部71b連接的連接部81c。密接膜81係提高反射層25及陶瓷螢光體10與接合膜82的密接性。
接合膜82係由以鎳(Ni)為主成分的材料所形成。接合膜82係以順沿著外周部72a、突出部72b及密接膜81之連接部82c的方式形成，且具有將外周部72a及突出部72b連接的連接部82c。接合膜82係和焊料潤濕膜83反應，並將陶瓷螢光體10與焊料潤濕膜83接合。
焊料潤濕膜83係由金(Au)所形成，並以順沿著外周部73a、突出部73b及接合膜82的連接部82c的方式形成，且具有將外周部73a與突出部73b連接的連接部83c。焊料潤濕膜83會提升陶瓷螢光體10的焊料的潤濕性。
如此，在本實施形態中，接合層80係在直接覆蓋陶瓷螢光體10之背面12a及反射層25雙方之側的面84及相反側之面85的中心部，具有相對於外周部71a、72a、73a突出的突出部71b、72b、73b。突出部71b、72b、73b係以覆蓋反射層25的方式形成。
綜上，若依據上述說明的本實施形態之焊接用波長轉換構件1d，藉由接合層80將陶瓷螢光體10與散熱構件40焊接時，突出部73b與散熱構件40之間的焊料中所包含的孔洞會和焊料一起從突出部73b與散熱構件40之間移動到外周部73a與散熱構件40之間。藉此，因突出部73b與散熱構件40之間的孔洞數量會減少，故可提升陶瓷螢光體10與散熱構件40之間的熱傳導性。
<本實施形態的變化例>
本發明並不限於上述的實施形態，在不逸離發明要旨的範圍內，可在各種態樣中付諸實施，例如，亦可按以下方式變化。
[變化例1]
第1、3、4實施形態中，接合層係設成具有3層的膜。第2 實施形態中，接合層係設成具有4層的膜。然而，形成接合層的膜數量並非限定於此，也可為1層膜或2層膜，也可具有5層以上的膜。在這些情況中，接合層只要在和覆蓋陶瓷螢光體10之背面12與反射層之中至少反射層之側的面相反側之面的中心部，具有相對於外周部突出的突出部即可。藉此，將陶瓷螢光體10與散熱構件40焊接時，因突出部與散熱構件40之間的孔洞數量減少，故可提升陶瓷螢光體10與散熱構件40之間的熱傳導性。
[變化例2]
第3、4實施形態中，設成接合層中的突出部覆蓋反射層。然而，突出部的形狀並未受此所限定。也可以藉由突出部與外周部覆蓋反射層的方式形成突出部及外周部。也可在以覆蓋反射層及陶瓷螢光體露出之背面的方式形成的突出部之外側形成外周部。在此情況中，將陶瓷螢光體10與散熱構件40焊接時，因突出部與散熱構件40之間的孔洞數量減少，故可提升陶瓷螢光體10與散熱構件40之間的熱傳導性。
[變化例3]
第1實施形態中，接合膜33係由以鎳(Ni)為主成分的材料形成。然而，第1實施形態中的接合膜33之組成並不受此所限定。也可以鈀、白金、鉬、鎢的至少1種作為主成分，在此情況亦可抑制接合層30的成分固溶於焊料的量，故可抑制陶瓷螢光體10與散熱構件40的接合不良。
[變化例4] 上述的實施形態中，反射層係設成具有3層膜。然而，反射層也可僅為1層膜，也可具有2層或4層以上的膜。
[變化例5] 接合層也可如第1、2實施形態那樣連接有突出部及外周部，亦可如第3實施形態那樣使突出部與外周部被分開，也可如第4實施形態那樣藉由連接部將突出部與外周部連接。
[變化例6] 第2、3、4實施形態中，接合層係設成具有焊料潤濕膜。然而，也可不具有焊料潤濕膜。
綜上所陳，本發明雖已就本態樣，根據實施形態、變化例作了說明，但上述態樣的實施形態僅屬於為了容易瞭解本態樣所作的敘述，並非用以限定本態樣。本態樣仍得在不致逸離其趣旨以及申請專利範圍下作變更、改良，並且本態樣仍包含其均等技術。再者，技術性特徵在本說明書中未說明為必要構成者，可予適當刪除。
1a,1b,1c,1d:焊接用波長轉換構件 6a,6b,6c,6d:波長轉換裝置 5a,5b,5c,5d:光源裝置 7:光源 10:陶瓷螢光體 11:入射面 12,12a:背面 20,25:反射層 21:增反射膜 22:反射膜 23:下表面 30,60,70,80:接合層 31:保護膜 32,71,81:密接膜 33,72,82:接合膜 34,74,84:接合層之覆蓋反射層之側的面 35,35a,35b,75,85:接合層之和覆蓋反射層之側的面相反側的面 36,38a,71a,72a,73a:外周部 37,38b,71b,72b,73b:突出部 38,73,83:焊料潤濕膜 40:散熱構件 41:主面 50:焊料層 51:中央部 52:凹陷部 81c,82c,83c:連接部 L1,L2:光 V1:孔洞
圖1為具備第1實施形態之波長轉換裝置的光源裝置的剖面圖。 圖2為第1實施形態之焊接用波長轉換構件的剖面圖。 圖3為第1實施形態之波長轉換裝置的製造方法說明圖。 圖4為具備第2實施形態之波長轉換裝置的光源裝置的剖面圖。 圖5為第2實施形態之焊接用波長轉換構件的剖面圖。 圖6為具備第3實施形態之波長轉換裝置的光源裝置的剖面圖。 圖7為第3實施形態之焊接用波長轉換構件的剖面圖。 圖8為具備第4實施形態之波長轉換裝置的光源裝置的剖面圖。 圖9為第4實施形態之焊接用波長轉換構件的剖面圖。
1a:焊接用波長轉換構件
10:陶瓷螢光體
11:入射面
12:背面
20:反射層
21:增反射膜
21a:增反射膜的第1層
21b:增反射膜的第2層
22:反射膜
23:下表面
30:接合層
31:保護膜
32:密接膜
33:接合膜
34:接合層之覆蓋反射層之側的面
35:接合層之和覆蓋反射層之側的面相反側的面
36:外周部
37:突出部

Claims (6)

  1. 一種焊接用波長轉換構件，具備：陶瓷螢光體，將從入射面入射之光的波長施行轉換；反射層，配置於前述陶瓷螢光體之和前述入射面相反側之背面，且覆蓋前述背面的一部分或整體；及接合層，將前述陶瓷螢光體之前述背面與前述反射層之中至少前述反射層覆蓋，且由1層以上的膜所構成，前述接合層係在和覆蓋前述背面及前述反射層之中至少前述反射層之側的面相反側之面的中心部，具有相對於外周部突出的突出部。
  2. 如請求項1之焊接用波長轉換構件，其中，前述接合層係直接覆蓋前述陶瓷螢光體之前述背面之中露出之面與前述反射層的雙方，前述接合層之中的前述突出部係覆蓋前述反射層。
  3. 如請求項2之焊接用波長轉換構件，其中，前述接合層具有：接合膜；及密接膜，由鉻或鈦所構成，且配置於前述陶瓷螢光體及前述接合膜，使前述陶瓷螢光體與前述接合膜密接。
  4. 如請求項1至3中任一項之焊接用波長轉換構件，其中，前述接合層之中，構成和覆蓋前述背面及前述反射層之中至少前述反射層之側的面相反側的面的膜，係以鎳、鈀、白金、鉬、鎢的至少一種作為主成分。
  5. 一種波長轉換裝置，具備：如請求項1至4中任一項之焊接用波長轉換構件； 散熱構件，將前述陶瓷螢光體的熱釋放到外部；及焊料層，設於前述接合層與前述散熱構件之間，將前述焊接用波長轉換構件與前述散熱構件接合，其中，前述焊料層具有圍繞前述接合層之前述突出部的凹陷部。
  6. 一種光源裝置，具備：如請求項5之波長轉換裝置；及光源，將光照射在前述陶瓷螢光體。
TW109123149A 2019-07-16 2020-07-09 焊接用波長轉換構件、波長轉換裝置及光源裝置 TWI739506B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019131118 2019-07-16
JP2019-131118 2019-07-16

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW202107013A TW202107013A (zh) 2021-02-16
TWI739506B true TWI739506B (zh) 2021-09-11

Family

ID=74210761

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW109123149A TWI739506B (zh) 2019-07-16 2020-07-09 焊接用波長轉換構件、波長轉換裝置及光源裝置

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20220347781A1 (zh)
EP (1) EP4001975A4 (zh)
JP (1) JP7312829B2 (zh)
KR (1) KR20220010005A (zh)
CN (1) CN114096782A (zh)
TW (1) TWI739506B (zh)
WO (1) WO2021010273A1 (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI788684B (zh) * 2019-07-16 2023-01-01 日商日本特殊陶業股份有限公司 波長轉換構件、光源裝置及波長轉換構件的製造方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201214771A (en) * 2010-05-18 2012-04-01 Lg Innotek Co Ltd Light emitting device, light emitting device package, and lighting device
TW201710622A (zh) * 2015-06-02 2017-03-16 深圳市光峰光電技術有限公司 波長轉換裝置及其製備方法
JP2019002952A (ja) * 2017-06-12 2019-01-10 セイコーエプソン株式会社 波長変換素子、光源装置、および投射型装置
JP2019015851A (ja) * 2017-07-06 2019-01-31 セイコーエプソン株式会社 波長変換素子、照明装置及びプロジェクター
JP2019028430A (ja) * 2017-08-03 2019-02-21 セイコーエプソン株式会社 波長変換素子、波長変換素子の製造方法、光源装置及びプロジェクター

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6020631B2 (ja) 1980-01-19 1985-05-23 松下電器産業株式会社 電磁式比例制御弁
JP5678885B2 (ja) * 2010-08-26 2015-03-04 日本電気硝子株式会社 波長変換素子、光源及び液晶用バックライトユニット
JP2016027613A (ja) * 2014-05-21 2016-02-18 日本電気硝子株式会社 波長変換部材及びそれを用いた発光装置
JP6371201B2 (ja) * 2014-11-18 2018-08-08 スタンレー電気株式会社 発光モジュール及びそれを用いた発光装置
JP6020631B2 (ja) 2015-03-20 2016-11-02 ウシオ電機株式会社 蛍光光源装置
JP6094617B2 (ja) * 2015-03-31 2017-03-15 ウシオ電機株式会社 蛍光光源装置
JP6020637B1 (ja) * 2015-03-31 2016-11-02 ウシオ電機株式会社 蛍光光源装置
JP6981086B2 (ja) * 2017-08-03 2021-12-15 セイコーエプソン株式会社 波長変換素子、光源装置及びプロジェクター
JP6977527B2 (ja) * 2017-12-13 2021-12-08 セイコーエプソン株式会社 波長変換素子、波長変換素子の製造方法、光源装置及びプロジェクター
US11287107B2 (en) * 2018-02-14 2022-03-29 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Optical wavelength conversion device
EP3816682B1 (en) * 2018-06-18 2023-03-01 NGK Spark Plug Co., Ltd. Optical wavelength conversion member, optical wavelength conversion device, and light emitting device

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201214771A (en) * 2010-05-18 2012-04-01 Lg Innotek Co Ltd Light emitting device, light emitting device package, and lighting device
TW201710622A (zh) * 2015-06-02 2017-03-16 深圳市光峰光電技術有限公司 波長轉換裝置及其製備方法
JP2019002952A (ja) * 2017-06-12 2019-01-10 セイコーエプソン株式会社 波長変換素子、光源装置、および投射型装置
JP2019015851A (ja) * 2017-07-06 2019-01-31 セイコーエプソン株式会社 波長変換素子、照明装置及びプロジェクター
JP2019028430A (ja) * 2017-08-03 2019-02-21 セイコーエプソン株式会社 波長変換素子、波長変換素子の製造方法、光源装置及びプロジェクター

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
A; *

Also Published As

Publication number Publication date
TW202107013A (zh) 2021-02-16
EP4001975A4 (en) 2023-08-02
KR20220010005A (ko) 2022-01-25
JP7312829B2 (ja) 2023-07-21
EP4001975A1 (en) 2022-05-25
JPWO2021010273A1 (zh) 2021-01-21
US20220347781A1 (en) 2022-11-03
CN114096782A (zh) 2022-02-25
WO2021010273A1 (ja) 2021-01-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI649902B (zh) 光半導體裝置及光半導體裝置的製造方法
JP6179516B2 (ja) 波長変換装置
TW563262B (en) Light emitting diodes including modifications for submount bonding and manufacturing methods therefor
JP6493713B2 (ja) 発光素子および照明装置
US20150292687A1 (en) Light emitting device
JP6668608B2 (ja) 発光装置の製造方法
JP2014137973A (ja) 光源装置
FR3051887A1 (zh)
TWI739506B (zh) 焊接用波長轉換構件、波長轉換裝置及光源裝置
JP6741982B2 (ja) 発光素子および照明装置
JP2013118293A (ja) 半導体発光素子
WO2018179688A1 (ja) 色変換素子および照明装置
JP2020021964A (ja) 発光素子および発光素子パッケージ
JP7391673B2 (ja) 波長変換部材、および、波長変換装置
JP7307616B2 (ja) 波長変換部材
JP7498054B2 (ja) 波長変換部材、波長変換装置、および、光源装置
JP7295778B2 (ja) 波長変換部材、および、波長変換装置
JP7441140B2 (ja) 波長変換部材、波長変換装置、および、光源装置
JP2019197143A (ja) 光波長変換装置
TW202409616A (zh) 波長轉換構件及光源裝置
WO2023032967A1 (ja) 膜付き部品及び光学デバイス
JP7011195B2 (ja) 発光装置
JP7502613B2 (ja) 波長変換部材及び発光装置の製造方法
TWI830134B (zh) 波長轉換構件及具備其之光源裝置
JP2018021946A (ja) 光学レンズ