KR20050033436A - 기록재 판별 장치, 화상 형성 장치 및 그 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 기록재의 종류를 판별하여 이용 가능성의 향상을 도모하면서, 여러 가지 종류의 기록재에 있어서도 최적의 정착 처리 조건으로 정착 등을 행하는 것을 목적으로 한다. 화상 판독 센서(123)는 반사용 LED(301), 기록재(304)에 대하여 반대 측에 설치된 투과광량 검출용 LED(303), CMOS 에리어 센서(211) 및 결상 렌즈(1113)를 갖춘다. 반사용 LED(301)를 광원으로 하는 빛은 기록재(304)의 표면을 향해서 조사되고, 기록재(304)로부터의 반사광은 렌즈(303)를 통하여 집광되어 CMOS 에리어 센서(211)에 결상한다. LED(301)는 LED 광이 기록재(304) 표면에 대하여 소정의 각도로 비스듬하게 빛을 조사시키도록 배치되어 있다.

Description

기록재 판별 장치, 화상 형성 장치 및 그 방법 {RECORDING MATERIAL DISCRIMINATION DEVICE, IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD THEREFOR }
본 발명은 기록재 판별 장치, 화상 형성 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 기록재의 표면으로부터의 반사광 및 기록재의 투과광량을 검출하여 그 종류를 판별하는 기록재 판별 장치, 화상 형성 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
복사기, 레이저 프린터 등의 화상 형성 장치는 기록재에 현상부에 의해 가시화 및 현상된 상을 전사하고, 소정의 정착 처리 조건에서 가열 및 가압하여 상기 현상제 상을 정착시킨다. 이 소정의 정착 조건은 기록재의 재질, 두께 또는 표면 처리 등에 따라서 크게 다르기 때문에, 복수의 종류의 기록재를 사용할 때는 기록재의 종류에 따른 섬세한 설정이 필요하다.
종래에 이러한 화상 형성 장치에서는, 예를 들면 화상 형성 장치 본체에 설치된 조작 패널 등을 이용하여 기록재의 크기나 종류(기록재가 종이인 경우는 종이 종류)를 사용자가 설정하여, 그 설정에 따라서 정착 처리 조건(예를 들면, 정착 온도나 정착 장치를 통과하는 기록재의 반송 속도)을 변경한다. 최근에 화상 형성 장치 내부에 기록재를 판별하는 센서를 더 이용하여 기록재의 종류를 자동적으로 판별하며 판별된 종류에 대응하여 현상 조건, 전사 조건 혹은 정착 조건을 가변 제어하는 기술이 제안되었다.
이러한 자동적으로 기록재의 종류를 검출하는 기술에는, 예를 들면 기록재의 표면 화상을 CCD 센서에 의해서 촬상하고 이 정보를 프랙탈 차원 정보(fractal dimensional information)로 변환하여 기록재의 표면 평활도를 검출하는 방법, 기록재의 표면 화상을 CCD 센서 혹은 CMOS 에리어 센서로 촬상하고 그 빛의 크기 관계로부터 기록재의 조도를 검출하여 표면 평활도로부터 종이 종류를 판별하는 방법, 또는 기록재 단부에 형성된 길이로부터 기록재의 두께를 검출하는 방법이 제안되었다(예를 들면, 일본 특허출원공개 제2002-182518호 공보 참조).
또한, 기록재를 투과한 빛의 광량을 측정하고 그 광량의 크기에 기초하여 기록재의 재료 두께를 판정하여 정착 조건 등을 변경하는 기술이 제안되었다(예를 들면, 일본 특허출원공개 제2003-186264호 공보 참조).
그러나, 상기의 기록재의 표면 평활도를 검출하는 방법에 있어서, 동일한 표면 평활도를 갖지만 종이 섬유의 압축 상태가 다른 기록재, 예를 들면 보통지와 두꺼운 종이를 판정하려고 하면 정확하게 판정할 수 없는 경우가 있다. 이러한 경우, 현상 조건, 정착 조건, 전사 조건을 그 기록지에 적합하게 설정할 수 없기 때문에 정착성이 나빠지는 문제가 있다.
한편, 상기의 기록재의 재료 두께를 판정하는 방법에 있어서, 기록재 표면의 평활도를 알지 못하며, 광택지 등은 보통지에 비교하여 빛을 통과시키기 어렵고, 광택지의 재료 두께가 보통지와 동일한 두께라도 더 두꺼운 것으로 판정되기 때문에 적절한 조건의 설정을 할 수 없다.
또한, 최근에 기록재의 종류가 다양함에도 불구하고, 인쇄 품질에 대한 요구는 더 커져서, 다양한 기록재를 정확하게 판별하는 것이 요구된다.
본 발명은 이러한 문제에 감안하여 이루어진 것으로 여러 가지 종류의 기록재를 자동 판별하고 적절한 조건에서 화상 형성을 하는 기록재 판별 장치, 화상 형성 장치 및 그 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
이러한 목적을 달성하기 위해서, 본 발명의 기록재 판별 장치는 기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 판독하여 기록재 표면의 화상을 얻는 화상 판독 장치를 포함하고, 화상 판독 장치에 의해서 얻어진 기록재 표면의 화상을 이용하여 기록재의 제1 속성을 판정하는 반사광 판정 유닛과, 기록재를 투과하는 투과광을 이용하여 기록재의 제2 속성을 판정하는 투과광 판정 유닛과, 제1 속성과 제2 속성에 기초하여 기록재의 종류를 판별하는 판별 유닛을 구비한다.
또한, 본 발명의 기록재 판별 방법은, 화상판독 장치에 의해서 기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 판독하여 기록재 표면의 화상을 얻어 그 얻어진 기록재 표면의 화상을 이용하여 기록재의 제1 속성을 판정하는 반사광 판정 단계와, 기록재를 투과하는 투과광을 이용하여 기록재의 제2 속성을 판정하는 투과광 판정 단계와, 제1 속성과 제2 속성에 기초하여 기록재의 종류를 판별하는 판별 단계를 포함한다.
또한, 본 발명의 화상 형성 장치는 잠상을 담지하는 잠상 담지체와, 잠상 담지체에 현상제를 부여하여 잠상을 현상제 상으로서 가시화하는 현상부와, 소정 방향으로 반송되는 기록재에 현상부에 의해 현상제 상을 전사하는 전사부와, 전사부에 의해서 현상제 상이 전사된 기록재를 소정의 정착 처리 조건에서 가열 및 가압하여 현상제 상을 기록재에 정착시키는 정착 장치를 구비한 화상 형성 장치에서, 기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 판독하여 기록재 표면의 화상을 얻는 화상 판독 장치를 포함하고 전사부에 의한 전사 전에 화상 판독 장치에 의해서 얻어진 기록재 표면의 화상을 이용하여 기록재의 제1 속성을 판정하는 반사광 판정 유닛과, 기록재를 투과하는 투과광을 이용하여 기록재의 제2 속성을 판정하는 투과광 판정 유닛과, 전사부에 의한 전사 전에 얻어진 제1 속성과 제2 속성에 기초하여 기록재의 종류를 판별하여 판별된 종류에 대응하는 정착 처리 조건으로 정착 장치에 의해서 현상제 상을 기록재에 정착시키는 제어부를 구비한 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 화상 형성 장치는 잠상을 담지하는 잠상 담지체와, 잠상 담지체에 현상제를 부여하는 현상부와, 기록재에 현상제 상을 전사하는 전사부와, 가열 및 가압하여 현상제 상을 기록재에 정착시키는 정착 장치와, 현상부에서 잠상을 현상제 상으로서 가시화시키고 전사부에서 소정 방향으로 반송시킨 기록재에 가시화된 상을 전사시키며 정착 장치에서 전사된 기록재를 소정의 정착 처리 조건으로 정착시켜 정착된 기록재를 배출하는 제어부를 갖춘 화상 형성 장치에서,
기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 얻기 위해서 기록재에 소정의 빛을 조사하는 제1 조사 부재와, 기록재를 투과하는 투과광을 얻기 위해서 기록재에 소정의 빛을 조사하는 제2 조사 부재와, 기록재로부터의 반사광 또는 투과광을 수광하여 화상으로서 빛을 판독하고 광량을 검출하는 판독 장치를 포함하며,
제어부는 전사부에 의한 전사 전에 제1 조사 부재와 제2 조사 부재에서 기록재에 빛을 조사시키고, 판독 장치에서 제1 조사 부재에 의해 얻어진 반사광을 화상으로서 판독하고 제2 조사 부재에 의해 얻어진 투과광의 광량을 검출시켜서 화상과 투과광의 광량에 기초하여 기록재의 종류를 판별하고, 판별된 종류에 대응하는 정착 처리 조건으로 현상제 상을 기록재에 정착시킨다.
또한, 본 발명의 기록재 판별 장치는 기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 판독하여 기록재의 제1 속성을 판정하는 반사광 판정 유닛과, 기록재를 투과하는 투과광을 판독하여 기록재의 제2 속성을 판정하는 투과광 판정 유닛과, 기록재의 종류를 판별하는 판별 유닛을 구비하며, 판별 유닛은 투과광 판정 유닛의 판정 결과에 따라서 투과광 판정 유닛과 반사광 판정 유닛을 이용하여 기록재의 종류를 판별할 것인가, 또는 투과광 판정 유닛은 이용하지 않고 반사광 판정 유닛을 이용하여 기록재의 종류를 판별할 것인가를 결정한다.
또한, 기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 판독하여 기록재의 제1 속성을 판정하는 반사광 판정 유닛과, 기록재를 투과하는 투과광을 판독하여 기록재의 제2 속성을 판정하는 투과광 판정 유닛을 구비한 기록재 판별 장치를 제어하기 위한 기록재 판별 방법이며, 투과광 판정 유닛에 의해서 기록재의 종류를 판별하는 판별 단계와, 판별 단계의 판별 결과에 따라서 반사광 판정 유닛과 투과광 판정 유닛을 이용하여 기록재의 종류를 판별하는 제1 판별 방법 또는 투과광 판정 유닛을 이용하지 않고 반사광 판정 유닛을 이용하여 기록재의 종류를 판별하는 제2 판별 방법을 선택하는 선택 단계를 구비한다
또한, 본 발명의 화상 형성 장치는 잠상을 담지하는 잠상 담지체와, 잠상을 현상하는 현상부와, 기록재에 현상제 상을 전사하는 전사부와, 전사부에 의해서 전사된 기록재 상의 현상제 상을 정착시키는 정착 장치를 구비한 화상 형성 장치에서, 기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 판독하여 전사부에 의한 전사 전에 기록재의 제1 속성을 판정하는 반사광 판정 유닛과, 기록재를 투과하는 투과광을 판독하여 기록재의 제2 속성을 판정하는 투과광 판정 유닛과, 기록재의 종류를 판별하는 판별 유닛을 구비하며, 판별 유닛은 투과광 판정 유닛의 판정 결과에 따라서 투과광 판정 유닛과 반사광 판정 유닛을 이용하여 기록재의 종류를 판별할 것인가, 또는 투과광 판정 유닛은 이용하지 않고 반사광 판정 유닛을 이용하여 기록재의 종류를 판별할 것인가를 결정하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 기록재 판별 장치는 기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 얻기 위해서 기록재에 소정의 빛을 조사하는 제1 조사 부재와, 기록재를 투과하는 투과광을 얻기 위해서 기록재에 소정의 빛을 조사하는 제2 조사 부재와, 기록재로부터의 반사광 또는 투과광을 판독하는 판독 장치와, 제1 조사 부재와 제2 조사부제로 기록재에 의해 빛을 조사시켜 판독 장치의 판독 결과에 따라서 기록재의 종류를 판별하는 판별 유닛을 구비하고, 판별 유닛은 기록재가 소정의 기록재인지의 여부에 따라 제1 조사 부재와 제2 조사 부재를 이용하여 기록재의 종류를 판별할 것인가, 또는 제2 조사 부재는 이용하지 않고 제1 조사 부재를 이용하여 기록재의 종류를 판별할 것인가를 결정한다.
본 발명의 상기 목적, 효과, 특징 및 이점은 첨부된 도면과 함께 실시예의 설명으로부터 더욱 명백해질 것이다.
기록재 판별 장치 및 그 방법은 도1에 도시한 바와 같은 일반적인 화상 형성장치로 이용된다. 도1에 있어서, 화상 형성 장치(101)는 종이 카세트(102), 급지 롤러(103), 전사 벨트 구동 롤러(104), 전사 벨트(105), 옐로우, 마젠타, 시안, 블랙의 각 감광 드럼(106 내지 109), 각 색채별 전사 롤러(110 내지 113), 옐로우, 마젠타, 시안, 블랙의 각 카트리지(114 내지 117), 옐로우, 마젠타, 시안, 블랙의 각 광학 유닛(118 내지 121), 정착 유닛(122), 종이 카세트 내의 종이의 유무를 검지하는 종이 유무 센서(118) 및 종이를 반송하기 위한 반송 롤러(225)를 갖추고 있다.
화상 형성 장치(101)는 일반적으로 전자 사진 프로세스를 이용하여 기록재상에 옐로우, 마젠타, 시안, 블랙의 화상을 중첩되게 전사하며, 정착 롤러를 포함하는 정착 유닛(l22)에 의해 전사된 토너 화상을 온도 제어하여 열정착시키지만, 이것에 한정되지 않는다. 또한, 각 색채별 광학 유닛(118 내지 121)은 각 감광 드럼(106 내지 109)의 표면을 레이저 빔으로 노광 주사하여 잠상을 형성하도록 구성되며, 이들 일련의 화상 형성 동작은 반송되는 기록재 상에 미리 결정된 위치에서 화상이 전사되도록 동기된다.
또한, 화상 형성 장치(101)는 기록재인 기록지를 급지 및 반송하는 급지 모터를 갖춰, 급지된 기록지는 전사벨트(104)로부터 정착 유닛(122)으로 반송되면서 그 표면상에 원하는 상을 형성한다.
화상 판독 센서(123)는 후술과 같이 CMOS 에리어 센서, 반사용 LED 등으로 구성되어 있고, 기록지가 반송되는 전사벨트의 전방에 배치된다. 반송되어 온 기록지는 표면에 빛을 조사하고, 그 반사광은 집광되어 결상된다. 그리고, 상기 CM0S 에리어 센서에 의해서 기록재 표면의 특정 영역의 화상이 판독된다.
이하에 도2를 참조해 보면, 화상 형성 장치(101)의 컨트롤러인 제어 CPU(210)는 정착 유닛(122)에 대하여 저전압 전원(222)을 거쳐서 소정의 전력을 공급함으로써 원하는 열량을 발생시켜 기록재에 공급함으로써 기록재 상의 토너 화상을 융착하여 정착시킨다.
다음에, 도2를 참조하여 본 발명의 기록재 판별 장치 및 그 방법을 이용하는 화상 형성 장치의 일 실시 형태의 제어 CPU의 동작에 대하여 설명한다. 도2는 제어 CPU(210)가 제어하는 각 유닛의 구성을 나타내는 도면이다. 도2에 있어서, CPU(210)는 CMOS 에리어 센서(211), 폴리곤 미러, 모터, 레이저 발광 소자 등을 포함하는 각 색채용 광학 유닛(212 내지 215)에 ASIC(223)를 거쳐서 접속되어 있다. 감광 드럼면 위에 레이저를 주사하여 원하는 잠상을 그리기 위해서, CPU는 ASIC에 대하여 제어 신호를 출력함으로써 광학 유닛을 제어 한다. 마찬가지로, CPU(210)는 기록재를 반송하기 위해서 급지 롤러(103) 및 반송 롤러(225)를 구동하기 위한 급지 모터(216), 기록재를 급지하는 급지 롤러의 구동 개시 시에 스위치온 상태로 하여 급지 롤러(103)를 구동시키기 위한 급지 솔레노이드(217), 기록재를 보유하는 카세트(102)가 소정 위치에 세트되어 있는지의 여부를 검지하는 종이 유무 센서(218), 전자 사진 프로세스에 필요한 1차 대전, 현상, 1차 전사, 2차 전사 바이어스를 제어하는 고전압 전원(219), 감광 드럼 및 전사 롤러를 구동하는 드럼 구동 모터(220), 전사 벨트 및 정착 유닛의 롤러를 구동하기 위한 벨트 구동 모터(221), 정착 유닛(122) 및 저전압 전원 유닛(222)을 제어한다. 또한, 제어 CPU(210)는 정착 유닛(122)에 설치된 써미스터(미도시)에 의해 온도를 모니터하여 정착 온도를 일정하게 유지하는 제어를 한다.
또한, 제어 CPU(210)는 버스 등(미도시)을 거쳐서 메모리(224)에 접속되어 있고, 메모리(224)에는 전술된 제어 및 본 명세서에 기재되는 각 실시 형태에 있어서 제어 CPU(210)가 행하는 처리의 전부 또는 일부를 실행하기 위한 프로그램 및 데이터가 저장된다. 즉, 제어 CPU(210)는 메모리(224)에 저장된 프로그램 및 데이터를 이용하여 본 발명의 각 실시 형태의 동작을 실행한다.
ASIC(223)는 제어 CPU(210)의 지시에 기초하여 CMOS 에리어 센서(211) 및 광학 유닛(212 내지 215) 내부의 모터 속도와 급지 모터의 속도 제어를 한다. 모터의 속도 제어는 태크 신호(tack signal - 모터가 회전될 때마다 모터로부터 출력되는 펄스 신호)를 검출하여, 태크 신호의 간격이 소정의 시간이 되도록 모터에 대하여 가속 또는 감속 신호를 출력하여 행해진다. 따라서, 제어 회로는 ASIC(223)의 하드웨어의 회로로 구성하는 것이 더 유리한데, 그 이유는 CPU(210)의 제어 부하의 저감이 도모될 수 있기 때문이다.
제어 CPU(210)는 호스트 컴퓨터(미도시)로부터 지시된 인쇄 명령을 수신하면, 급지 유무 센서(218)에 의해서 기록재의 유무를 결정한다. 만일 기록재가 있는 경우에는, CPU는 급지 모터(216), 드럼 구동 모터(220) 및 벨트 구동 모터(221)를 구동하면서 급지 솔레노이드(217)를 구동하여 기록재를 소정 위치까지 반송한다.
기록재가 CMOS 에리어 센서(211)를 포함하는 화상 판독 센서(123)의 위치까지 반송되면, 제어 CPU는 급지 모터(216) 등을 제어하여 기록재를 일시 정지시킨다. 그리고, 제어 CPU(210)는 ASIC(223)에 대하여 CMOS 에리어 센서(211)가 촬상을 하게 하기 위한 지시 신호를 출력한다. CMOS 에리어 센서(211)는 그 신호 지시에 기초하여 기록재의 표면 화상을 촬상한다. 이 때 ASIC(223)는 "Sl_select"를 활성화한 뒤 소정의 시간에서 소정의 펄스로 "SYSCLK"를 출력하여, CMOS 에리어 센서(211)로부터 "S1_out"를 경유하여 출력되는 촬상 데이터를 취득한다.
한편, CMOS 에리어 센서(211)의 게인 설정은 미리 제어 CPU(210)가 정한 값을 ASIC(223) 내부의 레지스터에 설정하고 ASIC(223)가 "S1_select"를 활성화 한 후, 소정의 시간에서 소정의 펄스로 "SYSCLK"를 출력시켜 CMOS 에리어 센서(211)에 대하여 "S1_in"을 경유하여 게인을 설정한다.
ASIC(223)은 이하에 설명하는 본 발명의 기록재 판별 장치 및 그 방법을 실현하기 위한 회로(702)를 갖춰, 기록재의 속성을 판별하기 위한 후술하는 연산의 연산 결과는 제어 회로(702) 내부의 레지스터(A) 및 레지스터(B)에 저장된다. 그리고 CPU(210)는 제어 회로(702) 내부의 레지스터(A) 및 레지스터(B)에 저장된 연산 결과를 판독하고 급지된 기록재의 종류를 판별하여, 그 결과에 따라서 화상 형성 조건을 변경하도록 제어한다. 기록재의 종류의 판별이 종료되면, 일시 정지하고 있었던 기록재의 반송이 재개되어 화상 형성이 시작된다.
CPU(210)가 실행하는 각종의 화상 형성 조건의 제어는 다음과 같다.
예를 들면, 기록지의 종류가 보통 종이보다 광택도가 높은 광택지인 경우에는, CPU(210)는 보통 종이의 경우보다 현상 바이어스를 높여 (감광 드럼의 표면 전위에 대한 전위차를 크게하여) 기록지의 표면에 부착하는 토너의 양을 증가시키고, 기록지 상의 화상의 광택도를 증가시키는 제어를 한다. 이것은 광택지를 이용하여 인쇄하는 경우, 기록지 상의 화상의 광택도를 높이는 것이 기대되기 때문이다. 또, 현상 바이어스(전압)란 도1에 도시한 바와 같이 CPU(210)의 지시에 기초하여 고전압 전원(219)으로부터 현상 롤러에 인가되는 전압을 말한다.
또한, CPU(210)는 급지된 기록재의 종류에 따라서 정착 유닛(222)의 정착 온도[정착 유닛(222) 내의 히터(미도시)가 유지하여야 할 목표 온도]를 변경하도록 제어한다. 보통 종이보다 두께가 있는 두꺼운 종이인 경우, 두꺼운 종이는 보통 종이보다 열용량이 크기 때문 보통지와 동일한 정착 온도로 두꺼운 종이에 토너 화상을 정착시키려 한다면 정착성이 나빠져 버리는 문제가 있다. 그래서, CPU(210)는 기록지가 두꺼운 종이라고 판별한 경우, 보통지의 정착 온도보다도 높은 정착 온도로 하여 두꺼운 종이에 대한 토너의 정착성을 개선하도록 제어한다.
또한, CPU(210)는 급지된 기록재의 종류를 판별하여, 그 결과에 따라서 기록재의 반송 속도를 변경하도록 제어한다. 반송 속도의 제어는 CPU(210)에 의해서 속도를 실제로 제어하고 있는 ASIC(223)의 속도 제어 레지스터 값을 재설정하여 실현된다. 구체적으로는, 기록지의 종류가 보통 종이보다 두께가 있는 두꺼운 종이인 경우, 두꺼운 종이는 보통 종이보다 열용량이 크기 때문에 보통지와 동일한 반송 속도로 두꺼운 종이에 토너 화상을 정착시키려할 때 정착성이 나빠져 버리는 문제가 있다. 그래서, 기록지가 두꺼운 종이라고 판별한 경우에 CPU(210)는 단위 시간 당 두꺼운 종이에 공급되는 열량을 증가시키기 위해 기록재의 반송 속도를 보통지가 통과하는 경우의 반송 속도보다도 느리게 제어한다.
또한, 기본중량이 다른 기록재에 대하여 정착 온도 조건을 바꿔, 예를 들면 비교적 두께가 있는 기록재에서는 열용량이 크기 때문에 정착 온도를 높게 설정하는 것이 가능하며, 한편 비교적 두께가 적은 기록재, 즉 열용량이 작은 기록재는 정착 온도를 낮게 설정할 수도 있다. 또는, 기록재의 기본중량에 따라 기록재 반송 속도를 변경하도록 제어할 수도 있다.
또한, OHT 혹은 광택지 등의 경우, 이들을 판별하여 정착 온도를 높게 설정하여, 기록재의 표면에 부착하는 토너의 정착성을 높여서 광택성을 높여 화질을 향상시킬 수 있다.
따라서, 본 실시 형태에서는, CM0S 에리어 센서에 의해서 촬상한 기록재의 표면 화상으로부터 ASIC의 하드 회로에 의해 연산을 하며, 그 결과로부터 CPU는 고전압 전원의 현상 바이어스 조건, 정착 유닛의 정착 온도 또는 기록재의 반송 속도를 변경하도록 제어한다.
[제1 실시 형태]
다음에, 본원 발명의 일 실시 형태에 의한 기록재 판별 장치에 대하여 설명한다. 도3은 기록재의 표면 평활도, 반사광량 및 투과광량을 검출하기 위한 개략 구성을 나타내는 개략도이며, 본 발명을 가장 잘 나타내는 도면이다.
화상 판독 센서(123)는 반사용 LED(301), 기록재(304)에 대하여 반대측에 설치된 투과광량 검출용의 투과용 LED(302), CMOS 에리어 센서(211) 및 결상 렌즈(303)를 갖춘다. 또, 여기서 센서(211)로서는 CMOS 에리어 센서가 아니라 CCD 센서를 이용하는 것도 가능하다.
반사용 LED(301)를 광원으로 하는 빛은 기록재(304)의 표면을 향해서 조사된다. 본 실시에서 광원을 LED로 했지만, 예를 들면 세논 관(xenon tube)나 할로겐 램프 등을 이용할 수 있다. 기록재(304)로부터의 반사광은 렌즈(303)를 통해 집광되어 CMOS 에리어 센서(211)에 결상한다. 이것에 의해서 기록재(304)의 표면의 화상을 판독할 수 있다.
본 실시 형태에서, LED(301)는 LED 광이 기록재(304) 표면에 대하여 도3에 도시한 바와 같이 소정의 각도로 비스듬하게 빛을 조사시키도록 배치되어 있다.
(기록재 종류의 판별)
도4는 화상 판독 센서(123)의 CMOS 에리어 센서(211)에 의해서 판독되는 기록재(304)의 표면의 아날로그 화상과 CMOS 에리어 센서(211)로부터의 출력을 8 x 8 픽셀로 디지털 처리한 디지털 화상과의 대비를 나타내는 도면이다. 여기서, 디지털 처리는 CMOS 에리어 센서(211)로부터의 아날로그 출력을 A/D 변환에 의해서 8 x 8 픽셀 데이터로 변환하여 행해진다.
도4에 있어서, 기록재(A401)는 종이의 섬유가 비교적 거친 표면을 가지는 소위 러프지이며, 기록재(B402)는 일반적으로 사용되는 소위 보통지이고, 기록재(C403)는 종이의 섬유의 압축이 충분히 이루어져 있는 광택지이며, 이들은 각각의 표면 확대 화상으로 도시된다. CMOS 에리어 센서(211)에서 판독된 이들의 화상(401 내지 403)이 디지털 처리되어 도4에 도시하는 화상(404 내지 406)으로 된다. 이와 같이, 기록재의 종류에 따라 표면의 화상은 서로 다르다. 이것은 주로 종이의 표면에서의 섬유의 상태가 다르기 때문에 발생하는 현상이다.
이와는 별도로, 기록재의 반사광량은 일반적으로 각각의 화소에 입력된 광의 합계 혹은 평균값으로부터 산출되지만, 다른 실시예에서는 하나의 수광 화소의 결과만을 이용할 수 있다.
상술된 바와 같이, CMOS 에리어 센서(211)로 기록재 표면을 판독한 결과의 화상을 디지털 처리한 화상에 의해 기록재의 종이 섬유의 표면 상태를 식별하는 것이 가능하고, 또한 반사광량도 산출함으로써 보다 정확한 기록재의 판별이 가능하게 된다.
상기 기록재 표면의 식별하기 위해서, 기록재의 표면의 일부를 8 x 8 픽셀의 화상으로서 판독한다. 계속해서, 이 화상에 있어서 기록재의 반송 방향에 직교하는 방향의 일 라인에 대하여 최대 농도를 갖는 화소의 농도(Dmax)와 최저 농도를 갖는 화소의 농도(Dmin)를 검출하여, 각 라인에 대하여 Dmax - Dmin을 평균 처리한다. 그리고, 평균 처리하여 얻어진 Dmax - Dmin의 값에 의해서, 그 기록재의 속성인 재질(평활도)을 판정할 수 있다.
즉, 기록재(A)와 같이 표면의 종이 섬유가 거친 경우 섬유의 그림자가 많이 발생하여, 그 결과 밝은 개소와 어두운 개소의 차가 커지며, Dmax - Dmin은 커진다. 한편, 기록재(C)와 같이 섬유가 충분히 압축되어 평활도가 높은 기록재의 표면의 화상은 섬유의 그림자가 적기 때문에 Dmax - Dmin은 작아진다. 이 비교에 의해서 기록재의 재질을 판정하여 그 종류를 판별하기 위한 정보의 일부를 형성한다.
마찬가지로, 도4에 있어서 화상(407)은 얇은 종이인 기록지(D)의 투과용 LED(302)로부터 조사되어 기록재를 투과한 빛의 광조사 영역에서의 표면 확대 화상이며, 화상(408)은 일반적으로 사용되는 소위 보통지인 기록지(E)의 투과용 LED(302)에 의한 광조사 영역의 표면 확대 화상이며, 화상(409)은 두꺼운 종이인 기록지(F)의 투과용 LED(302)에 의한 광조사 영역의 표면 확대 화상이다. CCD 센서(211)에서 판독된 이들 화상(407 내지 409)은 디지털 처리되어 도4의 화상(410 내지 412)으로 된다.
이와 같이, 기록지의 종류에 따라 투과광량 및 그 화상은 달라진다. 이것은 주로 종이의 표면에서의 섬유의 상태 및 종이의 섬유의 압축 상태가 다르기 때문에 발생하는 현상이다.
전술된 제어 프로세서는 CMOS 에리어 센서(211)로부터의 화상 샘플링 처리와 게인 및 필터 연산 처리를 실시간으로 처리할 필요가 있기 때문에 디지털 신호 프로세서를 이용하는 것이 바람직하다.
다음에, 기록재(304)의 투과율 측정 방법에 대하여 설명한다. 투과용 LED(302)를 광원으로 하는 빛은 기록재(304)를 향해서 화상 판독 센서(123)의 반대 측에서 기록재 상의 화상 판독 센서(123)의 판독 영역에 입사하도록 조사된다.
도5는 투과용 LED(302)를 이용하여 화상판독 센서(123)의 CMOS 에리어 센서(211)에 의해서 판독되는 기록재(304)의 표면을 CMOS 에리어 센서(211)로부터의 출력을 8 x 8 픽셀로 디지털 처리하여 나타낸 도면이다. 기록재(304)의 투과광은 렌즈(303)를 통하여 집광되어 CMOS 에리어 센서(211)에 입사한다. 통상적으로, 센서의 에리어 전체 혹은 소정의 범위에서 각 화소에 입력한 광량의 합계값 또는 평균값을 투과광량으로 이용하지만, 일 수광 화소의 결과만을 이용할 수 있다.
도6은 기록재의 기본중량과 투과광의 관계를 나타내는 도면이다. 예를 들면, 두꺼운 종이와 같이 기본중량이 많은 기록재는 투과광량이 적지만, 반면에 얇은 종이와 같은 기본중량이 낮은 기록재는 투과광량이 많다. 이러한 특성을 따라, 기록재의 속성 중 하나인 재료 두께를 투과광량에 기초하여 판정하여 기록재의 종류를 판별하는 정보의 일부로 사용한다.
본 실시 형태로 상정하는 기록재의 종류에는 다음과 같으며, 후술된 바와 같이 표면의 상태나 재료 두께에 의해서 그 종류를 판별한다. 또, 이하에 진술하는 기본중량이란 기록재의 단위 체적당의 중량을 말한다.
(1) 얇은 종이 [기본중량(단위 면적당의 중량) : 64 g/㎡ 이하]
(2) 보통지 (기본중량: 65 내지 105 g/㎡)
(3) 두꺼운 종이 1 (기본중량: 106 내지135 g/㎡)
(4) 두꺼운 종이 2 (기본중량: 136 g/㎡ 이상)
(5) 광택지
(6) 광택 필름
(7) OHT
기록재로부터의 반사광량에 의해서 판정되는 것은, (1) 내지 (6) 및 (7)의 두 쌍 중 하나인데, 그 이유는 (7)이 투명하고 빛의 투과율이 높기 때문이다.
기록재의 반사광으로부터 얻어진 화상에 의한 농담비로부터 판정되는 것은 (1) 내지 (4),(5) 및 (6)의 세 쌍 중 하나이다. 본 실시 형태에서, 이 판정을 위해 농담비를 검출할 때, 반사광량에 의해서 정규화된다. 즉, 2차원 화상의 전체의 광량에 차가 있으면 Dmax - Dmin의 값도 변하기 때문에, 2차원 화상 전체의 광량의 평균값이 일치하도록 정규화된다.
투과광량에 의해서 판정되는 것은 (1), (2), (3) 및 (4)의 4종류 중의 하나이다. 일정한 광량을 종이의 배면에서 조사한 경우의 투과광의 수광 광량은(1) > (2) > (3) > (4)이 되지만, 이것은 (1) 내지 (4)의 기본중량이 각각 다르기 때문이다. 여기서, 본 실시 형태에 있어서는 8 x 8 픽셀로 이루어지는 전 화소의 투과광량의 평균값을 이용하여 판정을 한다.
이상의 판정을 조합시켜 (1) 내지 (7)의 다양한 기록재를 정확하게 판별할 수 있다.
(기록재 판별 기능의 수행)
이상의 동작을 하기 위한 CMOS 에리어 센서(211)의 제어 회로에 대하여 도7을 참조하여 설명한다. 도7은 CMOS 에리어 센서(211)의 제어 회로를 나타내는 블록도이다. 도7에 있어서 판단부인 CPU(210)는 제어 회로(702), CMOS 에리어 센서(211), 인터페이스 제어 회로(704), 연산 회로(705), 레지스터 A(706), 레지스터B(707) 및 제어 레지스터(708)를 갖춘다.
다음에 동작에 대하여 설명한다. CPU(210)는 제어 레지스터(708)에 대하여 CM0S 에리어 센서(211)의 동작 지시를 내리면, CMOS 에리어 센서 (211)에 의해서 기록재 표면 화상의 촬상이 시작된다. 즉, "S1_select"를 활성화 하는 것에 따라 CM0S 에리어 센서(211)에 전하의 축적이 시작된다. "S1_select"를 경유하여 인터페이스 회로(704)로부터 CMOS 에리어 센서(211)를 선택하여 소정의 시간에서 "SYSCLK"를 생성하면, CMOS 에리어 센서(211)로부터 "S1_out" 신호를 경유하여 촬상된 디지털 화상 데이터가 송신된다.
인터페이스 회로(704)를 경유하여 수신한 촬상 데이터는 제어 회로(702)에서 연산이 실행되어 그 연산 결과가 레지스터 A(706) 및 레지스터 B(707)에 저장된다. CPU(210)는 상기 두 개의 레지스터의 값으로부터 기록재의 속성을 판정한다.
또, 레지스터 A(706)에 저장되는 값은 CMOS 에리어 센서(211)가 화상으로서 취득한 기록재의 표면의 일부에 대하여 8 라인분의 Dmax - Dmin을 평균한 값이며, 이 화상을 취득하는 동안 LED(301)는 기록재의 표면을 조사하고 있다. 또, 레지스터 B(707)에 저장되는 값은 CMOS 에리어 센서(211)가 화상으로서 취득한 기록재의 표면의 일부에 대하여 8 x 8 픽셀의 각 픽셀의 광량을 평균한 값이며, 이 화상을 취득하는 동안 투과용 LED(302)는 기록재의 이면을 조사하고 있다.
다음에, 도8을 이용하여 센서 회로 블록도에 대하여 설명한다. 도8은 CMOS 에리어 센서(211)의 회로 블록도를 나타내는 도면이다. 도8에 있어서, CMOS 에리어 센서(211)는 CMOS 에리어 센서부(8O1)를 갖춰, 예를 들면 8 x 8 화소분의 센서가 에리어 형상으로 배치된다. CMOS 에리어 센서(211)는 수직 방향 시프트 레지스터(802, 803), 출력 버퍼(804), 수평 방향 시프트 레지스터(805), 시스템 클럭(806) 및 시간 생성기(807)를 갖춘다.
다음에 동작에 대하여 설명한다. "S1_select" 신호(813)를 활성화하면, CMOS 에리어 센서부(801)는 수광한 빛을 기초로 전하의 축적을 개시한다. 다음에, 시스템 클럭(806)을 공급하면, 수직 방향 시프트 레지스터(802, 803)에서 판독될 화소의 열이 순차적으로 선택되어, 출력 버퍼(804)에 데이터가 순차 저장된다.
출력 버퍼(804)에 저장된 데이터는 수평 방향 시프트 레지스터(805)에 의해서 A/D 컨버터(808)로 전송된다. A/D 컨버터(808)로 디지털 변환된 화소 데이터는 출력 인터페이스 회로(809)에 의해서 소정의 시간 제어되어 "S1_select" 신호(813)가 활성화되는 기간 동안 "S1_out" 신호(810)에 출력된다.
한편, 제어 회로(811)는 "Sl_in" 신호(8l2)의 A/D 변환 게인을 변경하도록 제어할 수 있다. 예를 들면, 촬상한 화상의 콘트라스트가 얻어지지 않는 경우에는, CPU는 게인을 변경하여 항상 최량인 콘트라스트로 촬상할 수 있다.
이와 같이, 반사용 LED(301)와 투과용 LED(302)의 두 개의 조사 수단을 이용함으로써, 여러 가지 기록재의 표면 상태, 반사율 및 투과율을 검출할 수 있어 기록재의 종류의 판별이 가능하게 된다.
(제1 실시예)
도9를 이용하여 제1 실시예에 의한 화상 형성 장치(101)에 구비된 정착 처리 조건 제어를 실행하는 제어 프로세서에 의한 제어 흐름을 설명한다. 우선, 반사용 LED(301)를 점등시켜(S901), CMOS 에리어 센서(211)가 기록지의 화상을 판독한다(S902). 상기 반사용 LED(301)를 점등시켜 행해지는 화상의 판독은 복수회 행해져, 상기 기록지상의 복수 개소에서 화상이 판독된다. 이 동작은 복수회 판독된 화상을 기초로하여 LED의 광량 불규칙 등의 노이즈를 보정하기 위한 보정 데이터를 구하는 쉐이딩 동작(shading operation)이다. 쉐이딩 동작을 실행한 후에 다시 화상을 판독하는 동작을 한다.
반사용 LED(301)를 소등시킨 후(S903), 게인 조정을 위한 게인 연산 및 필타 연산을 위한 상수를 조정한다(S904). 이 게인 연산 및 필터 연산은 제어 프로세서에 의해서 프로그램 가능하게 처리된다. 예를 들면, 게인 연산은 CMOS 에리어 센서(211)로부터의 아날로그 출력의 게인을 조정함으로써 행해진다. 이 게인 조정 동작은 미리 설정된 값을 선택함으로써 행해진다. 즉, 기록재의 표면보다 반사되는 반사광량이 많은 경우, 또는 반대로 지나치게 적은 경우에는, 기록재 표면의 화상을 효과적으로 판독할 수 없고 화상의 변화를 유도할 수 없기 때문에, 아날로그 출력의 게인을 조정하여 광량이 적절한 값이 되도록 조정한다. 또한, 필터 연산은 전술한 쉐이딩 동작으로 얻어진 보정 데이터를 이용하여 실행된다. CMOS 에리어 센서(211)로부터의 아날로그 출력을 A/D 변환하여 8 비트, 256 계조의 디지털 데이터로 변환했을 때, 그 디지털 데이터로부터 쉐이딩 동작으로 얻어진 보정 데이터의 값을 감산함으로써 행한다. 이와 같이 하여, CMOS 에리어 센서(211)로부터의 출력의 노이즈 성분을(LED의 광량 불규칙 등의 성분) 제거한다.
화상 비교 연산을 하는 데에 있어서 충분한 화상 정보가 얻어지는가 아닌가를 판정하여(S905), 충분한 화상 정보가 얻어진다고 판정된 경우에는 후술의 화상 비교 연산을 하고(S906), 이 화상 비교 연산 결과에 기초하여 종이 종류를 판정한다(S907). 충분한 화상 정보가 얻어지는지 어떤지는, 예를 들면 메모리(224) 내에 미리 화상 정보의 임계값을 설정해 놓고 얻어진 화상 정보와 그 값을 비교함으로써 판정된다.
다음에, 상술의 화상 비교 연산의 방법에 대하여 설명한다. 화상 비교 연산에 있어서, 기록재 표면의 화상을 판독하여 그 화상에 있어서 기록재의 반송 방향에 직교하는 방향의 일 라인에 대하여 최대 농도의 화소의 농도치(Dmax)와 최저 농도의 화소의 농도치(Dmin)를 검출하여, 각 라인에 대하여 Dmax - Dmin을 평균 처리한다. 즉, 기록지(A)와 같이 표면의 종이 섬유가 거친 경우에는 섬유의 그림자가 많이 발생한다. 그 결과, 밝은 개소와 어두운 개소의 차가 커서, Dmax - Dmin은 커진다. 한편, 기록지(C)와 같이 평활도가 높은 표면에서는 섬유의 그림자가 적고, Dmax - Dmin은 작아진다.
이와 같이, Dmax - Dmin을 연산하여 그 결과를 미리 EEPROM 등의 메모리(미도시)에 기억시켜 놓은 기준치와 비교하여 기록재의 종류를 판정한다. 또, 여기서 말하는 기준치란 기록재의 종류가 광택 필름인지, 광택지인지, 보통지인지 등(보통지, 두꺼운 종이 1, 두꺼운 종이 2 또는 얇은 종이)의 평활도가 낮은 종이인지를 판별하기 위한 값이다. 기준치 R1 내지 R3 (R1 < R2 < R3)에 기초하여 이하와 같이 판정한다.
(A) Dmax - Dmin ≤ Rl ·· 광택 필름으로 판정
(B) R1 < Dmax - Dmin ≤ R2 ··· 광택지로 판정
(C) R2 < Dmax - Dmin ≤ R3 ··· 보통지 등(보통지, 두꺼운 종이 1, 두꺼운 종이 2 또는 얇은 종이)으로 판정
상술의 화상 비교 연산의 결과 광택 필름 또는 광택지라고 판정된 경우, 투과광량에 의해 기록지의 두께를 판정할 필요가 없기 때문에, 투과용 LED(302)를 점등할 필요도 없고, 그 종이 종류에 따른 정착 온도를 설정한다(S908).
그러나, 보통지 등(보통지, 두꺼운 종이 1, 두꺼운 종이 2 또는 얇은 종이)으로 판정된 경우, 종이의 평활도(기록재의 표면의 섬유 상태)로만 얇은 종이, 보통지 또는 두꺼운 종이를 정확하게 판별할 수 없다. 그래서, 종이 섬유의 압축 상태에서 기록재의 두께를 조사하기 위해서, 투과용 LED(302)를 점등시켜(S909), CMOS 에리어 센서(211)가 투과용 LED(302)의 광 조사 영역 내의 표면 화상을 판독하여(S910), 전 픽셀의 평균값을 연산한다. 즉, 기록지(D)와 같이 섬유의 압축이 작은 경우 투과광량의 평균값이 높게 되고, 기록지(F)와 같이 섬유의 압축이 높은 경우에는 투과광량의 평균값이 낮게 되기 때문에, 각 평균값을 비교하여 그 투과 특성의 판정이 가능하다.
투과용 LED(302)를 소등한 후(S911), 이 평균값을 미리 EEPROM 등의 메모리에 기억시켜 놓은 기준치와 비교하여(S912), 그 결과에 기초하여 얇은 종이, 보통지, 두꺼운 종이 1 또는 두꺼운 종이 2를 판정한다. 여기서, 기준치 R4 또는 R6(R4 < R5 < R6)에 기초하여 이하와 같이 판정한다.
(D) 전 픽셀의 평균값 ≤ R4 ··· 두꺼운 종이 2로 판정
(E) R4 < 전 픽셀의 평균값 ≤ R5 ··· 두꺼운 종이 1로 판정
(F) R5 < 전 픽셀의 평균값 ≤ R6 ··· 보통지로 판정
(G) R6 < 전 픽셀의 평균값 ··· 얇은 종이로 판정
또, 상술의 제어 프로세서는 CMOS 에리어 센서(211)로부터의 화상 샘플링 처리 및 게인 및 필터 연산 처리를 실시간으로 처리할 필요가 있기 때문에 디지털 시그널 프로세서를 이용하는 것이 바람직하다.
이상 설명한 바와 같이, 본 실시예에 따르면 우선 기록지 표면의 종이 섬유의 상태를 검출하고, 다음에 기록지로부터의 투과광량을 검출하여 이상의 검출 결과로부터 기록재의 종류를 판별할 수 있다. 또, 기록재의 종류를 판별한 후, 그 기록재에 대응한 소정의 정착 유닛(122)의 온도 제어 조건을 판독하여, 기록지 표면의 상태(거칠기)나 종이 섬유의 압축 상태에 따른 최적의 정착 온도의 조건을 설정함으로써 양호한 정착 화상을 얻을 수 있다.
(제2 실시예)
다음에, 본 발명의 제2 실시예에 대하여 설명한다. 또한, 제1 실시예와 동일한 구성에 관해서는 동일 부호를 붙여 그 설명을 생략한다. 도10은 본 실시예의 제어를 설명하기 위한 흐름도이다. 제1 실시예와 같이 LED(302)를 점등시켜(S1001), CMOS 에리어 센서(211)가 LED(302)의 광조사 영역 내의 표면 화상을 판독하여(S1002), 연산을 하여 전 화소의 수광한 광량의 평균값을 산출한다.
LED(302)를 소등한 후(S1003), 이 평균값을 EEPROM 등의 메모리에 기억시켜 놓은 기준치와 비교하여(S1004), 그 결과에 기초하여 얇은 종이, 보통지 또는 두꺼운 종이인지를 판정한다(S1005). 이 판정 결과로부터 얇은 종이 또는 보통지로 판정되면, 반사광의 화상에 의한 판정은 필요없기 때문에 그 종이 종류에 따른 정착 온도를 설정한다(S1006).
한편, 두꺼운 종이라고 판정된 경우에는, LED(301)를 점등시켜 기록지의 표면 화상을 촬상하여 판독한다(S1007). 촬상한 화상에 기초하여 EEPROM 등의 메모리에 기억시켜 놓은 기준치와 비교함으로써, 광택인지 혹은 두꺼운 종이인지를 판정한다(S1013). 한편 S1008 내지 S1012의 처리는 제1 실시예에서의 도9의 S902 내지 S905와 동일하기 때문에 설명은 생략한다.
상술한 바와 같이, 본 실시예에 따르면 제1 실시예와는 다른 순서로 판정 처리를 실행할 때(즉, 최초로 기록지로부터의 투과광량을 검출한 후 기록지 표면의 종이 섬유의 상태를 검출한다), 마찬가지로 기록재의 종류를 판별할 수 있다. 그리고 제1 실시예와 같이 기록지 표면의 상태(거칠기)나 종이 섬유의 압축 상태에 따른 최적의 정착 온도의 조건을 설정함으로써, 양호한 정착 화상을 얻을 수 있다. 단, 제1 실시예인 경우 최초의 단계로 광택지 이외라고 판정된 경우에는 다음 판정 처리를 실행해야 하지만, 본 실시예에서는 광택지 이외의 예를 들면, 얇은 종이 또는 보통지라고 판정하면 그 이상 판정 처리를 계속할 필요가 없다. 따라서, 본 실시예에 따르면 광택지를 거의 사용하지 않는 경우에는, 짧은 시간 내에 처리를 종료할 수 있다고 하는 이점이 있다. 이 이점을 활용하여 장치에 따라서는 사용자가 수동 또는 자동으로 본 실시예와 같은 동작을 전환하는 구성을 할 수 있다.
(제3 실시예)
다음에, 본 발명의 제3 실시예에 대하여 설명한다. 제1 실시예, 제2 실시예와 동일한 구성에 관해서는 동일 부호를 붙여 그 설명을 생략한다. 본 실시예에서, 화상 판독 센서(CM0S 에리어 센서)의 구조 또는 종이 종류판별 제어 흐름은 동일하다. 전술된 제1 실시예 및 2 실시예에서 기록재의 투과광량의 연산 방법에 있어서 투과용 LED(302)의 광량 불규칙을 무시하여 투과광량을 구하였지만, 본 실시예에서는 광량 불규칙을 고려하여 기록재의 투과광량을 연산한다.
도11은 기록지가 없는 상태에서 LED(302)를 조사한 경우 수광한 빛을 CMOS 에리어 센서(211)에서 판독하여 디지털 처리한 후의 화상을 도시한다. 또한, 본 실시예에 있어서의 제어 흐름을 도12에 도시한다.
도12에 있어서 S1201 내지 S1203의 동작에 대해서는 제1 실시예의 S901 내지 S903과 동일하기 때문에 설명은 생략한다.
도11과 같이 기록재를 투과시키지 않고서 수광한 빛으로부터 얻어진 화상에 있어서, 각 화소의 사이의 광량을 비교한다(S1204). 각 화소 i의 출력치의 차[ΔPi = (ΔPij 중 최대), 여기서 ΔPij = Pi - Pj 이며, Pi 및 Pj는 각각 화소 i 에서의 농도 및 화소 i에 인접하는 화소에 있어서의 농도]가 있는 일정한 값 Q보다 작은 화소 영역을 추출한다(S1205). 그 일정값 Q보다도 작은 화소 영역에서, 광량의 평균값을 구하여 그것을 투과광량의 기준치로서 EEPROM 등의 메모리에 기억해 둔다.
다음에, 기록지가 투과용 LED(302)의 조사 영역 내에 도달하기까지, 투과용 LED(302)의 게인 조정을 한다(S1206). 게인 조정은 CMOS 에리어 센서(211)로부터의 아날로그 출력의 게인을 조정함으로써 행해진다. 즉, 기록재의 투과광량이 너무 작거나 너무 크면 기록재의 투과광량을 충분히 판독할 수 없고 투과광량의 변화를 적절하게 검출할 수 없기 때문에 게인 조정을 한다. 그리고, 상기 게인 조정을 하여 기록지는 투과용 LED(302)의 조사 영역 내에 있는 상태에서 촬상하여 화상을 판독한다(S1207). 전술된 바와 같이 추출한 광량 불규칙이 적은 화소 영역에서 투과광량의 평균값을 구하여 기록지의 투과광량을 구하고, 얻어진 투과광량과 미리 기억되어 있는 기준치를 비교한다(S1208). 그리고, 기록재의 종류를 판정하여(S1209), 판정 결과에 기초하여 정착 온도를 설정한다(S1210).
그러므로, 미리 기록하여 놓은 투과광량의 기준치와 상대 비교함으로써, 얇은 종이, 보통지, 두꺼운 종이를 보다 정확하게 판별할 수 있다.
[제2 실시 형태]
본 실시 형태는 상기 제1 실시 형태에 비교하여 더욱 상세히 기록재의 종류를 판별하는 방법을 제공한다.
또, 본 실시 형태에 있어서의 화상 형성 장치, CPU가 제어하는 각 유닛의 구성, 회로 블록도는 제1 실시 형태와 동일하기 때문에, 동일한 구성에 관해서는 설명은 생략한다.
도15는 본 실시 형태에 있어서의 기록재의 종류를 판별하는 흐름도이다.
제1 실시 형태에 있어서는 반사광량에 기초하여 OHT인지를 판별하고 있지만, 본 실시 형태에서는 최초로 투과용 LED를 발광시켜 기록재가 OHP 시트인지를 판별한 후, OHP 인지의 여부에 의해서 판별 방법을 전환하여 기록재의 종류를 판별하는 것을 특징으로 한다.
우선 투과용 LED(302)를 점등시키고(S1401), CMOS 에리어 센서(211)로 기록재의 화상을 판독한다(S1402). 그런 다음, 투과용 LED(302)를 소등시킨 후, 제어 회로(702)에 의해서 처리되어 얻어진 광량을 기준치와 비교한다(S1405). 여기서 기준치란 투과하여 오는 광량의 소정값이며, OHT인지 아닌지를 판별하기 위해서 미리 설정되어 있는 값[예를 들면, 메모리(224)에 설정]이다. 그리고, 기준치보다도 큰 지 어떤지, 즉, OHT 인지의 여부를 판별한다(S1406).
그 결과, 광량이 기준치보다도 큰 경우에는 OHT라고 판별한다. 그 경우에는, 반사용 LED(301)를 점등시키고(S1407), CMOS 에리어 센서(211)로 OHT의 표면의 화상을 판독한다(S1408). 화상의 판독은 기록재를 조금씩 반송 및 정지하면서 복수회 행해져, 복수 개소의 화상을 판독하여 쉐이딩 동작을 행한 후 기록재를 정지시켜 화상을 판독한다. 그리고, 그 후 반사용 LED(301)를 소등시킨 후(S1409), CM0S 에리어 센서로부터의 아날로그 출력의 광량의 게인 조정 처리 및 아날로그 출력의 A/D 변환 결과의 노이즈 제거 처리인 필터 연산 처리를 실행한다(S1410).
이러한 게인 조정 및 필터 연산 처리는 제1 실시 형태에 있어서의 도9의 S904와 동일한 처리가 되지만, OHT인 경우에는 반사되어 오는 광량이 그 외의 기록재에 비교하여 볼 때 적기 때문에, OHT 이외의 기록재에 비교하여 보다 CMOS 에리어 센서(211)로부터 출력이 얻어지도록 게인을 조정한다. 다음에, 이 연산 결과로부터 충분한 화상 정보가 얻어지는가 아닌가를 판정하며(S1411), 충분한 화상 정보가 얻어진다고 판정된 경우에는 이러한 처리로 얻어진 화상 연산 결과에 기초하여 화상 비교 처리를 한다(S1412). S1411로 충분한 화상 정보가 얻어지지 않는다고 판정된 경우에는 반사용 LED(30l)를 점등시켜 화상의 판독을 재차 실행한다.
여기서, S1412의 화상 비교 처리에 대하여 설명한다. OHT의 종류를 판별하는 경우에도, 기록재의 표면 상태를 CMOS 에리어 센서로 화상으로서 판독하고 판별할 수 있다. 잉크제트용 OHT는 레이저 빔 프린터용 OHT에 비교하여 그 표면의 요철이 크고 그 수도 많기 때문에, CM0S 에리어 센서로 판독한 화상을 처리하여 얻어진 평활도는 잉크제트용 OHT 쪽이 레이저 빔 프린터용 OHT보다도 낮은 값이 된다. 이 판별 결과를 도16에 도시한다.
도16의 종축은 판독한 화상을 처리하여 얻어진 요철의 피치 수이며, 횡축은 요철의 깊이를 나타내고 있다. 요철의 피치 수는, 예를 들면 판독한 화상을 디지털치 값(2진수)으로 변환하여 화상의 각 라인마다 엣지 수를 추출하여 전 라인 수분의 엣지 수를 적분하여 얻은 값이다. 또한 요철의 깊이는 화상의 각 라인마다의 농도의 최대값(Dmax)과 최소값(Dmin)을 추출하여 각 라인의 최대값(Dmax)와 최소값(Dmin)과의 차의 값을 평균화 처리하여 얻은 값이다. 또, 이들의 처리는 제어 회로(702) 및 CPU(201)로 실행된다.
도16은 레이저 빔 프린터용 OHT 판별 결과와 잉크제트용 OHT의 판별 결과를 도시한다. 도면의 A의 영역의 값에 상당하는 OHT는 요철의 피치가 거칠고 요철의 깊이가 얕아서 레이저 빔 프린터용 0HT로 판별되며, 도면의 B의 영역의 값에 상당하는 OHT는 요철의 피치가 미세하고 요철의 깊이가 깊어서 잉크제트용 OHT로 판별된다.
또, 이와 같이 OHT의 종류를 판별하는 것은 잉크제트용 OHT를 레이저 빔 프린터에 반송하여 인자한 경우에 잉크제트용 OHT에는 잉크를 수용하기 위한 다수의 요철부를 갖는 수용층이 있기 때문에, 그 수용층이 가열되어 융해되는 것에 따라 OHT가 정착 유닛의 정착 롤러에 감겨서 종이 걸림이 발생한다고 하는 문제점이 발생되기 때문이다. 따라서 OHT의 종류, 즉 잉크제트용 OHT인지 아닌지를 판별해야 한다.
S1412의 화상 비교의 결과를 기초로하여 잉크제트용 OHT인 것으로 판별되면(S1413), 화상 형성 동작을 정지하여(S1414), CPU가 경고 신호를 출력하고(S1415), 경고 신호에 기초하여 화상 형성 장치의 조작 패널(도시되지 않음) 등에 경고 표시를 하여 사용자에게 통지함으로써, 잉크제트용 OHT에 인쇄하여 정착부의 롤러에 감겨서 종이 걸림이 발생하는 문제점을 미연에 방지할 수 있다. 한편, S1413에서 잉크제트용 OHT가 아닌 것으로 판별된 경우(레이저 빔 프린터용의 OHT인 경우)에는, OHT에 따른 정착 온도의 조건을 설정하여 화상 형성 동작을 제어한다.
또한, S1406에서 OHT가 아닌 것으로 판별된 경우에는 제1 실시 형태로 설명한 도9의 S901 내지 S913까지의 흐름도에 따라 기록재의 종류의 판별을 한다. 도9의 흐름도에 대해서는 제1 실시 형태로 상세히 설명하고 있기 때문에 생략하지만, 여기서 반사용 LED(301)와 투과용 LED(302)를 순차적으로 점등시켜 기록재의 표면 상태의 화상과 투과광량을 기초로하여 기록재의 종류를 판별한다.
즉, 본 실시 형태에 있어서 최초로 투과용 LED를 발광시켜, 기록재가 OHP시트인지의 여부를 판별한다. 그런 후에, OHP인 경우에는 투과용 LED를 점등시키지 않지만 반사용 LED를 점등시켜 OHT의 종류를 판별하여, OHT 이외의 기록재인 경우에는, 반사용 LED 및 투과용 LED를 점등시켜 기록재의 종류를 판별하도록 판별 방법을 전환하고 기록재의 종류를 판별하고 있다.
또, 최초의 투과용 LED의 발광 시간과 그 후 OHT 이외의 기록재인 경우의 투과용 LED의 발광 시간은 다르고, 최초의 투과용 LED의 발광 시간이 그 후의 투과용 LED의 발광 시간보다도 짧다. 이는 최초의 투과용 LED의 발광에서는 OHT인지 아닌지를 판별할 수 있지만, OHT인 경우와 그렇지 않은 경우(예를 들면 보통지)에서는 분명히 투과광량에 큰 차가 있기 때문에(OHT 쪽이 투과광량이 대폭 많다), 그 후의 OHT 이외의 기록재의 두께를 검지하기 위한 발광 시간보다도 짧은 발광 시간에 OHT인지 아닌지가 판별 가능하다.
또한, 최초로 OHT인지 아닌지를 투과용 LED를 발광시키고 판별하는 것은 이하의 이유 때문이다. 투과광과 반사광을 이용한 기록재를 판별하는 경우에는 그 판별의 중에서도 특히 OHT의 종류를 판별하기 위한 시간이 길어지는 것은 알고 있는 사항이다. 이것은 OHT인 경우는 표면에서 반사되어 오는 광량이 OHT 이외의 기록재보다 상당히 적기 때문이며, LED를 장시간 발광시키는 것에 의해 반사하여 오는 빛을 장시간 검출하지 않으면 그 표면 화상을 정확하게 판별할 수 없기 때문이다.
또한, OHT와 OHT 이외의 기록재인 경우에서는 상술한 CMOS 에리어 센서(211)로부터의 게인 조정의 설정치가 다르다. 이것은 OHT에서의 반사광량은 OHT 이외의 기록재로부터의 반사광량에 비교하여도 적기 때문에, 동일한 레벨로 게인 조정했다면 어느 하나인 경우의 화상의 식별이 곤란하여지기 때문이다. 예를 들면, OHT인 경우의 게인 조정 설정으로 OHT 이외의 기록재의 화상을 촬상한 경우에는, 반사광량이 많기 때문에 CMOS 에리어 센서로부터의 출력이 포화되고 판별이 곤란하여진다. 반대로, OHT 이외인 경우의 게인 조정 설정으로 OHT에서의 화상을 촬상한 경우에는 얻어지는 출력이 지나치게 작고 판별이 곤란하여 진다.
따라서, OHT와 OHT 이외인 경우를 우선적으로 투과용 LED를 발광시켜 판별하고 나서 각각에 따른 게인 조정을 하는 것이다.
또한, 기록재의 표면 화상을 검출하는 경우에는, LED의 광량 불규칙이나 LED를 부착하여 오차를 보정하기 위해서, 기록재를 조금씩 움직이면서 복수회 측정한 반사광에 기초하여 표면 화상을 검출하여, 검출한 복수회 분의 표면 화상에 기초하여 보정용 데이터를 구하는 쉐이딩 동작을 할 필요가 있다. 이 쉐이딩 동작에 있어서도, OHT인 경우는 반사광의 광량이 OHT 이외의 기록재보다 상당히 적기 때문에, LED 발광 시간 및 검출 시간을 길게 해야 한다.
도17은 본 실시 형태의 기록재 판별에 요하는 시간을 도시한 것이다. 도17에 도시되어 있는 바와 같이, OHT의 종류의 판별에는 쉐이딩 동작(Bl: 1.2초)과 OHT 표면 화상 검출(B2: 0.3초)이 필요하여 총 1.5초 필요한 반면에, OHT 이외의 종류의 판별에는 쉐이딩 동작(A1: 0.5초)과 표면 화상 검출(A2: 0.15초)과 투과광량 검출(A3: 0.35초)이 필요하여 총 1.0초가 걸린다.
여기서, 예를 들면 쉐이딩 동작의 시간을 비교하면, OHT인 경우는 OHT 이외인 경우에 비교하여 2배 이상(Al: 0.5초 < Bl: 1.2초)의 시간이 필요하다 것을 알고 있다. 또, 도17에 도시된 바와 같이 OHT인지의 여부를 판별하기 위한 투과용 LED의 발광 시간(검출 시간)은 다른 처리의 시간보다 상당히 짧은 시간(0.08초)이다.
이와 같이, OHT의 종류의 판별에 처리 시간이 필요하기 때문에, 우선 OHT인지 아닌지를 투과용 LED 이용하여 단시간에 판별한 후, OHT인 경우와 OHT 이외인 경우로 판별 방법을 전환하는 것을 제어한다.
여기서, 예를 들면 투과광을 이용한 OHT 이외의 기록재의 두께 검출 처리(A3)를 OHT인지 아닌지의 판별과 겸용하는 것도 생각된다. 그러한 경우에는 OHT 이외의 기록재를 식별하는 데 걸리는 시간은 단축할 수 있지만, 반대로 OHT의 종류를 판별하기까지 걸리는 시간이 더 길어져 버린다(A3: 0.35초 + Bl: 1.2초 + B2: 0.3초 = 1.85초). 그러므로 OHT의 종류를 판별하여 그 결과 레이저 빔 프린터용 OHT라고 판별한 경우의 인쇄 개시까지의 시간 길어져 버리고 생산성이 좋지 않다. 또한, 잉크제트용 OHT라고 판별한 경우 장치 정지까지의 시간이 길어지기 때문에, 에러 발생을 표시할 때까지의 시간이 걸린다.
따라서, 전술된 바와 같이 (1) 투과용 LED 발광에 의한 OHT판별, (2) OHT인지 아닌지에 따라 LED를 반사용 LED 및 투과용 LED를 이용하는지 또는 투과용 LED를 이용하지 않고 반사용 LED를 이용하는지를 결정함으로써, 기록재를 식별하기 위한 시간, 특히 OHT의 종류를 판별하는 시간을 단축할 수 있다고 하는 효과가 있다.
이상, 본 실시 형태에 따르면 얇은 종이, 보통지, 두꺼운 종이, 광택지, 광택 필름 및 OHT의 종류도 판별할 수가 있어 보다 많은 기록재의 종류를 판별하는 것이 가능하게 된다.
또한, 본 실시 형태에 따르면, 기록재의 종류를 판별하는 시간을 단축하는 것이 가능하게 된다.
[제3 실시 형태]
도13을 이용하여 본 발명의 제3 실시 형태에 대하여 설명한다. 또, 동작 방법이나 제어 방법은 전술된 제1 실시 형태와 동일하기 때문에, 제1 실시 형태와 동일한 부분에 대해서는 동일 부호를 이용하여 설명을 생략하고 제1 실시 형태와 다른 구성에 대해서만 설명한다.
도13은 제2 실시 형태의 개략 구성을 나타내는 개략적 단면도이다. 도13에 있어서 센서 유닛(1301)은 반사용 LED(301), 투과용 LED(1303) 및 센서 칩(211)이 장착된 기판(1302) 및 렌즈(303)를 포함한다. 이 때, 반사용 LED(301)는 도13에 도시한 바와 같이 기판에 대하여 비스듬하게 장착 되어 있다. 단, LED를 비스듬하게 장착하지 않고서 광도관(미도시)으로 비스듬하게 조사시킬 수도 있다.
기판(1302)에 장착된 투과용 LED(1303)로부터 출력된 광은 광도관(1304)에 의해 반사를 반복하고, 기록재에 대하여 센서의 반대 측에서 빛을 조사한다. 이에 의해, 제1 실시 형태에 있어서 투과용 LED(302)와 동등한 효과를 달성할 수 있다.
본 실시 형태에 따라, 전기 부품을 기록재에 대하여 일 방향으로 집중하여 배치하는 것이 가능하기 때문에, 비용 절감을 도모할 수 있으며, 광도관(1304) 측에 배선할 필요가 없기 때문에 배선 경로의 제약이나 부착하여 성의 제약을 완화시킬 수 있다.
[제4 실시 형태]
도14를 이용하여 본 발명의 제4 실시 형태에 대하여 설명한다. 또, 동작 방법이나 제어 방법은 상술의 제1 실시 형태와 동일하기 때문에, 제1 실시 형태와 동일한 부분에 대해서는 동일 부호를 이용하여 설명을 생략하며 제1 실시 형태와 다른 구성에 대해서만 설명한다.
도14는 제4 실시 형태의 개략 구성을 나타내는 개략적 단면도이다. 도14에 있어서 센서 유닛(1401)에는 투과/반사 겸용 LED(1403)와 센서 칩(211)이 장착된 기판(1402)을 가지며, 렌즈(303) 및 프리즘(1404)을 더 갖는다.
기판(1402)에 장착된 투과/반사 겸용 LED(1403)로부터 출력된 광은 반사용 빛과 투과용 빛으로 나뉘고, 반사용 빛은 검출 에리어를 조명하며, 투과용 빛은 광도관(1405)에 의해 반사를 반복하고, 기록재(304)에 대하여 센서의 반대측에서 빛을 조사한다. 이에 의해, 제1 실시 형태에 있어서 투과용 LED(302)와 동등한 효과를 달성시키는 것이 가능하다.
본 실시 형태에 따라 전기 부품을 기록재에 대하여 일 방향으로 집중하여 배치할 수가 있어, 또한 광원을 1개로 할 수 있기 때문에, 비용절감을 도모할 수 있음과 동시에, 배선 경로의 제약이나 부착하여 성의 제약을 완화시킬 수 있다.
이상 설명한 바와 같이 본 발명에 따르면, 기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 판독하여 기록재 표면의 화상을 얻는 화상 판독 장치를 포함하며 화상판독 장치에 의해서 얻어진 기록재 표면의 화상을 이용하여 기록재의 제1 속성을 판정하는 반사광 판정부와, 기록재를 투과하는 투과광을 이용하여 기록재의 제2 속성을 판정하는 투과광 판정부를 구비하여, 제1 속성과 제2 속성에 기초하여 기록재의 종류를 판별한다. 기록재의 종류를 정확하게 판별할 수 있기 때문에 이용 가능성의 향상을 도모하면서, 여러 가지 종류의 기록재에 있어서도 최적의 정착 처리 조건으로 정착 등을 행하여 양호한 정착 화상을 얻을 수 있다.
본 발명을 양호한 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 본 발명의 기술 사상 및 범주 내에서 그 형태와 상세 내역에 대한 변형이 있을 수 있다는 것을 당업자라면 알 수 있을 것이다. 그러므로, 상기 모든 변형을 포함하는 청구항은 본 발명의 진실한 정신의 범위 내에 있다.
본 발명은 여러 가지 종류의 기록재를 자동 판별함과 동시에 적절한 조건에서 화상 형성을 하는 기록재 판별 장치, 화상 형성 장치 및 그 방법을 제공한다.
도1은 본 발명의 일 실시 형태로 이용되는 화상 형성 장치를 도시한 개략도.
도2는 본 발명의 일 실시 형태에 의한 제어 CPU가 제어하는 각 유닛의 구성을 나타내는 도면.
도3은 기록재의 표면의 평활도, 반사광량 및 투과광량 검출을 하기 위한 구성을 나타내는 개략도.
도4는 화상 판독 센서에 의해서 판독되는 기록재 표면의 아날로그 화상과 아날로그 출력을 8 x 8 픽셀로 디지털 처리한 디지털 화상과의 대비를 나타내는 도면.
도5는 투과용 LED를 이용하여 화상 판독 센서에 의해서 판독되는 기록재의 화상을 8 x 8 픽셀로 디지털 처리하여 나타낸 도면.
도6은 기록재의 기본중량과 투과광의 관계를 나타내는 도면.
도7은 본 발명의 일 실시 형태에 의한 CMOS 에리어 센서(area sensor)의 제어 회로를 나타내는 블록도.
도8은 본 발명의 일 실시 형태에 의한 CMOS 에리어 센서의 회로 블록도를 나타내는 도면.
도9는 제1 실시예에 의한 화상 형성 장치에 구비된 정착 처리 조건 제어를 실행하는 제어 프로세서에 의한 제어 흐름을 도시하는 흐름도.
도10은 제2 실시예에 의한 화상 형성 장치에 구비된 정착 처리 조건 제어를 실행하는 제어 프로세서에 의한 제어 흐름을 도시하는 흐름도.
도11은 기록지가 없는 상태에서 LED를 조사한 경우 수광한 빛을 CMOS 에리어 센서로 판독하여 디지털 처리한 후의 화상을 나타내는 도면.
도12는 제3 실시예에 의한 화상 형성 장치에 구비된 정착 처리 조건 제어를 실행하는 제어 프로세서에 의한 제어 흐름을 도시하는 흐름도.
도13은 제3 실시 형태의 구성을 나타내는 개략적인 단면도.
도14는 제4 실시 형태의 개략 구성을 나타내는 개략적인 단면도.
도15는 제2 실시 형태에 있어서 기록재 판별의 제어 흐름을 도시하는 흐름도.
도16은 제2 실시 형태에 있어서 OHT의 종류의 판별 결과를 나타내는 도면.
도17은 제2 실시 형태에 있어서 기록재 판별에 요하는 시간을 나타내는 도면.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
101 : 화상 형성 장치
102 : 급지 카셋트
103 : 급지 롤러
104 : 전자 벨트 구동 롤러
105 : 전사 벨트
106 내지 109 : 감광 드럼
110 내지 113 : 전사 롤러
114 내지 117 : 카트리지
118 내지 121 : 광학 유닛
122 : 정착 유닛
123 : 화상 판독 센서
210 : 제어 CPU
222 : 저전압 전원
223 : ASIC
225 : 반송 롤러

Claims (54)

  1. 기록재 판별 장치이며,
    기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 판독하여 기록재 표면의 화상을 얻는 화상판독 장치를 포함하고, 화상판독 장치에 의해서 얻어진 상기 기록재 표면의 화상에 의해서 기록재의 제1 속성을 판정하는 반사광 판정 유닛과,
    상기 기록재를 투과하는 투과광에 의해서 상기 기록재의 제2 속성을 판정하는 투과광 판정 유닛과,
    상기 제1 속성과 상기 제2 속성에 기초하여 상기 기록재의 종류를 판별하는 판별 유닛을 포함하는 기록재 판별 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1 속성은 상기 기록재의 표면의 평활도이며, 상기 반사광 판정 유닛은 상기 기록재 표면의 화상의 소정의 영역 내에서 산출한 농담비로부터 상기 제1 속성을 판정하는 기록재 판별 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 화상 판독 장치에 포함되는 화소마다 상기 소정의 영역 내의 인접 화소들 사이의 농도 차를 구하고, 농도 차에 기초하여 상기 농담비를 산출하는 기록재 판별 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 제2 속성은 상기 기록재의 재료 두께이며, 상기 투과광 판정 유닛은 상기 투과광의 광량에 기초하여 상기 제2 속성을 판정하는 기록재 판별 장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 기록재의 표면에서 반사하는 반사광의 광량을 검출하고, 검출된 광량에 의해서 제3 속성을 판정하는 반사광량 판정 유닛을 더 포함하며,
    상기 판별 유닛은 상기 제1 속성, 상기 제2 속성과 상기 제3 속성에 기초하여 상기 기록재의 종류를 판별하는 기록재 판별 장치.
  6. 기록재 판별 장치이며,
    기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 얻기 위해서 기록재에 소정의 빛을 조사하는 제1 조사 부재와,
    상기 기록재를 투과하는 투과광을 얻기 위해서 상기 기록재에 소정의 빛을 조사하는 제2 조사 부재와,
    상기 기록재로부터의 반사광 또는 투과광을 수광하여 빛을 화상으로서 판독하고 광량을 검출하는 판독 장치와,
    상기 제1 조사 부재와 상기 제2 조사 부재에 의해 상기 기록재에 빛을 조사시키고, 상기 판독 장치에 의해 상기 제1 조사 부재에 의해 얻어진 반사광을 화상으로서 판독하고 상기 제2 조사 부재에 의해 얻어진 투과광의 광량을 검출시켜, 상기 화상과 투과광의 광량에 기초하여 상기 기록재의 종류를 판별하는 컨트롤러를 포함하는 기록재 판별 장치.
  7. 제6항에 있어서, 상기 컨트롤러는 상기 기록재 표면의 화상의 소정의 영역 내에서 산출한 농담비로부터 상기 기록재의 표면의 평활도를 판정하고, 판정된 평활도와 상기 투과광의 광량에 기초하여 상기 기록재의 종류를 판별하는 기록재 판별 장치.
  8. 제7항에 있어서, 상기 화상 판독 장치에 포함되는 화소마다 상기 소정의 영역 내의 인접 화소들 사이의 농도 차를 구하고, 농도 차에 기초하여 상기 농담비를 산출하는 기록재 판별 장치.
  9. 제6항에 있어서, 상기 컨트롤러는 상기 기록재의 재료 두께를 판정하며, 상기 투과광의 광량과 판정된 재료 두께에 기초하여 상기 기록재의 종류를 판별하는 기록재 판별 장치.
  10. 제6항에 있어서, 상기 컨트롤러는 상기 기록재를 투과시키지 않고서 상기 제2 조사 부재로 빛을 조사시키고, 상기 기록재를 투과시키지 않고서 조사된 광을 상기 판독 장치로 직접 수광하여 화상으로서 판독하고, 상기 소정의 영역에 포함되는 화소로부터 광량에 불규칙이 없는 화소를 선택하여, 광량에 불규칙이 없는 화소로만 상기 기록재의 종류를 판별하는 기록재 판별 장치.
  11. 제10항에 있어서, 상기 광량에 불규칙이 없는 화소는, 상기 기록재를 투과시키지 않고서 상기 제2 조사 부재로 빛을 조사시켜 얻어진 화상에 있어서 인접 화소와의 농도 차가 소정의 값보다 낮은 화소인 기록재 판별 장치.
  12. 제8항에 있어서, 상기 판독 장치는 상기 기록재의 표면에서 반사하는 반사광의 광량을 더 검출하며,
    상기 컨트롤러는 상기 판독 장치에 의해 판독된 화상과, 검출된 투과광의 광량과, 검출된 반사광의 광량에 기초하여 상기 기록재의 종류를 판별하는 기록재 판별 장치.
  13. 제8항에 있어서, 상기 제1 조사 부재 및 그 사이에 있는 상기 판독재의 기록재와 반대측에 배치되어 입사한 빛을 원하는 방향으로 유도하는 광도관을 더 포함하며,
    상기 제2 조사 부재는 상기 제1 조사 부재 및 상기 판독재의 기록재와 동일한 측에 배치되고, 상기 광도관은 상기 제2 조사 부재로부터 조사된 광을 입사광으로서 수광하여 수광한 빛이 상기 기록재를 투과하여 상기 판독 장치에 입사하도록 조정되는 기록재 판별 장치.
  14. 제8항에 있어서, 상기 판독 장치는 CMOS 에리어 센서 또는 CCD 센서인 기록재 판별 장치.
  15. 제8항에 있어서, 상기 판독 장치는 상기 판독한 화상을 디지털 정보로 변환하여 출력하는 기록재 판별 장치.
  16. 기록재 판별 방법이며,
    화상판독 장치에 의해서 기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 판독하여 기록재 표면의 화상을 얻고 이 얻어진 상기 기록재 표면의 화상에 의해서 기록재의 제1 속성을 판정하는 반사광 판정 단계와,
    상기 기록재를 투과하는 투과광에 의해 상기 기록재의 제2 속성을 판정하는 투과광 판정 단계와,
    상기 제1 속성과 상기 제2 속성에 기초하여 상기 기록재의 종류를 판별하는 판별 단계를 포함하는 기록재 판별 방법.
  17. 제16항에 있어서, 상기 제1 속성은 상기 기록재의 표면의 평활도이며, 상기 반사광 판정 단계는 상기 기록재 표면의 화상의 소정의 영역 내에서 산출한 농담비로부터 상기 제1 속성을 판정하는 기록재 판별 방법.
  18. 제17항에 있어서, 상기 화상 판독 장치에 포함되는 화소마다 상기 소정의 영역 내의 인접 화소들 사이의 농도 차를 구하고, 농도 차에 기초하여 상기 농담비를 산출하는 기록재 판별 방법.
  19. 제16항에 있어서, 상기 제2 속성은 상기 기록재의 재료 두께이며, 상기 투과광 판정 단계는 상기 투과광의 광량에 기초하여 상기 제2 속성을 판정하는 기록재 판별 방법.
  20. 제16항에 있어서, 상기 기록재의 표면에서 반사하는 반사광의 광량을 검출하고, 검출된 광량에 의해서 제3 속성을 판정하는 반사 광량 판정 단계를 더 포함하며,
    상기 판별 단계에 의해, 상기 제1 속성, 상기 제2 속성과 상기 제3 속성에 기초하여 상기 기록재의 종류를 판별하는 기록재 판별 방법.
  21. 제20항에 있어서, 상기 반사 광량 판정 단계에 의해 상기 기록재의 제3 속성을 판정한 후, 상기 반사광 판정 단계 및 상기 투과광 판정 단계에 의해서 상기 기록재의 제1 속성 및 제2 속성을 판정하는 기록재 판별 방법.
  22. 제21항에 있어서, 상기 반사 광량 판정 단계에 의해 검출된 반사광의 광량에 의해서 상기 반사광 판정 단계에 있어서 화상을 판독할 때 화상 판독 장치의 게인을 조정하는 게인 조정 단계를 더 포함하는 기록재 판별 방법.
  23. 제16항에 있어서, 상기 반사광 판정 단계에 의해 상기 기록재의 제1 속성을 판정한 후, 상기 투과광 판정 단계에 의해서 상기 기록재의 제2 속성을 판정하는 기록재 판별 방법.
  24. 제16항에 있어서, 상기 투과광 판정 단계에 의해 상기 기록재의 제2 속성을 판정한 후, 상기 반사광 판정 단계에 의해서 상기 기록재의 제1 속성을 판정하는 기록재 판별 방법.
  25. 잠상을 담지하는 잠상 담지체와, 잠상 담지체에 현상제를 부여하여 상기 잠상을 현상제 상으로서 가시화하는 현상부와, 소정 방향으로 반송되는 기록재에 현상부에 의한 현상제 상을 전사하는 전사부와, 전사부에 의해서 상기 현상제 상이 전사된 상기 기록재를 소정의 정착 처리 조건에서 가열 및 가압하여 상기 현상제 상을 기록재에 정착시키는 정착 장치를 구비한 화상 형성 장치이며,
    상기 기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 판독하여 상기 기록재 표면의 화상을 얻는 화상 판독 장치를 포함하고, 상기 전사부에 의한 전사 전에 화상 판독 장치에 의해서 얻어진 상기 기록재 표면의 화상에 의해서 기록재의 제1 속성을 판정하는 반사광 판정 유닛과,
    상기 기록재를 투과하는 투과광에 의해서 상기 기록재의 제2 속성을 판정하는 투과광 판정 유닛과,
    상기 전사부에 의한 전사 전에 얻어진 상기 제1 속성과 상기 제2 속성에 기초하여 상기 기록재의 종류를 판별하고, 판별된 종류에 대응하는 상기 정착 처리 조건으로 상기 정착 장치에 의해 상기 현상제 상을 기록재에 정착시키는 제어부를 포함하는 화상 형성 장치.
  26. 제25항에 있어서, 상기 제1 속성은 상기 기록재의 표면의 평활도이며, 상기 반사광 판정 유닛은 상기 기록재 표면의 화상의 소정의 영역 내에서 산출한 농담비로부터 상기 제1 속성을 판정하는 화상 형성 장치.
  27. 제26항에 있어서, 상기 화상 판독 장치에 포함되는 화소마다 상기 소정의 영역 내의 인접 화소들 사이의 농도 차를 구하고, 농도 차에 기초하여 상기 농담비를 산출하는 화상 형성 장치.
  28. 제25항에 있어서, 상기 제2 속성 상기 기록재의 재료 두께이며, 상기 투과광 판정 유닛은 상기 투과광의 광량에 기초하여 상기 제2 속성을 판정하는 화상 형성 장치.
  29. 제25항에 있어서, 상기 기록재의 표면에서 반사하는 반사광의 광량을 검출하고, 검출된 광량에 의해서 제3 속성을 판정하는 반사광량 판정 유닛을 더 포함하며,
    상기 제어부는 상기 제1 속성, 상기 제2 속성과 상기 제3 속성에 기초하여 상기 기록재의 종류를 판별하는 화상 형성 장치.
  30. 잠상을 담지하는 잠상 담지체와, 잠상 담지체에 현상제를 부여하는 현상부와, 기록재에 현상제 상을 전사하는 전사부와, 가열 및 가압하여 상기 현상제 상을 기록재에 정착시키는 정착 장치와, 상기 현상부에서 상기 잠상을 현상제 상으로서 가시화시키고 상기 전사부에서 소정 방향으로 반송시킨 상기 기록재에 상기 가시화된 상을 전사시키며 상기 정착 장치에서 상기 전사된 현상제 상을 소정의 정착 처리 조건으로 정착시켜 정착된 기록재를 배출하는 제어부를 갖춘 화상 형성 장치이며,
    기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 얻기 위해서 기록재에 소정의 빛을 조사하는 제1 조사 부재와,
    상기 기록재를 투과하는 투과광을 얻기 위해서 상기 기록재에 소정의 빛을 조사하는 제2 조사 부재와,
    상기 기록재로부터의 반사광 또는 투과광을 수광하여 화상으로서 빛을 판독하고 광량을 검출하는 판독 장치를 포함하며,
    상기 제어부는 상기 전사부에 의한 전사 전에 상기 제1 조사 부재와 상기 제2 조사 부재에서 상기 기록재에 빛을 조사시키고, 상기 판독 장치에서 상기 제1 조사 부재에 의해 얻어진 반사광을 화상으로서 판독하고 상기 제2 조사 부재에 의해 얻어진 투과광의 광량을 검출시켜, 판별된 종류에 대응하는 상기 정착 처리 조건으로 상기 현상제 상을 기록재에 정착시키는 화상 형성 장치.
  31. 제30항에 있어서, 상기 제어부는 상기 기록재 표면의 화상의 소정의 영역 내에서 산출한 농담비로부터 상기 기록재의 표면의 평활도를 판정하며, 판정된 평활도와 상기 투과광의 광량과 기초하여 상기 기록재의 종류를 판별 화상 형성 장치.
  32. 제31항에 있어서, 상기 화상 판독 장치에 포함되는 화소마다 상기 소정의 영역 내의 인접 화소들 사이의 농도 차를 구하고, 농도 차에 기초하여 상기 농담비를 산출하는 화상 형성 장치.
  33. 제30항에 있어서, 상기 제어부는 상기 기록재의 재료 두께를 판정하며, 상기 투과광의 광량과 판정된 재료 두께에 기초하여 상기 기록재의 종류를 판별하는 화상 형성 장치.
  34. 제30항에 있어서, 상기 제어부는 상기 기록재를 투과시키지 않고서 상기 제2 조사 부재로 빛을 조사시키고, 상기 기록재를 투과시키지 않고서 조사된 광을 상기 판독 장치로 직접 수광하여 화상으로서 판독하며, 상기 소정의 영역에 포함되는 화소로부터 광량에 불규칙이 없는 화소를 선택하여, 광량에 불규칙이 없는 화소로만 상기 기록재의 종류를 판별하는 화상 형성 장치.
  35. 제34항에 있어서, 상기 광량에 불규칙이 없는 화소는, 상기 기록재를 투과시키지 않고서 상기 제2 조사 부재로 빛을 조사시켜 얻어진 화상에 있어서 인접 화소와의 농도 차가 소정의 값보다 낮은 화소인 화상 형성 장치
  36. 제32항에 있어서, 상기 판독 장치는 상기 기록재의 표면에서 반사하는 반사광의 광량을 더 검출하며,
    상기 제어부는 상기 판독 장치에 의해 판독된 화상과, 검출된 투과광의 광량과, 검출된 반사광의 광량에 기초하여 상기 기록재의 종류를 판별하는 화상 형성 장치.
  37. 제32항에 있어서, 상기 제1 조사 장치와 그 사이의 상기 판독재의 상기 기록재의 반대 측에 배치되어 입사한 빛을 원하는 방향으로 유도하는 광도관을 더욱 구비하며,
    상기 제2 조사 부재는 상기 제1 조사 부재 및 상기 판독재의 기록재와 동일한 측에 배치되며, 상기 광도관은 상기 제2 조사 부재로부터 조사된 광을 입사광으로서 수광하여 수광한 빛이 상기 기록재를 투과하여 상기 판독 장치에 입사하도록 조정되는 화상 형성 장치.
  38. 제32항에 있어서, 상기 판독 장치는 CMOS 에리어 센서 또는 CCD 센서인 화상 형성 장치.
  39. 제32항에 있어서, 상기 판독 장치는 상기 판독한 화상을 디지털 정보로 변환하여 출력하는 화상 형성 장치.
  40. 기록재 판별 장치이며,
    기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 판독하여 상기 기록재의 제1 속성을 판정하는 반사광 판정 유닛과,
    상기 기록재를 투과하는 투과광을 판독하여 상기 기록재의 제2 속성을 판정하는 투과광 판정 유닛과,
    상기 기록재의 종류를 판별하는 판별 유닛을 포함하며,
    상기 판별 유닛은 상기 투과광 판정 유닛의 판정 결과에 따라서 상기 투과광 판정 유닛과 상기 반사광 판정 유닛에 의해 상기 기록재의 종류를 판별할 것인가, 또는 상기 투과광 판정 유닛에 의하지 않고서 상기 반사광 판정 유닛에 의해서 상기 기록재의 종류를 판별할 것인가를 결정하는 기록재 판별 장치.
  41. 제40항에 있어서, 상기 판별 유닛은 상기 투과광 판정 유닛에 의해서 상기 기록재가 소정의 종류의 기록재로 판정된 경우 상기 투과광 판정 유닛에 의하지 않고서 상기 반사광 판정 유닛에 의해서 상기 기록재의 종류를 판별하도록 결정하며, 상기 기록재가 소정의 종류의 기록재가 아닌 것으로 판정된 경우 상기 투과광 판정 유닛과 상기 반사광 판정 유닛에 의해 상기 기록재의 종류를 판별하도록 결정하는 기록재 판별 장치.
  42. 제41항에 있어서, 상기 소정의 종류의 기록재는 OHT을 포함하는 기록재 판별 장치.
  43. 제40항에 있어서, 상기 반사광을 판독하여 기록재 표면의 화상을 더 얻고, 상기 투과광을 판독하여 상기 기록재를 투과하는 투과광량을 얻기 위한 판독 장치를 더 포함하는 기록재 판별 장치.
  44. 기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 판독하여 상기 기록재의 제1 속성을 판정하는 반사광 판정 유닛과, 상기 기록재를 투과하는 투과광을 판독하여 상기 기록재의 제2 속성을 판정하는 투과광 판정 유닛을 구비한 기록재 판별 장치의 제어 방법이며,
    상기 투과광 판정 유닛에 의해서 상기 기록재의 종류를 판별하는 판별 단계와,
    상기 판별 단계의 판별 결과에 따라서, 상기 반사광 판정 유닛과 상기 투과광 판정 유닛에 의해 상기 기록재의 종류를 판별하는 제1 판별 방법, 또는 상기 투과광 판정 유닛에 의하지 않고서 상기 반사광 판정 유닛에 의해서 상기 기록재의 종류를 판별하는 제2 판별 방법을 선택하는 선택 단계를 포함하는 기록재 판별 장치의 제어 방법.
  45. 제44항에 있어서, 상기 선택 단계는 상기 판정 단계에 있어서 상기 기록재가 소정의 종류의 기록재로 판정된 경우 상기 제2 판별 방법을 선택하며, 상기 기록재가 소정의 종류의 기록재가 아닌 것으로 판정된 경우 상기 제1 판별 방법을 선택하는 단계를 포함하는 기록재 판별 장치의 제어 방법.
  46. 제45항에 있어서, 상기 소정의 종류의 기록재는 OHT을 포함하는 기록재 판별 장치의 제어 방법.
  47. 잠상을 담지하는 잠상 담지체와, 상기 잠상을 현상하는 현상부와, 기록재에 현상제 상을 전사하는 전사부와, 상기 전사부에 의해서 전사된 상기 기록재 상의 상기 현상제 상을 정착시키는 정착 장치를 구비한 화상 형성 장치이며,
    기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 판독하여 상기 기록재의 제1 속성을 판정하는 반사광 판정 유닛과,
    상기 기록재를 투과하는 투과광을 판독하여 상기 기록재의 제2 속성을 판정하는 투과광 판정 유닛과,
    상기 기록재의 종류를 판별하는 판별 유닛을 포함하고,
    상기 판별 유닛은 상기 투과광 판정 유닛의 판정 결과에 따라서 상기 투과광 판정 유닛과 상기 반사광 판정 유닛에 의해 상기 기록재의 종류를 판별할 것인가, 또는 상기 투과광 판정 유닛에 의하지 않고서 상기 반사광 판정 유닛에 의해서 상기 기록재의 종류를 판별할 것인가를 결정하는 화상 형성 장치.
  48. 제47항에 있어서, 상기 판별 유닛은 상기 투과광 판정 유닛에 의해서 상기 기록재가 소정의 종류의 기록재로 판정된 경우 상기 투과광 판정 유닛에 의하지 않고서 상기 반사광 판정 유닛에 의해서 상기 기록재의 종류를 판별하도록 결정하며, 상기 기록재가 소정의 종류의 기록재가 아닌 것으로 판정된 경우 상기 투과광 판정 유닛과 상기 반사광 판정 유닛에 의해 상기 기록재의 종류를 판별하도록 결정하는 화상 형성 장치.
  49. 제48항에 있어서, 상기 소정의 종류의 기록재는 OHT을 포함하는 화상 형성 장치.
  50. 제47항에 있어서, 상기 반사광을 판독하여 기록재 표면의 화상을 더 얻고, 상기 투과광을 판독하여 상기 기록재를 투과하는 투과광량을 얻기 위한 판독 장치를 더 포함하는 화상 형성 장치.
  51. 제47항에 있어서, 상기 판별 유닛에 의해 판별된 상기 기록재의 종류에 따라서 상기 정착 장치에서의 정착 조건을 설정하는 컨트롤러를 더 포함하는 화상 형성 장치.
  52. 기록재 판별 장치이며,
    기록재의 표면에서 반사하는 반사광을 얻기 위해서 기록재에 소정의 빛을 조사하는 제1 조사 부재와,
    상기 기록재를 투과하는 투과광을 얻기 위해서 상기 기록재에 소정의 빛을 조사하는 제2 조사 부재와,
    광량을 검출하고 화상으로서 빛을 판독하기 위해 상기 기록재로부터의 반사광 또는 투과광을 수광하는 판독 장치와,
    상기 제1 조사 부재와 상기 제2 조사 부재에 의해 상기 기록재에 빛을 조사시켜, 상기 판독 장치의 판독 결과에 따라서 상기 기록재의 종류를 판별하는 판별 유닛을 포함하며,
    상기 판별 유닛은 상기 기록재가 소정의 기록재인지의 여부에 따라서 상기 투과광 판정 유닛과 상기 반사광 판정 유닛에 의해서 상기 기록재의 종류를 판별할것인가, 또는 상기 투과광 판정 유닛을 사용하지 않고서 상기 반사광 판정 유닛에 의해서 상기 기록재의 종류를 판별할 것인가를 결정하는 기록재 판별 장치.
  53. 제52항에 있어서, 상기 소정의 기록재는 OHT을 포함하는 기록재 판별 장치.
  54. 제52항에 있어서, 상기 판독 장치는 상기 반사광을 판독하여 기록재 표면의 화상을 더 얻고, 상기 투과광을 판독하여 상기 기록재를 투과하는 투과광량을 얻는 기록재 판별 장치.
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