KR20020042682A - 탄화규소 결정 성장 방법 및 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
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- 탄화규소 결정 성장 시스템에서 고품질의 탄화규소 단결정을 성장시키는 방법으로서,탄화규소 증기를 형성하기에 충분한 온도까지 규소 소스와 도입된 탄소 소스의 온도를 증가시키는 단계,동시에, 상기 규소 및 탄소 소스의 온도에 접근하지만 상기 규소 및 탄소 온도 이하이면서 탄화규소가 탄화규소 결정 성장 시스템의 기체 압력 조건하에서 증착되는 것보다 빨리 승화하는 온도 이하로 종정의 성장 표면의 온도를 증가시키는 단계, 그리고상기 규소 소스 및 상기 도입된 탄소 소스에서 유래된 탄소 및 규소를 함유하는 증발된 종(vaporized species)의 적절한 흐름을 생성하고 유지하는 단계,동시에, 상기 종들을 함유한 임의의 규소가 상기 도입된 탄소 소스 이외의 대기와 반응하는 것을 실질적으로 방지하는 단계를 포함하고,상기 증기 흐름은 단결정 탄화규소를 원하는 양만큼 거시적으로 성장시키기에 충분한 시간 동안 상기 종정의 상기 성장 표면을 향하도록 하는 방법.
- 제1항에서,상기 종들을 함유한 임의의 규소가 상기 도입된 탄소 소스 이외의 대기와 반응하는 것을 실질적으로 방지하는 단계는 흑연을 포함하는 탄화규소 결정 성장 시스템 내로 상기 규소 소스 및 상기 도입된 탄소 소스를 도입하는 단계를 포함하며, 상기 흑연은 탄화규소의 승화 온도 이상의 융점을 가지며 상기 승화 온도에서 규소 및 수소에 대하여 화학적 불활성이고 상기 승화 온도에서 상기 흑연과 상기 도포재 사이의 균열을 방지하도록 상기 흑연에 매우 가까운 열팽창 계수를 갖는 물질로 도포되는 방법.
- 제1항에서,상기 종들을 함유한 임의의 규소가 상기 도입된 탄소 소스 이외의 대기와 반응하는 것을 실질적으로 방지하는 단계는, 탄화탄탈륨(tantalum carbide), 탄화하프늄(hafnium carbide), 탄화니오븀(niobium carbide), 탄화티타늄(titanium carbide), 탄화지르코늄(zirconium carbide), 탄화텅스텐(tungsten carbide) 및 탄화바나듐(vanadium carbide), 그리고 질화탄탈륨(tantalium nitride), 질화하프늄, 질화니오븀, 질화티타늄, 질화지르코늄, 질화 텅스텐 및 질화바나듐과 그 혼합물로 구성되는 군에서 선택되는 내열성 화합물로 도포된 흑연을 포함하는 탄화규소 결정 성장 시스템에 상기 규소 소스 및 상기 도입된 탄소 소스를 도입하는 단계를 포함하는 방법.
- 제3항에서,상기 내열성 금속 화합물은 탄화탄탈륨을 포함하는 방법.
- 제1항에서,상기 규소 소스 및 탄소 소스는 실레인(silane) 및 에틸렌을 포함하는 기류(gas stream)인 방법.
- 제1항에서,상기 규소 소스 및 상기 탄소 소스는 탄화규소 분말을 포함하는 방법.
- 제1항에서,규소에 대하여 실질적으로 불활성인 탄화규소 성장 시스템에 원하는 폴리타입의 단결정 종정(seed crystal), 규소 소스 및 상기 탄소 소스를 도입하여 종들을 함유한 임의의 규소가 상기 탄소 소스 이외의 상기 성장 시스템과 반응하는 것을 실질적으로 방지하는 단계를 더 포함하는 방법.
- 제1항 또는 제7항에서,상기 탄화규소 결정 성장 시스템에 상기 탄화규소 종정을 도입하는 단계 이전에 연마된(polished) 탄화규소 종정을 준비하는 단계를 더 포함하는 방법.
- 제7항에서,상기 규소 소스와 상기 탄소 소스의 온도를 증가시키는 단계는 약 2200℃와2400℃ 사이로 증가시키는 단계를 포함하는 방법.
- 제9항에서,상기 규소 소스와 상기 탄소 소스의 온도를 증가시키는 단계는 약 2300℃로 증가시키는 단계를 포함하는 방법.
- 제1항 또는 제7항에서,상기 종정의 온도를 증가시키는 단계는 약 2150℃와 약 2250℃ 사이로 증가시키는 단계를 포함하는 방법.
- 제11항에서,상기 종정의 온도를 증가시키는 단계는 약 2200℃로 증가시키는 단계를 포함하는 방법.
- 제1항 또는 제7항에서,상기 규소 소스 및 상기 도입된 탄소 소스에서 유래된 탄소 및 규소를 함유하는 증발된 종(vaporized species)의 적절한 흐름을 생성하고 유지하는 단계는, 규소 및 탄소의 선택된 조성비를 갖는 적어도 하나의 기류를 도입하여 상기 성장 과정을 통하여 상기 기류 내에서 상기 규소 및 탄소의 선택된 조성비를 실질적으로 일정하게 유지하는 방법.
- 제1항 또는 제7항에서,증발된 종의 적절한 흐름을 생성하고 유지하는 상기 단계는, 규소 및 탄소의 선택된 조성비를 도입하여 요구되는 성장 과정을 유지하기 위하여 필요한 경우 상기 성장 과정을 통하여 상기 규소 및 탄소의 선택된 조성비를 변경시키는 단계를 포함하는 방법.
- 제1항 또는 제7항에서,증발된 종의 적절한 흐름을 생성하고 유지하는 상기 단계는, 탄화규소 분말 폴리타입의 선택된 조성비를 갖는 소스 분말을 도입하여 상기 성장 과정을 통하여 상기 소스 분말 내에서 상기 탄화규소 폴리타입의 선택된 조성비를 일정하게 유지하는 단계를 포함하는 방법.
- 탄화규소 결정의 고온 성장에 사용되는 용기(vessel)에 특히 유용한 표면(surface)으로서,기판, 그리고상기 기판 물질을 제외한 물질의 박막으로 구성되는 상기 기판 상의 도포재(coating)를 포함하며,상기 물질은 탄화규소의 승화 온도 이상의 융점을 가지며 상기 승화 온도에서 규소 및 수소에 대하여 화학적 불활성이고, 상기 탄화규소의 승화 온도 내외로상기 기판을 냉각하고 가열하는 동안 상기 기판과 도포재 사이의 균열을 방지하도록 상기 기판에 매우 가까운 열팽창 계수를 갖는 표면.
- 제16항에서,상기 기판은 흑연을 포함하는 표면.
- 제17항에서,상기 도포재는 탄화탄탈륨, 탄화하프늄, 탄화니오븀, 탄화티타늄, 탄화지르코늄, 탄화텅스텐 및 탄화바나듐, 그리고 질화탄탈륨, 질화하프늄, 질화니오븀, 질화티타늄, 질화지르코늄, 질화 텅스텐 및 질화바나듐과 그 혼합물로 구성되는 군에서 선택되는 내열성 화합물인 표면.
- 제18항에서,상기 내열성 금속 화합물은 탄화탄탈륨을 포함하는 표면.
- 제16항에 따른 상기 도포재로 도포되는 적어도 하나의 표면을 갖는 탄화규소 성장용 용기.
- 탄화규소 종정과 규소 소스와 탄소 소스를 수용하는 용기(container)를 포함하는 고온 규소 결정 성장용 탄화규소 성장 시스템에서, 상기 용기는흑연 코어(graphite core), 그리고상기 흑연 코어 상의 제16항에 따른 상기 도포재를 포함하는 탄화 규소 성장 시스템.
- 제21항에서,상기 용기를 가열하는 가열 요소,종자 호울더(seed holder), 그리고탄소 및 규소를 함유한 증발된 종을 상기 시스템에 주입하여 상기 종자 호울더 상의 종정 상에서 탄화규소 승화 성장을 진행시키는 수단을 더 포함하는 탄화규소 성장 시스템.
- 탄화규소 결정 성장 시스템에서 고품질의 탄화규소 단결정의 성장을 제어하고 촉진하는 방법으로서,제21항에 따라 탄화규소 종정을 탄화규소 결정 성장 시스템에 도입하여 탄화규소 단결정 성장이 일어나는 온도 및 압력 조건 하에서, 탄소 및 규소를 함유한 증발된 종의 흐름을 상기 탄화규소 종정으로 향하게 하고 유지시키면서 상기 탄화규소 종정의 적외선 방사의 노출을 감소시키는 단계를 포함하는 방법.
- 제1항에서,탄소 먼지에 의한 상기 탄화규소 결정의 오염을 실질적으로 방지하는 단계를더 포함하는 방법.
- 제24항에서,오염을 실질적으로 방지하는 상기 단계는, 탄화규소의 승화 온도 이상의 융점을 가지며 상기 승화 온도에서 규소 및 수소에 대하여 화학적 불활성이고 상기 승화 온도에서 상기 흑연과 상기 도포재 사이의 균열을 방지하도록 상기 흑연에 매우 가까운 열팽창 계수를 갖는 물질로 한 번 도포된 흑연을 포함하는 탄화규소 결정 성장 시스템에 상기 규소 소스를 도입하는 단계를 포함하는 방법.
- 제25항에서,상기 흑연을 도포하는 상기 도포재는 탄화탄탈륨, 탄화하프늄, 탄화니오븀, 탄화티타늄, 탄화지르코늄, 탄화텅스텐 및 탄화바나듐, 그리고 질화탄탈륨, 질화하프늄, 질화니오븀, 질화티타늄, 질화지르코늄, 질화텅스텐 및 질화바나듐과 그 혼합물로 구성되는 군에서 선택되는 방법.
- 제26항에서,상기 내열성 금속 화합물은 탄화탄탈륨을 포함하는 방법.
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100561701B1 (ko) * | 2004-01-30 | 2006-03-17 | 한국과학기술연구원 | 탄화규소 나노로드 및 나노와이어의 제조 방법 |
KR20060094769A (ko) * | 2005-02-26 | 2006-08-30 | 네오세미테크 주식회사 | 대구경 탄화규소 단결정 성장 장치 |
KR100760336B1 (ko) * | 2006-06-22 | 2007-09-20 | (주)글로벌코센테크 | 화학적 기상 반응 방법을 이용하여 흑연의 표면 특성을개질하는 방법 |
WO2014137072A1 (en) * | 2013-03-07 | 2014-09-12 | Skc Co., Ltd. | Apparatus and method for growing silicon carbide single crystals |
Families Citing this family (44)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7601441B2 (en) * | 2002-06-24 | 2009-10-13 | Cree, Inc. | One hundred millimeter high purity semi-insulating single crystal silicon carbide wafer |
US6814801B2 (en) * | 2002-06-24 | 2004-11-09 | Cree, Inc. | Method for producing semi-insulating resistivity in high purity silicon carbide crystals |
ATE335872T1 (de) * | 2003-04-24 | 2006-09-15 | Norstel Ab | Vorrichtung und verfahren zur herstellung von einkristallen durch dampfphasenabscheidung |
US7147713B2 (en) | 2003-04-30 | 2006-12-12 | Cree, Inc. | Phase controlled sublimation |
US7247513B2 (en) | 2003-05-08 | 2007-07-24 | Caracal, Inc. | Dissociation of silicon clusters in a gas phase during chemical vapor deposition homo-epitaxial growth of silicon carbide |
ITMI20031196A1 (it) * | 2003-06-13 | 2004-12-14 | Lpe Spa | Sistema per crescere cristalli di carburo di silicio |
JP2006001786A (ja) * | 2004-06-17 | 2006-01-05 | Hitachi Chem Co Ltd | フッ化カルシウム結晶育成ルツボ、フッ化カルシウム結晶の製造方法及びフッ化カルシウム結晶 |
JP4609003B2 (ja) * | 2004-08-30 | 2011-01-12 | 株式会社デンソー | 炭化珪素単結晶の製造装置 |
US7314520B2 (en) | 2004-10-04 | 2008-01-01 | Cree, Inc. | Low 1c screw dislocation 3 inch silicon carbide wafer |
JP5068423B2 (ja) * | 2004-10-13 | 2012-11-07 | 新日本製鐵株式会社 | 炭化珪素単結晶インゴット、炭化珪素単結晶ウェハ及びその製造方法 |
JP4522898B2 (ja) * | 2005-03-25 | 2010-08-11 | 日本碍子株式会社 | 単結晶製造装置 |
US7608524B2 (en) * | 2005-04-19 | 2009-10-27 | Ii-Vi Incorporated | Method of and system for forming SiC crystals having spatially uniform doping impurities |
US7615801B2 (en) * | 2005-05-18 | 2009-11-10 | Cree, Inc. | High voltage silicon carbide devices having bi-directional blocking capabilities |
US20060267043A1 (en) | 2005-05-27 | 2006-11-30 | Emerson David T | Deep ultraviolet light emitting devices and methods of fabricating deep ultraviolet light emitting devices |
NO326797B1 (no) * | 2005-06-10 | 2009-02-16 | Elkem As | Fremgangsmate og apparat for raffinering av smeltet materiale |
US8052794B2 (en) * | 2005-09-12 | 2011-11-08 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Directed reagents to improve material uniformity |
US20070169687A1 (en) * | 2006-01-26 | 2007-07-26 | Caracal, Inc. | Silicon carbide formation by alternating pulses |
US8044567B2 (en) * | 2006-03-31 | 2011-10-25 | General Electric Company | Light source incorporating a high temperature ceramic composite and gas phase for selective emission |
ITMI20062213A1 (it) * | 2006-11-20 | 2008-05-21 | Lpe Spa | Reattore per crescere cristalli |
JP4735622B2 (ja) * | 2007-08-28 | 2011-07-27 | 株式会社デンソー | 炭化珪素単結晶の製造装置 |
CN100523315C (zh) * | 2007-09-28 | 2009-08-05 | 中国科学院物理研究所 | 分体式钽坩埚及其制造方法 |
JP4547031B2 (ja) * | 2009-03-06 | 2010-09-22 | 新日本製鐵株式会社 | 炭化珪素単結晶製造用坩堝、並びに炭化珪素単結晶の製造装置及び製造方法 |
WO2011010394A1 (ja) * | 2009-07-21 | 2011-01-27 | トヨタ自動車株式会社 | 溶液法による単結晶成長用種結晶軸 |
JP5500953B2 (ja) * | 2009-11-19 | 2014-05-21 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 成膜装置および成膜方法 |
EP2657373A1 (en) | 2012-04-23 | 2013-10-30 | Chung-Shan Institute of Science and Technology, Armaments, Bureau, Ministry of National Defense | Crucible for growing crystals |
EP2823703A1 (en) | 2013-07-10 | 2015-01-14 | Heliospectra AB | Method and system for controlling growth of a plant |
US9580837B2 (en) * | 2014-09-03 | 2017-02-28 | Ii-Vi Incorporated | Method for silicon carbide crystal growth by reacting elemental silicon vapor with a porous carbon solid source material |
CN105702561B (zh) * | 2014-12-12 | 2018-09-18 | 韩国东海炭素株式会社 | 半导体处理组件再生方法 |
CN104514034B (zh) * | 2015-01-08 | 2017-10-27 | 中国科学院半导体研究所 | 用于碳化硅生长的高温装置及方法 |
CN114000197A (zh) | 2015-09-24 | 2022-02-01 | 帕里杜斯有限公司 | 气相沉积装置以及使用高纯度聚合物衍生的碳化硅的技术 |
CN106929919A (zh) * | 2015-12-29 | 2017-07-07 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 一种碳化硅晶体生长用坩埚 |
CN105525352B (zh) * | 2016-01-12 | 2018-07-10 | 台州市一能科技有限公司 | 一种采用升华法高速制造碳化硅晶体的装置及方法 |
JP6390628B2 (ja) * | 2016-01-12 | 2018-09-19 | トヨタ自動車株式会社 | SiC単結晶の製造方法及び製造装置 |
CN105543964A (zh) * | 2016-02-02 | 2016-05-04 | 北京华进创威电子有限公司 | 消除碳化硅单晶生长过程中硅对石墨体腐蚀的方法和装置 |
CN108070908A (zh) * | 2016-11-17 | 2018-05-25 | 上海新昇半导体科技有限公司 | 4H-SiC晶体生长设备及方法 |
JP7068914B2 (ja) * | 2018-04-26 | 2022-05-17 | 昭和電工株式会社 | 断熱性遮蔽部材及びそれを備えた単結晶製造装置 |
CN109234798B (zh) * | 2018-11-02 | 2019-07-23 | 山东天岳先进材料科技有限公司 | 碳化硅单晶的连续长晶方法 |
KR102233751B1 (ko) * | 2019-03-12 | 2021-03-30 | 주식회사 카보넥스 | 탄화규소 제조장치 및 그를 이용한 탄화규소의 제조방법 |
CN111732448A (zh) * | 2020-06-16 | 2020-10-02 | 璨隆科技发展有限公司 | 一种石墨坩埚及其制备方法 |
JP2023537503A (ja) * | 2020-08-06 | 2023-09-01 | エスジーエル・カーボン・エスイー | 耐火性炭化物多層 |
CN113026099A (zh) * | 2021-03-05 | 2021-06-25 | 广州爱思威科技股份有限公司 | 碳化硅单晶生长控制装置及控制方法 |
CN113463197A (zh) * | 2021-06-18 | 2021-10-01 | 广州爱思威科技股份有限公司 | 一种碳化硅晶体的制备方法、碳化硅晶片、碳化硅衬底及半导体器件 |
CN114045558B (zh) * | 2021-10-19 | 2023-06-09 | 江苏超芯星半导体有限公司 | 一种以单一气体为源气体制备碳化硅晶体的方法 |
CN115287760A (zh) * | 2022-08-04 | 2022-11-04 | 顾赢速科技(合肥)有限公司 | 高温化学气相沉积法生长碳化硅晶体的方法及其装置 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3230727A1 (de) | 1982-08-18 | 1984-02-23 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zum herstellen von siliziumkarbid |
US4664944A (en) * | 1986-01-31 | 1987-05-12 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Deposition method for producing silicon carbide high-temperature semiconductors |
US4866005A (en) | 1987-10-26 | 1989-09-12 | North Carolina State University | Sublimation of silicon carbide to produce large, device quality single crystals of silicon carbide |
AU2250392A (en) * | 1991-06-12 | 1993-01-12 | Case Western Reserve University | Process for the controlled growth of single-crystal films of silicon carbide polytypes on silicon carbide wafers |
JPH05208900A (ja) * | 1992-01-28 | 1993-08-20 | Nisshin Steel Co Ltd | 炭化ケイ素単結晶の成長装置 |
JP3491402B2 (ja) | 1995-08-07 | 2004-01-26 | 株式会社デンソー | 単結晶製造方法及びその単結晶製造装置 |
SE9503426D0 (sv) * | 1995-10-04 | 1995-10-04 | Abb Research Ltd | A device for heat treatment of objects and a method for producing a susceptor |
US5746827A (en) | 1995-12-27 | 1998-05-05 | Northrop Grumman Corporation | Method of producing large diameter silicon carbide crystals |
RU2094547C1 (ru) | 1996-01-22 | 1997-10-27 | Юрий Александрович Водаков | Сублимационный способ выращивания монокристаллов карбида кремния и источник карбида кремния для осуществления способа |
JP3384242B2 (ja) * | 1996-03-29 | 2003-03-10 | 株式会社豊田中央研究所 | 炭化珪素単結晶の製造方法 |
US5873937A (en) | 1997-05-05 | 1999-02-23 | Northrop Grumman Corporation | Method of growing 4H silicon carbide crystal |
US5915194A (en) * | 1997-07-03 | 1999-06-22 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of National Aeronautics And Space Administration | Method for growth of crystal surfaces and growth of heteroepitaxial single crystal films thereon |
JP4122548B2 (ja) * | 1997-10-15 | 2008-07-23 | 昭和電工株式会社 | 炭化珪素単結晶の製造方法 |
JPH11116399A (ja) * | 1997-10-16 | 1999-04-27 | Denso Corp | 炭化タンタルのコーティング方法及びこの方法を用いて製造した単結晶製造装置 |
US5985024A (en) * | 1997-12-11 | 1999-11-16 | Northrop Grumman Corporation | Method and apparatus for growing high purity single crystal silicon carbide |
RU2162117C2 (ru) * | 1999-01-21 | 2001-01-20 | Макаров Юрий Николаевич | Способ эпитаксиального выращивания карбида кремния и реактор для его осуществления |
-
1999
- 1999-10-08 US US09/415,402 patent/US6824611B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2000
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-
2004
- 2004-09-24 US US10/949,577 patent/US20050120943A1/en not_active Abandoned
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100561701B1 (ko) * | 2004-01-30 | 2006-03-17 | 한국과학기술연구원 | 탄화규소 나노로드 및 나노와이어의 제조 방법 |
KR20060094769A (ko) * | 2005-02-26 | 2006-08-30 | 네오세미테크 주식회사 | 대구경 탄화규소 단결정 성장 장치 |
KR100760336B1 (ko) * | 2006-06-22 | 2007-09-20 | (주)글로벌코센테크 | 화학적 기상 반응 방법을 이용하여 흑연의 표면 특성을개질하는 방법 |
WO2014137072A1 (en) * | 2013-03-07 | 2014-09-12 | Skc Co., Ltd. | Apparatus and method for growing silicon carbide single crystals |
KR101458183B1 (ko) * | 2013-03-07 | 2014-11-05 | 에스케이씨 주식회사 | 탄화규소 단결정 성장 장치 및 방법 |
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