KR102084288B1 - 디스플레이의 휘도 보상 - Google Patents

디스플레이의 휘도 보상 Download PDF

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미첼 오스틴 맥카티
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Abstract

디스플레이의 휘도 보상에 관한 다양한 예가 제공된다. 한 예에서, 방법은 공급 전압 라인에 의해 공급된 픽셀에 대한 IR 전압 강하 효과를 식별하는 단계, 및 IR 전압 강하 효과에 적어도 부분적으로 기초하여 픽셀에 대한 휘도 신호를 생성하는 단계를 포함한다. 다른 예에서, 방법은 공통 공급 전압 라인에 의해 공급된 픽셀에 대응하는 IR 전압 강하의 값을 계산하는 단계, 및 IR 전압 강하를 보상하는 데이터 라인 신호를 각 픽셀에 제공하는 단계를 포함한다. 다른 예에서, 디스플레이 장치는 픽셀의 매트릭스, 및 휘도 컨트롤러를 포함하고, 휘도 컨트롤러는 매트릭스의 픽셀에 대한 IR 전압 강하 효과를 결정하고 이 IR 전압 강하 효과 및 픽셀과 연관된 하나의 리프레시 사이클 내에 시간적 평균 픽셀 휘도에 적어도 부분적으로 기초하여 픽셀에 대한 휘도 신호를 생성하도록 구성된다.

Description

디스플레이의 휘도 보상{BRIGHTNESS COMPENSATION IN A DISPLAY}
[관련 출원의 상호 참조]
이 출원은, 2012년 11월 5일 출원된, "디스플레이의 휘도 보상"이라는 명칭의 계류중인 미국 가출원인 시리얼 번호 제61/722,496호의 우선권 및 이점을 주장하고, 그 전문이 본원에 참고 문헌으로 인용된다.
능동 매트릭스 유기 발광 다이오드(AMOLED) 디스플레이 등의 디스플레이 장치는, 여러 픽셀을 포함할 수 있다. 픽셀은, 고정 또는 동적 픽처를 표시하기 위해 주기적으로 리프레시될 수 있다.
본 개시의 많은 측면들은 다음의 도면을 참조하여 좀 더 이해될 수 있다. 상기 도면의 구성 요소들이 반드시 일정한 비율로 축척될 필요는 없고, 대신에 본 개시의 원리를 명확하게 설명하는 것이 강조된다. 또한, 도면에서, 동일한 참조 부호는 여러 도면에 걸쳐 대응하는 부분을 표기한다.
도 1은 본 개시의 다양한 실시 형태에 따른 디스플레이 장치의 일부의 회로도이다.
도 2는 본 개시의 다양한 실시 형태에 따른 도 1의 디스플레이 장치의 픽셀의 일례의 회로도이다.
도 3은 본 개시의 다양한 실시 형태에 따른 도 1의 디스플레이 장치의 컨트롤러에 의해 구현된 기능의 일례를 도시한 흐름도이다.
도 4는 본 개시의 다양한 실시 형태에 따른 도 1의 디스플레이 장치의 일례의 개략 블록도이다.
능동 매트릭스 유기 발광 다이오드(AMOLED) 디스플레이는 보다 넓은 시야각을 갖고, 더 밝으며, 더 빠른 응답 시간을 갖고, 더 슬림화된 패널을 가지며, LCD 디스플레이와 비교할 때 더 적은 에너지를 소비한다. AMOLED 패널의 각 픽셀은 디스플레이를 형성하기 위해 점등되는 유기 발광 다이오드(OLED)를 포함한다. 픽셀은 매트릭스 형태로 배열되는데, 여기서 화면의 리프레시가 로우 단위 방식으로 수행된다. 로우의 각 픽셀은, 어드레스될 때 각 픽셀이 그 휘도만을 유지하는 수동 매트릭스와 비교하여, 픽셀이 다음 리프레시 사이클까지 소정의 휘도 레벨로 유지된 후, 주어진 시간 슬롯 내에 동시에 리프레시되고, 따라서 그 명칭은 능동 매트릭스이다. 디스플레이가 적절히 기능하기 위해서, AMOLED 디스플레이 내의 픽셀은 반송될 특정한 전체 장면에 적합한 휘도 레벨로 세팅되고, 그 휘도 레벨은 다음 리프레시가 다음 장면에 대한 픽셀을 리셋팅할 때까지 유지("기억")되어야 한다. 이를 달성하기 위해 각 픽셀은, 그 OLED를 구동하는, 픽셀 회로라고 불리는 회로를 포함한다. 픽셀 회로들은 신호 및 전력을 각각의 회로에 제공하는 버스 라인에 의해 접속된다. 픽셀 회로와 버스 라인은 AMOLED의 백플레인을 형성한다.
도 1을 참조하면, 본 개시의 한 실시 형태에 따른 디스플레이 장치(100)의 일부의 회로가 도시된다. 디스플레이 장치(100)는, 예를 들어 능동 매트릭스 유기 발광 다이오드(AMOLED) 패널 또는 임의의 유형의 디스플레이 장치를 포함할 수 있는데, 여기에서 순간 픽셀 광 출력은 픽셀 내의 발광 하위 성분을 통하는 전류에 따라 좌우되고, 그 전류를 공급하는 버스 라인은 다른 픽셀과 공유되고, 그 라인을 따라 있는 다수의 픽셀들은 동시에 점등된다. 도 1에 도시된 바와 같이, 디스플레이 장치(100)는 칼럼 C1-Cx 및 로우 R1-Ry로 배열된 픽셀(103)의 매트릭스를 포함한다. 디스플레이 장치(100)는 또한, 칼럼 C1-Cx 각각의 픽셀(103)에 결합되는 공급 전압 라인(109)(VDD라고도 지칭)을 포함한다. 또한, 픽셀(103)의 각 로우 R1-Ry는 주사 라인(113)을 포함하고, 픽셀(103)의 각 칼럼은 데이터 라인(116)을 포함한다.
디스플레이 장치(100)의 특정한 로우 R1-Ry의 모든 픽셀(103)은, 특정한 로우 R1-Ry가 다음 리프레시 사이클에서 리프레시될 때까지 이들 픽셀(103)이 소정의 휘도 레벨로 유지된 후, 주어진 시간 슬롯 내에서 동시에 리프레시된다. 이를 위해, 휘도 신호가 각 데이터 라인(116)에 인가되고, 주사 라인(113) 중 하나가 어써트된다(asserted). 주사 라인(113)이 어써트되는 것에 응답하여, 데이터 라인(116)에 인가된 휘도 신호는 대응하는 로우 R1-Ry의 대응하는 픽셀(103)에 제공된다. 그 후, 새로운 휘도 신호가 데이터 라인(116)에 인가되고, 다음 로우 R1-Ry에 대한 주사 라인(113)이 어써트된다. 이에 응답하여, 어써트된 주사 라인(113)을 갖는 새로운 로우 R1-Ry에 대한 픽셀(103)에는, 데이터 라인(116)에 인가되는 휘도 신호가 제공된다. 그 다음, 이러한 프로세스는 디스플레이 장치(100)의 나머지 모든 로우 R1-Ry에 대해 반복되어, 픽처를 생성한다. 프로세스는 또한 데이터 라인(116) 상의 신호 변화와 함께 모든 픽셀(103)에 대해 반복되어, 동적 픽처를 생성할 수 있다.
도 2를 참조하면, 본 개시의 다양한 실시 형태에 따른 디스플레이 장치(100)(도 1)의 픽셀(103) 중 하나의 일례의 회로도가 도시된다. 도시된 바와 같이, 픽셀(103)은 데이터 라인(116) 중 하나, 공급 전압 라인(109) 및 주사 라인(113) 중 하나를 포함할 수 있다. 또한, 픽셀(103)은 스위칭 트랜지스터(203), 구동 트랜지스터(206), 커패시터(209), 발광 장치(213), 및 간결하게 하기 위해 상세히 논의되지 않은 다른 잠재적인 구성 요소를 포함할 수 있다. 다른 회로 구성 및 구성 요소가 다른 대안적 실시 형태에서 픽셀(103)에 사용될 수 있는 것으로 이해된다.
발광 장치(213)는 발광 장치(213)를 통해 흐르는 전류에 응답하여 광을 방출하도록 구성된다. 이와 같이, 발광 장치(213)는, 예를 들면, 유기 발광 다이오드(OLED), 무기 발광 다이오드(LED), 양자점 발광 다이오드 또는 임의의 다른 타입의 발광 장치의 형태로 구현될 수 있다.
구동 트랜지스터(206)는 발광 장치(213)를 통해 흐르는 전류량을 제공 및 제어하도록 구성된다. 이를 위해, 구동 트랜지스터(206)의 제1 단자(206a)는 공급 전압 라인(109)에 결합되고, 구동 트랜지스터(206)의 제2 단자(206b)는 발광 장치(213)에 연결된다. 본 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 이해될 수 있는 바와 같이, 구동 트랜지스터(206)의 제2 단자(206b)에 제1 단자(206a)로부터 유입되는 전류량은 구동 트랜지스터(206)의 제3 단자(206c)에 인가되는 전압 레벨에 따라 좌우된다. 예를 들어, 구동 트랜지스터(206)가 포화 영역에서 동작하는 p-형 MOS 트랜지스터인 경우에 있어서, 구동 트랜지스터(206)를 통해 흐르고 있는 전류는 다음 식을 이용하여 모델링될 수 있다:
Figure 112015054033667-pct00001
여기서, I는 구동 트랜지스터(206)를 통하는 전류이고, VDATA는 데이터 라인(116)으로부터의 휘도 신호의 전압이고, VDD는 공급 전압 라인(109) 상의 전압이고, 임계 전압 VTH < 0이고
Figure 112015054033667-pct00002
이다. 게이트 유전체의 면적 정전 용량은 C이고, 트랜지스터의 이동도는 μ이며, 트랜지스터 채널 폭 대 채널 길이 비는
Figure 112015054033667-pct00003
이다.
스위칭 트랜지스터(203)는 상기 데이터 라인(116)으로부터의 신호를 구동 트랜지스터(206)의 제3 단자(206c)에 선택적으로 제공하도록 구성된다. 이 때문에, 스위칭 트랜지스터(203)의 제1 단자(203a)는 데이터 라인(116)에 결합되고, 상기 스위칭 트랜지스터(203)의 제2 단자(203b)는 구동 트랜지스터(206)의 제3 단자(206c)에 결합되고, 스위칭 트랜지스터(203)의 제3 단자(203c)는 주사 라인(113)에 결합된다. 스위칭 트랜지스터(203)는 주사 라인(113)에 제공되는 신호에 응답하여 턴 "온" 또는 턴 "오프"될 수 있다. 이러한 의미에서, 데이터 라인(116)으로부터의 신호는, 주사 라인(113) 신호가 어써트될 때 스위칭 트랜지스터(203)를 통해 구동 트랜지스터(206)의 제3 단자(206c)에 전달되어, 스위칭 트랜지스터(203)가 "온"이 되게 한다. 주사 라인(113)이 어써트되지 않으면, 스위칭 트랜지스터(203)는 "오프"가 되고, 데이터 라인(116) 상의 신호는 구동 트랜지스터(206)의 제3 단자(206c)에서 수신되는 것이 방지된다.
커패시터(209)는 스위칭 트랜지스터(203)가 "온"일 때 구동 트랜지스터(206)의 제3 단자(206c)에 제공되는 전압 값(즉, 휘도 신호)을 저장하고, 스위칭 트랜지스터(203)가 "오프"인 경우 이러한 전압 값을 실질적으로 유지한다. 커패시터(209)는 구동 트랜지스터(206)의 제3 단자(206c)에 결합되기 때문에, 커패시터(209)는 디스플레이 장치(100)에 대한 리프레시 사이클 사이에 발광 장치(213)를 통해 흐르는 전류의 특정 값을 유지하도록 돕는다.
픽셀(103)의 리프레시 동안, 휘도 신호가 데이터 라인(116)에 제공되고, 주사 라인(113)은 어써트되어 스위칭 트랜지스터(203)를 턴 "온"시키고, 따라서 데이터 라인(116) 상의 휘도 신호가 구동 트랜지스터(206)의 제3 단자(206c)에 제공되게 한다. 구동 트랜지스터(206)의 제3 단자(206c)에서 수신되는 휘도 신호에 응답하여, 그리고 구동 트랜지스터(206)의 제1 단자(206a)에서의 공급 전압의 특정 값에 응답하여, 전류가 구동 트랜지스터(206)의 제1 단자(206a)로부터 제2 단자(206b)로 발광 장치(213)를 통해 흐른다. 이러한 전류 관계는, 예를 들면, 수학식 1에 의해, 모델링될 수 있다. 전류가 발광 장치(213)를 통해 흐름으로 인해, 광이 발광 장치(213)로부터 방출된다. 발광 장치(213)로부터 방출된 광의 휘도가 구동 트랜지스터(206)로부터 흐르는 전류량에 의존하기 때문에, 광의 휘도는 또한 제1 단자(206a)에서의 공급 전압 값 및 구동 트랜지스터(206)의 제3 단자(206c)에서의 휘도 신호에 의존한다.
도 1에 도시된 실시 형태에서, 공급 전압 라인(109)은 디스플레이 장치(100)의 모든 픽셀(103)에 대해 구동 트랜지스터(206)의 제1 단자(206a)에 결합된다. 공급 전압 라인(109)이 비-이상적인 도체이기 때문에, 픽셀(103)은 "IR 강하"로서 지칭될 수 있는 것을 경험한다. 공급 전압 라인(109)의 저항은 제로가 아니기 때문에, 전압(V = IR) 강하가 공급 전압 라인(109)을 따라 나타난다. 이러한 IR 강하는 디스플레이 장치(100)의 휘도 균일도에 영향을 미칠 수 있다. 결과적으로, 공급 전압 라인(109)에 대한 입력 포인트로부터 상대적으로 멀리 떨어져 있는 픽셀(103)은, 예를 들면, 입력 포인트에 비교적 근접하여 있는 픽셀(103)보다 낮은 공급 전압을 수신한다. 예를 들어, 픽셀(103)의 칼럼에 대한 단순화된 공급 전압 모델은 다음과 같이 표현될 수 있다:
Figure 112015054033667-pct00004
여기서, Vi는 위치 i에서 공급 전압 라인(109)으로부터 특정 픽셀(103)에 의해 나타난 공급 전압이고, VDD0는 디스플레이 장치(100)의 입력 포인트에서 공급 전압 라인(109)의 전압이고, r은 인접하는 픽셀(103) 사이의 공급 전압 라인(109)의 세그먼트의 저항이고, n은 칼럼 C1-Cy의 픽셀(103)의 개수이고, Im은 픽셀 m(1 내지 n)을 통해 흐르는 전류이다. 따라서, 각 픽셀(103)에 있어서, 수학식 2는 IR 강하를 설명하기 위해 수학식 1의 VDD에 치환될 수 있다.
픽셀 i 상의 전류가 ΔIi = Inext frame - Icurrent frame의 양만큼 변했다고 가정하면, 공급 전압 라인(109)은 픽셀 i까지 이러한 ΔIi가 수반될 필요가 있다. 라인의 저항은 상대적으로 적은 수이고, 하나의 픽셀에 의해 가능하게 만들어진 전류 변화는 공급 전압 라인(109)에 의해 운반된 총 전류에 비해 작아지기 때문에, 고차 효과는 무시될 수 있고, 이러한 가정하에, 픽셀 i에 의해 나타난 전압의 변화는 ΔVi = -i × r × ΔIi로서 표현될 수 있다. 위치 i에서 픽셀에 대한 전압의 변화가 위치 i 자체에서의 픽셀에 의해 야기되기 때문에, ΔVi를 ΔVi,i로 고쳐쓸 수 있는데, 여기서 제1 지수(index)는 전압의 영향을 받은 픽셀을 나타내고, 제2 지수는 이러한 전압 변화의 원인이 되는 전류의 변경이 행해진 픽셀을 나타낸다. 다른 픽셀과의 크로스 토크(cross-talk)를 고려하면, 위치 i에서의 픽셀에 대한 전류 변화 ΔIi는 위치 j에서의 픽셀에 대한 전압 변화를 야기할 수 있는데, 이는 ΔVj,i = -i × r × ΔIi (j > i)로서 표현될 수 있다.
공급 전압 라인(109)은 또한 픽셀(103)의 리프레시로 인해 의도하지 않은 크로스 토크를 용이하게 할 수 있다. 예를 들어, 위치 m에서의 제2 픽셀(103)에 대한 전류의 변화에 의한 위치 i에서 제1 픽셀(103)에 대한 공급 전압 변화 - 여기서 제1 픽셀(103)과 제2 픽셀(103)은 동일한 칼럼 C1-Cy에 존재함 -는 다음과 같이 표현될 수 있다:
Figure 112015054033667-pct00005
여기서, ΔVi,m은 위치 m에서의 제2 픽셀(103)에 대한 전류의 변화(ΔIm)에 대한 위치 i에서의 제1 픽셀(103)에 대한 공급 전압의 변화이다. 공급 전압의 변화에 대한 픽셀에서의 전류의 변화는 VDD에 대한 수학식 1의 도함수를 취함으로써 근사될 수 있다. 수학식 1 및 3을 이용함으로써, 위치 m에서의 제2 픽셀(103)에 대한 전류의 변화에 의한 위치 i에서의 제1 픽셀(103)에 대한 전류의 변화는 다음 수학식을 이용하여 표현될 수 있다:
Figure 112015054033667-pct00006
여기서, ΔIi,m은 위치 m에서의 제2 픽셀에 대한 전류의 변화(ΔIm)로 인한 위치 i에서의 제1 픽셀(103)에 대한 전류의 변화이고, ΔVi,m은 수학식 3에 대응하고, VDD(i,m-1)는 IR 강하를 고려하면서, 위치 m에서의 픽셀이 그 전류를 변경하기 직전의 위치 i에서의 픽셀에 의해 나타난 공급 전압 라인(109) 상의 전압을 나타낸다. 따라서, 수학식 4는 IR 강하 및 크로스 토크의 영향이 설명될 때 픽셀(103)에 대한 전류의 변화의 추정치를 제공한다. 이와 같이, 수학식 4는, 예를 들면, 픽셀(103) 상에서의 IR 강하와 크로스 토크(cross-talk)의 영향을 식별하기 위해 사용될 수 있다. ΔVi,m이 작은 상황에서, 수학식 4는 다음과 같이 근사될 수 있다:
Figure 112015054033667-pct00007
이제 설명되는 바와 같이, 각 픽셀(103)에 대해, 보상된 휘도 신호는 목표 전류와 실질적으로 동일한, 구동 트랜지스터(206)에 의해 제공된 평균 실제 전류 값을 초래하는 데이터 라인(116)에 적용될 수 있다. 우선, 다음의 예는 디스플레이 장치(100)가 비-보상된 휘도 신호를 이용하여 픽셀(103)을 사전에 리프레시했다고 가정하고, 디스플레이 장치(100)가 픽셀(103)의 리프레시를 개시할 준비가 되어 있다고 가정한다.
디스플레이 장치(100)는 원하는 휘도의 광을 방출하는 칼럼의 픽셀(103)을 초래하도록 예상되는 새로운 목표 전류 값 (
Figure 112015054033667-pct00008
)을 식별할 수 있다. 이를 위해, 디스플레이 장치(100)는, 예를 들어, 값들이 저장되어 있는 룩업 테이블을 조회할 수 있고, 또는 디스플레이 장치는, 예를 들어, 구동 전류의 함수로서 픽셀(103)의 휘도를 모델링하는 수학식을 이용하여 이러한 값을 계산할 수 있다.
그 다음, 디스플레이 장치(100)는 픽셀(103)이 새로운 예상된 목표 전류 값으로 사전에 리프레시되었을 때부터 픽셀(103)에 대한 전류의 차이를 식별할 수 있다. 이러한 관계는 다음과 같이 표현될 수 있다:
Figure 112015054033667-pct00009
ΔItarget(m)이 ΔIm에 치환되는 수학식 3을 이용하면, 픽셀(103)에 의해 나타난 공급 전압의 변화도 식별될 수 있다. 예를 들어, m = i일 때, ΔVi,i = -i × r × ΔItarget(i)이기 때문에,
Figure 112015054033667-pct00010
인 수학식 5로부터 리프레시 이후의 전류의 변화가 구해질 수 있는데, 여기서, VDD(i,i-1)는 해당 픽셀의 리프레시 이전의 위치 i에서의 픽셀에 의해 나타난 공급 전압 라인(109)의 값이다. VDD(i,i-1)는 수학식 2를 사용하고 그 시점의 칼럼의 모든 픽셀의 실제 전력 공급 라인의 값을 대체하여 계산될 수 있고, 또는 칼럼의 연속적인 리프레시에서, VDD(i,i-1)는 매 픽셀마다 룩업 테이블 내에 기록되고 업데이트될 수 있다. 따라서, 픽셀(103)이 리프레시되는 것으로 인한 픽셀(103)에 대한 공급 전압의 변화와 전류의 변화가 식별될 수 있다.
그 다음, 디스플레이 장치(100)는 칼럼 C1-Cy의 다른 픽셀(103)들 각각이 리프레시된 이후에 픽셀(103)에 대한 예상 전류 값의 변화를 식별할 수 있다. 따라서, 칼럼 C1-Cy에 y 픽셀(103)이 있는 경우, 식별되는 예상 전류 값의 y 변화가 있을 수 있다. 이러한 변화를 계산하기 위해, 예를 들어 수학식 4 또는 수학식 5가 사용될 수 있다. 위치 i에서의 픽셀이 리프레시된 후, 회로는
Figure 112015054033667-pct00011
초의 시간 간격 이후의 위치 i+1에서의 픽셀을 계속 업데이트할 수 있는데, 여기서 f는 화면의 리프레시 레이트이다. 픽셀 i+1의 업데이트로 인한 픽셀 i의 VDD 변화는
Figure 112015054033667-pct00012
에 의해 얻어질 수 있고, 픽셀 i+1의 리프레시로 인한 픽셀 i의 전류의 변화는
Figure 112015054033667-pct00013
에 의해 결정될 수 있다. 칼럼의 픽셀이 리프레시를 유지하기 때문에, 업데이트는 이러한 리프레시 사이클의 마지막 픽셀인, 위치 i-1에서의 픽셀에 도달할 때까지 픽셀 n 및 픽셀 1을 통해 계속된다.
다른 픽셀(103)들 각각이 리프레시되는 경우 전류의 변화를 식별할 때, 디스플레이 장치(100)는 전류 변화의 평균을 식별할 수 있다. 이러한 관계는 다음의 수학식을 사용하여, 예를 들면, 전류의 평균으로서 결정될 수 있다:
Figure 112015054033667-pct00014
다음에, 디스플레이 장치(100)는 데이터 라인(116)에 인가될 새로운 휘도 신호에 대한 값을 식별한다. 수학식 7 및 다음의 관계를 사용하여, 픽셀(103)에 대한 VDATA에 대한 값은 다음의 수학식을 해결함으로써 식별될 수 있다:
Figure 112015054033667-pct00015
따라서, 휘도 신호에 대한 값은 픽셀(103)에 대한 IR 강하 및 크로스 토크의 영향을 고려하여 식별될 수 있다. VDATA에 대한 식별된 값은 보정 휘도 신호로서 데이터 라인(116)에 인가될 수 있고, 픽셀(103)은 리프레시될 수 있다. 디스플레이 장치(100)의 모든 픽셀(103)을 리프레시하는 사이클 동안, 픽셀(103)에 대한 평균 전류는 픽셀(103)의 원하는 휘도를 초래하는 목표 전류와 실질적으로 동일할 수 있다. 따라서, 시청자는, 원하는 휘도가 되는 것으로서 픽셀(103)을 시각적으로 인식할 수 있다. 또한, 다른 픽셀(103)은 전술한 바와 유사한 절차를 사용하여 리프레시될 수 있다. 칼럼의 모든 픽셀에 대해 동일한 단계를 반복하는 것은 IR 강하에 대해 전체 칼럼의 픽셀을 보상한다.
따라서, IR 강하와 크로스 토크 보상 방식은, 다음과 같이 예측에 의해 동작한다: 다가오는 데이터 라인 신호를 앞서 봄으로써 각 픽셀의 원하는 휘도를 알게 된다. 해당의 0차 데이터로부터, 공급 라인을 따라 다른 픽셀에 의해 인출된 특정 전류로 인해 각 픽셀에서 발생하는 IR 강하를 추정한다. 해당 정보로부터, 보정 계수가 산출되거나 제공되는데, 이는 일단 데이터 신호에 적용되면 계산된 IR 강하 로 인한 휘도의 변화를 보상한다. 따라서, 이 방식은 원하는 휘도를 근사화하는 평균 픽셀 휘도를 초래한다.
입증을 위해, 도 1에 도시된 것과 같이, AMOLED 디스플레이의 4 픽셀 2T1C 칼럼을 고려한다(즉, y = 4). 공급 전압 라인(109)의 전압이 10V인 것으로 가정하면, 구동 트랜지스터(206)(도 2)의 임계 전압은 -2.4V이고, 게이트 유전체의 면적 정전 용량(C)은 30nF/cm2이고, 트랜지스터의 이동도(μ)는 5cm2/(V*s)이며, 트랜지스터의 채널 폭 대 채널 길이의 비
Figure 112015054033667-pct00016
는 10이며, 이에 따라 다음과 같이 된다:
Figure 112015054033667-pct00017
634μm×211μm의 픽셀 크기(예를 들어, 55", 16:9 화면 비율 및 1920×1080의 해상도 화면에 대한 서브 픽셀 크기), 600cd/m2의 화면 휘도, 10cd/A OLED 효율 및 30%의 개구율에 기초하여, 각 픽셀에 공급된 전류는 8μA로 계산될 수 있다. 4개의 픽셀의 전류와 함께 전압 공급 라인(109) 상의 큰 IR 강하를 설명하기 위하여, 2개의 인접한 픽셀 사이의 공급 전압 라인(109)의 저항을 500Ω이라고 가정한다. 이것은 실제 공급 전압 라인(109)에 비해 비현실적으로 높을 수 있지만, 높은 저항은 픽셀 간의 IR 강하를 강조한다. 수학식 1에서, VDATA는 다음으로부터 6.5672 V가 되도록 결정될 수 있다:
Figure 112015054033667-pct00018
첫째, VDATA = 6.5672 V가 4개 모두의 픽셀에 인가된 보상되지 않은 상황을 고려한다. 공급 전압 라인(109)의 IR 강하로 인해, 각 픽셀에 의해 보여지는 실제 VDD 전압이 상이하게 되는데, 이는 상이한 픽셀 전류를 초래하게 된다. 공급 전압 라인(109) 상의 IR 강하는 픽셀 1을 통하는 전류를 거의 3% 감소시키는 반면, 픽셀 4로의 전류는 7%보다 많이 감소한다. 표 1은 IR 강하로 인한 상이한 값의 예시를 제공한다.
VDD 강하(V) 실제 VDD(V) 실제 픽셀 전류
(μA)		 목표로부터의 편차(%) ΔI_target(μA)
픽셀 1 0.0151383 9.9848617 7.7672646 2.910027474 0.2328042
픽셀 2 0.026393 9.973607 7.5964125 5.045660357 0.4036563
픽셀 3 0.0338495 9.9661505 7.4842656 6.447484552 0.5158032
픽셀 4 0.0375639 9.9624361 7.4287122 7.14189608 0.5713566
이제, 상술한 휘도 보상을 고려한다. 새로운 리프레시 사이클에서 픽셀을 통한 전류의 변화가 고려되기 때문에, 전류의 초기 상태가 규정된다. 초기 전류의 자연 발생적 선택은 보상되지 않은 상황이고, 따라서 어떠한 보상도 없이 픽셀의 칼럼이 사전에 구동되는 것으로 가정한다. 새로운 리프레시 사이클은 픽셀 1의 리프레시로부터 시작된다. 우선, ΔItarget은, 8μA인 새로운 목표 전류와 각 픽셀에 대한 이전 전류 간의 차이로서 수학식 6에 따라 계산될 수 있다. ΔItarget로부터, 모든 ΔVi,i 값이 수학식 3에 기초하여 계산될 수 있다. 그 다음, ΔIi,m이 수학식 5로부터 결정될 수 있다. 그렇게 하기 전에, 수학식 2에 기초할 수 있는 모든 VDD(i,m-1)의 값을 계산하는 것이 유리할 것이다. 모든 파라미터를 이용하여, 수학식 7에 따른 ΔIaverage(i)에 대한 수식이 결정될 수 있고, 각 픽셀에 대한 적절한 VDATA는 수학식 8을 해결함으로써 확인된다. 평균 값은 각 픽셀에 대한 마지막 리프레시 사이클에 기초하여 산출된다. 모든 픽셀에 대하여, 편차는 표 2에 나타낸 바와 같이 0.05%보다 작은 것으로 확인되었다.
계산 과정에서의 근사화로 인해 목표 전류 값과 실제 전류 값 사이의 유한 차이가 있을 것이다. 신호가 안정화되면, 목표 전류 값이 변경되지 않기 때문에, 이러한 차이는 더욱 감소하지 않을 것이다. 예를 들어, 픽셀(3)은 목표 전류가 후속 리프레시 사이클 동안 8μA로 유지되는 경우, 8μA보다는 7.9972μA의 전류를 운반하게 된다. 실제 애플리케이션에서, 이는 편차가 좀 더 인지 가능할 수 있는 정지 이미지를 표시할 때; 이러한 수준의 근사에서 수정되지 않을 수 있는 한정된 에러가 디스플레이에 있을 것이다. 이 경우, 일차 초과의 근사를 고려한 더 정확한 솔루션 또는 심지어 정확한 솔루션이 더 정확한 표시를 달성하기 위해 계산될 수 있다. 이는, 지각의 초점이 편차를 좀 더 인지할 수 있도록 하기 때문에 화면이 정지 이미지를 표시할 때 가장 잘 이루어진다. 또한, 연산 능력 자원은 더 정확한 계산을 수행하기 위해 할당될 수 있다. 한편, 디스플레이가 영화 재생과 같은 모션 픽처를 표시할 때, 지각의 주의력이 분산되어 단일 프레임 내의 한정된 에러가 인식되기 어려운데, 이는 일차 근사를 적합하게 한다. 에러가 적게 필요하고 연산 리소스가 사용 가능한 경우, 2차 이상의 계산이 모션 픽처 디스플레이에도 적용될 수 있다.
픽셀 1 픽셀 2 픽셀 3 픽셀 4
VDATA(V) 6.5516 6.5396 6.5314 6.5272
라인 1의 리프레시 후 픽셀 전류(μA) 8.0054 7.5947 7.4826 7.427
라인 2의 리프레시 후 픽셀 전류(μA) 8.0023 8.0108 7.4766 7.4212
라인 3의 리프레시 후 픽셀 전류(μA) 7.994 7.9941 7.9972 8
라인 4의 리프레시 후 픽셀 전류(μA) 7.994 7.9941 7.9972 8
라인 5의 리프레시 후 픽셀 전류(μA) 7.9941 7.9972 8
라인 6의 리프레시 후 픽셀 전류(μA) 7.9972 8
라인 7의 리프레시 후 픽셀 전류(μA) 8
사이클 동안의 픽셀 전류 평균(μA) 7.998925 7.998275 7.9972 8
목표로부터의 편차(%) 0.0134375 0.0215625 0.035 0
다음에 도 3을 참조하면, 본 개시의 다양한 실시 형태에 따른 디스플레이 장치(100)(도 1)에서 휘도 컨트롤러(300)(도 4)에 의해 구현되는 기능의 예를 도시한 흐름도가 도시된다. 휘도 컨트롤러(300)는 예를 들면, 처리 장치 및/또는 처리 장치에서 실행 가능한 로직을 포함할 수 있다. 도 3의 흐름도가 본원에서 설명된 휘도 컨트롤러(300)의 부분의 동작을 구현하기 위해 사용될 수 있는 많은 다양한 유형의 기능적 배열의 예를 단지 제공하는 것으로 이해된다. 대안으로서, 도 3의 흐름도는 하나 이상의 실시 형태들에 따른 디스플레이 장치(100)에서 구현되는 방법의 단계들의 일례를 묘사한 것으로 볼 수 있다.
박스(303)를 시작으로, 휘도 컨트롤러(300)는 픽셀(103)에 대한 제1 휘도 신호를 식별한다. 제1 휘도 신호는, 예를 들면, 픽셀(103)을 리프레시하기 위해 이전에 사용된 비-보상된 휘도 신호에 대한 값일 수 있다. 다음에, 박스(306)에 도시된 바와 같이, 제1 목표 전류 값이 박스(303)에서 식별된 제1 휘도 신호에 적어도 부분적으로 기초하여 픽셀(103)에 대해 식별된다. 그 다음, 휘도 컨트롤러(300)는 박스(309)로 이동하고, 픽셀(103)에 대한 원하는 휘도에 적어도 부분적으로 기초하여 픽셀(103)에 대한 제2 목표 전류 값을 식별한다. 이를 위해, 휘도 컨트롤러(300)는 예를 들어, 룩업 테이블을 조회하거나 제2 목표 전류 값을 계산할 수 있다. 박스(313)로 이동하면, 휘도 컨트롤러(300)는 제1 목표 전류 값과 제2 목표 전류 값 사이의 차이를 식별한다. 이러한 관계는 상기 수학식 6에 의해 표현된다.
박스(316)에 도시된 바와 같이, 휘도 컨트롤러(300)는 그 다음, 픽셀(103)이 제2 목표 전류 값으로 리프레시되는 것에 응답하여 픽셀(103)에 대한 예상 공급 전압의 변화를 식별한다. 그 다음, 휘도 컨트롤러(300)는 박스(319)로 이동하고, 칼럼 C1-Cy의 다른 픽셀(103)들 각각이 리프레시되는 것으로 인해 픽셀(103)에 대한 예상 전류 값의 변화를 확인한다. 이를 위해, 휘도 컨트롤러(300)는 예를 들어, 상기 수학식 4 또는 수학식 5를 적용할 수 있다. 다음에, 박스(323)에 도시된 바와 같이, 칼럼 C1-Cy의 다른 픽셀(103)들 각각의 리프레시 후에 픽셀(103)에 대한 평균 예상 전류 값이 식별된다. 휘도 컨트롤러(300)는 예를 들어, 평균 예상 전류 값을 식별하고, 이를 칼럼의 각 픽셀(103)에 대한 VDATA와 같이, 제2 휘도 신호의 함수로서 표현하기 위해 상기 수학식 7을 적용할 수 있다.
박스(326)에서, 휘도 컨트롤러(300)는 박스(323)에서 식별된 예상 전류 값에 대해 식별된 평균 변화에 적어도 부분적으로 기초하여 픽셀(103)에 대한 제2 휘도 신호를 식별한다. 이를 위해, 수학식 8은 VDATA와 같이 휘도 신호를 계산하기 위해 사용될 수 있다. 박스(329)에서, 휘도 컨트롤러(300)는 픽셀(103)에 대한 데이터 라인(116)에 제2 휘도 신호를 인가한다. 그 후, 처리를 종료한다. 디스플레이 장치(100)(도 1)의 휘도 컨트롤러(300)(도 4)에 의해 구현되는 기능이, 작업하기 위한 특정 픽셀 회로 설계에 의존하지 않기 때문에, 이는 IR 강하가 픽셀의 칼럼에 영향을 미칠 다양한 회로 설계에 사용될 수 있는 반면, IR 강하로 인해 픽셀들 사이의 상호 작용이 계산될 수 있다. 이는, 전압 프로그래밍 및 전류 프로그래밍 픽셀 회로 모두에서 유효할 수 있다. 이는, 탄소 나노 튜브 활성화 수직 유기 발광 트랜지스터(CN-VOLET) 백플레인과 같은, TFT 백플레인 또는 다른 트랜지스터 활성화 백플레인에 유효할 것이다.
도 4를 참조하면, 본 개시의 다양한 실시 형태에 따른 디스플레이 장치(100)의 일례의 개략 블록도가 도시된다. 디스플레이 장치(100)는 예를 들어, 둘 다 로컬 인터페이스(409)에 결합되는 프로세서(403)와 메모리(406)를 갖는 적어도 하나의 프로세서 회로를 포함한다. 로컬 인터페이스(409)는, 예를 들어, 알 수 있는 바와 같이, 수반된 어드레스/제어 버스 또는 다른 버스 구조를 갖는 데이터 버스를 포함할 수 있다.
메모리(406)에는, 프로세서(403)에 의해 실행될 수 있는 데이터 및 여러 구성 요소가 둘 다 저장되어 있다. 특히, 메모리(406)에 저장되고 프로세서(403)에 의해 실행 가능한 것은 휘도 컨트롤러 애플리케이션(300a), 및 다른 잠재적 애플리케이션일 수 있다. 본원에 논의된 임의의 구성 요소가 소프트웨어의 형태로 구현되는 경우, 예를 들어, C, C++, C#, 오브젝트 C, 자바, 자바스크립트, 펄, PHP, 비주얼 베이직, 파이썬, 루비, 델파이, 플래시, 또는 다른 프로그래밍 언어 등, 다수의 프로그래밍 언어 중 임의의 하나가 이용될 수 있다.
다수의 소프트웨어 구성 요소는 메모리(406)에 저장될 수 있고 프로세서(403)에 의해 실행가능하다. 이러한 측면에서, 용어 "실행가능"은 궁극적으로 프로세서(403)에 의해 실행될 수 있는 형태로 되어 있는 프로그램 파일을 의미한다. 실행 가능 프로그램의 예들은, 예를 들어, 메모리(406)의 랜덤 액세스 부분에 로딩되고 프로세서(403)에 의해 실행될 수 있는 포맷의 머신 코드로 번역될 수 있는 컴파일된 프로그램, 메모리(406)의 랜덤 액세스 부분에 로딩되고 프로세서(403)에 의해 실행될 수 있는 오브젝트 코드와 같은 적절한 형식으로 표현될 수 있는 소스 코드, 또는 프로세서(403) 등에 의해 실행되도록 메모리(406)의 랜덤 액세스 부분에 명령어를 생성하기 위해 다른 실행 가능한 프로그램에 의해 해석될 수 있는 소스 코드일 수 있다. 실행 가능한 프로그램은, 예를 들어 랜덤 액세스 메모리(RAM), 판독 전용 메모리(ROM), 하드 드라이브, 솔리드 스테이트 드라이브, USB 플래시 드라이브, 메모리 카드, 컴팩트 디스크(CD) 또는 디지털 다용도 디스크(DVD) 등의 광 디스크, 플로피 디스크, 자기 테이프, 또는 다른 메모리 구성 요소를 포함하는 메모리(406)의 임의의 부분 또는 구성 요소에 저장될 수 있다.
메모리(406)는 휘발성 및 비 휘발성 메모리 둘 다와 데이터 스토리지 구성 요소를 포함하는 것으로 정의된다. 휘발성 구성 요소는 전력 손실시에 데이터 값을 유지하지 않는 것이다. 비 휘발성 구성 요소는 전력 손실시에 데이터를 유지하는 것이다. 따라서, 메모리(406)는 예를 들어, 랜덤 액세스 메모리(RAM), 판독 전용 메모리(ROM), 하드 디스크 드라이브, 솔리드 스테이트 드라이브, USB 플래시 드라이브, 메모리 카드 리더를 통해 액세스되는 메모리 카드, 관련된 플로피 디스크 드라이브를 통해 액세스되는 플로피 디스크, 광 디스크 드라이브를 통해 액세스되는 광 디스크, 적절한 테이프 드라이브를 통해 액세스되는 자기 테이프, 및/또는 다른 메모리 구성 요소, 또는 이들 메모리 구성 요소 중 임의의 2개 이상의 조합을 포함할 수 있다. 또한, RAM은 예를 들어, 정적 랜덤 액세스 메모리(SRAM), 동적 랜덤 액세스 메모리(DRAM), 또는 자기 랜덤 액세스 메모리(MRAM) 및 그러한 다른 장치를 포함할 수 있다. ROM은, 예를 들어 프로그램 가능 판독 전용 메모리(PROM), 소거 가능한 프로그램 가능 판독 전용 메모리(EPROM), 전기적으로 소거 가능한 프로그램 가능 판독 전용 메모리(EEPROM), 또는 다른 유사한 메모리 장치를 포함할 수 있다.
또한, 프로세서(403)는 다수의 프로세서(403)를 나타낼 수 있고, 메모리(406)는 각각 병렬 처리 회로에서 동작하는 다수의 메모리(406)를 나타낼 수 있다. 이러한 경우, 로컬 인터페이스(409)는, 다수의 프로세서(403) 중 임의의 2개 사이의 통신, 임의의 프로세서(403)와 임의의 메모리(406) 사이의 통신, 또는 메모리(406)들 중 임의의 2개 사이의 통신 등을 용이하게 하는 적절한 네트워크일 수 있다. 로컬 인터페이스(409)는 예를 들면, 부하 분산(load balancing)을 수행하는 것을 포함하는, 이러한 통신을 조정하도록 설계된 추가의 시스템을 포함할 수 있다. 프로세서(403)는 전기적 또는 일부 다른 가능한 구성일 수 있다.
상술한 바와 같이, 본원에 기재된 휘도 컨트롤러(300), 및 다른 다양한 시스템이, 소프트웨어 또는 범용 하드웨어에 의해 실행되는 코드로 구현될 수 있지만, 대안으로서 동일한 것이 전용의 하드웨어 또는 소프트웨어/범용 하드웨어와 전용 하드웨어의 조합으로 구현될 수도 있다. 전용 하드웨어로 구현되는 경우, 각각은 여러 기술들 중 임의의 하나 또는 이들의 조합을 이용하는 회로 또는 상태 머신으로서 구현될 수 있다. 이러한 기술들은 이에 제한되는 것은 아니나, 하나 이상의 데이터 신호들의 인가시에 여러 로직 기능을 구현하기 위한 로직 게이트를 갖는 이산 로직 회로, 적절한 로직 게이트를 갖는 주문형 집적 회로, 또는 다른 구성 요소 등을 포함할 수 있다. 이러한 기술들은, 일반적으로 본 분야의 숙련자들에게 잘 알려져 있고, 결과적으로 본원에서는 상세히 설명되지 않는다.
도 3의 흐름도는 휘도 컨트롤러(300)의 일부의 기능 및 구현의 동작의 예를 나타낸다. 소프트웨어로 구현되는 경우, 각 블록은 특정된 로직적 기능(들)을 구현하는 프로그램 명령들을 포함하는 모듈, 세그먼트 또는 코드의 일부를 나타낼 수 있다. 프로그램 명령은, 프로그래밍 언어로 기입된 인간 판독 가능 명령문을 포함하는 소스 코드, 또는 컴퓨터 시스템 또는 다른 시스템에서의 프로세서(403)와 같은 적절한 실행 시스템에 의해 인식 가능한 수치 명령들을 포함하는 머신 코드의 형태로 구현될 수 있다. 머신 코드는 소스 코드 등으로부터 변환될 수 있다. 하드웨어로 구현되는 경우, 각 블록은 회로 또는 특정된 로직적 기능(들)을 구현하기 위해 다수의 상호 접속된 회로를 나타낼 수 있다.
도 3의 흐름도는 구체적인 순서의 실행을 도시하지만, 이는 실행 순서가 도시된 것과 다를 수 있다는 것이 이해된다. 예를 들어, 2개 이상의 블록들의 실행 순서는 도시된 순서에 대해 스크램블링될 수 있다. 또한, 도 3에 연속하여 도시된 2개 이상의 블록은 동시에 또는 부분적으로 동시에 실행될 수 있다. 또한, 일부 실시 형태에서, 도 3에 도시된 블록 중 하나 이상이 스킵 또는 생략될 수 있다. 또한, 임의의 수의 카운터, 상태 변수, 경고 세마포어(warning semaphores), 또는 메시지는, 향상된 유틸리티, 회계(accounting), 성능 측정, 또는 문제 해결 보조(troubleshooting aids)를 제공하는, 등의 목적을 위해, 본 명세서에 설명된 로직 흐름에 첨가될 수 있다. 그러한 모든 변형이 본 개시의 범위 내에 있다는 것을 이해한다.
또한, 소프트웨어 또는 코드를 포함하는 휘도 컨트롤러 애플리케이션(300a)을 포함하는, 본원에 기술된 임의의 로직 또는 애플리케이션은, 예를 들면, 컴퓨터 시스템 또는 다른 시스템의 프로세서(403)와 같은 명령 실행 시스템에 사용하기 위한 또는 이와 관련되어 있는 임의의 비-일시적인 컴퓨터 판독 가능 매체에서 구현될 수 있다. 이러한 의미에서, 로직은 예를 들어, 컴퓨터 판독 가능 매체로부터 페치되고 명령 실행 시스템에 의해 실행될 수 있는 명령 및 선언을 포함하는 스테이트먼트를 포함할 수 있다. 본 개시의 맥락에서, "컴퓨터 판독 가능 매체"는 명령어 실행 시스템에 사용하기 위한 또는 이와 관련되어 있는 본 명세서에 기재된 로직 또는 프로그램을 포함, 저장 또는 유지할 수 있는 임의의 매체일 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 매체는, 예를 들어, 자기, 광학, 또는 반도체 매체 등의, 많은 물리적 매체 중 어느 하나를 포함할 수 있다. 적합한 컴퓨터 판독 가능 매체의 보다 구체적인 예는, 이에 한정되지는 않지만, 자기 테이프, 자기 플로피 디스켓, 자기 하드 드라이브, 메모리 카드, 솔리드 스테이트 드라이브, USB 플래시 드라이브, 또는 광학 디스크를 포함한다. 또한, 컴퓨터 판독 가능 매체는 예를 들어, 정적 랜덤 액세스 메모리(SRAM)와 동적 랜덤 액세스 메모리(DRAM), 또는 자기 랜덤 액세스 메모리(MRAM)를 포함하는 랜덤 액세스 메모리(RAM)일 수 있다. 또한, 컴퓨터 판독 가능 매체는, 판독 전용 메모리(ROM), 프로그램 가능 판독 전용 메모리(PROM), 소거 가능한 프로그램 가능 판독 전용 메모리(EPROM), 전기적 소거 가능한 프로그램 가능 판독 전용 메모리(EEPROM), 또는 다른 유형의 메모리 장치일 수 있다.
본 개시의 실시 형태는, 이에 한정되지는 않지만, 디스플레이 장치에서, 동일한 공급 전압 라인에 의해 공급되는 복수의 다른 픽셀에 의해 인출되는 복수의 전류에 적어도 부분적으로 기초하여 디스플레이 장치의 픽셀에 대한 IR 전압 강하 효과를 식별하는 단계, 및 디스플레이 장치에서, IR 전압 강하 효과에 적어도 부분적으로 기초하여 픽셀에 대한 휘도 신호를 생성하는 단계를 포함하는데, 여기서 휘도 신호는 IR 전압 강하 효과를 보상한다. 다른 실시 형태는, 디스플레이 장치에서, 장면에 적합한 필수 픽셀 휘도로 장면의 다음 특정 프레임을 표시하는 데 필요한 동일한 공급 전압 라인에 의해 공급된 모든 픽셀에 의해 인출될 특정 전류로 인한 각 픽셀에 대한 IR 전압 강하의 값을 계산하는 단계, 및 그 계산에 기초한 IR 전압 강하를 보상하는 데이터 라인 신호를 각 픽셀에 제공함으로써 장면의 특정 프레임에 적합한 필수 인지된 픽셀 휘도를 보장하는 단계를 포함하는 방법을 포함한다.
휘도 신호는, 다른 복수의 픽셀이 리프레시되는 것에 대응하여 픽셀에 대한 복수의 전류 값의 평균에 적어도 부분적으로 기초할 수 있다. 휘도 신호는 전압 및/또는 전류일 수 있다. 픽셀(들)은 유기 발광 다이오드(OLED)를 포함할 수 있다. 디스플레이 장치는 능동 매트릭스 유기 발광 다이오드(AMOLED) 패널을 포함할 수 있다. 픽셀은 수직 발광 트랜지스터를 포함할 수 있다. 픽셀은 능동 매트릭스 발광 트랜지스터 패널을 포함할 수 있다. 특정 픽셀의 순간 휘도는, 공급 전압 라인을 공유하는 다른 픽셀이 리프레시됨에 따라 변경될 수 있는 반면, 계산에 기초하여 데이터 라인 신호에 의해 설정된 특정 픽셀의 평균의 인지된 휘도가 장면의 특정 프레임에 적합하다.
또한, 본 개시의 상기 실시 형태는 개시의 원리의 명확한 이해를 위해 제시된 구현의 단지 가능한 예임을 강조한다. 많은 변형 및 변경이 본 개시의 사상 및 원리로부터 실질적으로 벗어나지 않고 상기 실시 형태(들)에 대해 이루어질 수 있다. 예를 들어, 본 개시의 양태는 다른 픽셀 아키텍처의 구현에 사용될 수 있다. 예를 들어, 본 개시의 양태들은, 둘 다 본원에 전체적으로 참고로 인용되는, 2008년 9월 10일 출원된 "NANOTUBE ENABLED, GATE-VOLTAGE CONTROLLED LIGHT EMITTING DIODES" 제하의 미국 특허 8,232,561호, 및 2011년 7월 12일에 출원된 "ACTIVE MATRIX DILUTE SOURCE ENABLED VERTICAL ORGANIC LIGHT EMITTING TRANSISTOR" 제하의 WIPO 공보 WO/2012/078759호에 설명된 것과 같은 통합 드라이브 트랜지스터 및 발광 소자, 또는 IR 강하 및 크로스 토크를 겪는 임의의 대안적 픽셀 디자인을 사용하는 능동 매트릭스 디스플레이에 사용될 수 있다. 이러한 모든 수정 및 변형은 여기에 포함되는 것으로 의도된다.

Claims (20)

  1. 방법으로서,
    디스플레이 장치에서, 상기 디스플레이 장치의 공급 전압 라인에 의해 공급된 복수의 픽셀 중 한 픽셀에 대한 IR 전압 강하 효과를 식별하는 단계 - 상기 IR 전압 강하 효과는 상기 공급 전압 라인에 의해 공급된 상기 복수의 픽셀 중 다른 픽셀들에 의해 인출된 전류에 적어도 부분적으로 기초함 -; 및
    상기 디스플레이 장치에서, 상기 IR 전압 강하 효과에 적어도 부분적으로 기초하여 상기 한 픽셀에 대한 휘도 신호를 생성하는 단계를 포함하며,
    상기 휘도 신호는 상기 한 픽셀에 대한 상기 IR 전압 강하 효과를 보상하고, 상기 휘도 신호는 또한 상기 다른 픽셀들이 리프레시되는 것에 응답하여 상기 한 픽셀과 연관된 복수의 전류 값의 평균에 적어도 부분적으로 기초하는, 방법.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서,
    상기 한 픽셀은 유기 발광 다이오드(OLED)를 포함하는, 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 디스플레이 장치는 능동 매트릭스 유기 발광 다이오드(AMOLED) 패널을 포함하는, 방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 한 픽셀은 수직 발광 트랜지스터를 포함하는, 방법.
  6. 제1항에 있어서,
    능동 매트릭스 발광 트랜지스터 패널이 상기 한 픽셀을 포함하는, 방법.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 휘도 신호는 전압인, 방법.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 휘도 신호는 전류인, 방법.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 픽셀은 상기 디스플레이 장치의 픽셀들의 매트릭스의 칼럼 내에 있는, 방법.
  10. 능동 매트릭스 디스플레이를 구동하는 방법으로서,
    디스플레이 장치에서, 공통 공급 전압 라인에 의해 공급된 복수의 픽셀에 대응하는 IR 전압 강하의 값들을 계산하는 단계 - 상기 IR 전압 강하는 장면의 프레임을 표시하기 위해 상기 복수의 픽셀에 의해 인출된 전류로 인한 것이고, 상기 복수의 픽셀 중 특정 픽셀의 순간 휘도는 상기 복수의 픽셀 중 다른 픽셀들이 리프레시됨에 따라 변화됨 -; 및
    상기 IR 전압 강하를 보상하는 데이터 라인 신호를 상기 복수의 픽셀 각각에 제공하는 단계를 포함하고,
    상기 데이터 라인 신호는 상기 값들 중 적어도 일부 및 상기 장면의 상기 프레임의 표시에 대응하는 픽셀 휘도에 적어도 부분적으로 기초하는, 방법.
  11. 삭제
  12. 제10항에 있어서,
    상기 픽셀 휘도는 상기 다른 픽셀들 각각이 리프레시됨에 따른 상기 순간 휘도의 변화에 기초한 규정된 시간 간격의 평균 픽셀 휘도인, 방법.
  13. 제10항에 있어서,
    상기 복수의 픽셀은 픽셀들의 매트릭스의 칼럼 내에 있는, 방법.
  14. 제10항에 있어서,
    상기 프레임은 상기 장면의 일련의 프레임들의 다음 프레임인, 방법.
  15. 디스플레이 장치로서,
    공통 공급 전압 라인에 의해 공급되는 픽셀들의 라인들을 포함하는 픽셀들의 매트릭스; 및
    휘도 컨트롤러를 포함하고, 상기 휘도 컨트롤러는,
    픽셀들의 상기 라인들 중 한 라인의 픽셀에 대한 IR 전압 강하 효과를 결정하고 - 상기 IR 전압 강하 효과는 상기 한 라인의 다른 픽셀들에 의해 인출된 전류에 적어도 부분적으로 기초함 -;
    상기 IR 전압 강하 효과 및 상기 픽셀과 연관된 평균 픽셀 휘도에 적어도 부분적으로 기초하여 상기 픽셀에 대한 휘도 신호를 생성하도록 구성되고, 상기 평균 픽셀 휘도는 상기 한 라인의 상기 다른 픽셀들의 리프레시 사이클 동안 상기 픽셀에 대한 복수의 전류 값과 연관되는, 디스플레이 장치.
  16. 제15항에 있어서,
    픽셀들의 상기 매트릭스를 포함하는 능동 매트릭스 유기 발광 다이오드(AMOLED) 패널을 포함하는, 디스플레이 장치.
  17. 제15항에 있어서,
    픽셀들의 상기 라인들은 픽셀들의 상기 매트릭스의 칼럼들인, 디스플레이 장치.
  18. 제15항에 있어서,
    상기 픽셀은 수직 발광 트랜지스터를 포함하는, 디스플레이 장치.
  19. 제15항에 있어서,
    상기 픽셀은 상기 휘도 신호에 적어도 부분적으로 기초하여 발광 장치를 통해 흐르는 전류량을 제어하도록 구성된 구동 트랜지스터를 포함하는, 디스플레이 장치.
  20. 제15항에 있어서,
    상기 휘도 컨트롤러는 상기 디스플레이 장치의 처리 회로에 의해 실행 가능한 애플리케이션을 포함하는, 디스플레이 장치.
KR1020157014913A 2012-11-05 2013-11-05 디스플레이의 휘도 보상 KR102084288B1 (ko)

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