KR100885388B1 - 이배속 데이터, 다중-비트 기록을 위한 데이터 스트로브 동기화 회로 및 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (81)
- 데이터 스트로브 회로(data strobe circuit)에 있어서,글로벌 데이터 스트로브 신호 및 제 1 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합되고, 상기 제 1 인에이블 신호가 액티브일 때 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 제 1 데이터 스트로브 신호를 생성하는 제 1 논리 회로;상기 글로벌 데이터 스트로브 신호 및 제 2 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합되고, 상기 제 2 인에이블 신호가 액티브일 때 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 제 2 데이터 스트로브 신호를 생성하는 제 2 논리 회로; 및상기 제 1 및 제 2 논리 회로들에 결합된 제어 회로로서, 상기 제어 회로는 기록 제어 신호를 수신하며, 상기 제어 회로는 액티브 제 1 인에이블 신호를 생성하고 상기 액티브 제 1 인에이블 신호를 생성한 후 액티브 기록 제어 신호를 수신하는 것에 응답하여 액티브 제 2 인에이블 신호를 생성하도록 동작가능한, 상기 제어 회로를 포함하는, 데이터 스트로브 회로.
- 제 1 항에 있어서, 상기 제어 회로는 상기 액티브 제 2 인에이블 신호가 생성될 때 인액티브 제 1 인에이블 신호(inactive first enable signal)를 생성하도록 동작가능한, 데이터 스트로브 회로.
- 제 1 항에 있어서, 상기 제어 회로는:플립-플롭의 제어 입력에 인가되는 신호의 전이에 응답하여 설정되거나 재설정되는 상기 플립-플롭으로서, 상기 플립-플롭은 상기 제 1 논리 회로의 인에이블 입력에 결합된 제 1 출력 및 상기 제 2 논리 회로의 인에이블 입력에 결합된 제 2 출력을 갖고, 상기 제 1 및 제 2 출력은 상기 플립-플롭이 설정되는지 또는 재설정되는지의 각각에 따라 상기 제 1 논리 회로 또는 상기 제 2 논리 회로 중 하나가 인에이블되도록 서로에 대해 상보적인, 상기 플립-플롭; 및상기 플립-플롭의 제어 입력에 결합된 출력을 갖는 논리 게이트로서, 상기 논리 게이트는 상기 제 1 데이터 스트로브 신호 및 상기 기록 제어 신호를 수신하고, 상기 제 1 데이터 스트로브 신호가 상기 플립-플롭을 설정하거나 또는 재설정하도록 상기 기록 제어 신호가 액티브일 때 상기 논리 게이트가 인에이블되는, 상기 논리 게이트를 포함하는, 데이터 스트로브 회로.
- 제 3 항에 있어서, 상기 플립-플롭의 상기 제어 입력은 상기 플립-플롭으로의 클럭 입력을 포함하여, 상기 클럭 입력에 인가되는 신호가 상기 플립-플롭을 토글(toggle)함으로써 상기 플립-플롭을 설정하거나 재설정하도록 하는, 데이터 스트로브 회로.
- 제 3 항에 있어서, 상기 플립-플롭의 상기 제어 입력에 인가되는 상기 신호의 전이는 상기 플립-플롭을 설정하고, 상기 데이터 스트로브 회로는 상기 플립-플롭의 입력을 재설정하기 위해 결합된 출력을 갖는 논리 게이트를 더 포함하며, 상기 논리 게이트는 상기 제 2 데이터 스트로브 신호가 상기 플립-플롭을 재설정하도록 상기 제 2 데이터 스트로브 신호를 수신하는, 데이터 스트로브 회로.
- 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들 각각은 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들을 인에이블하거나 디스에이블하도록 하는 제 2 인에이블 입력을 더 포함하고, 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들의 상기 제 2 인에이블 입력은 데이터 스트로브 기록 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합되는, 데이터 스트로브 회로.
- 데이터 단자에 인가되는 데이터 신호를 샘플링하기 위한 데이터 샘플링 회로에 있어서,상기 데이터 단자에 결합된 데이터 입력을 각각 갖는 다수의 데이터 캡쳐 회로들로서, 상기 데이터 캡쳐 회로들 각각은 데이터 스트로브 신호에 응답하여 상기 데이터 단자에 인가되는 데이터를 샘플링하기 위한 각각의 데이터 스트로브 신호를 수신하기 위해 결합된 클럭 입력을 더 포함하는, 상기 데이터 캡쳐 회로들; 및글로벌 데이터 스트로브 신호 및 기록 제어 신호를 수신하는 데이터 스트로브 입력 회로로서, 상기 데이터 스트로브 입력 회로는 액티브인 상기 기록 제어 신호에 응답하여 상기 데이터 캡쳐 회로들 중 연속적인 회로들의 상기 클럭 입력들에 인가되는 연속적인 데이터 스트로브 신호들을 생성하도록 동작가능한, 상기 데이터 스트로브 입력 회로를 포함하는, 데이터 샘플링 회로.
- 제 7 항에 있어서, 상기 데이터 캡쳐 회로들 각각은 플립-플롭을 포함하는, 데이터 샘플링 회로.
- 제 7 항에 있어서, 상기 데이터 스트로브 입력 회로는:상기 글로벌 데이터 스트로브 신호 및 제 1 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합된 제 1 논리 회로로서, 상기 제 1 논리 회로는 상기 제 1 인에이블 신호가 액티브일 때 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 제 1 및 제 2 데이터 스트로브 신호들을 생성하고, 상기 제 1 데이터 스트로브 신호는 제 1 데이터 캡쳐 회로들의 클럭 입력에 인가되고, 상기 제 2 데이터 스트로브 신호는 제 2 데이터 캡쳐 회로들의 클럭 입력에 인가되는, 상기 제 1 논리 회로;상기 글로벌 데이터 스트로브 신호 및 제 2 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합된 제 2 논리 회로로서, 상기 제 2 논리 회로는 상기 제 2 인에이블 신호가 액티브일 때 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 제 3 및 제 4 데이터 스트로브 신호들을 생성하고, 상기 제 3 데이터 스트로브 신호는 제 3 데이터 캡쳐 회로들의 클럭 입력에 인가되고, 상기 제 4 데이터 스트로브 신호는 제 4 데이터 캡쳐 회로들의 클럭 입력에 인가되는, 상기 제 2 논리 회로; 및상기 제 1 및 제 2 논리 회로들에 결합된 제어 회로로서, 상기 제어 회로는 상기 기록 제어 신호를 수신하며, 상기 제어 회로는 액티브 기록 제어 신호를 수신하는 것에 응답하여 액티브 제 1 인에이블 신호를 생성하고 상기 액티브 제 1 인에이블 신호를 생성한 후 액티브 제 2 인에이블 신호를 생성하도록 동작가능한, 상기 제어 회로를 포함하는, 데이터 샘플링 회로.
- 제 9 항에 있어서, 상기 제어 회로는 상기 액티브 제 2 인에이블 신호를 생성하는 것에 응답하여 인액티브 제 1 인에이블 신호를 생성하도록 동작가능한, 데이터 샘플링 회로.
- 제 9 항에 있어서, 상기 제어 회로는:플립-플롭의 제어 입력에 인가되는 신호의 전이에 응답하여 설정되거나 재설정되는 상기 플립-플롭으로서, 상기 플립-플롭은 상기 제 1 논리 회로의 인에이블 입력에 결합된 제 1 출력 및 상기 제 2 논리 회로의 인에이블 입력에 결합된 제 2 출력을 갖고, 상기 제 1 및 제 2 출력은 상기 플립-플롭이 설정되는지 또는 재설정되는지의 각각에 따라 상기 제 1 논리 회로 또는 상기 제 2 논리 회로 중 하나가 인에이블되도록 서로 상보적인, 상기 플립-플롭; 및상기 플립-플롭의 제어 입력에 결합된 출력을 갖는 논리 게이트로서, 상기 논리 게이트는 상기 제 1 데이터 스트로브 신호 및 상기 기록 제어 신호를 수신하고, 상기 제 1 데이터 스트로브 신호가 상기 플립-플롭을 설정하거나 재설정하도록 상기 기록 제어 신호가 액티브될 때 상기 논리 게이트가 인에이블되는, 상기 논리 게이트를 포함하는, 데이터 샘플링 회로.
- 제 11 항에 있어서, 상기 플립-플롭의 제어 입력은 상기 플립-플롭으로의 클럭 입력을 포함하여, 상기 클럭 입력에 인가되는 신호가 상기 플립-플롭을 토글함으로써 상기 플립-플롭을 설정하거나 재설정하도록 하는, 데이터 샘플링 회로.
- 제 11 항에 있어서, 상기 플립-플롭의 제어 입력에 인가되는 상기 신호의 전이는 상기 플립-플롭을 설정하고, 상기 데이터 스트로브 회로는 상기 플립-플롭의 입력을 재설정하도록 결합된 출력을 갖는 논리 게이트를 더 포함하며, 상기 논리 게이트는 상기 제 2 데이터 스트로브 신호가 상기 플립-플롭을 재설정하도록 상기 제 2 데이터 스트로브 신호를 수신하는, 데이터 샘플링 회로.
- 제 9 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들 각각은 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들을 인에이블하거나 디스에이블하도록 하는 제 2 인에이블 입력을 더 포함하고, 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들의 상기 제 2 인에이블 입력은 데이터 스트로브 기록 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합되는, 데이터 샘플링 회로.
- 제 7 항에 있어서, 제 1 및 제 2 데이터 스트로브 신호들은 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 생성된 제 1 펄스의 리딩(leading) 및 트레일링(trailing) 에지들 각각을 포함하고, 제 3 및 제 4 데이터 스트로브 신호들은 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 생성된 제 2 펄스의 리딩 및 트레일링 에지들 각각을 포함하는, 데이터 샘플링 회로.
- 메모리 장치에 있어서,외부 단자에 인가되는 행 어드레스 신호들을 수신하고 행 어드레스를 제공하기 위해 상기 행 어드레스 신호들을 디코딩하도록 동작가능한 행 어드레스 회로;외부 단자에 인가되는 열 어드레스 신호들을 수신하고 열 어드레스를 제공하기 위해 상기 열 어드레스 신호들을 디코딩하도록 동작가능한 열 어드레스 회로;상기 행 어드레스 및 상기 열 어드레스에 의해 결정된 위치에서 어레이에 기록되거나 상기 어레이로부터 판독되는 데이터를 저장하도록 동작가능한 메모리 셀들의 적어도 하나의 어레이;상기 적어도 하나의 어레이와 외부 데이터 단자 사이의 데이터에 대응하는 데이터 신호들을 결합하도록 동작가능한 데이터 경로 회로;외부 단자에 인가되는 명령 신호들에 대응하는 제어 신호들의 시퀀스를 생성하도록 동작가능한 명령 신호 생성기; 및상기 메모리 장치의 컴포넌트에 결합된 데이터 스트로브 회로를 포함하며,상기 데이터 스트로브 회로는:글로벌 데이터 스트로브 신호 및 제 1 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합되고, 상기 제 1 인에이블 신호가 액티브일 때 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 제 1 데이터 스트로브 신호를 생성하는 제 1 논리 회로;상기 글로벌 데이터 스트로브 신호 및 제 2 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합되고, 상기 제 2 인에이블 신호가 액티브일 때 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 제 2 데이터 스트로브 신호를 생성하는 제 2 논리 회로; 및상기 제 1 및 제 2 논리 회로들에 결합된 제어 회로로서, 상기 제어 회로는 기록 제어 신호를 수신하며, 상기 제어 회로는 액티브 제 1 인에이블 신호를 생성하고 상기 액티브 제 1 인에이블 신호를 생성한 후 액티브 기록 제어 신호를 수신하는 것에 응답하여 액티브 제 2 인에이블 신호를 생성하도록 동작가능한, 상기 제어 회로를 포함하는, 메모리 장치.
- 제 16 항에 있어서, 상기 데이터 스트로브 회로는 상기 제 1 및 제 2 데이터 스트로브 신호들이 상기 외부 데이터 단자에 결합된 기록 데이터를 샘플링하기 위해 사용될 수 있도록 상기 데이터 경로 회로에 결합되는, 메모리 장치.
- 제 16 항에 있어서, 상기 제어 회로는 상기 액티브 제 2 인에이블 신호가 생성될 때 인액티브 제 1 인에이블 신호를 생성하도록 동작가능한, 메모리 장치.
- 제 16 항에 있어서, 상기 제어 회로는:플립-플롭의 제어 입력에 인가되는 신호의 전이에 응답하여 설정되거나 재설정되는 상기 플립-플롭으로서, 상기 플립-플롭은 상기 제 1 논리 회로의 인에이블 입력에 결합된 제 1 출력 및 상기 제 2 논리 회로의 인에이블 입력에 결합된 제 2 출력을 갖고, 상기 제 1 및 제 2 출력은 상기 플립-플롭이 설정되는지 또는 재설정되는지의 각각에 따라 상기 제 1 논리 회로 또는 상기 제 2 논리 회로 중 하나가 인에이블되도록 서로 상보적인, 상기 플립-플롭; 및상기 플립-플롭의 제어 입력에 결합된 출력을 갖는 논리 게이트로서, 상기 논리 게이트는 상기 제 1 데이터 스트로브 신호 및 상기 기록 제어 신호를 수신하며, 상기 제 1 데이터 스트로브 신호가 상기 플립-플롭을 설정하거나 재설정하도록 상기 기록 제어 신호가 액티브될 때 상기 논리 게이트가 인에이블되는, 상기 논리 게이트를 포함하는, 메모리 장치.
- 제 19 항에 있어서, 상기 플립-플롭의 제어 입력은 상기 플립-플롭으로의 클럭 입력을 포함하여, 상기 클럭 입력에 인가되는 신호가 상기 플립-플롭을 토글함으로써 상기 플립-플롭을 설정하거나 재설정하도록 하는, 메모리 장치.
- 제 19 항에 있어서, 상기 플립-플롭의 제어 입력에 인가되는 상기 신호의 전이는 상기 플립-플롭을 설정하고, 상기 데이터 스트로브 회로는 상기 플립-플롭의 입력을 재설정하도록 결합된 출력을 갖는 논리 게이트를 더 포함하며, 상기 논리 게이트는 상기 제 2 데이터 스트로브 신호가 상기 플립-플롭을 재설정하도록 상기 제 2 데이터 스트로브 신호를 수신하는, 메모리 장치.
- 제 16 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들 각각은 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들을 인에이블하거나 디스에이블하도록 하는 제 2 인에이블 입력을 더 포함하고, 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들의 상기 제 2 인에이블 입력은 데이터 스 트로브 기록 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합되는, 메모리 장치.
- 제 16 항에 있어서, 상기 메모리 장치는 동적 랜덤 액세스 메모리 장치를 포함하는, 메모리 장치.
- 제 16 항에 있어서, 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호는 상기 메모리 장치의 외부적으로 액세스 가능한 단자에 인가되는, 메모리 장치.
- 클럭 신호와 동기하여 동작하는 메모리 장치에 있어서,외부 단자에 인가되는 행 어드레스 신호들을 수신하고 행 어드레스를 제공하기 위해 상기 행 어드레스 신호들을 디코딩하도록 동작가능한 행 어드레스 회로;외부 단자에 인가되는 열 어드레스 신호들을 수신하고 열 어드레스를 제공하기 위해 상기 열 어드레스 신호들을 디코딩하도록 동작가능한 열 어드레스 회로;상기 행 어드레스 및 상기 열 어드레스에 의해 결정된 위치에서 어레이에 기록되거나 상기 어레이로부터 판독되는 데이터를 저장하도록 동작가능한 메모리 셀들의 적어도 하나의 어레이;상기 적어도 하나의 어레이와 외부 데이터 단자 사이의 데이터에 대응하는 데이터 신호들을 결합하도록 동작가능한 데이터 경로 회로로서,상기 외부 데이터 단자에 결합된 데이터 입력을 각각 갖는 다수의 데이터 캡쳐 회로들로서, 상기 데이터 캡쳐 회로들 각각은 데이터 스트로브 신호에 응답하여 상기 외부 데이터 단자에 인가되는 데이터를 샘플링하기 위한 각각의 데이터 스트로브 신호를 수신하기 위해 결합된 클럭 입력을 더 포함하는, 상기 데이터 캡쳐 회로들; 및글로벌 데이터 스트로브 신호 및 기록 제어 신호를 수신하는 데이터 스트로브 입력 회로로서, 상기 데이터 스트로브 입력 회로는 액티브인 상기 기록 제어 신호에 응답하여 상기 데이터 캡쳐 회로들 중 연속적인 회로들의 상기 클럭 입력들에 인가되는 연속적인 데이터 스트로브 신호들을 생성하도록 동작가능한, 상기 데이터 스트로브 입력 회로를 포함하는 기록 데이터 경로를 포함하는, 상기 데이터 경로 회로; 및외부 명령 단자에 인가되는 명령 신호들에 대응하는 제어 신호들의 시퀀스를 생성하도록 동작가능한 명령 신호 생성기를 포함하는, 메모리 장치.
- 제 25 항에 있어서, 상기 기록 제어 신호는 데이터를 상기 메모리 셀들의 어레이에 내부적으로 기록하기 전에 미리 결정된 수의 클럭 신호 기간들이 생성된 기록 신호를 포함하는, 메모리 장치.
- 제 25 항에 있어서, 상기 데이터 캡쳐 회로들 각각은 플립-플롭을 포함하는, 메모리 장치.
- 제 25 항에 있어서, 상기 데이터 스트로브 입력 회로는:상기 글로벌 데이터 스트로브 신호 및 제 1 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합된 제 1 논리 회로로서, 상기 제 1 논리 회로는 상기 제 1 인에이블 신호가 액티브일 때 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 제 1 및 제 2 데이터 스트로브 신호들을 생성하고, 상기 제 1 데이터 스트로브 신호는 제 1 데이터 캡쳐 회로들의 클럭 입력에 인가되고, 상기 제 2 데이터 스트로브 신호는 제 2 데이터 캡쳐 회로들의 클럭 입력에 인가되는, 상기 제 1 논리 회로;상기 글로벌 데이터 스트로브 신호 및 제 2 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합된 제 2 논리 회로로서, 상기 제 2 논리 회로는 상기 제 2 인에이블 신호가 액티브일 때 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 제 3 및 제 4 데이터 스트로브 신호들을 생성하고, 상기 제 3 데이터 스트로브 신호는 제 3 데이터 캡쳐 회로들의 클럭 입력에 인가되고, 상기 제 4 데이터 스트로브 신호는 제 4 데이터 캡쳐 회로들의 클럭 입력에 인가되는, 상기 제 2 논리 회로; 및상기 제 1 및 제 2 논리 회로들에 결합된 제어 회로로서, 상기 제어 회로는 기록 제어 신호를 수신하며, 상기 제어 회로는 액티브 기록 제어 신호를 수신하는 것에 응답하여 액티브 제 1 인에이블 신호를 생성하고 상기 액티브 제 1 인에이블 신호를 생성한 후 액티브 제 2 인에이블 신호를 생성하도록 동작가능한, 상기 제어 회로를 포함하는, 메모리 장치.
- 제 28 항에 있어서, 상기 제어 회로는 상기 액티브 제 2 인에이블 신호를 생 성하는 것에 응답하여 인액티브 제 1 인에이블 신호를 생성하도록 동작가능한, 메모리 장치.
- 제 28 항에 있어서, 상기 제어 회로는:플립-플롭의 제어 입력에 인가되는 신호의 전이에 응답하여 설정되거나 재설정되는 상기 플립-플롭으로서, 상기 플립-플롭은 상기 제 1 논리 회로의 인에이블 입력에 결합된 제 1 출력 및 상기 제 2 논리 회로의 인에이블 입력에 결합된 제 2 출력을 갖고, 상기 제 1 및 제 2 출력은 상기 플립-플롭이 설정되는지 또는 재설정되는지의 각각에 따라 상기 제 1 논리 회로 또는 상기 제 2 논리 회로 중 하나가 인에이블되도록 서로 상보적인, 상기 플립-플롭; 및상기 플립-플롭의 제어 입력에 결합된 출력을 갖는 논리 게이트로서, 상기 논리 게이트는 상기 제 1 데이터 스트로브 신호 및 상기 기록 제어 신호를 수신하며, 상기 제 1 데이터 스트로브 신호가 상기 플립-플롭을 설정하거나 재설정하도록 상기 기록 제어 신호가 액티브될 때 상기 논리 게이트가 인에이블되는, 상기 논리 게이트를 포함하는, 메모리 장치.
- 제 30 항에 있어서, 상기 플립-플롭의 상기 제어 입력은 상기 플립-플롭으로의 클럭 입력을 포함하여, 상기 클럭 입력에 인가되는 신호가 상기 플립-플롭을 토글함으로써 상기 플립-플롭을 설정하거나 재설정하도록 하는, 메모리 장치.
- 제 30 항에 있어서, 상기 플립-플롭의 제어 입력에 인가되는 상기 신호의 전이는 상기 플립-플롭을 설정하고, 상기 데이터 스트로브 회로는 상기 플립-플롭의 입력을 재설정하도록 결합된 출력을 갖는 논리 게이트를 더 포함하며, 상기 논리 게이트는 상기 제 2 데이터 스트로브 신호가 상기 플립-플롭을 재설정하도록 상기 제 2 데이터 스트로브 신호를 수신하는, 메모리 장치.
- 제 28 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들 각각은 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들을 인에이블하거나 디스에이블하도록 하는 제 2 인에이블 입력을 더 포함하고, 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들의 제 2 인에이블 입력은 데이터 스트로브 기록 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합되는, 메모리 장치.
- 제 25 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 데이터 스트로브 신호들은 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 생성된 제 1 펄스의 리딩 및 트레일링 에지들 각각을 포함하고, 상기 제 3 및 제 4 데이터 스트로브 신호들은 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 생성된 제 2 펄스의 리딩 및 트레일링 에지들 각각을 포함하는, 메모리 장치.
- 제 25 항에 있어서, 상기 동기 메모리 장치는 동기식 동적 랜덤 액세스 메모리 장치를 포함하는, 메모리 장치.
- 제 25 항에 있어서, 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호는 상기 메모리 장치의 외부적으로 액세스 가능한 단자에 인가되는, 메모리 장치.
- 컴퓨터 시스템에 있어서,프로세서 버스를 갖는 프로세서;데이터가 상기 컴퓨터 시스템에 입력되게 하도록 적응된 상기 프로세서 버스를 통해 상기 프로세서에 결합된 입력 장치;데이터가 상기 컴퓨터 시스템으로부터 출력되게 하도록 적응된 상기 프로세서 버스를 통해 상기 프로세서에 결합된 출력 장치; 및데이터가 저장되게 하도록 적응된 상기 프로세서 버스에 결합된 메모리 장치를 포함하며,상기 메모리 장치는:외부 단자에 인가되는 행 어드레스 신호들을 수신하고 행 어드레스를 제공하기 위해 상기 행 어드레스 신호들을 디코딩하도록 동작가능한 행 어드레스 회로;외부 단자에 인가되는 열 어드레스 신호들을 수신하고 열 어드레스를 제공하기 위해 상기 열 어드레스 신호들을 디코딩하도록 동작가능한 열 어드레스 회로;상기 행 어드레스 및 상기 열 어드레스에 의해 결정된 위치에서 어레이에 기록되거나 상기 어레이로부터 판독되는 데이터를 저장하도록 동작가능한 메모리 셀들의 적어도 하나의 어레이;상기 적어도 하나의 어레이와 외부 데이터 단자 사이의 데이터에 대응하는 데이터 신호들을 결합하도록 동작가능한 데이터 경로 회로;외부 단자에 인가되는 명령 신호들에 대응하는 제어 신호들의 시퀀스를 생성하도록 동작가능한 명령 신호 생성기; 및상기 메모리 장치의 컴포넌트에 결합된 데이터 스트로브 회로를 포함하며,상기 데이터 스트로브 회로는:글로벌 데이터 스트로브 신호 및 제 1 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합되고, 상기 제 1 인에이블 신호가 액티브일 때 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 제 1 데이터 스트로브 신호를 생성하는 제 1 논리 회로;상기 글로벌 데이터 스트로브 신호 및 제 2 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합되고, 상기 제 2 인에이블 신호가 액티브일 때 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 제 2 데이터 스트로브 신호를 생성하는 제 2 논리 회로; 및상기 제 1 및 제 2 논리 회로들에 결합된 제어 회로로서, 상기 제어 회로는 기록 제어 신호를 수신하며, 상기 제어 회로는 액티브 제 1 인에이블 신호를 생성하고 상기 액티브 제 1 인에이블 신호를 생성한 후 액티브 기록 제어 신호를 수신하는 것에 응답하여 액티브 제 2 인에이블 신호를 생성하도록 동작가능한, 상기 제어 회로를 포함하는, 컴퓨터 시스템.
- 제 37 항에 있어서, 상기 데이터 스트로브 회로는 상기 제 1 및 제 2 데이터 스트로브 신호들이 상기 외부 데이터 단자에 결합된 기록 데이터를 샘플링하기 위해 사용될 수 있도록 상기 데이터 경로 회로에 결합되는, 컴퓨터 시스템.
- 제 37 항에 있어서, 상기 제어 회로는 상기 액티브 제 2 인에이블 신호가 생성될 때 인액티브 제 1 인에이블 신호를 생성하도록 동작가능한, 컴퓨터 시스템.
- 제 37 항에 있어서, 상기 제어 회로는:플립-플롭의 제어 입력에 인가되는 신호의 전이에 응답하여 설정되거나 재설정되는 상기 플립-플롭으로서, 상기 플립-플롭은 상기 제 1 논리 회로의 인에이블 입력에 결합된 제 1 출력 및 상기 제 2 논리 회로의 인에이블 입력에 결합된 제 2 출력을 갖고, 상기 제 1 및 제 2 출력은 상기 플립-플롭이 설정되는지 또는 재설정되는지의 각각에 따라 상기 제 1 논리 회로 또는 상기 제 2 논리 회로 중 하나가 인에이블되도록 서로 상보적인, 상기 플립-플롭; 및상기 플립-플롭의 제어 입력에 결합된 출력을 갖는 논리 게이트로서, 상기 논리 게이트는 상기 제 1 데이터 스트로브 신호 및 상기 기록 제어 신호를 수신하고, 상기 제 1 데이터 스트로브 신호가 상기 플립-플롭을 설정하거나 재설정하도록 상기 기록 제어 신호가 액티브될 때 상기 논리 게이트가 인에이블되는, 상기 논리 게이트를 포함하는, 컴퓨터 시스템.
- 제 40 항에 있어서, 상기 플립-플롭의 제어 입력은 상기 플립-플롭으로의 클럭 입력을 포함하여, 상기 클럭 입력에 인가되는 신호가 상기 플립-플롭을 토글함으로써 상기 플립-플롭을 설정하거나 재설정하도록 하는, 컴퓨터 시스템.
- 제 40 항에 있어서, 상기 플립-플롭의 제어 입력에 인가되는 상기 신호의 전이는 상기 플립-플롭을 설정하고, 상기 데이터 스트로브 회로는 상기 플립-플롭의 입력을 재설정하도록 결합된 출력을 갖는 논리 게이트를 더 포함하며, 상기 논리 게이트는 상기 제 2 데이터 스트로브 신호가 상기 플립-플롭을 재설정하도록 상기 제 2 데이터 스트로브 신호를 수신하는, 컴퓨터 시스템.
- 제 37 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들 각각은 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들을 인에이블하거나 디스에이블하도록 하는 제 2 인에이블 입력을 더 포함하고, 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들의 제 2 인에이블 입력은 데이터 스트로브 기록 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합되는, 컴퓨터 시스템.
- 제 37 항에 있어서, 상기 메모리 장치는 동적 랜덤 액세스 메모리 장치를 포함하는, 컴퓨터 시스템.
- 제 37 항에 있어서, 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호는 상기 메모리 장치의 외부적으로 액세스 가능한 단자에 인가되는, 컴퓨터 시스템.
- 컴퓨터 시스템에 있어서,프로세서 버스를 갖는 프로세서;데이터가 상기 컴퓨터 시스템에 입력되게 하도록 적응된 상기 프로세서 버스를 통해 상기 프로세서에 결합된 입력 장치;데이터가 상기 컴퓨터 시스템으로부터 출력되게 하도록 적응된 상기 프로세서 버스를 통해 상기 프로세서에 결합된 출력 장치; 및클럭 신호와 동기화하여 동작하는 동기 메모리 장치로서, 데이터가 저장되게 하도록 적응된 상기 프로세서 버스에 결합되는 상기 동기 메모리 장치를 포함하며,상기 동기 메모리 장치는:외부 단자에 인가되는 행 어드레스 신호들을 수신하고 행 어드레스를 제공하기 위해 상기 행 어드레스 신호들을 디코딩하도록 동작가능한 행 어드레스 회로;외부 단자에 인가되는 열 어드레스 신호들을 수신하고 열 어드레스를 제공하기 위해 상기 열 어드레스 신호들을 디코딩하도록 동작가능한 열 어드레스 회로;상기 행 어드레스 및 상기 열 어드레스에 의해 결정된 위치에서 어레이에 기록되거나 상기 어레이로부터 판독되는 데이터를 저장하도록 동작가능한 메모리 셀들의 적어도 하나의 어레이; 및상기 적어도 하나의 어레이와 외부 데이터 단자 사이의 데이터에 대응하는 데이터 신호들을 결합하도록 동작가능한 데이터 경로 회로로서,상기 외부 데이터 단자에 결합된 데이터 입력을 각각 갖는 다수의 데이터 캡쳐 회로들로서, 상기 데이터 캡쳐 회로들 각각은 데이터 스트로브 신호에 응답하여 상기 외부 데이터 단자에 인가되는 데이터를 샘플링하기 위한 각각의 데이터 스트로브 신호를 수신하기 위해 결합된 클럭 입력을 더 포함하는, 상기 데이터 캡쳐 회로들; 및글로벌 데이터 스트로브 신호 및 기록 제어 신호를 수신하는 데이터 스트로브 입력 회로로서, 상기 데이터 스트로브 입력 회로는 액티브인 상기 기록 제어 신호에 응답하여 상기 데이터 캡쳐 회로들 중 연속적인 회로들의 상기 클럭 입력들에 인가되는 연속적인 데이터 스트로브 신호들을 생성하도록 동작가능한, 상기 데이터 스트로브 입력 회로를 포함하는 기록 데이터 경로를 포함하는, 상기 데이터 경로 회로; 및외부 명령 단자에 인가되는 명령 신호들에 대응하는 제어 신호들의 시퀀스를 생성하도록 동작가능한 명령 신호 생성기를 포함하는, 컴퓨터 시스템.
- 제 46 항에 있어서, 상기 기록 제어 신호는 상기 메모리 셀들의 어레이에 데이터를 내부적으로 기록하기 전에 미리 결정된 수의 클럭 신호 기간들이 생성된 기록 신호를 포함하는, 컴퓨터 시스템.
- 제 46 항에 있어서, 상기 데이터 캡쳐 회로들 각각은 플립-플롭을 포함하는, 컴퓨터 시스템.
- 제 46 항에 있어서, 상기 데이터 스트로브 입력 회로는:상기 글로벌 데이터 스트로브 신호 및 제 1 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합된 제 1 논리 회로로서, 상기 제 1 논리 회로는 상기 제 1 인에이블 신호가 액티브일 때 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 제 1 및 제 2 데이터 스트로브 신호들을 생성하고, 상기 제 1 데이터 스트로브 신호는 제 1 데이터 캡쳐 회로들의 클럭 입력에 인가되고, 상기 제 2 데이터 스트로브 신호는 제 2 데이터 캡쳐 회로들의 클럭 입력에 인가되는, 상기 제 1 논리 회로;상기 글로벌 데이터 스트로브 신호 및 제 2 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합된 제 2 논리 회로로서, 상기 제 2 논리 회로는 상기 제 2 인에이블 신호가 액티브일 때 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 제 3 및 제 4 데이터 스트로브 신호들을 생성하고, 상기 제 3 데이터 스트로브 신호는 제 3 데이터 캡쳐 회로들의 클럭 입력에 인가되고, 상기 제 4 데이터 스트로브 신호는 제 4 데이터 캡쳐 회로들의 클럭 입력에 인가되는, 상기 제 2 논리 회로; 및상기 제 1 및 제 2 논리 회로들에 결합된 제어 회로로서, 상기 제어 회로는 상기 기록 제어 신호를 수신하며, 상기 제어 회로는 액티브 기록 제어 신호를 수신하는 것에 응답하여 액티브 제 1 인에이블 신호를 생성하고 상기 액티브 제 1 인에이블 신호를 생성한 후 액티브 제 2 인에이블 신호를 생성하도록 동작가능한, 상기 제어 회로를 포함하는, 컴퓨터 시스템.
- 제 49 항에 있어서, 상기 제어 회로는 상기 액티브 제 2 인에이블 신호를 생성하는 것에 응답하여 인액티브 제 1 인에이블 신호를 생성하도록 동작가능한, 컴퓨터 시스템.
- 제 49 항에 있어서, 상기 제어 회로는:플립-플롭의 제어 입력에 인가되는 신호의 전이에 응답하여 설정되거나 재설정되는 상기 플립-플롭으로서, 상기 플립-플롭은 상기 제 1 논리 회로의 인에이블 입력에 결합된 제 1 출력 및 상기 제 2 논리 회로의 인에이블 입력에 결합된 제 2 출력을 갖고, 상기 제 1 및 제 2 출력은 상기 플립-플롭이 설정되는지 또는 재설정되는지의 각각에 따라 상기 제 1 논리 회로 또는 상기 제 2 논리 회로 중 하나가 인에이블되도록 서로 상보적인, 상기 플립-플롭; 및상기 플립-플롭의 제어 입력에 결합된 출력을 갖는 논리 게이트로서, 상기 논리 게이트는 상기 제 1 데이터 스트로브 신호 및 상기 기록 제어 신호를 수신하며, 상기 제 1 데이터 스트로브 신호가 상기 플립-플롭을 설정하거나 재설정하도록 상기 기록 제어 신호가 액티브될 때 상기 논리 게이트가 인에이블되는, 상기 논리 게이트를 포함하는, 컴퓨터 시스템.
- 제 51 항에 있어서, 상기 플립-플롭의 제어 입력은 상기 플립-플롭으로의 클럭 입력을 포함하여, 상기 클럭 입력에 인가되는 신호가 상기 플립-플롭을 토글함으로써 상기 플립-플롭을 설정하거나 재설정하도록 하는, 컴퓨터 시스템.
- 제 51 항에 있어서, 상기 플립-플롭의 제어 입력에 인가되는 신호의 전이는 상기 플립-플롭을 설정하고, 상기 데이터 스트로브 회로는 상기 플립-플롭의 입력을 재설정하도록 결합된 출력을 갖는 논리 게이트를 더 포함하며, 상기 논리 게이트는 상기 제 2 데이터 스트로브 신호가 상기 플립-플롭을 재설정하도록 상기 제 2 데이터 스트로브 신호를 수신하는, 컴퓨터 시스템.
- 제 49 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들 각각은 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들을 인에이블하거나 디스에이블하도록 하는 제 2 인에이블 입력을 더 포함하고, 상기 제 1 및 제 2 논리 회로들의 상기 제 2 인에이블 입력은 데이터 스트로브 기록 인에이블 신호를 수신하기 위해 결합되는, 컴퓨터 시스템.
- 제 46 항에 있어서, 제 1 및 제 2 데이터 스트로브 신호들은 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 생성된 제 1 펄스의 리딩 및 트레일링 에지들 각각을 포함하고, 제 3 및 제 4 데이터 스트로브 신호들은 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호에 응답하여 생성된 제 2 펄스의 리딩 및 트레일링 에지들 각각을 포함하는, 컴퓨터 시스템.
- 제 43 항에 있어서, 상기 동기 메모리 장치는 동기식 동적 랜덤 액세스 메모리 장치를 포함하는, 컴퓨터 시스템.
- 제 46 항에 있어서, 상기 글로벌 데이터 스트로브 신호는 상기 메모리 장치의 외부적으로 액세스 가능한 단자에 인가되는, 컴퓨터 시스템.
- 글로벌 데이터 스트로브 펄스들에 응답하여 데이터 스트로브 펄스들을 생성하는 방법에 있어서,제 1 글로벌 데이터 스트로브 펄스들에 응답하여 제 1 데이터 스트로브 펄스를 생성하는 단계; 및기록 명령이 액티브인 경우에만 제 2 글로벌 데이터 스트로브 펄스들에 응답하여 제 2 데이터 스트로브 펄스를 생성하는 단계를 포함하며,상기 제 2 데이터 스트로브 펄스를 생성하는 단계는,상기 제 1 데이터 스트로브 펄스가 상기 제 1 글로벌 데이터 스트로브 펄스들에 응답하여 생성되는지를 결정하는 단계; 및그러한 경우, 상기 제 2 글로벌 데이터 스트로브 펄스들에 응답하여 상기 제 2 데이터 스트로브 펄스를 생성하는 단계를 포함하는, 데이터 스트로브 펄스 생성 방법.
- 삭제
- 글로벌 데이터 스트로브 펄스에 응답하여 데이터 신호를 샘플링하는 방법에 있어서,다수의 글로벌 데이터 스트로브 펄스들 각각에 응답하여 제 1 저장 장치를 사용하여 상기 데이터 신호를 주기적으로 샘플링하는 단계; 및기록 명령이 액티브될 경우, 상기 글로벌 데이터 스트로브 펄스들에 응답하여 상기 제 1 저장 장치를 사용하여 상기 데이터 신호를 샘플링하는 단계를 중단하고, 각각의 글로벌 데이터 스트로브 펄스에 응답하여 제 2 저장 장치를 사용하여 상기 데이터 신호를 샘플링하는 단계를 포함하는, 샘플링 방법.
- 노이즈 펄스들이 제 1 글로벌 데이터 스트로브 펄스 이전에 프리앰블(preamble)에 존재할 수 있는 신호 라인 상에 존재하는 글로벌 데이터 스트로브 펄스들에 응답하여 데이터 스트로브 펄스들을 생성하는 방법에 있어서,상기 신호 라인 상에 존재하는 상기 제 1 글로벌 데이터 스트로브 펄스들에 응답하여 제 1 데이터 스트로브 펄스를 생성하는 단계;상기 신호 라인 상에 존재하는 제 2 글로벌 데이터 스트로브 펄스들에 응답하여 제 2 데이터 스트로브 펄스를 생성하는 단계; 및상기 프리앰블 동안 상기 신호 라인 상에 존재하는 노이즈 펄스들에 응답하여 제 1 또는 제 2 데이터 스트로브 펄스가 생성되지 못하게 하는 단계를 포함하는, 데이터 스트로브 펄스 생성 방법.
- 제 61 항에 있어서, 상기 신호 라인 상에 존재하는 노이즈 펄스들에 응답하여 제 1 또는 제 2 데이터 스트로브 펄스가 생성되지 못하게 하는 단계는:상기 노이즈 펄스들이 생성될 때 기록 제어 신호가 존재하는지를 검사하는 단계; 및상기 기록 제어 신호가 존재하지 않는 경우, 상기 노이즈 펄스에 응답하여 제 2 데이터 스트로브 펄스가 생성되는 것을 방지하는 단계를 포함하는, 데이터 스트로브 펄스 생성 방법.
- 제 61 항에 있어서, 상기 신호 라인 상에 존재하는 노이즈 펄스들에 응답하여 제 1 또는 제 2 데이터 스트로브 펄스가 생성되지 못하게 하는 단계는:기록 제어 신호가 존재하는지를 검사하는 단계;상기 기록 제어 신호가 제공되지 않는 한, 글로벌 데이터 스트로브 펄스들 및 노이즈 펄스들을 포함하는 상기 신호 라인 상의 각각의 펄스에 응답하여 상기 제 1 데이터 스트로브 펄스를 생성하는 단계;상기 기록 제어 신호가 존재할 때, 글로벌 데이터 스트로브 펄스들 및 노이즈 펄스들을 포함하는 상기 신호 라인 상의 각각의 펄스에 응답하여 상기 제 1 데이터 스트로브 펄스들이 생성되는 것을 중단하는 단계; 및상기 기록 제어 신호가 존재할 때, 글로벌 데이터 스트로브 펄스에 응답하여 상기 제 2 데이터 스트로브 펄스를 생성하는 단계를 포함하는, 데이터 스트로브 펄스 생성 방법.
- 저장 장치에 데이터를 캡쳐하는 방법에 있어서,제 1 글로벌 스트로브 펄스에 응답하여 제 1 데이터 스트로브 펄스를 생성하는 단계로서, 상기 제 1 데이터 스트로브 펄스는 제 1 저장 장치가 제 1 데이터 세트를 캡쳐하도록 하는, 상기 제 1 데이터 스트로브 펄스 생성 단계;상기 제 1 데이터 스트로브 펄스 및 액티브 기록 명령에 응답하여 제 2 데이터 스트로브 펄스를 생성하는 단계; 및상기 제 2 데이터 스트로브 펄스에 응답하여 상기 제 1 저장 장치가 제 2 데이터 세트를 캡쳐하는 것을 방지하는 단계를 포함하는, 데이터 캡쳐 방법.
- 제 64 항에 있어서, 상기 제 1 저장 장치는 플립-플롭을 포함하는, 데이터 캡쳐 방법.
- 제 64 항에 있어서, 상기 제 1 저장 장치는 제 2 데이터 세트를 캡쳐하는 것을 방지하는 단계는 논리 회로를 디스에이블하는 단계를 포함하는, 데이터 캡쳐 방법.
- 제 64 항에 있어서, 상기 제 2 데이터 세트는 노이즈 펄스인, 데이터 캡쳐 방법.
- 제 64 항에 있어서, 상기 제 2 데이터 스트로브 펄스는 제 2 저장 장치가 제 2 데이터 세트를 캡쳐하도록 하는 단계를 더 포함하는, 데이터 캡쳐 방법.
- 논리 회로들 사이에 토글하는 방법에 있어서,제 1 기록 제어 신호를 인에이블하는 단계;제 1 데이터 스트로브 신호에 응답하여 제 1 데이터 스트로브 펄스를 생성하는 단계;상기 제 1 데이터 스트로브 펄스에 응답하여 제 1 논리 회로를 인에이블하는 단계;제 2 기록 제어 신호를 인에이블하는 단계;상기 제 2 기록 제어 신호가 인에이블된 상태로 있는 동안, 제 2 데이터 스트로브 신호에 응답하여 제 2 데이터 스트로브 펄스를 생성하는 단계; 및상기 제 2 데이터 스트로브 펄스에 응답하여 제 2 논리 회로를 인에이블하는 단계를 포함하는, 토글 방법.
- 제 69 항에 있어서, 상기 제 2 데이터 스트로브 펄스에 응답하여 상기 제 1 논리 회로를 디스에이블링하는 단계를 더 포함하는, 토글 방법.
- 제 69 항에 있어서, 상기 기록 제어 신호가 인에이블될 때, 데이터를 적어도 하나의 저장 장치에 캡쳐하는 단계를 더 포함하는, 토글 방법.
- 제 69 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 데이터 스트로브 신호들이 각각 글로벌 데이터 신호에 응답하여 생성되는, 토글 방법.
- 제 69 항에 있어서, 상기 제 1 데이터 스트로브 신호는 데이터를 제 1 저장 장치에 래치되도록 하고, 상기 제 2 데이터 스트로브 신호는 데이터를 제 2 저장 장치에 래치되도록 하는, 토글 방법.
- 노이즈 펄스들이 논리 회로를 토글하는 것을 방지하는 방법에 있어서,다수의 글로벌 데이터 스트로브 펄스들의 각각에 응답하여 데이터를 제 1 저장 장치에 래치하는 단계; 및제 1 액티브 기록 명령에 응답하여 데이터를 상기 제 1 저장 장치에 래치하는 것을 중단하고, 각각의 글로벌 데이터 스트로브 펄스에 응답하여 데이터를 제 2 저장 장치에 래치하는 단계를 포함하는, 토글 방지 방법.
- 제 74 항에 있어서, 상기 다수의 글로벌 데이터 스트로브 펄스들 중 적어도 하나가 노이즈 신호들을 포함하는, 토글 방지 방법.
- 제 75 항에 있어서, 제 2 액티브 기록 명령에 응답하여 데이터를 상기 제 2 저장 장치에 래치하는 것을 중단하는 단계를 더 포함하는, 토글 방지 방법.
- 제 74 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 저장 장치는 각각 제 1 및 제 2 플립-플롭을 포함하는, 토글 방지 방법.
- 메모리 장치에 데이터를 저장하는 방법에 있어서,데이터 스트로브 신호의 각각의 전이에 응답하여 데이터를 보관하는 단계;제 1 메모리 제어 신호를 수신하는 것에 응답하여, 상기 제 1 메모리 제어 신호 이전에 수신받은 상기 데이터 스트로브 신호의 전이들의 미리 결정된 수에 응답하여 보관된 상기 데이터를 제외하고 상기 보관된 데이터 전부를 폐기하는 단계; 및상기 메모리 장치에서 폐기되지 않은 보관된 데이터를 저장하는 단계를 포함하는, 데이터 저장 방법.
- 제 78 항에 있어서, 상기 제 1 메모리 제어 신호가 수신된 후에 발생하는 상기 데이터 스트로브 신호의 각각의 전이에 응답하여 상기 메모리 장치에 데이터를 저장하는 단계를 더 포함하는, 데이터 저장 방법.
- 제 79 항에 있어서, 상기 제 1 메모리 제어 신호가 수신된 후에 발생하는 상기 데이터 스트로브 신호의 각각의 전이에 응답하여 상기 메모리 장치에 데이터를 저장하는 단계는 상기 제 1 메모리 제어 신호가 수신된 후 바로 발생하는 상기 데이터 스트로브 신호의 두 개의 전이들에 응답하여 상기 메모리 장치에 데이터를 저장하는 단계를 포함하는, 데이터 저장 방법.
- 제 78 항에 있어서, 상기 제 1 메모리 제어 신호 이전에 수신받은 상기 데이터 스트로브 신호의 전이들의 미리 결정된 수에 응답하여 보관된 데이터를 제외하고 상기 보관된 데이터 전부를 폐기하는 단계는 상기 제 1 메모리 제어 신호 이전에 수신받은 상기 데이터 스트로브 신호의 두 개의 전이들에 응답하여 보관된 데이터를 제외하고 상기 보관된 데이터 전부를 폐기하는 단계를 포함하는, 데이터 저장 방법.
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---|---|---|---|---|
US6922367B2 (en) * | 2003-07-09 | 2005-07-26 | Micron Technology, Inc. | Data strobe synchronization circuit and method for double data rate, multi-bit writes |
KR100574989B1 (ko) * | 2004-11-04 | 2006-05-02 | 삼성전자주식회사 | 데이터 스트로브 버스라인의 효율을 향상시키는메모리장치 및 이를 구비하는 메모리 시스템, 및 데이터스트로브 신호 제어방법 |
US7082073B2 (en) * | 2004-12-03 | 2006-07-25 | Micron Technology, Inc. | System and method for reducing power consumption during extended refresh periods of dynamic random access memory devices |
US7120067B2 (en) * | 2005-03-14 | 2006-10-10 | Infineon Technologies Ag | Memory with data latching circuit including a selector |
US7280417B2 (en) * | 2005-04-26 | 2007-10-09 | Micron Technology, Inc. | System and method for capturing data signals using a data strobe signal |
KR100755371B1 (ko) * | 2005-05-03 | 2007-09-04 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 데이터 스트로우브 신호발생방법 |
US7123524B1 (en) * | 2005-05-13 | 2006-10-17 | Infineon Technologies Ag | Input circuit having updated output signal synchronized to clock signal |
DE102006026970B4 (de) * | 2006-06-09 | 2013-01-31 | Qimonda Ag | Integrierter Halbleiterspeicher mit taktgesteuertem Speicherzugriff und Verfahren zum Betreiben eines integrierten Halbleiterspeichers |
KR100837825B1 (ko) * | 2007-05-14 | 2008-06-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 데이터 입력 회로 및 방법 |
JP4914771B2 (ja) * | 2007-06-01 | 2012-04-11 | エルピーダメモリ株式会社 | 半導体装置 |
US8139697B2 (en) * | 2008-01-29 | 2012-03-20 | United Microelectronics Corp. | Sampling method and data recovery circuit using the same |
US7944773B2 (en) * | 2008-04-30 | 2011-05-17 | Micron Technology, Inc. | Synchronous command-based write recovery time auto-precharge control |
US8072826B2 (en) * | 2009-12-03 | 2011-12-06 | Himax Technologies Limited | Memory control circuit and memory control method |
JP5577776B2 (ja) * | 2010-03-17 | 2014-08-27 | 株式会社リコー | メモリ制御装置及びマスクタイミング制御方法 |
US9143140B2 (en) | 2011-02-15 | 2015-09-22 | Cavium, Inc. | Multi-function delay locked loop |
JP2013074563A (ja) * | 2011-09-29 | 2013-04-22 | Elpida Memory Inc | 半導体装置 |
US9281034B2 (en) * | 2013-10-03 | 2016-03-08 | Cavium, Inc. | Data strobe generation |
KR102164751B1 (ko) * | 2013-11-25 | 2020-10-13 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 |
KR102076858B1 (ko) * | 2013-12-24 | 2020-02-12 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체장치 및 이를 포함하는 반도체시스템 |
CN105761753A (zh) * | 2016-02-02 | 2016-07-13 | 清华大学 | 数据加扰解扰器、存储装置及加扰解扰方法 |
KR20180062511A (ko) * | 2016-11-30 | 2018-06-11 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 장치 및 이의 동작 방법, 메모리 시스템의 동작 방법 |
US10153030B2 (en) * | 2017-05-09 | 2018-12-11 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for configurable command and data input circuits for semiconductor memories |
US20200383984A1 (en) | 2018-02-08 | 2020-12-10 | Yissum Research Development Company Of The Hebrew University Of Jerusalem Ltd. | Heteroaryl compounds, pharmaceutical compositions thereof, and their therapeutic use |
US10339998B1 (en) * | 2018-03-27 | 2019-07-02 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for providing clock signals in a semiconductor device |
CN110825688B (zh) * | 2019-02-22 | 2023-08-01 | 苏州全图半导体科技有限公司 | 一种时钟系统 |
EP3931667A4 (en) | 2019-02-27 | 2022-07-13 | Rambus Inc. | LOW-POWER MEMORY WITH ON-DEMAND BANDWIDTH BOOST |
KR20220041050A (ko) | 2019-06-03 | 2022-03-31 | 바이오테릭스, 인코포레이티드 | 피라졸 화합물의 비흡습성 결정질 염, 및 이의 약제학적 조성물 및 용도 |
US11295808B2 (en) | 2020-01-21 | 2022-04-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory device transmitting and receiving data at high speed and low power |
CN116844600B (zh) * | 2022-03-23 | 2024-05-03 | 长鑫存储技术有限公司 | 一种信号采样电路以及半导体存储器 |
CN117095711A (zh) * | 2022-05-13 | 2023-11-21 | 长鑫存储技术有限公司 | 命令处理电路及数据处理电路 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100268429B1 (ko) * | 1997-03-18 | 2000-11-01 | 윤종용 | 동기형반도체메모리장치의데이터의입력회로및데이터입력방법 |
Family Cites Families (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5262998A (en) | 1991-08-14 | 1993-11-16 | Micron Technology, Inc. | Dynamic random access memory with operational sleep mode |
JPH0765571A (ja) | 1993-08-27 | 1995-03-10 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
US5594699A (en) | 1993-09-20 | 1997-01-14 | Fujitsu Limited | DRAM with reduced electric power consumption |
KR100231602B1 (ko) | 1996-11-08 | 1999-11-15 | 김영환 | 복합 모드형 기판전압 발생회로 |
JP3695902B2 (ja) | 1997-06-24 | 2005-09-14 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
JPH1186536A (ja) | 1997-09-12 | 1999-03-30 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
KR100252048B1 (ko) * | 1997-11-18 | 2000-05-01 | 윤종용 | 반도체 메모리장치의 데이터 마스킹 회로 및 데이터 마스킹방법 |
KR100458812B1 (ko) * | 1998-05-21 | 2004-12-03 | 엔이씨 일렉트로닉스 가부시키가이샤 | 큰 래치 마진을 확보할 수 있는 반도체 메모리 장치 |
DE19839105B4 (de) | 1998-08-27 | 2006-04-06 | Infineon Technologies Ag | Integrierter Halbleiterspeicher mit Steuerungseinrichtung zum taktsynchronen Schreiben und Lesen |
KR100306882B1 (ko) | 1998-10-28 | 2001-12-01 | 박종섭 | 반도체메모리소자에서데이터스트로브신호를버퍼링하기위한방법및장치 |
KR100303775B1 (ko) | 1998-10-28 | 2001-09-24 | 박종섭 | 디디알 에스디램에서 데이터스트로브신호를 제어하기 위한 방법및 장치 |
JP3746161B2 (ja) * | 1998-11-19 | 2006-02-15 | 富士通株式会社 | 半導体装置 |
US6081477A (en) | 1998-12-03 | 2000-06-27 | Micron Technology, Inc. | Write scheme for a double data rate SDRAM |
US5978281A (en) * | 1999-01-04 | 1999-11-02 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for preventing postamble corruption within a memory system |
JP2000348488A (ja) | 1999-06-08 | 2000-12-15 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
KR100296913B1 (ko) | 1999-06-28 | 2001-07-12 | 박종섭 | 반도체메모리장치의 데이터스트로브신호 출력버퍼 |
KR100299181B1 (ko) | 1999-07-15 | 2001-11-01 | 윤종용 | 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 라이트 데이터 마스킹 방법 |
US6407963B1 (en) * | 1999-10-19 | 2002-06-18 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor memory device of DDR configuration having improvement in glitch immunity |
GB9927011D0 (en) | 1999-11-16 | 2000-01-12 | Advanced Phytonics Ltd | Method for the production of particles |
US6466491B2 (en) | 2000-05-19 | 2002-10-15 | Fujitsu Limited | Memory system and memory controller with reliable data latch operation |
US6445604B2 (en) * | 2000-05-31 | 2002-09-03 | Hynix Semiconductor Inc. | Channel driving circuit of virtual channel DRAM |
US6760856B1 (en) | 2000-07-17 | 2004-07-06 | International Business Machines Corporation | Programmable compensated delay for DDR SDRAM interface using programmable delay loop for reference calibration |
US6567293B1 (en) * | 2000-09-29 | 2003-05-20 | Ovonyx, Inc. | Single level metal memory cell using chalcogenide cladding |
US6529993B1 (en) * | 2000-10-12 | 2003-03-04 | International Business Machines Corp. | Data and data strobe circuits and operating protocol for double data rate memories |
US6728162B2 (en) * | 2001-03-05 | 2004-04-27 | Samsung Electronics Co. Ltd | Data input circuit and method for synchronous semiconductor memory device |
JP2003059267A (ja) * | 2001-08-08 | 2003-02-28 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JP2003068077A (ja) | 2001-08-28 | 2003-03-07 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JP2003249077A (ja) | 2002-02-21 | 2003-09-05 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置及びその制御方法 |
KR100416617B1 (ko) * | 2002-03-25 | 2004-02-05 | 삼성전자주식회사 | tDQSS 윈도우를 개선할 수 있는 데이터 입력방법 및데이터 입력버퍼 |
JP2004030738A (ja) | 2002-06-24 | 2004-01-29 | Toshiba Corp | ダイナミック型半導体メモリ装置 |
US6819599B2 (en) | 2002-08-01 | 2004-11-16 | Micron Technology, Inc. | Programmable DQS preamble |
US6760261B2 (en) | 2002-09-25 | 2004-07-06 | Infineon Technologies Ag | DQS postamble noise suppression by forcing a minimum pulse length |
US6922367B2 (en) | 2003-07-09 | 2005-07-26 | Micron Technology, Inc. | Data strobe synchronization circuit and method for double data rate, multi-bit writes |
US7031205B2 (en) * | 2003-09-29 | 2006-04-18 | Infineon Technologies North America Corp. | Random access memory with post-amble data strobe signal noise rejection |
US20050105372A1 (en) | 2003-10-30 | 2005-05-19 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory |
US7082073B2 (en) | 2004-12-03 | 2006-07-25 | Micron Technology, Inc. | System and method for reducing power consumption during extended refresh periods of dynamic random access memory devices |
US7280417B2 (en) * | 2005-04-26 | 2007-10-09 | Micron Technology, Inc. | System and method for capturing data signals using a data strobe signal |
US20070028027A1 (en) * | 2005-07-26 | 2007-02-01 | Micron Technology, Inc. | Memory device and method having separate write data and read data buses |
KR100753048B1 (ko) | 2005-09-05 | 2007-08-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 주변영역 전압 발생 장치 |
JP4936421B2 (ja) * | 2005-09-14 | 2012-05-23 | エルピーダメモリ株式会社 | Dram、入力制御回路、及び入力制御方法 |
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Patent Citations (1)
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---|---|---|---|---|
KR100268429B1 (ko) * | 1997-03-18 | 2000-11-01 | 윤종용 | 동기형반도체메모리장치의데이터의입력회로및데이터입력방법 |
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