KR100419601B1 - 제품에 대한 사전 검사 방법 및 이를 위한 장치 - Google Patents

제품에 대한 사전 검사 방법 및 이를 위한 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 육안 검사 전의 검사 제품에 대한 사전 검사 방법 및 사전 검사 장치를 제공하며, 상기 방법은 검사 제품의 결함 상태에 기초한 결함 신호를 검출하는 결함 신호 검출 단계와, 결함 신호 검출 단계에 의해 검출된 결함 신호에 기초한 상세 결함 정보를 발생시키는 상세 결함 신호 정보 발생 단계와, 상세 결함 정보 발생 단계에서 발생되는 상세 결함 정보를 검사 제품 상에 시각화하는 상세 결함 정보 시각화 단계를 포함한다. 상기 사전 검사 장치는 검사 제품의 결함 상태에 기초한 결함 신호를 검출하는 결함 신호 검출 수단과, 결함 신호 검출 수단에 의해 검출되는 결함 신호에 기초한 상세 결함 정보를 발생시키는 상세 결함 정보 발생 수단과, 상세 결함 정보 발생 수단에 의해 발생되는 상세 결함 정보를 검사 제품 상에 시각화하는 상세 결함 정보 시각화 수단을 포함한다.

Description

제품에 대한 사전 검사 방법 및 이를 위한 장치 {PRE-VIEWING INSPECTION METHOD FOR ARTICLE AND DEVICE THEREFOR}
본 발명은 육안 검사 전의 제품에 대한 사전 검사 방법 및 이를 위한 장치에 관한 것이다.
다양한 제품에 대한 종래의 제조 공정에서, 심각한 결함이 있으며 사용하기에 적절하지 않은 제품, 즉 결함있는 제품이 시장으로 나가는 것을 방지하기 위해 다양한 검사 단계가 제공된다. 그러한 검사 단계에서, 검사 장치에 의한 검사는 종종 이하의 이유로 불충분하며 검사관에 의한 육안 검사가 많은 경우에 채택된다.
검사 제품의 결함은 그들의 영역 또는 체적 뿐만 아니라 그들의 모양 및 성질에 따라서 좌우되며, 반드시 실제 고장에 이르는 것은 아니다. 달리 말하면, 실질적인 영향을 주지 않는 많은 결함이 있으며, 실질적인 영향을 주지 않는 결함으로 제품을 폐기하는 것은 불필요하다. 또한 그러한 다양한 형태의 결함이 실제 사용에 끼치는 영향을 즉시 평가할 수 있는 검사 장치는 없다. 또한, 검사 장치는사실상 존재하지 않는 결함을 틀리게 확인할 수 있다. 이러한 이유로 검사관에 의한 육안 검사가 필요하게 된다. 검사 장치는 보다 미세한 결함을 검출하기 위한 해결 능력이 향상되어 왔으며, 제품이 사용 가능한지 아닌지를 판단하기 위한 논리 회로가 제공되지만, 경계 레벨에의 판단은 상기 전술된 바와 같이 검사관에 맡겨진다.
검사관에 의한 육안 검사는 제품이 사용가능한지 아닌지를 검사 장치가 결정하기 어려운 제품의 결함을 검사관이 검사하고 결함의 기준 또는 경험 법칙과의 비교를 기초로 하여 제품이 사용가능한지 아닌지를 검사관이 판단하는 육안 검사이다.
그러나, 최근 몇년에는 보다 높은 품질이 검사될 제품에 대해 요구되며 검사관에 의해 판단될 결함은 점점 적어지게 되었다. 이러한 이유로 인해, 그러한 검사에 대한 부담이 증가되었으며, 최종 판단에 있어서 검사 효율성의 악화 또는 검사관에 의한 검사 오류를 가져왔다.
본 발명의 목적은 주로 사소한 결함의 검출에 관한 육안검사를 보조하고 검사의 효율성과 정확성을 향상시키기 위한 사전 검사 방법(또는 육안 검사 전의 검사 방법) 및 이를 위한 장치를 제공하는 것이다.
본 발명에 따르면, 상기 전술된 목적은 상기 전자 사진 감광 부재의 결함 상태에 기초한 결함 신호를 검출하는 결함 신호 검출 단계와, 상기 결함 신호 검출 단계에 의해 검출된 결함 신호에 기초하여 결함 위치 정보를 발생시키는 결함 위치 정보 발생 단계와, 상기 전자 사진 감광 부재의 비화상 영역에서 상기 전자 사진 감광 부재 상의 결함 위치의 길이 방향 연장부 상에 상기 결함 위치 정보 발생 단계에서 발생되는 결함 위치 정보를 레이저광에 의해서 인쇄하는 인쇄 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법에 의해 포함될 수 있다.
본 발명에 따르면, 검사 제품에 대한 사전 검사 장치(또는 육안 검사 전의 사전 검사 장치)는 상기 전자 사진 감광 부재의 결함 상태에 기초한 결함 신호를 검출하는 결함 신호 검출 수단과, 상기 결함 신호 검출 수단에 의해 검출된 결함 신호에 기초하여 결함 위치 정보를 발생시키는 결함 위치 정보 발생 수단과, 상기 전자 사진 감광 부재의 비화상 영역에서 상기 전자 사진 감광 부재 상의 결함 위치의 길이 방향 연장부 상에 상기 결함 위치 정보 발생 수단에서 발생되는 결함 위치 정보를 레이저광에 의해서 인쇄하는 인쇄 수단을 포함하여 제공된다.
도1은 본 발명의 실시예를 구성하는 사전 검사 장치의 하드웨어 구조를 도시한 블록도.
도2는 본 발명의 실시예의 작동 순서를 도시한 플로우 차트.
도3은 본 발명의 실시예의 사전 검사 장치 내의 호스트 컴퓨터의 하드웨어 구조를 도시한 블록도.
도4는 본 발명의 실시예에서 전자 사진 감광 부재 상의 문자(또는 글자) 정보의 인쇄 예 및 문자 정보의 특정예를 도시한 도면.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
101 : 신호 라인
102 : 운반 유닛
103, 104, 105 : 검사 유닛
106 : 레이저광 발사 유닛
107 : 호스트 컴퓨터
301 : 중앙 처리 장치
302 : 롬
303 : 램
304 : 외부 기억 장치
305 : 신호 라인 인터페이스
306 : 입력 장치
307 : 출력장치
308 : 버스
본 발명에서, 상기 기술된 요건 외에, 상세 결함 정보 발생 단계에서 발생된 상세한 결함 정보에 기초하여 검사 제품이 육안검사를 요구하는지 아닌지를 식별하는 것과 육안 검사로 확인된 검사 제품만의 상세 결함 정보를 시각화하는 것이 바람직하다.
육안 검사에서 결함을 검출하기 위한 노력이 효과적으로 감소될 수 있으므로, 보다 양호하게는 상세 결함 발생 단계에서 발생되는 상세 결함 정보는 결함 위치 정보를 포함한다.
검사 제품의 상세 결함 정보는 양호하게는 검사 제품의 비사용 영역에서 시각화된다. 비사용 영역은 예를 들어 보다 상세하게 이하에서 기재되는 바와 같이 검사 제품이 전자 사진 감광 부재인 경우에는 비화상 영역을, 또는 검사 제품이 주요 대전 부재 또는 전송 대전 부재인 경우에는 비 대전 영역을 의미한다. 달리 말하면, 본 발명의 비사용 영역은 검사 제품의 기능의 발휘에 필수적이지 않은 영역을 의미한다.
검사 제품의 상세 결함 정보를 시각화하는 수단은 인쇄의 안정성 및 시각화 수단의 설계 자유도를 고려하여 양호하게는 기록 펜, 잉크 젯 프린터 또는 레이저광을 이용하는 인쇄 수단이다. 이들 중에서, 레이저광을 이용하는 인쇄 수단은 보다 섬세한 프린팅이 가능하고 잉크와 같은 채색 재료가 사용되지 않기 때문에 채색 재료의 흩뜨림이 없으며, 그것의 유지가 용이하기 때문에 특히 양호하다.
시각화된 상세 결함 정보는 시각화를 위한 공간이 제한되기 때문에, 예를 들어 숫자 또는 패턴으로 결함의 위치, 유형, 개수 등을 상징함으로써 가능한 한 간단하게 나타내어지는 것이 바람직하다.
본 발명은 검사가 기능에 영향을 미치지 않은 채 충분히 이루어질 수 있기 때문에 검사 제품 또는 그것의 표면 상에 기능을 갖는 부재에 적용되는 때에 특히 효과적이다. 본 발명의 검사 제품이 기능적 표면의 품질이 화상 품질과 직접 연결되는, 전자 사진 감광 부재, 주요 대전 부재, 현상 베어링 부재, 중간 전사 부재, 전사 대전 부재 또는 고정 부재와 같은 전자 사진 부재인 경우에 그러한 경향은 특히 우수하다. 이들 중 전자 사진 감광 부재에서는, 결함은 심각한 악영향을 주게 되며, 본 발명의 이로운 영향은 그러한 전자 사진 감광 부재가 본 발명의 검사 제품으로서 이용되는 때에 특히 두드러지게 나타난다.
검사 제품이 전자 사진 감광 부재인 경우에, 상세 결함 정보는 결함 위치 정보를 포함하며 결함 위치 정보로부터 유도되는 결함 위치의 종방향 연장에의 비화상 영역에서 시각화되는 것이 바람직하다.
상기 전술된 결함 신호는 검사 제품이 전자 사진 감광 부재인 때에 이하 방법에 의해 검출될 수 있다.
일본 특허 출원 공개 제63-73139호, 제7-218442호 및 일본 특허 제2,935,881호 및 제2,967,281호은 전자 사진 감광 부재에 설치되는 감광층에서의 결함을 광학적으로 검출하는 수단을 개시한다. 전자 사진 감광 부재에서의 결함을 광학적으로 확인하기 위해, 예를 들면 레이저광을 이용하는 방법이 있다. 광원으로부터 발사되는 레이저 비임은 비임 확산기에 의해 평행 비임으로 전환되어 예각으로 전자 사진 감광 부재에 발사된다. 전자 사진 감광 부재가 결함이 없으면, 광은 평행 비임 상태로 일정한 각도로 반사된다. 한편 전자 사진 감광 부재가 결함을 갖고 있다면, 레이저 비임은 그러한 결함에 의해 산란되며, 이에 의해 반사광은 비틀린다. 반사광은 광전자 센서에 의해 수용되며, 입사광과 반사광 사이의 차이는 광전자적으로 전환되어 결함을 확인하는 전기 신호를 준다.
또한 일본 특허 출원 공개 제57-192847호, 일본 특허 제1,620,166호 및 제2,539,218호는 감광층에서의 전기 신호 흐름의 변화에 의해 결함을 검출하는 방법을 개시한다. 전자 사진 감광 부재에서 결함을 전기적으로 확인하기 위해, 예를 들면 고전압원을 이용하는 방법이 있다. 전도성 대전 롤러는 감광층과 접촉하여 유지되며, 대전 롤러 및 전자 사진 감광 부재가 동기식으로 회전되면서 전자 사진 감광 부재 상의 필름의 두께에 따른 전압이 가해진다. 필름이 두께 및 품질이 균일하다면, 전압 저항은 전체 전자 사진 감광 부재에 걸쳐 균일하다. 그러나, 필름이 국부 변동이 있다면, 전자 사진 감광 부재에 흐르는 전류는 변화를, 어떤 경우에는 누전을 보여준다. 그러한 변화는 결함을 확인하기 위해 판독된다.
이러한 검사는 전자 사진 감광 부재 상의 점형 결함, 선형 결함, 기포형 결함, 긁힘 또는 침전에 대한 결함 신호를 준다.
이제 본 발명은 첨부 도면을 참조하여 그것의 실시예로써 설명될 것이다.
본 발명의 실시예로서, 전자 사진 감광 부재가 검사 제품을 구성하는 예가 설명될 것이다.
도1은 본 발명의 실시예를 구성하는 전자 사진 감광 부재에 대한 사전 검사 장치를 도시한 도면이다.
전자 사진 감광 부재를 위한 운반 유닛(102), 검사 유닛(결함 신호 검출 수단)(103, 104, 105) 및 레이저광 발사 유닛(상세 결함 정보 시각화 수단)(106)은 신호 라인(101)을 통하여 호스트 컴퓨터(107)와 연결되며 이러한 유닛들은 순서기 또는 제어기와 같은 다른 유닛을 통하거나 또는 직접적으로 호스트 컴퓨터(107)에 의해 제어된다.
검사 유닛이 광학 검사 유닛이라면, 전자 사진 감광 부재에 광을 발사하기 위한 광원과, 전자 사진 감광 부재로부터 반사광(결함 신호)을 검출하는 카메라와, 카메라에 의해 검출되는 결함 신호를 처리하고 호스트 컴퓨터(107)에 그들을 전송하는 광학 검사 유닛 컴퓨터를 위한 컴퓨터가 제공된다.
호스트 컴퓨터(107)가 결함 신호로부터 전자 사진 감광 부재의 상세 결함 정보(결함의 위치, 유형, 개수 등)를 생성하는 때에, 광학 검사 유닛으로부터 호스트 컴퓨터(107)로 전송되는 데이터는 광산란 및 산란이 발생하는 위치의 정보와 같은 결함으로부터 발생되는 원자료일 수 있다.
검사 유닛이 다른 유형, 예를 들어 전기 검사 유닛이라면, 전자 사진 감광 부재에 전압을 적용하기 위한 대전기와, 전자 사진 감광 부재의 전기 흐름(결함 신호) 또는 전압 적용시의 전압(결함 신호)을 검출하기 위한 전류/전압 검출기와, 상기 검출기에 의해 검출되는 결함 신호를 처리하고 그들을 호스트 컴퓨터(107)에 전송하기 위한 전기 검사 유닛 컴퓨터가 제공된다.
검사 유닛의 사용으로 결함 위치 정보를 획득하기 위해, 전자 사진 감광 부재의 위치를 검출하기 위한 인코더와 같은 위치 센서가 제공된다. 자연스럽게, 위치 센서는 검사 유닛과 통합될 필요가 없으며 분리되어 제공될 수 있다.
사전 검사로부터 육안 검사로의 작동 순서는 도1을 참조하여 장치를 구성하는 유닛의 작동에 따라 그리고 본 실시예의 사전 검사 장치를 이용하는 사전 검사의 플로우 차트(도2)에 따라 이하에서 설명될 것이다.
사전 검사 장치로의 도입으로부터 최종 판단을 위한 육안 검사로의 흐름을 명확하게 하기 위해, 도2는 또한 이후에 설명되는 바와 같이 중앙 처리 장치 (CPU:301)에 의해 수행되는 단계(201, 202, 203, 204, 205) 전후의 처리를 도시한다.
사전 검사 장치로 도입되는 전자 사진 감광 부재는 운반 유닛(102) 상에 장착된다.
운반 유닛(102) 상에 장착된 전자 사진 감광 부재는 그것의 회전에 의해, 먼저 검사가 검사 유닛(103)에 의해 이루어지는 위치(이후에서 검사 스테이지라 명명됨)로 운반되고, 그후 광학 또는 전기 검사가 각각의 결함의 위치 또는 유형에 대한 검사 유닛(103, 104, 105)에 의해 수행되는 검사 유닛(104, 105)에 의한 검사 스테이지로 운반되며, 이에 의해 각각의 결함 위치 신호(도2의 201)에 따라 색채(대조), 필름 상태, 전기적 특성 등을 위한 신호(결함 신호)를 획득한다.
그러한 검사를 위해, 그것의 축을 중심으로 회전되는 전자 사진 감광 부재에 백색광을 발사하고 반사광이 라인 센서 또는 CCD 카메라와 같은 광전자 전환 요소로 도입되고 대조적으로 변화를 검출하여 이에 의해 정상부 및 비정상부를 확인하는 결함 색채 검사와, 또는 회전하는 전자 사진 감광 부재에 레이저 비임을 예각으로 발사하고 반사광이 라인 센서 또는 CCD 카메라와 같은 광전자 전환 요소로 도입되고 반사각으로의 비틀림으로부터 필름 품질 또는 필름 두께의 변화를 검출하여 이에 의해 정상부 및 비정상부를 확인하는 필름 결함 검사와, 또는 코로나 대전기 또는 대전 롤러에 의해 감광층에 전압을 가하고 감광층에서 대전 전압 또는 전류를 검출하는 감광층의 전기적 특성 검사와 같은 다양한 검사 방법이 채택될 수 있다.
도1에서, 검사 유닛(103, 104, 105)에 대한 3개의 검사 스테이지는 각각 색채(대조), 필름 상태, 전기적 특성 등을 위해 이용되지만, 복수개의 검사가 검사 광원, 광전자 전환 요소의 배치 및 검사의 범위 및 항목에 따라서 단일 검사 스테이지에 적용될 수 있다.
결함 신호 등은 검사 유닛(103, 104, 105)로부터 호스트 컴퓨터(107)(도2의202)로 보내진다.
결함 신호를 검사 유닛으로부터 수용하여 호스트 컴퓨터(107)는 예를 들면 전자 사진 감광 부재가 어떤 위치(도2의 203)에서 몇개의 무슨 종류의 결함을 갖고 있는지를 나타내는 상세 결함 정보를 생성한다.
상세 결함 정보를 발생시킨 후에, 전자 사진 감광 부재가 실제적인 문제없이 사용될 수 있는지 및 육안 검사를 필요로하지 않는지(육안 검사 불필요) 또는 전자 사진 감광 부재가 판단될 수 없는지 그리고 육안 검사를 받을 필요가 있는지(육안 검사 필요)(도2에서의 204)를 호스트 컴퓨터(107)가 상기 상세 결함 정보에 기초하여 판단한다.
그러한 판단은 미리 결정되고 호스트 컴퓨터에 제공되는 결함 기준의 데이터베이스와 비교를 통해 이루어진다.
그후, 상세 결함 정보가 레이저광 발사 유닛(상세 결함 정보 시각화 수단)(106)에 의해 시각화되는 위치(이하에서 시각화 단계라 명명됨)로 운반 유닛(102)에 의해 운반되는 전자 사진 감광 부재 중에서, 단지 육안검사가 요구되도록 판단되는 것들만이 호스트 컴퓨터(도2의 205)에 저장되는 상세 결함 정보의 시각화를 받게 된다.
상세 결함 정보는 예를 들어 이산화탄소 가스 레이저의 레이저광에 의해 전자 사진 감광 부재의 단부에서의 비화상 영역에 이하에 설명되는 바와 같이, 문자 정보로서 시각화된다.
도3은 본 발명의 제1 실시예에서 호스트 컴퓨터(107)의 하드웨어 구조를 도시한 블록도이다.
중앙 처리 장치(301)는 데이터의 전송, 수용 및 결합을 수행하며 버스(308)을 통해 연결되는 구성요소를 제어한다. 버스(308)를 통해, 어드레스 신호, 제어 신호 및 그것에 연결된 구성요소(장치)들 중에서의 다양한 데이터가 전송된다. 중앙 처리 장치(301)는 도2의 플로우 차트에서 도시되는 전술된 단계(201, 202, 203, 204, 205)를 수행한다.
롬(판독 전용 기억 장치; ROM)(302)은 데이터 전송 및 수용과 같은 다양한 공정을 실현시키기 위한 제어 순서를 수행하는 중앙 처리 장치(301)에 대한 제어 순서(컴퓨터 프로그램)와 전자 사진 감광 부재의 판단을 미리 저장한다. 램(RAM)(303)은 상기 데이터의 전송/수용 및 판단을 위한 작업 메모리로서 그리고 다양한 구성 요소를 제어하기 위한 임시 메모리로서 사용된다.
전원 장치가 꺼지는 때에도 내용을 보유할 수 있는 하드 디스크와 같은 외부 기억 장치(304)가 데이터 베이스 등을 저장하기 위해 사용된다. 인터페이스 (305)는 도1에 도시되는 유닛을 신호 라인과 연결한다.
도4는 전자 사진 감광 부재 상에 문자 정보를 인쇄하는 예 및 문자 정보의 특정 예를 도시한다.
문자 정보는 인쇄 패턴(401)으로 나타낸 바와 같이, 제1 문자는 전자 사진 감광 부재의 결함 위치를 나타내며 제2 문자는 결함의 유형을 나타내고 제3 문자는 결함의 수를 나타내는 3개의 문자의 조합으로 구성된다.
주연 방향 인쇄 위치는 인쇄 위치부(402)에 의해 표시된 바와 같이, 검출된결함들 중에서 가장 심각한 결함에 대응하는 주연 방향 위치에의 비화상 영역의 단부에 있다.
인쇄된 글자의 크기는 임의로 선택될 수 있지만, 본 예에서는 2×2mm로 선택된다. 또한 레이저 비임의 강도 및 레이저 비임의 점의 직경은 인쇄부 주위에서 산란하거나 증가시키지 않을 적절한 레벨에서 선택된다.
예를 들면, 인쇄 예(403)에서 문자 트레인"1●2"은 "점형 결함(스폿)은 문자 트레인의 주연 방향 위치의 연장에서의 코팅 영역의 상부 단부로부터 코팅 영역의 1/10에 존재하며 결함의 수는 다른 위치에서의 결함을 포함하여 전체가 2개"임을 표시한다.
호스트 컴퓨터(107)에 저장되는 상세 결함 정보는 나중 단계에서 검사관에 의한 육안 검사를 요구하지 않는 심각한 결함, 정상/비정상 판단의 경계에서의 약간의 결함, 매우 사소한 결함 및 결함 신호 검출 수단에 의한 잘못된 검출까지 포함한다. 예를 들면, 심각한 결함을 갖고 있는 전자 사진 감광 부재(검사 제품)는 사전 검사 장치로부터 배출된 후에 즉시 폐기될 수 있으며, 이로써 검사관에 의한 육안 검사를 배제한다. 폐기될 전자 사진 감광 부재(검사 제품), 검사관에 의한 육안 검사가 요구되는 전자 사진 감광 부재(검사 제품), 후속 공정으로 보내질 만족스러운 전자 사진 감광 부재(검사 제품)에 대한 선별 단계는 사전 검사 장치로부터 배출된 후에 제공될 수 있다.
따라서 선별되고 인쇄된 전자 사진 감광 부재는 검사관에 의한 육안 검사를 받게 되며, 이로써 최종 제품으로 사용될 수 있는지 없는지가 판단된다.
전자 사진 감광 부재의 단부 부분에서 시각화된 상세 결함 정보로부터 결함의 위치, 개수, 유형 등을 미리 알수 있기 때문에, 검사관은 육안 검사를 매우 효과적으로 수행할 수 있으며, 결함 정보의 사전 존재는 빠뜨리고 보지못하는 오류를 미리 방지하여, 이에 의해 검사의 만족스런 정확성을 달성한다.
전술된 바와 같이, 고품질에 대한 요구의 증가로 인해, 검사 제품에서 확인되는 결함은 더욱 미세하게 되며, 결함의 위치가 미리 확인되지 않는다면 그러한 결함은 발견되기가 더욱 어렵다. 본 발명의 검사 방법 및 장치는 주요 노력이 미세한 결함을 위치시키는 데 집중되는 검사 단계의 효율성 및 정확성에서 두드러진 향상을 야기하게 된다.
본 발명은 주로 사소한 결함의 검출에 관한 육안검사를 보조하고 검사의 효율성과 정확성을 향상시키기 위한 사전 검사 방법(또는 육안 검사 전의 검사 방법) 및 이를 위한 장치를 제공한다.

Claims (30)

  1. 육안 검사 전의 전자 사진 감광 부재에 대한 사전 검사 방법이며,
    상기 전자 사진 감광 부재의 결함 상태에 기초한 결함 신호를 검출하는 결함 신호 검출 단계와,
    상기 결함 신호 검출 단계에 의해 검출된 결함 신호에 기초하여 결함 위치 정보를 발생시키는 결함 위치 정보 발생 단계와,
    상기 전자 사진 감광 부재의 비화상 영역에서 상기 전자 사진 감광 부재 상의 결함 위치의 길이 방향 연장부 상에 상기 결함 위치 정보 발생 단계에서 발생되는 결함 위치 정보를 레이저광에 의해서 인쇄하는 인쇄 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 결함 위치 정보 발생 단계에서 발생되는 결함 위치 정보에 기초하여, 상기 전자 사진 감광 부재가 육안 검사를 필요로 하는지 아닌지를 판단하는 전자 사진 감광 부재 판단 단계를 추가로 포함하고,
    상기 인쇄 단계는 상기 전자 사진 감광 부재 판단 단계에서 육안 검사를 필요로 하는 것으로 확인된 전자 사진 감광 부재에만 상기 결함 위치 정보를 인쇄하기 위해 적용되는 것을 특징으로 하는 방법.
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 제1항에 있어서, 상기 결함 위치 정보 발생 단계에서 발생되는 결함 위치 정보를 상징화하는 결함 위치 정보 상징화 단계를 추가로 포함하고,
    상기 인쇄 단계는 상기 결함 위치 정보 상징화 단계에서 상징화된 결함 위치 정보를 인쇄하는 것을 특징으로 하는 방법.
  8. 삭제
  9. 삭제
  10. 삭제
  11. 삭제
  12. 삭제
  13. 삭제
  14. 제1항에 있어서, 상기 결함 신호 검출 단계는, 상기 전자 사진 감광 부재에 광을 방사하는 광 방사 단계와, 상기 광 방사 단계에서 광이 방사된 전자 사진 감광 부재로부터의 반사광을 검출하는 반사광 검출 단계를 포함하는 광학 결함 신호 검출 단계인 것을 특징으로 하는 방법.
  15. 제1항에 있어서, 상기 결함 신호 검출 단계는 상기 전자 사진 감광 부재에 전압을 적용하는 전압 적용 단계와, 상기 전압 적용 단계에서의 전압 적용을 받는 전자 사진 감광 부재의 전류 또는 상기 전압 적용 단계에서의 전압을 검출하는 전류/전압 검출 단계를 포함하는 전기적 결함 신호 검출 단계인 것을 특징으로 하는 방법.
  16. 육안 검사 전의 전자 사진 감광 부재에 대한 사전 검사 장치이며,
    상기 전자 사진 감광 부재의 결함 상태에 기초한 결함 신호를 검출하는 결함 신호 검출 수단과,
    상기 결함 신호 검출 수단에 의해 검출된 결함 신호에 기초하여 결함 위치 정보를 발생시키는 결함 위치 정보 발생 수단과,
    상기 전자 사진 감광 부재의 비화상 영역에서 상기 전자 사진 감광 부재 상의 결함 위치의 길이 방향 연장부 상에 상기 결함 위치 정보 발생 수단에서 발생되는 결함 위치 정보를 레이저광에 의해서 인쇄하는 인쇄 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  17. 제16항에 있어서, 상기 결함 위치 정보 발생 수단에서 발생되는 결함 위치 정보에 기초하여, 상기 전자 사진 감광 부재가 육안 검사를 필요로 하는지 아닌지를 판단하는 전자 사진 감광 부재 판단 수단을 추가로 포함하고,
    상기 인쇄 수단은 상기 전자 사진 감광 부재 판단 수단에서 육안 검사를 필요로 하는 것으로 확인된 전자 사진 감광 부재에만 상기 결함 위치 정보를 인쇄하기 위해 적용되는 것을 특징으로 하는 장치.
  18. 삭제
  19. 삭제
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  22. 제16항에 있어서, 상기 결함 위치 정보 발생 수단에서 발생되는 결함 위치 정보를 상징화하는 결함 위치 정보 상징화 수단을 추가로 포함하고,
    상기 인쇄 수단은 상기 결함 위치 정보 상징화 수단에서 상징화된 결함 위치 정보를 인쇄하는 것을 특징으로 하는 장치.
  23. 삭제
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  27. 삭제
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  29. 제16항에 있어서, 상기 결함 신호 검출 수단은 상기 전자 사진 감광 부재에 광을 방사하는 광 방사 수단과, 상기 광 방사 수단에서 광이 방사된 전자 사진 감광 부재로부터의 반사광을 검출하는 반사광 검출 수단을 포함하는 광학 결함 신호 검출 수단인 것을 특징으로 하는 장치.
  30. 제16항에 있어서, 상기 결함 신호 검출 수단은 상기 전자 사진 감광 부재에 전압을 적용하는 전압 적용 수단과, 상기 전압 적용 수단에서 전압 적용을 받는 전자 사진 감광 부재의 전류 또는 상기 전압 적용 수단에서의 전압을 검출하는 전류/전압 검출 수단 포함하는 전기적 결함 신호 검출 수단인 것을 특징으로 하는 장치.
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