JPS58500038A - 光フアイバの連続試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 光ファイバの連続試験装置 本発明は元ファイバの連続試験装置Ｑこ関するものであり、光源よりの光を、フ ァイバ内に結合しこれより散乱する光を検出器によって捕捉するものである。

この種装置は例えばドイツ特許公報（ＤＥ−ＡＳ　）２７　４４　２１９に記載 されており既知である。この既知の装置によれば完成したファイバ、すなわち既 にクラッドを被覆したファイバの欠陥が試験できる。

これと類似の装置がＤＥ−ＡＳ２４　５］　６５４にも発表されている。この装 置Ｇこは試験すべきファイバのある長さを固定し、光をファイバに結合する。移 動用の測定装置によればファイバ内より発光する欠陥の位置を見出すことができ る。しかしながらこれらの装置によっては連続試験は可能ではない。

光ファイバの製造中において、引っばりパラメータが不適当の場合にはファイバ の表面にきすが生ずる。

このような欠陥個所において、布設中または使用中に極めて低い引っばり負荷Ｇ こよってファイバは切断することが多い。また引っばり負荷によって直に切断し なくとも、ファイバ表面のかかる個所はファイバの強度上の寿命を減するもので あり、とくＧこ引っばり応力に゛　よる腐蝕（コロ−ジョン）によりこれか生ず る。従ってこのようなきすはできるたけ回避すべきてあり、また完成したファイ バの場合はこれを検出する必要がある。引抜き工程を最良のものとするため、フ ァイバの犬なる長さにわたる破壊試験では大量の７アイ／−の引つはり強度解析 （ウェイプル分布）か規定されている。

これは複雑であり時間のかかる方法である。製造に際し不可避の欠陥は連続引っ ばり応力試験（スクリーンテスト、ブルーフテスト）で検出され、これに対して はファイバの全生産量を試験の対象とし、規定された最低強度を確保する。・こ れＧこよるとこの試験Ｇこ合格したファイバ特定の引っばり負荷に耐えるという 保証が得られるが、スクリーンテスト値を超える強度の表示は得られない。この ような方法Ｇこ比較し、上述の如くの非破壊試験を可能とする装置が有利である こと明らかでアル。ファイバ表面のクラック（ひひ）または不導入し、ファイバ より出てくる光を測定袋＠（こよって測定する。

の開始時よりすでに欠陥中心を試験し、正しい所要時間内で工程を修正し得るよ うにするものである。

引っばり炉と光源とを１つのユニットとして組合せ、その直後に検出器を設ける ことによってこの目的は達成される。

かくするときは光ファイバの製造直後Ｇこそのきずの試験を行いつる利点が得ら れる。

図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する。

図面において、 第′２図は検出器の第１実施例、 第３図は検出器の第２実施例、 第４図は検出器の第３実施例である。

引っばり炉２内でファイバのプレフォーム（予備成型品）１を約２１００°Ｃに 加熱し、ファイバ３として引きぬく。引きぬき炉２内で光をファイバ内に結合導 入し、ファイバを通じて伝送させる。ファイバの表面または内部に欠陥がある場 合には、かかる欠陥個所は光をファイバ外に散乱させる。この散乱光を適当な検 出器４内で電気信号に変換し、電子的モニタおよび制御回路５に供給する。次で 容器６内でファイバ３にコーティング（被覆）を施こし、炉７内でこのコーティ ングを乾燥させ、キユアリングを行う。この後電子的制御回路５は、例えばファ イバマーキング装置８Ｇこよってファイバａにカラーマークを付ける。この後フ ァイバは引っばり兼巻取ドラム９に至り、これはポジションエンコーダ１０を有 する巻取モータにより駆動される。

前述の電子的モニタおよび制御回路によっていくつ１　かの機能か遂行されるＯ ａ、ファイバの製造中に散乱振幅および欠陥位置を記録することができる。

ｂ、ファイバの引きぬき後、記録情報を用いて欠陥中心の寸法および位置をめう る。

Ｃ０欠陥か検出された個所において、ファイ／＜Ｑこカラーマークを付しこれに より、（障害の原因として）これらの個所を後の検査で容易にトレースできる。

ｄ、引きめき工程中においても、例えば炉内の保護ガス流等の引きぬき工程のパ ラメータを最適のものとし、欠陥が最小であるファイン（を得ることができる。

ので欠陥のトレースができる。

第２図ないし第４４図は検出器のいくつ力）の実施例を、　示す。

第２図に示す検出器ではレンズ系を用（１）る。導入間′１口】８を通じファイ ンく３を７１ウジンク°１４内Ｇこ導入する。第ルンズ１５Ｇこよってファイン くの一部を有孔板１６上に結像せしめる。第２レンズ１７によってこれをホトセ ル１８上に結像せしめる。欠陥１９の個所より散逸する光はこれによって電気信 号に変換され出力２０＆こ現われる。開口２１を通じファインく３はハウジング より導出される。

第３図は検出器の異なる実施例を示し、これはウルブリヒト球（Ｕｌｂｒｉｃｈ ｔ　５ｐｈｅｒｅ　）を用いてすべての方向（こ対する散乱光を検出できるよう にしたものである。

ファイバ８をウルブリヒト球２３内に導入し、ホトセル１′８によって散乱光を 電気信号に変換する。シールド２４（こよって外側の漂遊光を減少させる。

第４図は他の可能な検出の例を示し、これではファイバ３の位置２７よりの散乱 光を結像するのに回転楕円体２６の内面反射を用い、これをホトセル１８上Ｇこ 結像させて電気信号に変換する。この例でも管２８が漂遊光の抑制を行う。

本発明による装置の主要利点はファインくの引きぬき中に得られる情報を工程の 最適化に直接利用し得ることである。この場合、欠陥を示したファインくの製造 完了を待つ必要はなく、製造中に適当な工程制御を加えることによって満足な品 質が保証される。さらＧこ他の利点は、この品質情報を得るため何等の付加的な 高価な試験」−程を必要としないことであり、全生産品の試験かでき品質を最適 Ｇこできる。ファイバはクラッドなしに試験かでき、また機械的負荷が加わるこ ともない。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １　引きぬき炉内で引きぬかれるファイバに光を結合し、これより放出される散 乱光を検出器（こよって捕捉する光ファイバの連続試験装置において、前記引き ぬき炉と光源とを１つのユニットに組合せ、その直後に検出器を配置することを 特徴とする光ファイバの連続試験装置。 ２　検出器は１つのハウジング内に配置したレンズ累と°ホトセルとを有する請 求の範囲１記載の装置。 ３　検出器はホトセルを設けたウルブリヒト球を有する請求の範囲１記載の装置 。 ４　検出器は内面反射回転楕円体を有し、その内にホトセルを配置してなる請求 の範囲ｌ記載の装置。 いずれかに記載の装置。